JPH0976251A - 加硫反応の測定方法およびゴム製品の製造方法および装置 - Google Patents
加硫反応の測定方法およびゴム製品の製造方法および装置Info
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- JPH0976251A JPH0976251A JP26226595A JP26226595A JPH0976251A JP H0976251 A JPH0976251 A JP H0976251A JP 26226595 A JP26226595 A JP 26226595A JP 26226595 A JP26226595 A JP 26226595A JP H0976251 A JPH0976251 A JP H0976251A
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
- Heating, Cooling, Or Curing Plastics Or The Like In General (AREA)
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
［課題］試験機により最適加硫条件（加硫温度、加硫時
間）を決め、或いは製造金型でゴム配合物を加硫してテ
ストピースを製造したとしても、加硫試験機での試験或
いはテストピースの製造と、実際にゴム製品を製造する
場合とでは、ゴム配合物中における配合剤の分散状態の
不均一性や、金型の開閉に伴う金型やその周辺の熱履歴
の変化などの原因により、同じ条件下で加硫することは
困難である。 ［解決手段］射出成形装置のスクリュウ８０の先端部側
には固定金型８２と可動金型８３から構成されている金
型８１が配設されている。金型８１には成形部８４と、
成形部８４に連通している測定部８５が形成されてい
る。測定部８５に関連した固定金型８２と可動金型８３
には、それぞれ電極８６，８７が設けてある。電極８
６，８７は、計測部８８を介して制御部８９と電機的に
接続されている。
間）を決め、或いは製造金型でゴム配合物を加硫してテ
ストピースを製造したとしても、加硫試験機での試験或
いはテストピースの製造と、実際にゴム製品を製造する
場合とでは、ゴム配合物中における配合剤の分散状態の
不均一性や、金型の開閉に伴う金型やその周辺の熱履歴
の変化などの原因により、同じ条件下で加硫することは
困難である。 ［解決手段］射出成形装置のスクリュウ８０の先端部側
には固定金型８２と可動金型８３から構成されている金
型８１が配設されている。金型８１には成形部８４と、
成形部８４に連通している測定部８５が形成されてい
る。測定部８５に関連した固定金型８２と可動金型８３
には、それぞれ電極８６，８７が設けてある。電極８
６，８７は、計測部８８を介して制御部８９と電機的に
接続されている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、加硫反応の測定
方法およびゴム製品の製造方法および装置に係り、更に
詳しくはゴム配合物に交流電流を印加して誘電正接（ｔ
ａｎδ）または電流値を測定し、ゴムの加硫反応の進行
をリアルタイムで測定するようにしたものに関する。
方法およびゴム製品の製造方法および装置に係り、更に
詳しくはゴム配合物に交流電流を印加して誘電正接（ｔ
ａｎδ）または電流値を測定し、ゴムの加硫反応の進行
をリアルタイムで測定するようにしたものに関する。
【０００２】
【従来の技術】例えばゴムの物理的性質を改善して弾
性、引っ張り強度、耐摩耗性等を付与するために加硫が
行なわれている。加硫程度において、未加硫や過加硫の
場合は、いずれも製品品質を低下させる。従って最適加
硫条件の設定は、製品の品質の安定性を確保するために
重要である。
性、引っ張り強度、耐摩耗性等を付与するために加硫が
行なわれている。加硫程度において、未加硫や過加硫の
場合は、いずれも製品品質を低下させる。従って最適加
硫条件の設定は、製品の品質の安定性を確保するために
重要である。
【０００３】従来、最適加硫条件の設定は主として次の
二通りの方法によって行なわれていた。その一つはキュ
ラストメータ、レオメータ等の加硫試験機を使用する方
法で、ゴムに各種の材料（配合剤）を配合したゴム配合
物を上記試験機にかけ、種々の温度で加硫試験を行っ
て、加熱時間とゴムの粘性増加によるトルクー時間曲線
から最適加硫条件を設定する方法である。他の一つは、
製品製造用の金型を使用し、実際にゴム配合物を加硫し
てゴム製品を製造し、その性能テストを行って、最適加
硫条件を設定する方法である。
二通りの方法によって行なわれていた。その一つはキュ
ラストメータ、レオメータ等の加硫試験機を使用する方
法で、ゴムに各種の材料（配合剤）を配合したゴム配合
物を上記試験機にかけ、種々の温度で加硫試験を行っ
て、加熱時間とゴムの粘性増加によるトルクー時間曲線
から最適加硫条件を設定する方法である。他の一つは、
製品製造用の金型を使用し、実際にゴム配合物を加硫し
てゴム製品を製造し、その性能テストを行って、最適加
硫条件を設定する方法である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記した従来
の方法、つまり試験機により最適加硫条件（加硫温度、
加硫時間）を決め、或いは製造金型でゴム配合物を加硫
してテストピースを製造したとしても、加硫試験機での
試験或いはテストピースの製造と、実際にゴム製品を製
造する場合とでは、同じ条件下で加硫することは困難で
ある。
の方法、つまり試験機により最適加硫条件（加硫温度、
加硫時間）を決め、或いは製造金型でゴム配合物を加硫
してテストピースを製造したとしても、加硫試験機での
試験或いはテストピースの製造と、実際にゴム製品を製
造する場合とでは、同じ条件下で加硫することは困難で
ある。
【０００５】その主な原因の一つがゴム配合物中におけ
る配合剤の分散状態の不均一性にある。つまり、混練り
工程において粘度の高いゴム中に配合剤を均一に分散す
ることは困難であり、試験機やテストピースから導き出
した最適加硫条件と実際の製造条件とを同一にしても、
上記配合剤が分散バラツキ状態にあるゴム配合物でゴム
製品を製造した場合は、製品によって未加硫や過加硫の
状態が発生し製品品質のバラツキが生じる。
る配合剤の分散状態の不均一性にある。つまり、混練り
工程において粘度の高いゴム中に配合剤を均一に分散す
ることは困難であり、試験機やテストピースから導き出
した最適加硫条件と実際の製造条件とを同一にしても、
上記配合剤が分散バラツキ状態にあるゴム配合物でゴム
製品を製造した場合は、製品によって未加硫や過加硫の
状態が発生し製品品質のバラツキが生じる。
【０００６】また、他の原因としては、金型の開閉に伴
う金型やその周辺の熱履歴の変化である。つまり、実際
に製品を製造する場合は、金型を開いて製品を取り出
し、その後閉じるという工程があり、金型が開いている
時間は必ずしも一定ではない。金型が開いている時間が
長ければそれだけ金型は冷却され、金型の温度が変化す
る。そうすると、加硫時間を同じにしても加硫温度は同
じにはならず、ゴムに加わる熱履歴が毎回異なる。従っ
て試験機やテストピースから導き出した最適加硫条件を
同一にしても、未加硫や過加硫の状態が発生し製品品質
のバラツキが生じる。
う金型やその周辺の熱履歴の変化である。つまり、実際
に製品を製造する場合は、金型を開いて製品を取り出
し、その後閉じるという工程があり、金型が開いている
時間は必ずしも一定ではない。金型が開いている時間が
長ければそれだけ金型は冷却され、金型の温度が変化す
る。そうすると、加硫時間を同じにしても加硫温度は同
じにはならず、ゴムに加わる熱履歴が毎回異なる。従っ
て試験機やテストピースから導き出した最適加硫条件を
同一にしても、未加硫や過加硫の状態が発生し製品品質
のバラツキが生じる。
【０００７】製品品質のバラツキが発生するのを防止す
るためには、被加硫ゴム毎に最適加硫条件の下で製品を
製造すればよい。本発明者等は、実際に製品を製造する
金型中のゴムの加硫反応の進行を直接リアルタイムで測
定し、加硫完了時点で製品を取り出せば品質のバラツキ
は防止できることに着目した。
るためには、被加硫ゴム毎に最適加硫条件の下で製品を
製造すればよい。本発明者等は、実際に製品を製造する
金型中のゴムの加硫反応の進行を直接リアルタイムで測
定し、加硫完了時点で製品を取り出せば品質のバラツキ
は防止できることに着目した。
【０００８】そこで問題となるのは、加硫中のゴムの加
硫進行程度がどのようにしたらわかるかということであ
る。本発明者等はこの点について更に研究を重ね、金型
に取り付けた電極に交流電流を印加して被加硫ゴムの誘
電正接（ｔａｎδ）または電流値を測定した曲線と、試
験機から得られた加熱時間とゴムの粘性増加によるトル
クー時間曲線は相関関係にあることを知見した、本発明
はこの知見に基づいて完成したものである。
硫進行程度がどのようにしたらわかるかということであ
る。本発明者等はこの点について更に研究を重ね、金型
に取り付けた電極に交流電流を印加して被加硫ゴムの誘
電正接（ｔａｎδ）または電流値を測定した曲線と、試
験機から得られた加熱時間とゴムの粘性増加によるトル
クー時間曲線は相関関係にあることを知見した、本発明
はこの知見に基づいて完成したものである。
【０００９】そこで本発明の目的は、被加硫ゴムに電圧
を印加して誘電正接（ｔａｎδ）または電流値を測定
し、これによってゴムの加硫反応の進行を測定する方法
を提供することにある。また本発明の他の目的は、上記
測定方法を利用したゴム製品の製造方法および装置を提
供することにある。
を印加して誘電正接（ｔａｎδ）または電流値を測定
し、これによってゴムの加硫反応の進行を測定する方法
を提供することにある。また本発明の他の目的は、上記
測定方法を利用したゴム製品の製造方法および装置を提
供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決し目的を
達成するための手段は次のとおりである。第１の手段に
あっては、ゴムの加硫反応の進行を測定する方法であっ
て、交流電圧を印加して加硫反応進行中のゴム配合物の
誘電正接（ｔａｎδ）または電流値を測定することを特
徴とする、加硫反応の測定方法である。
達成するための手段は次のとおりである。第１の手段に
あっては、ゴムの加硫反応の進行を測定する方法であっ
て、交流電圧を印加して加硫反応進行中のゴム配合物の
誘電正接（ｔａｎδ）または電流値を測定することを特
徴とする、加硫反応の測定方法である。
【００１１】第２の手段にあっては、金型に設けられた
電極に交流電圧が印加されることを特徴とする、第１の
手段に係る加硫反応の測定方法である。
電極に交流電圧が印加されることを特徴とする、第１の
手段に係る加硫反応の測定方法である。
【００１２】第３の手段にあっては、ゴム製品の製造方
法であって、金型にゴム配合物を充填し、成形加硫しな
がらゴム配合物の誘電正接（ｔａｎδ）または電流値を
測定するステップ、予め設定した誘電正接（ｔａｎδ）
または電流値が測定されたときに成形加硫を停止するス
テップ、を含むことを特徴とする、ゴム製品の製造方法
である。
法であって、金型にゴム配合物を充填し、成形加硫しな
がらゴム配合物の誘電正接（ｔａｎδ）または電流値を
測定するステップ、予め設定した誘電正接（ｔａｎδ）
または電流値が測定されたときに成形加硫を停止するス
テップ、を含むことを特徴とする、ゴム製品の製造方法
である。
【００１３】第４の手段にあっては、金型でゴム配合物
を成形し加硫する装置であって、上記金型にゴム配合物
の誘電正接（ｔａｎδ）または電流値を測定する電極が
設けられていることを特徴とする、ゴム製品の製造装置
である。
を成形し加硫する装置であって、上記金型にゴム配合物
の誘電正接（ｔａｎδ）または電流値を測定する電極が
設けられていることを特徴とする、ゴム製品の製造装置
である。
【００１４】上記ｔａｎδは、試料の複素誘電率（ε
* ）の実数部の誘電率ε' と虚数部のε" の比（ε" ／
ε' ）として求められる。その他ゴムの加硫反応の進行
を測定する手段としては、直流漏れ電流法、直流重畳
法、低周波重畳法、直流成分法を利用したものを使用す
ることもできる。
* ）の実数部の誘電率ε' と虚数部のε" の比（ε" ／
ε' ）として求められる。その他ゴムの加硫反応の進行
を測定する手段としては、直流漏れ電流法、直流重畳
法、低周波重畳法、直流成分法を利用したものを使用す
ることもできる。
【００１５】
【作用】予めゴム配合物の最適加硫条件を試験機で測定
しておき、それと共にゴム配合物の誘電正接（ｔａｎ
δ）または電流値を測定しておく。ゴム配合物を成形加
硫しながら当該ゴム配合物に交流電圧を印加し、ゴム配
合物の誘電正接（ｔａｎδ）または電流値を測定する。
測定値が予め設定された誘電正接（ｔａｎδ）または電
流値となったら加硫を停止し、これによって最適加硫が
行なわれたゴム製品を得ることができる。
しておき、それと共にゴム配合物の誘電正接（ｔａｎ
δ）または電流値を測定しておく。ゴム配合物を成形加
硫しながら当該ゴム配合物に交流電圧を印加し、ゴム配
合物の誘電正接（ｔａｎδ）または電流値を測定する。
測定値が予め設定された誘電正接（ｔａｎδ）または電
流値となったら加硫を停止し、これによって最適加硫が
行なわれたゴム製品を得ることができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】本発明を図面に示した実施の形態
に基づき更に詳細に説明する。図１は電極を装備した金
型の説明図である。金型は上型１１と下型１２とから構
成されている。下型１２の上面中央には平板状のキャビ
ティ１３が形成されている。
に基づき更に詳細に説明する。図１は電極を装備した金
型の説明図である。金型は上型１１と下型１２とから構
成されている。下型１２の上面中央には平板状のキャビ
ティ１３が形成されている。
【００１７】上型１１の中央と下型１２の中央にはそれ
ぞれ電極１４，１５が表面を露出させた状態で埋設され
ている。電極１４，１５は絶縁体（テフロン）１６で周
囲とは絶縁されている。符号１７はゴム及び金型の温度
測定用の熱電対、Ｒはゴムである。
ぞれ電極１４，１５が表面を露出させた状態で埋設され
ている。電極１４，１５は絶縁体（テフロン）１６で周
囲とは絶縁されている。符号１７はゴム及び金型の温度
測定用の熱電対、Ｒはゴムである。
【００１８】図２は、下記の表１に示す配合のＮＢＲゴ
ムを加硫し、加硫反応の進行に伴うトルクの時間変化を
示した図である。加硫反応追跡の手段として確立された
方法である加硫試験機（モンサント社製ＭＤＲ２００
０）を用いて加硫温度１５０℃で測定した。加硫開始後
３分以降から急激なトルク上昇があり、その後の安定化
が見られる。加硫開始後５分を経過したところでトルク
変化が小さくなり加硫が十分進行したことがわかる。
ムを加硫し、加硫反応の進行に伴うトルクの時間変化を
示した図である。加硫反応追跡の手段として確立された
方法である加硫試験機（モンサント社製ＭＤＲ２００
０）を用いて加硫温度１５０℃で測定した。加硫開始後
３分以降から急激なトルク上昇があり、その後の安定化
が見られる。加硫開始後５分を経過したところでトルク
変化が小さくなり加硫が十分進行したことがわかる。
【００１９】
【表１】
【００２０】図３は誘電正接（ｔａｎδ）−時間曲線を
示す図である。図１に示した金型内に表１に示した配合
のＮＢＲゴムを充填し、交流電圧を２００Ｖを印加し、
１５０℃で加硫した。加硫開始後２〜３分以降のｔａｎ
δの急上昇とその後の安定化は図２に示したトルクー時
間曲線と類似しており、誘電正接（ｔａｎδ）を測定す
ることによって加硫反応を追跡して最適加硫条件を得る
ことができることが分かる。
示す図である。図１に示した金型内に表１に示した配合
のＮＢＲゴムを充填し、交流電圧を２００Ｖを印加し、
１５０℃で加硫した。加硫開始後２〜３分以降のｔａｎ
δの急上昇とその後の安定化は図２に示したトルクー時
間曲線と類似しており、誘電正接（ｔａｎδ）を測定す
ることによって加硫反応を追跡して最適加硫条件を得る
ことができることが分かる。
【００２１】図４は電流−加硫時間の変化を示す図であ
る。図１に示した金型内に表１に示す配合のＮＢＲゴム
を充填し、交流電圧１２０Ｖを印加し、１５０℃で加硫
した。電流は加硫開始後５分を過ぎると急激に上昇し１
１分を過ぎるとほぼ一定となりその形は図２に非常に類
似している。つまり、ゴム配合物中を流れる電流値を測
定することによって加硫反応を追跡して最適加硫条件を
得ることができることが分かる。
る。図１に示した金型内に表１に示す配合のＮＢＲゴム
を充填し、交流電圧１２０Ｖを印加し、１５０℃で加硫
した。電流は加硫開始後５分を過ぎると急激に上昇し１
１分を過ぎるとほぼ一定となりその形は図２に非常に類
似している。つまり、ゴム配合物中を流れる電流値を測
定することによって加硫反応を追跡して最適加硫条件を
得ることができることが分かる。
【００２２】図５は加硫反応の進行に伴う引っ張り強度
の時間変化を示した図である。加硫反応がほぼ完結した
加硫時間１０分間までは時間と共に引っ張り強度は増加
するがそれ以降は略一定か僅かに低下した。誘電正接
（ｔａｎδ）−時間曲線および電流−加硫時間の変化を
示す図と良く対応していることがわかる。
の時間変化を示した図である。加硫反応がほぼ完結した
加硫時間１０分間までは時間と共に引っ張り強度は増加
するがそれ以降は略一定か僅かに低下した。誘電正接
（ｔａｎδ）−時間曲線および電流−加硫時間の変化を
示す図と良く対応していることがわかる。
【００２３】
【比較例】図６は硫黄と加硫剤を含まないゴム配合物の
誘電正接（ｔａｎδ）−時間曲線を示す図である。誘電
正接（ｔａｎδ）は徐々に上昇するのみであり、加硫反
応が起こってないことがわかる。
誘電正接（ｔａｎδ）−時間曲線を示す図である。誘電
正接（ｔａｎδ）は徐々に上昇するのみであり、加硫反
応が起こってないことがわかる。
【００２４】図７はｔ90（トルク）とｔａｎδ−時間曲
線から求めたｔ90（ｔａｎδ）の相関性を示す図であ
る。一般に最適加硫時間は図２のトルクー時間曲線から
求めた９０％加硫時間ｔ90（トルク）が採用されてい
る。ｔ90（トルク）とｔａｎδ−時間曲線から求めたｔ
90（ｔａｎδ）には相関性があり、非常に良い直線性が
見られる。
線から求めたｔ90（ｔａｎδ）の相関性を示す図であ
る。一般に最適加硫時間は図２のトルクー時間曲線から
求めた９０％加硫時間ｔ90（トルク）が採用されてい
る。ｔ90（トルク）とｔａｎδ−時間曲線から求めたｔ
90（ｔａｎδ）には相関性があり、非常に良い直線性が
見られる。
【００２５】図８はｔ90（トルク）と電流−時間曲線か
ら求めたｔ90（電流）の相関性を示す図である。加硫温
度１４０〜１７０℃では直線関係が見られる。以上のよ
うに、トルクー時間曲線とｔａｎδ−時間曲線、電流−
時間曲線には極めて良い相関性がある。
ら求めたｔ90（電流）の相関性を示す図である。加硫温
度１４０〜１７０℃では直線関係が見られる。以上のよ
うに、トルクー時間曲線とｔａｎδ−時間曲線、電流−
時間曲線には極めて良い相関性がある。
【００２６】図９は本発明に係る成形装置の要部を示し
た一部断面図である。符号８０は射出成形装置（装置全
体の図は省略している）のスクリュウを示しており、そ
の先端部側には金型８１が配設されている。金型８１は
固定金型８２と可動金型８３から構成されている。
た一部断面図である。符号８０は射出成形装置（装置全
体の図は省略している）のスクリュウを示しており、そ
の先端部側には金型８１が配設されている。金型８１は
固定金型８２と可動金型８３から構成されている。
【００２７】金型８１（固定金型８２と可動金型８３）
には成形部８４の外に測定部８５が形成されている。成
形部８４と測定部８５は連通している。測定部８５に関
連した固定金型８２と可動金型８３には、それぞれ電極
８６，８７が設けてある。電極８６，８７は計測部８８
を介して制御部８９と電気的に接続されている。
には成形部８４の外に測定部８５が形成されている。成
形部８４と測定部８５は連通している。測定部８５に関
連した固定金型８２と可動金型８３には、それぞれ電極
８６，８７が設けてある。電極８６，８７は計測部８８
を介して制御部８９と電気的に接続されている。
【００２８】
(1) 予めゴム配合物Ｒの誘電正接（ｔａｎδ）または電
流値の時間変化を測定しておき最適加硫条件を本装置で
設定する。制御部８９では最適加硫条件となる誘電正接
（ｔａｎδ）または電流値が測定されたら、加硫を停止
し金型８１を開くように制御条件を設定しておく。 (2) スクリュウ８０を作動させ、金型８１の成形部８４
にゴム配合物Ｒを充填する。成形部８４に充填されたゴ
ム配合物Ｒの一部は測定部８５に流れ込む。 (3) 金型８１中でゴム配合物Ｒを成形加硫しながら電極
８６，８７に交流電圧を印加し、測定部８５中のゴム配
合物の誘電正接（ｔａｎδ）または電流値を測定する。 (4) 測定値から予め設定された誘電正接（ｔａｎδ）ま
たは電流値が得られたら加硫を停止し金型８１を開か
れ、最適加硫が行なわれたゴム製品を得ることができ
る。 なお、本発明は上記発明の形態に限定されるものではな
く、特許請求の範囲の記載内において数々の変形が可能
である。
流値の時間変化を測定しておき最適加硫条件を本装置で
設定する。制御部８９では最適加硫条件となる誘電正接
（ｔａｎδ）または電流値が測定されたら、加硫を停止
し金型８１を開くように制御条件を設定しておく。 (2) スクリュウ８０を作動させ、金型８１の成形部８４
にゴム配合物Ｒを充填する。成形部８４に充填されたゴ
ム配合物Ｒの一部は測定部８５に流れ込む。 (3) 金型８１中でゴム配合物Ｒを成形加硫しながら電極
８６，８７に交流電圧を印加し、測定部８５中のゴム配
合物の誘電正接（ｔａｎδ）または電流値を測定する。 (4) 測定値から予め設定された誘電正接（ｔａｎδ）ま
たは電流値が得られたら加硫を停止し金型８１を開か
れ、最適加硫が行なわれたゴム製品を得ることができ
る。 なお、本発明は上記発明の形態に限定されるものではな
く、特許請求の範囲の記載内において数々の変形が可能
である。
【００２９】
【発明の効果】本発明は上記構成を有し、被加硫ゴムに
電圧を印加して誘電正接（ｔａｎδ）または電流値を測
定し、これによってゴムの加硫反応の進行をリアルタイ
ムで測定することができる。また、上記測定方法を利用
することによって加硫成形装置の自動制御が可能とな
り、ひいてはゴムの成型加工工程の自動化が可能とな
る。
電圧を印加して誘電正接（ｔａｎδ）または電流値を測
定し、これによってゴムの加硫反応の進行をリアルタイ
ムで測定することができる。また、上記測定方法を利用
することによって加硫成形装置の自動制御が可能とな
り、ひいてはゴムの成型加工工程の自動化が可能とな
る。
【図１】電極を装備した金型の説明図である。
【図２】表１に示す配合のＮＢＲゴムを加硫し、加硫反
応の進行に伴うトルクの時間変化を示した図である。
応の進行に伴うトルクの時間変化を示した図である。
【図３】誘電正接（ｔａｎδ）−時間曲線を示す図であ
る。
る。
【図４】電流−加硫時間の変化を示す図である。
【図５】加硫反応の進行に伴う引っ張り強度の時間変化
を示した図である。
を示した図である。
【図６】硫黄と加硫剤を含まないゴム配合物の誘電正接
（ｔａｎδ）−時間曲線を示す図である。
（ｔａｎδ）−時間曲線を示す図である。
【図７】９０％加硫時間ｔ90（トルク）と９０％加硫時
間ｔ90（ｔａｎδ）との相関性を示した図である。
間ｔ90（ｔａｎδ）との相関性を示した図である。
【図８】９０％加硫時間ｔ90（トルク）と９０％加硫時
間ｔ90（電流）との相関性を示した図である。
間ｔ90（電流）との相関性を示した図である。
【図９】本発明に係る成形装置の要部を示した一部断面
図である。
図である。
８１ 金型 ８２ 固定金型 ８３ 可動金型 ８５ 測定部 ８６，８７ 電極
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 // Ｂ２９Ｋ 21:00 105:24
Claims (4)
- 【請求項１】 ゴムの加硫反応の進行を測定する方法で
あって、 交流電圧を印加して加硫反応進行中のゴム配合物の誘電
正接（ｔａｎδ）または電流値を測定することを特徴と
する、 加硫反応の測定方法。 - 【請求項２】 金型に設けられた電極に交流電圧が印加
されることを特徴とする、請求項１記載の加硫反応の測
定方法。 - 【請求項３】 ゴム製品の製造方法であって、 金型にゴム配合物を充填し、成形加硫しながらゴム配合
物の誘電正接（ｔａｎδ）または電流値を測定するステ
ップ、 予め設定した誘電正接（ｔａｎδ）または電流値が測定
されたときに成形加硫を停止するステップ、を含むこと
を特徴とする、 ゴム製品の製造方法。 - 【請求項４】 金型でゴム配合物を成形し加硫する装置
であって、上記金型にゴム配合物の誘電正接（ｔａｎ
δ）または電流値を測定する電極が設けられていること
を特徴とする、 ゴム製品の製造装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7262265A JP2717641B2 (ja) | 1995-09-13 | 1995-09-13 | ゴム製品の製造方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7262265A JP2717641B2 (ja) | 1995-09-13 | 1995-09-13 | ゴム製品の製造方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0976251A true JPH0976251A (ja) | 1997-03-25 |
| JP2717641B2 JP2717641B2 (ja) | 1998-02-18 |
Family
ID=17373392
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7262265A Expired - Lifetime JP2717641B2 (ja) | 1995-09-13 | 1995-09-13 | ゴム製品の製造方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2717641B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7433755B2 (en) | 2001-03-21 | 2008-10-07 | Signature Control Systems, Inc. | Controlling the curing of a rubber compound |
| WO2010074682A1 (en) * | 2008-12-22 | 2010-07-01 | Purdue Research Foundation | Polymeric structures and methods for producing and monitoring polymeric structures |
| JP2018044870A (ja) * | 2016-09-15 | 2018-03-22 | Ｊｓｒトレーディング株式会社 | 電気特性測定装置、ゴム組成物の検査方法およびゴム製品の製造方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08285802A (ja) * | 1995-04-13 | 1996-11-01 | Japan Atom Energy Res Inst | 電気的特性値によるゴムの架橋反応進行状態の測定方法 |
-
1995
- 1995-09-13 JP JP7262265A patent/JP2717641B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08285802A (ja) * | 1995-04-13 | 1996-11-01 | Japan Atom Energy Res Inst | 電気的特性値によるゴムの架橋反応進行状態の測定方法 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US7433755B2 (en) | 2001-03-21 | 2008-10-07 | Signature Control Systems, Inc. | Controlling the curing of a rubber compound |
| US7977952B2 (en) | 2007-12-21 | 2011-07-12 | Gary Krutz | Polymeric structures and methods for producing and monitoring polymeric structures |
| WO2010074682A1 (en) * | 2008-12-22 | 2010-07-01 | Purdue Research Foundation | Polymeric structures and methods for producing and monitoring polymeric structures |
| JP2018044870A (ja) * | 2016-09-15 | 2018-03-22 | Ｊｓｒトレーディング株式会社 | 電気特性測定装置、ゴム組成物の検査方法およびゴム製品の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2717641B2 (ja) | 1998-02-18 |
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