JPH10150033A - 層間絶縁膜形成用材料及び層間絶縁膜 - Google Patents
層間絶縁膜形成用材料及び層間絶縁膜Info
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- JPH10150033A JPH10150033A JP8307943A JP30794396A JPH10150033A JP H10150033 A JPH10150033 A JP H10150033A JP 8307943 A JP8307943 A JP 8307943A JP 30794396 A JP30794396 A JP 30794396A JP H10150033 A JPH10150033 A JP H10150033A
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Abstract
ことなく比誘電率を低減する。 【解決手段】 層間絶縁膜形成用材料は、1、4−ビス
(ヒドロキシジメチルシリル)ベンゼンとフェニルトリ
メトキシシランとの共重合体を含む溶液である。1、4
−ビス(ヒドロキシジメチルシリル)ベンゼンとフェニ
ルトリメトキシシランとの共重合体を、テトラヒドロフ
ランと水との混合溶媒中において塩酸存在下で脱水縮合
することにより無機有機ハイブリッドSOG溶液を合成
する。無機有機ハイブリッドSOG溶液を半導体基板上
に回転塗布して無機有機ハイブリッドSOG膜を得た
後、該SOG膜に対してホットプレートによる熱処理を
施して層間絶縁膜を得る。
Description
縁膜形成用材料及び層間絶縁膜に関するものである。
ロセスに耐えるガラス転移点温度と配線容量を低減する
低い比誘電率とが求められる。
合には、半導体プロセスにおいて400℃程度の熱処理
を行なうと、層間絶縁膜が軟化して配線構造が流動化す
るため、配線の断線やショートという致命的な故障を引
き起こすことになる。従って、層間絶縁膜を構成する材
料としては、400℃以上のガラス転移点温度を有する
ことが必要である。
の微細化の進展により、金属配線同士の間の寄生容量で
ある配線容量の増加が顕著となっており、これに伴って
配線遅延によるLSIの性能の劣化が重大な問題となっ
ている。配線容量は、同一の配線層に形成された金属配
線同士の間のスペースの大きさと、上下の金属配線層同
士の間に存在する層間絶縁膜の比誘電率とによって決定
されるが、層間絶縁膜の比誘電率の影響が特に大きい。
従って、配線容量の低減のためには、層間絶縁膜の比誘
電率を低減することが重要である。
ラス転移点温度を有する層間絶縁膜としては、[化1]
に示すような酸化シリコンにフッ素が添加されてなるフ
ッ素添加シリコン酸化膜よりなり、600℃以上のガラ
ス転移点温度を有するフッ素添加CVD膜、[化2]に
示すような有機基とシリコンとの結合を有するシロキサ
ンポリマーよりなり、600℃以上のガラス転移点温度
を有する有機SOG膜、及び[化3]に示すようなシロ
キサン変成ポリイミドよりなり、450℃以上のガラス
転移点温度を有する有機高分子膜が提案されている。
膜は、酸化膜を構成するシリコン原子に分極率の小さい
フッ素原子を結合させることによって低誘電率化を図っ
ているが、フッ素の添加量の増加に伴って吸湿性が増す
ので、比誘電率としては3.5程度が限度である。すな
わち、比誘電率が3.5以下となる程度にまでフッ素を
添加すると、層間絶縁膜が大気中の水分を吸収し易くな
って、遊離フッ素が発生したり、比誘電率が上昇したり
するという問題がある。
OG膜は、シロキサン結合(Si−O−Si結合)を有
するのでガラス転移点温度が高いと共に、シロキサン結
合の一部がシリコンと有機分子との結合に置換されてい
るので無機SOGと比べると比誘電率は低いが、比誘電
率としては2.8程度が限度である。
る有機高分子は、ポリイミドとシロキサンとの共重合体
であって、直鎖状のポリイミド分子鎖同士がシロキサン
結合によって架橋されているため、一般的にガラス転移
点温度が低い有機高分子の中では450℃程度と比較的
高いガラス転移点温度を有している。ところが、ポリイ
ミドは分極率の大きい複素環化合物の高分子であるた
め、比誘電率は3.2程度である。
ス転移点温度を低下させることなく比誘電率を低減する
ことを目的とする。
め、本件の第1の発明は、ガラス転移点温度の高い有機
SOGにおけるシロキサン骨格の一部を炭素−炭素結合
を有する有機部で置き換えると、ガラス転移点温度の低
下を招くことなく比誘電率が低減することを見い出し、
該知見に基づいてなされたものであって、シロキサン結
合に炭素−炭素結合を持つ有機部が3次元的に重合され
てなる無機有機ハイブリッドSOGを層間絶縁膜形成用
材料として提供するものである。
機ハイブリッドSOGを該無機有機ハイブリッドSOG
における残留シラノール基をシリル化し、シリル化シラ
ノール基のシリル基を熱分解させることにより、無機有
機ハイブリッドSOGの多孔質体を得るものである。
変成ポリイミドの残留シラノールの一部をシリル化剤に
よりシリル化し、シリル化シロキサン変成ポリイミドを
熱処理してシリル基を熱分解することにより、シロキサ
ン変成ポリイミドの多孔質体を得るものである。
体化するものであって、1、4−ビス(ヒドロキシジメ
チルシリル)ベンゼンとアルコキシシランとの共重合体
を含む溶液よりなる層間絶縁膜形成用材料である。
体化するものであって、1、4−ビス(トリメトキシシ
リルエチル)ベンゼンとアルコキシシランとの共重合体
を含む溶液よりなる層間絶縁膜形成用材料である。
体化するものであって、1、4−ビス(ヒドロキシジメ
チルシリル)ベンゼンと1、4−ビス(トリメトキシシ
リルエチル)ベンゼンとアルコキシシランとの共重合体
を含む溶液よりなる層間絶縁膜材料である。
に、前記アルコキシシランは、フェニルトリアルコキシ
シラン、メチルトリアルコキシシラン、エチルトリアル
コキシシラン、プロピルトリアルコキシシラン、ジメチ
ルジアルコキシシラン、ジエチルジアルコキシシラン、
ジプロピルジアルコキシシラン又はジフェニルジアルコ
キシシランである構成を付加するものである。
体化するものであって、1、4−ビス(ヒドロキシジメ
チルシリル)ベンゼンと1、4−ビス(トリメトキシシ
リルエチル)ベンゼンとの共重合体を含む溶液よりなる
層間絶縁膜形成用材料である。
体化するものであって、1、4−ビス(トリエトキシシ
リルエチル)ベンゼンの重合体を含む溶液よりなる層間
絶縁膜形成用材料である。
成用材料には、炭素−炭素結合を有する有機部が導入さ
れているので、層間絶縁膜の比誘電率が低下すると共
に、シロキサン結合が存在しているのでガラス転移点温
度が高いままである。
体化するものであって、請求項1〜6の構成に、前記溶
液はシリル化剤を含んでいる構成を付加するものであ
る。
ッドSOGにおける残留シラノール基がシリル化剤によ
ってシリル化されてシリル化シラノール基が生成され、
生成されたシリル化シラノール基に対して熱処理を行な
うと、シリル化シラノール基を構成するシリル基が熱分
解するので、無機有機ハイブリッドSOGに孔が形成さ
れて多孔質体が形成される。すなわち、従来の有機SO
Gにおいては残留シラノール基が少ないために多孔質化
が困難であったが、請求項7においては、無機有機ハイ
ブリッドSOGに残留シラノール基が多く存在するた
め、無機有機ハイブリッドSOGのシリル化が可能にな
るので、無機有機ハイブリッドSOGの多孔質体を得る
ことができる。
体化するものであって、シロキサン変成ポリイミドとシ
リル化剤との混合溶液よりなる層間絶縁膜形成用材料で
ある。
リイミドの残留シラノールの一部がシリル化剤によりシ
リル化してシリル化シロキサン変成ポリイミドが得ら
れ、該シリル化シロキサン変成ポリイミドを熱処理して
シリル基を熱分解すると、シロキサン変成ポリイミドに
孔が形成されて、シロキサン変成ポリイミド膜が多孔質
化する。
記シリル化剤は、トリフェニルシラノール、トリフェニ
ルメトキシシラン、ジフェニルシランジオール又はジフ
ェニルジメトキシシランである構成を付加するものであ
る。
具体化するものであって、層間絶縁膜を、1、4−ビス
(ヒドロキシジメチルシリル)ベンゼンとアルコキシシ
ランとの共重合体の縮合体により構成するものである。
具体化するものであって、層間絶縁膜を、1、4−ビス
(トリメトキシシリルエチル)ベンゼンとアルコキシシ
ランとの共重合体の縮合体により構成するものである。
具体化するものであって、層間絶縁膜を、1、4−ビス
(ヒドロキシジメチルシリル)ベンゼンと1、4−ビス
(トリメトキシシリルエチル)ベンゼンとアルコキシシ
ランとの共重合体の縮合体により構成するものである。
構成に、前記アルコキシシランは、フェニルトリアルコ
キシシラン、メチルトリアルコキシシラン、エチルトリ
アルコキシシラン、プロピルトリアルコキシシラン、ジ
メチルジアルコキシシラン、ジエチルジアルコキシシラ
ン、ジプロピルジアルコキシシラン又はジフェニルジア
ルコキシシランである構成を付加するものである。
具体化するものであって、層間絶縁膜を、1、4−ビス
(ヒドロキシジメチルシリル)ベンゼンと1、4−ビス
(トリメトキシシリルエチル)ベンゼンとの共重合体の
縮合体により構成するものである。
具体化するものであって、層間絶縁膜を、1、4−ビス
(トリエトキシシリルエチル)ベンゼンの重合体の縮合
体により構成するものである。
膜に炭素−炭素結合を持つ有機部が導入されているので
該層間絶縁膜の比誘電率が低下すると共に、層間絶縁膜
にシロキサン結合が存在しているので該層間絶縁膜のガ
ラス転移点温度は高い。
具体化するものであって、層間絶縁膜を、1、4−ビス
(ヒドロキシジメチルシリル)ベンゼンとアルコキシシ
ランとの共重合体の縮合体の多孔質膜により構成するも
のである。
具体化するものであって、層間絶縁膜を、1、4−ビス
(トリメトキシシリルエチル)ベンゼンとアルコキシシ
ランとの共重合体の縮合体の多孔質膜により構成するも
のである。
具体化するものであって、層間絶縁膜を、1、4−ビス
(ヒドロキシジメチルシリル)ベンゼンと1、4−ビス
(トリメトキシシリルエチル)ベンゼンとアルコキシシ
ランとの共重合体の縮合体の多孔質膜により構成するも
のである。
構成に、前記アルコキシシランは、フェニルトリアルコ
キシシラン、メチルトリアルコキシシラン、エチルトリ
アルコキシシラン、プロピルトリアルコキシシラン、ジ
メチルジアルコキシシラン、ジエチルジアルコキシシラ
ン、ジプロピルジアルコキシシラン又はジフェニルジア
ルコキシシランである構成を付加するものである。
具体化するものであって、層間絶縁膜を、1、4−ビス
(ヒドロキシジメチルシリル)ベンゼンと1、4−ビス
(トリメトキシシリルエチル)ベンゼンとの共重合体の
縮合体の多孔質膜により構成するものである。
具体化するものであって、層間絶縁膜を、1、4−ビス
(トリエトキシシリルエチル)ベンゼンの重合体の縮合
体の多孔質膜により構成するものである。
ハイブリッドSOGにおける残留シラノール基がシリル
化されてなるシリル化シラノール基を構成するシリル基
が熱分解して、無機有機ハイブリッドSOGが多孔質化
している。
具体化するものであって、層間絶縁膜を、シロキサン変
成ポリイミドの多孔質膜により構成するものである。
ポリイミドよりなる有機高分子は、直鎖状のポリイミド
分子鎖同士がシロキサン結合によって架橋されているた
め、比較的高いガラス転移点温度を有していると共に、
残留シラノール基の一部がシリル基に置き換えられてな
るシリル化シラノール基のシリル基が熱分解するため、
シロキサン変成ポリイミドが多孔質化している。
シリル)ベンゼンとアルコキシシランとしてのフェニル
トリメトキシシランとの共重合体を、テトラヒドロフラ
ンと水との混合溶媒中において塩酸存在下で脱水縮合す
ることにより無機有機ハイブリッドSOG溶液を合成す
る。以下、具体的に説明する。
gを5mlのテトラヒドロフランと水との混合溶液
(5:1v/v)中に溶解した後、10規定の塩酸10
μlを添加して10分間攪拌することにより、フェニル
トリメトキシシランを加水分解してして第1の溶液を得
た。
ロキシジメチルシリル)ベンゼン1gをテトラヒドロフ
ラン5mlに溶解して第2の溶液を得た。
拌しながら滴下して混合溶液を得た後、該混合溶液を室
温で1時間攪拌しながら1、4−ビス(ヒドロキシジメ
チルシリル)ベンゼンとフェニルトリメトキシシランと
を反応させて、[化5]に示すような、1、4−ビス
(ヒドロキシジメチルシリル)ベンゼンとフェニルトリ
メトキシシランとの共重合体を含む反応溶液を得た。
溶液から減圧下において水及び塩酸を留去した後、2−
エトキシエチルアセテートを用いて希釈して10〜20
重量%の無機有機ハイブリッドSOG溶液を得た。
リッドSOG溶液を0.2μmフィルターを用いて濾過
した後、濾過した無機有機ハイブリッドSOG溶液をシ
リコン基板上に3000r.p.m.で20秒間回転塗
布して、無機有機ハイブリッドSOG膜を得た。
して160℃の温度下で3分間のホットプレートによる
熱処理を施した後、窒素中において400℃の温度下で
30分間の熱処理を行なって層間絶縁膜を得た。無機有
機ハイブリッドSOG膜の形成は赤外吸収スペクトルに
より確認した。
あり、分光エリプソ測定法により測定した膜厚は320
nmであった。また、CV測定法により測定した容量値
及び分光エリプソ測定法により測定した膜厚から比誘電
率を求めたところ、比誘電率は2.6であった。
トリメトキシシランに代えて、メチルトリアルコキシシ
ラン、エチルトリアルコキシシラン、プロピルトリアル
コキシシラン、ジメチルジアルコキシシラン、ジエチル
ジアルコキシシラン、ジプロピルジアルコキシシラン又
はジフェニルジアルコキシシランを用いることができ
る。
トキシシリルエチル)ベンゼンとアルコキシシランとし
てのフェニルトリメトキシシランとの共重合体を、テト
ラヒドロフランと水との混合溶媒中において塩酸存在下
で脱水縮合することにより無機有機ハイブリッドSOG
溶液を合成する。以下、具体的に説明する。
gを5mlのテトラヒドロフランと水との混合溶液
(5:1v/v)中に溶解した後、10規定の塩酸10
μlを添加して10分間攪拌することにより、フェニル
トリメトキシシランを加水分解してして第1の溶液を得
た。
メトキシシリルエチル)ベンゼン1gを5mlのテトラ
ヒドロフランと水との混合溶液(5:1v/v)中に溶
解した後、10規定の塩酸10μlを添加して10分間
攪拌することにより第2の溶液を得た。
混合して混合溶液を得た後、該混合溶液を室温で1時間
放置して、1、4−ビス(トリメトキシシリルエチル)
ベンゼンとフェニルトリメトキシシランとを反応させ
て、[化7]に示すような、1、4−ビス(トリメトキ
シシリルエチル)ベンゼンとフェニルトリメトキシシラ
ンとの共重合体を含む反応溶液を得た。
溶液から減圧下において水及び塩酸を留去した後、2−
エトキシエチルアセテートを用いて希釈して10〜20
重量%の無機有機ハイブリッドSOG溶液を得た。
リッドSOG溶液を0.2μmフィルターを用いて濾過
した後、濾過した無機有機ハイブリッドSOG溶液をシ
リコン基板上に3000r.p.m.で20秒間回転塗
布して、無機有機ハイブリッドSOG膜を得た。
して160℃の温度下で3分間のホットプレートによる
熱処理を施した後、窒素中において400℃の温度下で
30分間の熱処理を行なって層間絶縁膜を得た。無機有
機ハイブリッドSOG膜の形成は赤外吸収スペクトルに
より確認した。
あり、分光エリプソ測定法により測定した膜厚は330
nmであった。また、CV測定法により測定した容量値
及び分光エリプソ測定法により測定した膜厚から比誘電
率を求めたところ、比誘電率は2.6であった。
トリメトキシシランに代えて、メチルトリアルコキシシ
ラン、エチルトリアルコキシシラン、プロピルトリアル
コキシシラン、ジメチルジアルコキシシラン、ジエチル
ジアルコキシシラン、ジプロピルジアルコキシシラン又
はジフェニルジアルコキシシランを用いることができ
る。
キシジメチルシリル)ベンゼンと1、4−ビス(トリメ
トキシシリルエチル)ベンゼンとの共重合体を、テトラ
ヒドロフランと水との混合溶媒中において塩酸存在下で
脱水縮合することにより無機有機ハイブリッドSOG溶
液を合成する。以下、具体的に説明する。
メトキシシリルエチル)ベンゼン1gをテトラヒドロフ
ランと水との混合溶媒(5:1v/v)に溶解した後、
10規定の塩酸10μlを添加して10分間攪拌するこ
とにより第1の溶液を得た。
ロキシジメチルシリル)ベンゼン1gをテトラヒドロフ
ラ5mlに溶解して第2の溶液を得た。
拌しながら滴下して混合溶液を得た後、該混合溶液を室
温で1時間攪拌しながら1、4−ビス(ヒドロキシジメ
チルシリル)ベンゼンと1、4−ビス(トリメトキシシ
リルエチル)ベンゼンとを反応させて、[化8]に示す
ような、1、4−ビス(ヒドロキシジメチルシリル)ベ
ンゼンと1、4−ビス(トリメトキシシリルエチル)ベ
ンゼンとの共重合体を含む反応溶液を得た。
溶液から減圧下において水及び塩酸を留去した後、2−
エトキシエチルアセテートを用いて希釈して10〜20
重量%の無機有機ハイブリッドSOG溶液を得た。
リッドSOG溶液を0.2μmフィルターを用いて濾過
した後、濾過した無機有機ハイブリッドSOG溶液をシ
リコン基板上に3000r.p.m.で20秒間回転塗
布して、無機有機ハイブリッドSOG膜を得た。
して160℃の温度下で3分間のホットプレートによる
熱処理を施した後、窒素中において400℃の温度下で
30分間の熱処理を行なって層間絶縁膜を得た。無機有
機ハイブリッドSOG膜の形成は赤外吸収スペクトルに
より確認した。
あり、分光エリプソ測定法により測定した膜厚は320
nmであった。また、CV測定法により測定した容量値
及び分光エリプソ測定法により測定した膜厚から比誘電
率を求めたところ、比誘電率は2.6であった。
キシジメチルシリル)ベンゼンと1、4−ビス(トリメ
トキシシリルエチル)ベンゼンとアルコキシシランとし
てのフェニルトリメトキシシランとの共重合体を、テト
ラヒドロフランと水との混合溶媒中において塩酸存在下
で脱水縮合することにより無機有機ハイブリッドSOG
溶液を合成する。
メトキシシリルエチル)ベンゼン1gとフェニルトリメ
トキシシラン500mgとをテトラヒドロフランと水と
の混合溶媒(5:1v/v)に溶解した後、10規定の
塩酸20μlを添加して10分間攪拌することにより第
1の溶液を得た。
ロキシジメチルシリル)ベンゼン1gをテトラヒドロフ
ラ5mlに溶解して第2の溶液を得た。
拌しながら滴下して混合溶液を得た後、該混合溶液を室
温で1時間攪拌しながら1、4−ビス(ヒドロキシジメ
チルシリル)ベンゼンと1、4−ビス(トリメトキシシ
リルエチル)ベンゼンとフェニルトリメトキシシランと
を反応させて、[化9]に示すような、1、4−ビス
(ヒドロキシジメチルシリル)ベンゼンと1、4−ビス
(トリメトキシシリルエチル)ベンゼンとフェニルトリ
メトキシシランとの共重合体を含む反応溶液を得た。
溶液から減圧下において水及び塩酸を留去した後、2−
エトキシエチルアセテートを用いて希釈して10〜20
重量%の無機有機ハイブリッドSOG溶液を得た。
リッドSOG溶液を0.2μmフィルターを用いて濾過
した後、濾過した無機有機ハイブリッドSOG溶液をシ
リコン基板上に3000r.p.m.で20秒間回転塗
布して、無機有機ハイブリッドSOG膜を得た。
して160℃の温度下で3分間のホットプレートによる
熱処理を施した後、窒素中において400℃の温度下で
30分間の熱処理を行なって層間絶縁膜を得た。無機有
機ハイブリッドSOG膜の形成は赤外吸収スペクトルに
より確認した。
法により測定した容量値及び分光エリプソ測定法により
測定された膜厚から求めたところ、比誘電率は2.6で
あった。
トリメトキシシランに代えて、メチルトリアルコキシシ
ラン、エチルトリアルコキシシラン、プロピルトリアル
コキシシラン、ジメチルジアルコキシシラン、ジエチル
ジアルコキシシラン、ジプロピルジアルコキシシラン又
はジフェニルジアルコキシシランを用いることができ
る。
トキシシリルエチル)ベンゼンの共重合体を、テトラヒ
ドロフランと水との混合溶媒中において塩酸存在下で脱
水縮合することにより無機有機ハイブリッドSOG溶液
を合成する。以下、具体的に説明する。
メトキシシリルエチル)ベンゼン1gをテトラヒドロフ
ランと水との混合溶媒(5:1v/v)に溶解した後、
10規定の塩酸10μl塩酸を添加した後、室温で1時
間攪拌しながら1、4−ビス(トリメトキシシリルエチ
ル)ベンゼンを反応させて、[化10]に示すような、
1、4−ビス(トリメトキシシリルエチル)ベンゼンの
重合体を含む反応溶液を得た。
溶液から減圧下において水及び塩酸を留去した後、2―
エトキシエチルアセテートを用いて希釈して10〜20
重量%の無機有機ハイブリッドSOG溶液を得た。
リッドSOG溶液を0.2μmフィルターを用いて濾過
した後、濾過した無機有機ハイブリッドSOG溶液をシ
リコン基板上に3000r.p.m.で20秒間回転塗
布して、無機有機ハイブリッドSOG膜を得た。
して160℃の温度下で3分間のホットプレートによる
熱処理を施した後、窒素中において400℃の温度下で
30分間の熱処理を行なって層間絶縁膜を得た。無機有
機ハイブリッドSOG膜の形成は赤外吸収スペクトルに
より確認した。
法により測定した容量値及び分光エリプソ測定法により
測定された膜厚から求めたところ、比誘電率は2.6で
あった。
において得られた10重量%の各無機有機ハイブリッド
SOG溶液にそれぞれトリフェニルシラノール50mg
を添加して1時間放置して5種類のシラノール添加無機
有機ハイブリッドSOGを得た。[化11]は第1の実
施形態において得られた無機有機ハイブリッドSOGの
シリル化反応を示し、[化12]は第2の実施形態にお
いて得られた無機有機ハイブリッドSOGのシリル化反
応を示し、[化13]は第3の実施形態において得られ
た無機有機ハイブリッドSOGのシリル化反応を示し、
[化14]は第4の実施形態において得られた無機有機
ハイブリッドSOGのシリル化反応を示し、[化15]
は第5の実施形態において得られた無機有機ハイブリッ
ドSOGのシリル化反応を示している。
ラノール添加無機有機ハイブリッドSOG溶液をシリコ
ン基板上に3000r.p.m.で20秒間回転塗布し
て、5種類の無機有機ハイブリッドSOG膜を得た。
G膜に対して、それぞれ160℃の温度下で3分間のホ
ットプレートによる熱処理を施した後、窒素中において
400℃の温度下で30分間の熱処理を行なって多孔質
体よりなる5種類の層間絶縁膜を得た。
熱処理を施すと多孔質体が得られるメカニズムは次の通
りである。すなわち、[化16]に示すようなシリル化
反応により、残留シラノール基(Si−OH)がシリル
化されてシリル化シラノール基とH2 Oとが生成され、
熱処理により、シリル化シラノール基を構成するシリル
基が熱分解して、図1に示すように、無機有機ハイブリ
ッドSOGに孔が形成され、その結果、図2に示すよう
な多孔質体が形成されるのである。
縁膜の屈折率はそれぞれ1.4程度であって、第1〜第
5の実施形態により得られた層間絶縁膜に比べて密度が
低下しており、各層間絶縁膜が多孔質体よりなることが
確認された。また、各層間絶縁膜の比誘電率をCV測定
法により測定した容量値及び分光エリプソ測定法により
測定された膜厚から求めたところ、比誘電率はそれぞれ
1.9であった。
含有するシロキサン変成ポリイミドの溶液5mlにトリ
フェニルシラノール50mgを添加した後、室温で1時
間攪拌しながらシロキサン変成ポリイミドにシリル化反
応をさせて、[化17]に示すようなシリル化シロキサ
ン変成ポリイミドの溶液を得た。
の溶液をシリコン基板上に3000r.p.m.で20
秒間回転塗布してシリル化シロキサン変成ポリイミド膜
を得た。そして、赤外吸収スペクトルの測定によってシ
ロキサン変成ポリイミドのシリル化を確認した。
膜に対して160℃の温度下において3分間のホットプ
レートによる熱処理を施してトリフェニルシリル基を熱
分解することにより、図2に示すようなシロキサン変成
ポリイミドの多孔質体を得た。そして、シリル基の熱分
解は赤外吸収スペクトルの測定により確認した。
体に対して窒素雰囲気中において400℃の温度下で3
0分間の熱処理を行なって層間絶縁膜を得た。
り、分光エリプソ測定法により測定した膜厚は320n
mであった。また、CV測定法により測定した容量値及
び分光エリプソ測定法により測定した膜厚から比誘電率
を求めたところ、比誘電率は1.8であった。
成用材料によると、炭素−炭素結合を有する有機部が導
入されているので、層間絶縁膜の比誘電率が低下すると
共に、シロキサン結合が存在しているのでガラス転移点
温度が高いままである。従って、請求項1〜6の発明に
よると、熱的安定性を維持したまま、比誘電率が低い層
間絶縁膜を実現できる。
料によると、請求項1〜6の層間絶縁膜形成用材料の溶
液がシリル化剤を含んでいるため、無機有機ハイブリッ
ドSOGの残留シラノール基がシリル化剤によってシリ
ル化されてシリル化シラノールが生成され、熱処理によ
り、シリル化シラノールを構成するシリル基が熱分解す
るので、無機有機ハイブリッドSOGに孔が形成されて
多孔質体よりなる層間絶縁膜が形成される。従って、請
求項7の発明によると、熱的安定性を維持したまま、比
誘電率が一層低い層間絶縁膜を実現できる。
成用材料によると、シロキサン変成ポリイミドの残留シ
ラノールの一部がシリル化してシリル化シロキサン変成
ポリイミドが得られ、該シリル化シロキサン変成ポリイ
ミドを熱処理してシリル基を熱分解すると、シロキサン
変成ポリイミドが多孔質化するので、シロキサン変成ポ
リイミドの多孔質体よりなる層間絶縁膜が得られる。従
って、請求項8又は9の発明によると、熱的安定性を維
持したまま、比誘電率が有機高分子よりも層間絶縁膜を
実現できる。
によると、炭素−炭素結合を持つ有機部を有しているた
め比誘電率が比誘電率が低いと共に、シロキサン結合が
存在しているためガラス転移点温度が高い。従って、請
求項10〜15の発明によると、熱的安定性を有し且つ
比誘電率の低い層間絶縁膜が得られるので、LSIの高
速化及び低消費電力化によるLSIの高性能化を実現で
きる。
によると、無機有機ハイブリッドSOGの残留シラノー
ル基がシリル化されてなるシリル化シラノール基を構成
するシリル基が熱分解して、無機有機ハイブリッドSO
Gが多孔質化しているので、比誘電率が一層低くなる。
従って、請求項16〜21の発明によると、LSIの一
層の高速化及び低消費電力化によるLSIの一層の高性
能化を実現することができる。
と、シロキサン変成ポリイミドよりなる有機高分子が比
較的高いガラス転移点温度を有していると共に、残留シ
ラノール基の一部がシリル基に置き換えられてなるシリ
ル化シラノール基のシリル基が熱分解してシロキサン変
成ポリイミドが多孔質化しているので比誘電率が低い。
従って、請求項22の発明によると、LSIの高速化及
び低消費電力化によるLSIの高性能化を実現できる。
イブリッドSOGに孔が形成されて多孔質化するメカニ
ズムを示す模式図である。
体よりなる層間絶縁膜の断面図である。
Claims (22)
- 【請求項1】 1、4−ビス(ヒドロキシジメチルシリ
ル)ベンゼンとアルコキシシランとの共重合体を含む溶
液よりなる層間絶縁膜形成用材料。 - 【請求項2】 1、4−ビス(トリメトキシシリルエチ
ル)ベンゼンとアルコキシシランとの共重合体を含む溶
液よりなる層間絶縁膜形成用材料。 - 【請求項3】 1、4−ビス(ヒドロキシジメチルシリ
ル)ベンゼンと1、4−ビス(トリメトキシシリルエチ
ル)ベンゼンとアルコキシシランとの共重合体を含む溶
液よりなる層間絶縁膜材料。 - 【請求項4】 前記アルコキシシランは、フェニルトリ
アルコキシシラン、メチルトリアルコキシシラン、エチ
ルトリアルコキシシラン、プロピルトリアルコキシシラ
ン、ジメチルジアルコキシシラン、ジエチルジアルコキ
シシラン、ジプロピルジアルコキシシラン又はジフェニ
ルジアルコキシシランであることを特徴とする請求項1
〜3のいずれか1項に記載の層間絶縁膜形成用材料。 - 【請求項5】 1、4−ビス(ヒドロキシジメチルシリ
ル)ベンゼンと1、4−ビス(トリメトキシシリルエチ
ル)ベンゼンとの共重合体を含む溶液よりなる層間絶縁
膜形成用材料。 - 【請求項6】 1、4−ビス(トリエトキシシリルエチ
ル)ベンゼンの重合体を含む溶液よりなる層間絶縁膜形
成用材料。 - 【請求項7】 前記溶液はシリル化剤を含んでいること
を特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の層間
絶縁膜形成用材料。 - 【請求項8】 シロキサン変成ポリイミドとシリル化剤
との混合溶液よりなる層間絶縁膜形成用材料。 - 【請求項9】 前記シリル化剤は、トリフェニルシラノ
ール、トリフェニルメトキシシラン、ジフェニルシラン
ジオール又はジフェニルジメトキシシランであることを
特徴とする請求項8に記載の層間絶縁膜形成用材料。 - 【請求項10】 1、4−ビス(ヒドロキシジメチルシ
リル)ベンゼンとアルコキシシランとの共重合体の縮合
体よりなることを特徴とする層間絶縁膜。 - 【請求項11】 1、4−ビス(トリメトキシシリルエ
チル)ベンゼンとアルコキシシランとの共重合体の縮合
体よりなることを特徴とする層間絶縁膜。 - 【請求項12】 1、4−ビス(ヒドロキシジメチルシ
リル)ベンゼンと1、4−ビス(トリメトキシシリルエ
チル)ベンゼンとアルコキシシランとの共重合体の縮合
体よりなることを特徴とする層間絶縁膜。 - 【請求項13】 前記アルコキシシランは、フェニルト
リアルコキシシラン、メチルトリアルコキシシラン、エ
チルトリアルコキシシラン、プロピルトリアルコキシシ
ラン、ジメチルジアルコキシシラン、ジエチルジアルコ
キシシラン、ジプロピルジアルコキシシラン又はジフェ
ニルジアルコキシシランであることを特徴とする請求項
10〜12のいずれか1項に記載の層間絶縁膜。 - 【請求項14】 1、4−ビス(ヒドロキシジメチルシ
リル)ベンゼンと1、4−ビス(トリメトキシシリルエ
チル)ベンゼンとの共重合体の縮合体よりなることを特
徴とする層間絶縁膜。 - 【請求項15】 1、4−ビス(トリエトキシシリルエ
チル)ベンゼンの重合体の縮合体よりなることを特徴と
する層間絶縁膜。 - 【請求項16】 1、4−ビス(ヒドロキシジメチルシ
リル)ベンゼンとアルコキシシランとの共重合体の縮合
体の多孔質膜よりなることを特徴とする層間絶縁膜。 - 【請求項17】 1、4−ビス(トリメトキシシリルエ
チル)ベンゼンとアルコキシシランとの共重合体の縮合
体の多孔質膜よりなることを特徴とする層間絶縁膜。 - 【請求項18】 1、4−ビス(ヒドロキシジメチルシ
リル)ベンゼンと1、4−ビス(トリメトキシシリルエ
チル)ベンゼンとアルコキシシランとの共重合体の縮合
体の多孔質膜よりなることを特徴とする層間絶縁膜。 - 【請求項19】 前記アルコキシシランは、フェニルト
リアルコキシシラン、メチルトリアルコキシシラン、エ
チルトリアルコキシシラン、プロピルトリアルコキシシ
ラン、ジメチルジアルコキシシラン、ジエチルジアルコ
キシシラン、ジプロピルジアルコキシシラン又はジフェ
ニルジアルコキシシランであることを特徴とする請求項
16〜18のいずれか1項に記載の層間絶縁膜。 - 【請求項20】 1、4−ビス(ヒドロキシジメチルシ
リル)ベンゼンと1、4−ビス(トリメトキシシリルエ
チル)ベンゼンとの共重合体の縮合体の多孔質膜よりな
ることを特徴とする層間絶縁膜。 - 【請求項21】 1、4−ビス(トリエトキシシリルエ
チル)ベンゼンの重合体の縮合体の多孔質膜よりなるこ
とを特徴とする層間絶縁膜。 - 【請求項22】 シロキサン変成ポリイミドの多孔質膜
よりなることを特徴とする層間絶縁膜。
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