JPH10111252A - ガラス板の欠点検出装置 - Google Patents
ガラス板の欠点検出装置Info
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- JPH10111252A JPH10111252A JP8262183A JP26218396A JPH10111252A JP H10111252 A JPH10111252 A JP H10111252A JP 8262183 A JP8262183 A JP 8262183A JP 26218396 A JP26218396 A JP 26218396A JP H10111252 A JPH10111252 A JP H10111252A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】ガラス板のスレッドライン欠点を検出する。
【解決手段】複数の帯状光源からなり、その帯の長手方
向がガラス板４の成形時の引き出し方向と２０度以下の
角度をなす光源部と、ガラス板４を挟んで光源部と反対
側に配置され、ガラス板４の位置もしくはその近傍に焦
点を合わせてなる撮像装置５と、画像処理装置６を備
え、複数の帯状光源の帯幅、及び互いの間隔が５〜５０
ｍｍの範囲に設定されていることを特徴とする。
向がガラス板４の成形時の引き出し方向と２０度以下の
角度をなす光源部と、ガラス板４を挟んで光源部と反対
側に配置され、ガラス板４の位置もしくはその近傍に焦
点を合わせてなる撮像装置５と、画像処理装置６を備
え、複数の帯状光源の帯幅、及び互いの間隔が５〜５０
ｍｍの範囲に設定されていることを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ガラス板の欠点検
出装置、特にガラス板のスレッドライン欠点を検出でき
る検出装置に関する。
出装置、特にガラス板のスレッドライン欠点を検出でき
る検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ガラス板の製造時に問題となる欠点には
多くの種類があり、そのなかでも比較的検出しにくい欠
点として、スレッドライン欠点と呼ばれるものがある。
多くの種類があり、そのなかでも比較的検出しにくい欠
点として、スレッドライン欠点と呼ばれるものがある。
【０００３】スレッドライン欠点とは、フロート法など
で熔融ガラスがリボン状に成形される際、ガラスリボン
の引き出し方向に平行に現れる筋状欠点である。その幅
は、数１０μｍ〜数１００μｍときわめて細いものであ
るうえ、ディストーションをほとんど伴わないため、光
学的に検出しにくい。
で熔融ガラスがリボン状に成形される際、ガラスリボン
の引き出し方向に平行に現れる筋状欠点である。その幅
は、数１０μｍ〜数１００μｍときわめて細いものであ
るうえ、ディストーションをほとんど伴わないため、光
学的に検出しにくい。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】したがって、従来、ス
レッドライン欠点は、人手による検査によって検出を行
っており、手間のかかるものであった。また、後工程の
切断工程などに迅速に欠点発生の情報を送ることが困難
であった。
レッドライン欠点は、人手による検査によって検出を行
っており、手間のかかるものであった。また、後工程の
切断工程などに迅速に欠点発生の情報を送ることが困難
であった。
【０００５】筋状欠点を検出する装置としては、特開平
６−７４９０７に開示されたものがある。しかし、この
装置は、比較的太くかつディストーションを伴う欠点の
検出を対象にしており、本発明の欠点検出の対象となる
スレッドライン欠点は検出できない。
６−７４９０７に開示されたものがある。しかし、この
装置は、比較的太くかつディストーションを伴う欠点の
検出を対象にしており、本発明の欠点検出の対象となる
スレッドライン欠点は検出できない。
【０００６】本発明は、上述の課題を解決し、ガラス板
の欠点検出装置、特にガラスリボンのスレッドライン欠
点を検出できる検出装置を提供することを目的とする。
の欠点検出装置、特にガラスリボンのスレッドライン欠
点を検出できる検出装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、ガラス板の欠
点を検出する検出装置であって、ガラス板を成形時の引
き出し方向に略平行に搬送する搬送手段と、複数の帯状
光源からなりその帯の長手方向がガラス板の成形時の引
き出し方向と２０度以下の角度をなす光源部と、ガラス
板を挟んで光源部と反対側に配置されガラス板の位置も
しくはその近傍に焦点を合わせてなる撮像装置と、前記
撮像装置からの信号を受けて画像処理する画像処理装置
とを備え、前記複数の帯状光源の帯幅、及び互いの間隔
が５〜５０ｍｍの範囲に設定されていることを特徴とす
るガラス板の欠点検出装置を提供する。
点を検出する検出装置であって、ガラス板を成形時の引
き出し方向に略平行に搬送する搬送手段と、複数の帯状
光源からなりその帯の長手方向がガラス板の成形時の引
き出し方向と２０度以下の角度をなす光源部と、ガラス
板を挟んで光源部と反対側に配置されガラス板の位置も
しくはその近傍に焦点を合わせてなる撮像装置と、前記
撮像装置からの信号を受けて画像処理する画像処理装置
とを備え、前記複数の帯状光源の帯幅、及び互いの間隔
が５〜５０ｍｍの範囲に設定されていることを特徴とす
るガラス板の欠点検出装置を提供する。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、図面に従って、本発明の実
施形態の１例を説明する。図１、図２は本発明の装置の
概略を示す斜視図及び側面図である。
施形態の１例を説明する。図１、図２は本発明の装置の
概略を示す斜視図及び側面図である。
【０００９】本実施形態においては、帯状光源は、蛍光
灯などの光源を内部に配置した光源ボックス１とその上
に配置されたスリット板２から形成される。スリット板
２は、板の上に帯状の透光部７と遮光部８とが交互に形
成されているものであり、透光部７を透過する光が上記
帯状光源として機能する。ガラス板に光を均一に照射す
るには、光源は拡散光源とすることが好ましい。このた
めに、別途、拡散板などの光を拡散する部材をスリット
板２と光源ボックス１の間に配置できる。
灯などの光源を内部に配置した光源ボックス１とその上
に配置されたスリット板２から形成される。スリット板
２は、板の上に帯状の透光部７と遮光部８とが交互に形
成されているものであり、透光部７を透過する光が上記
帯状光源として機能する。ガラス板に光を均一に照射す
るには、光源は拡散光源とすることが好ましい。このた
めに、別途、拡散板などの光を拡散する部材をスリット
板２と光源ボックス１の間に配置できる。
【００１０】本実施形態では、光源部として、光源ボッ
クスとスリット板とからなるものを用いているが、これ
に限らず、複数並んだ帯状の光源が実現できるものであ
れば使用できる。
クスとスリット板とからなるものを用いているが、これ
に限らず、複数並んだ帯状の光源が実現できるものであ
れば使用できる。
【００１１】本発明では、複数の帯状光源の帯幅、及び
その互いの間隔を５〜５０ｍｍの範囲に設定する。すな
わち、本実施形態においては、スリット板の透光部７と
遮光部８の幅がそれぞれ５〜５０ｍｍの範囲に設定され
る。これらの幅が５ｍｍ未満であると透光部からの光量
不足又は遮光部の遮光効果減少のため、欠点部分が背景
に埋もれて検出できない。一方、５０ｍｍ超であると、
ガラスリボンで光源からの光が届きにくい部分が生じ、
明暗差が大きくなるため、欠点の見落としを生じやすく
なる。
その互いの間隔を５〜５０ｍｍの範囲に設定する。すな
わち、本実施形態においては、スリット板の透光部７と
遮光部８の幅がそれぞれ５〜５０ｍｍの範囲に設定され
る。これらの幅が５ｍｍ未満であると透光部からの光量
不足又は遮光部の遮光効果減少のため、欠点部分が背景
に埋もれて検出できない。一方、５０ｍｍ超であると、
ガラスリボンで光源からの光が届きにくい部分が生じ、
明暗差が大きくなるため、欠点の見落としを生じやすく
なる。
【００１２】光源ボックス１からの光はスリット２を介
して、ガラスリボン（ガラス板）４に投写される。この
際に、ガラスリボン４にスレッドライン欠点１１がある
と、光の進路がわずかに偏向する。したがって、光源と
反対側からガラスリボンを見ると、スレッドライン欠点
は背景と異なる明るさの線として認識される。
して、ガラスリボン（ガラス板）４に投写される。この
際に、ガラスリボン４にスレッドライン欠点１１がある
と、光の進路がわずかに偏向する。したがって、光源と
反対側からガラスリボンを見ると、スレッドライン欠点
は背景と異なる明るさの線として認識される。
【００１３】ガラスリボン４は、搬送ロール３（図１に
は図示せず）で、ガラスリボン４の成形時の引き出し方
向に搬送される。なお、本実施形態では、搬送手段とし
て搬送ロール３を用いたが、エアーテーブルなど他の搬
送手段によってもよい。
は図示せず）で、ガラスリボン４の成形時の引き出し方
向に搬送される。なお、本実施形態では、搬送手段とし
て搬送ロール３を用いたが、エアーテーブルなど他の搬
送手段によってもよい。
【００１４】また、搬送方向（すなわち成形時の引き出
し方向）は帯状光源の帯の長手方向と２０度以下の角度
をなす。スレッドライン欠点１１はガラス板の成形時の
引き出し方向に沿って筋状に発生するため、帯状光源の
帯の長手方向がガラス板の引き出し方向と２０度を超え
た角度をなす場合は、スレッドライン欠点１１を検出す
ることが困難になる。
し方向）は帯状光源の帯の長手方向と２０度以下の角度
をなす。スレッドライン欠点１１はガラス板の成形時の
引き出し方向に沿って筋状に発生するため、帯状光源の
帯の長手方向がガラス板の引き出し方向と２０度を超え
た角度をなす場合は、スレッドライン欠点１１を検出す
ることが困難になる。
【００１５】ガラスリボン４の像は、ガラスリボン４を
挟んで光源ボックス１と反対側に配置された２次元ＣＣ
Ｄカメラ（撮像装置）５によって撮像される。本実施形
態では、撮像装置として２次元ＣＣＤカメラを用いた
が、他の撮像装置も使用できる。たとえばビデオカメラ
や１次元ラインセンサなども使用できる。また、撮像装
置は複数用いてもよい。ガラス板の全幅を写野に入れる
ことができるのに充分な数を用いることが好ましい。
挟んで光源ボックス１と反対側に配置された２次元ＣＣ
Ｄカメラ（撮像装置）５によって撮像される。本実施形
態では、撮像装置として２次元ＣＣＤカメラを用いた
が、他の撮像装置も使用できる。たとえばビデオカメラ
や１次元ラインセンサなども使用できる。また、撮像装
置は複数用いてもよい。ガラス板の全幅を写野に入れる
ことができるのに充分な数を用いることが好ましい。
【００１６】２次元ＣＣＤカメラ５の焦点は、ガラスリ
ボン４の位置もしくはその近傍に合わせる。カメラの焦
点がガラスリボンの位置から大きくはずれると、スレッ
ドライン欠点の検出が困難になる。
ボン４の位置もしくはその近傍に合わせる。カメラの焦
点がガラスリボンの位置から大きくはずれると、スレッ
ドライン欠点の検出が困難になる。
【００１７】図３は２次元ＣＣＤカメラ５による撮像で
得られる像の概念図を示す。背景に、帯状拡散光源が焦
点のぼけた像９として写っており、スレッドライン欠点
のある場合は、背景と明るさの異なる線１０として写
る。
得られる像の概念図を示す。背景に、帯状拡散光源が焦
点のぼけた像９として写っており、スレッドライン欠点
のある場合は、背景と明るさの異なる線１０として写
る。
【００１８】本発明では、この像を画像処理することに
より強調し、欠点検出する。すなわち、２次元ＣＣＤカ
メラ５による撮像で得られた映像信号は、画像処理装置
６に送られ、所定の画像処理を施される。
より強調し、欠点検出する。すなわち、２次元ＣＣＤカ
メラ５による撮像で得られた映像信号は、画像処理装置
６に送られ、所定の画像処理を施される。
【００１９】図４は本実施形態での画像処理のフローを
示すチャートである。フローは、光源異常の有無判定、
欠点信号の微分処理、２値化、ヒストグラム処理、スラ
イスレベルの決定、スレッドライン欠点の有無の判定の
順で行われる。
示すチャートである。フローは、光源異常の有無判定、
欠点信号の微分処理、２値化、ヒストグラム処理、スラ
イスレベルの決定、スレッドライン欠点の有無の判定の
順で行われる。
【００２０】まず、取り込まれた画像の平均輝度値から
光源異常の有無を判定する。画像の平均輝度が所定の範
囲内にない場合は、光源に何らかの異常があるものと判
断し、欠点検出を中止して光源ボックスやスリット板の
交換など、必要な措置をとる。
光源異常の有無を判定する。画像の平均輝度が所定の範
囲内にない場合は、光源に何らかの異常があるものと判
断し、欠点検出を中止して光源ボックスやスリット板の
交換など、必要な措置をとる。
【００２１】光源に異常がないと判断されると、輝度信
号をガラスリボンの幅方向に微分する。この微分処理に
より、スレッドライン欠点が強調される。なお、スレッ
ドライン欠点は、背景に対して、明るい線及び暗い線の
一対の線として認識される場合が多いため、微分処理に
よる強調は非常に有効である。
号をガラスリボンの幅方向に微分する。この微分処理に
より、スレッドライン欠点が強調される。なお、スレッ
ドライン欠点は、背景に対して、明るい線及び暗い線の
一対の線として認識される場合が多いため、微分処理に
よる強調は非常に有効である。
【００２２】次いで、微分された信号の２値化を行う。
すなわち、背景よりも所定値以上に明るい信号もしくは
暗い信号を”１”とし、それ以外の信号を”０”とする
処理を行う。
すなわち、背景よりも所定値以上に明るい信号もしくは
暗い信号を”１”とし、それ以外の信号を”０”とする
処理を行う。
【００２３】次いで幅方向にヒストグラム処理を行う。
すなわち、ガラス板の搬送方向の所定の数の画素につい
て上記の２値化後の信号を積算し、積算値の幅方向の分
布を求める。スレッドライン欠点は、ガラスの搬送方向
に沿って現れるので、上記積算処理により、欠点信号が
さらに強調される。
すなわち、ガラス板の搬送方向の所定の数の画素につい
て上記の２値化後の信号を積算し、積算値の幅方向の分
布を求める。スレッドライン欠点は、ガラスの搬送方向
に沿って現れるので、上記積算処理により、欠点信号が
さらに強調される。
【００２４】図５に、ヒストグラム処理した結果の１例
を示す。欠点が存在する場合、欠点部分の積算値がその
他の部分に比べて突出していることがわかる。
を示す。欠点が存在する場合、欠点部分の積算値がその
他の部分に比べて突出していることがわかる。
【００２５】次いでヒストグラムデータを用いてスライ
スレベルを決定する。スライスレベルは、欠点の有無の
判別の基準となるレベルである。実際には装置の光学系
やその配置によっても異なるため、実機でテストのう
え、適宜の方法で定めればよい。２種以上のスライスレ
ベルを用いてもよい。１例としてたとえば、第１のスラ
イスレベルとしてヒストグラムデータの平均値を所定倍
数したレベルを用い、第２のスライスレベルとして第１
のスライスレベルにさらに所定の値を加算したレベルを
採用できる。こうすると、スレッドライン欠点の程度ま
で判別することも可能になる。
スレベルを決定する。スライスレベルは、欠点の有無の
判別の基準となるレベルである。実際には装置の光学系
やその配置によっても異なるため、実機でテストのう
え、適宜の方法で定めればよい。２種以上のスライスレ
ベルを用いてもよい。１例としてたとえば、第１のスラ
イスレベルとしてヒストグラムデータの平均値を所定倍
数したレベルを用い、第２のスライスレベルとして第１
のスライスレベルにさらに所定の値を加算したレベルを
採用できる。こうすると、スレッドライン欠点の程度ま
で判別することも可能になる。
【００２６】次いでヒストグラムデータとスライスレベ
ルとを比較し、スレッドライン欠点の有無を判定する。
スレッドライン欠点があると判断された場合は、後段の
ガラスリボン切断工程に情報を流し、欠点部分を避けて
切断するなどの処置を採ることができる。
ルとを比較し、スレッドライン欠点の有無を判定する。
スレッドライン欠点があると判断された場合は、後段の
ガラスリボン切断工程に情報を流し、欠点部分を避けて
切断するなどの処置を採ることができる。
【００２７】本実施形態においては、ガラス板としてガ
ラスリボンを用いたが、所定形状に切断された板ガラス
の検査にも本発明は適用できる。この場合は、板ガラス
の成形時の引き出し方向と、板ガラスの搬送方向とを一
致させる必要がある。前述のようにスレッドライン欠点
は、板ガラスの成形時の引き出し方向に沿って発生する
ためである。
ラスリボンを用いたが、所定形状に切断された板ガラス
の検査にも本発明は適用できる。この場合は、板ガラス
の成形時の引き出し方向と、板ガラスの搬送方向とを一
致させる必要がある。前述のようにスレッドライン欠点
は、板ガラスの成形時の引き出し方向に沿って発生する
ためである。
【００２８】図１のように帯状光源の帯の長手方向とガ
ラス板の搬送方向とを平行にすると、スレッドライン欠
点検出の感度を特に高めうるため、きわめて好ましい。
しかし、帯状光源の帯の長手方向とガラス板の搬送方向
とを平行から若干ずらすことが好ましい場合もある。
ラス板の搬送方向とを平行にすると、スレッドライン欠
点検出の感度を特に高めうるため、きわめて好ましい。
しかし、帯状光源の帯の長手方向とガラス板の搬送方向
とを平行から若干ずらすことが好ましい場合もある。
【００２９】図６は、このような場合のスリット板２の
態様を示す平面図である。この態様では、ガラス板の搬
送方向と帯状光源の帯の長手方向とは完全に平行ではな
く、若干の角度をなしている。こうすると、ヒストグラ
ム処理を行う際に背景輝度の変動を抑え、画像処理をよ
り単純化できる場合がある。具体的には、ガラス板の搬
送方向と帯状光源の帯の長手方向とが５〜２０度程度の
角度をなすようにすればよい。
態様を示す平面図である。この態様では、ガラス板の搬
送方向と帯状光源の帯の長手方向とは完全に平行ではな
く、若干の角度をなしている。こうすると、ヒストグラ
ム処理を行う際に背景輝度の変動を抑え、画像処理をよ
り単純化できる場合がある。具体的には、ガラス板の搬
送方向と帯状光源の帯の長手方向とが５〜２０度程度の
角度をなすようにすればよい。
【００３０】
【発明の効果】本発明の欠点検出装置によれば、特にガ
ラスリボンのスレッドライン欠点などのディストーショ
ンを伴わない微小筋状欠点を検出できる。
ラスリボンのスレッドライン欠点などのディストーショ
ンを伴わない微小筋状欠点を検出できる。
【００３１】また、帯状光源の帯の長手方向とガラス板
の成形時の引き出し方向とのなす角を２０度以下とする
ことにより、スレッドライン欠点検出の感度を高めう
る。この角度が、ほぼ平行であると、特にスレッドライ
ン欠点検出の感度が高まる。一方、ガラス板の搬送方向
と帯状光源の帯の長手方向とが５〜２０度程度の角度を
なすようすると、画像処理を単純化できる。
の成形時の引き出し方向とのなす角を２０度以下とする
ことにより、スレッドライン欠点検出の感度を高めう
る。この角度が、ほぼ平行であると、特にスレッドライ
ン欠点検出の感度が高まる。一方、ガラス板の搬送方向
と帯状光源の帯の長手方向とが５〜２０度程度の角度を
なすようすると、画像処理を単純化できる。
【図１】本発明の装置の構成の概略を示す斜視図
【図２】本発明の装置の構成の概略を示す側面図
【図３】２次元ＣＣＤカメラ５による撮像で得られる像
の概念図
の概念図
【図４】画像処理のフローを示すチャート
【図５】ヒストグラム処理した結果の１例を示すグラフ
【図６】スリット板の別の態様を示す平面図
１：光源ボックス ２：スリット板 ３：搬送ロール ４：ガラスリボン ５：２次元ＣＣＤカメラ ６：画像処理装置
Claims (4)
- 【請求項１】ガラス板の欠点を検出する検出装置であっ
て、 ガラス板を成形時の引き出し方向に略平行に搬送する搬
送手段と、 複数の帯状光源からなりその帯の長手方向がガラス板の
成形時の引き出し方向と２０度以下の角度をなす光源部
と、 ガラス板を挟んで光源部と反対側に配置されガラス板の
位置もしくはその近傍に焦点を合わせてなる撮像装置
と、 前記撮像装置からの信号を受けて画像処理する画像処理
装置とを備え、 前記複数の帯状光源の帯幅、及び互いの間隔が５〜５０
ｍｍの範囲に設定されていることを特徴とするガラス板
の欠点検出装置。 - 【請求項２】帯状光源の帯の長手方向とガラス板の成形
時の引き出し方向とが実質的に平行である請求項１記載
のガラス板の欠点検出装置。 - 【請求項３】帯状光源の帯の長手方向とガラス板の成形
時の引き出し方向とが５〜２０度の角度をなす請求項１
記載のガラス板の欠点検出装置。 - 【請求項４】ガラス板がガラス板成形装置から引き出さ
れたガラスリボンである請求項１、２又は３記載のガラ
ス板の欠点検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8262183A JPH10111252A (ja) | 1996-10-02 | 1996-10-02 | ガラス板の欠点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8262183A JPH10111252A (ja) | 1996-10-02 | 1996-10-02 | ガラス板の欠点検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10111252A true JPH10111252A (ja) | 1998-04-28 |
| JPH10111252A5 JPH10111252A5 (ja) | 2004-09-30 |
Family
ID=17372228
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8262183A Withdrawn JPH10111252A (ja) | 1996-10-02 | 1996-10-02 | ガラス板の欠点検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10111252A (ja) |
Cited By (6)
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| JP2002507742A (ja) * | 1998-03-25 | 2002-03-12 | ラゾー ラザー ゾルター ゲーエムベーハー | 板ガラスの中の欠陥、特にドリップ、スレッド及び線を検出するための方法及び装置 |
| JP2002286656A (ja) * | 2001-01-22 | 2002-10-03 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 基板検査装置 |
| JP2013524192A (ja) * | 2010-04-01 | 2013-06-17 | サン−ゴバン グラス フランス | 透明基板の光学的品質を分析するための装置及び方法 |
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| JP2014169977A (ja) * | 2013-03-05 | 2014-09-18 | Mecc Co Ltd | 欠陥検査装置、欠陥検査方法、及び照明装置 |
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-
1996
- 1996-10-02 JP JP8262183A patent/JPH10111252A/ja not_active Withdrawn
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