JPH1031730A - キャリブレーション方法 - Google Patents
キャリブレーション方法Info
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- JPH1031730A JPH1031730A JP18623096A JP18623096A JPH1031730A JP H1031730 A JPH1031730 A JP H1031730A JP 18623096 A JP18623096 A JP 18623096A JP 18623096 A JP18623096 A JP 18623096A JP H1031730 A JPH1031730 A JP H1031730A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 正確にLCDパネル表示画像とCCD撮像画
像との対応をとることができるキャリブレーション方法
を提供する。 【解決手段】 LCDパネル1に表示された画像をCC
Dカメラを用いて撮像し、該撮像画像を基にLCDパネ
ルの表示試験を行うLCDパネル試験システムにおいて
行われるキャリブレーション方法であって、LCDパネ
ル1上に十字状に連なる複数の輝点よりなる表示パター
ン10をパネルを16分割するよう25個配置したキャ
リブレーションパターンを表示させ、該表示をCCDカ
メラで撮像し、該撮像画像における各表示パターン10
の中心アドレスを求め、これら中心アドレスを基にLC
Dパネル1の各画素に対応する、CCDカメラの撮像画
像上におけるアドレスを求め、該アドレスに基づいてC
CDカメラにて撮像された画像とLCDパネルの表示画
素との対応をとる。
像との対応をとることができるキャリブレーション方法
を提供する。 【解決手段】 LCDパネル1に表示された画像をCC
Dカメラを用いて撮像し、該撮像画像を基にLCDパネ
ルの表示試験を行うLCDパネル試験システムにおいて
行われるキャリブレーション方法であって、LCDパネ
ル1上に十字状に連なる複数の輝点よりなる表示パター
ン10をパネルを16分割するよう25個配置したキャ
リブレーションパターンを表示させ、該表示をCCDカ
メラで撮像し、該撮像画像における各表示パターン10
の中心アドレスを求め、これら中心アドレスを基にLC
Dパネル1の各画素に対応する、CCDカメラの撮像画
像上におけるアドレスを求め、該アドレスに基づいてC
CDカメラにて撮像された画像とLCDパネルの表示画
素との対応をとる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、CCDカメラを用
いてLCD(liquid crystal display)パネルに表示さ
れた試験画像を撮像し、該撮像画像を基にLCDパネル
の表示試験(表示画素の欠損や表示ムラなどの検出)を
行うLCDパネル試験システムにおいて行われるキャリ
ブレーション方法に関する。
いてLCD(liquid crystal display)パネルに表示さ
れた試験画像を撮像し、該撮像画像を基にLCDパネル
の表示試験(表示画素の欠損や表示ムラなどの検出)を
行うLCDパネル試験システムにおいて行われるキャリ
ブレーション方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図5は、LCDパネル試験システムの一
般的な構成を示すブロック図である。同図において、1
は試験対象であるLCDパネルで、駆動部2からの駆動
信号に基づいて画像を表示する。駆動部2は制御部8か
らの信号を基づいて駆動信号を出力するように構成され
ており、LCDパネル1上に所望のパターンを表示でき
る。このLCDパネル1上にはCCDカメラ3が配置さ
れており、このCCDカメラ3によりLCDパネル1に
表示された画像が撮像される。
般的な構成を示すブロック図である。同図において、1
は試験対象であるLCDパネルで、駆動部2からの駆動
信号に基づいて画像を表示する。駆動部2は制御部8か
らの信号を基づいて駆動信号を出力するように構成され
ており、LCDパネル1上に所望のパターンを表示でき
る。このLCDパネル1上にはCCDカメラ3が配置さ
れており、このCCDカメラ3によりLCDパネル1に
表示された画像が撮像される。
【0003】画像取り込み部4は、上記CCDカメラ3
にて撮像された画像データを一旦取り込むもので、制御
部8からの制御により取り込まれた画像データをデータ
処理部5へ渡す。
にて撮像された画像データを一旦取り込むもので、制御
部8からの制御により取り込まれた画像データをデータ
処理部5へ渡す。
【0004】データ処理部5は、プリサンプリング処理
部6と欠損検出部7からなり、プリサンプリング処理部
6にて画像取り込み部4からの画像データ(CCDカメ
ラ3にて撮像された画像データ)をLCDパネル1の表
示画素に対応した画像に変換してサンプリング処理し、
欠損検出部7にてそのサンプリング処理結果を基にLC
Dパネル1の表示画素の欠損や表示ムラなどの検出が行
われる。
部6と欠損検出部7からなり、プリサンプリング処理部
6にて画像取り込み部4からの画像データ(CCDカメ
ラ3にて撮像された画像データ)をLCDパネル1の表
示画素に対応した画像に変換してサンプリング処理し、
欠損検出部7にてそのサンプリング処理結果を基にLC
Dパネル1の表示画素の欠損や表示ムラなどの検出が行
われる。
【0005】CCDカメラ3にて撮像された画像データ
をLCDパネル1の表示画素に対応した画像に変換する
ためには、LCDパネル表示画像とCCD撮像画像との
対応をとるためのキャリブレーションを行う必要があ
る。以下、このLCDパネル試験システムにおいて行わ
れていた従来のキャリブレーション方法について説明す
る。
をLCDパネル1の表示画素に対応した画像に変換する
ためには、LCDパネル表示画像とCCD撮像画像との
対応をとるためのキャリブレーションを行う必要があ
る。以下、このLCDパネル試験システムにおいて行わ
れていた従来のキャリブレーション方法について説明す
る。
【0006】キャリブレーションでは、LCDパネル1
の各画素がCCDカメラ3にて撮像された画像のどこの
位置(アドレス)に対応するかが求められる。具体的に
は、LCDパネル表示画像とCCD撮像画像との対応を
とるためのキャリブレーションパターンとして、具体的
には図6に示すようなLCDパネル1に該パネルを16
分割する25個の輝点からなるキャリブレーションパタ
ーンを表示し、該パターンをCCDカメラ3で撮像す
る。これら輝点の撮像画像は、図7に示すようなイメー
ジで取り込まれる。このようにして取り込まれた各輝点
に関するイメージ上のサンプリングアドレスを、以下の
ようにして求める。
の各画素がCCDカメラ3にて撮像された画像のどこの
位置(アドレス)に対応するかが求められる。具体的に
は、LCDパネル表示画像とCCD撮像画像との対応を
とるためのキャリブレーションパターンとして、具体的
には図6に示すようなLCDパネル1に該パネルを16
分割する25個の輝点からなるキャリブレーションパタ
ーンを表示し、該パターンをCCDカメラ3で撮像す
る。これら輝点の撮像画像は、図7に示すようなイメー
ジで取り込まれる。このようにして取り込まれた各輝点
に関するイメージ上のサンプリングアドレスを、以下の
ようにして求める。
【0007】取り込み画像の輝点の近傍から最大値を探
し、その画素(CCD画素)を輝点の中心となる画素
(Xn)とする(図8参照)。そして、この画素(X
n)とその左右の画素(Xn−1),(Xn+1)に注
目し、図9に示すような、斜線部分の面積を等しく分け
るところをその輝点の中心のX方向におけるアドレスと
する。同様の処理を画素(Xn)とその上下の画素につ
いても行い、輝点の中心のY方向におけるアドレスを求
める。このような演算を全ての輝点について行い、各輝
点の中心アドレス(X,Y)を求める。
し、その画素(CCD画素)を輝点の中心となる画素
(Xn)とする(図8参照)。そして、この画素(X
n)とその左右の画素(Xn−1),(Xn+1)に注
目し、図9に示すような、斜線部分の面積を等しく分け
るところをその輝点の中心のX方向におけるアドレスと
する。同様の処理を画素(Xn)とその上下の画素につ
いても行い、輝点の中心のY方向におけるアドレスを求
める。このような演算を全ての輝点について行い、各輝
点の中心アドレス(X,Y)を求める。
【0008】キャリブレーションパターンを取り込んだ
画像は4角を輝点とする16の領域に分割されている。
各領域について、先に求めた撮像画像上における4角の
輝点の中心アドレス(X,Y)とこれら輝点のLCDパ
ネル上のアドレスとの相対的な位置関係から、その領域
に含まれる、LCDパネル上の画素に対応するアドレス
(サンプリングアドレス)を実数で求める。
画像は4角を輝点とする16の領域に分割されている。
各領域について、先に求めた撮像画像上における4角の
輝点の中心アドレス(X,Y)とこれら輝点のLCDパ
ネル上のアドレスとの相対的な位置関係から、その領域
に含まれる、LCDパネル上の画素に対応するアドレス
(サンプリングアドレス)を実数で求める。
【0009】従来は、上述のようにして求めたサンプリ
ングアドレスに基づいて前記CCDカメラにて撮像され
た試験画像とLCDパネルの表示画素との対応をとって
いた。
ングアドレスに基づいて前記CCDカメラにて撮像され
た試験画像とLCDパネルの表示画素との対応をとって
いた。
【0010】上記図5に示したLCDパネル試験システ
ムでは、所望のパターン(試験画像)をLDCパネル1
に表示させて表示試験を行う際に、CCDカメラ3で撮
像された試験画像が上記のようにして求められたサンプ
リングアドレスを基にLCDパネルの表示画素に対応し
た画像に変換される。そして、この変換された画像のサ
ンプリングが行われる。具体的には、各サンプリングア
ドレスについて、サンプリングアドレスの近傍4画素
(CCD画素)の線形補間、あるいは近傍9画素の線形
補間などを行うことによりサンプリング処理が行われ
る。
ムでは、所望のパターン(試験画像)をLDCパネル1
に表示させて表示試験を行う際に、CCDカメラ3で撮
像された試験画像が上記のようにして求められたサンプ
リングアドレスを基にLCDパネルの表示画素に対応し
た画像に変換される。そして、この変換された画像のサ
ンプリングが行われる。具体的には、各サンプリングア
ドレスについて、サンプリングアドレスの近傍4画素
(CCD画素)の線形補間、あるいは近傍9画素の線形
補間などを行うことによりサンプリング処理が行われ
る。
【0011】近傍4画素の線形補間では、図10(a)
に示すように、まずサンプリングアドレスを中心として
1×1の正方形を考える。この正方形は4画素(CCD
画素)にまたがっていることから、これら画素Da〜D
dのデータ値(図10(b)参照)に、各画素における
正方形との重なり面積の割合Sa〜Sd(図10(c)
参照)をかけた和(=Da・Sa+Db・Sb+Dc・
Sc+Dd・Sd)がサンプリング結果として得られ
る。
に示すように、まずサンプリングアドレスを中心として
1×1の正方形を考える。この正方形は4画素(CCD
画素)にまたがっていることから、これら画素Da〜D
dのデータ値(図10(b)参照)に、各画素における
正方形との重なり面積の割合Sa〜Sd(図10(c)
参照)をかけた和(=Da・Sa+Db・Sb+Dc・
Sc+Dd・Sd)がサンプリング結果として得られ
る。
【0012】近傍9画素の線形補間では、サンプリング
アドレスとして2×2の正方形を考える。この場合、正
方形は9画素の取り込み画像にまたがることとなること
から、各画素のデータとに、各画素における正方形との
重なり面積の割合をかけた和を4で割ったものがサンプ
リング結果として得られる。
アドレスとして2×2の正方形を考える。この場合、正
方形は9画素の取り込み画像にまたがることとなること
から、各画素のデータとに、各画素における正方形との
重なり面積の割合をかけた和を4で割ったものがサンプ
リング結果として得られる。
【0013】このようにして得られたサンプリング結果
は欠損検出部にわたされ、表示画素の欠損や表示ムラな
どの検出が行われる。
は欠損検出部にわたされ、表示画素の欠損や表示ムラな
どの検出が行われる。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】より精度の高いLCD
パネル試験を行うためには、LCDパネル表示画像とC
CD撮像画像との対応(キャリブレーション)を正確に
行うことが必要とされる。
パネル試験を行うためには、LCDパネル表示画像とC
CD撮像画像との対応(キャリブレーション)を正確に
行うことが必要とされる。
【0015】上述した従来のキャリブレーション方法
は、LCDパネル上に表示された輝点を撮像し、CCD
撮像画像上における該撮像された輝点の中心の位置を求
めることによりサンプリングアドレス(LCDパネル表
示画像とCCD撮像画像とが対応するアドレス)を得て
いる。このように、サンプリングアドレスを1つの輝点
より求める方法においては、外部よりのノイズに対して
弱く、正確にLCDパネル表示画像とCCD撮像画像と
の対応をとることができない。そのため、LCDパネル
試験の結果は、再現性が低く、精度の低いものとなって
いた。
は、LCDパネル上に表示された輝点を撮像し、CCD
撮像画像上における該撮像された輝点の中心の位置を求
めることによりサンプリングアドレス(LCDパネル表
示画像とCCD撮像画像とが対応するアドレス)を得て
いる。このように、サンプリングアドレスを1つの輝点
より求める方法においては、外部よりのノイズに対して
弱く、正確にLCDパネル表示画像とCCD撮像画像と
の対応をとることができない。そのため、LCDパネル
試験の結果は、再現性が低く、精度の低いものとなって
いた。
【0016】本発明の目的は、上記問題を解決し、正確
にLCDパネル表示画像とCCD撮像画像との対応をと
ることができ、精度の高いLCDパネル試験を行うこと
のできるキャリブレーション方法を提供することにあ
る。
にLCDパネル表示画像とCCD撮像画像との対応をと
ることができ、精度の高いLCDパネル試験を行うこと
のできるキャリブレーション方法を提供することにあ
る。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のキャリブレーション方法は、LCDパネル
に表示された画像をCCDカメラを用いて撮像し、該撮
像画像を基に前記LCDパネルの表示試験を行うLCD
パネル試験システムにおいて行われるキャリブレーショ
ン方法であって、前記LCDパネル上に複数の輝点より
なる表示パターンを複数表示させ、該表示を前記CCD
カメラで撮像し、該撮像画像における各表示パターンの
中心アドレスを求め、これら中心アドレスを基に前記L
CDパネルの各画素に対応する、撮像画像上におけるア
ドレスを求め、該アドレスに基づいて前記CCDカメラ
にて撮像される画像と前記LCDパネルの表示画素との
対応をとることを特徴とする。
め、本発明のキャリブレーション方法は、LCDパネル
に表示された画像をCCDカメラを用いて撮像し、該撮
像画像を基に前記LCDパネルの表示試験を行うLCD
パネル試験システムにおいて行われるキャリブレーショ
ン方法であって、前記LCDパネル上に複数の輝点より
なる表示パターンを複数表示させ、該表示を前記CCD
カメラで撮像し、該撮像画像における各表示パターンの
中心アドレスを求め、これら中心アドレスを基に前記L
CDパネルの各画素に対応する、撮像画像上におけるア
ドレスを求め、該アドレスに基づいて前記CCDカメラ
にて撮像される画像と前記LCDパネルの表示画素との
対応をとることを特徴とする。
【0018】上記の場合、前記表示パターンを、十字状
に連なる複数の輝点よりなる表示パターンとしてもよ
い。
に連なる複数の輝点よりなる表示パターンとしてもよ
い。
【0019】また、前記CCDカメラの撮像画像上にお
ける表示パターンの中心アドレスのX座標を、各画素の
出力値をX方向に関する各ライン毎に縦方向に加算した
山型データの頂点より求め、中心アドレスのY座標を、
各画素の出力値をY方向に関する各ライン毎に横方向に
加算した山型データの頂点より求めるようにしてもよ
い。
ける表示パターンの中心アドレスのX座標を、各画素の
出力値をX方向に関する各ライン毎に縦方向に加算した
山型データの頂点より求め、中心アドレスのY座標を、
各画素の出力値をY方向に関する各ライン毎に横方向に
加算した山型データの頂点より求めるようにしてもよ
い。
【0020】上記の通りの発明によれば、複数の輝点よ
りなる表示パターン、例えば十字状のパターンをパネル
を複数の領域に分割する配置で複数表示させ、各表示マ
ークのCCD撮像画像上における中心アドレスを求める
ことで、LCDパネルの各画素と対応する、CCD撮像
画像上のアドレスが求められる。このように複数の輝点
よりなる表示パターンが用いられる方法においては、1
つの輝点をパネルを複数の領域に分割する配置で複数表
示させる従来の方法と比べて、ノイズに強いことから、
正確にCCDカメラにて撮像された試験画像とLCDパ
ネルの表示画素との対応をとることができ、より高精度
なLCDパネル試験が可能になる。この結果、再現性が
高い試験結果を得られる。
りなる表示パターン、例えば十字状のパターンをパネル
を複数の領域に分割する配置で複数表示させ、各表示マ
ークのCCD撮像画像上における中心アドレスを求める
ことで、LCDパネルの各画素と対応する、CCD撮像
画像上のアドレスが求められる。このように複数の輝点
よりなる表示パターンが用いられる方法においては、1
つの輝点をパネルを複数の領域に分割する配置で複数表
示させる従来の方法と比べて、ノイズに強いことから、
正確にCCDカメラにて撮像された試験画像とLCDパ
ネルの表示画素との対応をとることができ、より高精度
なLCDパネル試験が可能になる。この結果、再現性が
高い試験結果を得られる。
【0021】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施例について図
面を参照して説明する。
面を参照して説明する。
【0022】本発明のキャリブレーション方法は、前述
の図5に示したようなシステム、すなわち、LCDパネ
ルに表示された画像をCCDカメラを用いて撮像し、該
撮像画像を基にLCDパネルの表示試験を行うLCDパ
ネル試験システムに適用される。ここでは、図5に示し
たシステムにおいて行われるものとし、以下の説明で
は、システム構成の説明を省略する。
の図5に示したようなシステム、すなわち、LCDパネ
ルに表示された画像をCCDカメラを用いて撮像し、該
撮像画像を基にLCDパネルの表示試験を行うLCDパ
ネル試験システムに適用される。ここでは、図5に示し
たシステムにおいて行われるものとし、以下の説明で
は、システム構成の説明を省略する。
【0023】図1は、本発明のキャリブレーション方法
に用いられるキャリブレーションパターンの一例を示す
ものである。キャリブレーションパターンは、十字状に
連なる複数の輝点よりなる表示パターン10を、LCD
パネル1を16分割するよう25個配置したパターンと
なっている。本実施例では、このキャリブレーションパ
ターンを用いてLCDパネル表示画像とCCD撮像画像
との対応(キャリブレーション)をとる。
に用いられるキャリブレーションパターンの一例を示す
ものである。キャリブレーションパターンは、十字状に
連なる複数の輝点よりなる表示パターン10を、LCD
パネル1を16分割するよう25個配置したパターンと
なっている。本実施例では、このキャリブレーションパ
ターンを用いてLCDパネル表示画像とCCD撮像画像
との対応(キャリブレーション)をとる。
【0024】各表示パターン10の撮像画像は、例えば
図2に示すようなイメージで取り込まれる。このように
して取り込まれた各表示パターン10に関する中心アド
レスを、以下のようにして求める。
図2に示すようなイメージで取り込まれる。このように
して取り込まれた各表示パターン10に関する中心アド
レスを、以下のようにして求める。
【0025】まず、図2に示す表示パターン10の取り
込み画像のX方向に関する中心アドレス(X座標)を求
める。本実施例では、各画素の出力値(各CCD画素出
力値)をX方向に関する各ライン毎に縦方向に加算す
る。図3は、図2示すイメージにおいて、各CCD画素
をX方向に関し、それぞれXn-3,Xn-2,Xn-1,Xn,
Xn+1,Xn+2,Xn+3とし、CCD画素出力値をX方向
に関する各ライン毎に縦方向に加算した山型データを示
す図である。この加算により、図3に示すように中央に
高い部分を持つ山型データを得る。ここでは、この山型
データの中央の高い部分に注目して山型データの頂点を
求め、これをX方向に関する中心アドレスとする。具体
的には、その山型データの中央の高い部分を境に前述の
図9に示した場合と同様、両側の斜線部分の面積を等し
く分けるようなところをX方向におけるアドレスとする
(図3の一点鎖線)。
込み画像のX方向に関する中心アドレス(X座標)を求
める。本実施例では、各画素の出力値(各CCD画素出
力値)をX方向に関する各ライン毎に縦方向に加算す
る。図3は、図2示すイメージにおいて、各CCD画素
をX方向に関し、それぞれXn-3,Xn-2,Xn-1,Xn,
Xn+1,Xn+2,Xn+3とし、CCD画素出力値をX方向
に関する各ライン毎に縦方向に加算した山型データを示
す図である。この加算により、図3に示すように中央に
高い部分を持つ山型データを得る。ここでは、この山型
データの中央の高い部分に注目して山型データの頂点を
求め、これをX方向に関する中心アドレスとする。具体
的には、その山型データの中央の高い部分を境に前述の
図9に示した場合と同様、両側の斜線部分の面積を等し
く分けるようなところをX方向におけるアドレスとする
(図3の一点鎖線)。
【0026】次に、表示パターン10の取り込み画像の
Y方向に関する中心アドレス(Y座標)を求める。中心
アドレスのY座標の算出の場合も、上記中心アドレスの
X座標の算出と同様にして、各画素の出力値(CCD出
力値)をY方向に関する各ライン毎に縦方向に加算して
山型データを得、その頂点を求めてこれをY方向の中心
アドレスとする。
Y方向に関する中心アドレス(Y座標)を求める。中心
アドレスのY座標の算出の場合も、上記中心アドレスの
X座標の算出と同様にして、各画素の出力値(CCD出
力値)をY方向に関する各ライン毎に縦方向に加算して
山型データを得、その頂点を求めてこれをY方向の中心
アドレスとする。
【0027】上述の中心アドレスのX・Y座標の算出を
各表示パターン10に対して行う。こうして求められた
各表示パターン10の中心アドレスは、LCDパネル1
上の画素がCCDカメラ2のどの画素に対応するかを示
す。
各表示パターン10に対して行う。こうして求められた
各表示パターン10の中心アドレスは、LCDパネル1
上の画素がCCDカメラ2のどの画素に対応するかを示
す。
【0028】表示パターン10により分割される領域内
のLCD画素のアドレスは、上述のようにして求めた、
各表示パターン10におけるLCDパネル表示画像とC
CD撮像画像との対応から相対的に求めることができ
る。例えば、図4に示すように、3×3画素のLCDパ
ネルで、a,b,c,dのCCD取り込み画像上のアド
レス(アドレスキャリブレーションにより求めた実数の
アドレス)が(Xa,Ya),(Xb,Yb),(X
c,Yc),(Xd,Yd)で表されるとすると、p,
qの推測されるCCD取り込み画像上のアドレスは(X
p,Yp)および(Xq,Yq)は、 Xp=Xa+(Xb−Xa)÷2 Yp=Ya+(Yb−Ya)÷2 Xq=Xa+(Xc−Xa)÷2 Yq=Ya+(Yc−Ya)÷2 で与えられる。このようにして求めたサンプリングアド
レスを基にLCDパネル上の各画素とCCD取り込み画
像上のアドレスとの対応をとることができる。
のLCD画素のアドレスは、上述のようにして求めた、
各表示パターン10におけるLCDパネル表示画像とC
CD撮像画像との対応から相対的に求めることができ
る。例えば、図4に示すように、3×3画素のLCDパ
ネルで、a,b,c,dのCCD取り込み画像上のアド
レス(アドレスキャリブレーションにより求めた実数の
アドレス)が(Xa,Ya),(Xb,Yb),(X
c,Yc),(Xd,Yd)で表されるとすると、p,
qの推測されるCCD取り込み画像上のアドレスは(X
p,Yp)および(Xq,Yq)は、 Xp=Xa+(Xb−Xa)÷2 Yp=Ya+(Yb−Ya)÷2 Xq=Xa+(Xc−Xa)÷2 Yq=Ya+(Yc−Ya)÷2 で与えられる。このようにして求めたサンプリングアド
レスを基にLCDパネル上の各画素とCCD取り込み画
像上のアドレスとの対応をとることができる。
【0029】なお、表示パターン10がLCDパネルの
エッジ上に表示されると、LCDパネルの内側(表示領
域)と外側の明るさは一定でないためにエッジ上に明る
さの段差が現れ、この明るさの段差による試験結果への
影響があることから、本実施例では、図1に示すよう
に、表示パターン10の表示パターンはLCDパネル1
のエッジより少し内側に表示されている。エッジ周辺に
ついては、相対的にサンプリングアドレスが求められる
ので、エッジ周辺に現れるノイズの影響を防止できる。
エッジ上に表示されると、LCDパネルの内側(表示領
域)と外側の明るさは一定でないためにエッジ上に明る
さの段差が現れ、この明るさの段差による試験結果への
影響があることから、本実施例では、図1に示すよう
に、表示パターン10の表示パターンはLCDパネル1
のエッジより少し内側に表示されている。エッジ周辺に
ついては、相対的にサンプリングアドレスが求められる
ので、エッジ周辺に現れるノイズの影響を防止できる。
【0030】また、上述の説明では、表示パターン10
は十字状のものとなっているが、本発明はこれに限定さ
れるものではなく、表示パターンの中心を求めることが
可能な複数の輝点よりなる形状であればどのような形状
であってもよい。なお、表示パターンの大きさはあまり
大きいとLCDパネルの欠損画素上に表示パターンが表
示される場合があることから、小さい方が望ましい。
は十字状のものとなっているが、本発明はこれに限定さ
れるものではなく、表示パターンの中心を求めることが
可能な複数の輝点よりなる形状であればどのような形状
であってもよい。なお、表示パターンの大きさはあまり
大きいとLCDパネルの欠損画素上に表示パターンが表
示される場合があることから、小さい方が望ましい。
【0031】また、本実施例では、表示パターン10
を、LCDパネル1を16分割するよう25個配置した
ことにより撮像光学系におけるレンズの歪みの影響を減
らしているが、分割数はこれに限られるものではない。
を、LCDパネル1を16分割するよう25個配置した
ことにより撮像光学系におけるレンズの歪みの影響を減
らしているが、分割数はこれに限られるものではない。
【0032】
【発明の効果】本発明は以上説明したように構成されて
いるので、ノイズに強く、再現性の高いキャリブレーシ
ョンを行うことができ、従来にない高精度のLCDパネ
ル試験を実現することができる。
いるので、ノイズに強く、再現性の高いキャリブレーシ
ョンを行うことができ、従来にない高精度のLCDパネ
ル試験を実現することができる。
【0033】また、十字状の表示表示パターンを用い、
CCDカメラの撮像画像上における表示パターンの中心
アドレスのX座標を、各画素の出力値をX方向に関する
各ライン毎に縦方向に加算した山型データの頂点より求
め、表示パターンの中心アドレスのY座標を、各画素の
出力値をY方向に関する各ライン毎に横方向に加算した
山型データの頂点より求めるので、よりノイズに強く、
より再現性の高いキャリブレーションを行うことができ
る。
CCDカメラの撮像画像上における表示パターンの中心
アドレスのX座標を、各画素の出力値をX方向に関する
各ライン毎に縦方向に加算した山型データの頂点より求
め、表示パターンの中心アドレスのY座標を、各画素の
出力値をY方向に関する各ライン毎に横方向に加算した
山型データの頂点より求めるので、よりノイズに強く、
より再現性の高いキャリブレーションを行うことができ
る。
【図1】本発明のキャリブレーション方法に用いられる
キャリブレーションパターンの一例を示す図である。
キャリブレーションパターンの一例を示す図である。
【図2】図1に示す表示パターンの取り込みイメージを
示す図である。
示す図である。
【図3】CCD画素出力値をX方向に関する各ライン毎
に縦方向に加算した場合の山型データを示す図である。
に縦方向に加算した場合の山型データを示す図である。
【図4】各表示パターンにおけるLCDパネル表示画像
とCCD撮像画像との対応を示す図である。
とCCD撮像画像との対応を示す図である。
【図5】LCDパネル試験システムの一般的な構成を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図6】従来のキャリブレーション方法に用いられるキ
ャリブレーションパターンを示す図である。
ャリブレーションパターンを示す図である。
【図7】図6に示す輝点の取り込みイメージを示す図で
ある。
ある。
【図8】図7に示す輝点の各画素のCCD出力を示す図
である。
である。
【図9】図7に示す輝点の中心アドレスを説明するため
の図である。
の図である。
【図10】近傍4画素の線形補間を説明するための図
で、(a)はサンプリングアドレスを示す図、(b)は
CCD画素出力を示す図、(c)は面積割合を示す図で
ある。
で、(a)はサンプリングアドレスを示す図、(b)は
CCD画素出力を示す図、(c)は面積割合を示す図で
ある。
【符号の説明】 1 LCDパネル 2 駆動部 3 CCDカメラ 4 画像取り込み部 5 データ処理部 6 プリサンプリング処理部 7 欠損検出部 8 制御部 10 表示パターン
Claims (3)
- 【請求項1】 LCDパネルに表示された画像をCCD
カメラを用いて撮像し、該撮像画像を基に前記LCDパ
ネルの表示試験を行うLCDパネル試験システムにおい
て行われるキャリブレーション方法であって、 前記LCDパネル上に複数の輝点よりなる表示パターン
を複数表示させ、該表示を前記CCDカメラで撮像し、
該撮像画像における各表示パターンの中心アドレスを求
め、これら中心アドレスを基に前記LCDパネルの各画
素に対応する、撮像画像上におけるアドレスを求め、該
アドレスに基づいて前記CCDカメラにて撮像される画
像と前記LCDパネルの表示画素との対応をとることを
特徴とするキャリブレーション方法。 - 【請求項2】 請求項1に記載のキャリブレーション方
法において、 前記表示パターンを、十字状に連なる複数の輝点よりな
る表示パターンとしたことを特徴とするキャリブレーシ
ョン方法。 - 【請求項3】 請求項1に記載のキャリブレーション方
法において、 前記CCDカメラの撮像画像上における表示パターンの
中心アドレスのX座標を、各画素の出力値をX方向に関
する各ライン毎に縦方向に加算した山型データの頂点よ
り求め、中心アドレスのY座標を、各画素の出力値をY
方向に関する各ライン毎に横方向に加算した山型データ
の頂点より求めることを特徴とするキャリブレーション
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18623096A JPH1031730A (ja) | 1996-07-16 | 1996-07-16 | キャリブレーション方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18623096A JPH1031730A (ja) | 1996-07-16 | 1996-07-16 | キャリブレーション方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1031730A true JPH1031730A (ja) | 1998-02-03 |
Family
ID=16184641
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18623096A Withdrawn JPH1031730A (ja) | 1996-07-16 | 1996-07-16 | キャリブレーション方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1031730A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100480074B1 (ko) * | 2002-12-10 | 2005-04-07 | 엘지전자 주식회사 | 이동 통신 단말기의 엘시디 상태조정 방법 |
| JP2005249946A (ja) * | 2004-03-02 | 2005-09-15 | Inter Action Corp | 表示装置の欠陥検査装置 |
| CN102202226A (zh) * | 2010-03-23 | 2011-09-28 | 夏普株式会社 | 校准装置、缺陷检测装置、缺陷修复装置、校准方法 |
| JP2013025348A (ja) * | 2011-07-15 | 2013-02-04 | Hitachi Systems Ltd | 広告掲載課金システム及び方法 |
| WO2016095318A1 (zh) * | 2014-12-16 | 2016-06-23 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 显示面板缺陷的自动检测方法 |
| JP2017097349A (ja) * | 2007-03-15 | 2017-06-01 | スケーラブル ディスプレイ テクノロジーズ インコーポレイテッド | 画像を表示するための方法 |
| CN110501825A (zh) * | 2019-07-29 | 2019-11-26 | 惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司 | 一种液晶屏光学性能自动化测试装置及方法 |
| CN114298254A (zh) * | 2021-12-27 | 2022-04-08 | 亮风台(上海)信息科技有限公司 | 一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法与设备 |
-
1996
- 1996-07-16 JP JP18623096A patent/JPH1031730A/ja not_active Withdrawn
Cited By (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100480074B1 (ko) * | 2002-12-10 | 2005-04-07 | 엘지전자 주식회사 | 이동 통신 단말기의 엘시디 상태조정 방법 |
| JP2005249946A (ja) * | 2004-03-02 | 2005-09-15 | Inter Action Corp | 表示装置の欠陥検査装置 |
| US11159774B2 (en) | 2007-03-15 | 2021-10-26 | Scalable Display Technologies, Inc. | System and method for providing improved display quality by display adjustment and image processing using optical feedback |
| JP2017097349A (ja) * | 2007-03-15 | 2017-06-01 | スケーラブル ディスプレイ テクノロジーズ インコーポレイテッド | 画像を表示するための方法 |
| US10523910B2 (en) | 2007-03-15 | 2019-12-31 | Scalable Display Technologies, Inc. | System and method for providing improved display quality by display adjustment and image processing using optical feedback |
| US11570412B2 (en) | 2007-03-15 | 2023-01-31 | Scalable Display Technologies, Inc. | System and method for providing improved display quality by display adjustment and image processing using optical feedback |
| US11930304B2 (en) | 2007-03-15 | 2024-03-12 | Scalable Display Technologies, Inc. | System and method for providing improved display quality by display adjustment and image processing using optical feedback |
| US12425552B2 (en) | 2007-03-15 | 2025-09-23 | Scalable Display Technologies, Inc. | System and method for providing improved display quality by display adjustment and image processing using optical feedback |
| JP2011198179A (ja) * | 2010-03-23 | 2011-10-06 | Sharp Corp | キャリブレーション装置、欠陥検出装置、欠陥修復装置、表示パネル、表示装置、キャリブレーション方法 |
| CN102202226A (zh) * | 2010-03-23 | 2011-09-28 | 夏普株式会社 | 校准装置、缺陷检测装置、缺陷修复装置、校准方法 |
| JP2013025348A (ja) * | 2011-07-15 | 2013-02-04 | Hitachi Systems Ltd | 広告掲載課金システム及び方法 |
| WO2016095318A1 (zh) * | 2014-12-16 | 2016-06-23 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 显示面板缺陷的自动检测方法 |
| CN110501825A (zh) * | 2019-07-29 | 2019-11-26 | 惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司 | 一种液晶屏光学性能自动化测试装置及方法 |
| CN114298254A (zh) * | 2021-12-27 | 2022-04-08 | 亮风台(上海)信息科技有限公司 | 一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法与设备 |
| CN114298254B (zh) * | 2021-12-27 | 2024-03-15 | 亮风台(上海)信息科技有限公司 | 一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法与设备 |
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|---|---|---|---|
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