JPH1041193A - 固体電解コンデンサの製造方法 - Google Patents
固体電解コンデンサの製造方法Info
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- JPH1041193A JPH1041193A JP8193785A JP19378596A JPH1041193A JP H1041193 A JPH1041193 A JP H1041193A JP 8193785 A JP8193785 A JP 8193785A JP 19378596 A JP19378596 A JP 19378596A JP H1041193 A JPH1041193 A JP H1041193A
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Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】 固体電解コンデンサのアルミ金属端子からな
る内部端子に対し、外部接続端子を溶接するに際して、
強度的に安定し、溶接時の発生熱を有効に放熱し、効率
のよい溶接を行なえるようにする。 【解決手段】 電極用の各金属箔に、内部端子としての
アルミ金属端子12、14を接続し、セパレータを介し
て巻回して得る固体電解質のコンデンサ素子を樹脂ケー
スに収納してエポキシ樹脂等のポッティング樹脂で封口
し、次いで封口側を金属端子とポッティング樹脂とが露
呈するように切断し、露呈された金属端子に外部接続端
子を接続する。外部接続端子40、42は、リン青銅の
帯体を所定形状に打ち抜き、曲げ加工すると共に、外部
接続端部側を部分的に半田メッキ処理し、外部接続端子
のレーザー光照射面において露呈された金属端子12、
14と平行に押圧当接して、それぞれ所定ピッチ偏位さ
せた複数のスポット50のレーザー溶接により接続す
る。
る内部端子に対し、外部接続端子を溶接するに際して、
強度的に安定し、溶接時の発生熱を有効に放熱し、効率
のよい溶接を行なえるようにする。 【解決手段】 電極用の各金属箔に、内部端子としての
アルミ金属端子12、14を接続し、セパレータを介し
て巻回して得る固体電解質のコンデンサ素子を樹脂ケー
スに収納してエポキシ樹脂等のポッティング樹脂で封口
し、次いで封口側を金属端子とポッティング樹脂とが露
呈するように切断し、露呈された金属端子に外部接続端
子を接続する。外部接続端子40、42は、リン青銅の
帯体を所定形状に打ち抜き、曲げ加工すると共に、外部
接続端部側を部分的に半田メッキ処理し、外部接続端子
のレーザー光照射面において露呈された金属端子12、
14と平行に押圧当接して、それぞれ所定ピッチ偏位さ
せた複数のスポット50のレーザー溶接により接続す
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、小形電子機器で使
用されるプリント基板等への表面実装に適した固体電解
コンデンサの製造方法に係り、特にコンデンサ素子の内
部端子に対する外部接続端子の好適な接続を行う固体電
解コンデンサの製造方法に関するものである。
用されるプリント基板等への表面実装に適した固体電解
コンデンサの製造方法に係り、特にコンデンサ素子の内
部端子に対する外部接続端子の好適な接続を行う固体電
解コンデンサの製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】今日、電子機器の小形化および携帯化が
進むに伴い、機器を構成する電子部品の高密度実装技術
が必要不可欠なものとなってきている。すなわち、高密
度実装化のため、電子部品の中でも多数使用される抵抗
器や積層セラミックコンデンサ等の小形化要求は強く、
現在ではチップ部品と呼ばれる大きさ1.6mmm×
0.8mm(1608部品)や1.0mmm×0.5m
m(1005部品)までが開発され、使用されている。
進むに伴い、機器を構成する電子部品の高密度実装技術
が必要不可欠なものとなってきている。すなわち、高密
度実装化のため、電子部品の中でも多数使用される抵抗
器や積層セラミックコンデンサ等の小形化要求は強く、
現在ではチップ部品と呼ばれる大きさ1.6mmm×
0.8mm(1608部品)や1.0mmm×0.5m
m(1005部品)までが開発され、使用されている。
【0003】このような小形化が要求される状況の下
で、比較的大容量の特性を有する電解コンデンサも従来
のような円筒形のリード端子付きのものから、より一層
の小形化を図り、表面実装に適したリードレスの角形固
体電解コンデンサが開発され、実施化されている。
で、比較的大容量の特性を有する電解コンデンサも従来
のような円筒形のリード端子付きのものから、より一層
の小形化を図り、表面実装に適したリードレスの角形固
体電解コンデンサが開発され、実施化されている。
【0004】この種の固体電解コンデンサの製造方法と
して、例えば図7の(A)〜(C)に示す製造方法が知
られている。なお、図7の(A)〜(C)は、従来の表
面実装用固体電解コンデンサの製造における主要工程
を、その工程順に概略的に示した外観斜視図である。
して、例えば図7の(A)〜(C)に示す製造方法が知
られている。なお、図7の(A)〜(C)は、従来の表
面実装用固体電解コンデンサの製造における主要工程
を、その工程順に概略的に示した外観斜視図である。
【0005】しかるに、図7の(A)において、参照符
号10はコンデンサ素子であり、このコンデンサ素子1
0はプラス電極およびマイナス電極用の各アルミ箔をセ
パレータを介して巻回したものである。なお、アルミ箔
を巻回する際には、予めコンデンサ素子10の端子取出
し口となるアルミ丸棒の金属端子12、14が、ステッ
チあるいは超音波溶接等によりそれぞれ取付けられてい
る。
号10はコンデンサ素子であり、このコンデンサ素子1
0はプラス電極およびマイナス電極用の各アルミ箔をセ
パレータを介して巻回したものである。なお、アルミ箔
を巻回する際には、予めコンデンサ素子10の端子取出
し口となるアルミ丸棒の金属端子12、14が、ステッ
チあるいは超音波溶接等によりそれぞれ取付けられてい
る。
【0006】このアルミ金属端子12、14には、さら
に鋼心入り銅被覆線に半田メッキを施したリード線(以
下、CP線と称する)16、18がそれぞれ溶接接続さ
れている。このコンデンサ素子10を、導電性の金属板
である搬送用フレーム20にプラス端子となる側のCP
線16を溶接等により取付ける。
に鋼心入り銅被覆線に半田メッキを施したリード線(以
下、CP線と称する)16、18がそれぞれ溶接接続さ
れている。このコンデンサ素子10を、導電性の金属板
である搬送用フレーム20にプラス端子となる側のCP
線16を溶接等により取付ける。
【0007】この搬送用フレーム20に多連状態(図示
せず)で取付けられた複数個のコンデンサ素子10を、
例えば硝酸マンガンに含浸して焼成し、電解層となる二
酸化マンガン層を形成した後、硼酸水溶液とアンモニア
等からなる化成液に浸漬する。そして、搬送用フレーム
20を介してコンデンサ素子10のアルミ金属端子12
側をプラス電位、化成液側をマイナス電位となるように
電圧を印加して液中化成処理を行う。この化成処理は、
切断した金属箔(陽極箔)の切り口や溶接したアルミ金
属端子12と金属箔との接続点等に耐電圧性酸化膜のな
い部分が生じないよう再化成して、耐電圧膜を形成する
ものである。なお、金属箔(陽極箔)を切断し、アルミ
金属端子12を溶接することにより、箔面積を大きくす
ることが可能となり、製品の能力を向上させることがで
きる。
せず)で取付けられた複数個のコンデンサ素子10を、
例えば硝酸マンガンに含浸して焼成し、電解層となる二
酸化マンガン層を形成した後、硼酸水溶液とアンモニア
等からなる化成液に浸漬する。そして、搬送用フレーム
20を介してコンデンサ素子10のアルミ金属端子12
側をプラス電位、化成液側をマイナス電位となるように
電圧を印加して液中化成処理を行う。この化成処理は、
切断した金属箔(陽極箔)の切り口や溶接したアルミ金
属端子12と金属箔との接続点等に耐電圧性酸化膜のな
い部分が生じないよう再化成して、耐電圧膜を形成する
ものである。なお、金属箔(陽極箔)を切断し、アルミ
金属端子12を溶接することにより、箔面積を大きくす
ることが可能となり、製品の能力を向上させることがで
きる。
【0008】次いで、図7の(B)において、前記化成
処理後にCP線16を切断して、搬送用フレーム20か
らコンデンサ素子10を外し、CP線16、18を図示
したように折曲げ加工する。
処理後にCP線16を切断して、搬送用フレーム20か
らコンデンサ素子10を外し、CP線16、18を図示
したように折曲げ加工する。
【0009】なお、前述したコンデンサ素子10を、硝
酸マンガンに含浸して焼成することにより、製品に50
0℃近くの熱が加わることから、CP線の半田メッキが
溶融し、このままでは半田付け不良となるため、CP線
16、18を切断した後、再度新たなCP線をアルミ金
属端子12、14に溶接していた。しかし、この場合、
前記新たなCP線の溶接時のチャッキング等により、製
品にストレスを加える難点がある。
酸マンガンに含浸して焼成することにより、製品に50
0℃近くの熱が加わることから、CP線の半田メッキが
溶融し、このままでは半田付け不良となるため、CP線
16、18を切断した後、再度新たなCP線をアルミ金
属端子12、14に溶接していた。しかし、この場合、
前記新たなCP線の溶接時のチャッキング等により、製
品にストレスを加える難点がある。
【0010】さらに、図7の(C)において、角形の樹
脂ケース22内にコンデンサ素子10を収納した後、樹
脂ケース22内にエポキシ樹脂等のポッティング樹脂2
4を注入してコンデンサ素子10を封口する。このポッ
ティング樹脂24の硬化後に、CP線16、18の余分
な長さを切断し、次いでCP線16、18を図示のよう
に角形樹脂ケースの側面に沿って再度折曲げ加工して完
成する。
脂ケース22内にコンデンサ素子10を収納した後、樹
脂ケース22内にエポキシ樹脂等のポッティング樹脂2
4を注入してコンデンサ素子10を封口する。このポッ
ティング樹脂24の硬化後に、CP線16、18の余分
な長さを切断し、次いでCP線16、18を図示のよう
に角形樹脂ケースの側面に沿って再度折曲げ加工して完
成する。
【0011】このようにして、電子部品のリード線を挿
通する透孔のない、いわゆるフェイスボンディング基板
に載置して使用される表面実装用に適したリードレス型
固体電解コンデンサを得ることができる。
通する透孔のない、いわゆるフェイスボンディング基板
に載置して使用される表面実装用に適したリードレス型
固体電解コンデンサを得ることができる。
【0012】しかし、前記の固体電解コンデンサの製造
方法によれば、固体電解コンデンサの外部端子として、
CP線16、18を折曲げ加工したものを使用している
ため、アルミ金属端子12、14にCP線16、18を
溶接する細かい作業工程を必要とする。さらに、液中化
成処理時にCP線16に化成液が這い上がった状態で電
圧を印加すると、CP線の半田メッキ部分、銅被覆部分
等が溶解(腐蝕)し、場合によってはCP線自体が切断
されてしまうため、化成液がCP線に這い上がらないよ
うな位置にコンデンサ素子10を保持すると共に、化成
液の液面高さの厳重な管理を行わなければならないとい
う問題点があった。
方法によれば、固体電解コンデンサの外部端子として、
CP線16、18を折曲げ加工したものを使用している
ため、アルミ金属端子12、14にCP線16、18を
溶接する細かい作業工程を必要とする。さらに、液中化
成処理時にCP線16に化成液が這い上がった状態で電
圧を印加すると、CP線の半田メッキ部分、銅被覆部分
等が溶解(腐蝕)し、場合によってはCP線自体が切断
されてしまうため、化成液がCP線に這い上がらないよ
うな位置にコンデンサ素子10を保持すると共に、化成
液の液面高さの厳重な管理を行わなければならないとい
う問題点があった。
【0013】このような観点から、本出願人は先に、プ
ラス電極およびマイナス電極用の各金属箔を、セパレー
タを介して巻回して形成したコンデンサ素子に、電解液
を含浸して焼成すると共に化成処理を施し、このコンデ
ンサ素子を樹脂ケースに収納してエポキシ樹脂等のポッ
ティング樹脂で封口する固体電解コンデンサの製造方法
において、両極電極箔にアルミニウムのみからなる金属
端子を取付け、搬送用フレームに接続する工程と、樹脂
ケースに封口後、樹脂ケースの封口側を金属端子とポッ
ティング樹脂とが露呈するよう所定個所で切断する工程
と、切断により露出した金属端子に外部接続用端子を接
続する工程とを設けたことを特徴とする固体電解コンデ
ンサの製造方法を開発し、特許出願を行った(特開平4
−286308号公報)。
ラス電極およびマイナス電極用の各金属箔を、セパレー
タを介して巻回して形成したコンデンサ素子に、電解液
を含浸して焼成すると共に化成処理を施し、このコンデ
ンサ素子を樹脂ケースに収納してエポキシ樹脂等のポッ
ティング樹脂で封口する固体電解コンデンサの製造方法
において、両極電極箔にアルミニウムのみからなる金属
端子を取付け、搬送用フレームに接続する工程と、樹脂
ケースに封口後、樹脂ケースの封口側を金属端子とポッ
ティング樹脂とが露呈するよう所定個所で切断する工程
と、切断により露出した金属端子に外部接続用端子を接
続する工程とを設けたことを特徴とする固体電解コンデ
ンサの製造方法を開発し、特許出願を行った(特開平4
−286308号公報)。
【0014】すなわち、この発明に係る固体電解コンデ
ンサの製造方法は、図8の(A)〜(D)に示すように
構成される。まず、図3の(A)において、搬送用フレ
ーム20には長い方のアルミ金属端子12を溶接等で固
定したコンデンサ素子10が取付けられている。このコ
ンデンサ素子10は、従来と同様に電解液に浸漬させて
焼成後、化成処理される。このコンデンサ素子10を成
形加工されたテーパー付き角形樹脂ケース32内に収納
する。この際、このコンデンサ素子10と前記樹脂ケー
ス32との位置合わせは、それ程厳密な合わせ精度を必
要とせず、容易に挿入することができる。
ンサの製造方法は、図8の(A)〜(D)に示すように
構成される。まず、図3の(A)において、搬送用フレ
ーム20には長い方のアルミ金属端子12を溶接等で固
定したコンデンサ素子10が取付けられている。このコ
ンデンサ素子10は、従来と同様に電解液に浸漬させて
焼成後、化成処理される。このコンデンサ素子10を成
形加工されたテーパー付き角形樹脂ケース32内に収納
する。この際、このコンデンサ素子10と前記樹脂ケー
ス32との位置合わせは、それ程厳密な合わせ精度を必
要とせず、容易に挿入することができる。
【0015】次いで、図8の(B)において、前記搬送
フレーム20に取付けられたコンデンサ素子10を樹脂
ケース32に収納した後、さらに溶融したエポキシ樹脂
24を注入し、エポキシ樹脂24が硬化して封口された
状態となる。
フレーム20に取付けられたコンデンサ素子10を樹脂
ケース32に収納した後、さらに溶融したエポキシ樹脂
24を注入し、エポキシ樹脂24が硬化して封口された
状態となる。
【0016】その後、図8の(C)において、樹脂ケー
ス32のテーパー部の下側を、所定長さになるようにエ
ポキシ樹脂24とアルミ金属端子12、14とを一緒に
切断して、図示のようにアルミ金属端子12、14が露
呈した状態とする。
ス32のテーパー部の下側を、所定長さになるようにエ
ポキシ樹脂24とアルミ金属端子12、14とを一緒に
切断して、図示のようにアルミ金属端子12、14が露
呈した状態とする。
【0017】そして、図8の(D)において、前記切断
工程において露呈したアルミ金属端子12、14に、そ
れぞれ金属板を加工した外部接続用端子26、28を、
超音波溶接またはレーザー溶接等により取付けることに
より、固体電解コンデンサを完成することができる。
工程において露呈したアルミ金属端子12、14に、そ
れぞれ金属板を加工した外部接続用端子26、28を、
超音波溶接またはレーザー溶接等により取付けることに
より、固体電解コンデンサを完成することができる。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た固体電解コンデンサの製造方法においても、従来のC
P線の加工における種々の問題点は解消されるものの、
外部接続用端子との接続について解決すべき多くの問題
が残されていた。
た固体電解コンデンサの製造方法においても、従来のC
P線の加工における種々の問題点は解消されるものの、
外部接続用端子との接続について解決すべき多くの問題
が残されていた。
【0019】すなわち、前記の改良された固体電解コン
デンサの製造方法においても、固体電解コンデンサの内
部端子12、14との接続、特に溶接する場合に、外部
端子26、28として強度的に安定しており、しかも溶
接時の温度上昇による内部端子周囲への影響、例えばエ
ポキシ樹脂の一部がガス化すること等を考慮して、安全
かつ適正にして、能率のよい作業を行い、製品の生産効
率を高めることが、要求されるものであった。
デンサの製造方法においても、固体電解コンデンサの内
部端子12、14との接続、特に溶接する場合に、外部
端子26、28として強度的に安定しており、しかも溶
接時の温度上昇による内部端子周囲への影響、例えばエ
ポキシ樹脂の一部がガス化すること等を考慮して、安全
かつ適正にして、能率のよい作業を行い、製品の生産効
率を高めることが、要求されるものであった。
【0020】そこで、本発明の目的は、固体電解コンデ
ンサのアルミ金属端子からなる内部端子に対し、外部接
続端子を溶接するに際して、強度的に安定し、溶接時の
発生熱を有効に放熱し、効率のよい溶接を達成すること
ができる固体電解コンデンサの製造方法を提供すること
にある。
ンサのアルミ金属端子からなる内部端子に対し、外部接
続端子を溶接するに際して、強度的に安定し、溶接時の
発生熱を有効に放熱し、効率のよい溶接を達成すること
ができる固体電解コンデンサの製造方法を提供すること
にある。
【0021】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明に係る固体電解コンデンサの製造方法は、プ
ラス電極およびマイナス電極用の各金属箔に、それぞれ
内部端子としてのアルミ金属端子を接続し、前記各金属
箔をセパレータを介して巻回してコンデンサ素子を形成
すると共に各金属箔間に固体電解質層を形成し、このコ
ンデンサ素子を樹脂ケースに収納してエポキシ樹脂等の
ポッティング樹脂で封口し、次いでこの樹脂ケースの封
口側を前記金属端子とポッティング樹脂とが露呈するよ
うに切断し、前記露呈された金属端子に外部接続端子を
接続してなる固体電解コンデンサの製造方法において、
外部接続端子は、リン青銅の帯体を所定形状に打ち抜
き、曲げ加工すると共に、外部接続端部側を部分的に半
田メッキ処理してなり、前記外部接続端子のレーザー光
照射面において前記露呈された金属端子と平行に押圧当
接して、それぞれ所定ピッチ偏位させた複数のスポット
のレーザー溶接により接続することを特徴とする。
に、本発明に係る固体電解コンデンサの製造方法は、プ
ラス電極およびマイナス電極用の各金属箔に、それぞれ
内部端子としてのアルミ金属端子を接続し、前記各金属
箔をセパレータを介して巻回してコンデンサ素子を形成
すると共に各金属箔間に固体電解質層を形成し、このコ
ンデンサ素子を樹脂ケースに収納してエポキシ樹脂等の
ポッティング樹脂で封口し、次いでこの樹脂ケースの封
口側を前記金属端子とポッティング樹脂とが露呈するよ
うに切断し、前記露呈された金属端子に外部接続端子を
接続してなる固体電解コンデンサの製造方法において、
外部接続端子は、リン青銅の帯体を所定形状に打ち抜
き、曲げ加工すると共に、外部接続端部側を部分的に半
田メッキ処理してなり、前記外部接続端子のレーザー光
照射面において前記露呈された金属端子と平行に押圧当
接して、それぞれ所定ピッチ偏位させた複数のスポット
のレーザー溶接により接続することを特徴とする。
【0022】この場合、リン青銅の帯体を所定形状に打
ち抜き、曲げ加工してなる外部接続端子のレーザー光照
射面は、半光沢のニッケルメッキ処理をすれば好適であ
る。
ち抜き、曲げ加工してなる外部接続端子のレーザー光照
射面は、半光沢のニッケルメッキ処理をすれば好適であ
る。
【0023】また、前記アルミ金属端子とポッティング
樹脂とが露呈するように切断された樹脂ケースの封口部
において、前記アルミ金属端子のカット面は、封口樹脂
のカット面より僅かに低く形成することにより、リン青
銅からなる外部接続端子とのレーザー溶接に際して、前
記アルミ金属端子とリン青銅端子との間に空気層(隙
間)を設けて、適正かつ安定した溶接を達成することが
できる。
樹脂とが露呈するように切断された樹脂ケースの封口部
において、前記アルミ金属端子のカット面は、封口樹脂
のカット面より僅かに低く形成することにより、リン青
銅からなる外部接続端子とのレーザー溶接に際して、前
記アルミ金属端子とリン青銅端子との間に空気層(隙
間)を設けて、適正かつ安定した溶接を達成することが
できる。
【0024】また、前記複数のスポットのレーザー溶接
は、第1のスポットと第2以降のスポットとをそれぞれ
所要の時間間隔で所定ピッチ偏位させると共に、各スポ
ットにおいて主溶接電流の出力直前にそれぞれ予熱電流
を出力し、さらに第2以降のスポットによる主溶接時の
ハイト量を第1のスポットによる主溶接時のハイト量よ
り高く設定すれば好適である。
は、第1のスポットと第2以降のスポットとをそれぞれ
所要の時間間隔で所定ピッチ偏位させると共に、各スポ
ットにおいて主溶接電流の出力直前にそれぞれ予熱電流
を出力し、さらに第2以降のスポットによる主溶接時の
ハイト量を第1のスポットによる主溶接時のハイト量よ
り高く設定すれば好適である。
【0025】
【実施例】次に、本発明に係る固体電解コンデンサの製
造方法の実施例につき、添付図面を参照しながら以下詳
細に説明する。
造方法の実施例につき、添付図面を参照しながら以下詳
細に説明する。
【0026】まず、本発明の固体電解コンデンサの製造
方法において、コンデンサ素子の液中化成処理工程は、
前述した従来の固体電解コンデンサの製造方法と同一で
ある。すなわち、本実施例においても、図8の(A)〜
(C)に示すように、コンデンサ素子10を、電解液に
浸漬し焼成して固体電解質層を形成し、所要の樹脂ケー
ス32に収納し、次いで樹脂ケース32に溶融したエポ
キシ樹脂24を注入し、エポキシ樹脂24が硬化して封
口された状態において、樹脂ケース32の下側を、所定
の長さになるように、エポキシ樹脂24とアルミ金属端
子12、14とを一緒に切断して、アルミ金属端子1
2、14が露呈した状態とする。
方法において、コンデンサ素子の液中化成処理工程は、
前述した従来の固体電解コンデンサの製造方法と同一で
ある。すなわち、本実施例においても、図8の(A)〜
(C)に示すように、コンデンサ素子10を、電解液に
浸漬し焼成して固体電解質層を形成し、所要の樹脂ケー
ス32に収納し、次いで樹脂ケース32に溶融したエポ
キシ樹脂24を注入し、エポキシ樹脂24が硬化して封
口された状態において、樹脂ケース32の下側を、所定
の長さになるように、エポキシ樹脂24とアルミ金属端
子12、14とを一緒に切断して、アルミ金属端子1
2、14が露呈した状態とする。
【0027】そこで、本発明においては、前記樹脂ケー
ス32の封口部において露呈したアルミ金属端子12、
14に対して、外部接続端子40、42を、以下に説明
するように溶接接続するものである。
ス32の封口部において露呈したアルミ金属端子12、
14に対して、外部接続端子40、42を、以下に説明
するように溶接接続するものである。
【0028】1.外部接続端子の構成 図1は、本発明に係る固体電解コンデンサの製造におい
て使用する外部接続端子40、42の一実施例の概略構
成を示す斜視図である。図1において、本実施例の外部
接続端子40、42は、連続する所要の幅寸法と厚さ
(t)とからなるリン青銅の帯体に対して、図示のよう
に左右一対の外部接続端子40、42を連続して所定形
状に打ち抜きし、曲げ加工した構成からなる。
て使用する外部接続端子40、42の一実施例の概略構
成を示す斜視図である。図1において、本実施例の外部
接続端子40、42は、連続する所要の幅寸法と厚さ
(t)とからなるリン青銅の帯体に対して、図示のよう
に左右一対の外部接続端子40、42を連続して所定形
状に打ち抜きし、曲げ加工した構成からなる。
【0029】すなわち、前記外部接続端子40、42の
一側面(図示の上表面)は、レーザー溶接する場合のレ
ーザー光照射面とし、リン青銅からなる搬送フレーム4
4に接離可能な細幅頸部45で接続される一端部側40
a、42aをアルミ金属端子12、14(図2)との接
続部として構成する。また、前記外部接続端子40、4
2の他端部側40b、42bは、プリント基板等への表
面実装に際しての接続部として構成し、その接続を容易
にするために半田メッキ処理をする。
一側面(図示の上表面)は、レーザー溶接する場合のレ
ーザー光照射面とし、リン青銅からなる搬送フレーム4
4に接離可能な細幅頸部45で接続される一端部側40
a、42aをアルミ金属端子12、14(図2)との接
続部として構成する。また、前記外部接続端子40、4
2の他端部側40b、42bは、プリント基板等への表
面実装に際しての接続部として構成し、その接続を容易
にするために半田メッキ処理をする。
【0030】しかるに、前記外部接続端子40、42の
一側面は、全面的に半光沢のニッケル(Ni)メッキ処
理をすることにより、レーザー光照射面の反射率が適当
に調整されてレーザー光の吸収率を良好にすることがで
きる。例えば、前記レーザー光照射面を、光沢のあるニ
ッケルメッキ処理をすると、照射面の反射率が高くなり
レーザー光の吸収率が悪くなる難点がある。また、反対
にレーザー光照射面を、無光沢なニッケルメッキ処理を
すると、照射面の反射率が低くなりレーザー光の吸収率
は良くなるが、触っただけで指の脂による汚れを吸収し
易く、しかも指の脂による汚れが目立つ難点がある、し
かも、この場合、機械の油が僅かに付着しただけでも油
汚れが目立ち、見栄えが悪くなるばかりでなく、湿度に
よる変色も生じるため、商品価値が低下する難点があ
る。なお、前記外部接続端子40、42における部分的
な半田メッキ処理をするに際しては、前記半光沢のニッ
ケルメッキ処理をした上に部分的に半田メッキ処理する
のが簡便である。
一側面は、全面的に半光沢のニッケル(Ni)メッキ処
理をすることにより、レーザー光照射面の反射率が適当
に調整されてレーザー光の吸収率を良好にすることがで
きる。例えば、前記レーザー光照射面を、光沢のあるニ
ッケルメッキ処理をすると、照射面の反射率が高くなり
レーザー光の吸収率が悪くなる難点がある。また、反対
にレーザー光照射面を、無光沢なニッケルメッキ処理を
すると、照射面の反射率が低くなりレーザー光の吸収率
は良くなるが、触っただけで指の脂による汚れを吸収し
易く、しかも指の脂による汚れが目立つ難点がある、し
かも、この場合、機械の油が僅かに付着しただけでも油
汚れが目立ち、見栄えが悪くなるばかりでなく、湿度に
よる変色も生じるため、商品価値が低下する難点があ
る。なお、前記外部接続端子40、42における部分的
な半田メッキ処理をするに際しては、前記半光沢のニッ
ケルメッキ処理をした上に部分的に半田メッキ処理する
のが簡便である。
【0031】なお、本実施例の外部接続端子40、42
の素材として、リン青銅を使用することは、内部端子で
あるアルミ金属端子12、14(図2)としての純アル
ミに対して、異種金属の中ではリン青銅が最も溶接を安
定して行うことができるからである。また、この場合、
リン青銅の厚さtは、0.1mmとすることが、レーザ
ー光により重ね合わせ溶接する場合、強度的に最も望ま
しい。すなわち、厚さtが0.1mm以下であると、端
子自体としての強度が不足することになる。また、厚さ
tが0.1mm以上(例えば0.15、0.2mm等)
であると、端子の厚さが厚いために、付与するレーザー
光のエネルギーも大きくなり、このため端子表面温度が
広い範囲で高められ、内部端子であるアルミ金属端子1
2、14(図2)の周囲のエポキシ樹脂24(図2)に
影響、例えばエポキシ樹脂の一部をガス化する等、を及
ぼしてしまう難点がある。
の素材として、リン青銅を使用することは、内部端子で
あるアルミ金属端子12、14(図2)としての純アル
ミに対して、異種金属の中ではリン青銅が最も溶接を安
定して行うことができるからである。また、この場合、
リン青銅の厚さtは、0.1mmとすることが、レーザ
ー光により重ね合わせ溶接する場合、強度的に最も望ま
しい。すなわち、厚さtが0.1mm以下であると、端
子自体としての強度が不足することになる。また、厚さ
tが0.1mm以上(例えば0.15、0.2mm等)
であると、端子の厚さが厚いために、付与するレーザー
光のエネルギーも大きくなり、このため端子表面温度が
広い範囲で高められ、内部端子であるアルミ金属端子1
2、14(図2)の周囲のエポキシ樹脂24(図2)に
影響、例えばエポキシ樹脂の一部をガス化する等、を及
ぼしてしまう難点がある。
【0032】そして、前述した外部接続端子40、42
を、樹脂ケース32の封口部において露呈したアルミ金
属端子12、14に対して搬送し、溶接を行うに際して
は、適宜外部接続端子40、42を脱脂洗浄するための
洗浄工程を付加することが必要である。
を、樹脂ケース32の封口部において露呈したアルミ金
属端子12、14に対して搬送し、溶接を行うに際して
は、適宜外部接続端子40、42を脱脂洗浄するための
洗浄工程を付加することが必要である。
【0033】2.内部端子(アルミ金属端子)の設定と
溶接条件 次に、前記のように構成される外部接続端子40、42
を、図2に示す内部端子としてのアルミ金属端子12、
14にレーザー溶接を行う際には、次のような条件が要
求される。
溶接条件 次に、前記のように構成される外部接続端子40、42
を、図2に示す内部端子としてのアルミ金属端子12、
14にレーザー溶接を行う際には、次のような条件が要
求される。
【0034】まず、アルミ金属端子12、14のカット
面12a、14aが清浄であることが要求される。この
ことは、レーザー溶接に際しての密着性を向上するため
に不可欠である。
面12a、14aが清浄であることが要求される。この
ことは、レーザー溶接に際しての密着性を向上するため
に不可欠である。
【0035】次に、封口樹脂(エポキシ樹脂24)のカ
ット面24aに対して、前記アルミ金属端子12、14
のカット面12a、14aが、僅かに(δH)低くなっ
ていることが要求される。このような処理は、前記アル
ミ金属端子12、14のカット面12a、14aに対し
て、化学研磨処理を行うことにより容易に達成すること
ができる。このように構成することにより、前記アルミ
金属端子12、14とリン青銅からなる外部接続端子4
0、42との異種金属の溶接に際し、リン青銅の方が融
点がかなり高いため、レーザー光の照射によりリン青銅
が溶融した時のリン青銅の温度は、アルミに対しては高
過ぎるため、リン青銅とアルミとの間に空気層(隙間)
を設けることによって、適正かつ安定した溶接を達成す
ることができる。
ット面24aに対して、前記アルミ金属端子12、14
のカット面12a、14aが、僅かに(δH)低くなっ
ていることが要求される。このような処理は、前記アル
ミ金属端子12、14のカット面12a、14aに対し
て、化学研磨処理を行うことにより容易に達成すること
ができる。このように構成することにより、前記アルミ
金属端子12、14とリン青銅からなる外部接続端子4
0、42との異種金属の溶接に際し、リン青銅の方が融
点がかなり高いため、レーザー光の照射によりリン青銅
が溶融した時のリン青銅の温度は、アルミに対しては高
過ぎるため、リン青銅とアルミとの間に空気層(隙間)
を設けることによって、適正かつ安定した溶接を達成す
ることができる。
【0036】また、この場合、エポキシ樹脂24のカッ
ト面24aからアルミ金属端子12、14のコンデンサ
素子との結合部までの距離L1 が、0.7mm以上であ
ることが要求される。すなわち、前記距離L1 の寸法
が、例えば0.5mm以下であると、図3に示すよう
に、レーザー光Lの照射による溶融部Mが内部端子のア
ルミ金属端子12(14)のホンダラ部Hに達して、封
口樹脂をガス化させてしまい、外部接続端子40(4
2)との良好な溶接を達成することができなくなるから
である。
ト面24aからアルミ金属端子12、14のコンデンサ
素子との結合部までの距離L1 が、0.7mm以上であ
ることが要求される。すなわち、前記距離L1 の寸法
が、例えば0.5mm以下であると、図3に示すよう
に、レーザー光Lの照射による溶融部Mが内部端子のア
ルミ金属端子12(14)のホンダラ部Hに達して、封
口樹脂をガス化させてしまい、外部接続端子40(4
2)との良好な溶接を達成することができなくなるから
である。
【0037】レーザー溶接に際しては、図3に示すよう
に、リン青銅からなる外部接続端子40(42)を、樹
脂ケース32のアルミ金属端子12、14のカット面側
に対して対向配置し、それぞれ所要の金属部材46a、
46bを使用して、樹脂ケース32に対してしっかりと
押圧して、溶接を行うことが要求される。
に、リン青銅からなる外部接続端子40(42)を、樹
脂ケース32のアルミ金属端子12、14のカット面側
に対して対向配置し、それぞれ所要の金属部材46a、
46bを使用して、樹脂ケース32に対してしっかりと
押圧して、溶接を行うことが要求される。
【0038】また、レーザー溶接に際して、封口樹脂へ
の熱伝導を抑えることが要求される。このため、レーザ
ー光は、ジャストフォーカスとし、図4に示すように、
溶融面積すなわち溶接面積を拡大するために、それぞれ
所定ピッチ偏位させた複数のスポット溶接50とする。
なお、本実施例においては、2スポット溶接50とし、
その偏位距離(ピッチ)は、大きい程よいが、封口樹脂
への熱伝導より、第1のスポットと第2のスポットとの
間のピッチPは、P=0.16mmであることが最適で
ある。これに関連して、前記外部接続端子40、42を
押さえるための金属部材46a、46bとしては、放熱
を良好に行うことができる熱伝導の良い材質からなる板
ばね材を使用することが最適である(図3参照)。
の熱伝導を抑えることが要求される。このため、レーザ
ー光は、ジャストフォーカスとし、図4に示すように、
溶融面積すなわち溶接面積を拡大するために、それぞれ
所定ピッチ偏位させた複数のスポット溶接50とする。
なお、本実施例においては、2スポット溶接50とし、
その偏位距離(ピッチ)は、大きい程よいが、封口樹脂
への熱伝導より、第1のスポットと第2のスポットとの
間のピッチPは、P=0.16mmであることが最適で
ある。これに関連して、前記外部接続端子40、42を
押さえるための金属部材46a、46bとしては、放熱
を良好に行うことができる熱伝導の良い材質からなる板
ばね材を使用することが最適である(図3参照)。
【0039】さらに、レーザー溶接に際して、その溶接
部50の溶融深さは、深い方が良好であるが、例えばア
ルミ金属端子12、14のカット面に外部接続端子4
0、42を溶接した後、強制的にこれを剥がした場合、
図5の(A)に示すように、外部接続端子40の溶接部
50に単に穴が開くようでは好ましくない。この場合、
図5の(B)に示すように、外部接続端子40の溶接部
50における穴開きと、外部接続端子40の溶接部50
の周縁にアルミ金属端子12の一部12bが付着するこ
ととの、両方の破壊モードが共存するようにすれば好適
である。
部50の溶融深さは、深い方が良好であるが、例えばア
ルミ金属端子12、14のカット面に外部接続端子4
0、42を溶接した後、強制的にこれを剥がした場合、
図5の(A)に示すように、外部接続端子40の溶接部
50に単に穴が開くようでは好ましくない。この場合、
図5の(B)に示すように、外部接続端子40の溶接部
50における穴開きと、外部接続端子40の溶接部50
の周縁にアルミ金属端子12の一部12bが付着するこ
ととの、両方の破壊モードが共存するようにすれば好適
である。
【0040】3.溶接用レーザーの動作条件 そして、本発明においては、前記レーザー溶接に際し、
イットリウム・アルミニウム・ガーネット・レーザー
(以下、YAGレーザーと称する。)は、パルス電流波
形設定による出力波形制御が可能であることから、好適
に採用される。
イットリウム・アルミニウム・ガーネット・レーザー
(以下、YAGレーザーと称する。)は、パルス電流波
形設定による出力波形制御が可能であることから、好適
に採用される。
【0041】そこで、本実施例においては、前述したよ
うに、2スポット溶接50を採用するため、YAGレー
ザーの出力制御のためのパルス電流の出力波形設定値
を、次の表1に示すように設定する。なお、表1におい
て、ハイト量(%)は、レーザー光照射電流の許容最大
値を100%とした場合の比率を示す。
うに、2スポット溶接50を採用するため、YAGレー
ザーの出力制御のためのパルス電流の出力波形設定値
を、次の表1に示すように設定する。なお、表1におい
て、ハイト量(%)は、レーザー光照射電流の許容最大
値を100%とした場合の比率を示す。
【0042】
【表1】
【0043】また、前記表1に基づく設定パルス電流に
より付勢制御されるレーザー光の出力波形は、図6に示
す通りである。この場合、第1のスポット50aと第2
のスポット50bの初期(セクター1、セクター6)に
それぞれ予熱用の制御波形(ハイト量25%)を有し、
また主溶接時の溶接制御波形は、第1のスポット50a
の場合、セクター3で、ハイト量46%とし、第2のス
ポット50bの場合、セクター8で、ハイト量62%と
して、第2のスポット50bのハイト量を高く設定して
いる。これは、第1のスポット50aでの溶接により、
ニッケルメッキが溶融し、リン青銅が所要の面積で露呈
しており、第2のスポット50bによるレーザー光の吸
収率が、第1のスポット50aの時より低下するためで
ある。このことは、基本的に、第1のスポット50aと
第2のスポット50bとにより形成される溶接塊の大き
さが同等になるように設定することである〔図5の
(A)参照〕。
より付勢制御されるレーザー光の出力波形は、図6に示
す通りである。この場合、第1のスポット50aと第2
のスポット50bの初期(セクター1、セクター6)に
それぞれ予熱用の制御波形(ハイト量25%)を有し、
また主溶接時の溶接制御波形は、第1のスポット50a
の場合、セクター3で、ハイト量46%とし、第2のス
ポット50bの場合、セクター8で、ハイト量62%と
して、第2のスポット50bのハイト量を高く設定して
いる。これは、第1のスポット50aでの溶接により、
ニッケルメッキが溶融し、リン青銅が所要の面積で露呈
しており、第2のスポット50bによるレーザー光の吸
収率が、第1のスポット50aの時より低下するためで
ある。このことは、基本的に、第1のスポット50aと
第2のスポット50bとにより形成される溶接塊の大き
さが同等になるように設定することである〔図5の
(A)参照〕。
【0044】前述した外部接続端子40、42の構成要
件、この外部接続端子40、42を溶接するためのコン
デンサ素子を収納配置した樹脂ケースにおける内部端子
等の溶接条件、そしてレーザー溶接するためのレーザー
光の制御条件に基づいて、前記コンデンサ素子の内部端
子12、14に外部接続端子40、42を溶接すること
により、強度的に安定し、溶接時の発生熱を有効に放熱
し、効率のよい溶接を達成することができる。
件、この外部接続端子40、42を溶接するためのコン
デンサ素子を収納配置した樹脂ケースにおける内部端子
等の溶接条件、そしてレーザー溶接するためのレーザー
光の制御条件に基づいて、前記コンデンサ素子の内部端
子12、14に外部接続端子40、42を溶接すること
により、強度的に安定し、溶接時の発生熱を有効に放熱
し、効率のよい溶接を達成することができる。
【0045】以上、本発明の好適な実施例についてそれ
ぞれ説明したが、本発明は前記実施例に限定されること
なく、本発明の精神を逸脱しない範囲内において種々の
設計変更をすることができる。
ぞれ説明したが、本発明は前記実施例に限定されること
なく、本発明の精神を逸脱しない範囲内において種々の
設計変更をすることができる。
【0046】
【発明の効果】前述した実施例から明らかなように、本
発明に係る固体電解コンデンサの製造方法によれば、プ
ラス電極およびマイナス電極用の各金属箔に、それぞれ
内部端子としてのアルミ金属端子を接続し、前記各金属
箔をセパレータを介して巻回してコンデンサ素子を形成
すると共に各金属箔間に固体電解質層を形成し、このコ
ンデンサ素子を樹脂ケースに収納してエポキシ樹脂等の
ポッティング樹脂で封口し、次いでこの樹脂ケースの封
口側を前記金属端子とポッティング樹脂とが露呈するよ
うに切断し、前記露呈された金属端子に外部接続端子を
接続してなる固体電解コンデンサの製造方法において、
外部接続端子は、リン青銅の帯体を所定形状に打ち抜
き、曲げ加工すると共に、外部接続端部側を部分的に半
田メッキ処理してなり、前記外部接続端子のレーザー光
照射面において前記露呈された金属端子と平行に押圧当
接して、それぞれ所定ピッチ偏位させた複数のスポット
のレーザー溶接により接続する構成としたことにより、
強度的に安定し、溶接時の発生熱を有効に放熱し、効率
のよい溶接を達成することができる。
発明に係る固体電解コンデンサの製造方法によれば、プ
ラス電極およびマイナス電極用の各金属箔に、それぞれ
内部端子としてのアルミ金属端子を接続し、前記各金属
箔をセパレータを介して巻回してコンデンサ素子を形成
すると共に各金属箔間に固体電解質層を形成し、このコ
ンデンサ素子を樹脂ケースに収納してエポキシ樹脂等の
ポッティング樹脂で封口し、次いでこの樹脂ケースの封
口側を前記金属端子とポッティング樹脂とが露呈するよ
うに切断し、前記露呈された金属端子に外部接続端子を
接続してなる固体電解コンデンサの製造方法において、
外部接続端子は、リン青銅の帯体を所定形状に打ち抜
き、曲げ加工すると共に、外部接続端部側を部分的に半
田メッキ処理してなり、前記外部接続端子のレーザー光
照射面において前記露呈された金属端子と平行に押圧当
接して、それぞれ所定ピッチ偏位させた複数のスポット
のレーザー溶接により接続する構成としたことにより、
強度的に安定し、溶接時の発生熱を有効に放熱し、効率
のよい溶接を達成することができる。
【図1】本発明に係る固体電解コンデンサの製造方法に
おいて使用する外部接続端子の一実施例を示す要部斜視
図である。
おいて使用する外部接続端子の一実施例を示す要部斜視
図である。
【図2】本発明に係る固体電解コンデンサの製造方法に
おける樹脂ケースにコンデンサ素子に収納配置した状態
を示す要部縦断面図である。
おける樹脂ケースにコンデンサ素子に収納配置した状態
を示す要部縦断面図である。
【図3】本発明に係る固体電解コンデンサに外部接続端
子を当接して溶接接続を行う状態を示す要部側面図であ
る。
子を当接して溶接接続を行う状態を示す要部側面図であ
る。
【図4】本発明に係る固体電解コンデンサに外部接続端
子を当接して溶接接続を行う状態を示す平面図である。
子を当接して溶接接続を行う状態を示す平面図である。
【図5】本発明に係る固体電解コンデンサに溶接接続を
行う外部接続端子の溶接状態を示すもので、(A)は平
面図であり、(B)は側面図である。
行う外部接続端子の溶接状態を示すもので、(A)は平
面図であり、(B)は側面図である。
【図6】本発明に係る固体電解コンデンサの製造方法に
おける外部接続端子の接続に際して設定パルス電流によ
り付勢制御されるレーザー光の出力波形図である。
おける外部接続端子の接続に際して設定パルス電流によ
り付勢制御されるレーザー光の出力波形図である。
【図7】(A)〜(C)は従来の固体電解コンデンサの
製造方法における主要製造工程をその固定順に示した外
観斜視図である。
製造方法における主要製造工程をその固定順に示した外
観斜視図である。
【図8】(A)〜(D)は改良された従来の固体電解コ
ンデンサの製造方法における主要製造工程をその固定順
に示した外観斜視図である。
ンデンサの製造方法における主要製造工程をその固定順
に示した外観斜視図である。
10 コンデンサ素子 12、14 アルミ金属端子 12a、14a カット面 12b 付着部 20 搬送用フレーム 24 ポッティング樹脂(エポキシ樹脂) 24a カット面 32 樹脂ケース 40、42 外部接続端子 40a、42a 一端部側 40b、42b 他端部側 44 リン青銅の搬送フレーム 45 細幅頸部 46a、46b 金属部材 50 スポット溶接(溶接部) 50a 第1のスポット 50b 第2のスポット
Claims (4)
- 【請求項1】 プラス電極およびマイナス電極用の各金
属箔に、それぞれ内部端子としてのアルミ金属端子を接
続し、前記各金属箔をセパレータを介して巻回してコン
デンサ素子を形成すると共に各金属箔間に固体電解質層
を形成し、このコンデンサ素子を樹脂ケースに収納して
エポキシ樹脂等のポッティング樹脂で封口し、次いでこ
の樹脂ケースの封口側を前記金属端子とポッティング樹
脂とが露呈するように切断し、前記露呈された金属端子
に外部接続端子を接続してなる固体電解コンデンサの製
造方法において、 外部接続端子は、リン青銅の帯体を所定形状に打ち抜
き、曲げ加工すると共に、外部接続端部側を部分的に半
田メッキ処理してなり、前記外部接続端子のレーザー光
照射面において前記露呈された金属端子と平行に押圧当
接して、それぞれ所定ピッチ偏位させた複数スポットの
レーザー溶接により接続することを特徴とする固体電解
コンデンサの製造方法。 - 【請求項2】 リン青銅の帯体を所定形状に打ち抜き、
曲げ加工してなる外部接続端子のレーザー光照射面は、
半光沢のニッケルメッキ処理をしてなる請求項1記載の
固体電解コンデンサの製造方法。 - 【請求項3】 アルミ金属端子とポッティング樹脂とが
露呈するように切断された樹脂ケースの封口部におい
て、前記アルミ金属端子のカット面は、封口樹脂のカッ
ト面より僅かに低く形成してなる請求項1記載の固体電
解コンデンサの製造方法。 - 【請求項4】 複数スポットのレーザー溶接は、第1の
スポットと第2以降のスポットとをそれぞれ所要の時間
間隔で所定ピッチ偏位させると共に、各スポットにおい
て主溶接電流の出力直前にそれぞれ予熱電流を出力し、
さらに第2以降のスポットによる主溶接時のハイト量を
第1のスポットによる主溶接時のハイト量より高く設定
してなる請求項1記載の固体電解コンデンサの製造方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8193785A JPH1041193A (ja) | 1996-07-23 | 1996-07-23 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8193785A JPH1041193A (ja) | 1996-07-23 | 1996-07-23 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1041193A true JPH1041193A (ja) | 1998-02-13 |
Family
ID=16313764
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8193785A Pending JPH1041193A (ja) | 1996-07-23 | 1996-07-23 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1041193A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006093343A (ja) * | 2004-09-22 | 2006-04-06 | Tdk Corp | 固体電解コンデンサ |
| JP2006156951A (ja) * | 2004-11-04 | 2006-06-15 | Tdk Corp | 固体電解コンデンサ及び固体電解コンデンサの製造方法 |
| WO2022137444A1 (ja) * | 2020-12-24 | 2022-06-30 | 日産自動車株式会社 | レーザー溶接用アルミニウム合金部材 |
-
1996
- 1996-07-23 JP JP8193785A patent/JPH1041193A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006093343A (ja) * | 2004-09-22 | 2006-04-06 | Tdk Corp | 固体電解コンデンサ |
| JP2006156951A (ja) * | 2004-11-04 | 2006-06-15 | Tdk Corp | 固体電解コンデンサ及び固体電解コンデンサの製造方法 |
| WO2022137444A1 (ja) * | 2020-12-24 | 2022-06-30 | 日産自動車株式会社 | レーザー溶接用アルミニウム合金部材 |
| CN116600933A (zh) * | 2020-12-24 | 2023-08-15 | 日产自动车株式会社 | 激光焊接用铝合金部件 |
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