JPH10209250A - 試料体位置決め装置 - Google Patents
試料体位置決め装置Info
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- JPH10209250A JPH10209250A JP2581997A JP2581997A JPH10209250A JP H10209250 A JPH10209250 A JP H10209250A JP 2581997 A JP2581997 A JP 2581997A JP 2581997 A JP2581997 A JP 2581997A JP H10209250 A JPH10209250 A JP H10209250A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 簡単な装置で操作容易に確実に試料体の位置
決めをする。 【解決手段】 上下斜面22、23とこれらで形成する
のど部21を持つ本体2に針受け6を固定し、下測定針
3を矢印AB方向にガイドしつつバネ4で支持する。針
3は、のど部から突出しその断面Zに平行に試料体1を
載せられる上面31aを有する。 【効果】 上面31a上に試料体1を載せて上測定針5
をこれに接触させて押し下げると、試料体は、上斜面2
2で案内されてのど部21に到達した段階で位置決めさ
れ、これを通過した下部空間S内で上下測定針によって
宙吊り状態で挟持・支持される。試料体を載せて押し下
げるだけの容易な操作で確実に位置決めできる。
決めをする。 【解決手段】 上下斜面22、23とこれらで形成する
のど部21を持つ本体2に針受け6を固定し、下測定針
3を矢印AB方向にガイドしつつバネ4で支持する。針
3は、のど部から突出しその断面Zに平行に試料体1を
載せられる上面31aを有する。 【効果】 上面31a上に試料体1を載せて上測定針5
をこれに接触させて押し下げると、試料体は、上斜面2
2で案内されてのど部21に到達した段階で位置決めさ
れ、これを通過した下部空間S内で上下測定針によって
宙吊り状態で挟持・支持される。試料体を載せて押し下
げるだけの容易な操作で確実に位置決めできる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、平板状の試料体を
位置決めするための試料体位置決め装置に関し、特に、
検査するために位置決めの必要な試料の検査用装置とし
て好都合に利用される。
位置決めするための試料体位置決め装置に関し、特に、
検査するために位置決めの必要な試料の検査用装置とし
て好都合に利用される。
【0002】
【従来の技術】例えば半導体部品等から成るウエハ状の
試料体の検査では、試料体のコンタクトポイント等の特
定位置に測定針を正確に接触させて通電試験を行うため
に、試料体を所定位置に位置決めする必要がある。この
ような位置決めは、従来、作業者が見た目のバランスと
いう視覚的情報に基づいて手調整によって行われてい
た。しかしながら、このような方法では、位置決めのた
めに人手を必要とし、調整に時間がかかると共に位置精
度も不十分なものであった。
試料体の検査では、試料体のコンタクトポイント等の特
定位置に測定針を正確に接触させて通電試験を行うため
に、試料体を所定位置に位置決めする必要がある。この
ような位置決めは、従来、作業者が見た目のバランスと
いう視覚的情報に基づいて手調整によって行われてい
た。しかしながら、このような方法では、位置決めのた
めに人手を必要とし、調整に時間がかかると共に位置精
度も不十分なものであった。
【0003】機械的に試料体を位置調整できる装置とし
ては、例えば、エアシリンダで昇降される台座を中心に
して、四方に移動可能になっていて特定の試料体に対し
て一定位置を容易に選択できるように構成された傾斜面
を配置し、台座に試料体を載せて台座を下降させること
により、試料体の自重によって試料体を傾斜面に倣わせ
ることによって位置決めできるようにした装置(特開平
8ー124966号公報参照)、上記において傾斜面が
固定された装置(同公報の従来技術)、モータやエアシ
リンダ等を用いて試料体を側面から押すことによってそ
の位置調整を行うようにした装置(同公報の従来技術)
等がある。
ては、例えば、エアシリンダで昇降される台座を中心に
して、四方に移動可能になっていて特定の試料体に対し
て一定位置を容易に選択できるように構成された傾斜面
を配置し、台座に試料体を載せて台座を下降させること
により、試料体の自重によって試料体を傾斜面に倣わせ
ることによって位置決めできるようにした装置(特開平
8ー124966号公報参照)、上記において傾斜面が
固定された装置(同公報の従来技術)、モータやエアシ
リンダ等を用いて試料体を側面から押すことによってそ
の位置調整を行うようにした装置(同公報の従来技術)
等がある。
【0004】しかしながら、試料体を下降させて傾斜面
に倣わす装置では、試料体の位置調整を傾斜面のみで行
うため、位置決め精度が不十分になるおそれがある。
又、エアシリンダ等を用いて位置決めする装置では、機
構が複雑になり装置コストが高くなるという問題があ
る。
に倣わす装置では、試料体の位置調整を傾斜面のみで行
うため、位置決め精度が不十分になるおそれがある。
又、エアシリンダ等を用いて位置決めする装置では、機
構が複雑になり装置コストが高くなるという問題があ
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は従来技術に於
ける上記問題を解決し、簡単な構造で低コストで、容易
に精度良く且つ確実に位置決めでき、省力化の図れる試
料体位置決め装置を提供することを課題とする。
ける上記問題を解決し、簡単な構造で低コストで、容易
に精度良く且つ確実に位置決めでき、省力化の図れる試
料体位置決め装置を提供することを課題とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するために、請求項1の発明は、平板状の試料体を位置
決めするための試料体位置決め装置において、前記試料
体を位置規制して通過させられるのど部と該のど部から
一方側に開いた傾斜部と他方側に開いた空間形成部とを
備えた本体と、前記のど部の横断面に平行に前記試料体
を載せられる載置部を備え前記横断面に直角方向に移動
可能なように前記他方側で前記本体に案内される支持体
と、前記載置部が前記のど部の近傍を含みこれから前記
一方側の所定位置になるように前記支持体を弾性的に支
持する付勢部材と、前記試料体が前記載置部に載せられ
たときに前記試料体を前記載置部の方向に押すための接
触部材と、を有することを特徴とする。
するために、請求項1の発明は、平板状の試料体を位置
決めするための試料体位置決め装置において、前記試料
体を位置規制して通過させられるのど部と該のど部から
一方側に開いた傾斜部と他方側に開いた空間形成部とを
備えた本体と、前記のど部の横断面に平行に前記試料体
を載せられる載置部を備え前記横断面に直角方向に移動
可能なように前記他方側で前記本体に案内される支持体
と、前記載置部が前記のど部の近傍を含みこれから前記
一方側の所定位置になるように前記支持体を弾性的に支
持する付勢部材と、前記試料体が前記載置部に載せられ
たときに前記試料体を前記載置部の方向に押すための接
触部材と、を有することを特徴とする。
【0007】請求項2の発明は、上記に加えて、前記支
持体と前記接触部材とは前記試料体を検査するための電
気を供給可能な検査用部材であることを特徴とする。
持体と前記接触部材とは前記試料体を検査するための電
気を供給可能な検査用部材であることを特徴とする。
【0008】
【発明の実施の形態】図1は本発明を適用した試料体位
置決め装置の構成例を示す。試料体位置決め装置は、平
板状の試料体1を検査のために位置決めするための装置
であり、本体2、支持体であり検査用部材である下測定
針3、付勢部材としてのバネ4、接触部材であり検査用
部材である上測定針5等を有する。試料体1は、通常、
セラミックを基材とするウエハ等の半導体部品である
が、平板状で検査等のために位置決めを必要とするもの
であればよい。形状は丸型、角形等何れでもよいが、本
例のものは、例えば円板状のウエハである。
置決め装置の構成例を示す。試料体位置決め装置は、平
板状の試料体1を検査のために位置決めするための装置
であり、本体2、支持体であり検査用部材である下測定
針3、付勢部材としてのバネ4、接触部材であり検査用
部材である上測定針5等を有する。試料体1は、通常、
セラミックを基材とするウエハ等の半導体部品である
が、平板状で検査等のために位置決めを必要とするもの
であればよい。形状は丸型、角形等何れでもよいが、本
例のものは、例えば円板状のウエハである。
【0009】本体2は、のど部21、傾斜部としての上
斜面22、空間形成部としての下斜面23等を備えてい
る。のど部21は、試料体1を位置規制して通過させら
れるように、試料体1が僅かな間隙をもって通過可能な
横断面Zを形成する。この間隙は、試料体1の寸法精度
や要求される位置決め精度等によって決められるが、試
料体1が容易に通過できる範囲でできるだけ少なく設定
される。のど部21は、通常、試料体1の形状と同じ形
状に形成される。即ち、試料体1が回路基板等で角形や
円形のときはそのような形状になり、ウエハのように円
形で一部に切欠を有するものでは、そのような形状にな
る。
斜面22、空間形成部としての下斜面23等を備えてい
る。のど部21は、試料体1を位置規制して通過させら
れるように、試料体1が僅かな間隙をもって通過可能な
横断面Zを形成する。この間隙は、試料体1の寸法精度
や要求される位置決め精度等によって決められるが、試
料体1が容易に通過できる範囲でできるだけ少なく設定
される。のど部21は、通常、試料体1の形状と同じ形
状に形成される。即ち、試料体1が回路基板等で角形や
円形のときはそのような形状になり、ウエハのように円
形で一部に切欠を有するものでは、そのような形状にな
る。
【0010】上斜面22は、のど部21から一方側であ
る矢印A方向に開いた形状になっている。この面は、試
料体1の周縁の一部分をのど部21まで案内できる形状
であればよく、例えば、四角錐面や円錐面状に形成され
る。図示の例では、上斜面22が上端まで一様に大きく
設けられているが、のど部21から少し上まで適当な寸
法だけあればよい。上斜面22が四角錐面や円錐面のと
きの母線の傾斜角θは、上傾斜面22と試料体1との間
の摩擦係数、試料体1を支持体2上に載置するときの取
扱性等によって定められるが、例えば15°〜35°程
度である。
る矢印A方向に開いた形状になっている。この面は、試
料体1の周縁の一部分をのど部21まで案内できる形状
であればよく、例えば、四角錐面や円錐面状に形成され
る。図示の例では、上斜面22が上端まで一様に大きく
設けられているが、のど部21から少し上まで適当な寸
法だけあればよい。上斜面22が四角錐面や円錐面のと
きの母線の傾斜角θは、上傾斜面22と試料体1との間
の摩擦係数、試料体1を支持体2上に載置するときの取
扱性等によって定められるが、例えば15°〜35°程
度である。
【0011】上斜面22はできるだけ摩擦係数が小さく
なるように仕上げられる。本体2自体の材料も、試料体
1との関係で摩擦係数の小さいものが望ましい。なお、
上斜面22は、本体2に摩擦係数の小さい材料をライニ
ングしたりメッキすることによって形成されてもよい。
下斜面23は、他方側である矢印B方向に開いていて、
下部空間Sを形成するためのものである。従って、空間
形成部であるこの部分は、必ずしも傾斜面23のような
形状になっている必要はない。
なるように仕上げられる。本体2自体の材料も、試料体
1との関係で摩擦係数の小さいものが望ましい。なお、
上斜面22は、本体2に摩擦係数の小さい材料をライニ
ングしたりメッキすることによって形成されてもよい。
下斜面23は、他方側である矢印B方向に開いていて、
下部空間Sを形成するためのものである。従って、空間
形成部であるこの部分は、必ずしも傾斜面23のような
形状になっている必要はない。
【0012】下測定針3は、接触部31及びこれから延
設された筒状部32を備えている。図示の例では、下測
定針3が中心位置に1個だけ設けられていて、接触部3
1は、のど部21の断面Zに平行に試料体1を載せられ
る載置部としての上面31aを備えている。円筒部32
には電線33が結合される。
設された筒状部32を備えている。図示の例では、下測
定針3が中心位置に1個だけ設けられていて、接触部3
1は、のど部21の断面Zに平行に試料体1を載せられ
る載置部としての上面31aを備えている。円筒部32
には電線33が結合される。
【0013】本体2には針受け6が固定されている。筒
状部32は、のど部21に対して矢印B方向の位置にお
いて、断面Zに直角方向である矢印A、B方向に移動可
能なように、針受け6を介して本体2によって案内され
ている。針受け6は本体1と下測定針3との間を絶縁す
る機能も有する。
状部32は、のど部21に対して矢印B方向の位置にお
いて、断面Zに直角方向である矢印A、B方向に移動可
能なように、針受け6を介して本体2によって案内され
ている。針受け6は本体1と下測定針3との間を絶縁す
る機能も有する。
【0014】接触部31の上面31aは、試料体1を位
置決めするときにこれと摺動するので、試料体1との間
の摩擦係数の小さい材料であると共に、試料体1を傷付
けないようにそれよりも軟質な材料であることが望まし
い。本例では、接触部31をリン青銅にして、この上に
ニッケルメッキすることによって上面31aを形成して
いる。
置決めするときにこれと摺動するので、試料体1との間
の摩擦係数の小さい材料であると共に、試料体1を傷付
けないようにそれよりも軟質な材料であることが望まし
い。本例では、接触部31をリン青銅にして、この上に
ニッケルメッキすることによって上面31aを形成して
いる。
【0015】バネ4は下測定針3の筒状部32の外周に
嵌まっていて、その両端は針受け6及び接触部31に係
止されている。その結果、ばね4は下測定針3を弾性的
に支持している。このバネ4に支持された下測定針3の
上面31aの位置は、のど部21の近傍を含みこれから
矢印A方向の所定位置であればよいが、図1の例では、
のど部21から矢印A方向に少し突出した位置になって
いる。バネ4のバネ力は、試料体1が上面31aに載せ
られて下部空間S内まで押し下げられたときに、試料体
1に設けられる図示しないコンタクトポイントと上面3
1aとの間を電気的に接続するために十分な接触圧の得
られる程度の力である。
嵌まっていて、その両端は針受け6及び接触部31に係
止されている。その結果、ばね4は下測定針3を弾性的
に支持している。このバネ4に支持された下測定針3の
上面31aの位置は、のど部21の近傍を含みこれから
矢印A方向の所定位置であればよいが、図1の例では、
のど部21から矢印A方向に少し突出した位置になって
いる。バネ4のバネ力は、試料体1が上面31aに載せ
られて下部空間S内まで押し下げられたときに、試料体
1に設けられる図示しないコンタクトポイントと上面3
1aとの間を電気的に接続するために十分な接触圧の得
られる程度の力である。
【0016】上測定針5は、試料体1が上面31aに載
せられたときに試料体1を上面31aの方向に押すため
のもので、先端が曲面状になった接触子51を備え、こ
れに電線52が接続される。上測定針5は、試料体1が
位置決めされたときに、これと電気的に接続するように
そのコンタクトポイントに圧接される。このときには、
バネ4のバネ力が作用する。図示の例では、上測定針5
が1個だけ示されているが、複数個あってもよい。接触
子51も下測定針3の接触部31と同様の材料でできて
いる。
せられたときに試料体1を上面31aの方向に押すため
のもので、先端が曲面状になった接触子51を備え、こ
れに電線52が接続される。上測定針5は、試料体1が
位置決めされたときに、これと電気的に接続するように
そのコンタクトポイントに圧接される。このときには、
バネ4のバネ力が作用する。図示の例では、上測定針5
が1個だけ示されているが、複数個あってもよい。接触
子51も下測定針3の接触部31と同様の材料でできて
いる。
【0017】図2は、本例の試料体位置決め装置によっ
て試料体1を検査できるように位置決めするときの状態
を示す。(a)に示す如く、のど部21から少し矢印A
方向に突出した位置にある下測定針3の上面31a上
に、試料体1が目分量でほぼ中央位置になるように適当
に載せる。このときには、図示の如く試料体1が中心か
ら偏っていてもよい。この状態で、上測定針5の接触子
51を試料体1の図示しないコンタクトポイントに接触
させ、図において下方に少しづつ押し下げる。
て試料体1を検査できるように位置決めするときの状態
を示す。(a)に示す如く、のど部21から少し矢印A
方向に突出した位置にある下測定針3の上面31a上
に、試料体1が目分量でほぼ中央位置になるように適当
に載せる。このときには、図示の如く試料体1が中心か
ら偏っていてもよい。この状態で、上測定針5の接触子
51を試料体1の図示しないコンタクトポイントに接触
させ、図において下方に少しづつ押し下げる。
【0018】このとき、試料体1は上斜面22によって
案内されると共に、接触子51の押し下げ力に伴う上斜
面22からの反力のうちの横方向分力を受け、上面31
a上で矢印AB方向に直角の方向である図において水平
のH方向に横移動する。この間、試料体1は、上斜面2
2及び上面31aとの間で摺動移動する。上測定針5
は、手操作の場合には水平方向に移動できるので、試料
体1と摺動することなく、試料体1のコンタクトポイン
トに接触した状態で移動する。
案内されると共に、接触子51の押し下げ力に伴う上斜
面22からの反力のうちの横方向分力を受け、上面31
a上で矢印AB方向に直角の方向である図において水平
のH方向に横移動する。この間、試料体1は、上斜面2
2及び上面31aとの間で摺動移動する。上測定針5
は、手操作の場合には水平方向に移動できるので、試料
体1と摺動することなく、試料体1のコンタクトポイン
トに接触した状態で移動する。
【0019】(b)は、試料体1が上斜面22で案内さ
れ、上面31aに沿って横移動しつつこれと共に下降
し、センタリングされてのど部21に到達した状態を示
す。このとき、試料体1は目的とする位置に位置決めさ
れる。(c)は、試料体1がのど部21を通過して下部
空間Sまで更に下降した状態を示す。このときには、バ
ネ4がかなり圧縮されて適当なバネ力を発生させ、試料
体1は上下測定針3、5間でバネ力によって挟持され
る。その結果、上下測定針3、5と試料体1のコンタク
トポイントとが正確に位置合わせされると共に、必要且
つ十分な力で圧接され、確実に目的とする電気的接続が
図られる。そして試料体1の検査を行うことができる。
れ、上面31aに沿って横移動しつつこれと共に下降
し、センタリングされてのど部21に到達した状態を示
す。このとき、試料体1は目的とする位置に位置決めさ
れる。(c)は、試料体1がのど部21を通過して下部
空間Sまで更に下降した状態を示す。このときには、バ
ネ4がかなり圧縮されて適当なバネ力を発生させ、試料
体1は上下測定針3、5間でバネ力によって挟持され
る。その結果、上下測定針3、5と試料体1のコンタク
トポイントとが正確に位置合わせされると共に、必要且
つ十分な力で圧接され、確実に目的とする電気的接続が
図られる。そして試料体1の検査を行うことができる。
【0020】このような試料体位置決め装置によれば、
のど部21が試料体1を僅かな間隙をもって通過できる
ように形成されていると共に、バネ4を介して下測定針
3で試料体1を弾性的に支持するので、上測定針5で試
料体1を押し下げても、試料体1がのど部21を通過す
るため試料体1に大きな力が加わることがない。その結
果、試料体1をその自重に頼ることなく積極的に外力を
加えて押し下げ、上斜面22の傾斜案内力を利用して試
料体1をのど部21まで導き、確実に位置決めすること
ができる。
のど部21が試料体1を僅かな間隙をもって通過できる
ように形成されていると共に、バネ4を介して下測定針
3で試料体1を弾性的に支持するので、上測定針5で試
料体1を押し下げても、試料体1がのど部21を通過す
るため試料体1に大きな力が加わることがない。その結
果、試料体1をその自重に頼ることなく積極的に外力を
加えて押し下げ、上斜面22の傾斜案内力を利用して試
料体1をのど部21まで導き、確実に位置決めすること
ができる。
【0021】又、試料体1を下測定針3上に載せるだけ
で、上測定針5を押し下げることによって試料体1が自
動的に位置決めされるので、人の操作による位置調整の
必要がなくなり、省力化が図られる。更に、人の操作は
試料体1を押し下げるだけであるから、簡単である。
又、このような試料体位置決め装置は、傾斜面とバネを
介した下測定針の支持構造のみで形成されるので、極め
て簡単な構造で低コストのものである。
で、上測定針5を押し下げることによって試料体1が自
動的に位置決めされるので、人の操作による位置調整の
必要がなくなり、省力化が図られる。更に、人の操作は
試料体1を押し下げるだけであるから、簡単である。
又、このような試料体位置決め装置は、傾斜面とバネを
介した下測定針の支持構造のみで形成されるので、極め
て簡単な構造で低コストのものである。
【0022】図3はのど部及び傾斜面の他の形状例を示
す。のど部21は、試料体1を位置規制して通過させら
れればよく、必ずしも試料体1と同じ形状でなくてもよ
い。試料体1が4角形状の場合には、例えば(a)に示
す如く、のど部21の断面Zのうちの二点鎖線で示す四
隅部を省略し、4つの直線状の中間のど部21a及び平
面状の中間上斜面22aによってのど部を形成させても
よい。このような形状にすれば、中間上斜面22aを矢
印の方向に動かすことができ、種々の異なった大きさの
試料体に用いることができる。
す。のど部21は、試料体1を位置規制して通過させら
れればよく、必ずしも試料体1と同じ形状でなくてもよ
い。試料体1が4角形状の場合には、例えば(a)に示
す如く、のど部21の断面Zのうちの二点鎖線で示す四
隅部を省略し、4つの直線状の中間のど部21a及び平
面状の中間上斜面22aによってのど部を形成させても
よい。このような形状にすれば、中間上斜面22aを矢
印の方向に動かすことができ、種々の異なった大きさの
試料体に用いることができる。
【0023】又、(b)に示す如く、試料体1がウエハ
のように位置合わせ用の端面1aを持つ場合には、例え
ば2つの円弧状のど部21b及び部分円錐面状上斜面2
2b並びに1つの直線と円弧の組合せのど部21c及び
平面と部分円錐面の組合せ上斜面22cによってのど部
を形成させてもよい。
のように位置合わせ用の端面1aを持つ場合には、例え
ば2つの円弧状のど部21b及び部分円錐面状上斜面2
2b並びに1つの直線と円弧の組合せのど部21c及び
平面と部分円錐面の組合せ上斜面22cによってのど部
を形成させてもよい。
【0024】(c)はのど部21の縦断面形状の他の例
を示す。のど部21は、図1に示すように両斜面22、
23の尖端のみで形成されることなく、図4(a)に示
す如く、一定の長さを持った例えば円筒状部分21´に
なっていてもよい。又、(d)に示す如く、下傾斜面2
3に代えて、水平面23a及び垂直面23bによって下
部空間Sを形成するようにしてもよい。
を示す。のど部21は、図1に示すように両斜面22、
23の尖端のみで形成されることなく、図4(a)に示
す如く、一定の長さを持った例えば円筒状部分21´に
なっていてもよい。又、(d)に示す如く、下傾斜面2
3に代えて、水平面23a及び垂直面23bによって下
部空間Sを形成するようにしてもよい。
【0025】図4は、上測定針5にガイド機構を設けた
例を示す。この例では、上測定針5に絶縁体7を固定
し、これにロッド8を取り付け、これを適当に固定され
たガイドシリンダ9で矢印AB方向に移動可能に案内す
るようにしている。ロッド8の上端には、ネジによって
調整可能で押し下げ位置を定められるナット10を設け
る。更に、このような構造では、自動測定の可能なよう
に、ロッド8をボールネジナット等の直線駆動装置によ
り、自動的に往復移動及び停止させるような構造にする
ことも可能である。本例のようなガイド機構を設けれ
ば、操作が一層容易になる。
例を示す。この例では、上測定針5に絶縁体7を固定
し、これにロッド8を取り付け、これを適当に固定され
たガイドシリンダ9で矢印AB方向に移動可能に案内す
るようにしている。ロッド8の上端には、ネジによって
調整可能で押し下げ位置を定められるナット10を設け
る。更に、このような構造では、自動測定の可能なよう
に、ロッド8をボールネジナット等の直線駆動装置によ
り、自動的に往復移動及び停止させるような構造にする
ことも可能である。本例のようなガイド機構を設けれ
ば、操作が一層容易になる。
【0026】図5は、下測定針の他の例を示す。(a)
及び(b)では、1つの下測定針3の接触部31からか
ら3つの接触端31−1〜3が突出している。それぞれ
の接触端は、のど部21と平行な線Lに対して同じ高さ
になっている。このような接触端でも、図において二点
鎖線で示す一定範囲の上面31a´を形成するので、こ
の上に試料体1を載せることができる。(c)では、下
測定針自体が3−1〜3として3個設けられている。こ
の場合には、上測定針5で試料体1を押し下げる位置に
よっては、下測定針が不等下降するが、下降量が大きく
なればバネ力が大きくなるので、下降時の試料体1の傾
斜は修正され、実用上問題はない。なお、上測定針5も
下測定針3と同様の構造であっもよい。
及び(b)では、1つの下測定針3の接触部31からか
ら3つの接触端31−1〜3が突出している。それぞれ
の接触端は、のど部21と平行な線Lに対して同じ高さ
になっている。このような接触端でも、図において二点
鎖線で示す一定範囲の上面31a´を形成するので、こ
の上に試料体1を載せることができる。(c)では、下
測定針自体が3−1〜3として3個設けられている。こ
の場合には、上測定針5で試料体1を押し下げる位置に
よっては、下測定針が不等下降するが、下降量が大きく
なればバネ力が大きくなるので、下降時の試料体1の傾
斜は修正され、実用上問題はない。なお、上測定針5も
下測定針3と同様の構造であっもよい。
【0027】図6は、下測定針3の上面31aをのど部
21の近傍でその下方位置に設定した状態を示す。この
場合には、(a)に示す如く、試料体1を上斜面22内
に入れて適当に置くと、試料体1は、最初実線で示すよ
うに上斜面22と上面31aの一端側とに当たり、これ
らに案内されて矢印で示す如くその一端側が上斜面22
に沿って移動し、二点鎖線L1 で示すようにのど部21
に到達して位置調整され、更に二点鎖線L2 で示すよう
に上面31aに沿った状態でその上に載り、横方向位置
が定められる。
21の近傍でその下方位置に設定した状態を示す。この
場合には、(a)に示す如く、試料体1を上斜面22内
に入れて適当に置くと、試料体1は、最初実線で示すよ
うに上斜面22と上面31aの一端側とに当たり、これ
らに案内されて矢印で示す如くその一端側が上斜面22
に沿って移動し、二点鎖線L1 で示すようにのど部21
に到達して位置調整され、更に二点鎖線L2 で示すよう
に上面31aに沿った状態でその上に載り、横方向位置
が定められる。
【0028】(b)は、図3(c)のようにのど部が一
定の幅を持つ円筒状部分21´になっている場合であ
る。このときにも(a)と同様に位置調整されるが、試
料体1が上面31aに載ったときにその側面が円筒状部
分21´によって位置規制されるので、一層確実に位置
決めされることになる。
定の幅を持つ円筒状部分21´になっている場合であ
る。このときにも(a)と同様に位置調整されるが、試
料体1が上面31aに載ったときにその側面が円筒状部
分21´によって位置規制されるので、一層確実に位置
決めされることになる。
【0029】このように下測定針3の上面31aをのど
部21の下方位置に設定する場合には、試料体1の横方
向位置が調整された後に、上測定針をこれに接触させ、
試料体1を押し下げることになる。その結果、図1の場
合と同様に、試料体1を宙吊り状態で位置決め支持する
ことができる。
部21の下方位置に設定する場合には、試料体1の横方
向位置が調整された後に、上測定針をこれに接触させ、
試料体1を押し下げることになる。その結果、図1の場
合と同様に、試料体1を宙吊り状態で位置決め支持する
ことができる。
【0030】なお以上では、支持体及び接触部材が、試
料体1を検査するための電気を供給できる検査用部材と
しての上、下測定針3、5である場合について説明した
が、本発明の試料体位置決め装置は、上、下測定針が単
に位置決めのみに用いられる場合にも適用可能である。
その場合にも、試料体1を精度良く簡単に位置決めする
ことができる。その結果、この定められた位置により、
他の検査や測定等を容易に行うことができる。
料体1を検査するための電気を供給できる検査用部材と
しての上、下測定針3、5である場合について説明した
が、本発明の試料体位置決め装置は、上、下測定針が単
に位置決めのみに用いられる場合にも適用可能である。
その場合にも、試料体1を精度良く簡単に位置決めする
ことができる。その結果、この定められた位置により、
他の検査や測定等を容易に行うことができる。
【0031】
【発明の効果】請求項1の発明は次のような作用効果を
有する。支持体が、のど部の断面に平行に試料体を載せ
られる載置部を備え、付勢部材により、載置部がのど部
の近傍を含みこれから一方側の所定位置になるよう支持
されているので、所定位置がのど部から開いた傾斜部の
ある方向に突出した位置であるときには、傾斜部内で載
置部上に試料体を載せることができる。この載せる位置
は、位置決めしようとする目的の位置でなくてもよいの
で、適当に目分量で簡単に載せることができる。従っ
て、この載せる操作は容易である。
有する。支持体が、のど部の断面に平行に試料体を載せ
られる載置部を備え、付勢部材により、載置部がのど部
の近傍を含みこれから一方側の所定位置になるよう支持
されているので、所定位置がのど部から開いた傾斜部の
ある方向に突出した位置であるときには、傾斜部内で載
置部上に試料体を載せることができる。この載せる位置
は、位置決めしようとする目的の位置でなくてもよいの
で、適当に目分量で簡単に載せることができる。従っ
て、この載せる操作は容易である。
【0032】一方、支持体は、本体からのど部の横断面
に直角の方向に案内されていると共に、付勢部材で弾性
的に支持されているので、横断面方向に位置保持された
状態で、その直角方向に移動可能である。従って、載置
部に試料体を載せ、接触部材でこれを載置部の方向に押
すと、試料体を載置部上に接触させた状態で、載置部を
位置保持して直角方向に移動させることができる。この
とき、載置部上で試料体が目的とする位置になっていな
いときには、試料体が傾斜部に接触し、傾斜部から反力
を受ける。
に直角の方向に案内されていると共に、付勢部材で弾性
的に支持されているので、横断面方向に位置保持された
状態で、その直角方向に移動可能である。従って、載置
部に試料体を載せ、接触部材でこれを載置部の方向に押
すと、試料体を載置部上に接触させた状態で、載置部を
位置保持して直角方向に移動させることができる。この
とき、載置部上で試料体が目的とする位置になっていな
いときには、試料体が傾斜部に接触し、傾斜部から反力
を受ける。
【0033】この反力の垂直分力は接触部材の押す力で
押さえられるので、試料体は載置部と接触状態を維持す
る。即ち、試料体の安定状態が保たれる。斜面反力のう
ちの水平分力は、試料体を載置部上でこれに沿って移動
させる。その結果、試料体は、開いた傾斜部においてこ
れに接触しつつその閉じる方向に案内され、のど部に到
達する。そしてのど部は、試料体を位置規制して通過さ
せられるように構成されているので、試料体は、最終的
にのど部で位置決めされる。又、支持体との位置関係も
定められる。
押さえられるので、試料体は載置部と接触状態を維持す
る。即ち、試料体の安定状態が保たれる。斜面反力のう
ちの水平分力は、試料体を載置部上でこれに沿って移動
させる。その結果、試料体は、開いた傾斜部においてこ
れに接触しつつその閉じる方向に案内され、のど部に到
達する。そしてのど部は、試料体を位置規制して通過さ
せられるように構成されているので、試料体は、最終的
にのど部で位置決めされる。又、支持体との位置関係も
定められる。
【0034】のど部を通過した他方側には、開いた空間
形成部が設けられているので、試料体はもはや本体と接
触することなく、宙吊り状態になる。このときには、接
触部材で試料体を押す力に対抗して同じ力が付勢部材に
生じるので、この力を加減することにより、試料体を位
置決めした状態において、支持部と接触部材との間で試
料体を目的とする力で挟持・支持することができる。そ
して、この位置決めされ支持された状態を、検査や測定
等の目的に利用することができる。
形成部が設けられているので、試料体はもはや本体と接
触することなく、宙吊り状態になる。このときには、接
触部材で試料体を押す力に対抗して同じ力が付勢部材に
生じるので、この力を加減することにより、試料体を位
置決めした状態において、支持部と接触部材との間で試
料体を目的とする力で挟持・支持することができる。そ
して、この位置決めされ支持された状態を、検査や測定
等の目的に利用することができる。
【0035】このような試料体位置決め装置によれば、
試料体がのど部を通過可能であるため、接触部材を接触
させて積極的に外力を加えて試料体を押し下げられるの
で、確実に位置決めすることができる。又、試料体を載
置部上に載せるだけで、接触部材を押し下げることによ
って試料体が自動的に位置決めされるので、人の操作に
よる位置調整の必要がなくなり、省力化が図られる。更
に、人の操作は試料体を押し下げるだけであるから、簡
単である。なお、接触部材を適当な手段で案内すると共
に自動的に昇降、停止させるようにすれば、位置決めの
無人化も可能になる。更に、このような試料体位置決め
装置は、傾斜面と弾性部材を介した支持部の支持構造に
よって形成されるので、極めて簡単な構造で低コストの
ものである。
試料体がのど部を通過可能であるため、接触部材を接触
させて積極的に外力を加えて試料体を押し下げられるの
で、確実に位置決めすることができる。又、試料体を載
置部上に載せるだけで、接触部材を押し下げることによ
って試料体が自動的に位置決めされるので、人の操作に
よる位置調整の必要がなくなり、省力化が図られる。更
に、人の操作は試料体を押し下げるだけであるから、簡
単である。なお、接触部材を適当な手段で案内すると共
に自動的に昇降、停止させるようにすれば、位置決めの
無人化も可能になる。更に、このような試料体位置決め
装置は、傾斜面と弾性部材を介した支持部の支持構造に
よって形成されるので、極めて簡単な構造で低コストの
ものである。
【0036】なお、所定位置がのど部の近傍でそれより
も少し空間形成部側であるときには、試料体を直接載置
部上に載せることはできないが、これを傾斜部内に適当
に置くと、試料体は傾斜部と載置部との両方によって案
内されてのど部を通過し、ここで横方向位置を調整され
て載置部上に載ることになる。従って、このときには、
位置調整が更に容易になる。
も少し空間形成部側であるときには、試料体を直接載置
部上に載せることはできないが、これを傾斜部内に適当
に置くと、試料体は傾斜部と載置部との両方によって案
内されてのど部を通過し、ここで横方向位置を調整され
て載置部上に載ることになる。従って、このときには、
位置調整が更に容易になる。
【0037】請求項2の発明によれば、上記に加えて、
支持体と接触部材とを、試料体検査用の電気を供給可能
な検査用部材にするので、上記のように試料体を位置決
め支持することにより、電気的接続に必要な接触力を自
動的に得ることができる。従って、試料体の検査が極め
て容易になる。
支持体と接触部材とを、試料体検査用の電気を供給可能
な検査用部材にするので、上記のように試料体を位置決
め支持することにより、電気的接続に必要な接触力を自
動的に得ることができる。従って、試料体の検査が極め
て容易になる。
【図1】本発明を適用した試料体位置決め装置の一例を
示す断面図である。
示す断面図である。
【図2】(a)乃至(c)は、上記装置で試料体が位置
決めされる過程を示す説明図である。
決めされる過程を示す説明図である。
【図3】のど部及び傾斜部の他の例を示し、(a)及び
(b)は平面図で、(c)及び(d)は断面図である。
(b)は平面図で、(c)及び(d)は断面図である。
【図4】上測定針の移動を案内する構造の一例を示す断
面図である。
面図である。
【図5】下測定針の他の例を示し、(a)はその上部の
正面図、(b)は平面図、(c)は一部断面図である。
正面図、(b)は平面図、(c)は一部断面図である。
【図6】(a)及び(b)は上測定針の上面をのど部の
下に設定したときの試料体の位置調整作用の説明図であ
る。
下に設定したときの試料体の位置調整作用の説明図であ
る。
1 試料体 2 本体 3 下測定針(支持部、検査用部材) 4 バネ(付勢部材) 5 上測定針(接触部材) 21 のど部 22 上斜面(傾斜部) 23 下斜面(空間形成部) 31 接触部(載置部) A 一方側 B 他方側 Z のど部の横断面
Claims (2)
- 【請求項1】 平板状の試料体を位置決めするための試
料体位置決め装置において、 前記試料体を位置規制して通過させられるのど部と該の
ど部から一方側に開いた傾斜部と他方側に開いた空間形
成部とを備えた本体と、前記のど部の横断面に平行に前
記試料体を載せられる載置部を備え前記横断面に直角方
向に移動可能なように前記他方側で前記本体に案内され
る支持体と、前記載置部が前記のど部の近傍を含みこれ
から前記一方側の所定位置になるように前記支持体を弾
性的に支持する付勢部材と、前記試料体が前記載置部に
載せられたときに前記試料体を前記載置部の方向に押す
ための接触部材と、を有することを特徴とする試料体位
置決め装置。 - 【請求項2】 前記支持体と前記接触部材とは前記試料
体を検査するための電気を供給可能な検査用部材である
ことを特徴とする請求項1に記載の試料体位置決め装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2581997A JPH10209250A (ja) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | 試料体位置決め装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2581997A JPH10209250A (ja) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | 試料体位置決め装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10209250A true JPH10209250A (ja) | 1998-08-07 |
Family
ID=12176482
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2581997A Pending JPH10209250A (ja) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | 試料体位置決め装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10209250A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005098935A1 (ja) * | 2004-04-05 | 2005-10-20 | Iguchi Kiko Co., Ltd. | 基板用位置決めテーブル、基板用位置決め設備、基板の位置決め方法 |
| WO2014079671A1 (de) * | 2012-11-20 | 2014-05-30 | Aixtron Se | Vorrichtung zum ausrichten eines wafers auf einem waferträger |
-
1997
- 1997-01-24 JP JP2581997A patent/JPH10209250A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005098935A1 (ja) * | 2004-04-05 | 2005-10-20 | Iguchi Kiko Co., Ltd. | 基板用位置決めテーブル、基板用位置決め設備、基板の位置決め方法 |
| WO2014079671A1 (de) * | 2012-11-20 | 2014-05-30 | Aixtron Se | Vorrichtung zum ausrichten eines wafers auf einem waferträger |
| CN104798191A (zh) * | 2012-11-20 | 2015-07-22 | 艾克斯特朗欧洲公司 | 用于使晶片在晶片支架上对准的装置 |
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