JPH0985629A - Polishing body - Google Patents

Polishing body

Info

Publication number
JPH0985629A
JPH0985629A JP25050895A JP25050895A JPH0985629A JP H0985629 A JPH0985629 A JP H0985629A JP 25050895 A JP25050895 A JP 25050895A JP 25050895 A JP25050895 A JP 25050895A JP H0985629 A JPH0985629 A JP H0985629A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polishing
polishing layer
layer
thickness
water
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP25050895A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Minoru Kanazawa
實 金澤
Masaaki Fujiyama
正昭 藤山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Priority to JP25050895A priority Critical patent/JPH0985629A/en
Publication of JPH0985629A publication Critical patent/JPH0985629A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To restrain the occurrence of a scratch with a grinding function kept at a high level by applying the constitution that a bonding agent contained in an upper polishing layer is soluble in water and a bonding agent contained a lower polishing layer formed between a nonmagnetic carrier and the upper abrasive layer is such type as hardly soluble in water. SOLUTION: A polishing body 1 (polishing tape) is formed out of a lower polishing layer 3 laid on a nonmagnetic carrier 2, and an upper polishing layer 4 on the lower polishing layer 3. Also, the lower polishing layer 3 contains abrasives 31 having a large grain size distributed via a water soluble bonding agent 32. The upper polishing layer 4 contains abrasives 41 having a small grain size distributed via a water soluble bonding agent 42. In this case, the thickness of the lower polishing layer 3 is taken at a value between 5μm and 10μm, and the grain size of the abrasives 31 thereof is approximately between 4μm and 10μm. Furthermore, the upper polishing layer 4 is formed to have thickness between 1μm and 3μm, and the grain size of the abrasives 41 thereof is taken at a value approximately between 1μm and 3μm.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばハードディ
スク用基板の表面を研磨するために用いられる研磨テー
プ等の研磨体に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a polishing body such as a polishing tape used for polishing the surface of a hard disk substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、主に研磨剤粒子と結合剤(バ
インダー)からなる研磨層を、支持体上に有してなる研
磨テープ等の研磨体が、各種の研磨を行う際に使用され
ている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a polishing body such as a polishing tape having a polishing layer mainly composed of abrasive particles and a binder on a support has been used for various polishing. ing.

【0003】例えば、ハードディスク(以下、「HD」
と称する)は、通常アルミニウムからなる基板の表面に
磁性層を設けて作製されるものであり、上記基板表面に
は、HD使用時のヘッド吸着を防止するために、研磨
(テクスチャー処理)によって適度に細かい「スジ」を
形成しているが、このテクスチャー処理を研磨テープ等
の研磨体を使用して行っている。
For example, a hard disk (hereinafter, "HD")
Is formed by providing a magnetic layer on the surface of a substrate usually made of aluminum. The substrate surface is appropriately polished (textured) to prevent head adsorption during HD use. Although fine "streaks" are formed, this texture treatment is performed using a polishing body such as a polishing tape.

【0004】また、通常の研磨体においては、研磨層に
用いる結合剤は水難溶性であり、研磨剤は研磨層より離
脱することなく研磨作用し、そのため研磨力が強く、被
研磨物を傷つけスクラッチが発生しやすい問題がある。
Further, in an ordinary polishing body, the binder used for the polishing layer is sparingly soluble in water, and the polishing agent acts on the polishing layer without being separated from the polishing layer. Therefore, the polishing force is strong and the object to be polished is scratched and scratched. Is likely to occur.

【0005】上記のような点から、前記テクスチャー処
理を行う研磨体として、例えば特開平7−100769
号、特開平6−304874号等に見られるように、研
磨層の結合剤を水溶性バインダーで構成して、研磨時に
クーラント液(洗浄水)を使用し、結合剤が溶解するこ
とで結合剤を遊離砥粒として研磨し、スクラッチの発生
を低減するようにしているが、これでは研磨力の低下も
伴う問題を有している。
From the above point of view, as a polishing body for performing the texture treatment, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 7-100769.
As disclosed in JP-A-6-304874 and the like, the binder of the polishing layer is composed of a water-soluble binder, and a coolant liquid (washing water) is used during polishing so that the binder dissolves. Is used as free abrasive grains to reduce the occurrence of scratches, but this has a problem that the polishing force is also reduced.

【0006】また、通常の研磨体においては、研磨層に
含まれる研磨剤は何の処理もしないでそのまま使用し、
研磨力の調整は、研磨剤の粒子サイズを変えたり、硬さ
の異なる種類の研磨剤を使用して行っていた。
Further, in an ordinary polishing body, the polishing agent contained in the polishing layer is used as it is without any treatment,
The polishing power was adjusted by changing the particle size of the polishing agent or using different types of polishing agents having different hardness.

【0007】ところで、上記研磨体としては、研磨力が
大きく短時間で所定の研磨が終了することと、被研削物
の表面性が所定の状態で、その表面に予期せざる大きな
異常研磨傷(スクラッチ)が生じないことが要求される
が、両者は相反する要求である。すなわち、研磨層に含
まれる研磨剤の粒子サイズは研磨力と傷の発生に関係
し、例えば研磨層に大きな粒子サイズの研磨剤を含有す
れば、研磨力は大きいが、傷は発生しやすくなる。一
方、研磨層に小さな粒子サイズの研磨剤を含有すれば、
傷は発生し難くなるが、研磨力は小さくなり、上記のよ
うな研磨力の調整では両要求を同時に満たすことはでき
なかった。
By the way, as the above-mentioned polishing body, the polishing power is large and the predetermined polishing is completed in a short time, and when the surface property of the object to be ground is in a predetermined state, an unexpectedly large abnormal polishing scratch ( It is required that scratches do not occur, but both are conflicting requirements. That is, the particle size of the polishing agent contained in the polishing layer is related to the polishing force and the generation of scratches. For example, if the polishing layer contains a polishing agent having a large particle size, the polishing force is large, but scratches are likely to occur. . On the other hand, if the polishing layer contains an abrasive having a small particle size,
Although scratches are less likely to occur, the polishing power becomes small, and both requirements cannot be satisfied at the same time by adjusting the polishing power as described above.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明者ら
は、表層の研磨層に含まれる研磨剤を遊離砥粒としてス
クラッチの発生を低減するについて、研磨力の低下を抑
制する方法について鋭意検討した結果、複数の研磨層の
設置により研磨力が大きくて、かつスクラッチが発生し
難いという相矛盾する要求を同時に満たすことができる
ことを見いだしたものである。
Therefore, the inventors of the present invention have diligently studied a method of suppressing a decrease in polishing force for reducing the occurrence of scratches by using the abrasive contained in the surface polishing layer as free abrasive grains. As a result, they have found that the provision of a plurality of polishing layers can simultaneously satisfy the contradictory requirements that the polishing force is large and that scratches are unlikely to occur.

【0009】本発明は上記の事情に鑑みてなされたもの
であり、水溶性の結合剤による研磨層と水難溶性の結合
剤を含む研磨層とを組み合わせることにより高い研磨力
を確保しつつスクラッチの発生を抑制して良好な表面性
を確保できるようにした研磨体を提供せんとするもので
ある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and by combining a polishing layer made of a water-soluble binder and a polishing layer containing a sparingly water-soluble binder, a high scratching power can be ensured while maintaining a high scratching power. It is intended to provide a polishing body which suppresses the generation and can secure a good surface property.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決した本発
明の研磨体は、非磁性支持体上に研磨剤と結合剤を主と
して含む複数の研磨層を有し、この研磨層の内、上層の
研磨層に含まれる結合剤が水溶性結合剤であり、かつ前
記非磁性支持体と上層の研磨層との間に設けた下層の研
磨層に含まれる結合剤が水難溶性の結合剤であることを
特徴とするものである。
The polishing body of the present invention, which has solved the above-mentioned problems, has a plurality of polishing layers mainly containing an abrasive and a binder on a non-magnetic support, and among these polishing layers, an upper layer. The binder contained in the polishing layer is a water-soluble binder, and the binder contained in the lower polishing layer provided between the non-magnetic support and the upper polishing layer is a poorly water-soluble binder. It is characterized by that.

【0011】また、前記上層の研磨層に含まれる研磨剤
の平均粒子サイズが、前記下層の研磨層に含まれる研磨
剤の平均粒子サイズより小さいことが望ましい。さら
に、前記上層の研磨層の厚みが1〜3μmであり、前記
下層の研磨層の厚みが5〜10μmであることが好まし
い。
The average particle size of the abrasive contained in the upper polishing layer is preferably smaller than the average particle size of the abrasive contained in the lower polishing layer. Further, it is preferable that the upper polishing layer has a thickness of 1 to 3 μm, and the lower polishing layer has a thickness of 5 to 10 μm.

【0012】上記のような研磨体における下層の研磨層
は水難溶性の結合剤で構成し、その表面凹凸形状によっ
て研磨力を高め、かつ上層の研磨層は水溶性の結合剤で
構成することで、研磨の際に水溶性の結合剤が溶解して
研磨剤が離脱した遊離砥粒による研磨を行って、被研磨
物にスクラッチを発生させずに良好な研磨が行える。
The lower polishing layer of the above-mentioned polishing body is composed of a sparingly water-soluble binder, and the polishing power is increased by the uneven shape of the surface, and the upper polishing layer is composed of a water-soluble binder. In the polishing, the free abrasive grains in which the water-soluble binder is dissolved and the abrasive is separated during the polishing are used for polishing, and good polishing can be performed without causing scratches on the object to be polished.

【0013】[0013]

【発明の効果】上記のような本発明によれば、支持体側
に水難溶性の下層の研磨層を設け、この下層の表面に適
度の凹凸形状を形成することで、この下層の研磨層の上
に形成した水溶性の上層の研磨層は下層の研磨層の凹凸
形状を反映し、上層の研磨層が溶解する前の状態および
溶解した状態において良好な研磨力を得ることができる
とともに、溶解して遊離した研磨剤が被研磨物表面に大
きく食い込むのが防止でき、スクラッチの発生を低減す
ることができ、研磨力が大きくて、かつ所望の研磨表面
性に研磨することができるものである。
According to the present invention as described above, a poorly water-soluble lower polishing layer is provided on the support side, and an appropriate uneven shape is formed on the surface of the lower layer, so that the lower polishing layer is The water-soluble upper polishing layer formed in the above reflects the uneven shape of the lower polishing layer, and it is possible to obtain a good polishing force in a state before the upper polishing layer is dissolved and in a dissolved state, and to dissolve it. The loosened abrasive can be prevented from biting into the surface of the object to be polished, the occurrence of scratches can be reduced, the polishing power is large, and the desired polishing surface property can be obtained.

【0014】従って、本発明の研磨体は、例えば、HD
基板のテクスチャー処理のみならず、各種磁気ヘッドの
研磨に、また、各種表面のポリッシング処理、クリーニ
ング等にも使用可能であって、スクラッチを付けること
のない良好な研磨を実現するものとなる。
Therefore, the polishing body of the present invention is, for example, HD
Not only the texture treatment of the substrate but also the polishing of various magnetic heads, the polishing treatment of various surfaces, the cleaning and the like can be performed, and good polishing without scratches can be realized.

【0015】特に、上層の研磨剤の粒子サイズが、下層
の研磨剤の粒子サイズより小さいものを使用すると、上
記効果が顕著となり、下層の凹凸形状が大きく研磨力が
高まるとともに、遊離砥粒が細かくスクラッチの発生が
さらに防止できる。さらに、上層の研磨層の厚みを1〜
3μmと薄く形成すると、下層の研磨層の凹凸形状の反
映が顕著となり、研磨力の向上効果が高まる。
In particular, when the particle size of the abrasive in the upper layer is smaller than that of the abrasive in the lower layer, the above-mentioned effect becomes remarkable, the uneven shape of the lower layer becomes large and the polishing power is increased, and the free abrasive grains are removed. Finer scratches can be further prevented. Further, the thickness of the upper polishing layer is 1 to
When it is formed as thin as 3 μm, the uneven shape of the lower polishing layer is remarkably reflected, and the effect of improving the polishing power is enhanced.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下に、本発明の研磨体の実施の
形態を示し、本発明をさらに詳細に説明する。図1は本
例の研磨体の構造を示す概略図である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will be described in more detail below with reference to embodiments of the polishing body of the present invention. FIG. 1 is a schematic view showing the structure of the polishing body of this example.

【0017】本例の研磨体1(研磨テープ)は、非磁性
支持体2上に下層の研磨層3が、該下層の研磨層3上に
上層の研磨層4が形成されたものである。下層の研磨層
3は粒子サイズの大きい研磨剤31が水難溶性の結合剤
32に分散されている。上層の研磨層4は粒子サイズの
小さい研磨剤41が水溶性の結合剤42に分散されてい
る。
The polishing body 1 (polishing tape) of this example is one in which a lower polishing layer 3 is formed on a non-magnetic support 2, and an upper polishing layer 4 is formed on the lower polishing layer 3. In the lower polishing layer 3, an abrasive 31 having a large particle size is dispersed in a sparingly water-soluble binder 32. In the upper polishing layer 4, a polishing agent 41 having a small particle size is dispersed in a water-soluble binder 42.

【0018】下層の研磨層3の膜厚は5〜10μm、そ
の研磨剤31の粒子サイズは4〜10μmであり、上層
の研磨層4の膜厚は1〜3μm、その研磨剤41の粒子
サイズは1〜3μmである。
The lower polishing layer 3 has a thickness of 5 to 10 μm, the abrasive 31 has a particle size of 4 to 10 μm, the upper polishing layer 4 has a thickness of 1 to 3 μm, and the abrasive 41 has a particle size. Is 1 to 3 μm.

【0019】本発明で使用し得る非磁性支持体として
は、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタ
レート等のポリエステル類、ポリプロピレン等ポリオレ
フイン類、セルローストリアセテート、セルロースダイ
アセテート等のセルロース誘導体、ポリ塩化ビニル等の
ビニル系樹脂類、ポリカーボネート、ポリイミド、ポリ
アミド、ポリスルホン、ポリフェニルスルホン、ポリベ
ンゾオキサゾール等のプラスチックのほかにアルミニウ
ム、銅等の金属、ガラス等のセラミックス等も使用でき
る。これらの支持体は塗布に先立って、コロナ放電処
理、プラズマ処理、下塗処理、熱処理、除塵埃処理、金
属蒸着処理、アルカリ処理を行ってもよい。
Examples of the non-magnetic support usable in the present invention include polyesters such as polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate, polyolefins such as polypropylene, cellulose derivatives such as cellulose triacetate and cellulose diacetate, and vinyl based materials such as polyvinyl chloride. In addition to plastics such as resins, polycarbonate, polyimide, polyamide, polysulfone, polyphenyl sulfone and polybenzoxazole, metals such as aluminum and copper and ceramics such as glass can be used. Prior to coating, these supports may be subjected to corona discharge treatment, plasma treatment, undercoating treatment, heat treatment, dust removal treatment, metal deposition treatment, and alkali treatment.

【0020】研磨テープ等の場合、これら支持体の中心
線平均表面粗さRaは0.001〜1.5μm(カット
オフ値0.25mm)が好ましい。支持体の厚みは、
2.5〜500μmが望ましく、3〜75μmがさらに
望ましい。また支持体の長手もしくは幅方向のいずれか
のヤング率が400Kg/mm2 以上であることが望ま
しい。
In the case of an abrasive tape or the like, the center line average surface roughness Ra of these supports is preferably 0.001 to 1.5 μm (cutoff value 0.25 mm). The thickness of the support is
The thickness is preferably 2.5 to 500 μm, more preferably 3 to 75 μm. Further, it is desirable that the Young's modulus of either the longitudinal direction or the width direction of the support is 400 kg / mm 2 or more.

【0021】また、上記下層および上層の研磨層に使用
可能な研磨剤としては、アルミナ、酸化クロム、α−ア
ルミナ、炭化珪素、ダイヤモンド、γ−アルミナ、熔融
アルミナ、コランダム、人造ダイヤモンド、ザクロ石、
エメリー(主成分:コランダムと磁鉄鉱)、ガーネット
等の主としてモース硬度の高い材料を単独または組合わ
せで使用することができる。
Further, as abrasives usable for the lower and upper polishing layers, alumina, chromium oxide, α-alumina, silicon carbide, diamond, γ-alumina, fused alumina, corundum, artificial diamond, garnet,
Materials mainly having high Mohs hardness such as emery (main components: corundum and magnetite) and garnet can be used alone or in combination.

【0022】そして上記研磨層には上記研磨剤以外に粒
子サイズの小さい粉末を含有してもよく、この粉末とし
てはカーボンブラックが使用でき、例えば、ゴム用ファ
ーネス、ゴム用サーマル、カラー用ブラック、アセチレ
ンブラック等を用いることができる。その比表面積は5
〜500m2 /g、DBP吸油量は10〜400ml/
100g、pHは2〜10、含水率は0.1〜10%、
タップ密度は0.1〜1g/cm2 であるのが好まし
い。このカーボンブラックの具体的な例としては、キャ
ボット社製:BLACKPEARLS 2000,13
00,1000,900,800,700、三菱化成工
業社製:650B,950B,3250B,850,9
00,960,980,1000,2300,240
0,2600等があげられる。また、カーボンブラック
を分散剤等で表面処理したり、樹脂でグラファイト化し
たものを用いることもできる。
In addition to the above-mentioned polishing agent, powder having a small particle size may be contained in the above-mentioned polishing layer, and carbon black can be used as this powder. For example, furnace for rubber, thermal for rubber, black for color, Acetylene black or the like can be used. Its specific surface area is 5
~ 500m 2 / g, DBP oil absorption is 10 ~ 400ml /
100 g, pH 2-10, water content 0.1-10%,
The tap density is preferably 0.1 to 1 g / cm 2 . Specific examples of this carbon black include BLACKPEARLS 2000, 13 manufactured by Cabot Corporation.
00, 1000, 900, 800, 700, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation: 650B, 950B, 3250B, 850, 9
00,960,980,1000,2300,240
0,2600 and the like. In addition, carbon black that has been subjected to surface treatment with a dispersant or the like or graphitized with a resin can also be used.

【0023】前記上層の研磨層に使用される水溶性の結
合剤としては、代表的な例として、カルボキシメチルセ
ルロースのナトリウム塩(CMC)、ヒドロキシエチル
セルロース(HEC)、ポリビニールアルコール(PV
A)、カルボキシル基含有ポリウレタン等を用いる。
Typical examples of the water-soluble binder used for the upper polishing layer include sodium salt of carboxymethyl cellulose (CMC), hydroxyethyl cellulose (HEC), polyvinyl alcohol (PV).
A), carboxyl group-containing polyurethane or the like is used.

【0024】上記水溶性の結合剤の溶剤としては、水、
および、メチルアルコール、エチルアルコール等の水溶
性アルコール、これらの混合液等を使用する。
The solvent of the water-soluble binder is water,
Also, water-soluble alcohols such as methyl alcohol and ethyl alcohol, and mixed liquids thereof are used.

【0025】また、前記下層の水難溶性の結合剤として
は、従来公知の熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、反応型樹
脂、電子線硬化型樹脂、紫外線硬化型樹脂、可視光線硬
化型樹脂やこれらの混合物を使用することができる。
As the poorly water-soluble binder for the lower layer, conventionally known thermoplastic resins, thermosetting resins, reactive resins, electron beam curable resins, ultraviolet curable resins, visible light curable resins, and the like are used. Mixtures of can be used.

【0026】そして熱可塑性樹脂としては、軟化温度が
150℃以下、平均分子量が10000〜30000
0、重合度が約50〜2000程度のものでより好まし
くは200〜700程度であり、例えば塩化ビニル酢酸
ビニル共重合体、塩化ビニル共重合体、塩化ビニル酢酸
ビニルビニルアルコール共重合体、塩化ビニルビニルア
ルコール共重合体、塩化ビニル塩化ビニリデン共重合
体、塩化ビニルアクリロニトリル共重合体、アクリル酸
エステルアクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステ
ル塩化ビニリデン共重合体、アクリル酸エステルスチレ
ン共重合体、メタクリル酸エステルアクリロニトリル共
重合体、メタクリル酸エステル塩化ビニリデン共重合
体、メタクリル酸エステルスチレン共重合体、ウレタン
エラストマー、ナイロン−シリコン系樹脂、ニトロセル
ロース−ポリアミド樹脂、ポリフッカビニル、塩化ビニ
リデンアクリロニトリル共重合体、ブタジエンアクリロ
ニトリル共重合体、ポリアミド樹脂、ポリビニルブチラ
ール、セルロース誘導体(セルロースアセテートブチレ
ート、セルロースダイアセテート、セルローストリアセ
テート、セルロースプロピオネート、ニトロセルロー
ス、エチルセルロース、メチルセルロース、プロピルセ
ルロース、メチルエチルセルロース、カルボキシメチル
セルロース、アセチルセルロース等)、スチレンブタジ
エン共重合体、ポリエステル樹脂、ポリカーボネート樹
脂、クロロビニルエーテルアクリル酸エステル共重合
体、アミノ酸樹脂、各種の合成ゴム系の熱可塑性樹脂お
よびこれらの混合物等が使用される。
The thermoplastic resin has a softening temperature of 150 ° C. or lower and an average molecular weight of 10,000 to 30,000.
0, the degree of polymerization is about 50 to 2000, and more preferably about 200 to 700. For example, vinyl chloride vinyl acetate copolymer, vinyl chloride copolymer, vinyl chloride vinyl acetate vinyl alcohol copolymer, vinyl chloride. Vinyl alcohol copolymer, vinyl chloride vinylidene chloride copolymer, vinyl chloride acrylonitrile copolymer, acrylic ester acrylonitrile copolymer, acrylic ester vinylidene chloride copolymer, acrylic ester styrene copolymer, methacrylic ester acrylonitrile Copolymers, methacrylic acid ester vinylidene chloride copolymers, methacrylic acid ester styrene copolymers, urethane elastomers, nylon-silicone resins, nitrocellulose-polyamide resins, polyfucca vinyl, vinylidene acrylonitrile Copolymer, butadiene acrylonitrile copolymer, polyamide resin, polyvinyl butyral, cellulose derivative (cellulose acetate butyrate, cellulose diacetate, cellulose triacetate, cellulose propionate, nitrocellulose, ethyl cellulose, methyl cellulose, propyl cellulose, methyl ethyl cellulose, carboxy) (Methyl cellulose, acetyl cellulose, etc.), styrene-butadiene copolymer, polyester resin, polycarbonate resin, chlorovinyl ether acrylate copolymer, amino acid resin, various synthetic rubber thermoplastic resins, and mixtures thereof.

【0027】また、熱硬化性樹脂あるいは反応型樹脂と
しては、塗布液の状態では200000以下の分子量で
あり、塗布、乾燥後に加熱加湿することにより、縮合、
付加等の反応により分子量は無限大となるものが好適に
用いられる。また、これらの樹脂の中で、樹脂が熱分解
するまでの間に軟化または溶融しないものが特に好まし
い。具体的には例えばフェノール樹脂、フェノキシ樹
脂、エポキシ樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹
脂、ポリウレタンポリカーボネート樹脂、尿素樹脂、メ
ラミン樹脂、アルキッド樹脂、シリコン樹脂、アクリル
系反応樹脂(電子線硬化樹脂)、エポキシ−ポリアミド
樹脂、ニトロセルロースメラミン樹脂、高分子量ポリエ
ステル樹脂とイソシアネートプレポリマーの混合物、メ
タクリル酸塩共重合体とジイソシアネートプレポリマー
の混合物、ポリエステルポリオールとポリイソシアネー
トとの混合物、尿素ホルムアルデヒド樹脂、低分子量グ
リコール/高分子量ジオール/トリフェニルメタントリ
イソシアネートの混合物、ポリアミン樹脂、ポリイミン
樹脂およびこれらの混合物等である。
Further, the thermosetting resin or the reactive resin has a molecular weight of 200,000 or less in the state of a coating liquid, and is condensed by heating and humidifying after coating and drying.
Those having an infinite molecular weight due to a reaction such as addition are preferably used. Further, among these resins, those not softened or melted before the resin is thermally decomposed are particularly preferable. Specifically, for example, phenol resin, phenoxy resin, epoxy resin, polyurethane resin, polyester resin, polyurethane polycarbonate resin, urea resin, melamine resin, alkyd resin, silicone resin, acrylic reaction resin (electron beam curing resin), epoxy-polyamide Resin, nitrocellulose melamine resin, mixture of high molecular weight polyester resin and isocyanate prepolymer, mixture of methacrylate copolymer and diisocyanate prepolymer, mixture of polyester polyol and polyisocyanate, urea formaldehyde resin, low molecular weight glycol / high molecular weight Mixtures of diol / triphenylmethane triisocyanate, polyamine resins, polyimine resins and mixtures thereof.

【0028】これらの熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、反
応型樹脂は、主たる官能基以外に官能基としてカルボン
酸(COOM)、スルフィン酸、スルフェン酸、スルホ
ン酸(SO3 M)、燐酸(PO(OM)(OM))、ホ
スホン酸、硫酸(OSO3 M)、およびこれらのエステ
ル基等の酸性基(MはH、アルカリ金属、アルカリ土類
金属、炭化水素基)、アミノ酸類;アミノスルホン酸
類、アミノアルコールの硫酸または燐酸エステル類、ス
ルフォベタイン、ホスホベタイン、アルキルベタイン型
等の両性類基、アミノ基、イミノ基、イミド基、アミド
基等また、水酸基、アルコキシル基、チオール基、アル
キルチオ基、ハロゲン基(F,Cl,Br,I)、シリ
ル基、シロキサン基、エポキシ基、イソシアナト基、シ
アノ基、ニトリル基、オキソ基、アクリル基、フォスフ
ィン基を通常1種以上6種以内含み、各々の官能基は樹
脂1gあたり1×10-6〜1×10-2eq含むことが好
ましい。
These thermoplastic resins, thermosetting resins, and reactive resins have carboxylic acid (COOM), sulfinic acid, sulfenic acid, sulfonic acid (SO 3 M), phosphoric acid (PO) as functional groups in addition to the main functional groups. (OM) (OM)), phosphonic acid, sulfuric acid (OSO 3 M), and acidic groups (M is H, alkali metal, alkaline earth metal, hydrocarbon group) such as ester groups thereof, amino acids; amino sulfone Acids, sulfuric acid or phosphoric acid esters of amino alcohols, amphoteric groups such as sulfobetaine, phosphobetaine, and alkylbetaine type, amino groups, imino groups, imide groups, amide groups, etc., and also hydroxyl groups, alkoxyl groups, thiol groups, alkylthio Group, halogen group (F, Cl, Br, I), silyl group, siloxane group, epoxy group, isocyanato group, cyano group, nitrile group Oxo group, acryl group, include within six Usually one or more phosphine groups is preferably each functional group containing 1 × 10 -6 ~1 × 10 -2 eq per resin 1g.

【0029】本発明の研磨体においては、これらのバイ
ンダーが単独で、あるいはそれらが組み合わされたもの
が使われ、他に必要あれば添加剤として分散剤、潤滑
剤、帯電防止剤、酸化防止剤、防黴剤、着色剤、溶剤等
が加えられる。
In the abrasive body of the present invention, these binders are used alone or in combination thereof, and if necessary, other additives such as dispersants, lubricants, antistatic agents and antioxidants are used. , Antifungal agents, colorants, solvents and the like are added.

【0030】本発明の研磨層に硬化剤として用いるポリ
イソシアネートとしては、トリレンジイソシアネート、
4・4’−ジフェニルメタンジイソシアネート、ヘキサ
メチレンジイソシアネート、キシリレンジイソシアネー
ト、ナフチレン−1・5−ジイソシアネート、o−トル
イジンジイソシアネート、イソホロンジイソシアネー
ト、トリフェニルメタントリイソシアネート、イソホロ
ンジイソシアネート等のイソシアネート類、また当該イ
ソシアネート類とポリアルコールとの生成物、またイソ
シアネート類の縮合によって生成した2〜10量体のポ
リイソシアネート、またポリイソシアネートとポリウレ
タンとの生成物で末端官能基がイソシアネートであるも
の等を使用することができる。これらポリイソシアネー
ト類の平均分子量は100〜20000のものが好適で
ある。
The polyisocyanate used as a curing agent in the polishing layer of the present invention includes tolylene diisocyanate,
Isocyanates such as 4,4′-diphenylmethane diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, xylylene diisocyanate, naphthylene-1,5-diisocyanate, o-toluidine diisocyanate, isophorone diisocyanate, triphenylmethane triisocyanate, isophorone diisocyanate, and the isocyanates. It is possible to use products with polyalcohols, diisocyanate polyisocyanates produced by condensation of isocyanates, and products with polyisocyanates and polyurethanes whose terminal functional groups are isocyanates. The average molecular weight of these polyisocyanates is preferably 100 to 20,000.

【0031】これらポリイソシアネートの市販されてい
る商品名としては、コロネートL、コロネートHL、コ
ロネート2030、コロネート2031、ミリオネート
MR、ミリオネートMTL(日本ポリウレタン株製)、
タケネートD−102、タケネートD−110N、タケ
ネートD−200、タケネートD−202、タケネート
300S、タケネート500(武田薬品株製)、スミジ
ュールT−80、スミジュール44S、スミジュールP
F、スミジュールL、スミジュールN、デスモジュール
L、デスモジュールIL、デスモジュールN、デスモジ
ュールHL、デスモジュールT65、デスモジュール1
5、デスモジュールR、デスモジュールRF、デスモジ
ュールSL、デスモジュールZ4273(住友バイエル
社製)等があり、これらを単独、もしくは硬化反応性の
差を利用して二つもしくはそれ以上の組み合わせによっ
て使用することができる。
Commercially available trade names of these polyisocyanates are Coronate L, Coronate HL, Coronate 2030, Coronate 2031, Millionate MR, Millionate MTL (manufactured by Nippon Polyurethane Co., Ltd.),
Takenate D-102, Takenate D-110N, Takenate D-200, Takenate D-202, Takenate 300S, Takenate 500 (manufactured by Takeda Pharmaceutical Co., Ltd.), Sumidule T-80, Sumidule 44S, Sumidule P
F, Sumidule L, Sumidule N, Death module L, Death module IL, Death module N, Death module HL, Death module T65, Death module 1
5, Desmodule R, Desmodule RF, Desmodule SL, Desmodule Z4273 (manufactured by Sumitomo Bayer Co., Ltd.), etc., and these are used alone or in combination of two or more by utilizing the difference in curing reactivity. can do.

【0032】また、硬化反応を促進する目的で、水酸基
(ブタンジオール、ヘキサンジオール、分子量が100
0〜10000のポリウレタン、水等)、アミノ基(モ
ノメチルアミン、ジメチルアミン、トリメチルアミン
等)を有する化合物や、金属酸化物の触媒や鉄アセチル
アセトネート等の触媒を併用することもできる。これら
の水酸基やアミノ基を有する化合物は、多官能であるこ
とが望ましい。これらポリイソシアネートはバインダー
樹脂とポリイソシアネートの総量100重量部あたり2
〜70重量部で使用することが好ましく、より好ましく
は5〜50重量部である。
For the purpose of accelerating the curing reaction, a hydroxyl group (butanediol, hexanediol, having a molecular weight of 100
Compounds having an amino group (monomethylamine, dimethylamine, trimethylamine, etc.), a metal oxide catalyst, and a catalyst such as iron acetylacetonate can also be used in combination. It is desirable that these compounds having a hydroxyl group or an amino group are polyfunctional. These polyisocyanates are 2 per 100 parts by weight of the total amount of binder resin and polyisocyanate.
It is preferably used in an amount of ˜70 parts by weight, more preferably 5 to 50 parts by weight.

【0033】上層および下層の研磨層成分の分散、混練
の方法には特に制限はなく、また各成分の添加順序(樹
脂、粉体、潤滑剤、溶媒等)、分散・混練中の添加位
置、分散温度(0〜80℃)などは適宜設定することが
できる。そして研磨層塗料の調製には通常の混練機を用
いることができる。
The method for dispersing and kneading the upper and lower polishing layer components is not particularly limited, and the order of addition of each component (resin, powder, lubricant, solvent, etc.), addition position during dispersion / kneading, The dispersion temperature (0 to 80 ° C.) and the like can be set appropriately. An ordinary kneading machine can be used for preparing the polishing layer paint.

【0034】支持体上へ下層の研磨層用塗布液を塗布す
る方法、および下層の研磨層上への上層の研磨層用塗布
液を塗布する方法としては、塗布液の粘度を1〜200
00センチストークス(25℃)に調整した上で、エア
ードクターコーター、ブレードコーター、エアナイフコ
ーター、スクイズコーター、含浸コーター、リバースロ
ールコーター、トランスファーロールコーター、グラビ
アコーター、キスコーター、キヤストコーター、スプレ
イコーター、ロッドコーター、正回転ロールコーター、
カーテンコーター、押出コーター、バーコーター、リッ
プコーター等が利用でき、さらにその他の方法も使用可
能であり、これらの具体的説明は朝倉書店発行の『コー
ティング工学』(昭和46.3.20.発行)253頁
〜277頁等に詳細に記載されている。これら塗布液の
塗布の順番は任意に選択でき、また所望の液の塗布の前
に下塗り層あるいは支持体との密着力向上のためにコロ
ナ放電処理等を行ってもよい。
The method for applying the coating solution for the lower polishing layer on the support and the method for applying the coating solution for the upper polishing layer on the lower polishing layer have a viscosity of 1 to 200.
After adjusting to 00 centistokes (25 ° C), air doctor coater, blade coater, air knife coater, squeeze coater, impregnation coater, reverse roll coater, transfer roll coater, gravure coater, kiss coater, cast coater, spray coater, rod coater , Forward rotation roll coater,
A curtain coater, an extrusion coater, a bar coater, a lip coater, etc. can be used, and other methods can also be used, and a detailed explanation of these methods can be found in "Coating Engineering" (published by Showa 46.20.46) issued by Asakura Shoten. For details, see pages 253 to 277. The order of application of these coating liquids can be arbitrarily selected, and a corona discharge treatment or the like may be performed before application of a desired liquid to improve adhesion to an undercoat layer or a support.

【0035】[0035]

【実施例】以下に、本発明の実施例および比較例を示
し、その研磨特性を評価する。
EXAMPLES Examples and comparative examples of the present invention will be shown below to evaluate the polishing characteristics.

【0036】<実施例1〜5>この実施例は、厚さ25
μmのポリエチレンテレフタレート(PET)による支
持体上に、ポリエステルポリウレタン樹脂からなる下塗
層を0.1μm厚に塗布し、その上に水難溶性結合剤
(ポリウレタン樹脂、スルホン酸ナトリウム1×10-3
量/g樹脂含有、Mw70000 )、溶剤(メチルエチルケ
トン/シクロヘキサノン=2/1)、研磨剤(アルミ
ナ、粒子サイズ5μm)、添加剤を分散した下層の研磨
層用塗布液を、乾燥後の厚さが5〜10μmとなるよう
にバーコート塗布で塗布し、乾燥することにより下層の
研磨層を作成した。
<Examples 1 to 5> This example has a thickness of 25.
On a support made of polyethylene terephthalate (PET) with a thickness of 0.1 μm, an undercoat layer made of polyester polyurethane resin is applied in a thickness of 0.1 μm, and a poorly water-soluble binder (polyurethane resin, sodium sulfonate 1 × 10 −3 equivalent) / G resin-containing, Mw70 000), solvent (methyl ethyl ketone / cyclohexanone = 2/1), abrasive (alumina, particle size 5 μm), and an additive-dispersed coating liquid for the lower polishing layer having a thickness of 5 after drying. A lower polishing layer was formed by applying a bar coat coating so as to have a thickness of 10 μm and drying.

【0037】その後、上記下層の研磨層上に、水溶性結
合剤(CMC)、溶剤(水)、研磨剤(アルミナ、粒子
サイズ1.5μm)、添加剤を分散した上層の研磨層用
塗布液を、乾燥後の厚さが1〜3μmとなるようにバー
コート塗布で塗布し、乾燥することにより上層の研磨層
を設け、研磨テープのサンプルを作成した。
Then, a coating solution for the upper polishing layer in which a water-soluble binder (CMC), a solvent (water), a polishing agent (alumina, particle size 1.5 μm), and an additive are dispersed on the lower polishing layer. Was applied by bar coat application so that the thickness after drying was 1 to 3 μm, and an upper polishing layer was provided by drying to prepare a polishing tape sample.

【0038】本例においては、上層研磨層の膜厚と下層
研磨層の膜厚とを変更して、各種実施例品を得ている。
すなわち、上層の膜厚が1μmで下層の膜厚が8μmの
ものが実施例1、上層の膜厚が2μmで下層の膜厚が8
μmのものが実施例2、上層の膜厚が3μmで下層の膜
厚が8μmのものが実施例3、上層の膜厚が2μmで下
層の膜厚が5μmのものが実施例4、上層の膜厚が2μ
mで下層の膜厚が10μmのものが実施例5である。
In this example, the thickness of the upper polishing layer and the thickness of the lower polishing layer were changed to obtain various examples.
That is, the upper layer having a thickness of 1 μm and the lower layer having a thickness of 8 μm was used in Example 1, and the upper layer having a thickness of 2 μm and the lower layer having a thickness of 8 μm.
The thickness of the upper layer is 3 μm and the thickness of the lower layer is 8 μm, and the thickness of the upper layer is 2 μm and the thickness of the lower layer is 5 μm. Film thickness is 2μ
It is Example 5 in which the thickness of the lower layer is 10 μm.

【0039】<比較例1,2>この比較例は、上記実施
例と同様の支持体上に単層の研磨層を形成したものであ
り、この研磨層の結合剤は上記実施例の下層の研磨層と
同様の水難溶性結合剤を使用し、研磨剤(アルミナ)の
粒子サイズは、比較例1で1.5μm、比較例2で5μ
mであり、研磨層の膜厚は両者とも10μmである。
Comparative Examples 1 and 2 In this comparative example, a single-layer polishing layer was formed on the same support as in the above-mentioned example, and the binder of this polishing layer was the lower layer of the above-mentioned example. The same sparingly water-soluble binder as used for the polishing layer was used, and the particle size of the polishing agent (alumina) was 1.5 μm in Comparative Example 1 and 5 μm in Comparative Example 2.
m, and the film thicknesses of the polishing layers are both 10 μm.

【0040】<比較例3,4>この比較例は、上記比較
例1,2と同様に単層の研磨層を形成したものであり、
この研磨層の結合剤は上記実施例の上層の研磨層と同様
の水溶性結合剤を使用し、研磨剤(アルミナ)の粒子サ
イズは、比較例3で1.5μm、比較例4で5μmであ
り、研磨層の膜厚は両者とも10μmである。
Comparative Examples 3 and 4 In this Comparative Example, a single-layer polishing layer was formed as in Comparative Examples 1 and 2 above.
As the binder for this polishing layer, the same water-soluble binder as that used for the upper polishing layer in the above example was used, and the particle size of the polishing agent (alumina) was 1.5 μm in Comparative Example 3 and 5 μm in Comparative Example 4. The polishing layer has a thickness of 10 μm.

【0041】<比較例5>この比較例は、上記実施例と
同様に下層の研磨層と上層の研磨層とを有するものであ
るが、両層共に水難溶性の結合剤を使用し、両層の膜厚
と研磨剤の粒子サイズは、前記実施例2と同様に設けて
いる。
Comparative Example 5 This Comparative Example has a lower polishing layer and an upper polishing layer as in the above Example, but both layers were made of a poorly water-soluble binder and both layers were formed. The film thickness and the particle size of the abrasive are set in the same manner as in Example 2.

【0042】上記のように作成した本発明の実施例1〜
5および比較例1〜5の研磨テープによる研磨テストを
行った結果を表1に示す。
Examples 1 to 1 of the present invention prepared as described above
Table 1 shows the results of the polishing test using the polishing tapes of Comparative Example No. 5 and Comparative Examples 1 to 5.

【0043】[0043]

【表1】 [Table 1]

【0044】上記研磨テストは、前記各研磨テープによ
って被研磨物としてNi−Pメッキされたアルミニウム
基板(ハードディスク基板)を下記条件で研磨(テクス
チャー処理)し、この基板の内周部、中央部、外周部の
それぞれ円周上の4カ所合計12カ所に直径5mmの円マ
ークを設定し、この中を無作為に下記条件でタリステッ
プを用い研磨面の中心線平均表面粗さRaを測定すると
ともに、この円内を微分干渉顕微鏡を用いて800倍で
撮影し、スクラッチの発生本数を測定した。
In the polishing test, an Ni-P-plated aluminum substrate (hard disk substrate) as an object to be polished was polished (textured) with each of the above-mentioned polishing tapes under the following conditions. Circle marks with a diameter of 5 mm were set at 4 places on the circumference of each of the 4 places on the circumference, and the center line average surface roughness Ra of the polished surface was measured randomly using the Taly step under the following conditions. Then, the inside of this circle was photographed at 800 times using a differential interference microscope, and the number of scratches generated was measured.

【0045】(1)上記テクスチャ処理の条件は、 HD基板回転スピード;100rpm テープ送りスピード;8mm/sec 揺動;クロスハッチの交差角が30度 処理時間;20秒間 洗浄液;ジョンソン社製クーラント液 である。(1) The above-mentioned texture treatment conditions are: HD substrate rotation speed; 100 rpm tape feeding speed; 8 mm / sec swing; cross hatch cross angle is 30 degrees; treatment time; 20 seconds; cleaning liquid; Johnson coolant liquid. is there.

【0046】(2)HD基板表面粗さ(中心線平均粗さ
Ra)の測定方法は、 装置;TAYLOR−HOBSON社製タリステップ 計測長;0.25mm 計測速度;0.025mm/秒 カットオフ;25Hz 高さ倍率;20万倍 である。
(2) The HD substrate surface roughness (center line average roughness Ra) is measured by the following apparatus: TAYLOR-HOBSON Taristep Measuring length: 0.25 mm Measuring speed: 0.025 mm / sec Cutoff; 25 Hz height magnification: 200,000 times.

【0047】表1の研削力およびスクラッチの特性評
価、総合評価の評価基準は、 (a)研削力 [HDのRa] [評価結果] ◎ … 0.0085μm以上 … 研削力優良レベル ○ … 0.005 〜0.0085μm … 研削力良レベル △ … 0.0035〜0.005 μm … 研削力やや不足だが可 × … 0.0035μm未満 … 研削力不足で不可 (b)スクラッチ [大きなスクラッチ本数] [評価結果] ◎ … 0〜1本 … スクラッチ優良 ○ … 2〜3本 … スクラッチ良 △ … 4〜11本 … スクラッチやや多いが可 × … 11本以上 … スクラッチ多く不可 (c)総合評価(研削力とスクラッチとを考慮して評価) ◎ … 総合評価優良 ○ … 総合評価良 △ … 総合評価可 × … 総合評価不可 である。
The evaluation criteria for the evaluation of the grinding force and scratch characteristics in Table 1 and the overall evaluation are as follows: (a) Grinding force [Ra of HD] [Evaluation result] ⊙ 0.0085 μm or more ∙ Grinding force excellent level ∙ 0.005 to 0.0085 μm Good grinding power level △… 0.0035 to 0.005 μm Grinding power is slightly insufficient, but possible ×… Less than 0.0035 μm… Not possible due to insufficient grinding power (b) Scratches [Number of large scratches] [Evaluation result] ◎… 0 to 1 Excellent scratches ○… 2 to 3… Scratch good △… 4 to 11… Scratch slightly large, but good × …… 11 or more… Scratch not great (c) Comprehensive evaluation (evaluation considering grinding force and scratch) ◎ … Comprehensive evaluation excellent ○… Comprehensive evaluation good △… Comprehensive evaluation possible ×… Comprehensive evaluation not possible.

【0048】上記表1の結果から、本発明の実施例によ
るものでは良好な研削力を確保しつつ、スクラッチの発
生が抑制できている。その中でも、上層の研磨層の膜厚
が厚くなると、研削力は低下する一方、スクラッチの発
生は良好となる傾向であり、また、下層の研磨層の膜厚
が厚くなると、同様に研磨力が低下して、スクラッチの
発生が良好となる傾向を示している。
From the results shown in Table 1 above, in the example of the present invention, the generation of scratches can be suppressed while ensuring a good grinding force. Among them, when the film thickness of the upper polishing layer is increased, the grinding force is decreased, while the occurrence of scratches tends to be good, and when the film thickness of the lower polishing layer is increased, the polishing force is similarly increased. It tends to decrease, and the occurrence of scratches tends to be good.

【0049】これに対して比較例1,2および5では、
表面の研磨層が水難溶性であることで、研磨力は良好で
あるが、遊離砥粒でないことで、スクラッチの発生本数
が多く不良品となっている。また、比較例3,4では、
研磨層が全部溶解するので、研磨剤の粒子サイズが小さ
いと研磨力が不足し、粒子サイズが大きいとスクラッチ
の発生が多くなる。
On the other hand, in Comparative Examples 1, 2 and 5,
Since the polishing layer on the surface is poorly soluble in water, the polishing power is good, but since it is not free abrasive grains, the number of scratches is large and it is a defective product. In Comparative Examples 3 and 4,
Since the polishing layer is wholly dissolved, if the particle size of the abrasive is small, the polishing power will be insufficient, and if the particle size is large, scratches will frequently occur.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による研磨体の構造を示す概略図FIG. 1 is a schematic view showing the structure of a polishing body according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 研磨テープ(研磨体) 2 支持体 3 下層の研磨層 4 上層の研磨層 31,41 研磨剤 32,42 結合剤 1 polishing tape (polishing body) 2 support 3 lower polishing layer 4 upper polishing layer 31,41 polishing agent 32,42 binder

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 非磁性支持体上に研磨剤と結合剤を主と
して含む複数の研磨層を有する研磨体において、前記研
磨層の内、上層の研磨層に含まれる結合剤が水溶性結合
剤であり、かつ前記非磁性支持体と上層の研磨層との間
に設けた下層の研磨層に含まれる結合剤が水難溶性の結
合剤であることを特徴とする研磨体。
1. A polishing body having a plurality of polishing layers mainly containing an abrasive and a binder on a non-magnetic support, wherein the binder contained in the upper polishing layer of the polishing layers is a water-soluble binder. And a binder contained in the lower polishing layer provided between the non-magnetic support and the upper polishing layer is a poorly water-soluble binder.
【請求項2】 前記上層の研磨層に含まれる研磨剤の平
均粒子サイズが、前記下層の研磨層に含まれる研磨剤の
平均粒子サイズより小さいことを特徴とする請求項1に
記載の研磨体。
2. The abrasive body according to claim 1, wherein the average particle size of the abrasive contained in the upper polishing layer is smaller than the average particle size of the abrasive contained in the lower polishing layer. .
【請求項3】 前記上層の研磨層の厚みが1〜3μmで
あり、前記下層の研磨層の厚みが5〜10μmであるこ
とを特徴とする請求項1に記載の研磨体。
3. The polishing body according to claim 1, wherein the upper polishing layer has a thickness of 1 to 3 μm, and the lower polishing layer has a thickness of 5 to 10 μm.
JP25050895A 1995-09-28 1995-09-28 Polishing body Withdrawn JPH0985629A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25050895A JPH0985629A (en) 1995-09-28 1995-09-28 Polishing body

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25050895A JPH0985629A (en) 1995-09-28 1995-09-28 Polishing body

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0985629A true JPH0985629A (en) 1997-03-31

Family

ID=17208938

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25050895A Withdrawn JPH0985629A (en) 1995-09-28 1995-09-28 Polishing body

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0985629A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005349498A (en) * 2004-06-08 2005-12-22 Ricoh Co Ltd Polishing tool and method for manufacturing polishing tool

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005349498A (en) * 2004-06-08 2005-12-22 Ricoh Co Ltd Polishing tool and method for manufacturing polishing tool

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH08112769A (en) Abrasive tape
US5816902A (en) Abrasive sheet and method of manufacturing same
US5573444A (en) Polishing method
US5695386A (en) Cleaning method using abrasive tape
JPH08294872A (en) Polishing body
US20070240295A1 (en) Surface treatment method and apparatus for tape
JP4885364B2 (en) Wiping film
JPH0985631A (en) Polishing body
JPH0985629A (en) Polishing body
JPH0985628A (en) Polishing body
JPH10273648A (en) Abrasion solution
JPH05293766A (en) Polishing body
JPH11277450A (en) Polishing body
JP2967311B2 (en) Polishing tape
JPH08294873A (en) Polishing body
JPH1177550A (en) Abrasive tape
JP3018475U (en) Polishing tape
JPH08174434A (en) Polishing tape and al board for hard disk
JPH08174433A (en) Polishing tape and al board for hard disk
JP2000354971A (en) Manufacture of polishing body and polishing body
JPH08174432A (en) Polishing tape and al board for hard disk
JPH11277451A (en) Polishing body
JPH11114836A (en) Polishing film
JPH1190837A (en) Polishing tape
JPH11277448A (en) Polishing body

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20021203