JPH10197911A - 振れ補正装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 補正手段の駆動精度の劣化を無くす。 【解決手段】 補正手段７５を駆動する駆動手段７６
ｐ，７６ｙの推力方向６１ｐ，６１ｙと案内手段７１
１，７５ｄの構成要素である支持軸７１１による案内方
向６２ｐ，６２ｙを４５度傾ける事で、補正手段駆動時
には前記支持軸を軸受部７５ｄに押し付け（プリチャー
ジし）、前記支持枠と軸受部との間で生じていたこじり
を無くすようにしている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、該装置が搭載され
る光学機器に加わる振れに起因する像振れを補正するカ
メラ等に配置される振れ補正装置の改良に関するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】現在のカメラは露出決定やピント合せ等
の撮影にとって重要な作業は全て自動化されているた
め、カメラ操作に未熟な人でも撮影失敗を起す可能性は
非常に少なくなっている。

【０００３】また、最近では、カメラに加わる手振れを
防ぐシステムも研究されており、撮影者の撮影失敗を誘
発する要因は殆ど無くなってきている。

【０００４】ここで、手振れを防ぐシステムについて簡
単に説明する。

【０００５】撮影時のカメラの手振れは、周波数として
通常１Ｈｚ乃至１２Ｈｚの振動であるが、シャッタのレ
リーズ時点においてこのような手振れを起していても像
振れの無い写真を撮影可能とする為の基本的な考えとし
て、上記手振れによるカメラの振動を検出し、その検出
値に応じて補正レンズを変位させてやらなければならな
い。従って、カメラの振れが生じても像振れを生じない
写真を撮影できることを達成するためには、第１にカメ
ラの振動を正確に検出し、第２に手振れによる光軸変化
を補正することが必要となる。

【０００６】この振動（カメラ振れ）の検出は、原理的
にいえば、角加速度，角速度，角変位等を検出する振動
検出手段と、該センサの出力信号を電気的或は機械的に
積分して角変位を出力するカメラ振れ検出手段とをカメ
ラに搭載することによって行うことができる。そして、
この検出情報に基づいて撮影光軸を偏心させる補正光学
装置を駆動させることにより、像振れ抑制が可能とな
る。

【０００７】ここで、振動検出手段を用いた防振システ
ムについて、図６を用いてその概要を説明する。

【０００８】図６の例は、図示矢印８１方向のカメラ縦
振れ８１ｐ及び横振れ８１ｙに由来する像振れを抑制す
るシステムの図である。

【０００９】同図中、８２はレンズ鏡筒、８３ｐ，８３
ｙは各々カメラ縦振れ振動、カメラ横振れ振動を検出す
る振動検出手段で、それぞれの振動検出方向を８４ｐ，
８４ｙで示してある。８５は補正光学装置（８６ｐ，８
６ｙは各々補正光学装置８５に推力を与えるコイル、８
６ｐ，８６ｙは補正手段８５の位置を検出する位置検出
素子）であり、該補正光学装置８５には後述する位置制
御ループを設けており、振動検出手段８３ｐ，８３ｙの
出力を目標値として駆動され、像面８８での安定を確保
する。

【００１０】図７はかかる目的に好的に用いられる振れ
補正装置（詳細は後述するが、補正手段や該補正手段を
支持したり、係止したりする手段より成る）の構造を示
す分解斜視図であり、以下図７〜図１６を参照しつつ、
この構造について説明する。

【００１１】地板７１（図１０に拡大図あり）の背面突
出耳７１ａ（３ケ所（１ケ所は隠れて見えない））は不
図示の鏡筒に嵌合し、公知の鏡筒コロ等が孔７１ｂにネ
ジ止めされ、鏡筒に固定される。

【００１２】磁性体であり光択メッキが施された第２ヨ
ーク７２は、孔７２ａを貫通するネジで地板７１の孔７
１ｃにネジ止めされる。又、第２ヨーク７２にはネオジ
ウムマグネット等の永久磁石（シフト用マグネット）７
３が磁気的に吸着されている。なお、各永久磁石７３の
磁化方向は図７に図示した矢印７３ａの方向である。

【００１３】補正レンズ７４がＣリング等で固定された
支持枠７５（図１１に拡大図あり）にはコイル７６ｐ，
７６ｙ（シフト用コイル）が強引に押し込まれて接合
（以下、この事を「パッチン接着」と記す）され（図１
１は未接着）、又、ＩＲＥＤ等の投光素子７７ｐ，７７
ｙも支持枠７５の背面に接着され、スリット７５ａｐ，
７５ａｙを通してその射出光が後述するＰＳＤ等の位置
検出素子７８ｐ，７８ｙに入射する。

【００１４】支持枠７５の孔７５ｂ（３ケ所）にはＰＯ
Ｍ（ポリアセタール樹脂）等の先端球状の支持球７９
ａ，７９ｂ及びチャージバネ７１０が挿入され（図８及
び図１０も参照）、支持球７９ａが支持枠７５に熱カシ
メされ固定される（支持球７９ｂはチャージバネ７１０
のバネ力に逆らって孔７５ｂの延出方向に摺動可能であ
る）。

【００１５】上記図８は振れ補正装置の組立後の横断面
図であり、支持枠７５の孔７５ｂに矢印７９ｃ方向に支
持球７９ｂ，チャージしたチャージバネ７１０，支持球
７９ａの順に挿入してゆき（支持球７９ａ，７９ｂは同
形状の部品）、最後に孔７５ｂの周端部７５ｃを熱カシ
メして支持球７９ａの抜け止めを行う。

【００１６】孔７５ｂの図１０と直交する方向の断面図
を図９（ａ）に示し、又図９（ａ）の断面図を矢印７９
ｃ方向より見た平面図を図９（ｂ）に示しており、図９
（ｂ）の符合Ａ〜Ｄに示す範囲の深さを図９（ａ）のＡ
〜Ｄに示す。

【００１７】ここで、支持球７９ａの羽根部７９ａａの
後端部は深さＡ面の範囲で受けられ規制される為、周端
部７５ａを熱カシメする事で支持球７９ａは支持枠７５
に固定される。

【００１８】支持球７９ｂの羽根部７９ｂａの先端部は
深さＢ面の範囲で受けられる為に、該支持球７９ｂがチ
ャージバネ７１０のチャージバネ力で孔７５ｂより矢印
７９ｃの方向に抜けてしまう事はない。

【００１９】勿論振れ補正装置の組立が終了すると支持
球７９ｂは図１７に示す様に第２ヨーク７２に受けられ
る為、支持枠７５より抜け出る事はなくなるが、組立性
を考慮して抜け止め範囲Ｂ面を設けている。

【００２０】図８及び図９に示す支持枠７５の孔７５ｂ
の形状は、該支持枠７５を成形で作る場合においても複
雑な内径スライド型を必要とせず、矢印７９ｃと反対側
に型を抜く単純な２分割型で成形可能な為、その分寸法
精度を厳しく設定出来る。

【００２１】この様に、支持球７９ａ，７９ｂが同一部
品となっている為に部品コストが下がるばかりでなく、
組立ミスが無く、部品管理上も有利である。

【００２２】上記支持枠７５の軸受部７５ｄには例えば
フッソ系のグリスを塗布し、ここにＬ字形の軸７１１
（非磁性のステンレス材）を挿入し（図７参照）、Ｌ字
軸７１１の他端は地板７１に形成された軸受部７１ｄ
（同様にグリスを塗布し）に挿入し、３カ所の支持球７
９ｂを共に第２ヨーク７２に乗せて支持枠７５を地板７
１内に収める。

【００２３】次に、図７に示す第１ヨーク７１２の位置
決め孔７１２ａ（３ケ所）を地板７１の図９に示すピン
７１ｆ（３ケ所）に嵌合させ、同じく図１０に示す受け
面７１ｅ（５ケ所）にて第１ヨーク７１２を受けて地板
７１に対し磁気的に結合する（永久磁石７３の磁力によ
り）。

【００２４】これにより、第１ヨーク７１２の背面が支
持球７９ａと当接し、図８に示す様に支持枠７５は第１
ヨーク７１２と第２ヨーク７２にて挟持され、光軸方向
の位置決めが為される。

【００２５】支持球７９ａ，７９ｂと第１ヨーク７１
２，第２ヨーク７２の互いの当接面にもフッソ系グリス
が塗布してあり、支持枠７５は地板７１に対して光軸と
直交する平面内にて自由に摺動可能である。

【００２６】上記Ｌ字軸７１１は支持枠７５が地板７１
に対し矢印７１３ｐ，７１３ｙ方向にのみ摺動可能に支
持していることになり、これにより支持枠７５の地板７
１に対する光軸回りの相対的回転（ローリング）を規制
している。

【００２７】尚、前記Ｌ字軸７１１と軸受部７１ｄ，７
５ｄの嵌合ガタは光軸方向には大きく設定しており、支
持球７９ａ，７９ｂと第１ヨーク７１２，第２ヨーク７
２の挾持による光軸方向規制と重複嵌合してしまうこと
を防いでいる。

【００２８】前記第１ヨーク７１２の表面には絶縁用シ
ート７１４が被せられ、その上に複数のＩＣを有するハ
ード基板７１５（位置検出素子７８ｐ，７８ｙ、出力増
幅用ＩＣ，コイル７６ｐ，７６ｙ駆動用ＩＣ等）が位置
決め孔７１５ａ（２ケ所）を地板７１の図２０に示すピ
ン７１ｈ（２ケ所）に嵌合され、孔７１５ｂ，第１ヨー
ク７１２の孔７１２ｂとともに地板７１の孔７１ｇにネ
ジ結合される。

【００２９】ここで、ハード基板７１５には位置検出素
子７８ｐ，７８ｙが工具にて位置決めされて半田付けさ
れ、又信号伝達用のフレキシブル基板７１６も面７１６
ａがハード基板７１５の背面に破線で囲む範囲７１５ｃ
（図７参照）に熱により圧着される。

【００３０】前記フレキシブル基板７１６から光軸と直
交する平面方向に一対の腕７１６ｂｐ，７１６ｂｙが延
出しており、各々支持枠７５の引っ掛け部７５ｅｐ，７
５ｅｙ（図１１参照）に引っ掛けられ、投光素子７７
ｐ，７７ｙの端子及びコイル７６ｐ，７６ｙの端子が半
田付けされる。

【００３１】これにより、ＩＲＥＤ等の投光素子７７
ｐ，７７ｙ、コイル７６ｐ，７６ｙの駆動はハード基板
７１５よりフレキシブル基板７１６を介在して行われる
ことになる。

【００３２】前記フレキシブル基板７１６の腕部７１６
ｂｐ，７１６ｂｙ（図１１参照）には各々屈折部７１６
ｃｐ，７１６ｃｙを有しており、この屈折部の弾性によ
り支持枠７５が光軸と直交する平面内に動き回る事に対
する該腕部７１６ｂｐ，７１６ｂｙの負荷を低減してい
る。

【００３３】前記第１ヨーク７１２は型抜きによる突出
面７１２ｃを有し、該突出面７１２ｃは絶縁シート７１
４の孔７１４ａを通り、ハード基板７１５と直接接触し
ている。この接触面のハード基板７１５側にはアース
（ＧＮＤ：グランド）パターンが形成されており、ハー
ド基板７１５を地板にネジ結合する事で第１ヨーク７１
２はアースされ、アンテナになってハード基板７１５に
ノイズを与える事を無くしている。

【００３４】図７に示すマスク７１７は地板７１のピン
７１ｈに位置決めされ、前記ハード基板７１５上に両面
テープにて固定される。

【００３５】前記地板７１には永久磁石貫通孔７１ｉ
（図７，図１０参照）が開けられており、ここから第２
ヨーク７２の背面が露出している。そして、この貫通孔
７１ｉに永久磁石７１８（ロック用マグネット）が組み
込まれ、第２ヨーク７２と磁気結合している（図８参
照）。

【００３６】ロックリング７１９（図７，図８，図１２
参照）にはコイル７２０（ロック用コイル）が接着さ
れ、又ロックリング７１９の耳部７１９ａの背面には軸
受７１９ｂ（図１３参照）があり、アマーチュアピン７
２１（図７参照）にアマーチュアゴム７２２を通し、該
アマーチュアピン７２１を軸受７１９ｂに通した後、該
アマーチュアピン７２１にアマーチュアバネ７２３を通
し、アマーチュア７２４に嵌入してカシメ固定する。

【００３７】従って、アマーチュア７２４はアマーチュ
アバネ７２３のチャージ力に逆らってロックリング７１
９に対し矢印７２５方向に摺動出来る。

【００３８】図１３は組立終了後の振れ補正装置を、図
７の背面方向から見た平面図であり、この図において、
ロックリング７１９の外径切り欠き部７１９ｃ（３ケ
所）を地板７１の内径突起７１ｊ（３ケ所）に合せてロ
ックリング７１９を地板７１に押し込み、その後ロック
リングを時計方向に回して抜け止めを行う公知のバヨネ
ット結合により、ロックリング７１９は地板７１に取り
付いている。

【００３９】従って、ロックリング７１９は地板７１に
対し光軸回りに回転可能である。しかし、ロックリング
７１９が回転して再びその切り欠き７１９ｃが突起７１
ｊと同位相になり、バヨネット結合が外れてしまうのを
防ぐ為にロックゴム７２６（図７，図１３参照）を地板
７１に圧入して、該ロックリング７１９がロックゴム７
２６に規制される切り欠き部７１９ｄの角度θ（図１３
参照）しか回転出来ない様に回転規制している。

【００４０】磁性体のロック用ヨーク７２７（図７参
照）にも永久磁石７１８（ロック用マグネット）が取り
付けられ、その孔７２７ａ（２ケ所）を地板７１のピン
７１ｋ（図１３参照）に嵌合して嵌め込み、孔７２７ｂ
（２ケ所）と７１ｎ（２ケ所）によりねじ結合してい
る。

【００４１】地板７１側の永久磁石７１８とロック用ヨ
ーク７２７側の永久磁石７１８、及び、第２のヨーク７
２，ロック用ヨーク７２７により、公知の閉磁路を形成
している。

【００４２】又、前記ロックゴム７２６はロック用ヨー
ク７２７がネジ結合される事で抜け止めされる。尚、図
１３においては上記の説明の為にロックヨーク７２７は
省いて図示している。

【００４３】前記ロックリング７１９のフック７１９ｅ
と地板７１のフック７１ｍ間（図１３参照）にはロック
バネ７２８が掛けられており、ロックリング７１９を時
計まわりに付勢している。吸着ヨーク７２９（図７，図
１３参照）には吸着コイル７３０が差し込まれ、地板７
１の孔７２９ａによりネジ結合される。

【００４４】コイル７２０の端子及び吸着コイル７３０
の端子は、例えば４本縒り線のテトロン被覆線のツイス
トペア構成にしてフレキシブル基板７１６の幹部７１６
ｄに半田付けされる。

【００４５】以上説明した振れ補正装置の機構部は大別
すると、光軸を偏心させる補正手段と、該補正手段を支
持する手段と、前記補正手段を係止する手段の３つの要
素で構成されている。

【００４６】前記補正手段は、レンズ７４、支持枠７
５、コイル７６ｐ，７６ｙ、ＩＲＥＤ７７ｐ，７７ｙ、
位置検出素子７８ｐ，７８ｙ、ＩＣ７３１ｐ，７３１
ｙ、支持球７９ａ，７９ｙ、チャージバネ７１０、支持
軸７１１で組み立てられている。また、支持手段は、地
板７１、第２ヨーク７２、永久磁石７３、第１ヨーク７
１２で構成されている。又係止手段は、永久磁石７１
８、ロックリング７１９、コイル７２０、アーマチュア
軸７２１、アーマチュアゴム７２２、アーマチュアバネ
７２３、アーマチュア７２４、ロックゴム７２６、ヨー
ク７２７、ロックバネ７２８、吸着ヨーク７２９、吸着
コイル７３０で構成されている。

【００４７】また、前記補正手段を構成するうちの、レ
ンズ７４、支持枠７５により補正光学系を成し、ＰＳＤ
７８ｐ，７９ｙ、ＩＣ７３１ｐ，７３１ｙ、ＩＲＥＤ７
７ｐ，７７ｙが位置検出手段を成し、コイル７６ｐ，７
６ｙ、第２ヨーク７２、永久磁石７３、第１ヨーク７１
２が駆動手段を成す。つまり、補正手段は、補正光学
系，位置検出手段，前記補正光学系を駆動する駆動手段
を主たる構成要素として成るものである。

【００４８】そして、前記振れ補正装置と振動検出手段
（図６参照）と以下の図１４に示す演算手段により、防
振システム（防振装置）が構成される。

【００４９】前記ハード基板７１５上のＩＣ７３１ｐ，
７３１ｙは各々位置検出端子７８ｐ，７８ｙの出力増幅
用のＩＣであるが、その内部構成は図１４の様になって
いる（ＩＣ７３１ｐ，７３１ｙは同構成の為、ここでは
７３１ｐのみ示す）。

【００５０】図１４において、電流−電圧変換アンプ７
３１ａｐ，７３１ｂｐは投光素子７７ｐにより位置検出
素子７８ｐ（抵抗Ｒ１，Ｒ２より成る）に生じる光電流
７８ｉ１ｐ，７８ｉ２ｐを電圧に変換し、差動アンプ７
３１ｃｐは各電流−電圧変換アンプ７３１ａｐ，７３１
ｂｐの差出力を求め増幅している。

【００５１】投光素子７７ｐ，７７ｙの射出光は、前述
した通り、スリット７５ａｐ，７５ａｙを経由して位置
検出素子７８ｐ，７８ｙ上に入射するが、支持枠７５が
光軸と垂直な平面内で移動すると位置検出素子７８ｐ，
７８ｙへの入射位置が変化する。

【００５２】前記位置検出素子７８ｐは矢印７８ａｐ方
向（図７参照）に感度を持っており、又スリット７５ａ
ｐは矢印７８ａｐとは直交する方向（７８ａｙ方向）に
光束が拡がり、矢印７８ａｐ方向には光束が絞られる形
状をしている為、支持枠７５が矢印７１３ｐ方向に動い
た時のみ該位置検出素子７８ｐの光電流７８ｉ₁ ｐ，７
８ｉ₂ ｐのバランスは変化し、差動アンプ７３１ｃｐは
支持枠７５の矢印７１３ｐ方向に応じた出力をする。

【００５３】又位置検出素子７８ｙは矢印７８ａｙ方向
（図７参照）に検出感度を持ち、スリット７５ａｙは矢
印７８ａｙとは直交する方向（７８ａｐ方向）に延出す
る形状の為に、支持枠７５が矢印７１３ｙ方向に動いた
時のみ該位置検出素子７８ｙは出力を変化させる。

【００５４】加算アンプ７３１ｄｐは電流−電圧変換ア
ンプ７３１ａｐ，７３１ｂｐの出力の和（位置検出素子
７８ｐの受光量総和）を求め、この信号を受ける駆動ア
ンプ７３１ｅｐはこれに従って投光素子７７ｐを駆動す
る。

【００５５】上記投光素子７７ｐは温度等に極めて不安
定にその投光量が変化する為、それに伴い位置検出素子
７８ｐの光電流７８ｉ₁ ｐ，７８ｉ₁ ｐの絶対量（７８
ｉ₁ｐ＋７８ｉ₂ ｐ）が変化する。その為、支持枠７５
の位置を示す（７８ｉ₁ ｐ−７８ｉ₂ ｐ）である差動ア
ンプ７３１ｃｐの出力も変化してしまう。

【００５６】しかし、上記の様に受光量の総和が一定と
なる様に前述の駆動回路によって投光素子７７ｐを制御
すれば、差動アンプ７３１ｃｐの出力変化が無くなる。

【００５７】図１３に示すコイル７６ｐ，７６ｙは永久
磁石７３，第１のヨーク７１２，第２のヨーク７２で形
成される閉磁路内に位置し、コイル７６ｐに電流を流す
事で支持枠７５は矢印７１３ｐ方向に駆動され（公知の
フレミングの左手の法則）、コイル７６ｙに電流を流す
事で支持枠７５は矢印７１３ｙ方向に駆動される。

【００５８】一般に位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力
をＩＣ７３１ｐ，７３１ｙで増幅し、その出力でコイル
７６ｐ，７６ｙを駆動すると、支持枠７５が駆動されて
位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力が変化する構成とな
る。

【００５９】ここで、コイル７６ｐ，７６ｙの駆動方向
（極性）を位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力が小さく
なる方向に設定すると（負帰還）、該コイル７６ｐ，７
６ｙの駆動力により位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力
がほぼ零になる位置で支持枠７５は安定する。

【００６０】この様に位置検出出力を負帰還して駆動を
行う手法を位置制御手法と云い、例えば外部から目標値
（例えば手振れ角度信号）をＩＣ７３１ｐ，７３１ｙに
混合させると、支持枠７５は目標値に従って極めて忠実
に駆動される。

【００６１】実際には差動アンプ７３１ｃｐ，７３１ｃ
ｙの出力はフレキシブル基板７１６を経由して不図示の
メイン基板に送られ、そこでアナログ／ディジタル変換
（Ａ／Ｄ変換）が行われ、マイコンに取り込まれる。

【００６２】マイコン内では適宜目標値（手振れ角度信
号）と比較増幅され、公知のディジタルフィルタ手法に
よる位相進み補償（位置制御をより安定させる為）が行
われた後、再びフレキシブル基板７１６を通り、ＩＣ７
３２（コイル７６ｐ，７６ｙ駆動用）に入力する。ＩＣ
７３２は入力される信号を基に前記コイル７６ｐ，７６
ｙを公知のＰＷＭ（パルス幅変調）駆動を行い、支持枠
７５を駆動する。

【００６３】支持枠７５は前述した様に矢印７１３ｐ，
７１３ｙ方向に摺動可能であり、上述した位置制御手法
により位置を安定させている訳であるが、カメラ等の民
生用光学機器においては電源消耗防止の観点からも常に
該支持枠７５を制御しておく事は出来ない。

【００６４】また、支持枠７５は非制御状態時には光軸
と直交する平面内にて自由に動き回る事が出来る様にな
る為、その時のストローク端での衝突の音発生や損傷に
対しても対策しておく必要がある。

【００６５】図１３及び図１５に示す様に支持枠７５の
背面には３ケ所の放射状に突出した突起７５ｆを設けて
あり、図１５に示す様に突起７５ｆの先端がロックリン
グ７１９の内周面７１９ｇに嵌合している。従って、支
持枠７５は地板７１に対して全ての方向に拘束されてい
る。

【００６６】図１５（ａ），（ｂ）はロックリング７１
９と支持枠７５の動作の関係を示す平面図であり、図１
３の平面図から要部のみ抜出した図である。尚、説明を
解り易くする為に実際の組立状態とは若干レイアウトを
変化させている。又、図１４（ａ）のカム部７１９ｆ
（３ケ所）は、図８，図１２に示す通り、ロックリング
７１９の円筒の母線方向全域に渡って設けられている訳
ではないので図１３の方向からは実際には見えないが、
説明の為に図示している。

【００６７】図８に示した通り、コイル７２０（７２０
ａは図示しないフレキシブル基板等でロックリング７１
９の外周を通り、端子７１９ｈよりフレキシブル基板７
１６の幹部７１６ｄ上の端子７１６ｅに接続される４本
縒り線の引き出し線）は永久磁石７１８で挟まれた閉磁
路内に入っており、コイル７２０に電流を流す事でロッ
クリング７１９を光軸回りに回転させるトルクを発生す
る。

【００６８】このコイル７２０の駆動も不図示のマイコ
ンからフレキシブル基板７１６を介してハード基板７１
５上の駆動用ＩＣ７３３に入力する指令信号で制御さ
れ、ＩＣ７３３はコイル７２０をＰＷＭ駆動する。

【００６９】図１５（ａ）において、コイル７２０に通
電するとロックリング７１９に反時計回りのトルクが発
生する様にコイル７２０の巻き方向が設定されており、
これによりロックリング７１９はロックバネ７２８のバ
ネ力に逆らって反時計方向に回転する。

【００７０】尚、ロックリング７１９は、コイル７２０
に通電前はロックバネ７２８の力によりロックゴム７２
６に当接して安定している。

【００７１】ロックリング７１９が回転すると、アマー
チュア７２４が吸着ヨーク７２９に当接してアマーチュ
アバネ７２３を縮め、吸着ヨーク７２９とアマーチュア
７２４の位置関係をイコライズしてロックリング７１９
は図１５（ｂ）の様に回転を止める。

【００７２】図１６はロックリング駆動のタイミングチ
ャートである。

【００７３】図１６の矢印７１９ｉでコイル７２０に通
電（７２０ｂに示すＰＷＭ駆動）すると同時に吸着マグ
ネット７３０にも通電（７３０ａ）する。その為、吸着
ヨーク７２９にアマーチュア７２４が当接し、イコライ
ズされた時点でアマーチュア７２４は吸着ヨーク７２９
に吸着される。

【００７４】次に、図１６の７２０ｃに示す時点でコイ
ル７２０への通電を止めると、ロックリング７１９はロ
ックバネ７２８の力で時計回りに回転しようとするが、
上述した様にアマーチュア７２４が吸着ヨーク７２９に
吸着されている為、回転は規制される。この時、支持枠
７５の突起７５ｆはカム部７１９ｆと対向する位置に在
る（カム部７１９ｆが回転して来る）為、支持枠７５は
突起７５ｆとカム部７１９ｆの間のクリアランス分だけ
動ける様になる。

【００７５】この為、重力Ｇ（図１５（ｂ）参照）の方
向に支持枠７５が落下する事になるが、図６の矢印７１
９ｉの時点で支持枠７５も制御状態にする為、落下する
事は無い。

【００７６】支持枠７５は非制御時はロックリング７１
９の内周で拘束されているが、実際には突起７５ｆと内
周壁７１９ｇの嵌合ガタ分だけガタを有する。即ち、こ
のガタ分だけ支持枠７５は重力Ｇ方向に落ちており、支
持枠７５の中心と地板７１の中心がずれている事にな
る。その為、矢印７１９ｉの時点から例えば１秒費やし
てゆっくり地板７１の中心（光軸の中心）に移動させる
制御をしている。

【００７７】これは急激に中心に移動させると補正レン
ズ７４を通して像の揺れを撮影者が感じて不快である為
であり、この間に露光が行われても、支持枠７５の移動
による像劣化が生じない様にする為である。（例えば１
／８秒で支持枠を５μｍ移動させる） 詳しくは、図１６の矢印７１９ｉ時点での位置検出素子
７８ｐ，７８ｙの出力を記憶し、その値を目標値として
支持枠７５の制御を始め、その後１秒間費やしてあらか
じめ設定した光軸中心の時の目標値に移動してゆく（図
１６の７５ｇ参照）。

【００７８】ロックリング７１９が回転され（アンロッ
ク状態）た後、振動検出手段からの目標値を基にして
（前述した支持枠７５の中心位置移動動作に重なって）
支持枠７５が駆動され、防振が始まる事になる。

【００７９】ここで、防振を終わる為に矢印７１９ｊの
時点で防振オフにすると、振動検出手段からの目標値が
補正手段を駆動する補正駆動手段に入力されなくなり、
支持枠７５は中心位置に制御されて止まる。この時に吸
着コイル７３０への通電を止める（７３０ｂ）。する
と、吸着ヨーク７２９によるアマーチュア７２４の吸着
力が無くなり、ロックリング７１９はロックバネ７２８
により時計回りに回転され、図１５（ａ）の状態に戻
る。この時、ロックリング７１９はロックゴム７２６に
当接して回転規制される為に回転終了時の該ロックリン
グ７１９の衝突音は小さく抑えられる。

【００８０】その後（例えば２０ｍｓｅｃ後）、補正駆
動手段への制御を断ち、図１６のタイミングチャートは
終了する。

【００８１】図１７〜図１９は防振システムの概要を示
すブロック図である。

【００８２】これらの図において、９１は図６の振動検
出手段８３ｐ，８３ｙに相当する振動検出手段であり、
振動ジャイロ等の角速度を検出する振れ検出センサと該
振れ検出センサ出力のＤＣ成分をカットした後に積分し
て角変位を得るセンサ出力演算手段より構成される。

【００８３】この振動検出手段９１からの角変位信号は
目標値設定手段９２に入力される。この目標値設定手段
９２は、図１９に示す様に、可変差動増幅器９２ａとサ
ンプルホールド回路９２ｂより構成されており、サンプ
ルホールド回路９２ｂは常にサンプル中の為に可変差動
増幅器９２ａに入力される両信号は常に等しく、その出
力はゼロである。しかし、後述する遅延手段９３からの
出力にて前記サンプルホールド回路９２ｂがホールド状
態になると、可変差動増幅器９２ａはその時点をゼロと
して連続的に出力を始める。

【００８４】可変差動増幅器９２ａの増幅率は防振敏感
度設定手段９４の出力により可変になっている。何故な
らば、目標値設定手段９２の目標値信号は補正手段９１
０を追従させる目標値（指令信号）であるが、該補正手
段９１０の駆動量に対する像面の補正量（防振敏感度）
はズーム，フォーカス等の焦点変化に基づく光学特性に
より変化するために、その防振敏感度変化を補う為であ
る。

【００８５】従って、防振敏感度設定手段９４は、図１
８に示す様に、ズーム情報出力手段９５からのズーム焦
点距離情報と露光準備手段９６の測距情報に基づくフォ
ーカス焦点距離情報が入力されており、その情報を基に
防振敏感度を演算あるいはその情報を基にあらかじめ設
定した防振敏感度情報を引き出して、目標値設定手段９
２内の可変差動増幅器９２ａの増幅率を変更させる。

【００８６】補正駆動手段９７は、図７のハード基板７
１５上に実装されたＩＣ７３１ｐ，７３１ｙ，７３２に
相当し、目標値設定手段９２からの目標値が指令信号と
して入力される。

【００８７】補正起動手段９８は、図７のハード基板７
１５上のＩＣ７３２と補正手段９１０に具備されたコイ
ル７６ｐ，７６ｙの接続を制御するスイッチであり、図
１９に示す様に、通常時はスイッチ９８ａを端子９８ｃ
に接続させておく事でコイル７６ｐ，７６ｙの各々の両
端を短絡しておき、論理積手段９９の信号が入力される
とスイッチ９８ａを端子９８ｂに接続し、補正手段９１
０を制御状態（未だ振れ補正は行わないが、コイル７６
ｐ，７６ｙに電力を供給し、位置検出素子７８ｐ，７８
ｙの信号がほぼゼロになる位置に補正手段９１０を安定
させておく）にする。又この時同時に論理積手段９９の
出力信号は係止手段９１４にも入力され、これにより係
止手段９１４は補正手段９１０の係止を解除する。

【００８８】尚、補正手段９１０はその位置検出素子７
８ｐ，７８ｙの位置信号を補正駆動手段９７に入力し、
前述した様に位置制御を行っている。

【００８９】論理積手段９９はレリーズ手段９１１の半
押しによるＳＷ１信号と防振切換手段９１２の出力信号
の両信号が入力された時に、その構成要素であるアンド
ゲード９９ａ（図１８参照）が信号を出力する。つま
り、図１９に示す様に、防振切換手段９１２の防振スイ
ッチを撮影者が操作し、且つレリーズ手段９１１の半押
しを行った時に補正手段９１０は係止解除され、制御状
態になる。

【００９０】レリーズ手段９１１の半押しにより発生す
るＳＷ１信号は、図１７及び図１８に示す様に、露光準
備手段９６に入力され、これにより測光，測距，レンズ
合焦駆動が行われ、ここで得られたフォーカス情報が防
振敏感度設定手段９４に入力される。

【００９１】遅延手段９３は論理積手段９９の出力信号
を受けて、例えば１秒後に出力して前述した様に目標値
設定手段９２より目標値信号を出力させる。

【００９２】図示していないが、レリーズ手段９１１の
半押しにより発生するＳＷ１信号に同期して振動検出手
段９１も起動を始める。そして、前述した様に積分器
等、大時定回路を含むセンサ出力演算は起動から出力が
安定する迄に、ある程度の時間を要する。

【００９３】前記遅延手段９３は前記振動検出手段９１
の出力が安定する迄待機した後に、補正手段９１０へ目
標値信号を出力させる役割を演じ、振動検出手段９１の
出力が安定してから防振を始める構成にしている。

【００９４】露光手段９１３はレリーズ手段９１１の押
切り操作により発生するＳＷ２信号入力によりミラーア
ップを行い、露光準備手段９６の測光値を基に求められ
たシャッタスピードでシャッタを開閉して露光を行い、
ミラーダウンして撮影を終了する。

【００９５】撮影終了後、撮影者がレリーズ手段９１１
から手を離し、ＳＷ１信号をオフにすると、論理積手段
９９は出力を止め、目標値設定手段９２のサンプルホー
ルド回路９２ｂはサンプリング状態になり、可変差動増
幅器９２ａの出力はゼロになる。従って、補正手段９１
０は補正駆動を止めた制御状態に戻る。

【００９６】論理積手段９９の出力がオフになった事に
より、係止手段９１４は補正手段９１０を係止し、その
後に補正起動手段９８のスイッチ９８ａは端子９８ｃに
接続され、補正手段９１０は制御されなくなる。

【００９７】振動検出手段９１は、不図示のタイマによ
り、レリーズ手段９１１の操作が停止された後も一定時
間（例えば５秒）は動作を継続し、その後に停止する。
これは、撮影者がレリーズ操作を停止した後に引き続き
レリーズ操作を行う事は頻繁にあるわけで、その様な時
に毎回振動検出手段９１を起動するのを防ぎ、その出力
安定迄の待機時間を短くする為であり、振動検出手段９
１が既に起動している時には該振動検出手段９１は起動
既信号を遅延手段９３に送り、その遅延時間を短くして
いる。

【００９８】図２０は、上記の動作をマイクロコンピュ
ータにより処理した場合の一連の動作を示すフローチャ
ートであり、以下これに従って簡単に説明する。

【００９９】カメラに電源が投入されると、マイクロコ
ンピュータは、まず防振スイッチの状態を調べ、オンで
あれば次にレリーズ手段９１１の半押しによりＳＷ１信
号が発生しているか否かを判別する（＃５００１→＃５
００２）。ＳＷ１信号が発生していれば、内部タイマを
スタートさせ（＃５００３）、次に測光，測距、振れ検
出の開始、更には補正手段９１０による防振制御を可能
にする為にその係止解除を行う（＃５００４）。

【０１００】次に、上記タイマでの計時内容が所定の時
間ｔ１に達したか否かを調べ、達していなければ達する
までこのステップに留まる（＃５００５）。これは、前
述した様にセンサ出力が安定するまでの時間待機する為
の処理である。その後、所定の時間ｔ１が経過すると、
目標値信号に基づいて補正手段９１０を駆動し、防振制
御を開始する（＃５００６）。

【０１０１】次に、レリーズ手段９１１の押切りにより
ＳＷ２信号が発生しているか否かを調べ（＃５００
７）、発生していなければ再びＳＷ１信号が発生してい
るか否かの判別を行い、もしＳＷ１信号も発生していな
ければ（＃５００８のＮＯ）、防振制御を停止すると共
に、補正手段９１０を所定の位置に係止する（＃５０１
１→＃５０１２）。

【０１０２】また、ＳＷ２信号は発生していないが、Ｓ
Ｗ１信号は発生していれば、ステップ＃５００７→＃５
００８→＃５００７……の動作を繰り返す。この状態時
にレリース手段９１１の押切り操作が為されてＳＷ２信
号が発生すると（＃５００７のＹＥＳ）、フィルムへの
露光動作を行う（＃５００９）。そして、ＳＷ１信号の
状態を調べ（＃５０１０）、該ＳＷ１信号が発生しなく
なったら防振制御を停止すると共に、補正手段９１０を
所定の位置に係止する（＃５０１１→＃５０１２）。

【０１０３】以上の動作を終了すると、次に上記タイマ
を一旦リセットして再度スタートさせ（＃５０１３）、
再びＳＷ１信号が所定時間内（ここでは５秒以内）に発
生するかどうかの判別を行う（＃５０１４→＃５０１５
→＃５０１４……）。もし防振を停止してから５秒以内
に再度ＳＷ１信号が発生したならば（＃５０１５のＹＥ
Ｓ）、測光，測距動作及び補正手段９１０の係止解除を
行い（＃５０１６）、振れ検出はそのまま継続されてい
るので、直ちに目標値信号に基づいて補正手段９１０の
駆動制御を行い（＃５００６）、以下前述と同様の動作
を繰り返す。

【０１０４】つまり、この様な処理をすることにより、
前述した様に撮影者がレリーズ操作を停止した後に引き
続きレリーズ操作をした際に、その度に振動検出手段９
１を起動してその出力安定迄待機するといった不都合を
無くすことが可能になる。

【０１０５】一方、防振を停止してから５秒以内にＳＷ
１信号が発生しなかった場合は（＃５０１４のＹＥ
Ｓ）、振れ検出を停止（振動検出手段９１の駆動を停
止）する（＃５０１７）。その後はステップ＃５００１
に戻り、防振スイッチのオン待機の状態に入る。

【０１０６】

【発明が解決しようとする課題】上記の従来の構成にお
いては、補正手段の構成要素である支持枠７５の光軸ま
わりの回転を規制し、図７の矢印７１３ｐ，７１３ｙ方
向に案内する案内手段である支持軸７１１の延出方向
（支持軸７１１はＬ字形状の為に延出方向は２方向）
は、支持枠７５を駆動する駆動手段の構成要素であるコ
イル７６ｐ，７６ｙの推力方向（各々矢印７１３ｐ，７
１３ｙ方向に平行）と一致している。

【０１０７】しかしながら、推力方向は各々コイル７６
ｐ，７６ｙの中心を通り、案内方向は支持軸７１１の軸
心である為、共に平行であるが同一軸上にない。この様
な場合、こじり（ステックスリップ）が生じ、駆動精度
が劣化する場合がある。この事を図２１を用いて説明す
る。

【０１０８】図２１（ａ）は、支持枠７５、コイル７６
ｐ，７６ｙ及び支持軸７１１を示す平面図である。尚、
支持軸７１１の一部は本来支持枠７５に隠れて見えなく
なるが、図２１では説明を解り易くする為に両者の重な
っている部分も（隠れる部分も）図示している。

【０１０９】コイル７６ｐ，７６ｙの推力中心は６１
ｐ，６１ｙ、案内方向は６２ｐ，６２ｙで示しており、
各々は平行であるが同一軸上にない。

【０１１０】ここで、地板７１（図２１（ａ）では不図
示）の軸受部７１ｄと支持軸７１１，支持枠７５の軸受
部７５ｄと支持軸７１１間に僅かのクリアランスを設け
てある。これは両者の摺動性を経時的，温度変化に依ら
ず保つ為である。そのため、支持軸７１１は各軸受内で
僅かの回転が可能である。

【０１１１】今、支持枠７５を駆動する時、６１ｐ，６
１ｙ方向に推力が加わるが、このとき始めに支持軸７１
１を回転させる力（案内方向６２ｐと推力中心６１ｐ、
又は６２ｙと６１ｙの関係の偏心により生じるモーメン
ト）が働く。これは、各軸受と支持軸７１１間には僅か
でも摩擦を有しており、両者を摩擦に逆らって摺動させ
るよりも軸受ガタ内で支持軸を回転させる方が力が弱い
為である。

【０１１２】ところが支持軸７１１が回転してしまう
と、図２１（ｂ）に示す様に、軸受７１ｄ（又は７５
ｄ）のカド部でこじり力５１が発生し、駆動力が急激に
変化する。即ち、駆動初期は弱い力で支持枠７５は動く
が、一定量（支持軸７１１が軸受７１ｄ（又は７５ｄ）
のカドに当接する量）変位すると急激に大きな駆動力を
必要とする。

【０１１３】支持枠７５は振れ補正の為に交番駆動（振
動駆動）されるが、この時駆動力の変化が交番的に生ず
ることになり、駆動精度を劣化させてしまうと云う問題
があった。

【０１１４】（発明の目的）本発明の第１の目的は、補
正手段の駆動精度の劣化を無くすことのできる振れ補正
装置を提供することにある。

【０１１５】本発明の第２の目的は、該装置の小型化を
達成することのできる振れ補正装置を提供することにあ
る。

【０１１６】

【課題を解決するための手段】上記第１の目的を達成す
るために、請求項１〜３記載の本発明は、振れを補正す
る補正手段と、該補正手段を駆動する駆動手段と、前記
補正手段の光軸まわりを規制すると共にその移動を案内
する案内手段とを備えた振れ補正装置において、前記駆
動手段の推力方向と前記案内手段の案内方向が異なるよ
うに、前記駆動手段と前記案内手段を配置した振れ補正
装置とするものである。

【０１１７】更に詳述すると、補正手段を駆動する駆動
手段の推力方向と案内手段の構成要素である例えば支持
軸による案内方向を４５度傾ける事で、補正手段駆動時
には前記支持軸を軸受部に押し付け（プリチャージ
し）、前記支持枠と軸受部との間で生じていたこじりを
無くすようにしている。

【０１１８】また、上記第２の目的を達成するために、
請求項４，５記載の本発明は、振れを補正する補正手段
と、該補正手段を駆動する複数の駆動手段と、該駆動手
段の各々の推力方向を含む平面内で前記補正手段を移動
可能に支持する支持手段と、該支持手段と前記補正手段
との間に配置され、前記補正手段を弾性支持する複数の
引っ張りバネとを備えた振れ補正装置において、前記引
っ張りバネの引っ張り方向が前記駆動手段の各々の推力
方向に対し等角度となるように、前記引っ張りバネを配
置した振れ補正装置とするものである。

【０１１９】更に詳述すると、引っ張りバネの引っ張り
方向が駆動手段の各々の推力方向に対し４５度傾くよう
に、前記引っ張りバネを配置し、少ない個数の引っ張り
バネにて補正手段を弾性支持可能な構造にしている。

【０１２０】同じく上記第２の目的を達成するために、
請求項６記載の本発明は、振れを補正する補正手段と、
該補正手段を光軸方向に規制する案内手段と、前記補正
手段を所定の位置に弾性支持する引っ張りバネとを備え
た振れ補正装置において、前記案内手段と前記引っ張り
バネとを同一平面上に配置した振れ補正装置とするもの
である。

【０１２１】

【発明の実施の形態】以下、本発明を図示の実施の形態
に基づいて詳細に説明する。

【０１２２】図１は本発明の実施の第１の形態に係る振
れ補正装置の支持枠等の主要部分の構成を示す平面図で
あり、上記図２１と比べて異なるのは、支持軸７１１に
よる案内方向６２ｐ，６２ｙと推力方向６１ｐ，６１ｙ
が傾いている点にある。

【０１２３】この為、例えば支持枠７５を６１ｙ方向に
のみ動かそうとするとき、支持枠７５の軸受部７５ｄは
支持軸７１１を押し付ける。そして、支持軸７１１はこ
の力で案内方向６２ｐの反対方向にも動かされる。又、
推力方向６１ｙと反対方向に支持枠７５を動かす時は、
支持軸７１１は案内方向６２ｐに動かされる。

【０１２４】この様な構成の為に、軸受部７５ｄと支持
軸７１１の間は常に駆動力でプリチャージされている事
になり、図１（ｂ）の様に、支持軸７１１は軸受部７５
ｄに面当たりする。従って、図２１で説明した従来構成
の様なこじりは生じない。

【０１２５】この関係は支持軸７１１と地板７１の軸受
部７１ｄでも同様であり、従来例の問題であるこじりは
起きない。

【０１２６】勿論、コイル７６ｐと７６ｙの合力で支持
枠７５を案内方向６２ｐ，６２ｙに動かす時には、図２
１と同様にこじりは生じ易くなる。しかしながら、この
方向に動くのは主に撮影者による大きな手振れの時であ
り、又低周波であるこの時には支持枠７５の動きも大き
くなり、周波数も低い為にこじりによる精度劣化はあま
り問題にならない。

【０１２７】推力方向６１ｐ又は６１ｙにのみ振れが生
ずる場合は、光学機器であるカメラのクイックリターン
ミラーやシャッタ開閉時の振動が原因であり、この時の
振れは小振幅で高周波数であり、こじりにより支持枠７
５が動き難くなる条件となる。よって、この方向でのこ
じりを避ける為に支持軸７１１を傾けている。

【０１２８】図１（ａ）において、バネ１１ｐ，１１ｙ
は自由長の圧縮バネであり、バネ１１ｐは一端を支持枠
７５の腕７５ｆに、他端を支持軸７１１に、それぞれ固
定され、バネ１１ｙは一端を支持軸７１１に、他端を地
板７１の腕７１ｎ（図１０参照）に、それぞれ固定され
ている。

【０１２９】このバネ１１ｐ，１１ｙの延出方向は案内
方向６２ｐ，６２ｙと同方向（推力方向６１ｐ，６１ｙ
と異なる角度をなす）である為、支持軸７１１と各軸受
部７５ｄ，７１ｄ間をプリチャージして面当たりさせ、
こじりを無くす機能を有している。

【０１３０】以上の様に、案内方向と推力方向を異なら
したこと、及び、案内方向にバネ１１ｐ，１１ｙを設け
た事により、支持軸７１１と軸受部７５ｄ，７１ｄ間の
こじりを無くし、防振精度を高めることが可能となる。

【０１３１】（実施の第２の形態）図２〜図４は本発明
の実施の第２の形態に係る振れ補正装置の構成を示す図
であり、上記実施の第１形態及び図７等に示した従来構
成とは異なる構造を持つ。しかし、基本的な構造は同一
であり、補正レンズ２１を保持した支持枠２２を光軸方
向と垂直な平面内でシフトさせて振れ補正を行うもので
ある。

【０１３２】図２において、補正レンズ２１は支持する
支持枠２２には等分に放射方向に延出する３本の軸２２
ａが設けてある。地板２３には同方向に案内孔２３ａが
等分に設けられている。

【０１３３】ここで、前記軸２２ａと案内孔２３ａの関
係を、図２（ａ）を矢印Ａ方向より見た部分側面図であ
る２（ｂ）を用いて説明する。

【０１３４】案内孔２３ａと軸２２ａは、光軸方向Ｂで
は嵌合関係（３ケ所とも）なっている。そのため、支持
枠２２は地板２３に対し光軸方向（図２（ａ）では紙面
垂直方向）に位置決めされている。案内孔２３ａは同方
向（矢印Ｃ方向）に延出する長孔になっている為（３ケ
所とも）、軸２２ａはこの方向に自由に摺動出来る。即
ち、支持枠２２は地板２３に対し、図２（ａ）の矢印Ｒ
方向（ローリング方向）、Ｐ方向（ピッチ方向）、Ｙ方
向（ヨー方向）に移動出来る。

【０１３５】支持枠２２にはフランジ部２２ｂｐ，２２
ｂｙ（図２（ａ）参照）が設けられ、各フランジ部２２
ｂｐ，２２ｂｙの紙面裏側には、図３（ａ）に示す様
に、永久磁石２４ｐ，２４ｙが固定されている。尚、図
３（ａ）は、図２（ａ）のＤ₁−Ｄ₁ 断面である。そし
て、同図に示す様に、各々の永久磁石２４ｐ，２４ｙに
対向して地板２３にコイル２５ｐ，２５ｙが設けられて
いる。

【０１３６】前記永久磁石２４ｐ，２４ｙの着磁方向
は、図３（ｃ）に示す様に、光軸方向Ｂに沿っており、
コイル２５ｐ，２５ｙも巻線中心Ｅは光軸方向Ｂに平行
である。従って、コイル２５ｐ，２５ｙに電流を流すこ
とで、支持枠２２は図２（ａ）に示す矢印Ｐ，Ｙ方向に
駆動される。

【０１３７】図示していないが、矢印Ｐ，Ｙ各々の方向
の支持枠２２の変位量を検出する手段を別に設けてお
り、それにより従来例と同様に位置制御駆動を行い、不
図示の振動検出手段からの振れ補正目標値に応じて前記
支持枠２２を駆動し、振れ補正を行うものである。

【０１３８】振れ補正を行わない時は、支持枠２２が制
御状態に無い為に矢印Ｐ，Ｙ方向に自由となり、支持枠
２２が外部からの振動で動き回ることになる。これを防
ぐ為に、対の引っ張りバネ２６が支持枠２２のピン２２
ｂと地板２３のピン２３ｂ間に設けられており、支持枠
２２を地板２３に対し弾性的に保持している。（振れ補
正を行う時はこのバネ力に逆らって支持枠を駆動する） ここで、引っ張りバネ２６のバネ方向は、矢印Ｐ方向に
対し４５度傾けてある。この様に４５度に設定したの
は、矢印Ｙ方向に対しても４５度となる為であり、これ
により矢印Ｐ，Ｙ方向に駆動する時のバネ負荷は矢印
Ｐ，Ｙ方向とも同一に出来る。即ち、２本のバネだけで
支持枠２２を保持し、且つ、異なる２方向に対し均一の
バネ力を発生出来る為、全体をコンパクトにまとめられ
る。つまり、装置を小型化することができる。

【０１３９】前記支持枠２２には、一対の腕２２ｃが引
っ張りバネ２６と同方向に、且つ、図２（ａ）の紙面下
側に設けられ、この腕部２２ｃより紙面下方に延出する
ローリング規制軸２２ｄ（図２（ａ）のＤ₂ −Ｄ₂ 断面
である図３（ｂ）を参照）が地板２３の孔２３ｃを貫通
している。

【０１４０】尚、孔２３ｃと軸２２ｄのクリアランス
は、支持枠２２が振れ補正駆動を行う時の補正ストロー
クより大きく設定され、振れ補正ストロークを軸２２ｄ
と孔２３ｃの関係で制限する事は無い。

【０１４１】前記軸２２ｄは、図３（ｂ）に示す様に、
孔２３ｃを貫通すると共に、案内手段であるローリング
規制リング２７の長穴２６ａを貫通している。

【０１４２】図４（ａ）は図２（ａ）を裏側から見た図
であり、ローリング規制リング２７は地板２３の４ケ所
のパッチン爪２３ｃにパッチン止めされ（図４（ａ）を
Ｂ方向から見た図４（ｂ）を参照）、紙面上下方向に規
制されると共に、パッチン爪２３ｃはローリング規制リ
ング２７の辺２７ｄと４ケ所で当接している為、地板２
３に対して矢印２７ｃ方向には移動出来るが、２７ｂ方
向には移動規制されている。

【０１４３】矢印２７ｂ，２７ｃは、矢印Ｐ，Ｙに対し
４５度傾いており、長穴２７ｄも矢印２７ｂと同方向に
延びている。その為、軸２２ｄは矢印２７ｂ方向に移動
出来る為、支持枠２２は地板２３に対し２７ｂ，２７ｃ
方向に移動出来る。従って、矢印Ｐ，Ｙ方向にも動ける
（２７ｂ，２７ｃ方向の合成により）。

【０１４４】しかしながら、図２（ａ）のローリング方
向Ｒに対しては、図４（ａ）において、軸２２ｄがこの
方向に動こうとしてローリング規制リング２７にモーメ
ントを与えても、前記パッチン爪２３ｄによりローリン
グ規制リング２７は地板２３に対してこの方向に規制さ
れている為に動けない。

【０１４５】以上から明らかな様に、ローリング規制リ
ング２７は矢印２７ｂ，２７ｃへ支持枠２２を案内する
案内手段であり、ローリングＲを抑え、前述の実施の第
１の形態における支持軸７１１と同様の作用を有する。

【０１４６】この様に支持軸７１１ではなく、地板２３
の支持枠２２と反対面にローリング規制リング２７を設
けると、地板２３に余剰スペース２３ｅ（図２（ａ）参
照）が生まれ、このスペースを他の機能（例えばカメラ
のＡＦ駆動アクチュエータ）に割り振ることが出来る。

【０１４７】ここで、支持枠２２の駆動方向は矢印Ｐ，
Ｙ方向であり、案内手段であるローリング規制リング２
７の案内方向は矢印２７ｂ，２７ｃ方向であり、互いの
方向が異なっている。その為、駆動時には、軸２２ｄと
長穴２７ａ及び辺２７ｄとパッチン爪２３ｄ間には適度
なプリチャージ力が加わり、互いにこじりを生ずる事を
防ぎ、スムーズに振れ補正が行える様になる。

【０１４８】また、前述した様に引っ張りバネ２６は矢
印Ｐ，Ｙ方向に対し４５度の傾きを有している為、永久
磁石２４ｐ，２４ｙのスペースと位相をずらすことが出
来、且つ、バネ方向が矢印Ｐ，Ｙ共に等角度であるか
ら，矢印Ｐ，Ｙ方向の駆動両方向に同じバネ力を与えら
れ、一対のバネで２方向の弾性力を与えられ、装置全体
をコンパクトにまとめられるメリットも有する。

【０１４９】図３（ｂ）から解る様に、引っ張りバネ２
６の位置と補正手段の一部を成す支持枠２２を光軸方向
に規制する案内孔２３ａ（案内手段）は同一線上にあ
る。図２（ａ）においては、３つの案内孔を含む平面内
に対の引っ張りバネ２６が含まれ、同一平面上に配置さ
れている事になる。更に記述すると、永久磁石２４ｐ，
２４ｙもこの平面内に含まれる。

【０１５０】この様に、同一平面に様々な要素が含めら
れたのは、各々の構成要素（対の引っ張りバネ２６、永
久磁石２４ｐ，２４ｙ、３本の軸２２ａ）を互いに位相
がずらすことが出来た事による。そして、その様に出来
たのは、弾性手段（引っ張りバネ２６）の引っ張り方向
と推力方向を異ならせ、特に２つの推力方向に共に等角
度方向に引っ張りバネの方向を配置した事による。これ
により、装置全体のコンパクト化が達成されている。

【０１５１】（実施の第３の形態）図５は本発明の実施
の第３の形態に係る振れ補正装置の主要部分を示す斜視
図である。

【０１５２】上記実施の第１及び第２の形態では、補正
レンズを光軸に対し垂直な平面内でシフトさせて振れ補
正を行卯構成であった。この実施の第３の形態において
は、図５に示す様に、補正レンズ４１を光軸４８に対し
傾ける事で、振れ補正を行う形式の振れ補正方式に本発
明を適用させている。

【０１５３】図５において、補正レンズ４１を保持する
支持枠４１にはボイスコイル４３ｐ，４３ｙが設けられ
ており、光軸方向に対向する不図示の磁気回路との関連
により各々光軸４８と平行な矢印４６ｐ，４６ｙ方向に
電磁力を発生させる事が出来る。例えば、支持枠４２が
公知のジンバル支持により軸４９ｐ，４９ｙまわりに回
転可能に軸支されている時（図５のボイスコイル配置の
時、一般的には支持枠４１を軸４９ｐ，４９ｙまわりの
回転可能にジンバル支持する）、この電磁力により支持
枠４２は矢印４７ｐ，４７ｙまわりに回転駆動される。

【０１５４】図５においては、支持枠４２は軸４４ａに
よりアーム４４に対し矢印４５ａまわりに回転可能に軸
支され、アーム４４は一対の軸４４ｂにより不図示の鏡
筒部に矢印４５ｂまわりに回転可能に軸支されている。
よって、支持枠４２は不図示の鏡筒に対し、矢印４５
ａ，４５ｂまわりに回転可能にジンバル支持されている
ことになる。

【０１５５】ボイスコイル４３ｐ，４３ｙによる駆動力
を効率よくする為には駆動方向４６ｐ，４６ｙと回転方
向（案内方向）を揃える（例えば図５の４７ｐ，４７
ｙ）事であるが、この実施の形態ではその方向を異なら
せている。

【０１５６】この方向を異ならせる事で、ボイスコイル
４３ｐ，４３ｙと軸４４ａの位相をずらすことが出来、
軸４４ａ，４４ｂ、アーム４４、ボイスコイル４３ｐ，
４３ｙを同一平面内に配置出来る。これにより、装置全
体をコンパクトに出来る。

【０１５７】（変形例）本発明は、一眼レフカメラやビ
デオカメラ等の撮影装置に好適なものであるが、これに
限定されるものではなく、防振システムを具備すること
により有効な機能を発揮する光学機器への適用も可能で
ある。尚、上記の様に撮影装置に適用した場合には、上
記実施の各形態における補正レンズの代わりに、ＣＣＤ
等の撮像素子を具備した構成のものであっても、同様に
振れ補正が可能となることは言うまでもない。

【０１５８】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１〜３記載
の本発明によれば、補正手段を駆動する駆動手段の推力
方向と案内手段の構成要素である例えば支持軸による案
内方向を４５度傾ける事で、補正手段駆動時には前記支
持軸を軸受部に押し付け、前記支持枠と軸受部との間で
生じていたこじりを無くすようにしている為、補正手段
の駆動精度の劣化を無くすことが可能になる。

【０１５９】また、請求項４及び５記載の本発明によれ
ば、引っ張りバネの引っ張り方向が駆動手段の各々の推
力方向に対し４５度傾くように、該引っ張りバネを配置
し、少ない個数の引っ張りバネにて補正手段を弾性支持
可能な構造にしている為、該振れ補正装置の小型化を達
成することが可能になる。

【０１６０】また、請求項６記載の本発明によれば、補
正手段を所定の位置に弾性支持する引っ張りバネと補正
手段を光軸方向に規制する案内手段と同一平面上に配置
している為、該振れ補正装置の小型化を達成することが
可能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の第１の形態に係る振れ補正装置
の主要部分を示す平面図である。

【図２】本発明の実施の第２の形態に係る振れ補正装置
の主要部分の平面及び一部側面を示す図である。

【図３】図２（ａ）のＤ₁ −Ｄ₁ 及びＤ₂ −Ｄ₂ 断面を
示す図である。

【図４】図２（ａ）の裏面及びその側面を示す図であ
る。

【図５】本発明の実施の第３の形態に係る振れ補正装置
の主要部分を示す斜視図である。

【図６】従来の防振システムの概略構成を示す斜視図で
ある。

【図７】図６の振れ補正装置の構造を示す分解斜視図で
ある。

【図８】図７の挟持手段が挿入される支持枠の孔の形状
を説明する為の図である。

【図９】図７の地板に支持枠を組み込んだ時の様子を示
す断面図である。

【図１０】図７に示す地板を示す斜視図である。

【図１１】図７に示す支持枠を示す斜視図である。

【図１２】図７に示すロックリングを示す斜視図であ
る。

【図１３】図７の支持枠等を示す正面図である。

【図１４】図７の位置検出素子の出力を増幅するＩＣの
構成を示す回路図である。

【図１５】図７のロックリングが駆動される時の様子を
示す図である。

【図１６】図１５のロックリング駆動時における信号波
形を示す図である。

【図１７】防振システムが搭載されたカメラの防振系の
回路構成を示すブロック図である。

【図１８】図１７に示す各回路の一部の詳細を示すブロ
ック図である。

【図１９】図１７に示す各回路の残りの詳細を示すブロ
ック図である。

【図２０】図１７〜図１９の回路構成におけるカメラの
概略動作を示すフローチャートである。

【図２１】従来の問題点を説明する為の支持枠等の平面
図である。

【符号の説明】

２１ 補正レンズ ２２ 支持枠 ２３ 地板 ２３ａ 案内溝 ２４ｐ，２４ｙ 永久磁石 ２５ｐ，２５ｙ コイル ３５ 案内溝 ２６ 引っ張りバネ ２７ ローリング規制リング ７１ 地板 ７１ｄ 軸受部 ７５ 支持枠 ７５ｄ 軸受部 ７６ｐ，７６ｙ コイル ７１１ 支持軸

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 振れを補正する補正手段と、該補正手段
   を駆動する駆動手段と、前記補正手段の光軸まわりを規
   制すると共にその移動を案内する案内手段とを備えた振
   れ補正装置において、前記駆動手段の推力方向と前記案
   内手段の案内方向が異なるように、前記駆動手段と前記
   案内手段を配置したことを特徴とする振れ補正装置。
2. 【請求項２】 前記駆動手段の推力方向と前記案内手段
   の案内方向が４５度傾くように、前記駆動手段と前記案
   内手段を配置したことを特徴とする請求項１記載の振れ
   補正装置。
3. 【請求項３】 前記案内手段は、支持軸と、該支持軸を
   摺動可能に保持する軸受部より構成されることを特徴と
   する請求項１又は２記載の振れ補正装置。
4. 【請求項４】 振れを補正する補正手段と、該補正手段
   を駆動する複数の駆動手段と、該駆動手段の各々の推力
   方向を含む平面内で前記補正手段を移動可能に支持する
   支持手段と、該支持手段と前記補正手段との間に配置さ
   れ、前記補正手段を弾性支持する複数の引っ張りバネと
   を備えた振れ補正装置において、前記引っ張りバネの引
   っ張り方向が前記駆動手段の各々の推力方向に対し等角
   度となるように、前記引っ張りバネを配置したことを特
   徴とする振れ補正装置。
5. 【請求項５】 前記引っ張りバネの引っ張り方向が前記
   駆動手段の各々の推力方向に対し４５度傾くように、前
   記引っ張りバネを配置したことを特徴とする請求項４記
   載の振れ補正装置。
6. 【請求項６】 振れを補正する補正手段と、該補正手段
   を光軸方向に規制する案内手段と、前記補正手段を所定
   の位置に弾性支持する引っ張りバネとを備え、前記案内
   手段と前記引っ張りバネとを同一平面上に配置したこと
   を特徴とする振れ補正装置。