JPH10319321A5 - 照明装置、投影露光装置、デバイスの製造方法、投影露光装置の製造方法 、及び投影露光装置の調整方法 - Google Patents

照明装置、投影露光装置、デバイスの製造方法、投影露光装置の製造方法 、及び投影露光装置の調整方法

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JPH10319321A5
JPH10319321A5 JP1998061766A JP6176698A JPH10319321A5 JP H10319321 A5 JPH10319321 A5 JP H10319321A5 JP 1998061766 A JP1998061766 A JP 1998061766A JP 6176698 A JP6176698 A JP 6176698A JP H10319321 A5 JPH10319321 A5 JP H10319321A5
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【特許請求の範囲】
【請求項1】
光束を供給する光源系からの光束に基づいて多数の光源を形成するオプティカルインテグレータと、前記多数の光源からの光束を集光して被照射面を照明するコンデンサー光学系とを有する照明装置において、
前記被照射面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記多数の光源のうちの一部に対応した第1領域と、前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第2領域とを少なくとも有するフィルターを備え、
前記フィルターの前記第1領域の全体には、第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素が設けられ、
前記フィルターの前記第2領域の全体には、前記第1の透過率分布とは逆向きである第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素が設けられることを特徴とする照明装置。
【請求項2】
光束を供給する光源系からの光束に基づいて多数の光源を形成するオプティカルインテグレータと、前記多数の光源からの光束を集光して被照射面を照明するコンデンサー光学系とを有する照明装置において、
前記被照射面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記多数の光源のうちの一部に対応した第1領域と、前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第2領域とを少なくとも有するフィルターを備え、
前記フィルターの前記第1領域の全体には、第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素が設けられ、
前記フィルターの前記第2領域の全体には、第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素が設けられ、
前記第1及び第2フィルター要素は、前記被照射面上に分布する相対的照度を実質的に不変に維持しながら、前記被照射面上の所定の点に集光する光に関して、前記被照射面を構成する各微小面に対するフーリエ変換面上での光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換することを特徴とする照明装置。
【請求項3】
光束を供給する光源系からの光束に基づいて多数の光源を形成するオプティカルインテグレータと、前記多数の光源からの光束を集光して被照射面を照明するコンデンサー光学系とを有する照明装置において、
前記被照射面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記被照射面上の所定の点に集光する光に関して前記被照射面を構成する各微小面に対するフーリエ変換面上での光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換する透過率分布を有する第1フィルターと、
前記被照射面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記第1フィルターの透過率分布に起因する前記被照射面上に分布する相対的照度の不均一性を少なくとも補正するための透過率分布を有する第2フィルターとを有することを特徴とする照明装置。
【請求項4】
前記第1フィルターと前記第2フィルターとは一体に設けられることを特徴とする請求項3記載の照明装置。
【請求項5】
前記オプティカルインテグレータは多数のレンズ要素を有し、前記フィルターは、前記オプティカルインテグレータの入射側に配置されていることを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項記載の照明装置。
【請求項6】
前記光源系と前記オプティカルインテグレータとの間の光路中に配置されて、前記光源系からの光束に基づいて多数の光源を形成する補助オプティカルインテグレータと;
該補助インテグレータと前記オプティカルインテグレータとの間の光路中に配置されて前記補助インテグレータからの光束を前記オプティカルインテグレータへ導く補助コンデンサー光学系と;
を有することを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項記載の照明装置。
【請求項7】
前記コンデンサー光学系と前記被照射面との間の光路中に配置されて、前記コンデンサー光学系からの光束に基づいて多数の光源を形成する補助オプティカルインテグレータと;
該補助オプティカルインテグレータと前記被照射面との間の光路中に配置されて、前記補助オプティカルインテグレータからの光束を前記被照射面へ導く補助コンデンサー光学系と;
を有することを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項記載の照明装置。
【請求項8】
前記被照射面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記補助インテグレータにより形成される前記多数の光源のうちの一部に対応した第3領域と、前記補助インテグレータにより形成される前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第4領域とを少なくとも有する補助フィルターを備え、
前記補助フィルターの前記第3領域の全体には、第3の透過率分布を有する少なくとも1つの第3フィルター要素が設けられ、
前記補助フィルターの前記第4領域の全体には、第4の透過率分布を有する少なくとも1つの第4フィルター要素が設けられることを特徴とする請求項6または7記載の照明装置。
【請求項9】
前記フィルターの位置の近傍に配置されて、前記被照射面上の照度分布を均一にするための照度補正フィルターをさらに有することを特徴とする請求項1乃至8の何れか一項記載の照明装置。
【請求項10】
前記第1及び第2フィルター要素は、前記被照射面上に分布する相対的照度を実質的に不変に維持しながら、前記被照射面上の所定の点に集光する光に関して、前記被照射面を構成する各微小面に対するフーリエ変換面上での光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換することを特徴とする請求項1、5、6、7、8または9記載の照明装置。
【請求項11】
前記光源系と前記被照射面との間の光路中であって、かつ前記多数の光源が形成される位置または該位置と共役な位置に実質的に配置されて、開口形状を変化させることが可能な開口絞りを有し、
前記第1及び第2フィルター要素は、前記開口形状を変化させた際にも、前記被照射面上に分布する相対的照度を実質的に不変に維持すると共に、前記被照射面上の所定の点に集光する光に関する前記被照射面を構成する各微少面に対する前記フーリエ変換面上での前記光強度分布を実質的に不変に維持することを特徴とする請求項10記載の照明装置。
【請求項12】
所定のパターンを基板上に転写する投影露光装置において、
光束を供給する光源系からの光束に基づいて、多数の光源を形成するオプティカルインテグレータと;
前記多数の光源からの光束を集光して前記所定のパターンを照明するコンデンサー光学系と;
前記所定のパターンを像面上に配置される前記基板へ投影する投影光学系と;
前記像面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記多数の光源のうちの一部に対応した第1領域と、前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第2領域とを少なくとも有するフィルターと;を備え、
前記フィルターの前記第1領域の全体には、第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素が設けられ、
前記フィルターの前記第2領域の全体には、前記第1の透過率分布とは逆向きである第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素が設けられることを特徴とする投影露光装置。
【請求項13】
所定のパターンを基板上に転写する投影露光装置において、
光束を供給する光源系からの光束に基づいて、多数の光源を形成するオプティカルインテグレータと;
前記多数の光源からの光束を集光して前記所定のパターンを照明するコンデンサー光学系と;
前記所定のパターンを像面上に配置される前記基板へ投影する投影光学系と;
前記像面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記多数の光源のうちの一部に対応した第1領域と、前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第2領域とを少なくとも有するフィルターと;を備え、
前記フィルターの前記第1領域の全体には、第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素が設けられ、
前記フィルターの前記第2領域の全体には、前記第1の透過率分布とは逆向きである第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素が設けられ、
前記フィルターの前記第1領域の全体には、第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素が設けられ、
前記フィルターの前記第2領域の全体には、第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素が設けられ、
前記第1及び第2フィルター要素は、前記像面上に分布する相対的照度を実質的に不変に維持しながら、前記像面上の所定の点に集光する光に関して、前記像面を構成する各微小面に対するフーリエ変換面上での光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換することを特徴とする投影露光装置。
【請求項14】
所定のパターンを基板上に転写する投影露光装置において、
光束を供給する光源系からの光束に基づいて、多数の光源を形成するオプティカルインテグレータと;
前記多数の光源からの光束を集光して前記所定のパターンを照明するコンデンサー光学系と;
前記所定のパターンを像面上に配置される前記基板へ投影する投影光学系と;
前記像面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記被照射面上の所定の点に集光する光に関して前記被照射面を構成する各微小面に対するフーリエ変換面上での光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換する透過率分布を有する第1フィルターと;
前記像面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記第1フィルターの透過率分布に起因する前記被照射面上に分布する相対的照度の不均一性を少なくとも補正するための透過率分布を有する第2フィルターと;
を有することを特徴とする投影露光装置。
【請求項15】
前記第1フィルターと前記第2フィルターとは一体に設けられることを特徴とする請求項14記載の投影露光装置。
【請求項16】
前記オプティカルインテグレータは多数のレンズ要素を有し、前記フィルターは、前記オプティカルインテグレータの入射側に配置されていることを特徴とする請求項12乃至15の何れか一項記載の投影露光装置。
【請求項17】
前記光源系と前記オプティカルインテグレータとの間の光路中に配置されて、前記光源系からの光束に基づいて多数の光源を形成する補助オプティカルインテグレータと;
該補助インテグレータと前記オプティカルインテグレータとの間の光路中に配置されて前記補助インテグレータからの光束を前記オプティカルインテグレータへ導く補助コンデンサー光学系と;
を有することを特徴とする請求項12乃至16の何れか一項記載の投影露光装置。
【請求項18】
前記コンデンサー光学系と前記所定のパターンとの間の光路中に配置されて、前記コンデンサー光学系からの光束に基づいて多数の光源を形成する補助オプティカルインテグレータと;
該補助オプティカルインテグレータと前記所定のパターンとの間の光路中に配置されて、前記補助オプティカルインテグレータからの光束を前記所定のパターンへ導く補助コンデンサー光学系と;
を有することを特徴とする請求項12乃至16の何れか一項記載の投影露光装置。
【請求項19】
前記像面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記補助インテグレータにより形成される前記多数の光源のうちの一部に対応した第3領域と、前記補助インテグレータにより形成される前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第4領域とを少なくとも有する補助フィルターを備え、
前記補助フィルターの前記第3領域の全体には、第3の透過率分布を有する少なくとも1つの第3フィルター要素が設けられ、
前記補助フィルターの前記第4領域の全体には、第4の透過率分布を有する少なくとも1つの第4フィルター要素が設けられることを特徴とする請求項17または18記載の投影露光装置。
【請求項20】
前記フィルターの位置の近傍に配置されて、前記被照射面上の照度分布を均一にするための照度補正フィルターをさらに有することを特徴とする請求項12乃至19の何れか一項記載の投影露光装置。
【請求項21】
前記第1及び第2フィルター要素は、前記像面上に分布する相対的照度を実質的に不変に維持しながら、前記像面上の所定の点に集光する光に関して、前記像面を構成する各微小面に対するフーリエ変換面上での光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換することを特徴とする請求項12、13、16、17、18、19または21記載の投影露光装置。
【請求項22】
前記光源系と前記被照射面との間の光路中であって、かつ前記多数の光源が形成される位置または該位置と共役な位置に実質的に配置されて、開口形状を変化させることが可能な開口絞りを有し、
前記第1及び第2フィルター要素は、前記開口形状を変化させた際にも、前記像面上に分布する相対的照度を実質的に不変に維持すると共に、前記像面上の所定の点に集光する光に関する前記像面を構成する各微少面に対する前記フーリエ変換面上での前記光強度分布を実質的に不変に維持することを特徴とする請求項21記載の投影露光装置。
【請求項23】
前記基板上に感光性材料を塗布する第1工程と;
請求項12乃至22の何れか一項記載の投影露光装置を用いて、前記所定のパターンの像を前記基板に投影する第2工程と;
前記基板上の前記感光性材料を現像する第3工程と;
前記第3工程にて現像された前記感光性材料をマスクとして前記基板上に所定の回路パターンを形成する第4工程と;
を有することを特徴とするデバイス製造方法。
【請求項24】
所定のパターンを基板上へ投影する投影露光装置を製造する方法において、
光源系からの光束を、該光束に基づいて多数の光源を形成するオプティカルインテグレータ、該オプティカルインテグレータからの光を集光して前記所定のパターンを照明するコンデンサー光学系、及び前記パターンの像を所定の像面に形成する投影光学系を経由させて、該投影光学系の像面へ導く第1工程と;
前記像面上に分布する相対的照度を測定し、かつ前記像面上の少なくとも2つの点に集光する光に関する前記像面を構成する各微少面に対するフーリエ変換面上での光強度分布をそれぞれ測定する第2工程と;
前記多数の光源のうちの一部に対応した第1領域と、前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第2領域とを少なくとも有するフィルターを、前記像面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置する第3工程と;
前記フィルターの前記第1領域の全体に第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素を設けると共に、前記フィルターの前記第2領域の全体に第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素を設ける第4工程と;
を有し、
前記第4工程では、前記像面上に分布する前記相対的照度を実質的に均一に維持しつつ、前記光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換するために、前記第1及び第2の透過率分布を設定することを特徴とする投影露光装置の製造方法。
【請求項25】
所定のパターンを基板上へ投影する投影露光装置を製造する方法において、
光源系からの光束を、該光束に基づいて多数の光源を形成するオプティカルインテグレータ、該オプティカルインテグレータからの光を集光して前記所定のパターンを照明するコンデンサー光学系、及び前記パターンの像を所定の像面に形成する投影光学系を経由させて、該投影光学系の像面へ導くようにシミュレーションする第1工程と;
前記第1工程の前記シミュレーションに基づいて、前記像面上に分布する相対的照度を計算し、かつ前記像面上の少なくとも2つの点に集光する光に関する前記像面を構成する各微少面に対するフーリエ変換面上での光強度分布をそれぞれ計算する第2工程と;
前記多数の光源のうちの一部に対応した第1領域と、前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第2領域とを少なくとも有するフィルターを、前記像面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に設定する第3工程と;
前記フィルターの前記第1領域の全体に第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素を設定すると共に、前記フィルターの前記第2領域の全体に第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素を設定する第4工程と;
を有し、
前記第4工程では、前記像面上に分布する前記相対的照度を実質的に均一に維持しつつ、前記光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換するために、前記第1及び第2の透過率分布を設定することを特徴とする投影露光装置の製造方法。
【請求項26】
所定のパターンを基板上へ投影する投影露光装置を調整する方法において、
光源系からの光束を、該光束に基づいて多数の光源を形成するオプティカルインテグレータ、該オプティカルインテグレータからの光を集光して前記所定のパターンを照明するコンデンサー光学系、及び前記パターンの像を所定の像面に形成する投影光学系を経由させて、該投影光学系の像面へ導く第1工程と;
前記像面上に分布する相対的照度を測定し、かつ前記像面上の少なくとも2つの点に集光する光に関する前記像面を構成する各微少面に対するフーリエ変換面上での光強度分布をそれぞれ測定する第2工程と;
前記多数の光源のうちの一部に対応した第1領域と、前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第2領域とを少なくとも有するフィルターを、前記像面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置する第3工程と;
前記フィルターの前記第1領域の全体に第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素を設けると共に、前記フィルターの前記第2領域の全体に第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素を設ける第4工程と;
を有し、
前記第4工程では、前記像面上に分布する前記相対的照度を実質的に均一に維持しつつ、前記光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換するために、前記第1及び第2の透過率分布を設定することを特徴とする投影露光装置の調整方法。
【請求項27】
所定のパターンを基板上へ投影する投影露光装置を調整する方法において、
光源系からの光束を、該光束に基づいて多数の光源を形成するオプティカルインテグレータ、該オプティカルインテグレータからの光を集光して前記所定のパターンを照明するコンデンサー光学系、及び前記パターンの像を所定の像面に形成する投影光学系を経由させて、該投影光学系の像面へ導くようにシミュレーションする第1工程と;
前記第1工程の前記シミュレーションに基づいて、前記像面上に分布する相対的照度を計算し、かつ前記像面上の少なくとも2つの点に集光する光に関する前記像面を構成する各微少面に対するフーリエ変換面上での光強度分布をそれぞれ計算する第2工程と;
前記多数の光源のうちの一部に対応した第1領域と、前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第2領域とを少なくとも有するフィルターを、前記像面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に設定する第3工程と;
前記フィルターの前記第1領域の全体に第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素を設定すると共に、前記フィルターの前記第2領域の全体に第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素を設定する第4工程と;
を有し、
前記第4工程では、前記像面上に分布する前記相対的照度を実質的に均一に維持しつつ、前記光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換するために、前記第1及び第2の透過率分布を設定することを特徴とする投影露光装置の調整方法。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上述の目的を達成するために、第1発明にかかる照明装置は、光束を供給する光源系からの光束に基づいて多数の光源を形成するオプティカルインテグレータと、前記多数の光源からの光束を集光して被照射面を照明するコンデンサー光学系とを有する照明装置であって、前記被照射面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記多数の光源のうちの一部に対応した第1領域と、前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第2領域とを少なくとも有するフィルターを備え、前記フィルターの前記第1領域の全体には、第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素が設けられ、前記フィルターの前記第2領域の全体には、前記第1の透過率分布とは逆向きである第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素が設けられるものである。
また、上述の目的を達成するために、第2発明にかかる照明装置は、光束を供給する光源系からの光束に基づいて多数の光源を形成するオプティカルインテグレータと、前記多数の光源からの光束を集光して被照射面を照明するコンデンサー光学系とを有する照明装置であって、前記被照射面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記多数の光源のうちの一部に対応した第1領域と、前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第2領域とを少なくとも有するフィルターを備え、前記フィルターの前記第1領域の全体には、第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素が設けられ、前記フィルターの前記第2領域の全体には、第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素が設けられ、前記第1及び第2フィルター要素は、前記被照射面上に分布する相対的照度を実質的に不変に維持しながら、前記被照射面上の所定の点に集光する光に関して、前記被照射面を構成する各微小面に対するフーリエ変換面上での光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換するものである。
また、上述の目的を達成するために、第3発明にかかる照明装置は、光束を供給する光源系からの光束に基づいて多数の光源を形成するオプティカルインテグレータと、前記多数の光源からの光束を集光して被照射面を照明するコンデンサー光学系とを有する照明装置であって、前記被照射面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記被照射面上の所定の点に集光する光に関して前記被照射面を構成する各微小面に対するフーリエ変換面上での光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換する透過率分布を有する第1フィルターと、前記被照射面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記第1フィルターの透過率分布に起因する前記被照射面上に分布する相対的照度の不均一性を少なくとも補正するための透過率分布を有する第2フィルターとを有するものである。
なお、上記第3発明において、前記第1フィルターと前記第2フィルターとは一体に設けられることが好ましい。
また、上述の目的を達成するために、第4発明にかかる投影露光装置は、所定のパターンを基板上に転写する投影露光装置であって、光束を供給する光源系からの光束に基づいて、多数の光源を形成するオプティカルインテグレータと;前記多数の光源からの光束を集光して前記所定のパターンを照明するコンデンサー光学系と;前記所定のパターンを像面上に配置される前記基板へ投影する投影光学系と;前記像面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記多数の光源のうちの一部に対応した第1領域と、前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第2領域とを少なくとも有するフィルターと;を備え、前記フィルターの前記第1領域の全体には、第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素が設けられ、前記フィルターの前記第2領域の全体には、前記第1の透過率分布とは逆向きである第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素が設けられるものである。
また、上述の目的を達成するために、第5発明にかかる投影露光装置は、所定のパターンを基板上に転写する投影露光装置であって、光束を供給する光源系からの光束に基づいて、多数の光源を形成するオプティカルインテグレータと;前記多数の光源からの光束を集光して前記所定のパターンを照明するコンデンサー光学系と;前記所定のパターンを像面上に配置される前記基板へ投影する投影光学系と;前記像面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記多数の光源のうちの一部に対応した第1領域と、前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第2領域とを少なくとも有するフィルターと;を備え、前記フィルターの前記第1領域の全体には、第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素が設けられ、前記フィルターの前記第2領域の全体には、前記第1の透過率分布とは逆向きである第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素が設けられ、前記フィルターの前記第1領域の全体には、第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素が設けられ、前記フィルターの前記第2領域の全体には、第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素が設けられ、前記第1及び第2フィルター要素は、前記像面上に分布する相対的照度を実質的に不変に維持しながら、前記像面上の所定の点に集光する光に関して、前記像面を構成する各微小面に対するフーリエ変換面上での光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換するものである。
また、上述の目的を達成するために、第6発明にかかる投影露光装置は、所定のパターンを基板上に転写する投影露光装置であって、光束を供給する光源系からの光束に基づいて、多数の光源を形成するオプティカルインテグレータと;前記多数の光源からの光束を集光して前記所定のパターンを照明するコンデンサー光学系と;前記所定のパターンを像面上に配置される前記基板へ投影する投影光学系と;前記像面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記被照射面上の所定の点に集光する光に関して前記被照射面を構成する各微小面に対するフーリエ変換面上での光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換する透過率分布を有する第1フィルターと;前記像面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置されて、前記第1フィルターの透過率分布に起因する前記被照射面上に分布する相対的照度の不均一性を少なくとも補正するための透過率分布を有する第2フィルターと;を有するものである。
上記第6発明においては、前記第1フィルターと前記第2フィルターとは一体に設けられることが好ましい。
また、上述の目的を達成するために、第7発明は、所定のパターンを基板上へ投影する投影露光装置を製造する方法であって、光源系からの光束を、該光束に基づいて多数の光源を形成するオプティカルインテグレータ、該オプティカルインテグレータからの光を集光して前記所定のパターンを照明するコンデンサー光学系、及び前記パターンの像を所定の像面に形成する投影光学系を経由させて、該投影光学系の像面へ導く第1工程と;前記像面上に分布する相対的照度を測定し、かつ前記像面上の少なくとも2つの点に集光する光に関する前記像面を構成する各微少面に対するフーリエ変換面上での光強度分布をそれぞれ測定する第2工程と;前記多数の光源のうちの一部に対応した第1領域と、前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第2領域とを少なくとも有するフィルターを、前記像面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置する第3工程と;前記フィルターの前記第1領域の全体に第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素を設けると共に、前記フィルターの前記第2領域の全体に第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素を設ける第4工程と;を有し、前記第4工程では、前記像面上に分布する前記相対的照度を実質的に均一に維持しつつ、前記光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換するために、前記第1及び第2の透過率分布を設定するものである。
また、上述の目的を達成するために、第8発明は、所定のパターンを基板上へ投影する投影露光装置を製造する方法であって、光源系からの光束を、該光束に基づいて多数の光源を形成するオプティカルインテグレータ、該オプティカルインテグレータからの光を集光して前記所定のパターンを照明するコンデンサー光学系、及び前記パターンの像を所定の像面に形成する投影光学系を経由させて、該投影光学系の像面へ導くようにシミュレーションする第1工程と;前記第1工程の前記シミュレーションに基づいて、前記像面上に分布する相対的照度を計算し、かつ前記像面上の少なくとも2つの点に集光する光に関する前記像面を構成する各微少面に対するフーリエ変換面上での光強度分布をそれぞれ計算する第2工程と;前記多数の光源のうちの一部に対応した第1領域と、前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第2領域とを少なくとも有するフィルターを、前記像面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に設定する第3工程と;前記フィルターの前記第1領域の全体に第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素を設定すると共に、前記フィルターの前記第2領域の全体に第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素を設定する第4工程と;を有し、前記第4工程では、前記像面上に分布する前記相対的照度を実質的に均一に維持しつつ、前記光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換するために、前記第1及び第2の透過率分布を設定するものである。
また、上述の目的を達成するために、第9発明は、所定のパターンを基板上へ投影する投影露光装置を調整する方法であって、光源系からの光束を、該光束に基づいて多数の光源を形成するオプティカルインテグレータ、該オプティカルインテグレータからの光を集光して前記所定のパターンを照明するコンデンサー光学系、及び前記パターンの像を所定の像面に形成する投影光学系を経由させて、該投影光学系の像面へ導く第1工程と;
前記像面上に分布する相対的照度を測定し、かつ前記像面上の少なくとも2つの点に集光する光に関する前記像面を構成する各微少面に対するフーリエ変換面上での光強度分布をそれぞれ測定する第2工程と;
前記多数の光源のうちの一部に対応した第1領域と、前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第2領域とを少なくとも有するフィルターを、前記像面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に配置する第3工程と;
前記フィルターの前記第1領域の全体に第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素を設けると共に、前記フィルターの前記第2領域の全体に第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素を設ける第4工程と;
を有し、
前記第4工程では、前記像面上に分布する前記相対的照度を実質的に均一に維持しつつ、前記光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換するために、前記第1及び第2の透過率分布を設定するものである。
また、上述の目的を達成するために、第10発明は、所定のパターンを基板上へ投影する投影露光装置を調整する方法であって、光源系からの光束を、該光束に基づいて多数の光源を形成するオプティカルインテグレータ、該オプティカルインテグレータからの光を集光して前記所定のパターンを照明するコンデンサー光学系、及び前記パターンの像を所定の像面に形成する投影光学系を経由させて、該投影光学系の像面へ導くようにシミュレーションする第1工程と;
前記第1工程の前記シミュレーションに基づいて、前記像面上に分布する相対的照度を計算し、かつ前記像面上の少なくとも2つの点に集光する光に関する前記像面を構成する各微少面に対するフーリエ変換面上での光強度分布をそれぞれ計算する第2工程と;
前記多数の光源のうちの一部に対応した第1領域と、前記多数の光源のうちの前記一部とは異なる一部に対応した第2領域とを少なくとも有するフィルターを、前記像面に関して光学的に共役な位置または該位置の近傍に設定する第3工程と;
前記フィルターの前記第1領域の全体に第1の透過率分布を有する少なくとも1つの第1フィルター要素を設定すると共に、前記フィルターの前記第2領域の全体に第2の透過率分布を有する少なくとも1つの第2フィルター要素を設定する第4工程と;
を有し、
前記第4工程では、前記像面上に分布する前記相対的照度を実質的に均一に維持しつつ、前記光強度分布を各々独立に所定の光強度分布に変換するために、前記第1及び第2の透過率分布を設定するものである。
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Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6259513B1 (en) * 1996-11-25 2001-07-10 Svg Lithography Systems, Inc. Illumination system with spatially controllable partial coherence
US6628370B1 (en) * 1996-11-25 2003-09-30 Mccullough Andrew W. Illumination system with spatially controllable partial coherence compensating for line width variances in a photolithographic system
US6741394B1 (en) 1998-03-12 2004-05-25 Nikon Corporation Optical integrator, illumination optical apparatus, exposure apparatus and observation apparatus
JPH11271619A (ja) * 1998-03-19 1999-10-08 Nikon Corp 照明光学装置および該照明光学装置を備えた露光装置
DE69931690T2 (de) * 1998-04-08 2007-06-14 Asml Netherlands B.V. Lithographischer Apparat
US6404499B1 (en) * 1998-04-21 2002-06-11 Asml Netherlands B.V. Lithography apparatus with filters for optimizing uniformity of an image
JP4348574B2 (ja) * 1998-04-30 2009-10-21 株式会社ニコン 暗視野照明装置および暗視野照明方法
JP2000021765A (ja) * 1998-07-03 2000-01-21 Nikon Corp 照明装置及びそれを用いた投影露光装置
WO2000057459A1 (en) * 1999-03-24 2000-09-28 Nikon Corporation Exposure method and apparatus
TW587199B (en) 1999-09-29 2004-05-11 Asml Netherlands Bv Lithographic method and apparatus
US6671035B2 (en) * 1999-09-29 2003-12-30 Asml Netherlands B.V. Illuminator for a lithography apparatus, a lithography apparatus comprising such an illuminator, and a manufacturing method employing such a lithography apparatus
TW546550B (en) * 1999-12-13 2003-08-11 Asml Netherlands Bv An illuminator for a lithography apparatus, a lithography apparatus comprising such an illuminator, and a manufacturing method employing such a lithography apparatus
DE10062579A1 (de) * 1999-12-15 2001-06-21 Nikon Corp Optischer Integrierer,optische Beleuchtungseinrichtung, Photolithographie-Belichtungseinrichtung,und Beobachtungseinrichtung
ATE274197T1 (de) * 2000-05-19 2004-09-15 Tibor Balogh Vorrichtung und verfahren zur anzeige von 3d- bildern
JP2002359176A (ja) 2001-05-31 2002-12-13 Canon Inc 照明装置、照明制御方法、露光装置、デバイス製造方法及びデバイス
JP3634782B2 (ja) * 2001-09-14 2005-03-30 キヤノン株式会社 照明装置、それを用いた露光装置及びデバイス製造方法
JP3826047B2 (ja) * 2002-02-13 2006-09-27 キヤノン株式会社 露光装置、露光方法、及びそれを用いたデバイス製造方法
US6842223B2 (en) 2003-04-11 2005-01-11 Nikon Precision Inc. Enhanced illuminator for use in photolithographic systems
US7911584B2 (en) * 2003-07-30 2011-03-22 Carl Zeiss Smt Gmbh Illumination system for microlithography
JP5159027B2 (ja) * 2004-06-04 2013-03-06 キヤノン株式会社 照明光学系及び露光装置
JP4599936B2 (ja) * 2004-08-17 2010-12-15 株式会社ニコン 照明光学装置、照明光学装置の調整方法、露光装置、および露光方法
US7088527B2 (en) * 2004-12-28 2006-08-08 Asml Holding N.V. Uniformity correction system having light leak and shadow compensation
US20060139784A1 (en) * 2004-12-28 2006-06-29 Asml Holding N.V. Uniformity correction system having light leak compensation
US7173688B2 (en) * 2004-12-28 2007-02-06 Asml Holding N.V. Method for calculating an intensity integral for use in lithography systems
EP1866700A1 (en) 2005-03-15 2007-12-19 Carl Zeiss SMT AG Projection exposure method and projection exposure system therefor
JP2007299993A (ja) * 2006-05-01 2007-11-15 Canon Inc 露光装置
JP2008098382A (ja) * 2006-10-11 2008-04-24 Toshiba Corp 露光装置、露光方法、及び光近接効果補正方法
DE102007023411A1 (de) * 2006-12-28 2008-07-03 Carl Zeiss Smt Ag Optisches Element, Beleuchtungsoptik für die Mikrolithographie mit mindestens einem derartigen optischen Element sowie Beleuchtungssystem mit einer derartigen Beleuchtungsoptik
JP5035747B2 (ja) * 2007-03-16 2012-09-26 株式会社ニコン オプティカルインテグレータ、照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
JP2009071193A (ja) * 2007-09-14 2009-04-02 Canon Inc 露光装置及びデバイスの製造方法
US8908151B2 (en) * 2008-02-14 2014-12-09 Nikon Corporation Illumination optical system, exposure apparatus, device manufacturing method, compensation filter, and exposure optical system
US20090257043A1 (en) * 2008-04-14 2009-10-15 Nikon Corporation Illumination optical system, exposure apparatus, device manufacturing method, and exposure optical system
JP5157945B2 (ja) * 2009-02-09 2013-03-06 ウシオ電機株式会社 光照射装置
KR101470769B1 (ko) 2010-08-30 2014-12-09 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 마이크로리소그래픽 투영 노광 장치의 조명 시스템
JPWO2012067246A1 (ja) * 2010-11-19 2014-05-19 Nskテクノロジー株式会社 近接露光装置及び近接露光方法
WO2012100791A1 (en) 2011-01-29 2012-08-02 Carl Zeiss Smt Gmbh Illumination system of a microlithographic projection exposure apparatus
WO2013018799A1 (ja) 2011-08-04 2013-02-07 株式会社ニコン 照明装置
JP2013072845A (ja) * 2011-09-29 2013-04-22 Nuflare Technology Inc パターン検査装置及びパターン検査方法
KR20180012270A (ko) * 2015-05-26 2018-02-05 가부시키가이샤 브이 테크놀로지 노광용 조명 장치, 노광 장치 및 노광 방법
JP6761306B2 (ja) * 2016-08-30 2020-09-23 キヤノン株式会社 照明光学系、リソグラフィ装置、及び物品製造方法
JP6740107B2 (ja) * 2016-11-30 2020-08-12 Hoya株式会社 マスクブランク、転写用マスク及び半導体デバイスの製造方法

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58147708A (ja) * 1982-02-26 1983-09-02 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 照明用光学装置
US4619508A (en) * 1984-04-28 1986-10-28 Nippon Kogaku K. K. Illumination optical arrangement
US4939630A (en) * 1986-09-09 1990-07-03 Nikon Corporation Illumination optical apparatus
JPH0786647B2 (ja) * 1986-12-24 1995-09-20 株式会社ニコン 照明装置
US5307207A (en) * 1988-03-16 1994-04-26 Nikon Corporation Illuminating optical apparatus
US4918583A (en) * 1988-04-25 1990-04-17 Nikon Corporation Illuminating optical device
US5253110A (en) * 1988-12-22 1993-10-12 Nikon Corporation Illumination optical arrangement
JP3360686B2 (ja) * 1990-12-27 2002-12-24 株式会社ニコン 照明光学装置および投影露光装置並びに露光方法および素子製造方法
JPH04369209A (ja) * 1991-06-17 1992-12-22 Nikon Corp 露光用照明装置
US5420417A (en) * 1991-10-08 1995-05-30 Nikon Corporation Projection exposure apparatus with light distribution adjustment
US5335044A (en) * 1992-02-26 1994-08-02 Nikon Corporation Projection type exposure apparatus and method of exposure
US5329336A (en) * 1992-07-06 1994-07-12 Nikon Corporation Exposure method and apparatus
JP3158691B2 (ja) * 1992-08-07 2001-04-23 株式会社ニコン 露光装置及び方法、並びに照明光学装置
US5591958A (en) * 1993-06-14 1997-01-07 Nikon Corporation Scanning exposure method and apparatus
JP3440458B2 (ja) * 1993-06-18 2003-08-25 株式会社ニコン 照明装置、パターン投影方法及び半導体素子の製造方法
JP3291849B2 (ja) * 1993-07-15 2002-06-17 株式会社ニコン 露光方法、デバイス形成方法、及び露光装置
EP0658810B1 (de) * 1993-12-13 1998-11-25 Carl Zeiss Beleuchtungseinrichtung für ein optisches System mit einem Reticle-Maskierungssystem
JP2661536B2 (ja) * 1993-12-21 1997-10-08 日本電気株式会社 露光装置
JP3633002B2 (ja) * 1994-05-09 2005-03-30 株式会社ニコン 照明光学装置、露光装置及び露光方法
DE69621348T2 (de) * 1996-10-14 2002-09-05 Kawasaki Steel Corp., Kobe Verfahren und vorrichtung zur herstellung von polykristallinem silizium und verfahren zur herstellung eines siliziumsubstrats für eine solarzelle

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JPH11274060A5 (ja)