JPH10132720A - つかみ具 - Google Patents
つかみ具Info
- Publication number
- JPH10132720A JPH10132720A JP28965096A JP28965096A JPH10132720A JP H10132720 A JPH10132720 A JP H10132720A JP 28965096 A JP28965096 A JP 28965096A JP 28965096 A JP28965096 A JP 28965096A JP H10132720 A JPH10132720 A JP H10132720A
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- JP
- Japan
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- test piece
- gripper
- hole
- pair
- insertion hole
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 一対の円筒コロをつかみ具本体に形成された
貫通孔に挿入して試験片を保持するつかみ具において、
円筒コロが貫通孔内周面に沿って摺動しても円筒コロが
試験片に当接しないようにする。 【解決手段】 つかみ具本体12の貫通孔10に挿入さ
れる円筒コロ13,14の間隔を一定に保つためのスペ
ーサ15,16を試験片Tの取り付け時に試験片Tとと
もに貫通孔10に挿入する。
貫通孔に挿入して試験片を保持するつかみ具において、
円筒コロが貫通孔内周面に沿って摺動しても円筒コロが
試験片に当接しないようにする。 【解決手段】 つかみ具本体12の貫通孔10に挿入さ
れる円筒コロ13,14の間隔を一定に保つためのスペ
ーサ15,16を試験片Tの取り付け時に試験片Tとと
もに貫通孔10に挿入する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、引張試験の際に試
験片を確実に保持するつかみ具に関する。
験片を確実に保持するつかみ具に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、上下一対のつかみ具に試験片
の両端を把持して試験片を負荷する材料試験機が知られ
ている。この種の材料試験機では、つかみ具に設けられ
たつかみ歯をねじや空気チャックにより試験片に離接さ
せてこの試験片を把持している。一方、図5に示すよう
に、つかみ具本体40に貫通孔50および貫通孔50ま
で達する切欠部51を形成し、この貫通孔50および切
欠部51に試験片Tを挿入することにより試験片Tを保
持するようにしたつかみ具が知られている。図5では図
示を省略したが、つかみ具本体40の上端には材料試験
機のクロスヘッドなどと連結する連結部が設けられる。
このようなつかみ具においては、貫通孔50に挿入され
た試験片Tを保持するために、図6に示すように、貫通
孔50に摺接する摺接面P1と試験片Tのテーパ部に当
接する当接面P2とを有する一対の円筒コロ53,54
を貫通孔50に挿入し、この円筒コロ53,54により
試験片Tをつかみ具に保持している。このようにして試
験片Tを保持することにより、試験片Tは負荷軸に対し
て平行に保持されることとなる。なお、この種のつかみ
具はセラミックなどの脆性材料試験片に用いて好適であ
る。
の両端を把持して試験片を負荷する材料試験機が知られ
ている。この種の材料試験機では、つかみ具に設けられ
たつかみ歯をねじや空気チャックにより試験片に離接さ
せてこの試験片を把持している。一方、図5に示すよう
に、つかみ具本体40に貫通孔50および貫通孔50ま
で達する切欠部51を形成し、この貫通孔50および切
欠部51に試験片Tを挿入することにより試験片Tを保
持するようにしたつかみ具が知られている。図5では図
示を省略したが、つかみ具本体40の上端には材料試験
機のクロスヘッドなどと連結する連結部が設けられる。
このようなつかみ具においては、貫通孔50に挿入され
た試験片Tを保持するために、図6に示すように、貫通
孔50に摺接する摺接面P1と試験片Tのテーパ部に当
接する当接面P2とを有する一対の円筒コロ53,54
を貫通孔50に挿入し、この円筒コロ53,54により
試験片Tをつかみ具に保持している。このようにして試
験片Tを保持することにより、試験片Tは負荷軸に対し
て平行に保持されることとなる。なお、この種のつかみ
具はセラミックなどの脆性材料試験片に用いて好適であ
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た貫通孔50を有するつかみ具においては、円筒コロ5
3,54をセットする位置は貫通孔50の円周方向の任
意の位置に設定可能であるため、試験片Tおよび円筒コ
ロ53,54のテーパ部の製作誤差により円筒コロ5
3,54の間隔とつかみ具本体の切欠部51との位置が
ずれることがある。このように円筒コロ53,54の間
隔とつかみ具本体の切欠部51の位置がずれると、試験
片Tをセットして負荷した際に、円筒コロ53,54が
貫通孔50の周面に沿ってずれて、円筒コロ53,54
の間隔が狭まって円筒コロ53,54の角部が試験片T
に当接して、その部分に応力集中を生じて試験片Tが破
断し、試験を正確に行うことができなくなってしまう。
た貫通孔50を有するつかみ具においては、円筒コロ5
3,54をセットする位置は貫通孔50の円周方向の任
意の位置に設定可能であるため、試験片Tおよび円筒コ
ロ53,54のテーパ部の製作誤差により円筒コロ5
3,54の間隔とつかみ具本体の切欠部51との位置が
ずれることがある。このように円筒コロ53,54の間
隔とつかみ具本体の切欠部51の位置がずれると、試験
片Tをセットして負荷した際に、円筒コロ53,54が
貫通孔50の周面に沿ってずれて、円筒コロ53,54
の間隔が狭まって円筒コロ53,54の角部が試験片T
に当接して、その部分に応力集中を生じて試験片Tが破
断し、試験を正確に行うことができなくなってしまう。
【0004】本発明の目的は、円筒コロが試験片に当接
することを防止するつかみ具を提供することにある。
することを防止するつかみ具を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】一実施の形態を示す図2
を参照して説明すると、請求項1の発明は、試験片Tの
把持部を挿入する挿入孔10および試験片取り付け側端
部に挿入孔10まで貫通して試験片Tを挿嵌する切欠部
11を備え、挿入孔10の少なくとも切欠部11側の面
が円筒状面をなすつかみ具本体12と、円筒状面に摺接
し、試験片Tを負荷した状態において試験片Tの把持部
をつかみ具本体12に固定する一対のコロ部材13,1
4とを備えたつかみ具に適用され、一対のコロ部材1
3,14を所定間隔に保持する保持部材15,16をさ
らに備えたことにより上記目的を達成する。
を参照して説明すると、請求項1の発明は、試験片Tの
把持部を挿入する挿入孔10および試験片取り付け側端
部に挿入孔10まで貫通して試験片Tを挿嵌する切欠部
11を備え、挿入孔10の少なくとも切欠部11側の面
が円筒状面をなすつかみ具本体12と、円筒状面に摺接
し、試験片Tを負荷した状態において試験片Tの把持部
をつかみ具本体12に固定する一対のコロ部材13,1
4とを備えたつかみ具に適用され、一対のコロ部材1
3,14を所定間隔に保持する保持部材15,16をさ
らに備えたことにより上記目的を達成する。
【0006】請求項2の発明は、試験片Tの把持部を挿
入する挿入孔10および試験片取り付け側端部に挿入孔
10まで貫通して試験片Tを挿嵌する切欠部11を備
え、挿入孔10の少なくとも切欠部11側の面が円筒状
面をなすつかみ具本体12と、円筒状面に摺接し、試験
片Tを負荷した状態において試験片Tの把持部をつかみ
具本体12に固定する一対のコロ部材13,14とを備
えたつかみ具に適用され、一対のコロ部材13,14が
所定間隔にて一体に形成されていることにより上記目的
を達成する。ここで、所定間隔とは、一対のコロ部材1
3,14の間に試験片Tを挿入した際に、コロ部材1
3,14が試験片Tに当接しないような間隔のことをい
う。
入する挿入孔10および試験片取り付け側端部に挿入孔
10まで貫通して試験片Tを挿嵌する切欠部11を備
え、挿入孔10の少なくとも切欠部11側の面が円筒状
面をなすつかみ具本体12と、円筒状面に摺接し、試験
片Tを負荷した状態において試験片Tの把持部をつかみ
具本体12に固定する一対のコロ部材13,14とを備
えたつかみ具に適用され、一対のコロ部材13,14が
所定間隔にて一体に形成されていることにより上記目的
を達成する。ここで、所定間隔とは、一対のコロ部材1
3,14の間に試験片Tを挿入した際に、コロ部材1
3,14が試験片Tに当接しないような間隔のことをい
う。
【0007】請求項1の発明によれば、一対のコロ部材
13,14の間隔が保持部材15,16により所定間隔
に保持されるため、一対のコロ部材13,14の間に挿
入される試験片Tにコロ部材13,14が当接すること
がなくなる。請求項2の発明によれば、一対のコロ部材
13,14が所定間隔にて一体に形成されているため、
一対のコロ部材13,14の間に挿入される試験片Tに
コロ部材13,14が当接することがなくなる。
13,14の間隔が保持部材15,16により所定間隔
に保持されるため、一対のコロ部材13,14の間に挿
入される試験片Tにコロ部材13,14が当接すること
がなくなる。請求項2の発明によれば、一対のコロ部材
13,14が所定間隔にて一体に形成されているため、
一対のコロ部材13,14の間に挿入される試験片Tに
コロ部材13,14が当接することがなくなる。
【0008】なお、本発明の構成を説明する上記課題を
解決するための手段の項では、本発明を分かり易くする
ために発明の実施の形態の図を用いたが、これにより本
発明が実施の形態に限定されるものではない。
解決するための手段の項では、本発明を分かり易くする
ために発明の実施の形態の図を用いたが、これにより本
発明が実施の形態に限定されるものではない。
【0009】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の実施
の形態について説明する。図1は本実施の形態に係るつ
かみ具が使用される材料試験機の構成を示す正面図であ
る。図1に示すように、この材料試験機は、モータ1の
回転力を減速機2により減速してねじ棒3を回転し、こ
れにより、クロスヘッド4を昇降させて固定側のヨーク
5と可動側のクロスヘッド4との間に上下つかみ具6,
7により把持されている試験片Tを負荷する。なお、本
実施の形態においては、試験片Tとしてセラミックを使
用し、1500℃程度の高温にて引張試験を行うものと
する。このため、つかみ具6,7はセラミックにて形成
される。また、図1において高温炉は図示を省略した。
の形態について説明する。図1は本実施の形態に係るつ
かみ具が使用される材料試験機の構成を示す正面図であ
る。図1に示すように、この材料試験機は、モータ1の
回転力を減速機2により減速してねじ棒3を回転し、こ
れにより、クロスヘッド4を昇降させて固定側のヨーク
5と可動側のクロスヘッド4との間に上下つかみ具6,
7により把持されている試験片Tを負荷する。なお、本
実施の形態においては、試験片Tとしてセラミックを使
用し、1500℃程度の高温にて引張試験を行うものと
する。このため、つかみ具6,7はセラミックにて形成
される。また、図1において高温炉は図示を省略した。
【0010】図2は本実施の形態に係るつかみ具の構成
を示す図であり、(a)は正面図、(b)は側面断面図
である。なお、上下つかみ具6,7の構成は同一である
ため、以下では上つかみ具6について説明する。つかみ
具6は図5に示したものと同様に、円筒状の貫通孔10
および切欠部11が形成されたつかみ具本体12と、貫
通孔10の内周面に摺接可能な外周面を有する、図6
(b)に示したものと同一形状の一対の円筒コロ13,
14と、一対の円筒コロ13,14を後述するように所
定間隔に保持するスペーサ15,16とからなる。な
お、スペーサ15,16は試験片Tと同様にセラミック
にて形成される。貫通孔10および切欠部11には試験
片Tが挿入され、円筒コロ13,14の内側の面には、
試験片Tの把持部のテーパ部に当接するテーパ部13
a,14aが形成されている。そのテーパ角度は例えば
45度である。図2に示すように、スペーサ15,16
はそのテーパ部をコロ13,14のテーパ部13a,1
4aに当接してコロ13,14に保持されている。
を示す図であり、(a)は正面図、(b)は側面断面図
である。なお、上下つかみ具6,7の構成は同一である
ため、以下では上つかみ具6について説明する。つかみ
具6は図5に示したものと同様に、円筒状の貫通孔10
および切欠部11が形成されたつかみ具本体12と、貫
通孔10の内周面に摺接可能な外周面を有する、図6
(b)に示したものと同一形状の一対の円筒コロ13,
14と、一対の円筒コロ13,14を後述するように所
定間隔に保持するスペーサ15,16とからなる。な
お、スペーサ15,16は試験片Tと同様にセラミック
にて形成される。貫通孔10および切欠部11には試験
片Tが挿入され、円筒コロ13,14の内側の面には、
試験片Tの把持部のテーパ部に当接するテーパ部13
a,14aが形成されている。そのテーパ角度は例えば
45度である。図2に示すように、スペーサ15,16
はそのテーパ部をコロ13,14のテーパ部13a,1
4aに当接してコロ13,14に保持されている。
【0011】ここで、試験片Tの幅をt(mm)とする
と、図2(c)に示すように切欠部11の間隔は(t+
1)mm程度に、スペーサ15,16の切欠部11に挿
入される部分の幅は(t+0.5)mm程度に形成され
る。すなわち、スペーサ15,16の切欠部11に挿入
される部分の幅は、試験片Tの幅よりも大きくかつ切欠
部11の間隔よりも小さく形成される。
と、図2(c)に示すように切欠部11の間隔は(t+
1)mm程度に、スペーサ15,16の切欠部11に挿
入される部分の幅は(t+0.5)mm程度に形成され
る。すなわち、スペーサ15,16の切欠部11に挿入
される部分の幅は、試験片Tの幅よりも大きくかつ切欠
部11の間隔よりも小さく形成される。
【0012】次いで、本実施の形態における試験片Tの
取り付けについて説明する。まず貫通孔10に円筒コロ
13,14を挿入する。この際、切欠部11と円筒コロ
13,14の間隔とを略一致させる。そして、試験片T
を貫通孔10に挿入して試験片Tのテーパ部と円筒コロ
13,14のテーパ部13a,14aとを当接させる。
その後、貫通孔10の両側よりスペーサ15,16を試
験片Tに当接するまで挿入して試験片Tの保持を終了す
る。
取り付けについて説明する。まず貫通孔10に円筒コロ
13,14を挿入する。この際、切欠部11と円筒コロ
13,14の間隔とを略一致させる。そして、試験片T
を貫通孔10に挿入して試験片Tのテーパ部と円筒コロ
13,14のテーパ部13a,14aとを当接させる。
その後、貫通孔10の両側よりスペーサ15,16を試
験片Tに当接するまで挿入して試験片Tの保持を終了す
る。
【0013】本実施の形態においては、このようにして
スペーサ15,16を挿入して試験片Tを保持するよう
にしたため、円筒コロ13,14が貫通孔10の内周面
に沿って移動しても、円筒コロ13,14の角部はスペ
ーサ15,16にのみ当接して試験片Tに当接すること
がなくなる。このため、試験片Tに応力集中が生じ、試
験中に試験片Tが予期せぬ部分から破断することがなく
なって試験を正確に行うことができる。
スペーサ15,16を挿入して試験片Tを保持するよう
にしたため、円筒コロ13,14が貫通孔10の内周面
に沿って移動しても、円筒コロ13,14の角部はスペ
ーサ15,16にのみ当接して試験片Tに当接すること
がなくなる。このため、試験片Tに応力集中が生じ、試
験中に試験片Tが予期せぬ部分から破断することがなく
なって試験を正確に行うことができる。
【0014】なお、上記実施の形態においては、2つの
スペーサ15,16を貫通孔10の両側から挿入してい
るが、1つのスペーサのみを用いてもよい。また、上記
実施の形態においては、2つの円筒コロ13,14を分
割して用いているが、例えば、図3に示すように、2つ
の円筒コロ13,14の間隔が試験片Tの幅よりも大き
くかつ切欠部11の間隔よりも小さくなるように、接続
部18により接続してもよい。さらに、図4に示すよう
に、2つの円筒コロ13,14の間に、2つの円筒コロ
13,14の間隔を、試験片Tの幅よりも大きくかつ切
欠部11の間隔よりも小さくなるように設定するスペー
サ20を取り付けるようにしてもよい。さらにまた、上
記実施の形態においては、つかみ具本体に貫通孔10を
形成しているが、とくに貫通孔に限定されるものではな
く、一端が閉じた穴を形成してこの穴に試験片Tを挿入
してもよい。また、上記実施の形態においては、セラミ
ックからなる試験片Tを用いるものについて説明した
が、金属など他の材料からなる試験片に対しても本発明
のつかみ具を適用することができる。その場合、スペー
サ、コロも金属などの他の材料であってもよい。
スペーサ15,16を貫通孔10の両側から挿入してい
るが、1つのスペーサのみを用いてもよい。また、上記
実施の形態においては、2つの円筒コロ13,14を分
割して用いているが、例えば、図3に示すように、2つ
の円筒コロ13,14の間隔が試験片Tの幅よりも大き
くかつ切欠部11の間隔よりも小さくなるように、接続
部18により接続してもよい。さらに、図4に示すよう
に、2つの円筒コロ13,14の間に、2つの円筒コロ
13,14の間隔を、試験片Tの幅よりも大きくかつ切
欠部11の間隔よりも小さくなるように設定するスペー
サ20を取り付けるようにしてもよい。さらにまた、上
記実施の形態においては、つかみ具本体に貫通孔10を
形成しているが、とくに貫通孔に限定されるものではな
く、一端が閉じた穴を形成してこの穴に試験片Tを挿入
してもよい。また、上記実施の形態においては、セラミ
ックからなる試験片Tを用いるものについて説明した
が、金属など他の材料からなる試験片に対しても本発明
のつかみ具を適用することができる。その場合、スペー
サ、コロも金属などの他の材料であってもよい。
【0015】以上の実施の形態と請求項との対応におい
て、貫通孔10が挿入孔を、円筒コロ13,14がコロ
部材を、スペーサ15,16が保持部材をそれぞれ構成
する。
て、貫通孔10が挿入孔を、円筒コロ13,14がコロ
部材を、スペーサ15,16が保持部材をそれぞれ構成
する。
【0016】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、請求項1の
発明によれば、保持部材により一対のコロ部材が所定間
隔に保持されるため、コロ部材が円筒状面に沿って移動
しても、コロ部材が試験片に当接することがなくなる。
また、請求項2の発明によれば、一対のコロ部材が所定
間隔をなすように一体に形成されているため、請求項1
の発明と同様に、コロ部材が円筒状面に沿って移動して
も、コロ部材が試験片に当接することがなくなる。した
がって、試験片に応力集中が生じ、試験中に試験片が予
期せぬ部分から破断することがなくなって試験を正確に
行うことができる。
発明によれば、保持部材により一対のコロ部材が所定間
隔に保持されるため、コロ部材が円筒状面に沿って移動
しても、コロ部材が試験片に当接することがなくなる。
また、請求項2の発明によれば、一対のコロ部材が所定
間隔をなすように一体に形成されているため、請求項1
の発明と同様に、コロ部材が円筒状面に沿って移動して
も、コロ部材が試験片に当接することがなくなる。した
がって、試験片に応力集中が生じ、試験中に試験片が予
期せぬ部分から破断することがなくなって試験を正確に
行うことができる。
【図1】本発明の実施の形態に係るつかみ具が使用され
る材料試験機の構成を示す正面図
る材料試験機の構成を示す正面図
【図2】本発明の実施の形態に係るつかみ具の構成を示
す図であり、(a)が正面図、(b)が側面断面図、
(c)が各部の寸法を説明する図
す図であり、(a)が正面図、(b)が側面断面図、
(c)が各部の寸法を説明する図
【図3】本発明のつかみ具の他の実施の形態を示す図
【図4】本発明のつかみ具のさらに他の実施の形態を示
す図
す図
【図5】従来のつかみ具の構成を示す図
【図6】(a)が従来のつかみ具の構成を示す図、
(b)が円筒コロの斜視図
(b)が円筒コロの斜視図
1 モータ 2 減速機 3 ねじ棒 4 クロスヘッド 6,7 つかみ具 10 貫通孔 11 切欠部 12 つかみ具本体 13,14 円筒コロ 15,16 スペーサ 18 接続部 20 スペーサ
Claims (2)
- 【請求項1】 試験片の把持部を挿入する挿入孔および
試験片取り付け側端部に前記挿入孔まで貫通して試験片
を挿嵌する切欠部を備え、該挿入孔の少なくとも前記切
欠部側の面が円筒状面をなすつかみ具本体と、 前記円筒状面に摺接し、試験片を負荷した状態において
前記試験片の把持部を前記つかみ具本体に固定する一対
のコロ部材とを備えたつかみ具において、 前記一対のコロ部材を所定間隔に保持する保持部材をさ
らに備えたことを特徴とするつかみ具。 - 【請求項2】 試験片の把持部を挿入する挿入孔および
試験片取り付け側端部に前記挿入孔まで貫通して試験片
を挿嵌する切欠部を備え、該挿入孔の少なくとも前記切
欠部側の面が円筒状面をなすつかみ具本体と、 前記円筒状面に摺接し、試験片を負荷した状態において
前記試験片の把持部を前記つかみ具本体に固定する一対
のコロ部材とを備えたつかみ具において、 前記一対のコロ部材が所定間隔にて一体に形成されてい
ることを特徴とするつかみ具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28965096A JPH10132720A (ja) | 1996-10-31 | 1996-10-31 | つかみ具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28965096A JPH10132720A (ja) | 1996-10-31 | 1996-10-31 | つかみ具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10132720A true JPH10132720A (ja) | 1998-05-22 |
Family
ID=17745990
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28965096A Pending JPH10132720A (ja) | 1996-10-31 | 1996-10-31 | つかみ具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10132720A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007285703A (ja) * | 2006-04-12 | 2007-11-01 | Nippon Steel Corp | 高温引張試験用冶具 |
| JP2014048144A (ja) * | 2012-08-31 | 2014-03-17 | Tokyo Gas Co Ltd | 板状試験片評価試験用ユニット |
| CN103808562A (zh) * | 2012-11-09 | 2014-05-21 | 中国科学院理化技术研究所 | 用于非金属材料500k~4.2k力学拉伸性能的测试夹具 |
-
1996
- 1996-10-31 JP JP28965096A patent/JPH10132720A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007285703A (ja) * | 2006-04-12 | 2007-11-01 | Nippon Steel Corp | 高温引張試験用冶具 |
| JP2014048144A (ja) * | 2012-08-31 | 2014-03-17 | Tokyo Gas Co Ltd | 板状試験片評価試験用ユニット |
| CN103808562A (zh) * | 2012-11-09 | 2014-05-21 | 中国科学院理化技术研究所 | 用于非金属材料500k~4.2k力学拉伸性能的测试夹具 |
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