JPH1064109A - 受発光装置とこれを利用した光学ピックアップ - Google Patents
受発光装置とこれを利用した光学ピックアップInfo
- Publication number
- JPH1064109A JPH1064109A JP8233637A JP23363796A JPH1064109A JP H1064109 A JPH1064109 A JP H1064109A JP 8233637 A JP8233637 A JP 8233637A JP 23363796 A JP23363796 A JP 23363796A JP H1064109 A JPH1064109 A JP H1064109A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- semiconductor substrate
- light emitting
- receiving
- incident
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 一体型受発光素子を用いた小型の構成にして
も、回折格子を組み込めるようにした、受発光装置を提
供すること。 【解決手段】 第一の半導体基板32a上に形成された
受光素子32d,32eと、前記第一の半導体基板上に
搭載された第二の半導体基板32b上に形成された発光
素子32cと、第一の半導体基板上にて、受光素子を覆
うように配設された中空部33aを有し、この中空部
が、前記発光素子からの出射光を内面反射させ、外部か
らの入射光を透過させる光分岐面33bを備えていると
共に、前記発光素子からのレーザ光が入射して前記光分
岐面に達する光路中に、発光素子からの出射光を少なく
とも二つ以上の波面に分割するための回折格子37を有
する、光分岐部品33とを備える。
も、回折格子を組み込めるようにした、受発光装置を提
供すること。 【解決手段】 第一の半導体基板32a上に形成された
受光素子32d,32eと、前記第一の半導体基板上に
搭載された第二の半導体基板32b上に形成された発光
素子32cと、第一の半導体基板上にて、受光素子を覆
うように配設された中空部33aを有し、この中空部
が、前記発光素子からの出射光を内面反射させ、外部か
らの入射光を透過させる光分岐面33bを備えていると
共に、前記発光素子からのレーザ光が入射して前記光分
岐面に達する光路中に、発光素子からの出射光を少なく
とも二つ以上の波面に分割するための回折格子37を有
する、光分岐部品33とを備える。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク,光磁
気ディスク,相変化型ディスク等の光学式ディスクの記
録及び/又は再生を行なうための受発光装置と、これを
用いた光学ピックアップ及び光ディスク装置に関するも
のである。
気ディスク,相変化型ディスク等の光学式ディスクの記
録及び/又は再生を行なうための受発光装置と、これを
用いた光学ピックアップ及び光ディスク装置に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】従来、コンパクトディスク用の光学ピッ
クアップは、例えば、図6に示すように構成されてい
る。図6において、光学ピックアップ1は、対物レンズ
2と、ベース部3と、ベース部3上に配設された光路折
曲げミラー4,5と、受発光装置6とを含んでいる。
クアップは、例えば、図6に示すように構成されてい
る。図6において、光学ピックアップ1は、対物レンズ
2と、ベース部3と、ベース部3上に配設された光路折
曲げミラー4,5と、受発光装置6とを含んでいる。
【0003】光学ピックアップ1は、対物レンズ2がフ
ォーカシング方向及びトラッキング方向に移動されるこ
とにより、受発光装置5から出射されたレーザ光を光路
折曲げミラー4,5及び対物レンズ2を介して、対物レ
ンズ2の上方で回転駆動される光ディスク7の信号記録
面上のある一点に収束合焦させ、光ディスク7の信号記
録面から反射されたレーザ光(戻り光)を対物レンズ2
及び光路折曲げミラー5,4を介して受発光装置6内に
入射させる。
ォーカシング方向及びトラッキング方向に移動されるこ
とにより、受発光装置5から出射されたレーザ光を光路
折曲げミラー4,5及び対物レンズ2を介して、対物レ
ンズ2の上方で回転駆動される光ディスク7の信号記録
面上のある一点に収束合焦させ、光ディスク7の信号記
録面から反射されたレーザ光(戻り光)を対物レンズ2
及び光路折曲げミラー5,4を介して受発光装置6内に
入射させる。
【0004】ここで、光路折曲げミラー4,5は、それ
ぞれベース部3上に固定配置された立ち上げミラーであ
って、受発光装置6から出射されたレーザ光を対物レン
ズ2に導き、また、光ディスク7からの戻り光を対物レ
ンズ2から受発光装置6に導くようになっている。ま
た、図示しない二軸アクチュエータにより、対物レンズ
2がフォーカシング方向及びトラッキング方向に移動調
整されることにより、受発光装置6から出射されたレー
ザ光は、折曲げミラー4,5,対物レンズ2を介して、
光ディスク7の信号記録面に収束合焦するようになって
いる。光ディスク7の信号記録面で反射されたレーザ光
(戻り光)は、対物レンズ2及び折曲げミラー5,4を
介して、受発光装置6に入射される。
ぞれベース部3上に固定配置された立ち上げミラーであ
って、受発光装置6から出射されたレーザ光を対物レン
ズ2に導き、また、光ディスク7からの戻り光を対物レ
ンズ2から受発光装置6に導くようになっている。ま
た、図示しない二軸アクチュエータにより、対物レンズ
2がフォーカシング方向及びトラッキング方向に移動調
整されることにより、受発光装置6から出射されたレー
ザ光は、折曲げミラー4,5,対物レンズ2を介して、
光ディスク7の信号記録面に収束合焦するようになって
いる。光ディスク7の信号記録面で反射されたレーザ光
(戻り光)は、対物レンズ2及び折曲げミラー5,4を
介して、受発光装置6に入射される。
【0005】上記受発光装置6は、図7及び図8に示す
ように、第一の半導体基板6a上に光出力用の第二の半
導体基板6bが載置され、この第二の半導体基板6b上
に発光素子としての半導体レーザ6cが搭載されてい
る。半導体レーザ6cの前方の第一の半導体基板6a上
には、台形形状の半透過反射部品としてのマイクロプリ
ズム6dが、その半透過面としての傾斜面を半導体レー
ザ6c側にして、設置されている。
ように、第一の半導体基板6a上に光出力用の第二の半
導体基板6bが載置され、この第二の半導体基板6b上
に発光素子としての半導体レーザ6cが搭載されてい
る。半導体レーザ6cの前方の第一の半導体基板6a上
には、台形形状の半透過反射部品としてのマイクロプリ
ズム6dが、その半透過面としての傾斜面を半導体レー
ザ6c側にして、設置されている。
【0006】さらに、受発光装置6は、その全体がカバ
ー8により覆われている。これにより、半導体レーザ6
cから第二の半導体基板6bの表面に沿って出射した光
ビームは、マイクロプリズム6dの傾斜面にて反射され
て、図6にて上方に向かって進み、折曲げミラー4に向
かって進むことになる。そして、折曲げミラー4,5に
より反射された光ビームは、対物レンズ2を介して、光
ディスク7の信号記録面に収束される。光ディスク7の
信号記録面からの戻り光は、再び、対物レンズ2,折曲
げミラー5,4を介して、マイクロプリズム6dの傾斜
面から、マイクロプリズム6d内に入射し、マイクロプ
リズム6dの底面に達する。このマイクロプリズム6d
の底面に達した戻り光は、一部がこの底面を透過すると
共に、一部がこの底面で反射され、マイクロプリズム6
dの上面に向かって進む。
ー8により覆われている。これにより、半導体レーザ6
cから第二の半導体基板6bの表面に沿って出射した光
ビームは、マイクロプリズム6dの傾斜面にて反射され
て、図6にて上方に向かって進み、折曲げミラー4に向
かって進むことになる。そして、折曲げミラー4,5に
より反射された光ビームは、対物レンズ2を介して、光
ディスク7の信号記録面に収束される。光ディスク7の
信号記録面からの戻り光は、再び、対物レンズ2,折曲
げミラー5,4を介して、マイクロプリズム6dの傾斜
面から、マイクロプリズム6d内に入射し、マイクロプ
リズム6dの底面に達する。このマイクロプリズム6d
の底面に達した戻り光は、一部がこの底面を透過すると
共に、一部がこの底面で反射され、マイクロプリズム6
dの上面に向かって進む。
【0007】ここで、マイクロプリズム6dの戻り光入
射位置の下部の第一の半導体基板6a上には、第一の光
検出器6eが形成されている。また、上記底面で反射さ
れた戻り光は、マイクロプリズム6dの上面にて反射さ
れて、再びマイクロプリズム6dの底面に入射される。
そして、マイクロプリズム6dの上面で反射された戻り
光の入射されるマイクロプリズム6dの底面部分の下部
の第一の半導体基板6aには、第二の光検出器6fが形
成されている。上記第一の光検出器6e,第二の光検出
器6fは、それぞれ複数のセンサブロックに分割されて
おり、各センサブロックの検出信号がそれぞれ独立して
出力されるようになっている。尚、第二の半導体基板6
b上には、半導体レーザ6cの出射側とは反対側に、第
三の光検出器6gが備えられている。この第三の光検出
器6gは、半導体レーザ6cの発光強度をモニタするた
めのものである。
射位置の下部の第一の半導体基板6a上には、第一の光
検出器6eが形成されている。また、上記底面で反射さ
れた戻り光は、マイクロプリズム6dの上面にて反射さ
れて、再びマイクロプリズム6dの底面に入射される。
そして、マイクロプリズム6dの上面で反射された戻り
光の入射されるマイクロプリズム6dの底面部分の下部
の第一の半導体基板6aには、第二の光検出器6fが形
成されている。上記第一の光検出器6e,第二の光検出
器6fは、それぞれ複数のセンサブロックに分割されて
おり、各センサブロックの検出信号がそれぞれ独立して
出力されるようになっている。尚、第二の半導体基板6
b上には、半導体レーザ6cの出射側とは反対側に、第
三の光検出器6gが備えられている。この第三の光検出
器6gは、半導体レーザ6cの発光強度をモニタするた
めのものである。
【0008】このように構成された光学ピックアップ1
によれば、受発光装置6の半導体レーザ6cから出射さ
れたレーザ光は、マイクロプリズム6dの傾斜面に入射
し、この傾斜面で、反射される。マイクロプリズム6d
の傾斜面で反射されたレーザ光は、立ち上げミラー6a
及び対物レンズ2を介して、光ディスク7の信号記録面
の所望のトラック位置のある一点に集束される。光ディ
スク7からの戻り光は、再び、対物レンズ2,立ち上げ
ミラー6aを介して、受発光装置6のマイクロプリズム
6dの傾斜面に入射し、この傾斜面を透過することによ
り、マイクロプリズム6d内に進む。
によれば、受発光装置6の半導体レーザ6cから出射さ
れたレーザ光は、マイクロプリズム6dの傾斜面に入射
し、この傾斜面で、反射される。マイクロプリズム6d
の傾斜面で反射されたレーザ光は、立ち上げミラー6a
及び対物レンズ2を介して、光ディスク7の信号記録面
の所望のトラック位置のある一点に集束される。光ディ
スク7からの戻り光は、再び、対物レンズ2,立ち上げ
ミラー6aを介して、受発光装置6のマイクロプリズム
6dの傾斜面に入射し、この傾斜面を透過することによ
り、マイクロプリズム6d内に進む。
【0009】マイクロプリズム6d内に入射した戻り光
は、このマイクロプリズム6dの底面に達する。この底
面に入射した戻り光は、一部が透過すると共に、一部が
マイクロプリズム6dの上面方向に反射される。底面を
通過した戻り光は、第一の光検出器6eに入射され、他
方、底面で反射された戻り光は、マイクロプリズム6d
の上面で反射され、マイクロプリズム6dの底面を通過
して、第二の光検出器6fに入射する。
は、このマイクロプリズム6dの底面に達する。この底
面に入射した戻り光は、一部が透過すると共に、一部が
マイクロプリズム6dの上面方向に反射される。底面を
通過した戻り光は、第一の光検出器6eに入射され、他
方、底面で反射された戻り光は、マイクロプリズム6d
の上面で反射され、マイクロプリズム6dの底面を通過
して、第二の光検出器6fに入射する。
【0010】このように戻り光が、第一の光検出器6e
及び第二の光検出器6fに入射するので、光検出器6e
及び6fの各センサブロックからの検出信号に基づい
て、再生信号や、例えばいわゆる差動3分割法により、
フォーカス信号が検出され、また第一の光検出器6eの
各センサ部の検出信号の差に基づいて、トラッキングエ
ラーが検出される。
及び第二の光検出器6fに入射するので、光検出器6e
及び6fの各センサブロックからの検出信号に基づい
て、再生信号や、例えばいわゆる差動3分割法により、
フォーカス信号が検出され、また第一の光検出器6eの
各センサ部の検出信号の差に基づいて、トラッキングエ
ラーが検出される。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
構成の光ピックアップ1においては、受発光装置6が使
用されていることから、受発光装置6の光源である半導
体レーザ素子6cと光分割のためのマイクロプリズム6
dの傾斜面との間の間隔が小さく、しかも全体がパッケ
ージ化されているので、回折格子を配設することは極め
て困難である。従って、このような構成の光学ピックア
ップ1においては、回折格子による波面分割を行なわず
に、所謂1ビーム方式のトラッキングエラー検出方法が
採用されるため、高精度のトラッキングエラー検出を行
なうことができず、信頼性が比較的低くなってしまうと
いう問題があった。
構成の光ピックアップ1においては、受発光装置6が使
用されていることから、受発光装置6の光源である半導
体レーザ素子6cと光分割のためのマイクロプリズム6
dの傾斜面との間の間隔が小さく、しかも全体がパッケ
ージ化されているので、回折格子を配設することは極め
て困難である。従って、このような構成の光学ピックア
ップ1においては、回折格子による波面分割を行なわず
に、所謂1ビーム方式のトラッキングエラー検出方法が
採用されるため、高精度のトラッキングエラー検出を行
なうことができず、信頼性が比較的低くなってしまうと
いう問題があった。
【0012】これに対して、例えば図9に示すように、
光源としての発光素子及び光検出器としての受光素子が
別体である光学ピックアップ10においては、発光素子
である半導体レーザ素子11からのレーザ光ビームは、
回折格子12によって波面分割された後、ビームスプリ
ッタ13のハーフミラー面で反射されて、対物レンズ1
4を介して図示しない光ディスクの信号記録面に集束さ
れるようになっている。光ディスクの信号記録面からの
戻り光は、再び対物レンズ14を介してビームスプリッ
タ13に入射し、そのハーフミラー面を透過して、検出
感度を向上させるための凹レンズ15を介して、光検出
器16に入射することにより、光ディスクの信号が検出
されるようになっている。
光源としての発光素子及び光検出器としての受光素子が
別体である光学ピックアップ10においては、発光素子
である半導体レーザ素子11からのレーザ光ビームは、
回折格子12によって波面分割された後、ビームスプリ
ッタ13のハーフミラー面で反射されて、対物レンズ1
4を介して図示しない光ディスクの信号記録面に集束さ
れるようになっている。光ディスクの信号記録面からの
戻り光は、再び対物レンズ14を介してビームスプリッ
タ13に入射し、そのハーフミラー面を透過して、検出
感度を向上させるための凹レンズ15を介して、光検出
器16に入射することにより、光ディスクの信号が検出
されるようになっている。
【0013】このような構成の光学ピックアップ10に
よれば、回折格子12により分割された各光ビームは、
それぞれ光ディスク上にて複数のスポットを形成し、各
スポットからの戻り光ビームをそれぞれ光検出器16に
より検出することによって、所謂3ビーム方式のトラッ
キングエラー検出が行われるようになっている。
よれば、回折格子12により分割された各光ビームは、
それぞれ光ディスク上にて複数のスポットを形成し、各
スポットからの戻り光ビームをそれぞれ光検出器16に
より検出することによって、所謂3ビーム方式のトラッ
キングエラー検出が行われるようになっている。
【0014】しかしながら、このような発光素子として
の半導体レーザ素子11及び受光素子としての光検出器
16が別体に構成された光学ピックアップ10において
は、光学ピックアップ10全体が比較的大型になってし
まうと共に、半導体レーザ素子11及び光検出器16そ
して回折格子12がそれぞれ別個に位置決め調整される
ことから、全体としての光学調整が複雑であり、高精度
の光学調整が困難であることから、信頼性が低くなって
しまうという問題があった。
の半導体レーザ素子11及び受光素子としての光検出器
16が別体に構成された光学ピックアップ10において
は、光学ピックアップ10全体が比較的大型になってし
まうと共に、半導体レーザ素子11及び光検出器16そ
して回折格子12がそれぞれ別個に位置決め調整される
ことから、全体としての光学調整が複雑であり、高精度
の光学調整が困難であることから、信頼性が低くなって
しまうという問題があった。
【0015】本発明は、以上の点に鑑み、小型の一体型
受発光装置を用いても、、回折手段を持つことができる
ようにした、受発光装置,光学ピックアップ及びこれを
利用した光ディスク装置を提供することを目的としてい
る。
受発光装置を用いても、、回折手段を持つことができる
ようにした、受発光装置,光学ピックアップ及びこれを
利用した光ディスク装置を提供することを目的としてい
る。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、第一の半導体基板上に形成された受光素子と、前
記第一の半導体基板上に搭載された第二の半導体基板上
に形成された発光素子と、第一の半導体基板上にて、受
光素子を覆うように配設された中空部を有し、この中空
部の一面に、前記発光素子からの出射光を内面反射さ
せ、外部からの入射光を透過させる光分岐面を備えてい
ると共に、前記発光素子からのレーザ光が入射して前記
光分岐面に達する光路中に、発光素子からの出射光を少
なくとも二つ以上の波面に分割するための回折手段を有
する、光分岐部品と、を備えており、前記光分岐面から
中空部内に出射した光が、前記受光素子に入射する構成
とした、受発光装置により、達成される。
れば、第一の半導体基板上に形成された受光素子と、前
記第一の半導体基板上に搭載された第二の半導体基板上
に形成された発光素子と、第一の半導体基板上にて、受
光素子を覆うように配設された中空部を有し、この中空
部の一面に、前記発光素子からの出射光を内面反射さ
せ、外部からの入射光を透過させる光分岐面を備えてい
ると共に、前記発光素子からのレーザ光が入射して前記
光分岐面に達する光路中に、発光素子からの出射光を少
なくとも二つ以上の波面に分割するための回折手段を有
する、光分岐部品と、を備えており、前記光分岐面から
中空部内に出射した光が、前記受光素子に入射する構成
とした、受発光装置により、達成される。
【0017】上記構成によれば、光源から出射した光ビ
ームは、光分岐部品の内部に入射すると共に、回折手段
により波面分割された後、その光分岐面にて内面反射さ
れて、光分岐部品から出射し、光集束手段を介して、光
ディスクの信号記録面に結像する。光ディスクの信号記
録面からの戻り光は、光分岐部品の内部に入射した後、
その光分岐面を透過して、受光素子に入射する。これに
より、受光素子の検出信号に基づいて、光ディスクの再
生が行なわれると共に、回折手段により波面分割された
各光ビームが、光検出器により検出される。
ームは、光分岐部品の内部に入射すると共に、回折手段
により波面分割された後、その光分岐面にて内面反射さ
れて、光分岐部品から出射し、光集束手段を介して、光
ディスクの信号記録面に結像する。光ディスクの信号記
録面からの戻り光は、光分岐部品の内部に入射した後、
その光分岐面を透過して、受光素子に入射する。これに
より、受光素子の検出信号に基づいて、光ディスクの再
生が行なわれると共に、回折手段により波面分割された
各光ビームが、光検出器により検出される。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、この発明の好適な実施形態
を図1乃至図5を参照しながら、詳細に説明する。尚、
以下に述べる実施形態は、本発明の好適な具体例である
から、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、
本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定
する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるもの
ではない。
を図1乃至図5を参照しながら、詳細に説明する。尚、
以下に述べる実施形態は、本発明の好適な具体例である
から、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、
本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定
する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるもの
ではない。
【0019】図1は、本発明による受発光装置及び光学
ピックアップを組み込んだ光ディスク装置の一実施形態
を示している。図1において、光ディスク装置10は、
光ディスク21を回転駆動する駆動手段としてのスピン
ドルモータ22と、回転する光ディスク21の信号記録
面に対して光ビームを照射して信号を記録し、この信号
記録面からの戻り光ビームにより記録信号を再生する光
学ピックアップ30及びこれらを制御する制御部23を
備えている。ここで、制御部23は、光ディスクコント
ローラ24,信号復調器25,誤り訂正回路26,イン
ターフェイス27,ヘッドアクセス制御部28及びサー
ボ回路29を備えている。
ピックアップを組み込んだ光ディスク装置の一実施形態
を示している。図1において、光ディスク装置10は、
光ディスク21を回転駆動する駆動手段としてのスピン
ドルモータ22と、回転する光ディスク21の信号記録
面に対して光ビームを照射して信号を記録し、この信号
記録面からの戻り光ビームにより記録信号を再生する光
学ピックアップ30及びこれらを制御する制御部23を
備えている。ここで、制御部23は、光ディスクコント
ローラ24,信号復調器25,誤り訂正回路26,イン
ターフェイス27,ヘッドアクセス制御部28及びサー
ボ回路29を備えている。
【0020】光ディスクコントローラ24は、スピンド
ルモータ22を所定の回転数で駆動制御する。信号復調
器25は、光学ピックアップ30からの記録信号を復調
して誤り訂正し、インターフェイス27を介して外部コ
ンピュータ等に送出する。これにより、外部コンピュー
タ等は、光ディスク21に記録された信号を再生信号と
して受け取ることができるようになっている。
ルモータ22を所定の回転数で駆動制御する。信号復調
器25は、光学ピックアップ30からの記録信号を復調
して誤り訂正し、インターフェイス27を介して外部コ
ンピュータ等に送出する。これにより、外部コンピュー
タ等は、光ディスク21に記録された信号を再生信号と
して受け取ることができるようになっている。
【0021】ヘッドアクセス制御部28は、光学ピック
アップ30を例えば光ディスク21上の所定の記録トラ
ックまでトラックジャンプ等により移動させる。サーボ
回路29は、この移動された所定位置において、光学ピ
ックアップ20の二軸アクチュエータに保持されている
対物レンズをフォーカシング方向及びトラッキング方向
に移動させる。
アップ30を例えば光ディスク21上の所定の記録トラ
ックまでトラックジャンプ等により移動させる。サーボ
回路29は、この移動された所定位置において、光学ピ
ックアップ20の二軸アクチュエータに保持されている
対物レンズをフォーカシング方向及びトラッキング方向
に移動させる。
【0022】図2は、上記光ディスク装置20に組み込
まれた光学ピックアップを示している。図2において、
光学ピックアップ30は、それぞれ光学ベース31上に
配設された、光源としての半導体レーザ素子及び光検出
器が一体に組み込まれた受発光装置32(図3参照)
と、受発光装置の一部を構成する光分岐部品33と、立
ち上げミラーとしてのプリズムミラー34及び光集束手
段としての対物レンズ35と、対物レンズ35を二軸方
向に移動させるための二軸アクチュエータ36とから構
成されている。
まれた光学ピックアップを示している。図2において、
光学ピックアップ30は、それぞれ光学ベース31上に
配設された、光源としての半導体レーザ素子及び光検出
器が一体に組み込まれた受発光装置32(図3参照)
と、受発光装置の一部を構成する光分岐部品33と、立
ち上げミラーとしてのプリズムミラー34及び光集束手
段としての対物レンズ35と、対物レンズ35を二軸方
向に移動させるための二軸アクチュエータ36とから構
成されている。
【0023】ここで、上記対物レンズ35を除く各光学
素子、即ち受発光装置32,光分岐部品33,プリズム
ミラー34は、図示しない手段によって、光ディスク2
1の半径方向に移動可能に支持された光学ベース31上
に、それぞれ固定保持されている。
素子、即ち受発光装置32,光分岐部品33,プリズム
ミラー34は、図示しない手段によって、光ディスク2
1の半径方向に移動可能に支持された光学ベース31上
に、それぞれ固定保持されている。
【0024】上記受発光装置32は、例えば図3に示す
ように、構成されている。 図3において、受発光装置
32は、第一の半導体基板32a上に光出力用の第二の
半導体基板32bが載置され、この第二の半導体基板3
2b上に発光素子としての半導体レーザ素子32cが搭
載されている。半導体レーザ素子32cの前方の第一の
半導体基板32a上には、縦断面が台形形状の光分岐部
品33が、その中空部33aの内側の傾斜面33bを半
導体レーザ素子32c側にして、設置されている。
ように、構成されている。 図3において、受発光装置
32は、第一の半導体基板32a上に光出力用の第二の
半導体基板32bが載置され、この第二の半導体基板3
2b上に発光素子としての半導体レーザ素子32cが搭
載されている。半導体レーザ素子32cの前方の第一の
半導体基板32a上には、縦断面が台形形状の光分岐部
品33が、その中空部33aの内側の傾斜面33bを半
導体レーザ素子32c側にして、設置されている。
【0025】ここで、上記光分岐部品33は、中空部3
3aの傾斜面33bに半透過膜を形成することで、この
傾斜面33bが光分岐面として構成されている。また外
側の傾斜面33cに内面反射膜が形成され、さらに中空
部33aの上面33fに反射膜が形成されていると共
に、半導体レーザ素子32cからのレーザ光の入射面3
3dに、回折手段としての回折格子37が備えられてい
る。この回折格子37は、その回折作用によって、入射
光を少なくとも二つ以上の波面に分割することにより、
例えば3つの光ビーム、即ちメインビーム及び二つのサ
イドビームに分割するようになっている。
3aの傾斜面33bに半透過膜を形成することで、この
傾斜面33bが光分岐面として構成されている。また外
側の傾斜面33cに内面反射膜が形成され、さらに中空
部33aの上面33fに反射膜が形成されていると共
に、半導体レーザ素子32cからのレーザ光の入射面3
3dに、回折手段としての回折格子37が備えられてい
る。この回折格子37は、その回折作用によって、入射
光を少なくとも二つ以上の波面に分割することにより、
例えば3つの光ビーム、即ちメインビーム及び二つのサ
イドビームに分割するようになっている。
【0026】さらに、回折格子37は、好ましくは、光
分岐部品33に対して一体に形成されている。尚、半導
体レーザ素子32cからの光ビームを有効に利用するた
めには、この光ビームの発散角度に対して光強度があま
り変化しない方向、即ち半導体レーザ素子32cの半値
幅のより広い方向に、波面分割が行なわれることが好ま
しい。従って、回折格子37は、図4にて上下方向に関
して波面分割を行なうようになっている。また、回折手
段は回折格子に限らず、回折作用をもつものを適宜用い
てよい。例えば、ホログラムによって形成することもで
きる。
分岐部品33に対して一体に形成されている。尚、半導
体レーザ素子32cからの光ビームを有効に利用するた
めには、この光ビームの発散角度に対して光強度があま
り変化しない方向、即ち半導体レーザ素子32cの半値
幅のより広い方向に、波面分割が行なわれることが好ま
しい。従って、回折格子37は、図4にて上下方向に関
して波面分割を行なうようになっている。また、回折手
段は回折格子に限らず、回折作用をもつものを適宜用い
てよい。例えば、ホログラムによって形成することもで
きる。
【0027】これにより、半導体レーザ素子32cから
第二の半導体基板32bの表面に沿って出射した光ビー
ムは、光分岐部品33の傾斜面33bにて反射され、さ
らに外側の傾斜面33cにより全反射されて、半導体レ
ーザ素子32cの光出射方向に向かって進んで、光分岐
部品33の反対側の側面33eから水平方向に出射し、
前述したプリズムミラー34及び対物レンズ35を介し
て、光ディスク21に達することになる。また、光ディ
スク11の信号記録面からの戻り光は、光ディスク21
への光路と同一の光路を逆にたどって再び対物レンズ3
5,プリズムミラー34を介して、光分岐部品33の側
面33eから入射し、傾斜面33cで内面反射されて、
前記傾斜面33bに入射し、この傾斜面33bを透過し
て、中空部33a内に進入し、第一の半導体基板32a
の表面に達する。この第一の半導体基板32aの表面に
達した戻り光は、一部がこの表面を透過すると共に、一
部がこの表面で反射され、中空部33aの上面に向かっ
て進む。
第二の半導体基板32bの表面に沿って出射した光ビー
ムは、光分岐部品33の傾斜面33bにて反射され、さ
らに外側の傾斜面33cにより全反射されて、半導体レ
ーザ素子32cの光出射方向に向かって進んで、光分岐
部品33の反対側の側面33eから水平方向に出射し、
前述したプリズムミラー34及び対物レンズ35を介し
て、光ディスク21に達することになる。また、光ディ
スク11の信号記録面からの戻り光は、光ディスク21
への光路と同一の光路を逆にたどって再び対物レンズ3
5,プリズムミラー34を介して、光分岐部品33の側
面33eから入射し、傾斜面33cで内面反射されて、
前記傾斜面33bに入射し、この傾斜面33bを透過し
て、中空部33a内に進入し、第一の半導体基板32a
の表面に達する。この第一の半導体基板32aの表面に
達した戻り光は、一部がこの表面を透過すると共に、一
部がこの表面で反射され、中空部33aの上面に向かっ
て進む。
【0028】ここで、戻り光入射位置の第一の半導体基
板32a上には、第一の光検出器32dが形成されてい
る。また、上記表面で反射された戻り光は、中空部33
aの上面にて反射されて、再び第一の半導体基板32a
の表面入射される。そして、中空部33aの上面で反射
された戻り光の入射される第一の半導体基板32aに
は、第二の光検出器32eが形成されている。上記第一
の光検出器32d,第二の光検出器32eは、それぞれ
回折格子37により分割された光ビームに対応して、複
数の受光部に分割されており、各受光部の検出信号がそ
れぞれ独立して出力されるようになっている。尚、第二
の半導体基板32b上には、半導体レーザ素子32cの
出射側とは反対側に、第三の光検出器32fが備えられ
ている。この第三の光検出器32fは、半導体レーザ素
子32cの発光強度をモニタするためのものである。
板32a上には、第一の光検出器32dが形成されてい
る。また、上記表面で反射された戻り光は、中空部33
aの上面にて反射されて、再び第一の半導体基板32a
の表面入射される。そして、中空部33aの上面で反射
された戻り光の入射される第一の半導体基板32aに
は、第二の光検出器32eが形成されている。上記第一
の光検出器32d,第二の光検出器32eは、それぞれ
回折格子37により分割された光ビームに対応して、複
数の受光部に分割されており、各受光部の検出信号がそ
れぞれ独立して出力されるようになっている。尚、第二
の半導体基板32b上には、半導体レーザ素子32cの
出射側とは反対側に、第三の光検出器32fが備えられ
ている。この第三の光検出器32fは、半導体レーザ素
子32cの発光強度をモニタするためのものである。
【0029】上記半導体レーザ素子32cは、半導体の
再結合発光を利用した発光素子であり、光源として使用
される。
再結合発光を利用した発光素子であり、光源として使用
される。
【0030】尚、上記光分岐部品33は、半導体レーザ
素子32cからのレーザ光の周波数に対する屈折率が
1.5のガラス,プラスチックから形成されているが、
屈折率が1.55以下の光学的に透明な材料であれば、
他の任意の材料が使用される。
素子32cからのレーザ光の周波数に対する屈折率が
1.5のガラス,プラスチックから形成されているが、
屈折率が1.55以下の光学的に透明な材料であれば、
他の任意の材料が使用される。
【0031】プリズムミラー34は、光学ベース31上
にて、斜め45度に配設されたミラーであって、光路折
曲げミラー33からのほぼ水平方向に進む光ビームを垂
直方向上方に向かって反射させるようになっている。
にて、斜め45度に配設されたミラーであって、光路折
曲げミラー33からのほぼ水平方向に進む光ビームを垂
直方向上方に向かって反射させるようになっている。
【0032】上記対物レンズ35は、凸レンズであっ
て、プリズムミラー34からの光を、回転駆動される光
ディスク11の信号記録面の所望のトラック上に結像さ
せる。
て、プリズムミラー34からの光を、回転駆動される光
ディスク11の信号記録面の所望のトラック上に結像さ
せる。
【0033】ここで、対物レンズ35は、図2に示す二
軸アクチュエータ36により、二軸方向即ちフォーカシ
ング方向及びトラッキング方向に移動可能に支持されて
いる。二軸アクチュエータ36は、光学ベース31に対
してスキュー調整された状態で取り付けられる固定部3
6aと、固定部36aに対して互いに平行な左右二対の
弾性支持部材36bにより二軸方向に移動可能に支持さ
れた可動部36cと、可動部36cに取り付けられたフ
ォーカス用コイル36dと、トラッキング用コイル36
eと、を備えている。
軸アクチュエータ36により、二軸方向即ちフォーカシ
ング方向及びトラッキング方向に移動可能に支持されて
いる。二軸アクチュエータ36は、光学ベース31に対
してスキュー調整された状態で取り付けられる固定部3
6aと、固定部36aに対して互いに平行な左右二対の
弾性支持部材36bにより二軸方向に移動可能に支持さ
れた可動部36cと、可動部36cに取り付けられたフ
ォーカス用コイル36dと、トラッキング用コイル36
eと、を備えている。
【0034】これに対して、光学ベース31上には、上
記フォーカス用コイル36d及びトラッキング用コイル
36eを挟んで、互いに対向するように配設されたヨー
ク36fと、その内側に取り付けられたマグネット36
gが備えられている。
記フォーカス用コイル36d及びトラッキング用コイル
36eを挟んで、互いに対向するように配設されたヨー
ク36fと、その内側に取り付けられたマグネット36
gが備えられている。
【0035】これにより、フォーカス用コイル36dに
対して駆動電流が流れると、フォーカス用コイル36d
に発生する磁界と、マグネット36g及びヨーク36f
を流れる磁束との相互作用によって、可動部36cがフ
ォーカス方向に駆動される。また、トラッキング用コイ
ル36eに対して駆動電流が流れると、トラッキング用
コイル36eに発生する磁界が、マグネット36g及び
ヨーク36fを流れる磁束との相互作用によって、可動
部36cがトラッキング方向に駆動される。かくして、
可動部36cに保持された対物レンズ35が二軸方向に
関して駆動制御されることになる。
対して駆動電流が流れると、フォーカス用コイル36d
に発生する磁界と、マグネット36g及びヨーク36f
を流れる磁束との相互作用によって、可動部36cがフ
ォーカス方向に駆動される。また、トラッキング用コイ
ル36eに対して駆動電流が流れると、トラッキング用
コイル36eに発生する磁界が、マグネット36g及び
ヨーク36fを流れる磁束との相互作用によって、可動
部36cがトラッキング方向に駆動される。かくして、
可動部36cに保持された対物レンズ35が二軸方向に
関して駆動制御されることになる。
【0036】本実施形態による光学ピックアップ30を
組み込んだ光ディスク装置20は、以上のように構成さ
れており、次のように動作する。先づ、光ディスク装置
20のスピンドルモータ22が回転することにより、光
ディスク21が回転駆動される。そして、光学ピックア
ップ30が、光ディスク21の半径方向に移動されるこ
とにより、対物レンズ35の光軸が、光ディスク21の
所望のトラック位置まで移動されることにより、アクセ
スが行なわれる。
組み込んだ光ディスク装置20は、以上のように構成さ
れており、次のように動作する。先づ、光ディスク装置
20のスピンドルモータ22が回転することにより、光
ディスク21が回転駆動される。そして、光学ピックア
ップ30が、光ディスク21の半径方向に移動されるこ
とにより、対物レンズ35の光軸が、光ディスク21の
所望のトラック位置まで移動されることにより、アクセ
スが行なわれる。
【0037】この状態にて、光学ピックアップ30に
て、受発光装置32の半導体レーザ素子32cからの光
ビームは、回折格子37により3つのビーム、即ちメイ
ンビーム及び二つのサイドビームに分割された後、光分
岐部品33の内部に入射し、その傾斜面33bにて内面
反射することにより、光路が折曲げられて、さらに傾斜
面33cで内面反射されて、図4にて水平方向に進ん
で、光分岐部品33の側面33dから出射した後、プリ
ズムミラー34で光ディスク21に向かって反射され、
対物レンズ35を介して、光ディスク21の信号記録面
に集束され、3つのスポットを形成する。即ち、半導体
レーザ素子32cからの光ビームは、実質的に図5に示
すように、回折格子37で3つの光ビームに分割され
て、それぞれ光ディスク21の信号記録面上にスポット
を形成することになる。
て、受発光装置32の半導体レーザ素子32cからの光
ビームは、回折格子37により3つのビーム、即ちメイ
ンビーム及び二つのサイドビームに分割された後、光分
岐部品33の内部に入射し、その傾斜面33bにて内面
反射することにより、光路が折曲げられて、さらに傾斜
面33cで内面反射されて、図4にて水平方向に進ん
で、光分岐部品33の側面33dから出射した後、プリ
ズムミラー34で光ディスク21に向かって反射され、
対物レンズ35を介して、光ディスク21の信号記録面
に集束され、3つのスポットを形成する。即ち、半導体
レーザ素子32cからの光ビームは、実質的に図5に示
すように、回折格子37で3つの光ビームに分割され
て、それぞれ光ディスク21の信号記録面上にスポット
を形成することになる。
【0038】光ディスク21からの戻り光は、光ディス
ク21へ向かう光路と同一の光路を戻り、再び対物レン
ズ35及びプリズムミラー34を介して、光分岐部品3
3の側面33dから入射する。そして、光分岐部品33
の傾斜面33cで内面反射された後、傾斜面33bを透
過して、光検出器32d,32eに結像して、それぞれ
光検出器32d,32eの受光面にて、3つのスポット
を形成する。これにより、光検出器32d,32eの検
出信号のうち、メインビームの検出信号に基づいて、光
ディスク11の信号が再生されると共に、フォーカスエ
ラーが検出される。また、二つのサイドビームの検出信
号に基づいて、トラッキングエラーが検出されることに
なる。
ク21へ向かう光路と同一の光路を戻り、再び対物レン
ズ35及びプリズムミラー34を介して、光分岐部品3
3の側面33dから入射する。そして、光分岐部品33
の傾斜面33cで内面反射された後、傾斜面33bを透
過して、光検出器32d,32eに結像して、それぞれ
光検出器32d,32eの受光面にて、3つのスポット
を形成する。これにより、光検出器32d,32eの検
出信号のうち、メインビームの検出信号に基づいて、光
ディスク11の信号が再生されると共に、フォーカスエ
ラーが検出される。また、二つのサイドビームの検出信
号に基づいて、トラッキングエラーが検出されることに
なる。
【0039】その際、信号復調器25は、光検出器32
d,32eからの検出信号により、トラッキングエラー
信号及びフォーカシングエラー信号を検出する。そし
て、サーボ回路29は、光ディスクドライブコントロー
ラ24を介して、フォーカス用コイル36d及びトラッ
キング用コイル36eへの駆動電流をサーボ制御する。
即ち、フォーカス用コイル36dに発生する磁界が、マ
グネット36g及びヨーク36fによる磁界と作用する
ことにより、可動部36cが、フォーカシング方向に移
動調整され、フォーカシングが行なわれる。また、トラ
ッキング用コイル36eに発生する磁界が、マグネット
36g及びヨーク36fによる磁界と作用することによ
り、可動部36cが、トラッキング方向に移動調整され
て、トラッキングが行なわれる。
d,32eからの検出信号により、トラッキングエラー
信号及びフォーカシングエラー信号を検出する。そし
て、サーボ回路29は、光ディスクドライブコントロー
ラ24を介して、フォーカス用コイル36d及びトラッ
キング用コイル36eへの駆動電流をサーボ制御する。
即ち、フォーカス用コイル36dに発生する磁界が、マ
グネット36g及びヨーク36fによる磁界と作用する
ことにより、可動部36cが、フォーカシング方向に移
動調整され、フォーカシングが行なわれる。また、トラ
ッキング用コイル36eに発生する磁界が、マグネット
36g及びヨーク36fによる磁界と作用することによ
り、可動部36cが、トラッキング方向に移動調整され
て、トラッキングが行なわれる。
【0040】ここで、光分岐部品33の入射面33d
に、回折格子37が備えられているので、従来は困難で
あった一体型受発光装置32を採用した光学ピックアッ
プにおける3ビーム方式のトラッキングエラー検出が行
われるので、信頼性の高いトラッキングエラー検出が可
能になる。
に、回折格子37が備えられているので、従来は困難で
あった一体型受発光装置32を採用した光学ピックアッ
プにおける3ビーム方式のトラッキングエラー検出が行
われるので、信頼性の高いトラッキングエラー検出が可
能になる。
【0041】また、回折格子37が光分岐部品33に一
体に形成されていることによって、部品点数が少なくて
済み、部品コスト及び組立コストが低減されると共に、
光学ピックアップ30そして光ディスク装置20の全体
が小型に且つ低コストで構成されることになる。
体に形成されていることによって、部品点数が少なくて
済み、部品コスト及び組立コストが低減されると共に、
光学ピックアップ30そして光ディスク装置20の全体
が小型に且つ低コストで構成されることになる。
【0042】上記実施形態による光ディスク装置20及
び光学ピックアップ30においては、二軸アクチュエー
タ36として、弾性支持部材36bを備えた構成のもの
が示されているが、これに限らず、軸摺回動式の二軸ア
クチュエータであってもよいことは明らかである。
び光学ピックアップ30においては、二軸アクチュエー
タ36として、弾性支持部材36bを備えた構成のもの
が示されているが、これに限らず、軸摺回動式の二軸ア
クチュエータであってもよいことは明らかである。
【0043】また、上記実施形態による光ディスク装置
20及び光学ピックアップ30は、例えばコンパクトデ
ィスク再生用のものが示されているが、これに限らず、
ミニディスク(MD)等の光ディスク,光磁気ディスク
(MO),相変化型ディスク等の光学式ディスクの記録
及び/又は再生を行なうための光ディスク装置20,光
学ピックアップ30と、これに使用される受発光装置3
2に対して、本発明を適用し得ることは明らかである。
20及び光学ピックアップ30は、例えばコンパクトデ
ィスク再生用のものが示されているが、これに限らず、
ミニディスク(MD)等の光ディスク,光磁気ディスク
(MO),相変化型ディスク等の光学式ディスクの記録
及び/又は再生を行なうための光ディスク装置20,光
学ピックアップ30と、これに使用される受発光装置3
2に対して、本発明を適用し得ることは明らかである。
【0044】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、一
体型受発光装置を用いた小型の構成にしても、回折手段
が組み込めるようにした、受発光装置,光学ピックアッ
プ及びこれを利用した光ディスク装置が提供されること
になる。
体型受発光装置を用いた小型の構成にしても、回折手段
が組み込めるようにした、受発光装置,光学ピックアッ
プ及びこれを利用した光ディスク装置が提供されること
になる。
【図1】本発明による光学ピックアップを組み込んだ光
ディスク装置の一実施形態の全体構成を示すブロック図
である。
ディスク装置の一実施形態の全体構成を示すブロック図
である。
【図2】図1の光ディスク装置における光学ピックアッ
プの構成を示す斜視図である。
プの構成を示す斜視図である。
【図3】図2の光学ピックアップにおける光分岐部品を
含む受発光装置の拡大斜視図である。
含む受発光装置の拡大斜視図である。
【図4】図3の光分岐部品を含む受発光装置の断面図で
ある。
ある。
【図5】図2の光学ピックアップの構成を示す光学模式
図である。
図である。
【図6】従来の光学ピックアップの一例を示す断面図で
ある。
ある。
【図7】図6の光学ピックアップにおける受発光装置を
示す拡大斜視図である。
示す拡大斜視図である。
【図8】図6の光学ピックアップにおける受発光装置を
示す拡大断面図である。
示す拡大断面図である。
【図9】従来の光学ピックアップの他の例を示す概略斜
視図である。
視図である。
20・・・光ディスク装置、21・・・光ディスク、2
2・・・スピンドルモータ、23・・・制御部、24・
・・光ディスクトライブコントローラ、25・・・信号
復調器、26・・・誤り訂正回路、27・・・インター
フェイス、28・・・ヘッドアクセス制御部、30・・
・光学ピックアップ、31・・・光学ベース、32・・
・受発光装置、33・・・光分岐部品、33a・・・中
空部、33b・・・傾斜面(半透過反射面)(光分岐
面)、33c・・・傾斜面(反射面)、34・・・プリ
ズムミラー、35・・・対物レンズ、36・・・二軸ア
クチュエータ、37・・・回折格子。
2・・・スピンドルモータ、23・・・制御部、24・
・・光ディスクトライブコントローラ、25・・・信号
復調器、26・・・誤り訂正回路、27・・・インター
フェイス、28・・・ヘッドアクセス制御部、30・・
・光学ピックアップ、31・・・光学ベース、32・・
・受発光装置、33・・・光分岐部品、33a・・・中
空部、33b・・・傾斜面(半透過反射面)(光分岐
面)、33c・・・傾斜面(反射面)、34・・・プリ
ズムミラー、35・・・対物レンズ、36・・・二軸ア
クチュエータ、37・・・回折格子。
Claims (6)
- 【請求項1】 第一の半導体基板上に形成された受光素
子と、 前記第一の半導体基板上に搭載された第二の半導体基板
上に形成された発光素子と、 第一の半導体基板上にて、受光素子を覆うように配設さ
れた中空部を有し、この中空部の一面に、前記発光素子
からの出射光を内面反射させ、外部からの入射光を透過
させる光分岐面を備えていると共に、前記発光素子から
のレーザ光が入射して前記光分岐面に達する光路中に、
発光素子からの出射光を少なくとも二つ以上の波面に分
割するための回折手段を有する、光分岐部品と、 を備えており、 前記光分岐面から中空部内に出射した光が、前記受光素
子に入射する構成としたことを特徴とする受発光装置。 - 【請求項2】 前記回折手段が、光分岐部品の発光素子
からの出射光の入射面に形成されている回折格子である
ことを特徴とする請求項1に記載の受発光装置。 - 【請求項3】 前記回折格子が、光分岐部品と一体に形
成されていることを特徴とする請求項2に記載の受発光
装置。 - 【請求項4】 前記発光素子が半導体レーザ素子であっ
て、そのより広い半値幅を有する方向が、前記回折格子
の波面分割方向とほぼ一致していることを特徴とする請
求項2に記載の受発光装置。 - 【請求項5】 受発光装置と、 この受発光装置からの出射光を光ディスクの信号記録面
上に集束させ、光ディスクの信号記録面からの戻り光を
上記受発光装置に導入する光学系とを含んでいる光学ピ
ックアップにおいて、 前記受発光装置が、 第一の半導体基板上に形成された受光素子と、 前記第一の半導体基板上に搭載された第二の半導体基板
上に形成された発光素子と、 第一の半導体基板上にて、受光素子を覆うように配設さ
れた中空部を有し、この中空部の一面に、前記発光素子
からの出射光を内面反射させ、外部からの入射光を透過
させる光分岐面を備えていると共に、前記発光素子から
のレーザ光が入射して前記光分岐面に達する光路中に、
発光素子からの出射光を少なくとも二つ以上の波面に分
割するための回折手段を有する、光分岐部品と、 を備えており、 前記光分岐面から中空部内に出射した光が、前記受光素
子に入射する構成としたことを特徴とする光学ピックア
ップ。 - 【請求項6】 受発光装置と、 この受発光装置からの出射光ビームを光ディスクの信号
記録面上に集束させ、光ディスクの信号記録面からの戻
り光を前記受発光装置に導入する光集束手段と、 この光集束手段を二軸方向に移動可能な駆動手段と、 光検出手段の受光部からの信号に基づいて、サーボ信号
を得る演算部と、 前記サーボ信号に基づいて前記駆動手段に駆動電流を供
給するサーボ手段とを含んでおり、 前記受発光装置が、 第一の半導体基板上に形成された受光素子と、 前記第一の半導体基板上に搭載された第二の半導体基板
上に形成された発光素子と、 第一の半導体基板上にて、受光素子を覆うように配設さ
れた中空部を有し、この中空部の一面に、前記発光素子
からの出射光を内面反射させ、外部からの入射光を透過
させる光分岐面を備えていると共に、前記発光素子から
のレーザ光が入射して前記光分岐面に達する光路中に、
発光素子からの出射光を少なくとも二つ以上の波面に分
割するための回折手段を有する、光分岐部品と、 を備えており、 前記光分岐面から中空部内に出射した光が、前記受光素
子に入射する構成としたことを特徴とする光ディスク装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8233637A JPH1064109A (ja) | 1996-08-15 | 1996-08-15 | 受発光装置とこれを利用した光学ピックアップ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8233637A JPH1064109A (ja) | 1996-08-15 | 1996-08-15 | 受発光装置とこれを利用した光学ピックアップ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1064109A true JPH1064109A (ja) | 1998-03-06 |
Family
ID=16958168
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8233637A Pending JPH1064109A (ja) | 1996-08-15 | 1996-08-15 | 受発光装置とこれを利用した光学ピックアップ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1064109A (ja) |
-
1996
- 1996-08-15 JP JP8233637A patent/JPH1064109A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2633535B2 (ja) | 光学ピツクアツプ装置 | |
| JP2000030288A (ja) | 光ピックアップ素子 | |
| KR100598707B1 (ko) | 집적 광학 소자 및 광학 픽업 및 광 디스크 장치 | |
| US5606542A (en) | Optical pickup using three beam tracking method | |
| JPS62200541A (ja) | 情報記録再生装置 | |
| JPH08329487A (ja) | 対物レンズ位置調節装置を有する光ピックアップ装置 | |
| JPH11185285A (ja) | 光学ピックアップ及び光ディスク装置 | |
| JPH09185843A (ja) | デュアルフォーカシング用光ピックアップ装置 | |
| JPH11185282A (ja) | 光学ピックアップ及び光ディスク装置 | |
| JP3503995B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
| JP2962363B2 (ja) | 光ヘッド | |
| JPH1064109A (ja) | 受発光装置とこれを利用した光学ピックアップ | |
| JP2004164818A (ja) | チルト検出光学装置,チルト検出光学系および光ピックアップ装置ならびに光ディスクドライブ装置 | |
| JPH09306009A (ja) | 光学ピックアップ及び光ディスク装置 | |
| JPH1116186A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JP2843154B2 (ja) | 光学ヘッド | |
| JP3083068B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JP2728211B2 (ja) | 光ヘッド | |
| JPH1064108A (ja) | 受発光装置とこれを利用した光学ピックアップ | |
| JP2828094B2 (ja) | 光学ヘッド装置及びそれを用いた光学ディスク装置 | |
| JPH10233026A (ja) | 光学ピックアップ及び光ディスク装置 | |
| JP2001052374A (ja) | 光記録媒体と、これに対して情報の記録再生を行なうための記録再生装置および記録再生方法 | |
| JPH10241187A (ja) | 光ピックアップ装置およびそれを用いた光学記録媒体駆動装置 | |
| JP2000011433A (ja) | 光学ピックアップ及び光ディスク装置 | |
| JPH0434736A (ja) | 対物レンズ駆動装置 |