JPH0992704A - 半導体用シリコンウェハーの移し替え装置 - Google Patents
半導体用シリコンウェハーの移し替え装置Info
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- JPH0992704A JPH0992704A JP26785295A JP26785295A JPH0992704A JP H0992704 A JPH0992704 A JP H0992704A JP 26785295 A JP26785295 A JP 26785295A JP 26785295 A JP26785295 A JP 26785295A JP H0992704 A JPH0992704 A JP H0992704A
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- Y10S414/141—Associated with semiconductor wafer handling includes means for gripping wafer
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】 複数枚の半導体用シリコンウェハーを、旧カ
セットから新カセットに移し替える際に、ウェハーとの
接触に起因するダストの発生を抑制する。 【解決手段】 ウェハー3の移し替えは、プッシュロッ
ド10を上昇させて、ウェハー載置手段11に受け入れられ
たウェハー3を旧カセット4から抜き出し、保持機構12
によって、ウェハー3を受け入れたウェハー載置手段11
を支持し、プッシュロッド10を下降させ、カセット交換
機構14によって、旧カセット4を新カセット5と入れ換
え、プッシュロッド10を再び上昇させて、その上端にウ
ェハー載置手段11を載置し、保持機構12によるウェハー
載置手段11の支持を解除し、プッシュロッド10を下降さ
せて、ウェハー3を新カセット5内に差し込むことによ
って行われる。
セットから新カセットに移し替える際に、ウェハーとの
接触に起因するダストの発生を抑制する。 【解決手段】 ウェハー3の移し替えは、プッシュロッ
ド10を上昇させて、ウェハー載置手段11に受け入れられ
たウェハー3を旧カセット4から抜き出し、保持機構12
によって、ウェハー3を受け入れたウェハー載置手段11
を支持し、プッシュロッド10を下降させ、カセット交換
機構14によって、旧カセット4を新カセット5と入れ換
え、プッシュロッド10を再び上昇させて、その上端にウ
ェハー載置手段11を載置し、保持機構12によるウェハー
載置手段11の支持を解除し、プッシュロッド10を下降さ
せて、ウェハー3を新カセット5内に差し込むことによ
って行われる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、カセットに相互
に平行に且つ垂直に差し込まれた複数枚の半導体用シリ
コンウェハーを、清浄な別のカセットに、一括して移し
替えるための装置に関するものである。
に平行に且つ垂直に差し込まれた複数枚の半導体用シリ
コンウェハーを、清浄な別のカセットに、一括して移し
替えるための装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、集積回路は、シリコン等の半導
体結晶のインゴットを輪切りにして、薄い円板状のウェ
ハーを調製し、これに、複数の処理を施すことによって
製造される。
体結晶のインゴットを輪切りにして、薄い円板状のウェ
ハーを調製し、これに、複数の処理を施すことによって
製造される。
【0003】このようなウェハーは、複数枚を一組とし
て、カセットに相互に平行に且つ垂直に収容され、上述
した複数の処理を施すために、製造ラインにおける所定
の位置に移送される。
て、カセットに相互に平行に且つ垂直に収容され、上述
した複数の処理を施すために、製造ラインにおける所定
の位置に移送される。
【0004】しかしながら、ウェハーに上述した複数の
処理を施す際に、カセットにダストが付着し易く、この
ようなダストは製品の品質を低下させることから、各処
理後に、ウェハーを清浄な別のカセットに移し替える必
要がある。
処理を施す際に、カセットにダストが付着し易く、この
ようなダストは製品の品質を低下させることから、各処
理後に、ウェハーを清浄な別のカセットに移し替える必
要がある。
【0005】このような実情に鑑み、カセットに相互に
平行に且つ垂直に差し込まれた複数枚の半導体用シリコ
ンウェハーを、清浄な別のカセットに、一括して移し替
えるための装置 (以下、「先行技術1」という)が提案
されている。
平行に且つ垂直に差し込まれた複数枚の半導体用シリコ
ンウェハーを、清浄な別のカセットに、一括して移し替
えるための装置 (以下、「先行技術1」という)が提案
されている。
【0006】先行技術1の、半導体用シリコンウェハー
の移し替え装置を、図11から図14を参照しながら説
明する。
の移し替え装置を、図11から図14を参照しながら説
明する。
【0007】図11(a) から図11(f) は、先行技術1
の装置におけるウェハーの移し替え工程を示す概略図で
あり、図12は、カセットを示す斜視図であり、図13
は、先行技術1の移し替え装置におけるウェハー載置手
段を示す概略部分斜視図であり、図14は、図13に示
したウェハー載置手段へのウェハーの載置状態を示す概
略部分側面図である。
の装置におけるウェハーの移し替え工程を示す概略図で
あり、図12は、カセットを示す斜視図であり、図13
は、先行技術1の移し替え装置におけるウェハー載置手
段を示す概略部分斜視図であり、図14は、図13に示
したウェハー載置手段へのウェハーの載置状態を示す概
略部分側面図である。
【0008】図11(a) −(f) から明らかなように、先
行技術1の装置Aは、複数枚の半導体用シリコンウェハ
ー3が、相互に平行に且つ垂直に差し込まれた旧カセッ
ト4から、ウェハー3を新カセット5に移し替えるため
のものであって、プッシュロッド1、ウェハー載置手段
1a、保持機構2およびカセット交換機構(図示せず)
からなっている。
行技術1の装置Aは、複数枚の半導体用シリコンウェハ
ー3が、相互に平行に且つ垂直に差し込まれた旧カセッ
ト4から、ウェハー3を新カセット5に移し替えるため
のものであって、プッシュロッド1、ウェハー載置手段
1a、保持機構2およびカセット交換機構(図示せず)
からなっている。
【0009】旧カセット4および新カセット5は、図1
2に示すように、上方が開放されており、一方、その底
部には、プッシュロッド1の上端が貫通可能な開口4
c、5cがそれぞれ形成されている。旧カセット4およ
び新カセット5の各々の両側壁4a、5aには、ウェハ
ー3を、相互に平行に且つ垂直に差し込むための複数本
の溝4b、5bがそれぞれ形成されている。
2に示すように、上方が開放されており、一方、その底
部には、プッシュロッド1の上端が貫通可能な開口4
c、5cがそれぞれ形成されている。旧カセット4およ
び新カセット5の各々の両側壁4a、5aには、ウェハ
ー3を、相互に平行に且つ垂直に差し込むための複数本
の溝4b、5bがそれぞれ形成されている。
【0010】プッシュロッド1は、油圧または空気圧シ
リンダ、サーボモータ等のアクチュエータによって、旧
カセット4または新カセット5の底部を貫通して上下動
し、もって、ウェハー3の旧カセット4から上方への抜
出し、および、抜き出されたウェハー3の新カセット5
内への差込みを行う。
リンダ、サーボモータ等のアクチュエータによって、旧
カセット4または新カセット5の底部を貫通して上下動
し、もって、ウェハー3の旧カセット4から上方への抜
出し、および、抜き出されたウェハー3の新カセット5
内への差込みを行う。
【0011】ウェハー載置手段1aは、上述したプッシ
ュロッド1の上端に固定されており、その上面に、ウェ
ハー3の下縁を受け入れるための櫛目状の溝1bが形成
されている。図14に示すように、櫛目状の溝1bの幅
は、ウェハー3の厚さよりも若干大きく、もって、ウェ
ハー3の櫛目状の溝1bへの差込みを容易にしている。
ュロッド1の上端に固定されており、その上面に、ウェ
ハー3の下縁を受け入れるための櫛目状の溝1bが形成
されている。図14に示すように、櫛目状の溝1bの幅
は、ウェハー3の厚さよりも若干大きく、もって、ウェ
ハー3の櫛目状の溝1bへの差込みを容易にしている。
【0012】保持機構2は、図11(a) −(f) から明ら
かなように、一対の支持アーム2aからなっており、こ
れ等は、油圧または空気圧シリンダ、サーボモータ等の
アクチュエータによって、相互に近接または離反するよ
うに水平方向に移動する。一対の支持アーム2aの相互
に向かい合う内面には、上述したウェハー載置手段1a
における櫛目状の溝1bと同様に、ウェハー3の両側縁
を受け入れるための櫛目状の溝2bがそれぞれ形成され
ている。従って、保持機構2の一対の支持アーム2a
は、プッシュロッド1によって上方に持ち上げられたウ
ェハー3を挟持し、もって、旧カセット4から抜き出さ
れたウェハー3を、プッシュロッド1の上方において、
所定高さの位置に保持する。
かなように、一対の支持アーム2aからなっており、こ
れ等は、油圧または空気圧シリンダ、サーボモータ等の
アクチュエータによって、相互に近接または離反するよ
うに水平方向に移動する。一対の支持アーム2aの相互
に向かい合う内面には、上述したウェハー載置手段1a
における櫛目状の溝1bと同様に、ウェハー3の両側縁
を受け入れるための櫛目状の溝2bがそれぞれ形成され
ている。従って、保持機構2の一対の支持アーム2a
は、プッシュロッド1によって上方に持ち上げられたウ
ェハー3を挟持し、もって、旧カセット4から抜き出さ
れたウェハー3を、プッシュロッド1の上方において、
所定高さの位置に保持する。
【0013】カセット交換機構(図示せず)は、油圧ま
たは空気圧シリンダ、サーボモータ等のアクチュエータ
からなり、上記保持機構2によって、ウェハー3が、プ
ッシュロッド1の上方において、所定高さの位置に保持
されているとき、旧カセット4を新カセット5と入れ換
える。
たは空気圧シリンダ、サーボモータ等のアクチュエータ
からなり、上記保持機構2によって、ウェハー3が、プ
ッシュロッド1の上方において、所定高さの位置に保持
されているとき、旧カセット4を新カセット5と入れ換
える。
【0014】次に、先行技術1の上述した移し替え装置
Aにおけるウェハー3の移し替え工程を、図11(a) か
ら図11(f) を参照して説明する。
Aにおけるウェハー3の移し替え工程を、図11(a) か
ら図11(f) を参照して説明する。
【0015】処理が施された複数枚のウェハー3は、相
互に平行に且つ垂直に旧カセット4に差し込まれてい
る。このようにしてウェハー3を収容した旧カセット4
は、カセット交換機構によって、図11(a)に示すよ
うに、下方に引っ込められたプッシュロッド1の上方に
移送される。
互に平行に且つ垂直に旧カセット4に差し込まれてい
る。このようにしてウェハー3を収容した旧カセット4
は、カセット交換機構によって、図11(a)に示すよ
うに、下方に引っ込められたプッシュロッド1の上方に
移送される。
【0016】次いで、プッシュロッド1を上昇させて、
その上端に固定されたウェハー載置手段1aの櫛目状の
溝1bにウェハー3の下縁を受け入れ(図11(b)参
照)、このような状態で、プッシュロッド1を更に上昇
させて、ウェハー3を旧カセット4から上方に抜き出
し、ウェハー3を所定高さの位置に持ち上げる(図11
(c)参照)。
その上端に固定されたウェハー載置手段1aの櫛目状の
溝1bにウェハー3の下縁を受け入れ(図11(b)参
照)、このような状態で、プッシュロッド1を更に上昇
させて、ウェハー3を旧カセット4から上方に抜き出
し、ウェハー3を所定高さの位置に持ち上げる(図11
(c)参照)。
【0017】次いで、保持機構2を駆動させることによ
って、一対の支持アーム2aを相互に近接させ、もっ
て、一対の支持アーム2aの各々の櫛目状の溝2bにウ
ェハー3の両側縁を受け入れながら、一対の支持アーム
2aによって、ウェハー3を挟持し、かくして、旧カセ
ット4から抜き出されたウェハー3を、プッシュロッド
1の上方において、所定高さの位置に保持する。
って、一対の支持アーム2aを相互に近接させ、もっ
て、一対の支持アーム2aの各々の櫛目状の溝2bにウ
ェハー3の両側縁を受け入れながら、一対の支持アーム
2aによって、ウェハー3を挟持し、かくして、旧カセ
ット4から抜き出されたウェハー3を、プッシュロッド
1の上方において、所定高さの位置に保持する。
【0018】その後、プッシュロッド1を下降させ、そ
して、カセット交換機構によって、旧カセット4を新カ
セット5と入れ換える(図11(d)参照)。
して、カセット交換機構によって、旧カセット4を新カ
セット5と入れ換える(図11(d)参照)。
【0019】次いで、プッシュロッド1を再び上昇させ
て、その上端に固定されたウェハー載置手段1aの櫛目
状の溝1bにウェハー3の下縁を受け入れ、このような
状態で、保持機構2を駆動させることによって、一対の
支持アーム2aを相互に離反させ、もって、ウェハー3
の両側縁を、一対の支持アーム2aの各々の櫛目状の溝
2bから離す(図11(e)参照)。
て、その上端に固定されたウェハー載置手段1aの櫛目
状の溝1bにウェハー3の下縁を受け入れ、このような
状態で、保持機構2を駆動させることによって、一対の
支持アーム2aを相互に離反させ、もって、ウェハー3
の両側縁を、一対の支持アーム2aの各々の櫛目状の溝
2bから離す(図11(e)参照)。
【0020】次いで、ウェハー載置手段1aの櫛目状の
溝1bにウェハー3の下縁を受け入れたプッシュロッド
1を下降させて、ウェハー3を新カセット5内に差し込
み、かくして、ウェハー3は旧カセット4から新カセッ
ト5に移し替えられる。
溝1bにウェハー3の下縁を受け入れたプッシュロッド
1を下降させて、ウェハー3を新カセット5内に差し込
み、かくして、ウェハー3は旧カセット4から新カセッ
ト5に移し替えられる。
【0021】
【発明が解決しようとする課題】先行技術1の移し替え
装置Aによれば、プッシュロッド1の上端に固定された
ウェハー載置手段1aに形成された櫛目状の溝1bの幅
は、上述したように、ウェハー3の厚さよりも若干大き
く、従って、ウェハー3の櫛目状の溝1bへの差込み、
および、ウェハー3の櫛目状の溝1bからの抜取りが容
易に行われる。しかしながら、先行技術1の移し替え装
置Aは、下記問題点を有している。
装置Aによれば、プッシュロッド1の上端に固定された
ウェハー載置手段1aに形成された櫛目状の溝1bの幅
は、上述したように、ウェハー3の厚さよりも若干大き
く、従って、ウェハー3の櫛目状の溝1bへの差込み、
および、ウェハー3の櫛目状の溝1bからの抜取りが容
易に行われる。しかしながら、先行技術1の移し替え装
置Aは、下記問題点を有している。
【0022】 ウェハー載置手段1aの櫛目状の溝1
bにウェハー3の下縁を受け入れた状態で、プッシュロ
ッド1を上昇または下降させる際に、プッシュロッド1
が振動すると、ウェハー3が櫛目状の溝1b内で不安定
に微動し、その結果、ウェハーの下縁とウェハー載置手
段1aとの摩擦に起因してダストが発生する傾向があ
り、特に、ウェハー3の上述した不安定な微動に起因す
る、ダストの発生量は、ウェハー3の外径が大きくなる
に従って、増加する傾向にあった (以下、「先行技術1
の問題点1」という)。
bにウェハー3の下縁を受け入れた状態で、プッシュロ
ッド1を上昇または下降させる際に、プッシュロッド1
が振動すると、ウェハー3が櫛目状の溝1b内で不安定
に微動し、その結果、ウェハーの下縁とウェハー載置手
段1aとの摩擦に起因してダストが発生する傾向があ
り、特に、ウェハー3の上述した不安定な微動に起因す
る、ダストの発生量は、ウェハー3の外径が大きくなる
に従って、増加する傾向にあった (以下、「先行技術1
の問題点1」という)。
【0023】 プッシュロッド1の上昇または下降速
度を著しく低下させれば、上述したプッシュロッド1の
振動を極力抑制し、もって、ダストの発生を抑制するこ
とができるが、プッシュロッド1の上昇または下降速度
をこのように著しく低下させると、生産効率も著しく低
下する (以下、「先行技術1の問題点2」という)。
度を著しく低下させれば、上述したプッシュロッド1の
振動を極力抑制し、もって、ダストの発生を抑制するこ
とができるが、プッシュロッド1の上昇または下降速度
をこのように著しく低下させると、生産効率も著しく低
下する (以下、「先行技術1の問題点2」という)。
【0024】 上述したダストの発生量は、ウェハー
載置手段1aの櫛目状の溝1bへのウェハー3の差込み
回数、および、櫛目状の溝1bからのウェハー3の抜取
り回数に比例して増加する。先行技術1の移し替え装置
Aを使用して、ウェハー3を旧カセット4から新カセッ
ト5に移し替える場合において、櫛目状の溝1bへのウ
ェハー3の差込み回数、および、櫛目状の溝1bからの
ウェハー3の抜取り回数は、それぞれ2回であり、従っ
て、ダストの発生量が多い (以下、「先行技術1の問題
点3」という)。
載置手段1aの櫛目状の溝1bへのウェハー3の差込み
回数、および、櫛目状の溝1bからのウェハー3の抜取
り回数に比例して増加する。先行技術1の移し替え装置
Aを使用して、ウェハー3を旧カセット4から新カセッ
ト5に移し替える場合において、櫛目状の溝1bへのウ
ェハー3の差込み回数、および、櫛目状の溝1bからの
ウェハー3の抜取り回数は、それぞれ2回であり、従っ
て、ダストの発生量が多い (以下、「先行技術1の問題
点3」という)。
【0025】 更に、ダストは、ウェハー3の両側縁
を、保持機構2における一対の支持アーム2aの櫛目状
の溝2b内に差し込み、または、これを上記櫛目状の溝
2bから抜き取る際にも発生する。従って、先行技術1
においては、ウェハー載置手段1aとウェハーとの接触
に起因するダストの発生に加えて、保持機構2の一対の
支持アーム2aとウェハーとの接触に起因してダストが
発生する。 (以下、「先行技術1の問題点4」とい
う)。
を、保持機構2における一対の支持アーム2aの櫛目状
の溝2b内に差し込み、または、これを上記櫛目状の溝
2bから抜き取る際にも発生する。従って、先行技術1
においては、ウェハー載置手段1aとウェハーとの接触
に起因するダストの発生に加えて、保持機構2の一対の
支持アーム2aとウェハーとの接触に起因してダストが
発生する。 (以下、「先行技術1の問題点4」とい
う)。
【0026】先行技術1の問題点1および2を解決する
ために、先行技術1のプッシュロッド1の上端に固定さ
れるウェハー載置手段として、改良されたウェハー載置
手段が提案されている。この改良されたウェハー載置手
段を、図15および図16を参照しながら説明する。
ために、先行技術1のプッシュロッド1の上端に固定さ
れるウェハー載置手段として、改良されたウェハー載置
手段が提案されている。この改良されたウェハー載置手
段を、図15および図16を参照しながら説明する。
【0027】図15は、改良されたウェハー載置手段を
示す概略平面図であり、図16は、改良されたウェハー
手段を示す概略側面図である。
示す概略平面図であり、図16は、改良されたウェハー
手段を示す概略側面図である。
【0028】図15および図16から明らかなように、
改良されたウェハー載置手段6は、グリップ本体7と、
スライド板8と、スライド板摺動手段(図示せず)とか
らなっている。
改良されたウェハー載置手段6は、グリップ本体7と、
スライド板8と、スライド板摺動手段(図示せず)とか
らなっている。
【0029】グリップ本体7は、基板(図示せず)と、
その両側部に上方に突出して形成された一対のガイドブ
ロック7aとからなっている。一対のガイドブロック7
aの各々には、対応する位置に、櫛目状の溝7bが形成
されている。櫛目状の溝7bの幅は、ウェハー3の厚さ
よりも若干大きく、もって、ウェハー3の櫛目状の溝7
bへの差込みを容易にしている。
その両側部に上方に突出して形成された一対のガイドブ
ロック7aとからなっている。一対のガイドブロック7
aの各々には、対応する位置に、櫛目状の溝7bが形成
されている。櫛目状の溝7bの幅は、ウェハー3の厚さ
よりも若干大きく、もって、ウェハー3の櫛目状の溝7
bへの差込みを容易にしている。
【0030】スライド板8は、グリップ本体7の一対の
ガイドブロック7a間に往復動可能に配置されており、
図15から明らかなように、グリップ本体7の一対のガ
イドブロック7aの櫛目状の溝7bに対応する位置に、
同様の櫛目状の溝8bが形成されている。このスライド
板8に形成された櫛目状の溝8bの幅もまた、ウェハー
3の厚さよりも若干大きく、もって、ウェハー3の櫛目
状の溝7bへの差込みを容易にしている。スライド板8
において、櫛目状の溝8bの両側の仕切り板8aは、ウ
ェハー3に接触して、これに所定の押圧力を付与する押
圧板として作用する。
ガイドブロック7a間に往復動可能に配置されており、
図15から明らかなように、グリップ本体7の一対のガ
イドブロック7aの櫛目状の溝7bに対応する位置に、
同様の櫛目状の溝8bが形成されている。このスライド
板8に形成された櫛目状の溝8bの幅もまた、ウェハー
3の厚さよりも若干大きく、もって、ウェハー3の櫛目
状の溝7bへの差込みを容易にしている。スライド板8
において、櫛目状の溝8bの両側の仕切り板8aは、ウ
ェハー3に接触して、これに所定の押圧力を付与する押
圧板として作用する。
【0031】スライド板摺動手段(図示せず)は、グリ
ップ本体7に取り付けられた、油圧または空気圧シリン
ダ、サーボモータ等のアクチュエータからなっており、
スライド板8を、その長さ方向に摺動させる。
ップ本体7に取り付けられた、油圧または空気圧シリン
ダ、サーボモータ等のアクチュエータからなっており、
スライド板8を、その長さ方向に摺動させる。
【0032】上述したウェハー載置手段6は、次のよう
にして使用される。即ち、スライド板摺動手段を駆動さ
せて、スライド板8を、一方、即ち、図15において、
右側に摺動させ、もって、スライド板8の櫛目状の溝8
bを、グリップ本体7における一対のガイドブロック7
aの櫛目状の溝7bに一致させる。このような状態で、
ウェハー3を、スライド板8の櫛目状の溝8b、およ
び、一対のガイドブロック7aの櫛目状の溝7bに差し
込む。次いで、スライド板摺動手段を駆動させて、スラ
イド板8を、他方、即ち、図15において、左側に摺動
させ、もって、スライド板8の仕切り板8aをウェハー
3の一方の面に接触させた状態で、ウェハー3を、グリ
ップ本体7における一対のガイドブロック7aの櫛目状
の溝7b内において、所定の押圧力で拘束する。
にして使用される。即ち、スライド板摺動手段を駆動さ
せて、スライド板8を、一方、即ち、図15において、
右側に摺動させ、もって、スライド板8の櫛目状の溝8
bを、グリップ本体7における一対のガイドブロック7
aの櫛目状の溝7bに一致させる。このような状態で、
ウェハー3を、スライド板8の櫛目状の溝8b、およ
び、一対のガイドブロック7aの櫛目状の溝7bに差し
込む。次いで、スライド板摺動手段を駆動させて、スラ
イド板8を、他方、即ち、図15において、左側に摺動
させ、もって、スライド板8の仕切り板8aをウェハー
3の一方の面に接触させた状態で、ウェハー3を、グリ
ップ本体7における一対のガイドブロック7aの櫛目状
の溝7b内において、所定の押圧力で拘束する。
【0033】このように構成されたウェハー載置手段6
によれば、スライド板8の仕切り板8aをウェハー3の
一方の面に接触させた状態で、ウェハー3が、グリップ
本体7における一対のガイドブロック7aの櫛目状の溝
7b内において、所定の押圧力で拘束されるので、先行
技術1の問題点1および2を解決することは理論上可能
である。
によれば、スライド板8の仕切り板8aをウェハー3の
一方の面に接触させた状態で、ウェハー3が、グリップ
本体7における一対のガイドブロック7aの櫛目状の溝
7b内において、所定の押圧力で拘束されるので、先行
技術1の問題点1および2を解決することは理論上可能
である。
【0034】しかしながら、上述したウェハー載置手段
6の機能を適切に発揮するためには、一対のガイドブロ
ック7aの櫛目状の溝7bの幅と、スライド板8の櫛目
状の溝8bの幅とを正確に一致させ、更に、これ等の溝
7b、8bのそれぞれのピッチを正確に一致させる必要
がある。例えば、図15において、スライド板8におけ
る左から2番目の溝8b’の幅が、他の溝8bの幅より
も大きいと、図15において左から1、3、4および5
番目のウェハー3の下縁は適切に挟持されるものの、2
番目のウェハー3は挟持されず、ウェハー3のすべてを
適切の保持することはできない。また、スライド板8に
おける溝の何れかの幅が、他の溝の幅よりも小さいと、
1枚のウェハーを挟持することはできても、他のウェハ
ーの挟持が不可能になる (以下、「先行技術2の問題
点」という)。
6の機能を適切に発揮するためには、一対のガイドブロ
ック7aの櫛目状の溝7bの幅と、スライド板8の櫛目
状の溝8bの幅とを正確に一致させ、更に、これ等の溝
7b、8bのそれぞれのピッチを正確に一致させる必要
がある。例えば、図15において、スライド板8におけ
る左から2番目の溝8b’の幅が、他の溝8bの幅より
も大きいと、図15において左から1、3、4および5
番目のウェハー3の下縁は適切に挟持されるものの、2
番目のウェハー3は挟持されず、ウェハー3のすべてを
適切の保持することはできない。また、スライド板8に
おける溝の何れかの幅が、他の溝の幅よりも小さいと、
1枚のウェハーを挟持することはできても、他のウェハ
ーの挟持が不可能になる (以下、「先行技術2の問題
点」という)。
【0035】上述から明らかなように、上記ウェハー載
置手段6においては、一対のガイドブロック7aの櫛目
状の溝7b、および、スライド板8の櫛目状の溝8bの
加工に極めて厳密な精度が要求されるが、このように極
めて厳密な精度をもって加工を施すことは極めて困難で
あり、また、一対のガイドブロック7aおよび/または
スライド板8に加工誤差があった場合には、これを修正
するのにかなりの時間と費用が必要であることが予期さ
れる。このような実情に鑑み、上述した極めて厳密な精
度による加工は、事実上不可能である。
置手段6においては、一対のガイドブロック7aの櫛目
状の溝7b、および、スライド板8の櫛目状の溝8bの
加工に極めて厳密な精度が要求されるが、このように極
めて厳密な精度をもって加工を施すことは極めて困難で
あり、また、一対のガイドブロック7aおよび/または
スライド板8に加工誤差があった場合には、これを修正
するのにかなりの時間と費用が必要であることが予期さ
れる。このような実情に鑑み、上述した極めて厳密な精
度による加工は、事実上不可能である。
【0036】従って、請求項1に記載したこの発明 (以
下、「第1発明」という)の目的は、少なくとも先行技
術1の問題点3および4を解決し、カセットに相互に平
行に且つ垂直に差し込まれた複数枚の半導体用シリコン
ウェハーを、清浄な別のカセットに、一括して移し替え
ることができる装置を提供することにある。
下、「第1発明」という)の目的は、少なくとも先行技
術1の問題点3および4を解決し、カセットに相互に平
行に且つ垂直に差し込まれた複数枚の半導体用シリコン
ウェハーを、清浄な別のカセットに、一括して移し替え
ることができる装置を提供することにある。
【0037】更に、請求項2に記載したこの発明 (以
下、「第2発明」という)の目的は、少なくとも先行技
術1の問題点1および2、並びに、先行技術2の問題点
を解決し、カセットに相互に平行に且つ垂直に差し込ま
れた複数枚の半導体用シリコンウェハーを、清浄な別の
カセットに、一括して移し替えることができる装置を提
供することにある。
下、「第2発明」という)の目的は、少なくとも先行技
術1の問題点1および2、並びに、先行技術2の問題点
を解決し、カセットに相互に平行に且つ垂直に差し込ま
れた複数枚の半導体用シリコンウェハーを、清浄な別の
カセットに、一括して移し替えることができる装置を提
供することにある。
【0038】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載したこの
発明の装置は、複数枚の半導体用シリコンウェハーが、
相互に平行に且つ垂直に差し込まれた旧カセットから、
前記ウェハーを新カセットに移し替えるためのものであ
って、前記旧カセットまたは前記新カセットの底部を貫
通して上下動し、もって、前記ウェハーの前記旧カセッ
トから上方への抜出し、および、抜き出された前記ウェ
ハーの前記新カセット内への差込みを行うためのプッシ
ュロッドと、前記プッシュロッドの上端に着脱可能に取
り付けられ、前記ウェハーの下縁を受け入れるための櫛
目状の溝を有するウェハー載置手段と、前記プッシュロ
ッドによって上方に持ち上げられた、前記ウェハーを受
け入れた前記ウェハー載置手段を支持し、もって、前記
旧カセットから抜き出された前記ウェハーを所定位置に
保持するための保持機構と、前記保持機構によって、前
記ウェハーが前記所定位置に保持されているとき、前記
旧カセットを前記新カセットと入れ換えるためのカセッ
ト交換機構とからなり、前記プッシュロッドを上昇させ
て、前記ウェハー載置手段に受け入れられた前記ウェハ
ーを前記旧カセットから上方に抜き出し、前記保持機構
によって、前記ウェハーを受け入れた前記ウェハー載置
手段を支持し、前記プッシュロッドを下降させ、前記カ
セット交換機構によって、前記旧カセットを前記新カセ
ットと入れ換え、前記プッシュロッドを再び上昇させ
て、その前記上端に前記ウェハー載置手段を載置し、前
記保持機構による前記ウェハー載置手段の前記支持を解
除し、前記プッシュロッドを下降させて、前記ウェハー
を前記新カセット内に差し込み、かくして、前記ウェハ
ーを前記旧カセットから前記新カセットに移し替えるこ
とに特徴を有するものである。
発明の装置は、複数枚の半導体用シリコンウェハーが、
相互に平行に且つ垂直に差し込まれた旧カセットから、
前記ウェハーを新カセットに移し替えるためのものであ
って、前記旧カセットまたは前記新カセットの底部を貫
通して上下動し、もって、前記ウェハーの前記旧カセッ
トから上方への抜出し、および、抜き出された前記ウェ
ハーの前記新カセット内への差込みを行うためのプッシ
ュロッドと、前記プッシュロッドの上端に着脱可能に取
り付けられ、前記ウェハーの下縁を受け入れるための櫛
目状の溝を有するウェハー載置手段と、前記プッシュロ
ッドによって上方に持ち上げられた、前記ウェハーを受
け入れた前記ウェハー載置手段を支持し、もって、前記
旧カセットから抜き出された前記ウェハーを所定位置に
保持するための保持機構と、前記保持機構によって、前
記ウェハーが前記所定位置に保持されているとき、前記
旧カセットを前記新カセットと入れ換えるためのカセッ
ト交換機構とからなり、前記プッシュロッドを上昇させ
て、前記ウェハー載置手段に受け入れられた前記ウェハ
ーを前記旧カセットから上方に抜き出し、前記保持機構
によって、前記ウェハーを受け入れた前記ウェハー載置
手段を支持し、前記プッシュロッドを下降させ、前記カ
セット交換機構によって、前記旧カセットを前記新カセ
ットと入れ換え、前記プッシュロッドを再び上昇させ
て、その前記上端に前記ウェハー載置手段を載置し、前
記保持機構による前記ウェハー載置手段の前記支持を解
除し、前記プッシュロッドを下降させて、前記ウェハー
を前記新カセット内に差し込み、かくして、前記ウェハ
ーを前記旧カセットから前記新カセットに移し替えるこ
とに特徴を有するものである。
【0039】請求項2に記載したこの発明の装置は、複
数枚の半導体用シリコンウェハーが、相互に平行に且つ
垂直に差し込まれた旧カセットから、前記ウェハーを新
カセットに移し替えるためのものであって、前記旧カセ
ットまたは前記新カセットの底部を貫通して上下動し、
もって、前記ウェハーの前記旧カセットから上方への抜
出し、および、抜き出された前記ウェハーの前記新カセ
ット内への差込みを行うためのプッシュロッドと、前記
プッシュロッドの上端に固定され、前記ウェハーの下縁
を受け入れるための櫛目状の溝を有するウェハー載置手
段と、前記プッシュロッドによって上方に持ち上げられ
た、前記ウェハーを受け入れた前記ウェハー載置手段を
挟持し、もって、前記旧カセットから抜き出された前記
ウェハーを所定位置に保持するための保持機構と、前記
保持機構によって、前記ウェハーが前記所定位置に保持
されているとき、前記旧カセットを前記新カセットと入
れ換えるためのカセット交換機構とからなり、前記ウェ
ハー載置手段は、上面に前記櫛目状の溝が形成されたグ
リップ本体と、前記グリップ本体に、前記溝と直交する
方向に摺動可能に取り付けられたスライド板と、前記ス
ライド板に設けられた、前記ウェハーの下縁を前記溝に
押し付けるための複数個の爪と、前記爪の各々に独立し
て押付け力を付与するための複数個の弾性手段とからな
ることに特徴を有するものである。
数枚の半導体用シリコンウェハーが、相互に平行に且つ
垂直に差し込まれた旧カセットから、前記ウェハーを新
カセットに移し替えるためのものであって、前記旧カセ
ットまたは前記新カセットの底部を貫通して上下動し、
もって、前記ウェハーの前記旧カセットから上方への抜
出し、および、抜き出された前記ウェハーの前記新カセ
ット内への差込みを行うためのプッシュロッドと、前記
プッシュロッドの上端に固定され、前記ウェハーの下縁
を受け入れるための櫛目状の溝を有するウェハー載置手
段と、前記プッシュロッドによって上方に持ち上げられ
た、前記ウェハーを受け入れた前記ウェハー載置手段を
挟持し、もって、前記旧カセットから抜き出された前記
ウェハーを所定位置に保持するための保持機構と、前記
保持機構によって、前記ウェハーが前記所定位置に保持
されているとき、前記旧カセットを前記新カセットと入
れ換えるためのカセット交換機構とからなり、前記ウェ
ハー載置手段は、上面に前記櫛目状の溝が形成されたグ
リップ本体と、前記グリップ本体に、前記溝と直交する
方向に摺動可能に取り付けられたスライド板と、前記ス
ライド板に設けられた、前記ウェハーの下縁を前記溝に
押し付けるための複数個の爪と、前記爪の各々に独立し
て押付け力を付与するための複数個の弾性手段とからな
ることに特徴を有するものである。
【0040】請求項3に記載したこの発明の装置は、請
求項1に記載したこの発明の装置において、前記ウェハ
ー載置手段が、上面に前記櫛目状の溝が形成されたグリ
ップ本体と、前記グリップ本体に、前記溝と直交する方
向に摺動可能に取り付けられたスライド板と、前記スラ
イド板に設けられた、前記ウェハーの前記下縁を前記溝
に押し付けるための複数個の爪と、前記爪の各々に独立
して押付け力を付与するための複数個の弾性手段とから
なることに特徴を有するものである。
求項1に記載したこの発明の装置において、前記ウェハ
ー載置手段が、上面に前記櫛目状の溝が形成されたグリ
ップ本体と、前記グリップ本体に、前記溝と直交する方
向に摺動可能に取り付けられたスライド板と、前記スラ
イド板に設けられた、前記ウェハーの前記下縁を前記溝
に押し付けるための複数個の爪と、前記爪の各々に独立
して押付け力を付与するための複数個の弾性手段とから
なることに特徴を有するものである。
【0041】請求項4に記載したこの発明の装置は、請
求項2または3に記載したこの発明の装置において、前
記ウェハー載置手段の前記グリップ本体が、前記スライ
ド板を不動に保持し、もって、前記弾性手段により前記
爪の各々に独立して前記押付け力を付与した状態を維持
するためのロック機構を備えていることに特徴を有する
ものである。
求項2または3に記載したこの発明の装置において、前
記ウェハー載置手段の前記グリップ本体が、前記スライ
ド板を不動に保持し、もって、前記弾性手段により前記
爪の各々に独立して前記押付け力を付与した状態を維持
するためのロック機構を備えていることに特徴を有する
ものである。
【0042】請求項5に記載したこの発明の装置は、請
求項1または3に記載したこの発明の装置において、前
記ウェハー載置手段が、位置決め手段を介して、前記プ
ッシュロッドの前記上端に取り付けられていることに特
徴を有するものである。
求項1または3に記載したこの発明の装置において、前
記ウェハー載置手段が、位置決め手段を介して、前記プ
ッシュロッドの前記上端に取り付けられていることに特
徴を有するものである。
【0043】請求項6に記載したこの発明の装置は、請
求項5に記載したこの発明の装置において、前記位置決
め手段が、前記ウェハー載置手段の下部および前記プッ
シュロッドの前記上端の何れか一方に形成された少なく
とも1つの孔と、前記ウェハー載置手段の前記下部およ
び前記プッシュロッドの前記上端の何れか他方に形成さ
れた、前記孔に嵌合される少なくとも1つのピンとから
なることに特徴を有するものである。
求項5に記載したこの発明の装置において、前記位置決
め手段が、前記ウェハー載置手段の下部および前記プッ
シュロッドの前記上端の何れか一方に形成された少なく
とも1つの孔と、前記ウェハー載置手段の前記下部およ
び前記プッシュロッドの前記上端の何れか他方に形成さ
れた、前記孔に嵌合される少なくとも1つのピンとから
なることに特徴を有するものである。
【0044】
【発明の実施の形態】次に、第1発明の、半導体用シリ
コンウェハーの移し替え装置を、図1から図5を参照し
ながら説明する。
コンウェハーの移し替え装置を、図1から図5を参照し
ながら説明する。
【0045】図1は、第1発明の、半導体用シリコンウ
ェハーの移し替え装置の正面図、図2は、同装置の平面
図、図3は、同装置の側面図、図4は、同装置における
プッシュロッドの上端およびウェハー載置手段を示す正
面図、図5(a) から図5(f)は、同装置におけるウェハ
ーの移し替え工程を示す概略図である。
ェハーの移し替え装置の正面図、図2は、同装置の平面
図、図3は、同装置の側面図、図4は、同装置における
プッシュロッドの上端およびウェハー載置手段を示す正
面図、図5(a) から図5(f)は、同装置におけるウェハ
ーの移し替え工程を示す概略図である。
【0046】第1発明の、半導体用シリコンウェハーの
移し替え装置Bは、複数枚の半導体用シリコンウェハー
3が、相互に平行に且つ垂直に差し込まれた旧カセット
4から、ウェハー3を新カセット5に移し替えるための
ものであって、プッシュロッド10、ウェハー載置手段
11、保持機構12およびカセット交換機構14からな
っている。
移し替え装置Bは、複数枚の半導体用シリコンウェハー
3が、相互に平行に且つ垂直に差し込まれた旧カセット
4から、ウェハー3を新カセット5に移し替えるための
ものであって、プッシュロッド10、ウェハー載置手段
11、保持機構12およびカセット交換機構14からな
っている。
【0047】旧カセット4および新カセット5は、図1
2を参照して上述したものと同一であるので、それ等の
構成の説明を省略する。
2を参照して上述したものと同一であるので、それ等の
構成の説明を省略する。
【0048】プッシュロッド10は、ウェハー3の旧カ
セット4から上方への抜出し、および、抜き出されたウ
ェハー3の新カセット5内への差込みを可能にする。こ
のプッシュロッド10を備えた、油圧または空気圧シリ
ンダ、サーボモータ等のアクチュエータ9は、図1およ
び図3に示すように、基台15内の中央部に配置されて
いる。プッシュロッド10の上端10aは、基台15の
上面15aの中央に形成された開口15c(図5(a)
から(f)参照)から出没可能であり、もって、上記開
口15cの上に配置された旧カセット4または新カセッ
ト5の底部の開口4cまたは5cを貫通して上下動可能
である。
セット4から上方への抜出し、および、抜き出されたウ
ェハー3の新カセット5内への差込みを可能にする。こ
のプッシュロッド10を備えた、油圧または空気圧シリ
ンダ、サーボモータ等のアクチュエータ9は、図1およ
び図3に示すように、基台15内の中央部に配置されて
いる。プッシュロッド10の上端10aは、基台15の
上面15aの中央に形成された開口15c(図5(a)
から(f)参照)から出没可能であり、もって、上記開
口15cの上に配置された旧カセット4または新カセッ
ト5の底部の開口4cまたは5cを貫通して上下動可能
である。
【0049】ウェハー載置手段11は、旧カセット4ま
たは新カセット5の底部の開口4cまたは5cを挿通可
能な矩形形状を有しており、その上面に、櫛目状の溝1
1aが形成されている。この櫛目状の溝11aは、ウェ
ハー3の下縁を受け入れるように、円弧状に形成されて
いる。櫛目状の溝11aの幅は、ウェハー3の厚さより
も若干大きく、もって、ウェハー3の櫛目状の溝11a
への差込みを容易にしている。更に、ウェハー載置手段
11の下部における両側縁には、段部11cがそれぞれ
形成されている。
たは新カセット5の底部の開口4cまたは5cを挿通可
能な矩形形状を有しており、その上面に、櫛目状の溝1
1aが形成されている。この櫛目状の溝11aは、ウェ
ハー3の下縁を受け入れるように、円弧状に形成されて
いる。櫛目状の溝11aの幅は、ウェハー3の厚さより
も若干大きく、もって、ウェハー3の櫛目状の溝11a
への差込みを容易にしている。更に、ウェハー載置手段
11の下部における両側縁には、段部11cがそれぞれ
形成されている。
【0050】このように構成されたウェハー載置手段1
1は、プッシュロッド10の上端10aから上方に分離
できるように着脱可能に取り付けられる。ウェハー載置
手段11を、プッシュロッド10の上端10a上に単に
載置するだけでよいが、安定した取付け状態を得るため
に、ウェハー載置手段11の下部およびプッシュロッド
10の上端10aの何れか一方に凹部を形成し、これ等
両者の何れか他方に、上記凹部に嵌合される凸部を形成
することが望ましい。
1は、プッシュロッド10の上端10aから上方に分離
できるように着脱可能に取り付けられる。ウェハー載置
手段11を、プッシュロッド10の上端10a上に単に
載置するだけでよいが、安定した取付け状態を得るため
に、ウェハー載置手段11の下部およびプッシュロッド
10の上端10aの何れか一方に凹部を形成し、これ等
両者の何れか他方に、上記凹部に嵌合される凸部を形成
することが望ましい。
【0051】プッシュロッド10の上端10aにおける
ウェハー載置手段11の安定した取付け状態を得るため
に、図4に示したウェハー載置手段11は、位置決め手
段24を介して、プッシュロッド10の上端10aに取
り付けられている。上記位置決め手段24は、ウェハー
載置手段11の下部に形成された複数個の円形状の孔1
1bと、プッシュロッド10の上端10aに形成され
た、上記円孔11bに嵌合可能な複数本の円柱状のピン
10bとからなっている。上述した孔11bおよびピン
10bの横断面形状が多角形である場合には、位置決め
手段24は、単一の孔11bおよび単一のピン10bか
らなっていてもよい。
ウェハー載置手段11の安定した取付け状態を得るため
に、図4に示したウェハー載置手段11は、位置決め手
段24を介して、プッシュロッド10の上端10aに取
り付けられている。上記位置決め手段24は、ウェハー
載置手段11の下部に形成された複数個の円形状の孔1
1bと、プッシュロッド10の上端10aに形成され
た、上記円孔11bに嵌合可能な複数本の円柱状のピン
10bとからなっている。上述した孔11bおよびピン
10bの横断面形状が多角形である場合には、位置決め
手段24は、単一の孔11bおよび単一のピン10bか
らなっていてもよい。
【0052】保持機構12は、一対の支持アーム13か
らなっており、その各々の一端は、一対の支持アーム1
3が、基台15の上面15aから上方に所定距離だけ離
れた位置における水平面に沿って揺動可能なように、基
台15の上面15aにおける中央部から上方に突出する
支持柱15bに取り付けられている。一対の支持アーム
13の各々の他端部分には、上述したウェハー載置手段
11の段部11cを受け入れるための溝13aが形成さ
れている。保持機構12は、油圧または空気圧シリン
ダ、サーボモータ等のアクチュエータによって駆動さ
れ、この駆動により、一対の支持アーム13は、各々の
先端が相互に近接または離反するように、上述した水平
面に沿って揺動する。
らなっており、その各々の一端は、一対の支持アーム1
3が、基台15の上面15aから上方に所定距離だけ離
れた位置における水平面に沿って揺動可能なように、基
台15の上面15aにおける中央部から上方に突出する
支持柱15bに取り付けられている。一対の支持アーム
13の各々の他端部分には、上述したウェハー載置手段
11の段部11cを受け入れるための溝13aが形成さ
れている。保持機構12は、油圧または空気圧シリン
ダ、サーボモータ等のアクチュエータによって駆動さ
れ、この駆動により、一対の支持アーム13は、各々の
先端が相互に近接または離反するように、上述した水平
面に沿って揺動する。
【0053】カセット交換機構14は、一対の平行なガ
イドレール16、一対のスライドテーブル17、18、
および、スライドテーブル駆動機構(図示せず)からな
っている。
イドレール16、一対のスライドテーブル17、18、
および、スライドテーブル駆動機構(図示せず)からな
っている。
【0054】一対の平行なガイドレール16は、基台1
5の上面15a上に形成された、プッシュロッド10の
上端が出没する開口15cを挟むように、その上面15
a上に配置されている。
5の上面15a上に形成された、プッシュロッド10の
上端が出没する開口15cを挟むように、その上面15
a上に配置されている。
【0055】一対のスライドテーブル17、18は、ガ
イドレール16上に摺動可能に載置されており、その各
々には、プッシュロッド10の上端が出没するための開
口(図示せず)が形成されている。これ等一対のスライ
ドテーブル17、18のうち、一方のスライドテーブル
17は、旧カセット4を載置するために使用され、そし
て、他方のスライドテーブル18は、新カセット5を載
置するために使用される。
イドレール16上に摺動可能に載置されており、その各
々には、プッシュロッド10の上端が出没するための開
口(図示せず)が形成されている。これ等一対のスライ
ドテーブル17、18のうち、一方のスライドテーブル
17は、旧カセット4を載置するために使用され、そし
て、他方のスライドテーブル18は、新カセット5を載
置するために使用される。
【0056】スライドテーブル駆動機構(図示せず)
は、油圧または空気圧シリンダ、サーボモータ等のアク
チュエータからなっており、一対のスライドテーブル1
7、18を、ここに独立してガイドレール16上を摺動
させる。即ち、スライドテーブル駆動機構は、旧カセッ
ト4用スライドテーブル17を、基台15の上面15a
の一方の位置(以下、「旧カセット待機位置」という)
と、基台15の上面15aの中央の位置(以下、「移し
替え位置」という)との間を往復移動させ、そして、新
カセット5用スライドテーブル18を、基台15の上面
15aの他方の位置(以下、「新カセット待機位置」と
いう)と、上記移し替え位置との間を往復移動させる。
は、油圧または空気圧シリンダ、サーボモータ等のアク
チュエータからなっており、一対のスライドテーブル1
7、18を、ここに独立してガイドレール16上を摺動
させる。即ち、スライドテーブル駆動機構は、旧カセッ
ト4用スライドテーブル17を、基台15の上面15a
の一方の位置(以下、「旧カセット待機位置」という)
と、基台15の上面15aの中央の位置(以下、「移し
替え位置」という)との間を往復移動させ、そして、新
カセット5用スライドテーブル18を、基台15の上面
15aの他方の位置(以下、「新カセット待機位置」と
いう)と、上記移し替え位置との間を往復移動させる。
【0057】次に、第1発明の移し替え装置Bにおける
ウェハー3の移し替え工程を、図5(a) から図5(f) を
参照して説明する。
ウェハー3の移し替え工程を、図5(a) から図5(f) を
参照して説明する。
【0058】処理が施された複数枚のウェハー3は、相
互に平行に且つ垂直に旧カセット4に差し込まれてい
る。このようにしてウェハー3を収容した旧カセット4
は、カセット交換機構14によって、図5(a)に示す
ように、旧カセット待機位置から移し替え位置に移送さ
れる。このような状態において、プッシュロッド10の
上端10aは、基台15の上面15aの開口15cから
下方に引っ込められている。
互に平行に且つ垂直に旧カセット4に差し込まれてい
る。このようにしてウェハー3を収容した旧カセット4
は、カセット交換機構14によって、図5(a)に示す
ように、旧カセット待機位置から移し替え位置に移送さ
れる。このような状態において、プッシュロッド10の
上端10aは、基台15の上面15aの開口15cから
下方に引っ込められている。
【0059】次いで、プッシュロッド10を上昇させ
て、その上端10aに着脱可能に取り付けられたウェハ
ー載置手段11の櫛目状の溝11aにウェハー3の下縁
を受け入れ(図5(b)参照)、このような状態で、プ
ッシュロッド10を更に上昇させて、ウェハー3を旧カ
セット4から上方に抜き出し、ウェハー3を所定高さの
位置に持ち上げる(図5(c)参照)。
て、その上端10aに着脱可能に取り付けられたウェハ
ー載置手段11の櫛目状の溝11aにウェハー3の下縁
を受け入れ(図5(b)参照)、このような状態で、プ
ッシュロッド10を更に上昇させて、ウェハー3を旧カ
セット4から上方に抜き出し、ウェハー3を所定高さの
位置に持ち上げる(図5(c)参照)。
【0060】次いで、保持機構12を駆動させることに
よって、一対の支持アーム13を相互に近接させ、もっ
て、一対の支持アーム13の各々の溝13aに、ウェハ
ー載置手段11の段部11cを受け入れ、かくして、旧
カセット4から抜き出されたウェハー3を受け入れたウ
ェハー載置手段11を、プッシュロッド10の上方にお
いて、所定高さの位置に保持する。
よって、一対の支持アーム13を相互に近接させ、もっ
て、一対の支持アーム13の各々の溝13aに、ウェハ
ー載置手段11の段部11cを受け入れ、かくして、旧
カセット4から抜き出されたウェハー3を受け入れたウ
ェハー載置手段11を、プッシュロッド10の上方にお
いて、所定高さの位置に保持する。
【0061】その後、プッシュロッド10を下降させ
て、その上端10aを、一対の支持アーム13によって
支持されたウェハー載置手段11から分離させ、そし
て、プッシュロッド10の下降を継続して、その上端1
0aを、基台15の上面15aの開口15cから下方に
引っ込める。このような状態において、旧カセット4か
ら抜き出されたウェハー3は、一対の支持アーム13に
直接的に接触することなく、ウェハー載置手段11を介
して、一対の支持アーム13によって、プッシュロッド
10の上方において、所定高さの位置に保持される。
て、その上端10aを、一対の支持アーム13によって
支持されたウェハー載置手段11から分離させ、そし
て、プッシュロッド10の下降を継続して、その上端1
0aを、基台15の上面15aの開口15cから下方に
引っ込める。このような状態において、旧カセット4か
ら抜き出されたウェハー3は、一対の支持アーム13に
直接的に接触することなく、ウェハー載置手段11を介
して、一対の支持アーム13によって、プッシュロッド
10の上方において、所定高さの位置に保持される。
【0062】次いで、カセット交換機構14によって、
空の旧カセット4を、移し替え位置から旧カセット待機
位置に移送し、次いで、空の新カセット5を、新カセッ
ト待機位置から移し替え位置に移送し、かくして、旧カ
セット4を新カセット5と入れ換える(図5(d)参
照)。
空の旧カセット4を、移し替え位置から旧カセット待機
位置に移送し、次いで、空の新カセット5を、新カセッ
ト待機位置から移し替え位置に移送し、かくして、旧カ
セット4を新カセット5と入れ換える(図5(d)参
照)。
【0063】次いで、プッシュロッド10を再び上昇さ
せて、その上端10aに設けられたピン10bを、ウェ
ハー載置手段11の下部に形成された孔11b内に挿入
し、このような状態で、保持機構12を駆動させること
によって、一対の支持アーム13の先端を相互に離反さ
せ、もって、一対の支持アーム13の各々の溝13a上
への、ウェハー載置手段11の段部11cの支持を解除
する(図5(e)参照)。
せて、その上端10aに設けられたピン10bを、ウェ
ハー載置手段11の下部に形成された孔11b内に挿入
し、このような状態で、保持機構12を駆動させること
によって、一対の支持アーム13の先端を相互に離反さ
せ、もって、一対の支持アーム13の各々の溝13a上
への、ウェハー載置手段11の段部11cの支持を解除
する(図5(e)参照)。
【0064】次いで、プッシュロッド10を、ウェハー
3を受け入れたウェハー載置手段11と共に下降させ
て、ウェハー3を新カセット5内に差し込み、更に、プ
ッシュロッド10の下降を継続して、ウェハー載置手段
11へのウェハー3の受入れを解除し、その後、プッシ
ュロッド10の上端10aを、ウェハー載置手段11と
共に、基台15の上面15aの開口15cから下方に引
っ込め、かくして、ウェハー3は旧カセット4から新カ
セット5に移し替えられる。
3を受け入れたウェハー載置手段11と共に下降させ
て、ウェハー3を新カセット5内に差し込み、更に、プ
ッシュロッド10の下降を継続して、ウェハー載置手段
11へのウェハー3の受入れを解除し、その後、プッシ
ュロッド10の上端10aを、ウェハー載置手段11と
共に、基台15の上面15aの開口15cから下方に引
っ込め、かくして、ウェハー3は旧カセット4から新カ
セット5に移し替えられる。
【0065】上述したように、第1発明の移し替え装置
Bにおいては、ウェハー載置手段11がプッシュロッド
10の上端10aに着脱可能に取り付けられており、し
かも、ウェハー3を旧カセット4から新カセット5に移
し替える工程において、ウェハー3を、ウェハー載置手
段11に差し込む最初の工程と、ウェハー3を、ウェハ
ー載置手段11から抜き取る最後の工程の2つの工程を
除き、ウェハー3は、ウェハー載置手段11と一体的に
移動し、その間は、ウェハー3のウェハー載置手段11
への差込みおよびそこからの抜取りは一切行われない。
即ち、ウェハー3を旧カセット4から新カセット5に移
し替える場合において、ウェハー載置手段11へのウェ
ハーの差込み回数、および、ウェハー載置手段11から
のウェハーの抜取り回数は、それぞれ1回であり、これ
等は、先行技術1における場合の半分の回数である。従
って、先行技術1の問題点3を解決することができる。
Bにおいては、ウェハー載置手段11がプッシュロッド
10の上端10aに着脱可能に取り付けられており、し
かも、ウェハー3を旧カセット4から新カセット5に移
し替える工程において、ウェハー3を、ウェハー載置手
段11に差し込む最初の工程と、ウェハー3を、ウェハ
ー載置手段11から抜き取る最後の工程の2つの工程を
除き、ウェハー3は、ウェハー載置手段11と一体的に
移動し、その間は、ウェハー3のウェハー載置手段11
への差込みおよびそこからの抜取りは一切行われない。
即ち、ウェハー3を旧カセット4から新カセット5に移
し替える場合において、ウェハー載置手段11へのウェ
ハーの差込み回数、および、ウェハー載置手段11から
のウェハーの抜取り回数は、それぞれ1回であり、これ
等は、先行技術1における場合の半分の回数である。従
って、先行技術1の問題点3を解決することができる。
【0066】また、第1発明の移し替え装置Bにおいて
は、旧カセット4から抜き出されたウェハー3は、一対
の支持アーム13に直接的に接触することなく、ウェハ
ー載置手段11を介して、一対の支持アーム13によっ
て、プッシュロッド10の上方において、所定高さの位
置に保持される。従って、先行技術1の問題点4を解決
することができる。
は、旧カセット4から抜き出されたウェハー3は、一対
の支持アーム13に直接的に接触することなく、ウェハ
ー載置手段11を介して、一対の支持アーム13によっ
て、プッシュロッド10の上方において、所定高さの位
置に保持される。従って、先行技術1の問題点4を解決
することができる。
【0067】次に、第2発明の、半導体用シリコンウェ
ハーの移し替え装置を、図6から図10を参照しながら
説明する。
ハーの移し替え装置を、図6から図10を参照しながら
説明する。
【0068】図6は、第2発明の、半導体用シリコンウ
ェハーの移し替え装置におけるウェハー載置手段を示す
平面図、図7は、図6のX−X線の沿った断面図、図8
は、図6のY−Y線の沿った断面図、図9は、ウェハー
載置手段における複数個の爪および複数個の弾性手段を
示す拡大部分断面図、図10は、図9に示したウェハー
載置手段におけるウェハーの挟持状態を示す拡大部分断
面図である。
ェハーの移し替え装置におけるウェハー載置手段を示す
平面図、図7は、図6のX−X線の沿った断面図、図8
は、図6のY−Y線の沿った断面図、図9は、ウェハー
載置手段における複数個の爪および複数個の弾性手段を
示す拡大部分断面図、図10は、図9に示したウェハー
載置手段におけるウェハーの挟持状態を示す拡大部分断
面図である。
【0069】第2発明の、半導体用シリコンウェハーの
移し替え装置は、ウェハー載置手段19が、上面に櫛目
状の溝が形成されたグリップ本体と、前記グリップ本体
に、前記溝と直交する方向に摺動可能に取り付けられた
スライド板と、前記スライド板に設けられた、前記ウェ
ハーの下縁を前記溝に押し付けるための複数個の爪と、
前記爪の各々に独立して押付け力を付与するための複数
個の弾性手段とからなっていることを除き、先行技術1
の、上述した半導体用シリコンウェハーの移し替え装置
と同一である。従って、これ等の共通の構成要素である
プッシュロッド1、保持機構2およびカセット交換機構
の説明を省略する。
移し替え装置は、ウェハー載置手段19が、上面に櫛目
状の溝が形成されたグリップ本体と、前記グリップ本体
に、前記溝と直交する方向に摺動可能に取り付けられた
スライド板と、前記スライド板に設けられた、前記ウェ
ハーの下縁を前記溝に押し付けるための複数個の爪と、
前記爪の各々に独立して押付け力を付与するための複数
個の弾性手段とからなっていることを除き、先行技術1
の、上述した半導体用シリコンウェハーの移し替え装置
と同一である。従って、これ等の共通の構成要素である
プッシュロッド1、保持機構2およびカセット交換機構
の説明を省略する。
【0070】プッシュロッド1の上端に固定されたウェ
ハー載置手段19は、グリップ本体20と、スライド板
21と、複数個の爪22と、複数個の弾性手段23とか
らなっている。
ハー載置手段19は、グリップ本体20と、スライド板
21と、複数個の爪22と、複数個の弾性手段23とか
らなっている。
【0071】グリップ本体20は、図6に示すように、
その両側部および中央部に上方に突出して形成された3
つのガイドブロック20aを有してこれ等ガイドブロッ
ク20a間には、ガイド溝20bがそれぞれ形成されて
いる。これ等ガイドブロック20aの各々には、等間隔
および等ピッチで、櫛目状の溝20cが形成されてお
り、各ガイドブロック20a毎の櫛目状の溝20cは、
相互に対応する位置に形成されている。櫛目状の溝20
cの幅は、ウェハー3の厚さよりも若干大きく、もっ
て、ウェハー3の櫛目状の溝20cへの差込みを容易に
している。
その両側部および中央部に上方に突出して形成された3
つのガイドブロック20aを有してこれ等ガイドブロッ
ク20a間には、ガイド溝20bがそれぞれ形成されて
いる。これ等ガイドブロック20aの各々には、等間隔
および等ピッチで、櫛目状の溝20cが形成されてお
り、各ガイドブロック20a毎の櫛目状の溝20cは、
相互に対応する位置に形成されている。櫛目状の溝20
cの幅は、ウェハー3の厚さよりも若干大きく、もっ
て、ウェハー3の櫛目状の溝20cへの差込みを容易に
している。
【0072】図8に示すように、グリップ本体20は、
その内部に、長さ方向に伸びるスライド溝20dを有し
ており、このスライド溝20dは、上述したガイド溝2
0bとそれぞれ連通している。
その内部に、長さ方向に伸びるスライド溝20dを有し
ており、このスライド溝20dは、上述したガイド溝2
0bとそれぞれ連通している。
【0073】スライド板21は、グリップ本体20のス
ライド溝20d内に、ガイドブロック20aの櫛目状の
溝20cと直交する方向に往復摺動可能に配置されてい
る。スライド板21の上面には、上方に伸びる複数個の
仕切り板21aからなる2つの平行な列α、βが、スラ
イド板21の長さ方向に沿って形成されている。即ち、
上述した列α、βを構成する複数個の仕切り板21a
は、ガイドブロック20a間のガイド溝20bの各々に
対応する位置において、グリップ本体20における櫛目
状の溝20cのピッチの約2倍のピッチをもって、スラ
イド板21の上面に形成されている。但し、一方の列α
における複数個の仕切り板21aは、他方の列βにおけ
る複数個の仕切り板21aと、それ等のピッチの半分の
距離だけ変位して配置されている。スライド板21の一
端、即ち、図7における左側端と、グリップ本体20の
先端の壁20eとの間には、スプリング27が配置され
ており、このスプリング27の作用により、スライド板
21は、グリップ本体20の後端の壁20fに押圧され
ている。
ライド溝20d内に、ガイドブロック20aの櫛目状の
溝20cと直交する方向に往復摺動可能に配置されてい
る。スライド板21の上面には、上方に伸びる複数個の
仕切り板21aからなる2つの平行な列α、βが、スラ
イド板21の長さ方向に沿って形成されている。即ち、
上述した列α、βを構成する複数個の仕切り板21a
は、ガイドブロック20a間のガイド溝20bの各々に
対応する位置において、グリップ本体20における櫛目
状の溝20cのピッチの約2倍のピッチをもって、スラ
イド板21の上面に形成されている。但し、一方の列α
における複数個の仕切り板21aは、他方の列βにおけ
る複数個の仕切り板21aと、それ等のピッチの半分の
距離だけ変位して配置されている。スライド板21の一
端、即ち、図7における左側端と、グリップ本体20の
先端の壁20eとの間には、スプリング27が配置され
ており、このスプリング27の作用により、スライド板
21は、グリップ本体20の後端の壁20fに押圧され
ている。
【0074】複数個の爪22の各々は、その下部に、筒
状のスプリング受け22aを一体的に備えている。この
ように構成された複数個の爪22は、図7に示すよう
に、スライド板21に形成された複数個の仕切り板21
a間の複数の隙間にそれぞれ配置されている。
状のスプリング受け22aを一体的に備えている。この
ように構成された複数個の爪22は、図7に示すよう
に、スライド板21に形成された複数個の仕切り板21
a間の複数の隙間にそれぞれ配置されている。
【0075】複数個の弾性手段23は金属製のコイルス
プリングからなっており、その各々の一端は、上述した
複数個の爪22の各々の筒状のスプリング受け22a内
に挿入され、その各々の他端は、スライド板21の複数
個の仕切り板21aの各々に接触している。このように
して、複数個の弾性手段23は、複数個の爪22の各々
に独立して押付け力を付与する。なお、複数個の弾性手
段23は金属性のコイルスプリングからなものとして説
明したが、複数個の爪22の各々に独立して押付け力を
付与することができるものであれば、その形状および材
質は任意であり、例えば、金属製の板ばね、ゴム等の弾
性体からなるブロックを、弾性手段23として使用して
もよい。
プリングからなっており、その各々の一端は、上述した
複数個の爪22の各々の筒状のスプリング受け22a内
に挿入され、その各々の他端は、スライド板21の複数
個の仕切り板21aの各々に接触している。このように
して、複数個の弾性手段23は、複数個の爪22の各々
に独立して押付け力を付与する。なお、複数個の弾性手
段23は金属性のコイルスプリングからなものとして説
明したが、複数個の爪22の各々に独立して押付け力を
付与することができるものであれば、その形状および材
質は任意であり、例えば、金属製の板ばね、ゴム等の弾
性体からなるブロックを、弾性手段23として使用して
もよい。
【0076】上述したスライド板21の下面において、
図7における右側の位置には、下方に向って突出する突
起21bが形成されている。一方、基台15における移
し替え位置の近傍には、図7に示すように、油圧または
空気圧シリンダ、サーボモータ等のアクチュエータ25
が配置されている。このアクチュエータ25は、その操
作ロッド25aの先端を、スライド板21の上記突起2
1bに接触させ、上記操作ロッド25aを押し出すこと
によって、グリップ本体20に対して、スプリング27
に抗して、スライド板21を複数個の爪22と共に、一
方に摺動させる。
図7における右側の位置には、下方に向って突出する突
起21bが形成されている。一方、基台15における移
し替え位置の近傍には、図7に示すように、油圧または
空気圧シリンダ、サーボモータ等のアクチュエータ25
が配置されている。このアクチュエータ25は、その操
作ロッド25aの先端を、スライド板21の上記突起2
1bに接触させ、上記操作ロッド25aを押し出すこと
によって、グリップ本体20に対して、スプリング27
に抗して、スライド板21を複数個の爪22と共に、一
方に摺動させる。
【0077】更に、上述したウェハー載置手段19のグ
リップ本体20は、図7に示すように、スライド板21
を不動に保持するためのロック機構26を備えている。
このロック機構26は、グリップ本体20の下面におい
て、図7における左側の位置に揺動可能に連結されたフ
ック26aと、上記フック26aが係合するように、ス
ライド板21の下面に突出したストッパ21cとからな
っている。上述したように構成されたロック機構26
は、ウェハー載置手段19の櫛目状の溝20c内にウェ
ハー3が載置された状態において、複数個の弾性手段2
3により複数個の爪22の各々に独立して押付け力を付
与した状態を維持する。
リップ本体20は、図7に示すように、スライド板21
を不動に保持するためのロック機構26を備えている。
このロック機構26は、グリップ本体20の下面におい
て、図7における左側の位置に揺動可能に連結されたフ
ック26aと、上記フック26aが係合するように、ス
ライド板21の下面に突出したストッパ21cとからな
っている。上述したように構成されたロック機構26
は、ウェハー載置手段19の櫛目状の溝20c内にウェ
ハー3が載置された状態において、複数個の弾性手段2
3により複数個の爪22の各々に独立して押付け力を付
与した状態を維持する。
【0078】上述したように構成されたウェハー載置手
段19は、グリップ本体20の下面において、プッシュ
ロッド位置の上端に固定される。
段19は、グリップ本体20の下面において、プッシュ
ロッド位置の上端に固定される。
【0079】上述したウェハー載置手段19を備えた、
第2発明の、半導体用シリコンウェハーの移し替え装置
を使用した、ウェハー3の移し替え工程は、ウェハー3
の下縁がウェハー載置手段19によって挟持されること
を除き、図11(a)から図11(f)を参照して説明
した、先行技術1の装置における移し替え工程と同一で
ある。従って、第2発明の装置における移し替え工程
を、図11(a)から図11(f)、および、図6から
図10を参照して説明する。
第2発明の、半導体用シリコンウェハーの移し替え装置
を使用した、ウェハー3の移し替え工程は、ウェハー3
の下縁がウェハー載置手段19によって挟持されること
を除き、図11(a)から図11(f)を参照して説明
した、先行技術1の装置における移し替え工程と同一で
ある。従って、第2発明の装置における移し替え工程
を、図11(a)から図11(f)、および、図6から
図10を参照して説明する。
【0080】処理が施された複数枚のウェハー3は、相
互に平行に且つ垂直に旧カセット4に差し込まれてい
る。このようにしてウェハー3を収容した旧カセット4
は、カセット交換機構によって、図11(a)に示すよ
うに、下方に引っ込められたプッシュロッド1の上方に
移送される。
互に平行に且つ垂直に旧カセット4に差し込まれてい
る。このようにしてウェハー3を収容した旧カセット4
は、カセット交換機構によって、図11(a)に示すよ
うに、下方に引っ込められたプッシュロッド1の上方に
移送される。
【0081】次いで、ウェハー載置手段19の櫛目状の
溝20c内にウェハー3の下縁が差し込まれるまで、プ
ッシュロッド1を上昇させる。このような状態で、図7
に示されたアクチュエータ25を駆動させて、その操作
ロッド25aを押し出すことによって、ウェハー載置手
段19において、スプリング27に抗して、スライド板
21を複数個の爪22と共に、一方に摺動させ、そし
て、ウェハー載置手段19におけるロック機構26のフ
ック26aを、スライド板21の下面に突出したストッ
パ21cに係合させる。スライド板21を複数個の爪2
2と共に、上述したように摺動させると、複数枚のウェ
ハー3の各々の下縁は、ウェハー載置手段19の櫛目状
の溝20cの一方の壁と、複数個の爪22の各々との間
に、複数個の弾性手段23による独立した押付け力によ
って、個々に挟持される。
溝20c内にウェハー3の下縁が差し込まれるまで、プ
ッシュロッド1を上昇させる。このような状態で、図7
に示されたアクチュエータ25を駆動させて、その操作
ロッド25aを押し出すことによって、ウェハー載置手
段19において、スプリング27に抗して、スライド板
21を複数個の爪22と共に、一方に摺動させ、そし
て、ウェハー載置手段19におけるロック機構26のフ
ック26aを、スライド板21の下面に突出したストッ
パ21cに係合させる。スライド板21を複数個の爪2
2と共に、上述したように摺動させると、複数枚のウェ
ハー3の各々の下縁は、ウェハー載置手段19の櫛目状
の溝20cの一方の壁と、複数個の爪22の各々との間
に、複数個の弾性手段23による独立した押付け力によ
って、個々に挟持される。
【0082】次いで、上記アクチュエータ25を駆動さ
せて、その操作ロッド25aを引っ込め、このような状
態で、プッシュロッド1を更に上昇させて、ウェハー3
を旧カセット4から上方に抜き出し、ウェハー3を所定
高さの位置に持ち上げる(図11(c)参照)。
せて、その操作ロッド25aを引っ込め、このような状
態で、プッシュロッド1を更に上昇させて、ウェハー3
を旧カセット4から上方に抜き出し、ウェハー3を所定
高さの位置に持ち上げる(図11(c)参照)。
【0083】次いで、保持機構2を駆動させることによ
って、一対の支持アーム2aを相互に近接させ、もっ
て、一対の支持アーム2aの各々の櫛目状の溝2bにウ
ェハー3の両側縁を受け入れながら、一対の支持アーム
2aによって、ウェハー3を挟持し、かくして、旧カセ
ット4から抜き出されたウェハー3を、プッシュロッド
1の上方において、所定高さの位置に保持する。
って、一対の支持アーム2aを相互に近接させ、もっ
て、一対の支持アーム2aの各々の櫛目状の溝2bにウ
ェハー3の両側縁を受け入れながら、一対の支持アーム
2aによって、ウェハー3を挟持し、かくして、旧カセ
ット4から抜き出されたウェハー3を、プッシュロッド
1の上方において、所定高さの位置に保持する。
【0084】このような状態で、ウェハー載置手段19
におけるロック機構26のフック26aを、スライド板
21のストッパ21cから外すことによって、ウェハー
3の各々の下縁の、ウェハー載置手段19における挟持
を解除する。
におけるロック機構26のフック26aを、スライド板
21のストッパ21cから外すことによって、ウェハー
3の各々の下縁の、ウェハー載置手段19における挟持
を解除する。
【0085】その後、プッシュロッド1を下降させて、
ウェハー載置手段19を、旧カセット4の下方に位置
し、そして、カセット交換機構、旧カセット4を新カセ
ット5と入れ換える(図11(d)参照)。
ウェハー載置手段19を、旧カセット4の下方に位置
し、そして、カセット交換機構、旧カセット4を新カセ
ット5と入れ換える(図11(d)参照)。
【0086】次いで、ウェハー載置手段19の櫛目状の
溝20c内にウェハー3の下縁が差し込まれるまで、プ
ッシュロッド1を再び上昇させる。このような状態で、
図7に示されたアクチュエータ25と同様の手段を用い
て、ウェハー載置手段19において、スプリング27に
抗して、スライド板21を複数個の爪22と共に、一方
に摺動させ、そして、ウェハー載置手段19におけるロ
ック機構26のフック26aを、スライド板21の下面
に突出したストッパ21cに係合させる。スライド板2
1を複数個の爪22と共に、上述したように摺動させる
と、複数枚のウェハー3の各々の下縁は、ウェハー載置
手段19の櫛目状の溝20cの一方の壁と、複数個の爪
22の各々との間に、複数個の弾性手段23による独立
した押付け力によって、個々に挟持される。
溝20c内にウェハー3の下縁が差し込まれるまで、プ
ッシュロッド1を再び上昇させる。このような状態で、
図7に示されたアクチュエータ25と同様の手段を用い
て、ウェハー載置手段19において、スプリング27に
抗して、スライド板21を複数個の爪22と共に、一方
に摺動させ、そして、ウェハー載置手段19におけるロ
ック機構26のフック26aを、スライド板21の下面
に突出したストッパ21cに係合させる。スライド板2
1を複数個の爪22と共に、上述したように摺動させる
と、複数枚のウェハー3の各々の下縁は、ウェハー載置
手段19の櫛目状の溝20cの一方の壁と、複数個の爪
22の各々との間に、複数個の弾性手段23による独立
した押付け力によって、個々に挟持される。
【0087】このような状態で、保持機構2を駆動させ
ることによって、一対の支持アーム2aを相互に離反さ
せ、もって、ウェハー3の両側縁を、一対の支持アーム
2aの各々の櫛目状の溝2bから離す(図11(e)参
照)。
ることによって、一対の支持アーム2aを相互に離反さ
せ、もって、ウェハー3の両側縁を、一対の支持アーム
2aの各々の櫛目状の溝2bから離す(図11(e)参
照)。
【0088】次いで、ウェハー載置手段19の櫛目状の
溝20cにウェハー3の下縁を受け入れたプッシュロッ
ド1を下降させて、ウェハー3を新カセット5内に差し
込み、その後、ウェハー載置手段19におけるロック機
構26のフック26aを、スライド板21のストッパ2
1cから外すことによって、ウェハー3の各々の下縁
の、ウェハー載置手段19における挟持を解除し、かく
して、ウェハー3は旧カセット4から新カセット5に移
し替えられる。
溝20cにウェハー3の下縁を受け入れたプッシュロッ
ド1を下降させて、ウェハー3を新カセット5内に差し
込み、その後、ウェハー載置手段19におけるロック機
構26のフック26aを、スライド板21のストッパ2
1cから外すことによって、ウェハー3の各々の下縁
の、ウェハー載置手段19における挟持を解除し、かく
して、ウェハー3は旧カセット4から新カセット5に移
し替えられる。
【0089】上述したウェハー載置手段19を備えた、
第2発明の、半導体用シリコンウェハーの移し替え装置
によれば、ウェハー3を旧カセット4から新カセット5
に移し替える際に、複数枚のウェハー3の各々の下縁
は、ウェハー載置手段19の櫛目状の溝20cの一方の
壁と、複数個の爪22の各々との間に、複数個の弾性手
段23による独立した押付け力によって、個々に挟持さ
れるので、プッシュロッド1を上昇または下降させる際
に、プッシュロッド1が振動しても、ウェハー3の櫛目
状の溝20c内での不安定な微動が回避され、その結
果、ウェハー3の下縁とウェハー載置手段19との摩擦
に起因するダストの発生が防止され、かくして、先行技
術1の問題点1を解決することができる。その結果、プ
ッシュロッド1の上昇または下降速度を高速化しても、
ダストの発生を抑制することができ、生産効率を向上す
ることができ、かくして、先行技術1の問題点2を解決
することもできる。
第2発明の、半導体用シリコンウェハーの移し替え装置
によれば、ウェハー3を旧カセット4から新カセット5
に移し替える際に、複数枚のウェハー3の各々の下縁
は、ウェハー載置手段19の櫛目状の溝20cの一方の
壁と、複数個の爪22の各々との間に、複数個の弾性手
段23による独立した押付け力によって、個々に挟持さ
れるので、プッシュロッド1を上昇または下降させる際
に、プッシュロッド1が振動しても、ウェハー3の櫛目
状の溝20c内での不安定な微動が回避され、その結
果、ウェハー3の下縁とウェハー載置手段19との摩擦
に起因するダストの発生が防止され、かくして、先行技
術1の問題点1を解決することができる。その結果、プ
ッシュロッド1の上昇または下降速度を高速化しても、
ダストの発生を抑制することができ、生産効率を向上す
ることができ、かくして、先行技術1の問題点2を解決
することもできる。
【0090】更に、上述したウェハー載置手段19にお
いては、複数枚のウェハー3の各々の下縁は、ウェハー
載置手段19の櫛目状の溝20cの一方の壁と、複数個
の爪22の各々との間に、複数個の弾性手段23による
独立した押付け力によって、個々に挟持されるので、ウ
ェハー載置手段19における櫛目状の溝20cの加工精
度を厳密に管理する必要がない。また、図10に示すよ
うに、ウェハー載置手段19のある櫛目状の溝20c内
にウェハー3が配置されなくても、これによって、他の
ウェハー3の下縁における挟持に影響を与えることはな
く、かくして、先行技術2の問題点を解決することがで
きる。
いては、複数枚のウェハー3の各々の下縁は、ウェハー
載置手段19の櫛目状の溝20cの一方の壁と、複数個
の爪22の各々との間に、複数個の弾性手段23による
独立した押付け力によって、個々に挟持されるので、ウ
ェハー載置手段19における櫛目状の溝20cの加工精
度を厳密に管理する必要がない。また、図10に示すよ
うに、ウェハー載置手段19のある櫛目状の溝20c内
にウェハー3が配置されなくても、これによって、他の
ウェハー3の下縁における挟持に影響を与えることはな
く、かくして、先行技術2の問題点を解決することがで
きる。
【0091】第2発明の、半導体用シリコンウェハーの
移し替え装置の上述したウェハー載置手段19によれ
ば、スライド板21において、一方の列αにおける複数
個の仕切り板21aは、他方の列βにおける複数個の仕
切り板21aと、それ等のピッチの半分の距離だけ変位
して配置されており、このように構成された複数個の仕
切り板21a間の複数の隙間に、複数個の爪22がそれ
ぞれ配置されている。従って、スライド板21における
上述した一方の列α上の複数個の爪22は、上述した他
方の列β上の複数個の爪22と、それ等のピッチの半分
の距離だけ変位して配置されている。このように構成す
ることによって、ウェハー載置手段19の櫛目状の溝2
0cのピッチを、複数個の爪22の各々を配置するため
に要求されるスペースの半分に減少させることができ、
かくして、ウェハー載置手段19を大型化することな
く、そこにおけるウェハー3の収容能力を向上させるこ
とができる。
移し替え装置の上述したウェハー載置手段19によれ
ば、スライド板21において、一方の列αにおける複数
個の仕切り板21aは、他方の列βにおける複数個の仕
切り板21aと、それ等のピッチの半分の距離だけ変位
して配置されており、このように構成された複数個の仕
切り板21a間の複数の隙間に、複数個の爪22がそれ
ぞれ配置されている。従って、スライド板21における
上述した一方の列α上の複数個の爪22は、上述した他
方の列β上の複数個の爪22と、それ等のピッチの半分
の距離だけ変位して配置されている。このように構成す
ることによって、ウェハー載置手段19の櫛目状の溝2
0cのピッチを、複数個の爪22の各々を配置するため
に要求されるスペースの半分に減少させることができ、
かくして、ウェハー載置手段19を大型化することな
く、そこにおけるウェハー3の収容能力を向上させるこ
とができる。
【0092】上述したウェハー載置手段19におけるウ
ェハー3の収容能力を向上させる必要がない場合には、
複数個の爪22が配置された上述した列は単一の列でよ
く、また、ウェハー載置手段19におけるウェハー3の
収容能力を更に向上させる必要がある場合には、複数個
の爪22が配置された上述した2つの列α、βにおける
と同様の方法で、複数個の爪22が配置された3以上の
列を形成することも可能である。
ェハー3の収容能力を向上させる必要がない場合には、
複数個の爪22が配置された上述した列は単一の列でよ
く、また、ウェハー載置手段19におけるウェハー3の
収容能力を更に向上させる必要がある場合には、複数個
の爪22が配置された上述した2つの列α、βにおける
と同様の方法で、複数個の爪22が配置された3以上の
列を形成することも可能である。
【0093】上述したウェハー載置手段19は、プッシ
ュロッドの上端に固定されたものとして説明したが、こ
のウェハー載置手段19を、第1発明の、半導体用シリ
コンウェハーの上述した移し替え装置Bにおけるウェハ
ー載置手段11に適用することができる。その場合に
は、図4に示された態様と同様に、プッシュロッドの上
端にピン10bを形成し、そして、ウェハー載置手段1
9の下部に段部11cおよび上記ピン10bを差し込む
ための孔11bを形成する。
ュロッドの上端に固定されたものとして説明したが、こ
のウェハー載置手段19を、第1発明の、半導体用シリ
コンウェハーの上述した移し替え装置Bにおけるウェハ
ー載置手段11に適用することができる。その場合に
は、図4に示された態様と同様に、プッシュロッドの上
端にピン10bを形成し、そして、ウェハー載置手段1
9の下部に段部11cおよび上記ピン10bを差し込む
ための孔11bを形成する。
【0094】次に、図6から図10を参照して上述した
ウェハー載置手段19を、第1発明の、半導体用シリコ
ンウェハーの上述した移し替え装置Bにおけるウェハー
載置手段11に適用した場合における、ウェハー3の移
し替え工程を、図5(a) から図5(f) 、および、図6か
ら図10を参照して説明する。
ウェハー載置手段19を、第1発明の、半導体用シリコ
ンウェハーの上述した移し替え装置Bにおけるウェハー
載置手段11に適用した場合における、ウェハー3の移
し替え工程を、図5(a) から図5(f) 、および、図6か
ら図10を参照して説明する。
【0095】処理が施された複数枚のウェハー3は、相
互に平行に且つ垂直に旧カセット4に差し込まれてい
る。このようにしてウェハー3を収容した旧カセット4
は、カセット交換機構14によって、図5(a)に示す
ように、旧カセット待機位置から移し替え位置に移送さ
れる。このような状態において、プッシュロッド10の
上端10aは、基台15の上面15aの開口15cから
下方に引っ込められている。
互に平行に且つ垂直に旧カセット4に差し込まれてい
る。このようにしてウェハー3を収容した旧カセット4
は、カセット交換機構14によって、図5(a)に示す
ように、旧カセット待機位置から移し替え位置に移送さ
れる。このような状態において、プッシュロッド10の
上端10aは、基台15の上面15aの開口15cから
下方に引っ込められている。
【0096】次いで、ウェハー載置手段19の櫛目状の
溝20c内にウェハー3の下縁が差し込まれるまで、プ
ッシュロッド10を上昇させる(図5(b)参照)。こ
のような状態で、図7に示されたアクチュエータ25を
駆動させて、その操作ロッド25aを押し出すことによ
って、ウェハー載置手段19において、スプリング27
に抗して、スライド板21を複数個の爪22と共に、一
方に摺動させ、そして、ウェハー載置手段19における
ロック機構26のフック26aを、スライド板21の下
面に突出したストッパ21cに係合させる。スライド板
21を複数個の爪22と共に、上述したように摺動させ
ると、複数枚のウェハー3の各々の下縁は、ウェハー載
置手段19の櫛目状の溝20cの一方の壁と、複数個の
爪22の各々との間に、複数個の弾性手段23による独
立した押付け力によって、個々に挟持される。
溝20c内にウェハー3の下縁が差し込まれるまで、プ
ッシュロッド10を上昇させる(図5(b)参照)。こ
のような状態で、図7に示されたアクチュエータ25を
駆動させて、その操作ロッド25aを押し出すことによ
って、ウェハー載置手段19において、スプリング27
に抗して、スライド板21を複数個の爪22と共に、一
方に摺動させ、そして、ウェハー載置手段19における
ロック機構26のフック26aを、スライド板21の下
面に突出したストッパ21cに係合させる。スライド板
21を複数個の爪22と共に、上述したように摺動させ
ると、複数枚のウェハー3の各々の下縁は、ウェハー載
置手段19の櫛目状の溝20cの一方の壁と、複数個の
爪22の各々との間に、複数個の弾性手段23による独
立した押付け力によって、個々に挟持される。
【0097】次いで、上記アクチュエータ25を駆動さ
せて、その操作ロッド25aを引っ込め、このような状
態で、プッシュロッド10を更に上昇させて、ウェハー
3を旧カセット4から上方に抜き出し、ウェハー3を所
定高さの位置に持ち上げる(図5(c)参照)。
せて、その操作ロッド25aを引っ込め、このような状
態で、プッシュロッド10を更に上昇させて、ウェハー
3を旧カセット4から上方に抜き出し、ウェハー3を所
定高さの位置に持ち上げる(図5(c)参照)。
【0098】次いで、保持機構12を駆動させることに
よって、一対の支持アーム13を相互に近接させ、もっ
て、一対の支持アーム13の各々の溝13aに、ウェハ
ー載置手段19の段部11cを受け入れ、かくして、旧
カセット4から抜き出されたウェハー3を受け入れたウ
ェハー載置手段19を、プッシュロッド10の上方にお
いて、所定高さの位置に保持する。
よって、一対の支持アーム13を相互に近接させ、もっ
て、一対の支持アーム13の各々の溝13aに、ウェハ
ー載置手段19の段部11cを受け入れ、かくして、旧
カセット4から抜き出されたウェハー3を受け入れたウ
ェハー載置手段19を、プッシュロッド10の上方にお
いて、所定高さの位置に保持する。
【0099】その後、プッシュロッド10を下降させ
て、その上端10aを、一対の支持アーム13によって
支持されたウェハー載置手段19から分離させ、そし
て、プッシュロッド10の下降を継続して、その上端1
0aを、基台15の上面15aの開口15cから下方に
引っ込める。このような状態において、旧カセット4か
ら抜き出されたウェハー3は、一対の支持アーム13に
直接的に接触することなく、ウェハー載置手段11を介
して、一対の支持アーム13によって、プッシュロッド
10の上方において、所定高さの位置に保持される。
て、その上端10aを、一対の支持アーム13によって
支持されたウェハー載置手段19から分離させ、そし
て、プッシュロッド10の下降を継続して、その上端1
0aを、基台15の上面15aの開口15cから下方に
引っ込める。このような状態において、旧カセット4か
ら抜き出されたウェハー3は、一対の支持アーム13に
直接的に接触することなく、ウェハー載置手段11を介
して、一対の支持アーム13によって、プッシュロッド
10の上方において、所定高さの位置に保持される。
【0100】次いで、カセット交換機構14によって、
空の旧カセット4を、移し替え位置から旧カセット待機
位置に移送し、次いで、空の新カセット5を、新カセッ
ト待機位置から移し替え位置に移送し、かくして、旧カ
セット4を新カセット5と入れ換える(図5(d)参
照)。
空の旧カセット4を、移し替え位置から旧カセット待機
位置に移送し、次いで、空の新カセット5を、新カセッ
ト待機位置から移し替え位置に移送し、かくして、旧カ
セット4を新カセット5と入れ換える(図5(d)参
照)。
【0101】次いで、プッシュロッド10を再び上昇さ
せて、その上端10aに設けられたピン10bを、ウェ
ハー載置手段19の下部に形成された孔11b内に挿入
し、このような状態で、保持機構12を駆動させること
によって、一対の支持アーム13の先端を相互に離反さ
せ、もって、一対の支持アーム13の各々の溝13a上
への、ウェハー載置手段19の段部11cの支持を解除
する(図5(e)参照)。
せて、その上端10aに設けられたピン10bを、ウェ
ハー載置手段19の下部に形成された孔11b内に挿入
し、このような状態で、保持機構12を駆動させること
によって、一対の支持アーム13の先端を相互に離反さ
せ、もって、一対の支持アーム13の各々の溝13a上
への、ウェハー載置手段19の段部11cの支持を解除
する(図5(e)参照)。
【0102】次いで、プッシュロッド10を、ウェハー
3を受け入れたウェハー載置手段19と共に下降させ
て、ウェハー3を新カセット5内に差し込み、その後、
ウェハー載置手段19におけるロック機構26のフック
26aを、スライド板21のストッパ21cから外すこ
とによって、ウェハー3の各々の下縁の、ウェハー載置
手段19における挟持を解除する。
3を受け入れたウェハー載置手段19と共に下降させ
て、ウェハー3を新カセット5内に差し込み、その後、
ウェハー載置手段19におけるロック機構26のフック
26aを、スライド板21のストッパ21cから外すこ
とによって、ウェハー3の各々の下縁の、ウェハー載置
手段19における挟持を解除する。
【0103】その後、プッシュロッド10の下降を継続
して、ウェハー載置手段19へのウェハー3の受入れを
解除し、その後、プッシュロッド10の上端10aを、
ウェハー載置手段19と共に、基台15の上面15aの
開口15cから下方に引っ込め、かくして、ウェハー3
は旧カセット4から新カセット5に移し替えられる。
して、ウェハー載置手段19へのウェハー3の受入れを
解除し、その後、プッシュロッド10の上端10aを、
ウェハー載置手段19と共に、基台15の上面15aの
開口15cから下方に引っ込め、かくして、ウェハー3
は旧カセット4から新カセット5に移し替えられる。
【0104】上述したように、ウェハー載置手段19
を、第1発明の、半導体用シリコンウェハーの上述した
移し替え装置Bにおけるウェハー載置手段11に適用す
れば、下記効果をもたらすことができる。
を、第1発明の、半導体用シリコンウェハーの上述した
移し替え装置Bにおけるウェハー載置手段11に適用す
れば、下記効果をもたらすことができる。
【0105】 ウェハー3を旧カセット4から新カセ
ット5に移し替える際に、複数枚のウェハー3の各々の
下縁は、ウェハー載置手段19の櫛目状の溝20cの一
方の壁と、複数個の爪22の各々との間に、複数個の弾
性手段23による独立した押付け力によって、個々に挟
持されるので、先行技術1の問題点1を解決することが
できる。
ット5に移し替える際に、複数枚のウェハー3の各々の
下縁は、ウェハー載置手段19の櫛目状の溝20cの一
方の壁と、複数個の爪22の各々との間に、複数個の弾
性手段23による独立した押付け力によって、個々に挟
持されるので、先行技術1の問題点1を解決することが
できる。
【0106】 その結果、プッシュロッド1の上昇ま
たは下降速度を高速化しても、ダストの発生を抑制する
ことができ、生産効率を向上することができ、かくし
て、先行技術1の問題点2を解決することができる。
たは下降速度を高速化しても、ダストの発生を抑制する
ことができ、生産効率を向上することができ、かくし
て、先行技術1の問題点2を解決することができる。
【0107】 ウェハー載置手段19がプッシュロッ
ド10の上端10aに着脱可能に取り付けられており、
しかも、ウェハー3を旧カセット4から新カセット5に
移し替える工程において、ウェハー3を、ウェハー載置
手段19に差し込む最初の工程と、ウェハー3を、ウェ
ハー載置手段19から抜き取る最後の工程の2つの工程
を除き、ウェハー3は、ウェハー載置手段19と一体的
に移動し、その間は、ウェハー3のウェハー載置手段1
9への差込みおよびそこからの抜取りは一切行われな
い。即ち、ウェハー3を旧カセット4から新カセット5
に移し替える場合において、ウェハー載置手段19への
ウェハーの差込み回数、および、ウェハー載置手段19
からのウェハーの抜取り回数は、それぞれ1回であり、
これ等は、先行技術1における場合の半分の回数であ
り、かくして、先行技術1の問題点3を解決することが
できる。
ド10の上端10aに着脱可能に取り付けられており、
しかも、ウェハー3を旧カセット4から新カセット5に
移し替える工程において、ウェハー3を、ウェハー載置
手段19に差し込む最初の工程と、ウェハー3を、ウェ
ハー載置手段19から抜き取る最後の工程の2つの工程
を除き、ウェハー3は、ウェハー載置手段19と一体的
に移動し、その間は、ウェハー3のウェハー載置手段1
9への差込みおよびそこからの抜取りは一切行われな
い。即ち、ウェハー3を旧カセット4から新カセット5
に移し替える場合において、ウェハー載置手段19への
ウェハーの差込み回数、および、ウェハー載置手段19
からのウェハーの抜取り回数は、それぞれ1回であり、
これ等は、先行技術1における場合の半分の回数であ
り、かくして、先行技術1の問題点3を解決することが
できる。
【0108】 旧カセット4から抜き出されたウェハ
ー3は、一対の支持アーム13に直接的に接触すること
なく、ウェハー載置手段19を介して、一対の支持アー
ム13によって、プッシュロッド10の上方において、
所定高さの位置に保持され、かくして、先行技術1の問
題点4を解決することができる。
ー3は、一対の支持アーム13に直接的に接触すること
なく、ウェハー載置手段19を介して、一対の支持アー
ム13によって、プッシュロッド10の上方において、
所定高さの位置に保持され、かくして、先行技術1の問
題点4を解決することができる。
【0109】 複数枚のウェハー3の各々の下縁は、
ウェハー載置手段19の櫛目状の溝20cの一方の壁
と、複数個の爪22の各々との間に、複数個の弾性手段
23による独立した押付け力によって、個々に挟持され
るので、ウェハー載置手段19における櫛目状の溝20
cの加工精度を厳密に管理する必要がない。また、図1
0に示すように、ウェハー載置手段19のある櫛目状の
溝20c内にウェハー3が配置されなくても、これによ
って、他のウェハー3の下縁における挟持に影響を与え
ることはなく、かくして、先行技術2の問題点を解決す
ることができる。
ウェハー載置手段19の櫛目状の溝20cの一方の壁
と、複数個の爪22の各々との間に、複数個の弾性手段
23による独立した押付け力によって、個々に挟持され
るので、ウェハー載置手段19における櫛目状の溝20
cの加工精度を厳密に管理する必要がない。また、図1
0に示すように、ウェハー載置手段19のある櫛目状の
溝20c内にウェハー3が配置されなくても、これによ
って、他のウェハー3の下縁における挟持に影響を与え
ることはなく、かくして、先行技術2の問題点を解決す
ることができる。
【0110】
【発明の効果】以上説明したように、第1発明によれ
ば、ウェハー載置手段がプッシュロッドの上端に着脱可
能に取り付けられているので、少なくとも先行技術1の
問題点3および4を解決し、カセットに相互に平行に且
つ垂直に差し込まれた複数枚の半導体用シリコンウェハ
ーを、清浄な別のカセットに、一括して移し替えること
ができる装置を提供することができ、また、第2発明に
よれば、プッシュロッドの上端に固定されたウェハー載
置手段が、上面に櫛目状の溝が形成されたグリップ本体
と、前記グリップ本体に、前記溝と直交する方向に摺動
可能に取り付けられたスライド板と、前記スライド板に
設けられた、前記ウェハーの下縁を前記溝に押し付ける
ための複数個の爪と、前記爪の各々に独立して押付け力
を付与するための複数個の弾性手段とからなっているの
で、少なくとも先行技術1の問題点1および2、並び
に、先行技術2の問題点を解決し、カセットに相互に平
行に且つ垂直に差し込まれた複数枚の半導体用シリコン
ウェハーを、清浄な別のカセットに、一括して移し替え
ることができる装置を提供することができ、かくして、
有用な効果がもたらされる。
ば、ウェハー載置手段がプッシュロッドの上端に着脱可
能に取り付けられているので、少なくとも先行技術1の
問題点3および4を解決し、カセットに相互に平行に且
つ垂直に差し込まれた複数枚の半導体用シリコンウェハ
ーを、清浄な別のカセットに、一括して移し替えること
ができる装置を提供することができ、また、第2発明に
よれば、プッシュロッドの上端に固定されたウェハー載
置手段が、上面に櫛目状の溝が形成されたグリップ本体
と、前記グリップ本体に、前記溝と直交する方向に摺動
可能に取り付けられたスライド板と、前記スライド板に
設けられた、前記ウェハーの下縁を前記溝に押し付ける
ための複数個の爪と、前記爪の各々に独立して押付け力
を付与するための複数個の弾性手段とからなっているの
で、少なくとも先行技術1の問題点1および2、並び
に、先行技術2の問題点を解決し、カセットに相互に平
行に且つ垂直に差し込まれた複数枚の半導体用シリコン
ウェハーを、清浄な別のカセットに、一括して移し替え
ることができる装置を提供することができ、かくして、
有用な効果がもたらされる。
【図1】第1発明の、半導体用シリコンウェハーの移し
替え装置の正面図である。
替え装置の正面図である。
【図2】同装置の平面図である。
【図3】同装置の側面図である。
【図4】同装置におけるプッシュロッドの上端およびウ
ェハー載置手段を示す正面図である。
ェハー載置手段を示す正面図である。
【図5】同装置におけるウェハーの移し替え工程を示す
概略図である。
概略図である。
【図6】第2発明の、半導体用シリコンウェハーの移し
替え装置におけるウェハー載置手段を示す平面図であ
る。
替え装置におけるウェハー載置手段を示す平面図であ
る。
【図7】図6のX−X線の沿った断面図である。
【図8】図6のY−Y線の沿った断面図である。
【図9】ウェハー載置手段における複数個の爪および複
数個の弾性手段を示す拡大部分断面図である。
数個の弾性手段を示す拡大部分断面図である。
【図10】図9に示したウェハー載置手段におけるウェ
ハーの挟持状態を示す拡大部分断面図である。
ハーの挟持状態を示す拡大部分断面図である。
【図11】先行技術1の装置におけるウェハーの移し替
え工程を示す概略図である。
え工程を示す概略図である。
【図12】カセットを示す斜視図である。
【図13】先行技術1の移し替え装置におけるウェハー
載置手段を示す概略部分斜視図である。
載置手段を示す概略部分斜視図である。
【図14】図13に示したウェハー載置手段へのウェハ
ーの載置状態を示す概略部分側面図である。
ーの載置状態を示す概略部分側面図である。
【図15】先行技術の改良されたウェハー載置手段を示
す概略平面図である。
す概略平面図である。
【図16】同ウェハー載置手段を示す概略側面図であ
る。
る。
A:先行技術の装置 1:プッシュロッド 1a:ウェハー載置手段 1b:櫛目状の溝 2:保持機構 2a:支持アーム 2b:櫛目状の溝 3:ウェハー 4:旧カセット 4a:側壁 4b:溝 4c:開口 5:新カセット 5a:側壁 5b:溝 5c:開口 6:改良されたウェハー載置手段 7:グリップ本体 7a:ガイドブロック 7b:櫛目状の溝 8:スライド板 8a:仕切り板 8b:櫛目状の溝 B:第1発明の、半導体用シリコンウェハーの移し替え
装置 9:アクチュエータ 10:プッシュロッド 10a:プッシュロッドの上端 10b:ピン 11:ウェハー載置手段 11a:櫛目状の溝 11b:孔 11c:段部 12:保持機構 13:支持アーム 13a:溝 14:カセット交換機構 15:基台 15a:基台の上面 15b:支持柱 15c:開口 16:ガイドレール 17:スライドテーブル 18:スライドテーブル 19:ウェハー載置手段 20:グリップ本体 20a:ガイドブロック 20b:ガイド溝 20c:櫛目状の溝 20d:スライド溝 20e:グリップ本体の先端の壁 20f:グリップ本体の後端の壁 21:スライド板 21a:仕切り板 21b:突起 21c:ストッパ 22:爪 22a:スプリング受け 23:弾性手段 24:位置決め手段 25:アクチュエータ 25a:操作ロッド 26:ロック機構 26a:フック 27:スプリング
装置 9:アクチュエータ 10:プッシュロッド 10a:プッシュロッドの上端 10b:ピン 11:ウェハー載置手段 11a:櫛目状の溝 11b:孔 11c:段部 12:保持機構 13:支持アーム 13a:溝 14:カセット交換機構 15:基台 15a:基台の上面 15b:支持柱 15c:開口 16:ガイドレール 17:スライドテーブル 18:スライドテーブル 19:ウェハー載置手段 20:グリップ本体 20a:ガイドブロック 20b:ガイド溝 20c:櫛目状の溝 20d:スライド溝 20e:グリップ本体の先端の壁 20f:グリップ本体の後端の壁 21:スライド板 21a:仕切り板 21b:突起 21c:ストッパ 22:爪 22a:スプリング受け 23:弾性手段 24:位置決め手段 25:アクチュエータ 25a:操作ロッド 26:ロック機構 26a:フック 27:スプリング
Claims (6)
- 【請求項1】 複数枚の半導体用シリコンウェハーが、
相互に平行に且つ垂直に差し込まれた旧カセットから、
前記ウェハーを新カセットに移し替えるための装置であ
って、前記旧カセットまたは前記新カセットの底部を貫
通して上下動し、もって、前記ウェハーの前記旧カセッ
トから上方への抜出し、および、抜き出された前記ウェ
ハーの前記新カセット内への差込みを行うためのプッシ
ュロッドと、前記プッシュロッドの上端に着脱可能に取
り付けられ、前記ウェハーの下縁を受け入れるための櫛
目状の溝を有するウェハー載置手段と、前記プッシュロ
ッドによって上方に持ち上げられた、前記ウェハーを受
け入れた前記ウェハー載置手段を支持し、もって、前記
旧カセットから抜き出された前記ウェハーを所定位置に
保持するための保持機構と、前記保持機構によって、前
記ウェハーが前記所定位置に保持されているとき、前記
旧カセットを前記新カセットと入れ換えるためのカセッ
ト交換機構とからなり、前記プッシュロッドを上昇させ
て、前記ウェハー載置手段に受け入れられた前記ウェハ
ーを前記旧カセットから上方に抜き出し、前記保持機構
によって、前記ウェハーを受け入れた前記ウェハー載置
手段を支持し、前記プッシュロッドを下降させ、前記カ
セット交換機構によって、前記旧カセットを前記新カセ
ットと入れ換え、前記プッシュロッドを再び上昇させ
て、その前記上端に前記ウェハー載置手段を載置し、前
記保持機構による前記ウェハー載置手段の前記支持を解
除し、前記プッシュロッドを下降させて、前記ウェハー
を前記新カセット内に差し込み、かくして、前記ウェハ
ーを前記旧カセットから前記新カセットに移し替えるこ
とを特徴とする、半導体用シリコンウェハーの移し替え
装置。 - 【請求項2】 複数枚の半導体用シリコンウェハーが、
相互に平行に且つ垂直に差し込まれた旧カセットから、
前記ウェハーを新カセットに移し替えるための装置であ
って、前記旧カセットまたは前記新カセットの底部を貫
通して上下動し、もって、前記ウェハーの前記旧カセッ
トから上方への抜出し、および、抜き出された前記ウェ
ハーの前記新カセット内への差込みを行うためのプッシ
ュロッドと、前記プッシュロッドの上端に固定され、前
記ウェハーの下縁を受け入れるための櫛目状の溝を有す
るウェハー載置手段と、前記プッシュロッドによって上
方に持ち上げられた、前記ウェハーを受け入れた前記ウ
ェハー載置手段を挟持し、もって、前記旧カセットから
抜き出された前記ウェハーを所定位置に保持するための
保持機構と、前記保持機構によって、前記ウェハーが前
記所定位置に保持されているとき、前記旧カセットを前
記新カセットと入れ換えるためのカセット交換機構とか
らなり、前記ウェハー載置手段は、上面に前記櫛目状の
溝が形成されたグリップ本体と、前記グリップ本体に、
前記溝と直交する方向に摺動可能に取り付けられたスラ
イド板と、前記スライド板に設けられた、前記ウェハー
の下縁を前記溝に押し付けるための複数個の爪と、前記
爪の各々に独立して押付け力を付与するための複数個の
弾性手段とからなることを特徴とする、半導体用シリコ
ンウェハーの移し替え装置。 - 【請求項3】 前記ウェハー載置手段は、上面に前記櫛
目状の溝が形成されたグリップ本体と、前記グリップ本
体に、前記溝と直交する方向に摺動可能に取り付けられ
たスライド板と、前記スライド板に設けられた、前記ウ
ェハーの前記下縁を前記溝に押し付けるための複数個の
爪と、前記爪の各々に独立して押付け力を付与するため
の複数個の弾性手段とからなることを特徴とする、請求
項1記載の、半導体用シリコンウェハーの移し替え装
置。 - 【請求項4】 前記ウェハー載置手段の前記グリップ本
体は、前記スライド板を不動に保持し、もって、前記弾
性手段により前記爪の各々に独立して前記押付け力を付
与した状態を維持するためのロック機構を備えているこ
とを特徴とする、請求項2または3記載の、半導体用シ
リコンウェハーの移し替え装置。 - 【請求項5】 前記ウェハー載置手段は、位置決め手段
を介して、前記プッシュロッドの前記上端に取り付けら
れていることを特徴とする、請求項1または3記載の、
半導体用シリコンウェハーの移し替え装置。 - 【請求項6】 前記位置決め手段は、前記ウェハー載置
手段の下部および前記プッシュロッドの前記上端の何れ
か一方に形成された少なくとも1つの孔と、前記ウェハ
ー載置手段の前記下部および前記プッシュロッドの前記
上端の何れか他方に形成された、前記孔に嵌合可能な少
なくとも1つのピンとからなることを特徴とする、請求
項5記載の、半導体用シリコンウェハーの移し替え装
置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26785295A JPH0992704A (ja) | 1995-09-21 | 1995-09-21 | 半導体用シリコンウェハーの移し替え装置 |
| EP96107703A EP0764972A2 (en) | 1995-09-21 | 1996-05-14 | Apparatus for transferring semiconductor silicon wafers |
| US08/650,376 US5692869A (en) | 1995-09-21 | 1996-05-20 | Apparatus for transferring semiconductor silicon wafers |
| KR1019960018280A KR970018341A (ko) | 1995-09-21 | 1996-05-28 | 반도체용 실리콘 웨이퍼의 전송장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26785295A JPH0992704A (ja) | 1995-09-21 | 1995-09-21 | 半導体用シリコンウェハーの移し替え装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0992704A true JPH0992704A (ja) | 1997-04-04 |
Family
ID=17450534
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26785295A Pending JPH0992704A (ja) | 1995-09-21 | 1995-09-21 | 半導体用シリコンウェハーの移し替え装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5692869A (ja) |
| EP (1) | EP0764972A2 (ja) |
| JP (1) | JPH0992704A (ja) |
| KR (1) | KR970018341A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US6322597B1 (en) | 1998-03-31 | 2001-11-27 | Nec Corporation | Semiconductor fabrication line with contamination preventing function |
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1995
- 1995-09-21 JP JP26785295A patent/JPH0992704A/ja active Pending
-
1996
- 1996-05-14 EP EP96107703A patent/EP0764972A2/en not_active Withdrawn
- 1996-05-20 US US08/650,376 patent/US5692869A/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-05-28 KR KR1019960018280A patent/KR970018341A/ko not_active Ceased
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| Publication number | Publication date |
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| EP0764972A2 (en) | 1997-03-26 |
| KR970018341A (ko) | 1997-04-30 |
| US5692869A (en) | 1997-12-02 |
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