JPH097729A - 半導体アレスタおよびコンビネーション型アレスタ - Google Patents
半導体アレスタおよびコンビネーション型アレスタInfo
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- JPH097729A JPH097729A JP15027495A JP15027495A JPH097729A JP H097729 A JPH097729 A JP H097729A JP 15027495 A JP15027495 A JP 15027495A JP 15027495 A JP15027495 A JP 15027495A JP H097729 A JPH097729 A JP H097729A
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- Japan
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- arrester
- metal plate
- semiconductor
- diode group
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ガスチューブ型アレスタとの組み合わせが容
易な半導体アレスタを提供する。 【構成】 金属プレート12、14は互いに対向して隙
間を開けて積層され、その間に3組のダイオード群56
〜60とサイリスタT1が並列に接続される。各ダイオ
ード群56〜60を構成する2つのダイオード間にはリ
ード20〜24が接続され、これらは合成樹脂からなる
パッケージ26で封止される。ダイオード群56〜60
とサイリスタT1はパッケージ26内の隅部に配置さ
れ、一のダイオード群60とこのダイオード群60と隣
合うサイリスタT1との間の金属プレート12、14の
端縁形状はその中央方向に向かって凹状に形成される。
当該凹状に形成された端縁側となるパッケージ26の一
端面には金属プレート12、14の積層方向に延びる凹
溝28が形成され、ダイオード群60に接続されるリー
ド24の他端側は凹溝28内に突出する板状に形成さ
れ、透孔32を有する。
易な半導体アレスタを提供する。 【構成】 金属プレート12、14は互いに対向して隙
間を開けて積層され、その間に3組のダイオード群56
〜60とサイリスタT1が並列に接続される。各ダイオ
ード群56〜60を構成する2つのダイオード間にはリ
ード20〜24が接続され、これらは合成樹脂からなる
パッケージ26で封止される。ダイオード群56〜60
とサイリスタT1はパッケージ26内の隅部に配置さ
れ、一のダイオード群60とこのダイオード群60と隣
合うサイリスタT1との間の金属プレート12、14の
端縁形状はその中央方向に向かって凹状に形成される。
当該凹状に形成された端縁側となるパッケージ26の一
端面には金属プレート12、14の積層方向に延びる凹
溝28が形成され、ダイオード群60に接続されるリー
ド24の他端側は凹溝28内に突出する板状に形成さ
れ、透孔32を有する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体アレスタ、詳細
には、直撃雷、誘導雷等によって発生する異常高電圧か
ら通信機器等を保護する半導体アレスタに関し、特にダ
イオード・ブリッジ・サイリスタ型の半導体アレスタに
関する。また、半導体アレスタとガスチューブ型アレス
タ(避雷管)とを組み合わせたコンビネーション型アレ
スタに関する。
には、直撃雷、誘導雷等によって発生する異常高電圧か
ら通信機器等を保護する半導体アレスタに関し、特にダ
イオード・ブリッジ・サイリスタ型の半導体アレスタに
関する。また、半導体アレスタとガスチューブ型アレス
タ(避雷管)とを組み合わせたコンビネーション型アレ
スタに関する。
【0002】
【従来の技術】従来のダイオード・ブリッジ・サイリス
タ型の半導体アレスタ50の構造を、図8〜図12を用
いて半導体アレスタ50を構成するダイオード・ブリッ
ジ(D1〜D6)とサイリスタT1の接続と共に説明す
る。52、54は互いに対向して隙間を開けて配された
T字状の第1の金属プレートと第2の金属プレートであ
る。ダイオードD1とダイオードD2、ダイオードD3
とダイオードD4、ダイオードD5とダイオードD6は
それぞれ極性が同一方向となるように直列に接続され、
一つのダイオード群56、58、60を構成する。これ
らのダイオード群56、58、60は両金属プレート5
2、54間に、それぞれの極性が同一方向となるように
並列に接続されている。
タ型の半導体アレスタ50の構造を、図8〜図12を用
いて半導体アレスタ50を構成するダイオード・ブリッ
ジ(D1〜D6)とサイリスタT1の接続と共に説明す
る。52、54は互いに対向して隙間を開けて配された
T字状の第1の金属プレートと第2の金属プレートであ
る。ダイオードD1とダイオードD2、ダイオードD3
とダイオードD4、ダイオードD5とダイオードD6は
それぞれ極性が同一方向となるように直列に接続され、
一つのダイオード群56、58、60を構成する。これ
らのダイオード群56、58、60は両金属プレート5
2、54間に、それぞれの極性が同一方向となるように
並列に接続されている。
【0003】また、サイリスタT1もダイオード群5
6、58、60と並列に2つの金属プレート52、54
間に接続されている。62、64、66は金属製のリー
ドであり、それぞれの一端側が各ダイオード群56、5
8、60を構成する2つのダイオード(ダイオードD1
とダイオードD2、ダイオードD3とダイオードD4、
ダイオードD5とダイオードD6)間にそれぞれ介在さ
れて接続されている。各ダイオード群56、58、60
はT字状の金属プレート52、54の3つの端部に配さ
れているため、リード62、64、66も当該3つの端
部に接続される。68は合成樹脂材料で形成されたパッ
ケージであり、外形が四角柱形状に形成されて第1の金
属プレート52、第2の金属プレート54、ダイオード
D1〜D6、サイリスタT1およびリード62〜66の
一端側を封止する。そして、リード62〜66の他端側
は、パッケージ68の金属プレート52、54の端縁方
向(図8、図9中の上下端縁)に位置する端面からパッ
ケージ68の外方へ突出し、リード66は上端面から、
またリード62、64は下端面から突出している。よっ
て、概略の外形形状は図12に示すごとくになる。
6、58、60と並列に2つの金属プレート52、54
間に接続されている。62、64、66は金属製のリー
ドであり、それぞれの一端側が各ダイオード群56、5
8、60を構成する2つのダイオード(ダイオードD1
とダイオードD2、ダイオードD3とダイオードD4、
ダイオードD5とダイオードD6)間にそれぞれ介在さ
れて接続されている。各ダイオード群56、58、60
はT字状の金属プレート52、54の3つの端部に配さ
れているため、リード62、64、66も当該3つの端
部に接続される。68は合成樹脂材料で形成されたパッ
ケージであり、外形が四角柱形状に形成されて第1の金
属プレート52、第2の金属プレート54、ダイオード
D1〜D6、サイリスタT1およびリード62〜66の
一端側を封止する。そして、リード62〜66の他端側
は、パッケージ68の金属プレート52、54の端縁方
向(図8、図9中の上下端縁)に位置する端面からパッ
ケージ68の外方へ突出し、リード66は上端面から、
またリード62、64は下端面から突出している。よっ
て、概略の外形形状は図12に示すごとくになる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記の半導体アレスタ
50は応答速度は速いが、大電流には弱いので、応答速
度は遅いが、大電流に強い図13、図14のようなガス
チューブ型アレスタ70と組み合わせることで欠点を補
うことができる。これはコンビネーション型アレスタと
呼ばれる。ここでガスチューブ型アレスタ70の構造に
ついて概略説明すると、側面から接地リード72が延出
された接地電極74を挟んで両側に各ライン電極76を
配置し、これらの電極74、76間を絶縁スペーサ78
で気密封着し不活性ガスを封入して形成されている。ま
た、80はフェイルセイフ機構の一部を構成する接触片
であり、同じくフェイルセイフ機構の一部を構成する絶
縁シート82を介在させた状態で電極74、76間にわ
たるようにアレスタ70の周面に取り付けられている。
このフェイルセイフ機構は、長時間に渡って放電が連続
した場合に、アレスタ70が発熱して発火するのを防止
するものである。よって、このフェイルセイフ機構はガ
スチューブ型アレスタ70の必須の構成要素となってい
る。
50は応答速度は速いが、大電流には弱いので、応答速
度は遅いが、大電流に強い図13、図14のようなガス
チューブ型アレスタ70と組み合わせることで欠点を補
うことができる。これはコンビネーション型アレスタと
呼ばれる。ここでガスチューブ型アレスタ70の構造に
ついて概略説明すると、側面から接地リード72が延出
された接地電極74を挟んで両側に各ライン電極76を
配置し、これらの電極74、76間を絶縁スペーサ78
で気密封着し不活性ガスを封入して形成されている。ま
た、80はフェイルセイフ機構の一部を構成する接触片
であり、同じくフェイルセイフ機構の一部を構成する絶
縁シート82を介在させた状態で電極74、76間にわ
たるようにアレスタ70の周面に取り付けられている。
このフェイルセイフ機構は、長時間に渡って放電が連続
した場合に、アレスタ70が発熱して発火するのを防止
するものである。よって、このフェイルセイフ機構はガ
スチューブ型アレスタ70の必須の構成要素となってい
る。
【0005】しかしながら、ガスチューブ型アレスタ7
0と組み合わせて図15の様なコンビネーション型アレ
スタを製作する場合に、上記従来の半導体アレスタ50
には次の様な課題が有る。ガスチューブ型アレスタ70
との組み合わせ構造は、組み合わせた際の専有面積をな
るべく小さくすることや、アレスタ70の側面に延出さ
れた接地リード72が接地されるため当該側面が通常は
アレスタ70の下面となることを考慮すると、ガスチュ
ーブ型アレスタ70と半導体アレスタ50をガスチュー
ブ型アレスタ70の上面か下面(図13や図14の上
面、下面)に接触させて取り付ける構造にならざるを得
ない。しかし、ガスチューブ型アレスタ70の上面には
通常、フェイルセイフ機構があるため、上面への取り付
けは困難である。また下面に取り付けようとすると、下
面には接地リード72が突出しているため、接地リード
72を折曲して半導体アレスタ50のパッケージ68を
避けながらリード66と接続する必要があり、接地リー
ド72をパッケージ68の外壁面に沿って大きく曲げな
ければならず、加工に手間がかかると共に接地リード7
2と接地電極74との接合部分にストレスが加わり破損
の恐れが高くなる。また、リード66と接地リード72
との接続も難しい等、やはり取り付けが困難であるとい
う課題がある。
0と組み合わせて図15の様なコンビネーション型アレ
スタを製作する場合に、上記従来の半導体アレスタ50
には次の様な課題が有る。ガスチューブ型アレスタ70
との組み合わせ構造は、組み合わせた際の専有面積をな
るべく小さくすることや、アレスタ70の側面に延出さ
れた接地リード72が接地されるため当該側面が通常は
アレスタ70の下面となることを考慮すると、ガスチュ
ーブ型アレスタ70と半導体アレスタ50をガスチュー
ブ型アレスタ70の上面か下面(図13や図14の上
面、下面)に接触させて取り付ける構造にならざるを得
ない。しかし、ガスチューブ型アレスタ70の上面には
通常、フェイルセイフ機構があるため、上面への取り付
けは困難である。また下面に取り付けようとすると、下
面には接地リード72が突出しているため、接地リード
72を折曲して半導体アレスタ50のパッケージ68を
避けながらリード66と接続する必要があり、接地リー
ド72をパッケージ68の外壁面に沿って大きく曲げな
ければならず、加工に手間がかかると共に接地リード7
2と接地電極74との接合部分にストレスが加わり破損
の恐れが高くなる。また、リード66と接地リード72
との接続も難しい等、やはり取り付けが困難であるとい
う課題がある。
【0006】従って、本発明は上記課題を解決すべくな
され、その目的とするところは、ガスチューブ型アレス
タとの組み合わせが容易な半導体アレスタと、当該半導
体アレスタを用いることで製造が容易に行えるコンビネ
ーション型アレスタを提供することにある。
され、その目的とするところは、ガスチューブ型アレス
タとの組み合わせが容易な半導体アレスタと、当該半導
体アレスタを用いることで製造が容易に行えるコンビネ
ーション型アレスタを提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため次の構成を備える。すなわち、本発明に係る半
導体アレスタは、互いに対向して隙間を開けて積層され
た第1の金属プレートおよび第2の金属プレートと、極
性が同一方向となるように直列に接続された2つのダイ
オードから構成され、それぞれの極性が同一方向となる
ように前記2つの金属プレート間に並列に接続された3
組のダイオード群と、該ダイオード群と並列に前記2つ
の金属プレート間に接続されたサイリスタと、一端側が
前記各ダイオード群を構成する2つのダイオード間にそ
れぞれ接続された3つのリードと、前記第1の金属プレ
ート、前記第2の金属プレート、前記ダイオード群、前
記サイリスタおよび前記リードの一端側を封止する合成
樹脂からなるパッケージとを具備する半導体アレスタに
おいて、前記3つのダイオード群および前記サイリスタ
は、前記パッケージ内の隅部にそれぞれ配置され、前記
ダイオード群の内の一のダイオード群と該一のダイオー
ド群と隣合う前記サイリスタとの間の前記金属プレート
の端縁形状は、金属プレートの中央方向に向かって凹状
に形成され、前記金属プレートの前記凹状に形成された
端縁側に位置する前記パッケージの一端面には、前記金
属プレートの積層方向に延びる凹溝が形成され、前記一
のダイオード群に接続される前記リードの他端側は前記
凹溝内に突出する板状に形成されると共に、透孔が設け
られていることを特徴とする。この構成を採用すること
により、ガスチューブ型アレスタの接地リードを透孔に
挿通させて、凹溝内に配することができるので、ガスチ
ューブ型アレスタとの組み合わせが容易に行え、コンビ
ネーション型アレスタの製造が簡単に行える。また、前
記透孔の内周面には、透孔の中心方向に向けて延出する
延出部を形成させておくと、延出部がガスチューブ型ア
レスタの接地リードの周面と確実に当接でき、接地リー
ドが透孔から抜けにくくなる。また、前記金属プレート
の形状は具体的には、略コ字状または略H字状に形成す
ればよい。
するため次の構成を備える。すなわち、本発明に係る半
導体アレスタは、互いに対向して隙間を開けて積層され
た第1の金属プレートおよび第2の金属プレートと、極
性が同一方向となるように直列に接続された2つのダイ
オードから構成され、それぞれの極性が同一方向となる
ように前記2つの金属プレート間に並列に接続された3
組のダイオード群と、該ダイオード群と並列に前記2つ
の金属プレート間に接続されたサイリスタと、一端側が
前記各ダイオード群を構成する2つのダイオード間にそ
れぞれ接続された3つのリードと、前記第1の金属プレ
ート、前記第2の金属プレート、前記ダイオード群、前
記サイリスタおよび前記リードの一端側を封止する合成
樹脂からなるパッケージとを具備する半導体アレスタに
おいて、前記3つのダイオード群および前記サイリスタ
は、前記パッケージ内の隅部にそれぞれ配置され、前記
ダイオード群の内の一のダイオード群と該一のダイオー
ド群と隣合う前記サイリスタとの間の前記金属プレート
の端縁形状は、金属プレートの中央方向に向かって凹状
に形成され、前記金属プレートの前記凹状に形成された
端縁側に位置する前記パッケージの一端面には、前記金
属プレートの積層方向に延びる凹溝が形成され、前記一
のダイオード群に接続される前記リードの他端側は前記
凹溝内に突出する板状に形成されると共に、透孔が設け
られていることを特徴とする。この構成を採用すること
により、ガスチューブ型アレスタの接地リードを透孔に
挿通させて、凹溝内に配することができるので、ガスチ
ューブ型アレスタとの組み合わせが容易に行え、コンビ
ネーション型アレスタの製造が簡単に行える。また、前
記透孔の内周面には、透孔の中心方向に向けて延出する
延出部を形成させておくと、延出部がガスチューブ型ア
レスタの接地リードの周面と確実に当接でき、接地リー
ドが透孔から抜けにくくなる。また、前記金属プレート
の形状は具体的には、略コ字状または略H字状に形成す
ればよい。
【0008】また、本発明に係るコンビネーション型ア
レスタは、側面から接地リードが延出された接地電極を
挟んで両側に各ライン電極を配置し、これらの電極間を
絶縁スペーサで気密封着し不活性ガスを封入したガスチ
ューブ型アレスタと、本発明に係る半導体アレスタとを
具備し、前記ガスチューブ型アレスタは、前記接地リー
ドが前記半導体アレスタに設けられた透孔内に挿入され
て半導体アレスタと一体的に組み合わされて電気的に接
続されていることを特徴とする。
レスタは、側面から接地リードが延出された接地電極を
挟んで両側に各ライン電極を配置し、これらの電極間を
絶縁スペーサで気密封着し不活性ガスを封入したガスチ
ューブ型アレスタと、本発明に係る半導体アレスタとを
具備し、前記ガスチューブ型アレスタは、前記接地リー
ドが前記半導体アレスタに設けられた透孔内に挿入され
て半導体アレスタと一体的に組み合わされて電気的に接
続されていることを特徴とする。
【0009】
【作用】作用について説明する。3つのダイオード群お
よびサイリスタは、パッケージ内の隅部にそれぞれ配置
されているので、ダイオード群の内の一のダイオード群
と当該一のダイオード群と隣合うサイリスタとの間の金
属プレートの端縁形状を、金属プレートの中央方向に向
かって凹状に形成できる。よって凹状の金属プレートの
端縁形状に合わせて当該端縁側に位置するパッケージの
一端面に金属プレートの積層方向に延びる凹溝が形成で
きる。この凹溝内に一のダイオード群に接続されるリー
ドの他端側を板状に形成して突出させ、透孔を設ける
と、当該リードの他端側はパッケージの中央部分に近く
配置できる。よって、ガスチューブ型アレスタの接地リ
ードを容易に透孔に挿通させて、凹溝内に配することが
でき、ガスチューブ型アレスタとの組み合わせが簡単に
行える。
よびサイリスタは、パッケージ内の隅部にそれぞれ配置
されているので、ダイオード群の内の一のダイオード群
と当該一のダイオード群と隣合うサイリスタとの間の金
属プレートの端縁形状を、金属プレートの中央方向に向
かって凹状に形成できる。よって凹状の金属プレートの
端縁形状に合わせて当該端縁側に位置するパッケージの
一端面に金属プレートの積層方向に延びる凹溝が形成で
きる。この凹溝内に一のダイオード群に接続されるリー
ドの他端側を板状に形成して突出させ、透孔を設ける
と、当該リードの他端側はパッケージの中央部分に近く
配置できる。よって、ガスチューブ型アレスタの接地リ
ードを容易に透孔に挿通させて、凹溝内に配することが
でき、ガスチューブ型アレスタとの組み合わせが簡単に
行える。
【0010】
【実施例】以下、本発明に係る半導体アレスタおよびコ
ンビネーション型アレスタの好適な実施例を添付図面に
基づいて詳細に説明する。まず、図1〜図5を用いて半
導体アレスタ10の一実施例の構成について説明する。
なお、半導体アレスタ10を構成するダイオード・ブリ
ッジ(D1〜D6)とサイリスタT1の接続は、従来例
と同じであり、説明は省略する(但し、本実施例では第
1の金属プレートは12であり、第2の金属プレートは
14である)。第1の金属プレート12と第2の金属プ
レート14はそれぞれ一例として図1に示すような略コ
字状に形成され、2つの端部および2つの折曲部分はダ
イオード群56〜60やサイリスタT1が取り付けられ
る接点16a、16b、16c、16d(第1の金属プ
レート12)、18a、18b、18c、18d(第2
の金属プレート14)となっている。具体的には、2つ
の端部には接点16a、16dと接点18a、18dが
あり、2つの折曲部分には接点16b、16cと接点1
8b、18cがある。また、第1の金属プレート12と
第2の金属プレート14は、図1の前後方向に互いに対
向して隙間を開けて積層するように配されている。な
お、金属プレート12、14の形状は、ダイオード群の
内の一のダイオード群(本実施例では一例としてダイオ
ード群60)と当該一のダイオード群と隣合うサイリス
タT1との間の金属プレート12、14の端縁形状が、
当該金属プレートの中央方向に向かって凹状に形成され
ていればよいので、略コ字状に代えて例えば略H字状と
し、この4つの端部に上記接点を配する構成としてもよ
い。
ンビネーション型アレスタの好適な実施例を添付図面に
基づいて詳細に説明する。まず、図1〜図5を用いて半
導体アレスタ10の一実施例の構成について説明する。
なお、半導体アレスタ10を構成するダイオード・ブリ
ッジ(D1〜D6)とサイリスタT1の接続は、従来例
と同じであり、説明は省略する(但し、本実施例では第
1の金属プレートは12であり、第2の金属プレートは
14である)。第1の金属プレート12と第2の金属プ
レート14はそれぞれ一例として図1に示すような略コ
字状に形成され、2つの端部および2つの折曲部分はダ
イオード群56〜60やサイリスタT1が取り付けられ
る接点16a、16b、16c、16d(第1の金属プ
レート12)、18a、18b、18c、18d(第2
の金属プレート14)となっている。具体的には、2つ
の端部には接点16a、16dと接点18a、18dが
あり、2つの折曲部分には接点16b、16cと接点1
8b、18cがある。また、第1の金属プレート12と
第2の金属プレート14は、図1の前後方向に互いに対
向して隙間を開けて積層するように配されている。な
お、金属プレート12、14の形状は、ダイオード群の
内の一のダイオード群(本実施例では一例としてダイオ
ード群60)と当該一のダイオード群と隣合うサイリス
タT1との間の金属プレート12、14の端縁形状が、
当該金属プレートの中央方向に向かって凹状に形成され
ていればよいので、略コ字状に代えて例えば略H字状と
し、この4つの端部に上記接点を配する構成としてもよ
い。
【0011】第1の金属プレート12と第2の金属プレ
ート14の各接点間(16aと18a間、・・・、16
d〜18d間)には、従来例で説明した3つのダイオー
ド群56、58、60(それぞれの極性は同一方向)と
サイリスタT1がはんだ接合によって取り付けられてい
る。これにより、各3つのダイオード群56、58、6
0とサイリスタT1は2つの金属プレート12、14間
に並列に接続される。具体的には、接点16aと18a
の間にはサイリスタT1、接点16bと18bの間、接
点16cと18cの間、接点16dと18dの間にはダ
イオード群56、58、60がそれぞれ配されている
が、サイリスタT1とダイオード群60は配置を入れ換
えてもよい。20、22、24は3つのリードであり、
各リード20、22、24の一端側が図5に示すよう
に、各ダイオード群56、58、60を構成する2つの
ダイオード(D1とD2、D3とD4、D5とD6)間
にそれぞれ介在されて接続されている。26はパッケー
ジであり、合成樹脂材料で形成され、2つの金属プレー
ト12、14、ダイオード群56、58、60、サイリ
スタT1およびリード20〜24の一端側を封止する。
なお、パッケージ26は一般的な半導体素子用パッケー
ジと同様に略四角柱に形成されている。
ート14の各接点間(16aと18a間、・・・、16
d〜18d間)には、従来例で説明した3つのダイオー
ド群56、58、60(それぞれの極性は同一方向)と
サイリスタT1がはんだ接合によって取り付けられてい
る。これにより、各3つのダイオード群56、58、6
0とサイリスタT1は2つの金属プレート12、14間
に並列に接続される。具体的には、接点16aと18a
の間にはサイリスタT1、接点16bと18bの間、接
点16cと18cの間、接点16dと18dの間にはダ
イオード群56、58、60がそれぞれ配されている
が、サイリスタT1とダイオード群60は配置を入れ換
えてもよい。20、22、24は3つのリードであり、
各リード20、22、24の一端側が図5に示すよう
に、各ダイオード群56、58、60を構成する2つの
ダイオード(D1とD2、D3とD4、D5とD6)間
にそれぞれ介在されて接続されている。26はパッケー
ジであり、合成樹脂材料で形成され、2つの金属プレー
ト12、14、ダイオード群56、58、60、サイリ
スタT1およびリード20〜24の一端側を封止する。
なお、パッケージ26は一般的な半導体素子用パッケー
ジと同様に略四角柱に形成されている。
【0012】さらに詳細に説明すると、2つの金属プレ
ート12、14の各接点16a〜16d、18a〜18
dはパッケージ26の4隅に配されており、よって3つ
のダイオード群56〜60およびサイリスタT1も、パ
ッケージ26内の隅部にそれぞれ配置されることにな
る。また、金属プレート12、14の凹状に形成された
端縁側に位置するパッケージ26の一端面(一例として
図1、2、3の上端面、図4の前面)の略中央部分に
は、金属プレート12、14の積層方向に延びる凹溝2
8が形成されている。各接点16a〜16d、18a〜
18dがパッケージ26の4隅に配され、かつ金属プレ
ート12、14の端縁がパッケージ26の中央部分方向
へ凹状となるように形成されているため、凹溝28も深
く形成することができる。この凹溝28はパッケージ2
6の金属プレート面と略平行な対向面間にわたり、形成
されている。本実施例における前記対向面は具体的に
は、図1〜図3では前後面であり、また図4では上下面
である。また、パッケージ26の前記一端面と対向する
他端面中央部分(一例として図1、2、3の下端面中央
部分)には、後述するように他端面から突出する2つの
リード20、22間の縁面放電開始電圧を高めるため
に、縁面距離を長くすべく一例としてV字状の溝30が
形成されている。V字溝30もまた金属プレート12、
14の各接点16a〜16d、18a〜18dがパッケ
ージ26の4隅に配されているために、形成し易いし、
また深く形成して縁面距離を十分に確保することが可能
となる。特に金属プレート12、14の形状を略H字状
とすれば、凹溝28とV字溝30の両方ともに深く形成
できる。そして一のダイオード群60に接続されるリー
ド24の他端側は凹溝28内に突出する板状に形成され
ると共に、凹溝28内に露出する部分に透孔32が設け
られている。また、他のリード20、22の他端側は前
述のV字溝30が形成された他端面(図2、3の下端
面)からV字溝30を挟んで突出し、直角に折曲されて
いる。
ート12、14の各接点16a〜16d、18a〜18
dはパッケージ26の4隅に配されており、よって3つ
のダイオード群56〜60およびサイリスタT1も、パ
ッケージ26内の隅部にそれぞれ配置されることにな
る。また、金属プレート12、14の凹状に形成された
端縁側に位置するパッケージ26の一端面(一例として
図1、2、3の上端面、図4の前面)の略中央部分に
は、金属プレート12、14の積層方向に延びる凹溝2
8が形成されている。各接点16a〜16d、18a〜
18dがパッケージ26の4隅に配され、かつ金属プレ
ート12、14の端縁がパッケージ26の中央部分方向
へ凹状となるように形成されているため、凹溝28も深
く形成することができる。この凹溝28はパッケージ2
6の金属プレート面と略平行な対向面間にわたり、形成
されている。本実施例における前記対向面は具体的に
は、図1〜図3では前後面であり、また図4では上下面
である。また、パッケージ26の前記一端面と対向する
他端面中央部分(一例として図1、2、3の下端面中央
部分)には、後述するように他端面から突出する2つの
リード20、22間の縁面放電開始電圧を高めるため
に、縁面距離を長くすべく一例としてV字状の溝30が
形成されている。V字溝30もまた金属プレート12、
14の各接点16a〜16d、18a〜18dがパッケ
ージ26の4隅に配されているために、形成し易いし、
また深く形成して縁面距離を十分に確保することが可能
となる。特に金属プレート12、14の形状を略H字状
とすれば、凹溝28とV字溝30の両方ともに深く形成
できる。そして一のダイオード群60に接続されるリー
ド24の他端側は凹溝28内に突出する板状に形成され
ると共に、凹溝28内に露出する部分に透孔32が設け
られている。また、他のリード20、22の他端側は前
述のV字溝30が形成された他端面(図2、3の下端
面)からV字溝30を挟んで突出し、直角に折曲されて
いる。
【0013】また、透孔32の内周面には、透孔32の
中心方向に向けて延出する延出部34が形成され、延出
部34の先端同士の間隔は、後述するガスチューブ型ア
レスタ70の接地リード72の外径より小さくなるよう
に形成されている。よって、接地リード72が透孔32
内に挿入された際に、延出部34が接地リード72を挟
持して接地リード72が透孔32から抜けにくい構造と
なっている。また、各金属プレート12、14間に配さ
れたダイオード群56、58、60およびサイリスタT
1の各金属プレート12、14およびリード20〜24
との接続構造は従来例と同様であり、一例としてサイリ
スタT1とダイオード群56の接続構造を図5に示す。
金属プレート12、14とサイリスタT1との間、金属
プレート12、14とダイオード群56を構成するダイ
オードD1、D2との間、ダイオードD1、D2とリー
ド20との間ははんだ接合されている。
中心方向に向けて延出する延出部34が形成され、延出
部34の先端同士の間隔は、後述するガスチューブ型ア
レスタ70の接地リード72の外径より小さくなるよう
に形成されている。よって、接地リード72が透孔32
内に挿入された際に、延出部34が接地リード72を挟
持して接地リード72が透孔32から抜けにくい構造と
なっている。また、各金属プレート12、14間に配さ
れたダイオード群56、58、60およびサイリスタT
1の各金属プレート12、14およびリード20〜24
との接続構造は従来例と同様であり、一例としてサイリ
スタT1とダイオード群56の接続構造を図5に示す。
金属プレート12、14とサイリスタT1との間、金属
プレート12、14とダイオード群56を構成するダイ
オードD1、D2との間、ダイオードD1、D2とリー
ド20との間ははんだ接合されている。
【0014】次に、上述した半導体アレスタ10とガス
チューブ型アレスタ70とを組み合わせたコンビネーシ
ョン型アレスタ36の構造について図6、図7を用いて
説明する。なお、ガスチューブ型アレスタ70の構造は
従来例で説明した構造と同様である。まず、半導体アレ
スタ10のリード20〜24とガスチューブ型アレスタ
70の接地リード72および2つのライン電極76との
電気的接続は、接地リード72とリード24、2つのラ
イン電極76にはリード20、22がそれぞれ接続され
る構造となる。従来例で説明したように、コンビネーシ
ョン型アレスタ36の部品専有面積を考慮すると、半導
体アレスタ10とガスチューブ型アレスタ70の組み立
て構造は、半導体アレスタ10をガスチューブ型アレス
タ70の上面か下面に、言い換えればガスチューブ型ア
レスタ70を半導体アレスタ10の上面か下面に接触さ
せて取り付ける構造とする必要があるため、図4とは上
下が逆になるが、図6や図7に示すように半導体アレス
タ10の他端面(V字溝30が形成された面)から延出
して同一方向へ直角に折曲されたリード20、22の延
出方向(図6や図7の上方向)からガスチューブ型アレ
スタ70を、接地リード72を透孔32に挿入しながら
半導体アレスタ10の上面に密着させて取り付ける。接
地リード72は透孔32の延出部34に挿入した後には
んだ付けしても良い。
チューブ型アレスタ70とを組み合わせたコンビネーシ
ョン型アレスタ36の構造について図6、図7を用いて
説明する。なお、ガスチューブ型アレスタ70の構造は
従来例で説明した構造と同様である。まず、半導体アレ
スタ10のリード20〜24とガスチューブ型アレスタ
70の接地リード72および2つのライン電極76との
電気的接続は、接地リード72とリード24、2つのラ
イン電極76にはリード20、22がそれぞれ接続され
る構造となる。従来例で説明したように、コンビネーシ
ョン型アレスタ36の部品専有面積を考慮すると、半導
体アレスタ10とガスチューブ型アレスタ70の組み立
て構造は、半導体アレスタ10をガスチューブ型アレス
タ70の上面か下面に、言い換えればガスチューブ型ア
レスタ70を半導体アレスタ10の上面か下面に接触さ
せて取り付ける構造とする必要があるため、図4とは上
下が逆になるが、図6や図7に示すように半導体アレス
タ10の他端面(V字溝30が形成された面)から延出
して同一方向へ直角に折曲されたリード20、22の延
出方向(図6や図7の上方向)からガスチューブ型アレ
スタ70を、接地リード72を透孔32に挿入しながら
半導体アレスタ10の上面に密着させて取り付ける。接
地リード72は透孔32の延出部34に挿入した後には
んだ付けしても良い。
【0015】その後に、半導体アレスタ10の上方に折
曲されたリード20、22とガスチューブ型アレスタ7
0の2つのライン電極76とをはんだ接合等により電気
的に接続して、コンビネーション型アレスタ36が完成
する。また、本実施例のように半導体アレスタ10の他
端面に突出するリード20、22の間隔を、予めガスチ
ューブ型アレスタ70の2つのライン電極76の間隔に
合わせて形成することで組み立て時のはんだ接合が容易
に行える。また、半導体アレスタ10のガスチューブ型
アレスタ70の外周面との当接面(図5の下面、図7の
上面)には、ガスチューブ型アレスタ70の外周面形状
に合わせた形状の溝(一例としてU字溝)38を形成す
ることで、組み立て時の安定度が増す。なお、この溝3
8の断面形状はガスチューブ型アレスタ70が多角柱で
あれば、それに対応して角形凹溝にすればよい。
曲されたリード20、22とガスチューブ型アレスタ7
0の2つのライン電極76とをはんだ接合等により電気
的に接続して、コンビネーション型アレスタ36が完成
する。また、本実施例のように半導体アレスタ10の他
端面に突出するリード20、22の間隔を、予めガスチ
ューブ型アレスタ70の2つのライン電極76の間隔に
合わせて形成することで組み立て時のはんだ接合が容易
に行える。また、半導体アレスタ10のガスチューブ型
アレスタ70の外周面との当接面(図5の下面、図7の
上面)には、ガスチューブ型アレスタ70の外周面形状
に合わせた形状の溝(一例としてU字溝)38を形成す
ることで、組み立て時の安定度が増す。なお、この溝3
8の断面形状はガスチューブ型アレスタ70が多角柱で
あれば、それに対応して角形凹溝にすればよい。
【0016】またさらに、ガスチューブ型アレスタ70
の接地リード72と接続される半導体アレスタ10のリ
ード24は凹溝28内に配され、パッケージ26の中心
部分に近い位置にあるため、図7に示すように接地リー
ド72の曲げ角度が従来例と比べて少なくてもリード2
4と接続することができ、接地リード72と接地電極7
4との接続部分に大きなストレスが加わらず、故障の可
能性が低くなる。また、上述したように半導体アレスタ
10は、ガスチューブ型アレスタ70の接地リード72
側の外周面に取り付けるできるので、接地リード72と
反対側に位置する外周面に取り付けられたガスチューブ
型アレスタ70のフェイルセイフ機構が、半導体アレス
タ10との組み合わせに際して邪魔になることはない。
の接地リード72と接続される半導体アレスタ10のリ
ード24は凹溝28内に配され、パッケージ26の中心
部分に近い位置にあるため、図7に示すように接地リー
ド72の曲げ角度が従来例と比べて少なくてもリード2
4と接続することができ、接地リード72と接地電極7
4との接続部分に大きなストレスが加わらず、故障の可
能性が低くなる。また、上述したように半導体アレスタ
10は、ガスチューブ型アレスタ70の接地リード72
側の外周面に取り付けるできるので、接地リード72と
反対側に位置する外周面に取り付けられたガスチューブ
型アレスタ70のフェイルセイフ機構が、半導体アレス
タ10との組み合わせに際して邪魔になることはない。
【0017】以上、本発明の好適な実施例について種々
述べてきたが、本発明は上述する実施例に限定されるも
のではなく、発明の精神を逸脱しない範囲で多くの改変
を施し得るのはもちろんである。
述べてきたが、本発明は上述する実施例に限定されるも
のではなく、発明の精神を逸脱しない範囲で多くの改変
を施し得るのはもちろんである。
【0018】
【発明の効果】本発明に係る半導体アレスタを用いる
と、3つのダイオード群およびサイリスタは、パッケー
ジ内の隅部にそれぞれ配置されているので、ダイオード
群の内の一のダイオード群と当該一のダイオード群と隣
合うサイリスタとの間の金属プレートの端縁形状を、当
該金属プレートの中央方向に向かって凹状に形成でき、
さらに凹状の金属プレートの端縁形状に合わせて当該端
縁側に位置するパッケージの一端面に金属プレートの積
層方向に延びる凹溝が形成できる。これによりこの凹溝
内に一のダイオード群に接続されるリードの他端側を板
状に形成して突出させ、透孔を設けると、当該リードの
他端側はパッケージの中央部分に近く配置できる。よっ
て、ガスチューブ型アレスタの接地リードを容易に透孔
に挿通させて、凹溝内に配することができ、ガスチュー
ブ型アレスタとの組み合わせが簡単に行えるので、コン
ビネーション型アレスタの製造が簡単に行える。また、
透孔の内周面には、透孔の中心方向に向けて延出する延
出部を形成させておくと、延出部がガスチューブ型アレ
スタの接地リードの周面と確実に当接でき、接地リード
が透孔から抜けにくくなる。また、本発明に係る半導体
アレスタを用いたコンビネーション型アレスタは、半導
体アレスタとガスチューブ型アレスタとの組み合わせが
容易に行え、作業性が向上し、また接地リードの折曲の
程度も従来例よりも少なくて済むので、接地リードと接
地電極との間に加わるストレスも少なくなることから、
製品の品質も向上するという著効を奏する。
と、3つのダイオード群およびサイリスタは、パッケー
ジ内の隅部にそれぞれ配置されているので、ダイオード
群の内の一のダイオード群と当該一のダイオード群と隣
合うサイリスタとの間の金属プレートの端縁形状を、当
該金属プレートの中央方向に向かって凹状に形成でき、
さらに凹状の金属プレートの端縁形状に合わせて当該端
縁側に位置するパッケージの一端面に金属プレートの積
層方向に延びる凹溝が形成できる。これによりこの凹溝
内に一のダイオード群に接続されるリードの他端側を板
状に形成して突出させ、透孔を設けると、当該リードの
他端側はパッケージの中央部分に近く配置できる。よっ
て、ガスチューブ型アレスタの接地リードを容易に透孔
に挿通させて、凹溝内に配することができ、ガスチュー
ブ型アレスタとの組み合わせが簡単に行えるので、コン
ビネーション型アレスタの製造が簡単に行える。また、
透孔の内周面には、透孔の中心方向に向けて延出する延
出部を形成させておくと、延出部がガスチューブ型アレ
スタの接地リードの周面と確実に当接でき、接地リード
が透孔から抜けにくくなる。また、本発明に係る半導体
アレスタを用いたコンビネーション型アレスタは、半導
体アレスタとガスチューブ型アレスタとの組み合わせが
容易に行え、作業性が向上し、また接地リードの折曲の
程度も従来例よりも少なくて済むので、接地リードと接
地電極との間に加わるストレスも少なくなることから、
製品の品質も向上するという著効を奏する。
【図1】本発明に係る半導体アレスタのパッケージ内の
金属プレートの形状、接点の配置、および凹溝の形状・
配置を示す説明図
金属プレートの形状、接点の配置、および凹溝の形状・
配置を示す説明図
【図2】本発明に係る半導体アレスタのパッケージ内の
リードの形状および配置を示す説明図
リードの形状および配置を示す説明図
【図3】図1、図2の金属プレートとリードとの配置を
示す説明図
示す説明図
【図4】本発明に係る半導体アレスタの正面図
【図5】金属プレートとダイオード群、サイリスタの接
合状態を示すための図3のA−A断面図
合状態を示すための図3のA−A断面図
【図6】本発明に係る半導体アレスタを用いたコンビネ
ーション型アレスタの構成を示す正面図
ーション型アレスタの構成を示す正面図
【図7】図6のB−B断面図
【図8】従来の半導体アレスタのパッケージ内の金属プ
レートの形状、接点の配置、およびリードの形状・配置
を示す平面図
レートの形状、接点の配置、およびリードの形状・配置
を示す平面図
【図9】図8の側面図
【図10】図8の正面図
【図11】ダイオード・ブリッジ・サイリスタ型の半導
体アレスタの回路図
体アレスタの回路図
【図12】図8の半導体アレスタの外形を示す斜視図
【図13】一般的なガスチューブ型アレスタの構成を示
す正面図
す正面図
【図14】図13の側面図
【図15】従来の半導体アレスタと図13のガスチュー
ブ型アレスタを用いたコンビネーション型アレスタの組
み立て構造を示す側面図
ブ型アレスタを用いたコンビネーション型アレスタの組
み立て構造を示す側面図
10 半導体アレスタ 12 第1の金属プレート 14 第2の金属プレート 20、22、24 リード 26 パッケージ 28 凹溝 32 透孔 56、58、60 ダイオード群 T1 サイリスタ
Claims (4)
- 【請求項1】 互いに対向して隙間を開けて積層された
第1の金属プレートおよび第2の金属プレートと、極性
が同一方向となるように直列に接続された2つのダイオ
ードから構成され、それぞれの極性が同一方向となるよ
うに前記2つの金属プレート間に並列に接続された3組
のダイオード群と、該ダイオード群と並列に前記2つの
金属プレート間に接続されたサイリスタと、一端側が前
記各ダイオード群を構成する2つのダイオード間にそれ
ぞれ接続された3つのリードと、前記第1の金属プレー
ト、前記第2の金属プレート、前記ダイオード群、前記
サイリスタおよび前記リードの一端側を封止する合成樹
脂からなるパッケージとを具備する半導体アレスタにお
いて、 前記3つのダイオード群および前記サイリスタは、前記
パッケージ内の隅部にそれぞれ配置され、 前記ダイオード群の内の一のダイオード群と該一のダイ
オード群と隣合う前記サイリスタとの間の前記金属プレ
ートの端縁形状は、金属プレートの中央方向に向かって
凹状に形成され、 前記金属プレートの前記凹状に形成された端縁側に位置
する前記パッケージの一端面には、前記金属プレートの
積層方向に延びる凹溝が形成され、 前記一のダイオード群に接続される前記リードの他端側
は前記凹溝内に突出する板状に形成されると共に、透孔
が設けられていることを特徴とする半導体アレスタ。 - 【請求項2】 前記透孔の内周面には、透孔の中心方向
に向けて延出する延出部が形成されていることを特徴と
する請求項1記載の半導体アレスタ。 - 【請求項3】 前記金属プレートは略コ字状または略H
字状に形成されていることを特徴とする請求項1または
2記載の半導体アレスタ。 - 【請求項4】 側面から接地リードが延出された接地電
極を挟んで両側に各ライン電極を配置し、これらの電極
間を絶縁スペーサで気密封着し不活性ガスを封入したガ
スチューブ型アレスタと、 請求項1、2または3記載の半導体アレスタとを具備
し、 前記ガスチューブ型アレスタは、前記接地リードが前記
半導体アレスタに設けられた透孔内に挿入されて半導体
アレスタと一体的に組み合わされて電気的に接続されて
いることを特徴とするコンビネーション型アレスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15027495A JPH097729A (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 半導体アレスタおよびコンビネーション型アレスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15027495A JPH097729A (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 半導体アレスタおよびコンビネーション型アレスタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH097729A true JPH097729A (ja) | 1997-01-10 |
Family
ID=15493382
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15027495A Pending JPH097729A (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 半導体アレスタおよびコンビネーション型アレスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH097729A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003041170A1 (fr) * | 2001-11-07 | 2003-05-15 | Shindengen Electric Manufacturing Co., Ltd. | Dispositif semi-conducteur de protection contre la surtension |
-
1995
- 1995-06-16 JP JP15027495A patent/JPH097729A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003041170A1 (fr) * | 2001-11-07 | 2003-05-15 | Shindengen Electric Manufacturing Co., Ltd. | Dispositif semi-conducteur de protection contre la surtension |
| US6870202B2 (en) | 2001-11-07 | 2005-03-22 | Shindengen Electric Manufacturing Co., Ltd. | Surge protection semiconductor device |
| CN1321457C (zh) * | 2001-11-07 | 2007-06-13 | 新电元件工业株式会社 | 浪涌保护半导体装置 |
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