JPH10188230A - 磁気抵抗効果型磁気ヘッドの検査方法 - Google Patents
磁気抵抗効果型磁気ヘッドの検査方法Info
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- JPH10188230A JPH10188230A JP34611396A JP34611396A JPH10188230A JP H10188230 A JPH10188230 A JP H10188230A JP 34611396 A JP34611396 A JP 34611396A JP 34611396 A JP34611396 A JP 34611396A JP H10188230 A JPH10188230 A JP H10188230A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 磁気抵抗効果型磁気ヘッドのノイズの原因と
なるバルクハウゼンノイズを定量的に評価することがで
きる磁気抵抗効果型磁気ヘッドの検査方法を提供する。 【解決手段】 本発明にかかる磁気抵抗効果型磁気ヘッ
ドの検査方法は、磁界が印加されることにより、抵抗率
が変化する磁気抵抗効果素子を備えた磁気抵抗効果型磁
気ヘッド２を検査する際、発振器４ａ、コイル４ｂ等か
らなる磁界発生手段４により交流磁界を発生させて、こ
の磁界発生手段４からの交流磁界を磁気抵抗効果型磁気
ヘッド２により検出してバルクハウゼンノイズを検査す
る。
なるバルクハウゼンノイズを定量的に評価することがで
きる磁気抵抗効果型磁気ヘッドの検査方法を提供する。 【解決手段】 本発明にかかる磁気抵抗効果型磁気ヘッ
ドの検査方法は、磁界が印加されることにより、抵抗率
が変化する磁気抵抗効果素子を備えた磁気抵抗効果型磁
気ヘッド２を検査する際、発振器４ａ、コイル４ｂ等か
らなる磁界発生手段４により交流磁界を発生させて、こ
の磁界発生手段４からの交流磁界を磁気抵抗効果型磁気
ヘッド２により検出してバルクハウゼンノイズを検査す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気抵抗効果型磁
気ヘッドの検査方法に関し、詳しくは、磁気抵抗効果型
磁気ヘッドのバルクハウゼンノイズの検査方法に関す
る。
気ヘッドの検査方法に関し、詳しくは、磁気抵抗効果型
磁気ヘッドのバルクハウゼンノイズの検査方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】近年、磁気記録媒体の記録密度の増大、
磁気記録媒体からの信号を記録再生する際の周波数特性
の向上のため、薄膜磁気ヘッドが広く採用されている。
ここで、磁気誘導型の再生用の磁気ヘッドにおいては、
再生出力が磁気記録媒体間の相対速度に依存する。この
ため、磁気誘導型の再生用の磁気ヘッドにおいては、低
速で磁気記録媒体上を走査した場合において、再生出力
が小さくなるという問題点がある。
磁気記録媒体からの信号を記録再生する際の周波数特性
の向上のため、薄膜磁気ヘッドが広く採用されている。
ここで、磁気誘導型の再生用の磁気ヘッドにおいては、
再生出力が磁気記録媒体間の相対速度に依存する。この
ため、磁気誘導型の再生用の磁気ヘッドにおいては、低
速で磁気記録媒体上を走査した場合において、再生出力
が小さくなるという問題点がある。
【０００３】これに対して、再生用の磁気ヘッドとして
は、外部から印加される磁界によって抵抗率が変化する
磁気抵抗効果素子（以下、ＭＲ素子と称する。）を備え
た磁気抵抗効果型磁気ヘッド（以下、ＭＲヘッドと称す
る。）がある。このＭＲヘッドは、再生時において、再
生出力が磁気記録媒体の速度に依存せず、低速度で磁気
記録媒体上を走査しても、高い再生出力が得られるとい
う特徴を有している。
は、外部から印加される磁界によって抵抗率が変化する
磁気抵抗効果素子（以下、ＭＲ素子と称する。）を備え
た磁気抵抗効果型磁気ヘッド（以下、ＭＲヘッドと称す
る。）がある。このＭＲヘッドは、再生時において、再
生出力が磁気記録媒体の速度に依存せず、低速度で磁気
記録媒体上を走査しても、高い再生出力が得られるとい
う特徴を有している。
【０００４】このＭＲヘッドの動作原理は、ＭＲ素子に
一定の電流Ｉを供給した状態で、外部磁界が印加される
と、ＭＲ素子の抵抗値が変化することを利用している。
そこで、このＭＲ素子の電圧変化を検出することによっ
て磁気記録媒体に記録されている情報信号の再生を行
う。このときの再生出力は、電圧の変化率を△Ｖとし、
ＭＲ素子の抵抗変化率を△Ｒとし、ＭＲ素子に供給され
ている電流をＩとすると、△Ｖ＝△Ｒ・Ｉで表される。
一定の電流Ｉを供給した状態で、外部磁界が印加される
と、ＭＲ素子の抵抗値が変化することを利用している。
そこで、このＭＲ素子の電圧変化を検出することによっ
て磁気記録媒体に記録されている情報信号の再生を行
う。このときの再生出力は、電圧の変化率を△Ｖとし、
ＭＲ素子の抵抗変化率を△Ｒとし、ＭＲ素子に供給され
ている電流をＩとすると、△Ｖ＝△Ｒ・Ｉで表される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ようなＭＲ素子を備えたＭＲヘッドは、磁気記録媒体に
記録されている情報信号の再生用磁気ヘッドとして実用
化するに当たって、以下の２つの課題について考慮する
必要がある。
ようなＭＲ素子を備えたＭＲヘッドは、磁気記録媒体に
記録されている情報信号の再生用磁気ヘッドとして実用
化するに当たって、以下の２つの課題について考慮する
必要がある。
【０００６】第１の課題としては、磁気記録媒体に記録
された情報信号に対してＭＲ素子の出力を線形応答させ
る必要がある。この課題については、ＭＲヘッドは、Ｍ
Ｒ素子に供給される電流Ｉと、ＭＲ素子の磁化方向とが
なす角度を４５゜に設定することにより対処している。
された情報信号に対してＭＲ素子の出力を線形応答させ
る必要がある。この課題については、ＭＲヘッドは、Ｍ
Ｒ素子に供給される電流Ｉと、ＭＲ素子の磁化方向とが
なす角度を４５゜に設定することにより対処している。
【０００７】第２の課題としては、再生時において、Ｍ
Ｒ素子内に発生するバルクハウゼンノイズを低減させる
ことである。このバルクハウゼンノイズは、再生時にお
いて、ＭＲ素子内に発生すると、再生信号中にパルス状
のノイズを生じ、再生信号の再現性を低下させる。この
バルクハウゼンノイズの発生原因としては、ＭＲ素子の
端部等において反磁界が発生することによってＭＲ素子
内の磁壁が移動することに起因する。このため、バルク
ハウゼンノイズを防止する方法としては、ＭＲ素子を単
磁区化させることによってＭＲ素子内の磁壁をなくすと
いう方法が提案されている。
Ｒ素子内に発生するバルクハウゼンノイズを低減させる
ことである。このバルクハウゼンノイズは、再生時にお
いて、ＭＲ素子内に発生すると、再生信号中にパルス状
のノイズを生じ、再生信号の再現性を低下させる。この
バルクハウゼンノイズの発生原因としては、ＭＲ素子の
端部等において反磁界が発生することによってＭＲ素子
内の磁壁が移動することに起因する。このため、バルク
ハウゼンノイズを防止する方法としては、ＭＲ素子を単
磁区化させることによってＭＲ素子内の磁壁をなくすと
いう方法が提案されている。
【０００８】しかしながら、このバルクハウゼンノイズ
は、ＭＲヘッドの設計段階において、皆無とすることが
困難である。そこで、ＭＲヘッドにおいては、ＭＲヘッ
ドが完成した後において、出荷する際にバルクハウゼン
ノイズを検査することが必要となる。しかしながら、こ
のバルクハウゼンノイズは、通常、再生出力の波形にお
いて、飛びとして検出されるために、定量的な評価が困
難であり、ＭＲヘッドのバルクハウゼンノイズを検査す
る際の問題点となっている。
は、ＭＲヘッドの設計段階において、皆無とすることが
困難である。そこで、ＭＲヘッドにおいては、ＭＲヘッ
ドが完成した後において、出荷する際にバルクハウゼン
ノイズを検査することが必要となる。しかしながら、こ
のバルクハウゼンノイズは、通常、再生出力の波形にお
いて、飛びとして検出されるために、定量的な評価が困
難であり、ＭＲヘッドのバルクハウゼンノイズを検査す
る際の問題点となっている。
【０００９】このバルクハウゼンノイズを検出する方法
としては、磁気記録媒体の再生時において、ＭＲヘッド
の再生出力を微分回路に通過させることによって検出す
ることができる。
としては、磁気記録媒体の再生時において、ＭＲヘッド
の再生出力を微分回路に通過させることによって検出す
ることができる。
【００１０】しかし、バルクハウゼンノイズは、微分回
路を通過させた後の再生出力波形がＭＲヘッドの出力を
含んだ波形となっているので、微分回路を通過した再生
出力を検出しても正確に定量的な評価をすることができ
ない。
路を通過させた後の再生出力波形がＭＲヘッドの出力を
含んだ波形となっているので、微分回路を通過した再生
出力を検出しても正確に定量的な評価をすることができ
ない。
【００１１】また、バルクハウゼンノイズは、微分回路
を通過した後の波形に対してＭＲヘッドの出力信号のみ
を阻止するためのフィルタ回路を通過させようとして
も、磁気記録媒体を再生した場合の再生出力が非線形で
あり、再生出力波形に歪が生じているため、ＭＲヘッド
の再生出力のみを阻止することができない。
を通過した後の波形に対してＭＲヘッドの出力信号のみ
を阻止するためのフィルタ回路を通過させようとして
も、磁気記録媒体を再生した場合の再生出力が非線形で
あり、再生出力波形に歪が生じているため、ＭＲヘッド
の再生出力のみを阻止することができない。
【００１２】本発明は、上述のような問題点に鑑みて提
案されたものであり、ＭＲヘッドが磁気記録媒体を再生
する際のノイズの原因となるバルクハウゼンノイズを定
量的に評価することができるＭＲヘッドの検査方法を提
供することを目的とする。
案されたものであり、ＭＲヘッドが磁気記録媒体を再生
する際のノイズの原因となるバルクハウゼンノイズを定
量的に評価することができるＭＲヘッドの検査方法を提
供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上述の課題を解決する本
発明にかかる磁気抵抗効果型磁気ヘッドの検査方法は、
磁界が印加されることにより、抵抗率が変化する磁気抵
抗効果素子を備えた磁気抵抗効果型磁気ヘッドを検査す
る際、磁界発生手段により磁界を発生させる工程と、磁
界発生手段からの磁界を磁気抵抗効果型磁気ヘッドによ
り検出してバルクハウゼンノイズを検査する検査工程と
を有することを特徴とするものである。
発明にかかる磁気抵抗効果型磁気ヘッドの検査方法は、
磁界が印加されることにより、抵抗率が変化する磁気抵
抗効果素子を備えた磁気抵抗効果型磁気ヘッドを検査す
る際、磁界発生手段により磁界を発生させる工程と、磁
界発生手段からの磁界を磁気抵抗効果型磁気ヘッドによ
り検出してバルクハウゼンノイズを検査する検査工程と
を有することを特徴とするものである。
【００１４】なお、磁界発生手段は、所定の周波数の交
流磁界を発生させることが好ましい。
流磁界を発生させることが好ましい。
【００１５】また、この磁界発生手段は、発振器により
磁界変調周波数を有する電圧をコイルに印加することに
より磁界を発生させるものを使用することが望ましい。
磁界変調周波数を有する電圧をコイルに印加することに
より磁界を発生させるものを使用することが望ましい。
【００１６】また、検査工程は、磁気抵抗効果型磁気ヘ
ッドにより検出された磁界による信号を検出する信号検
出工程と、信号検出工程によって検出された信号を微分
する微分工程と、微分工程により微分された信号に対し
て磁界変調周波数を阻止した信号を検出する工程とを有
するようにしても良い。
ッドにより検出された磁界による信号を検出する信号検
出工程と、信号検出工程によって検出された信号を微分
する微分工程と、微分工程により微分された信号に対し
て磁界変調周波数を阻止した信号を検出する工程とを有
するようにしても良い。
【００１７】このような磁気抵抗効果型磁気ヘッドの検
査方法は、磁界発生手段による磁界を磁気抵抗効果型磁
気ヘッドによって検出することによって検査を行うの
で、磁気記録媒体に記録されている情報信号を再生して
検査を行う場合とは異なり、検査対称である磁気抵抗効
果型磁気ヘッドにノイズのない入力信号を供給してバル
クハウゼンノイズを検出することができる。
査方法は、磁界発生手段による磁界を磁気抵抗効果型磁
気ヘッドによって検出することによって検査を行うの
で、磁気記録媒体に記録されている情報信号を再生して
検査を行う場合とは異なり、検査対称である磁気抵抗効
果型磁気ヘッドにノイズのない入力信号を供給してバル
クハウゼンノイズを検出することができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下、本発明にかかる磁気抵抗効
果型磁気ヘッドの検査方法について図面を参照しながら
詳細に説明する。
果型磁気ヘッドの検査方法について図面を参照しながら
詳細に説明する。
【００１９】まず、本発明を適用した磁気抵抗効果型磁
気ヘッド（以下、ＭＲヘッドと称する。）の検査方法に
使用されるＭＲヘッドの検査回路の一例を図１に示す。
気ヘッド（以下、ＭＲヘッドと称する。）の検査方法に
使用されるＭＲヘッドの検査回路の一例を図１に示す。
【００２０】このＭＲヘッドの検査回路１は、図１に示
すように、磁気抵抗効果型ヘッド２（以下、ＭＲヘッド
２と称する。）を検査する回路であり、このＭＲヘッド
２に対して所定の電流を供給する定電流源３と、ＭＲヘ
ッド２に対して磁界を印加する磁界発生手段４と、ＭＲ
ヘッド２によって検出された信号を増幅させる増幅アン
プ５と、この増幅アンプ５からの信号が入力される微分
回路６と、この微分回路６を通過した信号が入力される
ノッチフィルタ７と、このノッチフィルタ７を通過した
信号を検出する検出手段８とからなる。
すように、磁気抵抗効果型ヘッド２（以下、ＭＲヘッド
２と称する。）を検査する回路であり、このＭＲヘッド
２に対して所定の電流を供給する定電流源３と、ＭＲヘ
ッド２に対して磁界を印加する磁界発生手段４と、ＭＲ
ヘッド２によって検出された信号を増幅させる増幅アン
プ５と、この増幅アンプ５からの信号が入力される微分
回路６と、この微分回路６を通過した信号が入力される
ノッチフィルタ７と、このノッチフィルタ７を通過した
信号を検出する検出手段８とからなる。
【００２１】ＭＲヘッド２は、磁界が印加されることに
よって抵抗率が変化する磁気抵抗効果素子を備えた磁気
ヘッドである。このＭＲヘッド２は、再生時において、
一定の直流電流が供給された状態で磁界が印加され、抵
抗値が変化することによる電圧変化が検出されることに
よって信号の再生を行う。
よって抵抗率が変化する磁気抵抗効果素子を備えた磁気
ヘッドである。このＭＲヘッド２は、再生時において、
一定の直流電流が供給された状態で磁界が印加され、抵
抗値が変化することによる電圧変化が検出されることに
よって信号の再生を行う。
【００２２】定電流源３は、ＭＲヘッド２にセンス電流
を供給させるためのものである。この定電流源３は、上
述したＭＲヘッド２の再生時において、常時、所定値の
電流をＭＲヘッド２に供給する。
を供給させるためのものである。この定電流源３は、上
述したＭＲヘッド２の再生時において、常時、所定値の
電流をＭＲヘッド２に供給する。
【００２３】磁界発生手段４は、ＭＲヘッド２の検査時
において、ＭＲヘッド２に対して所定の単一周波数の磁
界を印加する。この磁界発生手段４は、図１に示すよう
に、例えば所定の周波数の電圧を発生させる発振器４ａ
と、発振器４ａから出力された電圧が印加されるコイル
４ｂからなる。このように構成された磁界発生手段４
は、発振器４ａによって正弦波又は余弦波の単一周波数
の電圧を発生させ、この発振器４ａからの電圧をコイル
４ｂに印加することによって、ＭＲヘッド２に単一周波
数を有する磁界を印加する。
において、ＭＲヘッド２に対して所定の単一周波数の磁
界を印加する。この磁界発生手段４は、図１に示すよう
に、例えば所定の周波数の電圧を発生させる発振器４ａ
と、発振器４ａから出力された電圧が印加されるコイル
４ｂからなる。このように構成された磁界発生手段４
は、発振器４ａによって正弦波又は余弦波の単一周波数
の電圧を発生させ、この発振器４ａからの電圧をコイル
４ｂに印加することによって、ＭＲヘッド２に単一周波
数を有する磁界を印加する。
【００２４】増幅アンプ５は、ＭＲヘッド２によって検
出された信号を増幅させるためのものである。この増幅
アンプ５は、ＭＲヘッド２に供給されている電流と、Ｍ
Ｒ素子の抵抗値との積によって決定する電圧を増幅させ
るアンプである。
出された信号を増幅させるためのものである。この増幅
アンプ５は、ＭＲヘッド２に供給されている電流と、Ｍ
Ｒ素子の抵抗値との積によって決定する電圧を増幅させ
るアンプである。
【００２５】微分回路６は、増幅アンプ５を通過した信
号が入力され、この信号を微分処理するものである。こ
の微分回路６は、増幅アンプ５を通過した信号が入力さ
れる。そして、この微分回路６は、図１に示すように、
抵抗，コンデンサ，オペアンプ等によって構成され、こ
れらによって入力された信号に対して微分処理を行う。
この微分回路６は、入力される信号の周波数によってコ
ンデンサのリアクタンスが変化し、オペアンプの増幅度
を変化させて入力された信号を微分する。
号が入力され、この信号を微分処理するものである。こ
の微分回路６は、増幅アンプ５を通過した信号が入力さ
れる。そして、この微分回路６は、図１に示すように、
抵抗，コンデンサ，オペアンプ等によって構成され、こ
れらによって入力された信号に対して微分処理を行う。
この微分回路６は、入力される信号の周波数によってコ
ンデンサのリアクタンスが変化し、オペアンプの増幅度
を変化させて入力された信号を微分する。
【００２６】ノッチフィルタ７は、所定の周波数の信号
を阻止するための回路である。このノッチフィルタ７
は、微分回路６を通過した信号が入力されて、所定の周
波数の信号を阻止するものである。本実施の形態におい
ては、図１に示すように抵抗，コンデンサ，オペアンプ
等により構成することによって所定の周波数の信号を阻
止するフィルタを構成している。このノッチフィルタ７
は、例えば正弦波が入力されると、位相がずれて出力す
るようになっている。このノッチフィルタ７は、微分回
路６を通過した信号のうち、ヘッド出力成分を阻止し
て、バルクハウゼンノイズ成分のみを出力する。すなわ
ち、このノッチフィルタ７は、ヘッド出力のみに相当す
る信号成分を阻止し、バルクハウゼンノイズ成分のみを
残す。すなわち、このノッチフィルタ７は、発振器４ｂ
から出力された電圧の周波数とほぼ同じ周波数の信号成
分を阻止する。
を阻止するための回路である。このノッチフィルタ７
は、微分回路６を通過した信号が入力されて、所定の周
波数の信号を阻止するものである。本実施の形態におい
ては、図１に示すように抵抗，コンデンサ，オペアンプ
等により構成することによって所定の周波数の信号を阻
止するフィルタを構成している。このノッチフィルタ７
は、例えば正弦波が入力されると、位相がずれて出力す
るようになっている。このノッチフィルタ７は、微分回
路６を通過した信号のうち、ヘッド出力成分を阻止し
て、バルクハウゼンノイズ成分のみを出力する。すなわ
ち、このノッチフィルタ７は、ヘッド出力のみに相当す
る信号成分を阻止し、バルクハウゼンノイズ成分のみを
残す。すなわち、このノッチフィルタ７は、発振器４ｂ
から出力された電圧の周波数とほぼ同じ周波数の信号成
分を阻止する。
【００２７】検出手段８は、ノッチフィルタ７を通過し
たバルクハウゼンノイズ成分の信号のみが入力されて、
バルクハウゼンノイズ成分を定量化する。なお、本実施
の形態において、この検出手段８は、オシロスコープで
構成され、ノッチフィルタ７を通過した信号を表示する
ようになっている。
たバルクハウゼンノイズ成分の信号のみが入力されて、
バルクハウゼンノイズ成分を定量化する。なお、本実施
の形態において、この検出手段８は、オシロスコープで
構成され、ノッチフィルタ７を通過した信号を表示する
ようになっている。
【００２８】つぎに、このように構成されたＭＲヘッド
の検査装置１によってＭＲヘッド２を検査する方法につ
いて説明する。
の検査装置１によってＭＲヘッド２を検査する方法につ
いて説明する。
【００２９】このＭＲヘッド２の検査方法は、図２に示
したフローチャートのように、上述の磁界発生手段４に
よって磁界を発生させる磁界発生工程Ｓ−１と、この磁
界発生工程Ｓ−１で発生させた磁界をＭＲヘッド２によ
って検出する信号検出工程Ｓ−２と、この信号検出工程
Ｓ−２によって検出された信号を増幅させる増幅工程Ｓ
−３と、この増幅工程Ｓ−３を経た信号を微分回路６に
よって微分する微分工程Ｓ−４と、ノッチフィルタ７に
よって所定の周波数の信号を阻止してバルクハウゼンノ
イズを検出するノイズ検出工程Ｓ−５とを有する。な
お、本実施の形態にかかるＭＲヘッド２の検査方法で
は、前提として、定電流源３によってＭＲヘッド２に所
定値のセンス電流を供給しておく。
したフローチャートのように、上述の磁界発生手段４に
よって磁界を発生させる磁界発生工程Ｓ−１と、この磁
界発生工程Ｓ−１で発生させた磁界をＭＲヘッド２によ
って検出する信号検出工程Ｓ−２と、この信号検出工程
Ｓ−２によって検出された信号を増幅させる増幅工程Ｓ
−３と、この増幅工程Ｓ−３を経た信号を微分回路６に
よって微分する微分工程Ｓ−４と、ノッチフィルタ７に
よって所定の周波数の信号を阻止してバルクハウゼンノ
イズを検出するノイズ検出工程Ｓ−５とを有する。な
お、本実施の形態にかかるＭＲヘッド２の検査方法で
は、前提として、定電流源３によってＭＲヘッド２に所
定値のセンス電流を供給しておく。
【００３０】磁界発生工程Ｓ−１は、上述の磁界発生手
段４によって磁界を発生させる工程である。この磁界発
生工程Ｓ−１は、先ず、発振器４ｂにより所定の周波数
を有する電圧を出力させる。そして、発振器４ａから出
力された電圧をコイル４ｂに入力し、このコイル４ｂか
ら発生する磁界を検査対象であるＭＲヘッド２に印加す
る。ここで、この発振器４ａは、正弦波または余弦波の
単一周波数を有する電圧をコイル４ｂに印加する。ま
た、磁界発生手段４によってＭＲヘッド２に印加する磁
界は、後述するノイズ検出工程Ｓ−５において、処理が
行い易い磁界を印加する。
段４によって磁界を発生させる工程である。この磁界発
生工程Ｓ−１は、先ず、発振器４ｂにより所定の周波数
を有する電圧を出力させる。そして、発振器４ａから出
力された電圧をコイル４ｂに入力し、このコイル４ｂか
ら発生する磁界を検査対象であるＭＲヘッド２に印加す
る。ここで、この発振器４ａは、正弦波または余弦波の
単一周波数を有する電圧をコイル４ｂに印加する。ま
た、磁界発生手段４によってＭＲヘッド２に印加する磁
界は、後述するノイズ検出工程Ｓ−５において、処理が
行い易い磁界を印加する。
【００３１】信号検出工程Ｓ−２は、上述の磁界発生手
段４によって磁界が印加されたＭＲヘッド２からの再生
出力を検出する工程である。ここで、ＭＲヘッド２は、
磁界発生手段４から印加された磁界に応じた再生出力を
出力する。このとき、ＭＲヘッド２による再生出力は、
バイアスポイントが適切であれば抵抗値が磁界に対して
線形に動作するので、磁界発生手段４によって印加した
磁界とほぼ対応した再生出力となる。なお、ＭＲヘッド
２によって出力された再生出力は、ヘッド出力成分と、
バルクハウゼンノイズ成分とを含んだ出力となってい
る。ここで、この信号検出工程Ｓ−２によって検出され
た信号の例を図３（ａ）及び図４に（ａ）示す。なお、
図３及び図４，後述する図６及び図７は、例えばオシロ
スコープによって検出した電圧波形を示した図である。
段４によって磁界が印加されたＭＲヘッド２からの再生
出力を検出する工程である。ここで、ＭＲヘッド２は、
磁界発生手段４から印加された磁界に応じた再生出力を
出力する。このとき、ＭＲヘッド２による再生出力は、
バイアスポイントが適切であれば抵抗値が磁界に対して
線形に動作するので、磁界発生手段４によって印加した
磁界とほぼ対応した再生出力となる。なお、ＭＲヘッド
２によって出力された再生出力は、ヘッド出力成分と、
バルクハウゼンノイズ成分とを含んだ出力となってい
る。ここで、この信号検出工程Ｓ−２によって検出され
た信号の例を図３（ａ）及び図４に（ａ）示す。なお、
図３及び図４，後述する図６及び図７は、例えばオシロ
スコープによって検出した電圧波形を示した図である。
【００３２】図３（ａ）は、バルクハウゼンノイズのあ
るＭＲヘッド２から検出された信号の例であり、ヘッド
出力成分に対応する波形にバルクハウゼンノイズ成分に
対応した歪９を含んでいる。一方、図４（ａ）は、バル
クハウゼンノイズのないＭＲヘッド２から検出された信
号の例であり、ヘッド出力成分に対応する波形にバルク
ハウゼンノイズ成分に対応した歪を生じていない。
るＭＲヘッド２から検出された信号の例であり、ヘッド
出力成分に対応する波形にバルクハウゼンノイズ成分に
対応した歪９を含んでいる。一方、図４（ａ）は、バル
クハウゼンノイズのないＭＲヘッド２から検出された信
号の例であり、ヘッド出力成分に対応する波形にバルク
ハウゼンノイズ成分に対応した歪を生じていない。
【００３３】増幅工程Ｓ−３は、上述の信号検出工程Ｓ
−２で検出された信号を増幅アンプ５により増幅させる
工程である。この増幅工程Ｓ−３で増幅された信号は、
微分回路６に入力され、微分工程Ｓ−４に進む。
−２で検出された信号を増幅アンプ５により増幅させる
工程である。この増幅工程Ｓ−３で増幅された信号は、
微分回路６に入力され、微分工程Ｓ−４に進む。
【００３４】微分工程Ｓ−４は、増幅アンプ５からの信
号に対して微分処理を行う工程である。ここで、微分回
路６を通過した信号の波形は、ＭＲヘッド２に入力した
波形との位相が約９０度ずれて出力される。なお、本実
施の形態においては、図３（ａ）に示した信号に対して
微分処理を施した信号を図３（ｂ）に示す。また、図４
（ａ）に示した信号に対して微分処理を施した信号を図
４（ｂ）に示す。
号に対して微分処理を行う工程である。ここで、微分回
路６を通過した信号の波形は、ＭＲヘッド２に入力した
波形との位相が約９０度ずれて出力される。なお、本実
施の形態においては、図３（ａ）に示した信号に対して
微分処理を施した信号を図３（ｂ）に示す。また、図４
（ａ）に示した信号に対して微分処理を施した信号を図
４（ｂ）に示す。
【００３５】この微分回路６を通過した信号の波形は、
ＭＲヘッド２にバルクハウゼンノイズがある場合におい
て、図３（ｂ）に示すように、バルクハウゼンノイズ成
分に対応したパルス状の波形１０が生じている。一方、
ＭＲヘッド２にバルクハウゼンノイズがない場合におい
ては、図４（ｂ）に示すように、バルクハウゼンノイズ
成分に対応したパルス状の波形を生じていない。
ＭＲヘッド２にバルクハウゼンノイズがある場合におい
て、図３（ｂ）に示すように、バルクハウゼンノイズ成
分に対応したパルス状の波形１０が生じている。一方、
ＭＲヘッド２にバルクハウゼンノイズがない場合におい
ては、図４（ｂ）に示すように、バルクハウゼンノイズ
成分に対応したパルス状の波形を生じていない。
【００３６】ここで、比較例として、図５に磁気記録媒
体に記録されている信号をＭＲヘッドによって検出した
後、微分回路を通過させた信号を示す。なお、図５
（ａ）は、ＭＲヘッド２によって検出された信号を示し
た図である。また、図５（ｂ）は、図５（ａ）に示した
信号に対して微分回路によって微分処理を行った図であ
る。この図５によれば、ＭＲヘッドの出力自体に歪が生
じているために、微分回路を通過させた場合、歪が更に
大きくなっている。したがって、磁気記録媒体からＭＲ
ヘッドによって検出する場合においては、微分処理を行
った信号に対してノッチフィルタによりヘッド出力成分
のみを阻止することが困難となる。したがって、磁気記
録媒体からＭＲヘッドによって検出した信号は、バルク
ハウゼンノイズの定量化をすることが困難である。
体に記録されている信号をＭＲヘッドによって検出した
後、微分回路を通過させた信号を示す。なお、図５
（ａ）は、ＭＲヘッド２によって検出された信号を示し
た図である。また、図５（ｂ）は、図５（ａ）に示した
信号に対して微分回路によって微分処理を行った図であ
る。この図５によれば、ＭＲヘッドの出力自体に歪が生
じているために、微分回路を通過させた場合、歪が更に
大きくなっている。したがって、磁気記録媒体からＭＲ
ヘッドによって検出する場合においては、微分処理を行
った信号に対してノッチフィルタによりヘッド出力成分
のみを阻止することが困難となる。したがって、磁気記
録媒体からＭＲヘッドによって検出した信号は、バルク
ハウゼンノイズの定量化をすることが困難である。
【００３７】次に、微分回路６を通過した信号をノッチ
フィルタ７に入力させ、所定の周波数の信号を阻止し
て、バルクハウゼンノイズを検出するノイズ検出工程Ｓ
−５に進む。ここで、ノッチフィルタ７は、ＭＲヘッド
２からの再生出力のうち、バルクハウゼンノイズ成分の
みを残すように、ヘッド出力成分に相当する周波数成分
を阻止する。したがって、このノッチフィルタ７を通過
した信号は、図６（ｂ）及び図７（ｂ）に示すようにな
る。
フィルタ７に入力させ、所定の周波数の信号を阻止し
て、バルクハウゼンノイズを検出するノイズ検出工程Ｓ
−５に進む。ここで、ノッチフィルタ７は、ＭＲヘッド
２からの再生出力のうち、バルクハウゼンノイズ成分の
みを残すように、ヘッド出力成分に相当する周波数成分
を阻止する。したがって、このノッチフィルタ７を通過
した信号は、図６（ｂ）及び図７（ｂ）に示すようにな
る。
【００３８】なお、図６は、ＭＲヘッド２にバルクハウ
ゼンノイズが生じている場合におけるＭＲヘッド２の再
生出力を図６（ａ）に示し、この図６（ａ）に示した信
号を微分回路６及びノッチフィルタ７を通過させたとき
の信号波形を図６（ｂ）に示した図である。また、図７
は、ＭＲヘッド２にバルクハウゼンノイズが生じていな
い場合におけるＭＲヘッド２の再生出力を図７（ａ）に
示し、この図７（ａ）に示した信号を微分回路６及びノ
ッチフィルタ７を通過させたときの信号波形を図７
（ｂ）に示した図である。
ゼンノイズが生じている場合におけるＭＲヘッド２の再
生出力を図６（ａ）に示し、この図６（ａ）に示した信
号を微分回路６及びノッチフィルタ７を通過させたとき
の信号波形を図６（ｂ）に示した図である。また、図７
は、ＭＲヘッド２にバルクハウゼンノイズが生じていな
い場合におけるＭＲヘッド２の再生出力を図７（ａ）に
示し、この図７（ａ）に示した信号を微分回路６及びノ
ッチフィルタ７を通過させたときの信号波形を図７
（ｂ）に示した図である。
【００３９】図６（ｂ）によれば、ＭＲヘッド２の再生
出力のうち、バルクハウゼンノイズ成分に対応した信号
がパルス状の波形１０として生じている。一方、図７
（ｂ）によれば、ＭＲヘッド２にバルクハウゼンノイズ
がないので、バルクハウゼンノイズ成分に対応したパル
ス状の波形がない状態になっている。また、図６（ｂ）
に示したパルス状の波形の振幅Ａが大きくなる程、ＭＲ
ヘッド２に生じているバルクハウゼンノイズが大きいこ
ととなる。
出力のうち、バルクハウゼンノイズ成分に対応した信号
がパルス状の波形１０として生じている。一方、図７
（ｂ）によれば、ＭＲヘッド２にバルクハウゼンノイズ
がないので、バルクハウゼンノイズ成分に対応したパル
ス状の波形がない状態になっている。また、図６（ｂ）
に示したパルス状の波形の振幅Ａが大きくなる程、ＭＲ
ヘッド２に生じているバルクハウゼンノイズが大きいこ
ととなる。
【００４０】このようなＭＲヘッド２の検査方法は、発
振器４ａとコイル４ｂによって構成される磁界発生手段
４からの磁界をＭＲヘッド２に印加し、増幅アンプ５、
微分回路６、ノッチフィルタ７を通過させることによっ
てＭＲヘッド２の再生出力のうち、バルクハウゼンノイ
ズ成分に対応した信号のみを検出することが可能であ
る。したがって、このＭＲヘッド２の検査方法によれ
ば、ノッチフィルタ７を通過した後の出力波形のパルス
状の振幅Ａを測定することにより、ＭＲヘッド２のバル
クハウゼンノイズを定量化することが可能である。
振器４ａとコイル４ｂによって構成される磁界発生手段
４からの磁界をＭＲヘッド２に印加し、増幅アンプ５、
微分回路６、ノッチフィルタ７を通過させることによっ
てＭＲヘッド２の再生出力のうち、バルクハウゼンノイ
ズ成分に対応した信号のみを検出することが可能であ
る。したがって、このＭＲヘッド２の検査方法によれ
ば、ノッチフィルタ７を通過した後の出力波形のパルス
状の振幅Ａを測定することにより、ＭＲヘッド２のバル
クハウゼンノイズを定量化することが可能である。
【００４１】なお、本実施の形態にかかるＭＲヘッドの
検査方法は、例えばフレキシブルディスクやハードディ
スク等のような磁気ディスクを記録媒体とする記録再生
装置や、あらゆるＭＲヘッドの検査方法として適用可能
であり、ＱＩＣ(Quarter Inch Cartridge)等のような磁
気テープを記録媒体とする記録再生装置に使用されるＭ
Ｒヘッドの検査方法として適用可能である。
検査方法は、例えばフレキシブルディスクやハードディ
スク等のような磁気ディスクを記録媒体とする記録再生
装置や、あらゆるＭＲヘッドの検査方法として適用可能
であり、ＱＩＣ(Quarter Inch Cartridge)等のような磁
気テープを記録媒体とする記録再生装置に使用されるＭ
Ｒヘッドの検査方法として適用可能である。
【００４２】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明にか
かる磁気抵抗効果型磁気ヘッドの検査方法は、例えば発
振器とコイル等からなる磁界発生手段から発生した磁界
を磁気抵抗効果型磁気ヘッドに印加し、磁気抵抗効果型
磁気ヘッドの再生出力に対して検査を行うので、磁気抵
抗効果型磁気ヘッドに対して歪のない信号を入力して、
磁気抵抗効果型磁気ヘッドのバルクハウゼンノイズを検
出することができる。したがって、このような磁気抵抗
効果型磁気ヘッドの検査方法は、磁気抵抗効果型磁気ヘ
ッドのバルクハウゼンノイズを定量的に検出し、磁気抵
抗効果型磁気ヘッドにおけるバルクハウゼンノイズの評
価を容易に行うことが可能となる。
かる磁気抵抗効果型磁気ヘッドの検査方法は、例えば発
振器とコイル等からなる磁界発生手段から発生した磁界
を磁気抵抗効果型磁気ヘッドに印加し、磁気抵抗効果型
磁気ヘッドの再生出力に対して検査を行うので、磁気抵
抗効果型磁気ヘッドに対して歪のない信号を入力して、
磁気抵抗効果型磁気ヘッドのバルクハウゼンノイズを検
出することができる。したがって、このような磁気抵抗
効果型磁気ヘッドの検査方法は、磁気抵抗効果型磁気ヘ
ッドのバルクハウゼンノイズを定量的に検出し、磁気抵
抗効果型磁気ヘッドにおけるバルクハウゼンノイズの評
価を容易に行うことが可能となる。
【図１】本発明を適用したＭＲヘッドの検査方法に使用
されるＭＲヘッドの検査装置の一例を示す図である。
されるＭＲヘッドの検査装置の一例を示す図である。
【図２】本発明にかかる磁気抵抗効果型磁気ヘッドの検
査方法を示す工程図である。
査方法を示す工程図である。
【図３】ＭＲヘッドにバルクハウゼンノイズがあるとき
のＭＲヘッドからの再生出力の波形と、この再生出力波
形を微分回路に通過させた後の波形とを示す図である。
のＭＲヘッドからの再生出力の波形と、この再生出力波
形を微分回路に通過させた後の波形とを示す図である。
【図４】ＭＲヘッドにバルクハウゼンノイズがないとき
のＭＲヘッドからの再生出力波形と、この再生出力波形
を微分回路に通過させた後の波形とを示す図である。
のＭＲヘッドからの再生出力波形と、この再生出力波形
を微分回路に通過させた後の波形とを示す図である。
【図５】磁気記録媒体からの信号を検出したときのＭＲ
ヘッドからの再生出力波形と、の再生出力波形を微分回
路に通過させた後の波形とを示す図である。
ヘッドからの再生出力波形と、の再生出力波形を微分回
路に通過させた後の波形とを示す図である。
【図６】ＭＲヘッドにバルクハウゼンノイズがあるとき
のＭＲヘッドからの再生出力波形と、この再生出力波形
を微分回路及びノッチフィルタを通過させた後の波形と
を示す図である。
のＭＲヘッドからの再生出力波形と、この再生出力波形
を微分回路及びノッチフィルタを通過させた後の波形と
を示す図である。
【図７】ＭＲヘッドにバルクハウゼンノイズがないとき
のＭＲヘッドからの再生出力波形と、この再生出力波形
を微分回路及びノッチフィルタを通過させた後の波形と
を示す図である。
のＭＲヘッドからの再生出力波形と、この再生出力波形
を微分回路及びノッチフィルタを通過させた後の波形と
を示す図である。
１ ＭＲヘッドの検査装置、２ ＭＲヘッド、３ 定電
流源、４ 磁界発生手段、５ 増幅アンプ、６ 微分回
路、７ ノッチフィルタ、８ 検出手段
流源、４ 磁界発生手段、５ 増幅アンプ、６ 微分回
路、７ ノッチフィルタ、８ 検出手段
Claims (4)
- 【請求項１】 磁界が印加されることにより、抵抗率が
変化する磁気抵抗効果素子を備えた磁気抵抗効果型磁気
ヘッドを検査する際、 磁界発生手段により磁界を発生させる工程と、 上記磁界発生手段からの磁界を磁気抵抗効果型磁気ヘッ
ドにより検出してバルクハウゼンノイズを検査する検査
工程とを有することを特徴とする磁気抵抗効果型磁気ヘ
ッドの検査方法。 - 【請求項２】 上記磁界発生手段は、所定の周波数の交
流磁界を発生させることを特徴とする請求項１記載の磁
気抵抗効果型磁気ヘッドの検査方法。 - 【請求項３】 上記磁界発生手段は、発振器により所定
の周波数の交流電圧をコイルに印加することにより所定
の周波数の交流磁界を発生させることを特徴とする請求
項１記載の磁気抵抗効果型磁気ヘッドの検査方法。 - 【請求項４】 上記検査工程は、磁気抵抗効果型磁気ヘ
ッドにより検出された磁界による信号を検出する信号検
出工程と、上記信号検出工程によって検出された信号を
微分する微分工程と、上記微分工程により微分された信
号に対して所定の周波数を阻止した信号を検出する工程
とを有することを特徴とする請求項１記載の磁気抵抗効
果型磁気ヘッドの検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34611396A JPH10188230A (ja) | 1996-12-25 | 1996-12-25 | 磁気抵抗効果型磁気ヘッドの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34611396A JPH10188230A (ja) | 1996-12-25 | 1996-12-25 | 磁気抵抗効果型磁気ヘッドの検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10188230A true JPH10188230A (ja) | 1998-07-21 |
Family
ID=18381233
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34611396A Withdrawn JPH10188230A (ja) | 1996-12-25 | 1996-12-25 | 磁気抵抗効果型磁気ヘッドの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10188230A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6538430B2 (en) | 2001-08-23 | 2003-03-25 | International Business Machines Corporation | Screening test for transverse magnetic-field excited noise in giant magnetoresistive heads |
| KR100416620B1 (ko) * | 2001-04-26 | 2004-02-05 | 삼성전자주식회사 | 자기저항 헤드로부터의 신호 불안정성에 파생된 접촉을검출하는 방법 |
| KR100468773B1 (ko) * | 2001-11-21 | 2005-01-29 | 삼성전자주식회사 | 자기-저항성 헤드 정전기 파핑 검출 시스템 및 방법 |
-
1996
- 1996-12-25 JP JP34611396A patent/JPH10188230A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100416620B1 (ko) * | 2001-04-26 | 2004-02-05 | 삼성전자주식회사 | 자기저항 헤드로부터의 신호 불안정성에 파생된 접촉을검출하는 방법 |
| US6538430B2 (en) | 2001-08-23 | 2003-03-25 | International Business Machines Corporation | Screening test for transverse magnetic-field excited noise in giant magnetoresistive heads |
| KR100468773B1 (ko) * | 2001-11-21 | 2005-01-29 | 삼성전자주식회사 | 자기-저항성 헤드 정전기 파핑 검출 시스템 및 방법 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040302 |