JPH05190810A - マスクｒｏｍレイアウトパターン検証装置 - Google Patents
マスクｒｏｍレイアウトパターン検証装置Info
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- JPH05190810A JPH05190810A JP4005354A JP535492A JPH05190810A JP H05190810 A JPH05190810 A JP H05190810A JP 4005354 A JP4005354 A JP 4005354A JP 535492 A JP535492 A JP 535492A JP H05190810 A JPH05190810 A JP H05190810A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＲＯＭ真理値データのリストやマスクＲＯＭ
レイアウトパターンの表示の目視による確認作業および
ＬＳＩの製造やその動作テストを不要とし、検証に要す
る労力と時間および費用を節減する。 【構成】 検証用真理値情報記憶手段１に、シリーズご
とに最大のＲＯＭ容量を持つ品種の真理値情報を検証用
として保持しておき、その情報をもとに検証用レイアウ
トパターン作成手段１５において開発品種に対応した検
証用レイアウトパターンを作成し、比較手段１７におい
て当該開発品種のマスクＲＯＭレイアウトパターンと比
較する。
レイアウトパターンの表示の目視による確認作業および
ＬＳＩの製造やその動作テストを不要とし、検証に要す
る労力と時間および費用を節減する。 【構成】 検証用真理値情報記憶手段１に、シリーズご
とに最大のＲＯＭ容量を持つ品種の真理値情報を検証用
として保持しておき、その情報をもとに検証用レイアウ
トパターン作成手段１５において開発品種に対応した検
証用レイアウトパターンを作成し、比較手段１７におい
て当該開発品種のマスクＲＯＭレイアウトパターンと比
較する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、マスクＲＯＭ内蔵形
ＬＳＩへＲＯＭコードを書き込むために作成するレイア
ウトパターンの検証に用いられるマスクＲＯＭレイアウ
トパターン検証装置に関する。
ＬＳＩへＲＯＭコードを書き込むために作成するレイア
ウトパターンの検証に用いられるマスクＲＯＭレイアウ
トパターン検証装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図６は、従来のマスクＲＯＭレイアウト
パターン検証装置の構成を示すブロック図である。同図
において、４は検証を行うためのＲＯＭコードを記述し
たＲＯＭコードファイル、５はＲＯＭコードファイル４
を読み込むＲＯＭコードファイル読み込み手段、６は品
種に対応したＲＯＭアドレス情報を記述したＲＯＭアド
レス情報ファイル、７はＲＯＭアドレス情報ファイル６
を読み込むＲＯＭアドレス情報ファイル読み込み手段を
示す。また８はＲＯＭコードファイル４とＲＯＭアドレ
ス情報ファイル６から読み込んだデータをもとに真理値
データを作成するＲＯＭ真理値データ作成手段、９はＲ
ＯＭ真理値データ作成手段８が出力するＲＯＭ真理値デ
ータを記憶するＲＯＭ真理値データ記憶手段を示し、２
３はＲＯＭ真理値データ記憶手段９が記憶しているＲＯ
Ｍ真理値データをプリンタへ出力したＲＯＭ真理値リス
トを示す。
パターン検証装置の構成を示すブロック図である。同図
において、４は検証を行うためのＲＯＭコードを記述し
たＲＯＭコードファイル、５はＲＯＭコードファイル４
を読み込むＲＯＭコードファイル読み込み手段、６は品
種に対応したＲＯＭアドレス情報を記述したＲＯＭアド
レス情報ファイル、７はＲＯＭアドレス情報ファイル６
を読み込むＲＯＭアドレス情報ファイル読み込み手段を
示す。また８はＲＯＭコードファイル４とＲＯＭアドレ
ス情報ファイル６から読み込んだデータをもとに真理値
データを作成するＲＯＭ真理値データ作成手段、９はＲ
ＯＭ真理値データ作成手段８が出力するＲＯＭ真理値デ
ータを記憶するＲＯＭ真理値データ記憶手段を示し、２
３はＲＯＭ真理値データ記憶手段９が記憶しているＲＯ
Ｍ真理値データをプリンタへ出力したＲＯＭ真理値リス
トを示す。
【０００３】一方１０は品種に対応したＲＯＭ矩形をレ
イアウトパターン上のどの位置に配置するかを記述した
座標値情報ファイル、１１は座標値情報ファイル１０を
読み込み、座標値データを作成する座標値情報ファイル
読み込み手段、１２は座標値情報ファイル読み込み手段
１１が出力する座標値データを記憶する座標値データ記
憶手段である。また１３はＲＯＭ真理値データ記憶手段
９と座標値データ記憶手段１２とにそれぞれ記憶されて
いる品種対応の真理値データと座標値データとを読み込
み、マスクＲＯＭレイアウトパターンを作成するマスク
ＲＯＭレイアウトパターン作成手段、１４はマスクＲＯ
Ｍレイアウトパターン作成手段１３が出力するマスクＲ
ＯＭレイアウトパターンを記憶するマスクＲＯＭレイア
ウトパターン記憶手段を示し、２４はマスクＲＯＭレイ
アウトパターン記憶手段１４からディスプレイ上へ出力
したマスクＲＯＭレイアウトパターンの表示を示す。
イアウトパターン上のどの位置に配置するかを記述した
座標値情報ファイル、１１は座標値情報ファイル１０を
読み込み、座標値データを作成する座標値情報ファイル
読み込み手段、１２は座標値情報ファイル読み込み手段
１１が出力する座標値データを記憶する座標値データ記
憶手段である。また１３はＲＯＭ真理値データ記憶手段
９と座標値データ記憶手段１２とにそれぞれ記憶されて
いる品種対応の真理値データと座標値データとを読み込
み、マスクＲＯＭレイアウトパターンを作成するマスク
ＲＯＭレイアウトパターン作成手段、１４はマスクＲＯ
Ｍレイアウトパターン作成手段１３が出力するマスクＲ
ＯＭレイアウトパターンを記憶するマスクＲＯＭレイア
ウトパターン記憶手段を示し、２４はマスクＲＯＭレイ
アウトパターン記憶手段１４からディスプレイ上へ出力
したマスクＲＯＭレイアウトパターンの表示を示す。
【０００４】さらに２５はマスクＲＯＭレイアウトパタ
ーン記憶手段１４から出力されるマスクＲＯＭレイアウ
トパターンをもとにマスクＲＯＭ内蔵形のＬＳＩを製造
するＬＳＩ製造手段、そして２６はＬＳＩ製造手段２５
で製造されたＬＳＩに対し、ＲＯＭコードファイル４に
記述されたＲＯＭコードを用いて動作テストを行うＬＳ
Ｉ動作テスト手段を示す。
ーン記憶手段１４から出力されるマスクＲＯＭレイアウ
トパターンをもとにマスクＲＯＭ内蔵形のＬＳＩを製造
するＬＳＩ製造手段、そして２６はＬＳＩ製造手段２５
で製造されたＬＳＩに対し、ＲＯＭコードファイル４に
記述されたＲＯＭコードを用いて動作テストを行うＬＳ
Ｉ動作テスト手段を示す。
【０００５】次に動作について図７を用いて説明する。
まず、検証を行うためのＲＯＭコードを読み込んでＲＯ
Ｍコードファイル４を作成するとともに（ステップＳ２
１）、開発する品種のＲＯＭアドレス情報から、エデイ
タを用いてＲＯＭアドレス情報ファイル６を作成する
（ステップＳ２２）。また同じく開発する品種のレイア
ウトデータからＲＯＭ矩形を発生させる座標値を読み取
り、エデイタを用いて座標値情報ファイル１０を作成す
る（ステップＳ２３）。
まず、検証を行うためのＲＯＭコードを読み込んでＲＯ
Ｍコードファイル４を作成するとともに（ステップＳ２
１）、開発する品種のＲＯＭアドレス情報から、エデイ
タを用いてＲＯＭアドレス情報ファイル６を作成する
（ステップＳ２２）。また同じく開発する品種のレイア
ウトデータからＲＯＭ矩形を発生させる座標値を読み取
り、エデイタを用いて座標値情報ファイル１０を作成す
る（ステップＳ２３）。
【０００６】次いで上記ＲＯＭアドレス情報ファイル６
およびＲＯＭコードファイル４を読み込み（ステップＳ
２４、２５）、ＲＯＭ真理値データを作成する（ステッ
プＳ２６）。作成したＲＯＭ真理値データはＲＯＭ真理
値リスト２３として出力され（ステップＳ２７）、これ
を検証者が目視でチェックする（ステップＳ２８）。そ
の結果異常があればステップＳ２２の実行に戻り、ＲＯ
Ｍアドレス情報ファイル６を作成し直す。
およびＲＯＭコードファイル４を読み込み（ステップＳ
２４、２５）、ＲＯＭ真理値データを作成する（ステッ
プＳ２６）。作成したＲＯＭ真理値データはＲＯＭ真理
値リスト２３として出力され（ステップＳ２７）、これ
を検証者が目視でチェックする（ステップＳ２８）。そ
の結果異常があればステップＳ２２の実行に戻り、ＲＯ
Ｍアドレス情報ファイル６を作成し直す。
【０００７】ＲＯＭ真理値リストに異常がなければ、座
標値情報ファイル１０を読み込み（ステップＳ２９）、
真理値データと座標値データとをもとにマスクＲＯＭレ
イアウトパターンを作成する（ステップＳ３０）。作成
したマスクＲＯＭレイアウトパターンはディスプレイ上
に表示され（ステップＳ３１）、これを検証者が目視で
チェックする（ステップＳ３２）。異常があれば、ステ
ップＳ２３の実行に戻り、座標値情報ファイルを作成し
直す。
標値情報ファイル１０を読み込み（ステップＳ２９）、
真理値データと座標値データとをもとにマスクＲＯＭレ
イアウトパターンを作成する（ステップＳ３０）。作成
したマスクＲＯＭレイアウトパターンはディスプレイ上
に表示され（ステップＳ３１）、これを検証者が目視で
チェックする（ステップＳ３２）。異常があれば、ステ
ップＳ２３の実行に戻り、座標値情報ファイルを作成し
直す。
【０００８】マスクＲＯＭレイアウトパターンに異常が
なければ、このパターンをもとに実際にマスクＲＯＭ内
蔵形ＬＳＩの製造を行い（ステップＳ３３）、製造した
ＬＳＩについて動作テストを行う（ステップＳ３４）。
その結果を判定し（ステップＳ３５）、異常がなければ
検証処理は終了となるが、異常があればＲＯＭアドレス
情報ファイルの作成（ステップＳ２２）からやり直す。
なければ、このパターンをもとに実際にマスクＲＯＭ内
蔵形ＬＳＩの製造を行い（ステップＳ３３）、製造した
ＬＳＩについて動作テストを行う（ステップＳ３４）。
その結果を判定し（ステップＳ３５）、異常がなければ
検証処理は終了となるが、異常があればＲＯＭアドレス
情報ファイルの作成（ステップＳ２２）からやり直す。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】以上のように従来は、
プリントアウトされたＲＯＭ真理値リストおよびディス
プレイ上に表示されたマスクＲＯＭレイアウトパターン
を検証者が目視して、ＲＯＭコードがＬＳＩ内のＲＯＭ
に正しく配列されているか否か、またマスクＲＯＭレイ
アウトパターンが正しく配置されているか否かを確認す
るため、その確認に多くの労力と時間を要していた。ま
た、ＲＯＭコードがＬＳＩ内のＲＯＭに正しく書き込ま
れたか否かを検証するには、新しい品種のマスクＲＯＭ
内蔵形ＬＳＩの開発で検証が必要となるごとに、実際に
ＬＳＩを製造して動作テストを行わなければならないた
め、一層多くの労力と時間を要するのみならず検証費用
がかさむという問題があった。
プリントアウトされたＲＯＭ真理値リストおよびディス
プレイ上に表示されたマスクＲＯＭレイアウトパターン
を検証者が目視して、ＲＯＭコードがＬＳＩ内のＲＯＭ
に正しく配列されているか否か、またマスクＲＯＭレイ
アウトパターンが正しく配置されているか否かを確認す
るため、その確認に多くの労力と時間を要していた。ま
た、ＲＯＭコードがＬＳＩ内のＲＯＭに正しく書き込ま
れたか否かを検証するには、新しい品種のマスクＲＯＭ
内蔵形ＬＳＩの開発で検証が必要となるごとに、実際に
ＬＳＩを製造して動作テストを行わなければならないた
め、一層多くの労力と時間を要するのみならず検証費用
がかさむという問題があった。
【００１０】この発明の目的は、目視による確認ならび
にＬＳＩの製造および動作テストを不要とすることで、
検証に要する労力と時間および費用を節減できるマスク
ＲＯＭレイアウトパターン検証装置を提供することにあ
る。
にＬＳＩの製造および動作テストを不要とすることで、
検証に要する労力と時間および費用を節減できるマスク
ＲＯＭレイアウトパターン検証装置を提供することにあ
る。
【００１１】
【課題を解決するための手段】この発明に係る第１のマ
スクＲＯＭレイアウトパターン検証装置は、マスクＲＯ
Ｍ内蔵形ＬＳＩのシリーズごとにこのシリーズの品種の
うち最大のＲＯＭ容量を持つ品種の真理値情報を記憶し
た検証用真理値情報記憶手段と、検証用真理値情報記憶
手段に記憶されている検証用真理値情報を読み込んで新
しく開発する品種に対応した検証用真理値データを作成
する検証用真理値データ作成手段と、検証用真理値デー
タと座標値データとを読み込んで検証用レイアウトパタ
ーンを作成する検証用レイアウトパターン作成手段と、
検証用レイアウトパターンとマスクＲＯＭレイアウトパ
ターンとを比較するレイアウトパターン比較手段とを備
えたものである。
スクＲＯＭレイアウトパターン検証装置は、マスクＲＯ
Ｍ内蔵形ＬＳＩのシリーズごとにこのシリーズの品種の
うち最大のＲＯＭ容量を持つ品種の真理値情報を記憶し
た検証用真理値情報記憶手段と、検証用真理値情報記憶
手段に記憶されている検証用真理値情報を読み込んで新
しく開発する品種に対応した検証用真理値データを作成
する検証用真理値データ作成手段と、検証用真理値デー
タと座標値データとを読み込んで検証用レイアウトパタ
ーンを作成する検証用レイアウトパターン作成手段と、
検証用レイアウトパターンとマスクＲＯＭレイアウトパ
ターンとを比較するレイアウトパターン比較手段とを備
えたものである。
【００１２】またこの発明に係る第２のマスクＲＯＭレ
イアウトパターン検証装置は、第１のマスクＲＯＭレイ
アウトパターン検証装置においてさらに、検証用真理値
データ作成手段により作成された検証用真理値データ
と、ＲＯＭ真理値データ作成手段により作成されたＲＯ
Ｍ真理値データとを比較する真理値データ比較手段を備
えたものである。
イアウトパターン検証装置は、第１のマスクＲＯＭレイ
アウトパターン検証装置においてさらに、検証用真理値
データ作成手段により作成された検証用真理値データ
と、ＲＯＭ真理値データ作成手段により作成されたＲＯ
Ｍ真理値データとを比較する真理値データ比較手段を備
えたものである。
【００１３】この発明に係る第３のマスクＲＯＭレイア
ウトパターン検証装置は、マスクＲＯＭ内蔵形ＬＳＩの
シリーズごとにこのシリーズの品種のうち最大のＲＯＭ
容量を持つ品種のＲＯＭ矩形をレイアウトパターン上の
どこに配置するかを記憶した検証用レイアウトパターン
情報記憶手段と、検証用レイアウトパターン情報記憶手
段に記憶されているレイアウトパターンを読み込んで新
しく開発する品種に対応した検証用レイアウトパターン
を作成する検証用レイアウトパターン作成手段と、検証
用レイアウトパターンとマスクＲＯＭレイアウトパター
ンとを比較するレイアウトパターン比較手段とを備えた
ものである。
ウトパターン検証装置は、マスクＲＯＭ内蔵形ＬＳＩの
シリーズごとにこのシリーズの品種のうち最大のＲＯＭ
容量を持つ品種のＲＯＭ矩形をレイアウトパターン上の
どこに配置するかを記憶した検証用レイアウトパターン
情報記憶手段と、検証用レイアウトパターン情報記憶手
段に記憶されているレイアウトパターンを読み込んで新
しく開発する品種に対応した検証用レイアウトパターン
を作成する検証用レイアウトパターン作成手段と、検証
用レイアウトパターンとマスクＲＯＭレイアウトパター
ンとを比較するレイアウトパターン比較手段とを備えた
ものである。
【００１４】
【作用】第１のマスクＲＯＭレイアウトパターン検証装
置では、予めシリーズごとにこのシリーズの品種のうち
最大のＲＯＭ容量を持つ品種の真理値情報が検証用とし
て保持されており、新しく品種を開発する場合、この保
持されている検証用の情報をもとに当該品種に対応した
検証用真理値データ、さらにこの検証用真理値データと
座標値データとを用いて検証用レイアウトパターンが作
成される。そして開発する品種のマスクＲＯＭレイアウ
トパターンをこれと比較することでこのマスクＲＯＭレ
イアウトパターンの検証が行われる。
置では、予めシリーズごとにこのシリーズの品種のうち
最大のＲＯＭ容量を持つ品種の真理値情報が検証用とし
て保持されており、新しく品種を開発する場合、この保
持されている検証用の情報をもとに当該品種に対応した
検証用真理値データ、さらにこの検証用真理値データと
座標値データとを用いて検証用レイアウトパターンが作
成される。そして開発する品種のマスクＲＯＭレイアウ
トパターンをこれと比較することでこのマスクＲＯＭレ
イアウトパターンの検証が行われる。
【００１５】第２のマスクＲＯＭレイアウトパターン検
証装置ではさらに、上述のように最大のＲＯＭ容量を持
つ品種の真理値情報より作成された検証用真理値データ
と、開発する品種に対応して作成されたＲＯＭ真理値デ
ータとの間の比較も行われる。これにより、レイアウト
パターンの比較において異常が発生した場合に、その原
因がＲＯＭ真理値データまたはマスクＲＯＭレイアウト
パターンのいずれにあるかを特定することが容易にな
る。
証装置ではさらに、上述のように最大のＲＯＭ容量を持
つ品種の真理値情報より作成された検証用真理値データ
と、開発する品種に対応して作成されたＲＯＭ真理値デ
ータとの間の比較も行われる。これにより、レイアウト
パターンの比較において異常が発生した場合に、その原
因がＲＯＭ真理値データまたはマスクＲＯＭレイアウト
パターンのいずれにあるかを特定することが容易にな
る。
【００１６】第３のマスクＲＯＭレイアウトパターン検
証装置では、予めシリーズごとにこのシリーズの品種の
うち最大のＲＯＭ容量を持つ品種のＲＯＭ矩形をレイア
ウトパターン上のどこに配置するかを記憶した検証用レ
イアウトパターン情報が検証用として保持されているた
め、新しく品種を開発する場合、この保持されている情
報をもとにこの品種に対応した検証用レイアウトパター
ンが作成される。そしてマスクＲＯＭレイアウトパター
ンをこれと比較することでこのマスクＲＯＭレイアウト
パターンの検証が行われる。
証装置では、予めシリーズごとにこのシリーズの品種の
うち最大のＲＯＭ容量を持つ品種のＲＯＭ矩形をレイア
ウトパターン上のどこに配置するかを記憶した検証用レ
イアウトパターン情報が検証用として保持されているた
め、新しく品種を開発する場合、この保持されている情
報をもとにこの品種に対応した検証用レイアウトパター
ンが作成される。そしてマスクＲＯＭレイアウトパター
ンをこれと比較することでこのマスクＲＯＭレイアウト
パターンの検証が行われる。
【００１７】
【実施例】実施例１．以下、この発明の一実施例を図に
ついて説明する。図１は本実施例のマスクＲＯＭレイア
ウトパターン検証装置のブロック図である。同図におい
て、１はマスクＲＯＭ内蔵形ＬＳＩのシリーズごとにシ
リーズ内最大のＲＯＭ容量を持つ品種の真理値情報を検
証用として記憶する検証用真理値情報記憶手段を示す。
ここで検証用真理値情報とは、例えば図２に示すように
「１」と「０」とが交互に配列しているような特異な真
理値である。
ついて説明する。図１は本実施例のマスクＲＯＭレイア
ウトパターン検証装置のブロック図である。同図におい
て、１はマスクＲＯＭ内蔵形ＬＳＩのシリーズごとにシ
リーズ内最大のＲＯＭ容量を持つ品種の真理値情報を検
証用として記憶する検証用真理値情報記憶手段を示す。
ここで検証用真理値情報とは、例えば図２に示すように
「１」と「０」とが交互に配列しているような特異な真
理値である。
【００１８】２は、検証用真理値情報記憶手段１から検
証用真理値情報を読み込み、キーボードから入力される
シリーズ名とビット構成およびＸ方向とＹ方向の真理値
の配列数等からなる検証情報２０に従って、開発する品
種に対応した検証用真理値データを自動作成する検証用
真理値データ作成手段、３は検証用真理値データ作成手
段２が出力する品種対応の検証用真理値データを記憶す
る検証用真理値データ記憶手段を示す。また４は上記検
証用真理値データを考慮したＲＯＭコードが記述された
ＲＯＭコードファイルであり、以下、図６と同一符号は
同一もしくは相当部分を示す。
証用真理値情報を読み込み、キーボードから入力される
シリーズ名とビット構成およびＸ方向とＹ方向の真理値
の配列数等からなる検証情報２０に従って、開発する品
種に対応した検証用真理値データを自動作成する検証用
真理値データ作成手段、３は検証用真理値データ作成手
段２が出力する品種対応の検証用真理値データを記憶す
る検証用真理値データ記憶手段を示す。また４は上記検
証用真理値データを考慮したＲＯＭコードが記述された
ＲＯＭコードファイルであり、以下、図６と同一符号は
同一もしくは相当部分を示す。
【００１９】１５は検証用真理値データ記憶手段３と座
標値データ記憶手段１２とのそれぞれ記憶されている品
種対応の検証用真理値データと座標値データとを読み込
み、検証用レイアウトパターンを作成する検証用レイア
ウトパターン作成手段、１６は検証用レイアウトパター
ン作成手段１５が出力する検証用レイアウトパターンを
記憶する検証用レイアウトパターン記憶手段である。こ
の検証用レイアウトパターン記憶手段１６に記憶されて
いる検証用レイアウトパターンのイメージを図３に示
す。
標値データ記憶手段１２とのそれぞれ記憶されている品
種対応の検証用真理値データと座標値データとを読み込
み、検証用レイアウトパターンを作成する検証用レイア
ウトパターン作成手段、１６は検証用レイアウトパター
ン作成手段１５が出力する検証用レイアウトパターンを
記憶する検証用レイアウトパターン記憶手段である。こ
の検証用レイアウトパターン記憶手段１６に記憶されて
いる検証用レイアウトパターンのイメージを図３に示
す。
【００２０】１７は、マスクＲＯＭレイアウトパターン
記憶手段１４と検証用レイアウトパターン記憶手段１６
とにそれぞれ記憶されているレイアウトパターンを読み
込み、両者の比較を行うレイアウトパターン比較手段で
ある。
記憶手段１４と検証用レイアウトパターン記憶手段１６
とにそれぞれ記憶されているレイアウトパターンを読み
込み、両者の比較を行うレイアウトパターン比較手段で
ある。
【００２１】次に動作について図４を用いて説明する。
はじめに、検証を考慮したＲＯＭコードを読み込んでＲ
ＯＭコードファイル４を作成するとともに（ステップＳ
１）、開発する品種のＲＯＭアドレス情報から、エデイ
タを用いてＲＯＭアドレス情報ファイル６を作成する
（ステップＳ２）。また開発する品種のレイアウトデー
タからＲＯＭ矩形を発生させる座標値を読み取り、エデ
イタを用いて座標値情報ファイル１０を作成しておく
（ステップＳ３）。これまでは従来と同様である。
はじめに、検証を考慮したＲＯＭコードを読み込んでＲ
ＯＭコードファイル４を作成するとともに（ステップＳ
１）、開発する品種のＲＯＭアドレス情報から、エデイ
タを用いてＲＯＭアドレス情報ファイル６を作成する
（ステップＳ２）。また開発する品種のレイアウトデー
タからＲＯＭ矩形を発生させる座標値を読み取り、エデ
イタを用いて座標値情報ファイル１０を作成しておく
（ステップＳ３）。これまでは従来と同様である。
【００２２】次いでキーボードより検証情報２０を入力
する（ステップＳ４）。次に検証用真理値情報記憶手段
１に記憶されている真理値情報をもとに、上記検証情報
に従って、開発する品種に対応した検証用真理値データ
を作成する（ステップＳ５）。また座標値情報ファイル
１０の読み込みを行う（ステップＳ６）。そして検証用
真理値データ記憶手段３に記憶されている検証用真理値
データを読み込み、座標値データ記憶手段１２に記憶さ
れている座標値データをもとに、検証用レイアウトパタ
ーンを作成する（ステップＳ７）。
する（ステップＳ４）。次に検証用真理値情報記憶手段
１に記憶されている真理値情報をもとに、上記検証情報
に従って、開発する品種に対応した検証用真理値データ
を作成する（ステップＳ５）。また座標値情報ファイル
１０の読み込みを行う（ステップＳ６）。そして検証用
真理値データ記憶手段３に記憶されている検証用真理値
データを読み込み、座標値データ記憶手段１２に記憶さ
れている座標値データをもとに、検証用レイアウトパタ
ーンを作成する（ステップＳ７）。
【００２３】一方で、開発する品種のＲＯＭアドレス情
報ファイル６を読み込むとともにＲＯＭコードファイル
４を読み込み（ステップＳ８，Ｓ９）、ＲＯＭアドレス
情報をもとにＲＯＭコードからＲＯＭ真理値データを作
成する（ステップＳ１０）。また座標値情報ファイル１
０を読み込み（ステップＳ１１）、ＲＯＭ真理値データ
からマスクＲＯＭレイアウトパターンを作成する（ステ
ップＳ１２）。これらの処理も従来と同様である。
報ファイル６を読み込むとともにＲＯＭコードファイル
４を読み込み（ステップＳ８，Ｓ９）、ＲＯＭアドレス
情報をもとにＲＯＭコードからＲＯＭ真理値データを作
成する（ステップＳ１０）。また座標値情報ファイル１
０を読み込み（ステップＳ１１）、ＲＯＭ真理値データ
からマスクＲＯＭレイアウトパターンを作成する（ステ
ップＳ１２）。これらの処理も従来と同様である。
【００２４】最後に、ステップＳ７で作成した検証用レ
イアウトパターンとステップＳ１２で作成したマスクＲ
ＯＭレイアウトパターンとの比較を行う（ステップＳ１
３）。比較の結果が正常でなければ（ステップＳ１
４）、再度ＲＯＭアドレス情報ファイル６の作成を行う
ためステップＳ２へ戻るが、正常であれば検証処理を終
了する。ＲＯＭ真理値データのリストやマスクＲＯＭレ
イアウトパターンの表示を目視によりチェックする必要
はなく、実際にＬＳＩを製造してその動作テストを行う
必要も一切ない。
イアウトパターンとステップＳ１２で作成したマスクＲ
ＯＭレイアウトパターンとの比較を行う（ステップＳ１
３）。比較の結果が正常でなければ（ステップＳ１
４）、再度ＲＯＭアドレス情報ファイル６の作成を行う
ためステップＳ２へ戻るが、正常であれば検証処理を終
了する。ＲＯＭ真理値データのリストやマスクＲＯＭレ
イアウトパターンの表示を目視によりチェックする必要
はなく、実際にＬＳＩを製造してその動作テストを行う
必要も一切ない。
【００２５】実施例２．なお、上述した第１の実施例に
おいて、検証用真理値データ記憶手段３に記憶されてい
る検証用真理値データと、ＲＯＭ真理値データ記憶手段
９に記憶されているＲＯＭ真理値データとを読み込み、
両者の比較を行う真理値データ比較手段を設ければ、レ
イアウトパターン比較手段１７によるレイアウトパター
ンの比較において異常が発生した場合に、上記真理値デ
ータ比較手段による比較結果が正常であるか否かによっ
て、その異常の原因がＲＯＭ真理値データにあるのか、
あるいはマスクＲＯＭレイアウトパターンにあるのか
を、短時間で検証することが可能になる。
おいて、検証用真理値データ記憶手段３に記憶されてい
る検証用真理値データと、ＲＯＭ真理値データ記憶手段
９に記憶されているＲＯＭ真理値データとを読み込み、
両者の比較を行う真理値データ比較手段を設ければ、レ
イアウトパターン比較手段１７によるレイアウトパター
ンの比較において異常が発生した場合に、上記真理値デ
ータ比較手段による比較結果が正常であるか否かによっ
て、その異常の原因がＲＯＭ真理値データにあるのか、
あるいはマスクＲＯＭレイアウトパターンにあるのか
を、短時間で検証することが可能になる。
【００２６】実施例３．上述した実施例においては、シ
リーズごとに最大のＲＯＭ容量を持つ品種の真理値情報
を保持しておき、その情報をもとに新たな品種を開発す
るごとにこの品種に対応した検証用真理値データを作成
し、さらにこの検証用真理値データと座標値データとか
ら検証用レイアウトパターンを作成していたが、予めシ
リーズごとに最大のＲＯＭ容量を持つ品種の真理値情報
および座標値情報より検証用レイアウトパターン情報を
作成して保持しておいてもよい。図５にその例を示す。
同図において、１８はマスクＲＯＭ内蔵形ＬＳＩのシリ
ーズごとにシリーズ内最大のＲＯＭ容量を持つ品種のＲ
ＯＭ矩形の位置を記憶した検証用レイアウトパターン情
報記憶手段、１９は検証用レイアウトパターン情報記憶
手段１８よりデータを読み込み、キーボードから入力さ
れた検証情報２０に従って、開発する品種に対応した検
証用レイアウトパターンを作成する検証用レイアウトパ
ターン作成手段である。
リーズごとに最大のＲＯＭ容量を持つ品種の真理値情報
を保持しておき、その情報をもとに新たな品種を開発す
るごとにこの品種に対応した検証用真理値データを作成
し、さらにこの検証用真理値データと座標値データとか
ら検証用レイアウトパターンを作成していたが、予めシ
リーズごとに最大のＲＯＭ容量を持つ品種の真理値情報
および座標値情報より検証用レイアウトパターン情報を
作成して保持しておいてもよい。図５にその例を示す。
同図において、１８はマスクＲＯＭ内蔵形ＬＳＩのシリ
ーズごとにシリーズ内最大のＲＯＭ容量を持つ品種のＲ
ＯＭ矩形の位置を記憶した検証用レイアウトパターン情
報記憶手段、１９は検証用レイアウトパターン情報記憶
手段１８よりデータを読み込み、キーボードから入力さ
れた検証情報２０に従って、開発する品種に対応した検
証用レイアウトパターンを作成する検証用レイアウトパ
ターン作成手段である。
【００２７】本実施例においては、レイアウトパターン
比較手段１７において、検証用レイアウトパターン記憶
手段１６から読み込んだ検証用レイアウトパターンと、
マスクＲＯＭレイアウトパターン記憶手段１４から読み
込んだマスクＲＯＭレイアウトパターンとを比較するこ
とにより検証が行われ、この場合もＲＯＭ真理値データ
のリストやマスクＲＯＭレイアウトパターンの表示の目
視によるチェックやＬＳＩの製造・動作テストなどは一
切不要である。
比較手段１７において、検証用レイアウトパターン記憶
手段１６から読み込んだ検証用レイアウトパターンと、
マスクＲＯＭレイアウトパターン記憶手段１４から読み
込んだマスクＲＯＭレイアウトパターンとを比較するこ
とにより検証が行われ、この場合もＲＯＭ真理値データ
のリストやマスクＲＯＭレイアウトパターンの表示の目
視によるチェックやＬＳＩの製造・動作テストなどは一
切不要である。
【００２８】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、シリー
ズごとに最大のＲＯＭ容量を持つ品種の真理値情報また
はレイアウトパターン情報を保持しておき、その情報を
もとに開発品種に対応した検証用レイアウトパターンを
作成し、この開発品種のマスクＲＯＭレイアウトパター
ンと比較するようにしたことにより、検証に要する労力
と時間および費用が節減できる効果がある。
ズごとに最大のＲＯＭ容量を持つ品種の真理値情報また
はレイアウトパターン情報を保持しておき、その情報を
もとに開発品種に対応した検証用レイアウトパターンを
作成し、この開発品種のマスクＲＯＭレイアウトパター
ンと比較するようにしたことにより、検証に要する労力
と時間および費用が節減できる効果がある。
【００２９】また、最大ＲＯＭ容量の品種の真理値情報
をもとに作成した開発品種対応の検証用真理値データと
開発品種のＲＯＭ真理値データとを比較する手段を加え
た場合は、さらに、レイアウトパターンどうしの比較に
おいて、異常が発生したときに、その原因がＲＯＭ真理
値データまたはマスクＲＯＭレイアウトパターンのいず
れにあるのかを短時間で検証できる効果を有する。
をもとに作成した開発品種対応の検証用真理値データと
開発品種のＲＯＭ真理値データとを比較する手段を加え
た場合は、さらに、レイアウトパターンどうしの比較に
おいて、異常が発生したときに、その原因がＲＯＭ真理
値データまたはマスクＲＯＭレイアウトパターンのいず
れにあるのかを短時間で検証できる効果を有する。
【図１】この発明の一実施例を示すマスクＲＯＭレイア
ウトパターン検証装置のブロック図である。
ウトパターン検証装置のブロック図である。
【図２】検証用真理値データの一例を示すイメージ図で
ある。
ある。
【図３】検証用レイアウトパターンの一例を示すイメー
ジ図である。
ジ図である。
【図４】図１の動作を示すフローチャートである。
【図５】他の実施例を示すブロック図である。
【図６】従来例を示すブロック図である。
【図７】図６の動作を示すフローチャートである。
１ 検証用真理値情報記憶手段 ２ 検証用真理値データ作成手段 ８ ＲＯＭ真理値データ作成手段 １１ 座標値情報ファイル読み込み手段 １３ マスクＲＯＭレイアウトパターン作成手段 １５，１９ 検証用レイアウトパターン作成手段 １７ レイアウトパターン比較手段 １８ 検証用レイアウトパターン情報記憶手段
Claims (3)
- 【請求項１】 マスクＲＯＭ内蔵形ＬＳＩへＲＯＭコー
ドを書き込むために作成されたレイアウトパターンを検
証するマスクＲＯＭレイアウトパターン検証装置におい
て、 マスクＲＯＭ内蔵形ＬＳＩのシリーズごとにこのシリー
ズの品種のうち最大のＲＯＭ容量を持つ品種の真理値情
報を記憶した検証用真理値情報記憶手段と、 検証用真理値情報記憶手段に記憶されている検証用真理
値情報を読み込み、新しく開発する品種に対応した検証
用真理値データを作成する検証用真理値データ作成手段
と、 ＲＯＭ矩形をレイアウトパターン上のどこに配置するか
を記述した座標値情報ファイルを読み込み、座標値デー
タを作成する座標値情報ファイル読み込み手段と、 検証用真理値データと座標値データとを読み込み、検証
用レイアウトパターンを作成する検証用レイアウトパタ
ーン作成手段と、 開発品種に対応したＲＯＭアドレス情報を記述したＲＯ
Ｍアドレス情報ファイルと、この品種に対応したＲＯＭ
コードを記述したＲＯＭコードファイルとを読み込み、
ＲＯＭ真理値データを作成するＲＯＭ真理値データ作成
手段と、 座標値データとＲＯＭ真理値データとを読み込み、マス
クＲＯＭレイアウトパターンを作成するマスクＲＯＭレ
イアウトパターン作成手段と、 検証用レイアウトパターンとマスクＲＯＭレイアウトパ
ターンとを比較するレイアウトパターン比較手段とを備
えたことを特徴とするマスクＲＯＭレイアウトパターン
検証装置。 - 【請求項２】 検証用真理値データ作成手段により作成
された検証用真理値データと、ＲＯＭ真理値データ作成
手段により作成されたＲＯＭ真理値データとを比較する
真理値データ比較手段を備えたことを特徴とする請求項
１記載のマスクＲＯＭレイアウトパターン検証装置。 - 【請求項３】 マスクＲＯＭ内蔵形ＬＳＩへＲＯＭコー
ドを書き込むために作成されたレイアウトパターンを検
証するマスクＲＯＭレイアウトパターン検証装置におい
て、 マスクＲＯＭ内蔵形ＬＳＩのシリーズごとにこのシリー
ズの品種のうち最大のＲＯＭ容量を持つ品種のＲＯＭ矩
形をレイアウトパターン上のどこに配置するかを記憶し
た検証用レイアウトパターン情報記憶手段と、 検証用レイアウトパターン情報記憶手段に記憶されてい
るレイアウトパターンを読み込み、新しく開発する品種
に対応した検証用レイアウトパターンを作成する検証用
レイアウトパターン作成手段と、 ＲＯＭ矩形をレイアウトパターン上のどこに配置するか
を記述した座標値情報ファイルを読み込み、座標値デー
タを作成する座標値情報ファイル読み込み手段と、 開発品種に対応したＲＯＭアドレス情報を記述したＲＯ
Ｍアドレス情報ファイルと、この品種に対応したＲＯＭ
コードを記述したＲＯＭコードファイルとを読み込み、
ＲＯＭ真理値データを作成するＲＯＭ真理値データ作成
手段と、 座標値データとＲＯＭ真理値データとを読み込み、マス
クＲＯＭレイアウトパターンを作成するマスクＲＯＭレ
イアウトパターン作成手段と、 検証用レイアウトパターンとマスクＲＯＭレイアウトパ
ターンとを比較するレイアウトパターン比較手段とを備
えたことを特徴とするマスクＲＯＭレイアウトパターン
検証装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4005354A JPH05190810A (ja) | 1992-01-16 | 1992-01-16 | マスクｒｏｍレイアウトパターン検証装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4005354A JPH05190810A (ja) | 1992-01-16 | 1992-01-16 | マスクｒｏｍレイアウトパターン検証装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05190810A true JPH05190810A (ja) | 1993-07-30 |
Family
ID=11608855
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4005354A Pending JPH05190810A (ja) | 1992-01-16 | 1992-01-16 | マスクｒｏｍレイアウトパターン検証装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05190810A (ja) |
-
1992
- 1992-01-16 JP JP4005354A patent/JPH05190810A/ja active Pending
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