JPH1070440A - Cr発振回路 - Google Patents
Cr発振回路Info
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- JPH1070440A JPH1070440A JP8225174A JP22517496A JPH1070440A JP H1070440 A JPH1070440 A JP H1070440A JP 8225174 A JP8225174 A JP 8225174A JP 22517496 A JP22517496 A JP 22517496A JP H1070440 A JPH1070440 A JP H1070440A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 発振周波数の精度を高めるためには、コンパ
レータおよびフリップフロップを2組必要とし、ハード
ウェア量が多くなるという課題があった。 【解決手段】 第1CR回路11および第2CR回路1
3の充放電を交互に排他的に行う。T型フリップフロッ
プ(TFF)18のQ出力が“L”のときnチャネルM
OSトランジスタTR1がオフし、nチャネルMOSト
ランジスタTR2がオンすると共に、スイッチSW1は
閉、スイッチSW2は開となる。コンパレータ16はコ
ンデンサC1の充電電圧を基準電位Vref と比較し、等
しくなった時点でTFF18にパルスを出力することに
より、TFF18の出力状態が反転しコンデンサC2が
充電する方向に切り換わるものである。
レータおよびフリップフロップを2組必要とし、ハード
ウェア量が多くなるという課題があった。 【解決手段】 第1CR回路11および第2CR回路1
3の充放電を交互に排他的に行う。T型フリップフロッ
プ(TFF)18のQ出力が“L”のときnチャネルM
OSトランジスタTR1がオフし、nチャネルMOSト
ランジスタTR2がオンすると共に、スイッチSW1は
閉、スイッチSW2は開となる。コンパレータ16はコ
ンデンサC1の充電電圧を基準電位Vref と比較し、等
しくなった時点でTFF18にパルスを出力することに
より、TFF18の出力状態が反転しコンデンサC2が
充電する方向に切り換わるものである。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、CR発振回路、
特にシングルチップマイクロコンピュータおよびその周
辺機器に内蔵するのに好適なCR発振回路に関するもの
である。
特にシングルチップマイクロコンピュータおよびその周
辺機器に内蔵するのに好適なCR発振回路に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】図10は従来のCR発振回路を示す図で
あり、図において、29は所定の時定数を有するCR回
路、30は出力端子、31は所定の基準電位Vref を生
成する基準電位回路、32はコンパレータであり、CR
回路29の出力電圧と基準電位回路31が生成する基準
電位Vref とを比較する。34はワンショットパルス発
生回路であり、コンパレータ32の出力パルスが入力さ
れると所定時間幅の単パルスを発生させる。R3および
C3はCR回路29を構成する抵抗およびコンデンサ、
R4およびR5は基準電位回路31を構成する抵抗、T
R3はnチャネルMOSトランジスタ、VDDは電源電圧
である。
あり、図において、29は所定の時定数を有するCR回
路、30は出力端子、31は所定の基準電位Vref を生
成する基準電位回路、32はコンパレータであり、CR
回路29の出力電圧と基準電位回路31が生成する基準
電位Vref とを比較する。34はワンショットパルス発
生回路であり、コンパレータ32の出力パルスが入力さ
れると所定時間幅の単パルスを発生させる。R3および
C3はCR回路29を構成する抵抗およびコンデンサ、
R4およびR5は基準電位回路31を構成する抵抗、T
R3はnチャネルMOSトランジスタ、VDDは電源電圧
である。
【0003】CR回路29は直列接続された抵抗R3お
よびコンデンサC3から成り、電源電圧VDDでコンデン
サC3を所定の時定数によって充電する。基準電位回路
31は直列接続された抵抗R4およびR5から成り、電
源電圧VDDから基準電位Vre f =VDD×R5/(R4+
R5)を生成する。
よびコンデンサC3から成り、電源電圧VDDでコンデン
サC3を所定の時定数によって充電する。基準電位回路
31は直列接続された抵抗R4およびR5から成り、電
源電圧VDDから基準電位Vre f =VDD×R5/(R4+
R5)を生成する。
【0004】次に動作について説明する。電源電圧VDD
によってCR回路29のコンデンサC3が充電される
と、e点の電位は図11に示すように上昇する。e点の
電位が基準電位Vref と等しくなった時刻t52で、コ
ンパレータ32はワンショットパルス発生回路34にパ
ルスを出力する。この結果、ワンショットパルス発生回
路34から所定時間幅(t52〜t53)を有する単パ
ルスが発生される。図11に示すように、この所定時間
(t52〜t53)の間、f点の電位は“H”になる。
f点が“H”になるとnチャネルMOSトランジスタT
R3がオンするから、コンデンサC3は蓄積している電
荷を放電し、e点の電位は0Vになる。
によってCR回路29のコンデンサC3が充電される
と、e点の電位は図11に示すように上昇する。e点の
電位が基準電位Vref と等しくなった時刻t52で、コ
ンパレータ32はワンショットパルス発生回路34にパ
ルスを出力する。この結果、ワンショットパルス発生回
路34から所定時間幅(t52〜t53)を有する単パ
ルスが発生される。図11に示すように、この所定時間
(t52〜t53)の間、f点の電位は“H”になる。
f点が“H”になるとnチャネルMOSトランジスタT
R3がオンするから、コンデンサC3は蓄積している電
荷を放電し、e点の電位は0Vになる。
【0005】図10に示すCR発振回路は、以上のよう
にCR回路29のコンデンサC3が充放電を繰り返すこ
とにより、図11に示すような一定の周波数を有するパ
ルス発振を行う。発振されたパルスは出力端子30から
外部に取り出される。
にCR回路29のコンデンサC3が充放電を繰り返すこ
とにより、図11に示すような一定の周波数を有するパ
ルス発振を行う。発振されたパルスは出力端子30から
外部に取り出される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】図11に示すように、
e点の電位が上昇している期間をH期間、e点の電位が
下降している、あるいは0Vである期間をL期間と名付
ける。図10に示す従来のCR発振回路では、CR回路
29を構成する抵抗R3およびコンデンサC3をマイク
ロコンピュータの外部に外付けし、精度の良いものを選
択すると、H期間の時間幅を正確に設定することができ
る。一方、L期間の時間幅はワンショットパルス発生回
路34によって規定される。ワンショットパルス発生回
路34はマイクロコンピュータに内蔵されているので、
半導体集積回路に固有のバラツキの影響を避けられな
い。この結果、L期間の時間幅にバラツキが生じる。こ
のL期間のバラツキは、CR発振回路の発振周波数の誤
差となって現れる。
e点の電位が上昇している期間をH期間、e点の電位が
下降している、あるいは0Vである期間をL期間と名付
ける。図10に示す従来のCR発振回路では、CR回路
29を構成する抵抗R3およびコンデンサC3をマイク
ロコンピュータの外部に外付けし、精度の良いものを選
択すると、H期間の時間幅を正確に設定することができ
る。一方、L期間の時間幅はワンショットパルス発生回
路34によって規定される。ワンショットパルス発生回
路34はマイクロコンピュータに内蔵されているので、
半導体集積回路に固有のバラツキの影響を避けられな
い。この結果、L期間の時間幅にバラツキが生じる。こ
のL期間のバラツキは、CR発振回路の発振周波数の誤
差となって現れる。
【0007】L期間のバラツキに起因する発振周波数の
誤差を低減するために図12に示すCR発振回路が提案
された。図12において、35は抵抗R6およびコンデ
ンサC6が直列接続されたCR回路、36は端子、37
は抵抗R7およびコンデンサC7が直列接続されたCR
回路、38は端子、40,42はコンパレータ、44は
RS型フリップフロップである。TR4,TR5はnチ
ャネルMOSトランジスタである。
誤差を低減するために図12に示すCR発振回路が提案
された。図12において、35は抵抗R6およびコンデ
ンサC6が直列接続されたCR回路、36は端子、37
は抵抗R7およびコンデンサC7が直列接続されたCR
回路、38は端子、40,42はコンパレータ、44は
RS型フリップフロップである。TR4,TR5はnチ
ャネルMOSトランジスタである。
【0008】負値論理信号は通常、信号名に上線を付し
て表記するが、以下の記述においては、信号名の前に*
印を付して表記する。例えば、論理信号Sの負値論理信
号は*Sと表記する。
て表記するが、以下の記述においては、信号名の前に*
印を付して表記する。例えば、論理信号Sの負値論理信
号は*Sと表記する。
【0009】図12に示すCR発振回路において、RS
型フリップフロップ44の出力Qが“L”のとき出力*
Qは“H”となるから、nチャネルMOSトランジスタ
TR5がオンする。この結果、h点の電位は0Vに固定
される。一方、nチャネルMOSトランジスタTR4は
オフであるから、コンデンサC6が充電される。コンデ
ンサC6が充電されてg点の電位が上昇し、基準電位V
ref と等しくなった時点でコンパレータ40がパルスを
出力して、RS型フリップフロップ44をセットする。
すると、RS型フリップフロップ44の出力Qは“H”
となり、出力*Qは“L”となるから、nチャネルMO
SトランジスタTR4がオンし、nチャネルMOSトラ
ンジスタTR5はオフする。この結果、コンデンサC6
は放電し始め、コンデンサC7は充電を開始し、h点の
電位が基準電位Vref と等しくなるまで充電を続ける。
型フリップフロップ44の出力Qが“L”のとき出力*
Qは“H”となるから、nチャネルMOSトランジスタ
TR5がオンする。この結果、h点の電位は0Vに固定
される。一方、nチャネルMOSトランジスタTR4は
オフであるから、コンデンサC6が充電される。コンデ
ンサC6が充電されてg点の電位が上昇し、基準電位V
ref と等しくなった時点でコンパレータ40がパルスを
出力して、RS型フリップフロップ44をセットする。
すると、RS型フリップフロップ44の出力Qは“H”
となり、出力*Qは“L”となるから、nチャネルMO
SトランジスタTR4がオンし、nチャネルMOSトラ
ンジスタTR5はオフする。この結果、コンデンサC6
は放電し始め、コンデンサC7は充電を開始し、h点の
電位が基準電位Vref と等しくなるまで充電を続ける。
【0010】図12に示すCR発振回路は、以上の過程
を繰り返すことにより一定周波数のパルス発振を行う。
発振されたパルスは端子36または端子38から外部に
取り出される。
を繰り返すことにより一定周波数のパルス発振を行う。
発振されたパルスは端子36または端子38から外部に
取り出される。
【0011】このCR発振回路において、コンデンサC
6が充電している期間をH期間、コンデンサC7が充電
している期間をL期間と名付けると、H期間は抵抗R6
およびコンデンサC6によって定まる時定数で規定さ
れ、L期間は抵抗R7およびコンデンサC7によって定
まる時定数で規定される。抵抗R6,コンデンサC6,
抵抗R7およびコンデンサC7はマイクロコンピュータ
に外付けし、良品を選定することができるから、H期間
およびL期間は共に正確な時間幅を持つことが可能にな
る。
6が充電している期間をH期間、コンデンサC7が充電
している期間をL期間と名付けると、H期間は抵抗R6
およびコンデンサC6によって定まる時定数で規定さ
れ、L期間は抵抗R7およびコンデンサC7によって定
まる時定数で規定される。抵抗R6,コンデンサC6,
抵抗R7およびコンデンサC7はマイクロコンピュータ
に外付けし、良品を選定することができるから、H期間
およびL期間は共に正確な時間幅を持つことが可能にな
る。
【0012】図12に示す改良されたCR発振回路は以
上のように構成されているので、正確なH期間およびL
期間を実現できるから、発振周波数の精度は良いが、2
個のコンパレータ40,42を必要とするので、ハード
ウェア量が多くなってしまうという課題があった。その
結果、マイクロコンピュータの回路構成が複雑化すると
共に、コストの上昇を招くという課題があった。
上のように構成されているので、正確なH期間およびL
期間を実現できるから、発振周波数の精度は良いが、2
個のコンパレータ40,42を必要とするので、ハード
ウェア量が多くなってしまうという課題があった。その
結果、マイクロコンピュータの回路構成が複雑化すると
共に、コストの上昇を招くという課題があった。
【0013】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、2組のCR回路を1個のT型フリ
ップフロップによって交互に切り換えることにより、少
ないハードウェア構成で高い発振周波数精度を実現する
ことのできるCR発振回路を得ることを目的とする。
めになされたもので、2組のCR回路を1個のT型フリ
ップフロップによって交互に切り換えることにより、少
ないハードウェア構成で高い発振周波数精度を実現する
ことのできるCR発振回路を得ることを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明に係
るCR発振回路は、2個のCR回路と、該2個のCR回
路の充電電圧を交互に基準電位と比較し、基準電位と等
しくなった時点を検出する電圧検出手段と、該電圧検出
手段の検出結果に基づいて前記2個のCR回路を互いに
排他的に充電状態または放電状態に切り換える切換手段
とを備えたものである。
るCR発振回路は、2個のCR回路と、該2個のCR回
路の充電電圧を交互に基準電位と比較し、基準電位と等
しくなった時点を検出する電圧検出手段と、該電圧検出
手段の検出結果に基づいて前記2個のCR回路を互いに
排他的に充電状態または放電状態に切り換える切換手段
とを備えたものである。
【0015】請求項2記載の発明に係るCR発振回路
は、2個のCR回路がそれぞれ固有の時定数を有し充放
電を行う第1CR回路および第2CR回路から成り、電
圧検出手段が前記第1CR回路または前記第2CR回路
の充電電圧と基準電位とを比較し、両者が等しくなった
時点でパルスを出力するコンパレータから成り、切換手
段が前記コンパレータからの出力パルスが入力されるT
型フリップフロップ、互いに連動し該T型フリップフロ
ップのQ出力および反転Q出力によって前記第1CR回
路および前記第2CR回路の充放電を制御する第1スイ
ッチング素子および第2スイッチング素子、並びに、互
いに連動し前記T型フリップフロップのQ出力および反
転Q出力によって前記第1CR回路と前記コンパレータ
との間の接続を制御する第1開閉器および前記第2CR
回路と前記コンパレータとの間の接続を制御する第2開
閉器とから成るものである。
は、2個のCR回路がそれぞれ固有の時定数を有し充放
電を行う第1CR回路および第2CR回路から成り、電
圧検出手段が前記第1CR回路または前記第2CR回路
の充電電圧と基準電位とを比較し、両者が等しくなった
時点でパルスを出力するコンパレータから成り、切換手
段が前記コンパレータからの出力パルスが入力されるT
型フリップフロップ、互いに連動し該T型フリップフロ
ップのQ出力および反転Q出力によって前記第1CR回
路および前記第2CR回路の充放電を制御する第1スイ
ッチング素子および第2スイッチング素子、並びに、互
いに連動し前記T型フリップフロップのQ出力および反
転Q出力によって前記第1CR回路と前記コンパレータ
との間の接続を制御する第1開閉器および前記第2CR
回路と前記コンパレータとの間の接続を制御する第2開
閉器とから成るものである。
【0016】請求項3記載の発明に係るCR発振回路
は、第1CR回路および第2CR回路がそれぞれ直列接
続された抵抗およびコンデンサから成るものである。
は、第1CR回路および第2CR回路がそれぞれ直列接
続された抵抗およびコンデンサから成るものである。
【0017】請求項4記載の発明に係るCR発振回路
は、第1スイッチング素子および第2スイッチング素子
がMOSトランジスタから成るものである。
は、第1スイッチング素子および第2スイッチング素子
がMOSトランジスタから成るものである。
【0018】請求項5記載の発明に係るCR発振回路
は、基準電位を発振周波数のバラツキが極小になる範囲
の値に設定したものである。
は、基準電位を発振周波数のバラツキが極小になる範囲
の値に設定したものである。
【0019】請求項6記載の発明に係るCR発振回路
は、基準電位を電源電圧の0.6倍から0.66倍まで
の範囲に設定したものである。
は、基準電位を電源電圧の0.6倍から0.66倍まで
の範囲に設定したものである。
【0020】請求項7記載の発明に係るCR発振回路
は、T型フリップフロップのQ出力の“H”期間と反転
Q出力の“H”期間との間にノンオーバーラップ部を設
けたものである。
は、T型フリップフロップのQ出力の“H”期間と反転
Q出力の“H”期間との間にノンオーバーラップ部を設
けたものである。
【0021】請求項8記載の発明に係るCR発振回路
は、T型フリップフロップのQ出力端子または反転Q出
力端子に後続して2入力ANDゲートおよび2入力NO
Rゲートを併置し、前記端子出力を2分し、一方を前記
2入力ANDゲートおよび前記2入力NORゲートに直
接入力し、他方を遅延回路を介して前記2入力ANDゲ
ートおよび前記2入力NORゲートに入力するものであ
る。
は、T型フリップフロップのQ出力端子または反転Q出
力端子に後続して2入力ANDゲートおよび2入力NO
Rゲートを併置し、前記端子出力を2分し、一方を前記
2入力ANDゲートおよび前記2入力NORゲートに直
接入力し、他方を遅延回路を介して前記2入力ANDゲ
ートおよび前記2入力NORゲートに入力するものであ
る。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1によるC
R発振回路を示す図であり、図において、11は第1C
R回路(CR回路)、12は第1出力端子、13は第2
CR回路(CR回路)、14は第2出力端子、16はコ
ンパレータ(電圧検出手段)、18はT型フリップフロ
ップ(以下、TFFともいう、切換手段)である。R
1,R2は抵抗、C1,C2はコンデンサ、TR1,T
R2はnチャネルMOSトランジスタ(MOSトランジ
スタ、第1スイッチング素子、第2スイッチング素子、
切換手段)、SW1,SW2はスイッチ(第1開閉器、
第2開閉器、切換手段)である。Vref は基準電位であ
る。
説明する。 実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1によるC
R発振回路を示す図であり、図において、11は第1C
R回路(CR回路)、12は第1出力端子、13は第2
CR回路(CR回路)、14は第2出力端子、16はコ
ンパレータ(電圧検出手段)、18はT型フリップフロ
ップ(以下、TFFともいう、切換手段)である。R
1,R2は抵抗、C1,C2はコンデンサ、TR1,T
R2はnチャネルMOSトランジスタ(MOSトランジ
スタ、第1スイッチング素子、第2スイッチング素子、
切換手段)、SW1,SW2はスイッチ(第1開閉器、
第2開閉器、切換手段)である。Vref は基準電位であ
る。
【0023】第1CR回路11は抵抗R1とコンデンサ
C1との直列接続から成り、電源電圧VDDでコンデンサ
C1を時定数R1×C1で充電する。第2CR回路13
は抵抗R2とコンデンサC2との直列接続から成り、電
源電圧VDDでコンデンサC2を時定数R2×C2で充電
する。
C1との直列接続から成り、電源電圧VDDでコンデンサ
C1を時定数R1×C1で充電する。第2CR回路13
は抵抗R2とコンデンサC2との直列接続から成り、電
源電圧VDDでコンデンサC2を時定数R2×C2で充電
する。
【0024】スイッチSW1,SW2は次のように設定
されている。すなわち、TFF18のQ端子出力が
“L”で*Q端子出力が“H”のとき、スイッチSW1
は閉でスイッチSW2は開となる。逆に、TFF18の
Q端子出力が“H”で*Q端子出力が“L”のとき、ス
イッチSW1は開でスイッチSW2は閉となる。
されている。すなわち、TFF18のQ端子出力が
“L”で*Q端子出力が“H”のとき、スイッチSW1
は閉でスイッチSW2は開となる。逆に、TFF18の
Q端子出力が“H”で*Q端子出力が“L”のとき、ス
イッチSW1は開でスイッチSW2は閉となる。
【0025】次に動作について説明する。図2は、図1
に示すこの発明の実施の形態1によるCR発振回路のa
点の波形,b点の波形およびTFF18のQ端子出力を
示す図である。以下、図1および図2を参照して、図1
に示すこの発明の実施の形態1によるCR発振回路の動
作を説明する。
に示すこの発明の実施の形態1によるCR発振回路のa
点の波形,b点の波形およびTFF18のQ端子出力を
示す図である。以下、図1および図2を参照して、図1
に示すこの発明の実施の形態1によるCR発振回路の動
作を説明する。
【0026】図2に示すように時刻t11において、T
FF18の出力Qが“L”のとき、TFF18の出力*
Qは“H”となるから、nチャネルMOSトランジスタ
TR1はオフ、nチャネルMOSトランジスタTR2は
オンとなり、スイッチSW1は閉、SW2は開となる。
すると、nチャネルMOSトランジスタTR2はオンで
あるから、b点の電位は接地(GND)電位に引き込ま
れて0Vに固定される。一方、nチャネルMOSトラン
ジスタTR1はオフであるから、コンデンサC1が充電
を開始する。コンデンサC1の充電が続きa点の電位が
上昇し、基準電位Vref と等しくなった時刻t12でコ
ンパレータ16はTFF18に向けてパルスを出力す
る。
FF18の出力Qが“L”のとき、TFF18の出力*
Qは“H”となるから、nチャネルMOSトランジスタ
TR1はオフ、nチャネルMOSトランジスタTR2は
オンとなり、スイッチSW1は閉、SW2は開となる。
すると、nチャネルMOSトランジスタTR2はオンで
あるから、b点の電位は接地(GND)電位に引き込ま
れて0Vに固定される。一方、nチャネルMOSトラン
ジスタTR1はオフであるから、コンデンサC1が充電
を開始する。コンデンサC1の充電が続きa点の電位が
上昇し、基準電位Vref と等しくなった時刻t12でコ
ンパレータ16はTFF18に向けてパルスを出力す
る。
【0027】TFF18のT端子にパルスが入力する
と、TFF18の出力Qは“H”となり、出力*Qは
“L”となるから、nチャネルMOSトランジスタTR
1がオンし、nチャネルMOSトランジスタTR2はオ
フする。また、SW1は開となりSW2は閉となる。n
チャネルMOSトランジスタTR1はオンであるから、
コンデンサC1は蓄積電荷を放電し始め、a点の電位が
0Vになるまで放電する。一方、コンデンサC2は充電
を開始し、b点の電位が基準電位Vref と等しくなるま
で充電を続ける。
と、TFF18の出力Qは“H”となり、出力*Qは
“L”となるから、nチャネルMOSトランジスタTR
1がオンし、nチャネルMOSトランジスタTR2はオ
フする。また、SW1は開となりSW2は閉となる。n
チャネルMOSトランジスタTR1はオンであるから、
コンデンサC1は蓄積電荷を放電し始め、a点の電位が
0Vになるまで放電する。一方、コンデンサC2は充電
を開始し、b点の電位が基準電位Vref と等しくなるま
で充電を続ける。
【0028】コンデンサC2の充電が続きb点の電位が
上昇し、基準電位Vref と等しくなった時刻t13でコ
ンパレータ16がパルスを出力して、TFF18に入力
する。この結果、TFF18の出力Qは“L”となり、
出力*Qは“H”となるから、初めの状態(時刻t11
の状態)に戻り、a点の電位が上昇し始める。
上昇し、基準電位Vref と等しくなった時刻t13でコ
ンパレータ16がパルスを出力して、TFF18に入力
する。この結果、TFF18の出力Qは“L”となり、
出力*Qは“H”となるから、初めの状態(時刻t11
の状態)に戻り、a点の電位が上昇し始める。
【0029】以上の過程を繰り返すことにより一定周波
数のパルス発振が行われる。発振パルスは第1出力端子
12または第2出力端子14から外部に取り出される。
第1出力端子12から取り出される発振波形は図2にa
点の波形として示したものと同じであり、第2出力端子
14から取り出される発振波形はb点の波形と同じであ
る。
数のパルス発振が行われる。発振パルスは第1出力端子
12または第2出力端子14から外部に取り出される。
第1出力端子12から取り出される発振波形は図2にa
点の波形として示したものと同じであり、第2出力端子
14から取り出される発振波形はb点の波形と同じであ
る。
【0030】このCR発振回路において、図2に示すよ
うに、コンデンサC1が充電している期間をH期間、コ
ンデンサC2が充電している期間をL期間と名付ける
と、H期間およびL期間は次式で与えられる。 H期間=−R1×C1×LN(1−Vref /VDD) ・・・(1) L期間=−R2×C2×LN(1−Vref /VDD) ・・・(2) ただし、LNは自然対数を表し、Vref は基準電位、V
DDは電源電圧である。この式(1)および式(2)から
次式のように発振周波数fが求まる。 f=1/(H期間+L期間) [Hz] ・・・(3)
うに、コンデンサC1が充電している期間をH期間、コ
ンデンサC2が充電している期間をL期間と名付ける
と、H期間およびL期間は次式で与えられる。 H期間=−R1×C1×LN(1−Vref /VDD) ・・・(1) L期間=−R2×C2×LN(1−Vref /VDD) ・・・(2) ただし、LNは自然対数を表し、Vref は基準電位、V
DDは電源電圧である。この式(1)および式(2)から
次式のように発振周波数fが求まる。 f=1/(H期間+L期間) [Hz] ・・・(3)
【0031】以上のように、この実施の形態1によれば
次のような効果が得られる。式(1)ないし式(3)か
ら分かるように、抵抗R1,R2およびコンデンサC
1,C2の値によって発振周波数fを決めることができ
る。抵抗R1,R2およびコンデンサC1,C2は、マ
イクロコンピュータの外部に外付けすることができるか
ら、高精度のものを選定することができる。これにより
発振周波数fの精度を向上させることが可能になる。
次のような効果が得られる。式(1)ないし式(3)か
ら分かるように、抵抗R1,R2およびコンデンサC
1,C2の値によって発振周波数fを決めることができ
る。抵抗R1,R2およびコンデンサC1,C2は、マ
イクロコンピュータの外部に外付けすることができるか
ら、高精度のものを選定することができる。これにより
発振周波数fの精度を向上させることが可能になる。
【0032】また、従来のCR発振回路ではマイクロコ
ンピュータに内蔵された素子のバラツキの影響を軽減す
るためにnチャネルMOSトランジスタの駆動能力を大
きくする必要があった。これに対して、この実施の形態
1によるCR発振回路では、nチャネルMOSトランジ
スタTR1またはTR2がa点またはb点を“L”に引
き込むのは、半周期の間に完了すればよい。したがっ
て、nチャネルMOSトランジスタTR1またはTR2
には時間の余裕が与えられるから、駆動能力は小さくて
済む。この結果、nチャネルMOSトランジスタTR
1,TR2のサイズを小型化することが可能になるか
ら、マイクロコンピュータの小型化および低消費電力化
に寄与する。
ンピュータに内蔵された素子のバラツキの影響を軽減す
るためにnチャネルMOSトランジスタの駆動能力を大
きくする必要があった。これに対して、この実施の形態
1によるCR発振回路では、nチャネルMOSトランジ
スタTR1またはTR2がa点またはb点を“L”に引
き込むのは、半周期の間に完了すればよい。したがっ
て、nチャネルMOSトランジスタTR1またはTR2
には時間の余裕が与えられるから、駆動能力は小さくて
済む。この結果、nチャネルMOSトランジスタTR
1,TR2のサイズを小型化することが可能になるか
ら、マイクロコンピュータの小型化および低消費電力化
に寄与する。
【0033】さらに、式(1)および式(2)から分か
るように、H期間は抵抗R1とコンデンサC1との組み
合わせのみで決めることができ、L期間は抵抗R2とコ
ンデンサC2との組み合わせのみで決めることができ
る。すなわち、H期間とL期間とはそれぞれ互いに独立
に決めることができるから、発振パルスのデューティを
自由に設定することが可能になる。例えば、第1出力端
子12からは図2に示すa点の波形が出力されるが、第
1出力端子12から得られるパルスのデューティは次式
で与えられる。 H期間/(H期間+L期間) ・・・(4) 上述のように、H期間は時定数R1×C1で決まり、L
期間は時定数R2×C2で決まるから、抵抗R1,R2
およびコンデンサC1,C2を適切に選定することによ
り式(4)から発振パルスのデューティを所望の値に設
定することができる。
るように、H期間は抵抗R1とコンデンサC1との組み
合わせのみで決めることができ、L期間は抵抗R2とコ
ンデンサC2との組み合わせのみで決めることができ
る。すなわち、H期間とL期間とはそれぞれ互いに独立
に決めることができるから、発振パルスのデューティを
自由に設定することが可能になる。例えば、第1出力端
子12からは図2に示すa点の波形が出力されるが、第
1出力端子12から得られるパルスのデューティは次式
で与えられる。 H期間/(H期間+L期間) ・・・(4) 上述のように、H期間は時定数R1×C1で決まり、L
期間は時定数R2×C2で決まるから、抵抗R1,R2
およびコンデンサC1,C2を適切に選定することによ
り式(4)から発振パルスのデューティを所望の値に設
定することができる。
【0034】さらにまた、図1に示す実施の形態1によ
るCR発振回路では、従来のCR発振回路でそれぞれ2
個ずつ使用していたコンパレータおよびフリップフロッ
プをそれぞれ1個で済ませている。これを可能にするた
めに、フリップフロップ18としてT型フリップフロッ
プを使用し、スイッチSW1,SW2を交互に開閉する
ことにより、a点の電位およびb点の電位を交互にコン
パレータ16に入力するようにしている。このように、
この実施の形態1によれば、ハードウェア量を少なくす
ることが可能になるから、マイクロコンピュータの小型
化および低消費電力化に寄与する。
るCR発振回路では、従来のCR発振回路でそれぞれ2
個ずつ使用していたコンパレータおよびフリップフロッ
プをそれぞれ1個で済ませている。これを可能にするた
めに、フリップフロップ18としてT型フリップフロッ
プを使用し、スイッチSW1,SW2を交互に開閉する
ことにより、a点の電位およびb点の電位を交互にコン
パレータ16に入力するようにしている。このように、
この実施の形態1によれば、ハードウェア量を少なくす
ることが可能になるから、マイクロコンピュータの小型
化および低消費電力化に寄与する。
【0035】実施の形態2.この実施の形態2は、図1
に示した実施の形態1によるCR発振回路のコンパレー
タ16の基準電位Vref を最適値に設定することによ
り、コンパレータのバラツキに起因する発振周波数のバ
ラツキを最小化するものである。
に示した実施の形態1によるCR発振回路のコンパレー
タ16の基準電位Vref を最適値に設定することによ
り、コンパレータのバラツキに起因する発振周波数のバ
ラツキを最小化するものである。
【0036】図3は、図1に示す実施の形態1によるC
R発振回路の第1出力端子12からの出力電圧Voの時
間変化を示す図である。図3では出力電圧Voを電源電
圧VDDで割った規格化出力電圧(Vo/VDD)を縦軸に
とり、RC遅延時間(単位:10-8秒)を横軸にとって
ある。図1に示す実施の形態1によるCR発振回路にお
いて、nチャネルMOSトランジスタTR1をオフにし
て第1CR回路11を成すコンデンサC1を充電する
と、第1出力端子12からの出力電圧Voは時間の経過
と共に図3に示すように変化する。
R発振回路の第1出力端子12からの出力電圧Voの時
間変化を示す図である。図3では出力電圧Voを電源電
圧VDDで割った規格化出力電圧(Vo/VDD)を縦軸に
とり、RC遅延時間(単位:10-8秒)を横軸にとって
ある。図1に示す実施の形態1によるCR発振回路にお
いて、nチャネルMOSトランジスタTR1をオフにし
て第1CR回路11を成すコンデンサC1を充電する
と、第1出力端子12からの出力電圧Voは時間の経過
と共に図3に示すように変化する。
【0037】図3から分かるように、出力電圧Voの立
ち上がりは急峻であり、短時間のうちに電源電圧VDDと
等しくなるので、基準電位Vref を電源電圧VDDに近い
値に設定すると、コンパレータ16の判定電位がばらつ
いたときに発振周波数fのバラツキが大きくなる。逆
に、基準電位Vref を接地電位(0V)に近い値に設定
すると、RC遅延時間が短くなり発振周期が短くなるか
ら、コンパレータ16の電圧判定誤差が発振周波数fの
精度に大きな影響を与えるようになる。
ち上がりは急峻であり、短時間のうちに電源電圧VDDと
等しくなるので、基準電位Vref を電源電圧VDDに近い
値に設定すると、コンパレータ16の判定電位がばらつ
いたときに発振周波数fのバラツキが大きくなる。逆
に、基準電位Vref を接地電位(0V)に近い値に設定
すると、RC遅延時間が短くなり発振周期が短くなるか
ら、コンパレータ16の電圧判定誤差が発振周波数fの
精度に大きな影響を与えるようになる。
【0038】図4はコンパレータ16の電圧判定誤差が
10mVの場合において基準電位Vref を変化させたと
きのRC遅延時間誤差の例を示す図である。図におい
て、各列は左から、基準電位Vref (V),RC遅延時
間t(ns),RC遅延時間誤差(ns)および誤差率
(%)を示す。ただし、電源電圧VDD=5.00(V)
である。誤差率(%)は次式から算出したものである。 誤差率(%)=RC遅延時間誤差(ns) ÷RC遅延時間t(ns)×100 ・・・(5)
10mVの場合において基準電位Vref を変化させたと
きのRC遅延時間誤差の例を示す図である。図におい
て、各列は左から、基準電位Vref (V),RC遅延時
間t(ns),RC遅延時間誤差(ns)および誤差率
(%)を示す。ただし、電源電圧VDD=5.00(V)
である。誤差率(%)は次式から算出したものである。 誤差率(%)=RC遅延時間誤差(ns) ÷RC遅延時間t(ns)×100 ・・・(5)
【0039】図5は基準電位Vref (V)(電源電圧V
DD=5V時)を0.00Vから5.00Vまで変化させ
たときのRC遅延時間t(ns)および誤差率(%)を
プロットした図である。
DD=5V時)を0.00Vから5.00Vまで変化させ
たときのRC遅延時間t(ns)および誤差率(%)を
プロットした図である。
【0040】図4および図5から、それぞれの図中で
“A”で示した範囲の誤差率が最も小さいことが分か
る。“A”で示した範囲に対応する基準電位Vref の範
囲は3.00V〜3.30Vである。図4および図5
は、電源電圧VDDが5Vの時のものであるから、誤差率
が最も小さくなる基準電位Vref の最適範囲として0.
6VDD〜0.66VDDが得られる。上記した式(1)な
いし式(3)から分かるように、RC遅延時間は発振周
波数fを規定するものであるから、RC遅延時間の誤差
率が最も小さくなる基準電位Vref の最適範囲0.6V
DD〜0.66VDDは、発振周波数fのバラツキを最も小
さくする。
“A”で示した範囲の誤差率が最も小さいことが分か
る。“A”で示した範囲に対応する基準電位Vref の範
囲は3.00V〜3.30Vである。図4および図5
は、電源電圧VDDが5Vの時のものであるから、誤差率
が最も小さくなる基準電位Vref の最適範囲として0.
6VDD〜0.66VDDが得られる。上記した式(1)な
いし式(3)から分かるように、RC遅延時間は発振周
波数fを規定するものであるから、RC遅延時間の誤差
率が最も小さくなる基準電位Vref の最適範囲0.6V
DD〜0.66VDDは、発振周波数fのバラツキを最も小
さくする。
【0041】式(1)ないし式(3)に示したように、
H期間,L期間および発振周波数fを規定するR1,R
2,C1およびC2は全て係数であり、これらの値を変
えてもH期間またはL期間、すなわちRC遅延時間が変
化するだけである。RC遅延時間誤差はRC遅延時間の
変化率に対応して変化するから、式(5)から算出され
る誤差率は変化しない。図6は、図4の場合に比べてコ
ンデンサCの値を5倍に設定した時の基準電位Vref
(V),RC遅延時間t(ns),RC遅延時間誤差
(ns)および誤差率(%)を示す図である。図6か
ら、RC遅延時間t(ns)およびRC遅延時間誤差
(ns)は、図4に比べて5倍になっているが、誤差率
は変化しないことが分かる。したがって、図中“A”で
示す誤差率が最も小さい範囲は、図4のときと同じであ
る。
H期間,L期間および発振周波数fを規定するR1,R
2,C1およびC2は全て係数であり、これらの値を変
えてもH期間またはL期間、すなわちRC遅延時間が変
化するだけである。RC遅延時間誤差はRC遅延時間の
変化率に対応して変化するから、式(5)から算出され
る誤差率は変化しない。図6は、図4の場合に比べてコ
ンデンサCの値を5倍に設定した時の基準電位Vref
(V),RC遅延時間t(ns),RC遅延時間誤差
(ns)および誤差率(%)を示す図である。図6か
ら、RC遅延時間t(ns)およびRC遅延時間誤差
(ns)は、図4に比べて5倍になっているが、誤差率
は変化しないことが分かる。したがって、図中“A”で
示す誤差率が最も小さい範囲は、図4のときと同じであ
る。
【0042】また、図4および図5はコンパレータ16
の電圧判定誤差が10mVの時の値を示しているが、例
えば電圧判定誤差が2倍の20mVに変化した場合を図
7に示す。図7から、図4に比べてRC遅延時間誤差が
2倍になり、誤差率も2倍になっているのが分かる。し
かしながら、誤差率が最も小さい基準電位Vref の範囲
は、図中“A”で示すように図4のときと一致する。
の電圧判定誤差が10mVの時の値を示しているが、例
えば電圧判定誤差が2倍の20mVに変化した場合を図
7に示す。図7から、図4に比べてRC遅延時間誤差が
2倍になり、誤差率も2倍になっているのが分かる。し
かしながら、誤差率が最も小さい基準電位Vref の範囲
は、図中“A”で示すように図4のときと一致する。
【0043】以上のように、この実施の形態2によれ
ば、電源電圧がVDDのとき、コンパレータ16の基準電
位Vref を0.6VDD〜0.66VDDの範囲に設定する
ことにより、発振周波数fのバラツキを最も小さくする
ことができる。
ば、電源電圧がVDDのとき、コンパレータ16の基準電
位Vref を0.6VDD〜0.66VDDの範囲に設定する
ことにより、発振周波数fのバラツキを最も小さくする
ことができる。
【0044】実施の形態3.図8は、図1に示したこの
発明の実施の形態1によるCR発振回路で使用されるT
型フリップフロップ18のQ出力および*Q出力の出力
波形を示す図である。図8(a)は単純なTFFの出力
波形を示している。図から分かるように、単純なTFF
ではQ出力の“H”期間のエッジと*Q出力の“H”期
間のエッジとがクリティカルである。例えば、時刻t2
2においてQ出力の立ち下がりが遅れたり、*Q出力の
立ち上がりが早まったりすると、Q出力,*Q出力が共
に“H”状態になるオーバーラップが生じる可能性があ
る。オーバーラップが生じると図1のa点とb点とがシ
ョート(短絡)してしまうから、回路が正常に動作しな
くなる。その結果、図2に示したH期間およびL期間の
長さにバラツキが生じ、発振周波数fの精度が低下す
る。
発明の実施の形態1によるCR発振回路で使用されるT
型フリップフロップ18のQ出力および*Q出力の出力
波形を示す図である。図8(a)は単純なTFFの出力
波形を示している。図から分かるように、単純なTFF
ではQ出力の“H”期間のエッジと*Q出力の“H”期
間のエッジとがクリティカルである。例えば、時刻t2
2においてQ出力の立ち下がりが遅れたり、*Q出力の
立ち上がりが早まったりすると、Q出力,*Q出力が共
に“H”状態になるオーバーラップが生じる可能性があ
る。オーバーラップが生じると図1のa点とb点とがシ
ョート(短絡)してしまうから、回路が正常に動作しな
くなる。その結果、図2に示したH期間およびL期間の
長さにバラツキが生じ、発振周波数fの精度が低下す
る。
【0045】以上のような問題の発生は、TFF18の
Q出力の“H”期間と*Q出力の“H”期間とが重なり
合わないようにノンオーバーラップ対策を施すことによ
り防止することができる。この実施の形態3はノンオー
バーラップ対策を施したTFFを提供するものである。
Q出力の“H”期間と*Q出力の“H”期間とが重なり
合わないようにノンオーバーラップ対策を施すことによ
り防止することができる。この実施の形態3はノンオー
バーラップ対策を施したTFFを提供するものである。
【0046】図8(b)はノンオーバーラップ対策を施
したTFFの出力波形を示している。例えばQ出力の
“H”期間(t32〜t33)と*Q出力の“H”期間
(t34〜t35)との間には、デッドタイム(ノンオ
ーバーラップ部)(t33〜t34)が設けてあるか
ら、Q出力の“H”期間と*Q出力の“H”期間とがオ
ーバーラップすることはない。
したTFFの出力波形を示している。例えばQ出力の
“H”期間(t32〜t33)と*Q出力の“H”期間
(t34〜t35)との間には、デッドタイム(ノンオ
ーバーラップ部)(t33〜t34)が設けてあるか
ら、Q出力の“H”期間と*Q出力の“H”期間とがオ
ーバーラップすることはない。
【0047】図9はノンオーバーラップ対策を施したT
FFの回路構成および各部の波形を示す図である。図9
(a)に示すように、ノンオーバーラップ対策を施した
TFF18はQ出力のみ使用する。Q出力は遅延回路2
0の手前で2つに分岐される。一方は直接2入力AND
ゲート22および2入力NORゲート24に入力し、他
方は遅延回路20で遅延された後、2入力ANDゲート
22および2入力NORゲート24に入力する。2入力
ANDゲート22からはQ’が出力され、2入力NOR
ゲート24からは*Q’が出力される。
FFの回路構成および各部の波形を示す図である。図9
(a)に示すように、ノンオーバーラップ対策を施した
TFF18はQ出力のみ使用する。Q出力は遅延回路2
0の手前で2つに分岐される。一方は直接2入力AND
ゲート22および2入力NORゲート24に入力し、他
方は遅延回路20で遅延された後、2入力ANDゲート
22および2入力NORゲート24に入力する。2入力
ANDゲート22からはQ’が出力され、2入力NOR
ゲート24からは*Q’が出力される。
【0048】図9(b)にc点,d点,Q’出力および
*Q’出力の波形を示す。遅延回路20を通ったd点の
波形は、TFF18のQ出力であるc点の波形よりt4
1〜t42だけ遅れている。Q’出力はc点の波形とd
点の波形とのANDをとったものになっており、*Q’
出力はc点の波形とd点の波形とのNORをとったもの
になっている。この結果、Q’出力の“H”期間(t4
2〜t43)と*Q’出力の“H”期間(t44〜t4
5)とはオーバーラップせず、両者の間にはデッドタイ
ム(ノンオーバーラップ部)(t43〜t44)が存在
する。
*Q’出力の波形を示す。遅延回路20を通ったd点の
波形は、TFF18のQ出力であるc点の波形よりt4
1〜t42だけ遅れている。Q’出力はc点の波形とd
点の波形とのANDをとったものになっており、*Q’
出力はc点の波形とd点の波形とのNORをとったもの
になっている。この結果、Q’出力の“H”期間(t4
2〜t43)と*Q’出力の“H”期間(t44〜t4
5)とはオーバーラップせず、両者の間にはデッドタイ
ム(ノンオーバーラップ部)(t43〜t44)が存在
する。
【0049】この実施の形態3では、TFF18のQ出
力および*Q出力の代わりに、図9(a)に示す回路を
通したQ’出力および*Q’出力を使用する。
力および*Q出力の代わりに、図9(a)に示す回路を
通したQ’出力および*Q’出力を使用する。
【0050】図9(a)の回路例ではTFF18のQ出
力を用いる例を示したが、*Q出力を用いてもQ’出力
および*Q’出力の極性が反転するだけで同様の効果が
得られる。
力を用いる例を示したが、*Q出力を用いてもQ’出力
および*Q’出力の極性が反転するだけで同様の効果が
得られる。
【0051】以上のように、この実施の形態3によれ
ば、TFF18のQ出力の“H”期間と*Q出力の
“H”期間とがオーバーラップしないようにノンオーバ
ーラップ対策を施したので、発振周波数を精度良く安定
に保つことが可能になる。
ば、TFF18のQ出力の“H”期間と*Q出力の
“H”期間とがオーバーラップしないようにノンオーバ
ーラップ対策を施したので、発振周波数を精度良く安定
に保つことが可能になる。
【0052】
【発明の効果】以上のように、請求項1記載の発明によ
れば、CR発振回路を、2個のCR回路と、該2個のC
R回路の充電電圧を交互に基準電位と比較し、基準電位
と等しくなった時点を検出する電圧検出手段と、該電圧
検出手段の検出結果に基づいて前記2個のCR回路を互
いに排他的に充電状態または放電状態に切り換える切換
手段とを備えるように構成したので、少ないハードウェ
ア構成で高い発振周波数精度が得られる効果がある。
れば、CR発振回路を、2個のCR回路と、該2個のC
R回路の充電電圧を交互に基準電位と比較し、基準電位
と等しくなった時点を検出する電圧検出手段と、該電圧
検出手段の検出結果に基づいて前記2個のCR回路を互
いに排他的に充電状態または放電状態に切り換える切換
手段とを備えるように構成したので、少ないハードウェ
ア構成で高い発振周波数精度が得られる効果がある。
【0053】請求項2記載の発明によれば、CR発振回
路を、2個のCR回路がそれぞれ固有の時定数を有し充
放電を行う第1CR回路および第2CR回路から成り、
電圧検出手段が前記第1CR回路または前記第2CR回
路の充電電圧と基準電位とを比較し、両者が等しくなっ
た時点でパルスを出力するコンパレータから成り、切換
手段が前記コンパレータからの出力パルスが入力される
T型フリップフロップ、互いに連動し該T型フリップフ
ロップのQ出力および反転Q出力によって前記第1CR
回路および前記第2CR回路の充放電を制御する第1ス
イッチング素子および第2スイッチング素子、並びに、
互いに連動し前記T型フリップフロップのQ出力および
反転Q出力によって前記第1CR回路と前記コンパレー
タとの間の接続を制御する第1開閉器および前記第2C
R回路と前記コンパレータとの間の接続を制御する第2
開閉器とから成るように構成したので、発振パルスのデ
ューティを自由に設定することができる効果がある。
路を、2個のCR回路がそれぞれ固有の時定数を有し充
放電を行う第1CR回路および第2CR回路から成り、
電圧検出手段が前記第1CR回路または前記第2CR回
路の充電電圧と基準電位とを比較し、両者が等しくなっ
た時点でパルスを出力するコンパレータから成り、切換
手段が前記コンパレータからの出力パルスが入力される
T型フリップフロップ、互いに連動し該T型フリップフ
ロップのQ出力および反転Q出力によって前記第1CR
回路および前記第2CR回路の充放電を制御する第1ス
イッチング素子および第2スイッチング素子、並びに、
互いに連動し前記T型フリップフロップのQ出力および
反転Q出力によって前記第1CR回路と前記コンパレー
タとの間の接続を制御する第1開閉器および前記第2C
R回路と前記コンパレータとの間の接続を制御する第2
開閉器とから成るように構成したので、発振パルスのデ
ューティを自由に設定することができる効果がある。
【0054】請求項3記載の発明によれば、第1CR回
路および第2CR回路がそれぞれ直列接続された抵抗お
よびコンデンサから成るように構成したので、抵抗およ
びコンデンサは外付け部品として高精度のものを選定す
ることができるから、発振周波数の精度を向上させるこ
とができる効果がある。
路および第2CR回路がそれぞれ直列接続された抵抗お
よびコンデンサから成るように構成したので、抵抗およ
びコンデンサは外付け部品として高精度のものを選定す
ることができるから、発振周波数の精度を向上させるこ
とができる効果がある。
【0055】請求項4記載の発明によれば、第1スイッ
チング素子および第2スイッチング素子がMOSトラン
ジスタから成るように構成したので、主要部を集積回路
内に形成することが可能になるから、この発明に係るC
R発振回路をマイクロコンピュータなどに適用するのが
容易になる効果がある。
チング素子および第2スイッチング素子がMOSトラン
ジスタから成るように構成したので、主要部を集積回路
内に形成することが可能になるから、この発明に係るC
R発振回路をマイクロコンピュータなどに適用するのが
容易になる効果がある。
【0056】請求項5記載の発明によれば、基準電位を
発振周波数のバラツキが極小になる範囲の値に設定する
ように構成したので、発振周波数精度の高いCR発振回
路が得られる効果がある。
発振周波数のバラツキが極小になる範囲の値に設定する
ように構成したので、発振周波数精度の高いCR発振回
路が得られる効果がある。
【0057】請求項6記載の発明によれば、基準電位を
電源電圧の0.6倍から0.66倍までの範囲に設定す
るように構成したので、高い発振周波数精度が得られる
基準電位の具体的な値が得られる効果がある。
電源電圧の0.6倍から0.66倍までの範囲に設定す
るように構成したので、高い発振周波数精度が得られる
基準電位の具体的な値が得られる効果がある。
【0058】請求項7記載の発明によれば、T型フリッ
プフロップのQ出力の“H”期間と反転Q出力の“H”
期間との間にノンオーバーラップ部を設けるように構成
したので、発振周波数を精度良く安定に保つことが可能
になる効果がある。
プフロップのQ出力の“H”期間と反転Q出力の“H”
期間との間にノンオーバーラップ部を設けるように構成
したので、発振周波数を精度良く安定に保つことが可能
になる効果がある。
【0059】請求項8記載の発明によれば、T型フリッ
プフロップのQ出力端子または反転Q出力端子に後続し
て2入力ANDゲートおよび2入力NORゲートを併置
し、前記端子出力を2分し、一方を前記2入力ANDゲ
ートおよび前記2入力NORゲートに直接入力し、他方
を遅延回路を介して前記2入力ANDゲートおよび前記
2入力NORゲートに入力するように構成したので、前
記T型フリップフロップのQ出力の“H”期間と反転Q
出力の“H”期間とがオーバーラップしないノンオーバ
ーラップ部を形成できるから、発振周波数を精度良く安
定に保つことが可能になる効果がある。
プフロップのQ出力端子または反転Q出力端子に後続し
て2入力ANDゲートおよび2入力NORゲートを併置
し、前記端子出力を2分し、一方を前記2入力ANDゲ
ートおよび前記2入力NORゲートに直接入力し、他方
を遅延回路を介して前記2入力ANDゲートおよび前記
2入力NORゲートに入力するように構成したので、前
記T型フリップフロップのQ出力の“H”期間と反転Q
出力の“H”期間とがオーバーラップしないノンオーバ
ーラップ部を形成できるから、発振周波数を精度良く安
定に保つことが可能になる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1によるCR発振回路
を示す図である。
を示す図である。
【図2】 図1に示すCR発振回路のa点の波形,b点
の波形およびTFFのQ端子出力を示す図である。
の波形およびTFFのQ端子出力を示す図である。
【図3】 この発明の実施の形態2によるCR発振回路
の出力端子からの出力電圧Voの時間変化を示す図であ
る。
の出力端子からの出力電圧Voの時間変化を示す図であ
る。
【図4】 コンパレータの電圧判定誤差が10mVの場
合において基準電位Vref を変化させたときのRC遅延
時間誤差の例を示す図である。
合において基準電位Vref を変化させたときのRC遅延
時間誤差の例を示す図である。
【図5】 基準電位Vref (V)(電源電圧VDD=5V
時)を0.00Vから5.00Vまで変化させたときの
RC遅延時間t(ns)および誤差率(%)をプロット
した図である。
時)を0.00Vから5.00Vまで変化させたときの
RC遅延時間t(ns)および誤差率(%)をプロット
した図である。
【図6】 図4の場合に比べてコンデンサCの値を5倍
に設定した時の基準電位Vref (V),RC遅延時間t
(ns),RC遅延時間誤差(ns)および誤差率
(%)を示す図である。
に設定した時の基準電位Vref (V),RC遅延時間t
(ns),RC遅延時間誤差(ns)および誤差率
(%)を示す図である。
【図7】 電圧判定誤差が2倍の20mVに変化した場
合の基準電位Vref(V),RC遅延時間t(ns),
RC遅延時間誤差(ns)および誤差率(%)を示す図
である。
合の基準電位Vref(V),RC遅延時間t(ns),
RC遅延時間誤差(ns)および誤差率(%)を示す図
である。
【図8】 この発明の実施の形態3によるCR発振回路
で使用されるT型フリップフロップ(TFF)のQ出力
および*Q出力の出力波形を示す図である。
で使用されるT型フリップフロップ(TFF)のQ出力
および*Q出力の出力波形を示す図である。
【図9】 ノンオーバーラップ対策を施したTFFの回
路構成および各部の波形を示す図である。
路構成および各部の波形を示す図である。
【図10】 従来のCR発振回路を示す図である。
【図11】 従来のCR発振回路におけるe点の波形お
よびf点の波形を示す図である。
よびf点の波形を示す図である。
【図12】 従来のCR発振回路で発生するL期間のバ
ラツキに起因する発振周波数の誤差を低減するために提
案されたCR発振回路を示す図である。
ラツキに起因する発振周波数の誤差を低減するために提
案されたCR発振回路を示す図である。
11 第1CR回路(CR回路)、13 第2CR回路
(CR回路)、16コンパレータ(電圧検出手段)、1
8 T型フリップフロップ(切換手段)、R1,R2
抵抗、C1,C2 コンデンサ、TR1,TR2 nチ
ャネルMOSトランジスタ(MOSトランジスタ、第1
スイッチング素子、第2スイッチング素子、切換手
段)、SW1,SW2 スイッチ(第1開閉器、第2開
閉器、切換手段)、Vref 基準電位。
(CR回路)、16コンパレータ(電圧検出手段)、1
8 T型フリップフロップ(切換手段)、R1,R2
抵抗、C1,C2 コンデンサ、TR1,TR2 nチ
ャネルMOSトランジスタ(MOSトランジスタ、第1
スイッチング素子、第2スイッチング素子、切換手
段)、SW1,SW2 スイッチ(第1開閉器、第2開
閉器、切換手段)、Vref 基準電位。
Claims (8)
- 【請求項1】 2個のCR回路と、該2個のCR回路の
充電電圧を交互に基準電位と比較し、基準電位と等しく
なった時点を検出する電圧検出手段と、該電圧検出手段
の検出結果に基づいて前記2個のCR回路を互いに排他
的に充電状態または放電状態に切り換える切換手段とを
備えたCR発振回路。 - 【請求項2】 2個のCR回路がそれぞれ固有の時定数
を有し充放電を行う第1CR回路および第2CR回路か
ら成り、電圧検出手段が前記第1CR回路または前記第
2CR回路の充電電圧と基準電位とを比較し、両者が等
しくなった時点でパルスを出力するコンパレータから成
り、切換手段が前記コンパレータからの出力パルスが入
力されるT型フリップフロップ、互いに連動し該T型フ
リップフロップのQ出力および反転Q出力によって前記
第1CR回路および前記第2CR回路の充放電を制御す
る第1スイッチング素子および第2スイッチング素子、
並びに、互いに連動し前記T型フリップフロップのQ出
力および反転Q出力によって前記第1CR回路と前記コ
ンパレータとの間の接続を制御する第1開閉器および前
記第2CR回路と前記コンパレータとの間の接続を制御
する第2開閉器とから成ることを特徴とする請求項1記
載のCR発振回路。 - 【請求項3】 第1CR回路および第2CR回路がそれ
ぞれ直列接続された抵抗およびコンデンサから成ること
を特徴とする請求項2記載のCR発振回路。 - 【請求項4】 第1スイッチング素子および第2スイッ
チング素子がMOSトランジスタから成ることを特徴と
する請求項2記載のCR発振回路。 - 【請求項5】 基準電位を発振周波数のバラツキが極小
になる範囲の値に設定したことを特徴とする請求項1か
ら請求項4のうちのいずれか1項記載のCR発振回路。 - 【請求項6】 基準電位を電源電圧の0.6倍から0.
66倍までの範囲に設定したことを特徴とする請求項1
から請求項4のうちのいずれか1項記載のCR発振回
路。 - 【請求項7】 T型フリップフロップのQ出力の“H”
期間と反転Q出力の“H”期間との間にノンオーバーラ
ップ部を設けたことを特徴とする請求項2から請求項6
のうちのいずれか1項記載のCR発振回路。 - 【請求項8】 T型フリップフロップのQ出力端子また
は反転Q出力端子に後続して2入力ANDゲートおよび
2入力NORゲートを併置し、前記端子出力を2分し、
一方を前記2入力ANDゲートおよび前記2入力NOR
ゲートに直接入力し、他方を遅延回路を介して前記2入
力ANDゲートおよび前記2入力NORゲートに入力す
ることを特徴とする請求項2から請求項7のうちのいず
れか1項記載のCR発振回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8225174A JPH1070440A (ja) | 1996-08-27 | 1996-08-27 | Cr発振回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8225174A JPH1070440A (ja) | 1996-08-27 | 1996-08-27 | Cr発振回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1070440A true JPH1070440A (ja) | 1998-03-10 |
Family
ID=16825120
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8225174A Pending JPH1070440A (ja) | 1996-08-27 | 1996-08-27 | Cr発振回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1070440A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006092842A1 (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-08 | Fujitsu Limited | 電流制御発振器 |
| KR100779108B1 (ko) | 2006-08-22 | 2007-11-27 | 주식회사엘디티 | 발진 주파수 조절이 가능한 발진회로 |
| US8212624B2 (en) | 2008-08-07 | 2012-07-03 | Panasonic Corporation | Reference frequency generation circuit, semiconductor integrated circuit, and electronic device |
| KR20240129959A (ko) * | 2023-02-21 | 2024-08-28 | 포항공과대학교 산학협력단 | 발진 회로 장치 |
-
1996
- 1996-08-27 JP JP8225174A patent/JPH1070440A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006092842A1 (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-08 | Fujitsu Limited | 電流制御発振器 |
| KR100963308B1 (ko) | 2005-02-28 | 2010-06-11 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | 전류 제어 발진기 |
| US7808331B2 (en) | 2005-02-28 | 2010-10-05 | Fujitsu Limited | Current-controlled oscillator |
| KR100779108B1 (ko) | 2006-08-22 | 2007-11-27 | 주식회사엘디티 | 발진 주파수 조절이 가능한 발진회로 |
| US8212624B2 (en) | 2008-08-07 | 2012-07-03 | Panasonic Corporation | Reference frequency generation circuit, semiconductor integrated circuit, and electronic device |
| KR20240129959A (ko) * | 2023-02-21 | 2024-08-28 | 포항공과대학교 산학협력단 | 발진 회로 장치 |
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