JPH0997580A - 蛍光表示管 - Google Patents
蛍光表示管Info
- Publication number
- JPH0997580A JPH0997580A JP25156295A JP25156295A JPH0997580A JP H0997580 A JPH0997580 A JP H0997580A JP 25156295 A JP25156295 A JP 25156295A JP 25156295 A JP25156295 A JP 25156295A JP H0997580 A JPH0997580 A JP H0997580A
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- JP
- Japan
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- conductive layer
- inspection terminal
- anode substrate
- layer
- inspection
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 23
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 16
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 6
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 6
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 31
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)
- Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】ドット間隔が狭く高密度のパターンでも、導電
層形成後に電気的導通検査を実施し、不良の後工程への
流出を防ぐ。 【解決手段】表示部の導電層１より配線層３を延長しス
ルーホール２を介して導電層で検査用端子４を形成す
る。これによりドット間隔が狭く、高密度パターンでも
導電層形成後に電気的導通検査ができ、後工程への不良
の流出を防ぐことができる。
層形成後に電気的導通検査を実施し、不良の後工程への
流出を防ぐ。 【解決手段】表示部の導電層１より配線層３を延長しス
ルーホール２を介して導電層で検査用端子４を形成す
る。これによりドット間隔が狭く、高密度パターンでも
導電層形成後に電気的導通検査ができ、後工程への不良
の流出を防ぐことができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、蛍光表示管に関
し、特にその陽極基板の構造に関する。
し、特にその陽極基板の構造に関する。
【０００２】
【従来の技術】ドットキャラクタ表示の蛍光表示管の陽
極基板は、ガラス基板の上に配線層を形成し、その上に
絶縁層を形成し、そして最後にスルーホールを介して絶
縁層の上に例えば５×７ドットの導電層を形成して製作
していた。そしてこのような陽極基板の検査は、導電層
（グラファイト層）形成後のスルーホールを介して導電
層及び配線層の電気的導通検査を実施していた。しか
し、５×７ドットタイプのうちドット間隔が狭いものな
どは導電層形成後陽極基板の電気的導通検査が実施でき
ないので、図３のように、配線層３を表示に必要な導通
部より延長した検査用端子７を追加して配線層で検査し
ていた。
極基板は、ガラス基板の上に配線層を形成し、その上に
絶縁層を形成し、そして最後にスルーホールを介して絶
縁層の上に例えば５×７ドットの導電層を形成して製作
していた。そしてこのような陽極基板の検査は、導電層
（グラファイト層）形成後のスルーホールを介して導電
層及び配線層の電気的導通検査を実施していた。しか
し、５×７ドットタイプのうちドット間隔が狭いものな
どは導電層形成後陽極基板の電気的導通検査が実施でき
ないので、図３のように、配線層３を表示に必要な導通
部より延長した検査用端子７を追加して配線層で検査し
ていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来のドット間隔が狭
いタイプのパターン（ドットタイプ等）では、電気的導
通検査用の治具ピンが、全最終ドット上には立てられな
い為、配線層を表示に必要な導通部より延長した検査用
端子を追加して配線層で検査をしていた。この為、導電
層形成後のスルーホールの埋まり等の導通不良が、後工
程に流出するという問題があった。
いタイプのパターン（ドットタイプ等）では、電気的導
通検査用の治具ピンが、全最終ドット上には立てられな
い為、配線層を表示に必要な導通部より延長した検査用
端子を追加して配線層で検査をしていた。この為、導電
層形成後のスルーホールの埋まり等の導通不良が、後工
程に流出するという問題があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、表示パターン
を設けた陽極基板を有する蛍光表示管において、陽極基
板上の表示パターンエリア外に層間絶縁膜を介して検査
用端子を設けたことを特徴とする。なお、検査用端子
は、フェースガラスとの封着部に設けてもよい。
を設けた陽極基板を有する蛍光表示管において、陽極基
板上の表示パターンエリア外に層間絶縁膜を介して検査
用端子を設けたことを特徴とする。なお、検査用端子
は、フェースガラスとの封着部に設けてもよい。
【０００５】
【発明の実施の形態】次に本発明について図面を参照し
て説明する。図１（ａ）は、本発明の第１の実施の形態
の陽極基板の平面図であり、図１（ｂ）は検査用端子部
の断面図である。ガラス基板１０の上に多数の配線から
成る配線層３が形成され、その上を絶縁層５で覆う。こ
の絶縁層５の上には、例えば５×７ドットの導電層１が
設けられ、スルーホール２を介して配線層３の各配線に
接続される。前記の配線層を形成する際に、表示パター
ンエリア外に設ける検査用端子４の配線も同時に形成し
絶縁層で覆う。検査用端子４は絶縁層の上に設けられて
おり、スルーホールを介して引出した配線に接続され
る。この検査用端子４上に治具ピンを立てて電流を流し
て陽極基板の電気的導通検査を行う。したがって、導電
層のドット間隔が狭くても何ら支障なく電気的導通検査
を行なうことができる。
て説明する。図１（ａ）は、本発明の第１の実施の形態
の陽極基板の平面図であり、図１（ｂ）は検査用端子部
の断面図である。ガラス基板１０の上に多数の配線から
成る配線層３が形成され、その上を絶縁層５で覆う。こ
の絶縁層５の上には、例えば５×７ドットの導電層１が
設けられ、スルーホール２を介して配線層３の各配線に
接続される。前記の配線層を形成する際に、表示パター
ンエリア外に設ける検査用端子４の配線も同時に形成し
絶縁層で覆う。検査用端子４は絶縁層の上に設けられて
おり、スルーホールを介して引出した配線に接続され
る。この検査用端子４上に治具ピンを立てて電流を流し
て陽極基板の電気的導通検査を行う。したがって、導電
層のドット間隔が狭くても何ら支障なく電気的導通検査
を行なうことができる。
【０００６】図２（ａ）は、本発明の第２の実施の形態
の陽極基板の平面図、図２（ｂ）はその検査用端子部の
断面図である。この実施の形態では、検査用端子４を陽
極基板のフェースガラスとの封着部分に配置し、電気的
導通検査後、封着用のシール材６を塗布し検査用端子を
覆い隠している。
の陽極基板の平面図、図２（ｂ）はその検査用端子部の
断面図である。この実施の形態では、検査用端子４を陽
極基板のフェースガラスとの封着部分に配置し、電気的
導通検査後、封着用のシール材６を塗布し検査用端子を
覆い隠している。
【０００７】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、配線層を
表示に必要な導通部より延長し、スルーホールを介して
導電層に検査用端子を追加したので、ドット間隔の狭い
パターンでも、導通層形成後に、陽極基板の電気的導通
検査ができ、不良の後工程への流出を防ぐことができ
る。
表示に必要な導通部より延長し、スルーホールを介して
導電層に検査用端子を追加したので、ドット間隔の狭い
パターンでも、導通層形成後に、陽極基板の電気的導通
検査ができ、不良の後工程への流出を防ぐことができ
る。
【０００８】また、第２の実施の形態のように、封着部
に検査用端子を形成することで、高密度の表示パターン
にも対応でき、また、封着用のシール材で、覆い隠すこ
とで、電流の増加をおさえることができる。
に検査用端子を形成することで、高密度の表示パターン
にも対応でき、また、封着用のシール材で、覆い隠すこ
とで、電流の増加をおさえることができる。
【図１】（ａ），（ｂ）は本発明の第１の実施の形態を
説明するための平面図と断面図である。
説明するための平面図と断面図である。
【図２】（ａ），（ｂ）は本発明の第２の実施の形態の
平面図と断面図である。
平面図と断面図である。
【図３】従来の検査用端子の形成を示した平面図であ
る。
る。
１ 導電層 ２ スルーホール ３ 配線層 ４ 検査用端子 ５ 絶縁層 ６ シール材 ７ 検査用端子（配線層） １０ ガラス基板
Claims (2)
- 【請求項１】 表示パターンを設けた陽極基板を有する
蛍光表示管において、陽極基板上の表示パターンエリア
外に層間絶縁膜を介して検査用端子を設けたことを特徴
とする蛍光表示管。 - 【請求項２】 前記検査用端子をフェースガラスとの封
着部に設けたことを特徴とする請求項１記載の蛍光表示
管。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25156295A JPH0997580A (ja) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | 蛍光表示管 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25156295A JPH0997580A (ja) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | 蛍光表示管 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0997580A true JPH0997580A (ja) | 1997-04-08 |
Family
ID=17224670
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25156295A Pending JPH0997580A (ja) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | 蛍光表示管 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0997580A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0245961U (ja) * | 1988-09-26 | 1990-03-29 | ||
| JPH0574388A (ja) * | 1991-09-18 | 1993-03-26 | Nec Kagoshima Ltd | 蛍光表示管 |
-
1995
- 1995-09-28 JP JP25156295A patent/JPH0997580A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0245961U (ja) * | 1988-09-26 | 1990-03-29 | ||
| JPH0574388A (ja) * | 1991-09-18 | 1993-03-26 | Nec Kagoshima Ltd | 蛍光表示管 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980623 |