JPH10241114A - Manufacture of thin film magnetic head - Google Patents
Manufacture of thin film magnetic headInfo
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- JPH10241114A JPH10241114A JP6252897A JP6252897A JPH10241114A JP H10241114 A JPH10241114 A JP H10241114A JP 6252897 A JP6252897 A JP 6252897A JP 6252897 A JP6252897 A JP 6252897A JP H10241114 A JPH10241114 A JP H10241114A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、VTR装置、磁気
ディスク装置などに好適な薄膜磁気ヘッドの製造方法に
関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a thin film magnetic head suitable for a VTR device, a magnetic disk device, and the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】高密度記録に伴うマルチトラック化等に
対応すべく、薄膜形成技術、フォトリリソフラフィ技
術、エッチング等のICの製作技術を利用した薄膜磁気
ヘッドの製作が行われている。本出願人は、磁気飽和や
磁束漏れを防止する構造として、特開平3−58330
8号公報に下コアと上コアの磁気的な接続を中間コアを
介して行う構造の薄膜磁気ヘッドを開示した。更に、記
録にじみやクロスト−クを防止する目的で、この構造の
薄膜磁気ヘッドの製造工程にポ−ルトリミングを行うこ
とを特開平7−98817号公報に開示した。2. Description of the Related Art Thin-film magnetic heads have been manufactured using IC manufacturing techniques such as thin-film forming technology, photolithographic technology, and etching in order to cope with multi-tracking and the like accompanying high-density recording. The present applicant has disclosed a structure for preventing magnetic saturation and magnetic flux leakage from Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-58330.
No. 8 discloses a thin film magnetic head having a structure in which a lower core and an upper core are magnetically connected via an intermediate core. Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 7-98817 discloses that pole trimming is performed in a manufacturing process of a thin film magnetic head having this structure for the purpose of preventing recording bleeding and crosstalk.
【0003】以下に我々が特開平7−98817号公報
で開示した薄膜磁気ヘッドの製造方法について説明す
る。図11乃至図21は、我々が特開平7−98817
号公報で開示した薄膜磁気ヘッドの製造工程の断面図で
ある。図15乃至図21において、(a)は従来の薄膜
磁気ヘッドの製造工程の断面図であり、(b)は(a)
のb−b方向から見た矢視図である。A method of manufacturing a thin-film magnetic head disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-98817 will be described below. FIG. 11 to FIG.
FIG. 2 is a cross-sectional view of a manufacturing process of the thin-film magnetic head disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. H10-209,004. 15A to 21A are cross-sectional views of a manufacturing process of a conventional thin-film magnetic head, and FIGS.
FIG. 5 is a view as seen from the direction of arrows bb in FIG.
【0004】(第1工程)まず最初に、基板100上に
絶縁層101、磁性層102aを順次形成する(図1
1)。フォトリソグラフィ法によりフォトレジストパタ
−ンを形成後、磁性層102aのエッチングを行い、下
コア102を形成する(図12)。(First Step) First, an insulating layer 101 and a magnetic layer 102a are sequentially formed on a substrate 100 (FIG. 1).
1). After forming a photoresist pattern by photolithography, the magnetic layer 102a is etched to form the lower core 102 (FIG. 12).
【0005】(第2工程)次に、絶縁層101及び下側
コア102上に絶縁層103を形成した後、下側コア1
02が露出するまで機械的に研磨を行い、絶縁層103
及び下側コア102を平坦化する(図13)。(Second step) Next, after forming an insulating layer 103 on the insulating layer 101 and the lower core 102, the lower core 1
02 is mechanically polished until the insulating layer 103 is exposed.
Then, the lower core 102 is flattened (FIG. 13).
【0006】(第3工程)更に、(第1工程)乃至(第
2工程)と同様の工程を繰り返して、下コア102上に
所定間隔を有した前部第1中間コア105a、後部第1
中間コア105b及び絶縁層104を形成し、平坦化す
る(図14)。(Third Step) Further, the same steps as (First Step) and (Second Step) are repeated to form a front first intermediate core 105a having a predetermined interval on the lower core 102 and a rear first intermediate core 105a.
The intermediate core 105b and the insulating layer 104 are formed and flattened (FIG. 14).
【0007】(第4工程)この後、フォトリソグラフィ
法により、絶縁層104上に後部第1中間コア105b
を取り巻くコイル状のフォトレジストパタ−ンを形成
し、絶縁層104をエッチングして第1コイル溝106
aを形成する。続いて、絶縁層104上にCu等の導電
性材料を形成し、第1コイル溝106a以外の箇所に付
着した導電性材料を機械的な研磨で除去し、第1コイル
106を形成する(図15)。(Fourth Step) Thereafter, the rear first intermediate core 105b is formed on the insulating layer 104 by photolithography.
Forming a photoresist pattern in the shape of a coil surrounding the first coil groove 106 by etching the insulating layer 104;
a is formed. Subsequently, a conductive material such as Cu is formed on the insulating layer 104, and the conductive material attached to portions other than the first coil groove 106a is removed by mechanical polishing to form the first coil 106 (FIG. 15).
【0008】(第5工程)更に、(第1工程)乃至(第
2工程)と同様の工程を繰り返して、前部第1中間コア
105a上に前部補助中間コア107a、後部第1中間
コア105b上に後部補助中間コア107b及び絶縁層
108を形成し、前部補助中間コア107a、後部補助
中間コア107b及び絶縁層108を平坦化する(図1
6)。(Fifth Step) Further, the same steps as (First Step) and (Second Step) are repeated to form a front auxiliary intermediate core 107a and a rear first intermediate core on the front first intermediate core 105a. A rear auxiliary intermediate core 107b and an insulating layer 108 are formed on 105b, and the front auxiliary intermediate core 107a, the rear auxiliary intermediate core 107b, and the insulating layer 108 are planarized (FIG. 1).
6).
【0009】(第6工程)更に、補助中間コア107
a、107b及び絶縁層108上に絶縁物からなる磁気
ギャップ層109を形成後、フォトリソグラフィ法によ
り、フォトレジストパタ−ンを形成し、後部補助中間コ
ア107bに重なる部分の磁気ギャップ層109をエッ
チング除去して、コンタクトホ−ル110を形成する
(図17)。(Sixth step) Further, the auxiliary intermediate core 107
After a magnetic gap layer 109 made of an insulator is formed on the insulating layers 108a and 107b, a photoresist pattern is formed by photolithography, and a portion of the magnetic gap layer 109 overlapping the rear auxiliary intermediate core 107b is etched. After removal, a contact hole 110 is formed (FIG. 17).
【0010】(第7工程)次に、磁気ギャップ層109
及びコンタクトホ−ル110上に磁性層111を形成す
る(図18)。磁性層111上にフォトリソグラフィ法
により、フォトレジストパタ−ンを形成した後、前部第
1中間コア105aに重なる部分の前部補助中間コア1
07a、磁気ギャップ層109、磁性層111以外を絶
縁層104までエッチング除去する。また、同時に後部
第1中間コア105bに重なる部分の後部補助中間コア
107b、磁性層111以外を絶縁層104までエッチ
ング除去する(ポ−ルトリミング 図19)。こうし
て、磁気ギャップ層109上に形成された磁性層111
は前部第2中間コア112aとなり、後部補助中間コア
107b上に形成された磁性層111は後部第2中間コ
ア112bとなる。(Seventh Step) Next, the magnetic gap layer 109
Then, a magnetic layer 111 is formed on the contact hole 110 (FIG. 18). After a photoresist pattern is formed on the magnetic layer 111 by photolithography, the front auxiliary intermediate core 1 in a portion overlapping the front first intermediate core 105a is formed.
07a, the magnetic gap layer 109, and the magnetic layer 111 are removed by etching up to the insulating layer 104. At the same time, the portions other than the rear auxiliary intermediate core 107b and the magnetic layer 111 which overlap the rear first intermediate core 105b are removed by etching up to the insulating layer 104 (port trimming FIG. 19). Thus, the magnetic layer 111 formed on the magnetic gap layer 109
Is the front second intermediate core 112a, and the magnetic layer 111 formed on the rear auxiliary intermediate core 107b is the rear second intermediate core 112b.
【0011】(第8工程)次に、前部第2中間コア11
2a、後部第2中間コア112b及び第1コイル106
が形成された絶縁層104上に絶縁層113を形成した
後、前部第2中間コア112a、後部第2中間112b
が露出するまで機械的な研磨をし、前部第2中間コア1
12a、後部第2中間コア112b及び絶縁層113を
平坦化する。この後、フォトグラフィ法により絶縁層1
13上に後部第2中間コア107bを取り巻き第1コイ
ル106と同様に、コイル状のフォトレジストパタ−ン
を形成し、絶縁層113をエッチングして第2コイル溝
114aを形成する。続いて、前部第2中間コア112
a、後部第2中間コア112b及び絶縁層113上にC
u等の導電性材料を形成後、第2コイル溝114a以外
の箇所に付着した導電材料を機械的な研磨を行うことに
よって除去し、第2コイル114を形成する(図1
9)。(Eighth Step) Next, the front second intermediate core 11
2a, the rear second intermediate core 112b and the first coil 106
After forming the insulating layer 113 on the insulating layer 104 on which is formed, the front second intermediate core 112a and the rear second intermediate 112b
Is mechanically polished until the first second intermediate core 1 is exposed.
12a, the rear second intermediate core 112b and the insulating layer 113 are flattened. Thereafter, the insulating layer 1 is formed by a photolithography method.
13, a coil-shaped photoresist pattern is formed in the same manner as the first coil 106 by surrounding the rear second intermediate core 107b, and the insulating layer 113 is etched to form a second coil groove 114a. Subsequently, the front second intermediate core 112
a, C is formed on the rear second intermediate core 112b and the insulating layer 113.
After the conductive material such as u is formed, the conductive material attached to portions other than the second coil groove 114a is removed by mechanical polishing to form the second coil 114 (FIG. 1).
9).
【0012】(第9工程)前部第2中間コア112aと
反対の後部第2中間コア112b側の最内周位置の第1
コイル106と重なる部分の絶縁層113を第1コイル
までエッチング除去して第1スル−ホ−ル115を形成
する。再び、前部第2中間コア112a、後部第2中間
コア112b及び絶縁層113上にCu等の導電性材料
を形成後、第2コイル溝114a以外の箇所に付着した
導電材料を機械的な研磨を行うことによって除去し、第
1スル−コンタクト116を形成する(図20)。こう
して、第2コイル114はスル−コンタクト116を介
して第1コイル106と接続するようになる。(Ninth Step) The first innermost position on the side of the rear second intermediate core 112b opposite to the front second intermediate core 112a.
A portion of the insulating layer 113 overlapping with the coil 106 is removed by etching up to the first coil to form a first through hole 115. Again, after a conductive material such as Cu is formed on the front second intermediate core 112a, the rear second intermediate core 112b, and the insulating layer 113, the conductive material adhered to portions other than the second coil grooves 114a is mechanically polished. To form the first through-contact 116 (FIG. 20). Thus, the second coil 114 is connected to the first coil 106 via the through-contact 116.
【0013】(第10工程)次に、前部第2中間コア1
12a、後部第2中間コア112b及び第2コイル11
4を有した絶縁層113上に絶縁層117を形成する。
絶縁層117上にフォトリソグラフィ法によりフォトレ
ジストパタ−ンを形成して前部第2中間コア112a、
後部第2中間コア112bと重なる部分の絶縁層117
をエッチング除去してコンタクトホ−ル117a、11
7bを形成する。更に、コンタクトホ−ル117a、1
17b及び絶縁層117上に磁性層を形成し、フォトリ
ソグラフィ法によりフォトレジストパタ−ンを形成して
磁性層をエッチングして上コア118を形成する。(Tenth Step) Next, the front second intermediate core 1
12a, rear second intermediate core 112b and second coil 11
The insulating layer 117 is formed on the insulating layer 113 having the number 4.
A photoresist pattern is formed on the insulating layer 117 by photolithography to form the front second intermediate core 112a,
Insulating layer 117 in a portion overlapping rear second intermediate core 112b
Are removed by etching to form contact holes 117a and 11b.
7b is formed. Furthermore, contact holes 117a, 1
A magnetic layer is formed on the insulating layer 117b and the insulating layer 117, a photoresist pattern is formed by a photolithography method, and the magnetic layer is etched to form an upper core 118.
【0014】更に、上コア118上に絶縁層119を形
成し、上コア118が露出するまで機械的に研磨を行
い、上コア118及び絶縁層119を平坦化する。この
後、前部第2中間コア112aと反対の後部第2中間コ
ア112b側の最外周部分に第2コイル114と重なる
部分の絶縁層119を第2コイル114までエッチング
して、第2スル−ホ−ル120aを形成する。続いて、
上コア118及び絶縁層119上にCu等の導電性材料
を形成後、第2スル−ホ−ル120a以外に付着した導
電材料を機械的な研磨を行うことによって除去し、第2
スル−コンタクト120を形成する。再度、上コア11
8及び絶縁層119上にCu等の導電性材料を形成後、
フォトリソグラフィ法により、リ−ド線121が第2ス
ル−コンタクト120の重なる部分になるように絶縁層
119上にフォトレジストパタ−ンを形成し、リ−ド線
121のパタ−ン以外の導電材料をエッチング除去し、
リ−ド線121を形成する(図21)。以上のようにし
て、ポ−ルトリミングを行うことによって、記録にじみ
やクロスト−クの少ない薄膜磁気ヘッドが得られる。Further, an insulating layer 119 is formed on the upper core 118, and the upper core 118 and the insulating layer 119 are planarized by mechanical polishing until the upper core 118 is exposed. Thereafter, the insulating layer 119 that overlaps with the second coil 114 is etched to the second coil 114 on the outermost peripheral portion on the side of the rear second intermediate core 112b opposite to the front second intermediate core 112a. A hole 120a is formed. continue,
After a conductive material such as Cu is formed on the upper core 118 and the insulating layer 119, the conductive material attached to the portions other than the second through-hole 120a is removed by mechanical polishing, and the second material is removed.
A through contact 120 is formed. Again, upper core 11
8 and a conductive material such as Cu on the insulating layer 119,
A photoresist pattern is formed on the insulating layer 119 by photolithography so that the lead line 121 overlaps the second through contact 120, and a conductive pattern other than the pattern of the lead line 121 is formed. Etching away material,
A lead line 121 is formed (FIG. 21). As described above, by performing port trimming, a thin film magnetic head with less recording blur and crosstalk can be obtained.
【0015】[0015]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ポ−ル
トリミングを行わない工程と比較すると、第1コイル1
06がエッチングされてしまうことを防止するための前
部補助中間コア107a及び後部補助中間コア107b
を形成する必要があるので、機械的な研磨やエッチング
等の製造工程を増加させ、製造歩留りの低下や製造工程
時間の増加を生じていた。また、第1前部補助中間コア
107a及び後部補助コア107bの上面は機械的に研
磨された面であるため加工歪みや酸化等で劣化している
可能性があった。同様に、ホ−ルトリミングを行わず、
前部第1中間コア105a及び後部第1中間コア105
b上に直接、磁気キャップ層109を形成する場合も、
前部第1中間コア105a及び後部第1中間コア105
bの上面が、機械的に研磨された面であるため加工歪み
や酸化等で劣化している可能性があった。そこで、本発
明は、上記のような問題点を解消するためになされたも
ので、ポ−ルトリミングを行ってもコイルの断線がな
く、かつ製造歩留りの高い薄膜磁気ヘッドの製造方法を
提供することを目的とする。However, when compared with a process in which no port trimming is performed, the first coil 1
Front intermediate core 107a and rear auxiliary intermediate core 107b for preventing etching of 06
Therefore, the number of manufacturing steps such as mechanical polishing and etching must be increased, resulting in a decrease in manufacturing yield and an increase in manufacturing process time. In addition, since the upper surfaces of the first front auxiliary intermediate core 107a and the rear auxiliary core 107b are mechanically polished surfaces, there is a possibility that the upper surfaces are deteriorated due to processing distortion, oxidation, or the like. Similarly, without hole trimming,
Front first intermediate core 105a and rear first intermediate core 105
Also, when the magnetic cap layer 109 is formed directly on
Front first intermediate core 105a and rear first intermediate core 105
Since the upper surface of b was a surface that was mechanically polished, there was a possibility that the upper surface was degraded due to processing distortion, oxidation, or the like. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above problems, and provides a method of manufacturing a thin film magnetic head having a high production yield without coil breakage even when performing port trimming. The purpose is to:
【0016】[0016]
【課題を解決するための手段】本発明の薄膜磁気ヘッド
の製造方法による第1の発明は、上下コアと、これら上
下コアの間に設けた前部中間コア及び後部中間コアとで
磁気回路を構成すると共に、前記前部中間コア中に磁気
ギャップ層が形成されている薄膜磁気ヘッドの製造方法
において、前部中間コア及び後部中間コアの一部を構成
する第1の磁性層上に第2の磁性層、絶縁膜からなる磁
気ギャップ層を順次積層し、前記後部中間コアとなる部
分の磁気ギャップ層をエッチング除去してコンタクトホ
ールを形成した後、前記磁気ギャップ層及び前記コンタ
クトホ−ル上に第3の磁性層を形成し、前記上コア及び
前記下コアと重なる部分以外の前記第2の磁性層、前記
磁気ギャップ層、前記第3の磁性層を前記第1の磁性層
までエッチング除去して、前記前部中間コアを形成する
と同時に、前記コンタクトホールと重なる部分の前記第
3磁性層、前記第2の磁性層以外をエッチング除去して
前記後部中間コアを形成することを特徴とする。According to a first aspect of the present invention, a magnetic circuit is formed by an upper and lower core, and a front intermediate core and a rear intermediate core provided between the upper and lower cores. In the method for manufacturing a thin film magnetic head, wherein the magnetic gap layer is formed in the front intermediate core, the second magnetic layer is formed on the first magnetic layer constituting a part of the front intermediate core and the rear intermediate core. And a magnetic gap layer composed of an insulating film are sequentially laminated, and the magnetic gap layer in the portion to be the rear intermediate core is removed by etching to form a contact hole, and then the contact hole is formed on the magnetic gap layer and the contact hole. Forming a third magnetic layer, and removing the second magnetic layer, the magnetic gap layer, and the third magnetic layer other than the portion overlapping the upper core and the lower core by etching to the first magnetic layer. Then, at the same time as forming the front intermediate core, the portion other than the third magnetic layer and the second magnetic layer overlapping with the contact hole is removed by etching to form the rear intermediate core. .
【0017】第2の発明は、請求項1記載の薄膜磁気ヘ
ッドの製造方法において、前記第1の磁性層上に前記第
2の磁性層、絶縁膜からなる前記磁気ギャップ層、前記
第3の磁性層を順次積層し前記上コア及び前記下コアと
重なる部分以外の前記第2の磁性層、前記磁気ギャップ
層、前記第3の磁性層を前記第1の磁性層までエッチン
グ除去して、前記前部中間コア及び前記後部中間コアを
形成することを特徴とする。According to a second aspect of the present invention, in the method of manufacturing a thin film magnetic head according to the first aspect, the second magnetic layer, the magnetic gap layer comprising an insulating film, and the third magnetic layer are formed on the first magnetic layer. The second magnetic layer, the magnetic gap layer, and the third magnetic layer other than a portion overlapping the upper core and the lower core by sequentially stacking magnetic layers are removed by etching up to the first magnetic layer. A front intermediate core and the rear intermediate core are formed.
【0018】前部中間コア及び後部中間コアの一部を構
成する第1の磁性層上に第2の磁性層、絶縁層からなる
磁気ギャップ層を順次積層し、前記後部中間コアとなる
部分の磁気ギャップ層をエッチング除去してコンタクト
ホールを形成した後、前記磁気ギャップ層及び前記コン
タクトホ−ル上に第3の磁性層を形成し、前記上コア及
び前記下コアと重なる部分以外の前記第2の磁性層、前
記磁気ギャップ層、前記第3の磁性層を前記第1の磁性
層までエッチング除去して、前記前部中間コアを形成す
ると同時に、前記コンタクトホールと重なる部分の前記
第3磁性層、第2の磁性層以外をエッチング除去して前
記後部中間コアを形成するので、第2の磁性層が酸化さ
れたり、加工歪みが入ったりすることがなくなる。A second magnetic layer and a magnetic gap layer composed of an insulating layer are sequentially laminated on the first magnetic layer constituting a part of the front intermediate core and the rear intermediate core. After the magnetic gap layer is removed by etching to form a contact hole, a third magnetic layer is formed on the magnetic gap layer and the contact hole, and the third magnetic layer is formed on a portion other than a portion overlapping the upper core and the lower core. The second magnetic layer, the magnetic gap layer, and the third magnetic layer are removed by etching to the first magnetic layer to form the front intermediate core, and at the same time, the third magnetic layer overlaps with the contact hole. Since the portion other than the layer and the second magnetic layer is removed by etching to form the rear intermediate core, the second magnetic layer is not oxidized or subjected to processing strain.
【0019】[0019]
【発明の実施の形態】本発明の薄膜磁気ヘッドの製造方
法の一実施例について図と共に以下に説明する。図1乃
至図10は本発明の薄膜磁気ヘッドの製造工程の断面図
である。図5乃至図10において、(a)は薄膜磁気ヘ
ッド製造工程の断面図であり、(b)は(a)のb−b
方向から見た矢視図である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of a method of manufacturing a thin-film magnetic head according to the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 to 10 are sectional views showing the steps of manufacturing the thin-film magnetic head of the present invention. 5A to 10, (a) is a cross-sectional view of a thin-film magnetic head manufacturing process, and (b) is bb of (a).
It is the arrow view seen from the direction.
【0020】(第1工程)スパッタ法、蒸着法等によ
り、基板1上にTiO2 等の絶縁層2及び磁性層3aを
順次形成する(図1)。次に、フォトリソグラフィ法に
よりフォトレジストパタ−ンを形成後、イオンミリング
等で磁性層3aのエッチングを行い、下コア3を形成す
る(図2)。(First step) sputtering, by vapor deposition or the like, sequentially forming an insulating layer 2 and the magnetic layer 3a such as TiO 2 on the substrate 1 (FIG. 1). Next, after forming a photoresist pattern by photolithography, the magnetic layer 3a is etched by ion milling or the like to form the lower core 3 (FIG. 2).
【0021】(第2工程)次に、絶縁層2及び下コア3
上に絶縁層4を形成した後、下側コア3が露出するまで
機械的に研磨を行い、下コア3及び絶縁層4を平坦化す
る(図3)。(Second Step) Next, the insulating layer 2 and the lower core 3
After forming the insulating layer 4 thereon, the lower core 3 and the insulating layer 4 are flattened mechanically until the lower core 3 is exposed (FIG. 3).
【0022】(第3工程)下コア3及び絶縁層4上に磁
性層を形成した後、フォトリソグラフィ法によりフォト
レジストパタ−ンを形成後、前記磁性層を下コア3まで
エッチング除去し、前部第1中間コア6a及び後部第1
中間コア6b形成する。この後、絶縁層4、前部第1中
間コア6a及び後部第1中間コア6b上に絶縁層5を形
成し、前部第1中間コア6a及び後部第1中間コア6b
が露出するまで機械的に研磨し、絶縁層5、前部第1中
間コア6a及び後部第1中間コア6bを平坦化する。(Third step) After a magnetic layer is formed on the lower core 3 and the insulating layer 4, a photoresist pattern is formed by a photolithography method, and the magnetic layer is removed by etching to the lower core 3. Part first intermediate core 6a and rear part first
The intermediate core 6b is formed. Thereafter, the insulating layer 5 is formed on the insulating layer 4, the front first intermediate core 6a, and the rear first intermediate core 6b, and the front first intermediate core 6a and the rear first intermediate core 6b are formed.
The insulating layer 5, the front first intermediate core 6a, and the rear first intermediate core 6b are flattened until the surface is exposed.
【0023】(第4工程)この後、フォトリソグラフィ
法により、絶縁層5上に後部第1中間コア6bを取り巻
くコイル状のフォトレジストパタ−ンを形成し、絶縁層
5をエッチングして第1コイル溝7aを形成する。続い
て、絶縁層6上にCu等の導電性材料を形成し、第1コ
イル溝7a以外の箇所に付着した導電性材料を機械的な
研磨で除去し、第1コイル7を形成する(図5)。(Fourth Step) Thereafter, a coil-shaped photoresist pattern surrounding the rear first intermediate core 6b is formed on the insulating layer 5 by photolithography, and the insulating layer 5 is etched to form a first photoresist pattern. The coil groove 7a is formed. Subsequently, a conductive material such as Cu is formed on the insulating layer 6, and the conductive material attached to portions other than the first coil groove 7a is removed by mechanical polishing to form the first coil 7 (FIG. 5).
【0024】(第5工程)更に、第1コイル7が形成さ
れた絶縁層5及び第1中間コア6a、6b上に絶縁層8
を形成し、フォトリソグラフィ法によりフォトレジスト
パタ−ンを形成後、前部第1中間コア6aと後部第1中
間コア6b上の絶縁層8をエッチング除去する。その
後、前部第1中間コア6a、後部第1中間コア6b及び
絶縁層8上に磁性層9、絶縁物からなる磁気ギャップ層
10を順次形成し、引き続いて、フォトリソグラフィ法
によりフォトレジストパタ−ンを形成後、後部第1中間
コア6bに重なる部分の磁気ギャップ層10をエッチン
グ除去し、コンタクトホ−ル11を形成する(図6)。(Fifth Step) Further, an insulating layer 8 is formed on the insulating layer 5 on which the first coil 7 is formed and the first intermediate cores 6a and 6b.
After forming a photoresist pattern by photolithography, the insulating layer 8 on the front first intermediate core 6a and the rear first intermediate core 6b is removed by etching. Thereafter, a magnetic layer 9 and a magnetic gap layer 10 made of an insulator are sequentially formed on the front first intermediate core 6a, the rear first intermediate core 6b, and the insulating layer 8, and subsequently, a photoresist pattern is formed by photolithography. After the formation of the contact hole, the magnetic gap layer 10 in a portion overlapping the rear first intermediate core 6b is removed by etching to form a contact hole 11 (FIG. 6).
【0025】(第6工程)次に、磁気ギャップ層10及
びコンタクトホ−ル11上に磁性層12を形成する(図
7)。この結果、磁性層12は、コンタクトホ−ル11
を介して磁性層9と接続することになる。(Sixth Step) Next, a magnetic layer 12 is formed on the magnetic gap layer 10 and the contact hole 11 (FIG. 7). As a result, the magnetic layer 12 becomes the contact hole 11
Through the magnetic layer 9.
【0026】磁性層12上にフォトリソグラフィ法によ
りフォトレジストパタ−ンを形成後、前部第1中間コア
6aと重なり積層された部分の磁性層9、磁気ギャップ
10、磁性層12a以外を絶縁層8までイオンミリング
等でエッチング除去する。また、同時に後部第1中間コ
ア6bと重なり積層された部分の磁性層9、磁性層12
以外を絶縁層8までイオンミリング等でエッチング除去
する(ポ−ルトリミング 図8)。こうして、前部第2
中間コア13aは、磁性層9、磁気ギャップ層10及び
磁性層12が積層された構造となる。また、後部第2中
間コア13bは、磁性層9と磁性層12が積層された構
造となる。After a photoresist pattern is formed on the magnetic layer 12 by photolithography, an insulating layer other than the magnetic layer 9, the magnetic gap 10, and the magnetic layer 12a in a portion that overlaps and is stacked with the front first intermediate core 6a. Etching is removed by ion milling or the like up to 8. At the same time, the portions of the magnetic layer 9 and the magnetic layer 12 which overlap with the rear first intermediate core 6b and are laminated.
The remaining portions are removed by etching or the like to the insulating layer 8 by ion milling or the like (port trimming, FIG. 8). Thus, the front second
The intermediate core 13a has a structure in which the magnetic layer 9, the magnetic gap layer 10, and the magnetic layer 12 are stacked. The rear second intermediate core 13b has a structure in which the magnetic layer 9 and the magnetic layer 12 are stacked.
【0027】この後、前部第2中間コア13a、後部第
2中間コア13b及び絶縁層8上に絶縁層14を形成
し、第2中間コア13a、13bが露出するまで、機械
的な研磨を行い、平坦化する。更に、フォトリソグラフ
ィ法により、絶縁層14上に後部第2中間コア13bを
取り巻くコイル状のフォトレジストパタ−ンを形成し、
絶縁層14をエッチングして第2コイル溝15aを形成
する。続いて、フォトリソグラフィ法により、前部第2
中間コア13aと反対側の後部第2中間コア13bの最
内周位置に第1コイル溝7aと重なる部分の絶縁層14
をエッチング除去して第1スル−ホ−ル溝17aを形成
する。次に、絶縁層14上にCu等の導電性材料を形成
し、第2コイル溝15a及び第1スル−ホ−ル溝17a
以外の部分に付着した導電性材料を機械的に研磨で除去
し、第2コイル15及びスル−コンタクト17を形成す
る。この後、前部第2中間コア13a、後部第2中間コ
ア13b及び第2コイルが形成された絶縁層14上に絶
縁層16を形成し、フォトリソグラフィ法により、前部
第2中間コア13aと後部第2中間コア13b上の絶縁
層14をする。Thereafter, an insulating layer 14 is formed on the front second intermediate core 13a, the rear second intermediate core 13b and the insulating layer 8, and mechanical polishing is performed until the second intermediate cores 13a and 13b are exposed. And flatten. Further, a coil-shaped photoresist pattern surrounding the rear second intermediate core 13b is formed on the insulating layer 14 by photolithography.
The second coil groove 15a is formed by etching the insulating layer 14. Subsequently, the front second portion is formed by photolithography.
The portion of the insulating layer 14 that overlaps with the first coil groove 7a is located at the innermost peripheral position of the rear second intermediate core 13b opposite to the intermediate core 13a.
Is removed by etching to form a first through-hole groove 17a. Next, a conductive material such as Cu is formed on the insulating layer 14, and the second coil groove 15a and the first through-hole groove 17a are formed.
The conductive material attached to the other parts is mechanically removed by polishing to form the second coil 15 and the through-contact 17. Thereafter, an insulating layer 16 is formed on the insulating layer 14 on which the front second intermediate core 13a, the rear second intermediate core 13b, and the second coil are formed, and the front second intermediate core 13a is formed by photolithography. The insulating layer 14 on the rear second intermediate core 13b is formed.
【0028】次に、絶縁層16及び前部第2中間コア1
3a、後部第2中間コア13b上に磁性層を形成し、前
記磁性層6上にフォトリソグラフィ法によりフォトレジ
ストパタ−ンを形成後、前記磁性層6をエッチング除去
し、上コア18を形成する。更に、絶縁層14及び上コ
ア18上に絶縁層19を形成し、上コア18が露出する
まで機械的に研磨を行い、上コア18及び絶縁層19を
平坦化する。前部第2中間コア13aと反対の後部第2
中間コア13b側の最外周位置に第2コイル溝15aと
重なる部分の絶縁層19をエッチング除去して第2スル
−コンタクト溝20aを形成する。引き続き、上コア1
8及び絶縁層19上にCu等の導電性材料を形成する。
この場合、第2スル−コンタクト溝20a中にも導電性
材料が形成されることになり、第2スル−コンタクト2
0が形成される。フォトリソグラフィ法により、リ−ド
線21のパタ−ンを形成して、導電性材料をエッチング
除去し、リ−ド線21を形成する。こうして、リ−ド線
21は第2スル−コンタクト20を介して第2コイル1
5と接続することになる(図9)。Next, the insulating layer 16 and the front second intermediate core 1
3a, a magnetic layer is formed on the rear second intermediate core 13b, a photoresist pattern is formed on the magnetic layer 6 by a photolithography method, and then the magnetic layer 6 is removed by etching to form an upper core 18. . Further, an insulating layer 19 is formed on the insulating layer 14 and the upper core 18, and is mechanically polished until the upper core 18 is exposed, so that the upper core 18 and the insulating layer 19 are planarized. The rear second part opposite to the front second intermediate core 13a
At the outermost peripheral position on the side of the intermediate core 13b, the portion of the insulating layer 19 overlapping with the second coil groove 15a is removed by etching to form a second through-contact groove 20a. Continue with upper core 1
A conductive material such as Cu is formed on the insulating layer 8 and the insulating layer 19.
In this case, a conductive material is also formed in the second through-contact groove 20a, and the second through-contact 2
0 is formed. A pattern of the lead line 21 is formed by photolithography, and the conductive material is etched away to form the lead line 21. Thus, the lead wire 21 is connected to the second coil 1 via the second through contact 20.
5 (FIG. 9).
【0029】以上のようにすると、従来技術に示すホ−
ルトリミング法に比較して、前部補助中間コア107a
及び後部補助中間コア107bを形成する工程を省略し
ても、従来と同等の磁気記録特性を得ることができ、製
造歩留りが向上し、安価な薄膜磁気ヘッドが得られる。
また、第1中間コア6a、6b及び絶縁層8上に磁性層
9、磁気ギャップ層10を順次積層した後、第1中間コ
ア6bと重なった部分の磁気ギャップ層10をエッチン
グ除去してコンタクトホ−ル11を形成した後、前部第
2中間コア13a及び後部中間コア13bを形成してい
るので、後部中間コア13bだけが空気等にさらされる
だけであり、前部第2中間コア13aの磁性層の酸化等
による劣化を防止でき、信頼性を向上させることができ
る。As described above, the home shown in the prior art is
The front auxiliary intermediate core 107a
Even if the step of forming the rear auxiliary intermediate core 107b is omitted, the same magnetic recording characteristics as those of the related art can be obtained, the manufacturing yield can be improved, and an inexpensive thin-film magnetic head can be obtained.
Further, after the magnetic layer 9 and the magnetic gap layer 10 are sequentially laminated on the first intermediate cores 6a and 6b and the insulating layer 8, the magnetic gap layer 10 in the portion overlapping the first intermediate core 6b is removed by etching. Since the front second intermediate core 13a and the rear intermediate core 13b are formed after the formation of the first intermediate core 13a, only the rear intermediate core 13b is only exposed to air or the like, and the front second intermediate core 13a Deterioration due to oxidation or the like of the magnetic layer can be prevented, and reliability can be improved.
【0030】ここでは、磁気ギャップ層10にコンタク
トホ−ル11を形成して第2中間コア13bが磁性層9
bと磁性層12bからなるようにしたが、第2中間コア
13bが磁気ギャップ10を挟んだ構造でも薄膜磁気ヘ
ッドの特性は若干低下する程度であるので、コンタクト
ホ−ル11の形成を行わない構造、即ち、磁性層9bと
磁性層12bとの間に磁気ギャップ10を挟んだ構造で
もよい(図10)。この場合には、薄膜磁気ヘッドの製
造工程は時間短縮されると共に、製造歩留りが向上す
る。また、以上では、前部第2中間コア13aまたは、
後部第2中間コア13bの間に磁気ギャップ層10を形
成したが、前部第1中間コア6aまたは、後部第1中間
コア6bの間に磁気ギャップ層10を設けても同様の効
果が得られる。Here, a contact hole 11 is formed on the magnetic gap layer 10 so that the second intermediate core 13b is
However, even if the second intermediate core 13b has a structure in which the magnetic gap 10 is sandwiched, the contact hole 11 is not formed because the characteristics of the thin-film magnetic head are only slightly reduced. The structure, that is, the structure in which the magnetic gap 10 is interposed between the magnetic layer 9b and the magnetic layer 12b may be used (FIG. 10). In this case, the manufacturing process of the thin-film magnetic head is shortened, and the manufacturing yield is improved. In the above, the front second intermediate core 13a or
Although the magnetic gap layer 10 is formed between the rear second intermediate cores 13b, the same effect can be obtained by providing the magnetic gap layer 10 between the front first intermediate core 6a or the rear first intermediate core 6b. .
【0031】[0031]
【発明の効果】本発明の薄膜磁気ヘッドの製造方法によ
れば、第2磁性層と磁気ギャップ層を連続して形成でき
るので、酸化等による第2磁性層の劣化することを防止
することができる。磁気ギャップ層の前記後部第1中間
コアと重なる部分の除去をしないようにすると、第2磁
性層、磁気ギャップ層、第3磁性層を同時に形成するこ
とができるため、更に製造工程の短縮及び歩留りの低下
を防止を図ることができる。According to the method of manufacturing a thin film magnetic head of the present invention, the second magnetic layer and the magnetic gap layer can be formed continuously, so that it is possible to prevent the second magnetic layer from being deteriorated by oxidation or the like. it can. If the portion of the magnetic gap layer that overlaps the rear first intermediate core is not removed, the second magnetic layer, the magnetic gap layer, and the third magnetic layer can be formed at the same time, thereby further reducing the manufacturing process and yield. Can be prevented from decreasing.
【図1】本発明における基板上に絶縁層及び磁性層を形
成する工程の断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view of a step of forming an insulating layer and a magnetic layer on a substrate according to the present invention.
【図2】本発明における下コアを形成する工程の断面図
である。FIG. 2 is a sectional view of a step of forming a lower core according to the present invention.
【図3】本発明における下コアの両端に絶縁層を形成す
る工程の断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of a step of forming an insulating layer on both ends of a lower core according to the present invention.
【図4】本発明における第1中間コアを形成する工程の
断面図。FIG. 4 is a sectional view of a step of forming a first intermediate core according to the present invention.
【図5】(a)は本発明における第1コイルを形成する
工程の断面図である。(b)は(a)のb−b方向矢視
図である。FIG. 5A is a sectional view of a step of forming a first coil in the present invention. (B) is an bb direction arrow view of (a).
【図6】(a)は本発明におけるコンタクトホ−ルを形
成する工程の断面図である。(b)は(a)のb−b方
向矢視図である。FIG. 6A is a sectional view showing a step of forming a contact hole in the present invention. (B) is an bb direction arrow view of (a).
【図7】(a)は本発明における磁性層を形成する工程
の断面図である。(b)は(a)のb−b方向矢視図で
ある。FIG. 7A is a sectional view of a step of forming a magnetic layer in the present invention. (B) is an bb direction arrow view of (a).
【図8】(a)は本発明におけるポ−ルトリミングを行
った状態の工程の断面図である。(b)は(a)のb−
b方向矢視図である。FIG. 8A is a sectional view of a step in a state where port trimming is performed in the present invention. (B) is b- of (a).
It is an arrow direction b view.
【図9】(a)は本発明における薄膜磁気ヘッドの断面
図である。(b)は(a)のb−b方向矢視図である。FIG. 9A is a sectional view of a thin-film magnetic head according to the present invention. (B) is an bb direction arrow view of (a).
【図10】(a)は図7において、後部第1中間コアに
磁気ギャップ層を有した場合の薄膜磁気ヘッドの断面図
である。FIG. 10A is a cross-sectional view of the thin-film magnetic head in FIG. 7 when a rear first intermediate core has a magnetic gap layer.
【図11】従来における基板上に絶縁層、磁性層を順次
積層した工程の断面図である。FIG. 11 is a cross-sectional view of a conventional process of sequentially laminating an insulating layer and a magnetic layer on a substrate.
【図12】従来における下コアを形成する工程の断面図
である。FIG. 12 is a cross-sectional view of a conventional process of forming a lower core.
【図13】従来における下コアの両端に絶縁層を形成す
る工程の断面図である。FIG. 13 is a cross-sectional view of a conventional process of forming an insulating layer at both ends of a lower core.
【図14】従来における第1中間コアを形成する工程の
断面図である。FIG. 14 is a cross-sectional view of a conventional step of forming a first intermediate core.
【図15】(a)は従来における第1コイルを形成する
工程の断面図である。(b)は(a)のb−b方向矢視
図である。FIG. 15A is a cross-sectional view of a conventional step of forming a first coil. (B) is an bb direction arrow view of (a).
【図16】(a)は従来における補助中間コアを形成す
る工程の断面図である。(b)は(a)のb−b方向矢
視図である。FIG. 16A is a sectional view of a step of forming a conventional auxiliary intermediate core. (B) is an bb direction arrow view of (a).
【図17】(a)は従来における磁気ギャップ層を除去
する工程の断面図である。(b)は(a)のb−b方向
矢視図である。FIG. 17A is a sectional view of a conventional step of removing a magnetic gap layer. (B) is an bb direction arrow view of (a).
【図18】(a)は従来における磁性層を形成する工程
の断面図である。(b)は(a)のb−b方向矢視図で
ある。FIG. 18A is a cross-sectional view of a step of forming a conventional magnetic layer. (B) is an bb direction arrow view of (a).
【図19】(a)は従来におけるポ−ルトリミングエッ
チング行った状態の工程の断面図である。(b)は
(a)のb−b方向矢視図である。FIG. 19A is a cross-sectional view of a step in a state where conventional port trimming etching has been performed. (B) is an bb direction arrow view of (a).
【図20】(a)は従来における第2コイルを形成する
工程の断面図である。(b)は(a)のb−b方向矢視
図である。FIG. 20A is a sectional view of a step of forming a second coil in the related art. (B) is an bb direction arrow view of (a).
【図21】(a)は従来における薄膜磁気ヘッドの断面
図である。(b)は(a)のb−b方向矢視図である。FIG. 21A is a sectional view of a conventional thin-film magnetic head. (B) is an bb direction arrow view of (a).
1…基板、2、4、5、8、12、14、16、17、
19…絶縁層、3a、9、12…磁性層、3…下コア、
6a…前部第1中間コア、6b…後部第1中間、7…第
1コイル、10…磁気ギャップ層、11…コンタクトホ
−ル、13a…前部第2中間コア、13b…後部第2中
間コア、15…第2コイル、18…上コア1 ... substrate, 2, 4, 5, 8, 12, 14, 16, 17,
19: insulating layer, 3a, 9, 12: magnetic layer, 3: lower core,
6a front first intermediate core, 6b rear first intermediate, 7 first coil, 10 magnetic gap layer, 11 contact hole, 13a front second intermediate core, 13b rear second intermediate Core, 15: Second coil, 18: Upper core
Claims (2)
前部中間コア及び後部中間コアとで磁気回路を構成する
と共に、前記前部中間コア中に磁気ギャップ層が形成さ
れている薄膜磁気ヘッドの製造方法において、前部中間
コア及び後部中間コアの一部を構成する第1の磁性層上
に第2の磁性層、絶縁膜からなる磁気ギャップ層を順次
積層し、前記後部中間コアとなる部分の磁気ギャップ層
をエッチング除去してコンタクトホールを形成した後、
前記磁気ギャップ層及び前記コンタクトホ−ル上に第3
の磁性層を形成し、前記上コア及び前記下コアと重なる
部分以外の前記第2の磁性層、前記磁気ギャップ層、前
記第3の磁性層を前記第1の磁性層までエッチング除去
して、前記前部中間コアを形成すると同時に、前記コン
タクトホールと重なる部分の前記第3磁性層、前記第2
の磁性層以外をエッチング除去して前記後部中間コアを
形成することを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。1. A thin film comprising an upper and lower core, a front intermediate core and a rear intermediate core provided between the upper and lower cores, and a magnetic gap layer formed in the front intermediate core. In the method of manufacturing a magnetic head, a second magnetic layer and a magnetic gap layer made of an insulating film are sequentially laminated on a first magnetic layer constituting a part of a front intermediate core and a rear intermediate core, After forming the contact hole by etching away the magnetic gap layer in the
A third layer is formed on the magnetic gap layer and the contact hole.
Forming a second magnetic layer, the second magnetic layer, the magnetic gap layer, and the third magnetic layer other than the portion overlapping with the upper core and the lower core are removed by etching to the first magnetic layer; At the same time as forming the front intermediate core, the third magnetic layer and the second
And forming the rear intermediate core by etching away portions other than the magnetic layer.
絶縁膜からなる前記磁気ギャップ層、前記第3の磁性層
を順次積層し前記上コア及び前記下コアと重なる部分以
外の前記第2の磁性層、前記磁気ギャップ層、前記第3
の磁性層を前記第1の磁性層までエッチング除去して、
前記前部中間コア及び前記後部中間コアを形成すること
を特徴とする請求項1記載の薄膜磁気ヘッドの製造方
法。2. The method according to claim 1, wherein the second magnetic layer is formed on the first magnetic layer.
The second magnetic layer, the magnetic gap layer, and the third magnetic layer other than a portion overlapping the upper core and the lower core by sequentially laminating the magnetic gap layer and the third magnetic layer made of an insulating film.
Etching away the magnetic layer to the first magnetic layer,
2. The method according to claim 1, wherein the front intermediate core and the rear intermediate core are formed.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6252897A JPH10241114A (en) | 1997-02-28 | 1997-02-28 | Manufacture of thin film magnetic head |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6252897A JPH10241114A (en) | 1997-02-28 | 1997-02-28 | Manufacture of thin film magnetic head |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10241114A true JPH10241114A (en) | 1998-09-11 |
Family
ID=13202792
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6252897A Pending JPH10241114A (en) | 1997-02-28 | 1997-02-28 | Manufacture of thin film magnetic head |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10241114A (en) |
-
1997
- 1997-02-28 JP JP6252897A patent/JPH10241114A/en active Pending
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