JPH10278730A - 乗員保護装置の故障診断装置 - Google Patents
乗員保護装置の故障診断装置Info
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Abstract
うにすること。 【解決手段】スクイブ10の一端は,FET2 と抵抗6 との並
列回路を介して点火電源V1に接続され, スクイブ10の他
端はFET12 と抵抗16との並列回路を介して接地されてい
る。抵抗6,16は, FET2又はFET12 のいずれか一方がオン
しても流れる電流が, スクイブ10を点火させない程度の
値となる抵抗値を有している。FET2,12 はそれぞれ駆動
用FET22,122 と高抵抗のチェック用FET21,121 との並列
回路から成り,FET5,15のオフにより各ゲートにバイアス
電圧が印加される。故障診断時において配線L1が電源線
に, 又は配線L2がアースに瞬間的に又は定常的に短絡し
たような場合でも, 流れる電流がチェック用FET21,121
により制限されるので点火電流が流れることがなく, エ
アバッグ装置の起動を防止できる。
Description
護すべく起動する乗員保護装置の故障診断装置に関す
る。
ト巻取装置等の乗員保護装置の回路として、図7に示す
ように、スクイブ33の両側にトランジスタ31、34
が直列接続された回路が知られている。この回路では、
トランジスタ31、34が共にオンした時にのみ、スク
イブ33に大電流が供給され、スクイブ33が点火する
ように構成されている。
トランジスタ31、34が正常にオンするか否かの診断
が定期的に又は自動車のエンジンの起動時に行われてい
る。その診断では、トランジスタ31又は34のみをオ
ンした時にスクイブ33にかかる電位(中間点Mの電
位、以下、「中間点電位」という)が、それぞれ、略電
源電位V又はアース電位に等しくなれば、オンさせたト
ランジスタは正常、そうでない場合は異常と判断され
る。
配線L2がアースに短絡した状態又は配線L1が電源線
に短絡した状態で、それぞれ、トランジスタ31又は3
4をオンさせると、スクイブ33に大電流が流れスクイ
ブ33が誤って点火される。そこで、図7のように、抵
抗32、35が、それぞれ、トランジスタ31、34に
並列に接続された回路を用いて、中間点電位が検出され
上記の短絡故障が発生していないことが予め確認された
上で、上記の診断が実行されるようにしている。即ち、
短絡故障が発生していない場合には中間点電位は略V/
2(Vは電源電位)となり、逆に、配線L2がアースに
短絡した状態又は配線L1が電源線に短絡した状態の時
には、中間点電位は、それぞれ、アース電位又は電源電
位となる。このことにより短絡故障が予め検出される。
中間点電位の検出方法は瞬時サンプリングや平均電圧に
よるために、配線L1又はL2が電源線又はアースに瞬
間的に繰り返し接触しているような故障の場合には、そ
のような短絡故障が検出されない。このため、トランジ
スタ31、34を交互にオンさせる診断が実行される
と、トランジスタ34又は31がオンしている期間に、
それぞれ配線L1又はL2が電源線又はアースに瞬間的
に接触しても、スクイブ33に瞬間的に大電流が流れ、
スクイブ33が誤って起動されるという問題がある。さ
らに、診断時にトランジスタ31又は34をオンさせた
ときに流れる電流は極めて小さい(例えば20mA)。この
ためトランジスタ31又は34は、その極めて小さい電
流も流れないような故障しか故障と判断されない。即
ち、トランジスタ31又は34の一部のセルがオンしな
いような部分的な故障は検出されないという問題があ
る。
み、乗員保護装置の故障診断時において、電力トランジ
スタの故障検出の精度を向上させると共に、スクイブの
両側に電力トランジスタを備えたシステムでは電源短絡
或いは接地短絡があってもスクイブに点火電流が流れな
いようにすることである。
めに、請求項1に記載の手段によれば、スクイブの少な
くとも一方の側に電力トランジスタを直列接続した乗員
保護装置の故障診断装置において、電力トランジスタを
構成する並列セルの一部を、スクイブが起動しない程度
の電流しか流れないチェック用トランジスタとし、その
チェック用トランジスタだけをオンさせ、その時のスク
イブにかかる電位を検出し、その電位に応じて電力トラ
ンジスタの故障を診断する。これにより、微小電流しか
流れないチェック用トランジスタの正常か異常かにより
電力トランジスタの故障を判定していることから、故障
判定の精度が向上する。
イブの両側に電力トランジスタを設けた場合には、故障
診断時において、スクイブに対する配線に定常的な又は
瞬間的な電源短絡や接地短絡が発生しても、チェック用
トランジスタの電流容量により電流が制限され、スクイ
ブが点火しない程度の電流しか流れないのでスクイブが
点火されることがない。よって、故障検出の精度が向上
すると共に診断時の誤作動を確実に防止することができ
る。
られた場合には、スクイブと電力用トランジスタとの間
の配線の長さが短くなり、配線の電源短絡或いは接地短
絡が防止されるので、スクイブのいずれか一方の側に電
力トランジスタを設けても誤作動が防止される。よっ
て、請求項3に記載の手段の如く、電力トランジスタが
スクイブのいずれか一方の側に設けられることにより、
乗員保護装置をより簡易な構成にできる。そして、チェ
ック用トランジスタがオンしてもスクイブは起動されな
いので、その装置における電力トランジスタの故障検出
が可能になると共に請求項1に記載の手段と同様に故障
検出の精度を向上させることができる。
ンジスタの複数の各セルをチェック用トランジスタと
し、診断時にはその複数のチェック用トランジスタを1
つずつ順次オンさせて各セルを1つずつ正常か異常かを
判断することで、トランジスタのより広い範囲でチェッ
クできるので電力トランジスタの診断の信頼性をより高
めることができる。
の起動時には、チェック用トランジスタもオンさせるこ
とで、電力トランジスタの電流容量の利用効率を向上さ
せることができる。
ンジスタの診断時には、チェック用トランジスタにのみ
制御信号を印加し、スクイブの起動時にはチェック用ト
ランジスタを含む電力トランジスタに制御信号を印加す
るスイッチ手段を設けることにより、共通の制御信号に
より診断と本来の起動とを行うことができ、電力トラン
ジスタの駆動回路が共通化できる。
ンジスタに並列に、流れる電流がスクイブを起動させな
いように補償抵抗が接続されることにより、診断前のス
クイブにかかる電圧の検出が安定し、予備チェックの信
頼性が向上するため、故障診断の信頼性が向上すると共
に診断時のスクイブの誤作動をより確実に防止できる。
手段診断手段により、スイッチ手段をオンオフしたとき
のスイッチ手段の出力端の電位を検出することで、その
電位を用いてスイッチ手段を診断できる。よって、乗員
保護装置の起動が確実となり、信頼性が向上する。
ンジスタの各セルを接続しているドレイン配線電極、又
は/及びソース配線電極の末端部分に位置するセルにて
チェック用トランジスタを構成する。これにより、末端
部分に至るまでの配線電極に断線があれば、チェック用
トランジスタはオンしない。このため断線の検出範囲が
広くなり、電力トランジスタの故障が、より多くチェッ
ク用トランジスタの故障として反映されるため故障検出
精度が向上する。
チェック用トランジスタは、共通のソース配線電極及び
ドレイン配線電極を有し、各セル毎にゲート配線電極が
設けられることにより、各ゲート配線電極毎に制御信号
を印加することで各セル毎の診断が容易に行える。
基づいて説明する。図1は、本発明の具体的な実施例に
係わるエアバッグ装置(乗員保護装置)の故障診断装置
100の構成を示した回路図である。エアバッグ装置
は、スクイブ10に点火電流が流れると、火薬が燃焼
し、それにより発生したガスが供給されてバッグが乗員
側に膨出することによって乗員を衝突時の衝撃から保護
する。スクイブ10の一端は、電界効果トランジスタ
(FET)2と抵抗6との並列回路を介して点火電源V
1に接続され、スクイブ10の他端はFET12と抵抗
16との並列回路を介して接地されている。抵抗(補償
抵抗)6、16は、FET2又はFET12のいずれか
一方がオンしても流れる電流が、スクイブ10を点火さ
せない程度の値となる抵抗値を有している。FET2、
12が請求項でいう電力トランジスタに相当する。
OS構造(LDMOS)を成し、一方のFET2の斜視
図を図3に示す。尚、FET12についても全く同様の
構成であり、チェック用FET121、駆動用FET1
22も同様に構成されている。このFET2、12は、
nチャンネル、エンハンスメント型であり、ソースゲー
ト間電圧が閾値Vthより小のときオフ状態となり(ノー
マリオフ)、閾値Vth以上のときオン状態となる。FE
T2は、ドレイン電極23、ソース電極26、及びゲー
ト電極24、25がそれぞれ櫛状に設けられている。こ
のようにソース電極26、ゲート電極24、及びドレイ
ン電極23を1組とする各列毎に並列セルが構成されて
いる。又、ゲート電極24は、ゲート電極25に対して
分離形成されており、ドレイン電極末端部23aとソー
ス電極26の一部26aとで構成されたセル28内に設
けられている。このゲート電極24、ドレイン電極末端
部23a、及びソース電極26aとでチェック用FET
21が構成されている。又、FET2のうちチェック用
FET21を除いた部分のセルが並列に接続されて駆動
用FET22が構成されている。チェック用FET21
は駆動用FET22に比較して導通時の抵抗が高く、本
実施例ではチェック用FET21のオン状態における抵
抗を約250Ωとした。
めにFET5、15が設けられており、FET5、15
のドレイン、ソース及びゲートがそれぞれバイアス電源
V3、アース、CPU20に接続されている。FET
5、15は、pチャンネル、デプレッション型であり、
CPU20からの駆動信号がLレベルのときにオン状態
となり(ノーマリオン)、駆動信号がHレベルのときオ
フ状態に変化する。FET5、15と駆動用FET2
2、122のゲートとの間には、インバータとFETと
から成るアナログスイッチ(スイッチ手段)1、11が
設けられており、CPU20からの切換信号によってオ
ン、オフ作動する。スイッチ1、11の動作状況を確認
するために、定電圧電源V2に直列に接続された抵抗
3、4と抵抗13、14とがそれぞれスイッチ1、11
と駆動用FET22、122のゲートとの間に設けられ
ており、駆動用FET22、122のゲート電圧が閾値
Vthより小さい約1Vとなるようにしている。CPU2
0は、FET5、15をオン、オフ作動させる駆動信号
と、アナログスイッチ1、11をオン、オフ作動させる
切換信号とを出力すると共に、駆動用FET22、12
2のゲート電圧G2、G12 とソース電圧S1とドレイン電圧
D11 とをモニタする。
図2に基づいて以下に説明する。図2は、一例としてC
PU20におけるローサイド(FET12側)の処理手
順を示したフローチャートである。この処理フローは車
両のイグニッションスイッチのオンにより起動される。
イグニッションスイッチがオフの時にはCPU20は起
動されず、故障診断装置100と各電源との電気的接続
が遮断される。よって、イグニッションスイッチがオフ
状態においてはスクイブ10に点火電流が流れることは
なく、エアバッグ装置が誤起動されることはない。
故障診断装置100と各電源とが電気的に接続される。
CPU20はステップ110 にてアナログスイッチ11の
切換信号を出力し、スイッチ11をオフ状態にする。こ
れにより駆動用FET122とバイアス電源V3との電
気的接続が遮断される。次に、ステップ120 にてFET
駆動信号としてHレベルの信号を出力し、FET15を
オンからオフに状態変化させる。これによりチェック用
FET121のゲート電極124にバイアス電源V3に
より閾値Vth以上の正電圧が印加され、チェック用FE
T121がオン状態になる。
が所定の閾値TH1 以下であるか否かを判定する。チェッ
ク用FET121のオンによりそのドレイン−ソース間
に電流が流れるので、チェック用FET121が正常で
あればドレイン電圧D11 は閾値TH1 より大きくなること
はない。従って、ステップ130 の条件を満たす場合には
チェック用FET121が正常にオンすると判定し、ス
テップ140 に進む。
ート電圧G12 が約1(V)であるか否かを判定する。ここ
で、スイッチ11が正常に機能してオフ状態であればゲ
ート電圧G12 は約1(V)になるので、ステップ140 の条件
を満たす場合には、スイッチ11が正常に機能(オフ)
していると判定し、ステップ150 に進む。ステップ150
ではFET駆動信号としてLレベル信号を出力し、FE
T15をオフからオンに状態変化させる。FET15の
オンによりバイアス電源V3が抵抗を介して接地され、
チェック用FET121のゲート電極124への印加電
圧がゼロとなり、FET121はオンからオフに状態変
化する。次に、ステップ160 にてスイッチ11の切換信
号を出力し、スイッチ11をオフからオンに状態変化さ
せる。これにより駆動用FET122のゲート電極12
5はFET15を介して接地される。この後、ステップ
170 にて駆動用FET122のゲート電圧G12 がゼロで
あるか否かを判定する。スイッチ11が正常に機能しオ
ン状態であれば、ゲート電圧G12 がゼロとなるから、ス
テップ170 の条件を満たすときスイッチ11に故障がな
いと判断し、処理を終了する。
とき、即ちスイッチ11、FET15が共にオフ状態
で、チェック用FET121はオン状態であるべきとこ
ろ、ドレイン電圧D11 が閾値TH1 より大きいときにはチ
ェック用FET121がオンしないと判定し、ステップ
180 にてエラーメッセージを表示し、処理を終了する。
又、ステップ140 の条件を満たしていないとき、即ち駆
動用FET122のゲート電圧G12 が約1(V)でない場合
には、アナログスイッチ11の動作不良(オフ不良)と
判定してステップ180 にてエラーメッセージを表示し、
処理を終了する。又、ステップ170 の条件を満たしてい
ないとき、即ち、FET15がオン状態で駆動用FET
122のゲート電圧G12 がゼロでない場合は、スイッチ
11の動作不良(オン不良)と判定してステップ180 に
てエラーメッセージを表示し、処理を終了する。尚、上
記処理のうちステップ110 、140 、160 、170 における
処理が請求項でいうスイッチ手段診断手段に相当する。
におけるローサイドの動作チェックが実行される。又、
上記処理の終了後、上記処理と同様にハイサイド(FE
T2側)の動作チェックが実行される。上記動作チェッ
クの後、FET5、15とスイッチ1、11はそれぞれ
オン状態に維持される。これにより、バイアス電源V3
が接地されるので、駆動用FET22、122、チェッ
ク用FET21、121の各ゲート電圧はゼロとなり、
それらFET22、122、21、121はオフ状態を
維持する。この状態でCPU20により衝突が検知され
ると、FET5、15はオンからオフに状態変化し、駆
動用FET22、122、チェック用FET21、12
1の各ゲートにバイアス電圧が印加され、それらFET
22、122、21、121はオフからオンに状態変化
する。これによって、スクイブ10に点火電流が流れ、
エアバッグ装置が起動される。
ルの一部を高抵抗のチェック用FET21、121とす
ることにより、故障診断時において配線L1が電源線
に、又は配線L2がアースに瞬間的又は定常的に短絡し
たような場合でも、流れる電流がチェック用FET2
1、121により制限されるので、点火電流が流れるこ
とがなく、エアバッグ装置の誤作動を防止できる。又、
チェック用FET21は、ドレイン電極23の末端部2
3aをドレイン電極としているので、末端部23aまで
のドレイン電極23の一部、即ち駆動用FET22のド
レイン電極に断線が生じた場合にもチェック用FET2
1はオンしない。よって、チェック用FET21の動作
不良の判定によって駆動用FET22の動作不良を、そ
れを動作させることなく判別できる。又、FET2の一
部に故障が発生し、FET2全体をオンしたのでは故障
判定できない場合であっても故障検出が可能となる。チ
ェック用FET121も同様に構成されているので、同
様にチェック用FET121の動作不良により駆動用F
ET122の動作不良をそれを作動させることなく判別
できる。尚、本実施例では、チェック用FET21にド
レイン電極末端部23aを備えた構成としたが、ソース
電極としてソース電極26の末端部を用いることで、F
ET2のソース電極26の断線を検出することが可能で
ある。FET12についても同様である。又、駆動用F
ET22、122のゲート電圧G2、G12 をモニタするこ
とにより、アナログスイッチ1、11の動作不良を検出
できるので、故障診断装置100の安全性を向上でき
る。
テップ130 でドレイン電圧と閾値TH1 とを比較している
が、チェック用FET21をオフからオンにしたときの
ドレイン電圧D11 の電圧変化量が所定値以上かを判定す
るようにしてもよい。さらに、チェック用FET21と
121とを交互にオン、オフしてドレイン電圧又はソー
ス電圧S1を検出しているが、チェック用FET21と1
21とを同時にオンしてスクイブ10の端子間電圧が所
定値以上か否かを判定するようにしてもよい。但し、F
ET21と121とが同時にオンしても、流れる電流に
よりスクイブ10が点火されないようにFET21と1
21は構成されている。
クイブ10の両側にFET2、12を備えた構成とした
が、スクイブ10の一方の側にのみFETを備えた構成
としてもよい。例えば、図6(a)に示すようにアース
側にのみFET12を設けた構成、或いは図6(b)に
示すように点火電源V1側にのみFET2を設けた構成
としてもよい。エアバッグのインフレータ近傍にあるス
クイブ10の近傍にFET2或いはFET12が設けら
れた場合などでは、スクイブ10とFET2又はFET
12との間の配線L1又はL2の長さが短くなるので、
配線L1又はL2の電源短絡又は接地短絡の確率が低下
する。よって、スクイブ10の一方の側にFETを設け
ても有効に機能する。そして、チェック用FET21又
は121をオフからオンに変化させた時のソース電圧S1
又はドレイン電圧D11 の電圧変化量又はスクイブ10の
端子間電圧を所定の閾値と比較することで故障判定を行
ってもよい。これにより、乗員保護装置をより簡易な構
成にできる。
OS構造としたが、図4に示されるような縦型の二重拡
散MOS構造(VDMOS)としてもよい。尚、図4
は、一例としてFET2の構造を示しており、FET2
2はFET2と同様の構造である。この場合チェック用
FET21はソース電極26の末端部26bをソース電
極としているので、駆動用FET22のソース電極26
に断線が生じた場合にはチェック用FET21はオンし
ない。よって、図3の場合と同様にチェック用FET2
1の動作不良の判定によって駆動用FET22の動作不
良を、それを動作させることなく判別できる。FET1
2についてもFET2と同じことが言える。
チェック用FET21、121とその他のセルが並列接
続された駆動用FET22、122とでFET2、12
を構成したが、FET2について言えば図5に示すよう
にソース電極26とドレイン電極23とを共通とし、ゲ
ート電極25a〜25eをソース電極26の櫛歯の先端
部に分離して設け、各セル単位で複数のチェック用のF
ETを設けてもよい。この構成では、例えば切換スイッ
チ(図略)などを用いて各セル毎に順次ゲート電極をバ
イアス電源V3に接続してオン作動させ、スクイブにか
かる電圧を検出し、各セル毎に正常であるか否かを診断
することで、FET2の診断の信頼性をより向上させる
ことが可能である。又、各セル単位でなくとも電流制限
が可能な範囲でゲート電極25a〜25eを並列接続し
てチェック用FETを構成してもよい。さらに、各セル
を櫛歯状の電極の各列に沿ってさらに分割してチェック
用FETを増加させてもよい。このようにすればFET
2の広い範囲の部分での動作チェックが可能である。
尚、スクイブの起動時にはこれらのチェック用FETも
同時にオンさせる構造とする。
スクイブの一方の側に直列に接続された電力トランジス
タの一部のセルを、スクイブを起動しない程度の電流し
か流れないチェック用トランジスタとしたことで、電力
トランジスタの部分的な故障をも検出することが可能と
なり、検出精度が向上する。又、スクイブの両側に電力
トランジスタを設けた場合には、故障診断時において瞬
間的又は定常的な電源短絡或いは接地短絡が発生して
も、スクイブが点火されることがなく、診断時の誤作動
を確実に防止できる。
の構成を示した回路図。
の処理フローを示したフローチャート。
におけるFETの構成を示した模式図。
におけるFETの他の構成を示した模式図。
におけるFETの他の構成を示した回路図。
の他の構成を示した回路図。
Claims (10)
- 【請求項1】スクイブの少なくとも一方の側に電力トラ
ンジスタを直列接続した乗員保護装置の故障診断装置に
おいて、 前記電力トランジスタを構成する並列セルの一部であっ
て、前記スクイブが起動しない程度の電流しか流れない
一部のセルをチェック用トランジスタとし、そのチェッ
ク用トランジスタだけをオンさせて、前記スクイブにか
かる電位を検出し、その電位に応じて前記電力トランジ
スタを診断することを特徴とする乗員保護装置の故障診
断装置。 - 【請求項2】前記電力トランジスタは、前記スクイブの
両側に設けられたことを特徴とする請求項1に記載の乗
員保護装置の故障診断装置。 - 【請求項3】前記電力トランジスタは、前記スクイブの
いずれか一方の側に設けられたことを特徴とする請求項
1に記載の乗員保護装置の故障診断装置。 - 【請求項4】前記電力トランジスタの複数の各セルを複
数のチェック用トランジスタとし、診断時には、その複
数のチェック用トランジスタの1つを順次、オンさせる
ことを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項
に記載の乗員保護装置の故障診断装置。 - 【請求項5】前記スクイブの起動時には、前記チェック
用トランジスタもオンさせることを特徴とする請求項1
乃至請求項4のいずれか1項に記載の乗員保護装置の故
障診断装置。 - 【請求項6】前記電力トランジスタの診断時には、前記
チェック用トランジスタにのみ制御信号を印加し、前記
スクイブの起動時には、チェック用トランジスタを含む
電力トランジスタに制御信号を印加するスイッチ手段を
設けたことを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれ
か1項に記載の乗員保護装置の故障診断装置。 - 【請求項7】前記電力トランジスタに並列に、前記スク
イブを起動させない程度の電流しか流れない補償抵抗が
接続されていることを特徴とする請求項1乃至請求項6
のいずれか1項に記載の乗員保護装置の故障診断装置。 - 【請求項8】前記スイッチ手段をオンオフした時のスイ
ッチ手段の出力端の電位を検出し、その電位によりその
スイッチ手段を診断するスイッチ手段診断手段を設けた
ことを特徴とする請求項6に記載の乗員保護装置の故障
診断装置。 - 【請求項9】前記チェック用トランジスタは、前記電力
トランジスタの各セルを並列接続しているドレイン配線
電極、又は/及びソース配線電極の末端部分に位置する
セルとしたことを特徴とする請求項1乃至請求項8のい
ずれか1項に記載の乗員保護装置の故障診断装置。 - 【請求項10】前記複数のチェック用トランジスタは、
ソース配線電極、ドレイン配線電極が共通で、ゲート配
線電極のみ各セル毎に設けられていることを特徴とする
請求項4乃至請求項9のいずれか1項に記載の乗員保護
装置の故障診断装置。
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015029264A (ja) * | 2013-07-12 | 2015-02-12 | リニアー テクノロジー コーポレイションLinear Technology Corporation | 入力ノードから出力ノードに電力を供給するためのシステム、システム内の故障状態を検出するための回路、およびシステム内の故障状態を検出する方法 |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19922710A1 (de) * | 1999-05-18 | 2000-11-23 | Bosch Gmbh Robert | Ansteuerschaltung für einen Wechselstrom-Zündkreis eines Rückhaltemittels |
| US6332400B1 (en) * | 2000-01-24 | 2001-12-25 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Initiating device for use with telemetry systems |
| DE10344841B4 (de) * | 2003-09-26 | 2010-02-25 | Infineon Technologies Ag | Ansteuerschaltung für ein Zündelement eines Insassenschutzsystems |
| US7107133B2 (en) * | 2004-05-26 | 2006-09-12 | Key Safety Systems, Inc. | Simulated airbag squib interface |
| JP4407430B2 (ja) * | 2004-08-27 | 2010-02-03 | トヨタ自動車株式会社 | 自動車 |
| JP4375263B2 (ja) * | 2005-03-23 | 2009-12-02 | 株式会社デンソー | 乗員保護装置の点火装置 |
| US8229545B2 (en) | 2005-09-15 | 2012-07-24 | St. Jude Medical, Atrial Fibrillation Division, Inc. | System and method for mapping complex fractionated electrogram information |
| EP1873917A1 (en) * | 2006-06-30 | 2008-01-02 | Infineon Technologies Austria AG | Circuit arrangment with at least two semiconductor switches |
| DE102007044345A1 (de) * | 2007-09-17 | 2009-03-19 | Robert Bosch Gmbh | Schaltung und Verfahren zum Prüfen von elektrisch steuerbaren Leistungsschaltern für ein Ansteuern von Personenschutzmitteln |
| DE102010043100B4 (de) * | 2010-06-10 | 2020-07-02 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Diagnose einer Funktionsfähigkeit einer Energieversorgungseinrichtung |
| US10782334B2 (en) * | 2017-08-16 | 2020-09-22 | Infineon Technologies Ag | Testing MOS power switches |
| KR102505748B1 (ko) * | 2018-08-16 | 2023-03-03 | 현대모비스 주식회사 | 에어백의 점화전압 인가 장치 |
| FR3150599B1 (fr) * | 2023-06-28 | 2025-07-11 | St Microelectronics Int Nv | Dispositif de mesure d’un courant de puissance délivré par un transistor FET de puissance |
Family Cites Families (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2851333A1 (de) | 1978-11-28 | 1980-06-12 | Bosch Gmbh Robert | Pruefschaltung fuer die ausloesevorrichtung einer den schutz der insassen eines fahrzeugs waehrend eines unfalles dienenden sicherheitseinrichtung |
| JPS63207755A (ja) | 1987-02-23 | 1988-08-29 | Nec Home Electronics Ltd | エア−バツク装置駆動回路 |
| JPH03121952A (ja) | 1989-10-05 | 1991-05-23 | Alps Electric Co Ltd | エアバツグ起動制御装置 |
| JP2999016B2 (ja) * | 1991-05-17 | 2000-01-17 | アスコ株式会社 | 車両安全装置の制御システム |
| JPH04362443A (ja) * | 1991-06-10 | 1992-12-15 | Mitsubishi Electric Corp | 乗員保護装置 |
| JP2779283B2 (ja) * | 1991-12-26 | 1998-07-23 | 三菱電機株式会社 | 乗員保護装置 |
| JPH05278557A (ja) * | 1992-04-03 | 1993-10-26 | Zexel Corp | 車両安全装置の制御システム |
| JP3121952B2 (ja) | 1993-03-18 | 2001-01-09 | 河西工業株式会社 | 車両側部の衝撃吸収構造 |
| JP2853511B2 (ja) * | 1993-04-27 | 1999-02-03 | 三菱電機株式会社 | 乗員保護装置の故障診断装置 |
| JPH0781515A (ja) * | 1993-09-14 | 1995-03-28 | Nippondenso Co Ltd | 車両用乗員保護装置 |
| JP2661863B2 (ja) * | 1993-10-29 | 1997-10-08 | 富士通テン株式会社 | 車両のエアバッグシステムにおけるスクイブライン系診断装置 |
| JPH07228215A (ja) * | 1994-02-17 | 1995-08-29 | Mitsubishi Electric Corp | 車両用安全装置の制御回路 |
| JPH07291091A (ja) * | 1994-04-28 | 1995-11-07 | Nippondenso Co Ltd | 制御用コンピュータの誤動作防止回路 |
| JP3505789B2 (ja) * | 1994-06-03 | 2004-03-15 | 株式会社デンソー | 乗員保護装置用故障診断回路およびその診断方法 |
| JPH0834311A (ja) * | 1994-07-21 | 1996-02-06 | Asuko Kk | 車両用安全装置の制御システム |
| JPH08332913A (ja) * | 1995-04-07 | 1996-12-17 | Kansei Corp | 車両用乗員保護装置 |
| JP3351171B2 (ja) * | 1995-04-13 | 2002-11-25 | トヨタ自動車株式会社 | コンデンサ容量診断回路 |
| US5861681A (en) * | 1995-05-19 | 1999-01-19 | Kansei Corporation | Occupant crash protection device for a vehicle |
| US5995892A (en) * | 1995-06-12 | 1999-11-30 | Denso Corporation | Triggering device for safety apparatus |
| DE19527487C1 (de) * | 1995-07-27 | 1997-02-27 | Texas Instruments Deutschland | Schaltungsanordnung zum Prüfen der Funktionsfähigkeit einer Stromüberwachungsschaltung für einen Leistungstransistor |
| JP3445041B2 (ja) * | 1995-11-13 | 2003-09-08 | 三菱電機株式会社 | 半導体集積回路 |
| JP3090037B2 (ja) * | 1996-04-24 | 2000-09-18 | 株式会社デンソー | 車両用乗員保護装置 |
| US5898122A (en) * | 1996-07-02 | 1999-04-27 | Motorola, Inc. | Squib ignitor circuit and method thereof |
| US5796177A (en) * | 1997-05-19 | 1998-08-18 | Delco Electronics Corporation | Firing circuit for multiple vehicle passenger restraint initiators |
-
1997
- 1997-04-04 JP JP10262797A patent/JP3702577B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-04-02 US US09/053,619 patent/US6185488B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-04-06 DE DE19815391A patent/DE19815391B4/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015029264A (ja) * | 2013-07-12 | 2015-02-12 | リニアー テクノロジー コーポレイションLinear Technology Corporation | 入力ノードから出力ノードに電力を供給するためのシステム、システム内の故障状態を検出するための回路、およびシステム内の故障状態を検出する方法 |
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| Publication number | Publication date |
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| DE19815391B4 (de) | 2006-07-06 |
| DE19815391A1 (de) | 1998-10-08 |
| US6185488B1 (en) | 2001-02-06 |
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