JPH10142096A - 低温漏洩試験方法と装置 - Google Patents
低温漏洩試験方法と装置Info
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- JPH10142096A JPH10142096A JP29670296A JP29670296A JPH10142096A JP H10142096 A JPH10142096 A JP H10142096A JP 29670296 A JP29670296 A JP 29670296A JP 29670296 A JP29670296 A JP 29670296A JP H10142096 A JPH10142096 A JP H10142096A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 低温で使用される中空体の低温漏洩試験を、
短時間に、正確に、しかも液体窒素やへリウムガスなど
を無駄にすることなく効率的に実施することができる低
温漏洩試験方法と装置を提供する。 【解決手段】 低温で使用される中空体を被試験体とし
て低温漏洩試験を実施する方法において、被試験体を真
空容器内に収納し、この被試験体を、それに冷媒を直接
触れさせることなく冷却し、被試験体内にトレーサガス
を封入・加圧し、その漏洩の有無に基づいて漏洩試験を
行うことを特徴とする。
短時間に、正確に、しかも液体窒素やへリウムガスなど
を無駄にすることなく効率的に実施することができる低
温漏洩試験方法と装置を提供する。 【解決手段】 低温で使用される中空体を被試験体とし
て低温漏洩試験を実施する方法において、被試験体を真
空容器内に収納し、この被試験体を、それに冷媒を直接
触れさせることなく冷却し、被試験体内にトレーサガス
を封入・加圧し、その漏洩の有無に基づいて漏洩試験を
行うことを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、パイプやチューブ
などの中空の被試験体の低温における健全性を確認する
際などに実施される低温漏洩試験方法とそれに使用する
装置に関する。
などの中空の被試験体の低温における健全性を確認する
際などに実施される低温漏洩試験方法とそれに使用する
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば超電導機器におけるパイプやチュ
ーブなどのように、液体窒素や液体へリウムなどの低温
冷媒のもとで使用される中空体は、その材料自体や溶接
継ぎ手部等の健全性を確認するため低温下で漏洩試験を
実施されることがある。
ーブなどのように、液体窒素や液体へリウムなどの低温
冷媒のもとで使用される中空体は、その材料自体や溶接
継ぎ手部等の健全性を確認するため低温下で漏洩試験を
実施されることがある。
【０００３】このような低温漏洩試験においては、従来
から、被試験体を冷却する方法として液体窒素が一般的
に使用されている。この方法による従来の低温漏洩試験
装置の構成例を図４に示す。
から、被試験体を冷却する方法として液体窒素が一般的
に使用されている。この方法による従来の低温漏洩試験
装置の構成例を図４に示す。
【０００４】同図において、低温漏洩試験装置はパイプ
やチューブなどの被試験体１および液体窒素２を収納す
る液体窒素容器３と、この液体窒素容器に液体窒素を供
給する液体窒素供給装置４と、被試験体１の表面にトレ
ーサガスとしてへリウムガスを吹付けるノズル５と、こ
のノズルにへリウムガスを供給するへリウムガス供給装
置６と、被試験体１の中空部に連結された真空排気装置
７と、この真空排気装置を介して被試験体１の中空部に
接続された漏洩検査装置８などから構成されている。な
お、図示の例では、被試験体１は角型パイプからなり、
長尺であるため、コイル状に密巻きされて、液体窒素容
器３の液体窒素２に浸漬されている。
やチューブなどの被試験体１および液体窒素２を収納す
る液体窒素容器３と、この液体窒素容器に液体窒素を供
給する液体窒素供給装置４と、被試験体１の表面にトレ
ーサガスとしてへリウムガスを吹付けるノズル５と、こ
のノズルにへリウムガスを供給するへリウムガス供給装
置６と、被試験体１の中空部に連結された真空排気装置
７と、この真空排気装置を介して被試験体１の中空部に
接続された漏洩検査装置８などから構成されている。な
お、図示の例では、被試験体１は角型パイプからなり、
長尺であるため、コイル状に密巻きされて、液体窒素容
器３の液体窒素２に浸漬されている。
【０００５】このような構成の低温漏洩試験装置を用い
て被試験体１の低温漏洩試験を行う場合には、液体窒素
容器３に液体窒素を充填する前に、被試験体１の内部を
真空排気装置７により真空排気し、溶接部等の漏洩の可
能性がある箇所にへリウムガスを吹き付ける。漏洩箇所
がある場合には、そこを通してへリウムガスが被試験体
１の内部に浸入するので、これを漏洩検査装置８で検査
する。漏洩が無いことを確認した後、液体窒素容器３に
液体窒素を充填し、被試験体１を液体窒素温度まで冷却
させる。この状態で、再び被試験体１にノズル５からへ
リウムガスを吹き付け、低温状態での漏洩試験を行う。
て被試験体１の低温漏洩試験を行う場合には、液体窒素
容器３に液体窒素を充填する前に、被試験体１の内部を
真空排気装置７により真空排気し、溶接部等の漏洩の可
能性がある箇所にへリウムガスを吹き付ける。漏洩箇所
がある場合には、そこを通してへリウムガスが被試験体
１の内部に浸入するので、これを漏洩検査装置８で検査
する。漏洩が無いことを確認した後、液体窒素容器３に
液体窒素を充填し、被試験体１を液体窒素温度まで冷却
させる。この状態で、再び被試験体１にノズル５からへ
リウムガスを吹き付け、低温状態での漏洩試験を行う。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の低温漏
洩試験方法においては、次のような問題があった。
洩試験方法においては、次のような問題があった。
【０００７】（１）被試験体を真空排気する必要があ
り、この被試験体が長尺の場合は真空排気に多くの時間
を要する。
り、この被試験体が長尺の場合は真空排気に多くの時間
を要する。
【０００８】（２）被試験体が長尺の場合には、ヘリウ
ムガスが拡散し、漏洩検出感度が低下する。
ムガスが拡散し、漏洩検出感度が低下する。
【０００９】（３）被試験体の内部にケーブル等の放出
ガスの大きいものが挿入されている場合には、真空排気
に多大な時間を必要とする上、漏洩試験検出感度が大幅
に低下する。
ガスの大きいものが挿入されている場合には、真空排気
に多大な時間を必要とする上、漏洩試験検出感度が大幅
に低下する。
【００１０】（４）冷却された時に大気中の水分が結露
し、被試験体が霜で覆われると共に、昇温のため大気中
に出した時に水滴が付着する。このため漏洩箇所が塞が
れ、漏洩部の見逃しを生じる恐れがあり、また被試験体
が錆びたりしてその後の使用に悪影響を及ぼす恐れがあ
る。
し、被試験体が霜で覆われると共に、昇温のため大気中
に出した時に水滴が付着する。このため漏洩箇所が塞が
れ、漏洩部の見逃しを生じる恐れがあり、また被試験体
が錆びたりしてその後の使用に悪影響を及ぼす恐れがあ
る。
【００１１】（５）被試験体内部は真空排気されるた
め、実際の使用状態とは逆の圧力（実際の使用状態が内
部加圧の場合）となり、実状と異なった試験条件とな
る。
め、実際の使用状態とは逆の圧力（実際の使用状態が内
部加圧の場合）となり、実状と異なった試験条件とな
る。
【００１２】（６）低温でのへリウムガスの吹付けは、
液体窒素内や被試験体が霜で覆われた状態であるため、
漏洩部の見逃しを生じる危険性が高い。
液体窒素内や被試験体が霜で覆われた状態であるため、
漏洩部の見逃しを生じる危険性が高い。
【００１３】（７）液体窒素容器は被試験体が入る大き
さより余裕を持った大きさでなくてはならず、液体窒素
の使用量が多くなる。
さより余裕を持った大きさでなくてはならず、液体窒素
の使用量が多くなる。
【００１４】本発明は、このような問題を解消した低温
漏洩試験方法と装置を提供しようとするものである。
漏洩試験方法と装置を提供しようとするものである。
【００１５】
【課題を解決するための手段】本発明の低温漏洩試験方
法は、低温で使用される中空体を被試験体として低温漏
洩試験を実施する方法において、被試験体を真空容器内
に収納し、この被試験体を、それに冷媒を直接触れさせ
ることなく冷却し、被試験体内にトレーサガスを封入・
加圧し、その漏洩の有無に基づいて漏洩試験を行うこと
を特徴とする。また、本発明の低温漏洩試験装置は、中
空の被試験体を収納する真空容器と、前記被試験体内を
真空引きするガス置換用真空ポンプと、被試験体冷却用
の冷媒を被試験体に直接触れさせることなく通過させる
冷媒通路と、前記被試験体内にトレーサガスを封入・加
圧するトレーサガス供給装置と、前記真空容器内に漏洩
したトレーサガスを検出する漏洩検査装置とを備えるこ
とを特徴とする。
法は、低温で使用される中空体を被試験体として低温漏
洩試験を実施する方法において、被試験体を真空容器内
に収納し、この被試験体を、それに冷媒を直接触れさせ
ることなく冷却し、被試験体内にトレーサガスを封入・
加圧し、その漏洩の有無に基づいて漏洩試験を行うこと
を特徴とする。また、本発明の低温漏洩試験装置は、中
空の被試験体を収納する真空容器と、前記被試験体内を
真空引きするガス置換用真空ポンプと、被試験体冷却用
の冷媒を被試験体に直接触れさせることなく通過させる
冷媒通路と、前記被試験体内にトレーサガスを封入・加
圧するトレーサガス供給装置と、前記真空容器内に漏洩
したトレーサガスを検出する漏洩検査装置とを備えるこ
とを特徴とする。
【００１６】
【発明の実施の形態】本発明の低温漏洩試験方法および
装置においては、冷媒通路を設けた巻付けボビンに被試
験体を巻付け、その外側を冷媒通路を持つ冷却板で覆っ
て、これを真空容器内に挿入して真空排気する。冷媒通
路は巻付けボビンの内側および冷却板の外側に冷却配管
を密着するように巻付けて形成してもよく、あるいは巻
付けボビンおよび冷却板自体を中空体とし、これらの中
空部を冷媒通路としてもよい。真空容器の真空排気後、
巻付けボビンおよび冷却板の冷媒通路に液体窒素を流す
ことにより被試験体の冷却を行う。冷却後、被試験体内
にトレーサガスとしてへリウムガスを封入、加圧して漏
洩試験を実施する。
装置においては、冷媒通路を設けた巻付けボビンに被試
験体を巻付け、その外側を冷媒通路を持つ冷却板で覆っ
て、これを真空容器内に挿入して真空排気する。冷媒通
路は巻付けボビンの内側および冷却板の外側に冷却配管
を密着するように巻付けて形成してもよく、あるいは巻
付けボビンおよび冷却板自体を中空体とし、これらの中
空部を冷媒通路としてもよい。真空容器の真空排気後、
巻付けボビンおよび冷却板の冷媒通路に液体窒素を流す
ことにより被試験体の冷却を行う。冷却後、被試験体内
にトレーサガスとしてへリウムガスを封入、加圧して漏
洩試験を実施する。
【００１７】これにより被試験体は真空中で冷却される
ため水滴や霜等に覆われることがなく、健全なままの状
態で漏洩試験を実施することができる。また、被試験体
の内部を加圧するため実際の使用に見合った条件下での
漏洩試験が可能であり、漏洩検出感度も高感度とするこ
とができる。被試験体を加圧状態で冷却し、その冷却途
上の漏洩の有無を監視することもできる。また、低温で
の試験完了後、冷却配管に、加温した高温のガスを流す
ことにより、被試験体を短時間で常温に戻すこともでき
る。
ため水滴や霜等に覆われることがなく、健全なままの状
態で漏洩試験を実施することができる。また、被試験体
の内部を加圧するため実際の使用に見合った条件下での
漏洩試験が可能であり、漏洩検出感度も高感度とするこ
とができる。被試験体を加圧状態で冷却し、その冷却途
上の漏洩の有無を監視することもできる。また、低温で
の試験完了後、冷却配管に、加温した高温のガスを流す
ことにより、被試験体を短時間で常温に戻すこともでき
る。
【００１８】
【実施例】次に、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。
する。
【００１９】図１は、本発明の低温漏洩試験装置の使用
状態の概略構成を示すもので、真空容器９内には、被試
験体１が収納されている。被試験体１としては、角型パ
イプが例示されている。この角型パイプは長尺であり、
巻付けボビン１０の外周にコイル状に密巻きされてい
る。巻付けボビン１０は、アルミニウム等のように適度
の機械的強度と高い熱伝導性を持つ材料を円筒状に成型
して構成されており、その内面には密着して冷却配管１
１がコイル状に配列・固定され、冷媒通路を形成してい
る。
状態の概略構成を示すもので、真空容器９内には、被試
験体１が収納されている。被試験体１としては、角型パ
イプが例示されている。この角型パイプは長尺であり、
巻付けボビン１０の外周にコイル状に密巻きされてい
る。巻付けボビン１０は、アルミニウム等のように適度
の機械的強度と高い熱伝導性を持つ材料を円筒状に成型
して構成されており、その内面には密着して冷却配管１
１がコイル状に配列・固定され、冷媒通路を形成してい
る。
【００２０】コイル状の被試験体１の外周には、冷却板
１２が配置されている。この冷却板１２にも、その外面
に密着して冷却配管１３がコイル状に配列・固定され、
冷媒通路を形成している。冷却配管１１と１３の内端間
は連結管１６を介して連結されている。
１２が配置されている。この冷却板１２にも、その外面
に密着して冷却配管１３がコイル状に配列・固定され、
冷媒通路を形成している。冷却配管１１と１３の内端間
は連結管１６を介して連結されている。
【００２１】なお、コイル状の被試験体１と巻付けボビ
ン１０の間、および被試験体１と冷却板１２の間には、
それらの密着性と熱伝導性を向上させるため、アルミホ
イル等の間挿材１４が挿入されており、また冷却板１２
と真空容器９の間には、輻射による熱伝導を遮蔽するた
め断熱材１５が設けられている。
ン１０の間、および被試験体１と冷却板１２の間には、
それらの密着性と熱伝導性を向上させるため、アルミホ
イル等の間挿材１４が挿入されており、また冷却板１２
と真空容器９の間には、輻射による熱伝導を遮蔽するた
め断熱材１５が設けられている。
【００２２】真空容器９には、仕切弁２０を介して真空
排気装置７と漏洩検査装置８が接続されている。被試験
体１の一端には圧力計２３とガス置換用真空ポンプ２４
が接続され、他端にはへリウムガス供給装置６が接続さ
れている。また、冷却配管１１の外端には液体窒素供給
器４と加温装置２７が接続され、冷却配管１３の外端は
気液分離器２８を介して解放されるか、回収用の液体窒
素容器（図示せず）に接続されている。
排気装置７と漏洩検査装置８が接続されている。被試験
体１の一端には圧力計２３とガス置換用真空ポンプ２４
が接続され、他端にはへリウムガス供給装置６が接続さ
れている。また、冷却配管１１の外端には液体窒素供給
器４と加温装置２７が接続され、冷却配管１３の外端は
気液分離器２８を介して解放されるか、回収用の液体窒
素容器（図示せず）に接続されている。
【００２３】上述のように構成した低温漏洩試験装置に
おいて、真空容器９は、巻付けボビン１０にコイル状に
巻回され外面に冷却板１２を取付けられた被試験体１を
挿入された後、蓋を閉じられ、内部を真空排気装置７で
真空排気される。液体窒素供給器４から液体窒素を冷却
配管１１，１３に流して、被試験体１を冷却する。被試
験体１が十分に冷却された後、予めガス置換用真空ポン
プ２４により真空排気された被試験体１内に、へリウム
ガス供給装置６よりトレーサガスとしてへリウムガスを
送入・加圧する。被試験体１が健全であれば、へリウム
ガスは被試験体１内に止どまるが、漏洩点があると、そ
こからへリウムガスが真空容器９内へ漏れ出て来るの
で、真空容器９内のガスを漏洩検査装置８に導いてへリ
ウムガスの有無を検査する。このようにして低温での試
験が終了した後は、液体窒素供給器４からの液体窒素を
加温装置２７で高温に加温して冷却配管１１、１３に流
すことにより被試験体１を短時間に常温に戻すことがで
きる。
おいて、真空容器９は、巻付けボビン１０にコイル状に
巻回され外面に冷却板１２を取付けられた被試験体１を
挿入された後、蓋を閉じられ、内部を真空排気装置７で
真空排気される。液体窒素供給器４から液体窒素を冷却
配管１１，１３に流して、被試験体１を冷却する。被試
験体１が十分に冷却された後、予めガス置換用真空ポン
プ２４により真空排気された被試験体１内に、へリウム
ガス供給装置６よりトレーサガスとしてへリウムガスを
送入・加圧する。被試験体１が健全であれば、へリウム
ガスは被試験体１内に止どまるが、漏洩点があると、そ
こからへリウムガスが真空容器９内へ漏れ出て来るの
で、真空容器９内のガスを漏洩検査装置８に導いてへリ
ウムガスの有無を検査する。このようにして低温での試
験が終了した後は、液体窒素供給器４からの液体窒素を
加温装置２７で高温に加温して冷却配管１１、１３に流
すことにより被試験体１を短時間に常温に戻すことがで
きる。
【００２４】なお、以上の説明においては、巻付けボビ
ン１０と冷却板１２の内面または外面に冷却配管１１、
１３を密着して取付けたものを使用した例につき述べた
が、これらの冷却配管を設ける代わりに、図２に示すよ
うに、巻付けボビン１０ａと冷却板１２ａをそれぞれ中
空体で構成し、そこに直接冷却媒体を流す、いわゆる液
溜方式を採用してもよい。加温装置２７は液体窒素供給
器４からの液体窒素ではなく、他のガスまたは流体を高
温に加温して冷却配管１１、１３に供給するものでもよ
い。また、図３に示すように、冷却板１２に仕切用のフ
ィン３０を設け、各々のエリアに導圧管３１を接続し、
これらの導圧管にパルブ３２を介して漏洩検査装置８を
接続するようにしてもよい。このようにすれば、バルブ
３２の開閉操作によりへリウムの検出量と応答時間から
漏洩が発生した際のエリアに基づいて、被試験体１にお
ける漏洩発生区間を局限して識別することができる。
ン１０と冷却板１２の内面または外面に冷却配管１１、
１３を密着して取付けたものを使用した例につき述べた
が、これらの冷却配管を設ける代わりに、図２に示すよ
うに、巻付けボビン１０ａと冷却板１２ａをそれぞれ中
空体で構成し、そこに直接冷却媒体を流す、いわゆる液
溜方式を採用してもよい。加温装置２７は液体窒素供給
器４からの液体窒素ではなく、他のガスまたは流体を高
温に加温して冷却配管１１、１３に供給するものでもよ
い。また、図３に示すように、冷却板１２に仕切用のフ
ィン３０を設け、各々のエリアに導圧管３１を接続し、
これらの導圧管にパルブ３２を介して漏洩検査装置８を
接続するようにしてもよい。このようにすれば、バルブ
３２の開閉操作によりへリウムの検出量と応答時間から
漏洩が発生した際のエリアに基づいて、被試験体１にお
ける漏洩発生区間を局限して識別することができる。
【００２５】以上説明したように、本発明の装置および
方法においては、冷却時に大気中の水分が結露したり被
試験体が霜で覆われることがなく、このため漏洩箇所が
結露や霜で覆われて塞がれ、漏洩部の見逃しを生じる心
配はなく、また昇温時にも水滴が付着することがないの
で、被試験体が錆びたりして悪影響を受けることがな
い。被試験体内部を加圧するため実際の使用状態と同等
の条件下で漏洩試験を行うことができる。低温での漏洩
試験を含め外覆法に相当するため漏洩検出感度が良く、
試験対象部を１００％のヘリウムガスにすることができ
るため高感度の漏洩検出が可能である。被試験体が長尺
の場合でも真空排気に多大の時間を要するようなことは
なく、また、液体窒素を容器内に溜める必要がないため
余分な液体窒素を使用する必要がないなどの効果が得ら
れる。
方法においては、冷却時に大気中の水分が結露したり被
試験体が霜で覆われることがなく、このため漏洩箇所が
結露や霜で覆われて塞がれ、漏洩部の見逃しを生じる心
配はなく、また昇温時にも水滴が付着することがないの
で、被試験体が錆びたりして悪影響を受けることがな
い。被試験体内部を加圧するため実際の使用状態と同等
の条件下で漏洩試験を行うことができる。低温での漏洩
試験を含め外覆法に相当するため漏洩検出感度が良く、
試験対象部を１００％のヘリウムガスにすることができ
るため高感度の漏洩検出が可能である。被試験体が長尺
の場合でも真空排気に多大の時間を要するようなことは
なく、また、液体窒素を容器内に溜める必要がないため
余分な液体窒素を使用する必要がないなどの効果が得ら
れる。
【００２６】
【発明の効果】上述のように、本発明によれば、中空の
被試験体の低温での漏洩試験を、短時間に、正確に、し
かも液体窒素やへリウムガスなどを無駄にすることなく
効率的に実施することができる。
被試験体の低温での漏洩試験を、短時間に、正確に、し
かも液体窒素やへリウムガスなどを無駄にすることなく
効率的に実施することができる。
【図１】本発明の低温漏洩試験装置の使用状態を例示す
る概略構成図。
る概略構成図。
【図２】本発明装置における巻付けボビンおよび冷却板
の変形例を示す縦断面図。
の変形例を示す縦断面図。
【図３】本発明装置において冷却板に仕切用のフィンを
設けた例を示す縦断面図。
設けた例を示す縦断面図。
【図４】従来の低温漏洩試験装置の使用状態を説明する
概略構成図。
概略構成図。
１……被試験体、３……液体窒素容器、４……液体窒素
供給器、６……へリウムガス供給装置、７……真空排気
装置、８……漏洩検査装置、１０……巻付けボビン、１
１，１３……冷却配管、１２……冷却板、１４……間挿
材、１５……断熱材、２３……圧力計、２４……ガス置
換用真空ポンプ、２７……加温装置、２８……気液分離
器。
供給器、６……へリウムガス供給装置、７……真空排気
装置、８……漏洩検査装置、１０……巻付けボビン、１
１，１３……冷却配管、１２……冷却板、１４……間挿
材、１５……断熱材、２３……圧力計、２４……ガス置
換用真空ポンプ、２７……加温装置、２８……気液分離
器。
Claims (9)
- 【請求項１】 低温で使用される中空体を被試験体とし
て低温漏洩試験を実施する方法において、被試験体を真
空容器内に収納し、この被試験体を、それに冷媒を直接
触れさせることなく冷却し、被試験体内にトレーサガス
を封入・加圧し、その漏洩の有無に基づいて漏洩試験を
行うことを特徴とする低温漏洩試験方法。 - 【請求項２】 長尺の被試験体を巻付けボビンに巻いて
真空容器内に収納し、前記巻付けボビンの冷媒通路に冷
媒を流して前記被試験体を冷却することを特徴とする請
求項１に記載の低温漏洩試験方法。 - 【請求項３】 長尺の被試験体を巻付けボビンに巻いて
真空容器内に収納し、前記被試験体の外側に配置した冷
却板の冷媒通路に冷媒を流して前記被試験体を冷却する
ことを特徴とする請求項１または２に記載の低温漏洩試
験方法。 - 【請求項４】 低温試験後に冷却通路に加温ガスを流
し、被試験体を短時間で室温に戻すことを特徴とする請
求項１ないし３のいずれか一項に記載の低温漏洩試験方
法。 - 【請求項５】 被試験体を加圧状態で冷却し、その冷却
途上の漏洩の有無を常時監視することを特徴とする請求
項１ないし４のいずれか一項に記載の低温漏洩試験方
法。 - 【請求項６】 中空の被試験体を収納する真空容器と、
前記被試験体内を真空引きするガス置換用真空ポンプ
と、被試験体冷却用の冷媒を被試験体に直接触れさせる
ことなく通過させる冷媒通路と、前記被試験体内にトレ
ーサガスを封入・加圧するトレーサガス供給装置と、前
記真空容器内に漏洩したトレーサガスを検出する漏洩検
査装置とを備えることを特徴とする低温漏洩試験装置。 - 【請求項７】 冷媒通路が、被試験体を巻付けた巻付け
ボビンに形成されていることを特徴とする請求項６に記
載の低温漏洩試験装置。 - 【請求項８】 冷媒通路が、被試験体の外側に配置した
冷却板に形成されていることを特徴とする請求項６また
は７に記載の低温漏洩試験装置。 - 【請求項９】 冷却板と巻付けボビンの間に仕切用フィ
ンを設けて被試験体を複数のエリアに区画し、各エリア
と漏洩検査装置の間を導圧管で連結し、被試験体に漏洩
が発生した場合に漏洩エリアを識別できるように構成し
たことを特徴とする請求項６ないし８のいずれか一項に
記載の低温漏洩試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29670296A JPH10142096A (ja) | 1996-11-08 | 1996-11-08 | 低温漏洩試験方法と装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29670296A JPH10142096A (ja) | 1996-11-08 | 1996-11-08 | 低温漏洩試験方法と装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10142096A true JPH10142096A (ja) | 1998-05-29 |
Family
ID=17836986
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29670296A Withdrawn JPH10142096A (ja) | 1996-11-08 | 1996-11-08 | 低温漏洩試験方法と装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10142096A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103245468A (zh) * | 2013-05-23 | 2013-08-14 | 航天精工有限公司 | 密封罩螺母低温试验装置 |
| CN113196028A (zh) * | 2018-11-27 | 2021-07-30 | 西部制药服务有限公司 | 用于深冷温度下密封容器的封闭完整性测试的系统和方法 |
| CN114216626A (zh) * | 2021-12-02 | 2022-03-22 | 哈尔滨电气动力装备有限公司 | 核电大型屏蔽电机定子检漏试验方法 |
-
1996
- 1996-11-08 JP JP29670296A patent/JPH10142096A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103245468A (zh) * | 2013-05-23 | 2013-08-14 | 航天精工有限公司 | 密封罩螺母低温试验装置 |
| CN113196028A (zh) * | 2018-11-27 | 2021-07-30 | 西部制药服务有限公司 | 用于深冷温度下密封容器的封闭完整性测试的系统和方法 |
| CN114216626A (zh) * | 2021-12-02 | 2022-03-22 | 哈尔滨电气动力装备有限公司 | 核电大型屏蔽电机定子检漏试验方法 |
| CN114216626B (zh) * | 2021-12-02 | 2023-05-23 | 哈尔滨电气动力装备有限公司 | 核电大型屏蔽电机定子检漏试验方法 |
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