JPH10118542A - 硬基板塗布方法および装置 - Google Patents

硬基板塗布方法および装置

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JPH10118542A
JPH10118542A JP29466096A JP29466096A JPH10118542A JP H10118542 A JPH10118542 A JP H10118542A JP 29466096 A JP29466096 A JP 29466096A JP 29466096 A JP29466096 A JP 29466096A JP H10118542 A JPH10118542 A JP H10118542A
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JP
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coating
chamber
liquid
coating liquid
amount
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Application number
JP29466096A
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English (en)
Inventor
Yasuyoshi Yao
泰敬 八尾
Tatsuya Emoto
辰弥 江本
Shinya Yamazaki
信哉 山崎
Toshiyuki Fujikura
利之 藤倉
Masabumi Ozaki
正文 尾崎
Masao Otsu
政夫 大津
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 マイクロロッドバーとニップローラとの間に
硬基板を挟んで送ることにより、塗布液を塗布する場合
に、マイクロロッドバーとニップローラの周速度比を変
えたり、マイクロロッドバーの金属ワイヤ径を変更する
ことなく塗布膜厚を微少に変える。 【解決手段】 標準濃度の母液に対して所定量の希釈液
を混合して所定濃度に調整した塗布液をチャンバに準備
しておき、このチャンバの塗布液を塗布液槽に供給しつ
つ塗布を行う。ここに希釈液の量は、A1=Bt/(1
−t)で求めることができる。但しBは母液の重量、t
は標準膜厚に対する膜厚の減少割合である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ガラス基板を用いた液
晶表示板などの製造に用いられ、フォトレジストなどの
塗布液を硬基板に薄く均一に塗布するための硬基板塗布
方法と装置とに関するものである。
【0002】
【従来の技術】液晶板の製造工程の中には、ガラス基板
などの硬基板にフォトレジストなどの塗布液を薄く均一
な厚さに塗布する工程がある。例えばカラー液晶板の製
造においては、透明電極を予め形成したガラス基板に、
フォトレジストの機能を有する赤のカラ−モザイク液を
均一に塗布した後、露光して赤に対応するカラ−モザイ
クを硬化させ、余分の液を除去することにより赤のカラ
ーモザイクを形成している。そしてこれと同様な処理を
緑、青などの他の色について繰り返している。このよう
にフォトレジストとなる塗布液を塗布する場合、この液
は均一な厚さ(例えば1μ±3%程度)に厳密に管理し
て薄く塗布する必要がある。この塗布の厚さが不均一で
あると、光の透過率のむらが生じ、品質の低下を招くこ
とになるからである。
【0003】従来はこの塗布のためにスピンコータが用
いられていた。このスピンコータは回転させた基板の回
転中心付近に塗布液を滴下し、この液を遠心力を利用し
て飛散させることにより塗布するものである。しかしこ
のスピンコータを用いる方法では基板の交換に手間取り
作業能率が悪くなるばかりでなく、飛散して捨てられる
液の量が増えることになる。このためコストアップにな
るという問題があった。
【0004】そこで水平に配設された上下一対のローラ
間に基板を挟んで塗布する装置を用いることが考えられ
ている。この装置は下のローラとなるマイクロロッドバ
ーの下部を塗布液に浸漬し、このマイクロロッドバーと
この上方に位置するニップローラとの間に基板を挟んで
送りながら、マイクロロッドバーにより基板の下面に塗
布するものである。
【0005】ここにマイクロロッドバーは断面円形の金
属ロッドの表面に細い金属ワイヤを密着するように巻き
付けたもので、金属ワイヤ間の溝による毛細管現象を利
用して液を塗布するものである。
【0006】
【従来技術の問題点】この塗布方法においては、同一の
塗布液を用いる場合、塗布膜厚はマイクロロッドバーに
よってほぼ一義的に決まる。従って膜厚を変えるために
はマイクロロッドバーを取り換える必要が生じる。しか
しこの場合に得られる膜厚は段階的であって、極く僅か
に膜厚を変えたいという要求に対応できないという問題
があった。
【0007】例えば金属ロッドに巻き付ける金属ワイヤ
の直径は、通常5μm間隔とか10μm間隔のものしか
入手できないため、5μm以内の間隔(例えば2μm間
隔)で変化する膜厚を得ることができなかった。なお任
意の直径の金属ワイヤを特別に作れば、望みの膜厚を得
ることは可能であるが、特別な金属ワイヤの製作には大
変な手間と時間を要する。
【0008】なおニップローラとマイクロロッドバーの
周速度比を変えることによっても膜厚を変えることは可
能である。しかしこの場合には硬基板とマイクロロッド
バーとの間に擦れが発生し、硬基板やマイクロロッドバ
ーに傷が付くことになるので実用上望ましくない。
【0009】
【発明の目的】この発明はこのような事情に鑑みなされ
たものであり、ニップローラとマイクロロッドバーとの
周速度比を変えることなく、またマイクロロッドバーの
金属ワイヤとして特別に径の異なるものを用意すること
なく膜厚を微小に変えることができる硬基板塗布方法を
提供することを目的とする。
【0010】またこの方法の実施に直接使用する硬基板
塗布装置を提供することを第2の目的とする。
【0011】
【発明の構成】本発明によれば第1の目的は、下部が塗
布液槽に浸漬されたマイクロロッドバーと、このマイク
ロロッドバーの上方に対向配置されたニップローラとの
間に、硬基板を水平に挟んで送ることにより、前記硬基
板の下面に塗布液を塗布する硬基板塗布方法において、
塗布液の標準濃度の母液に所定量の希釈液を混合して所
定濃度に調整した塗布液をチャンバに準備し、このチャ
ンバ内の塗布液を塗布液槽に供給しつつ塗布を行うこと
を特徴とする硬基板塗布方法、により達成される。
【0012】ここに希釈液の混合量A1は、膜厚を標準
で1(=100%)としてこれをt×100%薄くする
場合には、A1=B(t/(1−t))、(ただしBは
チャンバ内の母液の重量)で算出できる。またN枚塗布
した時にチャンバに母液および希釈液を補充する場合に
は、母液をb=NC(1−t)、希釈液をA2=B(t
/(1−t))で算出される量を補充すればよい。ここ
にCは基板1枚当りの塗布量である。希釈液は塗布中に
一部が蒸発するから、この蒸発分を実験で求めて前記補
充量A2に追加してもよい。
【0013】本発明の第2の目的は、下部が塗布液槽に
浸漬されたマイクロロッドバーと、このマイクロロッド
バーの上方に対向配置されたニップローラとの間に、硬
基板を水平に挟んで送ることにより、前記硬基板の下面
に塗布液を塗布する硬基板塗布装置において、所定濃度
に希釈した塗布液を収容するチャンバと、このチャンバ
に収容する塗布液の液量を測定する液量センサと、前記
チャンバへ標準濃度の母液を供給する母液供給系と、前
記チャンバへ希釈液を供給する希釈液供給系と、前記チ
ャンバ内の塗布液を塗布液槽に供給する塗布液供給系
と、前記塗布液槽内の塗布液を循環させる循環ポンプ
と、塗布膜厚さに基づいて母液と希釈液の供給量を演算
し前記チャンバにこれらを供給して所定濃度の塗布液を
生成すると共にこの希釈した塗布液を塗布液槽に供給し
全体の制御を行う制御部とを備えることを特徴とする硬
基板塗布装置、により達成される。
【0014】循環ポンプは塗布液槽内の液だけを循環さ
せるものであってもよいが、この場合には塗布液槽の液
面レベルを監視して、この液面レベルが基準レベルより
下った時には塗布液供給系を作動させて供給する。循環
ポンプは塗布液槽とチャンバとの間で循環させるもので
あってもよい。液量センサはチャンバの重量を測定する
重量センサで構成でき、この場合にはチャンバに母液お
よび希釈液を別々に供給した時のチャンバ重量の変化か
ら、母液あるいは希釈液の供給量を求めることができ
る。
【0015】
【実施態様】図1は本発明の一実施例の全体配置図、図
2はその要部の斜視図、図3は制御系統図、図4は動作
の流れ図である。
【0016】図1、2において、符号10は液晶板のカ
ラーフィルタに用いるガラス基板であり、硬基板となる
ものである。このガラス基板10は例えば幅300〜7
00mm、長さ400〜900mm、厚さ0.7mmの
ものである。
【0017】12は塗布液槽、14はマイクロロッドバ
ーである。マイクロロッドバー14は断面円形のロッド
の表面に細い金属線を密着するように巻き付けたもので
あり、金属線間の溝による毛細管現象を利用して液を塗
布するものである。マイクロロッドバー14は塗布液槽
12の中に設けたバックアップ材16に載った状態でモ
ータ駆動される。
【0018】塗布液18はマイクロロッドバー14の下
部が十分に浸るようにその液面が一定に管理されてい
る。なおマイクロロッドバー14の外径(直径)は約6
〜12mmである。20はニップローラであり、マイク
ロロッドバー14の上方に所定間隙を保ちつつ回転自在
に保持されている。
【0019】ガラス基板10はその左右両縁を搬送ロー
ラに載せた状態で図1、2の左側から搬送され、その前
縁がマイクロロッドバー14とニップローラ20の間に
進入する。そしてそれ以後はニップローラ20とマイク
ロロッドバー14の回転により右側へ一定速度で送ら
れ、その間にマイクロロッドバー14よってガラス基板
10の下面に液が塗布されるものである。
【0020】図1、2において符号22は搬送ローラで
あり、ガラス基板10の左右両縁部の下面だけに接触す
る。搬送ローラ22は図2に示すケース24に収容され
た駆動機構により駆動され、ガラス基板10を一定速度
で搬送する。
【0021】塗布液槽12は、基板10の送り方向に直
交する方向に長く、ここには給液パイプから新しい液が
供給される一方、排液口から塗布液が排出される。この
塗布液の液面は図3に示す液面センサ26により監視さ
れ、常に一定に管理される。
【0022】マイクロロッドバー14はその上部が液か
ら露出するように水平に保持されている。またマイクロ
ロッドバー14の中間部分は図2に示したバックアップ
部材16により下方から支持されている。このバックア
ップ部材16は、摺動性に優れた硬質の合成樹脂で作ら
れ、その上面に長手方向に沿って形成された半円形の溝
がマイクロロッドバー14に下方から当接してマイクロ
ロッドバー14のたわみを防止するものである。
【0023】マイクロロッドバー14の一端(図1にお
ける奥側の端)は塗布液槽12より後方へ突出し、この
突出端は着脱自在な継手によって電動モータ(図示せ
ず)に接続されている。この電動モータの回転は搬送ロ
ーラ22にも伝えられガラス基板10の送り速度が搬送
ローラ22の搬送速度と等速になるようにされている。
前記ニップローラ20の表面は導電性ゴムで作られ、マ
イクロロッドバー14との間にガラス基板10を挟んだ
状態でガラス基板10に所定の挟圧力を付与するように
保持されている。
【0024】図3において30はチャンバであり、塗布
液槽12に供給する塗布液を収容する。塗布液はこのチ
ャンバ30で標準濃度の母液と希釈液とを混合すること
により、所定の濃度に調整される。このチャンバ30の
底には撹料機32が取付けられ、またチャンバ30の重
量が重量センサ34で測定可能である。重量センサ34
は、チャンバ30に液(母液、希釈液)を別々に供給す
ることによる重量変化を検出し、この重量変化から供給
液量を測定するものである。
【0025】チャンバ30は気密に作られ、この中の塗
布液はチャンバ30内を加圧する加圧ポンプ36と電磁
式送液バルブ38とで形成される塗布液供給系40によ
って塗布液槽12に送られる。すなわちチャンバ30内
を加圧ポンプ36で加圧した状態で、送液バルブ38を
開くことにより塗布液をチャンバ30から塗布液槽12
に送ることができる。
【0026】なお塗布液槽12では液面レベルが液面セ
ンサ26で監視される一方、所定液面レベルを超えると
オーバフロー通路42を経てチャンバ30に環流する。
また塗布液槽14の塗布液は、電磁式の排液バルブ44
を開くことにより、排液ボトル46に排出することがで
きる。
【0027】50は母液供給系であり、標準濃度の母液
を収容する気密な母液タンク52と、この母液タンク5
2内を加圧する加圧ポンプ54と、母液タンク52から
母液をチャンバ30に導く通路に設けた電磁式の送液バ
ルブ56とを持つ。従って送液バルブ56を開くことに
より母液タンク52から母液をチャンバ30内に送るこ
とができる。
【0028】60は希釈液供給系であり、希釈液を収容
する希釈液タンク62と、このタンク62内の希釈液を
チャンバ30に導く送液ポンプ64、66とを持つ。送
液ポンプ64はチャンバ30内の塗布液を所定濃度にす
るために希釈液を供給する。また送液ポンプ66は希釈
液の蒸発による塗布液濃度の変化を補正するため、蒸発
量に相当する量の希釈液を補充する。
【0029】70は循環ポンプであり、塗布液槽14内
に塗布液の静かな一定方向への流れを生成して、塗布液
の淀みの発生を防ぎ濃度分布が不均一になるのを防ぐも
のである。72は制御部である。この制御部72は母液
と希釈液のチャンバ30への供給量を制御して設定した
塗布膜厚を得るための濃度の塗布液を生成すると共に、
各バルブやポンプなどを含む全体の制御を行う。
【0030】この制御部72では次のようにして母液お
よび希釈液の供給量を演算する。まず標準濃度を持つ母
液をマイクロロッドバー12を用いて塗布する場合の膜
厚を標準膜厚として1(すなわち100%)とする。こ
の母液を希釈して膜厚をt×100%薄くする場合を考
える。
【0031】まずチャンバ30内に重量B(グラム)の
母液だけを入れた状態では、母液の固型分濃度(%)を
100K(%)として固型分の総重量はKB(グラム)
で求めることができる。
【0032】一方膜厚をt×100%薄くする場合は、
チャンバ30内の固型分濃度をK(1−t)×100%
にすればよい。またこの時に供給する希釈液の重量をA
1(グラム)とすれば、チャンバ30内の液重量は(B
+A1)(グラム)である。従ってこの希釈液を混合し
た場合の固型分の総重量はK(1−t)(B+A1)で
あり、これは希釈する前の母液だけの固型分の総重量K
Bと等しいはずである。
【0033】従って、KB=K(1−t)(B+A1
から、A1=B(t/(1−t))、が得られる。この
式を以下(a)という。制御部72ではこの演算によ
り、母液の供給量Bと希釈液の供給量A1とを求める。
以上の関係をまとめて示せば次の表のようになる。
【0034】
【表1】
【0035】次にN枚の基板を塗布した時に、母液およ
び希釈液をチャンバ30に補充する場合を考える。基板
1枚当りの塗布量(グラム)をCとすれば、N枚の塗布
を終わった時点での固型分の消費量は固型分濃度がK
(1−t)であるから、NC×K(1−t)である。こ
の消費量を補充するために必要な母液の重量bはbKで
あるから、bK=NC×K(1−t)である。従ってb
=NC(1−t)で補充すべき母液の量bが求められ
る。
【0036】この時補充すべき希釈液の重量A2は、前
記の式(a)を用いて、A2=b{t/(1−t)}=
NCtとなる。なおこの間に希釈液の蒸発量a2を実験
で知ることができれば、希釈液の補充量はA2+a2とな
る。
【0037】
【動作】制御部72はこのようにして母液の量B、希釈
液の量A1、補充量b、A2およびa2を決定して、図4
に示すように各部を制御する。すなわちまずポンプ54
で母液タンク52内を加圧する一方、バルブ56を開い
てチャンバ30に母液を供給する(図4、ステップ10
0)。この間に、チャンバ30の重量が供給量B分だけ
増加するのを重量センサ34で確認する(ステップ10
2)。供給量がBに達するとバルブ56を閉じて母液の
供給を停止する(ステップ104)。
【0038】一方希望の塗布膜厚を図示しないキーボー
ドなどから入力する(ステップ106)。この膜厚は標
準膜厚を100%として(1−t)×100%と表すも
のとすることは前記した通りである。制御部72は希釈
ポンプ64を始動して(ステップ108)、希釈を行う
(ステップ110)。希釈液を供給しながらチャンバ3
0の重量を重量センサ34で監視する(ステップ11
2)。
【0039】希釈液の供給量がA1になると希釈ポンプ
64を停止し、希釈を終りとする(ステプ114)。次
に撹拌機32を始動させ、チャンバ30内の液を均一に
撹拌する(ステップ116)。このチャンバ30の液を
撹拌しながら塗布液供給系40を作動させ、チャンバ3
0内の塗布液を塗布液槽12に供給する(ステップ11
8)。すなわちポンプ36でチャンバ30内を加圧する
一方、バルブ38を開く。
【0040】塗布液槽12の液面レベルは液面センサ2
6で検出され、所定の液面レベルに達すると(ステップ
120)、塗布液の供給を停止する(ステップ12
2)。そして次に循環ポンプ70を始動して塗布液槽1
2内に静かな流動を生成し、液の淀みや液濃度の不均一
部分が発生するのを防止する(ステップ124)この液
循環により液面が低下した分は、再度塗布液供給系40
を作動させ、チャンバ30内の塗布液を所定の液面レベ
ルに達するまで塗布液槽12に供給する(ステップ11
8の繰り返し)。この状態でガラス基板10への塗布を
開始する(ステプ126)。すなわち図1、2に示した
マイクロロッドバー14とニップローラ20と搬送ロー
ラ22とを所定の速度で回転させ、ガラス基板10を送
ってその下面に塗布するものである。
【0041】ガラス基板10の塗布を続ける間、液面セ
ンサ26は常時液面レベルを監視し(ステップ12
8)、液面レベルが規定レベル以下になると循環ポンプ
70を停止し、塗布を中断する(ステップ130)。そ
して塗布液をチャンバ30から塗布液槽12に補充すれ
ばよいが、この実施態様ではこの時チャンバ30の重量
を測定し、チャンバ30内に残る塗布液量が十分あるか
否かを判定する(ステプ132)。十分な塗布液がチャ
ンバ30にあれば、ステップ118〜124の動作によ
り、所定液面レベルになるまで塗布液を塗布液槽12に
送る。
【0042】チャンバ30内の液量が規定量以下になっ
ていれば(ステップ132)、撹拌機32を停止して
(ステップ134)、ステップ100〜114の動作に
より母液および希釈液をチャンバ30に供給する。この
時の供給量は、前記したように塗布した基板10の枚数
Nに基づき決定する。すなわち母液をb=NC×(1−
t)供給し、希釈液をa1=b{t/(1−t)}供給
する。
【0043】希釈液の蒸発量a2が求められれば、この
蒸発量a2も同時に補充する。すなわちA2+a2をポン
プ66で補充すればよい。蒸発量a2は塗布液槽からの
蒸発量を補正するものであるから、従ってa2を別のポ
ンプで直接塗布液槽に供給するようにしてもよい。
【0044】すなわち、チャンバー30への希釈液供給
量はポンプ64にて母液量Bに対してはA1、母液量b
に対してはa2とする。そして蒸発量補正用の補充溶媒
2はポンプ66にて直接塗布液槽の循環系に常時供給
する。なお補充溶媒の供給はどちらのポンプで行っても
よいし、ポンプ66はポンプ64と共通とし、一方のポ
ンプ66を省いて64だけを用いてもよい。
【0045】
【他の実施態様】図5は他の実施態様の制御系統図であ
る。この実施態様では、循環ポンプ70Aは塗布液を塗
布液槽12とチャンバ30とを含む循環路に循環させ
る。
【0046】すなわち塗布液供給系40は規定の液面レ
ベルまで塗布液を塗布液槽12に送る一方、その後は循
環ポンプ70Aがチャンバ30から塗布液を塗布液槽1
2に送る。なおオーバーフロー通路42は塗布液槽12
の液面を一定に保つ。この図5においては図3と同一部
分に同一符号を付したから、その説明は繰り返さない。
【0047】
【発明の効果】請求項1の発明は以上のように、標準濃
度の母液を所定量の希釈液で希釈して所定濃度に調整し
た塗布液をチャンバに準備し、このチャンバから塗布液
を塗布液槽に供給するようにしたから、マイクロロッド
バーとニップローラとの周速比を変えることなく、また
マイクロロッドバーを変更することなく塗布膜厚を変え
ることができる。このためマイクロロッドバーに巻きつ
ける金属ワイヤを特別な径のものにする必要が無くな
る。
【0048】この場合希釈液の混合量A1は、標準膜厚
を100とし、(1−t)×100%に薄くするには、
1=B{t/(1−t)}、(ただしBは母液の重
量)で算出できる(請求項2)。N枚塗布した後に母液
および希釈液を補充する場合は、母液をb=NC(1−
t)(ただしCは1枚の塗布に消費される固形分の重
量)補充し、希釈液をA2=b{t/(1−t)}補充
すればよい(請求項3)。希釈液の補充量A2には希釈
液の蒸発量a2を実験により求めて追加してもよい(請
求項4)。
【0049】請求項5の発明によれば、この方法の実施
に直接用いる硬基板塗布装置が得られる。塗布液槽には
液面のレベルセンサを設け、この液面レベルを一定に保
ちつつ循環ポンプがこの塗布液槽内の塗布液を循環させ
るように構成することができる(請求項6)。循環ポン
プはチャンバと塗布液槽との間で循環させるようにして
もよい(請求項7)。チャンバに供給する液量を検出す
る液量センサは、チャンバの重量を検出する重量センサ
で形成し、母液と希釈液を別々に供給してその時の重量
変化から各液の供給量を検出することができる(請求項
8)。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の全体配置図
【図2】その塗布部の拡大斜視図
【図3】制御系統図
【図4】動作の流れ図
【図5】他の実施態様の制御系統図
【符号の説明】
10 ガラス基板(硬基板) 12 塗布液槽 14 マイクロロッドバー 20 ニップローラ 22 搬送ローラ 26 液面レベルセンサ 30 チャンバ 32 撹拌機 34 液量センサとしての重量センサ 40 塗布液供給系 50 母液供給系 60 希釈液供給系 70、70A 循環ポンプ 72 制御部
【手続補正書】
【提出日】平成9年3月18日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0034
【補正方法】変更
【補正内容】
【0034】
【表1】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤倉 利之 神奈川県綾瀬市小園1005番地 富士マイク ログラフイックス株式会社内 (72)発明者 尾崎 正文 神奈川県綾瀬市小園1005番地 富士マイク ログラフイックス株式会社内 (72)発明者 大津 政夫 神奈川県綾瀬市小園1005番地 富士マイク ログラフイックス株式会社内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 下部が塗布液槽に浸漬されたマイクロロ
    ッドバーと、このマイクロロッドバーの上方に対向配置
    されたニップローラとの間に、硬基板を水平に挟んで送
    ることにより、前記硬基板の下面に塗布液を塗布する硬
    基板塗布方法において、塗布液の標準濃度の母液に所定
    量の希釈液を混合して所定濃度に調整した塗布液をチャ
    ンバに準備し、このチャンバ内の塗布液を塗布液槽に供
    給しつつ塗布を行うことを特徴とする硬基板塗布方法。
  2. 【請求項2】 希釈液の混合量A1は、塗布膜厚を標準
    よりt×100%薄くする場合に、式A1=B(t/
    (1−t))(ただしBはチャンバ内の母液の重量)で
    算出する請求項1の硬基板塗布方法。
  3. 【請求項3】 塗布の途中でチャンバに母液および希釈
    液を補充する場合に、硬基板1枚当りの塗布量をCとし
    て、N枚塗布する毎に補充する母液の補充量bを、式:
    b=NC(1−t)、で算出し、希釈液の補充量A
    2を、式:A2=b(t/(1−t))で算出する請求項
    2の硬基板塗布方法。
  4. 【請求項4】 希釈液の補充量A2には、実験により求
    めた蒸発量に相当する補充量を追加した請求項3の硬基
    板塗布方法。
  5. 【請求項5】 下部が塗布液槽に浸漬されたマイクロロ
    ッドバーと、このマイクロロッドバーの上方に対向配置
    されたニップローラとの間に、硬基板を水平に挟んで送
    ることにより、前記硬基板の下面に塗布液を塗布する硬
    基板塗布装置において、所定濃度に希釈した塗布液を収
    容するチャンバと、このチャンバに収容する塗布液の液
    量を測定する液量センサと、前記チャンバへ標準濃度の
    母液を供給する母液供給系と、前記チャンバへ希釈液を
    供給する希釈液供給系と、前記チャンバ内の塗布液を塗
    布液槽に供給する塗布液供給系と、前記塗布液槽内の塗
    布液を循環させる循環ポンプと、塗布膜厚さに基づいて
    母液と希釈液の供給量を演算し前記チャンバにこれらを
    供給して所定濃度の塗布液を生成すると共にこの希釈し
    た塗布液を塗布液槽に供給し全体の制御を行う制御部と
    を備えることを特徴とする硬基板塗布装置。
  6. 【請求項6】 塗布液槽の液面レベルを検出するレベル
    センサを備え、前記塗布液供給系はこのレベルセンサが
    検出する所定液面レベルに液面レベルを保ち、循環ポン
    プはこの塗布液槽内との間で塗布液を循環させる請求項
    5の硬基板塗布装置。
  7. 【請求項7】 循環ポンプはチャンバと塗布液槽との間
    で塗布液を循環させる請求項5の硬基板塗布装置。
  8. 【請求項8】 液量センサは、チャンバの重量を測定す
    る重量センサであり、この重量センサの測定結果の変化
    量からチャンバに別々に供給された母液および希釈液の
    液量を検出する請求項1の硬基板塗布方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002126593A (ja) * 2000-10-23 2002-05-08 Misawa Homes Co Ltd 塗布装置及び塗布剤供給方法
JP2009526651A (ja) * 2006-02-15 2009-07-23 エアー・リキッド・エレクトロニクス・ユー.エス.・エルピー 正確な制御を用いて液体をディスペンスする方法及び装置
JP2011050823A (ja) * 2009-08-31 2011-03-17 Fujifilm Corp 液付与装置及び画像形成装置

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