JPH10223584A - 基板洗浄装置 - Google Patents

基板洗浄装置

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JPH10223584A
JPH10223584A JP9024831A JP2483197A JPH10223584A JP H10223584 A JPH10223584 A JP H10223584A JP 9024831 A JP9024831 A JP 9024831A JP 2483197 A JP2483197 A JP 2483197A JP H10223584 A JPH10223584 A JP H10223584A
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Akihiko Morita
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板の種類に応じて複数種類のブラシを自動
的に交換しつつ洗浄することにより、基板の種類に係わ
らず適切に洗浄処理を施すことができる。 【解決手段】 ブラシで基板表面を洗浄する基板洗浄装
置であって、複数種類のブラシ10a,10b,10c
と、基板の種類に対応した適切なブラシの種類を示すと
ともに、それらの使用順序を示すブラシ情報を予め記憶
する記憶部64と、記憶部64に記憶されているブラシ
情報を参照しつつ、複数種類のブラシ10a,10b,
10cを順次に交換しつつ洗浄処理を施す制御部60と
を備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ、フ
ォトマスク用のガラス基板、液晶表示装置用のガラス基
板、光ディスク用の基板など(以下、単に基板と称す
る)に対してブラシを当接あるいは若干浮かせた状態で
洗浄処理を施す基板洗浄装置に係り、特に、複数種類の
ブラシに交換しつつ洗浄処理を施す技術に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の基板洗浄装置として、例
えば、一種類のブラシを用いて基板を洗浄するものが挙
げられる。ブラシの種類としては、ナイロンブラシや、
PVA(ポリビニルアルコール)ブラシなどがあり、使
用するブラシをオペレータが手動で交換するようになっ
ている。つまり、汚染の度合いに応じてナイロンブラシ
を取り付けて洗浄したり、PVAブラシに交換するよう
にしている。例えば、酸化処理などの絶縁膜付処理を施
した後の基板を洗浄する場合には、炉内における汚染の
度合いが比較的大きいことを考慮してナイロンブラシを
使用し、エッチング処理後などにおいては汚染の度合い
が小さいためPVAブラシを使用することが一般的に行
われている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。すなわち、ナイロンブラシを用いて洗浄すると基
板に付着している比較的大きなゴミを効率良く除去する
ことができる一方、小さなゴミを除去することが困難で
あるので、基板を適切に洗浄することができないという
問題がある。また、PVAブラシを用いて洗浄すると基
板に付着している小さなゴミをも除去することが可能で
ある一方で、ブラシの汚染が早くなってPVAブラシを
頻繁に交換しなくてはならない。また、オペレータがブ
ラシを手動で交換するため、ブラシの種類を誤認すると
不適切なブラシによって洗浄処理が行われる恐れがあ
る。
【0004】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、基板の種類に応じて複数種類のブラシ
を自動的に交換しつつ洗浄することにより、基板の種類
に係わらず適切に洗浄処理を施すことができる基板洗浄
装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項1に記載の基板洗浄装置は、ブラシで基板表
面を洗浄する基板洗浄装置であって、複数種類のブラシ
と、処理において使用されるブラシの種類及びその使用
順序を示すブラシ情報を含む処理条件を複数組記憶する
記憶手段と、前記記憶手段に記憶された複数組の洗浄条
件の中から所望の洗浄条件を選択する選択手段と、前記
選択手段により選択された洗浄条件に基づき複数種類の
ブラシを順次に交換しつつ洗浄処理を行わしめる制御手
段と、を備えていることを特徴とするものである。
【0006】また、請求項2に記載の基板洗浄装置は、
請求項1に記載の基板洗浄装置において、前記基板が絶
縁膜付処理後のものであって、その表面に絶縁膜を有す
るものである場合には、前記ブラシ情報を、ナイロンブ
ラシと、PVA(ポリビニルアルコール)ブラシと、基
板表面の電気的特性変更用ブラシとをその順序に設定す
ることを特徴とするものである。
【0007】
【作用】請求項1に記載の発明の作用は次のとおりであ
る。選択手段により記憶手段に記憶された複数組の洗浄
条件の中から所望の洗浄条件が選択されると、制御手段
は選択された洗浄条件に含まれたブラシ情報に基づき、
ブラシ情報に示された使用順序に応じてブラシを交換し
つつ基板を洗浄する。したがって、基板の種類に応じた
適切なブラシを自動的に選択することができるととも
に、適切な使用順序でブラシを交換しつつ基板に洗浄処
理を行うことができる。
【0008】また、請求項2に記載の発明によれば、基
板が絶縁膜付処理後のものであって、その表面に絶縁膜
が形成されている場合には、基板の汚染度合いが比較的
大きいので、使用するブラシをナイロンブラシと、PV
Aブラシと、基板表面の電気的特性変更用ブラシの三種
類とし、使用順序をその順序としたブラシ情報としてお
く。これにより最初にナイロンブラシによる粗洗浄が行
われ、次にPVAブラシによる精密洗浄が行われ、最後
に、基板表面の電気的特性を変化させて微細なパーティ
クルを除去するために、基板表面の電気的特性変更用ブ
ラシによる洗浄が行われる。これらの複数種類のブラシ
およびその順序で上記基板を洗浄することにより、各ブ
ラシの汚染を抑制しつつ小さなゴミおよび大きなゴミを
除去でき、さらにゴミの再付着をも防止できる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施例を説明する。図1は実施例に係るブラシ式の基板
洗浄装置(ブラシスクラバとも呼ばれる)の概略構成を
示すブロック図である。また、図2は、その構成を示す
一部切欠き側面図であり、図3はその平面図である。
【0010】図中、符号1は、例えば、真空吸着によっ
て基板Wの表面を上に向けて水平姿勢で支持するスピン
チャックであり、回転軸2を介して電動モータ3により
回転中心CP周りに回転駆動されるようになっている。
スピンチャック1の周囲には、ノズルNZから基板Wの
表面に供給された洗浄液が周囲に飛散するのを防止する
飛散防止カップ4が配設されている。
【0011】基板Wの表面に当接あるいは若干浮いた状
態で洗浄を行うブラシ10は、基板Wの側方に離れた位
置に配設されている待機ポットTPと、基板Wの回転中
心CPの洗浄位置とにわたって1つの揺動アーム12に
より移動される。揺動アーム12の基端部側は、飛散防
止カップ4の側方に配設されたアーム支軸14の先端部
に取り付けられている。このアーム支軸14は、基台1
6に回転自在かつ昇降自在に立設されており、その下端
部側にベルト18を介して電動モータ20の回転が伝達
される。したがって、電動モータ20を回転することに
より揺動アーム12が揺動軸芯S周りに揺動する。
【0012】アーム支軸14の下端部の下方には、エア
シリンダ22が配設されている。このエアシリンダ22
のロッド22aを伸縮することにより、アーム支軸14
の下端部が昇降して、揺動アーム12を昇降するように
なっている。また、アーム支軸14の中央部付近には、
環状のストッパ24が取り付けられており、支持台26
の上面に当接してアーム支軸14の下降位置を規制す
る。さらに、アーム支軸14はエアシリンダ28を内蔵
しており、そのロッド28aの伸縮によりアーム支軸1
4を伸縮する。
【0013】揺動アーム12の先端部には、ブラシチャ
ック30が配備されている。ブラシチャック30は、揺
動アーム12の先端部下方に回転自在に取り付けられて
いる。揺動アーム12の基端部側上面に配設された電動
モータ32は、揺動アーム12内に配設された図示しな
いベルトを介してブラシチャック30を回転する。この
電動モータ32を回転することにより、ブラシチャック
30に支持されたブラシ10が自転する。ブラシチャッ
ク30の下端部には、4個の爪34が十字方向に開閉自
在に取り付けられており、揺動アーム12の先端部上面
に配設されたエアシリンダ36を駆動することにより開
閉する。これらの爪34の開閉により、四方からブラシ
10の上部外周面を挟持して支持するようになってい
る。
【0014】待機ポットTPは、揺動アーム12の先端
部に配備されたブラシチャック30の揺動軌跡に沿って
3個の待機カップ40が形成されている。各待機カップ
40には、各ブラシ10の毛が下方に向けられた状態で
挿抜自在に収納されている。なお、本実施例では、一例
として待機ポットTPに3種類のそれぞれ異なるブラシ
10(10a,10b,10c)を配備している。具体
的には、粗洗浄に好適なナイロン製の毛を備えたナイロ
ンブラシ10aと、精密洗浄に適したPVA(ポリビニ
ルアルコール)製のスポンジを備えたPVAブラシ10
bと、基板表面の電気的特性変更用ブラシとして、基板
表面の静電気を除去可能な性質を有する導電材料(例え
ば、導電ナイロン)製の毛を備えた除電ブラシ10cで
ある。また、待機ポットTPは、待機カップ40に収納
されたブラシ10の毛を洗浄して、基板Wから付着した
ゴミを除去する洗浄手段(図示省略)を備えている。
【0015】上述したノズルNZと、揺動アーム12を
揺動する電動モータ20,アーム支軸14を昇降/伸縮
するエアシリンダ22,28からなる駆動部50と、ブ
ラシ10を自転/挟持する電動モータ32,エアシリン
ダ36とは、本発明の制御手段に相当する制御部60に
より統括制御される。記憶手段に相当する記憶部64
は、図4の模式図に示すようなブラシ情報と、図5の模
式図に示すような洗浄処理の手順を規定した処理プログ
ラム(以下、レシピーと称する)を予め記憶している。
【0016】ブラシ情報は、キーボードなどで構成され
ている入力部66から予めオペレータによって入力され
ているものであり、ブラシ10の種類と、その使用順序
とを示し、基板Wの種類に応じて予め設定されるもので
ある。なお、基板Wの種類とは、基板Wに形成されてい
る膜種や直前の処理内容によって異なるものである。例
えば、酸化処理、拡散処理、フォトリソ処理、エッチン
グ処理などの処理内容や、シリコン、酸化膜、窒化膜、
フォトレジスト膜などの表面状態等によって異なる。
【0017】ブラシ情報中の第1ブラシ〜第3ブラシ
は、待機ポットTP(図3)に形成されている3個の待
機カップ40の位置に対応するものであり、その右側か
ら順次に対応している。したがって、この例では、第1
ブラシがナイロンブラシ10aに、第2ブラシがPVA
ブラシ10bに、第3ブラシが除電ブラシ10cに対応
する。そして、基板Wの種類に応じて3種類のブラシ1
0a〜10cのうちいずれのブラシを使用して、どのよ
うな順序で使用するかを予め入力しておく。例えば、基
板Wに絶縁膜付処理として酸化処理を行った後であっ
て、その表面に絶縁膜としての酸化膜が形成されている
ものと基板Wにエッチング処理を行った後であって、そ
の表面に酸化膜が形成されているものとでは汚染度合い
が異なるので、前者を例えばレシピーNo.1に対応付
けて、3種類のブラシ10a〜10cをその順序で全て
使用するように入力し、後者を例えばレシピーNo.2
に対応付けて、2種類のブラシ10b,10cをその順
序で使用するように入力しておく。具体例としては、図
4のブラシ情報に示すように、レシピーNo.1に対応
付けて第1ブラシ、第2ブラシ、第3ブラシの欄に1、
2、3と使用順序を示す数値を入力し、レシピーNo.
2に対応付けて第2ブラシ、第3ブラシの欄に1、2と
使用順序を示す数値を入力しておく。なお、ブラシ情報
および後述するレシピーを入力する際には、モニタ68
に内容を表示しつつオペレータが入力/編集するように
なっている。
【0018】レシピーは、上記ブラシ情報とともに洗浄
条件に相当し、ブラシ情報と同様に入力部66からオペ
レータによって予め入力されているものであって、洗浄
処理の手順を規定するものである。この例では、各レシ
ピーごとに、洗浄時に基板Wを回転中心CP周りに回転
させる電動モータ3の回転数(rpm)と、各ブラシ毎
の、自転させる電動モータ32の回転数(rpm)と処
理時間(rpm)とを含むものである。そして、ブラシ
情報やレシピーは、選択手段としての入力部66からオ
ペレータによって選択される。
【0019】次に、上述した装置の動作について、図6
のフローチャートを参照して説明する。なお、この例で
は1ロットが1枚の基板Wで構成された枚葉処理の形態
を例に採って説明する。また、初期状態では、図2に二
点鎖線で示すように、揺動アーム12の先端部が待機ポ
ットTPの上方に待機している。このとき、アーム支軸
14のストッパ24は支持台24に当接しているととも
に、エアシリンダ28のロッド28aが伸長され、アー
ム支軸14が伸長された状態である。
【0020】まず最初に、直前に酸化処理を終えた基板
W(ロット)を処理し、次いで、直前にエッチング処理
を終えた基板W(ロット)を処理する場合を例に採って
説明する。
【0021】ステップS1(選択) オペレータが、酸化処理を終えた基板Wの洗浄処理に対
応するブラシ情報とレシピーとを入力部66から選択す
る。この場合、基板Wの種類が酸化処理を終えたもので
あるので、図4のブラシ情報及び図5のレシピー中から
レシピーNo.1のものが選択される。
【0022】ステップS2(洗浄) 酸化処理を終えた基板Wが、図示しない搬送手段により
運ばれてスピンチャック1に保持される。制御部60
は、ステップS1で選択したレシピーのデータ及びブラ
シ情報を記憶部64から読み出し、選択したレシピーの
データに従ってブラシ情報を参照しつつ基板Wに対して
洗浄処理を実行せしめる。その具体的な洗浄動作は、次
のようなものである。
【0023】まず、制御部60は、ブラシ情報を参照し
て、最初に使用するブラシ10を選択する。この例で
は、電動モータ20を駆動して揺動アーム12のブラシ
チャック30が、待機ポットTPの待機カップ40に収
納されたナイロンブラシ10aの上方に位置するように
揺動アーム12を揺動させる。そして、エアシリンダ3
6を動作させて爪34を開き、エアシリンダ28のロッ
ド28aを収縮させてブラシチャック30を下降させ
る。次いで、エアシリンダ36を動作させて爪34を閉
じてナイロンブラシ10aをブラシチャック30で挟持
し、エアシリンダ28のロッド28aを伸長させて挟持
したナイロンブラシ10aを待機カップ40から取り出
す。
【0024】次に、エアシリンダ22のロッド22aを
伸長させてアーム支軸14を上方に持ち上げ、その状態
で電動モータ20を正転させて揺動アーム12を揺動さ
せ、ナイロンブラシ10aを基板Wの回転中心CP上方
に移動させる。
【0025】そして、電動モータ3を正転させて、レシ
ピーNo.1に規定されている回転数R1で基板Wの回
転を開始するとともに、エアシリンダ22のロッド22
aを収縮させ、ナイロンブラシ10aを下降させて基板
Wの表面にナイロンブラシ10aの毛を当接させる。な
お、ナイロンブラシ10aの毛を基板Wに当接させるこ
となく若干浮かせた状態で洗浄するようにしてもよい。
さらにノズルNZから洗浄液の供給を開始するととも
に、電動モータ32を駆動してナイロンブラシ10aを
回転数R2で自転させつつ、処理時間T1だけ電動モー
タ20の逆転/正転を繰り返す。これによりナイロンブ
ラシ10aは、図3に示すように、回転中心CPから基
板Wの外縁まで移動を繰り返すことになり、基板Wの表
面全体を洗浄する。なお、この基板Wは、炉において酸
化処理を行った後のものであって汚染度合いが大きいの
で、最初にこのナイロンブラシ10aによって大きなゴ
ミを効率よく除去する粗洗浄を行っておく。
【0026】ナイロンブラシ10aによる洗浄を行って
処理時間T1が経過すると、上述した動作を逆の順序で
行って、ナイロンブラシ10aを待機ポットTPの待機
カップ40に移動して収納する。そして、ブラシ情報を
参照して、次に使用するPVAブラシ10bを、上述し
た動作によってブラシチャック30に挟持する。
【0027】上述したナイロンブラシ10aと同様にし
て、PVAブラシ10bを回転数R3で自転させつつ基
板Wに当接させ、揺動アーム12を揺動させつつ処理時
間T2だけ処理する。この処理によりナイロンブラシ1
0aの粗洗浄では除去されなかった小さなゴミを除去す
る精密洗浄を行う。このとき既にナイロンブラシ10a
による粗洗浄を終えているので、PVAブラシ10bの
汚染が低減できる。したがって、汚染によるPVAブラ
シ10bの交換頻度を低減でき、装置の稼働率を向上さ
せることができる。
【0028】処理時間T2が経過すると、PVAブラシ
10bを待機カップ40に収納し、除電ブラシ10cを
ブラシチャック30に挟持する。そして、除電ブラシ1
0cを回転数R4で自転させつつ揺動アーム12を揺動
させて、処理時間T3にわたって処理を行う。この処理
によって基板Wの静電気を除去し、取り除いたゴミが再
付着することを防止することができる。
【0029】上記のように異なる3種類のブラシを順次
に交換して、粗洗浄、精密洗浄、再付着防止処理を行う
一連の洗浄処理によって、1枚の基板Wに対する洗浄処
理が完了する。このようにそれぞれの洗浄において、処
理に好適なブラシが使用されるので適切に洗浄を行うこ
とができる。
【0030】次いで、直前にエッチング処理を終えた新
たな基板Wを処理する場合について説明する。
【0031】ステップS1(選択) オペレータが、エッチング処理を終えた基板Wの洗浄処
理に対応するブラシ情報とレシピーとを入力部66から
選択する。この場合、基板Wの種類がエッチング処理を
終えたものであるので、図4のブラシ情報及び図5のレ
シピー中からレシピーNo.2のものが選択される。
【0032】ステップS2(洗浄) エッチング処理を終えた基板Wが、図示しない搬送手段
により運ばれてスピンチャック1に吸着保持される。制
御部60は、選択したレシピーのデータ及びブラシ情報
を記憶部64から読み出し、選択したレシピーのデータ
に従ってブラシ情報を参照しつつ基板Wに対して洗浄処
理を実行せしめる。
【0033】新たな基板Wに対する洗浄処理は、次のよ
うに行われる。まず、ブラシ情報を参照する。ここに
は、第2ブラシ(PVAブラシ10b)が第1番目に使
用されるように設定されているので、ブラシチャック3
0にPVAブラシ10bを挟持し、新たな基板Wを回転
数R10で回転させるとともに、PVAブラシ10bを
回転数R12で自転させながら処理時間T11にわたっ
て洗浄を行う。なお、この場合には、レシピーNo.2
の第1ブラシの欄にデータ(R10,T10)が入力さ
れていたとしても、ブラシ情報の第1ブラシに使用順序
が設定されていないので、実行されることはない。
【0034】次に、PVAブラシ10bを除電ブラシ1
0cに交換し、回転数R13で自転させつつ処理時間T
12だけ洗浄処理を行う。このように最初にPVAブラ
シ10bを使用して精密洗浄を行い、次いで除電ブラシ
10cにより再付着防止処理を施すが、新たな基板Wは
エッチング処理後のものであるので、汚染度合いは上述
した酸化処理後のものに比較して極めて小さい。したが
って、ナイロンブラシ10aを使用しなくてもPVAブ
ラシ10bが急激に汚染されることはなく、効率よく新
たな基板Wを洗浄することができる。
【0035】上述したように新たな基板Wに対しては、
汚染度合いが小さいことから、粗洗浄を行うことなく精
密洗浄、再付着防止処理を施す一連の処理によって、1
枚の新たな基板Wの洗浄を完了する。この場合も、それ
ぞれの洗浄において好適なブラシが使用されるので、適
切に洗浄を行うことができる。
【0036】また、レシピー及びブラシ情報を選択する
とともにブラシ情報を参照して複数種類のブラシを使用
するので、オペレータが取り付けるブラシを誤認するこ
とが防止でき、基板の種類の係わらず適切に洗浄を行う
ことができる。したがって、洗浄不良に起因する歩留り
低下を防止することができる。
【0037】また、ブラシ情報とレシピー情報を記憶さ
せておき、それを選択するだけで自動的に複数のブラシ
を使用した連続的な処理が可能となるので、ブラシ交換
のタイミングごとの新たな処理条件の設定あるいは選定
は不要となり、スループットの向上を図ることもでき
る。
【0038】なお、上記実施例では、ブラシ情報ととも
にレシピーを記憶部64に記憶するようにしたが、各装
置を統括制御するホストコンピュータからレシピーを記
憶部64に送信するようにして、この装置ではブラシ情
報だけを記憶部64に記憶するようにしてもよい。
【0039】なお、上記実施例では、基板表面の電気的
特性変更用ブラシとして、静電気を除去するための除電
ブラシを用いる例につき説明したが、本発明はこれに限
定されるものではない。例えば、基板表面がマイナスに
帯電しているために付着しているゴミに対しては帯電ブ
ラシを使って基板表面がプラスに帯電するように電気的
特性を変化させ、ゴミを浮き上がらせるようにして洗浄
してもよい。また、逆に、基板表面がプラスに帯電して
いるために付着しているゴミに対しては帯電ブラシを使
って基板表面がマイナスに帯電するように電気的特性を
変化させ、ゴミを浮き上がらせるようにして洗浄しても
よい。
【0040】なお、上記の説明では、1枚の基板Wで1
ロットを構成する枚葉処理の形態を例に採って説明した
が、本発明は複数枚(例えば、25枚)の基板Wで1ロ
ットを構成したものであっても同様の効果を得ることが
できる。また、ブラシの種類としては、上述したものに
限定されるものではなく、モヘア製のブラシ、PP(ポ
リプロピレン)製のブラシ、PEEK(ポリエーテルエ
ーテルケトン)製のブラシなどであってもよい。
【0041】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1に記載の発明によれば、基板の種類に応じた適切な複
数種類のブラシに自動的に交換しつつ1枚の基板に洗浄
を行うので、オペレータがブラシの種類を誤認すること
がなく、不適切なブラシによる洗浄が行われることを防
止できる。したがって、種々の基板の洗浄処理を確実に
かつ適切に行うことができ、基板の種類に係わらず適切
に洗浄を行うことができる。その結果、洗浄不良に起因
する歩留り低下などの不都合を回避することができる。
【0042】また、請求項2に記載の発明によれば、絶
縁膜付処理を行って比較的汚染度合いが大きな基板を処
理する際には、ナイロンブラシによる粗洗浄を行った後
にPVAブラシによる精密洗浄を行い、次いで基板表面
の電気的特性変更用ブラシによる微細ゴミの除去処理を
順次に行うので、各ブラシの汚染を最小限にしつつ適切
に洗浄を行うことができる。したがって、適切に基板を
洗浄することができるとともに、各ブラシの交換頻度が
低減できて装置の稼働率を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例に係る基板洗浄装置の概略構成を示すブ
ロック図である。
【図2】基板洗浄装置の構成を示す一部切欠き側面図で
ある。
【図3】基板洗浄装置の平面図である。
【図4】ブラシ情報を示す模式図である。
【図5】レシピーを示す模式図である。
【図6】洗浄処理を示すフローチャートである。
【符号の説明】
W … 基板 NZ … ノズル 1 … スピンチャック 10 … ブラシ 10a … ナイロンブラシ 10b … PVAブラシ 10c … 除電ブラシ 12 … 揺動アーム 60 … 制御部(制御手段) 64 … 記憶部(記憶手段) 66 … 入力部(選択手段) TP … 待機ポット

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ブラシで基板表面を洗浄する基板洗浄装
    置であって、 複数種類のブラシと、 処理において使用されるブラシの種類及びその使用順序
    を示すブラシ情報を含む処理条件を複数組記憶する記憶
    手段と、 前記記憶手段に記憶された複数組の洗浄条件の中から所
    望の洗浄条件を選択する選択手段と、 前記選択手段により選択された洗浄条件に基づき複数種
    類のブラシを順次に交換しつつ洗浄処理を行わしめる制
    御手段と、 を備えていることを特徴とする基板洗浄装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の基板洗浄装置におい
    て、前記基板が絶縁膜付処理後のものであって、その表
    面に絶縁膜を有するものである場合には、前記ブラシ情
    報を、ナイロンブラシと、PVA(ポリビニルアルコー
    ル)ブラシと、基板表面の電気的特性変更用ブラシとを
    その順序に設定することを特徴とする基板洗浄装置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001274123A (ja) * 2000-03-27 2001-10-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 基板研磨装置及び基板研磨方法
KR20020044737A (ko) * 2000-12-06 2002-06-19 윤종용 컨디셔닝 클리너를 포함하는 씨엠피 설비
KR100372896B1 (ko) * 2000-06-14 2003-02-19 (주)케이.씨.텍 기판 세정 장치
JP2017183517A (ja) * 2016-03-30 2017-10-05 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置、基板処理方法およびプログラム記録媒体
JP2019098290A (ja) * 2017-12-07 2019-06-24 株式会社東芝 清掃装置および炉内作業装置
KR20210038339A (ko) 2019-09-30 2021-04-07 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 기판 처리 장치
KR20240130632A (ko) 2023-02-22 2024-08-29 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 기판처리장치
WO2024252987A1 (ja) * 2023-06-07 2024-12-12 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、処理具の交換方法及び交換具

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0669230A (ja) * 1992-08-17 1994-03-11 Oki Electric Ind Co Ltd Misfetの製造方法
JPH0810719A (ja) * 1994-07-04 1996-01-16 Dainippon Screen Mfg Co Ltd ブラシ洗浄装置
JPH08203851A (ja) * 1995-01-27 1996-08-09 Sony Corp 清浄化装置
JPH08267026A (ja) * 1995-03-29 1996-10-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 自動清掃作業装置
JPH08318226A (ja) * 1995-05-26 1996-12-03 Enya Syst:Kk スクラバ洗浄装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0669230A (ja) * 1992-08-17 1994-03-11 Oki Electric Ind Co Ltd Misfetの製造方法
JPH0810719A (ja) * 1994-07-04 1996-01-16 Dainippon Screen Mfg Co Ltd ブラシ洗浄装置
JPH08203851A (ja) * 1995-01-27 1996-08-09 Sony Corp 清浄化装置
JPH08267026A (ja) * 1995-03-29 1996-10-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 自動清掃作業装置
JPH08318226A (ja) * 1995-05-26 1996-12-03 Enya Syst:Kk スクラバ洗浄装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001274123A (ja) * 2000-03-27 2001-10-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 基板研磨装置及び基板研磨方法
KR100372896B1 (ko) * 2000-06-14 2003-02-19 (주)케이.씨.텍 기판 세정 장치
KR20020044737A (ko) * 2000-12-06 2002-06-19 윤종용 컨디셔닝 클리너를 포함하는 씨엠피 설비
JP2017183517A (ja) * 2016-03-30 2017-10-05 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置、基板処理方法およびプログラム記録媒体
JP2019098290A (ja) * 2017-12-07 2019-06-24 株式会社東芝 清掃装置および炉内作業装置
KR20210038339A (ko) 2019-09-30 2021-04-07 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 기판 처리 장치
KR20240130632A (ko) 2023-02-22 2024-08-29 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 기판처리장치
WO2024252987A1 (ja) * 2023-06-07 2024-12-12 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、処理具の交換方法及び交換具

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