JPH1079455A - Ic挿入抜取装置 - Google Patents
Ic挿入抜取装置Info
- Publication number
- JPH1079455A JPH1079455A JP8232804A JP23280496A JPH1079455A JP H1079455 A JPH1079455 A JP H1079455A JP 8232804 A JP8232804 A JP 8232804A JP 23280496 A JP23280496 A JP 23280496A JP H1079455 A JPH1079455 A JP H1079455A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- board
- storing
- extraction
- positioning
- socket
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Automatic Assembly (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】IC製造工程の一つであるB/T前後に行われ
るB/Iボード上のソケットへのIC挿入、抜取作業の
自動化装置で、製造される多品種のIC及びB/Iボー
ドに対し、スループットを短縮し、IC品種切替段取り
作業の誤りを防ぎIC製造の歩留まりを向上させる。 【解決手段】IC挿入抜取装置4で、多品種、多枚数の
B/Iボード1に対し、ボード固有のデータの計測、デ
ータ記憶保存を実挿入、抜取作業に併行して、別の工程
にして、作業時間の短縮及びIC品種切り替え段取り作
業の誤りを防ぐ。
るB/Iボード上のソケットへのIC挿入、抜取作業の
自動化装置で、製造される多品種のIC及びB/Iボー
ドに対し、スループットを短縮し、IC品種切替段取り
作業の誤りを防ぎIC製造の歩留まりを向上させる。 【解決手段】IC挿入抜取装置4で、多品種、多枚数の
B/Iボード1に対し、ボード固有のデータの計測、デ
ータ記憶保存を実挿入、抜取作業に併行して、別の工程
にして、作業時間の短縮及びIC品種切り替え段取り作
業の誤りを防ぐ。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はIC挿入抜取装置に
関する。
関する。
【0002】
【従来の技術】IC製造工程の一つである選別工程で
は、B/Tと呼ばれる製作したICの全数をスクリーニ
ングする品質保証上重要な工程があり、その作業はB/
Iボード1と呼ばれる電気的特性試験用プリント回路基
板上に配設された複数個のソケット3に製作したIC2
を挿入実装した後、B/Iボード1をB/T装置内に収
納し、高温通電加速試験の一種であるB/Tを行う。B
/T終了後、B/Iボード1上のソケット3よりIC2
を抜取り、収納治具にIC2をB/Tの結果データによ
ってB/T不良、IC品質グレード別に分類収納する。
は、B/Tと呼ばれる製作したICの全数をスクリーニ
ングする品質保証上重要な工程があり、その作業はB/
Iボード1と呼ばれる電気的特性試験用プリント回路基
板上に配設された複数個のソケット3に製作したIC2
を挿入実装した後、B/Iボード1をB/T装置内に収
納し、高温通電加速試験の一種であるB/Tを行う。B
/T終了後、B/Iボード1上のソケット3よりIC2
を抜取り、収納治具にIC2をB/Tの結果データによ
ってB/T不良、IC品質グレード別に分類収納する。
【0003】この工程で、供給治具であるトレイ11ま
たはマガジン(図示せず)からIC2を取出しB/Iボ
ード1上のソケット3への挿入作業、ソケット3から抜
取り、収納治具11への分類収納作業をIC挿入抜取装
置4が行っている。
たはマガジン(図示せず)からIC2を取出しB/Iボ
ード1上のソケット3への挿入作業、ソケット3から抜
取り、収納治具11への分類収納作業をIC挿入抜取装
置4が行っている。
【0004】IC挿入抜取装置4におけるトレイ11に
収納したIC2をB/Iボード1上のソケット3に挿入
する方法の一例を図1及び図2を用いて説明する。
収納したIC2をB/Iボード1上のソケット3に挿入
する方法の一例を図1及び図2を用いて説明する。
【0005】まずIC挿入作業に当たっては、B/T前
のIC2を収納したトレイ11をトレイ位置決部13に
搬送位置決めし、空ソケット3が載ったB/Iボード1
をIC挿入位置決部12に搬送位置決めし、直角座標系
搬送装置8に載設された上下及びひねり動作可能軸10
の先端に設けた吸着ヘッド15により、トレイ位置決部
13からIC2を取り出し、B/Iボード1上の空ソケ
ット3に挿入実装することによりIC2のリード2bと
ソケットのコンタクト3cが接触し、電気的導通が得ら
れる。この時、ICパッケージ2の形状、リード2bの
数またはピッチが異なると、IC2は別の品種になり、
それに対応するソケット3も別の品種となるので、B/
Iボード1は別の品種になる。
のIC2を収納したトレイ11をトレイ位置決部13に
搬送位置決めし、空ソケット3が載ったB/Iボード1
をIC挿入位置決部12に搬送位置決めし、直角座標系
搬送装置8に載設された上下及びひねり動作可能軸10
の先端に設けた吸着ヘッド15により、トレイ位置決部
13からIC2を取り出し、B/Iボード1上の空ソケ
ット3に挿入実装することによりIC2のリード2bと
ソケットのコンタクト3cが接触し、電気的導通が得ら
れる。この時、ICパッケージ2の形状、リード2bの
数またはピッチが異なると、IC2は別の品種になり、
それに対応するソケット3も別の品種となるので、B/
Iボード1は別の品種になる。
【0006】同様に、IC抜取作業は、B/T後のIC
2を収納したB/Iボード1をIC挿入位置決部12に
搬送位置決めし、吸着ヘッド15によりICを抜取り、
トレイ位置決部13に位置決めされた空トレイ11に収
納する。
2を収納したB/Iボード1をIC挿入位置決部12に
搬送位置決めし、吸着ヘッド15によりICを抜取り、
トレイ位置決部13に位置決めされた空トレイ11に収
納する。
【0007】現在、IC製造メーカで製造されるIC2
の種類は、極めて多品種にわたっているので、対応する
ソケット3及びB/Iボード1の品種も極めて多品種に
なり、また、生産上IC各品種当たり数百枚のB/Iボ
ードを必要とするので、IC製造メーカは、膨大な品種
及び数量のB/Iボード1の保有、管理を余儀なくされ
ている。
の種類は、極めて多品種にわたっているので、対応する
ソケット3及びB/Iボード1の品種も極めて多品種に
なり、また、生産上IC各品種当たり数百枚のB/Iボ
ードを必要とするので、IC製造メーカは、膨大な品種
及び数量のB/Iボード1の保有、管理を余儀なくされ
ている。
【0008】IC挿入抜取装置4では、この多品種IC
に対応するB/Iボード1上に配設されるソケット3の
品種とソケットの配設数、ソケットピッチが各々異なる
膨大な種類及び枚数のB/Iボード1の戸籍を管理する
必要が有り、全B/Iボード1について各々の品種名
称、枚数番号(ボードコードという)をボードインデッ
クスと呼んで登録し記憶保管する。実際には、IC挿入
位置決部12に搬送位置決めした直後に、IC2の品種
に対応するボードインデックスを計測し登録し、次にB
/Iボード1上のソケット3の配置位置を挿入抜取ポイ
ント12aとして直角座標系搬送装置8の基準点からの
座標で表し、初期設定で登録を行っている。
に対応するB/Iボード1上に配設されるソケット3の
品種とソケットの配設数、ソケットピッチが各々異なる
膨大な種類及び枚数のB/Iボード1の戸籍を管理する
必要が有り、全B/Iボード1について各々の品種名
称、枚数番号(ボードコードという)をボードインデッ
クスと呼んで登録し記憶保管する。実際には、IC挿入
位置決部12に搬送位置決めした直後に、IC2の品種
に対応するボードインデックスを計測し登録し、次にB
/Iボード1上のソケット3の配置位置を挿入抜取ポイ
ント12aとして直角座標系搬送装置8の基準点からの
座標で表し、初期設定で登録を行っている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ICの大口需要先であ
るパソコン、コピー機、ファクシミリ、携帯電話等の電
子機器は、最近猛烈な勢いで数量が増加すると共に小形
軽量化が進んでおり、係る電子機器に内蔵されるIC2
の品種、生産数が急増すると共にICの小形軽量薄型化
が要求されている。IC製造工程で、ICの生産数急
増、特にSOP(図5に示すリード2bが二方向に出て
いる)やQFP(図2に示すリード2bが四方向に出て
いる)等の小形軽量薄形ICが急増し、生産時その取り
扱いの難しさからIC製造スループット及び生産性の大
幅低下を招き、またICの品種多様化により製造ライン
の品種切り替え段取りが頻繁に行う必要が生じ、生産歩
留まりが低下することによりICのコスト高を招くとい
う問題がある。特に近年、IC生産数、売上高が膨大に
なるに伴い、一層重大な問題になってきた。
るパソコン、コピー機、ファクシミリ、携帯電話等の電
子機器は、最近猛烈な勢いで数量が増加すると共に小形
軽量化が進んでおり、係る電子機器に内蔵されるIC2
の品種、生産数が急増すると共にICの小形軽量薄型化
が要求されている。IC製造工程で、ICの生産数急
増、特にSOP(図5に示すリード2bが二方向に出て
いる)やQFP(図2に示すリード2bが四方向に出て
いる)等の小形軽量薄形ICが急増し、生産時その取り
扱いの難しさからIC製造スループット及び生産性の大
幅低下を招き、またICの品種多様化により製造ライン
の品種切り替え段取りが頻繁に行う必要が生じ、生産歩
留まりが低下することによりICのコスト高を招くとい
う問題がある。特に近年、IC生産数、売上高が膨大に
なるに伴い、一層重大な問題になってきた。
【0010】また、全B/Iボード1をボードインデッ
クスで登録管理することを前記したが、仮にB/Iボー
ド1上のソケット3内に相対応しない別品種のIC2を
挿入すると、ICのリード2bとソケットのコンタクト
3cがアンマッチになり、ICリード2bが曲がるとい
う重大な製品欠陥が発生し、更にB/T時、係るアンマ
ッチ挿入のままB/Iボード1に通電すると、上記IC
2は電気的に破壊されるか、過電流が流れラッチアップ
と呼ぶソケット破損またはボードのプリント回路が破断
するという重大な欠陥が発生する。従って、ボードイン
デックスはIC2の品種とB/Iボード1の品種を結ぶ
重要な要素であり、IC製造工程における不良防止を図
る生命線である。
クスで登録管理することを前記したが、仮にB/Iボー
ド1上のソケット3内に相対応しない別品種のIC2を
挿入すると、ICのリード2bとソケットのコンタクト
3cがアンマッチになり、ICリード2bが曲がるとい
う重大な製品欠陥が発生し、更にB/T時、係るアンマ
ッチ挿入のままB/Iボード1に通電すると、上記IC
2は電気的に破壊されるか、過電流が流れラッチアップ
と呼ぶソケット破損またはボードのプリント回路が破断
するという重大な欠陥が発生する。従って、ボードイン
デックスはIC2の品種とB/Iボード1の品種を結ぶ
重要な要素であり、IC製造工程における不良防止を図
る生命線である。
【0011】そのため、装置メーカは、上記ボードイン
デックスを如何に短時間で正確に計測し、計測したデー
タを装置制御部5に如何に伝送、記憶保存するかが、I
C挿入抜取装置として信頼性を維持しながらスループッ
トを向上させるための課題である。
デックスを如何に短時間で正確に計測し、計測したデー
タを装置制御部5に如何に伝送、記憶保存するかが、I
C挿入抜取装置として信頼性を維持しながらスループッ
トを向上させるための課題である。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明のIC挿入抜取装
置は、B/T前のB/Iボード1を上記装置本体4に供
給するためのボードローディング部6にボードインデッ
クスを計測する手段7を設けることにより、B/Iボー
ド1を装置本体4上のIC挿入抜取位置決部12に搬送
する前にボードインデックスを計測することが可能であ
る。
置は、B/T前のB/Iボード1を上記装置本体4に供
給するためのボードローディング部6にボードインデッ
クスを計測する手段7を設けることにより、B/Iボー
ド1を装置本体4上のIC挿入抜取位置決部12に搬送
する前にボードインデックスを計測することが可能であ
る。
【0013】また、直角座標系搬送装置8及び装置本体
4と装置制御部5を電送可能に接続し、ボードインデッ
クス計測データ即ち、多品種及び多数枚にわたるB/I
ボードに関する予め登録されたボードに固有のボードコ
ード、ボード上のソケット3の品種、及び破損した等の
不良ソケット座標データ(Xの何番、Yの何番のソケッ
トが不良というデータ)を装置制御部5に伝送し、制御
部5内部に記憶保存する手段と、必要に応じて記憶保存
したデータを任意に読み出せる手段を持つ。同様に、B
/T後のB/Iボード1をボードローディング部6に供
給し、B/Iボード1を装置本体4上のIC挿入抜取位
置決部12に搬送する前にボードインデックスを計測
し、かつ係る計測データを上記装置制御部5に伝送、記
憶保存し、B/TテスタよりのB/T結果データ即ち、
B/TによるIC2品質グレード及び不良ICの座標デ
ータ(Xの何番、Yの何番のICが不良というデータ)
を授受する手段を持つ。
4と装置制御部5を電送可能に接続し、ボードインデッ
クス計測データ即ち、多品種及び多数枚にわたるB/I
ボードに関する予め登録されたボードに固有のボードコ
ード、ボード上のソケット3の品種、及び破損した等の
不良ソケット座標データ(Xの何番、Yの何番のソケッ
トが不良というデータ)を装置制御部5に伝送し、制御
部5内部に記憶保存する手段と、必要に応じて記憶保存
したデータを任意に読み出せる手段を持つ。同様に、B
/T後のB/Iボード1をボードローディング部6に供
給し、B/Iボード1を装置本体4上のIC挿入抜取位
置決部12に搬送する前にボードインデックスを計測
し、かつ係る計測データを上記装置制御部5に伝送、記
憶保存し、B/TテスタよりのB/T結果データ即ち、
B/TによるIC2品質グレード及び不良ICの座標デ
ータ(Xの何番、Yの何番のICが不良というデータ)
を授受する手段を持つ。
【0014】上記ボードローディング部6にボードイン
デックスを計測する手段7を設けることにより、IC挿
入抜取装置本体4がIC2を挿入作業あるいは、抜取作
業を行っている間にボードインデックスを計測し、かつ
係る計測されたデータを伝送、記憶保存することが可能
となり、装置全体のスループットが向上させることを特
徴とする。
デックスを計測する手段7を設けることにより、IC挿
入抜取装置本体4がIC2を挿入作業あるいは、抜取作
業を行っている間にボードインデックスを計測し、かつ
係る計測されたデータを伝送、記憶保存することが可能
となり、装置全体のスループットが向上させることを特
徴とする。
【0015】
【発明の実施の形態】図1はこの発明の一実施例を示す
IC挿入抜取装置全体の斜視図であり、図2はB/Iボ
ード1上のソケット3にIC2を挿入状況を説明するた
めの斜視図である。図3はB/Iボード1をIC挿入抜
取装置本体4に供給するボードローディング部6の側面
図であり一部断面、破断して示してある。図4はB/I
ボード1の一例を説明するための斜視図である。
IC挿入抜取装置全体の斜視図であり、図2はB/Iボ
ード1上のソケット3にIC2を挿入状況を説明するた
めの斜視図である。図3はB/Iボード1をIC挿入抜
取装置本体4に供給するボードローディング部6の側面
図であり一部断面、破断して示してある。図4はB/I
ボード1の一例を説明するための斜視図である。
【0016】この実施例では、B/Iボード1の表面の
プリント回路近傍に、例えばバーコードをプリントし、
各B/Iボード1固有のボードコード及び対応ソケット
3の品種、ボード1上に配置されるソケット3のアドレ
ス等を表すボードインデックス計測部9を設け、かつI
C挿入抜取位置決部12に供給するためのボードローデ
ィング部6にボードインデックス計測手段7、例えばバ
ーコードリーダーを配設し、ボードローディング前にボ
ードインデックスを計測可能に構成する。また、上記ボ
ードインデックス計測手段7を、ボードローディング時
には、B/Iボード1に接触しない位置に待避し、計測
時にのみ上記B/Iボード1のボードインデックス計測
部9に相対する位置に移動させるための計測手段スライ
ド7aを設けてある。このような構成におけるIC挿入
抜取装置の動作を説明する。まず、B/Iボード1をボ
ードローディング部6に供給し、B/Iボード1を位置
決めし、ボードインデックス計測手段スライド7aを上
記B/Iボード1に設けられたボードインデックス計測
部9に対応する位置にスライドさせ、ボードインデック
スを計測し、計測データを装置制御部5に伝送し記憶保
存した後、上記B/Iボード1を装置本体4のIC挿入
抜取位置決部12に搬送位置決めし、IC2の挿入また
は抜取作業を行う。IC2の挿入または抜取作業を行っ
ている間に、次のB/Iボード1を上記同様にボードロ
ーディング部6に位置決めし、ボードインデックスを計
測し、計測データを装置制御部5に伝送、記憶保存する
ことができるので、IC挿入抜取装置4全体としてスル
ープットを向上できる。
プリント回路近傍に、例えばバーコードをプリントし、
各B/Iボード1固有のボードコード及び対応ソケット
3の品種、ボード1上に配置されるソケット3のアドレ
ス等を表すボードインデックス計測部9を設け、かつI
C挿入抜取位置決部12に供給するためのボードローデ
ィング部6にボードインデックス計測手段7、例えばバ
ーコードリーダーを配設し、ボードローディング前にボ
ードインデックスを計測可能に構成する。また、上記ボ
ードインデックス計測手段7を、ボードローディング時
には、B/Iボード1に接触しない位置に待避し、計測
時にのみ上記B/Iボード1のボードインデックス計測
部9に相対する位置に移動させるための計測手段スライ
ド7aを設けてある。このような構成におけるIC挿入
抜取装置の動作を説明する。まず、B/Iボード1をボ
ードローディング部6に供給し、B/Iボード1を位置
決めし、ボードインデックス計測手段スライド7aを上
記B/Iボード1に設けられたボードインデックス計測
部9に対応する位置にスライドさせ、ボードインデック
スを計測し、計測データを装置制御部5に伝送し記憶保
存した後、上記B/Iボード1を装置本体4のIC挿入
抜取位置決部12に搬送位置決めし、IC2の挿入また
は抜取作業を行う。IC2の挿入または抜取作業を行っ
ている間に、次のB/Iボード1を上記同様にボードロ
ーディング部6に位置決めし、ボードインデックスを計
測し、計測データを装置制御部5に伝送、記憶保存する
ことができるので、IC挿入抜取装置4全体としてスル
ープットを向上できる。
【0017】
【発明の効果】本発明によれば、装置本体4にB/Iボ
ードを供給するためのボードローディング部6にボード
インデックス計測手段7及びボードの実ローディング時
に計測手段を待避させる計測手段スライド7aを配設す
ることにより、B/Iボード1を装置本体のIC挿入抜
取位置決部12に搬送する前にボードインデックスを計
測するので、ICの挿入または抜取作業を行っている間
に次のB/Iボード1のボードインデックスを計測する
ことが可能となり、装置全体のスループットを短縮する
ことが出来る。
ードを供給するためのボードローディング部6にボード
インデックス計測手段7及びボードの実ローディング時
に計測手段を待避させる計測手段スライド7aを配設す
ることにより、B/Iボード1を装置本体のIC挿入抜
取位置決部12に搬送する前にボードインデックスを計
測するので、ICの挿入または抜取作業を行っている間
に次のB/Iボード1のボードインデックスを計測する
ことが可能となり、装置全体のスループットを短縮する
ことが出来る。
【0018】また、計測したデータを装置制御部5に伝
送し、その内部に任意時読み出し可能に記憶保存するこ
とにより、IC挿入または抜取作業前に、IC2の品種
に相対するB/Iボード1かを自己診断しチェックする
ことにより、IC2とソケット3のアンマッチを発見す
ることが出来、IC製造の歩留まりを向上出来る。
送し、その内部に任意時読み出し可能に記憶保存するこ
とにより、IC挿入または抜取作業前に、IC2の品種
に相対するB/Iボード1かを自己診断しチェックする
ことにより、IC2とソケット3のアンマッチを発見す
ることが出来、IC製造の歩留まりを向上出来る。
【図1】本発明の一実施例を示すIC挿入抜取装置全体
の斜視図。
の斜視図。
【図2】B/Iボード上のソケットにICを挿入する動
作の説明図。
作の説明図。
【図3】本発明の一実施例を示すB/Iボードローディ
ング部の側面図。
ング部の側面図。
【図4】B/Iボード及び上記B/Iボードに配設した
ボードインデックス計測部を示す斜視図。
ボードインデックス計測部を示す斜視図。
【図5】ICの一種であるSOPの斜視図。
【図6】IC収納治具の一種であるマガジンの斜視図。
1…B/Iボード、 2…IC、 3…ソケット、 4…IC挿入抜取装置本体、 5…挿入抜取装置制御部、 5a…操作パネル、 6…B/Iボードローディング部、 8…直角座標系搬送装置、 10…上下、ひねり可能軸、 13…トレイ位置決部、 14…トレイローディング部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 隆 栃木県下都賀郡大平町大字富田800番地株 式会社日立製作所冷熱事業部内
Claims (2)
- 【請求項1】ICを吸着して搬送する吸着ヘッドを上下
及びひねり動作可能に載設した直角座標系搬送装置と、
上記ICを供給、収納するトレイを搬送位置決めするト
レイ位置決部と、上記ICを実装するためのソケットを
その上に配設したバーンインボードを供給するボードロ
ーディング部と上記バーンインボードを搬送位置決めす
るIC挿入抜取位置決部を載設した装置本体と、上記直
角座標系搬送装置の作業位置及び作業順序に関するデー
タを記憶保存し、上記装置本体を制御する装置制御部と
を伝送可能に接続し、多品種及び多数枚にわたる上記バ
ーンインボードに関する予め登録された固有データを計
測する機能をIC挿入抜取位置決部の前に配置した上記
ボードローディング部に設け、計測された固有データを
上記装置制御部に伝送し、記憶保存すると共に保存した
データを任意の時に読み出せる機能を備えたことを特徴
とするIC挿入抜取装置。 - 【請求項2】上記ICを把持して搬送するグリッパヘッ
ドを上下及びひねり動作可能に載設した直角座標系搬送
装置と、上記ICを供給、収納するマガジンを搬送、位
置決めするマガジン位置決部を上記装置本体に載設した
請求項1のIC挿入抜取装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8232804A JPH1079455A (ja) | 1996-09-03 | 1996-09-03 | Ic挿入抜取装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8232804A JPH1079455A (ja) | 1996-09-03 | 1996-09-03 | Ic挿入抜取装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1079455A true JPH1079455A (ja) | 1998-03-24 |
Family
ID=16945035
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8232804A Pending JPH1079455A (ja) | 1996-09-03 | 1996-09-03 | Ic挿入抜取装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1079455A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102463573A (zh) * | 2010-11-18 | 2012-05-23 | 比亚迪股份有限公司 | 吸嘴安装组件、吸嘴装置及具有其的镜头模组组装设备 |
| CN102814264A (zh) * | 2012-09-03 | 2012-12-12 | 石龙娇 | 一种自动点胶机 |
| CN103213121A (zh) * | 2013-04-28 | 2013-07-24 | 苏州博实机器人技术有限公司 | 三自由度乒乓球搬运机械手 |
| CN103264385A (zh) * | 2013-05-08 | 2013-08-28 | 袁庆丹 | 自动微操作装置 |
| CN103831820A (zh) * | 2014-03-20 | 2014-06-04 | 湃思科技(苏州)有限公司 | 软性线路板自动取放机 |
-
1996
- 1996-09-03 JP JP8232804A patent/JPH1079455A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102463573A (zh) * | 2010-11-18 | 2012-05-23 | 比亚迪股份有限公司 | 吸嘴安装组件、吸嘴装置及具有其的镜头模组组装设备 |
| CN102814264A (zh) * | 2012-09-03 | 2012-12-12 | 石龙娇 | 一种自动点胶机 |
| CN103213121A (zh) * | 2013-04-28 | 2013-07-24 | 苏州博实机器人技术有限公司 | 三自由度乒乓球搬运机械手 |
| CN103264385A (zh) * | 2013-05-08 | 2013-08-28 | 袁庆丹 | 自动微操作装置 |
| CN103831820A (zh) * | 2014-03-20 | 2014-06-04 | 湃思科技(苏州)有限公司 | 软性线路板自动取放机 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5631573A (en) | Probe-type test handler | |
| US7151388B2 (en) | Method for testing semiconductor devices and an apparatus therefor | |
| JP3494828B2 (ja) | 水平搬送テストハンドラ | |
| JP3940979B2 (ja) | ソケットタイプのモジュールテスト装置 | |
| JPH1075092A (ja) | 実装装置及び方法 | |
| JP3001553B2 (ja) | モジュールicハンドラーのソケットへ/からのモジュールicのローディング/アンローディング装置 | |
| US6087839A (en) | Apparatus for testing printed circuit board | |
| JPH1079455A (ja) | Ic挿入抜取装置 | |
| US6323666B1 (en) | Apparatus and method for testing test burn-in board and device under test, and test burn-in board handler | |
| KR100533333B1 (ko) | 인쇄회로기판의 롬라이팅 및 기능 검사 시스템 | |
| JPH09266400A (ja) | Ic挿入抜取装置 | |
| KR100305683B1 (ko) | 번인테스터용번인보드 | |
| KR20020047531A (ko) | 반도체 소자 테스트 시스템과 그의 제어방법 | |
| JPH08261736A (ja) | 半導体挿入抜取装置 | |
| US11432450B2 (en) | Component determination system and component determination method | |
| JP3008867B2 (ja) | 半導体試験装置及びテスト方法 | |
| JP3249833B2 (ja) | ハンドラー装置 | |
| JPH08250897A (ja) | 電気的特性検査機能付きマウンタ及びその制御方法 | |
| JPH11129177A (ja) | Ic挿入抜取装置 | |
| JP2606442B2 (ja) | 半導体装置のテスト治工具 | |
| JPH04289467A (ja) | Icデバイスの電気的特性測定装置 | |
| KR100290033B1 (ko) | 번인보드의컨넥터에디바이스를로딩하는방법및그장치 | |
| JPH0727939B2 (ja) | 半導体素子の検査方法 | |
| JPH039280A (ja) | Icの検査方法 | |
| CN121402337A (zh) | 测试分选机控制方法 |