JPH10276077A - リセット回路 - Google Patents

リセット回路

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JPH10276077A
JPH10276077A JP9078313A JP7831397A JPH10276077A JP H10276077 A JPH10276077 A JP H10276077A JP 9078313 A JP9078313 A JP 9078313A JP 7831397 A JP7831397 A JP 7831397A JP H10276077 A JPH10276077 A JP H10276077A
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JP
Japan
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circuit
delay
reset
output
reset circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP9078313A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsutomu Nishi
努 仁志
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 1個のリセット回路で電源投入からリセット
解除までの時間の異なる被制御システムに対応する。 【解決手段】 遅延回路3を構成する特定の4個のD型
フリップフロップから出力された4種類の遅延信号DL
Y1〜DLY4を選択信号C0、C1の組み合わせによ
って選択出力する。従って、リセット回路の使用側が製
造側に依存することなく意図する遅延信号を作成でき、
1つのリセット回路で電源投入からリセット解除までの
時間の異なる被制御システムに容易に対応できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、異なる被制御シス
テムのリセット解除に好適なリセット回路に関する。
【0002】
【従来の技術】図3は従来のリセット回路を示すブロッ
ク図であり、集積化されている。図3において、(1)
はコンパレータであり、+端子にはリセット回路の電源
電圧V1が印加され、−端子には基準電圧Vrefが印
加される。(2)は発振回路であり、コンパレータ
(1)の比較出力に応答して動作する。即ち、電源投入
後において電源電圧V1<基準電圧Vrefの範囲で
は、コンパレータ(1)の比較出力がローレベルの為、
発振回路(2)は発振動作を停止した状態である。一
方、電源電圧V1>基準電圧Vrefの範囲では、コン
パレータ(1)の比較出力がハイレベルに反転する為、
発振回路(2)は当該ハイレベルが供給されて発振動作
を開始する。尚、電源電圧V1は発振回路(2)にも供
給される為、発振回路(2)が安定発振できない状態で
コンパレータ(1)の比較出力がハイレベルとならない
様に、基準電圧Vrefは設定される。発振回路(2)
としては、RC発振回路、水晶発振回路、セラミック発
振回路等の何れを適用しても良い。(3)は遅延回路で
あり、発振回路(2)の発振信号を異なる時間(例えば
4種類)遅延させた複数の遅延信号を作成し、複数の遅
延信号の何れか1つを選択出力するものである。(4)
は出力回路であり、遅延回路(3)の遅延信号を、マイ
クロコンピュータ等の被制御システムをリセット解除で
きるレベルまで増幅するものである。尚、コンパレータ
(1)及び遅延回路(3)はMOSトランジスタで構成
され、発振回路(2)及び出力回路(4)はバイポーラ
トランジスタで構成される。また、被制御システムは、
出力回路(4)の1番目の出力変化でリセット解除され
る構成でも、出力回路(4)の出力変化を所定時間だけ
受け付けてリセット解除される構成であってもよい。
【0003】図4は遅延回路(3)の具体例を示すブロ
ック図である。図4はn個のD型フリップフロップ(5
−1)〜(5−n)をカスケード接続したものである。
詳しくは、各D型フリップフロップのD(データ入力)
端子と*Q(反転出力)端子とを短絡すると共に、前段
のD型フリップフロップの*Q端子と後段のD型フリッ
プフロップのCK(クロック入力)端子とを接続したも
のである。即ち、各D型フリップフロップ(5−1)〜
(5−n)は1/2分周回路として動作する。また、特
定の4個のD型フリップフロップのQ(出力)端子は集
積回路の内部において導出され、次段の出力回路(4)
の入力とメタル切り換えで接続される。例えば、発振回
路(2)の発振周期を0.78msecに設定すると、
特定の4個のD型フリップフロップのQ端子からは、発
振信号が所定分周されて25msec、50msec、
100msec、200msecの遅延信号が出力さ
れ、当該遅延信号の何れか1つがメタル配線を介して出
力回路(4)から増幅出力される。
【0004】被制御システムは、その構成に応じて、電
源投入からリセット解除までの時間が異なるものであ
る。そこで、1個のリセット回路で4種類の遅延信号を
作成し、即ち、1個のリセット回路で複数の被制御シス
テムに対応できる様にしていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、1個のリセッ
ト回路で複数の被制御システムに対応するには、メタル
切り換えが不可欠となる。従って、リセット回路(集積
回路)の製造側においては、遅延信号の遅延時間に応じ
て異なる機種を製造しなければならない為、製造費用が
高くなると共に納期が長くなる問題があり、一方、リセ
ット回路の使用側においては、遅延時間に応じて個別の
リセット回路を使用しなければいけないと言う製造側の
デメリットを被らざるを得ない問題があった。
【0006】そこで、本発明は、リセット回路の使用側
が遅延信号の遅延時間をその場で任意に選択できる様に
することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記問題点を
解決する為に成されたものであり、電源投入後、発振回
路の発振信号を異なる時間遅延させた複数の遅延信号を
作成すると共に、前記複数の遅延信号の何れか1つを選
択出力する遅延回路を有し、被制御システムに前記複数
の遅延信号の何れか1つを供給することにより、前記被
制御システムを前記遅延信号のレベル変化に応答してリ
セット状態からリセット解除状態とするリセット回路に
おいて、前記遅延回路は、選択信号に応答して前記複数
の遅延信号の何れか1つを選択出力する選択論理回路を
有することを特徴とする。
【0008】また、前記リセット回路を集積化し、前記
選択信号を供給する端子を導出したことを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明の詳細を図面に従って具体
的に説明する。図1は本発明のリセット回路を示すブロ
ック図であり、集積化されるものとする。尚、図1の構
成において、図3と同一素子については同一番号を記
し、その説明を省略する。図1の遅延回路(3)は、図
3の遅延回路(3)と異なり、メタル切り換えの為の配
線を持たない。
【0010】図1において、(6)は選択論理回路であ
り、2ビットの選択信号C0、C1の組み合わせに応じ
て、遅延回路(3)を構成する特定の4個のD型フリッ
プフロップから出力される4種類の遅延信号DLY1〜
DLY4の何れか1つを選択出力し、出力回路(4)に
供給するものである。図2は選択論理回路(6)の具体
回路図である。
【0011】図2において、ANDゲート(7)の一方
の入力端子はインバータ(11)を介して選択信号C0
と接続され、他方の入力端子は選択信号C1と接続され
る。ANDゲート(8)の一方の入力端子は選択信号C
0と接続され、他方の入力端子はインバータ(12)を
介して選択信号C1と接続される。ANDゲート(9)
の一方の入力端子は選択信号C0と接続され、他方の入
力端子は選択信号C1と接続される。ANDゲート(1
0)の一方の入力端子はインバータ(11)を介して選
択信号C0と接続され、他方の入力端子はインバータ
(12)を介して選択信号C1と接続される。即ち、選
択信号C0、C1を各々L(ローレベル)、H(ハイレ
ベル)に設定するとANDゲート(7)が開き、選択信
号C0、C1を各々H、Lに設定するとANDゲート
(8)が開き、選択信号C0、C1を共にHに設定する
とANDゲート(9)が開き、選択信号C0、C1を共
にLに設定するとANDゲート(10)が開くことにな
る。
【0012】NANDゲート(13)の一方の入力端子
はANDゲート(7)の出力端子と接続され、他方の入
力端子は遅延信号DLY1(遅延時間25msec)と
接続され、NANDゲート(13)はANDゲート
(7)の出力がHの時のみ遅延信号DLY1を反転出力
する。NANDゲート(14)の一方の入力端子はAN
Dゲート(8)の出力端子と接続され、他方の入力端子
は遅延信号DLY2(遅延時間50msec)と接続さ
れ、NANDゲート(14)はANDゲート(8)の出
力がHの時のみ遅延信号DLY2を反転出力する。NA
NDゲート(15)の一方の入力端子はANDゲート
(9)の出力端子と接続され、他方の入力端子は遅延信
号DLY3(遅延時間100msec)と接続され、N
ANDゲート(15)はANDゲート(9)の出力がH
の時のみ遅延信号DLY3を反転出力する。NANDゲ
ート(16)の一方の入力端子はANDゲート(10)
の出力端子と接続され、他方の入力端子は遅延信号DL
Y4(遅延時間200msec)と接続され、NAND
ゲート(16)はANDゲート(10)の出力がHの時
のみ遅延信号DLY4を反転出力する。NANDゲート
(17)の4入力端子はNANDゲート(13)〜(1
6)の出力端子と接続され、出力端子は次段の出力回路
(4)の入力端子と接続される。
【0013】例えば、遅延信号DLY2を選択論理回路
(6)から選択出力させる場合、選択信号C0、C1を
各々H、Lに設定すればよい。この場合、ANDゲート
(8)の出力がH、ANDゲート(7)(9)(10)
の出力がLの為、NANDゲート(14)が遅延信号D
LY2を反転出力し、NANDゲート(13)(15)
(16)の出力がHとなり、これより、NANDゲート
(17)から遅延信号DLY2が出力されることにな
る。
【0014】以上より、使用者がその場で任意に選択信
号C0、C1を組み合わせることにより、遅延時間の異
なる遅延信号を作成できる。従って、従来生じていた製
造費用、納期等の問題を解消でき、1個のリセット回路
で電源投入からリセット解除までの時間の異なる複数の
被制御システムに容易に対応できることになる。
【0015】
【発明の効果】本発明によれば、リセット回路の使用側
が製造側に依存することなく任意に選択信号C0、C1
を組み合わせることにより、遅延時間の異なる遅延信号
を作成できる。従って、従来生じていた製造費用、納期
等の問題を解消でき、1個のリセット回路で電源投入か
らリセット解除までの時間の異なる複数の被制御システ
ムに容易に対応できる利点が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のリセット回路を示すブロック図であ
る。
【図2】図1の選択論理回路の一具体回路を示す回路ブ
ロック図である。
【図3】従来のリセット回路を示すブロック図である。
【図4】図3の遅延回路の一具体回路を示す回路ブロッ
ク図である。
【符号の説明】
(2) 発振回路 (3) 遅延回路 (6) 選択論理回路 (7)〜(10) ANDゲート (11)(12) インバータ (13)〜(17) NANDゲート

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電源投入後、発振回路の発振信号を異な
    る時間遅延させた複数の遅延信号を作成すると共に、前
    記複数の遅延信号の何れか1つを選択出力する遅延回路
    を有し、被制御システムに前記複数の遅延信号の何れか
    1つを供給することにより、前記被制御システムを前記
    遅延信号のレベル変化に応答してリセット状態からリセ
    ット解除状態とするリセット回路において、 前記遅延回路は、選択信号に応答して前記複数の遅延信
    号の何れか1つを選択出力する選択論理回路を有するこ
    とを特徴とするリセット回路。
  2. 【請求項2】 前記リセット回路を集積化し、前記選択
    信号を供給する端子を導出したことを特徴とする請求項
    1記載のリセット回路。
JP9078313A 1997-03-28 1997-03-28 リセット回路 Pending JPH10276077A (ja)

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JP9078313A JPH10276077A (ja) 1997-03-28 1997-03-28 リセット回路

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JP9078313A JPH10276077A (ja) 1997-03-28 1997-03-28 リセット回路

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