JPH097213A - 光学的情報記録再生装置 - Google Patents
光学的情報記録再生装置Info
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- JPH097213A JPH097213A JP7151347A JP15134795A JPH097213A JP H097213 A JPH097213 A JP H097213A JP 7151347 A JP7151347 A JP 7151347A JP 15134795 A JP15134795 A JP 15134795A JP H097213 A JPH097213 A JP H097213A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 検出光学系へと向かう光束が光学系固定部に
おいてケラレるのを避け、ATオフセット発生や再生信
号の強度低下及びSN比低下等の劣化などの不利を生じ
にくい光学的情報記録再生装置を提供する。 【構成】 照射光学系からの光束を絞って光カード1に
光スポットとして照射し且つ光カード1上の光スポット
からの光束を検出光学系に導く様にした光ヘッドを有
し、この光ヘッドは照射光学系及び検出光学系を含む固
定部と該固定部に対し移動可能で対物レンズ16を含む
可動部とから構成されており、照射光学系からの光束の
照射により光カード1に対し情報を記録再生する光学的
情報記録再生装置において、検出光学系を構成する光学
部品の有効径を光カード1上の光スポットからの光束の
到達可能範囲以上の大きさとなした。
おいてケラレるのを避け、ATオフセット発生や再生信
号の強度低下及びSN比低下等の劣化などの不利を生じ
にくい光学的情報記録再生装置を提供する。 【構成】 照射光学系からの光束を絞って光カード1に
光スポットとして照射し且つ光カード1上の光スポット
からの光束を検出光学系に導く様にした光ヘッドを有
し、この光ヘッドは照射光学系及び検出光学系を含む固
定部と該固定部に対し移動可能で対物レンズ16を含む
可動部とから構成されており、照射光学系からの光束の
照射により光カード1に対し情報を記録再生する光学的
情報記録再生装置において、検出光学系を構成する光学
部品の有効径を光カード1上の光スポットからの光束の
到達可能範囲以上の大きさとなした。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光学的情報記録媒体に
情報を記録し、該記録媒体に記録された情報を再生する
光学的情報記録再生装置に関する。本発明は、特に、光
ヘッド光学系が固定部と可動部とに分かれている光学的
情報記録再生装置に関する。
情報を記録し、該記録媒体に記録された情報を再生する
光学的情報記録再生装置に関する。本発明は、特に、光
ヘッド光学系が固定部と可動部とに分かれている光学的
情報記録再生装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、光を用いて情報の記録、再生を行
なう情報記録媒体としてディスク状、カード状、テープ
状等の各種の形態のものが知られている。これら光学的
情報記録媒体には記録及び再生の可能なものや再生のみ
可能なもの等がある。記録可能な媒体への情報の記録
は、記録情報に従って変調され微小スポット状に絞られ
た光ビームで情報トラックを走査することにより行なわ
れ、光学的に検出可能な情報ビット列として情報が記録
される。
なう情報記録媒体としてディスク状、カード状、テープ
状等の各種の形態のものが知られている。これら光学的
情報記録媒体には記録及び再生の可能なものや再生のみ
可能なもの等がある。記録可能な媒体への情報の記録
は、記録情報に従って変調され微小スポット状に絞られ
た光ビームで情報トラックを走査することにより行なわ
れ、光学的に検出可能な情報ビット列として情報が記録
される。
【0003】又、記録媒体からの情報の再生は、該媒体
に記録が行なわれない程度の一定のパワーの光ビームス
ポットで情報トラックの情報ビット列を走査し、該媒体
からの反射光又は透過光を検出することにより行なわれ
る。
に記録が行なわれない程度の一定のパワーの光ビームス
ポットで情報トラックの情報ビット列を走査し、該媒体
からの反射光又は透過光を検出することにより行なわれ
る。
【0004】上述した記録媒体への情報の記録、再生に
用いられる光ヘッドは、記録媒体に対しその情報トラッ
ク方向及び該方向を横切る方向に相対的に移動可能とさ
れており、この移動により光ビームスポットの情報トラ
ック走査が行なわれる。光ヘッドにおける光ビームスポ
ットの絞り込み用レンズとしては、例えば対物レンズが
用いられる。この対物レンズはその光軸方向(フォーカ
シング方向)及び該光軸方向と記録媒体の情報トラック
方向との双方に直交する方向(トラッキング方向)に夫
々独立して移動することができるように光ヘッド本体に
保持されている。このような対物レンズの保持は、一般
に弾性部材を介して成され、対物レンズの上記2方向の
移動は一般に磁気的相互作用を利用したアクチュエータ
により駆動される。
用いられる光ヘッドは、記録媒体に対しその情報トラッ
ク方向及び該方向を横切る方向に相対的に移動可能とさ
れており、この移動により光ビームスポットの情報トラ
ック走査が行なわれる。光ヘッドにおける光ビームスポ
ットの絞り込み用レンズとしては、例えば対物レンズが
用いられる。この対物レンズはその光軸方向(フォーカ
シング方向)及び該光軸方向と記録媒体の情報トラック
方向との双方に直交する方向(トラッキング方向)に夫
々独立して移動することができるように光ヘッド本体に
保持されている。このような対物レンズの保持は、一般
に弾性部材を介して成され、対物レンズの上記2方向の
移動は一般に磁気的相互作用を利用したアクチュエータ
により駆動される。
【0005】ところで、上述した光学的情報記録媒体の
うちカード状の光学的情報記録媒体(以下、光カードと
称する)は、小型軽量で持ち運びに便利な比較的大容量
の情報記録媒体として今後大きな需要が見込まれてい
る。
うちカード状の光学的情報記録媒体(以下、光カードと
称する)は、小型軽量で持ち運びに便利な比較的大容量
の情報記録媒体として今後大きな需要が見込まれてい
る。
【0006】ここで、光学的情報記録再生方法を図14
に示す光ヘッド光学系の概略図を用いて説明する。
に示す光ヘッド光学系の概略図を用いて説明する。
【0007】図14において、21は光源たる半導体レ
ーザであり、この例ではトラックに垂直の方向に偏光し
ている830nmの波長の光を発する。また、22はコ
リメータレンズ、23はビーム整形プリズム、11は光
束分割のための回折格子、25は偏光ビームスプリッタ
である。更に、36は1/4波長板、33aはミラー、
37は対物レンズ、40は凸球面レンズ、41は凸シリ
ンドリカルレンズ、42は光検出器を示す。光検出器4
2は、2つの受光素子42a,42c及び4つに分割さ
れた受光素子42bから構成されている。
ーザであり、この例ではトラックに垂直の方向に偏光し
ている830nmの波長の光を発する。また、22はコ
リメータレンズ、23はビーム整形プリズム、11は光
束分割のための回折格子、25は偏光ビームスプリッタ
である。更に、36は1/4波長板、33aはミラー、
37は対物レンズ、40は凸球面レンズ、41は凸シリ
ンドリカルレンズ、42は光検出器を示す。光検出器4
2は、2つの受光素子42a,42c及び4つに分割さ
れた受光素子42bから構成されている。
【0008】半導体レーザ21から発せられた光ビーム
は、発散光束となってコリメータレンズ22に入射す
る。そして、該レンズにより平行光ビームとされ、さら
にビーム整形プリズム23により所定の光強度分布、つ
まり円形の強度分布を有するビームに整形される。その
後、回折格子11に入射し、該回折格子11により有効
な3つの光ビーム(0次回折光及び±1次回折光)に分
割される。この3つの光束は、偏光ビームスプリッタ2
5にP偏光光束として入射する。偏光ビームスプリッタ
25に入射したP偏光は100%近く透過する。
は、発散光束となってコリメータレンズ22に入射す
る。そして、該レンズにより平行光ビームとされ、さら
にビーム整形プリズム23により所定の光強度分布、つ
まり円形の強度分布を有するビームに整形される。その
後、回折格子11に入射し、該回折格子11により有効
な3つの光ビーム(0次回折光及び±1次回折光)に分
割される。この3つの光束は、偏光ビームスプリッタ2
5にP偏光光束として入射する。偏光ビームスプリッタ
25に入射したP偏光は100%近く透過する。
【0009】次いで、前記3つの光束は1/4波長板3
6を透過する際に円偏光に変換され、ミラー33aで反
射され、対物レンズ37によって光カード1上に集束さ
れる。この集束された光が図14に示したように、3つ
の微小ビームスポットS1 (+1次回折光)、S2 (0
次回折光)、S3 (−1次回折光)である。S2 は記
録、再生、AF制御に用いられ、S1 とS3 はAT制御
に用いられる。光カード1上におけるスポット位置は、
光ビームスポットS1 ,S3 は隣接するトラッキングト
ラック4上に位置し、光ビームスポットS2 は該トラッ
キングトラック間の情報トラック2上に位置している。
かくして、光カード1上に形成された光ビームスポット
からの反射光は、再び対物レンズ37を通って平行光束
とされ、ミラー33aで反射され、1/4波長板36を
透過することにより入射時とは偏光方向が90°回転し
た光ビームに変換される。そして、偏光ビームスプリッ
タ25にはS偏光ビームとして入射し、100%近く反
射され、検出光学系に導かれる。
6を透過する際に円偏光に変換され、ミラー33aで反
射され、対物レンズ37によって光カード1上に集束さ
れる。この集束された光が図14に示したように、3つ
の微小ビームスポットS1 (+1次回折光)、S2 (0
次回折光)、S3 (−1次回折光)である。S2 は記
録、再生、AF制御に用いられ、S1 とS3 はAT制御
に用いられる。光カード1上におけるスポット位置は、
光ビームスポットS1 ,S3 は隣接するトラッキングト
ラック4上に位置し、光ビームスポットS2 は該トラッ
キングトラック間の情報トラック2上に位置している。
かくして、光カード1上に形成された光ビームスポット
からの反射光は、再び対物レンズ37を通って平行光束
とされ、ミラー33aで反射され、1/4波長板36を
透過することにより入射時とは偏光方向が90°回転し
た光ビームに変換される。そして、偏光ビームスプリッ
タ25にはS偏光ビームとして入射し、100%近く反
射され、検出光学系に導かれる。
【0010】前記検出光学系では、球面レンズ40とシ
リンドリカルレンズ41とが組み合わされており、この
組み合わせにより非点収差法によるAF制御が行なわれ
る。光カード1から反射した3つの光束は前記検出光学
系によりそれぞれ集光され、光検出器42に入射して、
3つの光スポットを形成する。受光素子42a,42c
は前述の光スポットS1 ,S3 の反射光を受光し、これ
ら2つの受光素子の出力の差を用いてAT制御が行なわ
れる。また、4分割の受光素子42bは光スポットS2
の反射光を受光し、その出力を用いてAF制御が行なわ
れ且つ記録情報が再生される。
リンドリカルレンズ41とが組み合わされており、この
組み合わせにより非点収差法によるAF制御が行なわれ
る。光カード1から反射した3つの光束は前記検出光学
系によりそれぞれ集光され、光検出器42に入射して、
3つの光スポットを形成する。受光素子42a,42c
は前述の光スポットS1 ,S3 の反射光を受光し、これ
ら2つの受光素子の出力の差を用いてAT制御が行なわ
れる。また、4分割の受光素子42bは光スポットS2
の反射光を受光し、その出力を用いてAF制御が行なわ
れ且つ記録情報が再生される。
【0011】ところで、以上の様な光ヘッド光学系を、
図14に示されている様に、固定部20と可動部30と
に分け、該可動部のみを矢印に示す様に移動させること
により、光ビームスポットS2 で情報トラックの走査を
行うことができる。この様な分離型の光ヘッドでは、可
動部の移動量は、光カード1の縦方向の長さ程度は必要
であり、通常100mm程度である。
図14に示されている様に、固定部20と可動部30と
に分け、該可動部のみを矢印に示す様に移動させること
により、光ビームスポットS2 で情報トラックの走査を
行うことができる。この様な分離型の光ヘッドでは、可
動部の移動量は、光カード1の縦方向の長さ程度は必要
であり、通常100mm程度である。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】上記分離型光ヘッドの
場合には、可動部の位置によって光路長特に回折格子1
1から可動部、光カード1及び再び可動部を経て光検出
器42へと至る光路長が変化する。この光路長の変化は
可動部の移動量の略2倍であり、このため光学系に対す
る光束の所定位置からのずれ(以下、単に「光束ずれ」
という)が発生しやすい。即ち、光学系に対する光カー
ド(記録媒体)1の配置の角度誤差が大きい場合や、機
械部品及び光学部品の精度誤差及びこれらの組立誤差が
大きい場合には、光カード1からの反射光束が光学系に
対する基準位置から傾いたり平行シフトしたりする。こ
の光束ずれが大きくなると、2つのAT(オートトラッ
キング)制御用光束のうちの一方だけに、光学部品の有
効径によるケラレが発生し、ATオフセットや再生信号
劣化等の不利が生じてしまうという問題点があった。そ
して、可動部の位置に応じて光路長が変化するため、光
束ケラレの量も変化し、可動部の位置によって信号強度
やATオフセットの大きさが変化するという問題もあっ
た。
場合には、可動部の位置によって光路長特に回折格子1
1から可動部、光カード1及び再び可動部を経て光検出
器42へと至る光路長が変化する。この光路長の変化は
可動部の移動量の略2倍であり、このため光学系に対す
る光束の所定位置からのずれ(以下、単に「光束ずれ」
という)が発生しやすい。即ち、光学系に対する光カー
ド(記録媒体)1の配置の角度誤差が大きい場合や、機
械部品及び光学部品の精度誤差及びこれらの組立誤差が
大きい場合には、光カード1からの反射光束が光学系に
対する基準位置から傾いたり平行シフトしたりする。こ
の光束ずれが大きくなると、2つのAT(オートトラッ
キング)制御用光束のうちの一方だけに、光学部品の有
効径によるケラレが発生し、ATオフセットや再生信号
劣化等の不利が生じてしまうという問題点があった。そ
して、可動部の位置に応じて光路長が変化するため、光
束ケラレの量も変化し、可動部の位置によって信号強度
やATオフセットの大きさが変化するという問題もあっ
た。
【0013】ATオフセット発生や再生信号強度低下発
生等の不利を回避するためには、各部品の精度及びこれ
らの組立て精度を厳しくすることが考えられるが、その
場合には部品加工及び組立てに要する時間及び労力が大
きく、低コスト化が困難になる。
生等の不利を回避するためには、各部品の精度及びこれ
らの組立て精度を厳しくすることが考えられるが、その
場合には部品加工及び組立てに要する時間及び労力が大
きく、低コスト化が困難になる。
【0014】そこで、本発明は、検出光学系へと向かう
光束が光学系固定部においてケラレるのを避けることを
目的とする。そして、本発明は、これにより、特にAT
オフセット発生や再生信号の強度低下及びSN比低下等
の劣化などの不利を生じにくい光学的情報記録再生装置
を提供することを目的とするものである。
光束が光学系固定部においてケラレるのを避けることを
目的とする。そして、本発明は、これにより、特にAT
オフセット発生や再生信号の強度低下及びSN比低下等
の劣化などの不利を生じにくい光学的情報記録再生装置
を提供することを目的とするものである。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、上記目
的を達成するものとして、照射光学系からの光束を絞っ
て光学的情報記録媒体に光スポットとして照射し且つ前
記記録媒体上の光スポットからの光束を検出光学系に導
く様にした光ヘッドを有し、該光ヘッドは前記照射光学
系及び前記検出光学系を含む固定部と該固定部に対し移
動可能で対物レンズを含む可動部とから構成されてお
り、前記照射光学系からの光束の照射により前記記録媒
体に対し情報を記録し及び/または記録情報を再生する
光学的情報記録再生装置において、前記検出光学系を構
成する光学部品の有効径は前記記録媒体上の光スポット
からの光束の到達可能範囲以上の大きさであることを特
徴とする光学的情報記録再生装置、が提供される。
的を達成するものとして、照射光学系からの光束を絞っ
て光学的情報記録媒体に光スポットとして照射し且つ前
記記録媒体上の光スポットからの光束を検出光学系に導
く様にした光ヘッドを有し、該光ヘッドは前記照射光学
系及び前記検出光学系を含む固定部と該固定部に対し移
動可能で対物レンズを含む可動部とから構成されてお
り、前記照射光学系からの光束の照射により前記記録媒
体に対し情報を記録し及び/または記録情報を再生する
光学的情報記録再生装置において、前記検出光学系を構
成する光学部品の有効径は前記記録媒体上の光スポット
からの光束の到達可能範囲以上の大きさであることを特
徴とする光学的情報記録再生装置、が提供される。
【0016】本発明の一態様においては、前記光ヘッド
は光束を複数に分割する回折格子を含んでおり、該回折
格子により分割された複数の光束により前記記録媒体に
前記光スポットが複数形成される。
は光束を複数に分割する回折格子を含んでおり、該回折
格子により分割された複数の光束により前記記録媒体に
前記光スポットが複数形成される。
【0017】本発明の一態様においては、前記回折格子
は前記可動部に配置されている。
は前記可動部に配置されている。
【0018】本発明の一態様においては、前記回折格子
は格子ピッチの異なる複数の回折領域を有する。
は格子ピッチの異なる複数の回折領域を有する。
【0019】本発明の一態様においては、前記回折格子
は格子ピッチ及び格子ピッチ方向の異なる複数の回折領
域を有する。
は格子ピッチ及び格子ピッチ方向の異なる複数の回折領
域を有する。
【0020】本発明の一態様においては、前記照射光学
系と前記検出光学系とが偏光ビームスプリッタを共有し
ており、前記照射光学系から前記可動部へと向かう光束
と該可動部から前記検出光学系へと向かう光束とが前記
偏光ビームスプリッタから前記可動部まで共通の光路を
通る。
系と前記検出光学系とが偏光ビームスプリッタを共有し
ており、前記照射光学系から前記可動部へと向かう光束
と該可動部から前記検出光学系へと向かう光束とが前記
偏光ビームスプリッタから前記可動部まで共通の光路を
通る。
【0021】本発明の一態様においては、前記照射光学
系と前記検出光学系とがビームスプリッタを共有してお
り、前記照射光学系から前記可動部へと向かう光束と該
可動部から前記検出光学系へと向かう光束とが前記ビー
ムスプリッタから前記可動部まで共通の光路を通る。
系と前記検出光学系とがビームスプリッタを共有してお
り、前記照射光学系から前記可動部へと向かう光束と該
可動部から前記検出光学系へと向かう光束とが前記ビー
ムスプリッタから前記可動部まで共通の光路を通る。
【0022】本発明の一態様においては、前記記録媒体
上の光スポットからの光束の到達可能範囲は、前記記録
媒体の配置の角度誤差や前記光ヘッドの機械部品及び光
学部品の精度誤差及びこれらの組立誤差や前記可動部の
移動範囲に基づき決定される。
上の光スポットからの光束の到達可能範囲は、前記記録
媒体の配置の角度誤差や前記光ヘッドの機械部品及び光
学部品の精度誤差及びこれらの組立誤差や前記可動部の
移動範囲に基づき決定される。
【0023】本発明の一態様においては、前記記録媒体
上の光スポットからの光束の到達可能範囲は、前記記録
媒体の配置の角度誤差や前記光ヘッドの機械部品及び光
学部品の精度誤差及びこれらの組立誤差が通常考えられ
る最大の程度に生じた場合に前記可動部が全移動範囲内
で移動する時に前記光束が到達し得る範囲である。
上の光スポットからの光束の到達可能範囲は、前記記録
媒体の配置の角度誤差や前記光ヘッドの機械部品及び光
学部品の精度誤差及びこれらの組立誤差が通常考えられ
る最大の程度に生じた場合に前記可動部が全移動範囲内
で移動する時に前記光束が到達し得る範囲である。
【0024】本発明の一態様においては、前記検出光学
系は光収斂作用をもつ光学部品を含む。
系は光収斂作用をもつ光学部品を含む。
【0025】本発明の一態様においては、前記光収斂作
用をもつ光学部品は凸レンズである。
用をもつ光学部品は凸レンズである。
【0026】本発明の一態様においては、前記光収斂作
用をもつ光学部品はシリンドリカルレンズである。
用をもつ光学部品はシリンドリカルレンズである。
【0027】本発明の一態様においては、前記光収斂作
用をもつ光学部品はトーリックレンズである。
用をもつ光学部品はトーリックレンズである。
【0028】
【実施例】以下、図面を参照しながら、本発明の具体的
実施例を説明する。
実施例を説明する。
【0029】図1は、本発明による光学的情報記録再生
装置の光ヘッドの一実施例の概略構成図である。
装置の光ヘッドの一実施例の概略構成図である。
【0030】図1において、1は光カードである。照射
光学系は、上記図14に関し説明した様な半導体レー
ザ、コリメータレンズ及びビーム整形プリズムを含むも
のであり、ここからはビーム整形された平行光束が出射
される。また、検出光学系は、図14に関し説明した様
な球面レンズ、シリンドリカルレンズ及び光検出器を含
むものである。
光学系は、上記図14に関し説明した様な半導体レー
ザ、コリメータレンズ及びビーム整形プリズムを含むも
のであり、ここからはビーム整形された平行光束が出射
される。また、検出光学系は、図14に関し説明した様
な球面レンズ、シリンドリカルレンズ及び光検出器を含
むものである。
【0031】入射光路を光カード1の面とほぼ平行に進
行してきたレーザ光束は、回折格子11により3つの光
束に分けられ、偏光ビームスプリッタ12にS偏光とし
て入射し反射される。その後、1/4波長板15、対物
レンズ16、光カード1、対物レンズ16及び1/4波
長板15を経由することにより偏光方向が90度回転
し、偏光ビームスプリッタ12にP偏光として再び入射
して透過し、全反射プリズム13の全反射面にP偏光と
して入射して反射され、反射光路を直進し、検出光学系
に到達する。反射光路は光カード1の面とほぼ平行であ
り、且つ入射光路と反射光路とは可動部に関し反対側に
位置し互いに平行である。そして、反射光路を進行した
光束は、検出光学系により検出される。
行してきたレーザ光束は、回折格子11により3つの光
束に分けられ、偏光ビームスプリッタ12にS偏光とし
て入射し反射される。その後、1/4波長板15、対物
レンズ16、光カード1、対物レンズ16及び1/4波
長板15を経由することにより偏光方向が90度回転
し、偏光ビームスプリッタ12にP偏光として再び入射
して透過し、全反射プリズム13の全反射面にP偏光と
して入射して反射され、反射光路を直進し、検出光学系
に到達する。反射光路は光カード1の面とほぼ平行であ
り、且つ入射光路と反射光路とは可動部に関し反対側に
位置し互いに平行である。そして、反射光路を進行した
光束は、検出光学系により検出される。
【0032】ここでは、照射光学系からの光束を対物レ
ンズ16で絞って光カード1に光スポットとして照射し
ており、該光カード1上の光スポットからの光束を検出
光学系に投影している。また、光ヘッドの光学系は、照
射光学系及び検出光学系を含む固定部と、該固定部に対
し矢印方向に移動可能な可動部とから構成されている。
ンズ16で絞って光カード1に光スポットとして照射し
ており、該光カード1上の光スポットからの光束を検出
光学系に投影している。また、光ヘッドの光学系は、照
射光学系及び検出光学系を含む固定部と、該固定部に対
し矢印方向に移動可能な可動部とから構成されている。
【0033】図2は本実施例における検出光学系の概略
構成図である。図2において、40は凸球面レンズであ
り、41はシリンドリカルレンズであり、42は光検出
器である。球面レンズ40の外径(有効径)Dは、光束
ずれのない場合の光束最外径(複数の光束を内包する外
径)dよりも大きく、その大きさは、光カード1の配置
の角度誤差や光ヘッドの機械部品及び光学部品の精度誤
差及びこれらの組立誤差が通常考えられる最大の程度に
生じたとして、可動部の全移動範囲で発生する上記光束
ずれよりも、(D−d)が大きくなる様なものとされて
いる。即ち、外径Dは、最大の光束ずれを考慮した場合
の光束到達可能範囲よりも大きい。
構成図である。図2において、40は凸球面レンズであ
り、41はシリンドリカルレンズであり、42は光検出
器である。球面レンズ40の外径(有効径)Dは、光束
ずれのない場合の光束最外径(複数の光束を内包する外
径)dよりも大きく、その大きさは、光カード1の配置
の角度誤差や光ヘッドの機械部品及び光学部品の精度誤
差及びこれらの組立誤差が通常考えられる最大の程度に
生じたとして、可動部の全移動範囲で発生する上記光束
ずれよりも、(D−d)が大きくなる様なものとされて
いる。即ち、外径Dは、最大の光束ずれを考慮した場合
の光束到達可能範囲よりも大きい。
【0034】例えば、光束が光学系に対する所定角度か
ら1°傾いたとすると、可動部と検出光学系の凸球面レ
ンズ40との距離が10mmの場合と100mmの場合
とでは、その差が(100−10)tan1°=1.5
7mmとなり、使用する光束の径が5mmφ程度の光ヘ
ッドにおいては、かなりの光量変動となる。本実施例で
は、この様な可動部移動に伴い凸球面レンズ40へと向
かう光束が移動する際にも凸球面レンズ40の有効径内
に入る様に、該有効径が設定されている。
ら1°傾いたとすると、可動部と検出光学系の凸球面レ
ンズ40との距離が10mmの場合と100mmの場合
とでは、その差が(100−10)tan1°=1.5
7mmとなり、使用する光束の径が5mmφ程度の光ヘ
ッドにおいては、かなりの光量変動となる。本実施例で
は、この様な可動部移動に伴い凸球面レンズ40へと向
かう光束が移動する際にも凸球面レンズ40の有効径内
に入る様に、該有効径が設定されている。
【0035】図2において、Aは光カード1の配置の角
度誤差や機械部品及び光学部品の精度誤差及びこれらの
組立誤差がない場合の或る光束を示し、Bは光カード1
の配置の角度誤差や機械部品及び光学部品の精度誤差及
びこれらの組立誤差が大きい場合の対応光束を示す。光
束Aは凸球面レンズ40の外径がdであってもケラレる
ことはないが、光束Bは凸球面レンズ40の外径がdで
あると斜線部分がケラレてしまう。これに対し、本実施
例では、凸球面レンズ40の外径がDであるので光束
A,Bともケラレることはない。
度誤差や機械部品及び光学部品の精度誤差及びこれらの
組立誤差がない場合の或る光束を示し、Bは光カード1
の配置の角度誤差や機械部品及び光学部品の精度誤差及
びこれらの組立誤差が大きい場合の対応光束を示す。光
束Aは凸球面レンズ40の外径がdであってもケラレる
ことはないが、光束Bは凸球面レンズ40の外径がdで
あると斜線部分がケラレてしまう。これに対し、本実施
例では、凸球面レンズ40の外径がDであるので光束
A,Bともケラレることはない。
【0036】尚、ここでは検出光学系の凸球面レンズ4
0に関し説明したが、シリンドリカルレンズ41の外径
(有効径)についても同様のことがいえる。
0に関し説明したが、シリンドリカルレンズ41の外径
(有効径)についても同様のことがいえる。
【0037】また、本実施例では光束は凸球面レンズ4
0を経てシリンドリカルレンズ41に到達しているが、
シリンドリカルレンズを経て凸球面レンズに到達する様
な配置にしてもよい。
0を経てシリンドリカルレンズ41に到達しているが、
シリンドリカルレンズを経て凸球面レンズに到達する様
な配置にしてもよい。
【0038】図3は、本発明による光学的情報記録再生
装置の光ヘッドの一実施例の概略構成図である。本図に
おいて、上記図1〜図2におけると同様の機能を有する
部材には同一の符号が付されている。本実施例は、図1
〜図2のものと、全反射プリズム13の配置状態及び検
出光学系の配置が異なるのみである。本実施例において
も、上記図1〜図2の実施例と同様の効果が得られる。
装置の光ヘッドの一実施例の概略構成図である。本図に
おいて、上記図1〜図2におけると同様の機能を有する
部材には同一の符号が付されている。本実施例は、図1
〜図2のものと、全反射プリズム13の配置状態及び検
出光学系の配置が異なるのみである。本実施例において
も、上記図1〜図2の実施例と同様の効果が得られる。
【0039】図4は、本発明による光学的情報記録再生
装置の光ヘッドの一実施例の概略構成図である。本図に
おいて、上記図1〜図3におけると同様の機能を有する
部材には同一の符号が付されている。本実施例は、図1
〜図2のものと、回折格子の構成及び光検出器の構成が
異なる。
装置の光ヘッドの一実施例の概略構成図である。本図に
おいて、上記図1〜図3におけると同様の機能を有する
部材には同一の符号が付されている。本実施例は、図1
〜図2のものと、回折格子の構成及び光検出器の構成が
異なる。
【0040】即ち、本実施例では、図5に示されている
様な互いに格子ピッチ方向の異なる複数の回折領域11
a,11b,11cをもつ複合回折格子11’が用いら
れている。複合回折格子11’を用いることにより、入
射光束から互いに異なる3つの方向にそれぞれ0次及び
±1次の3つの回折光を生じさせ、かくして図6に示さ
れている様に光カード上に0次回折光スポットSAF、第
1の方向に回折された+1次回折光スポットSDV1 、第
1の方向に回折された−1次回折光スポットS DV2 、第
2の方向に回折された+1次回折光スポットSAT1 、第
2の方向に回折された−1次回折光スポットSAT2 、第
3の方向に回折された+1次回折光スポットSRF1 及び
第3の方向に回折された−1次回折光スポットSRF2 を
形成し、光スポットSAFを用いて記録及びAF制御を行
い、光スポットSDV1 ,SDV2 を用いて記録直後の確認
再生(ダイレクトベリファイ)を行い、光スポットS
AT1,SAT2 を用いてAT制御を行い、光スポットSRF1
と光スポットSRF2 と光スポットSDV1 ,SDV2 ,S
AFのうちの1つとを用いて3トラックの同時再生を行
い、しかも以上の様な記録再生をL,Fどちらの向きで
も(即ち往復で)行うことができる。なお、図6におい
て、4はトラッキングトラックであり、2は情報トラッ
クである。
様な互いに格子ピッチ方向の異なる複数の回折領域11
a,11b,11cをもつ複合回折格子11’が用いら
れている。複合回折格子11’を用いることにより、入
射光束から互いに異なる3つの方向にそれぞれ0次及び
±1次の3つの回折光を生じさせ、かくして図6に示さ
れている様に光カード上に0次回折光スポットSAF、第
1の方向に回折された+1次回折光スポットSDV1 、第
1の方向に回折された−1次回折光スポットS DV2 、第
2の方向に回折された+1次回折光スポットSAT1 、第
2の方向に回折された−1次回折光スポットSAT2 、第
3の方向に回折された+1次回折光スポットSRF1 及び
第3の方向に回折された−1次回折光スポットSRF2 を
形成し、光スポットSAFを用いて記録及びAF制御を行
い、光スポットSDV1 ,SDV2 を用いて記録直後の確認
再生(ダイレクトベリファイ)を行い、光スポットS
AT1,SAT2 を用いてAT制御を行い、光スポットSRF1
と光スポットSRF2 と光スポットSDV1 ,SDV2 ,S
AFのうちの1つとを用いて3トラックの同時再生を行
い、しかも以上の様な記録再生をL,Fどちらの向きで
も(即ち往復で)行うことができる。なお、図6におい
て、4はトラッキングトラックであり、2は情報トラッ
クである。
【0041】図7は、本実施例において用いられている
検出光学系の光検出器42’の受光素子の配置を示す図
である。光カード上の光スポットSAF,SDV1 ,S
DV2 ,S AT1 ,SAT2 ,SRF1 ,SRF2 に対応する光ス
ポットS'AF ,S'DV1,S'DV2,S'AT1,S'AT2,S'
RF1,S'RF2が、それぞれ受光素子DAF,DDV1 ,DDV2
,DAT1 ,DAT2 ,DRF1 ,DRF2 上に形成される。
検出光学系の光検出器42’の受光素子の配置を示す図
である。光カード上の光スポットSAF,SDV1 ,S
DV2 ,S AT1 ,SAT2 ,SRF1 ,SRF2 に対応する光ス
ポットS'AF ,S'DV1,S'DV2,S'AT1,S'AT2,S'
RF1,S'RF2が、それぞれ受光素子DAF,DDV1 ,DDV2
,DAT1 ,DAT2 ,DRF1 ,DRF2 上に形成される。
【0042】図8は本実施例における検出光学系の概略
構成図である。図8において、40は凸球面レンズであ
り、41は凸シリンドリカルレンズであり、42’は光
検出器である。球面レンズ40の外径(有効径)Dは、
光束ずれのない場合の光束最外径(複数の光束を内包す
る外径)dよりも大きく、その大きさは、光カード1の
配置の角度誤差や光ヘッドの機械部品及び光学部品の精
度誤差及びこれらの組立誤差が通常考えられる最大の程
度に生じたとして、可動部の全移動範囲で発生する上記
光束ずれよりも、(D−d)が大きくなる様なものとさ
れている。即ち、外径Dは、最大の光束ずれを考慮した
場合の光束到達可能範囲よりも大きい。
構成図である。図8において、40は凸球面レンズであ
り、41は凸シリンドリカルレンズであり、42’は光
検出器である。球面レンズ40の外径(有効径)Dは、
光束ずれのない場合の光束最外径(複数の光束を内包す
る外径)dよりも大きく、その大きさは、光カード1の
配置の角度誤差や光ヘッドの機械部品及び光学部品の精
度誤差及びこれらの組立誤差が通常考えられる最大の程
度に生じたとして、可動部の全移動範囲で発生する上記
光束ずれよりも、(D−d)が大きくなる様なものとさ
れている。即ち、外径Dは、最大の光束ずれを考慮した
場合の光束到達可能範囲よりも大きい。
【0043】例えば、光束が光学系に対する所定角度か
ら1°傾いたとすると、可動部と検出光学系の凸球面レ
ンズ40との距離が10mmの場合と100mmの場合
とでは、その差が(100−10)tan1°=1.5
7mmとなり、使用する光束の径が5mmφ程度の光ヘ
ッドにおいては、かなりの光量変動となる。本実施例で
は、この様な可動部移動に伴い凸球面レンズ40へと向
かう光束が移動する際にも凸球面レンズ40の有効径内
に入る様に、該有効径が設定されている。
ら1°傾いたとすると、可動部と検出光学系の凸球面レ
ンズ40との距離が10mmの場合と100mmの場合
とでは、その差が(100−10)tan1°=1.5
7mmとなり、使用する光束の径が5mmφ程度の光ヘ
ッドにおいては、かなりの光量変動となる。本実施例で
は、この様な可動部移動に伴い凸球面レンズ40へと向
かう光束が移動する際にも凸球面レンズ40の有効径内
に入る様に、該有効径が設定されている。
【0044】図8において、Xは0次回折光(スポット
S'AF を形成する光束)を示し、Y,Zはそれぞれ回折
角最大の±1次回折光(スポットS'RF1,S'RF2を形成
する光束)を示す。尚、本図では、各光束は光カード1
の配置の角度誤差や機械部品及び光学部品の精度誤差及
びこれらの組立誤差が大きい場合のものである。凸球面
レンズ40の外径がdであると、光束Xはケラレなくと
も、光束Y,Zは斜線部分がケラレてしまう。これに対
し、本実施例では、凸球面レンズ40の外径がDである
ので光束A,Bともケラレることはない。
S'AF を形成する光束)を示し、Y,Zはそれぞれ回折
角最大の±1次回折光(スポットS'RF1,S'RF2を形成
する光束)を示す。尚、本図では、各光束は光カード1
の配置の角度誤差や機械部品及び光学部品の精度誤差及
びこれらの組立誤差が大きい場合のものである。凸球面
レンズ40の外径がdであると、光束Xはケラレなくと
も、光束Y,Zは斜線部分がケラレてしまう。これに対
し、本実施例では、凸球面レンズ40の外径がDである
ので光束A,Bともケラレることはない。
【0045】尚、ここでは検出光学系の凸球面レンズ4
0に関し説明したが、シリンドリカルレンズ41の外径
(有効径)についても同様のことがいえる。
0に関し説明したが、シリンドリカルレンズ41の外径
(有効径)についても同様のことがいえる。
【0046】また、本実施例では光束は凸球面レンズ4
0を経てシリンドリカルレンズ41に到達しているが、
シリンドリカルレンズを経て凸球面レンズに到達する様
な配置にしてもよい。
0を経てシリンドリカルレンズ41に到達しているが、
シリンドリカルレンズを経て凸球面レンズに到達する様
な配置にしてもよい。
【0047】図9は、本発明による光学的情報記録再生
装置の光ヘッドの一実施例の概略構成図である。本図に
おいて、上記図4〜図8におけると同様の機能を有する
部材には同一の符号が付されている。本実施例は、図4
〜図8のものと、全反射プリズム13の配置状態及び検
出光学系の配置が異なるのみである。本実施例において
も、上記図4〜図8の実施例と同様の効果が得られる。
装置の光ヘッドの一実施例の概略構成図である。本図に
おいて、上記図4〜図8におけると同様の機能を有する
部材には同一の符号が付されている。本実施例は、図4
〜図8のものと、全反射プリズム13の配置状態及び検
出光学系の配置が異なるのみである。本実施例において
も、上記図4〜図8の実施例と同様の効果が得られる。
【0048】図10は、本発明による光学的情報記録再
生装置の光ヘッドの一実施例の概略構成図である。本図
において、上記図1〜図9におけると同様の機能を有す
る部材には同一の符号が付されている。
生装置の光ヘッドの一実施例の概略構成図である。本図
において、上記図1〜図9におけると同様の機能を有す
る部材には同一の符号が付されている。
【0049】図10において、1は記録媒体であるとこ
ろの光カード、20は光学系固定部、30は光学系可動
部である。
ろの光カード、20は光学系固定部、30は光学系可動
部である。
【0050】光学系固定部20は、以下のように構成さ
れている。即ち、21は、光源であるところの半導体レ
ーザであり、波長830nmの直線偏光を発する。22
はコリメータレンズ、23はビーム整形プリズム、24
は1/2波長板、25は偏光ビームスプリッタ、26は
集光レンズ、27は光量モニタである。更に、40は凸
球面レンズ、41は凸シリンドリカルレンズ、42は光
検出器を示す。光検出器42は受光素子42a,42
b,42cからなる。受光素子42bは4分割素子であ
る。半導体レーザ21、コリメータレンズ22、ビーム
整形プリズム23、1/2波長板24及びビームスプリ
ッタ25は、照射光学系を構成する。上記ビームスプリ
ッタ25、集光レンズ26及び光量モニタ27は、モニ
タ光学系を構成する。上記ビームスプリッタ25、球面
レンズ40、シリンドリカルレンズ41及び光検出器4
2は、検出光学系を構成する。
れている。即ち、21は、光源であるところの半導体レ
ーザであり、波長830nmの直線偏光を発する。22
はコリメータレンズ、23はビーム整形プリズム、24
は1/2波長板、25は偏光ビームスプリッタ、26は
集光レンズ、27は光量モニタである。更に、40は凸
球面レンズ、41は凸シリンドリカルレンズ、42は光
検出器を示す。光検出器42は受光素子42a,42
b,42cからなる。受光素子42bは4分割素子であ
る。半導体レーザ21、コリメータレンズ22、ビーム
整形プリズム23、1/2波長板24及びビームスプリ
ッタ25は、照射光学系を構成する。上記ビームスプリ
ッタ25、集光レンズ26及び光量モニタ27は、モニ
タ光学系を構成する。上記ビームスプリッタ25、球面
レンズ40、シリンドリカルレンズ41及び光検出器4
2は、検出光学系を構成する。
【0051】光学系可動部30は、以下のように構成さ
れている。即ち、31は偏光ビームスプリッタ、32は
1/4波長板、33は反射ミラー、34は1/4波長
板、35は反射型回折格子、36は1/4波長板であ
り、これらは一体化されている。37は対物レンズであ
る。該光学系可動部30は、光学系固定部20及び光カ
ード1に対し矢印で示す向きに往復移動可能である。
れている。即ち、31は偏光ビームスプリッタ、32は
1/4波長板、33は反射ミラー、34は1/4波長
板、35は反射型回折格子、36は1/4波長板であ
り、これらは一体化されている。37は対物レンズであ
る。該光学系可動部30は、光学系固定部20及び光カ
ード1に対し矢印で示す向きに往復移動可能である。
【0052】半導体レーザ21より発せられた光ビーム
は、発散光束となってコリメータレンズ22に入射す
る。そして該レンズにより平行ビームとされ、さらにビ
ーム整形プリズム23により所定の光強度分布を有した
断面円形のビームに整形される。その後、1/2波長板
24を通過し、偏光ビームスプリッタ25に入射する。
前述の1/2波長板24は光軸の周りに回動可能に支持
されており、その回転角度を調整することにより、該1
/2波長板24から前記ビームスプリッタ25に到達し
た光のうちで反射される光量と透過する光量の割合を制
御することができる。
は、発散光束となってコリメータレンズ22に入射す
る。そして該レンズにより平行ビームとされ、さらにビ
ーム整形プリズム23により所定の光強度分布を有した
断面円形のビームに整形される。その後、1/2波長板
24を通過し、偏光ビームスプリッタ25に入射する。
前述の1/2波長板24は光軸の周りに回動可能に支持
されており、その回転角度を調整することにより、該1
/2波長板24から前記ビームスプリッタ25に到達し
た光のうちで反射される光量と透過する光量の割合を制
御することができる。
【0053】前記ビームスプリッタ25を透過した光は
集光レンズ26を経て光量モニタ27に入射する。この
光量モニタによる受光光量のモニタに基づき1/2波長
板24の回転角を調節したり半導体レーザ21の印加電
圧を調節したりして、前記ビームスプリッタ25により
反射される光量を所望の値に制御することができる。
集光レンズ26を経て光量モニタ27に入射する。この
光量モニタによる受光光量のモニタに基づき1/2波長
板24の回転角を調節したり半導体レーザ21の印加電
圧を調節したりして、前記ビームスプリッタ25により
反射される光量を所望の値に制御することができる。
【0054】一方、偏光ビームスプリッタ25により反
射された光は、光学系可動部30に入射する。この光の
進行について、図11に基づき説明する。偏光ビームス
プリッタ25により反射され光学系可動部30に入射し
た光は、先ず偏光ビームスプリッタ31を通過し、1/
4波長板32を介して反射ミラー33により反射され
る。この反射光は、再び1/4波長板32を通過するた
め、該1/4波長板32への入射時とは偏光方向が90
°回転した光ビームに変換されて偏光ビームスプリッタ
31へと戻り、従って該偏光ビームスプリッタ31によ
り反射される。その反射ビームは、前述の場合と同様に
1/4波長板34を介して反射型回折格子35に入射す
る。該回折格子35による反射光は、有効な3つの光ビ
ーム(0次回折光及び±1次回折光)に分割されてい
る。この3つの光束は、再び1/4波長板34を通過す
るため、該1/4波長板34への入射時とは偏光方向が
90°回転した光ビームに変換されて偏光ビームスプリ
ッタ31へと戻り、従って該偏光ビームスプリッタ31
を通過する。かくして偏光ビームスプリッタ31を通過
した3つの光束は、1/4波長板36を通過することで
円偏光に変換され、対物レンズ37により光カード1上
に集束される。
射された光は、光学系可動部30に入射する。この光の
進行について、図11に基づき説明する。偏光ビームス
プリッタ25により反射され光学系可動部30に入射し
た光は、先ず偏光ビームスプリッタ31を通過し、1/
4波長板32を介して反射ミラー33により反射され
る。この反射光は、再び1/4波長板32を通過するた
め、該1/4波長板32への入射時とは偏光方向が90
°回転した光ビームに変換されて偏光ビームスプリッタ
31へと戻り、従って該偏光ビームスプリッタ31によ
り反射される。その反射ビームは、前述の場合と同様に
1/4波長板34を介して反射型回折格子35に入射す
る。該回折格子35による反射光は、有効な3つの光ビ
ーム(0次回折光及び±1次回折光)に分割されてい
る。この3つの光束は、再び1/4波長板34を通過す
るため、該1/4波長板34への入射時とは偏光方向が
90°回転した光ビームに変換されて偏光ビームスプリ
ッタ31へと戻り、従って該偏光ビームスプリッタ31
を通過する。かくして偏光ビームスプリッタ31を通過
した3つの光束は、1/4波長板36を通過することで
円偏光に変換され、対物レンズ37により光カード1上
に集束される。
【0055】以上の様にして集束された光が、図10に
示されている3つの微小ビームスポットS1 (+1次回
折光)、S2 (0次回折光)、S3 (−1次回折光)で
ある。スポットS1 ,S3 はオートトラッキング(以下
「AT」と称す)制御に使用され、スポットS2 は記
録、再生、オートフォーカス(以下「AF」と称す)制
御に使用される。光カード1上において、図10に示す
ように、光ビームスポットS1 ,S3 は隣接するトラッ
キングトラック4上に位置し、光ビームスポットS2 は
該トラッキングトラック間の情報トラック2上に位置し
ている。
示されている3つの微小ビームスポットS1 (+1次回
折光)、S2 (0次回折光)、S3 (−1次回折光)で
ある。スポットS1 ,S3 はオートトラッキング(以下
「AT」と称す)制御に使用され、スポットS2 は記
録、再生、オートフォーカス(以下「AF」と称す)制
御に使用される。光カード1上において、図10に示す
ように、光ビームスポットS1 ,S3 は隣接するトラッ
キングトラック4上に位置し、光ビームスポットS2 は
該トラッキングトラック間の情報トラック2上に位置し
ている。
【0056】光カード1上に形成された光ビームスポッ
トからの反射光(AT信号光及び再生・AF信号光)
は、再び対物レンズ37を通って平行光束となり、図1
1に示すように、1/4波長板36を透過することによ
り偏光ビームスプリッタ31からの入射時と偏光方向が
90°回転した光ビームに変換されて偏光ビームスプリ
ッタ31へと戻り、従って該偏光ビームスプリッタ31
により反射され、光学系固定部20の偏光ビームスプリ
ッタ25に入射する。
トからの反射光(AT信号光及び再生・AF信号光)
は、再び対物レンズ37を通って平行光束となり、図1
1に示すように、1/4波長板36を透過することによ
り偏光ビームスプリッタ31からの入射時と偏光方向が
90°回転した光ビームに変換されて偏光ビームスプリ
ッタ31へと戻り、従って該偏光ビームスプリッタ31
により反射され、光学系固定部20の偏光ビームスプリ
ッタ25に入射する。
【0057】かくして光学系固定部20に入射したAT
信号光及び再生・AF信号光は、1/2波長板24から
偏光ビームスプリッタ25に入射した光とは偏光方向が
270°回転しているので、偏光ビームスプリッタ25
を透過し、凸球面レンズ40及びシリンドリカルレンズ
41を経て光検出器42に導かれる。該光検出器42の
受光素子42a,42b,42cには、それぞれ光カー
ド1上のスポットS1,S2 ,S3 からの信号光がスポ
ットSa,Sb,Scとして結像される。
信号光及び再生・AF信号光は、1/2波長板24から
偏光ビームスプリッタ25に入射した光とは偏光方向が
270°回転しているので、偏光ビームスプリッタ25
を透過し、凸球面レンズ40及びシリンドリカルレンズ
41を経て光検出器42に導かれる。該光検出器42の
受光素子42a,42b,42cには、それぞれ光カー
ド1上のスポットS1,S2 ,S3 からの信号光がスポ
ットSa,Sb,Scとして結像される。
【0058】検出光学系では、凸球面レンズ40と凸シ
リンドリカルレンズ41との組合わせを用いており、光
カード1上のスポットS2 からの再生・AF信号光を4
分割受光素子42bで受光して非点収差法によるAF制
御が行われ且つ記録情報が再生される。また、光カード
1上のスポットS1 ,S3 からのAT信号光をそれぞれ
受光素子42a,42cで受光してAT制御が行われ
る。
リンドリカルレンズ41との組合わせを用いており、光
カード1上のスポットS2 からの再生・AF信号光を4
分割受光素子42bで受光して非点収差法によるAF制
御が行われ且つ記録情報が再生される。また、光カード
1上のスポットS1 ,S3 からのAT信号光をそれぞれ
受光素子42a,42cで受光してAT制御が行われ
る。
【0059】図12は回折格子の説明図である。図12
において、(a)は本実施例では使用されていない透過
型回折格子であり、(b)は本実施例で使用された反射
型の回折格子である。これらの回折格子では、透光部と
遮光部または反射部との幅を同一にしている。
において、(a)は本実施例では使用されていない透過
型回折格子であり、(b)は本実施例で使用された反射
型の回折格子である。これらの回折格子では、透光部と
遮光部または反射部との幅を同一にしている。
【0060】図12(a)に示すように、透過型回折格
子においては、透明基板50の一面に所定幅の遮光部5
2が該所定幅の2倍のピッチで配列されており、隣接遮
光部52間に上記所定幅の透光部54が形成されてい
る。光は下向きに入射し、遮光部52に入射した光が反
射又は吸収されて損失し、透光部54に入射した光(入
射光の50%)のみが0次及び±1次等の回折光に分割
されて透過する。
子においては、透明基板50の一面に所定幅の遮光部5
2が該所定幅の2倍のピッチで配列されており、隣接遮
光部52間に上記所定幅の透光部54が形成されてい
る。光は下向きに入射し、遮光部52に入射した光が反
射又は吸収されて損失し、透光部54に入射した光(入
射光の50%)のみが0次及び±1次等の回折光に分割
されて透過する。
【0061】図12(b)に示すように、反射型回折格
子35においては、透明基板50の一面に所定幅の99
%以上の高反射率の反射部53が該所定幅の2倍のピッ
チで配列されており、隣接反射部53間に上記所定幅の
透光部54が形成されており、透明基板50の他面には
全面に99%以上の高反射率の反射膜56が形成されて
いる。光は上向きに入射し、反射部53に入射した光の
一部は反射されて0次回折光となり且つエッジから±1
次等の回折光が生じ、また透光部54に入射した光が反
射膜56により反射され再び透光部54を通って出射す
る際に一部はそのまま通過して0次回折光となり且つ反
射部53のエッジから±1次等の回折光が生ずる。従っ
て、正反射による0次光が図12(a)の場合の約2倍
になり、かつ、基板50の厚さtを光源波長の可干渉距
離の1/2以上とすれば反射部53からの反射光と反射
膜56からの反射光とが時間的にインコヒーレント化さ
れ2種類の回折光は干渉することなく重ね合される。従
ってこの反射型回折格子の光利用効率は図12(a)の
光透過型回折格子の2倍近くになる。
子35においては、透明基板50の一面に所定幅の99
%以上の高反射率の反射部53が該所定幅の2倍のピッ
チで配列されており、隣接反射部53間に上記所定幅の
透光部54が形成されており、透明基板50の他面には
全面に99%以上の高反射率の反射膜56が形成されて
いる。光は上向きに入射し、反射部53に入射した光の
一部は反射されて0次回折光となり且つエッジから±1
次等の回折光が生じ、また透光部54に入射した光が反
射膜56により反射され再び透光部54を通って出射す
る際に一部はそのまま通過して0次回折光となり且つ反
射部53のエッジから±1次等の回折光が生ずる。従っ
て、正反射による0次光が図12(a)の場合の約2倍
になり、かつ、基板50の厚さtを光源波長の可干渉距
離の1/2以上とすれば反射部53からの反射光と反射
膜56からの反射光とが時間的にインコヒーレント化さ
れ2種類の回折光は干渉することなく重ね合される。従
ってこの反射型回折格子の光利用効率は図12(a)の
光透過型回折格子の2倍近くになる。
【0062】なお、本実施例における反射型回折格子3
5と反射ミラー33とを入れ替えた構成を採用してもよ
い。更に、偏光ビームスプリッタ31を図11における
左下がり右上りの配置に代えて図11中角度90度回転
した左上り右下がりの配置(図11の偏光ビームスプリ
ッタ25の配置と同様の配置)となすことによっても、
偏光方向を適宜設定することにより、同様の機能を得る
ことができる。
5と反射ミラー33とを入れ替えた構成を採用してもよ
い。更に、偏光ビームスプリッタ31を図11における
左下がり右上りの配置に代えて図11中角度90度回転
した左上り右下がりの配置(図11の偏光ビームスプリ
ッタ25の配置と同様の配置)となすことによっても、
偏光方向を適宜設定することにより、同様の機能を得る
ことができる。
【0063】図13は本実施例における検出光学系の概
略構成図である。偏光ビームスプリッタ25の一辺寸法
(有効径)D’は、光束ずれのない場合の光束最外径
(複数の光束を内包する外径)と等しい一辺寸法(有効
径)d’よりも大きく、その大きさは、光カード1の配
置の角度誤差や光ヘッドの機械部品及び光学部品の精度
誤差及びこれらの組立誤差が通常考えられる最大の程度
に生じたとして、可動部の全移動範囲で発生する上記光
束ずれよりも、(D’−d’)が大きくなる様なものと
されている。即ち、有効径D’は、最大の光束ずれを考
慮した場合の光束到達可能範囲よりも大きい。
略構成図である。偏光ビームスプリッタ25の一辺寸法
(有効径)D’は、光束ずれのない場合の光束最外径
(複数の光束を内包する外径)と等しい一辺寸法(有効
径)d’よりも大きく、その大きさは、光カード1の配
置の角度誤差や光ヘッドの機械部品及び光学部品の精度
誤差及びこれらの組立誤差が通常考えられる最大の程度
に生じたとして、可動部の全移動範囲で発生する上記光
束ずれよりも、(D’−d’)が大きくなる様なものと
されている。即ち、有効径D’は、最大の光束ずれを考
慮した場合の光束到達可能範囲よりも大きい。
【0064】例えば、光束が光学系に対する所定角度か
ら1°傾いたとすると、可動部と検出光学系の偏光ビー
ムスプリッタ25との距離が10mmの場合と100m
mの場合とでは、その差が(100−10)tan1°
=1.57mmとなり、使用する光束の径が5mmφ程
度の光ヘッドにおいては、かなりの光量変動となる。本
実施例では、この様な可動部移動に伴い偏光ビームスプ
リッタ25へ入射する光束が移動する際にも偏光ビーム
スプリッタ25の有効径内に入る様に、該有効径が設定
されている。
ら1°傾いたとすると、可動部と検出光学系の偏光ビー
ムスプリッタ25との距離が10mmの場合と100m
mの場合とでは、その差が(100−10)tan1°
=1.57mmとなり、使用する光束の径が5mmφ程
度の光ヘッドにおいては、かなりの光量変動となる。本
実施例では、この様な可動部移動に伴い偏光ビームスプ
リッタ25へ入射する光束が移動する際にも偏光ビーム
スプリッタ25の有効径内に入る様に、該有効径が設定
されている。
【0065】図13において、Aは光カード1の配置の
角度誤差や機械部品及び光学部品の精度誤差及びこれら
の組立誤差がない場合の或る光束を示し、Bは光カード
1の配置の角度誤差や機械部品及び光学部品の精度誤差
及びこれらの組立誤差が大きい場合の対応光束を示す。
光束Aは偏光ビームスプリッタ25の有効径がd’であ
ってもケラレることはないが、光束Bは偏光ビームスプ
リッタ25の有効径がd’であると斜線部分がケラレて
しまう。これに対し、本実施例では、偏光ビームスプリ
ッタ25の有効径がD’であるので光束A,Bともケラ
レることはない。
角度誤差や機械部品及び光学部品の精度誤差及びこれら
の組立誤差がない場合の或る光束を示し、Bは光カード
1の配置の角度誤差や機械部品及び光学部品の精度誤差
及びこれらの組立誤差が大きい場合の対応光束を示す。
光束Aは偏光ビームスプリッタ25の有効径がd’であ
ってもケラレることはないが、光束Bは偏光ビームスプ
リッタ25の有効径がd’であると斜線部分がケラレて
しまう。これに対し、本実施例では、偏光ビームスプリ
ッタ25の有効径がD’であるので光束A,Bともケラ
レることはない。
【0066】尚、ここでは検出光学系の偏光ビームスプ
リッタ25に関し説明したが、凸球面レンズ40やシリ
ンドリカルレンズ41の外径(有効径)についても同様
のことがいえる。
リッタ25に関し説明したが、凸球面レンズ40やシリ
ンドリカルレンズ41の外径(有効径)についても同様
のことがいえる。
【0067】また、本実施例では光束は偏光ビームスプ
リッタ25から凸球面レンズ40を経てシリンドリカル
レンズ41に到達しているが、偏光ビームスプリッタ2
5からシリンドリカルレンズを経て凸球面レンズに到達
する様な配置にしてもよい。
リッタ25から凸球面レンズ40を経てシリンドリカル
レンズ41に到達しているが、偏光ビームスプリッタ2
5からシリンドリカルレンズを経て凸球面レンズに到達
する様な配置にしてもよい。
【0068】上記偏光ビームスプリッタ25に代えて、
ビームスプリッタを用いることもできる。
ビームスプリッタを用いることもできる。
【0069】以上の全ての実施例では、検出光学系は光
収斂作用をもつ光学部品として凸球面レンズ40及び凸
シリンドリカルレンズ41を用いているが、凸シリンド
リカルレンズ41の代わり或は凸球面レンズ40及び凸
シリンドリカルレンズ41の代わりにトーリックレンズ
を用いることもできる。
収斂作用をもつ光学部品として凸球面レンズ40及び凸
シリンドリカルレンズ41を用いているが、凸シリンド
リカルレンズ41の代わり或は凸球面レンズ40及び凸
シリンドリカルレンズ41の代わりにトーリックレンズ
を用いることもできる。
【0070】また、以上の全ての実施例では、回折格子
11,11’が可動部に配置されているので、該可動部
が移動しても回折格子と対物レンズとの位置関係は変化
せず、このため回折格子が固定部に配置されている場合
に比べて回折格子で分割された光束がケラレにくい。従
って、記録媒体上の光スポットからの光束の到達可能範
囲が狭くなり、検出光学系を構成する光学部品の有効径
を小さく設定することが可能となる。
11,11’が可動部に配置されているので、該可動部
が移動しても回折格子と対物レンズとの位置関係は変化
せず、このため回折格子が固定部に配置されている場合
に比べて回折格子で分割された光束がケラレにくい。従
って、記録媒体上の光スポットからの光束の到達可能範
囲が狭くなり、検出光学系を構成する光学部品の有効径
を小さく設定することが可能となる。
【0071】
【発明の効果】以上の様な本発明によれば、検出光学系
を構成する光学部品の有効径が記録媒体上の光スポット
からの光束の到達可能範囲以上の大きさであるので、検
出光学系へと向かう光束が光学系固定部においてケラレ
るのを避けることができ、これにより、特にATオフセ
ット発生や再生信号の強度低下及びSN比低下等の劣化
などの不利が生じにくくなる。
を構成する光学部品の有効径が記録媒体上の光スポット
からの光束の到達可能範囲以上の大きさであるので、検
出光学系へと向かう光束が光学系固定部においてケラレ
るのを避けることができ、これにより、特にATオフセ
ット発生や再生信号の強度低下及びSN比低下等の劣化
などの不利が生じにくくなる。
【0072】更に、本発明では、回折格子を可動部に配
置することにより、記録媒体上の光スポットからの光束
の到達可能範囲を狭くでき、検出光学系を構成する光学
部品の有効径をできるだけ小さく設定することが可能と
なる。
置することにより、記録媒体上の光スポットからの光束
の到達可能範囲を狭くでき、検出光学系を構成する光学
部品の有効径をできるだけ小さく設定することが可能と
なる。
【図1】本発明による光学的情報記録再生装置の光ヘッ
ドの一実施例の概略構成図である。
ドの一実施例の概略構成図である。
【図2】図1の実施例における検出光学系の概略構成図
である。
である。
【図3】本発明による光学的情報記録再生装置の光ヘッ
ドの一実施例の概略構成図である。
ドの一実施例の概略構成図である。
【図4】本発明による光学的情報記録再生装置の光ヘッ
ドの一実施例の概略構成図である。
ドの一実施例の概略構成図である。
【図5】図4の実施例における複合回折格子の平面図で
ある。
ある。
【図6】光カードとその上に形成される光スポットとを
示す図である。
示す図である。
【図7】光検出器の受光素子とその上に形成される光ス
ポットとを示す図である。
ポットとを示す図である。
【図8】図4の実施例における検出光学系の概略構成図
である。
である。
【図9】本発明による光学的情報記録再生装置の光ヘッ
ドの一実施例の概略構成図である。
ドの一実施例の概略構成図である。
【図10】本発明による光学的情報記録再生装置の光ヘ
ッドの一実施例の概略構成図である。
ッドの一実施例の概略構成図である。
【図11】図10の実施例における光学系可動部での光
の進行の説明図である。
の進行の説明図である。
【図12】回折格子の説明図である。
【図13】図10の実施例における検出光学系の概略構
成図である。
成図である。
【図14】従来の光学的情報記録再生装置の光ヘッド光
学系を示す概略図である。
学系を示す概略図である。
1 光カード 2 情報トラック 4 トラッキングトラック 11 回折格子 12 偏光ビームスプリッタ 13 反射プリズム 15 1/4波長板 16 対物レンズ 20 光学系固定部 21 半導体レーザ 22 コリメータレンズ 23 ビーム整形プリズム 25 偏光ビームスプリッタ 26 集光レンズ 27 光量モニタ 30 光学系可動部 31 偏光ビームスプリッタ 32,34,36 1/4波長板 33 反射ミラー 33a ミラー 35 反射型回折格子 37 対物レンズ 40 凸球面レンズ 41 凸シリンドリカルレンズ 42,42’ 光検出器 42a,42b,42c 受光素子 DAF,DDV1 ,DDV2 ,DAT1 ,DAT2 ,DRF1 ,D
RF2 受光素子 S1 ,S2 ,S3 光スポット Sa,Sb,Sc 光スポット SAF,SDV1 ,SDV2 ,SAT1 ,SAT2 ,SRF1 ,S
RF2 光スポット S'AF ,S'DV1,S'DV2,S'AT1,S'AT2,S'RF1,
S'RF2 光スポット
RF2 受光素子 S1 ,S2 ,S3 光スポット Sa,Sb,Sc 光スポット SAF,SDV1 ,SDV2 ,SAT1 ,SAT2 ,SRF1 ,S
RF2 光スポット S'AF ,S'DV1,S'DV2,S'AT1,S'AT2,S'RF1,
S'RF2 光スポット
Claims (13)
- 【請求項1】 照射光学系からの光束を絞って光学的情
報記録媒体に光スポットとして照射し且つ前記記録媒体
上の光スポットからの光束を検出光学系に導く様にした
光ヘッドを有し、該光ヘッドは前記照射光学系及び前記
検出光学系を含む固定部と該固定部に対し移動可能で対
物レンズを含む可動部とから構成されており、前記照射
光学系からの光束の照射により前記記録媒体に対し情報
を記録し及び/または記録情報を再生する光学的情報記
録再生装置において、 前記検出光学系を構成する光学部品の有効径は前記記録
媒体上の光スポットからの光束の到達可能範囲以上の大
きさであることを特徴とする光学的情報記録再生装置。 - 【請求項2】 前記光ヘッドは光束を複数に分割する回
折格子を含んでおり、該回折格子により分割された複数
の光束により前記記録媒体に前記光スポットが複数形成
されることを特徴とする、請求項1に記載の光学的情報
記録再生装置。 - 【請求項3】 前記回折格子は前記可動部に配置されて
いることを特徴とする、請求項2に記載の光学的情報記
録再生装置。 - 【請求項4】 前記回折格子は格子ピッチの異なる複数
の回折領域を有することを特徴とする、請求項2〜3の
いずれかに記載の光学的情報記録再生装置。 - 【請求項5】 前記回折格子は格子ピッチ方向の異なる
複数の回折領域を有することを特徴とする、請求項2〜
4のいずれかに記載の光学的情報記録再生装置。 - 【請求項6】 前記照射光学系と前記検出光学系とが偏
光ビームスプリッタを共有しており、前記照射光学系か
ら前記可動部へと向かう光束と該可動部から前記検出光
学系へと向かう光束とが前記偏光ビームスプリッタから
前記可動部まで共通の光路を通ることを特徴とする、請
求項1〜5のいずれかに記載の光学的情報記録再生装
置。 - 【請求項7】 前記照射光学系と前記検出光学系とがビ
ームスプリッタを共有しており、前記照射光学系から前
記可動部へと向かう光束と該可動部から前記検出光学系
へと向かう光束とが前記ビームスプリッタから前記可動
部まで共通の光路を通ることを特徴とする、請求項1〜
5のいずれかに記載の光学的情報記録再生装置。 - 【請求項8】 前記記録媒体上の光スポットからの光束
の到達可能範囲は、前記記録媒体の配置の角度誤差や前
記光ヘッドの機械部品及び光学部品の精度誤差及びこれ
らの組立誤差や前記可動部の移動範囲に基づき決定され
ることを特徴とする、請求項1〜7のいずれかに記載の
光学的情報記録再生装置。 - 【請求項9】 前記記録媒体上の光スポットからの光束
の到達可能範囲は、前記記録媒体の配置の角度誤差や前
記光ヘッドの機械部品及び光学部品の精度誤差及びこれ
らの組立誤差が通常考えられる最大の程度に生じた場合
に前記可動部が全移動範囲内で移動する時に前記光束が
到達し得る範囲であることを特徴とする、請求項8に記
載の光学的情報記録再生装置。 - 【請求項10】 前記検出光学系は光収斂作用をもつ光
学部品を含むことを特徴とする、請求項1〜9のいずれ
かに記載の光学的情報記録再生装置。 - 【請求項11】 前記光収斂作用をもつ光学部品は凸レ
ンズであることを特徴とする、請求項10に記載の光学
的情報記録再生装置。 - 【請求項12】 前記光収斂作用をもつ光学部品はシリ
ンドリカルレンズであることを特徴とする、請求項10
に記載の光学的情報記録再生装置。 - 【請求項13】 前記光収斂作用をもつ光学部品はトー
リックレンズであることを特徴とする、請求項10に記
載の光学的情報記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7151347A JPH097213A (ja) | 1995-06-19 | 1995-06-19 | 光学的情報記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7151347A JPH097213A (ja) | 1995-06-19 | 1995-06-19 | 光学的情報記録再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH097213A true JPH097213A (ja) | 1997-01-10 |
Family
ID=15516585
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7151347A Pending JPH097213A (ja) | 1995-06-19 | 1995-06-19 | 光学的情報記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH097213A (ja) |
-
1995
- 1995-06-19 JP JP7151347A patent/JPH097213A/ja active Pending
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