JPH10270799A - 発光素子 - Google Patents

発光素子

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JPH10270799A
JPH10270799A JP6882597A JP6882597A JPH10270799A JP H10270799 A JPH10270799 A JP H10270799A JP 6882597 A JP6882597 A JP 6882597A JP 6882597 A JP6882597 A JP 6882597A JP H10270799 A JPH10270799 A JP H10270799A
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JP
Japan
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light emitting
light
layer
wavelength
type cladding
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Application number
JP6882597A
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English (en)
Inventor
Yuji Hishida
有二 菱田
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH10270799A publication Critical patent/JPH10270799A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/34Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
    • H01S5/343Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
    • H01S5/34333Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser with a well layer based on Ga(In)N or Ga(In)P, e.g. blue laser
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/0607Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying physical parameters other than the potential of the electrodes, e.g. by an electric or magnetic field, mechanical deformation, pressure, light, temperature
    • H01S5/0614Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying physical parameters other than the potential of the electrodes, e.g. by an electric or magnetic field, mechanical deformation, pressure, light, temperature controlled by electric field, i.e. whereby an additional electric field is used to tune the bandgap, e.g. using the Stark-effect

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 発光波長以外の素子特性を変化させることな
く発光波長を十分な幅で変化させることができる発光素
子を提供することである。 【解決手段】 発光素子はn型クラッド層6、発光層7
およびp型クラッド層8からなる発光部および光励起n
−i−p−i積層発光層4からなる波長変換部を備え
る。光励起n−i−p−i積層発光層4はp型GaN層
とn型GaN層とが交互に複数周期積層されてなる。発
光部駆動用電極9と共通電極10との間に電圧を印加す
ると、発光層7が発光する。発光層7からの発光が光励
起n−i−p−i積層発光層4で吸収され、発光再結合
が行われる。共通電極10と波長可変用電極11との間
に電圧を印加すると、光励起n−i−p−i積層発光層
4に外部電場が印加される。発光再結合により発生する
光のエネルギーは外部電場の大きさまたは有無により変
化する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、発光波長が可変で
ある発光素子に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体レーザ素子、発光ダイオード等の
発光素子では、その発光波長は基本的には素子に固有で
あり、温度変化により波長の変動がある。意図的に発光
波長を変化させる方法として、素子温度を変化させる方
法や、量子井戸を用いた発光層において複数の量子準位
間での遷移確率を変化させることにより発光波長を変化
させる方法などがある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、素子温
度を変化させる方法や、量子準位間での遷移確率を変化
させる方法により発光波長を変化させると、発光波長以
外の素子特性まで変化するという難点がある。また、こ
のような方法で発光波長を変化させると、発光波長の変
化の幅が小さい。
【0004】本発明の目的は、発光波長以外の素子特性
を変化させることなく発光波長を十分な幅で変化させる
ことができる発光素子を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段および発明の効果】第1の
発明に係る発光素子は、所定の波長の光を発生する発光
部と、発光部により発生された光を吸収し、吸収した光
を外部電場の大きさまたは有無に基づく波長の光に変換
して出射する波長変換部とを備えたものである。
【0006】本発明に係る発光素子においては、発光部
により発生された光が波長変換部で吸収され、その光が
波長変換部により外部電場の大きさまたは有無に基づく
波長の光に変換されて外部に出射される。
【0007】これにより、外部電場の大きさまたは有無
によって出射される光の波長を変化させることができ
る。したがって、光の波長以外の素子特性を変化させる
ことなく光の波長を十分な幅で変化させることができ
る。
【0008】特に、波長変換部は、複数のn型層および
複数のp型層が交互に積層されてなってもよい。また、
波長変換部は、発光部からの光で励起された電子および
正孔の再結合により光を出射してもよい。
【0009】この場合、波長変換部のエネルギーバンド
に山および谷からなる内部電場が形成される。発光部か
らの光の吸収により伝導帯および価電子帯に電子−正孔
対が生成される。これらの電子および正孔は、内部電場
によりそれぞれ伝導帯の谷および価電子帯の山に移動す
ることにより空間的に分離され、同時にエネルギーを失
った後、発光再結合する。
【0010】再結合で発生する光のエネルギーは、外部
電場の大きさまたは有無により変化する。したがって、
外部電場の大きさまたは有無により発光波長を変化させ
ることができる。
【0011】発光素子が、波長変換部に外部電場を印加
するための電極をさらに備えてもよい。この場合、電極
に電圧を印加することにより波長変換部に外部電場を印
加することができ、電圧の大きさまたは電圧の印加の有
無により波長変換部から出射される光の波長を変化させ
ることができる。
【0012】発光部が発光ダイオードからなってもよ
い。あるいは、発光部が半導体レーザ素子からなっても
よい。
【0013】また、波長変換部が光共振器構造を有して
もよい。その場合、波長変換部からレーザ光が出射され
る。発光部および波長変換部が、光共振器内に設けられ
てもよい。この場合、発光部からレーザ光が発生され、
波長変換部からは波長変換されたレーザ光が出射され
る。発光部および波長変換部が、同一基板上に形成され
ることが好ましい。
【0014】第2の発明に係る電子機器は、第1の発明
に係る発光素子を備えたものである。それにより、発光
波長を他の素子特性を変化させることなく十分な幅で変
化させることが可能となる。
【0015】
【発明の実施の形態】図1は本発明の第1の実施例にお
ける発光素子の模式的断面図である。本実施例の発光素
子では、発光部が発光ダイオードからなる。
【0016】図1において、Al2 3 からなる基板1
上に、p型またはn型GaNからなるコンタクト層2、
層厚2000ÅのAlx Ga1-x N(0<x≦1)から
なる半絶縁層3、光励起n−i−p−i積層発光層4お
よび層厚2000ÅのAlxGa1-x N(0<x≦1)
からなる半絶縁層5が順に形成されている。光励起n−
i−p−i積層発光層4は、層厚300Åのp型GaN
層(アクセプタ濃度1019cm-3)と層厚300Åのn
型GaN層(ドナー濃度1019cm-3)とが交互に10
周期積層されてなる。
【0017】半絶縁層5上には、n型Alx Ga1-x
からなるn型クラッド層6、GaNからなる発光層7お
よびp型Alx Ga1-x Nからなるp型クラッド層8が
順に形成されている。
【0018】p型クラッド層8からコンタクト層2の所
定深さまでの一部領域が除去され、コンタクト層2上に
電極形成領域12が形成されている。また、p型クラッ
ド層8からn型クラッド層6の所定深さまでの一部領域
が除去され、n型クラッド層6上に電極形成領域13が
形成されている。p型クラッド層8上に発光部駆動用電
極9が形成され、n型クラッド層6の電極形成領域13
上に共通電極10が形成され、コンタクト層2の電極形
成領域12上に波長可変用電極11が形成されている。
【0019】本実施例の発光素子では、n型クラッド層
6、発光層7およびp型クラッド層8からなる発光ダイ
オードが発光部となり、光励起n−i−p−i積層発光
層4が波長変換部となる。
【0020】図1の発光素子では、発光部駆動用電極9
と共通電極10との間に電圧を印加すると、発光層7が
発光する。また、共通電極10と波長可変用電極11と
の間に電圧を印加すると、光励起n−i−p−i積層発
光層4に外部電場が印加される。
【0021】図2は図1の発光素子における光励起n−
i−p−i積層発光層4の一部の構造および電場が印加
されていない状態のエネルギーバンド構造を示す図であ
る。
【0022】図2に示すように、光励起n−i−p−i
積層発光層4はn型GaN層4aとp型GaN層4bと
が交互に積層されてなる。電場が印加されていない状態
では、伝導帯の谷201の下部に正にイオン化した不純
物の準位が局在し、価電子帯の山202の上部に負にイ
オン化した不純物の準位が局在する。なお、n型GaN
層4aおよびp型GaN層4bの不純物濃度が高い場合
には、バンドの曲がりが大きくなり、電場が印加されな
い状態でも、伝導帯の谷201および価電子帯の山20
2にキャリアが存在する。
【0023】図3は光励起n−i−p−i積層発光層4
に電場が印加されていない状態で発光層7からの発光に
より光励起n−i−p−i積層発光層4が光励起された
場合のエネルギーバンド構造図である。
【0024】発光層7からの発光は、光励起n−i−p
−i積層発光層4で吸収され、電子e−正孔h対となる
(励起光吸収)。これらの電子eおよび正孔hは、内部
電場により空間的に分離され、電子eは伝導帯の谷20
1に移動し、正孔hは価電子帯の山202に移動し、同
時にエネルギーを失った後、発光再結合を行う。
【0025】この場合、入射光のエネルギーは発光層7
および光励起n−i−p−i積層発光層4の材料である
GaNのバンドギャップエネルギーに等しいため、入射
光は光励起n−i−p−i積層発光層4で効率良く吸収
され、n型Alx Ga1-x Nからなるn型クラッド層6
およびAlx Ga1-x Nからなる半絶縁層5では吸収さ
れない。ここで、発光層7からの発光が、光励起n−i
−p−i積層発光層4に達するまでの間にn型クラッド
層6や半絶縁層5で吸収されない理由は、n型クラッド
層6および半絶縁層5を構成する材料のバンドギャップ
エネルギーが、発光層7からの光のエネルギーよりも大
きいからである。
【0026】発光再結合により発生する光のエネルギー
は、GaNのバンドギャップエネルギーよりも小さく、
波長650nm付近にピークを有する幅広(ブロード)
な赤色発光が起こる。そのため、発光再結合で発生する
光は発光部駆動用電極9、共通電極10および波長可変
用電極11以外では吸収されず、効率良く外部へ取り出
される。
【0027】図4は光励起n−i−p−i積層発光層4
に電場が印加された状態で発光層7からの発光により光
励起n−i−p−i積層発光層4が光励起された場合の
エネルギーバンド構造図である。ここでは、共通電極1
0に対して波長可変用電極11に電圧30Vが印加され
ている。
【0028】発光層7からの発光は、光励起n−i−p
−i積層発光層4で吸収され、電子e−正孔h対となる
(励起光吸収)。これらの電子eおよび正孔hは、内部
電場により空間的に分離され、同時にエネルギーを失っ
た後、発光再結合を行う。
【0029】この場合にも、光励起n−i−p−i積層
発光層4に電場が印加されていない場合と同様に、入射
光のエネルギーは、発光層7および光励起n−i−p−
i積層発光層4の材料であるGaNのエネルギーバンド
ギャップエネルギーと等しいため、入射光は光励起n−
i−p−i積層発光層4で効率良く吸収され、n型Al
x Ga1-x Nからなるn型クラッド層6およびAlx
1-x Nからなる半絶縁層5では吸収されない。ここ
で、発光層7からの発光が、光励起n−i−p−i積層
発光層4に達するまでの間にn型クラッド層6や半絶縁
層5で吸収されない理由も、n型クラッド層6および半
絶縁層5を構成する材料のバンドギャップエネルギー
が、発光層7からの光のエネルギーよりも大きいからで
ある。
【0030】発光再結合により発生する光のエネルギー
は、GaNのバンドギャップエネルギーよりも小さい
が、光励起n−i−p−i積層発光層4に電場が印加さ
れていない場合に比べて大きくなり、波長470nm付
近にピークを有する幅広(ブロード)な青色発光が起こ
る。
【0031】このように、波長可変用電極11への電圧
の印加の有無により、光励起n−i−p−i積層発光層
4中の再結合で発生する光の波長を変化させることがで
きる。また、波長可変用電極11へ印加する電圧の大き
さを変化させることにより、光励起n−i−p−i積層
発光層4中の再結合で発生する光の波長を任意にかつ連
続的に変化させることができる。
【0032】なお、n型クラッド層6の代わりにp型A
x Ga1-x Nからなるp型クラッド層を用い、p型ク
ラッド層8の代わりにn型Alx Ga1-x Nからなるn
型クラッド層を用いてもよい。
【0033】図5および図6は本発明の第2の実施例に
おける発光素子の製造方法を示す工程断面図である。本
実施例の発光素子では、発光部がストライプ型レーザ素
子からなる。
【0034】まず、図5(a)に示すように、Al2
3 からなる基板21上に、n型Al x Ga1-x Nからな
るn型クラッド層22、GaNからなる発光層23およ
びp型Alx Ga1-x Nからなるp型クラッド層24を
順に形成する。
【0035】次に、図5(b)に示すように、p型クラ
ッド層24からn型クラッド層22の所定深さまでの一
部領域を塩素系ガスを用いたRIE法(反応性イオンエ
ッチング法)により除去する。これにより、n型クラッ
ド層22が露出する。
【0036】次に、図5(c)に示すように、p型クラ
ッド層24上および露出したn型クラッド層22上に、
GaNからなる高抵抗層25、光励起n−i−p−i積
層発光層26、GaNからなる高抵抗層27およびp型
GaN(アクセプタ濃度1×1019cm-3)またはn型
GaN(ドナー濃度1×1019cm-3)からなるコンタ
クト層28をMBE法(分子線エピタキシャル成長法)
により順に形成する。
【0037】光励起n−i−p−i積層発光層26の形
成条件としては、成長温度を780℃とし、固体ソース
であるGaの蒸気圧を5×10-8Torr、N(高周波
プラズマによる活性化窒素ガス)の圧力を1×10-4
orrとする。また、Mg噴射用セルの温度を170℃
とし、Si噴射用セルの温度を1000℃とする。
【0038】その後、図6(d)に示すように、RIE
法によりn型クラッド層22の端面側の領域を除いてコ
ンタクト層28、高抵抗層27、光励起n−i−p−i
積層発光層26および高抵抗層25を除去する。それに
より、分離用溝29で互いに分離された発光部30およ
び波長変換部31が形成される。分離用溝29の幅L1
は例えば10μmとする。波長変換部31の両方の端面
32,33をミラー加工し、ファブリペロー共振器(光
共振器)を形成する。
【0039】最後に、図6(e)に示すように、p型ク
ラッド層24上にAuからなる発光部駆動用電極34を
形成し、分離用溝35内のn型クラッド層22上にTi
からなる共通電極35を形成し、コンタクト層28上に
Auからなる波長可変用電極36を形成する。
【0040】本実施例の発光素子では、n型クラッド層
22、発光層23およびp型クラッド層24からなるス
トライプ型レーザ素子が発光部30となり、共振器構造
の光励起n−i−p−i積層発光層4が波長変換部31
となる。
【0041】図6の発光素子では、発光部駆動用電極3
4と共通電極35との間に電圧を印加すると、発光層2
3が発光する。それにより、発光層23の両端面からレ
ーザ光が出射される。また、共通電極35と波長可変用
電極36との間に電圧を印加すると、光励起n−i−p
−i積層発光層26に外部電場が印加される。これによ
り、光励起n−i−p−i積層発光層4の両端面32,
33から波長可変なレーザ光が出射される。
【0042】なお、n型クラッド層22およびp型クラ
ッド層24の代わりにそれぞれp型クラッド層およびn
型クラッド層を設けてもよい。また、p型コンタクト層
28の代わりにn型コンタクト層を設けてもよい。
【0043】図7は本発明の第3の実施例における発光
素子の模式的断面図である。本実施例の発光素子では、
光励起n−i−p−i積層発光層がレーザ素子構造を有
する。
【0044】Al2 3 からなる基板41上に、n型A
x Ga1-x Nからなるn型クラッド層42、GaNか
らなる発光層43およびp型Alx Ga1-x Nからなる
p型クラッド層44が順に形成されている。
【0045】p型クラッド層44上には、高抵抗半導体
多層膜ミラー45、光励起n−i−p−i積層発光層4
6および誘電体多層膜ミラー47が順に形成されてい
る。高抵抗半導体多層膜ミラー45は、例えばAlGa
N層とGaN層とが交互に積層されてなる。また、光励
起n−i−p−i積層発光層46は、p型GaN層とn
型GaN層とが交互に積層されてなる。
【0046】誘電体多層膜ミラー47、光励起n−i−
p−i積層発光層46および高抵抗半導体多層膜ミラー
45の一部領域が除去され、p型クラッド層44が露出
している。また、誘電体多層膜ミラー47からn型クラ
ッド層42の所定の深さまでの一部領域が除去され、n
型クラッド層42が露出している。誘電体多層膜ミラー
47上に波長可変用電極48が形成され、p型クラッド
層44上に共通電極49が形成され、n型クラッド層4
2上に発光部駆動用電極50が形成されている。
【0047】本実施例の発光素子では、n型クラッド層
42、発光層43およびp型クラッド層44からなる発
光ダイオードが発光部となる。また、高抵抗半導体多層
膜ミラー45および誘電体多層膜ミラー47により垂直
共振器が構成され、光励起n−i−p−i積層発光層4
6が波長変換部となる。
【0048】図7の半導体素子では、発光部駆動用電極
50と共通電極49との間に電圧を印加すると、発光層
43が発光する。また、共通電極49と波長可変用電極
48との間に電圧を印加すると、光励起n−i−p−i
積層発光層46に外部電場が印加される。これにより、
発光素子の上面および下面から波長可変なレーザ光5
1,52が出射される。
【0049】なお、誘電体多層膜ミラー47の代わりに
半導体多層膜ミラーを用いてもよい。
【0050】図8は本発明の第4の実施例における発光
素子の模式的断面図である。本実施例の発光素子では、
光励起n−i−p−i積層発光層がレーザ素子構造を有
する。
【0051】図8において、Al2 3 からなる基板6
1上に、n型Alx Ga1-x Nからなるn型クラッド層
62、GaNからなる発光層63およびp型Alx Ga
1-xNからなるp型クラッド層64が順に形成されてい
る。
【0052】p型クラッド層64上には、高抵抗半導体
層65、光励起n−i−p−i積層発光層66および誘
電体多層膜ミラー67が順に形成されている。また、基
板61の下面に、誘電体多層膜ミラー68が形成されて
いる。
【0053】誘電体多層膜ミラー67、光励起n−i−
p−i積層発光層66および高抵抗半導体層65の一部
領域が除去され、p型クラッド層64が露出している。
また、誘電体多層膜ミラー67からn型クラッド層62
の所定深さまでの一部領域が除去され、n型クラッド層
62が露出している。誘電体多層膜ミラー67上に波長
可変用電極69が形成され、p型クラッド層64上に共
通電極70が形成され、n型クラッド層62上に発光部
駆動用電極71が形成されている。
【0054】本実施例の発光素子では、n型クラッド層
62、発光層63およびp型クラッド層64からなる発
光ダイオードが発光部となる。また、誘電体多層膜ミラ
ー68および誘電体多層膜ミラー67が垂直共振器を構
成し、光励起n−i−p−i積層発光層66が波長変換
部となる。
【0055】図8の半導体レーザ素子では、発光部駆動
用電極71と共通電極70との間に電圧を印加すると、
発光部63が発光する。また、共通電極70と波長可変
用電極69との間に電圧を印加すると、光励起n−i−
p−i積層発光層66に外部電場が印加される。それに
より、発光素子の上面および下面から波長可変なレーザ
光が出射される。
【0056】なお、誘電体多層膜ミラー67,68の代
わりに半導体多層膜ミラーを用いてもよい。
【0057】図9は本発明の第5の実施例における発光
素子の模式的断面図である。本実施例の発光素子では、
光励起n−i−p−i積層発光層がレーザ素子構造を有
する。
【0058】Al2 3 からなる基板81上に、n型A
x Ga1-x Nからなるn型クラッド層82、GaNか
らなる発光層83およびp型Alx Ga1-x Nからなる
p型クラッド層84が順に形成されている。p型クラッ
ド層84上に、高抵抗層85、光励起n−i−p−i積
層発光層86および高抵抗層87が順に形成されてい
る。
【0059】高抵抗層87、光励起n−i−p−i積層
発光層86および高抵抗層85の一部領域が除去され、
p型クラッド層84が露出している。また、高抵抗層8
7からn型クラッド層82の所定深さまでの一部領域が
除去され、n型クラッド層82が露出している。
【0060】高抵抗層87上に波長可変用電極88が形
成され、p型クラッド層84上に共通電極89が形成さ
れ、n型クラッド層82上に発光部駆動用電極90が形
成されている。
【0061】光励起n−i−p−i積層発光層86の両
方の端面91,92には、ミラー加工により共振面が形
成されている。
【0062】本実施例の発光素子では、n型クラッド層
82、発光層83およびp型クラッド層84からなる発
光ダイオードが発光部となる。また、共振器構造を有す
る光励起n−i−p−i積層発光層86が波長変換部と
なる。
【0063】図9の半導体レーザ素子では、発光部駆動
用電極90と共通電極89との間に電圧を印加すると、
発光層83が発光する。また、共通電極89と波長可変
用電極88との間に電圧を印加すると、光励起n−i−
p−i積層発光層86に外部電場が印加される。それに
より、光励起n−i−p−i積層発光層86の両端面9
1,92から波長可変なレーザ光が出射される。
【0064】図10は本発明の第6の実施例における発
光素子の模式的断面図である。本実施例の発光素子で
は、発光部が面発光レーザ素子からなる。
【0065】Al2 3 からなる基板101上に、半導
体多層膜ミラー102、n型クラッド層103、発光層
104およびp型クラッド層105が順に形成されてい
る。p型クラッド層105上には、高抵抗半導体多層膜
ミラー106、光励起n−i−p−i積層発光層107
および誘電体多層膜ミラー108が順に形成されてい
る。
【0066】誘電体多層膜ミラー108からp型クラッ
ド層105の所定深さまでの一部領域が除去され、p型
クラッド層105が露出している。また、誘電体多層膜
ミラー108からn型クラッド層103の所定深さまで
の一部領域が除去され、n型クラッド層103が露出し
ている。
【0067】誘電体多層膜ミラー108上に波長可変用
電極109が形成され、p型クラッド層105上に共通
電極110が形成され、n型クラッド層103上に発光
部駆動用電極111が形成されている。
【0068】本実施例の発光素子では、半導体多層膜ミ
ラー102および高抵抗半導体多層膜ミラー106によ
り垂直共振器が構成され、高抵抗半導体多層膜ミラー1
06および誘電体多層膜ミラー108により垂直共振器
が構成される。この場合、p型クラッド層103、発光
層104およびn型クラッド層105からなる面発光レ
ーザ素子が発光部となり、垂直共振器構造の光励起n−
i−p−i積層発光層107が波長変換部となる。
【0069】図10の半導体レーザ素子では、発光部駆
動用電極111と共通電極110との間に電圧を印加す
ると、発光部104から上下方向にレーザ光が出射され
る。また、共通電極110と波長可変用電極109との
間に電圧を印加すると、光励起n−i−p−i積層発光
層107に外部電場が印加される。それにより、発光素
子の上面および下面から波長可変なレーザ光が出射され
る。
【0070】なお、誘電体多層膜ミラー108の代わり
に半導体多層膜ミラーを用いてもよい。
【0071】図11は本発明の第7の実施例における発
光素子の模式的断面図である。本実施例の発光素子で
は、発光部が面発光レーザ素子からなる。
【0072】Al2 3 からなる基板121上に、n型
クラッド層122、発光層123およびp型クラッド層
124が順に形成されている。p型クラッド層124上
には、高抵抗半導体多層膜ミラー125、光励起n−i
−p−i積層発光層126および誘電体多層膜ミラー1
27が順に形成されている。
【0073】誘電体多層膜ミラー127からp型クラッ
ド層124の所定深さまでの一部領域が除去され、p型
クラッド層124が露出している。また、誘電体多層膜
ミラー127からn型クラッド層122の所定深さまで
の一部領域が除去され、n型クラッド層122が露出し
ている。一方、基板121の下面には、誘電体多層膜ミ
ラー128が形成されている。
【0074】誘電体多層膜ミラー127上に波長可変用
電極129が形成され、p型クラッド層124上に共通
電極130が形成され、n型クラッド層122上に発光
部駆動用電極131が形成されている。
【0075】本実施例の発光素子では、誘電体多層膜ミ
ラー128および高抵抗半導体多層膜ミラー125によ
り垂直共振器が構成され、高抵抗半導体多層膜ミラー1
25および誘電体多層膜ミラー127により垂直共振器
が構成される。この場合、n型クラッド層122、発光
層123およびp型クラッド層124からなる面発光レ
ーザ素子が発光部となり、垂直共振器構造の光励起n−
i−p−i積層発光層126が波長変換部となる。
【0076】図11の半導体レーザ素子では、発光部駆
動用電極131と共通電極130との間に電圧を印加す
ると、発光部123から上下方向にレーザ光が出射され
る。また、共通電極130と波長可変用電極129との
間に電圧を印加すると、光励起n−i−p−i積層発光
層126に外部電場が印加される。それにより、発光素
子の上面および下面から波長可変なレーザ光が出射され
る。
【0077】なお、誘電体多層膜ミラー127,128
の代わりに半導体多層膜ミラーを用いてもよい。
【0078】図12は本発明の第8の実施例における発
光素子の模式的断面図である。本実施例の発光素子で
は、発光部が面発光レーザ素子からなる。
【0079】Al2 3 からなる基板141上に、半導
体多層膜ミラー142、n型クラッド層143、発光層
144およびp型クラッド層145が順に形成されてい
る。p型クラッド層145上には、高抵抗半導体多層膜
ミラー146、光励起n−i−p−i積層発光層147
および高抵抗層148が順に形成されている。
【0080】高抵抗層148からp型クラッド層145
の所定深さまでの一部領域が除去され、p型クラッド層
145が露出している。また、高抵抗層148からn型
クラッド層143の所定深さまでの一部領域が除去さ
れ、n型クラッド層143が露出している。
【0081】高抵抗層148上に波長可変用電極149
が形成され、p型クラッド層145上に共通電極150
が形成され、n型クラッド層143上に発光部駆動用電
極151が形成されている。光励起n−i−p−i積層
発光層147の両方の端面152,153には、ミラー
加工により共振器面が形成されている。
【0082】本実施例の発光素子では、半導体多層膜ミ
ラー142および高抵抗半導体多層膜ミラー146が垂
直共振器を構成する。この場合、n型クラッド層14
3、発光層144およびp型クラッド層145からなる
面発光レーザ素子が発光部となる。また、垂直共振器構
造の光励起n−i−p−i積層発光層147が波長変換
部となる。
【0083】図12の発光素子では、発光部駆動用電極
151と共通電極150との間に電圧を印加すると、発
光部144から上下方向にレーザ光が出射される。ま
た、共通電極150と波長可変用電極149との間に電
圧を印加すると、光励起n−i−p−i積層発光層14
7に外部電場が印加される。それにより、光励起n−i
−p−i積層発光層147の両端面152,153から
波長可変なレーザ光が出射される。
【0084】上記第1〜第8の実施例では、単に発光波
長を変えることができるだけでなく、波長変換用の電圧
を変調することにより疑似的に任意のスペクトル形状を
有する発光(白色、金色、茶色、ピンク色など、混色に
より得られる色)を1個の発光素子で発生することが可
能となる。
【0085】また、波長変換用の電圧を変調と同期させ
て発光部の発光強度を変調させてもよい。
【0086】本発明の発光素子は、フルカラーディスプ
レイ、パイロットランプ、インジケータ、光化学反応光
源、分析機器光源、色センサ用光源、紙幣判定機用光
源、色見本、光通信用光源、医療機器、光コンピュー
タ、信号、照明等の種々の電子機器に用いることができ
る。
【0087】なお、上記実施例では、n型層およびp型
層を交互に積層することにより光励起n−i−p−i積
層発光層を形成しているが、n型層とp型層との間にノ
ンドーブのi層を挿入してもよい。
【0088】本発明の発光素子の材料としては、種々の
直接遷移型半導体を用いることができ、例えばGaN、
InN、InP、AlAs、GaAs、InAs、Al
Sb、GaSb、InSb、GaPAs、AlGaN、
AlInN、AlNAs、AlNSbおよびこれらの混
晶(GaInN、AlGaInN、AlGaNAs、G
aNAs、GaInNAs、AlInP、GaInP、
AlGaInP、InPAs、AlGaPAs、AlI
nPAs、GaInPAs、GaInAs、AlInA
s、AlGaAs、AlGaInAs、GaInAsS
b、AlInAsSb、AlGaAsSb、AlGaI
nAsSb、GaInSb、AlInSb、AlGaS
b、AlGaInSb、GaInNAsSb、AlIn
NAsSb、AlGaNAsSb、AlGaInNSA
sSb、GaInNSb、AlInNSb、AlGaN
Sb、AlGaInNSb等)、BeS、BeSe、B
eTe、MgS、MgSe、MgTe、ZnO、Zn
S、ZnSe、ZnTe、CdS、CdSe、CdT
e、HgS、HgSe、HgTeおよびこれらの混晶
(BeMgS、BeMgSe、BeMgTe、BeZn
S、BeZnSe、BeZnTe、BeCdS、BeC
dSe、BeCdTe、BeHgS、BeHgSe、B
eHgTe、MgZnS、MgZnSe、MgZnT
e、MgCdS、MgCdSe、MgCdTe、MgH
gS、MgHgSe、MgHgTe、ZnCdO、Zn
CdS、ZnCdSe、ZnCdTe、ZnHgO、Z
nHgS、ZnHgSe、ZnHgTe、CdHgS、
CdHgSe、CdHgTe、BeMgZnS、BeM
gZnSe、BeMgZeTe、BeMgCdS、Be
MgCdSe、BeMgCdTe、BeMgHgS、B
eMgHgSe、BeMgHgTe、BeSSe、Be
SeTe、BeSTe、MgSSe、MgSeTe、M
gSTe、ZnOS、ZnSSe、ZnSeTe、Zn
STe、ZnOSe、ZnOTe、CdSSe、CdS
eTe、CdSTe、HgSSe、HgSeTe、Hg
STe等)を用いることができる。
【0089】ただし、波長変換部を構成する材料のバン
ドギャップエネルギーが発光部から発生される光のエネ
ルギーとほぼ同じかまたはそれ以下となるように、材料
を選択する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例における発光素子の模式
的断面図である。
【図2】図1の発光素子における光励起n−i−p−i
積層発光層の一部の構造および電場が印加されていない
状態のエネルギーバンド構造を示す図である。
【図3】光励起n−i−p−i積層発光層に電場が印加
されていない状態で発光層からの発光により光励起n−
i−p−i積層発光層が光励起された場合のエネルギー
バンド構造図である。
【図4】光励起n−i−p−i積層発光層に電場が印加
された状態で発光層からの発光により光励起n−i−p
−i積層発光層が光励起された場合のエネルギーバンド
構造図である。
【図5】本発明の第2の実施例における発光素子の製造
方法を示す工程断面図である。
【図6】本発明の第2の実施例における発光素子の製造
方法を示す工程断面図である。
【図7】本発明の第3の実施例における発光素子の模式
的断面図である。
【図8】本発明の第4の実施例における発光素子の模式
的断面図である。
【図9】本発明の第5の実施例における発光素子の模式
的断面図である。
【図10】本発明の第6の実施例における発光素子の模
式的断面図である。
【図11】本発明の第7の実施例における発光素子の模
式的断面図である。
【図12】本発明の第8の実施例における発光素子の模
式的断面図である。
【符号の説明】
4,26,46,66,86,107,126,147
光励起n−i−p−i積層発光層 7,23,43,63,83,104,123 発光層 9,34,50,71,90,111,131 発光部
駆動用電極 10,35,49,70,89,110,130 共通
電極 11,36,48,69,88,109,129 波長
可変用電極

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の波長の光を発生する発光部と、 前記発光部により発生された光を吸収し、吸収した光を
    外部電場の大きさまたは有無に基づく波長の光に変換し
    て出射する波長変換部とを備えたことを特徴とする発光
    素子。
  2. 【請求項2】 前記波長変換部は、複数のn型層および
    複数のp型層が交互に積層されてなることを特徴とする
    請求項1記載の発光素子。
  3. 【請求項3】 前記波長変換部は、前記発光部からの光
    で励起された電子および正孔の再結合により光を出射す
    ることを特徴とする請求項1または2記載の発光素子。
  4. 【請求項4】 前記波長変換部に外部電場を印加するた
    めの電極をさらに備えたことを特徴とする請求項1〜3
    のいずれかに記載の発光素子。
  5. 【請求項5】 前記発光部は、発光ダイオードからなる
    ことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の発光
    素子。
  6. 【請求項6】 前記発光部は、半導体レーザ素子からな
    ることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の発
    光素子。
  7. 【請求項7】 前記波長変換部は、光共振器構造を有す
    ることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の発
    光素子。
  8. 【請求項8】 前記発光部および前記波長変換部は、光
    共振器内に設けられたことを特徴とする請求項1〜6の
    いずれかに記載の発光素子。
  9. 【請求項9】 請求項1〜8のいずれかに記載の発光素
    子を備えた電子機器。
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