JPH1048609A - 液晶素子の製造方法 - Google Patents
液晶素子の製造方法Info
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- JPH1048609A JPH1048609A JP19932396A JP19932396A JPH1048609A JP H1048609 A JPH1048609 A JP H1048609A JP 19932396 A JP19932396 A JP 19932396A JP 19932396 A JP19932396 A JP 19932396A JP H1048609 A JPH1048609 A JP H1048609A
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- insulating film
- liquid crystal
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 基板に形成された上下電極間におけるショー
トを防止することができる液晶素子の製造方法を提供す
る。 【解決手段】 液晶9を挟持する一対の基板1a,1b
に設けられた電極パターン4a,4bの上に絶縁層5
a,5bと透明な微粒子を含有する膜6a,6bとを印
刷塗布・焼成により形成する一方、これら絶縁層5a,
5bと透明微粒子含有膜6a,6bの上に絶縁膜7a,
7bを真空成膜することにより、絶縁層5a,5bと透
明微粒子含有膜6a,6bとを絶縁膜成膜時の高真空状
態に置くことができ、これにより絶縁層5a,5bと透
明微粒子含有膜6a,6bとに含まれている水分を除去
することができる。そして、このように水分を除去する
ことにより、電極間におけるショートを防止することが
できる。
トを防止することができる液晶素子の製造方法を提供す
る。 【解決手段】 液晶9を挟持する一対の基板1a,1b
に設けられた電極パターン4a,4bの上に絶縁層5
a,5bと透明な微粒子を含有する膜6a,6bとを印
刷塗布・焼成により形成する一方、これら絶縁層5a,
5bと透明微粒子含有膜6a,6bの上に絶縁膜7a,
7bを真空成膜することにより、絶縁層5a,5bと透
明微粒子含有膜6a,6bとを絶縁膜成膜時の高真空状
態に置くことができ、これにより絶縁層5a,5bと透
明微粒子含有膜6a,6bとに含まれている水分を除去
することができる。そして、このように水分を除去する
ことにより、電極間におけるショートを防止することが
できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶素子の製造方
法に関し、特に電極パターン間の絶縁を得るために形成
される絶縁膜に関するものである。
法に関し、特に電極パターン間の絶縁を得るために形成
される絶縁膜に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の液晶素子において、液晶を挟持す
る一対の基板に設けられた電極パターンの上には、上下
電極間の絶縁を得るために絶縁膜が形成されている。そ
して、この絶縁膜としては、スパッタリング法によって
形成されるSiO2 膜が一般的であるが、強誘電性液晶
(FLC)を用いる液晶素子においては誘電率の大きい
Ta2 O5 膜が用いられる。
る一対の基板に設けられた電極パターンの上には、上下
電極間の絶縁を得るために絶縁膜が形成されている。そ
して、この絶縁膜としては、スパッタリング法によって
形成されるSiO2 膜が一般的であるが、強誘電性液晶
(FLC)を用いる液晶素子においては誘電率の大きい
Ta2 O5 膜が用いられる。
【0003】一方、このようなスパッタリング成膜によ
る無機酸化膜の代わりに珪素、チタン、タンタル、ジル
コニウム等の水素化物又はオルガノオキシドなどの混合
溶液をフレキソ印刷法により印刷塗布、焼成した膜がF
LCに対しては良好な配向性を示すことが報告されてい
る。(特開昭61−18362号公報) さらに、このような印刷塗布・焼成により形成される無
機酸化膜中に、透明な微粒子を含有させた膜(以下微粒
子分散膜という)を設けることにより、配向制御膜の表
面に凹凸を形成し、強誘電性液晶分子の移動により生じ
るセル厚の変化を防ぐと共に配向欠陥を防止することが
可能である(特開昭5−273537号)。
る無機酸化膜の代わりに珪素、チタン、タンタル、ジル
コニウム等の水素化物又はオルガノオキシドなどの混合
溶液をフレキソ印刷法により印刷塗布、焼成した膜がF
LCに対しては良好な配向性を示すことが報告されてい
る。(特開昭61−18362号公報) さらに、このような印刷塗布・焼成により形成される無
機酸化膜中に、透明な微粒子を含有させた膜(以下微粒
子分散膜という)を設けることにより、配向制御膜の表
面に凹凸を形成し、強誘電性液晶分子の移動により生じ
るセル厚の変化を防ぐと共に配向欠陥を防止することが
可能である(特開昭5−273537号)。
【0004】しかし、このような印刷塗布・焼成タイプ
の無機酸化物膜においては、焼成条件はFLCの構成材
料の制約から270℃以下、望ましくは250℃以下で
あることが必要であり、この焼成条件から得られる無機
酸化物膜はスパッタリング成膜に比べて膜の硬度が小さ
いという欠点がある。
の無機酸化物膜においては、焼成条件はFLCの構成材
料の制約から270℃以下、望ましくは250℃以下で
あることが必要であり、この焼成条件から得られる無機
酸化物膜はスパッタリング成膜に比べて膜の硬度が小さ
いという欠点がある。
【0005】さらに、印刷面に突起状の異物があった場
合には、印刷液がはじかれてその異物をカバーできなく
なり、これによりピンホールが発生するようになる。そ
して、このように絶縁膜にピンホールが形成されると、
電極間の上下ショートが発生しやすくなる。また、導電
性の異物が混入した場合には、硬度の小さな印刷絶縁膜
は破壊されやすく、上下ショートの原因となる。
合には、印刷液がはじかれてその異物をカバーできなく
なり、これによりピンホールが発生するようになる。そ
して、このように絶縁膜にピンホールが形成されると、
電極間の上下ショートが発生しやすくなる。また、導電
性の異物が混入した場合には、硬度の小さな印刷絶縁膜
は破壊されやすく、上下ショートの原因となる。
【0006】そこで、このような印刷法の欠点を補う方
法としては、電極パターン上にまずスパッタリング法に
より絶縁膜を形成し、次にこの絶縁膜の表面に印刷塗布
法により絶縁膜を形成し、最後に印刷塗布法によりこの
絶縁膜の表面に微粒子分散膜を形成して3層構造を有す
る絶縁膜を形成する方法が提案されている。そして、こ
のような3層構造を有する絶縁膜を形成することによ
り、上下電極間のショートの発生を防止すると共に、良
好な液晶分子の配向性の得ることができる。
法としては、電極パターン上にまずスパッタリング法に
より絶縁膜を形成し、次にこの絶縁膜の表面に印刷塗布
法により絶縁膜を形成し、最後に印刷塗布法によりこの
絶縁膜の表面に微粒子分散膜を形成して3層構造を有す
る絶縁膜を形成する方法が提案されている。そして、こ
のような3層構造を有する絶縁膜を形成することによ
り、上下電極間のショートの発生を防止すると共に、良
好な液晶分子の配向性の得ることができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
層構造の絶縁膜を有する液晶素子を製造する従来の液晶
素子の製造方法において、絶縁膜のうちの2層を構成す
る印刷塗布・焼成によって得られる無機酸化物は、一般
に吸湿性を有しており、成形後から配向膜形成までの
間、例えば室内等に放置されたりすると空気中の水分を
多量に吸収するようになる。そして、このように水分を
吸収すると、絶縁膜の電気的絶縁耐圧が著しく低下し、
その結果上下電極間のショートを招く結果となる。
層構造の絶縁膜を有する液晶素子を製造する従来の液晶
素子の製造方法において、絶縁膜のうちの2層を構成す
る印刷塗布・焼成によって得られる無機酸化物は、一般
に吸湿性を有しており、成形後から配向膜形成までの
間、例えば室内等に放置されたりすると空気中の水分を
多量に吸収するようになる。そして、このように水分を
吸収すると、絶縁膜の電気的絶縁耐圧が著しく低下し、
その結果上下電極間のショートを招く結果となる。
【0008】従って、このように絶縁膜を3層構造にす
るようにしても、絶縁膜を形成した後、配向膜形成まで
は無機酸化物が水分を吸収しないよう工程内の環境及び
形成時間に関して厳しく管理する必要があり、装置、装
置内の設備に大きな負担を要することになる。
るようにしても、絶縁膜を形成した後、配向膜形成まで
は無機酸化物が水分を吸収しないよう工程内の環境及び
形成時間に関して厳しく管理する必要があり、装置、装
置内の設備に大きな負担を要することになる。
【0009】そこで、本発明はこのような従来技術の欠
点を改善するためになされたものであり、基板に形成さ
れた上下電極間におけるショートを防止することができ
る液晶素子の製造方法を提供することを目的とするもの
である。
点を改善するためになされたものであり、基板に形成さ
れた上下電極間におけるショートを防止することができ
る液晶素子の製造方法を提供することを目的とするもの
である。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、液晶を挟持す
る一対の基板に設けられた電極パターンの上にそれぞれ
第1の絶縁膜と、透明な微粒子を含有する膜と、第2の
絶縁膜とを形成するようにした液晶素子の製造方法にお
いて、前記第1の絶縁膜を印刷塗布、焼成により形成す
る工程と、前記透明な微粒子を含有する膜を印刷塗布、
焼成により形成する工程と、前記第1の絶縁膜と透明微
粒子含有膜の上に前記第2の絶縁膜を真空成膜すると共
に絶縁膜成膜時の高真空状態により該第1の絶縁膜と透
明微粒子含有膜に含まれている水分を除去する工程と、
を有してなることを特徴とするものである。
る一対の基板に設けられた電極パターンの上にそれぞれ
第1の絶縁膜と、透明な微粒子を含有する膜と、第2の
絶縁膜とを形成するようにした液晶素子の製造方法にお
いて、前記第1の絶縁膜を印刷塗布、焼成により形成す
る工程と、前記透明な微粒子を含有する膜を印刷塗布、
焼成により形成する工程と、前記第1の絶縁膜と透明微
粒子含有膜の上に前記第2の絶縁膜を真空成膜すると共
に絶縁膜成膜時の高真空状態により該第1の絶縁膜と透
明微粒子含有膜に含まれている水分を除去する工程と、
を有してなることを特徴とするものである。
【0011】また本発明は、前記第2の絶縁膜は、スパ
ッタリング法によって形成されることを特徴とするもの
である。
ッタリング法によって形成されることを特徴とするもの
である。
【0012】また本発明は、前記第2の絶縁膜を形成す
る前に前記第1の絶縁膜、又は前記第1の絶縁膜と透明
微粒子含有膜に対して予備加熱を行うことを特徴とする
ものである。
る前に前記第1の絶縁膜、又は前記第1の絶縁膜と透明
微粒子含有膜に対して予備加熱を行うことを特徴とする
ものである。
【0013】また本発明は、前記液晶は強誘電性液晶で
あることを特徴とするものである。
あることを特徴とするものである。
【0014】また、本発明のように液晶を挟持する一対
の基板に設けられた電極パターンの上に第1の絶縁膜を
印刷塗布、焼成により形成した後、透明な微粒子を含有
する膜を印刷塗布、焼成により形成する。そして、これ
ら第1の絶縁膜と透明微粒子含有膜の上に第2の絶縁膜
を真空成膜することにより、第1の絶縁膜と透明微粒子
含有膜とを絶縁膜成膜時の高真空状態に置くことがで
き、これにより第1の絶縁膜と透明微粒子含有膜とに含
まれている水分を除去することができる。
の基板に設けられた電極パターンの上に第1の絶縁膜を
印刷塗布、焼成により形成した後、透明な微粒子を含有
する膜を印刷塗布、焼成により形成する。そして、これ
ら第1の絶縁膜と透明微粒子含有膜の上に第2の絶縁膜
を真空成膜することにより、第1の絶縁膜と透明微粒子
含有膜とを絶縁膜成膜時の高真空状態に置くことがで
き、これにより第1の絶縁膜と透明微粒子含有膜とに含
まれている水分を除去することができる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を用いて説明する。
を用いて説明する。
【0016】図1は本発明の実施の形態に係る液晶素子
の製造方法にて製造された液晶素子の模式的部分断面図
であり、同図において、1Aは液晶素子である液晶パネ
ル、1a,1bはガラス基板、2は一方のガラス基板1
aに形成されたカラーフィルター、3は平坦化膜、4a
はこの平坦化膜3の上面に形成された透明電極パターン
(以下透明電極という)であり、4bは他方のガラス基
板1bに形成された透明電極である。
の製造方法にて製造された液晶素子の模式的部分断面図
であり、同図において、1Aは液晶素子である液晶パネ
ル、1a,1bはガラス基板、2は一方のガラス基板1
aに形成されたカラーフィルター、3は平坦化膜、4a
はこの平坦化膜3の上面に形成された透明電極パターン
(以下透明電極という)であり、4bは他方のガラス基
板1bに形成された透明電極である。
【0017】また、5a,5bは透明電極4a,4bの
上にそれぞれ形成された第1の絶縁膜である下部絶縁
膜、6a,6bは下部絶縁膜5a,5bの表面にそれぞ
れ形成され、透明な微粒子を含有する膜である微粒子分
散膜、7a,7bは微粒子分散膜6a,6bの表面にそ
れぞれ形成された第2の絶縁膜である上部絶縁膜であ
る。なお、8a,8bは配向制御膜、9は強誘電性液
晶、10はスぺーサであるここで、この下部絶縁膜5
a,5bは、Sio2 ・TiO2 の1:1混合組成膜を
透明電極4a,4bの上に印刷塗布した後、焼成処理し
て形成したものである。なお、この膜厚は25〜500
nm、より好ましくは50〜300nmの範囲に設定す
るものであり、本実施の形態の第1実施例においては6
0nmで形成している。
上にそれぞれ形成された第1の絶縁膜である下部絶縁
膜、6a,6bは下部絶縁膜5a,5bの表面にそれぞ
れ形成され、透明な微粒子を含有する膜である微粒子分
散膜、7a,7bは微粒子分散膜6a,6bの表面にそ
れぞれ形成された第2の絶縁膜である上部絶縁膜であ
る。なお、8a,8bは配向制御膜、9は強誘電性液
晶、10はスぺーサであるここで、この下部絶縁膜5
a,5bは、Sio2 ・TiO2 の1:1混合組成膜を
透明電極4a,4bの上に印刷塗布した後、焼成処理し
て形成したものである。なお、この膜厚は25〜500
nm、より好ましくは50〜300nmの範囲に設定す
るものであり、本実施の形態の第1実施例においては6
0nmで形成している。
【0018】また、この下部絶縁膜5a,5bを形成す
るための材料は、MOF(東京応化工業(株)製)で、
粘度30mPas、有機チタン化合物と有機珪素化合物
の固形分は8wt%のものを使用している。さらに、印
刷はスピナーによりガラス上にMOFをコーティングし
(展色)、この後これを印刷版に転写し、印刷版から例
えば、図2に示すようにガラス基板1aの透明電極4a
の上面に印刷するようにしている。なお、印刷版の材質
はサイレルである。
るための材料は、MOF(東京応化工業(株)製)で、
粘度30mPas、有機チタン化合物と有機珪素化合物
の固形分は8wt%のものを使用している。さらに、印
刷はスピナーによりガラス上にMOFをコーティングし
(展色)、この後これを印刷版に転写し、印刷版から例
えば、図2に示すようにガラス基板1aの透明電極4a
の上面に印刷するようにしている。なお、印刷版の材質
はサイレルである。
【0019】そして、このようにして印刷が終了した
後、乾燥、焼成を行うが、この乾燥、焼成の条件は、ま
ずガラス基板1aをホットプレート上で80℃、60s
で乾燥させた後、有機物脱離促進として低圧水銀灯によ
り3.6Jの紫外線を照射し、最後にオーブンにより
3.6Ksの焼成を行うようにしている。なお、この焼
成温度範囲は、150〜600℃、より好ましくは20
0〜350℃であり、本実施例においては270℃で焼
成を行うようにしている。
後、乾燥、焼成を行うが、この乾燥、焼成の条件は、ま
ずガラス基板1aをホットプレート上で80℃、60s
で乾燥させた後、有機物脱離促進として低圧水銀灯によ
り3.6Jの紫外線を照射し、最後にオーブンにより
3.6Ksの焼成を行うようにしている。なお、この焼
成温度範囲は、150〜600℃、より好ましくは20
0〜350℃であり、本実施例においては270℃で焼
成を行うようにしている。
【0020】一方、このような第1絶縁膜形成工程が終
了した後、微粒子分散膜6a,6bも、印刷塗布、焼成
法にて、例えば図3に示すように下部絶縁膜5aの上面
に形成するようにしている。なお、この膜厚は5〜10
0nmの範囲が好ましく、本実施例においては17nm
に形成している。また、この微粒子分散膜6a,6bを
形成するための材料は、セラメート“RTZ−6(触媒
化成、Ti,Si,Zr系)”に平均粒径が45nmの
SiO2 微粒子(図示せず)を20wt%だけ分散安定
化させたものである。なお、印刷塗布、焼成の条件は、
下部絶縁膜5a、5bと同じである。
了した後、微粒子分散膜6a,6bも、印刷塗布、焼成
法にて、例えば図3に示すように下部絶縁膜5aの上面
に形成するようにしている。なお、この膜厚は5〜10
0nmの範囲が好ましく、本実施例においては17nm
に形成している。また、この微粒子分散膜6a,6bを
形成するための材料は、セラメート“RTZ−6(触媒
化成、Ti,Si,Zr系)”に平均粒径が45nmの
SiO2 微粒子(図示せず)を20wt%だけ分散安定
化させたものである。なお、印刷塗布、焼成の条件は、
下部絶縁膜5a、5bと同じである。
【0021】さらに、このような透明微粒子含有膜形成
工程が終了した後、上部絶縁膜7a,7bは、例えば図
4に示すように微粒子分散膜6aの上にTa2 O5 をス
パッタリング法により成膜したものであり、この時のス
パッタリング条件はパワー2kW、酸素分圧Ar/O2
=190/10、圧力0.4Paである。ここで、この
上部絶縁膜7a,7bの膜厚は25〜500nm、より
好ましくは50〜300nmの範囲に設定するものであ
り、本実施例においては90nmに形成している。
工程が終了した後、上部絶縁膜7a,7bは、例えば図
4に示すように微粒子分散膜6aの上にTa2 O5 をス
パッタリング法により成膜したものであり、この時のス
パッタリング条件はパワー2kW、酸素分圧Ar/O2
=190/10、圧力0.4Paである。ここで、この
上部絶縁膜7a,7bの膜厚は25〜500nm、より
好ましくは50〜300nmの範囲に設定するものであ
り、本実施例においては90nmに形成している。
【0022】なお、この上部絶縁膜7a,7bを形成す
る前に、基板1a,1bに対し150℃で予備加熱を行
い、下部絶縁膜5a及び微粒子分散膜6aの水分を除去
するようにしている。
る前に、基板1a,1bに対し150℃で予備加熱を行
い、下部絶縁膜5a及び微粒子分散膜6aの水分を除去
するようにしている。
【0023】ところで、上部絶縁膜7a,7bを形成す
る場合には、基板1a,1bを図示しないスパッタリン
グ装置内に収納した後、高真空状態の下でスパッタリン
グを行うようにしているが、このようにスパッタリング
装置内が減圧されて高真空状態となると、下部絶縁膜5
a,5b及び微粒子分散膜6a,6bに吸収されていた
水分が膜内に滞在することがなくなり、脱水されるよう
になる。
る場合には、基板1a,1bを図示しないスパッタリン
グ装置内に収納した後、高真空状態の下でスパッタリン
グを行うようにしているが、このようにスパッタリング
装置内が減圧されて高真空状態となると、下部絶縁膜5
a,5b及び微粒子分散膜6a,6bに吸収されていた
水分が膜内に滞在することがなくなり、脱水されるよう
になる。
【0024】そして、この工程にて下部絶縁膜5a,5
b及び微粒子分散膜6a,6bが脱水されることによ
り、下部絶縁膜5a,5b及び微粒子分散膜6a,6b
の電気的絶縁耐圧の低下を防ぐことができる。また、ス
パッタリングで形成された上部絶縁膜7a,7bは吸湿
性はほとんどないことから、下部絶縁膜5a,5b及び
微粒子分散膜6a,6bの上に上部絶縁膜7a,7bを
形成しても上下透明電極4a,4b間のショートを防ぐ
ことができるようになる。
b及び微粒子分散膜6a,6bが脱水されることによ
り、下部絶縁膜5a,5b及び微粒子分散膜6a,6b
の電気的絶縁耐圧の低下を防ぐことができる。また、ス
パッタリングで形成された上部絶縁膜7a,7bは吸湿
性はほとんどないことから、下部絶縁膜5a,5b及び
微粒子分散膜6a,6bの上に上部絶縁膜7a,7bを
形成しても上下透明電極4a,4b間のショートを防ぐ
ことができるようになる。
【0025】なお、このように上部絶縁膜7a,7bを
形成した後、この上部絶縁膜7a,7bの上に図5に示
すようにポリイミド配向膜8aを10nmの膜厚で形成
し、さらにラビング処理を施した後、通常の液晶素子の
製造プロセスを経て図1に示すようなFLCの液晶パネ
ル1Aを完成する。
形成した後、この上部絶縁膜7a,7bの上に図5に示
すようにポリイミド配向膜8aを10nmの膜厚で形成
し、さらにラビング処理を施した後、通常の液晶素子の
製造プロセスを経て図1に示すようなFLCの液晶パネ
ル1Aを完成する。
【0026】そして、このような構成の液晶パネル1A
において、液晶9の配向状態は良好なものであり、また
上下の透明電極4a,4b間のショートは全く発生しな
かった。
において、液晶9の配向状態は良好なものであり、また
上下の透明電極4a,4b間のショートは全く発生しな
かった。
【0027】このように、脱水された状態の下部絶縁膜
5a,5b及び微粒子分散膜6a,6bに上部絶縁膜7
a,7bを成膜することにより、下部絶縁膜5a,5
b、微粒子分散膜6a,6bはきわめて信頼性の高い絶
縁膜となる。なお、上部絶縁膜7a,7b形成後に大気
に曝されても下部絶縁膜5a,5b、微粒子分散膜6
a,6bの表面は直接室内環境には触れないために水分
の吸収はなくなる。
5a,5b及び微粒子分散膜6a,6bに上部絶縁膜7
a,7bを成膜することにより、下部絶縁膜5a,5
b、微粒子分散膜6a,6bはきわめて信頼性の高い絶
縁膜となる。なお、上部絶縁膜7a,7b形成後に大気
に曝されても下部絶縁膜5a,5b、微粒子分散膜6
a,6bの表面は直接室内環境には触れないために水分
の吸収はなくなる。
【0028】次に、既述した本実施の形態の第1の実施
例に係る形成順序と逆の形成順序により成膜するものに
ついて述べる。
例に係る形成順序と逆の形成順序により成膜するものに
ついて述べる。
【0029】この場合は、下部絶縁膜5a,5bとして
膜厚90nmのTa2 O5 をスパッタリング法により成
膜した後、上部絶縁膜7a,7b及び微粒子分散膜6
a,6bを印刷塗布、焼成によりそれぞれ膜厚60n
m、17nmに形成した。これら絶縁膜の形成条件は既
述した実施例1に示すものと同様であった。
膜厚90nmのTa2 O5 をスパッタリング法により成
膜した後、上部絶縁膜7a,7b及び微粒子分散膜6
a,6bを印刷塗布、焼成によりそれぞれ膜厚60n
m、17nmに形成した。これら絶縁膜の形成条件は既
述した実施例1に示すものと同様であった。
【0030】そして、このようにして得られた絶縁膜の
上にポリイミド系配向膜を10nmの膜厚で形成し、ラ
ビング、セル組立、液晶の注入と通常の液晶素子の製造
方法を経て液晶パネルを得たが、この液晶パネルの一部
(6パネル中2パネル)では上下の透明電極4a,4b
間のショートが発生したことが確認された。
上にポリイミド系配向膜を10nmの膜厚で形成し、ラ
ビング、セル組立、液晶の注入と通常の液晶素子の製造
方法を経て液晶パネルを得たが、この液晶パネルの一部
(6パネル中2パネル)では上下の透明電極4a,4b
間のショートが発生したことが確認された。
【0031】これは、絶縁膜の3層の上下関係を変えた
だけで液晶パネル1Aの上下ショートの発生を招く原因
となることを示している。すなわち、印刷・焼成型絶縁
膜であるMOFは水分を吸収しやすく膜を形成した後、
この比較例のように何も脱水処理を施していない場合
は、膜中に水分が入り込み絶縁膜全体の電気的耐圧が低
下するためであり、これはパネル全体の製造歩留まりを
低下させる一要因となるものである。
だけで液晶パネル1Aの上下ショートの発生を招く原因
となることを示している。すなわち、印刷・焼成型絶縁
膜であるMOFは水分を吸収しやすく膜を形成した後、
この比較例のように何も脱水処理を施していない場合
は、膜中に水分が入り込み絶縁膜全体の電気的耐圧が低
下するためであり、これはパネル全体の製造歩留まりを
低下させる一要因となるものである。
【0032】したがって、既述したようにまず印刷塗布
及び焼成で下部絶縁膜5a,5b及び微粒子分散膜6
a,6bを形成し、次にスパッタリング法により上部絶
縁膜7a,7bを形成することにより、上部絶縁膜7
a,7b形成の際に下部絶縁膜5a,5b及び微粒子分
散膜6a,6bが吸着していた水分の脱水を行うことが
でき、絶縁耐圧の優れた安定した絶縁膜を形成すること
ができる。
及び焼成で下部絶縁膜5a,5b及び微粒子分散膜6
a,6bを形成し、次にスパッタリング法により上部絶
縁膜7a,7bを形成することにより、上部絶縁膜7
a,7b形成の際に下部絶縁膜5a,5b及び微粒子分
散膜6a,6bが吸着していた水分の脱水を行うことが
でき、絶縁耐圧の優れた安定した絶縁膜を形成すること
ができる。
【0033】なお、下部絶縁膜5a,5bと微粒子分散
膜6a,6bを形成する材料としては、具体的には、一
酸化珪素、二酸化珪素、酸化アルミニウム、ジルコニ
ア、酸化セリウム、五酸化二タンタル、二酸化チタン等
の中から選ばれる一つまたは複数の材料を用いることが
できる。
膜6a,6bを形成する材料としては、具体的には、一
酸化珪素、二酸化珪素、酸化アルミニウム、ジルコニ
ア、酸化セリウム、五酸化二タンタル、二酸化チタン等
の中から選ばれる一つまたは複数の材料を用いることが
できる。
【0034】また、塗布用の材料として用いるインクに
おいて用いる有機金属化合物としては、オルガノメトキ
シシラン、オルガノエトキシシラン、などのオルガノア
ルコキシシラン、テトライソプロピルチタネート、ブチ
ルチタネートダイマー等のチタンオルソエステル、チタ
ンアセチルアセトネート、ポリチタンアセチルアセトネ
ート等のチタンキレート等があり、必要とする絶縁膜5
a,5b,6a,6bの組成比に応じてこれらを混合し
て用いることができる。
おいて用いる有機金属化合物としては、オルガノメトキ
シシラン、オルガノエトキシシラン、などのオルガノア
ルコキシシラン、テトライソプロピルチタネート、ブチ
ルチタネートダイマー等のチタンオルソエステル、チタ
ンアセチルアセトネート、ポリチタンアセチルアセトネ
ート等のチタンキレート等があり、必要とする絶縁膜5
a,5b,6a,6bの組成比に応じてこれらを混合し
て用いることができる。
【0035】さらに、上部絶縁膜7a,7bを形成する
材料としては、具体的には一酸化珪素、二酸化珪素、酸
化アルミニウム、ジルコニア、酸化セリウム、五酸化二
タンタル、二酸化チタン等を用いることができる。
材料としては、具体的には一酸化珪素、二酸化珪素、酸
化アルミニウム、ジルコニア、酸化セリウム、五酸化二
タンタル、二酸化チタン等を用いることができる。
【0036】次に、本実施の形態の第2の実施例を説明
する。
する。
【0037】この第2の実施例では、微粒子分散膜6
a,6bを形成するための溶液として平均粒径が45n
mのSiO2 微粒子を無機コーティング剤“AT−7
(日産化学製、Ti,Si,Al系)”に20wt%だ
け分散安定化させたコーティング液を用いるようにし
た。なお、溶液を変更した以外は、実施例1と同様にし
てパネル1Aを作製した。
a,6bを形成するための溶液として平均粒径が45n
mのSiO2 微粒子を無機コーティング剤“AT−7
(日産化学製、Ti,Si,Al系)”に20wt%だ
け分散安定化させたコーティング液を用いるようにし
た。なお、溶液を変更した以外は、実施例1と同様にし
てパネル1Aを作製した。
【0038】この場合、液晶9の配向状態は良好なもの
であり、また、上下の電極4a,4b間のショートは全
く発生しなかった。
であり、また、上下の電極4a,4b間のショートは全
く発生しなかった。
【0039】一方、このような平均粒径が45nmのS
iO2 微粒子を無機コーティング剤“AT−7(日産化
学製、Ti,Si,Al系)”20wt%だけ分散安定
化させたコーティング液を用い、既述した第2の実施例
に係る形成順序と逆の形成順序により表示素子を作製し
た。この場合、6パネル中2パネルに上下の透明電極4
a,4b間のショートが発生した。
iO2 微粒子を無機コーティング剤“AT−7(日産化
学製、Ti,Si,Al系)”20wt%だけ分散安定
化させたコーティング液を用い、既述した第2の実施例
に係る形成順序と逆の形成順序により表示素子を作製し
た。この場合、6パネル中2パネルに上下の透明電極4
a,4b間のショートが発生した。
【0040】次に、本実施の形態の第3の実施例を説明
する。
する。
【0041】この第3の実施例では、微粒子分散膜6
a,6bを形成するための溶液として、平均粒径が10
0nmのTiO2 微粒子をPZT系強誘電体薄膜形成剤
“PZT−7(三菱マテリアル製、Pb,Zr,Ti
系)”に10wt%だけ分散安定化させたコーティング
液を用いるようにした。なお、溶液を変更した以外は、
実施例1と同様にしてパネル1Aを作製した。
a,6bを形成するための溶液として、平均粒径が10
0nmのTiO2 微粒子をPZT系強誘電体薄膜形成剤
“PZT−7(三菱マテリアル製、Pb,Zr,Ti
系)”に10wt%だけ分散安定化させたコーティング
液を用いるようにした。なお、溶液を変更した以外は、
実施例1と同様にしてパネル1Aを作製した。
【0042】この場合、液晶9の配向状態は良好なもの
であり、また、上下の透明電極4a,4b間のショート
は全く発生しなかった。
であり、また、上下の透明電極4a,4b間のショート
は全く発生しなかった。
【0043】一方、このような平均粒径が100nmの
TiO2 微粒子をPZT系強誘電体薄膜形成剤“PZT
−7(三菱マテリアル製、Pb,Zr,Ti系)”に1
0wt%だけ分散安定化させたコーティング液を用い、
既述した第3の実施例に係る形成順序と逆の形成順序に
よりパネル1Aを作製した。この場合、6パネル中2パ
ネルに上下の透明電極4a,4b間のショートが発生し
た。
TiO2 微粒子をPZT系強誘電体薄膜形成剤“PZT
−7(三菱マテリアル製、Pb,Zr,Ti系)”に1
0wt%だけ分散安定化させたコーティング液を用い、
既述した第3の実施例に係る形成順序と逆の形成順序に
よりパネル1Aを作製した。この場合、6パネル中2パ
ネルに上下の透明電極4a,4b間のショートが発生し
た。
【0044】次に、本実施の形態の第4の実施例を説明
する。
する。
【0045】この第4の実施例では、微粒子分散膜6
a,6bを形成するための溶液として、平均粒径が80
nmのSiO2 微粒子を“COD(東京応化製、Si
系)”に10wt%だけ分散安定化させたコーティング
液を用いるようにした。なお、溶液を変更した以外は、
実施例1と同様にしてパネル1Aを作製した。
a,6bを形成するための溶液として、平均粒径が80
nmのSiO2 微粒子を“COD(東京応化製、Si
系)”に10wt%だけ分散安定化させたコーティング
液を用いるようにした。なお、溶液を変更した以外は、
実施例1と同様にしてパネル1Aを作製した。
【0046】この場合、液晶9の配向状態は良好なもの
であり、また、上下の透明電極4a,4b間のショート
は全く発生しなかった。
であり、また、上下の透明電極4a,4b間のショート
は全く発生しなかった。
【0047】一方、このような平均粒径が80nmのS
iO2 微粒子を“COD(東京応化製、Si系)”に1
0wt%だけ分散安定化させたコーティング液を用い、
既述した第4の実施例に係る形成順序と逆の形成順序に
よりパネル1Aを作製した。この場合、6パネル中2パ
ネルに上下の透明電極4a,4b間のショートが発生し
た。
iO2 微粒子を“COD(東京応化製、Si系)”に1
0wt%だけ分散安定化させたコーティング液を用い、
既述した第4の実施例に係る形成順序と逆の形成順序に
よりパネル1Aを作製した。この場合、6パネル中2パ
ネルに上下の透明電極4a,4b間のショートが発生し
た。
【0048】次に、本実施の形態の第5の実施例を説明
する。
する。
【0049】この第5の実施例では、微粒子分散膜6
a,6bを形成するための溶液として平均粒径が30n
mのAl2 O3 微粒子をアトロン“NTa−750(日
本曹達製、Ta系)”に30wt%だけ分散安定化させ
たコーティング液を用いるようにした。なお、溶液を変
更した以外は、実施例1と同様にしてパネル1Aを作製
した。この場合、液晶9の配向状態は良好なものであ
り、また、上下の透明電極4a,4b間のショートは全
く発生しなかった。
a,6bを形成するための溶液として平均粒径が30n
mのAl2 O3 微粒子をアトロン“NTa−750(日
本曹達製、Ta系)”に30wt%だけ分散安定化させ
たコーティング液を用いるようにした。なお、溶液を変
更した以外は、実施例1と同様にしてパネル1Aを作製
した。この場合、液晶9の配向状態は良好なものであ
り、また、上下の透明電極4a,4b間のショートは全
く発生しなかった。
【0050】一方、このような平均粒径が30nmのA
l2 O3 微粒子をアトロン“NTa−750(日本曹達
製、Ta系)”に30wt%だけ分散安定化させたコー
ティング液を用い、既述した第4の実施例に係る形成順
序と逆の形成順序によりパネル1Aを作製した。この場
合、6パネル中2パネルに上下の透明電極4a,4b間
のショートが発生した。
l2 O3 微粒子をアトロン“NTa−750(日本曹達
製、Ta系)”に30wt%だけ分散安定化させたコー
ティング液を用い、既述した第4の実施例に係る形成順
序と逆の形成順序によりパネル1Aを作製した。この場
合、6パネル中2パネルに上下の透明電極4a,4b間
のショートが発生した。
【0051】このように、印刷塗布及び焼成で形成した
下部絶縁膜5a,5b及び微粒子分散膜6a,6bの上
にスパッタリング法により上部絶縁膜7a,7bを形成
することにより、絶縁耐圧の優れた安定した絶縁膜を形
成することができる。
下部絶縁膜5a,5b及び微粒子分散膜6a,6bの上
にスパッタリング法により上部絶縁膜7a,7bを形成
することにより、絶縁耐圧の優れた安定した絶縁膜を形
成することができる。
【0052】なお、これまでの説明においては、強誘電
性液晶9を用いた液晶パネル1Aについて述べてきた
が、本発明はこれに限らずSTN液晶等を用いた液晶パ
ネルにも適用できる。そして、このような液晶を用いる
際、微粒子分散膜6a,6bを形成する必要がない場合
があり、この場合には下部絶縁膜5a,5bを印刷塗布
及び焼成で形成した後、スパッタリング法により上部絶
縁膜7a,7bを形成するようにすることにより、同様
の作用が得られる。
性液晶9を用いた液晶パネル1Aについて述べてきた
が、本発明はこれに限らずSTN液晶等を用いた液晶パ
ネルにも適用できる。そして、このような液晶を用いる
際、微粒子分散膜6a,6bを形成する必要がない場合
があり、この場合には下部絶縁膜5a,5bを印刷塗布
及び焼成で形成した後、スパッタリング法により上部絶
縁膜7a,7bを形成するようにすることにより、同様
の作用が得られる。
【0053】ところで、最後にこのようなパネル1Aを
備えた情報伝達装置における液晶パネル1Aの駆動構成
について、図6を用いて簡単に説明する。
備えた情報伝達装置における液晶パネル1Aの駆動構成
について、図6を用いて簡単に説明する。
【0054】本発明に係る液晶パネル1Aを備えたプリ
ンター、カラーディスプレー等の情報伝達装置において
は、同図に示すようにパネル1Aには走査信号印加回路
402及び情報信号印加回路403が接続されており、
これらの走査信号印加回路402及び情報信号印加回路
403には駆動制御回路404及びグラフィックコント
ローラ405が順に接続されている。そして、グラフィ
ックコントローラ405からはデータと走査方式信号と
が、駆動制御回路404を介して走査信号制御回路40
6及び情報信号制御回路407へ送信されるようになっ
ている。
ンター、カラーディスプレー等の情報伝達装置において
は、同図に示すようにパネル1Aには走査信号印加回路
402及び情報信号印加回路403が接続されており、
これらの走査信号印加回路402及び情報信号印加回路
403には駆動制御回路404及びグラフィックコント
ローラ405が順に接続されている。そして、グラフィ
ックコントローラ405からはデータと走査方式信号と
が、駆動制御回路404を介して走査信号制御回路40
6及び情報信号制御回路407へ送信されるようになっ
ている。
【0055】このうちのデータは、これらの走査信号制
御回路406及び情報信号制御回路407によって走査
線アドレスデータと表示データに変換され、また他方の
走査方式信号は、そのまま走査信号印加回路402及び
情報信号印加回路403に送られるようになっている。
御回路406及び情報信号制御回路407によって走査
線アドレスデータと表示データに変換され、また他方の
走査方式信号は、そのまま走査信号印加回路402及び
情報信号印加回路403に送られるようになっている。
【0056】さらに、走査信号印加回路402は、走査
線アドレスデータによって決まる走査電極に走査方式信
号によって決まる波形の走査信号を印加し、また情報信
号印加回路403は、表示データによって送られる白又
は黒の表示内容と走査方式信号の2つによって決まる波
形の情報信号を印加するように構成されている。
線アドレスデータによって決まる走査電極に走査方式信
号によって決まる波形の走査信号を印加し、また情報信
号印加回路403は、表示データによって送られる白又
は黒の表示内容と走査方式信号の2つによって決まる波
形の情報信号を印加するように構成されている。
【0057】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、電
極パターンの上に印刷塗布・焼成により形成された絶縁
膜と透明微粒子含有膜の上に絶縁膜を真空成膜すること
により、絶縁膜と透明微粒子含有膜とに含まれている水
分を除去することができ、絶縁耐圧の優れた安定した絶
縁膜を形成することができる。また、このようにして水
分を除去することにより、液晶素子の生産性、歩留まり
の向上した優れたパネルを供給することができ、コスト
ダウンにも大きく貢献することができる。
極パターンの上に印刷塗布・焼成により形成された絶縁
膜と透明微粒子含有膜の上に絶縁膜を真空成膜すること
により、絶縁膜と透明微粒子含有膜とに含まれている水
分を除去することができ、絶縁耐圧の優れた安定した絶
縁膜を形成することができる。また、このようにして水
分を除去することにより、液晶素子の生産性、歩留まり
の向上した優れたパネルを供給することができ、コスト
ダウンにも大きく貢献することができる。
【図1】本発明の実施の形態に係る液晶素子の製造方法
にて製造された液晶素子の模式的部分断面図。
にて製造された液晶素子の模式的部分断面図。
【図2】上記液晶素子の基板に設けられた透明電極の上
面に下部絶縁膜を形成した様子を示す模式的部分断面
図。
面に下部絶縁膜を形成した様子を示す模式的部分断面
図。
【図3】上記下部絶縁膜の上面に微粒子分散膜を形成し
た様子を示す模式的部分断面図。
た様子を示す模式的部分断面図。
【図4】上記微粒子分散膜の上面に上部絶縁膜を形成し
た様子を示す模式的部分断面図。
た様子を示す模式的部分断面図。
【図5】上記上部絶縁膜の上面にポリイミド配向膜を形
成した様子を示す模式的部分断面図。
成した様子を示す模式的部分断面図。
【図6】上記液晶素子を備えた情報伝達装置のブロック
構成図。
構成図。
1a、1b ガラス基板 4a、4b 透明電極 5a、5b 下部絶縁膜 6a、6b 微粒子分散膜 7a、7b 上部絶縁膜 8a、8b 配向制御膜 9 強誘電性液晶
Claims (4)
- 【請求項1】 液晶を挟持する一対の基板に設けられた
電極パターンの上にそれぞれ第1の絶縁膜と、透明な微
粒子を含有する膜と、第2の絶縁膜とを形成するように
した液晶素子の製造方法において、 前記第1の絶縁膜を印刷塗布、焼成により形成する工程
と、 前記透明な微粒子を含有する膜を印刷塗布、焼成により
形成する工程と、 前記第1の絶縁膜と透明微粒子含有膜の上に前記第2の
絶縁膜を真空成膜すると共に絶縁膜成膜時の高真空状態
により該第1の絶縁膜と透明微粒子含有膜に含まれてい
る水分を除去する工程と、を有してなることを特徴とす
る液晶素子の製造方法。 - 【請求項2】 前記第2の絶縁膜は、スパッタリング法
によって形成されることを特徴とする請求項1記載の液
晶素子の製造方法。 - 【請求項3】 前記第2の絶縁膜を形成する前に前記第
1の絶縁膜、又は前記第1の絶縁膜と透明微粒子含有膜
に対して予備加熱を行うことを特徴とする請求項1記載
の液晶素子の製造方法。 - 【請求項4】前記液晶は強誘電性液晶であることを特徴
とする請求項1記載の液晶素子の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19932396A JPH1048609A (ja) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | 液晶素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19932396A JPH1048609A (ja) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | 液晶素子の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1048609A true JPH1048609A (ja) | 1998-02-20 |
Family
ID=16405894
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19932396A Pending JPH1048609A (ja) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | 液晶素子の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1048609A (ja) |
-
1996
- 1996-07-29 JP JP19932396A patent/JPH1048609A/ja active Pending
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