JPH10135106A - 周辺露光装置 - Google Patents
周辺露光装置Info
- Publication number
- JPH10135106A JPH10135106A JP8285233A JP28523396A JPH10135106A JP H10135106 A JPH10135106 A JP H10135106A JP 8285233 A JP8285233 A JP 8285233A JP 28523396 A JP28523396 A JP 28523396A JP H10135106 A JPH10135106 A JP H10135106A
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- peripheral exposure
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- peripheral
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 基板上の素子領域の外形に沿って階段状に高
精度で周辺露光を行うことができる周辺露光装置を提供
する。 【解決手段】 基板回転部10に保持した基板1の上方
にCCDカメラ51を配置し、基板1上の素子領域の少
なくとも1つのスクライブラインの交点近傍の画像を入
力し、交点の位置を算出する。また、CCDラインセン
サ40により基板1の端縁位置を検出し、端縁位置とス
クライブラインの交点位置とから素子領域の外形寸法を
算出し、さらに素子領域の外形に沿った階段状の周辺露
光領域の位置座標を算出する。光照射部20は、周辺露
光領域の位置座標に基づいて基板1の周辺領域を露光す
る。
精度で周辺露光を行うことができる周辺露光装置を提供
する。 【解決手段】 基板回転部10に保持した基板1の上方
にCCDカメラ51を配置し、基板1上の素子領域の少
なくとも1つのスクライブラインの交点近傍の画像を入
力し、交点の位置を算出する。また、CCDラインセン
サ40により基板1の端縁位置を検出し、端縁位置とス
クライブラインの交点位置とから素子領域の外形寸法を
算出し、さらに素子領域の外形に沿った階段状の周辺露
光領域の位置座標を算出する。光照射部20は、周辺露
光領域の位置座標に基づいて基板1の周辺領域を露光す
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ等の
基板の表面に塗布された感光膜の周縁部(周辺部)を露
光する周辺露光装置に関する。
基板の表面に塗布された感光膜の周縁部(周辺部)を露
光する周辺露光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスの製造工程では、半導体
ウエハ等の基板上にレジスト液を回転塗布し、所定のパ
ターンに現像してレジストマスクを形成した後、このレ
ジストマスクを用いて薄膜パターンを形成することが行
われている。
ウエハ等の基板上にレジスト液を回転塗布し、所定のパ
ターンに現像してレジストマスクを形成した後、このレ
ジストマスクを用いて薄膜パターンを形成することが行
われている。
【0003】レジスト液が回転塗布された基板は、その
周縁部を把持されて種々の基板装置間を搬送される。レ
ジスト液は回転塗布によって基板の周縁部にまで塗り広
げられている。したがって、基板の周縁部を把持する
と、周縁部のレジストが剥離して飛散し、基板中央部の
レジスト膜表面を汚染したり、他の基板の表面を汚染し
たりして基板処理の歩留りを低下させてしまう場合があ
る。
周縁部を把持されて種々の基板装置間を搬送される。レ
ジスト液は回転塗布によって基板の周縁部にまで塗り広
げられている。したがって、基板の周縁部を把持する
と、周縁部のレジストが剥離して飛散し、基板中央部の
レジスト膜表面を汚染したり、他の基板の表面を汚染し
たりして基板処理の歩留りを低下させてしまう場合があ
る。
【0004】このために、ポジ型のレジストの場合に
は、周辺露光装置を用いて予め基板の周縁部のレジスト
を露光しておき、レジストパターンの現像時に同時に基
板周縁部の不要なレジストを除去する処理が行われてい
る。
は、周辺露光装置を用いて予め基板の周縁部のレジスト
を露光しておき、レジストパターンの現像時に同時に基
板周縁部の不要なレジストを除去する処理が行われてい
る。
【0005】従来の周辺露光装置では、基板の外縁から
一定幅の領域を環状に露光する方法が行われている。こ
のような露光方法は、例えば、特開平2−288221
号公報あるいは特公平6−12756号公報に開示され
ている。前者の周辺露光装置では、基板の外周縁に接触
させたカムを用いて機械的に基板のオリエンテーション
フラット(以下、オリフラと称す)またはノッチの位置
を検出し、これを基準として基板の周縁部に一定幅の周
辺露光領域を環状に形成している。
一定幅の領域を環状に露光する方法が行われている。こ
のような露光方法は、例えば、特開平2−288221
号公報あるいは特公平6−12756号公報に開示され
ている。前者の周辺露光装置では、基板の外周縁に接触
させたカムを用いて機械的に基板のオリエンテーション
フラット(以下、オリフラと称す)またはノッチの位置
を検出し、これを基準として基板の周縁部に一定幅の周
辺露光領域を環状に形成している。
【0006】また、後者の周辺露光装置では、ラインセ
ンサを用いて光学的に基板のオリフラやノッチの位置を
検出し、これを基準として一定幅の周辺露光領域を環状
に形成している。
ンサを用いて光学的に基板のオリフラやノッチの位置を
検出し、これを基準として一定幅の周辺露光領域を環状
に形成している。
【0007】ところが、近年では、レジストから発生す
るパーティクルによる汚染を確実に防止するために、基
板周縁部の不要なレジストをより完全に除去する要望が
高まってきた。
るパーティクルによる汚染を確実に防止するために、基
板周縁部の不要なレジストをより完全に除去する要望が
高まってきた。
【0008】基板上には矩形の素子が複数形成されるた
め、整列した複数の素子(素子領域)の外形は階段状に
形成されている。一方、基板はほぼ円形であるため、基
板の外周縁から一定幅の周辺露光領域を形成すると、階
段状の素子領域の外形部分との間に不要なレジストが残
存する領域が生じる。
め、整列した複数の素子(素子領域)の外形は階段状に
形成されている。一方、基板はほぼ円形であるため、基
板の外周縁から一定幅の周辺露光領域を形成すると、階
段状の素子領域の外形部分との間に不要なレジストが残
存する領域が生じる。
【0009】そこで、最近では、階段状の素子領域の外
形に沿って周辺露光を行うことが可能な周辺露光装置が
提案されている。このような周辺露光装置は、例えば特
開平3−242922号公報に開示されている。図9
は、階段状周辺露光が可能な周辺露光装置の露光動作の
説明図である。図9において、基板1上には複数の素子
2が配列されており、素子間には各素子2を切断するた
めの切断線(スクライブライン)3が形成されている。
形に沿って周辺露光を行うことが可能な周辺露光装置が
提案されている。このような周辺露光装置は、例えば特
開平3−242922号公報に開示されている。図9
は、階段状周辺露光が可能な周辺露光装置の露光動作の
説明図である。図9において、基板1上には複数の素子
2が配列されており、素子間には各素子2を切断するた
めの切断線(スクライブライン)3が形成されている。
【0010】この周辺露光装置では、基板1の周縁部に
形成すべき階段状の周辺露光領域5の寸法データが予め
記憶されている。そして、周辺露光処理では、まずフォ
トセンサ45を用いて基板1のオリフラ部1aを検出
し、オリフラ部1aの位置に基づいて周辺露光の基準位
置を設定し、この基準位置から予め記憶した周辺露光領
域5の寸法データに従って基板1上のレジストの周辺露
光が行われる。図9中の点線4aは素子領域の外形線7
から一定距離隔てた位置に形成されるべき正規の周辺露
光領域5との境界線を示している。
形成すべき階段状の周辺露光領域5の寸法データが予め
記憶されている。そして、周辺露光処理では、まずフォ
トセンサ45を用いて基板1のオリフラ部1aを検出
し、オリフラ部1aの位置に基づいて周辺露光の基準位
置を設定し、この基準位置から予め記憶した周辺露光領
域5の寸法データに従って基板1上のレジストの周辺露
光が行われる。図9中の点線4aは素子領域の外形線7
から一定距離隔てた位置に形成されるべき正規の周辺露
光領域5との境界線を示している。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】ところが、各素子2は
基板1に形成されたアライメントマーク(図示省略)を
基準に形成されており、基板1の外周縁あるいはオリフ
ラ部1aを基準に形成されているものではない。このた
め、基板1の外周縁位置、例えばオリフラ部1aの位置
を基準に上記の周辺露光を行うと、基板1の外周縁に対
する素子2の相対的な位置関係が基板ごとにばらつきを
生じ、図9中で実線4bで示すように、周辺露光領域5
の端縁位置が正規の位置(点線4a)からずれる場合が
生じる。この場合には、素子2上の必要なレジストの部
分までが露光されたり、あるいは本来周辺露光により除
去すべき部分が残存したりして周辺露光の不良が発生す
るという問題があった。また、周辺露光領域5の寸法デ
ータを予め記憶させておく作業は煩雑であり、操作者の
負担が大きいものであった。
基板1に形成されたアライメントマーク(図示省略)を
基準に形成されており、基板1の外周縁あるいはオリフ
ラ部1aを基準に形成されているものではない。このた
め、基板1の外周縁位置、例えばオリフラ部1aの位置
を基準に上記の周辺露光を行うと、基板1の外周縁に対
する素子2の相対的な位置関係が基板ごとにばらつきを
生じ、図9中で実線4bで示すように、周辺露光領域5
の端縁位置が正規の位置(点線4a)からずれる場合が
生じる。この場合には、素子2上の必要なレジストの部
分までが露光されたり、あるいは本来周辺露光により除
去すべき部分が残存したりして周辺露光の不良が発生す
るという問題があった。また、周辺露光領域5の寸法デ
ータを予め記憶させておく作業は煩雑であり、操作者の
負担が大きいものであった。
【0012】本発明の目的は、基板上の素子領域の外形
に沿って階段状に高精度で周辺露光を行うことができる
周辺露光装置を提供することである。
に沿って階段状に高精度で周辺露光を行うことができる
周辺露光装置を提供することである。
【0013】
【課題を解決するための手段および発明の効果】第1の
発明に係る周辺露光装置は、基板上に塗布された感光膜
のうち、基板の素子領域の外側にある周辺露光領域を素
子領域の外形に沿って階段状に露光する周辺露光装置で
あって、基板を水平に保持する基板保持手段と、基板お
よび素子領域の形状情報を入力する形状入力手段と、素
子領域内のスクライブラインの交点近傍の形状を画像デ
ータとして入力する画像入力手段と、画像入力手段から
入力された画像データからスクライブラインの交点位置
を検出し、交点位置および形状入力手段から入力された
基板および素子領域の形状情報に基づいて素子領域の外
形位置を算出し、素子領域の外形位置に基づいて素子領
域の外形に沿った周辺露光領域の位置を算出する露光領
域算出手段と、感光膜に光を照射する光照射手段と、露
光領域算出手段によって算出された周辺露光領域の位置
に基づいて感光膜の周辺露光領域が露光されるように光
照射手段を制御する制御手段とを備えたものである。
発明に係る周辺露光装置は、基板上に塗布された感光膜
のうち、基板の素子領域の外側にある周辺露光領域を素
子領域の外形に沿って階段状に露光する周辺露光装置で
あって、基板を水平に保持する基板保持手段と、基板お
よび素子領域の形状情報を入力する形状入力手段と、素
子領域内のスクライブラインの交点近傍の形状を画像デ
ータとして入力する画像入力手段と、画像入力手段から
入力された画像データからスクライブラインの交点位置
を検出し、交点位置および形状入力手段から入力された
基板および素子領域の形状情報に基づいて素子領域の外
形位置を算出し、素子領域の外形位置に基づいて素子領
域の外形に沿った周辺露光領域の位置を算出する露光領
域算出手段と、感光膜に光を照射する光照射手段と、露
光領域算出手段によって算出された周辺露光領域の位置
に基づいて感光膜の周辺露光領域が露光されるように光
照射手段を制御する制御手段とを備えたものである。
【0014】第2の発明に係る周辺露光装置は、第1の
発明に係る周辺露光装置の構成において、基板保持手段
が、基板を回転させる基板回転部を有しており、制御手
段が、基板が所定角度ずつ回転された位置毎に周辺露光
領域が分割して露光されるように光照射手段を制御する
ものである。
発明に係る周辺露光装置の構成において、基板保持手段
が、基板を回転させる基板回転部を有しており、制御手
段が、基板が所定角度ずつ回転された位置毎に周辺露光
領域が分割して露光されるように光照射手段を制御する
ものである。
【0015】第3の発明に係る周辺露光装置は、第1の
発明に係る周辺露光装置の構成において、光照射手段
が、光を照射する光照射部と光照射部を基板の全面に亘
って移動させる移動部とを備えたものである。
発明に係る周辺露光装置の構成において、光照射手段
が、光を照射する光照射部と光照射部を基板の全面に亘
って移動させる移動部とを備えたものである。
【0016】第1〜第3の発明に係る周辺露光装置にお
いては、画像入力手段から入力したスクライブラインの
交点近傍の画像と形状入力手段から入力された基板およ
び素子領域の形状情報とによって基板の素子領域が算出
され、さらに周辺露光領域の位置が算出される。このた
めに、素子領域の外形に沿った階段状の複雑な形状を有
する周辺露光領域に対して、操作者が位置座標を入力す
ることなく周辺露光が可能となり、周辺露光装置の操作
性が向上する。
いては、画像入力手段から入力したスクライブラインの
交点近傍の画像と形状入力手段から入力された基板およ
び素子領域の形状情報とによって基板の素子領域が算出
され、さらに周辺露光領域の位置が算出される。このた
めに、素子領域の外形に沿った階段状の複雑な形状を有
する周辺露光領域に対して、操作者が位置座標を入力す
ることなく周辺露光が可能となり、周辺露光装置の操作
性が向上する。
【0017】また、画像入力範囲が小さい画像入力手段
であっても、少なくとも1つのスクライブラインの交点
近傍の画像を入力できうる程度の入力範囲を有するもの
であれば周辺露光領域の算出が可能となる。このため、
小型の画像入力手段を用いることができる。しかも、基
板保持手段に保持された基板の画像を直接入力すること
により、周辺露光領域の位置算出を高精度に行うことが
できる。
であっても、少なくとも1つのスクライブラインの交点
近傍の画像を入力できうる程度の入力範囲を有するもの
であれば周辺露光領域の算出が可能となる。このため、
小型の画像入力手段を用いることができる。しかも、基
板保持手段に保持された基板の画像を直接入力すること
により、周辺露光領域の位置算出を高精度に行うことが
できる。
【0018】特に、第2の発明に係る周辺露光装置にお
いては、基板を所定角度ずつ回転させながら基板を分割
した所定領域毎に周辺露光処理を行うことが可能とな
り、これによって光照射手段の移動範囲に比べて外形の
大きい基板に対しても周辺露光処理を行うことが可能と
なる。
いては、基板を所定角度ずつ回転させながら基板を分割
した所定領域毎に周辺露光処理を行うことが可能とな
り、これによって光照射手段の移動範囲に比べて外形の
大きい基板に対しても周辺露光処理を行うことが可能と
なる。
【0019】特に、第3の発明に係る周辺露光装置にお
いては、光照射手段が基板の全面に亘って移動可能に構
成されているため、基板を静止した状態で周辺露光処理
を行うことが可能となり、これにより周辺露光装置の構
成および制御動作を簡素化することができる。
いては、光照射手段が基板の全面に亘って移動可能に構
成されているため、基板を静止した状態で周辺露光処理
を行うことが可能となり、これにより周辺露光装置の構
成および制御動作を簡素化することができる。
【0020】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の実施例による周
辺露光装置の構成図である。周辺露光装置は、基板1を
水平に保持して回転する基板回転部10、基板1の周縁
部に光線を照射して露光する光照射部20、光照射部2
0の照射位置を移動させるための移動部30、基板1の
端縁位置を検出するためのCCDラインセンサ40およ
び基板1の素子領域の画像を入力する画像入力部50を
備えている。
辺露光装置の構成図である。周辺露光装置は、基板1を
水平に保持して回転する基板回転部10、基板1の周縁
部に光線を照射して露光する光照射部20、光照射部2
0の照射位置を移動させるための移動部30、基板1の
端縁位置を検出するためのCCDラインセンサ40およ
び基板1の素子領域の画像を入力する画像入力部50を
備えている。
【0021】基板回転部10は、基板1の裏面を吸引し
て保持するスピンチャック11と、スピンチャック11
を鉛直方向に延びる軸の回りに回転させるモータ12と
から構成されている。基板1はスピンチャック11に水
平姿勢で吸引保持され、モータ12の回転軸の軸芯を中
心に回動される。
て保持するスピンチャック11と、スピンチャック11
を鉛直方向に延びる軸の回りに回転させるモータ12と
から構成されている。基板1はスピンチャック11に水
平姿勢で吸引保持され、モータ12の回転軸の軸芯を中
心に回動される。
【0022】光照射部20は、露光光線となる紫外線を
発生するための露光光源28と、露光光源28からの紫
外線を伝達する光ファイバ23と、光ファイバ23の先
端に取り付けられかつ基板1の表面に紫外線を照射する
照射端21とを備えている。露光光源28は、水銀キセ
ノンランプ25、楕円鏡26、紫外線透過フィルタ24
およびシャッタ27から構成されている。紫外線透過フ
ィルタ24を透過した紫外線は光ファイバ23を通り照
射端21に導かれる。照射端21は、紫外線を所定のス
ポット形状(例えば矩形)に絞って基板1に照射するた
めのスリットや光学レンズ系(図示省略)等を備えてい
る。
発生するための露光光源28と、露光光源28からの紫
外線を伝達する光ファイバ23と、光ファイバ23の先
端に取り付けられかつ基板1の表面に紫外線を照射する
照射端21とを備えている。露光光源28は、水銀キセ
ノンランプ25、楕円鏡26、紫外線透過フィルタ24
およびシャッタ27から構成されている。紫外線透過フ
ィルタ24を透過した紫外線は光ファイバ23を通り照
射端21に導かれる。照射端21は、紫外線を所定のス
ポット形状(例えば矩形)に絞って基板1に照射するた
めのスリットや光学レンズ系(図示省略)等を備えてい
る。
【0023】移動部30は、照射端21を支持する支持
アーム22をX方向(X軸)およびY方向(Y軸)にそ
れぞれ変位させるための半径方向変位部Mxおよび接線
方向変位部Myとから構成される。半径方向変位部Mx
は、X方向に往復移動可能なXテーブル30と、Xテー
ブル30を移動させるためのステッピングモータ32お
よびボールねじから構成されている。さらに、接線方向
変位部Myは、Y方向に移動可能なYテーブル33とY
テーブル33を移動させるためのステッピングモータ3
4およびボールねじから構成されている。
アーム22をX方向(X軸)およびY方向(Y軸)にそ
れぞれ変位させるための半径方向変位部Mxおよび接線
方向変位部Myとから構成される。半径方向変位部Mx
は、X方向に往復移動可能なXテーブル30と、Xテー
ブル30を移動させるためのステッピングモータ32お
よびボールねじから構成されている。さらに、接線方向
変位部Myは、Y方向に移動可能なYテーブル33とY
テーブル33を移動させるためのステッピングモータ3
4およびボールねじから構成されている。
【0024】CCDラインセンサ40は、基板1の上方
に配置される光源41と、基板1の下方において光源4
1と対向して配置される受光部42とを備えている。光
源41および受光部42の一部は基板1の外周縁部より
も中心側に入り込んだ位置に設置されている。そして、
光源41から受光部42に光を照射した状態で基板1を
回転させ、光源41からの光線を基板1が遮る位置を受
光部42で検出することによって基板1の端縁位置を検
出する。
に配置される光源41と、基板1の下方において光源4
1と対向して配置される受光部42とを備えている。光
源41および受光部42の一部は基板1の外周縁部より
も中心側に入り込んだ位置に設置されている。そして、
光源41から受光部42に光を照射した状態で基板1を
回転させ、光源41からの光線を基板1が遮る位置を受
光部42で検出することによって基板1の端縁位置を検
出する。
【0025】画像入力部50は、基板1表面に形成され
る素子領域の形状を画像として入力するためのCCDカ
メラ51、カメラレンズ52および基板1の表面を照明
するカメラ用照明器53から構成されている。カメラレ
ンズ52が取り付けられたCCDカメラ51は、各素子
を分割するためのスクライブラインが2本直交する少な
くとも1つの交点および交点近傍のスクライブラインの
線分を取り込むことができる入力範囲を有している。C
CDカメラ51は基板1の上方に配置されており、特に
基板1の中心上方に配置された場合には、光照射部20
の照射端21との干渉を防止する上で有効である。ま
た、カメラ用照明器12は基板1表面の照度が不足する
場合に使用する。
る素子領域の形状を画像として入力するためのCCDカ
メラ51、カメラレンズ52および基板1の表面を照明
するカメラ用照明器53から構成されている。カメラレ
ンズ52が取り付けられたCCDカメラ51は、各素子
を分割するためのスクライブラインが2本直交する少な
くとも1つの交点および交点近傍のスクライブラインの
線分を取り込むことができる入力範囲を有している。C
CDカメラ51は基板1の上方に配置されており、特に
基板1の中心上方に配置された場合には、光照射部20
の照射端21との干渉を防止する上で有効である。ま
た、カメラ用照明器12は基板1表面の照度が不足する
場合に使用する。
【0026】図2は、周辺露光装置の機能ブロック図で
ある。ここで基板端縁位置算出手段A、制御部D、露光
位置算出手段Gは、パーソナルコンピュータから構成さ
れ、露光幅設定手段B、露光量設定手段Cおよび露光範
囲設定手段Fはディスプレイおよびキーボード装置から
構成され、さらにスクライブライン位置算出部Eは画像
処理基板から構成される。
ある。ここで基板端縁位置算出手段A、制御部D、露光
位置算出手段Gは、パーソナルコンピュータから構成さ
れ、露光幅設定手段B、露光量設定手段Cおよび露光範
囲設定手段Fはディスプレイおよびキーボード装置から
構成され、さらにスクライブライン位置算出部Eは画像
処理基板から構成される。
【0027】上記の構成において、基板回転部10、露
光範囲設定手段F、画像入力部50がそれぞれ本発明の
基板保持手段、形状入力手段、画像入力手段を構成す
る。また、スクライブライン位置算出部Eおよび露光位
置算出手段Gが本発明の露光領域算出手段を構成し、光
照射部20および移動部30が光照射手段を、また制御
部Dが本発明の制御手段を構成する。
光範囲設定手段F、画像入力部50がそれぞれ本発明の
基板保持手段、形状入力手段、画像入力手段を構成す
る。また、スクライブライン位置算出部Eおよび露光位
置算出手段Gが本発明の露光領域算出手段を構成し、光
照射部20および移動部30が光照射手段を、また制御
部Dが本発明の制御手段を構成する。
【0028】上記の周辺露光装置の各部の動作は制御部
Dにより制御される。図3は、本発明の実施例による周
辺露光装置の動作を示すフローチャートである。以下、
図3を参照して周辺露光装置の周辺露光動作について説
明する。
Dにより制御される。図3は、本発明の実施例による周
辺露光装置の動作を示すフローチャートである。以下、
図3を参照して周辺露光装置の周辺露光動作について説
明する。
【0029】なお、周辺露光動作の説明に先立ち、基板
1の基板中心Ow、スピンチャック11の回転中心Or
およびCCDカメラ51の画像入力領域Vの視野中心O
vの位置関係および周辺露光装置の座標系について図4
を参照して説明する。
1の基板中心Ow、スピンチャック11の回転中心Or
およびCCDカメラ51の画像入力領域Vの視野中心O
vの位置関係および周辺露光装置の座標系について図4
を参照して説明する。
【0030】スピンチャック11の回転中心OrはX軸
の軸線上に位置し、さらにCCDラインセンサ40の検
出位置もX軸の軸線上に設定されている。また、移動部
30の移動原点が図中O点に設定されている。
の軸線上に位置し、さらにCCDラインセンサ40の検
出位置もX軸の軸線上に設定されている。また、移動部
30の移動原点が図中O点に設定されている。
【0031】基板1は、基板中心Owがスピンチャック
11の回転中心Orに一致するようにスピンチャック1
1に載置されることが好ましいが、実際には、ずれて載
置される場合がある。また、CCDカメラ51もその視
野中心Ovがスピンチャック11の回転中心Orに一致
するようにCCDカメラ51を設置することが難しく、
ずれて設置される場合がある。この場合、基板中心O
w、視野中心Ov、回転中心Orの間には、例えば図中
に示す変位が生じる。そこで、以下に示す周辺露光装置
の動作の各ステップでは、これらの位置の変位量を考慮
した処理が行われる。
11の回転中心Orに一致するようにスピンチャック1
1に載置されることが好ましいが、実際には、ずれて載
置される場合がある。また、CCDカメラ51もその視
野中心Ovがスピンチャック11の回転中心Orに一致
するようにCCDカメラ51を設置することが難しく、
ずれて設置される場合がある。この場合、基板中心O
w、視野中心Ov、回転中心Orの間には、例えば図中
に示す変位が生じる。そこで、以下に示す周辺露光装置
の動作の各ステップでは、これらの位置の変位量を考慮
した処理が行われる。
【0032】まず、周辺露光装置でのCCDカメラ51
の組み立て動作時には、CCDカメラ51の視野中心O
vとスピンチャック11の回転中心Orとのオフセット
量を検出する。例えば、中心部分に「+」印を描いたダ
ミーの基板をスピンチャック11上に吸引保持して1/
n周毎(nは2以上の整数)に回転させ、その時の
「+」印を含む画像をCCDカメラ51から取り込む。
そして、n個の画像について「+」印の位置をスクライ
ブライン位置検出手段で算出し、それらの平均が回転中
心Orとなる。そこで、求められた回転中心OrとCC
Dカメラ51の視野中心Ovとの変位量(△X2 ,△Y
2 )をオフセット量として検出する。
の組み立て動作時には、CCDカメラ51の視野中心O
vとスピンチャック11の回転中心Orとのオフセット
量を検出する。例えば、中心部分に「+」印を描いたダ
ミーの基板をスピンチャック11上に吸引保持して1/
n周毎(nは2以上の整数)に回転させ、その時の
「+」印を含む画像をCCDカメラ51から取り込む。
そして、n個の画像について「+」印の位置をスクライ
ブライン位置検出手段で算出し、それらの平均が回転中
心Orとなる。そこで、求められた回転中心OrとCC
Dカメラ51の視野中心Ovとの変位量(△X2 ,△Y
2 )をオフセット量として検出する。
【0033】図3において、周辺露光処理が開始される
と、まず周辺露光処理の対象となる基板1が搬送装置に
よりスピンチャック11上に載置され、吸引保持される
(ステップS1)。
と、まず周辺露光処理の対象となる基板1が搬送装置に
よりスピンチャック11上に載置され、吸引保持される
(ステップS1)。
【0034】次に、操作者は、キーボードあるいは操作
パネル等を有する露光範囲設定手段Fを用いて処理対象
となる基板1の基板サイズ(外形)、素子サイズ(X方
向のサイズx,Y方向のサイズy)、素子の配列数(Y
方向の素子数h,X方向の素子数v)を入力する。ある
いは、露光装置等他の装置からこれらの情報を入力して
もよい。入力された基板情報はディスプレイの画面上に
表示される。図5は、画面上に表示された基板情報を示
す模式図である。基板情報に基づいて、素子2がX軸方
向にv個、Y軸方向にh個整列した矩形の素子領域Rが
規定される。表示された素子領域Rは、一部が基板1の
外方にはみ出した不適切な素子2a(斜線部)も含んで
おり、このような不適切な素子2aは画面上で反転表示
され、有効な素子領域Reから除外される。
パネル等を有する露光範囲設定手段Fを用いて処理対象
となる基板1の基板サイズ(外形)、素子サイズ(X方
向のサイズx,Y方向のサイズy)、素子の配列数(Y
方向の素子数h,X方向の素子数v)を入力する。ある
いは、露光装置等他の装置からこれらの情報を入力して
もよい。入力された基板情報はディスプレイの画面上に
表示される。図5は、画面上に表示された基板情報を示
す模式図である。基板情報に基づいて、素子2がX軸方
向にv個、Y軸方向にh個整列した矩形の素子領域Rが
規定される。表示された素子領域Rは、一部が基板1の
外方にはみ出した不適切な素子2a(斜線部)も含んで
おり、このような不適切な素子2aは画面上で反転表示
され、有効な素子領域Reから除外される。
【0035】さらに、操作者は、表示された有効な素子
領域Reの中から露光すべきでない素子2を任意に指定
し、露光すべき素子領域Reを決定する。これにより、
有効な素子領域Reの範囲が確定し、その情報が記憶さ
れる(ステップS2)。
領域Reの中から露光すべきでない素子2を任意に指定
し、露光すべき素子領域Reを決定する。これにより、
有効な素子領域Reの範囲が確定し、その情報が記憶さ
れる(ステップS2)。
【0036】次に、モータ12を起動し、基板1を回転
させながらCCDラインセンサ40により基板1の端縁
位置を検出する。CCDラインセンサ40では、基板1
の下方にある受光部42の画素からOFF信号が出力さ
れ、基板1の外方にある画素からON信号が出力され
る。そして、ON信号を出力した画素の位置に基づい
て、スピンチャック11の回転中心Orから基板1の外
周端縁までの半径が基板1の外周縁に沿って数度の回転
角度毎に複数箇所で求められる。また、この時半径が求
められた各外周縁位置の回転角度も同時に検出される。
させながらCCDラインセンサ40により基板1の端縁
位置を検出する。CCDラインセンサ40では、基板1
の下方にある受光部42の画素からOFF信号が出力さ
れ、基板1の外方にある画素からON信号が出力され
る。そして、ON信号を出力した画素の位置に基づい
て、スピンチャック11の回転中心Orから基板1の外
周端縁までの半径が基板1の外周縁に沿って数度の回転
角度毎に複数箇所で求められる。また、この時半径が求
められた各外周縁位置の回転角度も同時に検出される。
【0037】基板1の基板中心Owがスピンチャック1
1の回転中心Orと一致している場合には、ON信号を
出力する画素の個数は変動しないが、偏心している場合
にはON信号を出力する画素の個数が変化する。そこ
で、この画素の変化量に基づいて基板1の基板中心Ow
を算出し、スピンチャック11の回転中心Orとのオフ
セット量を算出する。図4に示す例では、両者のオフセ
ット量は(△X1 ,△Y 1 )である(ステップS3)。
1の回転中心Orと一致している場合には、ON信号を
出力する画素の個数は変動しないが、偏心している場合
にはON信号を出力する画素の個数が変化する。そこ
で、この画素の変化量に基づいて基板1の基板中心Ow
を算出し、スピンチャック11の回転中心Orとのオフ
セット量を算出する。図4に示す例では、両者のオフセ
ット量は(△X1 ,△Y 1 )である(ステップS3)。
【0038】また、CCDラインセンサ40により検出
したスピンチャック11の回転中心Orから外周端縁ま
での半径が最も短くなる点をオリフラ部1aの中心位置
と判定し、このオリフラの中心位置がCCDラインセン
サ40の検出位置に一致する位置、あるいはその位置か
ら90度、180度、270度回転した位置のいずれか
に基板1を停止させる。すなわち、図4に示すように、
CCDラインセンサ40は、スピンチャック11の回転
中心Orを通るX軸線上に検出位置が設定されている。
したがって、上記の位置で基板1を停止させると、基板
1のオリフラ部1aの直線部分がX軸あるいはY軸にほ
ぼ平行になる。以下の説明では、図4に示すように、オ
リフラ部1aがCCDラインセンサ40と反対側の位置
でY軸に平行となるように基板1を停止させたものとす
る(ステップS4)。
したスピンチャック11の回転中心Orから外周端縁ま
での半径が最も短くなる点をオリフラ部1aの中心位置
と判定し、このオリフラの中心位置がCCDラインセン
サ40の検出位置に一致する位置、あるいはその位置か
ら90度、180度、270度回転した位置のいずれか
に基板1を停止させる。すなわち、図4に示すように、
CCDラインセンサ40は、スピンチャック11の回転
中心Orを通るX軸線上に検出位置が設定されている。
したがって、上記の位置で基板1を停止させると、基板
1のオリフラ部1aの直線部分がX軸あるいはY軸にほ
ぼ平行になる。以下の説明では、図4に示すように、オ
リフラ部1aがCCDラインセンサ40と反対側の位置
でY軸に平行となるように基板1を停止させたものとす
る(ステップS4)。
【0039】次に、画像入力部50から基板1表面の素
子領域の画像を入力する(ステップS5)。図6は、素
子領域の入力画像の模式図である。図6(a)におい
て、CCDカメラ51の入力範囲Vは、少なくとも1つ
の素子2の角部(スクライブラインの交点)を含む大き
さを有している。
子領域の画像を入力する(ステップS5)。図6は、素
子領域の入力画像の模式図である。図6(a)におい
て、CCDカメラ51の入力範囲Vは、少なくとも1つ
の素子2の角部(スクライブラインの交点)を含む大き
さを有している。
【0040】スクライブライン位置算出部Eは、入力さ
れた画像データから各スクライブラインSLX0,SL
Y0を識別し、スクライブラインの交点Aの位置座標お
よびスクライブラインSLY0中の任意の点Bの位置座
標を求める。そして、2点A,Bの座標値に基づいてス
クライブラインSLY0がY軸と平行であるか否かを判
定する。図6(a)のように、θだけ傾いている場合に
は、基板1を回転し、図6(b)に示すように、スクラ
イブラインSLY0がY軸に平行となるように基板1の
回転停止位置を微調整する(ステップS6)。
れた画像データから各スクライブラインSLX0,SL
Y0を識別し、スクライブラインの交点Aの位置座標お
よびスクライブラインSLY0中の任意の点Bの位置座
標を求める。そして、2点A,Bの座標値に基づいてス
クライブラインSLY0がY軸と平行であるか否かを判
定する。図6(a)のように、θだけ傾いている場合に
は、基板1を回転し、図6(b)に示すように、スクラ
イブラインSLY0がY軸に平行となるように基板1の
回転停止位置を微調整する(ステップS6)。
【0041】図7は、スクライブライン位置算出動作を
示す説明図である。スクライブライン位置算出部Eは、
さらに視野中心Ovを基準に、露光範囲設定手段Fによ
り予め入力された素子サイズ(x,y)に基づいて各ス
クライブラインSLX−3〜SLX−3,SLY−3〜
SLY3の座標値を算出する。これにより、素子領域R
eの外周の各基準点の座標値が求められる。さらに、各
座標値に、先に求められた視野中心Ovとスピンチャッ
ク11の回転中心Orとのオフセット量をそれぞれ加え
ることにより、スピンチャック11の回転中心Orを基
準とする素子領域Reの外形の基準点座標が求められる
(ステップS7)。
示す説明図である。スクライブライン位置算出部Eは、
さらに視野中心Ovを基準に、露光範囲設定手段Fによ
り予め入力された素子サイズ(x,y)に基づいて各ス
クライブラインSLX−3〜SLX−3,SLY−3〜
SLY3の座標値を算出する。これにより、素子領域R
eの外周の各基準点の座標値が求められる。さらに、各
座標値に、先に求められた視野中心Ovとスピンチャッ
ク11の回転中心Orとのオフセット量をそれぞれ加え
ることにより、スピンチャック11の回転中心Orを基
準とする素子領域Reの外形の基準点座標が求められる
(ステップS7)。
【0042】図8は、周辺露光装置の周辺露光動作を示
す説明図である。素子領域Reの外形を規定する基準点
座標が求まると、露光位置算出手段Fは、素子領域Re
の外形から一定幅離れて露光するためのオフセット幅を
加えて図8に示すような露光基準点P0 〜P5 の位置デ
ータを算出する。素子領域Reの外形と周辺露光領域と
のオフセット量は例えば200μm以下に設定する(ス
テップS8)。
す説明図である。素子領域Reの外形を規定する基準点
座標が求まると、露光位置算出手段Fは、素子領域Re
の外形から一定幅離れて露光するためのオフセット幅を
加えて図8に示すような露光基準点P0 〜P5 の位置デ
ータを算出する。素子領域Reの外形と周辺露光領域と
のオフセット量は例えば200μm以下に設定する(ス
テップS8)。
【0043】図8に示すように、周辺露光処理は、基板
1を4分割したそれぞれの領域毎に行われる。光照射部
20の照射端21(図1参照)から照射されるスポット
光SBは、矩形に絞られている。そして、移動部30
は、まずスポット光SBの基準点S0 が露光基準点P0
に一致する位置に照射端21を移動し、スポット光SB
の照射を開始する。さらに、図中の矢印方向に従って順
次露光基準点P1 〜P5間を移動し、基板1の約4分の
1の周辺領域の露光処理を行う(ステップS9)。
1を4分割したそれぞれの領域毎に行われる。光照射部
20の照射端21(図1参照)から照射されるスポット
光SBは、矩形に絞られている。そして、移動部30
は、まずスポット光SBの基準点S0 が露光基準点P0
に一致する位置に照射端21を移動し、スポット光SB
の照射を開始する。さらに、図中の矢印方向に従って順
次露光基準点P1 〜P5間を移動し、基板1の約4分の
1の周辺領域の露光処理を行う(ステップS9)。
【0044】その後、基板のすべての周辺領域の露光処
理が終わったか否かを判定し(ステップS10)、終了
していなければ、基板1を90度回転し(ステップS1
1)、ステップS5からステップS9の処理を繰り返し
行う。
理が終わったか否かを判定し(ステップS10)、終了
していなければ、基板1を90度回転し(ステップS1
1)、ステップS5からステップS9の処理を繰り返し
行う。
【0045】すべての領域の周辺露光処理が終了する
と、周辺露光処理を終了する。これにより、素子領域R
eの外形に沿って所定距離だけ離れた階段状の周辺露光
領域を形成することができる。
と、周辺露光処理を終了する。これにより、素子領域R
eの外形に沿って所定距離だけ離れた階段状の周辺露光
領域を形成することができる。
【0046】このように、本実施例による周辺露光装置
は、基板の端縁位置を検出するCCDラインセンサ40
と、基板上の素子の1つの角部の形状を画像情報として
入力するCCDカメラ51とを備え、1つのスクライブ
ラインの交点位置を検出することによって素子領域Re
の外形寸法を算出し、この外形寸法に基づいて周辺露光
領域の座標値を算出して周辺露光処理を行うことができ
る。したがって、従来のように素子領域Reの位置情報
を逐一入力する必要が無くなり、操作性のよい処理効率
の高い周辺露光装置を得ることができる。
は、基板の端縁位置を検出するCCDラインセンサ40
と、基板上の素子の1つの角部の形状を画像情報として
入力するCCDカメラ51とを備え、1つのスクライブ
ラインの交点位置を検出することによって素子領域Re
の外形寸法を算出し、この外形寸法に基づいて周辺露光
領域の座標値を算出して周辺露光処理を行うことができ
る。したがって、従来のように素子領域Reの位置情報
を逐一入力する必要が無くなり、操作性のよい処理効率
の高い周辺露光装置を得ることができる。
【0047】なお、基板処理の初期段階において基板1
表面の画像が不鮮明な場合には、素子領域の画像情報を
取り込むことが困難となる。この場合には、CCDライ
ンセンサ40により得られた基板1の端縁位置に基づい
て露光幅設定手段Bが露光幅を設定し、その露光幅で基
板の外周縁を環状に露光する周辺露光処理を併せて用い
てもよい。
表面の画像が不鮮明な場合には、素子領域の画像情報を
取り込むことが困難となる。この場合には、CCDライ
ンセンサ40により得られた基板1の端縁位置に基づい
て露光幅設定手段Bが露光幅を設定し、その露光幅で基
板の外周縁を環状に露光する周辺露光処理を併せて用い
てもよい。
【0048】また、上記の実施例では、基板1の中心部
のスクライブラインの交点近傍の画像を取り込むように
CCDカメラ51を配置したが、中心部に限らず、素子
領域Re内の任意のスクライブラインの交点の画像を取
り込むようにCCDカメラ51を配置してもよい。この
場合、スクライブラインの交点位置は、スピンチャック
11の回転中心OrとCCDカメラ51の視野中心Ov
とのオフセット量から算出することができる。
のスクライブラインの交点近傍の画像を取り込むように
CCDカメラ51を配置したが、中心部に限らず、素子
領域Re内の任意のスクライブラインの交点の画像を取
り込むようにCCDカメラ51を配置してもよい。この
場合、スクライブラインの交点位置は、スピンチャック
11の回転中心OrとCCDカメラ51の視野中心Ov
とのオフセット量から算出することができる。
【0049】さらに、上記実施例では、CCDラインセ
ンサ40を用いて基板1の端縁位置を検出するように構
成したが、基板1の端縁位置は他の手段を用いて検出す
るように構成してもよい。
ンサ40を用いて基板1の端縁位置を検出するように構
成したが、基板1の端縁位置は他の手段を用いて検出す
るように構成してもよい。
【0050】さらに、上記実施例では、基板1の4分の
1領域毎に周辺露光を行うように構成したが、移動部3
0のX,Y方向への変位量が大きく、照射端21が基板
1の全表面にわたって移動可能に構成される場合には、
基板1を回転することなく基板1の周辺露光を行うこと
ができる。この場合、露光位置算出手段Fは、基板1の
すべての周辺露光領域における露光基準点を同時に算出
するように構成される。
1領域毎に周辺露光を行うように構成したが、移動部3
0のX,Y方向への変位量が大きく、照射端21が基板
1の全表面にわたって移動可能に構成される場合には、
基板1を回転することなく基板1の周辺露光を行うこと
ができる。この場合、露光位置算出手段Fは、基板1の
すべての周辺露光領域における露光基準点を同時に算出
するように構成される。
【図1】本発明の実施例による周辺露光装置の構成図で
ある。
ある。
【図2】本発明の実施例による周辺露光装置の機能ブロ
ック図である。
ック図である。
【図3】図1に示す周辺露光装置の動作を示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図4】周辺露光装置の基板中心、回転中心および視野
中心のオフセットの関係を示す説明図である。
中心のオフセットの関係を示す説明図である。
【図5】基板上の有効な素子領域を決定する動作を示す
説明図である。
説明図である。
【図6】図1の周辺露光装置のCCDカメラの入力画像
の模式図である。
の模式図である。
【図7】スクライブライン位置算出部における動作を示
す説明図である。
す説明図である。
【図8】図1の周辺露光装置における露光動作を示す説
明図である。
明図である。
【図9】従来の周辺露光装置における露光動作を示す説
明図である。
明図である。
1 基板 2 素子 10 基板回転部 11 スピンチャック 20 光照射部 21 照射端 30 移動部 40 CCDラインセンサ 50 画像入力部 51 CCDカメラ SLX−3〜SLX3,SLY−3〜SLY3 スクラ
イブライン Or スピンチャックの回転中心 Ov 視野中心 Ow 基板中心
イブライン Or スピンチャックの回転中心 Ov 視野中心 Ow 基板中心
Claims (3)
- 【請求項1】 基板上に塗布された感光膜のうち、前記
基板の素子領域の外側にある周辺露光領域を前記素子領
域の外形に沿って階段状に露光する周辺露光装置であっ
て、 基板を水平姿勢で保持する基板保持手段と、 前記基板および前記素子領域の形状情報を入力する形状
入力手段と、 前記素子領域内のスクライブラインの交点近傍の形状を
画像データとして入力する画像入力手段と、 前記画像入力手段から入力された画像から前記スクライ
ブラインの交点位置を検出し、前記交点位置および前記
形状入力手段によって入力された前記基板および前記素
子領域の形状情報に基づいて前記素子領域の外形位置を
算出し、前記素子領域の外形位置に基づいて前記素子領
域の外形に沿った周辺露光領域の位置を算出する露光領
域算出手段と、 前記感光膜に光を照射する光照射手段と、 前記露光領域算出手段によって算出された前記周辺露光
領域の位置に基づいて前記感光膜の周辺露光領域が露光
されるように前記光照射手段を制御する制御手段とを備
えたことを特徴する周辺露光装置。 - 【請求項2】 前記基板保持手段は、前記基板を回転さ
せる基板回転部を有しており、 前記制御手段は、前記基板が所定角度ずつ回転された位
置毎に周辺露光領域が分割して露光されるように光照射
手段を制御することを特徴とする請求項1記載の周辺露
光装置。 - 【請求項3】 前記光照射手段は、光を照射する光照射
部と前記光照射部を前記基板の全面に亘って移動させる
移動部とを備えたことを特徴とする請求項1記載の周辺
露光装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28523396A JP3439932B2 (ja) | 1996-10-28 | 1996-10-28 | 周辺露光装置 |
| KR1019970022142A KR100257279B1 (ko) | 1996-06-06 | 1997-05-30 | 주변노광장치 및 방법 |
| US08/868,382 US5982474A (en) | 1996-06-06 | 1997-06-03 | Periphery exposing apparatus and method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28523396A JP3439932B2 (ja) | 1996-10-28 | 1996-10-28 | 周辺露光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10135106A true JPH10135106A (ja) | 1998-05-22 |
| JP3439932B2 JP3439932B2 (ja) | 2003-08-25 |
Family
ID=17688844
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28523396A Expired - Fee Related JP3439932B2 (ja) | 1996-06-06 | 1996-10-28 | 周辺露光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3439932B2 (ja) |
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| KR20030040866A (ko) * | 2001-11-16 | 2003-05-23 | (주)에이피엘 | 에지 검출유닛과 자동변위 제어유닛을 갖는 웨이퍼 에지노광장치 |
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-
1996
- 1996-10-28 JP JP28523396A patent/JP3439932B2/ja not_active Expired - Fee Related
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