JPH10327000A - プリント基板の検査プログラム設定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 経験や勘に頼ることなく短時間で検査内容に
最適の検査プログラムを設定することができるプリント
基板の検査プログラム設定方法を提供する。 【解決手段】 複数に用意された検査手法とその検査レ
ベルに対応させて複数の検査プログラムを作成し、この
検査プログラムにより所定数の既知のＯＫ基板とＮＧ基
板とについて検査を実行させ、検査結果を統計処理して
各検査プログラムによる計測値のうちＯＫ基板とＮＧ基
板とが最も分離しているものを最適の検査プログラムと
して採用する。この処理手順は自動的に実行させること
ができるので、誰にでも短時間で検査プログラムを設定
することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、複数に用意された
検査手法に基づいて複数に作成された検査プログラムの
中から検査内容に最適の検査プログラムを自動処理によ
り決定するプリント基板の検査プログラム設定方法に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】プリント基板の製造工程においては、電
子部品の装着位置、半田付け状態等の検査が実施され
る。この検査においては、不良箇所が無いＯＫ（合格）
基板と不良箇所の有るＮＧ（不合格）基板とを判定する
検査プログラムが設定され、この検査プログラムに基づ
いて検査が実行される。この検査プログラムを設定する
従来方法の手順を図４にフローチャートとして示す。

【０００３】この設定方法では、検査対象とするプリン
ト基板をスキャンして得た画像データをもとに、検査内
容に対応する検査プログラムを作成し、合格、不合格が
判定済みのＯＫ基板とＮＧ基板とを複数枚（約５０枚〜
１００枚）混在させたプリント基板について、作成した
検査プログラムによりテスト検査を実行する。この検査
結果について、許容誤差を越える過検出や不良箇所の見
逃しがないか、検査プログラムの妥当性を判断する。こ
こで過検出や見逃しがあった場合には、作成した検査プ
ログラムを調整する。この検査プログラムの調整、テス
ト検査、検査プログラムの妥当性判断を繰り返し（通常
５回〜１０回繰り返す）、検査プログラムの妥当性が適
当と判断されたときに、この検査プログラムを用いて実
際の検査を開始する。

【０００４】実際の検査においても、検査プログラムの
妥当性が判断され、過検出や見逃しがない場合には検査
を継続する。過検出や見逃しがある場合には、検査プロ
グラムの再調整を行って実際の検査を再開する。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来方法では、検査プログラムの調整はオペレータの経験
や勘に基づく判断で妥当性を決定していたため、オペレ
ータによって検査プログラムの完成度にばらつきが生
じ、調整時間も長くなる問題点があった。

【０００６】また、検査プログラムを調整するためのテ
スト検査に所要数のプリント基板を繰り返し検査ライン
に流す必要があり、この間の所要時間が長くなる問題点
もあった。

【０００７】本発明の目的とするところは、オペレータ
による検査プログラム設定のばらつきをなくし、調整時
間を削減することができるプリント基板の検査プログラ
ム設定方法を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明は、検査内容毎に複数に設定された検査手法に
基づいて作成された複数の検査プログラムにより所定数
のプリント基板について検査を実行して、検査結果の統
計処理から検査内容に最適の検査プログラムを決定する
ことを特徴とするプリント基板の検査プログラム設定方
法である。

【０００９】上記方法によれば、プリント基板の検査内
容に最適の検査プログラムを設定するために、検査内容
毎に複数に用意されている複数の検査手法に対応させて
複数の検査プログラムを所定の手順により作成し、この
複数の検査プログラムを用いて所定数のプリント基板の
検査を実施した結果を統計処理することにより、検査プ
ログラム毎の不良箇所の過検出や見逃しの有無が判定で
きるので、この結果から最適の検査プログラムを決定す
ることができる。これらの作業は予め設定された手順に
より自動的に実行させることができるので、オペレータ
の勘に左右されず経験に頼ることもなく、検査プログラ
ムの設定のための時間を短縮させることができる。

【００１０】上記方法は、合格及び不合格が判定済みの
所定数のプリント基板について検査した計測値の分布を
統計処理した分布パターンから前記合格と不合格とが最
も分離している検査プログラムを最適の検査プログラム
として決定することにより、既知の不良箇所の過検出や
見逃しがないことが判定でき、オペレータの判断によら
ず自動的に最適の検査プログラムの決定を行うことがで
きる。

【００１１】また、決定した検査プログラムの合格と不
合格との分布パターンの中間位置に合否判定の閾値を設
定することにより、この検査プログラムを用いた検査に
おいて合格と不合格とを判定する基準が設定される。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、図１〜図３を参照して、本
発明の一実施形態に係る検査プログラム設定方法につい
て説明する。尚、図１のフローチャート中に示すＳ１、
Ｓ２…は処理手順を示すステップ番号で、本文中に添記
する番号と一致する。

【００１３】まず、検査対象とするプリント基板の画像
データを得るために、該当するプリント基板をスキャン
して画像データを取り込む（Ｓ１）。この画像データに
基づいて検査内容によって複数に用意されている検査手
法について、複数の検査プログラムを作成する（Ｓ
２）。例えば、基板上に装着された電子部品の装着位置
を検査する場合には、画像データ上の電子部品のエッジ
検出から複数箇所の位置ずれ量等を検出する検査手法
や、電極部のパターンマッチングにより位置ずれ角度を
検出する検査手法等があり、それぞれに検出精度や適性
があり、また、それぞれに検出するパラメータにより検
出レベルの設定方法が異なるので、最適の検査プログラ
ムを選定するため、それぞれの検査手法毎に検査レベル
を設定して複数の検査プログラムを設定する。

【００１４】ステップＳ２で作成された複数本の検査プ
ログラムにより、予めオペレータによって不良箇所の無
いＯＫ（合格）基板と不良箇所の有るＮＧ（不合格）基
板とが判断されている基板の検査、すなわち、ＯＫとＮ
Ｇとが既知である所要枚数のプリント基板についての検
査を実施する（Ｓ３）。この検査結果から、複数本の各
検査プログラムそれぞれについて、ＯＫ基板及びＮＧ基
板それぞれの計測値の分布を作成する（Ｓ４）。この計
測値の分布状態は、図２の（１）〜（ｎ）に示すよう
に、各検査プログラム毎に作成される。

【００１５】図２において、各検査プログラム毎の計測
値の分布グラフは、基板上の電子部品装着位置を各検査
プログラムにより計測した場合の例を示すもので、横軸
の計測値毎に計測された度数を統計処理して縦軸に表示
し、分布グラフとしたものである。不良箇所の過検出が
ある場合には、ＯＫ基板であっても閾値線ｔを越えてＮ
Ｇ基板の側にも分布し、不良箇所の見逃しがある場合に
は、ＮＧ基板であっても閾値線ｔを越えてＯＫ基板の側
にも分布する分布状態となる。従って、ＯＫ基板の計測
値の分布とＮＧ基板の計測値の分布とが分離している検
査プログラムが過検出や見逃しがなく、この検査内容に
適した検査プログラムとして決定することができる。

【００１６】上記統計処理によるＯＫ基板とＮＧ基板と
による計測値の分布に分離したものの有無について判断
し（Ｓ５）、分離したものがない場合には、新たに複数
の検査プログラムを別に作成して（Ｓ６）、ステップＳ
３からの処理を繰り返す。分離したものがある場合に
は、最も分離した状態が得られる検査プログラムを選択
する（Ｓ７）。図２に示す例では、（３）及び（ｎ）の
検査プログラムがＯＫ基板及びＮＧ基板それぞれの計測
値分布が分離しており、この中から最も分離している
（３）の検査プログラムが採用される。

【００１７】ステップＳ７の処理により選択採用された
検査プログラムについて、図３に示すように、オペレー
タが設定した閾値線ｔの位置は、ＯＫ基板の計測値の分
布を見て、例えば一つの例として、ＯＫ基板とＮＧ基板
の中央値にする。また、別の例として、過判定（ＯＫを
ＮＧと判定）よりは、見逃し（ＮＧをＯＫと判定）をし
たくないために、ＯＫとＮＧ分布の中央値ではなく、Ｏ
Ｋ側１／４に設定する。このように閾値線ｔの位置は、
予め定義した特定位置に設定できるようにする（Ｓ
８）。

【００１８】上記処理手順により決定された検査プログ
ラムを用いて実際の検査を開始する（Ｓ９）。この検査
結果から、過検出や見逃しがない妥当性を判断して（Ｓ
１０）、検査結果が妥当であるときは検査が継続され、
妥当でないときには、ステップＳ２に戻って、再度複数
本の検査プログラムの作成から繰り返す。

【００１９】この検査プログラムの設定は、検査内容毎
に複数に用意されている検査手法とその検査レベルとを
検査装置の記憶部に保持させておき、上記処理動作を実
行させることにより自動的に最適の検査プログラムを設
定することができる。従って、オペレータは検査内容の
設定と、所定数のＯＫ基板及びＮＧ基板を準備するだけ
でよく、勘や経験に頼ることなく、検査精度のばらつき
がなくなり、検査プログラムの調整時間を短縮すること
ができる。

【００２０】

【発明の効果】以上の説明の通り本発明によれば、プリ
ント基板の検査内容に最適の検査プログラムを設定する
ために、複数の検査手法や検査手法毎の検査レベルに対
応させて複数の検査プログラムを所定の手順により作成
し、この複数の検査プログラムを用いて所定数のプリン
ト基板の検査を実施した結果を統計処理することによ
り、検査プログラム毎の不良箇所の過検出や見逃しの有
無が判定できるので、ここから最適の検査プログラムを
決定することができる。これらの作業は予め設定された
手順により自動的に実行させることができるので、オペ
レータの勘に左右されず経験に頼ることもなく、検査プ
ログラムの設定のための時間を短縮させることができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るプリント基板の検査プログラム設
定方法の処理手順を示すフローチャート。

【図２】ＯＫ基板とＮＧ基板との計測値の分布を統計処
理した例を示すグラフ。

【図３】ＯＫ基板とＮＧ基板との閾値線の変更を説明す
るグラフ。

【図４】従来例に係る検査プログラムの設定方法を示す
フローチャート。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 検査内容毎に複数に設定された検査手法
   に基づいて作成された複数の検査プログラムにより所定
   数のプリント基板について検査を実行して、検査結果の
   統計処理から検査内容に最適の検査プログラムを決定す
   ることを特徴とするプリント基板の検査プログラム設定
   方法。
2. 【請求項２】 合格及び不合格が判定済みの所定数のプ
   リント基板について検査した計測値の分布を統計処理し
   た分布パターンから前記合格と不合格とが最も分離して
   いる検査プログラムを最適の検査プログラムとして決定
   する請求項１記載のプリント基板の検査プログラム設定
   方法。
3. 【請求項３】 決定した検査プログラムの合格、不合格
   の各分布パターンの間の特定位置に合否判定の閾値を設
   定する請求項１または２記載のプリント基板の検査プロ
   グラム設定方法。