JPH10277743A - エレクトロガスアーク溶接の開先倣い制御方法 - Google Patents
エレクトロガスアーク溶接の開先倣い制御方法Info
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- JPH10277743A JPH10277743A JP8819097A JP8819097A JPH10277743A JP H10277743 A JPH10277743 A JP H10277743A JP 8819097 A JP8819097 A JP 8819097A JP 8819097 A JP8819097 A JP 8819097A JP H10277743 A JPH10277743 A JP H10277743A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 安定した開先位置検出および溶接ワイヤ位置
検出の実現。信頼性および安定性が高い開先倣い制御方
法を提供。 【解決手段】 ワイヤ像7mと摺動板像2mの輝度平均
値をD1、開先像3mの輝度平均値をD2、上,下板表
面像(横向き溶接)又は左,右板表面像(立向き溶接)
と摺動板像2mの輝度の平均値をD1とすると、Dmin
<D1<D2<Dmaxを満すような、溶接ワイヤおよび
開先の教示パタ−ンK1,下板(左板)表面,摺動板お
よび開先の教示パタ−ンK2ならびに上板(右板)表
面,摺動板および開先の教示パタ−ンK3を比較画像メ
モリ13r上に、予め倣い制御前に書込んでおき、溶接
中の開先3,ワイヤ7および摺動板2をカメラ20で撮
影し、教示パタ−ンK1,K2,K3との相関値算出に
より、開先位置,ワイヤ位置および開先幅を算出する。
検出の実現。信頼性および安定性が高い開先倣い制御方
法を提供。 【解決手段】 ワイヤ像7mと摺動板像2mの輝度平均
値をD1、開先像3mの輝度平均値をD2、上,下板表
面像(横向き溶接)又は左,右板表面像(立向き溶接)
と摺動板像2mの輝度の平均値をD1とすると、Dmin
<D1<D2<Dmaxを満すような、溶接ワイヤおよび
開先の教示パタ−ンK1,下板(左板)表面,摺動板お
よび開先の教示パタ−ンK2ならびに上板(右板)表
面,摺動板および開先の教示パタ−ンK3を比較画像メ
モリ13r上に、予め倣い制御前に書込んでおき、溶接
中の開先3,ワイヤ7および摺動板2をカメラ20で撮
影し、教示パタ−ンK1,K2,K3との相関値算出に
より、開先位置,ワイヤ位置および開先幅を算出する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、エレクトロガスア
ーク溶接の近傍をテレビカメラで撮影し、テレビカメラ
の画像信号に基づいて開先とト−チとの相対位置を認識
して自動溶接機を開先倣い制御する装置と方法に関する
ものである。
ーク溶接の近傍をテレビカメラで撮影し、テレビカメラ
の画像信号に基づいて開先とト−チとの相対位置を認識
して自動溶接機を開先倣い制御する装置と方法に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】横向姿勢のエレクトロガスアーク溶接を
図2に、立向姿勢のエレクトロガスアーク溶接を図3に
示す。両図面において、z方向が垂直方向(高さ方向)
である。図2と図3に示すように、図示しない走行台車
に搭載された溶接トーチの先端のチップ1を開先3に挿
入し、板厚方向xに揺動するとともに、溶接アークを覆
うように冷却摺動板2を開先3に当て、溶接運棒(y方
向又はz方向)に応じて摺動させる。冷却摺動板2に
は、図示しないシールドガス排出口が有り、開先と冷却
摺動板2に囲まれた溶接アークと溶融金属をシールドガ
スによって被包するとともに、溶融金属の垂れを防止し
ビード形成を補助する機能がある。台車走行速度は、所
定の溶接電流値を超えた場合に高速に、所定の溶接電流
値未満の場合に低速に制御され、これにより溶接ワイヤ
7の突き出し長さがほぼ一定に保たれるように運棒され
る。
図2に、立向姿勢のエレクトロガスアーク溶接を図3に
示す。両図面において、z方向が垂直方向(高さ方向)
である。図2と図3に示すように、図示しない走行台車
に搭載された溶接トーチの先端のチップ1を開先3に挿
入し、板厚方向xに揺動するとともに、溶接アークを覆
うように冷却摺動板2を開先3に当て、溶接運棒(y方
向又はz方向)に応じて摺動させる。冷却摺動板2に
は、図示しないシールドガス排出口が有り、開先と冷却
摺動板2に囲まれた溶接アークと溶融金属をシールドガ
スによって被包するとともに、溶融金属の垂れを防止し
ビード形成を補助する機能がある。台車走行速度は、所
定の溶接電流値を超えた場合に高速に、所定の溶接電流
値未満の場合に低速に制御され、これにより溶接ワイヤ
7の突き出し長さがほぼ一定に保たれるように運棒され
る。
【0003】エレクトロガスアーク溶接の開先倣い制御
は、横向姿勢(図2)では下エッジ9とワイヤ7の距離
を一定に保つ必要があり、立向姿勢(図3)では左エッ
ジと右エッジの中央にワイヤ7を保つ必要がある。倣い
制御のために溶接ト−チは台車上で電動倣い軸で支持し
て、開先幅方向(図2でz方向、図3でy方向)に溶接
トーチと冷却摺動板を電動駆動する倣い機構がある。倣
い制御する場合、電気モ−タで駆動される電動倣い軸に
て所定の距離移動させるが、冷却摺動板2の摺動負荷に
より、電動倣い軸が撓み、溶接トーチ(チップ1)と冷
却摺動板2が、必ずしも倣い軸駆動量分の移動をしな
い。すなわち、倣い軸駆動量に対して溶接トーチおよび
冷却摺動板の移動量にばらつきを生ずる。
は、横向姿勢(図2)では下エッジ9とワイヤ7の距離
を一定に保つ必要があり、立向姿勢(図3)では左エッ
ジと右エッジの中央にワイヤ7を保つ必要がある。倣い
制御のために溶接ト−チは台車上で電動倣い軸で支持し
て、開先幅方向(図2でz方向、図3でy方向)に溶接
トーチと冷却摺動板を電動駆動する倣い機構がある。倣
い制御する場合、電気モ−タで駆動される電動倣い軸に
て所定の距離移動させるが、冷却摺動板2の摺動負荷に
より、電動倣い軸が撓み、溶接トーチ(チップ1)と冷
却摺動板2が、必ずしも倣い軸駆動量分の移動をしな
い。すなわち、倣い軸駆動量に対して溶接トーチおよび
冷却摺動板の移動量にばらつきを生ずる。
【0004】一般的に開先倣い制御では、溶接アークの
前方にローラ式等の接触式センサー等を取り付けて開先
位置を検出し、検出した開先位置に応じて溶接トーチ位
置を修正する。この場合、溶接トーチ位置を検出してい
ないため、倣い制御開始時のセンサー/溶接トーチ間の
相対位置関係が、そのまま倣い制御中のいずれの時点で
も保たれていることが必要である。しかし、エレクトロ
ガスアーク溶接では、冷却摺動板2の摺動負荷による倣
い軸等の撓みとその変動から、センサー/溶接トーチ間
の相対位置関係を一定に保つことができない。このた
め、開先のみの位置検出では良好な倣い制御ができなか
った。
前方にローラ式等の接触式センサー等を取り付けて開先
位置を検出し、検出した開先位置に応じて溶接トーチ位
置を修正する。この場合、溶接トーチ位置を検出してい
ないため、倣い制御開始時のセンサー/溶接トーチ間の
相対位置関係が、そのまま倣い制御中のいずれの時点で
も保たれていることが必要である。しかし、エレクトロ
ガスアーク溶接では、冷却摺動板2の摺動負荷による倣
い軸等の撓みとその変動から、センサー/溶接トーチ間
の相対位置関係を一定に保つことができない。このた
め、開先のみの位置検出では良好な倣い制御ができなか
った。
【0005】この問題点を改善する方法として特開昭5
9−94583号公報では、狭開先溶接のアーク溶接中
の溶接ワイヤおよび開先をテレビカメラにて撮影し、撮
影画面の画像データを処理して開先に対する溶接ワイヤ
の位置を判定して、開先に対する溶接ワイヤの位置ずれ
を修正するように溶接ト−チ位置を調節する開先倣い制
御方法が提案されている。アークや溶融プール輻射光に
対し画面の両側(鋼板表面相当部)が陰となって開先が
明るく撮影されるとともに、開先のほぼ中央に陰となっ
て溶接ワイヤが撮影されることがしめされている。
9−94583号公報では、狭開先溶接のアーク溶接中
の溶接ワイヤおよび開先をテレビカメラにて撮影し、撮
影画面の画像データを処理して開先に対する溶接ワイヤ
の位置を判定して、開先に対する溶接ワイヤの位置ずれ
を修正するように溶接ト−チ位置を調節する開先倣い制
御方法が提案されている。アークや溶融プール輻射光に
対し画面の両側(鋼板表面相当部)が陰となって開先が
明るく撮影されるとともに、開先のほぼ中央に陰となっ
て溶接ワイヤが撮影されることがしめされている。
【0006】したがって、撮影した画像データの開先幅
方向に輝度データを適当なしきい値を設け判別すること
により、開先位置と幅およびワイヤ位置を計測できると
している。このように、適当な輝度しきい値を設け判別
する方法は2値化法と呼ばれる。
方向に輝度データを適当なしきい値を設け判別すること
により、開先位置と幅およびワイヤ位置を計測できると
している。このように、適当な輝度しきい値を設け判別
する方法は2値化法と呼ばれる。
【0007】このように、溶接ワイヤおよび開先をテレ
ビカメラにて撮影した画像データを用い開先倣い制御す
る方法であれば、開先とワイヤ位置が同時に検出できる
ため、開先とワイヤ位置の相対距離を一定に保つように
倣い制御することが可能で、倣い軸等の撓みがあって
も、良好な倣い制御が可能となるはずである。
ビカメラにて撮影した画像データを用い開先倣い制御す
る方法であれば、開先とワイヤ位置が同時に検出できる
ため、開先とワイヤ位置の相対距離を一定に保つように
倣い制御することが可能で、倣い軸等の撓みがあって
も、良好な倣い制御が可能となるはずである。
【0008】この方法をエレクトロガスアーク溶接の横
向姿勢に適用した場合について説明する。エレクトロガ
スアーク溶接される溶接トーチ先端のチップ1、冷却摺
動板2、開先3付近を開先上方からTVカメラ20にて
図4に示すように撮影して得た撮影画面を図1に示す。
図1の走査線L1における線上の輝度分布を図5に示
す。
向姿勢に適用した場合について説明する。エレクトロガ
スアーク溶接される溶接トーチ先端のチップ1、冷却摺
動板2、開先3付近を開先上方からTVカメラ20にて
図4に示すように撮影して得た撮影画面を図1に示す。
図1の走査線L1における線上の輝度分布を図5に示
す。
【0009】図1および図5から、走査線L1上のa−
b点間とe−f点間は、鋼板表面で陰となり輝度が低
く、b−c点間とd−e点間は、アーク光や溶融プール
輻射光に照らされた開先内部又は開先斜辺で輝度が高
く、c−d点間は背景の輝度が高い開先内部又は開先斜
辺がワイヤで遮られてワイヤの陰となり輝度が低い。
b点間とe−f点間は、鋼板表面で陰となり輝度が低
く、b−c点間とd−e点間は、アーク光や溶融プール
輻射光に照らされた開先内部又は開先斜辺で輝度が高
く、c−d点間は背景の輝度が高い開先内部又は開先斜
辺がワイヤで遮られてワイヤの陰となり輝度が低い。
【0010】図6は、溶滴移行中に短絡してアークが消
え溶融プールの輻射光のみの暗い画像における、走査線
L1上の輝度分布を示す。図7は、アーク長が長くアー
ク炎が大きくワイヤを包み全体が明るく、また、ワイヤ
の陰が薄くなった場合の画像の走査線L1における輝度
分布を示す。
え溶融プールの輻射光のみの暗い画像における、走査線
L1上の輝度分布を示す。図7は、アーク長が長くアー
ク炎が大きくワイヤを包み全体が明るく、また、ワイヤ
の陰が薄くなった場合の画像の走査線L1における輝度
分布を示す。
【0011】図5では、輝度のしきい値B1を設定して
画像デ−タを2値化することにより(ワイヤの両側の開
先高輝度部SU,SDを切出すことにより)、SU,S
Dの位置とZ方向幅から開先位置および幅が求まり、S
U,SDの間の低輝度部(ワイヤ相当)のSU,SDに
対するZ方向相対位置を求めることにより、開先に対す
るワイヤの位置(Z方向)が求まる。しかし、アークが
消え図6では、しきい値をB1からB2に下げなけれ
ば、SU,SDを切出すことができない。アーク長が長
い図7では、しきい値をB1からB3に上げなければ、
ワイヤ相当の低輝度部を高輝度部(SU〜SD)から切
出すことができない。すなわちワイヤ位置を測定できな
い。
画像デ−タを2値化することにより(ワイヤの両側の開
先高輝度部SU,SDを切出すことにより)、SU,S
Dの位置とZ方向幅から開先位置および幅が求まり、S
U,SDの間の低輝度部(ワイヤ相当)のSU,SDに
対するZ方向相対位置を求めることにより、開先に対す
るワイヤの位置(Z方向)が求まる。しかし、アークが
消え図6では、しきい値をB1からB2に下げなけれ
ば、SU,SDを切出すことができない。アーク長が長
い図7では、しきい値をB1からB3に上げなければ、
ワイヤ相当の低輝度部を高輝度部(SU〜SD)から切
出すことができない。すなわちワイヤ位置を測定できな
い。
【0012】このように2値化法では、撮影画像の明る
さの変動に応じて適切なしきい値を設定する必要があ
る。溶接アーク現象では明るさの変動が頻繁で大きく、
しきい値の決定が大きな課題であり、安定した計測が困
難であった。
さの変動に応じて適切なしきい値を設定する必要があ
る。溶接アーク現象では明るさの変動が頻繁で大きく、
しきい値の決定が大きな課題であり、安定した計測が困
難であった。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】 前述のように、エレクトロガスアーク溶接では冷却摺
動板の摺動負荷による倣い軸等の撓みは避けられないた
め、開先のみの位置検出では良好な倣い制御はできな
い。 アーク溶接中の溶接ワイヤおよび開先をテレビカメラ
にて撮影した画像データを用い、2値化法により開先お
よび溶接ワイヤを検出する方法は、アーク光の輝度が激
しく変動するため、輝度のしきい値の設定が困難であ
る。
動板の摺動負荷による倣い軸等の撓みは避けられないた
め、開先のみの位置検出では良好な倣い制御はできな
い。 アーク溶接中の溶接ワイヤおよび開先をテレビカメラ
にて撮影した画像データを用い、2値化法により開先お
よび溶接ワイヤを検出する方法は、アーク光の輝度が激
しく変動するため、輝度のしきい値の設定が困難であ
る。
【0014】本発明はこの様な条件下であっても、安定
した開先位置検出および溶接ワイヤ位置検出を実現し、
信頼性および安定性が高い開先倣い制御方法を提供する
ことを目的とする。
した開先位置検出および溶接ワイヤ位置検出を実現し、
信頼性および安定性が高い開先倣い制御方法を提供する
ことを目的とする。
【0015】
(1)開先(3),溶接ワイヤ(7)および冷却摺動板(2)を
同時にテレビカメラ(20)にて撮影した画像データを用い
横向姿勢のエレクトロガスアーク溶接の開先倣い制御す
る方法において、前記テレビカメラ(20)の撮影画面上
の、溶接ワイヤ(7m)と冷却摺動板(2m)の輝度の平均値を
D1、開先(3m)内の輝度の平均値をD2、下板表面と冷
却摺動板(2m)の輝度の平均値をD1とすると、 Dmin<D1<D2<Dmax ・・・(1) ただし、Dmax:輝度に対応した画像データとして取り
うる最大値 Dmin:輝度に対応した画像データとして取りうる最小
値 を満すように、比較画像メモリ(13r)上の、溶接ワイヤ
(7m)を含む第1領域(P1)に対応する領域に溶接ワイヤお
よび開先の画像デ−タを教示パタ−ンK1として、開先
下エッジと冷却摺動板を含む第2領域(P2)に下板表面,
冷却摺動板および開先の画像デ−タを教示パタ−ンK2
として、予め倣い制御前に書込んでおき;倣い制御中に
前記テレビカメラ(20)で撮影した画像データから、教示
パターンK1と相関が高い領域I1(P1)を検索して溶接
ワイヤ位置を決定し、教示パターンK2と相関が高い領
域I2(P2)を検索して開先下エッジ位置を決定し、決定
したワイヤ位置と下エッジ位置に応じて溶接トーチ(1)
および冷却摺動板(2)を上下位置制御する;ことを特徴
とする。
同時にテレビカメラ(20)にて撮影した画像データを用い
横向姿勢のエレクトロガスアーク溶接の開先倣い制御す
る方法において、前記テレビカメラ(20)の撮影画面上
の、溶接ワイヤ(7m)と冷却摺動板(2m)の輝度の平均値を
D1、開先(3m)内の輝度の平均値をD2、下板表面と冷
却摺動板(2m)の輝度の平均値をD1とすると、 Dmin<D1<D2<Dmax ・・・(1) ただし、Dmax:輝度に対応した画像データとして取り
うる最大値 Dmin:輝度に対応した画像データとして取りうる最小
値 を満すように、比較画像メモリ(13r)上の、溶接ワイヤ
(7m)を含む第1領域(P1)に対応する領域に溶接ワイヤお
よび開先の画像デ−タを教示パタ−ンK1として、開先
下エッジと冷却摺動板を含む第2領域(P2)に下板表面,
冷却摺動板および開先の画像デ−タを教示パタ−ンK2
として、予め倣い制御前に書込んでおき;倣い制御中に
前記テレビカメラ(20)で撮影した画像データから、教示
パターンK1と相関が高い領域I1(P1)を検索して溶接
ワイヤ位置を決定し、教示パターンK2と相関が高い領
域I2(P2)を検索して開先下エッジ位置を決定し、決定
したワイヤ位置と下エッジ位置に応じて溶接トーチ(1)
および冷却摺動板(2)を上下位置制御する;ことを特徴
とする。
【0016】なお、理解を容易にするためにカッコ内に
は、図面に示し後述する実施例の対応要素又は対応事項
の符号を、参考までに付記した。
は、図面に示し後述する実施例の対応要素又は対応事項
の符号を、参考までに付記した。
【0017】開先倣い制御における開先やワイヤ,チッ
プ位置の検出は、できるだけ溶接ア−クに近い位置で検
出できることが倣い精度から望ましい。しかし、溶接ア
−クは冷却摺動板に隠れ、検出可能な溶接ア−クに最も
近い位置は、冷却摺動板と開先、および、冷却摺動板と
ワイヤの交点である。ワイヤ像(7m)と冷却摺動板の像(2
m)とは、画面上の位置(分布)および明るかに顕著な相違
があり、画像処理による相対的な識別が容易である。
プ位置の検出は、できるだけ溶接ア−クに近い位置で検
出できることが倣い精度から望ましい。しかし、溶接ア
−クは冷却摺動板に隠れ、検出可能な溶接ア−クに最も
近い位置は、冷却摺動板と開先、および、冷却摺動板と
ワイヤの交点である。ワイヤ像(7m)と冷却摺動板の像(2
m)とは、画面上の位置(分布)および明るかに顕著な相違
があり、画像処理による相対的な識別が容易である。
【0018】本発明では、冷却摺動板の像(2m)をワイヤ
像(7m)を含む画像領域の特定(認識)に利用するので、該
画像領域の認識精度が高く、冷却摺動板とワイヤの交点
でのワイヤ位置(z/y)の正確な検出が実現する。
像(7m)を含む画像領域の特定(認識)に利用するので、該
画像領域の認識精度が高く、冷却摺動板とワイヤの交点
でのワイヤ位置(z/y)の正確な検出が実現する。
【0019】開先倣い制御中の撮影画像は、アーク光の
変動,スパッタやヒュームの飛散、開先エッジの変化,
ワイヤの曲がり等の変動がある。教示パターンK1,K
2は、開先倣い制御中に撮影される、平均的な画像であ
ることが望ましい。しかし、倣い制御前に溶接しながら
撮影した画像にも開先倣い制御中と同様の変動があり、
安定した教示パターンを得るには手間がかかる。
変動,スパッタやヒュームの飛散、開先エッジの変化,
ワイヤの曲がり等の変動がある。教示パターンK1,K
2は、開先倣い制御中に撮影される、平均的な画像であ
ることが望ましい。しかし、倣い制御前に溶接しながら
撮影した画像にも開先倣い制御中と同様の変動があり、
安定した教示パターンを得るには手間がかかる。
【0020】教示パターンK1,K2と一致する領域I
1(P1),I2(P2)を決定する方法の1つでは、後述する
ように、撮影画像データと教示パタ−ンとの相関係数を
(2)式を用いて算出する。この場合、教示パタ−ンは、
必ずしも溶接しながら撮影した画像である必要はない。
そこで次のように、教示パタン−ン設定する。
1(P1),I2(P2)を決定する方法の1つでは、後述する
ように、撮影画像データと教示パタ−ンとの相関係数を
(2)式を用いて算出する。この場合、教示パタ−ンは、
必ずしも溶接しながら撮影した画像である必要はない。
そこで次のように、教示パタン−ン設定する。
【0021】輝度に対応した数値をメモリーに書き込
む方法:教示パターンは輝度D1,D2に対応した数値
(画像データ)を、比較画像メモリ(13r)上の、溶接ワ
イヤ,下板表面,冷却摺動板および開先に対応するメモ
リ番地に書き込む。
む方法:教示パターンは輝度D1,D2に対応した数値
(画像データ)を、比較画像メモリ(13r)上の、溶接ワ
イヤ,下板表面,冷却摺動板および開先に対応するメモ
リ番地に書き込む。
【0022】疑似開先を撮影する方法:溶接しながら
撮影した画像データとほぼ等しい画像データが得られる
疑似開先(図21)をテレビカメラで撮影して、比較画
像メモリ(13r)に書込む。疑似開先は、それをテレビカ
メラ(20)で撮影したとき、溶接ワイヤ,冷却摺動板およ
び下板表面の輝度D1は低く(暗く)、開先内の輝度D
2はD1に比べ高く(明るく)なるように、かつ(1)式
を満すように、平面上に描いたものである。また、溶接
ワイヤ,冷却摺動板および下板エッジの位置が、溶接し
ながら撮影した画像とほぼ同じ位置になるように、疑似
開先描きかつ撮影する。
撮影した画像データとほぼ等しい画像データが得られる
疑似開先(図21)をテレビカメラで撮影して、比較画
像メモリ(13r)に書込む。疑似開先は、それをテレビカ
メラ(20)で撮影したとき、溶接ワイヤ,冷却摺動板およ
び下板表面の輝度D1は低く(暗く)、開先内の輝度D
2はD1に比べ高く(明るく)なるように、かつ(1)式
を満すように、平面上に描いたものである。また、溶接
ワイヤ,冷却摺動板および下板エッジの位置が、溶接し
ながら撮影した画像とほぼ同じ位置になるように、疑似
開先描きかつ撮影する。
【0023】上記又はで画像デ−タを書込んだ比較
画像メモリのデ−タが表わす教示パターンK1,K2の
画像データは、溶接しながら撮影した画像の画像データ
とほぼ等しいため、教示パタ−ンK1,K2との照合で
検出した溶接ワイヤ,冷却摺動板および下板エッジの位
置は、比較画像メモリ上のそれらに対応するものの位置
を、y,z方向に平行移動したものとなる。さらに、教
示パターンにバラツキが少ないため、安定した検出結果
が得られる。
画像メモリのデ−タが表わす教示パターンK1,K2の
画像データは、溶接しながら撮影した画像の画像データ
とほぼ等しいため、教示パタ−ンK1,K2との照合で
検出した溶接ワイヤ,冷却摺動板および下板エッジの位
置は、比較画像メモリ上のそれらに対応するものの位置
を、y,z方向に平行移動したものとなる。さらに、教
示パターンにバラツキが少ないため、安定した検出結果
が得られる。
【0024】(2)前記(1)式を満すように描いた疑似
開先を予め倣い制御前に撮影し、得た画像データの中か
ら、溶接ワイヤを含む領域の画像データを教示パターン
K1として、下エッジと冷却摺動板を含む領域の画像デ
ータを教示パターンK2として、前記比較画像メモリに
書込む。これは上記の態様である。
開先を予め倣い制御前に撮影し、得た画像データの中か
ら、溶接ワイヤを含む領域の画像データを教示パターン
K1として、下エッジと冷却摺動板を含む領域の画像デ
ータを教示パターンK2として、前記比較画像メモリに
書込む。これは上記の態様である。
【0025】(3)開先,溶接ワイヤおよび冷却摺動板
を同時にテレビカメラにて撮影した画像データを用い横
向姿勢のエレクトロガスアーク溶接の開先倣い制御する
方法において、前記テレビカメラの撮影画面上の、溶接
ワイヤと冷却摺動板の輝度の平均値をD1、開先内の輝
度の平均値をD2、下板表面と冷却摺動板の輝度の平均
値をD1、かつ上板表面と冷却摺動板の輝度の平均値を
D1とすると、 Dmin<D1<D2<Dmax ・・・(1) ただし、Dmax:輝度に対応した画像データとして取り
うる最大値 Dmin:輝度に対応した画像データとして取りうる最小
値 を満すように、比較画像メモリ上の、溶接ワイヤを含む
第1領域に対応する領域に溶接ワイヤおよび開先の画像
デ−タを教示パタ−ンK1として、開先下エッジと冷却
摺動板を含む第2領域に下板表面,冷却摺動板および開
先の画像デ−タを教示パタ−ンK2として、かつ開先上
エッジと冷却摺動板を含む第3領域に上板表面,冷却摺
動板および開先の画像デ−タを教示パタ−ンK3とし
て、予め倣い制御前に書込んでおき;倣い制御中に前記
テレビカメラで撮影した画像データから、教示パターン
K1と相関が高い領域I1を検索して溶接ワイヤ位置を
決定し、教示パターンK2と相関が高い領域I2を検索
して開先下エッジ位置を決定し、教示パターンK3と相
関が高い領域I3を検索して開先上エッジ位置を決定
し、決定したワイヤ位置と下エッジ位置に応じて溶接ト
ーチおよび冷却摺動板を上下位置制御するとともに、決
定した下エッジ位置と上エッジ位置に応じて溶接条件を
切り替える;ことを特徴とする。
を同時にテレビカメラにて撮影した画像データを用い横
向姿勢のエレクトロガスアーク溶接の開先倣い制御する
方法において、前記テレビカメラの撮影画面上の、溶接
ワイヤと冷却摺動板の輝度の平均値をD1、開先内の輝
度の平均値をD2、下板表面と冷却摺動板の輝度の平均
値をD1、かつ上板表面と冷却摺動板の輝度の平均値を
D1とすると、 Dmin<D1<D2<Dmax ・・・(1) ただし、Dmax:輝度に対応した画像データとして取り
うる最大値 Dmin:輝度に対応した画像データとして取りうる最小
値 を満すように、比較画像メモリ上の、溶接ワイヤを含む
第1領域に対応する領域に溶接ワイヤおよび開先の画像
デ−タを教示パタ−ンK1として、開先下エッジと冷却
摺動板を含む第2領域に下板表面,冷却摺動板および開
先の画像デ−タを教示パタ−ンK2として、かつ開先上
エッジと冷却摺動板を含む第3領域に上板表面,冷却摺
動板および開先の画像デ−タを教示パタ−ンK3とし
て、予め倣い制御前に書込んでおき;倣い制御中に前記
テレビカメラで撮影した画像データから、教示パターン
K1と相関が高い領域I1を検索して溶接ワイヤ位置を
決定し、教示パターンK2と相関が高い領域I2を検索
して開先下エッジ位置を決定し、教示パターンK3と相
関が高い領域I3を検索して開先上エッジ位置を決定
し、決定したワイヤ位置と下エッジ位置に応じて溶接ト
ーチおよび冷却摺動板を上下位置制御するとともに、決
定した下エッジ位置と上エッジ位置に応じて溶接条件を
切り替える;ことを特徴とする。
【0026】これは上記(1)の態様に、上板表面,冷
却摺動板および開先の画像デ−タでなる教示パタ−ンK
3を加え、そして、教示パタ−ンK3を参照して開先上
エッジ位置を求めて、下エッジ位置と上エッジ位置に応
じて溶接条件をも切り替えるものである。下エッジ位置
と上エッジ位置との位置差は開先幅に対応し、開先幅対
応に溶接条件を切り替える。これによれば、溶接ワイヤ
および冷却摺動板の、開先に対する上下位置倣い制御
と、開先幅に対する溶接条件の自動制御が同時に行なわ
れ、開先に対して正確な溶接が施される。
却摺動板および開先の画像デ−タでなる教示パタ−ンK
3を加え、そして、教示パタ−ンK3を参照して開先上
エッジ位置を求めて、下エッジ位置と上エッジ位置に応
じて溶接条件をも切り替えるものである。下エッジ位置
と上エッジ位置との位置差は開先幅に対応し、開先幅対
応に溶接条件を切り替える。これによれば、溶接ワイヤ
および冷却摺動板の、開先に対する上下位置倣い制御
と、開先幅に対する溶接条件の自動制御が同時に行なわ
れ、開先に対して正確な溶接が施される。
【0027】(4)上記(3)において、前記(1)式を
満すように描いた疑似開先を予め倣い制御前に撮影し、
得た画像データの中から、溶接ワイヤを含む領域の画像
データを教示パターンK1として、下エッジと冷却摺動
板を含む領域の画像データを教示パターンK2として、
かつ上エッジと冷却摺動板を含む領域の画像デ−タを教
示パタ−ンK3として、前記比較画像メモリに書込む。
これは、上記(3)を上記の態様としたものである。
満すように描いた疑似開先を予め倣い制御前に撮影し、
得た画像データの中から、溶接ワイヤを含む領域の画像
データを教示パターンK1として、下エッジと冷却摺動
板を含む領域の画像データを教示パターンK2として、
かつ上エッジと冷却摺動板を含む領域の画像デ−タを教
示パタ−ンK3として、前記比較画像メモリに書込む。
これは、上記(3)を上記の態様としたものである。
【0028】(5)開先,溶接ワイヤおよび冷却摺動板
を同時にテレビカメラにて撮影した画像データを用い立
向姿勢のエレクトロガスアーク溶接の開先倣い制御する
方法において、前記テレビカメラの撮影画面上の、溶接
ワイヤと冷却摺動板の輝度の平均値をD1、開先内の輝
度の平均値をD2、左板表面と冷却摺動板の輝度の平均
値をD1、かつ右板表面と冷却摺動板の輝度の平均値を
D1とすると、 Dmin<D1<D2<Dmax ・・・(1) ただし、Dmax:輝度に対応した画像データとして取り
うる最大値 Dmin:輝度に対応した画像データとして取りうる最小
値 を満すように、比較画像メモリ上の、溶接ワイヤを含む
第1領域に対応する領域に溶接ワイヤおよび開先の画像
デ−タを教示パタ−ンK1として、開先左エッジと冷却
摺動板を含む第2領域に左板表面,冷却摺動板および開
先の画像デ−タを教示パタ−ンK2として、かつ開先右
エッジと冷却摺動板を含む第3領域に右板表面,冷却摺
動板および開先の画像デ−タを教示パタ−ンK3とし
て、予め倣い制御前に書込んでおき;倣い制御中に前記
テレビカメラで撮影した画像データから、教示パターン
K1と相関が高い領域I1を検索して溶接ワイヤ位置を
決定し、教示パターンK2と相関が高い領域I2を検索
して開先左エッジ位置を決定し、教示パターンK3と相
関が高い領域I3を検索して開先右エッジ位置を決定
し、決定したワイヤ位置,左エッジ位置および右エッジ
位置に応じて溶接トーチおよび冷却摺動板を左右位置制
御する;ことを特徴とする。これは、上記(3)の横向
姿勢の態様を立向姿勢に適合するものに変換した態様で
ある。
を同時にテレビカメラにて撮影した画像データを用い立
向姿勢のエレクトロガスアーク溶接の開先倣い制御する
方法において、前記テレビカメラの撮影画面上の、溶接
ワイヤと冷却摺動板の輝度の平均値をD1、開先内の輝
度の平均値をD2、左板表面と冷却摺動板の輝度の平均
値をD1、かつ右板表面と冷却摺動板の輝度の平均値を
D1とすると、 Dmin<D1<D2<Dmax ・・・(1) ただし、Dmax:輝度に対応した画像データとして取り
うる最大値 Dmin:輝度に対応した画像データとして取りうる最小
値 を満すように、比較画像メモリ上の、溶接ワイヤを含む
第1領域に対応する領域に溶接ワイヤおよび開先の画像
デ−タを教示パタ−ンK1として、開先左エッジと冷却
摺動板を含む第2領域に左板表面,冷却摺動板および開
先の画像デ−タを教示パタ−ンK2として、かつ開先右
エッジと冷却摺動板を含む第3領域に右板表面,冷却摺
動板および開先の画像デ−タを教示パタ−ンK3とし
て、予め倣い制御前に書込んでおき;倣い制御中に前記
テレビカメラで撮影した画像データから、教示パターン
K1と相関が高い領域I1を検索して溶接ワイヤ位置を
決定し、教示パターンK2と相関が高い領域I2を検索
して開先左エッジ位置を決定し、教示パターンK3と相
関が高い領域I3を検索して開先右エッジ位置を決定
し、決定したワイヤ位置,左エッジ位置および右エッジ
位置に応じて溶接トーチおよび冷却摺動板を左右位置制
御する;ことを特徴とする。これは、上記(3)の横向
姿勢の態様を立向姿勢に適合するものに変換した態様で
ある。
【0029】(6)上記(5)において、前記(1)式を
満すように描いた疑似開先を予め倣い制御前に撮影し、
得た画像データの中から、溶接ワイヤを含む領域の画像
データを教示パターンK1として、左エッジと冷却摺動
板を含む領域の画像データを教示パターンK2として、
かつ右エッジと冷却摺動板を含む領域の画像デ−タを教
示パタ−ンK3として、前記比較画像メモリに書込む。
これは、上記(5)を上記の態様としたものである。
満すように描いた疑似開先を予め倣い制御前に撮影し、
得た画像データの中から、溶接ワイヤを含む領域の画像
データを教示パターンK1として、左エッジと冷却摺動
板を含む領域の画像データを教示パターンK2として、
かつ右エッジと冷却摺動板を含む領域の画像デ−タを教
示パタ−ンK3として、前記比較画像メモリに書込む。
これは、上記(5)を上記の態様としたものである。
【0030】上記(1)〜(6)において、倣い制御溶
接中のテレビカメラ(20)の撮影画面上の、相関検索によ
り検出された領域I1は、予め比較画像メモリ(13r)に
書込まれている教示パターンK1(P1)と同様に、溶接
ワイヤを含むものであり、領域I1内でのワイヤ像(7m)
の位置は、教示パターンK1(P1)内のワイヤ像(7m)の位
置と実質上同一である。同様に、相関検索により検出さ
れた領域I2は、予め比較画像メモリ(13r)に書込まれ
ている教示パターンK2(P2)と同様に、撮影画面上の開
先相当像および開先に連なる鋼板表面相当像を含むもの
であり、領域I2内での開先下エッジ又は左エッジの位
置は、教示パターンK2(P2)内の開先像の位置と実質上
同一となる。教示パターンK2(P2)と領域I2の相互間
の位置関係は撮影画面上の両領域の位置により分かり、
教示パターンK1(P1)と教示パターンK2(P2)の位置関
係が所定のものであるので、領域I1/領域I2間相対
位置関係と、教示パターンK1(P1)/K2(P2)間相対位
置関係に基づいて、領域I2に現われた開先エッジに対
する領域I1に現われたワイヤの位置を算出することが
できる。
接中のテレビカメラ(20)の撮影画面上の、相関検索によ
り検出された領域I1は、予め比較画像メモリ(13r)に
書込まれている教示パターンK1(P1)と同様に、溶接
ワイヤを含むものであり、領域I1内でのワイヤ像(7m)
の位置は、教示パターンK1(P1)内のワイヤ像(7m)の位
置と実質上同一である。同様に、相関検索により検出さ
れた領域I2は、予め比較画像メモリ(13r)に書込まれ
ている教示パターンK2(P2)と同様に、撮影画面上の開
先相当像および開先に連なる鋼板表面相当像を含むもの
であり、領域I2内での開先下エッジ又は左エッジの位
置は、教示パターンK2(P2)内の開先像の位置と実質上
同一となる。教示パターンK2(P2)と領域I2の相互間
の位置関係は撮影画面上の両領域の位置により分かり、
教示パターンK1(P1)と教示パターンK2(P2)の位置関
係が所定のものであるので、領域I1/領域I2間相対
位置関係と、教示パターンK1(P1)/K2(P2)間相対位
置関係に基づいて、領域I2に現われた開先エッジに対
する領域I1に現われたワイヤの位置を算出することが
できる。
【0031】例えば、図1に示す領域P1相当の画像を
教示パターンK1として、領域P2相当の画像を教示パ
ターンK2として比較画像メモリ13r上に、図1に示
す領域間位置関係で定めた場合、パタ−ンK1とK2と
の開先幅方向Z(図2ではzが、図3ではyが対応)の
領域中心間距離をZtとし、溶接中の撮影画面上の領域
I1と領域I2との領域中心線距離をZrとすると、領
域中心間距離Ztよりも、撮影画像上の領域中心線距離
Zrが、Zr−Zt分、開先3に対して溶接ワイヤ7が
開先幅方向Zでずれたことになり、この関係に基づい
て、比較画像メモリ13r上の画像上の開先3m/溶接
ワイヤ7m間の相対位置(Zt)に対する、現在の相対
位置(Zt)の差(ワイヤ位置差)が求まる。以下、更
に詳細に説明する。
教示パターンK1として、領域P2相当の画像を教示パ
ターンK2として比較画像メモリ13r上に、図1に示
す領域間位置関係で定めた場合、パタ−ンK1とK2と
の開先幅方向Z(図2ではzが、図3ではyが対応)の
領域中心間距離をZtとし、溶接中の撮影画面上の領域
I1と領域I2との領域中心線距離をZrとすると、領
域中心間距離Ztよりも、撮影画像上の領域中心線距離
Zrが、Zr−Zt分、開先3に対して溶接ワイヤ7が
開先幅方向Zでずれたことになり、この関係に基づい
て、比較画像メモリ13r上の画像上の開先3m/溶接
ワイヤ7m間の相対位置(Zt)に対する、現在の相対
位置(Zt)の差(ワイヤ位置差)が求まる。以下、更
に詳細に説明する。
【0032】一般にテレビカメラが出力する画像信号は
輝度に応じたアナログ電圧であるが、画像信号出力順序
は、図1において上端から下端にいたる水平方向Zの輝
度信号が、画面の左端から右端にいたる垂直方向Yに順
番に出力される。従がって、画像データとして取り扱う
には、あらかじめ、水平方向Zの画素数(s画素)およ
び垂直方向Yの画素数(t画素)を決め全画素数に応じ
たメモリ数(s×t画素)を用意し、画面上の任意の位
置の輝度がメモリの所定の番地のデータに対応付けられ
るように、上記の順番で出力される輝度信号のアナログ
電圧(画像信号)をタイミングを取りながらデジタルデ
−タ(画像デ−タ)に変換し、メモリの所定の番地にデ
ータを記憶する。すなわち、上記又はの態様で、比
較画像メモリ13rに、教示パタ−ンK1(P1),K
2(P2),K3(P3)を、パタ−ン毎に分離して書
込む。あるいは、教示パタ−ンK1(P1),K2(P
2),K3(P3)を含む一画面(s×t画素)全体の
画像デ−タを比較画像メモリ13rに記憶すると共に、
教示パタ−ンK1〜K3として切出すべき領域情報(該
領域の対角コ−ナのアドレス)を、制御情報としてメモ
リに記憶する。
輝度に応じたアナログ電圧であるが、画像信号出力順序
は、図1において上端から下端にいたる水平方向Zの輝
度信号が、画面の左端から右端にいたる垂直方向Yに順
番に出力される。従がって、画像データとして取り扱う
には、あらかじめ、水平方向Zの画素数(s画素)およ
び垂直方向Yの画素数(t画素)を決め全画素数に応じ
たメモリ数(s×t画素)を用意し、画面上の任意の位
置の輝度がメモリの所定の番地のデータに対応付けられ
るように、上記の順番で出力される輝度信号のアナログ
電圧(画像信号)をタイミングを取りながらデジタルデ
−タ(画像デ−タ)に変換し、メモリの所定の番地にデ
ータを記憶する。すなわち、上記又はの態様で、比
較画像メモリ13rに、教示パタ−ンK1(P1),K
2(P2),K3(P3)を、パタ−ン毎に分離して書
込む。あるいは、教示パタ−ンK1(P1),K2(P
2),K3(P3)を含む一画面(s×t画素)全体の
画像デ−タを比較画像メモリ13rに記憶すると共に、
教示パタ−ンK1〜K3として切出すべき領域情報(該
領域の対角コ−ナのアドレス)を、制御情報としてメモ
リに記憶する。
【0033】倣い制御中に撮影した画面(s×t)は開
先,ワイヤおよびアークの位置の変動および明るさの変
動はあるが、図1に類似した画像を有するものとなる。
この撮影画面の先ず左上コ−ナZ=1,Y=1すなわち
(1,1)を左上コ−ナとし、(m,n)を右下コ−ナ
とする領域(教示パターンK1と同一サイズの領域)の
画像デ−タを入力パターン(m×n)I1と定めて、教
示パタ−ンK1および入力パタ−ンI1それぞれのパタ
ーンの左上コ−ナを(1,1)とし横方向にm番目まで
縦方向にn番目まで番号を付け、横方向i番目、縦方向
j番目の位置の教示パタ−ンK1および入力パタ−ンI
1の画像デ−タが表わす輝度を、それぞれW(i,j)
およびU(i,j)とすると、教示パターンK1の輝度
Wと入力パターンI1の輝度Uの相関係数R11を下記
の(2)式で計算する。
先,ワイヤおよびアークの位置の変動および明るさの変
動はあるが、図1に類似した画像を有するものとなる。
この撮影画面の先ず左上コ−ナZ=1,Y=1すなわち
(1,1)を左上コ−ナとし、(m,n)を右下コ−ナ
とする領域(教示パターンK1と同一サイズの領域)の
画像デ−タを入力パターン(m×n)I1と定めて、教
示パタ−ンK1および入力パタ−ンI1それぞれのパタ
ーンの左上コ−ナを(1,1)とし横方向にm番目まで
縦方向にn番目まで番号を付け、横方向i番目、縦方向
j番目の位置の教示パタ−ンK1および入力パタ−ンI
1の画像デ−タが表わす輝度を、それぞれW(i,j)
およびU(i,j)とすると、教示パターンK1の輝度
Wと入力パターンI1の輝度Uの相関係数R11を下記
の(2)式で計算する。
【0034】
【数2】
【0035】教示パターンK1と入力パターンI1の相
関係数R11が得られる。次に、倣い制御中に撮影した
画面左上コ−ナ(1,1)からの1画素下の画素(2,
1)を左上コ−ナとする入力パタ−ンI1の相関係数R
21を同様に(2)式で計算する。このように相関係数R
IJを求める計算を、倣い制御中の一画面の左上コ−ナ
(1,1)から(s−m,1)まで1ライン分実行する
と、同様にこれをライン(Z方向画素)を右方(Yが増
大する方向)に繰返して、t−nのラインまで実行す
る。そしてこれを終了すると、最も相関係数RIJが大
きい位置(I=Zc,J=Yc)を求めれば、(Zc,Y
c)を左上コ−ナとし、(Zc+m−1,Yc+n−1)
を右下コ−ナとする、m×n画素の領域が、教示パター
ンK1と同等又は相似の、ワイヤ像を含む領域I1(抽
出パタ−ン)である。
関係数R11が得られる。次に、倣い制御中に撮影した
画面左上コ−ナ(1,1)からの1画素下の画素(2,
1)を左上コ−ナとする入力パタ−ンI1の相関係数R
21を同様に(2)式で計算する。このように相関係数R
IJを求める計算を、倣い制御中の一画面の左上コ−ナ
(1,1)から(s−m,1)まで1ライン分実行する
と、同様にこれをライン(Z方向画素)を右方(Yが増
大する方向)に繰返して、t−nのラインまで実行す
る。そしてこれを終了すると、最も相関係数RIJが大
きい位置(I=Zc,J=Yc)を求めれば、(Zc,Y
c)を左上コ−ナとし、(Zc+m−1,Yc+n−1)
を右下コ−ナとする、m×n画素の領域が、教示パター
ンK1と同等又は相似の、ワイヤ像を含む領域I1(抽
出パタ−ン)である。
【0036】このとき図8に示すように、教示パターン
K1(P1)の輝度を横軸に、これに相当するものとし
て上述のように求めた抽出パタ−ンの輝度を縦軸にと
り、両パタ−ンm×nの各画素の輝度を対応づけてプロ
ットすれば教示パターンK1と入力パターンI1がほぼ
同じ明るさの場合は、約45°の線を中心に分布する
(Q1)。しかし、抽出パターンI1の方が暗い場合
は、Q2として示すように、45度線より下側に分布
し、抽出パタ−ンの方が明るい場合は、Q3として示す
ように、45度線より上側に分布する。
K1(P1)の輝度を横軸に、これに相当するものとし
て上述のように求めた抽出パタ−ンの輝度を縦軸にと
り、両パタ−ンm×nの各画素の輝度を対応づけてプロ
ットすれば教示パターンK1と入力パターンI1がほぼ
同じ明るさの場合は、約45°の線を中心に分布する
(Q1)。しかし、抽出パターンI1の方が暗い場合
は、Q2として示すように、45度線より下側に分布
し、抽出パタ−ンの方が明るい場合は、Q3として示す
ように、45度線より上側に分布する。
【0037】ここで重要なことは、図8のQ1,Q2,
Q3に分布した輝度プロットの広がりは相関係数Rに相
当するが、Q1,Q2,Q3のプロットの広がりには差
が少ない。すなわち、相関係数Rは明るさの変動による
影響は少ないことである。
Q3に分布した輝度プロットの広がりは相関係数Rに相
当するが、Q1,Q2,Q3のプロットの広がりには差
が少ない。すなわち、相関係数Rは明るさの変動による
影響は少ないことである。
【0038】図1に示す領域P1〜P5のそれぞれを、
拡大して図9〜図13に示す。領域P1〜P5を教示パ
ターンとすれば、各領域内の各像の位置が上記方法で同
様に位置検出できる。
拡大して図9〜図13に示す。領域P1〜P5を教示パ
ターンとすれば、各領域内の各像の位置が上記方法で同
様に位置検出できる。
【0039】したがって、開先内のワイヤ位置を求める
方法として、横向姿勢(図2)では、ワイヤ像7mを含
む領域P1又はP5あるいはチップ像1mを含む領域P
4を上記方法で同様に検出し、開先下エッジ像9mを含
む領域P2を上記方法で同様に検出し、検出した領域P
1,P5あるいはP4とP2とのZ方向位置差により開
先下エッジに対するワイヤ又はチップの位置を算出す
る。
方法として、横向姿勢(図2)では、ワイヤ像7mを含
む領域P1又はP5あるいはチップ像1mを含む領域P
4を上記方法で同様に検出し、開先下エッジ像9mを含
む領域P2を上記方法で同様に検出し、検出した領域P
1,P5あるいはP4とP2とのZ方向位置差により開
先下エッジに対するワイヤ又はチップの位置を算出す
る。
【0040】立向姿勢(図3)では、開先の左エッジを
含む領域P2のみならず右エッジを含む領域P3を上記
方法で同様に検出して、それらの領域P2,P1のZ方
向位置を算出して、それらの位置の中間点を開先中心と
して算出し、この中間点に対するワイヤ又はチップの位
置を算出する。
含む領域P2のみならず右エッジを含む領域P3を上記
方法で同様に検出して、それらの領域P2,P1のZ方
向位置を算出して、それらの位置の中間点を開先中心と
して算出し、この中間点に対するワイヤ又はチップの位
置を算出する。
【0041】開先幅を求める方法として、横向姿勢(図
2)では下エッジ領域P2と、ワイヤ領域P1,P5又
はP4とを摘出して、下エッジに対するワイヤ位置を算
出する。立向姿勢(図3)では、左エッジ領域P2およ
び右エッジ領域P3と、ワイヤ領域P1,P5又はP4
とを摘出して、開先中心に対するワイヤ位置を算出す
る。
2)では下エッジ領域P2と、ワイヤ領域P1,P5又
はP4とを摘出して、下エッジに対するワイヤ位置を算
出する。立向姿勢(図3)では、左エッジ領域P2およ
び右エッジ領域P3と、ワイヤ領域P1,P5又はP4
とを摘出して、開先中心に対するワイヤ位置を算出す
る。
【0042】画像摘出領域を図1および図9〜図13に
示すP2,P1,P3,P4,P5とした理由について
説明する。開先倣い制御における開先やワイヤ,チップ
位置の検出は、できるだけ溶接アークに近い位置で検出
できることが倣い精度から望ましい。しかし、溶接アー
クは冷却摺動板2に隠れ、検出可能な溶接アークに最も
近い位置は、冷却摺動板2と開先3、および、冷却摺動
板2とワイヤ7の交点である。
示すP2,P1,P3,P4,P5とした理由について
説明する。開先倣い制御における開先やワイヤ,チップ
位置の検出は、できるだけ溶接アークに近い位置で検出
できることが倣い精度から望ましい。しかし、溶接アー
クは冷却摺動板2に隠れ、検出可能な溶接アークに最も
近い位置は、冷却摺動板2と開先3、および、冷却摺動
板2とワイヤ7の交点である。
【0043】下エッジ,上エッジの摘出領域を、仮に図
14に示すP2,P3のように冷却摺動板2の像2mを
含まない領域とした場合は、領域P2は図14のア−イ
間、P3はウ−エ間の任意の位置Zを検出する。撮影は
必ずしも開先に平行直角でないため、図14に示すよう
に、画面のY軸に対してチップ像1m,ワイヤ像7mが
傾斜している場合には、ワイヤ下エッジ検出がアに近い
位置、上エッジがウに近い位置の場合は開先幅を求める
場合に大きな誤差になる。また、図14のP2がチップ
の上辺キ−ク、P3がチップの下辺オ−カを検出する場
合もあり、安定した検出ができない。したがって、下エ
ッジ,上エッジの摘出領域P2,P3(教示パタ−ンK
2,K3)は、図1および図9,図11に示すように冷
却摺動板2の像2mを含む領域が望ましい。
14に示すP2,P3のように冷却摺動板2の像2mを
含まない領域とした場合は、領域P2は図14のア−イ
間、P3はウ−エ間の任意の位置Zを検出する。撮影は
必ずしも開先に平行直角でないため、図14に示すよう
に、画面のY軸に対してチップ像1m,ワイヤ像7mが
傾斜している場合には、ワイヤ下エッジ検出がアに近い
位置、上エッジがウに近い位置の場合は開先幅を求める
場合に大きな誤差になる。また、図14のP2がチップ
の上辺キ−ク、P3がチップの下辺オ−カを検出する場
合もあり、安定した検出ができない。したがって、下エ
ッジ,上エッジの摘出領域P2,P3(教示パタ−ンK
2,K3)は、図1および図9,図11に示すように冷
却摺動板2の像2mを含む領域が望ましい。
【0044】仮に、図14に示すようにチップの教示パ
ターンをP4とした場合、チップの挿入角度は必ずしも
開先に平行ではないため、チップのオ−ク−カ−キ間の
任意の位置を検出した場合、下エッジとチップの距離が
変動し、安定した検出ができない。したがって、チップ
の摘出領域P4(教示パタ−ン)はチップとワイヤを含
む、図12が望ましい。
ターンをP4とした場合、チップの挿入角度は必ずしも
開先に平行ではないため、チップのオ−ク−カ−キ間の
任意の位置を検出した場合、下エッジとチップの距離が
変動し、安定した検出ができない。したがって、チップ
の摘出領域P4(教示パタ−ン)はチップとワイヤを含
む、図12が望ましい。
【0045】ワイヤの教示パターンは、仮に図14のP
1のように冷却摺動板2の像2mを含まない場合でも、
ワイヤ2が撮影されている長さが短いため、検出位置の
変動は少ない。したがって、ワイヤ7の像7mを含む図
13あるいは、ワイヤの像7mと冷却摺動板2の像2m
を含む図10でも安定した検出ができる。
1のように冷却摺動板2の像2mを含まない場合でも、
ワイヤ2が撮影されている長さが短いため、検出位置の
変動は少ない。したがって、ワイヤ7の像7mを含む図
13あるいは、ワイヤの像7mと冷却摺動板2の像2m
を含む図10でも安定した検出ができる。
【0046】本発明の他の目的および特徴は、図面を参
照した以下の実施例の説明より明らかになろう。
照した以下の実施例の説明より明らかになろう。
【0047】
【実施例】本発明の実施例に用いた自動溶接装置の構成
を図15に、制御装置の構成を図16に示す。溶接トー
チの揺動軸モータ34と冷却摺動板2、TVカメラ20
が取り付けられた電動倣い軸33は、回転軸35を介し
て開先3に並設されたレール31を走行する走行台車3
2に取付けられている。冷却摺動板2は、一定の荷重で
開先3に押しつけられ、溶接中のビードを形成させる。
倣い軸33の修正により溶接トーチと冷却摺動板2、T
Vカメラ20は、一体に開先幅方向移動する。TVカメ
ラ20は、図4に示す位置に設置され図1に示す範囲を
撮影した。CPUおよびメモリを含むマイクロコンピュ
ータ10は、溶接トーチの揺動の手前位置を検出するリ
ミットスイッチ15の信号を検出して、このスイッチ1
5が閉となっている期間の実質上中間時点に、TVカメ
ラ20からのアナログ画像信号をA/D変換器14でデ
ジタルに変換し、1画面分の画像データとして画面の縦
480画素×横512画素の画像データを画像メモリ1
3に記憶する。なお、リミットスイッチ15は、揺動軸
34の往復動の各行程で一回閉となる。
を図15に、制御装置の構成を図16に示す。溶接トー
チの揺動軸モータ34と冷却摺動板2、TVカメラ20
が取り付けられた電動倣い軸33は、回転軸35を介し
て開先3に並設されたレール31を走行する走行台車3
2に取付けられている。冷却摺動板2は、一定の荷重で
開先3に押しつけられ、溶接中のビードを形成させる。
倣い軸33の修正により溶接トーチと冷却摺動板2、T
Vカメラ20は、一体に開先幅方向移動する。TVカメ
ラ20は、図4に示す位置に設置され図1に示す範囲を
撮影した。CPUおよびメモリを含むマイクロコンピュ
ータ10は、溶接トーチの揺動の手前位置を検出するリ
ミットスイッチ15の信号を検出して、このスイッチ1
5が閉となっている期間の実質上中間時点に、TVカメ
ラ20からのアナログ画像信号をA/D変換器14でデ
ジタルに変換し、1画面分の画像データとして画面の縦
480画素×横512画素の画像データを画像メモリ1
3に記憶する。なお、リミットスイッチ15は、揺動軸
34の往復動の各行程で一回閉となる。
【0048】マイクロコンピュータ10は画像メモリ1
3の画像データ(1画面)より、比較画像メモリ13r
に記憶している教示パタ−ンK1(P1,P4又はP
5),K2(P2)およびK3(P3)に対して相関関
数値が高い領域I1(P1,P4又はP5),I2(P
2)およびI3(P3)を抽出し、抽出した領域間相対
位置より、開先に対するワイヤのZ位置を算出して、そ
れに応じた信号をサーボアンプ11に指令し、倣い軸3
3の倣い軸モータ12を制御した。また、TVカメラ2
0からのアナログ画像信号は分配器23を介してVTR
21に入力し、倣い制御中の開先3,ワイヤ7,チップ
1,冷却摺動板2等が撮影された画像を記憶した。
3の画像データ(1画面)より、比較画像メモリ13r
に記憶している教示パタ−ンK1(P1,P4又はP
5),K2(P2)およびK3(P3)に対して相関関
数値が高い領域I1(P1,P4又はP5),I2(P
2)およびI3(P3)を抽出し、抽出した領域間相対
位置より、開先に対するワイヤのZ位置を算出して、そ
れに応じた信号をサーボアンプ11に指令し、倣い軸3
3の倣い軸モータ12を制御した。また、TVカメラ2
0からのアナログ画像信号は分配器23を介してVTR
21に入力し、倣い制御中の開先3,ワイヤ7,チップ
1,冷却摺動板2等が撮影された画像を記憶した。
【0049】なお、鋼板表面における距離が1画素当た
り0.06mmとなるように撮影範囲を調整した。
り0.06mmとなるように撮影範囲を調整した。
【0050】また、倣い制御性の確認方法としては、溶
接中の倣い制御画像をVTR21で録画し、溶接終了後
再生してモニタTV22に写しだした撮影画面をスケー
ルで実測し換算した。
接中の倣い制御画像をVTR21で録画し、溶接終了後
再生してモニタTV22に写しだした撮影画面をスケー
ルで実測し換算した。
【0051】〔実施例1〕横向エレクトロガスアーク溶
接で、本発明のエレクトロガスアーク溶接の開先倣い制
御方法と装置を用いた一実施例について説明する。使用
した溶接試験板に裏当材4を取り付けたものを用い、図
18に示すようにレ型開先で、板厚25mm,表面ギャ
ップ10〜15mm,裏ギャップ4〜9mm,長さ50
0mmの試験板を用い、溶接条件は、溶接電流350
(A),溶接電圧31(V),フラックス入りワイヤ
1.6(mmφ),溶接速度10.4(cm/mi
n),揺動回数42(回/min)の条件を用いた。
接で、本発明のエレクトロガスアーク溶接の開先倣い制
御方法と装置を用いた一実施例について説明する。使用
した溶接試験板に裏当材4を取り付けたものを用い、図
18に示すようにレ型開先で、板厚25mm,表面ギャ
ップ10〜15mm,裏ギャップ4〜9mm,長さ50
0mmの試験板を用い、溶接条件は、溶接電流350
(A),溶接電圧31(V),フラックス入りワイヤ
1.6(mmφ),溶接速度10.4(cm/mi
n),揺動回数42(回/min)の条件を用いた。
【0052】これらの条件で溶接中のテレビカメラ20
で撮影した画像データを分析したところ、溶接ワイヤ,
冷却摺動板,上板表面,下板表面およびチップのD1値
は20〜60、開先内のD2値は80〜140であっ
た。なお、アナログ画像信号のA/D変換は8ビットで
画像データの取りうる範囲は0〜255である。
で撮影した画像データを分析したところ、溶接ワイヤ,
冷却摺動板,上板表面,下板表面およびチップのD1値
は20〜60、開先内のD2値は80〜140であっ
た。なお、アナログ画像信号のA/D変換は8ビットで
画像データの取りうる範囲は0〜255である。
【0053】これに対応して、図21に示す疑似開先
を、上述の実際の開先と等倍率に表面ギャップ間隔1
2.5mm、溶接ワイヤ幅を1.6mm、下エッジとワ
イヤ間距離を6mmとし、摺動銅板とチップを描き、D
1は30〜50、D2は100〜120となるように濃
淡を調整し紙に描くとともに撮影条件を調整した。
を、上述の実際の開先と等倍率に表面ギャップ間隔1
2.5mm、溶接ワイヤ幅を1.6mm、下エッジとワ
イヤ間距離を6mmとし、摺動銅板とチップを描き、D
1は30〜50、D2は100〜120となるように濃
淡を調整し紙に描くとともに撮影条件を調整した。
【0054】教示パターンは、疑似開先を溶接試験板の
開先位置に貼り、テレビカメラ20で撮影した。撮影画
像デ−タを比較画像メモリ13rに書込み、その画像上
の領域P4,P2およびP3を指定し、それぞれ教示パ
ターンK1,K2およびK3として登録した。
開先位置に貼り、テレビカメラ20で撮影した。撮影画
像デ−タを比較画像メモリ13rに書込み、その画像上
の領域P4,P2およびP3を指定し、それぞれ教示パ
ターンK1,K2およびK3として登録した。
【0055】1−1 実験方法 オペレ−タが、溶接を開始し走行台車32を走行さ
せ、 揺動軸34の駆動を開始するとともに、開先下エッジ
に対するワイヤのZ方向位置を最適に設定し、 倣い制御開始をマイクロコンピュータ10に指令し
た。
せ、 揺動軸34の駆動を開始するとともに、開先下エッジ
に対するワイヤのZ方向位置を最適に設定し、 倣い制御開始をマイクロコンピュータ10に指令し
た。
【0056】マイクロコンピュータ10は、リミット
スイッチ15の閉信号に応じて、撮影された1画面分の
画像データを画像メモリ13に書き込み、そして画像メ
モリ13から、ワイヤ教示パターンK1(P4)と同サ
イズの入力パターンを位置を変えて順次取り出し、教示
パターンとの相関係数を(2)式に従って算出した。最も
大きい相関係数が0.6以上の場合はワイヤ位置と判断
し、その開先幅方向の位置ZP4を記憶した。同様に画
像メモリ13の画像の下エッジ教示パターンK2(P
2)および上エッジ教示パターンK3(P3)と相関が
高い領域(P2,P3)を摘出してそれらの位置ZP1
およびZP3を検出し、ワイヤ/下エッジ間距離Zt=
ZP4−ZP1およびZw=ZP3−ZP1を算出し、 この1画面分の画像データから得たワイヤ/下エッジ
間距離Ztの、基準値Zsに対する偏差をマイクロコン
ピュータ10が算出して、この偏差対応分、倣い軸33
をz方向に駆動して、溶接ト−チおよび冷却摺動銅板を
開先に対する基準位置Zsに修正し、 また、Zwに応じて表1の条件に従って溶接条件を切
り換えた。
スイッチ15の閉信号に応じて、撮影された1画面分の
画像データを画像メモリ13に書き込み、そして画像メ
モリ13から、ワイヤ教示パターンK1(P4)と同サ
イズの入力パターンを位置を変えて順次取り出し、教示
パターンとの相関係数を(2)式に従って算出した。最も
大きい相関係数が0.6以上の場合はワイヤ位置と判断
し、その開先幅方向の位置ZP4を記憶した。同様に画
像メモリ13の画像の下エッジ教示パターンK2(P
2)および上エッジ教示パターンK3(P3)と相関が
高い領域(P2,P3)を摘出してそれらの位置ZP1
およびZP3を検出し、ワイヤ/下エッジ間距離Zt=
ZP4−ZP1およびZw=ZP3−ZP1を算出し、 この1画面分の画像データから得たワイヤ/下エッジ
間距離Ztの、基準値Zsに対する偏差をマイクロコン
ピュータ10が算出して、この偏差対応分、倣い軸33
をz方向に駆動して、溶接ト−チおよび冷却摺動銅板を
開先に対する基準位置Zsに修正し、 また、Zwに応じて表1の条件に従って溶接条件を切
り換えた。
【0057】マイクロコンピュ−タ10は、上記〜
を繰り返し、ワイヤ/下エッジ間距離Ztが基準値Z
sとなる方向に、サーボモータ12にト−チおよび冷却
摺動銅板の駆動を指令して倣い軸33のz位置を修正
し、かつ、Zw=ZP3−ZP1と表1に従って溶接条
件を修正した。
を繰り返し、ワイヤ/下エッジ間距離Ztが基準値Z
sとなる方向に、サーボモータ12にト−チおよび冷却
摺動銅板の駆動を指令して倣い軸33のz位置を修正
し、かつ、Zw=ZP3−ZP1と表1に従って溶接条
件を修正した。
【0058】
【表1】
【0059】1−2 実験結果 ワイヤ/下エッジ間距離の倣い制御が、±0.3mmの
範囲で良好に制御できる事を確認した。また、開先の上
エッジと下エッジ間の幅に応じた溶接条件切り換え制御
は、表面ギャップの変動に応じて表1に示す切り換え設
定値通り、±0.3mmの範囲で精度良く切り換えでき
ることを確認した。図23に溶接条件の切り替え制御状
態の結果を示すが、溶接距離230mmのところで条件
1→条件2に切り替わり、溶接距離400mmのところ
で条件2から条件3に切り替わっており、表面ギャップ
の変動と条件切り替わりが的確に精度良く行なえたこと
を確認した。
範囲で良好に制御できる事を確認した。また、開先の上
エッジと下エッジ間の幅に応じた溶接条件切り換え制御
は、表面ギャップの変動に応じて表1に示す切り換え設
定値通り、±0.3mmの範囲で精度良く切り換えでき
ることを確認した。図23に溶接条件の切り替え制御状
態の結果を示すが、溶接距離230mmのところで条件
1→条件2に切り替わり、溶接距離400mmのところ
で条件2から条件3に切り替わっており、表面ギャップ
の変動と条件切り替わりが的確に精度良く行なえたこと
を確認した。
【0060】〔実施例2〕溶接条件は上述の実施例1と
同じである。しかし、教示パターンは次のように設定し
た。すなわち、実施例1で得た、比較画像メモリ上の教
示パタ−ンの画像データを分析し、その結果D1=4
0、D2=110と定めて、操作ボ−ドを介したオペレ
−タ入力によりマイクロコンピュータ10を操作して、
比較画像メモリ13r上の、溶接ワイヤ領域,冷却摺動
板領域,上板表面領域,下板表面領域およびチップ領域
の各領域に、領域内全体にD1を書き込み、開先領域内
全体にD2を書き込んだ。
同じである。しかし、教示パターンは次のように設定し
た。すなわち、実施例1で得た、比較画像メモリ上の教
示パタ−ンの画像データを分析し、その結果D1=4
0、D2=110と定めて、操作ボ−ドを介したオペレ
−タ入力によりマイクロコンピュータ10を操作して、
比較画像メモリ13r上の、溶接ワイヤ領域,冷却摺動
板領域,上板表面領域,下板表面領域およびチップ領域
の各領域に、領域内全体にD1を書き込み、開先領域内
全体にD2を書き込んだ。
【0061】2−1 実験方法 実験方法は実施例1の実験方法で行った。
【0062】2−2 実験結果 ワイヤ/下エッジ間距離の倣い制御が、±0.3mmの
範囲で良好に制御できる事を確認した。また、実施例1
と同様に、上エッジと下エッジ間の幅に応じた溶接条件
切り換え制御は、表面ギャップの変動に応じて表1に示
す切り換え設定値通り、±0.3mmの範囲で精度良く
切り換えできることを確認した。図24に溶接後の条件
切り替え制御状態の結果を示すが、溶接距離260mm
のところで条件1→条件2に切り替わり、溶接距離44
0mmのところで条件2から条件3に切り替わってお
り、表面ギャップの変動と条件切り替わりが的確に精度
良く行なえたことを確認した。
範囲で良好に制御できる事を確認した。また、実施例1
と同様に、上エッジと下エッジ間の幅に応じた溶接条件
切り換え制御は、表面ギャップの変動に応じて表1に示
す切り換え設定値通り、±0.3mmの範囲で精度良く
切り換えできることを確認した。図24に溶接後の条件
切り替え制御状態の結果を示すが、溶接距離260mm
のところで条件1→条件2に切り替わり、溶接距離44
0mmのところで条件2から条件3に切り替わってお
り、表面ギャップの変動と条件切り替わりが的確に精度
良く行なえたことを確認した。
【0063】〔実施例3〕立向上進エレクトロガスアー
ク溶接で、本発明のエレクトロガスアーク溶接の開先倣
い制御方法と装置を用いた一実施例について説明する。
使用した溶接試験板は図20に示すようにV型開先で、
板厚25mm,表面ギャップ17〜25mm,裏ギャッ
プ5〜10mm,長さ700mmの試験板を用い、溶接
条件としては、溶接電流420(A),溶接電圧41
(V),フラックス入りワイヤ1.6(mmφ),溶接
速度11.0(cm/min),揺動幅8mm,揺動回
数30(回/min)の条件を用いた。また、倣い制御
条件としては、図3に示すように立向溶接姿勢なので、
カメラを右90度回して設置させることで図1に示す撮
影画面と同じ態様の撮影画面が得られるようにした。こ
の場合、画面のZ方向が、図3に示すx方向であり、図
面のY方向が図3に示すz方向である。
ク溶接で、本発明のエレクトロガスアーク溶接の開先倣
い制御方法と装置を用いた一実施例について説明する。
使用した溶接試験板は図20に示すようにV型開先で、
板厚25mm,表面ギャップ17〜25mm,裏ギャッ
プ5〜10mm,長さ700mmの試験板を用い、溶接
条件としては、溶接電流420(A),溶接電圧41
(V),フラックス入りワイヤ1.6(mmφ),溶接
速度11.0(cm/min),揺動幅8mm,揺動回
数30(回/min)の条件を用いた。また、倣い制御
条件としては、図3に示すように立向溶接姿勢なので、
カメラを右90度回して設置させることで図1に示す撮
影画面と同じ態様の撮影画面が得られるようにした。こ
の場合、画面のZ方向が、図3に示すx方向であり、図
面のY方向が図3に示すz方向である。
【0064】これらの条件で溶接中のテレビカメラ20
で撮影した画像データを分析したところ、溶接ワイヤ,
冷却摺動板,右板表面,左板表面およびチップのD1値
は20〜60、開先内のD2値は80〜140であっ
た。なおこの例でも、テレビカメラ20のアナログ画像
信号のA/D変換は8ビットで、画像データの取りうる
範囲は0〜255である。
で撮影した画像データを分析したところ、溶接ワイヤ,
冷却摺動板,右板表面,左板表面およびチップのD1値
は20〜60、開先内のD2値は80〜140であっ
た。なおこの例でも、テレビカメラ20のアナログ画像
信号のA/D変換は8ビットで、画像データの取りうる
範囲は0〜255である。
【0065】これに対応して、図22に示す疑似開先
を、上述の実際の開先と等倍率に表面ギャップ間隔2
1.0mm、溶接ワイヤ幅を1.6mm、左右エッジと
ワイヤとの間隔を10.5mm下エッジとワイヤ間距離
を6mとし、摺動銅板とチップを描き、D1は30〜5
0、D2は100〜120となるように濃淡を調整し紙
に描くとともに撮影条件を調整した。
を、上述の実際の開先と等倍率に表面ギャップ間隔2
1.0mm、溶接ワイヤ幅を1.6mm、左右エッジと
ワイヤとの間隔を10.5mm下エッジとワイヤ間距離
を6mとし、摺動銅板とチップを描き、D1は30〜5
0、D2は100〜120となるように濃淡を調整し紙
に描くとともに撮影条件を調整した。
【0066】教示パターンは、疑似開先を溶接試験板の
開先位置に貼り、テレビカメラ20で撮影した。撮影画
像デ−タを比較画像メモリ13rに書込み、その画像上
の領域P4,P2およびP3を指定し、それぞれ教示パ
ターンK1,K2およびK3として登録した。
開先位置に貼り、テレビカメラ20で撮影した。撮影画
像デ−タを比較画像メモリ13rに書込み、その画像上
の領域P4,P2およびP3を指定し、それぞれ教示パ
ターンK1,K2およびK3として登録した。
【0067】3−1 実験方法 オペレ−タが、溶接を開始し走行台車32を走行さ
せ、 揺動軸34の駆動を開始するとともに、開先左エッ
ジ,右エッジに対するワイヤのX,Z方向位置を最適に
設定し、 倣い制御開始をマイクロコンピュータ10に指令し
た。
せ、 揺動軸34の駆動を開始するとともに、開先左エッ
ジ,右エッジに対するワイヤのX,Z方向位置を最適に
設定し、 倣い制御開始をマイクロコンピュータ10に指令し
た。
【0068】マイクロコンピュータ10はリミットス
イッチ15の閉信号に応じて、撮影された1画面分の画
像データを画像メモリ13に書き込み、そして画像メモ
リ13から、比較画像メモリ13r上のワイヤ教示パタ
ーンK1(P2)と同サイズの入力パターンの位置を変
え順次取り出し、教示パターンK1との相関係数を(2)
式に従って算出する。最も大きい相関係数が0.6以上
の場合はワイヤ位置と判断し、その開先幅方向の座標位
置ZP2を記憶する。同様に画像メモリ13の画像の、
左エッジ教示パターンK2(P1)及び右エッジ教示パ
ターンK3(P3)と、相関が高い領域を摘出してその
位置ZP1及びZP3を検出し、それらの位置差(開先
幅)Zw=ZP3−ZP1を算出し、その中間点の位置
Zwp=ZP3+Zw/2を算出し、そして、Zwpに
対する指定領域P2の位置差(ワイヤ/開先中心間距
離)Zt=Zwp−ZP2を算出し、 この1画面分の画像デ−タから得たワイヤ/開先中心
間距離Ztの、基準値Zsに対する偏差を算出して、こ
の偏差対応分、倣い軸33を駆動して、溶接ト−チおよ
び冷却摺動銅板を開先に対する基準位置Zsに修正し、 また、開先幅Zwに対応して表2の条件に従って溶接
条件を切り換えた。
イッチ15の閉信号に応じて、撮影された1画面分の画
像データを画像メモリ13に書き込み、そして画像メモ
リ13から、比較画像メモリ13r上のワイヤ教示パタ
ーンK1(P2)と同サイズの入力パターンの位置を変
え順次取り出し、教示パターンK1との相関係数を(2)
式に従って算出する。最も大きい相関係数が0.6以上
の場合はワイヤ位置と判断し、その開先幅方向の座標位
置ZP2を記憶する。同様に画像メモリ13の画像の、
左エッジ教示パターンK2(P1)及び右エッジ教示パ
ターンK3(P3)と、相関が高い領域を摘出してその
位置ZP1及びZP3を検出し、それらの位置差(開先
幅)Zw=ZP3−ZP1を算出し、その中間点の位置
Zwp=ZP3+Zw/2を算出し、そして、Zwpに
対する指定領域P2の位置差(ワイヤ/開先中心間距
離)Zt=Zwp−ZP2を算出し、 この1画面分の画像デ−タから得たワイヤ/開先中心
間距離Ztの、基準値Zsに対する偏差を算出して、こ
の偏差対応分、倣い軸33を駆動して、溶接ト−チおよ
び冷却摺動銅板を開先に対する基準位置Zsに修正し、 また、開先幅Zwに対応して表2の条件に従って溶接
条件を切り換えた。
【0069】マイクロコンピュ−タ10は、上記〜
を繰り返し、倣い制御中のワイヤ/開先中心間距離Z
t=Zwp−ZP2と倣い制御基準Zsを比較して、差
が小さくなる方向にサーボモータ12に指令を与え、倣
い軸33の修正を行い、かつ、開先幅Zwに対応して表
2の条件に従って溶接条件を修正した。
を繰り返し、倣い制御中のワイヤ/開先中心間距離Z
t=Zwp−ZP2と倣い制御基準Zsを比較して、差
が小さくなる方向にサーボモータ12に指令を与え、倣
い軸33の修正を行い、かつ、開先幅Zwに対応して表
2の条件に従って溶接条件を修正した。
【0070】
【表2】
【0071】3−2 実験結果 図3に示すように立向溶接姿勢なので、カメラを右90
度回して図22に示す撮影画面で制御を実施した結果、
ワイヤ/開先中心間距離の倣い制御において、±0.3
mmの範囲で良好に制御できる事を確認した。また、表
2に示す切り換え条件通り条件1から条件2に精度良く
切り換わり、表面ギャップの変動に応じて的確に切り換
えできる事を確認した。図25に溶接後の条件切り替え
制御状態の結果を示すが、溶接距離220mmのところ
で条件1→条件2に切り替わっており、表面ギャップの
変動と条件切り替わりが的確に精度良く行なえたことを
確認した。
度回して図22に示す撮影画面で制御を実施した結果、
ワイヤ/開先中心間距離の倣い制御において、±0.3
mmの範囲で良好に制御できる事を確認した。また、表
2に示す切り換え条件通り条件1から条件2に精度良く
切り換わり、表面ギャップの変動に応じて的確に切り換
えできる事を確認した。図25に溶接後の条件切り替え
制御状態の結果を示すが、溶接距離220mmのところ
で条件1→条件2に切り替わっており、表面ギャップの
変動と条件切り替わりが的確に精度良く行なえたことを
確認した。
【0072】〔実施例4〕溶接条件は上述の実施例3と
同じである。しかし、教示パターンは次のように設定し
た。すなわち、実施例3で得た、比較画像メモリ上の教
示パタ−ンの画像データを分析し、その結果D1=4
0、D2=110と定めて、操作ボ−ドを介したオペレ
−タ入力によりマイクロコンピュータ10を操作して、
比較画像メモリ13r上の、溶接ワイヤ領域,冷却摺動
板領域,左板表面領域,右板表面領域およびチップ領域
の各領域に、領域内全体にD1を書き込み、開先領域内
全体にD2を書き込んだ。
同じである。しかし、教示パターンは次のように設定し
た。すなわち、実施例3で得た、比較画像メモリ上の教
示パタ−ンの画像データを分析し、その結果D1=4
0、D2=110と定めて、操作ボ−ドを介したオペレ
−タ入力によりマイクロコンピュータ10を操作して、
比較画像メモリ13r上の、溶接ワイヤ領域,冷却摺動
板領域,左板表面領域,右板表面領域およびチップ領域
の各領域に、領域内全体にD1を書き込み、開先領域内
全体にD2を書き込んだ。
【0073】4−1 実験方法 実験方法は、実施例3の実験方法で行った。
【0074】4−2 実験結果 実施例3と同様に、ワイヤ/開先中心間距離の倣い制御
において、±0.3mmの範囲で良好に制御できる事を
確認した。また、表2に示す切り換え条件通り条件1か
ら条件2に精度良く切り換わり、表面ギャップの変動に
応じて的確に切り換えできる事を確認した。図26に溶
接後の条件切り替え制御状態の結果を示すが、溶接距離
260mmのところで条件1→条件2に切り替わってお
り、表面ギャップの変動と条件切り替わりが的確に精度
良く行なえたことを確認した。
において、±0.3mmの範囲で良好に制御できる事を
確認した。また、表2に示す切り換え条件通り条件1か
ら条件2に精度良く切り換わり、表面ギャップの変動に
応じて的確に切り換えできる事を確認した。図26に溶
接後の条件切り替え制御状態の結果を示すが、溶接距離
260mmのところで条件1→条件2に切り替わってお
り、表面ギャップの変動と条件切り替わりが的確に精度
良く行なえたことを確認した。
【0075】
【発明の効果】本発明方法は、エレクトロガス溶接のア
ーク光の明るさの変動による影響を受けにくい基本的な
特性があり、良好な倣い制御ができるため、テレビカメ
ラを利用した自動倣い制御の信頼性が飛躍的に高くな
り、溶接工程の自動化,無人化に大きな貢献ができる。
ーク光の明るさの変動による影響を受けにくい基本的な
特性があり、良好な倣い制御ができるため、テレビカメ
ラを利用した自動倣い制御の信頼性が飛躍的に高くな
り、溶接工程の自動化,無人化に大きな貢献ができる。
【図1】 図4に示すTVカメラ20の撮影画面と、該
画面上に設定した領域P1〜P5を示す平面図である。
画面上に設定した領域P1〜P5を示す平面図である。
【図2】 横向エレクトロガス溶接状態を示す図面であ
り、(a)は開先中心部での水平横断面図、(b)は正
面図、(c)は垂直縦断面図である。
り、(a)は開先中心部での水平横断面図、(b)は正
面図、(c)は垂直縦断面図である。
【図3】 立向エレクトロガス溶接状態を示す図面であ
り、(a)は水平横断面図、(b)は正面図、(c)は
垂直縦断面図である。
り、(a)は水平横断面図、(b)は正面図、(c)は
垂直縦断面図である。
【図4】 横向エレクトロガス溶接状態と溶接ワイヤ部
を撮影するTVカメラ20を示す、開先中心部での拡大
水平横断面図である。
を撮影するTVカメラ20を示す、開先中心部での拡大
水平横断面図である。
【図5】 図1に示す水平走査線L1での、図4に示す
TVカメラ20の、溶接ア−クが標準的な明るさのとき
の、ビデオ信号レベルを示すグラフである。
TVカメラ20の、溶接ア−クが標準的な明るさのとき
の、ビデオ信号レベルを示すグラフである。
【図6】 図1に示す水平走査線L1での、図4に示す
TVカメラ20の、溶接ア−クが、溶滴移行中に短絡て
消えた時の、ビデオ信号レベルを示すグラフである。
TVカメラ20の、溶接ア−クが、溶滴移行中に短絡て
消えた時の、ビデオ信号レベルを示すグラフである。
【図7】 図1に示す水平走査線L1での、図4に示す
TVカメラ20の、溶接ア−クのア−ク長が長くなって
アーク炎で開先全体が明るくなった時の、ビデオ信号レ
ベルを示すグラフである。
TVカメラ20の、溶接ア−クのア−ク長が長くなって
アーク炎で開先全体が明るくなった時の、ビデオ信号レ
ベルを示すグラフである。
【図8】 図16に示すマイクロコンピュ−タ10の内
部メモリーに書込んでいる教示パターンと、図16に示
すTVカメラ20で撮影した画面上の入力パターンの、
対応した各画素の輝度分布を示すグラフである。
部メモリーに書込んでいる教示パターンと、図16に示
すTVカメラ20で撮影した画面上の入力パターンの、
対応した各画素の輝度分布を示すグラフである。
【図9】 図1に示す領域P2を拡大して示す平面図で
ある。
ある。
【図10】 図1に示す領域P1を拡大して示す平面図
である。
である。
【図11】 図1に示す領域P3を拡大して示す平面図
である。
である。
【図12】 図1に示す領域P4を拡大して示す平面図
である。
である。
【図13】 図1に示す領域P5を拡大して示す平面図
である。
である。
【図14】 開先に対するワイヤ位置検出が不正確とな
る領域設定の一例を示す平面図である。
る領域設定の一例を示す平面図である。
【図15】 本発明を一態様で実施する溶接装置の機構
部の概要を示す左側面図であり、鋼板は垂直縦断面を示
す。
部の概要を示す左側面図であり、鋼板は垂直縦断面を示
す。
【図16】 図15に示す溶接装置の電動倣い軸33を
倣い駆動する電気制御系の構成を示すブロック図であ
る。
倣い駆動する電気制御系の構成を示すブロック図であ
る。
【図17】 横向姿勢のエレクトロガスア−ク溶接の溶
接対象材を示し、(a)は正面図、(b)は側面図であ
る。溶接対象材の下板と上板の相対向するエッジ(開先
下エッジ,上エッジ)は実質上平行である。
接対象材を示し、(a)は正面図、(b)は側面図であ
る。溶接対象材の下板と上板の相対向するエッジ(開先
下エッジ,上エッジ)は実質上平行である。
【図18】 横向姿勢のエレクトロガスア−ク溶接の溶
接対象材を示し、(a)は正面図、(b)は側面図であ
る。溶接対象材の下板と上板の相対向するエッジ(開先
下エッジ,上エッジ)は非平行である。
接対象材を示し、(a)は正面図、(b)は側面図であ
る。溶接対象材の下板と上板の相対向するエッジ(開先
下エッジ,上エッジ)は非平行である。
【図19】 横向姿勢のエレクトロガスア−ク溶接の溶
接対象材を示し、(a)は正面図、(b)は側面図であ
る。溶接対象材の下板と上板の相対向するエッジ(開先
下エッジ,上エッジ)は非平行である。
接対象材を示し、(a)は正面図、(b)は側面図であ
る。溶接対象材の下板と上板の相対向するエッジ(開先
下エッジ,上エッジ)は非平行である。
【図20】 立向姿勢のエレクトロガスア−ク溶接の溶
接対象材を示し、(a)は正面図、(b)は側面図であ
る。
接対象材を示し、(a)は正面図、(b)は側面図であ
る。
【図21】 第1実施例で使用した疑似開先の平面図で
ある。
ある。
【図22】 第3実施例で使用した疑似開先の平面図で
ある。
ある。
【図23】 第1実施例において設定した、開先幅と溶
接条件領域との関係を示すグラフである。
接条件領域との関係を示すグラフである。
【図24】 第2実施例において設定した、開先幅と溶
接条件領域との関係を示すグラフである。
接条件領域との関係を示すグラフである。
【図25】 第3実施例において設定した、開先幅と溶
接条件領域との関係を示すグラフである。
接条件領域との関係を示すグラフである。
【図26】 第4実施例において設定した、開先幅と溶
接条件領域との関係を示すグラフである。
接条件領域との関係を示すグラフである。
1:チップ 2:冷却摺動板 3:開先 4:裏当材 5:溶融金属 6:アーク 7:ワイヤ 8:ビード 10:マイクロコンピュータ 11:サーボア
ンプ 12:倣い軸モータ 13:画像メモ
リ 13r:比較画像メモリ 14:A/D変
換器 15:リミットスイッチ 20:TVカメ
ラ 21:VTR 22:モニタT
VC 23:分配器 31:レール 32:走行台車 33:電動倣い
軸 34:揺動軸モータ 35:回転軸
ンプ 12:倣い軸モータ 13:画像メモ
リ 13r:比較画像メモリ 14:A/D変
換器 15:リミットスイッチ 20:TVカメ
ラ 21:VTR 22:モニタT
VC 23:分配器 31:レール 32:走行台車 33:電動倣い
軸 34:揺動軸モータ 35:回転軸
Claims (6)
- 【請求項1】開先,溶接ワイヤおよび冷却摺動板を同時
にテレビカメラにて撮影した画像データを用い横向姿勢
のエレクトロガスアーク溶接の開先倣い制御する方法に
おいて、 前記テレビカメラの撮影画面上の、溶接ワイヤと冷却摺
動板の輝度の平均値をD1、開先内の輝度の平均値をD
2、下板表面と冷却摺動板の輝度の平均値をD1とする
と、 Dmin<D1<D2<Dmax ・・・(1) ただし、Dmax:輝度に対応した画像データとして取り
うる最大値 Dmin:輝度に対応した画像データとして取りうる最小
値 を満すように、比較画像メモリ上の、溶接ワイヤを含む
第1領域に対応する領域に溶接ワイヤおよび開先の画像
デ−タを教示パタ−ンK1として、開先下エッジと冷却
摺動板を含む第2領域に下板表面,冷却摺動板および開
先の画像デ−タを教示パタ−ンK2として、予め倣い制
御前に書込んでおき;倣い制御中に前記テレビカメラで
撮影した画像データから、教示パターンK1と相関が高
い領域I1を検索して溶接ワイヤ位置を決定し、教示パ
ターンK2と相関が高い領域I2を検索して開先下エッ
ジ位置を決定し、決定したワイヤ位置と下エッジ位置に
応じて溶接トーチおよび冷却摺動板を上下位置制御す
る;ことを特徴とする横向姿勢のエレクトロガスアーク
溶接の開先倣い制御方法。 - 【請求項2】前記(1)式を満すように描いた疑似開先を
予め倣い制御前に撮影し、得た画像データの中から、溶
接ワイヤを含む領域の画像データを教示パターンK1と
して、下エッジと冷却摺動板を含む領域の画像データを
教示パターンK2として、前記比較画像メモリに書込
む;請求項1記載の横向姿勢のエレクトロガスアーク溶
接の開先倣い制御方法。 - 【請求項3】開先,溶接ワイヤおよび冷却摺動板を同時
にテレビカメラにて撮影した画像データを用い横向姿勢
のエレクトロガスアーク溶接の開先倣い制御する方法に
おいて、 前記テレビカメラの撮影画面上の、溶接ワイヤと冷却摺
動板の輝度の平均値をD1、開先内の輝度の平均値をD
2、下板表面と冷却摺動板の輝度の平均値をD1、かつ
上板表面と冷却摺動板の輝度の平均値をD1とすると、 Dmin<D1<D2<Dmax ・・・(1) ただし、Dmax:輝度に対応した画像データとして取り
うる最大値 Dmin:輝度に対応した画像データとして取りうる最小
値 を満すように、比較画像メモリ上の、溶接ワイヤを含む
第1領域に対応する領域に溶接ワイヤおよび開先の画像
デ−タを教示パタ−ンK1として、開先下エッジと冷却
摺動板を含む第2領域に下板表面,冷却摺動板および開
先の画像デ−タを教示パタ−ンK2として、かつ開先上
エッジと冷却摺動板を含む第3領域に上板表面,冷却摺
動板および開先の画像デ−タを教示パタ−ンK3とし
て、予め倣い制御前に書込んでおき;倣い制御中に前記
テレビカメラで撮影した画像データから、教示パターン
K1と相関が高い領域I1を検索して溶接ワイヤ位置を
決定し、教示パターンK2と相関が高い領域I2を検索
して開先下エッジ位置を決定し、教示パターンK3と相
関が高い領域I3を検索して開先上エッジ位置を決定
し、決定したワイヤ位置と下エッジ位置に応じて溶接ト
ーチおよび冷却摺動板を上下位置制御するとともに、決
定した下エッジ位置と上エッジ位置に応じて溶接条件を
切り替える;ことを特徴とする横向姿勢のエレクトロガ
スアーク溶接の開先倣い制御方法。 - 【請求項4】前記(1)式を満すように描いた疑似開先を
予め倣い制御前に撮影し、得た画像データの中から、溶
接ワイヤを含む領域の画像データを教示パターンK1と
して、下エッジと冷却摺動板を含む領域の画像データを
教示パターンK2として、かつ上エッジと冷却摺動板を
含む領域の画像デ−タを教示パタ−ンK3として、前記
比較画像メモリに書込む;請求項3記載の横向姿勢のエ
レクトロガスアーク溶接の開先倣い制御方法。 - 【請求項5】開先,溶接ワイヤおよび冷却摺動板を同時
にテレビカメラにて撮影した画像データを用い立向姿勢
のエレクトロガスアーク溶接の開先倣い制御する方法に
おいて、 前記テレビカメラの撮影画面上の、溶接ワイヤと冷却摺
動板の輝度の平均値をD1、開先内の輝度の平均値をD
2、左板表面と冷却摺動板の輝度の平均値をD1、かつ
右板表面と冷却摺動板の輝度の平均値をD1とすると、 Dmin<D1<D2<Dmax ・・・(1) ただし、Dmax:輝度に対応した画像データとして取り
うる最大値 Dmin:輝度に対応した画像データとして取りうる最小
値 を満すように、比較画像メモリ上の、溶接ワイヤを含む
第1領域に対応する領域に溶接ワイヤおよび開先の画像
デ−タを教示パタ−ンK1として、開先左エッジと冷却
摺動板を含む第2領域に左板表面,冷却摺動板および開
先の画像デ−タを教示パタ−ンK2として、かつ開先右
エッジと冷却摺動板を含む第3領域に右板表面,冷却摺
動板および開先の画像デ−タを教示パタ−ンK3とし
て、予め倣い制御前に書込んでおき;倣い制御中に前記
テレビカメラで撮影した画像データから、教示パターン
K1と相関が高い領域I1を検索して溶接ワイヤ位置を
決定し、教示パターンK2と相関が高い領域I2を検索
して開先左エッジ位置を決定し、教示パターンK3と相
関が高い領域I3を検索して開先右エッジ位置を決定
し、決定したワイヤ位置,左エッジ位置および右エッジ
位置に応じて溶接トーチおよび冷却摺動板を左右位置制
御する;ことを特徴とする立向姿勢のエレクトロガスア
ーク溶接の開先倣い制御方法。 - 【請求項6】前記(1)式を満すように描いた疑似開先を
予め倣い制御前に撮影し、得た画像データの中から、溶
接ワイヤを含む領域の画像データを教示パターンK1と
して、左エッジと冷却摺動板を含む領域の画像データを
教示パターンK2として、かつ右エッジと冷却摺動板を
含む領域の画像デ−タを教示パタ−ンK3として、前記
比較画像メモリに書込む、請求項5記載の立向姿勢のエ
レクトロガスアーク溶接の開先倣い制御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8819097A JPH10277743A (ja) | 1997-04-07 | 1997-04-07 | エレクトロガスアーク溶接の開先倣い制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8819097A JPH10277743A (ja) | 1997-04-07 | 1997-04-07 | エレクトロガスアーク溶接の開先倣い制御方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10277743A true JPH10277743A (ja) | 1998-10-20 |
Family
ID=13935994
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8819097A Pending JPH10277743A (ja) | 1997-04-07 | 1997-04-07 | エレクトロガスアーク溶接の開先倣い制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10277743A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019208054A1 (ja) * | 2018-04-25 | 2019-10-31 | 三菱重工業株式会社 | 溶接制御装置、溶接制御方法、および溶接制御プログラム |
| CN110560979A (zh) * | 2019-09-23 | 2019-12-13 | 佛山耀立电气有限公司 | 焊机屏幕显示亮度控制方法及装置、焊机 |
-
1997
- 1997-04-07 JP JP8819097A patent/JPH10277743A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019208054A1 (ja) * | 2018-04-25 | 2019-10-31 | 三菱重工業株式会社 | 溶接制御装置、溶接制御方法、および溶接制御プログラム |
| US11958143B2 (en) | 2018-04-25 | 2024-04-16 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Welding control device, welding control method, and welding control program |
| CN110560979A (zh) * | 2019-09-23 | 2019-12-13 | 佛山耀立电气有限公司 | 焊机屏幕显示亮度控制方法及装置、焊机 |
| CN110560979B (zh) * | 2019-09-23 | 2022-05-17 | 佛山耀立电气有限公司 | 焊机屏幕显示亮度控制方法及装置、焊机 |
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