JPH10176902A - タッチ信号プローブ - Google Patents
タッチ信号プローブInfo
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- JPH10176902A JPH10176902A JP8336986A JP33698696A JPH10176902A JP H10176902 A JPH10176902 A JP H10176902A JP 8336986 A JP8336986 A JP 8336986A JP 33698696 A JP33698696 A JP 33698696A JP H10176902 A JPH10176902 A JP H10176902A
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Abstract
チ信号プローブの提供。 【解決手段】スタイラス3,4に、その固有振動の振動数
と略一致した振動数でスタイラス3,4を加振し被測定物
に接触する際の振動状態の変化を検出する加振・検出素
子5,6を配置し、外面2A,2B,2CがX及びY軸にそれぞれ
平行な略角柱状の取付体2を備える。スタイラス3,4
は、その軸線方向がX軸とY軸とに一致し取付体2の原
点Oに対して対称に固定された第1及び第2スタイラス
3,4とを有する。加振・検出素子5,6は取付体2のX軸と
平行な外面2Aに取り付けられ、かつ、第1スタイラス3
を加振し、その振動状態を検出する第1加振・検出素子
5と、取付体2のY軸と平行な外面2Bに取り付けられ、
かつ、第2スタイラス4を加振し、その振動状態を検出
する第2加振・検出素子6とを有する。
Description
よって被測定物の形状等を測定するために用いられるタ
ッチ信号プローブに関するもので、より詳しくは、低測
定力、高感度の加振式タッチ信号プローブに関するもの
である。
機としてハイトゲージ(一次元測定機)、三次元測定
機、輪郭測定機等が知られているが、その場合の座標検
出や位置検出を行うために、測定機には、被測定物との
接触を検出するタッチ信号プローブが用いられる。従来
の加振式タッチ信号プローブの構造が特開平6-221806号
に示されている。このタッチ信号プローブは、スタイラ
スホルダに軸方向の略中央部がピンで支持されていると
ともに先端に接触部を有するスタイラスを取り付け、こ
のスタイラスを加振するとともにスタイラスの振動変化
から被測定物への接触に伴う振動状態の変化を検出する
加振・検出素子としての圧電素子をスタイラスに取り付
けた構造である。
容易に測定するために、図1に示されるT型のスタイラ
ス構造が考えられる。即ち、図1において、タッチ信号
プローブは、円柱状のスタイラス支持部81の先端に略
箱状の圧電素子取付体82を取り付け、この圧電素子取
付体82の両端部に接触部83が備えられたスタイラス
84をそれぞれスタイラス支持部81の軸心に対して直
角に取り付け、圧電素子取付体82の両側面に圧電素子
85を取り付けた構造である。
ものとして、図2に示される十字型のスタイラス構造が
考えられる。即ち、図2において、タッチ信号プローブ
は、スタイラス支持部81の先端に第1の圧電素子取付
体82を取り付け、この第1の圧電素子取付体82の両
端部に接触部83が備えられた第1のスタイラス84を
それぞれ取り付け、第1の圧電素子取付体82に第2の
圧電素子取付体86を取り付け、この第2の圧電素子取
付体86の両端部に接触部83が備えられた第2のスタ
イラス87をそれぞれ取り付け、これらの圧電素子取付
体82,86の両側面にそれぞれ圧電素子85を取り付
け、第1のスタイラス84と第2のスタイラス87との
角度を直角にした構造である。
信号プローブでは、第1及び第2の圧電素子取付体8
2,86がスタイラス支持部81の軸線上に並べて配置
されており、これらの取付体82,86の両端部にそれ
ぞれ取り付けられた第1のスタイラス84と第2のスタ
イラス87とは同一平面上に位置していない。そのた
め、スタイラス支持部81の軸線方向における第1のス
タイラス84と第2のスタイラス87との座標が相違す
るので、複雑な形状の被測定物を正確に測定できない不
都合が生じる。
成した際に、高精度の測定を行えるタッチ信号プローブ
を提供することにある。
方体や直方体からなる略角柱状の取付体の外面にX軸及
びY軸にそれぞれ延びる第1及び第2のスタイラスを固
定し、この取付体のX軸及びY軸とそれぞれ平行な外面
に加振・検出素子を取り付けて前記目的を達成しようと
するものである。具体的には本発明にかかるタッチ信号
プローブは、先端に被測定物と接触する接触部を有する
略柱状のスタイラスの軸方向固有振動の節近傍に、前記
固有振動の振動数と略一致した振動数で前記スタイラス
を加振するとともに前記接触部が被測定物に接触する際
の接触に伴う振動状態の変化を検出する加振・検出素子
を配置したタッチ信号プローブにおいて、中心がX軸、
Y軸及びZ軸の原点にあるとともに外面がX軸及びY軸
にそれぞれ平行な略角柱状の取付体を有し、前記スタイ
ラスは、その軸線方向がX軸と一致するとともに前記取
付体の前記原点に対して対称に固定された第1のスタイ
ラスと、その軸線方向がY軸と一致するとともに前記取
付体の前記原点に対して対称に固定された第2のスタイ
ラスとを有し、前記加振・検出素子は、前記取付体のX
軸と平行な外面に取り付けられ、かつ、前記第1のスタ
イラスを加振するとともに、その振動状態を検出する第
1の加振・検出素子と、前記取付体のY軸と平行な外面
に取り付けられ、かつ、前記第2のスタイラスを加振す
るとともに、その振動状態を検出する第2の加振・検出
素子と、を有することを特徴とする。
を移動する。加振・検出素子で振動されたスタイラスの
接触部が被測定物に接触すると、スタイラスの振動が拘
束され、その振動状態の変化が加振・検出素子で検出さ
れる。本発明では、被測定物が複雑な形状であっても、
第1及び第2のスタイラスを組み合わせてスタイラスが
十字型に形成されているため、所定のスタイラスを被測
定物を接触させることにより、その位置が確実に読み取
られる。
点からX軸とY軸とにそれぞれ延びて形成されており、
全ての接触部が略同一平面内に位置することになるの
で、測定を高精度に行うことができる。さらに、スタイ
ラスが取付体の外面に取り付けられた構造であるため、
タッチ信号プローブの構造を簡易なものにできる。
体状としてもよい。この構造では、加振・検出素子を取
り付けるスペースを確保してスタイラスを加振する力を
大きくすることができる。また、本発明では、前記第1
のスタイラスの固有振動数と、前記第2のスタイラスの
固有振動数とが相違する構造としてもよい。ここで、固
有振動数が相違するとは、第1のスタイラスと第2のス
タイラスとが共振しないことをいう。この構造では、検
出素子に接続される検出回路における回路上の干渉問題
を回避できる。
出素子は、前記第2のスタイラスを挟んで互いに対向配
置され、前記第2の加振・検出素子は、前記第1のスタ
イラスを挟んで互いに対向配置された構造でもよい。こ
の構造では、第1又は第2のスタイラスに加える加振力
が第2又は第1のスタイラスを挟んで均等とされるの
で、精度の高い測定が行える。
素子と、前記第2の加振・検出素子とは、同一圧電素子
の表面電極を少なくとも4分割して構成され、かつ、前
記取付体のZ軸と直交する外面に配置され構造でもよ
い。この構造では、スタイラスが取り付けられる取付体
の外面に加振・検出素子を取る付ける必要がないから、
取付体の外面面積に対するスタイラスの取付面積、換言
すれば、スタイラスの太さが制限されないだけでなく、
加振・検出素子の加工が容易となる。
に基づいて詳細に説明する。ここで、各実施形態中、同
一構成要素は同一符号を付して説明を省略する。図3に
は本発明の第1実施形態にかかるタッチ信号プローブの
全体構成が示されている。
示しない三次元測定機の移動軸に取り付けられた略円柱
状の支持ピン1と、この支持ピン1の先端部に取り付け
られた略立方体状の取付体2と、この取付体2を挟んで
それぞれ2本ずつ取り付けられた第1及び第2のスタイ
ラス3,4と、これらのスタイラス3,4の近傍におい
て取付体2に取り付けられた第1及び第2の加振・検出
素子である圧電素子5,6とを備えて構成されている。
取付体2は中心がX軸、Y軸及びZ軸の原点Oにあると
ともに外面2A,2B,2CがX軸、Y軸及びZ軸と直
交する平面にそれぞれ平行な略角柱状とされており、こ
のうち互いに対向する外面2Cのうち一方の外面2Cに
は支持ピン1がZ軸に延びて配置されている。
延びて配置されており、その一端部(軸方向固有振動数
の節近傍)が取付体2の外面2Aに固定された略円柱状
の本体3Aと、この本体3Aの他端部に固定され図示し
ない被測定物と接触する略球状の接触部3Bとを有する
構造である。第2のスタイラス4は、その軸線がY軸に
延びて配置されており、その一端部(軸方向固有振動数
の節近傍)が取付体2の外面2Bに固定された略円柱状
の本体4Aと、この本体4Aの他端部に固定され図示し
ない被測定物と接触する略球状の接触部4Bとを有する
構造である。
イラス4とは、それぞれ原点Oを挟んだ対称構造であ
る。また、第1のスタイラス3と第2のスタイラス4と
は、長さ寸法を相違させたり、あるいは、材質を相違さ
せたりすることにより、互いに共振しないように、その
固有振動数が若干相違する。
行である平面矩形状をしており、取付体2の外面2Bに
おいて2個ずつ、計4個接着等で固定されている。この
第1の圧電素子5は、第1のスタイラス3の固有振動数
の略一致した振動数で第1のスタイラス3を加振する加
振用電極5Aと、接触部3Bが被測定物に接触する際の
接触に伴う振動状態の変化を検出する検出用電極5Bと
に分けられ、外面2Bの第2のスタイラス4を挟んで互
いに対向配置されている。
行である平面矩形状をしており、取付体2の外面2Aに
おいて2個ずつ、計4個接着等で固定されている。この
第2の圧電素子6は、第2のスタイラス4の固有振動数
の略一致した振動数で第2のスタイラス4を加振する加
振用電極6Aと、接触部4Bが被測定物に接触する際の
接触に伴う振動状態の変化を検出する検出用電極6Bと
に分けられ、外面2Aの第1のスタイラス3を挟んで互
いに対向配置されている。
特開平6-221806号に示される駆動回路及び検出回路が接
続されており、検出回路には信号処理回路が接続されて
いる。なお、第1実施形態では、1枚の圧電素子5,6
を加振用電極5A,6Aと検出用電極5B,6Bとに分
割するのではなく、スタイラス3,4を挟んで対向配置
された一方の圧電素子5,6を加振専用とし、他方の圧
電素子5,6を検出専用とする構造でもよい。
プローブを移動して測定を行うが、そのため、第1及び
第2の圧電素子5,6に通電し、加振用電極5A,6A
で第1及び第2のスタイラス3,4を加振する。この加
振用電極5A,6Aで振動させたスタイラス3,4の接
触部3B,4Bが被測定物に接触すると、スタイラス
3,4の振動が拘束され、その振動状態の変化が検出素
子である検出用電極5B,6Bで検出される。
部3B,4Bを有する略柱状のスタイラス3,4に、こ
れらの固有振動の振動数と略一致した振動数でスタイラ
ス3,4を加振するとともに接触部3B,4Bが被測定
物に接触する際の接触に伴う振動状態の変化を検出する
加振・検出素子5,6を配置したタッチ信号プローブに
おいて、中心がX軸、Y軸及びZ軸の原点Oにあるとと
もに外面2A,2B,2CがX軸及びY軸にそれぞれ平
行な略角柱状の取付体2を備え、スタイラス3,4は、
その軸線方向がそれぞれX軸とY軸とに一致するととも
に取付体2の原点Oに対して対称に固定された第1のス
タイラス3及び第2スタイラス4とを有し、加振・検出
素子5,6は、取付体2のX軸と平行な外面2Aに取り
付けられ、かつ、第1のスタイラス3を加振し、その振
動状態を検出する第1の加振・検出素子5と、取付体2
のY軸と平行な外面2Bに取り付けられ、かつ、第2の
スタイラス4を加振し、その振動状態を検出する第2の
加振・検出素子6とを有する構造であるから、第1及び
第2のスタイラス3,4が取付体2の原点OからX軸と
Y軸とにそれぞれ延びて十字型に形成されて全ての接触
部3B,4Bが略同一平面内に位置することになる。そ
のため、被測定物が複雑な形状であっても、所定のスタ
イラス3,4を被測定物を接触させることにより、その
位置が確実に読み取ることができる。さらに、スタイラ
ス3,4が取付体2の外面2A,2Bに取り付けられた
構造であるため、タッチ信号プローブの構造を簡易なも
のにできる。
3,4の軸方向固有振動の節近傍に第1及び第2の加振
・検出素子5,6が配置されているから、スタイラス
3,4の共振特性及び検出感度が向上し、低測定力での
測定が可能となる。さらに、第1実施形態では、第1
のスタイラス3の固有振動数と、第2のスタイラス4の
固有振動数とが若干相違する構造であるから、検出用電
極5B,6Bに接続される検出回路における回路上の干
渉問題を回避できる。つまり、第1及び第2のスタイラ
ス3,4は、それぞれ取付体2の互いに直交する外面2
A,2Bに取り付けられており、厳密には、加振・検出
素子5,6の作動に伴う取付体2の一方向(例えば、X
軸方向)の伸びは他方向(例えば、Y軸方向)の縮みを
伴うので、第1及び第2のスタイラス3,4が干渉する
可能性がある。しかし、第1実施形態では、これらのス
タイラス3,4の固有振動数が相違するようにしてある
から、回路上で干渉することなく、正確な測定が行え
る。
は、第2のスタイラス4を挟んで互いに対向配置され、
2個の第2の加振・検出素子6は、第1のスタイラス3
を挟んで互いに対向配置された構造であるから、第1又
は第2のスタイラス3,4に生じる加振力が第2又は第
1のスタイラス4,3を挟んで均等とされるので、この
点からも精度の高い測定が行える。
いて説明する。第2実施形態は第1実施形態に比べて圧
電素子5,6の取付位置が相違するもので、他の構造は
第1実施形態と同じである。図4には本発明の第2実施
形態にかかるタッチ信号プローブの全体構成が示されて
いる。図4において、第2実施形態のタッチ信号プロー
ブは、前記支持ピン1、前記取付体2、前記第1及び第
2のスタイラス3,4及び前記第1及び第2の圧電素子
5,6を備えた構成であり、これらの第1及び第2の圧
電素子5,6は第1実施形態とは異なり、取付体の外面
2Cに取り付けられている。
がX軸方向と一致するように取付体2の互いに対向する
外面2Cの縁部に2個ずつ配置されており、第2の圧電
素子6は、その長手方向がY軸方向と一致するように外
面2Cの縁部に2個ずつ配置されている。なお、外面2
Cのうち支持ピン1が取り付けられる外面2Cには、圧
電素子5,6が支持ピン1を囲うように配置されてい
る。この構成の第2実施形態では、第1実施形態の〜
と同様の作用効果を奏する他に、第1及び第2の圧電
素子5,6がスタイラス3,4が取り付けられている取
付体2の外面2A,2B以外の外面2Cに取り付けられ
ているから、取付体2の外面2A,2Bの面積に対する
スタイラス3,4の取付面積、換言すれば、スタイラス
の太さが制限されることがない。
いて説明する。第3実施形態は第1実施形態に比べて取
付体の形状が相違するもので、他の構造は第1実施形態
と同じである。図5には本発明の第3実施形態にかかる
タッチ信号プローブの全体構成が示されている。図5に
おいて、第3実施形態のタッチ信号プローブは、前記支
持ピン1と、この支持ピン1の先端部に取り付けられた
略直方体状の取付体12と、この取付体12に取り付け
られた前記第1及び第2のスタイラス3,4と、これら
のスタイラス3,4の近傍において取付体12に取り付
けられた前記第1及び第2の圧電素子5,6とを備えた
構成である。
原点Oにあるとともに外面12A,12B,2CがX
軸、Y軸及びZ軸と直交する平面にそれぞれ平行な略角
柱状とされており、このうち互いに対向する平面平方形
の外面2Cのうち一方の外面2Cには支持ピン1がZ軸
に延びて配置されている。また、互いに隣り合う外面1
2A,12Bは、その平面がZ軸方向の寸法がX軸方向
又はY軸方向より長い長方形とされている。
向固有振動数の節近傍)が取付体12の外面12Aに固
定されており、第2のスタイラス4は、その一端部(軸
方向固有振動数の節近傍)が取付体12の外面12Bに
固定されている。第1の圧電素子5は、取付体12の外
面12Bにおいて第2のスタイラス4を挟んで2個ず
つ、計4個(図では2個のみ示す)接着等で固定されて
いる。第2の圧電素子6は、取付体12の外面12Aに
おいて第1のスタイラス3を挟んで2個ずつ、計4個
(図では2個のみ示す)接着等で固定されている。
態の〜と同様の作用効果を奏する他に、取付体12
を略直方体状としたから、加振・検出素子である圧電素
子5,6を取り付けるスペースを確保してスタイラス
3,4を加振する力を大きくすることができる。従っ
て、スタイラスを大きな力で加振し、その振動を確実に
検出することにより、測定精度を向上させることができ
る。なお、第3実施形態では、取付体12の互いに隣り
合う外面12A,12BのX軸方向寸法とY軸方向寸法
とを相違させる構造でもよい。この構造では、これらの
外面12A,12Bに取り付けられる第1のスタイラス
3と第2のスタイラス4との固有振動数を変えることが
できる。
いて説明する。第4実施形態は第1実施形態に比べて取
付体の形状が相違するもので、他の構造は第1実施形態
と同じである。図6には本発明の第4実施形態にかかる
タッチ信号プローブの全体構成が示されている。図6に
おいて、第4実施形態のタッチ信号プローブは、前記支
持ピン1と、この支持ピン1の先端部に取り付けられた
略立方体状の取付体22と、この取付体22に取り付け
られた前記第1及び第2のスタイラス3,4と、これら
のスタイラス3,4の近傍において取付体22に取り付
けられた前記第1及び第2の圧電素子5,6とを備えた
構成である。
の原点Oにあるとともに外面22A,22B,22Cが
X軸、Y軸及びZ軸と直交する平面にそれぞれ平行な略
角柱状とされており、このうち互いに対向する外面22
Cのうち一方の外面22Cには支持ピン1を取り付ける
ための孔22Dが形成されている。第1のスタイラス3
は、その一端部(軸方向固有振動数の節近傍)が取付体
22の外面22Aに固定されており、第2のスタイラス
4は、その一端部(軸方向固有振動数の節近傍)が取付
体22の外面22Bに固定されている。互いに隣り合う
外面22Aと外面22Cとの間には、第1のスタイラス
3を挟んで切り込み22Eが形成され、互いに隣り合う
外面22Bと外面22Cとの間には、第2のスタイラス
4を挟んで切り込み22Eが形成されている。
22の外面22Bにおいて1個ずつ、計2個(図では1
個のみ示す)接着等で固定されており、その中央部裏面
と切り込み22Eとの間には空間が形成されている。こ
れらの第1の圧電素子5は原点Oを中心として対向配置
されている。第2の圧電素子6は、その両端部が取付体
22の外面22Aにおいて1個ずつ、計2個接着等で固
定されており、その中央部裏面と切り込み22Eとの間
には空間が形成されている。なお、第4実施形態では、
取付体22に取り付けられる圧電素子5,6の数は適宜
決定される。例えば、第1から第3実施形態のように、
合計8個であってもよい。
態の〜と同様の作用効果を奏する他に、取付体22
に切り込み22Eを形成したから、圧電素子5,6の中
央部底面と取付体22との間に空間が形成されるため、
圧電素子5,6の電気エネルギーを機械エネルギーに変
換する効率を向上させることができる。
9に基づいて説明する。第5実施形態は第1実施形態に
比べて圧電素子の構造が相違するもので、他の構造は第
1実施形態と同じである。図7には本発明の第5実施形
態にかかるタッチ信号プローブの全体構成が示されてい
る。図7において、第5実施形態のタッチ信号プローブ
は、前記支持ピン1と、この支持ピン1の先端部に取り
付けられた取付体32と、この取付体32に取り付けら
れた前記第1及び第2のスタイラス3,4と、これらの
スタイラス3,4の近傍において取付体32に取り付け
られた圧電素子34とを備えた構成である。
の寸法より短くX軸方向の寸法とY軸方向の寸法とが等
しい略直方体状であり、このうち互いに対向する外面3
2Cのうち一方の外面32Cには支持ピン1が取り付け
られている。第1のスタイラス3は、その一端部(軸方
向固有振動数の節近傍)が取付体32の外面32Aに固
定されており、第2のスタイラス4は、その一端部(軸
方向固有振動数の節近傍)が取付体32の外面32Bに
固定されている。圧電素子34は、支持ピン1が取り付
けられた外面32Cに接着等で固定されており、その中
央部に支持ピン1との干渉を避けるための孔部34Aを
有する略平板状に形成されている。
くとも4分割されており、その裏面は共通電極とされて
いる。圧電素子34の分割の態様が図8及び図9に示さ
れている。図8において、圧電素子34は、加振用電極
と検出電極とが各軸の正方向と負方向とに分けて構成さ
れており、このうち、X軸に沿って配置された加振用電
極34Aと検出用電極34Bとで第1のスタイラス3を
加振するとともに、その振動状態を検出する第1の加振
・検出素子が構成され、Y軸に沿って配置された加振用
電極34Cと検出用電極34Dとで第2のスタイラス4
を加振するとともに、その振動状態を検出する第2の加
振・検出素子が構成される。
各軸の正方向及び負方向のそれぞれに構成されている。
このうち、X軸に沿って配置された2個の加振用電極3
4Eと2個の検出用電極34Fとで第1のスタイラス3
を加振するとともに、その振動状態を検出する第1の加
振・検出素子が構成され、Y軸に沿って配置された2個
の加振用電極34Gと2個の検出用電極34Hとで第2
のスタイラス4を加振するとともに、その振動状態を検
出する第2の加振・検出素子が構成される。加振用電極
34E,34Gは、原点Oを挟んで放射状に配置されて
おり、検出用電極34F,34Hは、加振用電極34
E,34Gより原点O側に配置されている。加振用電極
34F,34Hあるいは検出用電極34F,34Hを2
カ所に設ける場合には、リード線は各軸方向に並列状態
に接続すればよい。
いに対向する外面32Cの双方に圧電素子34を取り付
けてもよい。この場合、圧電素子34の形状を同じにし
てもよく、あるいは、相違させてもよい。ただし、圧電
素子34の形状を同じにすれば部品点数が減少するの
で、好ましい。
態の〜と同様の作用効果を奏する他に、第1の加振
・検出素子34E,34Fと、第2の加振・検出素子3
4G,34Hとを同一圧電素子の表面電極を少なくとも
4分割して構成し、かつ、取付体32のZ軸と直交する
外面32Cに配置したから、スタイラス3,4が取り付
けられる取付体32の外面32A,32Bに加振・検出
素子を取る付ける必要がないので、スタイラス3,4の
太さが制限されないだけでなく、加振・検出素子を構成
する圧電素子34の加工が容易となる。
されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲で
あれば次に示す変形例を含むものである。例えば、前記
各実施の形態では、加振・検出素子として圧電素子5,
6,34を使用したが、本発明では、これに限らず、他
のアクチュエータでもよい。
波共振形タッチセンサを適用したが、これに限定される
ものではなく、例えば、公開昭64-69910号に示される圧
電センサを適用するものでもよく、あるいは、特開平6-
34311 号に示されるセンサ(被測定物と測定球との間の
静電容量から接触を検出するセンサ)に適用してもよ
い。さらに、第1のスタイラス3の固有振動数と第2の
スタイラス4の固有振動数とを同じにしてもよい。
触部を有する略柱状のスタイラスに、これらの固有振動
の振動数と略一致した振動数でスタイラスを加振すると
ともに接触部が被測定物に接触する際の接触に伴う振動
状態の変化を検出する加振・検出素子を配置し、中心が
X軸、Y軸及びZ軸の原点にあるとともに外面がX軸及
びY軸にそれぞれ平行な略角柱状の取付体を備え、前記
スタイラスは、その軸線方向がそれぞれX軸とY軸とに
一致するとともに取付体の原点に対して対称に固定され
た第1のスタイラス及び第2スタイラスと、を有し、前
記加振・検出素子は、取付体のX軸と平行な外面に取り
付けられ、かつ、第1のスタイラスを加振し、その振動
状態を検出する第1の加振・検出素子と、取付体のY軸
と平行な外面に取り付けられ、かつ、第2のスタイラス
を加振し、その振動状態を検出する第2の加振・検出素
子と、を有する構造であるから、第1及び第2のスタイ
ラスが取付体の原点からX軸とY軸とにそれぞれ延びて
十字型に形成されて全ての接触部が略同一平面内に位置
することになり、被測定物が複雑な形状であっても、所
定のスタイラスを被測定物を接触させることにより、そ
の位置が確実に読み取ることができる。
ローブの斜視図である。
るタッチ信号プローブの斜視図である。
ローブの斜視図である。
ローブの斜視図である。
ローブの斜視図である。
ローブの斜視図である。
ローブの斜視図である。
る加振・検出素子を示す平面図である。
る加振・検出素子であって図8とは異なる構造の加振・
検出素子を示す平面図である。
Claims (5)
- 【請求項1】先端に被測定物と接触する接触部を有する
略柱状のスタイラスの軸方向固有振動の節近傍に、前記
固有振動の振幅数と略一致した振動数で前記スタイラス
を加振するとともに前記接触部が被測定物に接触する際
の接触に伴う振動状態の変化を検出する加振・検出素子
を配置したタッチ信号プローブにおいて、中心がX軸、
Y軸及びZ軸の原点にあるとともに外面がX軸及びY軸
にそれぞれ平行な略角柱状の取付体を有し、前記スタイ
ラスは、その軸線方向がX軸と一致するとともに前記取
付体の前記原点に対して対称に固定された第1のスタイ
ラスと、その軸線方向がY軸と一致するとともに前記取
付体の前記原点に対して対称に固定された第2のスタイ
ラスとを有し、前記加振・検出素子は、前記取付体のX
軸と平行な外面に取り付けられ、かつ、前記第1のスタ
イラスを加振するとともに、その振動状態を検出する第
1の加振・検出素子と、前記取付体のY軸と平行な外面
に取り付けられ、かつ、前記第2のスタイラスを加振す
るとともに、その振動状態を検出する第2の加振・検出
素子と、を有することを特徴とするタッチ信号プロー
ブ。 - 【請求項2】請求項1記載のタッチ信号プローブにおい
て、前記取付体は略直方体状であることを特徴とするタ
ッチ信号プローブ。 - 【請求項3】請求項1又は2に記載のタッチ信号プロー
ブにおいて、前記第1のスタイラスの固有振動数と、前
記第2のスタイラスの固有振動数とが相違することを特
徴とするタッチ信号プローブ。 - 【請求項4】請求項1から3のいずれかに記載のタッチ
信号プローブにおいて、前記第1の加振・検出素子は、
前記第2のスタイラスを挟んで対向配置されており、前
記第2の加振・検出素子は、前記第1のスタイラスを挟
んで対向配置されていることを特徴とするタッチ信号プ
ローブ。 - 【請求項5】請求項1から3のいずれかに記載のタッチ
信号プローブにおいて、前記第1の加振・検出素子と、
前記第2の加振・検出素子とは、同一圧電素子の表面電
極を少なくとも4分割して構成され、かつ、前記取付体
のZ軸と直交する外面に配置されたことを特徴とするタ
ッチ信号プローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33698696A JP3650496B2 (ja) | 1996-12-17 | 1996-12-17 | タッチ信号プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33698696A JP3650496B2 (ja) | 1996-12-17 | 1996-12-17 | タッチ信号プローブ |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10176902A true JPH10176902A (ja) | 1998-06-30 |
| JPH10176902A5 JPH10176902A5 (ja) | 2004-12-02 |
| JP3650496B2 JP3650496B2 (ja) | 2005-05-18 |
Family
ID=18304430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33698696A Expired - Fee Related JP3650496B2 (ja) | 1996-12-17 | 1996-12-17 | タッチ信号プローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3650496B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6198298B1 (en) | 1997-12-24 | 2001-03-06 | Mitutoyo Corporation | Touch-signal probe |
| US6360176B1 (en) | 1998-04-14 | 2002-03-19 | Mitutoyo Corporation | Touch signal probe |
| US6832877B2 (en) * | 2000-05-29 | 2004-12-21 | Kabushiki Kaisya Advance | Dental measuring and machining system |
| KR102880023B1 (ko) * | 2025-03-18 | 2025-11-10 | 김윤오 | 피 측정물의 가공치수 계측용 게이지 |
-
1996
- 1996-12-17 JP JP33698696A patent/JP3650496B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6198298B1 (en) | 1997-12-24 | 2001-03-06 | Mitutoyo Corporation | Touch-signal probe |
| EP0927867A3 (en) * | 1997-12-24 | 2001-03-21 | Mitutoyo Corporation | Touch-signal probe |
| US6360176B1 (en) | 1998-04-14 | 2002-03-19 | Mitutoyo Corporation | Touch signal probe |
| US6832877B2 (en) * | 2000-05-29 | 2004-12-21 | Kabushiki Kaisya Advance | Dental measuring and machining system |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3650496B2 (ja) | 2005-05-18 |
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