JPH10161799A - 座標入力装置と筆記軌跡の処理方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 外部接続機器に過度の負担を掛けることなく
筆記軌跡の筆記速度が遅い場合であっても筆記軌跡を忠
実に再現することを可能とした。 【解決手段】 筆記軌跡の最初の座標値を検出し（Ｓ
１）、該座標値が特徴点と判定されるとオーバーサンプ
リンング周期でもって新たな座標値を検出し（Ｓ４）、
Ｓ５の判断が肯定のときはベクトル情報を生成した後ス
カラー量補正を行ない（Ｓ６）、特徴点と接線ベクトル
とを出力する。一方、Ｓ５でベクトル情報の生成が不可
能なときはその座標値を記憶した後Ｓ１に戻って再び座
標値を検出し連続して検出された座標値からベクトル情
報を生成し（Ｓ１１）、所定のスカラー量補正を行なっ
てベクトル情報を生成し（Ｓ１２）、次いで補正演算処
理を行なって擬似接線ベクトルを取得し（ステップＳ
６）、かかる擬似接線ベクトルを特徴点と共に出力した
後（Ｓ８）Ｓ１３を経てＳ３に戻る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は座標入力装置と筆記
軌跡の処理方法に関し、より詳しくは、入力された筆記
軌跡を外部接続機器で再現するための処理を行なう座標
入力装置と該座標入力装置における筆記軌跡の処理方法
に関する。

【０００２】

【従来の技術】図７に示すような曲線形状の筆記軌跡を
ホストコンピュータ上で再現する手法としては、従来よ
り、座標入力装置に筆記軌跡を入力して該筆記軌跡の特
徴点を検出すると共に該特徴点における接線ベクトル情
報を生成して前記座標入力装置に接続された外部接続機
器としてのホストコンピュータに出力し、該ホストコン
ピュータ上で前記筆記軌跡を再現する方法が知られてい
る。

【０００３】図８は、曲線の再現に対して重要な要素に
なると推測される筆記軌跡の特徴点の検出方法の従来例
を示す説明図であって、例えば１０msec程度の一定のサ
ンプリング周期Ｔ１でもって筆記軌跡上の点ａ、点ｂ、
点ｃ…を順次座標値として抽出し、点ａ及び点ｂにおけ
る座標軸上の成す角度θの変化量が所定角度以上のとき
に当該点を特徴点ａ、特徴点ｂ、特徴点ｃ…として検出
している。

【０００４】また、一定のサンプリング周期Ｔ１で抽出
される点が座標軸上で略直線的となる場合は、これら抽
出された各点については曲線軌跡を再現するに際して重
要でないと判断して特徴点とは判定されないが、この場
合は特徴点として採用されなかった座標値の個数等によ
り特徴点を適宜選択している。

【０００５】一方、接線ベクトル情報は、次のようにし
て生成される。

【０００６】すなわち、図９に示すように、前記特徴点
ａ、特徴点ｂ、特徴点ｃ…の直後一定時間後、つまり上
記サンプリング周期Ｔ１よりも短い２msec程度のオーバ
ーサンプリング周期Ｔ２において点ｄ、点ｅ、点ｆ…を
順次検出し、前記前記特徴点ａ、特徴点ｂ、特徴点ｃ…
の座標値と、オーバーサンプリング周期Ｔ２により得ら
れた点ｄ、点ｅ、点ｆ…の座標値とに基づくベクトル情
報から、矢印ｇ、矢印ｈ、矢印ｉ…のように擬似的な接
線ベクトル情報を生成している。

【０００７】そして、上記特徴点と接線ベクトル情報を
座標入力装置からホストコンピュータに出力することに
より、ホストコンピュータ上で曲線形状の筆記軌跡を再
現している。

【０００８】すなわち、ホストコンピュータは、受信し
た特徴点情報と接線ベクトル情報とを３次スプラインを
使用した曲線演算式に直接代入することにより、少ない
情報量でもって高速でしかも忠実な軌跡情報の再現を行
なうことができる。また、かかる方法により再現された
曲線軌跡情報は、３次スプラインを利用しているため、
同一表示画素上で拡大処理を行なう際にも滑らかな曲線
軌跡を再現することができるという利点もある。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の座標入力装置を使用した筆記軌跡の処理方法におい
ては、前記オーバーサンプリング周期Ｔ２によるオーバ
ーサンプリングは、座標検出時の演算所要時間との関係
から、上述したようにサンプリング周期Ｔ１によるサン
プリングの後、約２msec経過後に行なわれる一方、座標
検出の分解能は通常細かい検出が可能なものでも０．０
１〜０．０２mm程度であることが多い。したがって、上
記従来の技術においては、座標入力装置に入力される筆
記軌跡の筆記速度が５mm／sec 以下となった場合は、２
msec間隔での入力点移動距離が０．０１mm以下となるた
め、オーバーサンプリングによる座標値の検出を行なう
ことができず、その結果出力情報としてはオーバーサン
プリングによる座標値と特徴点として検出した座標値と
が同一座標値となってしまい、接線ベクトル情報を得る
ことができなくなるという欠点があった。

【００１０】つまり、この場合、ホストコンピュータに
おいて３次スプラインを利用した曲線演算を行なおうと
しても接線ベクトル情報が欠如しているため、実際には
座標入力装置からの出力情報に対する曲線化作業は行な
われず、特徴点間を単に接続した直線補間しか得ること
ができなかった。このため、ホストコンピュータ上で筆
記軌跡を拡大表示する場合は勿論のこと、通常倍率の表
示においても所期の軌跡情報を得ることができないとい
う欠点があった。

【００１１】かかる欠点を改善する方法としては、座標
入力装置から接線ベクトル情報を得ることができない場
合には、ホストコンピュータ上で連続する複数の特徴点
の座標値に基づいて接線ベクトルを演算し、３次スプラ
インの曲線演算式に代入することにより、滑らかな曲線
補間を行なうことも現実には行なわれている。

【００１２】しかしながら、この方法では、座標入力装
置から接線ベクトル情報が得られる場合と得られない場
合とでホストコンピュータが異なる処理を行なう必要が
あり、しかも演算により接線ベクトル情報を得る場合は
ホストコンピュータに多大の負荷が掛かるという問題点
があった。

【００１３】さらに、この場合、演算により求めた接線
ベクトルは、オーバーサンプリングにより求めた擬似的
な接線ベクトル情報に比べて誤差が大きく、筆記軌跡の
忠実な再現を行なうのは困難であるという問題点があっ
た。

【００１４】本発明はこのような問題点に鑑みなされた
ものであって、ホストコンピュータ等の外部接続機器に
過度の負担を掛けることなく筆記軌跡の筆記速度が遅い
場合であっても筆記軌跡を忠実に再現することを可能と
した座標入力装置と筆記軌跡の処理方法を提供すること
を目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項１記載の発明は、第１のサンプリング周期毎に
第１の座標値を検出する第１の座標値検出手段と、該第
１の座標値検出手段により検出された第１の座標値が筆
記軌跡の特徴点か否かを判定する特徴点判定手段と、該
特徴点判定手段により前記第１の座標値が特徴点と判定
されたときは前記特徴点検出直後に前記第１のサンプリ
ング周期よりも短い第２のサンプリング周期でもって第
２の座標値を検出する第２の座標値検出手段と、前記特
徴点と前記第２の座標値とに基づいて第１のベクトル情
報を生成する第１のベクトル情報生成手段と、該第１の
ベクトル情報と前記特徴点とを出力する出力手段とを備
えた座標入力装置において、前記第２の座標値検出手段
により第２の座標値の検出が可能か否かを判定する検出
判定手段と、前記第１の座標値検出手段により連続して
検出される２個の第１の座標値に基づいて第２のベクト
ル情報を生成する第２のベクトル情報生成手段と、該第
２のベクトル情報生成手段により生成された第２のベク
トル情報のスカラー量を前記第１のサンプリング周期に
対する前記第２のサンプリング周期に対応させて縮小演
算する演算手段と、該演算手段の演算結果に基づいて第
３のベクトル情報を生成する第３のベクトル情報生成手
段とを備え、前記出力手段が、前記検出判定手段により
第２の座標値検出が不可能と判定されたときは前記特徴
点と前記第３のベクトル情報とを出力することを特徴と
している。

【００１６】さらに、請求項４記載の発明は、第１のサ
ンプリング周期毎に第１の座標値を検出する第１の座標
値検出手段と、該第１の座標値検出手段により検出され
た第１の座標値が筆記軌跡の特徴点か否かを判定する特
徴点判定手段と、該特徴点判定手段により前記第１の座
標値が特徴点と判定されたときは前記特徴点検出直後に
前記第１のサンプリング周期よりも短い第２のサンプリ
ング周期でもって第２の座標値を検出する第２の座標値
検出手段と、前記特徴点と前記第２の座標値とに基づい
て第１のベクトル情報を生成する第１のベクトル情報生
成手段と、該第１のベクトル情報と前記特徴点とを出力
する出力手段とを備えた座標入力装置において、前記第
２の座標値検出手段により第２の座標値の検出が可能か
否かを判定する検出判定手段と、前記第１の座標値検出
手段により連続して検出される複数個の座標値に基づい
て曲線補間処理を行なう曲線補間手段と、前記特徴点と
前記特徴点直後に検出される前記第１の座標値の間であ
って且つ前記曲線補間手段により得られた補間曲線上を
仮想的にサンプリングして第３の座標値を検出する第３
の座標値検出手段と、前記特徴点と前記第３の座標値と
に基づいて第２のベクトル情報を生成する第２のベクト
ル情報生成手段とを備え、前記出力手段が、前記検出判
定手段により第２の座標値検出が不可能と判定されたと
きは前記特徴点と前記第２のベクトル情報とを出力する
ことを特徴としている。

【００１７】また、請求項７記載の発明は、第１のサン
プリング周期毎に第１の座標値を検出する第１の座標値
検出ステップと、該第１の座標値が筆記軌跡の特徴点か
否かを判定する特徴点判定ステップと、前記第１の座標
値が特徴点と判定されたときは前記特徴点検出直後に前
記第１のサンプリング周期よりも短い第２のサンプリン
グ周期でもって第２の座標値を検出する第２の座標値検
出ステップと、前記特徴点と前記第２の座標値とに基づ
いて第１のベクトル情報を生成する第１のベクトル情報
生成ステップと、該第１のベクトル情報と前記特徴点と
を出力する出力ステップとを含む筆記軌跡の処理方法に
おいて、前記第２の座標値検出ステップにより第２の座
標値の検出が可能か否かを判定する検出判定ステップ
と、前記第１の座標値検出ステップにより連続して検出
される２個の第１の座標値に基づいて第２のベクトル情
報を生成する第２のベクトル情報生成ステップと、該第
２のベクトル情報生成ステップにより生成された第２の
ベクトル情報のスカラー量を前記第１のサンプリング周
期に対する前記第２のサンプリング周期に対応させて縮
小演算する演算ステップと、該演算ステップの演算結果
に基づいて第３のベクトル情報を生成する第３のベクト
ル情報生成ステップとを含み、前記出力ステップが、前
記検出判定ステップにより第２の座標値検出が不可能と
判定されたときは前記特徴点と前記第３のベクトル情報
とを出力することを特徴としている。

【００１８】さらに、請求項１０記載の発明は、第１の
サンプリング周期毎に第１の座標値を検出する第１の座
標値検出ステップと、該第１の座標値が筆記軌跡の特徴
点か否かを判定する特徴点判定ステップと、該第１の座
標値が特徴点と判定されたときは前記特徴点検出直後に
前記第１のサンプリング周期よりも短い第２のサンプリ
ング周期でもって第２の座標値を検出する第２の座標値
検出ステップと、前記特徴点と前記第２の座標値とに基
づいて第１のベクトル情報を生成する第１のベクトル情
報生成ステップと、該第１のベクトル情報と前記特徴点
とを出力する出力ステップとを含む筆記軌跡の処理方法
において、前記第２の座標値検出ステップにより第２の
座標値の検出が可能か否かを判定する検出判定ステップ
と、前記第１の座標値検出ステップにより連続して検出
される複数個の座標値に基づいて曲線補間処理を行なう
曲線補間ステップと、前記特徴点と前記特徴点直後に検
出される前記第１の座標値の間であって且つ前記曲線補
間ステップにより得られた補間曲線上を仮想的にサンプ
リングして第３の座標値を検出する第３の座標値検出ス
テップと、前記特徴点と前記第３の座標値とに基づいて
第２のベクトル情報を生成する第２のベクトル情報生成
ステップとを含み、前記出力ステップが、前記検出判定
ステップにより第２の座標値検出が不可能と判定された
ときは前記特徴点と前記第２のベクトル情報とを出力す
ることを特徴としている。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳説する。

【００２０】図１は本発明に係る座標入力装置の一実施
の形態を示すブロック構成図であって、本座標入力装置
１はケーブル２を介して外部接続機器としてのホストコ
ンピュータ３に接続されている。

【００２１】２は周知の座標値検出手段であって、入力
された筆記軌跡について一定のサンプリング周期Ｔ１
（第１のサンプリング周期）毎に連続的に座標値を検出
する。角度演算手段３は、前記サンプリング周期Ｔ１毎
に連続して得られる座標値について座標軸上の成す角度
θを算出し、点数計数手段４は、前記サンプリング周期
Ｔ１毎に連続して得られる座標値の個数を計数する。ま
た、特徴点判定手段５は、角度演算手段３により得られ
た角度θの変化量や点数計数手段４により計数された座
標値の個数に基づいて特徴点か否かを判定する。

【００２２】オーバーサンプリング手段６は、前記サン
プリング周期Ｔ１より短いオーバーサンプリング周期Ｔ
２（第２のサンプリング周期）でもって座標値を検出可
能とするものであり、オーバーサンプリング検出可否判
定手段７は、前記オーバーサンプリング手段６により新
たな座標値が検出可能であったか否かを判定する。

【００２３】第１のベクトル生成手段８は、前記オーバ
ーサンプリング検出可否判定手段７においてオーバーサ
ンプリング手段６による新たな座標値が検出可能と判定
されたときは、特徴点判定手段５で判定された特徴点
と、当該特徴点の直後にオーバーサンプリング手段６に
より検出された座標値とに基づいてベクトル情報を生成
する。

【００２４】座標値間補間手段９は、オーバーサンプリ
ング検出可否判定手段７においてオーバーサンプリング
手段６による新たな座標値が検出不可能と判定されたと
きに前回と今回の夫々の特徴点の座標値間を直線補間す
る。

【００２５】第２のベクトル生成手段１０は、前記座標
値間補間手段９により得られた補間直線に基づいてベク
トル情報を生成し、ベクトル長さ補正手段１１は、前記
第２のベクトル生成手段１０により生成されたベクトル
情報の大きさを補正する。

【００２６】擬似接線ベクトル補正化手段１２は、第１
のベクトル生成手段８で検出されたベクトル情報やベク
トル長さ補正手段１１により得られたベクトル情報を擬
似接線ベクトルとして利用するためにスカラー量の補正
を行なう。

【００２７】さらに、ホストコンピュータ３には曲線補
間処理部１３が内蔵されており、該曲線補間処理部１３
で、座標入力装置１から送られてきた特徴点の座標値と
擬似接線ベクトル情報により曲線の補間処理を行なうこ
とにより、座標入力装置１に入力された筆記軌跡をホス
トコンピュータ上で再現可能としている。

【００２８】図２は本座標入力装置を利用して筆記軌跡
を処理する処理手順を示したフローチャートである。

【００２９】任意の曲線形状の筆記軌跡が座標入力装置
１に入力されると、ステップＳ１では最初の点の座標値
が座標値検出手段２により検出される。続くステップＳ
２では検出不能フラグが「オン」か否かを判定する。筆
記軌跡の入力直後は当該検出不能フラグはリセット（オ
フ）されているので、ステップＳ２の答は否定（Ｎｏ）
となり、ステップＳ３に進んでステップＳ１で検出され
た座標値が特徴点か否かを特徴点判定手段５で判断す
る。ステップＳ３の答が否定（Ｎｏ）のきはステップＳ
１に戻る一方、ステップＳ３の答が肯定（Ｙｅｓ）のと
きはステップＳ４に進み、オーバーサンプリング手段６
による新たな座標値の検出が行なわれる。

【００３０】そして、続くステップＳ５ではステップＳ
１で検出した特徴点となる座標値とステップＳ４で検出
した座標値とに基づいてベクトル情報の生成が可能か否
かをオーバーサンプリング可否判定手段７で判定し、そ
の答が肯定（Ｙｅｓ）のときはステップＳ６に進んで擬
似接線ベクトル補正化手段１２で擬似ベクトル化のため
のスカラー量補正が行なわれ、続くステップＳ７ではス
テップＳ６の演算結果が特徴点及び擬似接線ベクトルと
してホストコンピュータ３に出力される。次いで、ステ
ップＳ８では検出不能フラグがオンか否かを判定し、リ
セット状態である現在はその答が否定（Ｎｏ）となって
ステップＳ１に戻る。

【００３１】以下、ステップＳ５において、オーバーサ
ンプリング可否判定手段７でベクトル情報の生成が可能
であると判断される限り、上述のステップＳ１〜ステッ
プＳ８の処理が繰り返される。

【００３２】一方、ステップＳ５の答が否定（Ｎｏ）に
なったとき、すなわち、座標入力装置１の分解能との関
係でオーバーサンプリング手段６による座標値の検出が
不可能であると判断された場合はステップＳ９に進んで
検出不能フラグを「オン」にし、続くステップＳ１０で
特徴点座標値を不図示の記憶手段に記憶した後、再びス
テップＳ１に戻る。

【００３３】そして、ステップＳ１では、再び座標値検
出手段２による座標値の検出が行なわれ、続くステップ
Ｓ２で検出不能フラグが「オン」か否かを判断する。そ
して、今回はステップＳ９で検出不能フラグが「オン」
された直後であるので、ステップＳ２の答は肯定（Ｙｅ
ｓ）となり、ステップＳ１１で座標値間補間手段９によ
り今回のステップＳ１で検出された特徴点座標値とステ
ップＳ１０で記憶された前回の特徴点座標値とに基づい
てベクトルを作成し、続くステップＳ１２ではステップ
Ｓ１１の補間結果に対してサンプリング周期Ｔ１とオー
バーサンプリング周期Ｔ２との比率でベクトルに変換さ
れた如くスカラー量の補正演算を行い、ステップＳ６に
進む。

【００３４】ステップＳ６では、オーバーサンプリング
を行なったと同様のスカラー量比率となったステップＳ
１２で得られたベクトル情報に対し、擬似接線ベクトル
化のための補正演算処理を行なう。そして、ステップＳ
７では前述したステップＳ１０で記憶された特徴点座標
値とステップＳ６で得られたベクトル情報が出力され
る。尚、この場合、ステップＳ７における出力内容は、
通常の出力では座標入力装置の最小分解能を基準とする
整数値によるものがステップＳ１２の補正演算を行なう
ことにより、擬似接線ベクトルについての出力について
は演算による小数部を含む数値となり、これを切り捨て
ることなくそのまま出力されることとなる。

【００３５】次に、ステップＳ８では再び検出不能フラ
グが「オン」か否かを判断する。そして、今回はステッ
プＳ９で検出不能フラグが「オン」にセットされた状態
を維持しているので、ステップＳ１３に進み検出不能フ
ラグを「オフ」にセットしてステップＳ３に戻る。そし
て、ステップＳ３ではステップＳ１で検出された座標値
を現在の座標値として特徴点であるか否かを判定し、以
後、連続して座標入力装置１に入力が行なわれている間
は、上述した一連の処理が繰り返されることとなる。

【００３６】これにより、座標入力装置１から出力され
た特徴点座標値及び擬似接線ベクトル情報はホストコン
ピュータ３に送られ、ホストコンピュータ３内の曲線補
間処理部１３等を介して座標入力装置１に入力された筆
記軌跡がホストコンピュータ１上に再現される。

【００３７】図３は通常の筆記速度により座標入力装置
１に筆記軌跡が入力された場合の動作を示す説明図であ
る。

【００３８】すなわち、筆記軌跡１４の最初の点Ａを座
標値として検出し（ステップＳ１）、ステップＳ２を経
てステップＳ３で点Ａが特徴点と判定されるとオーバー
サンプリンング周期Ｔ２でもって点Ｂを新たな座標値と
して検出し（ステップＳ４）、ステップＳ５を経てステ
ップＳ６でスカラー量補正を行ない、擬似接線ベクトル
１５を取得し、特徴点となる点Ａの座標値と擬似接線ベ
クトル１５とをホストコンピュータ３に出力し、ステッ
プＳ８→ステップＳ１→ステップＳ２を経て再びサンプ
リング周期Ｔ１で検出された点Ｃを特徴点と判定する。

【００３９】このように、オーバーサンプリング手段６
によるオーバーサンプリングが可能な筆記速度（通常の
筆記速度）で筆記軌跡が入力されるときはステップＳ１
からステップＳ８の各ステップが繰り返し実行されるこ
ととなる。

【００４０】また、図４は通常の筆記速度よりも遅い筆
記速度でもって座標入力装置１に筆記軌跡１６が入力さ
れた場合の動作を示す説明図である。

【００４１】この場合は座標入力装置１の分解能との関
係からオーバーサンプリング手段６を介したベクトル情
報の生成が不可能であるためステップＳ５→ステップＳ
９を経てステップＳ１０で特徴点である点Ｄの座標値を
記憶した後ステップＳ１に戻って再びサンプリング周期
Ｔ１により点Ｅの座標値を検出した後ステップＳ２から
ステップＳ１１に進んで特徴点である点Ｄと前記点Ｅと
からベクトル情報１７を生成し、次いでオーバーサンプ
リングしたときと同様のスカラー量比率となるように前
記ベクトル情報１７にスカラー量補正をしてベクトル情
報１８を生成し、次いで補正演算処理を行なって擬似接
線ベクトル１９を取得し（ステップＳ６）、かかる擬似
接線ベクトル１５をホストコンピュータ３に出力した後
（ステップＳ８）ステップＳ１３を経てステップＳ３に
戻り、オーバーサンプリングが不可能なときは上述の処
理を繰り返す。

【００４２】このように本実施の形態によれば、通常の
筆記速度の場合であっても（図３）、オーバーサンプリ
ング手段６による座標値の検出が不可能な場合であって
も（図４）、特徴点と所望の擬似接線ベクトルを高速で
もって出力することができる。そして、これら特徴点情
報及び擬似接線ベクトル情報を受け取ったホストコンピ
ュータ３側においては、筆記速度の如何に拘わらず、曲
線補間処理により滑らかな曲線軌跡を再現することがで
きる。

【００４３】尚、上記実施の形態ではオーバーサンプリ
ング手段６による座標値検出が不可能な場合、サンプリ
ング周期Ｔ１により次回に検出された点Ｅと特徴点であ
る点Ｄの２点間を直線補間してベクトル情報を生成して
いるが、本発明はこれに限られるものではない。例え
ば、図５に示すように、オーバーサンプリングが不可能
な遅い筆記速度でもって筆記軌跡２０が入力された場合
であって、サンプリング周期Ｔ１で点Ｆ、点Ｇ、点Ｈ、
点Ｉと連続して座標値が検出され且つ点Ｇが特徴点と判
定されたときは、当該点Ｇの座標値の前後に検出された
点Ｆ及び点Ｈ等複数の座標値情報に基づき、３次スプラ
イン曲線やベジェ曲線等の曲線補間処理を行って筆記軌
跡２０に示す曲線を演算により算出し、しかる後、再び
点Ｇと点Ｈとの間の補間曲線上に仮想的なオーバーサン
プリングによる点Ｊの座標値を求め、これによりベクト
ル情報２１を作成することにより、より正確な再現を可
能とする特徴点情報と擬似接線ベクトル情報を座標入力
装置１からホストコンピュータ３に出力することが可能
となる。

【００４４】さらに、本実施の形態では角度演算手段３
や点数計数手段４に基づいて特徴点判定手段５で検出座
標値が特徴点か否かを判定しているが、オーバーサンプ
リングが可能な場合は、図６に示すように、サンプリン
グ周期Ｔ１で検出された点Ｋ、点Ｌの座標値と、オーバ
ーサンプリング周期Ｔ２で検出された点Ｍ、点Ｎの座標
値との間で生成されるベクトル２２、ベクトル２３の成
す角度φの変化量に基づいて特徴点を検出するようにし
てもよい。

【００４５】尚、ステップＳ６で実行される擬似接線ベ
クトル化演算補正演算処理は、ステップＳ１２で実行さ
れる補間直線上のベクトル長さ、スカラー量をサンプリ
ング周期Ｔ１による連続した座標値間距離と、特徴点と
オーバーサンプリングによる座標点に基づくベクトル長
さの比率に修正することにより、以後の処理は従来と同
様の擬似接線ベクトル補正化の利用が可能となる。

【００４６】

【発明の効果】以上詳述したように本発明に係る座標入
力装置と筆記軌跡の処理方法によれば、通常の筆記速度
で入力されたため第２の座標値検出手段により第２の座
標値を検出することができる場合であっても、筆記速度
が遅く分解能の関係で前記第２の座標値検出手段により
第２の座標値を検出することができない場合であって
も、特徴点と所望の擬似接線ベクトルを高速でもって出
力することができる。そして、これら特徴点情報及び擬
似接線ベクトル情報を受け取ったホストコンピュータ側
においては、筆記速度の如何に拘わらず、曲線補間処理
により滑らかな曲線軌跡を再現することができる。すな
わち、前記第２の座標値検出手段により第２の座標値を
検出することができない場合であっても、代替の演算手
段、或いは曲線補間手段及び第３の座標値検出手段によ
り常にベクトル情報を生成して擬似接線ベクトルを出力
することができ、ホストコンピュータ側に特別な手段を
用いることなく、拡大表示処理等各種処理に対しても安
定した曲線補間処理が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る座標入力装置の一実施の形態を示
すブロック構成図である。

【図２】本発明に係る筆記軌跡の処理方法の処理手順を
示すフローチャートである。

【図３】筆記軌跡が通常速度で入力された場合の動作を
説明する説明図である。

【図４】筆記軌跡が通常速度より遅い筆記速度で入力さ
れた場合の動作を説明する説明図である。

【図５】本発明の他の実施の形態を説明するための説明
図である。

【図６】特徴点の検出方法の他の実施の形態を説明する
ための説明図である。

【図７】座標入力装置に入力される筆記軌跡の一例を示
した図である。

【図８】従来からの特徴点の検出方法の一例を説明する
説明図である。

【図９】従来からの接線ベクトルの生成方法の一例を説
明する説明図である。

【符号の説明】

２ 座標値検出手段（第１の座標値検出手段） ３ 角度演算手段 ４ 点数計数手段 ５ 特徴点判定手段 ６ オーバーサンプリング手段（第２の座標値検出手
段） ８ 第１のベクトル生成手段（第１のベクトル情報生
成手段） １０ 第２のベクトル生成手段（第２のベクトル情報生
成手段） １１ ベクトル長さ補正手段（演算手段） １２ 擬似接線ベクトル補正手段（第３のベクトル情報
生成手段）

Claims (11)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 第１のサンプリング周期毎に第１の座標
   値を検出する第１の座標値検出手段と、該第１の座標値
   検出手段により検出された第１の座標値が筆記軌跡の特
   徴点か否かを判定する特徴点判定手段と、該特徴点判定
   手段により前記第１の座標値が特徴点と判定されたとき
   は前記特徴点検出直後に前記第１のサンプリング周期よ
   りも短い第２のサンプリング周期でもって第２の座標値
   を検出する第２の座標値検出手段と、前記特徴点と前記
   第２の座標値とに基づいて第１のベクトル情報を生成す
   る第１のベクトル情報生成手段と、該第１のベクトル情
   報と前記特徴点とを出力する出力手段とを備えた座標入
   力装置において、 前記第２の座標値検出手段により第２の座標値の検出が
   可能か否かを判定する検出判定手段と、前記第１の座標
   値検出手段により連続して検出される２個の第１の座標
   値に基づいて第２のベクトル情報を生成する第２のベク
   トル情報生成手段と、該第２のベクトル情報生成手段に
   より生成された第２のベクトル情報のスカラー量を前記
   第１のサンプリング周期に対する前記第２のサンプリン
   グ周期に対応させて縮小演算する演算手段と、該演算手
   段の演算結果に基づいて第３のベクトル情報を生成する
   第３のベクトル情報生成手段とを備え、 前記出力手段が、前記検出判定手段により第２の座標値
   検出が不可能と判定されたときは前記特徴点と前記第３
   のベクトル情報とを出力することを特徴とする座標入力
   装置。
2. 【請求項２】 前記第２のベクトル情報生成手段は、前
   記２個の第１の座標値間を直線補間する直線補間手段を
   有していることを特徴とする請求項１記載の座標入力装
   置。
3. 【請求項３】 連続して検出される２個の前記第１の座
   標値が座標軸上での互いの成す角度を算出する角度演算
   手段と、連続して検出される複数個の前記第１の座標値
   の個数を計数する点数計数手段とを備え、 前記特徴点判定手段は、少なくとも前記角度演算手段の
   演算結果及び前記点数計数手段の計数結果のいずれか一
   方に基づいて判定されることを特徴とする請求項１又は
   請求項２記載の座標入力装置。
4. 【請求項４】 第１のサンプリング周期毎に第１の座標
   値を検出する第１の座標値検出手段と、該第１の座標値
   検出手段により検出された第１の座標値が筆記軌跡の特
   徴点か否かを判定する特徴点判定手段と、該特徴点判定
   手段により前記第１の座標値が特徴点と判定されたとき
   は前記特徴点検出直後に前記第１のサンプリング周期よ
   りも短い第２のサンプリング周期でもって第２の座標値
   を検出する第２の座標値検出手段と、前記特徴点と前記
   第２の座標値とに基づいて第１のベクトル情報を生成す
   る第１のベクトル情報生成手段と、該第１のベクトル情
   報と前記特徴点とを出力する出力手段とを備えた座標入
   力装置において、 前記第２の座標値検出手段により第２の座標値の検出が
   可能か否かを判定する検出判定手段と、前記第１の座標
   値検出手段により連続して検出される複数個の座標値に
   基づいて曲線補間処理を行なう曲線補間手段と、前記特
   徴点と前記特徴点直後に検出される前記第１の座標値の
   間であって且つ前記曲線補間手段により得られた補間曲
   線上を仮想的にサンプリングして第３の座標値を検出す
   る第３の座標値検出手段と、前記特徴点と前記第３の座
   標値とに基づいて第２のベクトル情報を生成する第２の
   ベクトル情報生成手段とを備え、 前記出力手段が、前記検出判定手段により第２の座標値
   検出が不可能と判定されたときは前記特徴点と前記第２
   のベクトル情報とを出力することを特徴とする座標入力
   装置。
5. 【請求項５】 連続して検出される２個の前記第１の座
   標値が座標軸上での互いの成す角度を算出する角度演算
   手段と、連続して検出される複数個の前記第１の座標値
   の個数を計数する点数計数手段とを備え、 前記特徴点判定手段は、少なくとも前記角度演算手段の
   演算結果及び前記点数計数手段の計数結果のいずれか一
   方に基づいて判定されることを特徴とする請求項４記載
   の座標入力装置。
6. 【請求項６】 ホストコンピュータに接続されているこ
   とを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれかに記載
   の座標入力装置。
7. 【請求項７】 第１のサンプリング周期毎に第１の座標
   値を検出する第１の座標値検出ステップと、該第１の座
   標値が筆記軌跡の特徴点か否かを判定する特徴点判定ス
   テップと、前記第１の座標値が特徴点と判定されたとき
   は前記特徴点検出直後に前記第１のサンプリング周期よ
   りも短い第２のサンプリング周期でもって第２の座標値
   を検出する第２の座標値検出ステップと、前記特徴点と
   前記第２の座標値とに基づいて第１のベクトル情報を生
   成する第１のベクトル情報生成ステップと、該第１のベ
   クトル情報と前記特徴点とを出力する出力ステップとを
   含む筆記軌跡の処理方法において、 前記第２の座標値検出ステップにより第２の座標値の検
   出が可能か否かを判定する検出判定ステップと、前記第
   １の座標値検出ステップにより連続して検出される２個
   の第１の座標値に基づいて第２のベクトル情報を生成す
   る第２のベクトル情報生成ステップと、該第２のベクト
   ル情報生成ステップにより生成された第２のベクトル情
   報のスカラー量を前記第１のサンプリング周期に対する
   前記第２のサンプリング周期に対応させて縮小演算する
   演算ステップと、該演算ステップの演算結果に基づいて
   第３のベクトル情報を生成する第３のベクトル情報生成
   ステップとを含み、 前記出力ステップが、前記検出判定ステップにより第２
   の座標値検出が不可能と判定されたときは前記特徴点と
   前記第３のベクトル情報とを出力することを特徴とする
   筆記軌跡の処理方法。
8. 【請求項８】 前記第２のベクトル情報生成ステップ
   は、前記２個の第１の座標値間を直線補間する直線補間
   ステップを含むことを特徴とする請求項７記載の筆記軌
   跡の処理方法。
9. 【請求項９】 連続して検出される２個の前記第１の座
   標値が座標軸上での互いの成す角度を算出する角度演算
   ステップと、連続して検出される複数個の前記第１の座
   標値の個数を計数する点数計数ステップとを含み、 前記特徴点判定ステップは、少なくとも前記角度演算ス
   テップの演算結果及び前記点数計数ステップの計数結果
   のいずれか一方に基づいて前記特徴点か否かを判定する
   ことを特徴とする請求項７又は請求項８記載の筆記軌跡
   の処理方法。
10. 【請求項１０】 第１のサンプリング周期毎に第１の座
    標値を検出する第１の座標値検出ステップと、該第１の
    座標値が筆記軌跡の特徴点か否かを判定する特徴点判定
    ステップと、該第１の座標値が特徴点と判定されたとき
    は前記特徴点検出直後に前記第１のサンプリング周期よ
    りも短い第２のサンプリング周期でもって第２の座標値
    を検出する第２の座標値検出ステップと、前記特徴点と
    前記第２の座標値とに基づいて第１のベクトル情報を生
    成する第１のベクトル情報生成ステップと、該第１のベ
    クトル情報と前記特徴点とを出力する出力ステップとを
    含む筆記軌跡の処理方法において、 前記第２の座標値検出ステップにより第２の座標値の検
    出が可能か否かを判定する検出判定ステップと、前記第
    １の座標値検出ステップにより連続して検出される複数
    個の座標値に基づいて曲線補間処理を行なう曲線補間ス
    テップと、前記特徴点と前記特徴点直後に検出される前
    記第１の座標値の間であって且つ前記曲線補間ステップ
    により得られた補間曲線上を仮想的にサンプリングして
    第３の座標値を検出する第３の座標値検出ステップと、
    前記特徴点と前記第３の座標値とに基づいて第２のベク
    トル情報を生成する第２のベクトル情報生成ステップと
    を含み、 前記出力ステップが、前記検出判定ステップにより第２
    の座標値検出が不可能と判定されたときは前記特徴点と
    前記第２のベクトル情報とを出力することを特徴とする
    筆記軌跡の処理方法。
11. 【請求項１１】 連続して検出される２個の前記第１の
    座標値が座標軸上での成す角度を算出する角度演算ステ
    ップと、連続して検出される複数個の前記第１の座標値
    の個数を計数する点数計数ステップとを含み、 前記特徴点判定ステップは、少なくとも前記角度演算ス
    テップの演算結果及び前記点数計数ステップの計数結果
    のいずれか一方に基づいて前記特徴点か否かを判定する
    ことを特徴とする請求項１０記載の筆記軌跡の処理方
    法。