JPH0967760A - 織布検反方法及び装置 - Google Patents

織布検反方法及び装置

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JPH0967760A
JPH0967760A JP22397095A JP22397095A JPH0967760A JP H0967760 A JPH0967760 A JP H0967760A JP 22397095 A JP22397095 A JP 22397095A JP 22397095 A JP22397095 A JP 22397095A JP H0967760 A JPH0967760 A JP H0967760A
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JP
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woven fabric
photoelectric sensor
electric signal
light
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JP22397095A
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Masashi Toda
昌司 戸田
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Toyota Industries Corp
Original Assignee
Toyoda Automatic Loom Works Ltd
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/898—Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood
    • G01N21/8983—Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood for testing textile webs, i.e. woven material
    • D—TEXTILES; PAPER
    • D03—WEAVING
    • D03J—AUXILIARY WEAVING APPARATUS; WEAVERS' TOOLS; SHUTTLES
    • D03J1/00—Auxiliary apparatus combined with or associated with looms
    • D03J1/007—Fabric inspection on the loom and associated loom control

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Abstract

(57)【要約】 【課題】光学的処理に対する外乱の影響を排除して誤検
反を回避する。 【解決手段】受光素子２９，３０の検知範囲２０１，２
１１は織布Ｗ上に接近して配設されている。Ｉ／Ｖ変換
回路３４，３５は受光素子２９，３０から入力する変換
電流信号を電圧信号に変換して差演算回路３６に出力す
る。差演算回路３６はＩ／Ｖ変換回路３４，３５から入
力する電圧信号の差信号を比較回路３７に出力する。比
較回路３７は入力した差信号と基準値設定回路３８，３
９によって予め設定された基準値との比較結果に基づい
て欠点検出信号を出力回路４０に出力するか否かを判定
する。Ｉ／Ｖ変換回路３５は電圧信号を比較回路４１に
出力する。比較回路４１は入力した電圧信号と基準値設
定回路４２，４３によって予め設定された基準値との比
較結果に基づいて検反無効化信号を出力回路４０に出力
するか否かを判定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、受光量に応じた電
気信号を出力する光電センサを用いて経糸と緯糸とによ
って製織された織布の欠点を検出する織布検反方法及び
装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】この種の織布検反装置が特開昭６０−２
３１８５０号公報に開示されている。光源から織布上に
投射された光の反射光は感光セルによって受光される。
光の経路上には光学レンズ系が設置されており、投射光
あるいは反射光の集光、平行化等の必要な光学的処理が
光学レンズ系によって行われる。感光セルは受光量に応
じた電気信号を出力し、この電気信号が評価ユニットで
評価される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】受光量に応じて変換さ
れた電気信号の評価は一般的に電気信号の大きさと予め
設定された基準値との比較によって行われる。電気信号
の値が基準値以内であれば正常の評価が行われ、電気信
号の値が基準値を越えれば異常の評価が行われる。しか
しながら、織機は激しく振動しているため、光学レンズ
系によって行われる織布からの反射光に対する前記光学
的処理にばらつきが生じる。このようなばらつきは同じ
織り状態から得られる前記電気信号を変化させる。この
ような電気信号の変化は前記基準値の設定を困難にし、
誤検反が起きる。
【０００４】本発明は、光学的処理に対する外乱の影響
を排除して誤検反を回避し得る織布検反方法及び装置を
提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】そのために請求項１の発
明では、織布上の複数地点を同時に光で走査し、これら
複数の地点の１つにおける織り状態を反映する光を参照
用の電気信号に変換すると共に、この参照用電気信号と
参照基準値とを比較し、前記複数の地点の少なくとも他
における織り状態を反映する光を検反用の電気信号に変
換し、この検反用電気信号の比較対象となる検反基準値
と前記検反用電気信号とのいずれか一方を前記参照用電
気信号と参照基準値との比較の結果に基づいて補正する
ようにした。
【０００６】請求項２の発明では、織布上の複数地点を
同時に光で走査し、これら複数の地点の１つにおける織
り状態を反映する光を参照用の電気信号に変換すると共
に、この参照用電気信号と参照基準値とを比較し、前記
複数の地点の少なくとも他における織り状態を反映する
光を検反用の電気信号に変換し前記参照用電気信号と参
照基準値との比較の結果に基づいて前記検反用電気信号
の採否を判定するようにした。
【０００７】請求項３の発明では、前記複数地点を接近
させた。請求項４の発明では、前記複数の地点の織り状
態を反映する光を変換した電気信号の２つの差を演算
し、この演算によって得られた差と検反基準値とを比較
するようにした。
【０００８】請求項５の発明では、織布の織り状態を反
映する光を受光する第１の光電センサと、前記光電セン
サの検出地点とは別の地点に検出領域を持つ第２の光電
センサと、第１の光電センサ及び第２の光電センサの一
方から得られる参照用電気信号と参照基準値とを比較す
る第１の比較手段と、第１の光電センサ及び第２の光電
センサの少なくとも他方から得られる検反用電気信号と
検反基準値とを比較する第２の比較手段と、第２の比較
手段における比較結果を前記第１の比較手段の比較結果
に基づいて補正する補正手段とを備えた織布検反装置を
構成した。
【０００９】請求項６の発明では、織布の織り状態を反
映する光を受光する第１の光電センサと、前記光電セン
サの検出地点とは別の地点に検出領域を持つ第２の光電
センサと、第１の光電センサ及び第２の光電センサの一
方から得られる参照用電気信号と参照基準値を比較する
第１の比較手段と、第１の光電センサ及び第２の光電セ
ンサの少なくとも他方から得られる検反用電気信号と検
反基準値を比較する第２の比較手段と、第２の比較手段
における比較結果の採否を前記第１の比較手段の比較結
果に基づいて判定する採否判定手段とを備えた織布検反
装置を構成した。
【００１０】請求項７の発明では、前記第１の光電セン
サ及び第２の光電センサから得られる電気信号の差を演
算する差演算手段と、前記差演算手段の演算結果に基づ
いて欠点検出信号を出力するか否かを判定する欠点判定
手段とを備えた第１の比較手段を構成した。
【００１１】請求項１及び請求項５の発明によれば、織
布上の複数地点の１つにおける織り状態を反映する光が
参照用電気信号に変換される。又、前記複数の地点の少
なくとも他における織り状態を反映する光が検反用電気
信号に変換される。参照用電気信号は参照基準値と比較
される。検反用電気信号と検反基準値とのいずれか一方
が参照用電気信号と参照基準値とのずれに応じて補正さ
れる。このような補正の上で行われる検反用電気信号と
検反基準値との比較は織り状態を精度良く反映する。
【００１２】請求項２及び請求項６の発明によれば、検
反用電気信号の採否が参照用電気信号と参照基準値との
ずれの程度に応じて判定される。このような採否の上で
行われる検反用電気信号と検反基準値との比較は織り状
態を精度良く反映する。
【００１３】請求項３の発明によれば、接近した複数地
点に対する受光レベルが同一となり、参照用の光の受光
レベルが適正であれば、検反用の光の受光レベルも適正
である。
【００１４】請求項４乃至請求項７の発明では、経糸と
緯糸とのうちの一方の糸の方向に複数の光電センサが配
設される。これらの光電センサのうちの少なくとも１つ
の電気信号と他の光電センサの電気信号との差が演算さ
れ、この演算された差が例えば予め設定された基準値と
比較される。前記差の演算は照明光、風綿といった外乱
の影響による電気信号の変化を排除する。演算された差
が基準値を越える場合には欠点判定手段が欠点検出信号
を出力する。前記複数地点を緯糸の糸方向に配設した場
合には前記欠点検出信号の出力は経糸の欠点を検出した
ことによるものとなる。複数地点を経糸の糸方向に配設
した場合には前記欠点検出信号の出力は緯糸の欠点を検
出したことによるものとなる。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、織機上の織布検反装置に本
発明を具体化した第１実施例を図１〜図６に基づいて説
明する。
【００１６】図１に示すように織布Ｗの上方にはレール
１１が織布Ｗの織幅方向に配設されている。レール１１
にはセンサヘッド１２がガイド体１３を介して吊下支持
されている。ガイド体１３はレール１１に沿って移動で
きる。図２及び図３に示すようにセンサヘッド１２には
無端状ベルト１４が結合されており、無端状ベルト１４
はモータ１５の駆動プーリ１５１とガイドプーリ１６と
に架けわたされている。無端状ベルト１４はモータ１５
の往復駆動によって往復周回し、センサヘッド１２がレ
ール１１に沿って往復動する。センサヘッド１２は３つ
の反射鏡１７，１８，１９及び一対の棒状の凸レンズ２
０，２１を備えている。
【００１７】図２に示すようにガイドプーリ１６の近傍
には投光器２２が設置されている。投光器２２は、容器
２３と、容器２３の底部に取り付けられた投光素子２４
と、容器２２の開口側に取り付けられたスリット板２５
と、投光素子２４とスリット板２５との間に介在された
棒状の凸レンズ２６とからなる。スリット板２５にはス
リット２５１が形成されている。投光素子２４は凸レン
ズ２６の焦点上に位置しており、投光素子２４から凸レ
ンズ２６に投射された光は凸レンズ２６を通って平行光
となる。図１の鎖線矢印は光の行路を表す。凸レンズ２
６の光軸はスリット２５１の中央を通っている。凸レン
ズ２６を通って平行になった光の一部はスリット２５１
を通過する。スリット板２５は光の平行度を高めるため
に凸レンズ２６の周縁部を通過した光の通過を阻止す
る。
【００１８】スリット２５１を通過した平行光の行路は
反射鏡１７と交差する。反射鏡１７は織布Ｗの面に対し
て４５°に傾いており、反射鏡１７に当たった平行光は
織布Ｗ上に向けて反射される。凸レンズ２０，２１は反
射鏡１７からの反射光の行路の左右両側に対称に配置さ
れている。凸レンズ２０，２１の焦点は織布Ｗ上に設定
されており、凸レンズ２０，２１は織布Ｗからの反射光
を平行光にする。反射鏡１８は凸レンズ２０を出た平行
光の行路上に配置されており、反射鏡１９は凸レンズ２
１を出た平行光の行路上に配置されている。
【００１９】図３に示すようにモータ１５の近傍には受
光器２７が設置されている。受光器２７は、容器２８
と、容器２８の底部に取り付けられた一対の受光素子２
９，３０と、容器２８の開口側に取り付けられた一対の
棒状の集光レンズ３１，３２と、受光素子２９，３０と
集光レンズ３１，３２との間に介在された抽出スリット
板３３とからなる。抽出スリット板３３には一対のスリ
ット３３１，３３２が形成されている。スリット３３１
は受光素子２９に対置しており、スリット３３２は受光
素子３０に対置している。集光レンズ３１の焦点はスリ
ット３３１の中央にあり、集光レンズ３２の焦点はスリ
ット３３２の中央にある。凸レンズ２０の光軸と集光レ
ンズ３１の光軸とは反射鏡１８の反射面上で交差し、凸
レンズ２１の光軸と集光レンズ３２の光軸とは反射鏡１
９の反射面上で交差する。
【００２０】反射鏡１８から反射された平行光は集光レ
ンズ３１に向かい、反射鏡１９から反射された平行光は
集光レンズ３２に向かう。集光レンズ３１は反射鏡１８
からの反射光をスリット３３１上に集光し、集光レンズ
３２は反射鏡１９からの反射光をスリット３３２上に集
光する。スリット３３１，３３２を通過した光は受光素
子２９，３０によって受光される。スリット３３１，３
３２は外乱光を排除する機能を持つ。
【００２１】図４に示す２０１は凸レンズ２０による織
布Ｗ上の検知範囲を表し、２１１は凸レンズ２１による
織布Ｗ上の検知範囲を表す。凸レンズ２０は検知範囲２
０１から反射した散乱光の一部を平行光に集束し、凸レ
ンズ２１は検知範囲２１１から反射した散乱光の一部を
平行光に集束する。織布Ｗの経糸Ｔは筬（図示略）の筬
羽間に数本単位で通されており、検知範囲２０１，２１
１の緯糸Ｙの糸方向の幅は筬羽のピッチ程度に設定され
ている。検知範囲２０１，２１１の経糸Ｔの糸方向の幅
は緯糸Ｙの糸方向の幅よりも数倍の大きさにしてある。
図５の右向きの矢印ＱR で囲まれた領域はセンサヘッド
１２の右方向への移動による織布Ｗ上における検知範囲
２０１，２１１の掃過範囲を表す。左向きの矢印ＱL で
囲まれた領域はセンサヘッド１２の左方向への移動によ
る織布Ｗ上における検知範囲２０１，２１１の掃過範囲
を表す。織布Ｗは矢印Ｒの方向に移動する。
【００２２】受光素子２９，３０は受け取った光を電流
に変換する。この変換電流信号は受光量に応じた電気信
号となる。受光素子２９は変換電流信号を電流−電圧変
換回路３４（以下、Ｉ／Ｖ変換回路３４と表す）に出力
し、受光素子３０は変換電流信号を電流−電圧変換回路
３５（以下、Ｉ／Ｖ変換回路３５と表す）に出力する。
Ｉ／Ｖ変換回路３４，３５は変換電流信号を電圧信号Ｓ
１，Ｓ２に変換して差演算回路３６に出力する。差演算
回路３６は両Ｉ／Ｖ変換回路３４，３５から入力する電
圧信号Ｓ１，Ｓ２の値の差を演算する。この演算では電
圧信号Ｓ１の値から電圧信号Ｓ２の値が減算される。差
演算回路３６は演算して得られた差信号ΔＳを比較回路
３７に出力する。
【００２３】比較回路３７は入力した差信号ΔＳと基準
値設定回路３８，３９によって予め設定された基準値Ｖ
１，Ｖ２とを比較する。基準値設定回路３８によって設
定された基準値Ｖ１は正、基準値設定回路３９によって
設定された基準値Ｖ２は負である。差信号ΔＳの値が基
準範囲〔Ｖ１，Ｖ２〕から外れた場合には比較回路３７
は出力回路４０に欠点検出信号ＳT を出力する。差信号
ΔＳの値が基準範囲〔Ｖ１，Ｖ２〕内にある場合には比
較回路３７は出力回路４０に欠点検出信号ＳTを出力し
ない。
【００２４】図６（ａ）の曲線ＥはＩ／Ｖ変換回路３４
から出力される電圧信号Ｓ１を表し、図６（ｂ）の曲線
ＦはＩ／Ｖ変換回路３５から出力される電圧信号Ｓ２を
表す。図６（ｃ）の曲線Ｇは曲線Ｅの値から曲線Ｆの値
を引いて得られた差信号ΔＳを表す。図６（ｄ）の方形
波Ｈ１，Ｈ２は比較回路３７から出力された欠点検出信
号ＳT を表す。図６（ａ）〜図６（ｄ）の横軸はいずれ
も時間を表す。図６（ａ）〜図６（ｃ）の縦軸はいずれ
も電圧を表す。
【００２５】曲線Ｅの突出部Ｅ１は受光素子２９によっ
て検出された経糸に関する異常を表す。曲線Ｆの突出部
Ｆ１は受光素子３０によって検出された経糸に関する異
常を表す。突出部Ｅ１，Ｆ１の時間差は緯糸Ｙの方向に
移動する凸レンズ２０，２１の検知範囲２０１，２１１
を緯糸Ｙの方向に並べたことによって生じる。曲線Ｇの
突出部Ｇ１は、突出部Ｅ１とこの突出部Ｅ１の時間領域
に対応する曲線Ｆの略平坦な部分との差である。曲線Ｇ
の突出部Ｇ２は、突出部Ｆ１とこの突出部Ｆ１の時間領
域に対応する曲線Ｅの略平坦な部分との差である。方形
波Ｈ１の時間幅ｔ１は基準値Ｖ１を正の側へ越える突出
部Ｇ１の時間幅に対応し、方形波Ｈ２の時間幅ｔ２は基
準値Ｖ２を負の側へ越える突出部Ｇ２の時間幅に対応す
る。
【００２６】経糸Ｔは隣合う筬羽間に一定本数単位で通
されているが、例えばある筬羽間では経糸の通し本数が
規定に足りず、隣の筬羽間で経糸の通し本数が規定より
も多いといった状況が生じることがある。このような状
況が続くと所謂経筋が織布上に生じ、不良織布ができて
しまう。凸レンズ２０，２１の検知範囲２０１，２１１
の緯糸Ｙの糸方向の範囲は筬羽のピッチ程度に設定して
ある。従って、受光素子２９，３０における受光量は織
布Ｗ上の経筋部分と正常部分とでは異なり、曲線Ｅ，Ｆ
の突出部Ｅ１，Ｆ１で示すような電圧信号Ｓ１，Ｓ２の
変動が得られる。
【００２７】方形波Ｈ１，Ｈ２によって表される欠点検
出信号ＳT の出力は、受光素子２９，３０から得られる
電圧信号Ｓ１，Ｓ２の差信号ΔＳと基準値Ｖ１，Ｖ２と
の比較結果に基づいて判定される。検反装置以外の照明
光の存在、あるいは風綿の存在といった外乱が電圧信号
Ｓ１，Ｓ２を変化させる。即ち、電圧信号Ｓ１，Ｓ２に
は外乱による変化分が入り込んでいる。このような電圧
信号Ｓ１，Ｓ２の変化は織布の織り状態を正しく反映せ
ず、これら電圧信号Ｓ１，Ｓ２と基準値との比較結果に
基づいて織布上の欠点有無を判定した場合には誤検反が
起きる。しかし、電圧信号Ｓ１，Ｓ２の差をとった差信
号ΔＳでは各電圧信号に入り込んでいた前記外乱による
変化分がほぼ相殺される。従って、差信号ΔＳは経糸Ｔ
に関する異常の有無を高精度で反映しており、差信号Δ
Ｓと基準値Ｖ１，Ｖ２との比較は経糸に関する異常の有
無の検出という検反の精度を高める。
【００２８】Ｉ／Ｖ変換回路３５は電圧信号Ｓ２を比較
回路４１にも出力する。比較回路４１は入力した電圧信
号Ｓ２と基準値設定回路４２，４３によって予め設定さ
れた基準値Ｖ３，Ｖ４とを比較する。基準値Ｖ３は基準
値設定回路４２によって設定され、基準値Ｖ４は基準値
設定回路４３によって設定される。参照用電気信号とな
る電圧信号Ｓ２の値が参照基準値となる基準範囲〔Ｖ
３，Ｖ４〕から外れた場合には比較回路４１は出力回路
４０に検反無効化信号Ｎを出力する。電圧信号Ｓ２の値
が基準範囲〔Ｖ３，Ｖ４〕内にある場合には比較回路４
１は出力回路４０に検反無効化信号Ｎを出力しない。
【００２９】検反無効化信号Ｎが出力しないときに欠点
検出信号ＳT が出力した場合には、出力回路４０は製織
停止信号、異常表示信号等の出力を行なう。しかし、検
反無効化信号Ｎが出力した場合には、出力回路４０は欠
点検出信号ＳT の出力にもかかわらず製織停止信号、異
常表示信号等の出力を行なわない。
【００３０】受光素子２９は、織布Ｗの織り状態を反映
する光を受光する光電センサであり、受光素子３０は前
記光電センサの検出地点に接近した地点に検出領域を持
つ光電センサである。比較回路３７は受光素子２９から
得られる電気信号と検反基準値となる基準範囲〔Ｖ１，
Ｖ２〕とを比較する第２の比較手段となる。比較回路４
１は受光素子３０から得られる電気信号と参照基準値と
なる基準範囲〔Ｖ３，Ｖ４〕とを比較する第１の比較手
段となる。出力回路４０は第２の比較手段における比較
結果の採否を第１の比較手段の比較結果に基づいて判定
する採否判定手段となる。
【００３１】織機は激しく振動しているため、凸レンズ
２０，２１の焦点が常に正確に織布Ｗ上に位置するとは
限らない。凸レンズ２０，２１の焦点が織布Ｗからずれ
た場合には受光素子２９，３０における受光レベルが望
ましい受光レベルからずれる。基準範囲〔Ｖ３，Ｖ４〕
は許容できる受光レベルに対応して設定されており、受
光素子３０から得られる電圧信号Ｓ２が基準範囲〔Ｖ
３，Ｖ４〕内にあれば、受光レベルは適正な範囲内にあ
る。織布Ｗ上における凸レンズ２０，２１の各焦点は接
近しているため、受光素子３０における受光レベルが適
正であれば、他方の受光素子２９における受光レベルも
適正である。織布Ｗ上における凸レンズ２０，２１の各
焦点は接近しているが、一方の凸レンズの焦点からの散
乱光が他方の凸レンズに対応する受光素子における受光
レベルに影響を与えることはない。受光素子３０におけ
る受光レベルが適正であれば検反無効化信号Ｎは出力さ
れず、受光素子３０における受光レベルが適正でなけれ
ば検反無効化信号Ｎが出力される。
【００３２】この実施の形態では、織布Ｗ上の接近した
２地点（図４において検知範囲２０１，２１１として示
される）を同時に光で走査し、検知範囲２０１，２１１
からの反射光が検反用の光、参照用の光として拾われ
る。検知範囲２１１からの反射光は検反光及び参照光と
して用いられ、検知範囲２０１からの反射光は検反光と
して用いられる。これら２地点の１つにおける織り状態
を反映する光が参照用電気信号（即ち、電圧信号Ｓ２）
に変換される。この参照電気信号と参照基準値となる基
準範囲〔Ｖ３，Ｖ４〕が比較され、前記２地点における
織り状態を反映する光を変換した電気信号の差ΔＳの採
否が前記参照用電気信号と参照基準値との比較の結果に
基づいて判定される。このような採否の上で行われる検
反用電気信号（この実施の形態では差信号ΔＳ）と検反
基準値との比較は織り状態を精度良く反映する。
【００３３】次に、図７の第２の実施の形態を説明す
る。第１の実施の形態と同じ構成部には同じ符号が付し
てある。この実施の形態ではＩ／Ｖ変換回路３４から出
力される電圧信号Ｓ１が差演算回路３６以外に比較回路
４４にも送られる。比較回路４４は入力した電圧信号Ｓ
１と基準値設定回路４２，４３によって予め設定された
基準値Ｖ３，Ｖ４とを比較する。電圧信号Ｓ１の値が基
準範囲〔Ｖ３，Ｖ４〕から外れた場合には比較回路４４
は出力回路４５に検反無効化信号Ｎ２を出力する。電圧
信号Ｓ１の値が基準範囲〔Ｖ３，Ｖ４〕内にある場合に
は比較回路４４は出力回路４５に検反無効化信号Ｎ２を
出力しない。電圧信号Ｓ２の値が基準範囲〔Ｖ３，Ｖ
４〕から外れた場合には比較回路４１は出力回路４５に
検反無効化信号Ｎ１を出力する。電圧信号Ｓ２の値が基
準範囲〔Ｖ３，Ｖ４〕内にある場合には比較回路４１は
出力回路４５に検反無効化信号Ｎ１を出力しない。
【００３４】検反無効化信号Ｎ１，Ｎ２が同時に入力し
たときにのみ、出力回路４５は欠点検出信号ＳT の出力
に対して製織停止信号、異常表示信号等の出力を行な
う。このようにすれば検知範囲２０１，２１１のいずれ
か一方が織布上の欠点を反映する光を参照用の光として
取り出した場合にも受光レベルの不適正状態という判定
は行われない。従って、織布上の欠点が検知範囲２０１
に入ったときに何らかの原因によってこの欠点の検出を
行えなかった場合にも、織布上の欠点が検知範囲２１１
に入ったときにこの欠点の検出に成功する可能性が残
り、織布上の欠点検出の早期発見の確実性が第１の実施
の形態の場合よりも高くなる。
【００３５】次に、図８の第３の実施の形態を説明す
る。第１の実施の形態と同じ構成部には同じ符号が付し
てある。この実施の形態では補正回路４６が基準値設定
回路４７によって予め設定された基準値Ｖ５と電圧信号
Ｓ２とに基づいて差演算回路３６から出力された差信号
ΔＳを補正する。基準値Ｖ５は受光素子３０における適
正な受光レベルに対応して設定されている。基準値Ｖ５
は図６（ａ）に示してある。補正回路４６は例えば差信
号ΔＳをΔＳ・Ｖ５／Ｓ２のように補正して比較回路３
７に出力する。補正された差信号ΔＳ・Ｖ５／Ｓ２が基
準範囲〔Ｖ１，Ｖ２〕から外れた場合には比較回路３７
は出力回路４０に欠点検出信号ＳT を出力する。
【００３６】受光レベルが適正レベルよりも大きすぎる
場合には、本来基準範囲〔Ｖ１，Ｖ２〕内であるべき差
信号ΔＳが基準範囲〔Ｖ１，Ｖ２〕から外れてしまうお
それがある。逆に、受光レベルが適正レベルよりも小さ
すぎる場合には、本来基準範囲〔Ｖ１，Ｖ２〕から外れ
るべき差信号ΔＳが基準範囲〔Ｖ１，Ｖ２〕内に収まっ
てしまうおそれがある。補正回路４６による前記したよ
うな補正の上で行われる検反用電気信号と検反基準値と
の比較は織り状態を精度良く反映し、誤検反が防止され
る。
【００３７】なお、この実施の形態では差信号ΔＳを補
正したが、基準範囲〔Ｖ１，Ｖ２〕の方を補正するよう
にした実施の形態も可能である。次に、図９の第４の実
施の形態を説明する。第１の実施の形態と同じ構成部に
は同じ符号が付してある。この実施の形態では、センサ
ヘッド１２上に一対の反射鏡４８，４９及び一対の凸レ
ンズ５０，５１が取り付けられている。凸レンズ５０，
５１の焦点は織布Ｗ上に設定されている。反射鏡４８，
４９は投光器２２と受光器２７とを結ぶ線上にある。反
射鏡４８，４９は互いに逆向きに凸レンズ２６の光軸及
び集光レンズ３１，３２の光軸に対してある角度で傾い
ている。スリット板２５には一対のスリット２５２，２
５３が形成されている。スリット２５２，２５３を通過
した平行光は反射鏡４８によって織布Ｗに向けて反射さ
れる。織布Ｗから反射した光の一部は凸レンズ５０，５
１によって平行光にされる。これらの平行光は反射鏡４
９によって集光レンズ３１，３２に向けて反射される。
【００３８】凸レンズ５０，５１の織布Ｗ上の焦点はあ
る程度離れているが、各焦点上の検知範囲に対する受光
レベルに大きな違いはない。従って、この実施の形態に
おいても第１の実施の形態とそれほど変わらない効果が
得られる。
【００３９】さらに本発明は、検知範囲を経糸の糸方向
に並べた実施の形態も可能である。。検知範囲を経糸の
糸方向に配設した場合には欠点検出信号の出力は緯糸の
欠点を検出したことによるものとなる。
【００４０】図１０に示すように前記各実施の形態にお
ける差演算回路を用いない第５の実施の形態も可能であ
る。この実施の形態では比較回路５２が基準値設定回路
５３によって予め設定された基準値と電圧信号Ｓ１とを
直接比較し、この比較結果に基づいて欠点検出信号ＳT
を出力するか否かを判定する。
【００４１】以下に、実施の形態の効果を記載する。 （１）複数の地点の織り状態を反映する光を変換した電
気信号の２つの差を演算し、この演算によって得られた
差と検反基準値とを比較する実施の形態では、風綿、検
反装置以外の照明光等の外乱の影響を排除でき、誤検反
の回避に寄与する。 （２）検知範囲で示す複数地点を接近せさた実施の形態
では、各地点に対する受光レベルが同一となり、検反光
の受光レベルが適正か否かの判断を正確に行える。 （３）複数地点から拾われた光をいずれも参照光とする
実施の形態では、織布上の欠点の早期発見が保障され
る。
【００４２】
【発明の効果】以上詳述したように、織布上の複数地点
の１つにおける織り状態を反映する光を変換した参照用
電気信号と参照基準値との比較の結果に基づいて、前記
複数地点の少なくとも他における織り状態を反映する光
を変換した検反用電気信号の比較対象となる検反基準値
と検反用電気信号とのいずれか一方を補正する発明で
は、光学的処理に対する外乱の影響を排除して誤検反を
回避し得る。
【００４３】織布上の複数地点の１つにおける織り状態
を反映する光を変換した参照用電気信号と参照基準値と
の比較の結果に基づいて、前記複数地点の少なくとも他
における織り状態を反映する光を変換した検反用電気信
号の採否を判定する発明では、光学的処理に対する外乱
の影響を排除して誤検反を回避し得る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態を示す一部省略正面
図。
【図２】図１のＡ−Ａ線断面図。
【図３】図１のＢ−Ｂ線断面図。
【図４】織布上の検知範囲と制御回路との組合わせ図。
【図５】検知範囲の走査領域を示す平面図。
【図６】（ａ）〜（ｄ）は制御回路における信号処理を
説明するグラフ。
【図７】第２の実施の形態を示す織布上の検知範囲と制
御回路との組合わせ図。
【図８】第３の実施の形態を示す織布上の検知範囲と制
御回路との組合わせ図。
【図９】第４の実施の形態を示す一部省略正面図。
【図１０】第５の実施の形態を示す一部省略正面図。
【符号の説明】
２０１，２１１…複数地点のいずれかとなる検知範囲、
２９，３０…光電センサとなる受光素子、３６…差演算
回路、３７…第２の比較手段となる比較回路、３８，３
９…検反基準値を設定するための基準値設定回路、４
０，４５…採否判定手段となる出力回路、４１…第１の
比較手段となる比較回路、４２，４３…参照基準値を設
定するための基準値設定回路、４６…補正手段となる補
正回路、Ｗ…織布。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０１Ｎ 21/89 Ｇ０１Ｎ 21/89 Ｃ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】織布の織り状態を反映する光の受光量に応
    じた電気信号を出力する光電センサを用いて織布の欠点
    を検出する織布検反方法において、 織布上の複数地点を同時に光で走査し、これら複数の地
    点の１つにおける織り状態を反映する光を参照用の電気
    信号に変換すると共に、この参照用電気信号と参照基準
    値とを比較し、前記複数の地点の少なくとも他における
    織り状態を反映する光を検反用の電気信号に変換し、こ
    の検反用電気信号の比較対象となる検反基準値と前記検
    反用電気信号のいずれか一方を前記参照用電気信号と参
    照基準値との比較の結果に基づいて補正する織布検反方
    法。
  2. 【請求項２】織布の織り状態を反映する光の受光量に応
    じた電気信号を出力する光電センサを用いて織布の欠点
    を検出する織布検反方法において、 織布上の複数地点を同時に光で走査し、これら複数の地
    点の１つにおける織り状態を反映する光を参照用の電気
    信号に変換すると共に、この参照用電気信号と参照基準
    値とを比較し、前記複数の地点の少なくとも他における
    織り状態を反映する光を検反用の電気信号に変換し、前
    記参照用電気信号と参照基準値との比較の結果に基づい
    て前記検反用電気信号の採否を判定する織布検反方法。
  3. 【請求項３】前記複数地点を接近させた請求項１及び請
    求項２のいずれか１項に記載の織布検反方法。
  4. 【請求項４】前記複数の地点の織り状態を反映する光を
    変換した電気信号の２つの差を演算し、この演算によっ
    て得られた差と検反基準値とを比較する請求項１乃至請
    求項３のいずれか１項に記載の織布検反方法。
  5. 【請求項５】織布の織り状態を反映する光の受光量に応
    じた電気信号を出力する光電センサを用いて織布の欠点
    を検出する織布検反装置において、 織布の織り状態を反映する光を受光する第１の光電セン
    サと、 前記光電センサの検出地点とは別の地点に検出領域を持
    つ第２の光電センサと、 第１の光電センサ及び第２の光電センサの一方から得ら
    れる参照用電気信号と参照基準値とを比較する第１の比
    較手段と、 第１の光電センサ及び第２の光電センサの少なくとも他
    方から得られる検反用電気信号と検反基準値とを比較す
    る第２の比較手段と、 前記第２の比較手段における比較結果を前記第１の比較
    手段の比較結果に基づいて補正する補正手段とを備えた
    織布検反装置。
  6. 【請求項６】織布の織り状態を反映する光の受光量に応
    じた電気信号を出力する光電センサを用いて織布の欠点
    を検出する織布検反装置において、 織布の織り状態を反映する光を受光する第１の光電セン
    サと、 前記光電センサの検出地点とは別の地点に検出領域を持
    つ第２の光電センサと、 第１の光電センサ及び第２の光電センサの一方から得ら
    れる参照用電気信号と参照基準値とを比較する第１の比
    較手段と、 第１の光電センサ及び第２の光電センサの少なくとも他
    方から得られる検反用電気信号と検反基準値とを比較す
    る第２の比較手段と、 第１の比較手段における比較結果の採否を前記第２の比
    較手段の比較結果に基づいて判定する採否判定手段とを
    備えた織布検反装置。
  7. 【請求項７】前記第１の光電センサ及び第２の光電セン
    サから得られる電気信号の差を演算する差演算手段と、 前記差演算手段の演算結果に基づいて欠点検出信号を出
    力するか否かを判定する欠点判定手段とを備えた第１の
    比較手段を構成した請求項５及び請求項６のいずれか１
    項に記載の織布検反装置。
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