JPH1051200A - 部品検出方法 - Google Patents
部品検出方法Info
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- JPH1051200A JPH1051200A JP8200584A JP20058496A JPH1051200A JP H1051200 A JPH1051200 A JP H1051200A JP 8200584 A JP8200584 A JP 8200584A JP 20058496 A JP20058496 A JP 20058496A JP H1051200 A JPH1051200 A JP H1051200A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 電子部品の電極表面の凹凸や電極への照明の
当たり具合によって生じる明暗等の影響を統計処理で軽
減し、電極の中心位置を精度良く検出する。 【解決手段】 電極の大まかな位置を検出した後、電極
のある対向する辺について、エッジ点を求め、投影用の
２次元座標軸を電極の偏角が零度になるように求め、各
辺から１つずつ任意に選んだ２つのエッジ点の中点位置
を求めて投影用座標軸のうちの前記の辺に直交する方の
軸に投影することを繰り返し、この軸上における中点位
置のヒストグラムを作成し、ヒストグラムのピーク位置
を通る線を電極の中心線とし、他の１辺についても同様
に電極の中心線を求め、これらの２つの中心線の交点を
電極の中点とする。
当たり具合によって生じる明暗等の影響を統計処理で軽
減し、電極の中心位置を精度良く検出する。 【解決手段】 電極の大まかな位置を検出した後、電極
のある対向する辺について、エッジ点を求め、投影用の
２次元座標軸を電極の偏角が零度になるように求め、各
辺から１つずつ任意に選んだ２つのエッジ点の中点位置
を求めて投影用座標軸のうちの前記の辺に直交する方の
軸に投影することを繰り返し、この軸上における中点位
置のヒストグラムを作成し、ヒストグラムのピーク位置
を通る線を電極の中心線とし、他の１辺についても同様
に電極の中心線を求め、これらの２つの中心線の交点を
電極の中点とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は電子部品装着機にお
いて、部品の装着位置の補正を行うために、視覚認識技
術を用いて部品の中心および角度を検出する部品検出方
法に関するものである。
いて、部品の装着位置の補正を行うために、視覚認識技
術を用いて部品の中心および角度を検出する部品検出方
法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、電子部品を基板上に実装する
電子部品装着機では、視覚認識技術を応用した部品検出
方法により部品位置決めが行われている。図２に示す電
子部品実装機の概念図および図１３から図１６を参照し
て、従来の部品検出方法について説明する。
電子部品装着機では、視覚認識技術を応用した部品検出
方法により部品位置決めが行われている。図２に示す電
子部品実装機の概念図および図１３から図１６を参照し
て、従来の部品検出方法について説明する。
【０００３】図２において、装着ヘッドの本体を形成す
る円筒部５６の外周に沿って、電子部品等の装着ノズル
５５が均等間隔で配置され、各ノズルは円筒部５６の軸
のまわりに間欠運転し、各作業位置に移動するととも
に、ノズルはそれ自体の軸においても自転可能である。
５７は電子部品装着機のデータ処理および制御を行うデ
ータ処理部であり、装置全体の動作制御プログラム及び
図１のフローに示される制御プログラムを含む各種のプ
ログラム、及び電子部品の実装順序、装着に必要な各電
子部品毎の装着位置（中心位置）、部品の方向（中心線
の方向）及び必要精度、その他の基礎データを内蔵して
いる。次に、装着の動作について説明する。装着ノズル
５５は、位置５５ａで部品供給部５４から、電子部品５
３を吸着保持し、位置５５ｂで装着に必要な大略の予備
回転（プリ回転）を行った後、位置５５ｃでＣＣＤ撮像
カメラ５１及び画像データ処理部（認識ボード）５０に
より、ノズル５５に対する吸着保持位置・姿勢を計測す
る。画像データ処理部５０には、撮像カメラ５１からの
画像出力を処理して、部品の中心・角度等を求めるプロ
グラムが内蔵されている。これらの部品の中心・角度等
と装着に要求される当該部品５３の装着位置・部品の方
向のデータの関係に基づいて、データ処理部５７からの
制御信号により、位置５５ｄでノズルの補正回転を行
い、正しい方向に部品５３の向きが修正された状態で、
位置５５ｅでプリント基盤５２の所定位置に前記部品５
３が装着される。
る円筒部５６の外周に沿って、電子部品等の装着ノズル
５５が均等間隔で配置され、各ノズルは円筒部５６の軸
のまわりに間欠運転し、各作業位置に移動するととも
に、ノズルはそれ自体の軸においても自転可能である。
５７は電子部品装着機のデータ処理および制御を行うデ
ータ処理部であり、装置全体の動作制御プログラム及び
図１のフローに示される制御プログラムを含む各種のプ
ログラム、及び電子部品の実装順序、装着に必要な各電
子部品毎の装着位置（中心位置）、部品の方向（中心線
の方向）及び必要精度、その他の基礎データを内蔵して
いる。次に、装着の動作について説明する。装着ノズル
５５は、位置５５ａで部品供給部５４から、電子部品５
３を吸着保持し、位置５５ｂで装着に必要な大略の予備
回転（プリ回転）を行った後、位置５５ｃでＣＣＤ撮像
カメラ５１及び画像データ処理部（認識ボード）５０に
より、ノズル５５に対する吸着保持位置・姿勢を計測す
る。画像データ処理部５０には、撮像カメラ５１からの
画像出力を処理して、部品の中心・角度等を求めるプロ
グラムが内蔵されている。これらの部品の中心・角度等
と装着に要求される当該部品５３の装着位置・部品の方
向のデータの関係に基づいて、データ処理部５７からの
制御信号により、位置５５ｄでノズルの補正回転を行
い、正しい方向に部品５３の向きが修正された状態で、
位置５５ｅでプリント基盤５２の所定位置に前記部品５
３が装着される。
【０００４】次に、上記ＣＣＤ撮像カメラ５１で撮像さ
れ、２次元濃淡画像に処理された部品の画像（以下、部
品と示す）から、部品の中心および傾きを求める方法に
ついて説明する。従来、部品の検出には次の２通りの方
法が用いられてきた。その１つは、部品の外形から部品
を検出する方法であり、他の１つは、部品の有する電極
の位置から部品の検出を行う方法である。後者の利点
は、電極を認識することにより、電極数や電極間の距離
を評価して部品の不良の判定ができることである。
れ、２次元濃淡画像に処理された部品の画像（以下、部
品と示す）から、部品の中心および傾きを求める方法に
ついて説明する。従来、部品の検出には次の２通りの方
法が用いられてきた。その１つは、部品の外形から部品
を検出する方法であり、他の１つは、部品の有する電極
の位置から部品の検出を行う方法である。後者の利点
は、電極を認識することにより、電極数や電極間の距離
を評価して部品の不良の判定ができることである。
【０００５】以下、図１３から図１６を参照して、部品
の電極の位置から部品検出を行う従来の部品検出方法に
ついて説明する。図１３は従来の部品検出方法を示すフ
ローチャートである。図３および図１４から図１６は、
図１３に示される手順における動作状態をそれぞれ表し
た図である。先ず、ステップ１で、撮像された部品画像
（以下、部品と示す）および予め与えられている部品の
寸法、電極数、電極間の距離等の部品データから、電極
６２の大まかな候補位置６３を検出する。例として、部
品６１のなかで比較的明るく撮像される箇所を電極の候
補位置６３とする方法を用いる。図３は図１３のステッ
プ１における動作を図に示したものである。
の電極の位置から部品検出を行う従来の部品検出方法に
ついて説明する。図１３は従来の部品検出方法を示すフ
ローチャートである。図３および図１４から図１６は、
図１３に示される手順における動作状態をそれぞれ表し
た図である。先ず、ステップ１で、撮像された部品画像
（以下、部品と示す）および予め与えられている部品の
寸法、電極数、電極間の距離等の部品データから、電極
６２の大まかな候補位置６３を検出する。例として、部
品６１のなかで比較的明るく撮像される箇所を電極の候
補位置６３とする方法を用いる。図３は図１３のステッ
プ１における動作を図に示したものである。
【０００６】次のステップ２で、前記電極位置６３を参
考に、図１４に示すように、電極６２の幅方向の端点６
５を検出するためのウィンドウ６４をはり、幅方向の端
点６５を検出する。端点の検出方法の例として、暗から
明へ、もしくは明から暗へといった明るさの変化する位
置を端点とする方法を用いる。次のステップ３で、図１
５に示すように、電極６２の長さ方向の端点６７を検出
するためのウィンドウ６６を、幅方向の端点６５で決定
される電極の中央部にはり、電極６２の長さ方向の端点
６７を求める。
考に、図１４に示すように、電極６２の幅方向の端点６
５を検出するためのウィンドウ６４をはり、幅方向の端
点６５を検出する。端点の検出方法の例として、暗から
明へ、もしくは明から暗へといった明るさの変化する位
置を端点とする方法を用いる。次のステップ３で、図１
５に示すように、電極６２の長さ方向の端点６７を検出
するためのウィンドウ６６を、幅方向の端点６５で決定
される電極の中央部にはり、電極６２の長さ方向の端点
６７を求める。
【０００７】次のステップ４で、ステップ１で検出した
電極について、上記ステップ２とステップ３を、繰り返
し行い、それぞれの電極について、長さ方向の端点６７
を求める。次のステップ５で、図１６に示すように、前
記長さ方向の端点６７を用いて、部品６１の中心６９お
よび部品と水平線との角度７０を求める。中心６９およ
び角度７０を求める方法は、部品の形状によってさまざ
まであり、図１６の例では、２つの電極６２の長さ方向
の端点６７を結んだ線分６８の中点を部品６１の中心６
９とし、また、前記線分６８の水平線との角度を部品６
１の角度７０とする。
電極について、上記ステップ２とステップ３を、繰り返
し行い、それぞれの電極について、長さ方向の端点６７
を求める。次のステップ５で、図１６に示すように、前
記長さ方向の端点６７を用いて、部品６１の中心６９お
よび部品と水平線との角度７０を求める。中心６９およ
び角度７０を求める方法は、部品の形状によってさまざ
まであり、図１６の例では、２つの電極６２の長さ方向
の端点６７を結んだ線分６８の中点を部品６１の中心６
９とし、また、前記線分６８の水平線との角度を部品６
１の角度７０とする。
【０００８】次のステップ６で、前記手順により求めた
電極の長さ方向の端点６７を用いて、電極数および電極
間の距離を検出し部品の変形等の評価を行う。
電極の長さ方向の端点６７を用いて、電極数および電極
間の距離を検出し部品の変形等の評価を行う。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】一般に、部品実装機に
おいて視覚認識部の部品検出は高い精度と信頼性が要求
されている。しかしながら、前記の従来の部品検出方法
では、部品の中心および角度の精度が、電極の長さ方向
の端点の検出精度に影響されるために、照明の当たり具
合や電極の表面処理加工による凹凸等によって、電極の
形状が正しく撮像されない場合には、部品検出が正しく
行われないという問題点がある。
おいて視覚認識部の部品検出は高い精度と信頼性が要求
されている。しかしながら、前記の従来の部品検出方法
では、部品の中心および角度の精度が、電極の長さ方向
の端点の検出精度に影響されるために、照明の当たり具
合や電極の表面処理加工による凹凸等によって、電極の
形状が正しく撮像されない場合には、部品検出が正しく
行われないという問題点がある。
【００１０】図１７は、本来長方形に近い形で撮像され
るべき電極の先端部が、前記の原因によって暗い影７６
が生じ、そのため誤った長さ方向の端点７２が検出され
た例を示している。また、図１８も前記の原因によっ
て、電極部に暗い影７６が生じて、誤った幅方向の端点
７４が検出されたために、それらを基準に検出される長
さ方向の端点７５が誤って検出された例を示している。
るべき電極の先端部が、前記の原因によって暗い影７６
が生じ、そのため誤った長さ方向の端点７２が検出され
た例を示している。また、図１８も前記の原因によっ
て、電極部に暗い影７６が生じて、誤った幅方向の端点
７４が検出されたために、それらを基準に検出される長
さ方向の端点７５が誤って検出された例を示している。
【００１１】このように、誤った電極の長さ方向の端点
７２および７５を用いて部品の中心位置６９や角度７０
を求めると、その検出精度に悪影響を生ずる。また、上
記ステップ５において、電極間の距離によって部品の変
形等の評価を行う場合に、誤った判定を行う場合が生ず
る。本発明は前記問題点に鑑み、部品の電極の撮像状態
に影響されにくい高精度の部品検出方法を提供すること
を目的とする。
７２および７５を用いて部品の中心位置６９や角度７０
を求めると、その検出精度に悪影響を生ずる。また、上
記ステップ５において、電極間の距離によって部品の変
形等の評価を行う場合に、誤った判定を行う場合が生ず
る。本発明は前記問題点に鑑み、部品の電極の撮像状態
に影響されにくい高精度の部品検出方法を提供すること
を目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明では、電極の位置検出にヒストグラムを用いて
統計的処理を実施することによって、照明の当たり具合
や、電極の表面処理加工のばらつきによる凹凸等によっ
て、電極の形状が正しく撮像されない場合に生ずる電極
位置の検出への悪影響を低減し、高精度でかつ安定した
部品検出が可能である。
に本発明では、電極の位置検出にヒストグラムを用いて
統計的処理を実施することによって、照明の当たり具合
や、電極の表面処理加工のばらつきによる凹凸等によっ
て、電極の形状が正しく撮像されない場合に生ずる電極
位置の検出への悪影響を低減し、高精度でかつ安定した
部品検出が可能である。
【００１３】
【発明の実施の形態】本発明の請求項に記載の発明は、
電子部品装着機における電子部品の中心および角度を検
出する部品検出方法であって、電子部品の電極の大まか
な位置を検出する第１工程と、電極の対向する辺のエッ
ジ点を求める第２工程と、電極の偏角が零度になるよう
に設定した投影用の２次元座標軸を求める第３工程と、
各辺から１つずつ任意に選んだ２つのエッジ点の中心位
置を求める第４工程と、求めた中心位置をステップ３で
求めた座標軸の両辺に直交する軸上に投影し、その位置
をヒストグラムに加算する第５工程と、第２工程から第
５工程を必要回数繰り返して求められた中点位置を、前
記座標軸上に投影加算してヒストグラムを作成する第６
工程と、前工程の処理結果から得られたヒストグラムの
ピーク位置を検出し、このピーク位置を通り前記対向す
る辺に平行な線を電極の中心線とする第７工程と、他の
一辺についても同様の工程により中心線を求める第８工
程と、求めた２つの中心線の交点を電極の中点とする第
９工程と、第１工程で検出した電極についてそれぞれ繰
り返す第１０工程と、電極の中心を用いて、部品の中心
位置および角度を求める第１１工程と、検出した電極の
位置を用いて、電極数・電極間距離から部品の状態や品
質を評価する第１２工程からなる部品検出方法であり、
前記のような電極の撮像状態が安定しない場合であって
も、高精度で部品を検出できるという作用を有する。
電子部品装着機における電子部品の中心および角度を検
出する部品検出方法であって、電子部品の電極の大まか
な位置を検出する第１工程と、電極の対向する辺のエッ
ジ点を求める第２工程と、電極の偏角が零度になるよう
に設定した投影用の２次元座標軸を求める第３工程と、
各辺から１つずつ任意に選んだ２つのエッジ点の中心位
置を求める第４工程と、求めた中心位置をステップ３で
求めた座標軸の両辺に直交する軸上に投影し、その位置
をヒストグラムに加算する第５工程と、第２工程から第
５工程を必要回数繰り返して求められた中点位置を、前
記座標軸上に投影加算してヒストグラムを作成する第６
工程と、前工程の処理結果から得られたヒストグラムの
ピーク位置を検出し、このピーク位置を通り前記対向す
る辺に平行な線を電極の中心線とする第７工程と、他の
一辺についても同様の工程により中心線を求める第８工
程と、求めた２つの中心線の交点を電極の中点とする第
９工程と、第１工程で検出した電極についてそれぞれ繰
り返す第１０工程と、電極の中心を用いて、部品の中心
位置および角度を求める第１１工程と、検出した電極の
位置を用いて、電極数・電極間距離から部品の状態や品
質を評価する第１２工程からなる部品検出方法であり、
前記のような電極の撮像状態が安定しない場合であって
も、高精度で部品を検出できるという作用を有する。
【００１４】以下に、図１から図１０を参照して本発明
の具体例を説明する。図１は本発明の実施例の全体の構
成を示すフローチャートであり、１から１３にはそれぞ
れの実施の手順が示されている。また、図２の電子部品
実装機については、従来例で説明したものを援用する。
図３から図１０は、図１に示される手順における動作状
態をそれぞれ表した図である。図１の点線で囲った部分
は特開平７−１７５７９８号公報の実施例に示された部
品検出方法を電極の検出に適用したものである。
の具体例を説明する。図１は本発明の実施例の全体の構
成を示すフローチャートであり、１から１３にはそれぞ
れの実施の手順が示されている。また、図２の電子部品
実装機については、従来例で説明したものを援用する。
図３から図１０は、図１に示される手順における動作状
態をそれぞれ表した図である。図１の点線で囲った部分
は特開平７−１７５７９８号公報の実施例に示された部
品検出方法を電極の検出に適用したものである。
【００１５】先ず、ステップ１で、撮像された部品画像
（以下、部品と示す）および予め与えられている部品の
寸法、電極数、電極間の距離等の部品データから、電極
６２の大まかな候補位置６３を検出する。図３はステッ
プ１における検出動作を図で示したものである。ステッ
プ２は、電極６２のある１辺およびその辺に対向する辺
の境界点（エッジ点）を検出する。図４に示すように、
電極６２を下向きの走査線８０により走査し、各走査線
毎に多数のエッジ点８１を検出する。次に、図５に示す
ように、図４の下向きの走査線とは反対方向の走査線８
２により、前記辺と対向する辺のエッジ点８３を各走査
線毎に多数検出する。
（以下、部品と示す）および予め与えられている部品の
寸法、電極数、電極間の距離等の部品データから、電極
６２の大まかな候補位置６３を検出する。図３はステッ
プ１における検出動作を図で示したものである。ステッ
プ２は、電極６２のある１辺およびその辺に対向する辺
の境界点（エッジ点）を検出する。図４に示すように、
電極６２を下向きの走査線８０により走査し、各走査線
毎に多数のエッジ点８１を検出する。次に、図５に示す
ように、図４の下向きの走査線とは反対方向の走査線８
２により、前記辺と対向する辺のエッジ点８３を各走査
線毎に多数検出する。
【００１６】ステップ３は、図６に示すように、楕円近
似法等の手法で求めた電極の偏角を基に、投影用の座標
軸ｘ，ｙを設定する。次のステップ４は、図７に示すよ
うに、両辺のエッジ点８１、８３の中からそれぞれ１点
ずつ任意にピックアップし、この２点の中点９５を求め
るものであり、ステップ５は、ステップ４で求めた中点
９５の位置を、ステップ３で求めた座標軸ｘ，ｙの前記
両辺に直交する方向のｙ軸上に投影し、その位置をヒス
トグラムに加算するものである。
似法等の手法で求めた電極の偏角を基に、投影用の座標
軸ｘ，ｙを設定する。次のステップ４は、図７に示すよ
うに、両辺のエッジ点８１、８３の中からそれぞれ１点
ずつ任意にピックアップし、この２点の中点９５を求め
るものであり、ステップ５は、ステップ４で求めた中点
９５の位置を、ステップ３で求めた座標軸ｘ，ｙの前記
両辺に直交する方向のｙ軸上に投影し、その位置をヒス
トグラムに加算するものである。
【００１７】ステップ６は、ステップ３からステップ５
の作業を必要回数繰り返し、中点９５のｙ座標の位置を
加算し、ｙ軸上にヒストグラム８６を作成する。ステッ
プ７は、図８に示すように、ヒストグラム８６のピーク
８７を検出し、その位置８７からｘ軸に沿って延長した
直線を電極６２の中心線８８とする。ステップ８は、他
の一組の辺についても同様にステップ３からステップ７
の作業を繰り返す。
の作業を必要回数繰り返し、中点９５のｙ座標の位置を
加算し、ｙ軸上にヒストグラム８６を作成する。ステッ
プ７は、図８に示すように、ヒストグラム８６のピーク
８７を検出し、その位置８７からｘ軸に沿って延長した
直線を電極６２の中心線８８とする。ステップ８は、他
の一組の辺についても同様にステップ３からステップ７
の作業を繰り返す。
【００１８】ステップ９は、図９に示すように、前記の
作業で求めた中心線８８の交点を電極６２の中心８９と
決定する。ステップ１０は、ステップ１で検出したすべ
ての電極について前記ステップ２からステップ９を行
い、ステップ１１は、前記で決定された電極の中心８９
を用いて、部品の中心６９を求める。図１０は、２つの
電極を有する部品の例で、それぞれの電極の中心８９を
結んだ線分９０の中点の位置を部品６１の中心６９と
し、線分９０の水平線との偏角を部品６１の角度７０と
する。
作業で求めた中心線８８の交点を電極６２の中心８９と
決定する。ステップ１０は、ステップ１で検出したすべ
ての電極について前記ステップ２からステップ９を行
い、ステップ１１は、前記で決定された電極の中心８９
を用いて、部品の中心６９を求める。図１０は、２つの
電極を有する部品の例で、それぞれの電極の中心８９を
結んだ線分９０の中点の位置を部品６１の中心６９と
し、線分９０の水平線との偏角を部品６１の角度７０と
する。
【００１９】ステップ１２は、前記電極の中心８９か
ら、電極数や電極間の距離を求め、部品の変形等の不良
がないかを評価する。図１０の例では、電極間の距離で
ある線分９０の長さと、予め与えられている部品６１の
電極間の距離とを比較して、部品６１が変形していない
かを評価する。図１１は、本来長方形に近い形で撮像さ
れるべき電極の先端部に、前記の原因によって暗い影７
６が生じた場合であっても、正しく電極の中心８９が検
出された状態を示している。
ら、電極数や電極間の距離を求め、部品の変形等の不良
がないかを評価する。図１０の例では、電極間の距離で
ある線分９０の長さと、予め与えられている部品６１の
電極間の距離とを比較して、部品６１が変形していない
かを評価する。図１１は、本来長方形に近い形で撮像さ
れるべき電極の先端部に、前記の原因によって暗い影７
６が生じた場合であっても、正しく電極の中心８９が検
出された状態を示している。
【００２０】また、図１２も、前記の原因によって電極
部に暗い影７６が生じた場合であるが、同様に正しい電
極の中心８９が検出できている。
部に暗い影７６が生じた場合であるが、同様に正しい電
極の中心８９が検出できている。
【００２１】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、電極の位
置から部品検出を行う場合に、電極の表面処理加工によ
る凹凸や電極への照明の当たり具合によって生じる明暗
などの影響を、ヒストグラムを用いる統計的処理で軽減
し、正しい電極の中心を検出するので、精度および信頼
性の高い認識結果を得ることが可能である。
置から部品検出を行う場合に、電極の表面処理加工によ
る凹凸や電極への照明の当たり具合によって生じる明暗
などの影響を、ヒストグラムを用いる統計的処理で軽減
し、正しい電極の中心を検出するので、精度および信頼
性の高い認識結果を得ることが可能である。
【図１】本発明の一実施の形態を示すフローチャートで
ある。
ある。
【図２】本発明で使用される部品装着機の構成図であ
る。
る。
【図３】従来の部品検出方法および本発明の部品検出方
法による部品検出の概念図である。
法による部品検出の概念図である。
【図４】本発明による部品検出方法の部品検出の概念図
である。
である。
【図５】本発明による部品検出方法の部品検出の概念図
である。
である。
【図６】本発明による部品検出方法の部品検出の概念図
である。
である。
【図７】本発明による部品検出方法の部品検出の概念図
である。
である。
【図８】本発明による部品検出方法の部品検出の概念図
である。
である。
【図９】本発明による部品検出方法の部品検出の概念図
である。
である。
【図１０】本発明による部品検出方法の部品検出の概念
図である。
図である。
【図１１】一部分に暗い影がある電極を本発明による部
品検出方法で実施した適用例である。
品検出方法で実施した適用例である。
【図１２】一部分に暗い影がある電極を本発明による部
品検出方法で実施した適用例である。
品検出方法で実施した適用例である。
【図１３】従来の部品検出方法の一実施の形態を表すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図１４】従来の部品検出方法の部品検出の概念図であ
る。
る。
【図１５】従来の部品検出方法の部品検出の概念図であ
る。
る。
【図１６】従来の部品検出方法の部品検出の概念図であ
る。
る。
【図１７】一部分に暗い影がある電極を従来の部品検出
方法で実施した適用例である。
方法で実施した適用例である。
【図１８】一部分に暗い影がある電極を従来の部品検出
方法で実施した適用例である。
方法で実施した適用例である。
ステップ１ 部品の電極の大まかな位置を検出する工程 ステップ２ 電極のエッジ点を検出する工程 ステップ３ 電極の投影用の座標軸を設定する工程 ステップ４ 対向する両辺のエッジ点から両点の中点を
求める工程 ステップ５ エッジ点の中点位置からヒストグラムを作
成する工程 ステップ６ 数回繰り返す工程 ステップ７ ヒストグラムのピーク位置から電極の中心
線を求める工程 ステップ８ 他の１辺について繰り返す工程 ステップ９ 中心線の交点から電極の中心を求める工程 ステップ１０ ステップ１で検出した電極に繰り返す工
程 ステップ１１ 部品の中心および角度を求める工程 ステップ１２ 電極数や電極間距離等を評価する工程 ５０ 画像データ処理部 ５１ ＣＣＤカメラ ５３ 部品 ５５ａ〜ｅ 吸着ノズル ５６ ロータリーテーブル ５７ データ処理部 ６１ 部品 ６２ 電極 ６３ 電極の大まかな位置 ７６ 電極の表面の凹凸や照明の当たり具合によって暗
く撮像された電極の一部 ８１ エッジ点 ８３ エッジ点 ８５ ヒストグラム投影座標軸 ８６ エッジ点の中点の位置ヒストグラム ８７ ヒストグラムのピーク点 ８８ 電極の中心線 ８９ 電極の中心
求める工程 ステップ５ エッジ点の中点位置からヒストグラムを作
成する工程 ステップ６ 数回繰り返す工程 ステップ７ ヒストグラムのピーク位置から電極の中心
線を求める工程 ステップ８ 他の１辺について繰り返す工程 ステップ９ 中心線の交点から電極の中心を求める工程 ステップ１０ ステップ１で検出した電極に繰り返す工
程 ステップ１１ 部品の中心および角度を求める工程 ステップ１２ 電極数や電極間距離等を評価する工程 ５０ 画像データ処理部 ５１ ＣＣＤカメラ ５３ 部品 ５５ａ〜ｅ 吸着ノズル ５６ ロータリーテーブル ５７ データ処理部 ６１ 部品 ６２ 電極 ６３ 電極の大まかな位置 ７６ 電極の表面の凹凸や照明の当たり具合によって暗
く撮像された電極の一部 ８１ エッジ点 ８３ エッジ点 ８５ ヒストグラム投影座標軸 ８６ エッジ点の中点の位置ヒストグラム ８７ ヒストグラムのピーク点 ８８ 電極の中心線 ８９ 電極の中心
フロントページの続き (72)発明者 秦 純一 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 森本 正通 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】 電子部品装着機における電子部品の中心
および角度を検出する部品検出方法であって、電子部品
の電極の大まかな位置を検出する第１工程と、電極の対
向する辺のエッジ点を求める第２工程と、電極の偏角が
零度になるように設定した投影用の２次元座標軸を求め
る第３工程と、各辺から１つずつ任意に選んだ２つのエ
ッジ点の中心位置を求める第４工程と、求めた中心位置
をステップ３で求めた座標軸の両辺に直交する軸上に投
影し、その位置をヒストグラムに加算する第５工程と、
第２工程から第５工程を必要回数繰り返して求められた
中点位置を、前記座標軸上に投影加算してヒストグラム
を作成する第６工程と、前工程の処理結果から得られた
ヒストグラムのピーク位置を検出し、このピーク位置を
通り前記対向する辺に平行な線を電極の中心線とする第
７工程と、他の一辺についても同様の工程により中心線
を求める第８工程と、求めた２つの中心線の交点を電極
の中点とする第９工程と、第１工程で検出した電極につ
いてそれぞれ繰り返す第１０工程と、電極の中心を用い
て、部品の中心位置および角度を求める第１１工程と、
検出した電極の位置を用いて、電極数・電極間距離から
部品の状態や品質を評価する第１２工程からなる部品検
出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20058496A JP3720476B2 (ja) | 1996-07-30 | 1996-07-30 | 部品検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20058496A JP3720476B2 (ja) | 1996-07-30 | 1996-07-30 | 部品検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1051200A true JPH1051200A (ja) | 1998-02-20 |
| JP3720476B2 JP3720476B2 (ja) | 2005-11-30 |
Family
ID=16426780
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20058496A Expired - Lifetime JP3720476B2 (ja) | 1996-07-30 | 1996-07-30 | 部品検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3720476B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010256341A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-11-11 | Toshiba Mach Co Ltd | 刃先位置検出方法および刃先位置検出装置 |
| JP2011106947A (ja) * | 2009-11-17 | 2011-06-02 | Hitachi High-Technologies Corp | エッジ部分検出方法、測長方法、荷電粒子線装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0510719A (ja) * | 1991-07-04 | 1993-01-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品の位置検出方法 |
| JPH05107030A (ja) * | 1991-10-16 | 1993-04-27 | Nippon Avionics Co Ltd | 欠落部を有する対象物の中心位置を求める方法 |
| JPH0926307A (ja) * | 1995-07-12 | 1997-01-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 部品検出方法 |
-
1996
- 1996-07-30 JP JP20058496A patent/JP3720476B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0510719A (ja) * | 1991-07-04 | 1993-01-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品の位置検出方法 |
| JPH05107030A (ja) * | 1991-10-16 | 1993-04-27 | Nippon Avionics Co Ltd | 欠落部を有する対象物の中心位置を求める方法 |
| JPH0926307A (ja) * | 1995-07-12 | 1997-01-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 部品検出方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010256341A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-11-11 | Toshiba Mach Co Ltd | 刃先位置検出方法および刃先位置検出装置 |
| JP2011106947A (ja) * | 2009-11-17 | 2011-06-02 | Hitachi High-Technologies Corp | エッジ部分検出方法、測長方法、荷電粒子線装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3720476B2 (ja) | 2005-11-30 |
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