JPH1040281A - マスクｒｏｍレイアウトパターン検証装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＲＯＭ真理値データの確認と座標値データの
確認が一度にできず、ＲＯＭデータの再作成を手作業で
行う必要があるため、確認に多くの労力と時間を要す
る。 【解決手段】 アドレスデコーダ情報４とＲＯＭデータ
１に基づいてＲＯＭ真理値データ作成手段７がＲＯＭ真
理値データを作成し、そのＲＯＭ真理値データとＲＯＭ
矩形の配置位置を記述した座標値情報９に基づく座標値
データより、レイアウトデータ作成手段１２にてレイア
ウトデータを作成し、さらにレイアウトデータ情報付加
手段１３にてそのレイアウトデータに、ＲＯＭデータ
１、アドレスデコーダ情報４、座標値情報９を付加して
付加情報レイアウトデータを作成し、それを表示する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、マスクＲＯＭを
内蔵した集積回路にＲＯＭデータを書き込むために作成
されるレイアウトパターンを検証するマスクＲＯＭレイ
アウトパターン検証装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図９は、従来のマスクＲＯＭレイアウト
パターン検証装置の構成を示すブロック図である。図に
おいて、１はＲＯＭデータ、２はＲＯＭデータ読み込み
手段、３はＲＯＭデータ記憶手段、４はアドレスデコー
ダ情報、５はアドレスデコーダ情報読み込み手段、６は
アドレスデコーダ情報記憶手段、７はＲＯＭ真理値デー
タ作成手段、８はＲＯＭ真理値データ記憶手段、９は座
標値情報、１０は座標値情報読み込み手段、１１は座標
値データ記憶手段である。

【０００３】なお、ＲＯＭ真理値データ記憶手段８から
はＲＯＭ真理値データがＲＯＭ真理値リスト２０として
出力される。また、２１はアドレスデコーダ情報記憶手
段６のデータからＲＯＭデータを再作成するＲＯＭデー
タ再作成手段、２２は再作成されたＲＯＭデータとＲＯ
Ｍデータ記憶手段３のデータとの比較を行うＲＯＭデー
タ比較手段であり、これらＲＯＭデータ再作成手段２１
およびＲＯＭデータ比較手段２２は人手作業によって実
施する。２３は座標値データ記憶手段１１に記憶されて
いる座標値データの外周部（最大Ｘ座標、全Ｙ座標と最
小Ｘ座標、全Ｙ座標、全Ｘ座標、最大Ｙ座標と全Ｘ座
標、最小Ｙ座標）を読み込み、外周部レイアウトデータ
を作成する外周部レイアウトデータ作成手段であり、２
４は外周部レイアウトデータ作成手段２３が出力する外
周部レイアウトデータを記憶する外周部レイアウトデー
タ記憶手段、２５は外周部レイアウトデータ記憶手段２
４から出力された外周部レイアウトデータを表示するデ
ィスプレイである。

【０００４】次に動作について説明する。図１０はマス
クＲＯＭレイアウトパターン検証動作の流れを示すフロ
ーチャートである。まずステップＳＴ１で検証を行うた
めのＲＯＭデータ１を作成し、ステップＳＴ２で開発す
る製品（マスクＲＯＭ内蔵型集積回路）のＲＯＭアドレ
ス情報から、エディタを用いてアドレスデコーダ情報４
を作成する。次にステップＳＴ３においてアドレスデコ
ーダ情報４を読み込んで記憶し、ステップＳＴ４にてＲ
ＯＭデータ１を読み込んで記憶する。次にステップＳＴ
５に進んで、それらのアドレスデコーダ情報４およびＲ
ＯＭデータ１よりＲＯＭ真理値データを作成、記憶し
て、ステップＳＴ６にてそのＲＯＭ真理値データをＲＯ
Ｍ真理値リスト２０として出力する。

【０００５】次にステップＳＴ７において、出力された
ＲＯＭ真理値リスト２０を検証者が参照し、アドレスデ
コーダ情報記憶手段６に記憶されているアドレスデコー
ダ情報４をもとに、ＲＯＭデータを人手で再作成して、
ステップＳＴ８でその再作成されたＲＯＭデータと、Ｒ
ＯＭデータ記憶手段３に記憶されている元のＲＯＭデー
タ１とを目視で比較してチエックする。その結果、異常
があればステップＳＴ２の処理に戻ってアドレスデコー
ダ情報４を作成し直す。

【０００６】一方、異常がなければステップＳＴ９に分
岐して、開発するマスクＲＯＭ内蔵型集積回路のレイア
ウトデータからＲＯＭ矩形を発生させる位置の座標値を
読み取り、エディタを用いて座標値情報９の作成を行
う。次にステップＳＴ１０に進み、座標値情報読み込み
手段１０がその座標値情報９を読み込んで座標値データ
を作成し、それを座標値データ記憶手段１１に記憶す
る。次に外周部レイアウトデータ作成手段２３がステッ
プＳＴ１１において、この座標値データ記憶手段１１に
記憶されている座標値データより、ＲＯＭ部分の外周部
（最大Ｘ座標、全Ｙ座標と最小Ｘ座標、全Ｙ座標、全Ｘ
座標、最大Ｙ座標と全Ｘ座標、最小Ｙ座標）のレイアウ
トデータを作成し、その外周部レイアウトデータを外周
部レイアウトデータ記憶手段２４に記憶する。

【０００７】このようにして作成され、外周部レイアウ
トデータ記憶手段２４に記憶された外周部レイアウトデ
ータは、ステップＳＴ１２においてディスプレイ２５上
に表示される。検証者がステップＳＴ１３において、こ
のディスプレイ２５に表示された外周部レイアウトデー
タを目視でチェックし、異常があれば処理をステップＳ
Ｔ９に戻して座標値情報９を作成し直す。一方、異常が
なければこの一連のレイアウトパターン検証の動作は終
了となる。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】従来のマスクＲＯＭレ
イアウトパターン検証装置は以上のように構成されてい
るので、ＲＯＭコードがレイアウトに正しく配列されて
いるかというＲＯＭ真理値データの確認、およびレイア
ウトデータが開発するマスクＲＯＭ内蔵型集積回路内の
正しい位置に配置されているかという座標値データの確
認を、検証者が目視で行う必要があり、ＲＯＭ真理値デ
ータの確認と座標値データの確認を一度に行うことがで
きないばかりか、手作業で検証データを作成する部分、
すなわちＲＯＭデータの再作成があるため、その確認に
多くの労力と時間を要するという課題があった。

【０００９】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、レイアウトデータにＲＯＭデー
タ、アドレスデコーダ情報、座標値データを付加するこ
とで、ＲＯＭ真理値データの確認と座標値データの確認
を一度に、しかも視覚的に行えるとともに、検証に要す
る労力と時間を削減できるマスクＲＯＭレイアウトパタ
ーン検証装置を得ることを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明に係
るマスクＲＯＭレイアウトパターン検証装置は、アドレ
スデコーダ情報とＲＯＭデータに基づいてＲＯＭ真理値
データ作成手段の作成したＲＯＭ真理値データとＲＯＭ
矩形の配置位置を記述した座標値情報による座標値デー
タより、レイアウトデータの作成を行うレイアウトデー
タ作成手段、および、そのレイアウトデータにＲＯＭデ
ータ、アドレスデコーダ情報、座標値データを付加して
付加情報レイアウトデータの作成を行うレイアウトデー
タ情報付加手段を備えたものである。

【００１１】請求項２記載の発明に係るマスクＲＯＭレ
イアウトパターン検証装置は、さらに、ＲＯＭデータ、
アドレスデコーダ情報、座標値データを付加して作成さ
れた付加情報レイアウトデータの表示形態を、表示情報
にしたがって変化させて表示する付加情報レイアウトデ
ータ表示手段を設けたものである。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態１．図１はこの発明の実施の形態１によるマ
スクＲＯＭレイアウトパターン検証装置の構成を示すブ
ロック図である。図において、１は検証を行うためのＲ
ＯＭコードを記述したＲＯＭデータであり、２はこのＲ
ＯＭデータ１の読み込みを行うＲＯＭデータ読み込み手
段、３は読み込まれたＲＯＭデータ１を記憶するＲＯＭ
データ記憶手段である。４は開発される製品であるマス
クＲＯＭ内蔵型集積回路に対応したＲＯＭアドレス情報
を記述したアドレスデコーダ情報であり、５はこのアド
レスデコーダ情報４の読み込みを行うアドレスデコーダ
情報読み込み手段、６は読み込まれたアドレスデコーダ
情報４を記憶するアドレスデコーダ情報記憶手段であ
る。７はＲＯＭデータ記憶手段３に記憶されたＲＯＭデ
ータと、アドレスデコーダ情報記憶手段６に記憶された
アドレスデコーダ情報４をもとに、ＲＯＭ真理値データ
の作成を行うＲＯＭ真理値データ作成手段であり、８は
このＲＯＭ真理値データ作成手段７が出力するＲＯＭ真
理値データを記憶するＲＯＭ真理値データ記憶手段であ
る。９は開発されるマスクＲＯＭ内蔵型集積回路に対応
したＲＯＭ矩形をレイアウトパターンのどの位置に配置
するかを記述した座標値情報であり、１０はこの座標値
情報９を読み込んで座標値データを作成する座標値情報
読み込み手段、１１は座標値情報読み込み手段１０が作
成した座標値データを記憶する座標値データ記憶手段で
ある。なお、これら各部分は、図９に同一符号を付して
示した従来のそれらに相当するものである。

【００１３】また、１２はＲＯＭ真理値データ記憶手段
８に記憶されているＲＯＭ真理値データと、座標値デー
タ記憶手段１１に記憶されている座標値データに基づい
てレイアウトデータを作成するレイアウトデータ作成手
段である。１３はこのレイアウトデータ作成手段１２の
作成したレイアウトデータに、ＲＯＭデータ記憶手段３
に記憶されているＲＯＭデータ１、アドレスデコーダ情
報記憶手段６に記憶されているアドレスデコーダ情報
４、および座標値データ記憶手段１１に記憶されている
座標値データ等を付加して付加情報レイアウトデータを
作成するレイアウトデータ情報付加手段である。１４は
このレイアウトデータ情報付加手段１３が出力する付加
情報レイアウトデータを記憶する付加情報レイアウトデ
ータ記憶手段であり、１５はこの付加情報レイアウトデ
ータ記憶手段１４から出力された付加情報レイアウトデ
ータを表示するディスプレイである。

【００１４】次に動作について説明する。図２はマスク
ＲＯＭレイアウトパターン検証動作の流れを示すフロー
チャートである。はじめにステップＳＴ２１にて、検証
を行うためのＲＯＭデータ１を作成するとともに、ステ
ップＳＴ２２において、開発するマスクＲＯＭ内蔵型集
積回路のＲＯＭアドレス情報から、エディタを用いてア
ドレスデコーダ情報４を作成する。次にステップＳＴ２
３において、当該マスクＲＯＭ内蔵型集積回路のレイア
ウトデータからＲＯＭ矩形を発生させる位置の座標値を
読み取り、エディタを用いて座標値情報９を作成してお
く。

【００１５】その後、ステップＳＴ２４に進んで、開発
するマスクＲＯＭ内蔵型集積回路のアドレスデコーダ情
報４をアドレスデコーダ情報読み込み手段５によって読
み込み、それをアドレスデコーダ情報記憶手段６に記憶
する。次にステップＳＴ２５において、ＲＯＭデータ読
み込み手段２によって検証を行うためのＲＯＭデータ１
を読み込み、それをＲＯＭデータ記憶手段３に記憶す
る。次にステップＳＴ２６に進み、ＲＯＭ真理値データ
作成手段７が、アドレスデコーダ情報記憶手段６の記憶
しているアドレスデコーダ情報４をもとに、ＲＯＭデー
タ記憶手段３の記憶しているＲＯＭデータ１からＲＯＭ
真理値データを作成して、それをＲＯＭ真理値データ記
憶手段８に記憶する。なお、これまでの動作は、座標値
情報９の作成以外、従来のマスクＲＯＭレイアウトパタ
ーン検証装置の場合と同様である。

【００１６】次にステップＳＴ２７において、座標値情
報読み込み手段１０が座標値情報９を読み込んで座標値
データを作成し、それを座標値データ記憶手段１１に記
憶する。なお、この座標値データは、座標値情報９より
読み込んだ値をそのまま用いるようにしてもよい。次い
でレイアウトデータ作成手段１２がステップＳＴ２８に
おいて、この座標値データ記憶手段１１に記憶されてい
る座標値データをもとに、ＲＯＭ真理値データ記憶手段
８に記憶されているＲＯＭ真理値データからレイアウト
データを作成する。図３にこのレイアウトデータのイメ
ージ図を示す。このレイアウトデータは、図示のよう
に、各ＲＯＭ矩形がＲＯＭメモリ内のそれぞれの座標値
情報に応じた位置に配列されたものである。

【００１７】次にステップＳＴ２９に進んで、レイアウ
トデータ情報付加手段１３がこのレイアウトデータ作成
手段１２の作成したレイアウトデータに対して、ＲＯＭ
データ記憶手段３に記憶されているＲＯＭデータ１、ア
ドレスデコーダ情報記憶手段６に記憶されているアドレ
スデコーダ情報４、および座標値データ記憶手段１１に
記憶されている座標値データ等を付加して付加情報レイ
アウトデータを作成し、それを付加情報レイアウトデー
タ記憶手段１４に記憶する。図４にこの付加情報レイア
ウトデータのイメージ図を示す。図示のように、ＲＯＭ
メモリ内に配列された各ＲＯＭ矩形ごとに、それぞれの
アドレスデコーダ情報４、ＲＯＭデータ１および座標値
データが付加されている。

【００１８】このようにして作成され、付加情報レイア
ウトデータ記憶手段１４に記憶された付加情報レイアウ
トデータは、ステップＳＴ３０においてディスプレイ１
５上に表示される。検証者はステップＳＴ３１におい
て、このディスプレイ１５に表示された付加情報レイア
ウトデータの異常の有無を目視にてチェックする。その
結果、異常があれば、再度アドレスデコーダ情報４の作
成を行うために処理をステップＳＴ２２に戻す。一方、
異常がなければこの一連のレイアウトパターン検証の動
作は終了となる。

【００１９】このように、この実施の形態１によれば、
レイアウトデータのＲＯＭ矩形ごとに付加情報としてＲ
ＯＭデータ１、アドレスデコーダ情報４、座標値データ
が表示されるため、ＲＯＭ真理値データの確認と座標値
データの確認が一度に短時間で検証できる効果があり、
さらに、ＲＯＭデータ１、アドレスデコーダ情報４が一
度に確認できるようになるため、手作業で行っていたＲ
ＯＭデータの再作成も不要となる効果がある。

【００２０】実施の形態２．上記実施の形態１において
は、付加情報レイアウトデータをそのまま画面表示する
場合について説明したが、この付加情報レイアウトデー
タを画面表示する際に、視覚的に分かりやすくするた
め、ＲＯＭ矩形をその表示輝度を変えたり、表示色を変
えて表示するようにしてもよい。

【００２１】図５はこの発明の実施の形態２によるマス
クＲＯＭレイアウトパターン検証装置の構成を示すブロ
ック図である。図において、１６は付加情報レイアウト
データの表示に際して、ＲＯＭ矩形の表示輝度や表示色
などの表示形態を変えるための表示情報、１７はその表
示情報１６の読み込みを行う表示情報読み込み手段であ
り、１８はこの表示情報読み込み手段１７が読み込んだ
表示情報１６に基づいて、付加情報レイアウトデータ記
憶手段１４に記憶されている付加情報レイアウトデータ
を、その表示形態を変えてディスプレイ１５に表示する
付加情報レイアウトデータ表示手段である。なお、他の
部分には、図１に示した実施の形態１の相当部分と同一
符号を付してその説明を省略する。

【００２２】また、図６はＲＯＭデータ１の内容によっ
てＲＯＭ矩形の表示形態を変えるようにした場合の表示
例を示す説明図であり、ＲＯＭデータ１が“１”のＲＯ
Ｍ矩形をハイライト、または所定の色で表示している。
図７はＲＯＭデータビットごとにＲＯＭ矩形の表示形態
を変えるようにした場合の表示例を示す説明図であり、
ＲＯＭデータビット“０”および“２”のＲＯＭ矩形を
ハイライト、または所定の色で表示している。なお、こ
れら図６および図７においては、ハッチングによってそ
のハイライト、または所定の色での表示を示している。

【００２３】次に動作について説明する。図８はマスク
ＲＯＭレイアウトパターン検証動作の流れを示すフロー
チャートである。なお、はじめにステップＳＴ４１でＲ
ＯＭデータ１を作成してから、ステップＳＴ４９にてレ
イアウトデータ情報付加手段１３が、レイアウトデータ
にＲＯＭデータ１、アドレスデコーダ情報４、座標値デ
ータ等を付加して付加情報レイアウトデータを作成し、
それを付加情報レイアウトデータ記憶手段１４に記憶す
るまでの動作は、図２のステップＳＴ２１からステップ
ＳＴ２９までに示した実施の形態１の動作と同様である
ため、ここではその説明は省略する。

【００２４】レイアウトデータ情報付加手段１３によっ
て作成された付加情報レイアウトデータが付加情報レイ
アウトデータ記憶手段１４に記憶されると、処理はステ
ップＳＴ５０に進んで、表示情報読み込み手段１７がＲ
ＯＭ矩形の表示輝度や表示色などの表示形態を変えるた
めの表示情報１６の読み込みを行う。次にステップＳＴ
５１において、付加情報レイアウトデータ表示手段１８
がこの表示情報読み込み手段１７の読み込んだ表示情報
１６にしたがって、付加情報レイアウトデータ記憶手段
１４に記憶されている付加情報レイアウトデータの表示
形態を、図６あるいは図７に示すように変えてディスプ
レイ１５に表示する。検証者はステップＳＴ５２におい
て、この表示形態を変えてディスプレイ１５に表示され
た付加情報レイアウトデータの異常の有無を目視でチェ
ックする。その結果、異常があれば、再度アドレスデコ
ーダ情報４の作成を行うために処理をステップＳＴ４２
に戻し、異常がなければこの一連のレイアウトパターン
検証の動作を終了する。

【００２５】このように、この実施の形態２によれば、
実施の形態１の効果に加えて、付加情報レイアウトデー
タが表示形態を変えて表示されるようになるため、付加
情報レイアウトデータの目視によるチェックを視覚的に
行うことが可能となり、異常箇所の発見がより容易にな
る効果がある。

【００２６】

【発明の効果】以上のように、請求項１記載の発明によ
れば、レイアウトデータ作成手段の作成したレイアウト
データに、レイアウトデータ情報付加手段でＲＯＭデー
タ、アドレスデコーダ情報および座標値データを付加
し、その付加情報レイアウトデータを表示するように構
成したので、ＲＯＭ真理値データと座標値データの確認
が一度にできるようになり、さらに手作業で行われてい
たＲＯＭデータの再作成も不要となるため、マスクＲＯ
Ｍレイアウトパターン検証の簡単化が図れ、検証に要す
る労力を軽減することができて、検証時間も短縮できる
効果がある。

【００２７】請求項２記載の発明によれば、表示情報に
したがって付加情報レイアウトデータの表示形態を変え
るように構成したので、マスクＲＯＭレイアウトパター
ン検証を視覚化することができ、異常箇所をより容易に
発見することができる効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】 この発明の実施の形態１によるマスクＲＯＭ
レイアウトパターン検証装置の構成を示すブロック図で
ある。

【図２】 この発明の実施の形態１におけるレイアウト
パターン検証動作の流れを示すフローチャートである。

【図３】 この発明の実施の形態１におけるレイアウト
データを示すイメージ図である。

【図４】 この発明の実施の形態１における付加情報レ
イアウトデータを示すイメージ図である。

【図５】 この発明の実施の形態２によるマスクＲＯＭ
レイアウトパターン検証装置の構成を示すブロック図で
ある。

【図６】 この発明の実施の形態２における付加情報レ
イアウトデータの表示例を示す説明図である。

【図７】 この発明の実施の形態２における付加情報レ
イアウトデータの他の表示例を示す説明図である。

【図８】 この発明の実施の形態２におけるレイアウト
パターン検証動作の流れを示すフローチャートである。

【図９】 従来のマスクＲＯＭレイアウトパターン検証
装置の構成を示すブロック図である。

【図１０】 従来のレイアウトパターン検証動作の流れ
を示すフローチャートである。

【符号の説明】

１ ＲＯＭデータ、４ アドレスデコーダ情報、７ Ｒ
ＯＭ真理値データ作成手段、９ 座標値情報、１２ レ
イアウトデータ作成手段、１３ レイアウトデータ情報
付加手段、１６ 表示情報、１８ 付加情報レイアウト
データ表示手段。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 マスクＲＯＭ内蔵型集積回路へのＲＯＭ
   データの書き込みのために作成されるレイアウトパター
   ンの検証を行うマスクＲＯＭレイアウトパターン検証装
   置において、 前記マスクＲＯＭ内蔵型集積回路に対応したＲＯＭアド
   レス情報を記述したアドレスデコーダ情報と、このマス
   クＲＯＭ内蔵型集積回路に対応したＲＯＭデータとを読
   み込んで、ＲＯＭ真理値データを作成するＲＯＭ真理値
   データ作成手段と、 前記マスクＲＯＭ内蔵型集積回路に対応したＲＯＭ矩形
   の配置位置を記述した座標値情報に基づく座標値データ
   と、前記ＲＯＭ真理値データ作成手段の作成したＲＯＭ
   真理値データとからレイアウトデータを作成するレイア
   ウトデータ作成手段と、 前記レイアウトデータ作成手段の作成したレイアウトデ
   ータに、前記ＲＯＭデータ、アドレスデコーダ情報、お
   よび座標値データを付加して付加情報レイアウトデータ
   を作成するレイアウトデータ情報付加手段とを備えたこ
   とを特徴とするマスクＲＯＭレイアウトパターン検証装
   置。
2. 【請求項２】 レイアウトデータ情報付加手段が作成し
   た付加情報レイアウトデータを、与えられた表示情報に
   応じてその表示形態を変えて表示する付加情報レイアウ
   トデータ表示手段を設けたことを特徴とする請求項１記
   載のマスクＲＯＭレイアウトパターン検証装置。