JPH10275927A - 光起電力装置製造方法及び光起電力装置 - Google Patents
光起電力装置製造方法及び光起電力装置Info
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Abstract
の膜上の集電極との密着性を向上させた光起電力装置を
提供する。 【解決手段】 透光性の集電極5/半導体部4/裏面電
極3の層構造に形成され、表面電極5の膜上に金属の集
電極6が形成された光起電力装置を製造する光起電力装
置製造方法において、集電極6を加熱して表面電極5と
集電極6とを密着させる。
Description
化物等からなる透明電極膜により形成され、その膜上に
金属の集電極が形成される太陽電池などの光起電力装置
の製造方法及びその光起電力装置に関し、詳しくはその
表面電極と集電極との密着性の向上に関する。
透明導電膜(TCO)が用いられる太陽電池,光センサ
等の光起電力装置においては、その面内抵抗を減らすた
めに、表面電極の膜上に金属からなる集電極を形成する
必要がある。
け易い場合には、装置が高温にならないように、真空蒸
着法,低温で焼結可能な銀ペーストを使用する方法,低
温溶融型の半田ディップ法,又は特開平6−13255
1号公報(H01L 31/04)に記載の金属ワイヤ
ーを導電性接着剤により接着する方法等により、集電極
を表面電極の膜上に形成することが行われている。
には表面電極と裏面電極との間の半導体部が加熱により
微結晶化等して熱劣化し、その導電率が大きくなってリ
ーク電流が増大することにより、表面電極と裏面電極と
の短絡(電極間短絡)として出現する。
電極の膜上に集電極の金属を蒸着,低温焼結,半田付
け,接着等により形成し、熱による損傷を受けないよう
にした場合、表面電極と集電極との密着性が悪く、装置
の信頼性が低下する問題点がある。
する方法や、低温溶融型の半田ディップ法で集電極を形
成した場合は、形成後数日間室温で放置すると集電極の
剥離等が発生し、装置の信頼性の著しい低下を招来す
る。
接着剤による接着方法を採用した場合は、大がかりな真
空プロセスが必要になったり、材料費が著しく高騰する
等の不都合も生じる。
表面電極と集電極との密着性を向上するようにした光起
電力装置製造方法及び光起電力装置を提供することを課
題とする。
めに、本発明の光起電力装置製造方法においては、装置
全体を加熱するのでなく、集電極を加熱し、集電極とそ
の直下の透光性の表面電極とを局所的に加熱して相互に
混ざり合わせ、表面電極と集電極とを密着する。
化が少なく、表面電極と裏面電極との電極間短絡を防止
して集電極と表面電極との密着性が向上する。
にも、大がかりな真空プロセスや材料費の高騰なく表面
電極と集電極とを十分に密着させて信頼性の高い光起電
力装置を安価に製造することができる。
よる誘導加熱又はレーザ光の照射により行うことが実用
的で好ましい。
電極との電極間短絡を確実に防止するため、ほぼ集電極
直下の表面電極と裏面電極との間に絶縁体を介在させて
集電極を加熱することが望ましい。
熱劣化が絶縁体により改善され、表面電極と裏面電極と
の間の短絡が確実に防止される。
を除去し、等価的に前記の絶縁体を設けたのと同じ状態
にして集電極を加熱してもよい。
は、この高導電率層及び裏面電極のほぼ集電極直下の部
分を除去して集電極を加熱することが好ましい。
表面を有する基板上に、裏面電極、半導体部及び透光性
の表面電極が順次形成され、表面電極上に集電極を備え
てなる光起電力装置において、集電極のほぼ直下におけ
る裏面電極上と半導体部との間に絶縁体が設けられる。
介在した絶縁体により、集電極の加熱に伴う表面電極と
裏面電極との電極間短絡が防止され、集電極が表面電極
に密着し、しかも、表面電極と裏面電極との電極間短絡
がない信頼性の高い光起電力装置を提供できる。
縁体を設ける代わりに、集電極のほぼ直下において裏面
電極又は裏面電極及び半導体部を形成する裏面電極側の
高導電率層を除去し、基板の絶縁性表面を露出せしめた
構成であってもよい。
いし図11を参照して説明する。 (第1の形態)まず、光起電力装置の1例であるアモル
ファスシリコン太陽電池(以下アモルファスシリンコを
a−Siという)を、その裏面電極のほぼ集電極直下の
部分を除去して製造する場合につき、図1ないし図3を
参照して説明する。
のa−Si太陽電池1の構造を示す断面図であり、この
太陽電池1のサブモジュールは基板2上に金属からなる
裏面電極3,半導体部4及び金属酸化物等からなる透明
電極膜(TCO)の表面電極5を形成し、表面電極5の
膜上に所定電極パターンで金属の集電極6を形成し、こ
の集電極6を加熱し表面電極5と集電極6とを密着させ
て製造される。
6と裏面電極3との電極間短絡を確実に防止するため、
裏面電極3は図1及び図2の裏面電極パターンに示すよ
うにほぼ集電極直下の部分を除去し、集電極6のパター
ンに沿う例えばストライプ状の溝3’を設けて形成され
る。
極力防止して表面電極5と裏面電極3との電極間短絡を
確実に防止するため、集電極6の幅より弱干広くするこ
とが好ましい。
3の形成後に、プラズマ反応でn,i,pの3層を順に
生成して形成され、i層は真性a−Siからなる。
スパッタ等でITO,ZnO2 等の透明導電膜を生成し
て形成され、その膜上の集電極6は例えば銀ペーストを
スクリーン印刷した後に低温焼結し、図3の集電極パタ
ーンに形成される。なお、図3の7は集電極6から電流
を取出すために形成されたバスバーである。
のための加熱は、例えば、その各部に上方から高周波の
電磁波ビームを照射し、高周波誘導加熱によりうず電流
を発生させて行われる。
射され、しかも、金属の集電極6は表面電極5よりはる
かにうず電流が発生し易いため、集電極6のみが効率よ
く加熱され、この加熱により、集電極6と表面電極5の
集電極6との接触部分が瞬時的に高温溶融して相互に混
ざり合い、表面電極5と集電極6とが強固に密着する。
なく、集電極6のみが効率よく加熱される。また、本実
施形態にあっては、集電極6のほぼ直下においては、裏
面電極3が除去され基板2の絶縁性表面が露出せしめら
れてなる溝3’が設けられており、半導体部4は溝3’
における基板2の絶縁性表面上に形成されている。従っ
て、例え集電極6の直下において、半導体部4に加熱に
伴うa−Siの微結晶化が生じ導電率が大きくなったと
しても、この部分を介して裏面電極3と表面電極5とが
短絡することはない。
熱による表面電極5と裏面電極3との電極間短絡を防止
して表面電極5と集電極6との密着性を大幅に向上する
ことができ、集電極6の剥離等のない信頼性の高いa−
Si太陽電池を安価に得ることができる。
ビームはマイクロ波帯のビームであってもよい。
ーザ光をパルス照射等して加熱するようにしてもよい。
よりさらに一層確実に電極短絡を防止してa−Si太陽
電池を製造する場合につき、図4ないし図6を参照して
説明する。図4は図1と同様の断面図であり、この図4
のa−Si太陽電池1が図1と異なる点は、裏面電極3
だけでなく半導体部4の導電率が大きいn層(高導電率
層)についても、ほぼ集電極直下の部分が除去されてい
る点である。
や、レーザ光の照射等の方法で加工されて前記の集電極
直下の不要部分が除去される。
電極直下の部分のみを除去して太陽電池1を製造した場
合は、図5に示すように、集電極6の加熱により半導体
部4のほぼ集電極直下の劣化部分4’に導電率が大きい
n層が接触し、矢印に示すようなリーク電流が生じるお
それがある。
く半導体部4の導電率が大きいn層についても、ほぼ集
電極直下の部分を除去して太陽電池1を製造した場合
は、図6に示すように劣化部分4’にn層が接触せず、
リーク電流を完全に無くすことができる。
1の場合と同様の手法で集電極6を加熱して表面電極5
と集電極6との密着性を向上する際に、図1の構造のも
のよりもさらに一層確実に、表面電極5と裏面電極3と
の電極短絡を防止することができ、集電極6と表面電極
5との密着性が向上し、信頼性が向上したa−Si太陽
電池を得ることができる。
一部を除去しない代わりに、表面電極と裏面電極との
間,すなわち裏面電極上と半導体部との間に絶縁体を設
けてa−Si太陽電池を製造する場合につき、図7ない
し図9を参照して説明する。
この図7の太陽電池1が図1,図4と異なる点は、裏面
電極3及び半導体部4は除去されず、半導体部4のほぼ
集電極直下の本来はn層が形成される部分にガラス,S
iO2 ,SiN等の絶縁体8を設けて形成されている点
である。
ち、例えば図8の絶縁体塗布パターンに示すように、裏
面電極3の表面のほぼ集電極直下の部分に形成して設け
られる。
図9の集電極パターンで集電極6が形成される。
又はレーザ光照射により加熱されて太陽電池1が製造さ
れる。
すなわち半導体部4において、図5,図6の劣化部分
4’と同様の劣化部分に絶縁体8が位置し、この絶縁体
8により等価的に劣化部分の抵抗が増大してその部分を
通るリーク電流が減少し、図1,図4のように裏面電極
3,n層を除去することなく、それらと同様の効果が得
られる。
表面電極5との密着性が向上し、信頼性が向上したa−
Si太陽電池を得ることができる。
の除去又は裏面電極3,半導体部4の高導電率層の一部
の除去と、絶縁体8の形成とを併用してもよい。
アモルファス太陽電池とを人工構築接合により複合化し
たハイブリッド型太陽電池(いわゆるHIT(Heteroju
nction with Intrinsic Thin-layer)構造太陽電池)の
製造に適用した場合につき、図10,図11を参照して
説明する。
1の集電極10を省いた構造を示し、図中の11は表面
電極(TCO)、12は半導体部であり、a−Siのp
層,i層及びn型結晶シリコン(n−Si)層,a−S
iのn型ハイドープ(n+ )拡散層からなる。13は裏
面電極である。
基板にプラズマ反応でa−Siのp,i,n+ の各層を
形成した後、表面電極11,裏面電極13を蒸着法等で
形成して行われる。
9と同様の図11の電極パターンの集電極10が塗布,
焼結されて形成され、集電極10はバスバー14に接続
される。
〜第3の形態の場合と同様、高周波電磁誘導加熱又はレ
ーザ光照射により加熱される。
層の除去や絶縁体の形成は行われないが、集電極10が
集中的に加熱されて表面電極11と集電極10とが密着
し、この加熱による太陽電池9の損傷,すなわち表面電
極11と裏面電極13との電極短絡を防止して表面電極
11と集電極10との密着性が向上する。
等の種々の半導体構造の光起電力装置の場合に適用する
ことができ、その際、半導体部がいわゆるタンデム型等
の多層集積型構造であってもよく、また、表面電極がピ
ラミッド形状のテクスチャ構造等のものであってもよい
のは勿論である。
電極6,10を加熱するプロセスを省き、どのようであ
ってもよい。
それによって得られる光起電力装置について具体的に説
明する。 (実施例1)まず、第1の形態の実施例について、図1
〜図3及び図12を参照して述べる。図1の太陽電池1
において、サブモジュールの基板2は12cm角(120
mm×120mm)のガラス基板とした。
の図2に示す100mm×110mm(約76%)の範囲に
Agを3000Å以下の厚さに形成した。
る際に基板2にマスクを密着させることにより形成し、
その幅は1mm(そのパターン間隔(10mm)の10%)
とした。
10cm角(100mm×100mm)の半導体部4,表面電
極5を順に形成した。
より形成し、表面電極5はRF−マグネトロンスパッタ
法によりITOで形成した。
れぞれに示すようにし、半導体部4の厚さは5000Å
以下,表面電極5の厚さは1000Å以下とした。
て幅0.5mm(溝3’の幅の50%),厚さ0.5mmの
銀ペーストをスクリーン印刷法で図3のパターンに塗布
した。
間の条件で恒温槽中で焼成して集電極6を形成した。
のみを集中的に加熱した。この加熱プロセスの条件は、
200Wh/kg,400kHz,30秒とした。
したところ,集電極6の温度は約550℃に達したが、
その他の表面電極5等は約100℃であった。
にのみ照射されるように、適当な大きさの開口部を持つ
ステンレスのマスク体により電磁波ビームの照射を規制
した。
べるために、比較の対象とする太陽電池として、裏面電
極に溝を設けることなく太陽電池1と同じ条件で裏面電
極,半導体部,表面電極を形成し、この表面電極上に集
電極6と同形状の集電極を銀の蒸着で形成したサブモジ
ュール構成の太陽電池(比較用サブモジュール)を製造
した。
ルとすると、このサブモジュールと比較用サブモジュー
ルの出力特性は、つぎの表3に示すようになった。
電池1は、集電極6の誘導加熱処理によっては特性が劣
化しないこと,すなわち表面電極5と裏面電極3との間
の絶縁が保たれていることが判明した。
加熱を施さなかった場合は、初期特性及び室内で1週間
放置した後の出力特性を測定したところ、つぎの表4に
示すようになった。
加熱しない場合、初期特性は高周波誘導加熱プロセスを
経た場合と同等であったが、1週間放置した後の特性
は、主に形状因子F.F.が大幅に低下している。
抗が増大した結果であると考えられる。
1は集電極6の加熱により、表面電極5と集電極6とが
密着していることが確かめられた。
は、集電極6の加熱温度に依存し、その銀ペーストの誘
導加熱温度が約200℃を越える辺りから向上し、この
密着性の向上は前記F.F.の経時劣化が減少して信頼
性が向上することから確認された。
室内に1週間放置した後のF.F.が図12に示す特性
を示した。
ロセスの条件を、50Wh/kg〜1500Wh/kg,5
0kHz〜10MHz,1〜60秒の範囲にしても向上する
ことが確かめられた。
ては、0.7mm以上(集電極6の幅0.5mmの1.4倍
以上)の幅があれば、誘導加熱の際に表面電極5と裏面
電極3との電極間短絡が生じないことが判明した。
太陽電池モジュールとしての有効面積が減少するため、
溝3’は1mm以下の幅とすることが望ましいと考えられ
る。
行った場合、その出力特性としてつぎの表5の特性が得
られた。
加熱に代え、レーザ光の照射によって集電極6を加熱し
た場合の特性であり、その他の製造条件は前記の高周波
誘導加熱の場合と同様である。また、使用したレーザは
CW−YAGレーザで、その照射条件は20mW/cm2
とした。
ザ光を照射して加熱した結果、集電極6は400℃程度
に加熱された。
内で1週間放置した後に測定した結果を示し、この結果
から明らかなように、レーザ光を照射して加熱した場合
にも、集電極6と表面電極5との密着性が向上し、信頼
性が向上することが判明した。
について、図4〜図6を参照して述べる。この実施例に
おいては、裏面電極3を蒸着する際のマスクを実施例1
のものから変更し、図4の溝3’の幅を0.5mm(集電
極6の幅0.5mmと同じ)に狭くした。
パルスYAGレーザ(波長:1.06μm)を使用し、
そのレーザ強度は1×106 J/パルスとした。なお、
その他の条件は実施例1と同様とした。
の幅で除去した太陽電池1と、図4の裏面電極3及びn
層を除去した太陽電池1の出力特性はつぎの表6のよう
になった。
電池1の特性が図1のものより優れている。
劣化部分4’が導電率の大きいn層と接触するために、
表面電極5と裏面電極3との間にリーク電流が流れる
が、図4の太陽電池1の場合は、図6のようにリーク電
流が流れないからである。
面電極3の溝3’の幅を0.7mm以上(集電極6の幅の
1.4倍以上)にすれば、裏面電極3と熱劣化したa−
Si間の距離が広がり、太陽電池特性への悪影響が一層
小さくなると考えられる。
も、集電極6と表面電極5との密着性が向上し、信頼性
が向上することが判明した。
につき、図7〜図9を参照して述べる。この実施例にお
いては、図7の基板2を12cm角のガラス基板とし、こ
の基板2上に図8のように裏面電極3及び絶縁体8を形
成し、その後に、半導体部4及び表面電極5,集電極6
を形成した。
リーン印刷法で塗布,焼結し、3000Å程度の厚さに
形成した。その焼結プロセスは、350℃,1時間程度
で窒素雰囲気中で行った。
の形成法は実施例1と同様とし、集電極6の加熱には実
施例1と同様の高周波誘導加熱プロセスを適用した。
測定するため、裏面電極,半導体部,表面電極を図7の
太陽電池1と同様に形成し、表面電極の膜上に図9と同
様の電極パターンの集電極を銀の蒸着により形成した太
陽電池(比較用サブモジュール)を製造した。
ジュールとすると、このサブモジュールと比較用サブモ
ジュールの出力特性はつぎの表7に示すようになった。
太陽電池1にあっても、集電極6の誘導加熱処理によっ
ては特性が劣化せず、表面電極5と裏面電極3との間の
絶縁が保たれ、集電極6と表面電極5との密着性が向上
し、信頼性が向上することが判明した。
縁体8については、0.6mm(集電極6の幅5mmの1.
2倍)以上の幅があれば、誘導加熱の際に表面電極5と
裏面電極3との電極間短絡が発生しないことが判明し
た。
ュールとしての有効面積が減少するため、1mm(集電極
6の幅の2倍)以下の幅とすることが望ましいと考えら
れる。
について、図10を参照して述べる。この実施例におい
ては、図10のHIT構造太陽電池9に適用した。この
太陽電池9については、まず、半導体部12のa−Si
の各層をRF−CVD法で形成し、表面電極11をRF
−マグネトロンスパッタ法で形成した。
示すように設定した。
を形成した後、その膜上に図11の集電極パターンに銀
ペーストを塗布し、焼結して集電極10を形成し、この
集電極10を高周波誘導加熱法により加熱した。
た。そして、集電極10の加熱後、裏面電極13を銀の
蒸着により形成した。
太陽電池9と同じ表面電極,裏面電極及び半導体部を有
するHIT構造の太陽電池(比較用サブモジュール)を
形成した。
上には、図11の集電極パターンで銀を蒸着して集電極
を形成し、この集電極には集電極10のように加熱を施
さなかった。
ル)と比較用サブモジュールの初期出力特性はつぎの表
10に示すようになった。
9は集電極10の加熱によっては特性が劣化せず、表面
電極11と裏面電極13との絶縁が保たれることが判明
した。
みで形成し、集電極に高周波誘導加熱プロセスを施さな
かった場合は、その初期特性及び室内で1週間放置した
後の特性がつぎの表11に示すようになった。
加熱(高周波誘導加熱)しない場合、初期特性は集電極
の高周波誘導加熱プロセスを経た場合と同等であった
が、1週間後には主にF.F.が大幅に低下した。
く、両電極間の接触抵抗が増大した結果であると考えら
れる。
極10の加熱による表面電極11と集電極10との密着
性の向上に伴う効果が確かめられた。
る。まず、本発明の光起電力装置製造方法においては、
装置全体を加熱するのでなく、集電極6,10を加熱
し、集電極6,10とその直下の表面電極5,11とを
局所的に加熱して相互に混ざり合わせ、表面電極5,1
1と集電極6,10とを密着するため、その際の表面電
極5,11と裏面電極3,13との間の半導体部4,1
2の熱劣化が極めて少なく、表面電極5,11と裏面電
極3,13との電極間短絡を防止して表面電極5,11
と集電極6,10との密着性を向上することができる。
にも、真空プロセスや材料費の高騰等なく表面電極5,
11と集電極6,10とを十分に密着させて信頼性の高
い光起電力装置を安価に製造することができる。
の照射による誘導加熱又はレーザ光の照射により行うこ
とより、極めて実用的な手法で表面電極5,11と集電
極6,10とを密着させることができる。
と裏面電極3,13との間に絶縁体8を介在させて集電
極6,10を加熱することにより、表面電極5,11と
裏面電極3,13との電極間短絡を一層確実に防止して
信頼性の一層の向上を図ることができる。
下の部分を除去して集電極6,10を加熱することによ
り、前記の絶縁体8を設けることなく、絶縁体8を設け
た場合と同等の効果が得られる。
る場合には、この高導電率層及び裏面電極3,13のほ
ぼ集電極直下の部分を除去して集電極6,10を加熱す
ることにより、表面電極5,11と裏面電極3,13と
の電極間短絡の防止を図ることができる。
1,9)は、集電極のほぼ直下における裏面電極3,1
3上と半導体部4,12との間に絶縁体8を設けたた
め、表面電極5,11と裏面電極3,13との間に介在
した絶縁体8により、集電極6,10の加熱に伴う表面
電極5,11と裏面電極3,13との電極間短絡を防止
することができ、集電極6,10が加熱によって表面電
極に密着し、しかも、表面電極5,11と裏面電極3,
13との電極間短絡がなく、信頼性が極めて高くなる。
4,12との間に絶縁体8を設ける代わりに、集電極
6,10のほぼ直下において裏面電極3,13又は裏面
電極3,13、及び半導体部4,12を構成する高導電
率層を除去して基板2の絶縁性表面を露出せしめた構成
にしても、同様の効果を得ることができる。
である。
である。
熱劣化に伴うリーク電流説明用の断面図である。
用の断面図である。
である。
る。
極を除去した状態の断面図である。
ンを示した平面図である。
太陽電池の特性図である。
Claims (9)
- 【請求項1】 透光性の表面電極/半導体部/裏面電極
の層構造に形成され、前記表面電極の膜上に金属の集電
極が形成された光起電力装置を製造する光起電力装置製
造方法において、 前記集電極を加熱して前記表面電極と前記集電極とを密
着させることを特徴とする光起電力装置製造方法。 - 【請求項2】 集電極の加熱を、電磁波の照射による誘
導加熱により行うことを特徴とする請求項1記載の光起
電力装置製造方法。 - 【請求項3】 集電極の加熱を、レーザ光の照射により
行うことを特徴とする請求項1記載の光起電力装置製造
方法。 - 【請求項4】 ほぼ集電極直下の表面電極と裏面電極と
の間に絶縁体を介在させ、集電極を加熱することを特徴
とする請求項1,請求項2又は請求項3記載の光起電力
装置製造方法。 - 【請求項5】 裏面電極のほぼ集電極直下の部分を除去
し、集電極を加熱することを特徴とする請求項1,請求
項2又は請求項3記載の光起電力装置製造方法。 - 【請求項6】 半導体部を構成する裏面電極側の高導電
率層及び裏面電極のほぼ集電極直下の部分を除去し、集
電極を加熱することを特徴とする請求項1,請求項2又
は請求項3記載の光起電力装置製造方法。 - 【請求項7】 絶縁性表面を有する基板上に、裏面電
極、半導体部及び透光性の表面電極が順次形成され、前
記表面電極上に集電極を備えてなる光起電力装置におい
て、 前記集電極のほぼ直下における前記裏面電極上と半導体
部との間に絶縁体が設けられたことを特徴とする光起電
力装置。 - 【請求項8】 絶縁性表面を有する基板上に、裏面電
極、半導体部及び透光性の表面電極が順次形成され、前
記表面電極上に集電極を備えてなる光起電力装置におい
て、 前記集電極のほぼ直下において前記裏面電極が除去さ
れ、前記基板の絶縁性表面が露出せしめられたことを特
徴とする光起電力装置。 - 【請求項9】 絶縁性表面を有する基板上に、裏面電
極、半導体部及び透光性の表面電極が順次形成され、前
記表面電極上に集電極を備えてなる光起電力装置におい
て、 前記集電極のほぼ直下において前記裏面電極、及び前記
半導体部を構成する裏面電極側の高導電率層が除去さ
れ、前記基板の絶縁性表面が露出せしめられたことを特
徴とする光起電力装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09527997A JP3209702B2 (ja) | 1997-03-28 | 1997-03-28 | 光起電力装置製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09527997A JP3209702B2 (ja) | 1997-03-28 | 1997-03-28 | 光起電力装置製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10275927A true JPH10275927A (ja) | 1998-10-13 |
| JP3209702B2 JP3209702B2 (ja) | 2001-09-17 |
Family
ID=14133345
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09527997A Expired - Fee Related JP3209702B2 (ja) | 1997-03-28 | 1997-03-28 | 光起電力装置製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3209702B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013191742A (ja) * | 2012-03-14 | 2013-09-26 | E I Du Pont De Nemours & Co | 太陽電池セルの製造方法 |
| JP2013247219A (ja) * | 2012-05-25 | 2013-12-09 | Mitsubishi Electric Corp | 太陽電池セルの製造方法 |
| WO2014045241A3 (fr) * | 2012-09-20 | 2015-02-26 | Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) | Procédé de durcissement d'un revêtement d'un élément de capteur solaire, et éléments obtenus au moyen de ce procédé |
-
1997
- 1997-03-28 JP JP09527997A patent/JP3209702B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JP2013247219A (ja) * | 2012-05-25 | 2013-12-09 | Mitsubishi Electric Corp | 太陽電池セルの製造方法 |
| WO2014045241A3 (fr) * | 2012-09-20 | 2015-02-26 | Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) | Procédé de durcissement d'un revêtement d'un élément de capteur solaire, et éléments obtenus au moyen de ce procédé |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3209702B2 (ja) | 2001-09-17 |
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