JPH095461A - 測定用信号の伝播遅延時間測定回路 - Google Patents
測定用信号の伝播遅延時間測定回路Info
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- JPH095461A JPH095461A JP7179459A JP17945995A JPH095461A JP H095461 A JPH095461 A JP H095461A JP 7179459 A JP7179459 A JP 7179459A JP 17945995 A JP17945995 A JP 17945995A JP H095461 A JPH095461 A JP H095461A
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- YXCKIFUUJXNFIW-UHFFFAOYSA-N 5-[4-(1,3-dioxo-2-benzofuran-5-yl)phenyl]-2-benzofuran-1,3-dione Chemical compound C1=C2C(=O)OC(=O)C2=CC(C2=CC=C(C=C2)C=2C=C3C(=O)OC(C3=CC=2)=O)=C1 YXCKIFUUJXNFIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 5
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＩＣテスタにおけるＩＣデバイスインターフ
ェイス部の複数の測定用信号伝播系路において、各々の
伝播遅延時間を平易に精度良く測定するための回路構造
を提供する。 【構成】 ＩＣテスタのＩＣデバイスインターフェイス
部３３の測定用信号の伝播系路において、ＩＣデバイス
インターフェイス部３３のＩＣソケットボードＡ１をコ
ネクタ３４で着脱できる構造として、ＩＣソケットボー
ドＡ１と同一ロットの中からスルーホール部の導体を削
除したＩＣソケットボードＢ３１を設け、それをＩＣデ
バイスインターフェイス部３３に装着して目的のＴＰＤ
Ａ１１のみを直接的に測定した後ＩＣソケットボードＢ
３１を脱却し、ＩＣソケットボードＢ３１に代えてＩＣ
ソケットボードＡ１を装着して置き換える構造とした。
ェイス部の複数の測定用信号伝播系路において、各々の
伝播遅延時間を平易に精度良く測定するための回路構造
を提供する。 【構成】 ＩＣテスタのＩＣデバイスインターフェイス
部３３の測定用信号の伝播系路において、ＩＣデバイス
インターフェイス部３３のＩＣソケットボードＡ１をコ
ネクタ３４で着脱できる構造として、ＩＣソケットボー
ドＡ１と同一ロットの中からスルーホール部の導体を削
除したＩＣソケットボードＢ３１を設け、それをＩＣデ
バイスインターフェイス部３３に装着して目的のＴＰＤ
Ａ１１のみを直接的に測定した後ＩＣソケットボードＢ
３１を脱却し、ＩＣソケットボードＢ３１に代えてＩＣ
ソケットボードＡ１を装着して置き換える構造とした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＩＣテスタの測定ステ
ーションを構成するＩＣデバイスインターフェイス部の
複数の測定用信号伝播系路において、反射法により各々
の伝播遅延時間を、平易に精度良く測定するための伝播
遅延時間測定回路及びその測定方法に関する。
ーションを構成するＩＣデバイスインターフェイス部の
複数の測定用信号伝播系路において、反射法により各々
の伝播遅延時間を、平易に精度良く測定するための伝播
遅延時間測定回路及びその測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】図２は従来技術によって、ＩＣデバイス
インターフェイス部の複数の系路において反射法により
信号発生部からＩＣデバイスまでの伝播遅延時間が測定
される系路の構成を示す概念図である。図２−（Ａ）に
示したように、ＩＣテスタの測定ステーションを構成す
るＩＣデバイスインターフェイス部は、多層プリント配
線基板によるＩＣソケットボードＡ１等から成ってい
る。ＩＣテスタによって電気的特性が測定される対象と
なるＩＣデバイス２は、多層プリント配線基板上の配線
回路と接続したＩＣソケットに収納されて測定される構
成となっている。
インターフェイス部の複数の系路において反射法により
信号発生部からＩＣデバイスまでの伝播遅延時間が測定
される系路の構成を示す概念図である。図２−（Ａ）に
示したように、ＩＣテスタの測定ステーションを構成す
るＩＣデバイスインターフェイス部は、多層プリント配
線基板によるＩＣソケットボードＡ１等から成ってい
る。ＩＣテスタによって電気的特性が測定される対象と
なるＩＣデバイス２は、多層プリント配線基板上の配線
回路と接続したＩＣソケットに収納されて測定される構
成となっている。
【０００３】また図示したＩＣソケットボードＡ１の構
成においてはインピーダンスマッチングをとるための回
路構成がなされる。即ち５０Ωの終端抵抗５やリレー６
及びストリップライン４等によって形成される。そし
て、ＩＣテスタの信号発生部２１及びコンパレータ部２
２とがパフォーマンスボード等を介して同軸ケーブル８
によってデバイスインターフェイス部と接続される構成
となっている。
成においてはインピーダンスマッチングをとるための回
路構成がなされる。即ち５０Ωの終端抵抗５やリレー６
及びストリップライン４等によって形成される。そし
て、ＩＣテスタの信号発生部２１及びコンパレータ部２
２とがパフォーマンスボード等を介して同軸ケーブル８
によってデバイスインターフェイス部と接続される構成
となっている。
【０００４】近時被測定対象となるＩＣデバイス２の動
作速度の高速化に伴い、ＩＣデバイス２の複数個ある各
測定端子のそれぞれに、信号発生部２１から発せられた
測定用信号が到達する時間のバラツキの許容範囲が狭く
なっている。具体的な一例としては、ＩＣデバイス２の
各測定端子間での信号到達時間のバラツキが０．１ｎｓ
ｅｃ．以下であることを、ＩＣテスターユーザから求め
られているのが実情である。
作速度の高速化に伴い、ＩＣデバイス２の複数個ある各
測定端子のそれぞれに、信号発生部２１から発せられた
測定用信号が到達する時間のバラツキの許容範囲が狭く
なっている。具体的な一例としては、ＩＣデバイス２の
各測定端子間での信号到達時間のバラツキが０．１ｎｓ
ｅｃ．以下であることを、ＩＣテスターユーザから求め
られているのが実情である。
【０００５】そこで、ＩＣテスタメーカとしては、ユー
ザの要求に対応すべく、ＩＣテスタの測定ステーション
を構成するＩＣデバイスインターフェイス部において、
信号到達時間のバラツキが格段に低減できる回路構造を
追求してきた。
ザの要求に対応すべく、ＩＣテスタの測定ステーション
を構成するＩＣデバイスインターフェイス部において、
信号到達時間のバラツキが格段に低減できる回路構造を
追求してきた。
【０００６】そして、ＩＣデバイス２の各測定端子のそ
れぞれに測定用信号が到達する時間のバラツキを捉え
て、ＩＣテスタとしての測定機能がユーザの要求に応え
られる許容範囲内のものであることを確認するのには、
ＩＣテスタ内の信号発生部２１からの測定信号が同軸ケ
ーブル８を経由しＩＣソケットボードＡ１に到達して、
コンパレータ部２２で見たときの信号伝播遅延時間、即
ちＴＰＤ（ＴＩＭＥ ＯＦ ＰＲＯＰＡＧＡＴＩＯＮ
ＤＥＬＡＹ＝以下ＴＰＤと称す）２３を測定することで
判断する方法が採られる。
れぞれに測定用信号が到達する時間のバラツキを捉え
て、ＩＣテスタとしての測定機能がユーザの要求に応え
られる許容範囲内のものであることを確認するのには、
ＩＣテスタ内の信号発生部２１からの測定信号が同軸ケ
ーブル８を経由しＩＣソケットボードＡ１に到達して、
コンパレータ部２２で見たときの信号伝播遅延時間、即
ちＴＰＤ（ＴＩＭＥ ＯＦ ＰＲＯＰＡＧＡＴＩＯＮ
ＤＥＬＡＹ＝以下ＴＰＤと称す）２３を測定することで
判断する方法が採られる。
【０００７】なお、ＴＰＤ２３をコンパレータ部２２で
測定すると図２−（Ｂ）に示したような波形として観測
できる。ここで、ＴＰＤ２３＝２×（ＴＰＤＡ１１＋Ｔ
ＰＤＢ１２＋ＴＰＤＣ１３）であるが、精度良く測定し
たいのは伝播遅延時間ＴＰＤＡ１１である。つまり同軸
ケーブル８とデバイスインターフェイス部のＩＣソケッ
トとの接続点である各スルーホールＡ３までの信号伝播
遅延時間ＴＰＤＡ１１なのである。それを測定するのに
はリレー６であるＫＳをオープンにして行うが、その際
図２−（Ａ）に示したようにスルーホールＡ３からスト
リップライン４を構成した配線系路によるＴＰＤＢ１２
に加えて、リレー６の浮遊容量ＣＳ７によるＴＰＤＣ１
３も共にＴＰＤＡ１１に加わってしまって測定されるた
め、ＴＰＤＡ１１のみの測定精度を向上させることがで
きない、という問題点を有していた。
測定すると図２−（Ｂ）に示したような波形として観測
できる。ここで、ＴＰＤ２３＝２×（ＴＰＤＡ１１＋Ｔ
ＰＤＢ１２＋ＴＰＤＣ１３）であるが、精度良く測定し
たいのは伝播遅延時間ＴＰＤＡ１１である。つまり同軸
ケーブル８とデバイスインターフェイス部のＩＣソケッ
トとの接続点である各スルーホールＡ３までの信号伝播
遅延時間ＴＰＤＡ１１なのである。それを測定するのに
はリレー６であるＫＳをオープンにして行うが、その際
図２−（Ａ）に示したようにスルーホールＡ３からスト
リップライン４を構成した配線系路によるＴＰＤＢ１２
に加えて、リレー６の浮遊容量ＣＳ７によるＴＰＤＣ１
３も共にＴＰＤＡ１１に加わってしまって測定されるた
め、ＴＰＤＡ１１のみの測定精度を向上させることがで
きない、という問題点を有していた。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】本発明が解決しようと
する課題は、ＩＣテスタの測定ステーションを構成する
ＩＣデバイスインターフェイス部の複数の測定用信号伝
播系路において、各々の伝播遅延時間を、平易にしかも
精度良く測定できる回路構造を得ることである。つま
り、ＩＣデバイスが有する複数個ある各測定端子のそれ
ぞれに、測定用信号が到達する時間のバラツキを極限ま
で低減することで、動作速度が高速化したＩＣデバイス
の機能測定が高精度に行えるＩＣテスタを提供すること
を目的としている。
する課題は、ＩＣテスタの測定ステーションを構成する
ＩＣデバイスインターフェイス部の複数の測定用信号伝
播系路において、各々の伝播遅延時間を、平易にしかも
精度良く測定できる回路構造を得ることである。つま
り、ＩＣデバイスが有する複数個ある各測定端子のそれ
ぞれに、測定用信号が到達する時間のバラツキを極限ま
で低減することで、動作速度が高速化したＩＣデバイス
の機能測定が高精度に行えるＩＣテスタを提供すること
を目的としている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のＩＣテスタのＩＣデバイスインターフェイ
ス部における測定用信号の伝播系路において、ＩＣデバ
イスインターフェイス部のＩＣソケットボードＡをコネ
クタを用いて着脱できる構造とし、被測定対象となるＩ
Ｃデバイスの測定を行うＩＣソケットボードＡとして製
造した同一ロットの中からスルーホール部の導体を削除
した測定回路用のＩＣソケットボードＢを別に設けた。
に、本発明のＩＣテスタのＩＣデバイスインターフェイ
ス部における測定用信号の伝播系路において、ＩＣデバ
イスインターフェイス部のＩＣソケットボードＡをコネ
クタを用いて着脱できる構造とし、被測定対象となるＩ
Ｃデバイスの測定を行うＩＣソケットボードＡとして製
造した同一ロットの中からスルーホール部の導体を削除
した測定回路用のＩＣソケットボードＢを別に設けた。
【００１０】そして、上記ＩＣソケットボードＢをＩＣ
デバイスインターフェイス部に装着して測定用信号の伝
播遅延時間を測定することで、所期の目的の被測定対象
伝播遅延時間であるＴＰＤＡのみを直接的に測定するこ
とを可能とした。測定完了後はＩＣソケットボードＢを
ＩＣデバイスインターフェイス部から脱却し、ＩＣソケ
ットボードＢに代えてＩＣソケットボードＡに置き換え
ることができる構造とした。
デバイスインターフェイス部に装着して測定用信号の伝
播遅延時間を測定することで、所期の目的の被測定対象
伝播遅延時間であるＴＰＤＡのみを直接的に測定するこ
とを可能とした。測定完了後はＩＣソケットボードＢを
ＩＣデバイスインターフェイス部から脱却し、ＩＣソケ
ットボードＢに代えてＩＣソケットボードＡに置き換え
ることができる構造とした。
【００１１】
（１）本発明による測定用信号の伝播系路の構成とした
ことで、測定用信号の伝播遅延時間を測定する場合、ス
ルーホール部が削除されているためにスルーホール部以
降に存在するＴＰＤＢ及びＴＰＤＣが切り離される。そ
の為に目的とするＴＰＤＡのみが直接的に測定されるの
で測定精度の向上が可能となった。
ことで、測定用信号の伝播遅延時間を測定する場合、ス
ルーホール部が削除されているためにスルーホール部以
降に存在するＴＰＤＢ及びＴＰＤＣが切り離される。そ
の為に目的とするＴＰＤＡのみが直接的に測定されるの
で測定精度の向上が可能となった。
【００１２】（２）被測定対象となるＩＣデバイスの測
定に適合するＩＣソケットボードＡとして製造した同一
ロットの中から抜き取って、そのスルーホール部を削除
した測定用信号の伝播遅延時間測定回路の構造としたこ
とで、ＩＣソケットボードの設計変更による改版にも容
易に対応できる。また同一製造ロットのものを用いるこ
とで製造品質が同質となるため、製造ロットの違いによ
るバラツキによって測定精度を低下させることがない。
定に適合するＩＣソケットボードＡとして製造した同一
ロットの中から抜き取って、そのスルーホール部を削除
した測定用信号の伝播遅延時間測定回路の構造としたこ
とで、ＩＣソケットボードの設計変更による改版にも容
易に対応できる。また同一製造ロットのものを用いるこ
とで製造品質が同質となるため、製造ロットの違いによ
るバラツキによって測定精度を低下させることがない。
【００１３】
（１）図１は、本発明による測定用信号の伝播遅延時間
測定回路の構成を示す概念図である。図１−（Ａ）に示
したように本発明のＩＣソケットボードＢ３１において
は、スルーホール部を孔明けして追加工して導体を削除
したスルーホールＢ３２を設けた。このことでストリッ
プライン４によるＴＰＤＢ１２とリレーの浮遊容量ＣＳ
７によるＴＰＤＣ１３も、測定目的とするＴＰＤＡ１１
から切り離すことができた。
測定回路の構成を示す概念図である。図１−（Ａ）に示
したように本発明のＩＣソケットボードＢ３１において
は、スルーホール部を孔明けして追加工して導体を削除
したスルーホールＢ３２を設けた。このことでストリッ
プライン４によるＴＰＤＢ１２とリレーの浮遊容量ＣＳ
７によるＴＰＤＣ１３も、測定目的とするＴＰＤＡ１１
から切り離すことができた。
【００１４】（２）また、図１−（Ｂ）に示したように
本発明のＩＣソケットボードＢ３１、及び同Ａ１はコネ
クタ３４を用いることで、ＩＣデバイスインターフェイ
ス部３３から着脱可能な構造とした。そして、測定用信
号の伝播遅延時間測定回路としてのＩＣソケットボード
Ｂ３１を用いて、先ずＴＰＤＡ１１の測定を行い、完了
したらＩＣデバイスインターフェイス部３３から脱却
し、次いでＩＣソケットボードＢ３１に代えて同Ａ１を
着装する。
本発明のＩＣソケットボードＢ３１、及び同Ａ１はコネ
クタ３４を用いることで、ＩＣデバイスインターフェイ
ス部３３から着脱可能な構造とした。そして、測定用信
号の伝播遅延時間測定回路としてのＩＣソケットボード
Ｂ３１を用いて、先ずＴＰＤＡ１１の測定を行い、完了
したらＩＣデバイスインターフェイス部３３から脱却
し、次いでＩＣソケットボードＢ３１に代えて同Ａ１を
着装する。
【００１５】（３）本発明の測定用信号の伝播遅延時間
測定回路の構造としたことで、テストヘッド３６と接続
されるパフォーマンスボード３５から同軸ケーブル８に
よって形成された測定用信号の伝播系路による伝播遅延
時間を精度良く測定することを可能とした。
測定回路の構造としたことで、テストヘッド３６と接続
されるパフォーマンスボード３５から同軸ケーブル８に
よって形成された測定用信号の伝播系路による伝播遅延
時間を精度良く測定することを可能とした。
【００１６】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下に記載されるような効果を奏する。 （１）本発明による測定用信号の伝播遅延時間測定回路
の構成としたことで、本来の目的であるＴＰＤＡ１１を
純粋に直接的に精度良く測定することができるようにな
った。 （２）そのことで、被測定対象となるＩＣデバイスの各
測定端子に到達する測定信号の伝播速度のバラツキを極
限まで小さくすることができたので、近時動作速度が格
段に高速化されたＩＣデバイスの特性性能を正確に測定
することが可能なＩＣテスターを実現することができ
た。
ているので、以下に記載されるような効果を奏する。 （１）本発明による測定用信号の伝播遅延時間測定回路
の構成としたことで、本来の目的であるＴＰＤＡ１１を
純粋に直接的に精度良く測定することができるようにな
った。 （２）そのことで、被測定対象となるＩＣデバイスの各
測定端子に到達する測定信号の伝播速度のバラツキを極
限まで小さくすることができたので、近時動作速度が格
段に高速化されたＩＣデバイスの特性性能を正確に測定
することが可能なＩＣテスターを実現することができ
た。
【図１】本発明の実施例による測定用信号の伝播遅延時
間測定回路の構成を示す概念図である。
間測定回路の構成を示す概念図である。
【図２】従来技術によるＩＣデバイスインターフェイス
部の複数の系路において、測定用信号の伝播遅延時間が
測定される対象となる系路の構成を示す概念図である。
部の複数の系路において、測定用信号の伝播遅延時間が
測定される対象となる系路の構成を示す概念図である。
１ ＩＣソケットボードＡ ２ ＩＣデバイス ３ スルーホールＡ ４ ストリップライン ５ 終端抵抗 ６ リレー ７ リレーの浮遊容量ＣＳ ８ 同軸ケーブル １１ ＴＰＤＡ １２ ＴＰＤＢ １３ ＴＰＤＣ ２１ 信号発生部 ２２ コンパレータ部 ２３ ＴＰＤ ３１ ＩＣソケットボードＢ ３２ スルーホール ３３ ＩＣデバイスインターフェイス部 ３４ コネクタ ３５ パフォーマンスボード ３６ テストヘッド
Claims (1)
- 【請求項１】 ＩＣテスタのＩＣデバイスインターフェ
イス部（３３）の測定用信号の伝播系路において、 ＩＣデバイスインターフェイス部（３３）とコネクタ
（３４）を用いて、着脱できる構造としたＩＣソケット
ボードＡ（１）の同一製造ロットの中から、スルーホー
ルＡ（３）の導体を削除した測定回路用のＩＣソケット
ボードＢ（３１）を設けた、 ことを特徴とする測定用信号の伝播遅延時間測定回路。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7179459A JPH095461A (ja) | 1995-06-22 | 1995-06-22 | 測定用信号の伝播遅延時間測定回路 |
| TW085107099A TW359749B (en) | 1995-06-22 | 1996-06-13 | Circuit and method for determining propagation delay times of testing signals |
| CN96102317A CN1124491C (zh) | 1995-06-22 | 1996-06-18 | 测量用信号的传输延迟时间测量电路 |
| KR1019960022228A KR100193323B1 (ko) | 1995-06-22 | 1996-06-19 | 측정용 신호의 전파 지연 시간 측정 회로 및 측정방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7179459A JPH095461A (ja) | 1995-06-22 | 1995-06-22 | 測定用信号の伝播遅延時間測定回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH095461A true JPH095461A (ja) | 1997-01-10 |
Family
ID=16066229
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7179459A Withdrawn JPH095461A (ja) | 1995-06-22 | 1995-06-22 | 測定用信号の伝播遅延時間測定回路 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH095461A (ja) |
| KR (1) | KR100193323B1 (ja) |
| CN (1) | CN1124491C (ja) |
| TW (1) | TW359749B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102213601A (zh) * | 2011-03-03 | 2011-10-12 | 中国电子科技集团公司第十研究所 | 可更换接头的时延参数量值传递用空气线 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102626858B1 (ko) | 2016-11-02 | 2024-01-19 | 삼성전자주식회사 | 전송 선로의 전파 지연 시간을 측정하기 위한 테스트 시스템 |
| CN110488595B (zh) * | 2019-08-29 | 2020-10-13 | 北京理工大学 | 一种用于调频连续波雷达时差测距的时间数字转换器 |
-
1995
- 1995-06-22 JP JP7179459A patent/JPH095461A/ja not_active Withdrawn
-
1996
- 1996-06-13 TW TW085107099A patent/TW359749B/zh active
- 1996-06-18 CN CN96102317A patent/CN1124491C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1996-06-19 KR KR1019960022228A patent/KR100193323B1/ko not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102213601A (zh) * | 2011-03-03 | 2011-10-12 | 中国电子科技集团公司第十研究所 | 可更换接头的时延参数量值传递用空气线 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN1139231A (zh) | 1997-01-01 |
| KR970002368A (ko) | 1997-01-24 |
| CN1124491C (zh) | 2003-10-15 |
| TW359749B (en) | 1999-06-01 |
| KR100193323B1 (ko) | 1999-06-15 |
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