JPH10320761A - 磁気記録媒体およびその製造方法 - Google Patents

磁気記録媒体およびその製造方法

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JPH10320761A
JPH10320761A JP12892797A JP12892797A JPH10320761A JP H10320761 A JPH10320761 A JP H10320761A JP 12892797 A JP12892797 A JP 12892797A JP 12892797 A JP12892797 A JP 12892797A JP H10320761 A JPH10320761 A JP H10320761A
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magnetic recording
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projection
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JP12892797A
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Hiroshi Osawa
弘 大澤
Hiroyuki Machida
裕之 町田
Daisuke Shiomi
大介 塩見
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Showa Denko KK
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 摩擦係数を増大させずに、突起1個1個に負
荷される最大荷重を低減し、突起の削れ量を減少させ
る。 【解決手段】 基板表面に複数の突起が形成された磁気
記録媒体において、突起が他の部分より密に形成された
密集部分を存在させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク装置
等の磁気記録媒体の製造方法に関し、さらに詳しくは磁
気ディスク(以下、HDという)と磁気ヘッドとの間の
摺動耐久性を向上させた磁気記録媒体及びその製造方法
に関する。
【0002】
【従来の技術】磁気記録の高密度化の進歩はまさに日進
月歩の勢いであり、かつて10年で10倍といわれたハ
ードディスク・ドライブ(HDD)の記録密度向上速度
が最近では10年で100倍という声も聞かれている。
HDDは俗にウィンチェスター様式と呼ばれる、HD/
磁気ヘッド間の接触摺動−ヘッド浮上−接触摺動を基本
動作とするCSS(接触起動停止)方式が主流である。
この方式はHDDの高記録密度化を一気に加速した画期
的なものではあるが、一方で深刻なトライポロジー上の
課題を持ち込む端緒にもなった。近年の記録密度の向上
は、ディスクの回転速度の増加と磁気ヘッドの浮上高さ
の提言を伴い、CSS方式における摺動耐久性/安定性
やHD表面の平滑性への要求はますます強まっている現
状である。
【0003】磁気ヘッド/HD間の摺動耐久性を向上さ
せる鍵は、材料強度向上と潤滑性も含めた摩擦係数低下
にあるが、HDの側でいえば、従来トップコート技術の
検討〔ダイヤモンドライクカーボン(DLC)保護膜、
各種塗布潤滑剤等〕と並んでHD表面の粗面化によって
摩擦係数を低減させる努力が払われてきた。これはテク
スチャ処理と呼ばれ、接触面積の実効的低減によって摩
擦係数を下げてCSS耐久性/安定性を高めることを目
的としたものである。粗面化は基本的にはHD表面に所
定範囲の高低差を有する凹凸を形成することである。こ
のテクスチャ処理はHD製造技術の重要な要素技術とな
っている。
【0004】上記テクスチャ技術は、当然のことながら
基板材質と不可分の関係にあり、従来のNiP被覆Al
基板の場合には、研磨粉等を用いた機械的研磨によって
凹凸を形成する手法が主流であった。また、ガラス基板
等ではリソグラフィー、或いはそれと印刷技法を組み合
わせたエッチング技術等が提案され、一部では実用化さ
れている。
【0005】テクスチャ技術全般に言えることとして、
精密な凹凸制御と並んで工程上の効率性も必要条件であ
るが、両者はしばしば拮抗する関係にあり、特に前述の
ようなHDDの高記録密度化が驚くべき速さで進行して
いる現今の状勢下では、従来技術は所定仕様を満足しき
れないだけではなく、もはや工夫や改良の蓄積ではカバ
ーし得ない様々な問題点を露呈しつつある。例えば、機
械研磨法では既に微細加工制御の限界付近にあり、凹凸
の高低のみならず、ゾーンテクスチャリング等で重要に
なるテクスチャ領域の精密制御でも根本的な困難に遭遇
している。具体的には一定の割合で発生する所定範囲外
の高低差を示す凹凸(過研磨、バリ等)の発生や、テク
スチャ境界のぼやけ等である。また、リソグラフィ的手
法は、精密制度の点では問題ないものの、工程の複雑さ
が避けられず、それが効率面でのアキレス腱になってい
る。
【0006】他方、HDDの高記録容量化、高品質化は
必然的にHD製造環境の高いクリーン度達成を包含する
ものであり、各種汚染物、塵埃の高いレベルでの除去/
排除が各工程に対する至上目標となっている現状であ
る。この観点からすれば各工程が乾式であることが望ま
しく、この乾式テクスチャリングに対して大きな期待が
持たれている。
【0007】レーザ光を物質加工や測定に応用する試み
はレーザの発明当初から始まったと言えるが、昨今のレ
ーザ光源の発達/開発は基本特性やハンドリング性の目
覚ましい向上をもたらし、高エネルギー加工から超微細
加工、精密測定まで利用技術の広い裾野を形成してい
る。レーザビームによって物質を成膜し、或いは物質表
面を加工するレーザアブレーション(爆蝕)ないしレー
ザエッチングは80年代から盛んに検討されている技術
であるが、これによってテクスチャを施す、所謂レーザ
テクスチャ技術が最近関心を集めている(例えばUSP
5062021、特開昭62−209788号公報、特
開平3−272018号公報、特開平7−182655
号公報、特開平8−129749号公報)。レーザテク
スチャ技術では、レーザビーム照射によりクレーター状
の突起を任意の高さ、間隔、位置に基板上で制御良く形
成することができる上、基本的に乾式工程であるという
利点がある。特開平3−272018号公報では、Qス
イッチパルス発振のNd−YAGレーザ(波長1064
nm、発振周波数12KHz)を用い、直径2.5〜1
00μmのクレータ状突起(図6参照)を間隔12.7
〜25.4μmでNiPメッキAl基板に形成してい
る。また、特開平8−129749号公報では、図7に
示す断面形状の突起を所定の面積率および高さで形成す
ることを提案している。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、レーザ
テクスチャ技術では突起高さ、間隔の設定を誤ると、デ
ィスク表面へのヘッド吸着、CSS特性の悪化が顕著と
なる。ヘッドと突起との間には、CSS時に摩擦が生じ
ている。この摩擦により、突起には削れが生じてしま
う。突起の削れ量は、CSS回数の増加とともに大きく
なっていき、CSS特性を悪化させる要因の一つにな
る。とりわけ、突起が大きく削れて、ヘッドが基板平滑
面(突起部以外の部分)に接触するようになると、CS
S特性は著しく悪化し、ヘッドクラッシュを起こしてし
まう。
【0009】この突起の削れは、(A)ヘッドが突起1
個1個に及ぼす荷重と(B)摩擦係数に大きく依存す
る。 (A)ヘッドが突起1個1個に及ぼす荷重は、(ヘッド
の総合荷重)/(突起密度)であるので、突起密度が大
きくなればなるほど、小さくなるものと考えられる。一
方、(B)摩擦係数は突起密度が大きくなりすぎると増
加する傾向にある。すなわち、突起の削れ量低減のため
に単純に突起密度を大きくすると、摩擦係数が増大して
しまい、実際には突起の削れ量を低減することは困難で
ある。そこで本発明は、摩擦係数を増大させずに、突起
1個1個に負荷される最大荷重を低減することができる
突起の配置を提供し、磁気記録媒体のCSS特性の向上
を図ることを課題とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明者らは前記課題を
解決するため、突起の削れ要因(A)、(B)について
さらに検討した。 (A)ヘッドが突起1個1個に及ぼす荷重が最大になる
のは、基板回転数がREAD/WRITE時から減少し
ていき、ヘッドと突起が初めて接触する時である。回転
数が大きい方がヘッドの速度が速く、ヘッドの持つ運動
エネルギーが大きいためである。また、ここでヘッドと
突起が初めて接触する時、ヘッドは飛行状態にあるの
で、ヘッドの面積の小さいTrailing Edge Face(図8参
照)のみが突起と接触すると考えられる。 (B)摩擦係数において、静摩擦係数と動摩擦係数で
は、一般的に静摩擦係数の方が大きいので、この摩擦係
数が最大になるのは、ディスクが回転し始める時であ
る。また、基板回転開始時にはヘッドは静止状態にある
ので、面積の大きいAir Bearing Surface(図8参照)
全体が突起と接触していると考えられる。
【0011】このように、要因(A)、(B)が最大と
なる現象は、回転時と回転開始時という異なる時間帯で
起きている。また、これら2つの現象では、接触してい
る突起の数が著しく異なっている。即ち、最大荷重時
は、接触する突起の数は極めて小さく、最大摩擦の時
は、接触する突起の数は極めて大きい。
【0012】そこで、本発明者らは最大摩擦量を増大さ
せずに、突起1個1個の最大荷重を低減する方法を見出
し、本発明に至った。つまり、最大荷重を低減するため
にはヘッドと接触する突起の数を増加させればよいが、
全体の突起密度を大きくすれば摩擦係数が増加する。し
かし、局部的に突起密度を大きくすれば、摩擦係数の増
加を伴わずに最大荷重を低減できることを新たに着想し
た。本発明はこの着想に基づくものであり、基板表面に
複数の突起が形成された磁気記録媒体において、突起が
他の部分よりも密に形成された密集部分が存在すること
を特徴とする磁気記録媒体である。
【0013】本発明における密集部分は、円周方向に突
起が連続的に形成される場合と、半径方向に形成される
場合がある。前者の例を図1に、また後者の例を図2に
示す。図3に示すように円周方向および半径方向の両方
向に連続的に形成することもできる。また、本発明は基
本的には密集部分が形成されていることが重要であり、
図4に示すように密集部分と密集部分との間に突起が存
在していても、その効果に影響を与えない。なお、レー
ザビーム照射による突起の形態は、図6および図7に示
すものが知られているが、図1〜図4は、単純な円に模
式化して表している。また、本発明の突起は、典型的に
は図6に示される形態であるが、図7あるいは他の形態
であっても構わない。
【0014】また、密集部分としては、2個以上10個
以下の突起が連続的に形成されたものであり、密集部分
内における突起の外端部間隔D1が0.1〜10μm、
密集部分同士の間隔D2が10〜100μmの条件で構
成することが好ましい。密集部分における突起の個数を
2個以上10個以下とするのは、1個ではヘッド荷重が
分散されないためであり、11個以上では突起密度が高
くなりすぎてしまい、ディスク表面へのヘッドの吸着が
起きてしまうおそれがあるからである。密集部分内にお
ける突起の外端部間隔D1を0.1〜10μmとするの
は、0.1μm未満では突起同士の相互干渉が起こり、
突起の形が変形してしまうおそれがあるからであり、ま
た、10μmを越えると、突起間隔が広すぎるためにヘ
ッド荷重が分散されず、突起1個1個に加わる最大荷重
の低減が不十分となる場合があるからである。間隔D1
が狭い方が1個1個に及ぼされるヘッドの最大荷重を低
減できるため、D1は0.1〜5.0μmとするのが好
ましい。
【0015】密集部分同士の間隔D2を10〜100μ
mとするのは、10μm未満では突起密度が高くなりす
ぎてしまい、ディスク表面へのヘッドの吸着が起きやす
くなるからであり、また、100μmを越えると、突起
間隔が広すぎるため、ヘッドの飛行安定性に影響を及ぼ
してしまうからである。、ヘッドの飛行安定性を維持し
つつ、最大摩擦係数を低減する好ましい間隔D2の値
は、20〜50μmである。なお、外端部間隔D1およ
び密集部分同士の間隔D2は、図5により定義される。
【0016】本発明における突起自体の大きさは、直径
1〜10μm、高さ1〜30nmであることが望まし
い。直径1μm未満では突起の強度が弱くCSS特性上
脆弱であるからであり、また10μmを越える領域では
突起がヘッドに与える衝撃が大きく、グライドノイズに
影響を与えるおそれがあるからである。また、高さ1n
m未満では、基板の表面粗さで突起が識別できなくなる
からであり、30nmを越える領域では基板が高速回転
時においても突起がヘッドに衝突してしまい、ヘッドク
ラッシュ等の原因になるためである。
【0017】また、突起間隔の平均値、つまり(D1+
D2)/2は1〜50μmとすることが好ましい。1μ
m未満では、連続する突起が重なってしまうからであ
り、50μmを越える領域では間隔が大きくなってしま
い、最大摩擦係数がCSS回数の増加とともに大きくな
ってしまうからである。逆にグライドノイズが増加して
しまうからである。より好ましい平均値は、10〜30
μmである。本発明の基板としては、典型的にはNiP
メッキが施されたAl基板が用いられるが、他の材質、
構造を有するものであっても構わない。
【0018】本発明磁気記録媒体は、以下説明するよう
に種々の手法で製造することができる。本発明のように
突起の密集部分を間隔を隔てて形成する方法として、レ
ーザビームのパルスの繰り返し周波数を変化させる方法
がある。レーザビームのパルスの繰り返し周波数は、連
続発振レーザの場合、外部変調器により制御されてい
る。外部変調器としては電気光学効果変調器(Elec
tro−Optic−Modulator、略してEO
M)、または音響光学変調器(Acoustic−Op
tic−Modulator、略してAOM)が用いら
れる。
【0019】EOMは、光学結晶に電圧を印加して結晶
の屈折率が変化する電気光学効果を利用して入射した連
続発振レーザの光路を変更させることによりレーザ出力
を連続的に変化させることができる。AOMは、光学結
晶に外部より超音波を導入し、結晶の光学弾性効果を利
用して入射した連続発振レーザ光の解析角度を変化させ
ることにより直進透過するレーザ出力を連続的に変化さ
せることができる。上記何れの変調器も、外部から入力
する信号によりMHz帯域でのレーザ出力変調が可能で
あり、出力変調も任意に変更することができる。
【0020】上記変調器に入力する外部信号の周波数を
大きくすれば、突起同士の間隔が短くなり密集部分を形
成することができる。一方、外部信号の周波数を小さく
すれば、突起同士の間隔が長くなり、密集部分同士間に
間隔を空けることができる。
【0021】基板を等周速で回転させながら、外部入力
する信号に周波数変調をかけることにより、2個以上1
0個以下の突起が連続的に形成した密集部分を有し、こ
の密集分内における突起の外端部間隔D1が0.1〜1
0μm、密集部分同士の間隔D2が10〜100μmの
磁気記録媒体を製造することができる。さらに、パルス
幅、パルス強度を一定にすれば、基板表面上に形成され
る突起の高さを一定とすることができる。周波数変調
は、高周波領域と低周波領域の2階段とすればよいが、
高周波領域と低周波領域の周波数は必ずしも一定である
必要はなく、高周波領域及び低周波領域で周波数が変化
してもよい。基板を等回転で回転する場合も、上記と同
様に本発明磁気記録媒体を製造することができる。
【0022】パルスレーザは、EOMまたはAOMが本
体に内蔵されて変調を行っているので、レーザ本体から
のパルス制御信号に変えて、外部から信号を入力するこ
とにより、上記と同様に本発明磁気記録媒体を製造する
ことができる。
【0023】レーザビームを連続的に反射角度が変更さ
れるミラーを通した上で照射させる光学系において、ミ
ラーの反射角度を制御することにより、加工位置を制御
することができる。この特性を用い、ミラーの反射角度
を制御しても、本発明磁気記録媒体を製造することがで
きる。
【0024】また、突起が他の部分よりも密に形成され
た密集部分が存在するように構成されたマスクを作成
し、レーザービームをこのマスクを通過させることによ
っても本発明磁気記録媒体を製造することができる。
【0025】
【発明の実施の形態】
[実施例1〜10、比較例1〜4]連続発振レーザ光源
に、出力5Wの半導体レーザ励起の連続発振 YAGレ
ーザ(2倍波モード、波長532nm、出力5W)を用
い、レーザ光外部変調器にはEOM(立ち上がり15n
s、最大変換効率85%、レーザ最大最小比Imax/
Imin=80)を用いた。EOMに外部信号入力装置
として波形発生器を接続した。EOMへの入力波形は、
パルス波型とし、クレーター状突起の高さ18nmを得
る場合にはパルス幅を150ns、高さ14nmを得る
場合にはパルス幅を120nsとした。パルス波の繰り
返し周波数は波形発生装置の周波数変調機能を用い、表
1に示すように実施例1〜10では高周波、低周波の2
つの周波数を用い、比較例1〜4では周波数変調を行わ
ずに400または200Hzのいずれかの周波数のみとし
た。また、レーザビームのスポット径は5μmとし、直
径95mmのNiPメッキAl基板を表1に示す周速で
等速回転させ、かつレーザービームを半径方向に1mm
/sで移動させつつレーザビーム照射を行った。
【0026】実施例1〜5においては、密集部分は円周
方向に連続する2個の突起により構成されており、ま
た、実施例6においては密集部分は円周方向に連続する
4個の突起により構成されている。また、実施例7にお
いては、密集部分は2個の突起により構成されている
が、このうちの一方の突起の高さは18nm、もう一方
の突起の高さは14nmである。また、実施例8〜10
は、密集部分は円周方向に連続する2個の突起により構
成されている。以上のレーザービーム照射により形成さ
れた突起の間隔D1、D2、およびその平均((D1+
D2)/2)を表1に併せて示す。比較例1〜4は、突
起が等間隔で形成されている。
【0027】
【表1】
【0028】前記実施例1〜10、比較例1〜4により
得られた基板に、引き続き、基板温度200℃にて下地
層としてCr100nm、磁性層としてCoCrTa合
金20nm、保護膜としてカーボン20nmを逐次スパ
ッタ成膜し、さらにPFPE(パーフルオロポリエーテ
ル)系潤滑剤を塗布成膜して磁気記録媒体を作成した。
【0029】得られた磁気記録媒体について、CSS1
0000回後の突起の削れ量の測定、およびCSS特性
の評価を行った。それぞれの結果を表2、表3に示す。
なお、突起の削れ量は、CSS時にAir Bearing Surfac
e の下にあった突起の中で最も削れている突起の高さを
測定し、それ以外の部分の突起高さとの差によって求め
た。
【0030】
【表2】
【0031】
【表3】
【0032】表2に示すように、本発明の実施例1〜1
0の磁気記録媒体は、突起の削れ量が減少していること
が確認された。特に、実施例1〜6の削れ量の減少は著
しい。また、表3に示すように、本発明の実施例1〜1
0の磁気記録媒体は、CSS特性の改善も達成されたこ
とが確認された。
【0033】以上本発明を実施例に基づいて説明した
が、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、特
許請求の範囲に記載の構成を変更しない限りどのように
でも実施することができる。例えば、基板の上に成膜す
る各層、下地膜、磁性膜、保護膜、潤滑剤等は、特にそ
の材質や組成、成膜方法等を限定するものではなく、公
知の材料、公知の方法を適宜に選定、組み合わせて使用
することができる。
【0034】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ヘッドと基板との間の摩擦係数を増加させずに、突起1
個1個に負荷される最大荷重量を低減させることができ
る。このことにより、突起の削れが低減し、CSS特性
の劣化、ヘッドクラッシュ等を防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の1実施の形態を示す平面図である。
【図2】 本発明の1実施の形態を示す平面図である。
【図3】 本発明の1実施の形態を示す平面図である。
【図4】 本発明の1実施の形態を示す平面図である。
【図5】 本発明における突起同士の間隔を説明する図
である。
【図6】 レーザービーム照射によるクレーター状突起
を示す斜視図である。
【図7】 レーザービーム照射による突起の1形態を示
す断面図である。
【図8】 ヘッドを概略的に示す斜視図である。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板表面に複数の突起が形成された磁気
    記録媒体において、突起が他の部分よりも密に形成され
    た密集部分が存在することを特徴とする磁気記録媒体。
  2. 【請求項2】 密集部分は、突起が円周方向に連続的に
    形成された請求項1に記載の磁気記録媒体。
  3. 【請求項3】 密集部分は、突起が半径方向に連続的に
    形成された請求項1に記載の磁気記録媒体。
  4. 【請求項4】 突起が、レーザビーム照射により形成さ
    れたクレーター状の突起である請求項1〜3のいずれか
    に記載の磁気記録媒体。
  5. 【請求項5】 密集部分は、2個以上10個以下の突起
    が連続的に形成されたものであり、密集部分における突
    起の外端部間隔D1が0.1〜10μm、密集部分同士
    の間隔D2が10〜100μmである請求項1〜4のい
    ずれかに記載の磁気記録媒体。
  6. 【請求項6】 間隔D1が0.1〜5.0μm、間隔D
    2が20〜50μmである請求項5に記載の磁気記録媒
    体。
  7. 【請求項7】 基板表面にレーザービームを照射して突
    起を形成する磁気記録媒体の製造方法において、パルス
    の繰り返し周波数が異なるレーザービームを交互に照射
    することを特徴とする磁気記録媒体の製造方法。
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