JPH1011793A - 光学ピックアップ及び光ディスク装置 - Google Patents
光学ピックアップ及び光ディスク装置Info
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- JPH1011793A JPH1011793A JP8184189A JP18418996A JPH1011793A JP H1011793 A JPH1011793 A JP H1011793A JP 8184189 A JP8184189 A JP 8184189A JP 18418996 A JP18418996 A JP 18418996A JP H1011793 A JPH1011793 A JP H1011793A
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- optical
- light
- objective lens
- optical disk
- optical pickup
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 何れの方式の光ディスクであっても、光ディ
スクの再生が正しく行われるようにした、光学ピックア
ップ及び光ディスク装置を提供すること。 【解決手段】 光ビームを出射する光源21と、上記光
源から出射された光ビームを平行光に変換するコリメー
タレンズ23と、上記コリメータレンズからの平行光を
回転駆動される光ディスクの信号記録面上に合焦するよ
うに照射する対物レンズ24と、上記光源と対物レンズ
の間に配設された光分離手段22と、光分離手段で分離
された光ディスクの信号記録面からの戻り光ビームを受
光する光検出器25とを含み、光源と光ディスクとの間
の光路中に配設された絞り羽根式の可変開口手段26が
備えられる。
スクの再生が正しく行われるようにした、光学ピックア
ップ及び光ディスク装置を提供すること。 【解決手段】 光ビームを出射する光源21と、上記光
源から出射された光ビームを平行光に変換するコリメー
タレンズ23と、上記コリメータレンズからの平行光を
回転駆動される光ディスクの信号記録面上に合焦するよ
うに照射する対物レンズ24と、上記光源と対物レンズ
の間に配設された光分離手段22と、光分離手段で分離
された光ディスクの信号記録面からの戻り光ビームを受
光する光検出器25とを含み、光源と光ディスクとの間
の光路中に配設された絞り羽根式の可変開口手段26が
備えられる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクに対し
て、光を照射して、戻り光を検出することにより、情報
信号を記録及び/再生する、光学ピックアップ及び光デ
ィスク装置に関するものである。
て、光を照射して、戻り光を検出することにより、情報
信号を記録及び/再生する、光学ピックアップ及び光デ
ィスク装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば画像データがデジタル化さ
れ圧縮されて記録された光ディスクを再生するための光
学ピックアップは、図8に示すように構成されている。
図8において、光学ピックアップ1は、無限系の構成で
あって、半導体レーザ素子2,ビームスプリッタ3,コ
リメータレンズ4,対物レンズ5及び光検出器6から構
成されている。
れ圧縮されて記録された光ディスクを再生するための光
学ピックアップは、図8に示すように構成されている。
図8において、光学ピックアップ1は、無限系の構成で
あって、半導体レーザ素子2,ビームスプリッタ3,コ
リメータレンズ4,対物レンズ5及び光検出器6から構
成されている。
【0003】上記ビームスプリッタ3は、その反射面3
aが対物レンズ5の光軸に対して45度傾斜した状態で
配設されており、半導体レーザ素子2から出射した光ビ
ームと光ディスク7の信号記録面からの戻り光を分離す
る。即ち、半導体レーザ素子2からの光ビームは、ビー
ムスプリッタ3の反射面3aで反射され、光ディスク6
からの戻り光は、ビームスプリッタ3を透過する。
aが対物レンズ5の光軸に対して45度傾斜した状態で
配設されており、半導体レーザ素子2から出射した光ビ
ームと光ディスク7の信号記録面からの戻り光を分離す
る。即ち、半導体レーザ素子2からの光ビームは、ビー
ムスプリッタ3の反射面3aで反射され、光ディスク6
からの戻り光は、ビームスプリッタ3を透過する。
【0004】対物レンズ5は、凸レンズであって、コリ
メータレンズ4からの平行光ビームを、回転駆動される
光ディスク7の信号記録面の所望のトラック上に集束さ
せる。さらに、対物レンズ7は、図示しない二軸アクチ
ュエータによって、二軸方向即ち図面にて矢印Fcsで
示すフォーカシング方向及び矢印Trkで示すトラッキ
ング方向に移動可能に支持されている。
メータレンズ4からの平行光ビームを、回転駆動される
光ディスク7の信号記録面の所望のトラック上に集束さ
せる。さらに、対物レンズ7は、図示しない二軸アクチ
ュエータによって、二軸方向即ち図面にて矢印Fcsで
示すフォーカシング方向及び矢印Trkで示すトラッキ
ング方向に移動可能に支持されている。
【0005】光検出器6は、ビームスプリッタ3を透過
して入射する戻り光ビームに対して、受光部を有するよ
うに構成されている。
して入射する戻り光ビームに対して、受光部を有するよ
うに構成されている。
【0006】このような構成の光学ピックアップ1によ
れば、半導体レーザ素子2から出射された光ビームは、
ビームスプリッタ3の反射面3aで反射され、コリメー
タレンズ4で平行光に変換された後、対物レンズ5を介
して、光ディスク7の信号記録面上のある一点に集束さ
れる。
れば、半導体レーザ素子2から出射された光ビームは、
ビームスプリッタ3の反射面3aで反射され、コリメー
タレンズ4で平行光に変換された後、対物レンズ5を介
して、光ディスク7の信号記録面上のある一点に集束さ
れる。
【0007】光ディスク7の信号記録面で反射された戻
り光ビームは、再び対物レンズ5及びコリメータレンズ
4を介して、ビームスプリッタ3に入射する。ここで、
戻り光ビームは、ビームスプリッタ3を透過して、光検
出器6の受光部に入射する。これにより、光検出器6か
ら出力される検出信号に基づいて、光ディスク7の信号
記録面に記録された情報の再生が行なわれる。
り光ビームは、再び対物レンズ5及びコリメータレンズ
4を介して、ビームスプリッタ3に入射する。ここで、
戻り光ビームは、ビームスプリッタ3を透過して、光検
出器6の受光部に入射する。これにより、光検出器6か
ら出力される検出信号に基づいて、光ディスク7の信号
記録面に記録された情報の再生が行なわれる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、光デ
ィスクは、コンピュータの補助記憶装置,音声・画像情
報のパッケージメディアとして、高密度化が進められて
おり、この高密度化を実現するために、対物レンズの開
口数NAを、従来のコンパクトディスク用の光学ピック
アップにおける対物レンズの開口数NAより大きくする
方法があるが、開口数NAを大きくすると、光ディスク
の傾きに対する許容範囲が減少してしまうという問題が
ある。
ィスクは、コンピュータの補助記憶装置,音声・画像情
報のパッケージメディアとして、高密度化が進められて
おり、この高密度化を実現するために、対物レンズの開
口数NAを、従来のコンパクトディスク用の光学ピック
アップにおける対物レンズの開口数NAより大きくする
方法があるが、開口数NAを大きくすると、光ディスク
の傾きに対する許容範囲が減少してしまうという問題が
ある。
【0009】また、光ディスクは、所定のディスク基板
厚(一般に、コンパクトディスク等の場合には、1.2
mm)の透明基板を介して、信号記録面が備えられてい
るので、光学ピックアップの対物レンズの光軸に対して
光ディスクが傾いた場合には、波面収差が生じて、RF
信号の再生に影響が出てしまう。この際、波面収差に関
しては、開口数の3乗とスキュー角θの約1乗に比例し
て発生する3次のコマ収差が支配的である。従って、低
コストで大量生産されたポリカーボネイト等から成る透
明基板を備えた光ディスクは、スキュー角θが例えば±
0.5乃至±1度もあるので、上記波面収差によって、
光学ピックアップ1の半導体レーザ素子2からの光ディ
スク6への集束スポットが非対称になって、符号間干渉
が著しく増加することになり、正確なRF信号の再生が
行なわれ得なくなってしまう。
厚(一般に、コンパクトディスク等の場合には、1.2
mm)の透明基板を介して、信号記録面が備えられてい
るので、光学ピックアップの対物レンズの光軸に対して
光ディスクが傾いた場合には、波面収差が生じて、RF
信号の再生に影響が出てしまう。この際、波面収差に関
しては、開口数の3乗とスキュー角θの約1乗に比例し
て発生する3次のコマ収差が支配的である。従って、低
コストで大量生産されたポリカーボネイト等から成る透
明基板を備えた光ディスクは、スキュー角θが例えば±
0.5乃至±1度もあるので、上記波面収差によって、
光学ピックアップ1の半導体レーザ素子2からの光ディ
スク6への集束スポットが非対称になって、符号間干渉
が著しく増加することになり、正確なRF信号の再生が
行なわれ得なくなってしまう。
【0010】このため、この3次のコマ収差が光ディス
クのディスク基板厚に比例することに着目して、ディス
ク基板厚を半分の0.6mmにすることにより、3次の
コマ収差を半減させるようにすることが可能である。こ
の場合、光ディスクとして、特性の異なる二つの規格、
即ちディスク基板厚が比較的厚い(例えば1.2mm)
のものと、ディスク基板厚が比較的薄い(例えば0.6
mm)のものが混在することになる。
クのディスク基板厚に比例することに着目して、ディス
ク基板厚を半分の0.6mmにすることにより、3次の
コマ収差を半減させるようにすることが可能である。こ
の場合、光ディスクとして、特性の異なる二つの規格、
即ちディスク基板厚が比較的厚い(例えば1.2mm)
のものと、ディスク基板厚が比較的薄い(例えば0.6
mm)のものが混在することになる。
【0011】ここで、例えば光路中に厚さtの平行平板
が挿入されると、この厚さtと開口数NAに関して、t
×(NA)4 に比例する球面収差が発生するので、対物
レンズは、この球面収差を打ち消すように設計されてい
る。ところで、ディスク基板厚が異なると、球面収差も
異なることから、一方の規格例えばディスク基板厚0.
6mmの光ディスクに対応した対物レンズを使用して、
他方の規格例えばディスク基板厚1.2mmのコンパク
トディスク,追記型光ディスク,光磁気ディスク等の光
ディスクを再生しようとすると、ディスク基板厚の差に
よって、球面収差が発生するので、光学ピックアップが
対応し得るディスク基板の厚さの誤差の許容範囲を大幅
に越えることになる。従って、光ディスクからの戻り光
から、正しく信号を検出することができないという問題
があった。
が挿入されると、この厚さtと開口数NAに関して、t
×(NA)4 に比例する球面収差が発生するので、対物
レンズは、この球面収差を打ち消すように設計されてい
る。ところで、ディスク基板厚が異なると、球面収差も
異なることから、一方の規格例えばディスク基板厚0.
6mmの光ディスクに対応した対物レンズを使用して、
他方の規格例えばディスク基板厚1.2mmのコンパク
トディスク,追記型光ディスク,光磁気ディスク等の光
ディスクを再生しようとすると、ディスク基板厚の差に
よって、球面収差が発生するので、光学ピックアップが
対応し得るディスク基板の厚さの誤差の許容範囲を大幅
に越えることになる。従って、光ディスクからの戻り光
から、正しく信号を検出することができないという問題
があった。
【0012】かくして、従来の光学ピックアップによっ
て、双方の方式の光ディスクを再生することができない
という問題があった。
て、双方の方式の光ディスクを再生することができない
という問題があった。
【0013】本発明は、以上の点に鑑み、ディスク基板
圧の異なる何れの方式の光ディスクであっても、光ディ
スクの再生が正しく行われるようにした、光学ピックア
ップ及び光ディスク装置を提供することを目的としてい
る。
圧の異なる何れの方式の光ディスクであっても、光ディ
スクの再生が正しく行われるようにした、光学ピックア
ップ及び光ディスク装置を提供することを目的としてい
る。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、光ビームを出射する光源と、光源からの光を光デ
ィスクの信号記録面上に合焦するように照射する対物レ
ンズと、前記光源と対物レンズの間に配設された光分離
手段と、光分離手段で分離された光ディスクの信号記録
面からの戻り光ビームを受光する光検出器と、を含んで
おり、さらに、前記光源と光ディスクとの間の光路中に
配設された絞り羽根式の可変開口手段が備えられてい
る、光学ピックアップにより、達成される。
れば、光ビームを出射する光源と、光源からの光を光デ
ィスクの信号記録面上に合焦するように照射する対物レ
ンズと、前記光源と対物レンズの間に配設された光分離
手段と、光分離手段で分離された光ディスクの信号記録
面からの戻り光ビームを受光する光検出器と、を含んで
おり、さらに、前記光源と光ディスクとの間の光路中に
配設された絞り羽根式の可変開口手段が備えられてい
る、光学ピックアップにより、達成される。
【0015】上記構成によれば、光源と光ディスクとの
間に、可変開口手段が備えられているので、再生しよう
とする光ディスクのディスク基板厚に応じて、可変開口
手段の絞り羽根を駆動調整することにより、絞り羽根に
より画成される開口が絞り込まれて、可変開口手段の開
口数が調整され、その結果として球面収差が補正される
ことになる。これにより、光源からの光ビームが可変開
口手段を介して光ディスクの信号記録面に対して正しく
集束され、光ディスクの信号記録面からの戻り光が、光
検出器に入射することによって、常に最適な信号再生が
行われることになる。
間に、可変開口手段が備えられているので、再生しよう
とする光ディスクのディスク基板厚に応じて、可変開口
手段の絞り羽根を駆動調整することにより、絞り羽根に
より画成される開口が絞り込まれて、可変開口手段の開
口数が調整され、その結果として球面収差が補正される
ことになる。これにより、光源からの光ビームが可変開
口手段を介して光ディスクの信号記録面に対して正しく
集束され、光ディスクの信号記録面からの戻り光が、光
検出器に入射することによって、常に最適な信号再生が
行われることになる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、この発明の好適な実施形態
を図1乃至図7を参照しながら、詳細に説明する。尚、
以下に述べる実施形態は、本発明の好適な具体例である
から、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、
本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定
する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるもの
ではない。
を図1乃至図7を参照しながら、詳細に説明する。尚、
以下に述べる実施形態は、本発明の好適な具体例である
から、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、
本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定
する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるもの
ではない。
【0017】図1は、本発明による光学ピックアップを
組み込んだ光ディスク装置の一実施形態を示している。
図1において、光ディスク装置10は、光ディスク11
を回転駆動する駆動手段としてのスピンドルモータ1
2、回転する光ディスク11の信号記録面に対して光ビ
−ムを照射して信号を記録し、この信号記録面からの戻
り光ビ−ムにより記録信号を再生する光学ピックアップ
20及びこれらを制御する制御部13を備えている。こ
こで、制御部13は、光ディスクドライブコントローラ
14、信号復調器15、誤り訂正回路16、インターフ
ェイス17、ヘッドアクセス制御部18及びサーボ回路
19を備えている。
組み込んだ光ディスク装置の一実施形態を示している。
図1において、光ディスク装置10は、光ディスク11
を回転駆動する駆動手段としてのスピンドルモータ1
2、回転する光ディスク11の信号記録面に対して光ビ
−ムを照射して信号を記録し、この信号記録面からの戻
り光ビ−ムにより記録信号を再生する光学ピックアップ
20及びこれらを制御する制御部13を備えている。こ
こで、制御部13は、光ディスクドライブコントローラ
14、信号復調器15、誤り訂正回路16、インターフ
ェイス17、ヘッドアクセス制御部18及びサーボ回路
19を備えている。
【0018】光ディスクドライブコントローラ14は、
スピンドルモータ12を所定の回転数で駆動制御する。
信号復調器15は、光学ピックアップ20からの記録信
号を復調して誤り訂正回路16に送出する。誤り訂正回
路16は、信号復調器15からの記録信号を誤り訂正
し、インターフェイス17を介して外部コンピュータ等
に送出する。これにより、外部コンピュータ等は、光デ
ィスク11に記録された信号を再生信号として受け取る
ことができるようになっている。
スピンドルモータ12を所定の回転数で駆動制御する。
信号復調器15は、光学ピックアップ20からの記録信
号を復調して誤り訂正回路16に送出する。誤り訂正回
路16は、信号復調器15からの記録信号を誤り訂正
し、インターフェイス17を介して外部コンピュータ等
に送出する。これにより、外部コンピュータ等は、光デ
ィスク11に記録された信号を再生信号として受け取る
ことができるようになっている。
【0019】ヘッドアクセス制御部18は、光学ピック
アップ20を例えば光ディスク11上の所定の記録トラ
ックまでトラックジャンプ等により移動させる。サーボ
回路19は、この移動された所定位置において、光学ピ
ックアップ13の2軸アクチュエータに保持されている
対物レンズをフォーカシング方向及びトラッキング方向
に移動させる。
アップ20を例えば光ディスク11上の所定の記録トラ
ックまでトラックジャンプ等により移動させる。サーボ
回路19は、この移動された所定位置において、光学ピ
ックアップ13の2軸アクチュエータに保持されている
対物レンズをフォーカシング方向及びトラッキング方向
に移動させる。
【0020】図2は、上述した光ディスク装置に組み込
まれた、本発明による光学ピックアップの一実施形態を
示している。図2において、光学ピックアップ20は、
無限系の光学ピックアップであって、光源としての半導
体レーザ素子21,光分離手段としてのビームスプリッ
タ22,コリメータレンズ23,対物レンズ24及び光
検出器25と、コリメータレンズ23と対物レンズ24
の間に配設された可変開口手段26と、から構成されて
いる。
まれた、本発明による光学ピックアップの一実施形態を
示している。図2において、光学ピックアップ20は、
無限系の光学ピックアップであって、光源としての半導
体レーザ素子21,光分離手段としてのビームスプリッ
タ22,コリメータレンズ23,対物レンズ24及び光
検出器25と、コリメータレンズ23と対物レンズ24
の間に配設された可変開口手段26と、から構成されて
いる。
【0021】上記半導体レーザ素子21は、半導体の再
結合発光を利用した発光素子であり、光源として使用さ
れる。半導体レーザ素子21から出射した光ビームは、
ビームスプリッタ22に導かれる。
結合発光を利用した発光素子であり、光源として使用さ
れる。半導体レーザ素子21から出射した光ビームは、
ビームスプリッタ22に導かれる。
【0022】ビームスプリッタ22は、その反射面22
aが対物レンズ24の光軸に対して45度傾斜した状態
で配設されており、半導体レーザ素子21から出射した
光ビームと光ディスク27の信号記録面からの戻り光を
分離する。即ち、半導体レーザ素子21からの光ビーム
は、ビームスプリッタ22の反射面22aで反射され、
戻り光は、ビームスプリッタ22を透過する。
aが対物レンズ24の光軸に対して45度傾斜した状態
で配設されており、半導体レーザ素子21から出射した
光ビームと光ディスク27の信号記録面からの戻り光を
分離する。即ち、半導体レーザ素子21からの光ビーム
は、ビームスプリッタ22の反射面22aで反射され、
戻り光は、ビームスプリッタ22を透過する。
【0023】コリメータレンズ23は、凸レンズであっ
て、ビームスプリッタ22で反射された光ビームを、平
行光ビームに変換する。
て、ビームスプリッタ22で反射された光ビームを、平
行光ビームに変換する。
【0024】対物レンズ23は、凸レンズであって、コ
リメータレンズ23からの平行光ビームを、回転駆動さ
れる光ディスク27の信号記録面の所望のトラック上に
集束させる。さらに、対物レンズ24は、図示しない二
軸アクチュエータによって、二軸方向、即ちトラッキン
グ方向及びフォーカシング方向に移動可能に支持されて
いる。
リメータレンズ23からの平行光ビームを、回転駆動さ
れる光ディスク27の信号記録面の所望のトラック上に
集束させる。さらに、対物レンズ24は、図示しない二
軸アクチュエータによって、二軸方向、即ちトラッキン
グ方向及びフォーカシング方向に移動可能に支持されて
いる。
【0025】光検出器25は、ビームスプリッタ22を
透過した戻り光ビームに対して、受光部を有するように
構成されている。
透過した戻り光ビームに対して、受光部を有するように
構成されている。
【0026】上記可変開口手段26は、図4及び図5に
示すように、所謂絞り羽根式可変開口機構として構成さ
れており、光学ピックアップ20の図示しないケースに
対して、支持されている。尚、可変開口手段26は、コ
リメータレンズ23を支持するためのホルダーに取り付
けられていてもよい。この場合、可変開口手段26は、
コリメータレンズと一体に構成されることになるので、
光学ピックアップ20の組立が容易に行われると共に、
光学調整が容易になる。
示すように、所謂絞り羽根式可変開口機構として構成さ
れており、光学ピックアップ20の図示しないケースに
対して、支持されている。尚、可変開口手段26は、コ
リメータレンズ23を支持するためのホルダーに取り付
けられていてもよい。この場合、可変開口手段26は、
コリメータレンズと一体に構成されることになるので、
光学ピックアップ20の組立が容易に行われると共に、
光学調整が容易になる。
【0027】図4及び図5において、可変開口手段26
は、上方が開放した扁平な中空円筒状のベース30と、
このベース30内に、順次に挿入される絞り羽根31,
リング32,プリントコイル33,マグネット34,ヨ
ーク35とを含んでいる。
は、上方が開放した扁平な中空円筒状のベース30と、
このベース30内に、順次に挿入される絞り羽根31,
リング32,プリントコイル33,マグネット34,ヨ
ーク35とを含んでいる。
【0028】ベース30は、その閉じた下面の中心に、
アパーチャ30aを有していると共に、アパーチャ30
aを包囲するように、等角度間隔で複数個(図示の場
合、6個)のボス30bを備えている。
アパーチャ30aを有していると共に、アパーチャ30
aを包囲するように、等角度間隔で複数個(図示の場
合、6個)のボス30bを備えている。
【0029】絞り羽根31は、上記ボス30bと同数の
複数枚(図示の場合、6枚)の同じ形状を有する絞り羽
根から成り、個々の絞り羽根は、それぞれ上記ベース3
0のボス30bに係合する孔31aと、カム溝31bを
備えている。
複数枚(図示の場合、6枚)の同じ形状を有する絞り羽
根から成り、個々の絞り羽根は、それぞれ上記ベース3
0のボス30bに係合する孔31aと、カム溝31bを
備えている。
【0030】リング32は、円盤状に形成されると共
に、その中心に、開口部32aを有し、さらに開口部3
2aの周りに等角度間隔に配設された上記ボス30bと
同数の複数個(図示の場合、6個)の下方に向かって突
出したカムピン32bを備えている。
に、その中心に、開口部32aを有し、さらに開口部3
2aの周りに等角度間隔に配設された上記ボス30bと
同数の複数個(図示の場合、6個)の下方に向かって突
出したカムピン32bを備えている。
【0031】プリントコイル33は、プリント基板33
a上に導電パターンにより形成された複数個(図示の場
合、4個)のコイル33bを有しており、リング32に
対して固着される。
a上に導電パターンにより形成された複数個(図示の場
合、4個)のコイル33bを有しており、リング32に
対して固着される。
【0032】マグネット34は、円環状に形成されると
共に、その円周方向に沿ってS極,N極が交互に並ぶよ
うに、プリントコイル33の各コイル33bに対応して
着磁されている。
共に、その円周方向に沿ってS極,N極が交互に並ぶよ
うに、プリントコイル33の各コイル33bに対応して
着磁されている。
【0033】ヨーク35は、磁性材料によって、円盤状
に形成されており、上記マグネット34が固定されると
共に、ベース30の開放端を閉鎖するように取り付けら
れる。
に形成されており、上記マグネット34が固定されると
共に、ベース30の開放端を閉鎖するように取り付けら
れる。
【0034】このような構成の可変開口手段26は、プ
リントコイル33の各コイル33bに対して駆動電圧が
印加されることによって、各コイル33bに発生する磁
界とマグネット34及びヨーク35による磁界との相互
作用によって、リング32がベース30内で回動する。
この場合、リング32の回動方向は、プリントコイル3
3の各コイル33bに印加される駆動電圧の正負によっ
て決まることになる。
リントコイル33の各コイル33bに対して駆動電圧が
印加されることによって、各コイル33bに発生する磁
界とマグネット34及びヨーク35による磁界との相互
作用によって、リング32がベース30内で回動する。
この場合、リング32の回動方向は、プリントコイル3
3の各コイル33bに印加される駆動電圧の正負によっ
て決まることになる。
【0035】これにより、リング32が図4にて反時計
周りに回動することにより、各絞り羽根31は、それぞ
れそのカム溝31b内をリング32のカムピン32bが
摺動することにより、その孔31aが係合するベース3
0のボス30bを中心として外側に向かって揺動され、
図6に示すように、最大開口を与えるように、ベース3
0のアパーチャ30aの外側に退避する。これに対し
て、リング32が図4にて時計周りに回動すると、各絞
り羽根31は、それぞれそのカム溝31b内をリング3
2のカムピン32bが摺動することにより、その孔31
aが係合するベース30のボス30bを中心として内側
に向かって揺動され、図7に示すように、ベース30の
アパーチャ30aの内側に入り、アパーチャ30aを絞
り込むことになる。
周りに回動することにより、各絞り羽根31は、それぞ
れそのカム溝31b内をリング32のカムピン32bが
摺動することにより、その孔31aが係合するベース3
0のボス30bを中心として外側に向かって揺動され、
図6に示すように、最大開口を与えるように、ベース3
0のアパーチャ30aの外側に退避する。これに対し
て、リング32が図4にて時計周りに回動すると、各絞
り羽根31は、それぞれそのカム溝31b内をリング3
2のカムピン32bが摺動することにより、その孔31
aが係合するベース30のボス30bを中心として内側
に向かって揺動され、図7に示すように、ベース30の
アパーチャ30aの内側に入り、アパーチャ30aを絞
り込むことになる。
【0036】ここで、上記可変開口手段26は、図6に
示すように、絞り羽根31が最大開口を与えるように駆
動された場合には、例えば開口数NA=0.6であり、
また図7に示すように、絞り羽根31が絞り込まれた場
合には、開口数NA=NA0以下であるように、ベース
30のアパーチャ30bの大きさが選定されると共に、
絞り羽根31の駆動調整が行なわれるようになってい
る。尚、NA0は、光源波長λ(μm)の0.45/
0.78倍で表わされる。従って、光源波長λが0.6
35μmの場合にはNA0=0.366,光源波長λが
0.650μmの場合にはNA0=0.37,また光源
波長λが0.680μmの場合にはNA0=0.392
となる。
示すように、絞り羽根31が最大開口を与えるように駆
動された場合には、例えば開口数NA=0.6であり、
また図7に示すように、絞り羽根31が絞り込まれた場
合には、開口数NA=NA0以下であるように、ベース
30のアパーチャ30bの大きさが選定されると共に、
絞り羽根31の駆動調整が行なわれるようになってい
る。尚、NA0は、光源波長λ(μm)の0.45/
0.78倍で表わされる。従って、光源波長λが0.6
35μmの場合にはNA0=0.366,光源波長λが
0.650μmの場合にはNA0=0.37,また光源
波長λが0.680μmの場合にはNA0=0.392
となる。
【0037】これにより、比較的薄いディスク基板厚
0.6mmの光ディスクに対しては、絞り羽根31が最
大開口を与えることにより、上記アパーチャ30aの大
きさに応じて、アパーチャ30aまたは対物レンズ24
のレンズ枠によって、可変開口手段15の開口数NA=
0.6に設定され、また比較的厚いディスク基板厚1.
2mmの光ディスクに対しては、絞り羽根31が絞り込
まれることにより、可変開口手段26の開口数NA=N
A0以下に設定される。
0.6mmの光ディスクに対しては、絞り羽根31が最
大開口を与えることにより、上記アパーチャ30aの大
きさに応じて、アパーチャ30aまたは対物レンズ24
のレンズ枠によって、可変開口手段15の開口数NA=
0.6に設定され、また比較的厚いディスク基板厚1.
2mmの光ディスクに対しては、絞り羽根31が絞り込
まれることにより、可変開口手段26の開口数NA=N
A0以下に設定される。
【0038】本実施形態による光学ピックアップ10
は、以上のように構成されており、先づ比較的薄いディ
スク基板厚0.6mmの光ディスクの再生を行なう場合
について説明する。この場合、可変開口手段26は、図
6に示すように、絞り羽根31が最大開口を与えるよう
に、アパーチャ30aから退避される。この状態にて、
図2に示すように、半導体レーザ素子21からの光ビー
ムは、ビームスプリッタ22の反射面22aで反射され
た後、コリメータレンズ23により平行光に変換され
て、可変開口手段26のアパーチャ30aを通過し、さ
らに対物レンズ24を介して、光ディスク27の信号記
録面に集束される。この際、可変開口手段26によっ
て、NA=0.6に設定されているので、球面収差が低
く抑えられ得るので、光ビームは、光ディスク27の信
号記録面に正しく集束することになる。
は、以上のように構成されており、先づ比較的薄いディ
スク基板厚0.6mmの光ディスクの再生を行なう場合
について説明する。この場合、可変開口手段26は、図
6に示すように、絞り羽根31が最大開口を与えるよう
に、アパーチャ30aから退避される。この状態にて、
図2に示すように、半導体レーザ素子21からの光ビー
ムは、ビームスプリッタ22の反射面22aで反射され
た後、コリメータレンズ23により平行光に変換され
て、可変開口手段26のアパーチャ30aを通過し、さ
らに対物レンズ24を介して、光ディスク27の信号記
録面に集束される。この際、可変開口手段26によっ
て、NA=0.6に設定されているので、球面収差が低
く抑えられ得るので、光ビームは、光ディスク27の信
号記録面に正しく集束することになる。
【0039】光ディスク27からの戻り光は、再び対物
レンズ24,可変開口手段26及びコリメータレンズ2
3を介して、そしてビームスプリッタ22を透過して、
光検出器25に集束する。これにより、光検出器25の
検出信号に基づいて、光ディスク27の記録信号が再生
される。
レンズ24,可変開口手段26及びコリメータレンズ2
3を介して、そしてビームスプリッタ22を透過して、
光検出器25に集束する。これにより、光検出器25の
検出信号に基づいて、光ディスク27の記録信号が再生
される。
【0040】次に、比較的厚いディスク基板厚1.2m
mの光ディスクを再生する場合には、先づ可変開口手段
26は、図7に示すように、絞り羽根31がアパーチャ
30aの内側に揺動され、アパーチャ30aが絞り込ま
れる。そして、この状態にて、図3に示すように、半導
体レーザ素子21からの光ビームは、ビームスプリッタ
22の反射面22aで反射された後、コリメータレンズ
23により平行光にされて、可変開口手段26のアパー
チャ30aを透過し、さらに対物レンズ24を介して、
光ディスク27の信号記録面に集束される。この際、可
変開口手段26によって、NA=NA0以下に設定され
ているが、対物レンズ24がディスク基板厚1.2mm
の光ディスクに対して球面収差が最も抑えられ得るよう
に設計されているので、光ビームは、光ディスク27の
信号記録面に正しく集束することになる。
mの光ディスクを再生する場合には、先づ可変開口手段
26は、図7に示すように、絞り羽根31がアパーチャ
30aの内側に揺動され、アパーチャ30aが絞り込ま
れる。そして、この状態にて、図3に示すように、半導
体レーザ素子21からの光ビームは、ビームスプリッタ
22の反射面22aで反射された後、コリメータレンズ
23により平行光にされて、可変開口手段26のアパー
チャ30aを透過し、さらに対物レンズ24を介して、
光ディスク27の信号記録面に集束される。この際、可
変開口手段26によって、NA=NA0以下に設定され
ているが、対物レンズ24がディスク基板厚1.2mm
の光ディスクに対して球面収差が最も抑えられ得るよう
に設計されているので、光ビームは、光ディスク27の
信号記録面に正しく集束することになる。
【0041】光ディスク27からの戻り光は、再び対物
レンズ24,可変開口手段26及びコリメータレンズ2
3を介して、そしてビームスプリッタ22を透過して、
光検出器25に集束する。これにより、光検出器25の
検出信号に基づいて、光ディスク27の記録信号が再生
される。
レンズ24,可変開口手段26及びコリメータレンズ2
3を介して、そしてビームスプリッタ22を透過して、
光検出器25に集束する。これにより、光検出器25の
検出信号に基づいて、光ディスク27の記録信号が再生
される。
【0042】尚、上記実施形態においては、可変開口手
段26は、コリメータレンズ23と対物レンズ24との
間に配設されているが、これに限らず、光源である半導
体レーザ素子21と光ディスク27との間の光路中に配
設されていればよい。ここで、可変開口手段が、光ディ
スク27とビームスプリッタ22との間の光路中に配設
されている場合には、光源21から光ディスク27への
光ビームと光ディスク27からの戻り光ビームが共に、
可変開口手段によって絞り込まれることになる。これに
対して、可変開口手段が、ビームスプリッタ22と光源
21との間の光路中に配設されている場合には、光源2
1からの光ディスク27への光ビームのみが、可変開口
手段によって絞り込まれると共に、光ディスク27から
の戻り光ビームは、可変開口手段を通過しないので、絞
り込まれることはない。
段26は、コリメータレンズ23と対物レンズ24との
間に配設されているが、これに限らず、光源である半導
体レーザ素子21と光ディスク27との間の光路中に配
設されていればよい。ここで、可変開口手段が、光ディ
スク27とビームスプリッタ22との間の光路中に配設
されている場合には、光源21から光ディスク27への
光ビームと光ディスク27からの戻り光ビームが共に、
可変開口手段によって絞り込まれることになる。これに
対して、可変開口手段が、ビームスプリッタ22と光源
21との間の光路中に配設されている場合には、光源2
1からの光ディスク27への光ビームのみが、可変開口
手段によって絞り込まれると共に、光ディスク27から
の戻り光ビームは、可変開口手段を通過しないので、絞
り込まれることはない。
【0043】また、上記実施形態においては、光ディス
クとして、ディスク基板厚が1.2mm及び0.6mm
のものに関して、それぞれ可変開口手段26の絞り羽根
31が開放されまたは絞り込まれることにより、光ビー
ムを、比較的薄いディスク基板厚の光ディスクと、比較
的厚いディスク基板厚の光ディスクの信号記録面に集束
させるようにしているが、これに限らず、例えば、二枚
の基板を貼り合わせた貼り合わせ光ディスクと、通常の
光ディスクとを再生する場合に、本発明を適用すること
も可能である。
クとして、ディスク基板厚が1.2mm及び0.6mm
のものに関して、それぞれ可変開口手段26の絞り羽根
31が開放されまたは絞り込まれることにより、光ビー
ムを、比較的薄いディスク基板厚の光ディスクと、比較
的厚いディスク基板厚の光ディスクの信号記録面に集束
させるようにしているが、これに限らず、例えば、二枚
の基板を貼り合わせた貼り合わせ光ディスクと、通常の
光ディスクとを再生する場合に、本発明を適用すること
も可能である。
【0044】さらに、上記実施形態においては、光ディ
スク装置10は、再生専用の光ディスク装置であるが、
これに限らず、記録及び再生用の光ディスク装置で使用
される光学ピックアップに対して本発明を適用し得るこ
とは明らかである。
スク装置10は、再生専用の光ディスク装置であるが、
これに限らず、記録及び再生用の光ディスク装置で使用
される光学ピックアップに対して本発明を適用し得るこ
とは明らかである。
【0045】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、記
録及び/または再生しようとする光ディスクのディスク
基板厚に応じて、絞り羽根の駆動により、可変開口手段
の開口数が調整されることにより、球面収差が補正され
る。これにより、光源からの光ビームが可変開口手段を
介して光ディスクの信号記録面に対して正しく集束さ
れ、光ディスクの信号記録面からの戻り光が、光検出器
に入射することによって、常に最適な信号再生が行われ
ることになる。従って、何れの方式の光ディスクであっ
ても、光ディスクの再生が正しく行われるようにした、
光学ピックアップ及び光ディスク装置を提供することが
できる。
録及び/または再生しようとする光ディスクのディスク
基板厚に応じて、絞り羽根の駆動により、可変開口手段
の開口数が調整されることにより、球面収差が補正され
る。これにより、光源からの光ビームが可変開口手段を
介して光ディスクの信号記録面に対して正しく集束さ
れ、光ディスクの信号記録面からの戻り光が、光検出器
に入射することによって、常に最適な信号再生が行われ
ることになる。従って、何れの方式の光ディスクであっ
ても、光ディスクの再生が正しく行われるようにした、
光学ピックアップ及び光ディスク装置を提供することが
できる。
【図1】本発明による光学ピックアップの一実施形態を
組み込んだ光ディスク装置の構成を示すブロック図であ
る。
組み込んだ光ディスク装置の構成を示すブロック図であ
る。
【図2】図1の光ディスク装置に組み込まれた光学ピッ
クアップの比較的薄いディスク基板圧の光ディスクの再
生時における実施形態の概略斜視図である。
クアップの比較的薄いディスク基板圧の光ディスクの再
生時における実施形態の概略斜視図である。
【図3】図1の光ディスク装置に組み込まれた光学ピッ
クアップの比較的厚いディスク基板圧の光ディスクの再
生時における実施形態の概略斜視図である。
クアップの比較的厚いディスク基板圧の光ディスクの再
生時における実施形態の概略斜視図である。
【図4】図2の光学ピックアップにおける可変開口手段
の構成を示す分解斜視図である。
の構成を示す分解斜視図である。
【図5】図4の可変開口手段の断面図である。
【図6】図4の可変開口手段の比較的薄いディスク基板
圧の光ディスクの再生時における概略平面図である。
圧の光ディスクの再生時における概略平面図である。
【図7】図4の可変開口手段の比較的薄いディスク基板
圧の光ディスクの再生時における概略平面図である。
圧の光ディスクの再生時における概略平面図である。
【図8】従来の光学ピックアップの一例を示す概略斜視
図である。
図である。
10・・・光ディスク装置、11・・・光ディスク、1
2・・・スピンドルモータ、13・・・制御部、14・
・・光ディスクトライブコントローラ、15・・・信号
復調器、16・・・誤り訂正回路、17・・・インター
フェイス、18・・・ヘッドアクセス制御部、20・・
・光学ピックアップ、21・・・半導体レーザ素子、2
2・・・ビームスプリッタ、23・・・コリメータレン
ズ、24・・・対物レンズ、25・・・光検出器、26
・・・可変開口手段、27・・・光ディスク、30・・
・ベース、31・・・絞り羽根、32・・・リング、3
3・・・プリントコイル、34・・・マグネット、35
・・・ヨーク。
2・・・スピンドルモータ、13・・・制御部、14・
・・光ディスクトライブコントローラ、15・・・信号
復調器、16・・・誤り訂正回路、17・・・インター
フェイス、18・・・ヘッドアクセス制御部、20・・
・光学ピックアップ、21・・・半導体レーザ素子、2
2・・・ビームスプリッタ、23・・・コリメータレン
ズ、24・・・対物レンズ、25・・・光検出器、26
・・・可変開口手段、27・・・光ディスク、30・・
・ベース、31・・・絞り羽根、32・・・リング、3
3・・・プリントコイル、34・・・マグネット、35
・・・ヨーク。
Claims (10)
- 【請求項1】 光ビームを出射する光源と、 光源からの光を光ディスクの信号記録面上に合焦するよ
うに照射する対物レンズと、 前記光源と対物レンズの間に配設された光分離手段と、 光分離手段で分離された光ディスクの信号記録面からの
戻り光ビームを受光する光検出器と、を含んでおり、 さらに、前記光源と光ディスクとの間の光路中に配設さ
れた絞り羽根式の可変開口手段が備えられていることを
特徴とする光学ピックアップ。 - 【請求項2】 前記可変開口手段が、ディスク基板厚の
異なる第1及び第2の種類の光ディスクに関して、再生
しようとする光ディスクのディスク基板厚に応じて、開
口数が調整されることを特徴とする請求項1に記載の光
学ピックアップ。 - 【請求項3】 前記可変開口手段は、その最大開口が、
前記第1の種類のディスクの基板厚に対応する開口数を
備えるように、選定されていることを特徴とする請求項
2に記載の光学ピックアップ。 - 【請求項4】 前記可変開口手段は、その最大開口が、
前記第1の種類のディスクの基板厚に対応する開口数よ
り大きくなるように、選定されていることを特徴とする
請求項2に記載の光学ピックアップ。 - 【請求項5】 前記開口手段が、コリメータレンズを支
持するホルダーに取り付けられていることを特徴とする
請求項1に記載の光学ピックアップ。 - 【請求項6】 前記可変開口手段が、対物レンズと光源
との間の光路中に配設されていることを特徴とする請求
項1に記載の光学ピックアップ。 - 【請求項7】 前記可変開口手段が、対物レンズと光分
離手段との間の光路中に配設されていることを特徴とす
る請求項1に記載の光学ピックアップ。 - 【請求項8】 前記可変開口手段が、光分離手段と光源
との間の光路中に配設されていることを特徴とする請求
項1に記載の光学ピックアップ。 - 【請求項9】 前記可変開口手段が、対物レンズと光デ
ィスクとの間の光路中に配設されていることを特徴とす
る請求項1に記載の光学ピックアップ。 - 【請求項10】 光ディスクを回転駆動する駆動手段
と、 この光ディスクに対して対物レンズを介して光を照射
し、光ディスクからの信号記録面からの戻り光を対物レ
ンズを介して光検出器により検出する光学ピックアップ
と、 対物レンズを二軸方向に移動可能に支持する二軸アクチ
ュエータと、 光検出器からの検出信号に基づいて、再生信号を生成す
る信号処理回路と、 光検出器からの検出信号に基づいて、光学ピックアップ
の対物レンズを二軸方向に移動させるサーボ回路とを有
し、 前記光学ピックアップが、 光ビームを出射する光源と、 光源からの光を光ディスクの信号記録面上に合焦するよ
うに照射する対物レンズと、 前記光源と対物レンズの間に配設された光分離手段と、 光分離手段で分離された光ディスクの信号記録面からの
戻り光ビームを受光する光検出器と、を含んでおり、 さらに、前記光源と光ディスクとの間の光路中に配設さ
れた絞り羽根式の可変開口手段が備えられていることを
特徴とする、光ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8184189A JPH1011793A (ja) | 1996-06-25 | 1996-06-25 | 光学ピックアップ及び光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8184189A JPH1011793A (ja) | 1996-06-25 | 1996-06-25 | 光学ピックアップ及び光ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1011793A true JPH1011793A (ja) | 1998-01-16 |
Family
ID=16148924
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8184189A Pending JPH1011793A (ja) | 1996-06-25 | 1996-06-25 | 光学ピックアップ及び光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1011793A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100414620C (zh) * | 2003-06-30 | 2008-08-27 | 株式会社大宇电子 | 对准全息rom系统的设备和方法 |
-
1996
- 1996-06-25 JP JP8184189A patent/JPH1011793A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100414620C (zh) * | 2003-06-30 | 2008-08-27 | 株式会社大宇电子 | 对准全息rom系统的设备和方法 |
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