JPH10140106A - 電子部品用接着テープ - Google Patents
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Abstract
熱性及び信頼性等を有する電子部品用接着テープを提供
する。 【解決手段】 下記式(1)で表される構造単位100
〜40モル%及び下記式(2)で表される構造単位0〜
60モル%からなる1つ以上のポリイミドを含有し、か
つ、異なるガラス転移温度を示す2種類の接着層を積層
して構成される電子部品用接着テープである。 【化1】 (式中、Xは−SO2 −及び/又は−C(=O)−OC
H2 CH2 O−C(=O)−を示し、Arは芳香環を有
する特定の構造から選ばれた二価の基、Rは炭素数1〜
10のアルキレン基又はメチレン基がSiに結合してい
る−CH2 OC6H4 −を示す。nは1〜20の整
数。)
Description
するリードフレーム周辺の部材間、例えば、リードピ
ン、半導体チップ搭載用基板、放熱板、半導体チップ自
体の接着等に使用するための電子部品用接着テープに関
する。
使用される接着テープ等には、リードフレーム固定用接
着テープ、TABテープ等があり、例えば、リードフレ
ーム固定用接着テープの場合には、リードフレームのリ
ードピンを固定し、リードフレーム自体及び半導体アセ
ンブリ工程全体の生産歩留まり及び生産性の向上を目的
として使用されており、一般にリードフレームメーカー
でリードフレーム上にテーピングされて半導体メーカー
に持ち込まれ、ICを搭載した後、樹脂封止される。そ
のため、リードフレーム固定用接着テープには、半導体
レベルにおける一般的な信頼性及びテーピング時の作業
性はもとより、テーピング直後の十分な室温接着力及び
半導体装置組み立て工程における加熱に耐え得る十分な
耐熱性等が要求される。
ープとしては、例えば、ポリイミドフィルム等の支持体
上に、ポリアクリロニトリル、ポリアクリル酸エステル
或いはアクリロニトリル−ブタジエン共重合体等の合成
ゴム系樹脂等の単独又は他の樹脂で変性したもの、或い
は他の樹脂又は他の硬化成分と混合したものからなる接
着剤を塗布し、Bステージ状態としたものが使用されて
いる。
樹脂封止型半導体装置(半導体パッケージ)が開発され
製造されている。図1においては、リードピン3とプレ
ーン2とが、接着層6によって接続され、半導体チップ
1がプレーン2上に搭載されており、半導体チップ1と
リードピン3との間のボンディングワイヤー4ととも
に、樹脂5によって封止された構造を有している。図2
においては、リードフレームのリードピン3が半導体チ
ップ1と接着層6によって固定されており、ボンディン
グワイヤー4とともに、樹脂5によって封止された構造
を有している。また、図3においては、ダイパッド7の
上に半導体チップ1が搭載され、また、電極8が接着層
6によって固定されており、そして、半導体チップ1と
電極8との間及び電極8とリードピン3との間は、それ
ぞれボンディングワイヤー4によって連結され、それら
が樹脂5によって封止された構造を有している。
される構造の樹脂封止型半導体装置における接着層にお
いて、従来の熱硬化型の接着剤を塗布した接着テープを
使用した場合には、耐熱性が十分でないため、発生ガス
がリードを汚染して接着力の低下を招いたり、パッケー
ジクラックの発生原因になる等の問題がある。そのた
め、十分な耐熱性、信頼性等を有する電子部品用接着剤
及びそれを用いた電子部品用接着テープが望まれてい
る。本発明者等は、先に下記式(1a)ないし式(2
b)で表される構造単位からなるポリイミドを含有する
接着剤を用いた接着テープの発明(特願平7−1554
74号公報、特願平7−245149号公報)を行うこ
とにより、上記した課題を解消させることができた。
着層を耐熱性フィルム上に設けた接着テープの場合に
は、耐熱性フィルムと接着剤層との界面剥離が起こり易
いという問題がある。特に湿熱時の界面剥離は、パッケ
ージの信頼性を著しく低下させることから大きな問題と
なっている。また、接着剤単層のテープでは、加熱圧着
の際に、例えば、リードフレームが接着層中に埋没貫通
し、絶縁性の確保が困難になるという問題がある。さら
に、図2に示す構造のものでは、半導体チップの圧着温
度を可能な限り低くしたいという要求があり、この際に
はリードフレーム側の接着層は軟化しないことが不可欠
である。
ことを目的としてなされたものである。すなわち、本発
明の目的は、比較的低温において接着可能であり、絶縁
性の確保ができるとともに十分な信頼性を有する電子部
品用接着テープを提供することにある。
テープは、下記式(1a)で表される構造単位及び下記
式(1b)で表される構造単位の少なくとも1種を10
0〜40モル%と、下記式(2a)で表される構成単位
及び下記式(2b)で表される構造単位の少なくとも1
種を0〜60モル%とからなる少なくとも1つ以上のポ
リイミドを含有し、かつ、異なるガラス転移温度を示す
2種類の接着層を積層してなることを特徴とするもので
ある。
二価の基を示す。)
も異なっていてもよく、水素原子、炭素数1〜4のアル
キル基または炭素数1〜4のアルコキシ基を示すが、こ
れらのすべての基が同時に水素原子であることはな
い。)
レン基がSiに結合している−CH2 OC6 H4 −を示
す。nは1〜20の整数を意味する。)
積層する異なるガラス転移温度を示す2種類の接着層と
は、高ガラス転移温度を示す接着層及び低ガラス転移温
度を示す接着層からなるものであり、その2種類の接着
層は、ガラス転移温度に40℃以上の差異を有するもの
であることが好ましい。
の少なくとも一方の接着層は、粒径1μm以下のフィラ
ーを0.1〜50重量部含むことが好ましく、また、接
着層の少なくとも一方の面に、剥離性フィルムを設ける
ことも可能である。
て詳細に説明する。本発明の電子部品用接着テープは、
少なくとも1つ以上のポリイミドを含む2種類の接着層
を有するものであり、その接着層に使用するポリイミド
について説明する。
(1a)で表される構造単位及び下記式(1b)で表さ
れる構造単位の少なくとも1種を100〜40モル%含
有するものである。この場合、式(1a)で表される構
造単位及び下記式(1b)で表される構造単位の少なく
とも1種とは、式(1a)で表される構造単位単独から
なるもの、式(1b)で表される構造単位単独からなる
もの及びその両者の構造単位からなるもののいずれをも
含むものである。
式(2a)で表される構造単位及び式(2b)で表され
る構造単位の少なくとも1種を0〜60モル%含有する
ものである。この場合、式(2a)で表される構造単位
及び式(2b)で表される構造単位の少なくとも1種と
は、下記式(2a)で表される構造単位単独からなるも
の、下記式(2b)で表される構造単位単独からなるも
の及び両者の構造単位からなるもののいずれをも含むも
のである。
ドは、式(1a)及び式(1b)で表される構造単位
(以下、これを[(1a)+(1b)]と記す。)が多
いほどガラス転移温度が高くなり、一方、式(2a)及
び式(2b)で表される構造単位(以下、これを[(2
a)+(2b)]と記す。)が多いほどガラス転移温度
が低くなる。また、式(1b)及び式(2b)で表され
る構造単位が多くなるほどガラス転移温度が低くなる。
このため、上記のポリイミドは、式(1a)ないし式
(2b)の含有割合を種々変更してガラス転移温度を制
御することにより、接着剤の圧着可能温度を制御するこ
とが可能である。
ポリイミドの製造方法を用いることにより得ることがで
きる。すなわち、各繰り返し構造単位に対応するテトラ
カルボン酸無水物と、各繰り返し構造単位に対応するジ
アミンまたはジイソシアナートとから製造することがで
きる。具体的には、上記のポリイミドは、下記式(3
a)で表されるテトラカルボン酸二無水物、下記式(3
b)で表される化合物及び下記式(4)で表される化合
物及び下記式(5)で表されるシロキサン系化合物とを
反応させることにより製造することができる。
二価の基、Yはアミノ基またはイソシアナート基を示
す。)
レン基がSiに結合している−CH2 OC6 H4 −を示
す。nは1〜20の整数を意味する。Yはアミノ基また
はイソシアナート基を示す。)
して使用し、得られるポリイミドの基本的な繰り返し構
造単位を構成する上記式(3a)及び式(3b)で表さ
れるテトラカルボン酸二無水物は、それぞれ3,3′,
4,4′−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水
物及びエチレングリコールビストリメリテート二無水物
である。
Arとしては上記した芳香環を有する構造から選ばれた
二価の基で示されるものであるが、官能基Yがアミノ基
であるジアミン類としては、具体的には、次のものが挙
げられる。3,3′−ジアミノビフェニル、3,4′−
ジアミノビフェニル、4,4′−ジアミノビフェニル、
3,3′−ジアミノジフェニルメタン、3,4′−ジア
ミノジフェニルメタン、4,4′−ジアミノジフェニル
メタン、2,2−(3,3′−ジアミノジフェニル)プ
ロパン、2,2−(3,4′−ジアミノジフェニル)プ
ロパン、2,2−(4,4′−ジアミノジフェニル)プ
ロパン、2,2−(3,3′−ジアミノジフェニル)ヘ
キサフルオロプロパン、2,2−(3,4′−ジアミノ
ジフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2−(4,
4′−ジアミノジフェニル)ヘキサフルオロプロパン、
3,3′−オキシジアニリン、3,4′−オキシジアニ
リン、4,4′−オキシジアニリン、3,3′−ジアミ
ノジフェニルスルフィド、3,4′−ジアミノジフェニ
ルスルフィド、4,4′−ジアミノジフェニルスルフィ
ド、3,3′−ジアミノジフェニルスルホン、3,4′
−ジアミノジフェニルスルホン、4,4′−ジアミノジ
フェニルスルホン、1,3−ビス[1−(3−アミノフ
ェニル)−1−メチルエチル]ベンゼン、1,3−ビス
[1−(4−アミノフェニル)−1−メチルエチル]ベ
ンゼン、1,4−ビス[1−(3−アミノフェニル)−
1−メチルエチル]ベンゼン、1,4−ビス[1−(4
−アミノフェニル)−1−メチルエチル]ベンゼン、
1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,
3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−
ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス
(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、3,3′−ビス
(3−アミノフェノキシ)ジフェニルエーテル、3,
3′−ビス(4−アミノフェノキシ)ジフェニルエーテ
ル、3,4′−ビス(3−アミノフェノキシ)ジフェニ
ルエーテル、3,4′−ビス(4−アミノフェノキシ)
ジフェニルエーテル、4,4′−ビス(3−アミノフェ
ノキシ)ジフェニルエーテル、4,4′−ビス(4−ア
ミノフェノキシ)ジフェニルエーテル、3,3′−ビス
(3−アミノフェノキシ)ビフェニル、3,3′−ビス
(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、3,4′−ビス
(3−アミノフェノキシ)ビフェニル、3,4′−ビス
(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、4,4′−ビス
(3−アミノフェノキシ)ビフェニル、4,4′−ビス
(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、ビス[4−(3
−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、ビス[4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、2,2
−ビス[3−(3−アミノフェノキシ)フェニル]プロ
パン、2,2−ビス[3−(4−アミノフェノキシ)フ
ェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(3−アミノフ
ェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2
−ビス[3−(3−アミノフェノキシ)フェニル]ヘキ
サフルオロプロパン、2,2−ビス[3−(4−アミノ
フェノキシ)フェニル]ヘキサフルオロプロパン、2,
2−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]ヘ
キサフルオロプロパン、2,2−ビス[4−(4−アミ
ノフェノキシ)フェニル]ヘキサフルオロプロパン、
9,9−ビス(3−アミノフェニル)フルオレン、9,
9−ビス(4−アミノフェニル)フルオレン、3,3′
−ジアミノ−2,2′,4,4′−テトラメチルジフェ
ニルメタン、3,3′−ジアミノ−2,2′,4,4′
−テトラエチルジフェニルメタン、3,3′−ジアミノ
−2,2′,4,4′−テトラプロピルジフェニルメタ
ン、3,3′−ジアミノ−2,2′,4,4′−テトラ
イソプロピルジフェニルメタン、3,3′−ジアミノ−
2,2′,4,4′−テトラブチルジフェニルメタン、
3,4′−ジアミノ−2,3′,4,5′−テトラメチ
ルジフェニルメタン、3,4′−ジアミノ−2,3′,
4,5′−テトラエチルジフェニルメタン、3,4′−
ジアミノ−2,3′,4,5′−テトラプロピルジフェ
ニルメタン、3,4′−ジアミノ−2,3′,4,5′
−テトライソプロピルジフェニルメタン、3,4′−ジ
アミノ−2,3′,4,5′−テトラブチルジフェニル
メタン、4,4′−ジアミノ−3,3′,5,5′−テ
トラメチルジフェニルメタン、4,4′−ジアミノ−
3,3′,5,5′−テトラエチルジフェニルメタン、
4,4′−ジアミノ−3,3′,5,5′−テトラプロ
ピルジフェニルメタン、4,4′−ジアミノ−3,
3′,5,5′−テトライソプロピルジフェニルメタ
ン、4,4′−ジアミノ−3,3′,5,5′−テトラ
ブチルジフェニルメタン、4,4′−ジアミノ−3,
3′−ジエチル−5,5′−ジメチルジフェニルメタ
ン、4,4′−ジアミノ−3,3′−ジメチルジフェニ
ルメタン、4,4′−ジアミノ−3,3′−ジエチルジ
フェニルメタン、4,4′−ジアミノ−3,3′,5,
5′−テトラメトキシジフェニルメタン、4,4′−ジ
アミノ−3,3′,5,5′−テトラエトキシジフェニ
ルメタン、4,4′−ジアミノ−3,3′,5,5′−
テトラプロポキシジフェニルメタン、4,4′−ジアミ
ノ−3,3′,5,5′−テトライソプロポキシジフェ
ニルメタン、4,4′−ジアミノ−3,3′,5,5′
−テトラブトキシジフェニルメタン、4,4′−ジアミ
ノ−3,3′−ジメトキシジフェニルメタン、4,4′
−ジアミノ−3,3′−ジエトキシジフェニルメタン等
である。また、式(4)で表される化合物において、官
能基Yがイソシアナート基であるジイソシアナート類と
しては、上記に例示したジアミン類において、「アミ
ノ」を「イソシアナート」に置き換えたものを挙げるこ
とができる。
(5)で表されるシロキサン系化合物において、官能基
Yがアミノ基であるジアミン類としては、ビス(3−ア
ミノプロピル)テトラメチルジシロキサン、ビス(10
−アミノデカメチレン)テトラメチルジシロキサン、ア
ミノプロピル末端のジメチルシロキサンの4量体及び8
量体、ビス(3−アミノフェノキシメチル)テトラメチ
ルジシロキサン等が挙げられ、これらを併用することも
可能である。また、式(5)で表される化合物におい
て、官能基Yがイソシアナート基であるジイソシアナー
ト類としては、上記に例示したジアミン類において、
「アミノ」を「イソシアナート」に置き換えたものを挙
げることができる。上記式(4)及び式(5)で表され
る化合物において、官能基Yがイソシアナート基である
ジイソシアナート類は、上記に例示した対応するジアミ
ンを常法によりホスゲンと反応させることにより容易に
製造することができる。
うにして製造することができる。原料として、テトラカ
ルボン酸二無水物とジアミンとを使用する場合、これら
を有機溶媒中、必要に応じて、トリブチルアミン、トリ
エチルアミン、亜リン酸トリフェニル等の触媒の存在下
(反応物の20重量部以下)で、100℃以上、好まし
くは180℃以上に加熱し、直接ポリイミドを得る方
法、テトラカルボン酸二無水物とジアミンとを有機溶媒
中、100℃以下で反応させることにより、ポリイミド
の前駆体であるポリアミド酸を得た後、必要に応じて、
p−トルエンスルホン酸等の脱水触媒(テトラカルボン
酸二無水物の1〜5倍モル)を加え、加熱してイミド化
反応させることによりポリイミドを得る方法、或いはこ
のポリアミド酸を、無水酢酸、無水プロピオン酸、無水
安息香酸等の酸無水物、ジシクロへキシルカルボジイミ
ド等のカルボジイミド化合物等の脱水閉環剤と、必要に
応じて、ピリジン、イソキノリン、イミダゾール、トリ
エチルアミン等の閉環触媒(脱水閉環剤及び閉環触媒は
テトラカルボン酸二無水物の2〜10倍モル)を添加し
て、比較的低温(室温〜100℃程度)で閉環反応させ
る方法等がある。
−メチル−2−ピロリドン、N,N−ジメチルアセトア
ミド、N,N−ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホ
キシド、スルホラン、ヘキサメチルリン酸トリアミド、
1,3−ジメチル−2−イミダゾリドン等の非プロトン
性極性溶媒、フェノール、クレゾール、キシレノール、
p−クロロフェノール等のフェノール系溶媒等が挙げら
れる。また、必要に応じて、ベンゼン、トルエン、キシ
レン、メチルエチルケトン、アセトン、テトラヒドロフ
ラン、ジオキサン、モノグライム、ジグライム、メチル
セロソルブ、セロソルブアセテート、メタノール、エタ
ノール、イソプロパノール、塩化メチレン、クロロホル
ム、トリクロロエチレン、ニトロベンゼン等を上記の溶
媒に混合して使用することも可能である。
水物とジイソシアナートとを使用する場合には、上記し
たポリイミドを直接得る方法に準じて製造することが可
能であり、このときの反応温度は室温以上であり、特に
60℃以上であることが好ましい。テトラカルボン酸二
無水物とジアミンまたはジイソシアナートとを等モル量
で反応させることにより、高重合度のポリイミドを得る
ことができるが、必要に応じて、いずれか一方を10モ
ル%以下の範囲の過剰量を用いてポリイミドを製造する
ことも可能である。
量は、ポリイミドを構成する繰り返し構造単位の種類に
よって成膜性の発現が異なるので、成膜性に応じて適宜
設定することが好ましい。本発明の電子部品用接着テー
プに使用する場合、接着層にはある程度の成膜性が必要
であり、また、耐熱性も低下するので、あまり低分子量
のものは好ましくはない。本発明においては、一般的に
は、数平均分子量が4000以上であることが必要であ
る。また、熱可塑性の接着剤として使用する場合、溶融
時の粘性が高すぎると接着性が著しく低下する。この溶
融時の粘性を規定する要因の一つとして分子量がある
が、本発明において使用されるポリイミドは、その数平
均分子量が概ね400,000以下のものであり、それ
以上になると、粘性の増加が大きく、接着剤等として使
用することが困難になる。なお、分子量の測定に用いた
GPC測定条件は、表2の後に示した。
ポリイミドには、上記したポリイミドから選ばれるポリ
イミドを単独で用いるが、ガラス転移温度(Tg)を調
節するためにそれらのポリイミドの2種類以上を適宜混
合して用いることもできる。本発明の電子部品用接着テ
ープは、上記のとおり、異なるTgを示す上記したポリ
イミドを含む2種類の接着層が積層されて形成されてい
るものである。この接着テープにおける2種類の接着層
は、従来公知の方法を用いてポリイミドのフィルムを形
成するか、またはポリイミドフィルムを積層させること
により得られる。このフイルムの形成は、例えば、剥離
性フィルムの片面にポリイミドを含む塗布液を塗工し、
これを乾燥させる方法があるが、その他の形成方法を採
用することも可能である。また、フィルムを積層する方
法としては、Tgの異なる2種類のポリイミドを含むフ
ィルムを熱圧着する方法や、一方のポリイミドフィルム
を形成させた後、それとTgの異なるポリイミドを含む
塗布液を塗工し乾燥させる方法、またはTgの異なるポ
リイミドを含む2種類の塗布液を同時に塗工し乾燥させ
て2層を形成する方法等が採用できる。本発明における
電子部品用接着テープの厚さは、必要に応じて適宜採択
されるが、通常、総厚で10〜150μmの範囲であ
り、それぞれの層厚は、最低限度の接着力を維持するた
めに5μm程度以上である。
するには、上記のポリイミドを適当な溶媒に溶解させる
とポリイミドの塗工用ワニスが得られる。本発明に用い
られるポリイミドを溶解する溶媒としては、N−メチル
−2−ピロリドン、N,N−ジメチルアセトアミド、
N,N−ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシ
ド、スルホラン、ヘキサメチルリン酸トリアミド、1,
3−ジメチル−2−イミダゾリドン等の非プロトン性極
性溶媒、フェノール、クレゾール、キシレノール、p−
クロロフェノール等のフェノール系溶媒、イソホロン、
シクロヘキサノン、カルビトールアセテート、ジグライ
ム、ジオキサン、テトラヒドロフラン等の広範な有機溶
媒が挙げられる。更にこれに、メタノール、エタノー
ル、イソプロパノール等のアルコール系溶媒、酢酸メチ
ル、酢酸エチル、酢酸ブチル等のエステル系溶媒、アセ
トニトリル、ベンゾニトリル等のニトリル系溶媒、ベン
ゼン、トルエン、キシレン等の芳香族系溶媒、クロロホ
ルム、ジクロロメタン等のハロゲン系溶媒等をポリイミ
ドが析出しない程度に混合して用いることもできる。ポ
リイミド溶液の濃度及び粘度は、塗工条件に合わせて適
宜変更することが好ましい。
の張り合わせ時の特性を制御するために、それぞれ粒径
1μm以下のフィラーを含ませてもよい。フィラーを配
合させる場合の含有量は、全固形分の0.1〜50重量
部以下が好ましく、より好ましくは0.4〜25重量部
である。フィラー量が50重量部より多くなると接着力
の低下が著しくなり、一方、0.1重量部未満ではフィ
ラーの添加効果が得られなくなる。フィラーとしては、
例えば、シリカ、石英粉、マイカ、アルミナ、ダイヤモ
ンド粉、ジルコン粉、炭酸カルシウム、酸化マグネシウ
ム、フッ素樹脂等が用いられる。
厚1〜200μmのものであり、仮の支持体として利用
されるものである。具体的には、ポリエチレン、ポリプ
ロピレン、フッ素系樹脂、ポリエチレンテレフタレー
ト、ポリイミド等の樹脂フィルム或いは紙、ないしはそ
れらの表面にシリコーン系離型剤等を用いて離型処理を
施したものが使用される。なお、本発明のいずれの接着
テープにおいても、接着層の上に上記剥離性のフィルム
を保護層として設けることも可能である。
る。まず、本発明に用いられるポリイミド及びそれを含
む塗工用ワニスの製造例を示す。 合成例1 撹拌機を備えたフラスコに、3,4′−ジアミノビフェ
ニル12.34g(67ミリモル)と1,3−ビス(3
−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラメチルジ
シロキサン8.20g(33ミリモル)と3,3′,
4,4′−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水
物35.83g(100ミリモル)及びN−メチル−2
−ピロリドン(以下、「NMP」と記す。)300ml
を氷温下に導入し、1時間撹拌を続けた。次いで、この
溶液を室温で3時間反応させてポリアミド酸を合成し
た。得られたポリアミド酸に50mlのトルエンと1.
0gのp−トルエンスルホン酸を加えて160℃に加熱
し、反応の進行に伴ってトルエンと共沸してきた水分を
分離しながら、3時間イミド化反応を行った。その後ト
ルエンを留去し、得られたポリイミドワニスをメタノー
ル中に注いで、得られた沈澱物を分離、粉砕、洗浄及び
乾燥させる工程を経ることにより、上記した式で表され
る各構造単位のモル比が[(1a)+(1b)]:
[(2a)+(2b)]=67:33[(1a):(1
b)=100:0、(2a):(2b)=100:0]
で示されるポリイミド50.0g(収率95%)を得
た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクトルを測定し
たところ、1718cm-1及び1783cm-1に典型的
なイミドの吸収が認められた。また、その分子量、ガラ
ス転移点及び熱分解開始温度を測定した。それらの結果
を表1に示す。このポリイミドを、テトラヒドロフラン
(以下、「THF」と記す。)に25重量%の濃度にな
るように溶解することにより、塗工用ワニスを得た。
ル)と1,3−ビス(3−アミノプロピル)−1,1,
3,3−テトラメチルジシロキサン8.20g(33ミ
リモル)と3,3′,4,4′−ジフェニルスルホンテ
トラカルボン酸二無水物35.83g(100ミリモ
ル)及びNMP300mlを用いて、合成例1と同様の
方法で、各構造単位のモル比が[(1a)+(1
b)]:[(2a)+(2b)]=67:33[(1
a):(1b)=100:0、(2a):(2b)=1
00:0]で示されるポリイミド51.0g(収率95
%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクトル
を測定したところ、1718cm-1及び1783cm-1
に典型的なイミドの吸収が認められた。また、その分子
量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測定した。それ
らの結果を表1に示す。このポリイミドを、THFに2
5重量%の濃度になるように溶解させることにより、塗
工用ワニスを得た。
7ミリモル)と1,3−ビス(3−アミノプロピル)−
1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン8.20g
(33ミリモル)と3,3′,4,4′−ジフェニルス
ルホンテトラカルボン酸二無水物35.83g(100
ミリモル)及びNMP300mlを用いて、合成例1と
同様の方法で、各構造単位のモル比が[(1a)+(1
b)]:[(2a)+(2b)]=67:33[(1
a):(1b)=100:0、(2a):(2b)=1
00:0]で示されるポリイミド52.0g(収率97
%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクトル
を測定したところ、1718cm-1及び1783cm-1
に典型的なイミドの吸収が認められた。また、その分子
量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測定した。それ
らの結果を表1に示す。このポリイミドを、THFに2
5重量%の濃度になるように溶解させることにより、塗
工用ワニスを得た。
(67ミリモル)と1,3−ビス(3−アミノプロピ
ル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン8.
20g(33ミリモル)と3,3′,4,4′−ジフェ
ニルスルホンテトラカルボン酸二無水物35.83g
(100ミリモル)及びNMP300mlとを用いて、
合成例1と同様の方法で、各構造単位のモル比が[(1
a)+(1b)]:[(2a)+(2b)]=67:3
3[(1a):(1b)=100:0、(2a):(2
b)=100:0]で示されるポリイミド51.0g
(収率93%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収
スペクトルを測定したところ、1718cm-1及び17
80cm-1に典型的なイミドの吸収が認められた。ま
た、その分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測
定した。それらの結果を表1に示す。このポリイミド
を、THFに25重量%の濃度になるように溶解させる
ことにより、塗工用ワニスを得た。
(67ミリモル)と1,3−ビス(3−アミノプロピ
ル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン8.
20g(33ミリモル)と3,3′,4,4′−ジフェ
ニルスルホンテトラカルボン酸二無水物35.83g
(100ミリモル)及びNMP300mlを用いて、合
成例1と同様の方法で、各構造単位のモル比が[(1
a)+(1b)]:[(2a)+(2b)]=67:3
3[(1a):(2b)=100:0、(2a):(2
b)=100:0]で示されるポリイミド51.5g
(収率90%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収
スペクトルを測定したところ、1715cm-1及び17
83cm-1に典型的なイミドの吸収が認められた。ま
た、その分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測
定した。それらの結果を表1に示す。このポリイミド
を、THFに25重量%の濃度になるように溶解させる
ことにより、塗工用ワニスを得た。
6g(67ミリモル)と1,3−ビス(3−アミノプロ
ピル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン
8.20g(33ミリモル)と3,3′,4,4′−ジ
フェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物35.83
g(100ミリモル)及びNMP300mlとを用い
て、合成例1と同様の方法で、各構造単位のモル比が
[(1a)+(1b)]:[(2a)+(2b)]=6
7:33[(1a):(1b)=100:0、(2
a):(2b)=100:0]で示されるポリイミド5
4.0g(収率97%)を得た。得られたポリイミドの
赤外吸収スペクトルを測定したところ、1718cm-1
及び1783cm-1に典型的なイミドの吸収が認められ
た。また、その分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温
度を測定した。それらの結果を表1に示す。このポリイ
ミドを、THFに25重量%の濃度になるように溶解さ
せることにより、塗工用ワニスを得た。
ロパン22.40g(67ミリモル)と1,3−ビス
(3−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラメチ
ルジシロキサン8.20g(33ミリモル)と3,
3′,4,4′−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸
二無水物35.83g(100ミリモル)及びNMP3
00mlを用いて、合成例1と同様の方法で、各構造単
位のモル比が[(1a)+(1b)]:[(2a)+
(2b)]=67:33[(1a):(1b)=10
0:0、(2a):(2b)=100:0]で示される
ポリイミド60.0g(収率95%)を得た。得られた
ポリイミドの赤外吸収スペクトルを測定したところ、1
721cm-1及び1783cm-1に典型的なイミドの吸
収が認められた。また、その分子量、ガラス転移点及び
熱分解開始温度を測定した。それらの結果を表1に示
す。このポリイミドを、THFに25重量%の濃度にな
るように溶解させることにより、塗工用ワニスを得た。
58g(67ミリモル)と1,3−ビス(3−アミノプ
ロピル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン
8.20g(33ミリモル)と3,3′,4,4′−ジ
フェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物35.83
g(100ミリモル)及びNMP300mlを用いて、
合成例1と同様の方法で、各構造単位のモル比が[(1
a)+(1b)]:[(2a)+(2b)]=67:3
3[(1a):(1b)=100:0、(2a):(2
b)=100:0]で示されるポリイミド58.0g
(収率97%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収
スペクトルを測定したところ、1718cm-1及び17
80cm-1に典型的なイミドの吸収が認められた。ま
た、その分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測
定した。それらの結果を表1に示す。このポリイミド
を、THFに25重量%の濃度になるように溶解させる
ことにより、塗工用ワニスを得た。
58g(67ミリモル)と1,3−ビス(3−アミノプ
ロピル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン
8.20g(33ミリモル)と3,3′,4,4′−ジ
フェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物35.83
g(100ミリモル)及びNMP300mlを用いて、
合成例1と同様の方法で、各構造単位のモル比が[(1
a)+(1b)]:[(2a)+(2b)]=67:3
3[(1a):(1b)=100:0、(2a):(2
b)=100:0]で示されるポリイミド58.0g
(収率97%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収
スペクトルを測定したところ、1718cm-1及び17
80cm-1に典型的なイミドの吸収が認められた。ま
た、その分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測
定した。それらの結果を表1に示す。このポリイミド
を、THFに25重量%の濃度になるように溶解させる
ことにより、塗工用ワニスを得た。
ルエチル]ベンゼン23.08g(67ミリモル)と
1,3−ビス(3−アミノプロピル)−1,1,3,3
−テトラメチルジシロキサン8.20g(33ミリモ
ル)と3,3′,4,4′−ジフェニルスルホンテトラ
カルボン酸二無水物35.83g(100ミリモル)及
びNMP300mlを用いて、合成例1と同様の方法
で、各構造単位のモル比が[(1a)+(1b)]:
[(2a)+(2b)]=67:33[(1a):(1
b)=100:0、(2a):(2b)=100:0]
で示されるポリイミド62.5g(収率98%)を得
た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクトルを測定し
たところ、1718cm-1及び1783cm-1に典型的
なイミドの吸収が認められた。また、その分子量、ガラ
ス転移点及び熱分解開始温度を測定した。それらの結果
を表1に示す。このポリイミドを、THFに25重量%
の濃度になるように溶解させることにより、塗工用ワニ
スを得た。
(67ミリモル)と1,3−ビス(3−アミノプロピ
ル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン8.
20g(33ミリモル)と3,3′,4,4′−ジフェ
ニルスルホンテトラカルボン酸二無水物35.83g
(100ミリモル)及びNMP300mlを用いて、合
成例1と同様の方法で、各構造単位のモル比が[(1
a)+(1b)]:[(2a)+(2b)]=67:3
3[(1a):(1b)=100:0、(2a):(2
b)=100:0]で示されるポリイミド64.0g
(収率98%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収
スペクトルを測定したところ、1718cm-1及び17
80cm-1に典型的なイミドの吸収が認められた。ま
た、その分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測
定した。それらの結果を表1に示す。このポリイミド
を、THFに25重量%の濃度になるように溶解させる
ことにより、塗工用ワニスを得た。
−テル25.75g(67ミリモル)と1,3−ビス
(3−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラメチ
ルジシロキサン8.20g(33ミリモル)と3,
3′,4,4′−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸
二無水物35.83g(100ミリモル)及びNMP3
00mlを用いて、合成例1と同様の方法で、各構造単
位のモル比が[(1a)+(1b)]:[(2a)+
(2b)]=67:33[(1a):(1b)=10
0:0、(2a):(2b)=100:0]で示される
ポリイミド64.0g(収率97%)を得た。得られた
ポリイミドの赤外吸収スペクトルを測定したところ、1
718cm-1及び1783cm-1に典型的なイミドの吸
収が認められた。また、その分子量、ガラス転移点及び
熱分解開始温度を測定した。それらの結果を表1に示
す。このポリイミドを、THFに25重量%の濃度にな
るように溶解させることにより、塗工用ワニスを得た。
ン28.98g(67ミリモル)と1,3−ビス(3−
アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラメチルジシ
ロキサン8.20g(33ミリモル)と3,3′,4,
4′−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物3
5.83g(100ミリモル)及びNMP300mlを
用いて、合成例1と同様の方法で、各構造単位のモル比
が[(1a)+(1b)]:[(2a)+(2b)]=
67:33[(1a):(1b)=100:0、(2
a):(2b)=100:0]で示されるポリイミド6
5.0g(収率94%)を得た。得られたポリイミドの
赤外吸収スペクトルを測定したところ、1719cm-1
及び1785cm-1に典型的なイミドの吸収が認められ
た。また、その分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温
度を測定した。それらの結果を表1に示す。このポリイ
ミドを、THFに25重量%の濃度になるように溶解さ
せることにより、塗工用ワニスを得た。
ル]プロパン27.50g(67ミリモル)と1,3−
ビス(3−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラ
メチルジシロキサン8.20g(33ミリモル)と3,
3′,4,4′−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸
二無水物35.83g(100ミリモル)及びNMP3
00mlを用いて、合成例1と同様の方法で、各構造単
位のモル比が[(1a)+(1b)]:[(2a)+
(2b)]=67:33[(1a):(1b)=10
0:0、(2a):(2b)=100:0]で示される
ポリイミド65.0g(収率96%)を得た。得られた
ポリイミドの赤外吸収スペクトルを測定したところ、1
720cm-1及び1783cm-1に典型的なイミドの吸
収が認められた。また、その分子量、ガラス転移点及び
熱分解開始温度を測定した。それらの結果を表1に示
す。このポリイミドを、THFに25重量%の濃度にな
るように溶解させることにより、塗工用ワニスを得た。
ル]ヘキサフルオロプロパン34.74g(67ミリモ
ル)と1,3−ビス(3−アミノプロピル)−1,1,
3,3−テトラメチルジシロキサン8.20g(33ミ
リモル)と3,3′,4,4′−ジフェニルスルホンテ
トラカルボン酸二無水物35.83g(100ミリモ
ル)及びNMP300mlを用いて、合成例1と同様の
方法で、各構造単位のモル比が[(1a)+(1
b)]:[(2a)+(2b)]=67:33[(1
a):(1b)=100:0、(2a):(2b)=1
00:0]で示されるポリイミド74.0g(収率98
%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクトル
を測定したところ、1715cm-1及び1786cm-1
に典型的なイミドの吸収が認められた。また、その分子
量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測定した。それ
らの結果を表1に示す。このポリイミドを、THFに2
5重量%の濃度になるように溶解させることにより、塗
工用ワニスを得た。
3.35g(67ミリモル)と1,3−ビス(3−アミ
ノプロピル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロキ
サン8.20g(33ミリモル)と3,3′,4,4′
−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物35.
83g(100ミリモル)及びNMP300mlを用い
て、合成例1と同様の方法で、各構造単位のモル比が
[(1a)+(1b)]:[(2a)+(2b)]=6
7:33[(1a):(1b)=100:0、(2
a):(2b)=100:0]で示されるポリイミド6
0.5g(収率95%)を得た。得られたポリイミドの
赤外吸収スペクトルを測定したところ、1720cm-1
及び1780cm-1に典型的なイミドの吸収が認められ
た。また、その分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温
度を測定した。それらの結果を表1に示す。このポリイ
ミドを、THFに25重量%の濃度になるように溶解さ
せることにより、塗工用ワニスを得た。
モル)と1,3−ビス(3−アミノプロピル)−1,
1,3,3−テトラメチルジシロキサン6.21g(2
5ミリモル)とエチレングリコールビストリメリテート
二無水物41.03g(100ミリモル)及びNMP3
00mlを用いて、合成例1と同様の方法で、各構造単
位のモル比が[(1a)+(1b)]:[(2a)+
(2b)]=75:25[(1a):(1b)=0:1
00、(2a):(2b)=0:100]で示されるポ
リイミド54.0g(収率94%)を得た。得られたポ
リイミドの赤外吸収スペクトルを測定したところ、17
18cm-1及び1783cm-1に典型的なイミドの吸収
が認められた。また、その分子量、ガラス転移点及び熱
分解開始温度を測定した。それらの結果を表1に示す。
このポリイミドを、THFに25重量%の濃度になるよ
うに溶解させることにより、塗工用ワニスを得た。
ル)と1,3−ビス(3−アミノプロピル)−1,1,
3,3−テトラメチルジシロキサン6.21g(25ミ
リモル)とエチレングリコールビストリメリテート二無
水物41.03g(100ミリモル)及びNMP300
mlを用いて、合成例1と同様の方法で、各構造単位の
モル比が[(1a)+(1b)]:[(2a)+(2
b)]=75:25[(1a):(1b)=0:10
0、(2a):(2b)=0:100]で示されるポリ
イミド52.0g(収率89%)を得た。得られたポリ
イミドの赤外吸収スペクトルを測定したところ、171
8cm-1及び1783cm-1に典型的なイミドの吸収が
認められた。また、その分子量、ガラス転移点及び熱分
解開始温度を測定した。それらの結果を表1に示す。こ
のポリイミドを、THFに25重量%の濃度になるよう
に溶解させることにより、塗工用ワニスを得た。
5ミリモル)と1,3−ビス(3−アミノプロピル)−
1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン6.21g
(25ミリモル)とエチレングリコールビストリメリテ
ート二無水物41.03g(100ミリモル)及びNM
P300mlを用いて、合成例1と同様の方法で、各構
造単位のモル比が[(1a)+(1b)]:[(2a)
+(2b)]=75:25[(1a):(1b)=0:
100、(2a):(2b)=0:100]で示される
ポリイミド55.0g(収率94%)を得た。得られた
ポリイミドの赤外吸収スペクトルを測定したところ、1
718cm-1及び1783cm-1に典型的なイミドの吸
収が認められた。また、その分子量、ガラス転移点及び
熱分解開始温度を測定した。それらの結果を表1に示
す。このポリイミドを、THFに25重量%の濃度にな
るように溶解させることにより、塗工用ワニスを得た。
(75ミリモル)と1,3−ビス(3−アミノプロピ
ル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン6.
21g(25ミリモル)とエチレングリコールビストリ
メリテート二無水物41.03g(100ミリモル)及
びNMP300mlを用いて、合成例1と同様の方法
で、各構造単位のモル比が[(1a)+(1b)]:
[(2a)+(2b)]=75:25[(1a):(1
b)=0:100、(2a):(2b)=0:100]
で示されるポリイミド54.0g(収率90%)を得
た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクトルを測定し
たところ、1718cm-1及び1780cm-1に典型的
なイミドの吸収が認められた。また、その分子量、ガラ
ス転移点及び熱分解開始温度を測定した。それらの結果
を表1に示す。このポリイミドを、THFに25重量%
の濃度になるように溶解させることにより、塗工用ワニ
スを得た。
(75ミリモル)と1,3−ビス(3−アミノプロピ
ル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン6.
21g(25ミリモル)とエチレングリコールビストリ
メリテート二無水物41.03g(100ミリモル)及
びNMP300mlを用いて、合成例1と同様の方法
で、各構造単位のモル比が[(1a)+(1b)]:
[(2a)+(2b)]=75:25[(1a):(1
b)=0:100、(2a):(2b)=0:100]
で示されるポリイミド55.5g(収率89%)を得
た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクトルを測定し
たところ、1715cm-1及び1783cm-1に典型的
なイミドの吸収が認められた。また、その分子量、ガラ
ス転移点及び熱分解開始温度を測定した。それらの結果
を表1に示す。このポリイミドを、THFに25重量%
の濃度になるように溶解させることにより、塗工用ワニ
スを得た。
7g(75ミリモル)と1,3−ビス(3−アミノプロ
ピル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン
6.21g(25ミリモル)とエチレングリコールビス
トリメリテート二無水物41.03g(100ミリモ
ル)及びNMP300mlを用いて、合成例1と同様の
方法で、各構造単位のモル比が[(1a)+(1
b)]:[(2a)+(2b)]=75:25[(1
a):(1b)=0:100、(2a):(2b)=
0:100]で示されるポリイミド57.0g(収率9
4%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクト
ルを測定したところ、1718cm-1及び1783cm
-1に典型的なイミドの吸収が認められた。また、その分
子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測定した。そ
れらの結果を表1に示す。このポリイミドを、THFに
25重量%の濃度になるように溶解させることにより、
塗工用ワニスを得た。
ロパン25.07g(75ミリモル)と1,3−ビス
(3−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラメチ
ルジシロキサン6.21g(25ミリモル)とエチレン
グリコールビストリメリテート二無水物41.03g
(100ミリモル)及びNMP300mlを用いて、合
成例1と同様の方法で、各構造単位のモル比が[(1
a)+(1b)]:[(2a)+(2b)]=75:2
5[(1a):(1b)=0:100、(2a):(2
b)=0:100]で示されるポリイミド67.0g
(収率98%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収
スペクトルを測定したところ、1721cm-1及び17
83cm-1に典型的なイミドの吸収が認められた。ま
た、その分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測
定した。それらの結果を表1に示す。このポリイミド
を、THFに25重量%の濃度になるように溶解させる
ことにより、塗工用ワニスを得た。
92g(75ミリモル)と1,3−ビス(3−アミノプ
ロピル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン
6.21g(25ミリモル)とエチレングリコールビス
トリメリテート二無水物41.03g(100ミリモ
ル)及びNMP300mlを用いて、合成例1と同様の
方法で、各構造単位のモル比が[(1a)+(1
b)]:[(2a)+(2b)]=75:25[(1
a):(1b)=0:100、(2a):(2b)=
0:100]で示されるポリイミド62.0g(収率9
5%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクト
ルを測定したところ、1718cm-1及び1780cm
-1に典型的なイミドの吸収が認められた。また、その分
子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測定した。そ
れらの結果を表1に示す。このポリイミドを、THFに
25重量%の濃度になるように溶解させることにより、
塗工用ワニスを得た。
92g(75ミリモル)と1,3−ビス(3−アミノプ
ロピル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン
6.21g(25ミリモル)とエチレングリコールビス
トリメリテート二無水物41.03g(100ミリモ
ル)及びNMP300mlを用いて、合成例1と同様の
方法で、各構造単位のモル比が[(1a)+(1
b)]:[(2a)+(2b)]=75:25[(1
a):(1b)=0:100、(2a):(2b)=
0:100]で示されるポリイミド64.0g(収率9
7%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクト
ルを測定したところ、1718cm-1及び1780cm
-1に典型的なイミドの吸収が認められた。また、その分
子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測定した。そ
れらの結果を表2に示す。このポリイミドを、THFに
25重量%の濃度になるように溶解させることにより、
塗工用ワニスを得た。
ルエチル]ベンゼン25.84g(75ミリモル)と
1,3−ビス(3−アミノプロピル)−1,1,3,3
−テトラメチルジシロキサン6.21g(25ミリモ
ル)とエチレングリコールビストリメリテート二無水物
41.03g(100ミリモル)及びNMP300ml
を用いて、合成例1と同様の方法で、各構造単位のモル
比が[(1a)+(1b)]:[(2a)+(2b)]
=75:25[(1a):(1b)=0:100、(2
a):(2b)=0:100]で示されるポリイミド6
7.0g(収率96%)を得た。得られたポリイミドの
赤外吸収スペクトルを測定したところ、1718cm-1
及び1783cm-1に典型的なイミドの吸収が認められ
た。また、その分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温
度を測定した。それらの結果を表2に示す。このポリイ
ミドを、THFに25重量%の濃度になるように溶解さ
せることにより、塗工用ワニスを得た。
(75ミリモル)と1,3−ビス(3−アミノプロピ
ル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン6.
21g(25ミリモル)とエチレングリコールビストリ
メリテート二無水物41.03g(100ミリモル)及
びNMP300mlを用いて、合成例1と同様の方法
で、各構造単位のモル比が[(1a)+(1b)]:
[(2a)+(2b)]=75:25[(1a):(1
b)=0:100、(2a):(2b)=0:100]
で示されるポリイミド69.5g(収率98%)を得
た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクトルを測定し
たところ、1718cm-1及び1780cm-1に典型的
なイミドの吸収が認められた。また、その分子量、ガラ
ス転移点及び熱分解開始温度を測定した。それらの結果
を表2に示す。このポリイミドを、THFに25重量%
の濃度になるように溶解させることにより、塗工用ワニ
スを得た。
ーテル28.82g(75ミリモル)と1,3−ビス
(3−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラメチ
ルジシロキサン6.21g(25ミリモル)とエチレン
グリコールビストリメリテート二無水物41.03g
(100ミリモル)及びNMP300mlを用いて、合
成例1と同様の方法で、各構造単位のモル比が[(1
a)+(1b)]:[(2a)+(2b)]=75:2
5[(1a):(1b)=0:100、(2a):(2
b)=0:100]で示されるポリイミド70.0g
(収率97%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収
スペクトルを測定したところ、1718cm-1及び17
83cm-1に典型的なイミドの吸収が認められた。ま
た、その分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測
定した。それらの結果を表2に示す。このポリイミド
を、THFに25重量%の濃度になるように溶解させる
ことにより、塗工用ワニスを得た。
ン32.08g(75ミリモル)と1,3−ビス(3−
アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラメチルジシ
ロキサン6.21g(25ミリモル)とエチレングリコ
ールビストリメリテート二無水物41.03g(100
ミリモル)及びNMP300mlを用いて、合成例1と
同様の方法で、各構造単位のモル比が[(1a)+(1
b)]:[(2a)+(2b)]=75:25[(1
a):(1b)=0:100、(2a):(2b)=
0:100]で示されるポリイミド74.0g(収率9
7%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクト
ルを測定したところ、1719cm-1及び1785cm
-1に典型的なイミドの吸収が認められた。また、その分
子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測定した。そ
れらの結果を表2に示す。このポリイミドを、THFに
25重量%の濃度になるように溶解させることにより、
塗工用ワニスを得た。
ル]プロパン30.78g(75ミリモル)と1,3−
ビス(3−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラ
メチルジシロキサン6.21g(25ミリモル)とエチ
レングリコールビストリメリテート二無水物41.03
g(100ミリモル)及びNMP300mlを用いて、
合成例1と同様の方法で、各構造単位のモル比が[(1
a)+(1b)]:[(2a)+(2b)]=75:2
5[(1a):(1b)=0:100、(2a):(2
b)=0:100]で示されるポリイミド73.0g
(収率98%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収
スペクトルを測定したところ、1720cm-1及び17
83cm-1に典型的なイミドの吸収が認められた。ま
た、その分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測
定した。それらの結果を表2に示す。このポリイミド
を、THFに25重量%の濃度になるように溶解させる
ことにより、塗工用ワニスを得た。
ル]ヘキサフルオロプロパン38.89g(75ミリモ
ル)と1,3−ビス(3−アミノプロピル)−1,1,
3,3−テトラメチルジシロキサン6.21g(25ミ
リモル)とエチレングリコールビストリメリテート二無
水物41.03g(100ミリモル)及びNMP300
mlを用いて、合成例1と同様の方法で、各構造単位の
モル比が[(1a)+(1b)]:[(2a)+(2
b)]=75:25[(1a):(1b)=0:10
0、(2a):(2b)=0:100]で示されるポリ
イミド80.0g(収率97%)を得た。得られたポリ
イミドの赤外吸収スペクトルを測定したところ、171
5cm-1及び1786cm-1に典型的なイミドの吸収が
認められた。また、その分子量、ガラス転移点及び熱分
解開始温度を測定した。それらの結果を表2に示す。こ
のポリイミドを、THFに25重量%の濃度になるよう
に溶解させることにより、塗工用ワニスを得た。
6.14g(75ミリモル)と1,3−ビス(3−アミ
ノプロピル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロキ
サン6.21g(25ミリモル)とエチレングリコール
ビストリメリテート二無水物41.03g(100ミリ
モル)及びNMP300mlを用いて、合成例1と同様
の方法で、各構造単位のモル比が[(1a)+(1
b)]:[(2a)+(2b)]=75:25[(1
a):(1b)=0:100、(2a):(2b)=
0:100]で示されるポリイミド66.0g(収率9
5%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクト
ルを測定したところ、1720cm-1及び1780cm
-1に典型的なイミドの吸収が認められた。また、その分
子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測定した。そ
れらの結果を表2に示す。このポリイミドを、THFに
25重量%の濃度になるように溶解させることにより、
塗工用ワニスを得た。
ル]プロパン20.53g(50ミリモル)と1,3−
ビス(3−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラ
メチルジシロキサン12.43g(50ミリモル)と
3,3′,4,4′−ジフェニルスルホンテトラカルボ
ン酸二無水物35.83g(100ミリモル)及びNM
P300mlを用いて、合成例1と同様の方法で、各構
造単位のモル比が[(1a)+(1b)]:[(2a)
+(2b)]=50:50[(1a):(1b)=10
0:0、(2a):(2b)=100:0]で示される
ポリイミド61.0g(収率93%)を得た。得られた
ポリイミドの赤外吸収スペクトルを測定したところ、1
715cm-1及び1786cm-1に典型的なイミドの吸
収が認められた。また、その分子量、ガラス転移点及び
熱分解開始温度を測定した。それらの結果を表2に示
す。このポリイミドを、THFに25重量%の濃度にな
るように溶解させることにより、塗工用ワニスを得た。
ル]プロパン30.79g(75ミリモル)と1,3−
ビス(3−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラ
メチルジシロキサン6.21g(25ミリモル)と3,
3′,4,4′−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸
二無水物35.83g(100ミリモル)及びNMP3
00(NMP)300mlを用いて、合成例1と同様の
方法で、各構造単位のモル比が[(1a)+(1
b)]:[(2a)+(2b)]=75:25[(1
a):(1b)=100:0、(2a):(2b)=1
00:0]で示されるポリイミド65.0g(収率94
%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクトル
を測定したところ、1720cm-1及び1783cm-1
に典型的なイミドの吸収が認められた。また、その分子
量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測定した。それ
らの結果を表2に示す。このポリイミドを、THFに2
5重量%の濃度になるように溶解させることにより、塗
工用ワニスを得た。
ル]プロパン32.84g(80ミリモル)と1,3−
ビス(3−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラ
メチルジシロキサン4.97g(20ミリモル)と3,
3′,4,4′−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸
二無水物35.83g(100ミリモル)及びNMP3
00mlを用いて、合成例1と同様の方法で、各構造単
位のモル比が[(1a)+(1b)]:[(2a)+
(2b)]=80:20[(1a):(1b)=10
0:0、(2a):(2b)=100:0]で示される
ポリイミド68.0g(収率97%)を得た。得られた
ポリイミドの赤外吸収スペクトルを測定したところ、1
720cm-1及び1783cm-1に典型的なイミドの吸
収が認められた。また、その分子量、ガラス転移点及び
熱分解開始温度を測定した。それらの結果を表2に示
す。このポリイミドを、THFに25重量%の濃度にな
るように溶解させることにより、塗工用ワニスを得た。
ル]プロパン36.95g(90ミリモル)と1,3−
ビス(3−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラ
メチルジシロキサン2.49g(10ミリモル)と3,
3′,4,4′−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸
二無水物35.83g(100ミリモル)及びNMP3
00mlを用いて、合成例1と同様の方法で、各構造単
位のモル比が[(1a)+(1b)]:[(2a)+
(2b)]=90:10[(1a):(1b)=10
0:0、(2a):(2b)=100:0]で示される
ポリイミド69.0g(収率97%)を得た。得られた
ポリイミドの赤外吸収スペクトルを測定したところ、1
720cm-1及び1783cm-1に典型的なイミドの吸
収が認められた。また、その分子量、ガラス転移点及び
熱分解開始温度を測定した。それらの結果を表2に示
す。このポリイミドを、THFに25重量%の濃度にな
るように溶解させることにより、塗工用ワニスを得た。
ル]プロパン30.79g(75ミリモル)と1,3−
ビス(3−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラ
メチルジシロキサン6.21g(25ミリモル)と3,
3′,4,4′−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸
二無水物17.91g(50ミリモル)とエチレングリ
コールビストリメリテート二無水物20.53g(50
ミリモル)及びNMP300mlを用いて、合成例1と
同様の方法で、各構造単位のモル比が[(1a)+(1
b)]:[(2a)+(2b)]=75:25[(1
a):(1b)=50:50、(2a):(2b)=5
0:50]で示されるポリイミド68.5g(収率95
%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクトル
を測定したところ、1715cm-1及び1786cm-1
に典型的なイミドの吸収が認められた。また、その分子
量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測定した。それ
らの結果を表2に示す。このポリイミドを、THFに2
5重量%の濃度になるように溶解させることにより、塗
工用ワニスを得た。
ル]プロパン30.79g(75ミリモル)と1,3−
ビス(3−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラ
メチルジシロキサン6.21g(25ミリモル)と3,
3′,4,4′−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸
二無水物8.96g(25ミリモル)とエチレングリコ
ールビストリメリテート二無水物30.77g(75ミ
リモル)及びNMP300mlを用いて、合成例1と同
様の方法で、各構造単位のモル比が[(1a)+(1
b)]:[(2a)+(2b)]=75:25[(1
a):(1b)=25:75、(2a):(2b)=2
5:75]で示されるポリイミド69.5g(収率95
%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクトル
を測定したところ、1715cm-1及び1786cm-1
に典型的なイミドの吸収が認められた。また、その分子
量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測定した。それ
らの結果を表2に示す。このポリイミドを、THFに2
5重量%の濃度になるように溶解させることにより、塗
工用ワニスを得た。
ル]プロパン30.79g(75ミリモル)と1,3−
ビス(3−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラ
メチルジシロキサン6.21g(25ミリモル)と3,
3′,4,4′−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸
二無水物26.87g(75ミリモル)とエチレングリ
コールビストリメリテート二無水物10.26g(25
ミリモル)及びNMP300mlを用いて、合成例1と
同様の方法で、各構造単位のモル比が[(1a)+(1
b)]:[(2a)+(2b)]=75:25[(1
a):(1b)=75:25、(2a):(2b)=7
5:25]で示されるポリイミド66.0g(収率94
%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクトル
を測定したところ、1715cm-1及び1786cm-1
に典型的なイミドの吸収が認められた。また、その分子
量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測定した。それ
らの結果を表2に示す。このポリイミドを、THFに2
5重量%の濃度になるように溶解させることにより、塗
工用ワニスを得た。
ル]プロパン30.79g(75ミリモル)と1,3−
ビス[(アミノフェノキシ)メチル]−1,1,3,3
−テトラメチルジシロキサン9.42g(25ミリモ
ル)と3,3′,4,4′−ジフェニルスルホンテトラ
カルボン酸二無水物35.83g(100ミリモル)及
びNMP300mlを用いて、合成例1と同様の方法
で、各構造単位のモル比が[(1a)+(1b)]:
[(2a)+(2b)]=75:25[(1a):(1
b)=100:0、(2a):(2b)=100:0]
で示されるポリイミド69.0g(収率95%)を得
た。得られたポリイミドの赤外吸収スペクトルを測定し
たところ、1720cm-1及び1783cm-1に典型的
なイミドの吸収が認められた。また、その分子量、ガラ
ス転移点及び熱分解開始温度を測定した。それらの結果
を表2に示す。このポリイミドを、THFに25重量%
の濃度になるように溶解させることにより、塗工用ワニ
スを得た。
ル]プロパン30.79g(75ミリモル)と下記一般
式(5)で示されるアミノプロピル末端のジメチルシロ
キサン4量体(Y=NH2 、R=プロピレン、n=3)
10.72g(25ミリモル)と
ン酸二無水物35.83g(100ミリモル)及びNM
P300mlを用いて、合成例1と同様の方法で、各構
造単位のモル比が[(1a)+(1b)]:[(2a)
+(2b)]=75:25[(1a):(1b)=10
0:0、(2a):(2b)=100:0]で示される
ポリイミド67.0g(収率91%)を得た。得られた
ポリイミドの赤外吸収スペクトルを測定したところ、1
712cm-1及び1783cm-1に典型的なイミドの吸
収が認められた。また、その分子量、ガラス転移点及び
熱分解開始温度を測定した。それらの結果を表2に示
す。このポリイミドを、THFに25重量%の濃度にな
るように溶解させることにより、塗工用ワニスを得た。
ルジフェニルメタン31.04g(100ミリモル)と
3,3′,4,4′−ジフェニルスルホンテトラカルボ
ン酸二無水物35.83g(100ミリモル)及びNM
P300mlを用いて、合成例1と同様の方法で、各構
造単位のモル比が[(1a)+(1b)]:[(2a)
+(2b)]=100:0[(1a):(1b)=10
0:0、(2a):(2b)=0:0]で示されるポリ
イミド58.8g(収率93%)を得た。得られたポリ
イミドの赤外吸収スペクトルを測定したところ、172
0cm-1及び1780cm-1に典型的なイミドの吸収が
認められた。また、その分子量、ガラス転移点及び熱分
解開始温度を測定した。それらの結果を表2に示す。こ
のポリイミドを、THFに25重量%の濃度になるよう
に溶解させることにより、塗工用ワニスを得た。
ルジフェニルメタン15.52g(50ミリモル)と
3,3′,4,4′−ジフェニルスルホンテトラカルボ
ン酸二無水物13.34g(37.5ミリモル)とエチ
レングリコールビストリメリテート酸二無水物5.13
g(12.5ミリモル)及びNMP150mlを用い
て、合成例1と同様の方法で、各構造単位のモル比が
[(1a)+(1b)]:[(2a)+(2b)]=1
00:0[(1a):(1b)=75:25、(2
a):(2b)=0:0]で示されるポリイミド29.
6g(収率92%)を得た。得られたポリイミドの赤外
吸収スペクトルを測定したところ、1720cm-1及び
1780cm-1に典型的なイミドの吸収が認められた。
また、その分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を
測定した。それらの結果を表2に示す。このポリイミド
を、THFに25重量%の濃度になるように溶解させる
ことにより、塗工用ワニスを得た。
ルジフェニルメタン15.52g(50ミリモル)と
3,3′,4,4′−ジフェニルスルホンテトラカルボ
ン酸二無水物8.89g(25ミリモル)とエチレング
リコールビストリメリテート酸二無水物10.26g
(25ミリモル)及びNMP150mlを用いて、合成
例1と同様の方法で、各構造単位のモル比が[(1a)
+(1b)]:[(2a)+(2b)]=100:0
[(1a):(1b)=50:50、(2a):(2
b)=0:0]で示されるポリイミド29.6g(収率
92%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収スペク
トルを測定したところ、1720cm-1及び1780c
m-1に典型的なイミドの吸収が認められた。また、その
分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測定した。
それらの結果を表2に示す。このポリイミドを、THF
に25重量%の濃度になるように溶解させることによ
り、塗工用ワニスを得た。
ルジフェニルメタン7.76g(25ミリモル)とビス
(3−アミノプロピル)テトラメチルジシロキサン6.
21g(25ミリモル)と3,3′,4,4′−ジフェ
ニルスルホンテトラカルボン酸二無水物17.91g
(50ミリモル)及びNMP150mlを用いて、合成
例1と同様の方法で、各構造単位のモル比が[(1a)
+(1b)]:[(2a)+(2b)]=50:50
[(1a):(1b)=100:0、(2a):(2
b)=100:0]で示されるポリイミド27.4g
(収率91%)を得た。得られたポリイミドの赤外吸収
スペクトルを測定したところ、1720cm-1及び17
80cm-1に典型的なイミドの吸収が認められた。ま
た、その分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を測
定した。それらの結果を表2に示す。このポリイミド
を、THFに25重量%の濃度になるように溶解させる
ことにより、塗工用ワニスを得た。
ルジフェニルメタン11.64g(37.5ミリモル)
とビス(3−アミノプロピル)テトラメチルジシロキサ
ン3.11g(12.5ミリモル)と3,3′,4,
4′−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物1
7.91g(50ミリモル)及びNMP150mlを用
いて、合成例1と同様の方法で、各構造単位のモル比が
[(1a)+(1b)]:[(2a)+(2b)]=7
5:25[(1a):(1b)=100:0、(2
a):(2b)=100:0]で示されるポリイミド2
9.6g(収率92%)を得た。得られたポリイミドの
赤外吸収スペクトルを測定したところ、1720cm-1
及び1780cm-1に典型的なイミドの吸収が認められ
た。また、その分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温
度を測定した。それらの結果を表2に示す。このポリイ
ミドを、THFに25重量%の濃度になるように溶解さ
せることにより、塗工用ワニスを得た。
ルジフェニルメタン12.72g(50ミリモル)とエ
チレングリコールビストリメリテート酸二無水物20.
51g(50ミリモル)及びNMP150mlを用い
て、合成例1と同様の方法で、各構造単位のモル比が
[(1a)+(1b)]:[(2a)+(2b)]=1
00:0[(1a):(1b)=0:100、(2
a):(2b)=0:0]で示されるポリイミド29.
5g(収率94%)を得た。得られたポリイミドの赤外
吸収スペクトルを測定したところ、1720cm-1及び
1780cm-1に典型的なイミドの吸収が認められた。
また、その分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を
測定した。それらの結果を表2に示す。このポリイミド
を、THFに25重量%の濃度になるように溶解させる
ことにより、塗工用ワニスを得た。
ルジフェニルメタン15.52g(50ミリモル)とエ
チレングリコールビストリメリテート酸二無水物20.
51g(50ミリモル)及びNMP150mlを用い
て、合成例1と同様の方法で、各構造単位のモル比が
[(1a)+(1b)]:[(2a)+(2b)]=1
00:0[(1a):(1b)=0:100、(2
a):(2b)=0:0]で示されるポリイミド31.
8g(収率93%)を得た。得られたポリイミドの赤外
吸収スペクトルを測定したところ、1720cm-1及び
1780cm-1に典型的なイミドの吸収が認められた。
また、その分子量、ガラス転移点及び熱分解開始温度を
測定した。それらの結果を表2に示す。このポリイミド
を、THFに25重量%の濃度になるように溶解させる
ことにより、塗工用ワニスを得た。
量測定は、THFを溶離液とし、カラムはShodex
80M×2を使用して行った。分子量値は、GPCによ
る数平均分子量であり、ポリスチレン換算によるもので
ある。ガラス転移点は、示差熱分析(窒素中、10℃/
分で昇温)により測定し、また、熱分解開始温度は、熱
重量分析(窒素中、10℃/分で昇温)により測定した
ものである。
スを塗布液とし、剥離性の膜厚50μmのポリエチレン
テレフタレートフィルム(300×500cm)上に、
バーコーターを用いて乾燥時の層厚が20μmになるよ
うに塗布し、その塗布層を熱風循環型乾燥機中にて15
0℃で5分間乾燥させて第1接着層を形成させた。次い
で、その第1接着層の上に、合成例2で得られたポリイ
ミドを含む塗工用ワニス(第1接着層に用いたポリイミ
ドとはTgが異なるポリイミドを含む塗工用ワニス)を
塗布液とし、乾燥時の層厚が20μmになるように塗布
し、その塗布層を熱風循環型乾燥機中にて150℃で1
0分間乾燥させることにより、第1接着層の上に第2接
着層を積層形成した厚さ40μmの接着テープを作製し
た。
む塗工用ワニス単独、又はそれらの2種類以上を混合し
たもの、あるいは、それらにフィラーを添加したもので
あって、Tgの異なる2層の接着層を形成する各種の塗
布液を用いたこと以外は、実施例1と全く同様にして、
それぞれ接着テープを作製した。
用ワニス、フィラーの種類と添加量及び形成された接着
層の接着温度を、それぞれ表3及び表4に示す。
同様にして、同じTgの接着層を2層積層した厚さ40
μmの接着テープを作製した。 比較例2 合成例10で得られた塗工用ワニスを用い、膜厚25μ
mのポリイミドフィルムの両面に、各接着層の乾燥時の
層厚が20μmになるように塗布し、熱風循環型乾燥機
中にて150℃で15分間乾燥し、接着テープを作製し
た。
製)のN−メチル−2−ピロリドン20重量%溶液を用
意した。この溶液を剥離性のポリエチレンテレフタレー
トフイルムに塗布し、熱風循環型乾燥機にて150℃で
120分間乾燥させ、更に同じ溶液を同様に塗布して熱
風循環型乾燥機にて150℃で120分間乾燥させた。
各接着層の乾燥時の層厚が20μmになるように塗工時
に調整した。次いで、そのフイルムを剥がして、250
℃で60分間乾燥し、接着テープを作製した。
製)のN−メチル−2−ピロリドン20重量%溶液を用
意した。この溶液を用いて、比較例2と同様にポリイミ
ドフィルムの両面に、各接着層の乾燥時の層厚が20μ
mになるように塗布し、熱風循環型乾燥機中にて150
℃で120分間乾燥し、更に250℃で60分間乾燥
し、接着テープを作製した。
ープを評価するために、以下の作業を行った。なお、剥
離性のポリエチレンテレフタレートフィルムは、接着テ
ープ打ち抜き前に剥離し、リードフレームの組立てを行
った。 (リードフレームの組立て)図1に示す半導体パッケー
ジに用いられるリードフレームを、次に示す手順で組立
てた。 (a)接着テープの打ち抜き 金型による接着テープのリング状打ち抜き。 (b)接着テープの仮接着 ホットプレート上に金属放熱板を置き、リング状に打ち
抜いたテープを金属放熱板に金属ロッドで接着テープの
高Tg側の面を押し付けて(4kgf/cm2/1秒)
接着した。この時の接着温度は、高Tg側の接着温度と
して表3及び表4に示した。 (c)リードフレームの組立て 上記工程で接着テープを接着した金属放熱板とリードフ
レーム本体とを位置合せし、加熱したホットプレート上
で加熱加圧して、リードフレームと金属放熱板を接着テ
ープを介して貼り合わせる(4kgf/cm2 /1秒)
ことによりリードフレームを組立てた。この時の接着温
度は、低Tg側の接着温度として表3及び表4に示し
た。
で得られたリードフレームを使用し、以下の手順で半導
体パッケージを組立てた。リードフレーム組立て時に接
着条件及び硬化条件が異なるのは、各接着テープの特性
が異なるためである。ここでは、各接着テープに最適の
接着条件を選定し、それに基づいて接着させた。 (a)ダイボンディング 半導体チップをダイボンディング用銀ペーストを用い
て、金属放熱板部に接着し、150℃で2時間硬化させ
た。 (b)ワイヤーボンディング ワイヤーボンダーにより、金線で半導体チップ上のワイ
ヤーパッドとインナーリード線端部の銀メッキ部分とを
配線する。 (c)モールディング エポキシ系モールド剤でトランスファーモールドする。 (d)仕上げ工程 ホーミング、ダムカット及びアウターリード部のメッキ
等の工程を含め、パッケージに仕上げる。
結果) (a)接着力 銅板にリードフレーム組立て時の条件で接着テープを貼
着(テーピング)した後、その10mm幅のテープの室
温における90°ピール強度を測定した。その結果、実
施例1〜40の接着テープの強度は、35〜50g/1
0mmであるのに対し、比較例2及び比較例4のものは
10〜40g/10mmで変動幅が大きく、剥離のモー
ドはベースフィルムと接着層の間で剥離していた。ま
た、比較例1及び比較例3の接着テープは35〜50g
/10mmであり問題がなかった。
が埋め込まれる状態を観察した。実施例1〜40の接着
テープでは、低Tg側に埋め込まれたリードピンは高T
g側の層のところで止まっていたが、比較例1及び比較
例3のものでは、埋め込まれた状態がピン毎に異なり、
金属放熱板と接触しているものも存在していた。
T試験(Pressure Cooker Biase
d Test)を行った。この試験条件は、5ボルトに
印加し、121℃、2気圧、100%RHにおいて実施
し、電気的信頼性テストを行った。その結果、実施例1
〜40の接着テープは、1000時間経過してもショー
トが生じなかった。これに対し、比較例4のものでは、
ショートの発生はなかったが、ベースフィルムと接着剤
層の界面で剥離の生じているものがあった。
いた場合には、良好な半導体パッケージを作製すること
ができるのに対し、比較例の接着テープを用いた場合
は、リードが埋め込まれてしまったり、界面に剥離が発
生する等の問題を有することから、比較例の接着テープ
は電子部品の作製に適していないことは明らかである。
した試験結果に見られるように、十分な耐熱性及び接着
性を有しているから、電子部品の接着に極めて信頼性の
高い良好なものであり、例えば、リードフレーム固定用
テープ及びTABテープ等として、半導体装置を構成す
るリードフレーム周辺の部材間、例えば、リードピン、
半導体チップ搭載用基板、放熱板及び半導体チップ自体
等の接着に好適に使用できるものである。
脂封止型半導体装置の一例の断面図である。
脂封止型半導体装置の他の一例の断面図である。
脂封止型半導体装置のさらに他の一例の断面図である。
リードピン、4…ボンディングワイヤー、5…樹脂、6
…接着層、7…ダイパッド、8…電極。
二価の基を示す。)
も異なっていてもよく、水素原子、炭素数1〜4のアル
キル基または炭素数1〜4のアルコキシ基を示すが、こ
れらのすべての基が同時に水素原子であることはな
い。)
レン基がSiに結合している−CH2 OC6 H4 −を示
す。nは1〜20の整数を意味する。)
テープは、下記式(1a)で表される構造単位及び下記
式(1b)で表される構造単位の少なくとも1種の10
0〜40モル%と、下記式(2a)で表される構造単位
及び下記式(2b)で表される構造単位の少なくとも1
種の0〜60モル%とからなる少なくとも1つ以上のポ
リイミドを含有し、かつ、異なるガラス転移温度を示す
2種類の接着層を積層してなることを特徴とするもので
ある。
て詳細に説明する。本発明の電子部品用接着テープは、
上記少なくとも1つのポリイミドを含む2種類の接着層
を有するものであるので、まずそれらの接着層に使用す
るポリイミドについて説明する。
ポリイミドの製造方法を用いることにより得ることがで
きる。すなわち、各繰り返し構造単位に対応するテトラ
カルボン酸無水物と、各繰り返し構造単位に対応するジ
アミンまたはジイソシアナートとから製造することがで
きる。具体的には、上記のポリイミドは、下記式(3
a)で表されるテトラカルボン酸二無水物及び/又は下
記式(3b)で表される化合物と下記式(4)で表され
る化合物及び/又は下記式(5)で表されるシロキサン
系化合物とを反応させることにより製造することができ
る。
るポリイミドには、上記したポリイミドから選ばれるポ
リイミドを単独で用いてもよいが、ガラス転移温度(T
g)を調節するために、それらポリイミドの2種類以上
を適宜混合して用いてもよい。本発明の電子部品用接着
テープは、上記のとおり、異なるTgを示す上記したポ
リイミドを含む2種類の接着層が積層されて形成されて
いる。この接着テープにおける2種類の接着層は、従来
公知の塗布方法を用いて形成するか、または成形したポ
リイミドフィルムを積層することにより得られる。例え
ば、剥離性フィルムの片面に、ポリイミドを含む塗布液
を塗工し、これを乾燥して、2層を形成する方法、また
はTgの異なる2種類の塗布液を同時に塗工した後、乾
燥させて2層を形成する方法があげられる。また、ポリ
イミドフィルムを積層する方法としては、Tgの異なる
2種類のポリイミドを含む2つのフィルムを熱圧着する
方法があげられる。また、一方のポリイミドフィルムを
形成した後、それとTgの異なるポリイミドを含む塗布
液をその上に塗工して乾燥させる方法も採用できる。本
発明における電子部品用接着テープの厚さは、必要に応
じて適宜採択されるが、通常、総厚で10〜150μm
の範囲であり、それぞれの層厚は、最低限度の接着力を
維持するために5μm程度以上である。
するには、上記のポリイミドを適当な溶媒に溶解させた
塗工用ワニスが用いられる。本発明に用いられるポリイ
ミドを溶解する溶媒としては、N−メチル−2−ピロリ
ドン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジメチ
ルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、スルホラン、
ヘキサメチルリン酸トリアミド、1,3−ジメチル−2
−イミダゾリドン等の非プロトン性極性溶媒、フェノー
ル、クレゾール、キシレノール、p−クロロフェノール
等のフェノール系溶媒、イソホロン、シクロヘキサノ
ン、カルビトールアセテート、ジグライム、ジオキサ
ン、テトラヒドロフラン等の広範な有機溶媒が挙げられ
る。更にこれに、メタノール、エタノール、イソプロパ
ノール等のアルコール系溶媒、酢酸メチル、酢酸エチ
ル、酢酸ブチル等のエステル系溶媒、アセトニトリル、
ベンゾニトリル等のニトリル系溶媒、ベンゼン、トルエ
ン、キシレン等の芳香族系溶媒、クロロホルム、ジクロ
ロメタン等のハロゲン系溶媒等があげられ、これらはポ
リイミドが析出しない程度に混合して用いることもでき
る。塗工用ワニスの濃度及び粘度は、塗工条件に合わせ
て適宜変更することが好ましい。
Claims (4)
- 【請求項1】 下記式(1a)で表される構造単位及び
下記式(1b)で表される構造単位の少なくとも1種を
100〜40モル%と、下記式(2a)で表される構成
単位及び下記式(2b)で表される構造単位の少なくと
も1種を0〜60モル%とからなる少なくとも1つ以上
のポリイミドを含有し、かつ、異なるガラス転移温度を
示す2種類の接着層を積層してなることを特徴とする電
子部品用接着テープ。 【化1】 (式中、Arは芳香環を有する下記の構造から選ばれる
二価の基を示す。) 【化2】 (式中、R1 、R2 、R3 及びR4 は、それぞれ同じで
も異なっていてもよく、水素原子、炭素数1〜4のアル
キル基または炭素数1〜4のアルコキシ基を示すが、こ
れらのすべての基が同時に水素原子であることはな
い。) 【化3】 (式中、Rは炭素数1〜10のアルキレン基またはメチ
レン基がSiに結合している−CH2 OC6 H4 −を示
す。nは1〜20の整数を意味する。) - 【請求項2】 2種類の接着層が、ガラス転移温度に4
0℃以上の差異を有するものであることを特徴とする請
求項1に記載の電子部品用接着テープ。 - 【請求項3】 少なくとも一方の接着層が、粒径1μm
以下のフィラーを0.1〜50重量部含むことを特徴と
する請求項1または2に記載の電子部品用接着テープ。 - 【請求項4】 接着層の少なくとも一方の面に、剥離性
フィルムを設けることを特徴とする請求項1〜3のいず
れか1項に記載の電子部品用接着テープ。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30259996A JP3650493B2 (ja) | 1996-11-14 | 1996-11-14 | 電子部品用接着テープ |
| TW086116337A TW438875B (en) | 1996-11-14 | 1997-11-04 | An adhesive tape for electronic parts |
| US08/966,194 US5891540A (en) | 1996-11-14 | 1997-11-07 | Adhesive tape for electronic parts |
| KR1019970060160A KR100337410B1 (ko) | 1996-11-14 | 1997-11-14 | 전자부품용접착테이프 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30259996A JP3650493B2 (ja) | 1996-11-14 | 1996-11-14 | 電子部品用接着テープ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10140106A true JPH10140106A (ja) | 1998-05-26 |
| JP3650493B2 JP3650493B2 (ja) | 2005-05-18 |
Family
ID=17910926
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30259996A Expired - Fee Related JP3650493B2 (ja) | 1996-11-14 | 1996-11-14 | 電子部品用接着テープ |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5891540A (ja) |
| JP (1) | JP3650493B2 (ja) |
| KR (1) | KR100337410B1 (ja) |
| TW (1) | TW438875B (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPH10183079A (ja) * | 1996-12-26 | 1998-07-07 | Tomoegawa Paper Co Ltd | 電子部品用接着テープ |
| JPH10212460A (ja) * | 1997-01-30 | 1998-08-11 | Tomoegawa Paper Co Ltd | 電子部品用接着テープ |
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Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TW384304B (en) * | 1996-12-26 | 2000-03-11 | Tomoegawa Paper Co Ltd | Adhesive tape for electronic parts |
| KR102501295B1 (ko) * | 2020-08-31 | 2023-02-21 | (주) 대양산업 | 사계절 점착테이프 |
| KR102313245B1 (ko) * | 2021-01-04 | 2021-10-14 | (주)인랩 | 반도체 패키지용 마스킹 테이프 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1457191A (en) * | 1974-02-28 | 1976-12-01 | Secr Defence | Aromatic fluoro-polyimide adhesive compositions |
| JP2961642B2 (ja) * | 1995-05-31 | 1999-10-12 | 株式会社巴川製紙所 | 電子部品用接着テープおよび液状接着剤 |
| JP2992462B2 (ja) * | 1995-08-31 | 1999-12-20 | 株式会社巴川製紙所 | 電子部品用接着テープ及び液状接着剤 |
-
1996
- 1996-11-14 JP JP30259996A patent/JP3650493B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-11-04 TW TW086116337A patent/TW438875B/zh not_active IP Right Cessation
- 1997-11-07 US US08/966,194 patent/US5891540A/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-11-14 KR KR1019970060160A patent/KR100337410B1/ko not_active Expired - Fee Related
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| US6132865A (en) * | 1997-07-23 | 2000-10-17 | Tomoegawa Paper Co., Ltd. | Adhesive tape for electronic parts |
| US6395391B1 (en) | 1997-07-23 | 2002-05-28 | Tomoegawa Paper Co., Ltd. | Adhesive tape for electronic parts |
| JP2014201682A (ja) * | 2013-04-05 | 2014-10-27 | 日立化成株式会社 | 接着剤組成物、回路接続用接着剤及び回路部材の接続構造体 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW438875B (en) | 2001-06-07 |
| KR100337410B1 (ko) | 2002-12-06 |
| JP3650493B2 (ja) | 2005-05-18 |
| KR19980042451A (ko) | 1998-08-17 |
| US5891540A (en) | 1999-04-06 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041130 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050218 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080225 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090225 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090225 Year of fee payment: 4 |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120225 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120225 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
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