JPH1090355A - 画像形成装置 - Google Patents
画像形成装置Info
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- JPH1090355A JPH1090355A JP8241628A JP24162896A JPH1090355A JP H1090355 A JPH1090355 A JP H1090355A JP 8241628 A JP8241628 A JP 8241628A JP 24162896 A JP24162896 A JP 24162896A JP H1090355 A JPH1090355 A JP H1090355A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- unit
- image forming
- input
- forming apparatus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は容易に不具合や障害個所を判定でき
るようにした画像形成装置を提供することを課題とす
る。 【解決手段】 入力・表示部より入力された指令に基づ
いて画像を形成させる画像形成装置において、装置を構
成する電子回路の一部または全部にバンダリスキャンテ
スト回路を設け、バンダリスキャンテスト回路にテスト
信号を発生させるテスト信号発生部と、バンダリスキャ
ンテスト回路より出力されるテストデータを記録するテ
ストデータ記録部と、テストデータを判定する判定部
と、判定結果を前記入力・表示部に表示させるテスト結
果表示制御部と、を備える。
るようにした画像形成装置を提供することを課題とす
る。 【解決手段】 入力・表示部より入力された指令に基づ
いて画像を形成させる画像形成装置において、装置を構
成する電子回路の一部または全部にバンダリスキャンテ
スト回路を設け、バンダリスキャンテスト回路にテスト
信号を発生させるテスト信号発生部と、バンダリスキャ
ンテスト回路より出力されるテストデータを記録するテ
ストデータ記録部と、テストデータを判定する判定部
と、判定結果を前記入力・表示部に表示させるテスト結
果表示制御部と、を備える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は画像形成装置に関
し、特に自己検査機能を備えた画像形成装置に関する。
し、特に自己検査機能を備えた画像形成装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】画像形成装置は、今日ではオフィスにお
いて非常に多く使用されている。このような画像形成装
置においては、装置組立時および装置に障害が発生した
ときは各種の検査信号を電子回路に入力し、電子回路の
出力が正常であるか否かによって検査および障害個所を
判定するようにしていた。
いて非常に多く使用されている。このような画像形成装
置においては、装置組立時および装置に障害が発生した
ときは各種の検査信号を電子回路に入力し、電子回路の
出力が正常であるか否かによって検査および障害個所を
判定するようにしていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】前述したように、従来
の画像形成装置においては、装置組立時および装置に障
害が発生したときは各種の検査信号を電子回路に入力
し、電子回路の出力が正常であるか否かによって検査お
よび障害個所を判定するようにしていた。
の画像形成装置においては、装置組立時および装置に障
害が発生したときは各種の検査信号を電子回路に入力
し、電子回路の出力が正常であるか否かによって検査お
よび障害個所を判定するようにしていた。
【０００４】画像形成装置は多くの電子回路より構成さ
れており、このため電子回路が正常であるか否かを判定
するには非常に長時間を要していた。本発明は容易に不
具合や障害個所を判定できるようにした画像形成装置を
提供することを課題とする。
れており、このため電子回路が正常であるか否かを判定
するには非常に長時間を要していた。本発明は容易に不
具合や障害個所を判定できるようにした画像形成装置を
提供することを課題とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前述した課題を解決する
ために本発明が採用した手段を説明する。請求項１の発
明においては、入力・表示部より入力された指令に基づ
いて画像を形成させる画像形成装置において、前記画像
形成装置を構成する電子回路の一部または全部にバンダ
リスキャンテスト回路を設け、前記バンダリスキャンテ
スト回路にテスト信号を発生させるテスト信号発生部
と、前記バンダリスキャンテスト回路より出力されるテ
ストデータを記録するテストデータ記録部と、前記テス
トデータ記録部に記録されているテストデータが正常値
と異なるか否かを判定する判定部と、前記判定部での判
定結果を前記入力・表示部に表示させるテスト結果表示
制御部と、を備える。
ために本発明が採用した手段を説明する。請求項１の発
明においては、入力・表示部より入力された指令に基づ
いて画像を形成させる画像形成装置において、前記画像
形成装置を構成する電子回路の一部または全部にバンダ
リスキャンテスト回路を設け、前記バンダリスキャンテ
スト回路にテスト信号を発生させるテスト信号発生部
と、前記バンダリスキャンテスト回路より出力されるテ
ストデータを記録するテストデータ記録部と、前記テス
トデータ記録部に記録されているテストデータが正常値
と異なるか否かを判定する判定部と、前記判定部での判
定結果を前記入力・表示部に表示させるテスト結果表示
制御部と、を備える。
【０００６】請求項２の発明においては、前記テスト結
果表示制御部が表示させる前記判定部での判定結果の表
示を、前記画像形成装置の転写紙に転写表示させる。電
子回路の一部または全部にバンダリスキャンテスト回路
を設け、該バンダリスキャンテスト回路に予め決められ
たテスト信号を発生して入力させ、バンダリスキャンテ
スト回路より出力されたテストデータが予め記録された
正常値と異なるか否かを判定し、判定結果を画像形成装
置の入力・表示部または転写紙に転写表示させるように
したので、容易に電子回路が正常であるか否か、および
障害個所を判定することができる。
果表示制御部が表示させる前記判定部での判定結果の表
示を、前記画像形成装置の転写紙に転写表示させる。電
子回路の一部または全部にバンダリスキャンテスト回路
を設け、該バンダリスキャンテスト回路に予め決められ
たテスト信号を発生して入力させ、バンダリスキャンテ
スト回路より出力されたテストデータが予め記録された
正常値と異なるか否かを判定し、判定結果を画像形成装
置の入力・表示部または転写紙に転写表示させるように
したので、容易に電子回路が正常であるか否か、および
障害個所を判定することができる。
【０００７】また請求項３の発明においては、前記テス
ト結果表示制御部が表示させる前記判定部での判定結果
の表示を、判定結果に加えてテストデータも表示させ
る。請求項４の発明においては、前記テストデータの表
示をテストデータの入力および出力を表示させる。
ト結果表示制御部が表示させる前記判定部での判定結果
の表示を、判定結果に加えてテストデータも表示させ
る。請求項４の発明においては、前記テストデータの表
示をテストデータの入力および出力を表示させる。
【０００８】また判定結果の表示と共にテストデータの
入力および出力も表示させるようにしたので、不具合や
障害原因を容易に知ることができる。また請求項５の発
明においては、入力・表示部より入力された指令に基づ
いて画像を形成させる画像形成装置において、前記画像
形成装置を構成する電子回路の一部または全部にバンダ
リスキャンテスト回路を設け、前記バンダリスキャンテ
スト回路にテスト信号を発生させるテスト信号発生部
と、前記バンダリスキャンテスト回路より出力されるテ
ストデータを記録するテストデータ記録部と、前記テス
トデータ記録部に記録されているテストデータをセンタ
に転送させるデータ転送手段と、を備える。
入力および出力も表示させるようにしたので、不具合や
障害原因を容易に知ることができる。また請求項５の発
明においては、入力・表示部より入力された指令に基づ
いて画像を形成させる画像形成装置において、前記画像
形成装置を構成する電子回路の一部または全部にバンダ
リスキャンテスト回路を設け、前記バンダリスキャンテ
スト回路にテスト信号を発生させるテスト信号発生部
と、前記バンダリスキャンテスト回路より出力されるテ
ストデータを記録するテストデータ記録部と、前記テス
トデータ記録部に記録されているテストデータをセンタ
に転送させるデータ転送手段と、を備える。
【０００９】請求項６の発明においては、前記バンダリ
スキャンテスト回路に入力するテスト信号を、前記テス
ト信号発生部に代えて前記データ転送手段を介してセン
タより転送させる。電子回路の一部または全部にバンダ
リスキャンテスト回路を設け、該バンダリスキャンテス
ト回路に予め決められたテスト信号を発生して入力させ
るか又はデータ転送手段を介してセンタより転送させ、
バンダリスキャンテスト回路より出力されたテストデー
タをデータ転送手段を介してセンタに転送するようにし
たので、画像形成装置に障害が発生したとき、装置が設
置されている場所に保守者が行かずに、かつ多くのテス
トパターンデータでテストを行うことができ、不具合個
所や障害個所の特定およびその原因を容易に知ることが
できる。
スキャンテスト回路に入力するテスト信号を、前記テス
ト信号発生部に代えて前記データ転送手段を介してセン
タより転送させる。電子回路の一部または全部にバンダ
リスキャンテスト回路を設け、該バンダリスキャンテス
ト回路に予め決められたテスト信号を発生して入力させ
るか又はデータ転送手段を介してセンタより転送させ、
バンダリスキャンテスト回路より出力されたテストデー
タをデータ転送手段を介してセンタに転送するようにし
たので、画像形成装置に障害が発生したとき、装置が設
置されている場所に保守者が行かずに、かつ多くのテス
トパターンデータでテストを行うことができ、不具合個
所や障害個所の特定およびその原因を容易に知ることが
できる。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明の一実施の形態を図１〜図
６を参照して説明する。図１は第１の実施例の構成図、
図２は同実施例のバンダリスキャンテスト回路の構成
図、図３は同バンダリスキャンテスト回路のバンダリス
キャンセルの構成図、図４は同実施例の入力・表示部の
具体例、図５は入力・表示部の液晶表示画面の具体例、
図６は第１の実施例の動作フローチャートである。
６を参照して説明する。図１は第１の実施例の構成図、
図２は同実施例のバンダリスキャンテスト回路の構成
図、図３は同バンダリスキャンテスト回路のバンダリス
キャンセルの構成図、図４は同実施例の入力・表示部の
具体例、図５は入力・表示部の液晶表示画面の具体例、
図６は第１の実施例の動作フローチャートである。
【００１１】図１において、１は画像形成装置の画像を
形成される画像データを記録する画像メモリ、２は画像
形成条件等を入力する入力・表示部、３は原稿をスキャ
ンして画像データを作成するスキャン部、４は画像デー
タを顕著化するとともに転写紙に転写して画像形成を行
う作像転写部、５は作像転写部４に転写紙を給紙する給
紙部、６は画像形成された転写紙を定着して排出トレイ
に排出する定着排紙部である。
形成される画像データを記録する画像メモリ、２は画像
形成条件等を入力する入力・表示部、３は原稿をスキャ
ンして画像データを作成するスキャン部、４は画像デー
タを顕著化するとともに転写紙に転写して画像形成を行
う作像転写部、５は作像転写部４に転写紙を給紙する給
紙部、６は画像形成された転写紙を定着して排出トレイ
に排出する定着排紙部である。
【００１２】また、１０は処理を実行するプロセッサ
（ＣＰＵ）、１１は画像形成装置の画像形成を制御する
プログラムが格納されている画像形成制御部、１２はテ
スト信号を発生するデータまたはプログラムが格納され
ているテスト信号発生部、１３はテスト結果の判定を行
う判定部、１４はテスト結果の表示を行なわすテスト結
果表示制御部、１５はテストデータを記録するテストデ
ータ記録部である。
（ＣＰＵ）、１１は画像形成装置の画像形成を制御する
プログラムが格納されている画像形成制御部、１２はテ
スト信号を発生するデータまたはプログラムが格納され
ているテスト信号発生部、１３はテスト結果の判定を行
う判定部、１４はテスト結果の表示を行なわすテスト結
果表示制御部、１５はテストデータを記録するテストデ
ータ記録部である。
【００１３】また、１ｂ〜６ｂはインターフェース（Ｉ
／Ｏ）、７はＣＰＵ１０とＩ／Ｏ１ｂ〜６ｂを接続する
バスである。また画像メモリ１、入力・表示部２、スキ
ャン部３、作像転写部４、給紙部５および定着排紙部６
の電子回路の一部または全部には、すなわち検査を行う
電子回路にはそれぞれバンダリスキャンテスト回路（Ｂ
ＳＴ）１ａ〜６ａが設けられている。
／Ｏ）、７はＣＰＵ１０とＩ／Ｏ１ｂ〜６ｂを接続する
バスである。また画像メモリ１、入力・表示部２、スキ
ャン部３、作像転写部４、給紙部５および定着排紙部６
の電子回路の一部または全部には、すなわち検査を行う
電子回路にはそれぞれバンダリスキャンテスト回路（Ｂ
ＳＴ）１ａ〜６ａが設けられている。
【００１４】バンダリスキャンテスト回路は、例えばＩ
ＥＥＥ１１４９．１で標準化されており、図２で示され
るように設けられている。図２においては、ＩＣ３０お
よびＩＣ４０の２個のＩＣのそれぞれにバンダリスキャ
ンテスト回路が実装されている場合を示している。
ＥＥＥ１１４９．１で標準化されており、図２で示され
るように設けられている。図２においては、ＩＣ３０お
よびＩＣ４０の２個のＩＣのそれぞれにバンダリスキャ
ンテスト回路が実装されている場合を示している。
【００１５】３０ａおよび４０ａはそれぞれＩＣ３０お
よびＩＣ４０の内部ロジック、３０ｂ〜３０ｊおよび４
０ｂ〜４０ｊは端子である。バンダリスキャンテスト回
路１ａ〜６ａの構成をＩＣ３０を代表して説明する。バ
ンダリスキャンテスト回路は、バンダリスキャンセル
（ＢＳＣ）３１ａ〜３１ｆ、バイパスレジスタ３２、命
令レジスタ３３、マルチプレクサ３４およびＴＡＰ（Te
st Access Port）コントローラ３５で構成される。
よびＩＣ４０の内部ロジック、３０ｂ〜３０ｊおよび４
０ｂ〜４０ｊは端子である。バンダリスキャンテスト回
路１ａ〜６ａの構成をＩＣ３０を代表して説明する。バ
ンダリスキャンテスト回路は、バンダリスキャンセル
（ＢＳＣ）３１ａ〜３１ｆ、バイパスレジスタ３２、命
令レジスタ３３、マルチプレクサ３４およびＴＡＰ（Te
st Access Port）コントローラ３５で構成される。
【００１６】またバンダリスキャンセル３１は、図３に
示すように、マルチプレクサ（ＭＵＸ）３１−１および
３１−２、およびラッチ３１−３および３１−４で構成
され、ＴＡＰコントローラ３５によって制御される。Ｉ
Ｃが通常動作時には、端子より入力された（または内部
ロジックより出力された）データ信号ＤＩはＭＵＸ３１
−２を通って内部ロジック（または端子）にデータ信号
ＤＯを出力する。
示すように、マルチプレクサ（ＭＵＸ）３１−１および
３１−２、およびラッチ３１−３および３１−４で構成
され、ＴＡＰコントローラ３５によって制御される。Ｉ
Ｃが通常動作時には、端子より入力された（または内部
ロジックより出力された）データ信号ＤＩはＭＵＸ３１
−２を通って内部ロジック（または端子）にデータ信号
ＤＯを出力する。
【００１７】またＩＣのテスト時には、テスト信号ＳＩ
をＭＵＸ３１−１、ラッチ３１−３および３１−４、お
よびＭＵＸ−２を介して内部ロジックに入力し、内部ロ
ジックより出力されたデータはＭＵＸ３１−１およびラ
ッチ３１−３を介してテストデータＳＯとして出力す
る。
をＭＵＸ３１−１、ラッチ３１−３および３１−４、お
よびＭＵＸ−２を介して内部ロジックに入力し、内部ロ
ジックより出力されたデータはＭＵＸ３１−１およびラ
ッチ３１−３を介してテストデータＳＯとして出力す
る。
【００１８】またデータＳＯは、図２に示されるよう
に、次のＢＳＣのテスト信号ＳＩとして入力され、入力
されたテスト信号ＳＩはラッチ３１−３でラッチされて
テストデータＳＯとして出力し、ＢＳＣはシフトレジス
タとして動作し、シリアルデータを転送する。
に、次のＢＳＣのテスト信号ＳＩとして入力され、入力
されたテスト信号ＳＩはラッチ３１−３でラッチされて
テストデータＳＯとして出力し、ＢＳＣはシフトレジス
タとして動作し、シリアルデータを転送する。
【００１９】ＣＰＵ１０からはＴＤＩ（Test Data I
n）、ＴＭＳ（Test Mode Select）およびＴＣＫ（Test
Clock）が出力され、バンダリスキャンテスト回路より
ＴＤＯ（Test Data Out ）が転送されて入力される。Ｔ
ＭＳおよびＴＣＫは各ＴＡＰコントローラに入力され、
ＴＤＩは各ＢＳＣのテスト信号として出力され、その出
力ＴＤＯは次のバンダリスキャンテスト回路のＴＤＩと
して入力される。
n）、ＴＭＳ（Test Mode Select）およびＴＣＫ（Test
Clock）が出力され、バンダリスキャンテスト回路より
ＴＤＯ（Test Data Out ）が転送されて入力される。Ｔ
ＭＳおよびＴＣＫは各ＴＡＰコントローラに入力され、
ＴＤＩは各ＢＳＣのテスト信号として出力され、その出
力ＴＤＯは次のバンダリスキャンテスト回路のＴＤＩと
して入力される。
【００２０】内部ロジックのテストにおいては、ＣＰＵ
１０よりテスト信号ＴＤＩを送出し、ロジックの入力側
に設けられたＢＳＣ３１ａ〜ｃのラッチ３１−４でラッ
チさせてロジック３０ａに入力し、その結果は出力側に
設けられたＢＳＣ３１ｄ〜ｆのラッチ３１−３でラッチ
させると共にシフトしてＴＤＯ信号として出力してＣＰ
Ｕ１０に転送し、正常時と誤っているか否かを判定す
る。
１０よりテスト信号ＴＤＩを送出し、ロジックの入力側
に設けられたＢＳＣ３１ａ〜ｃのラッチ３１−４でラッ
チさせてロジック３０ａに入力し、その結果は出力側に
設けられたＢＳＣ３１ｄ〜ｆのラッチ３１−３でラッチ
させると共にシフトしてＴＤＯ信号として出力してＣＰ
Ｕ１０に転送し、正常時と誤っているか否かを判定す
る。
【００２１】また、ＩＣ３０とＩＣ４０とを接続する接
続線５０ａ〜５０ｃが断線および短絡しているか否かの
テストは、ＩＣ３０側に設けられているＢＳＣ３０ｅ〜
ｇより“１”および“０”の信号を送出させ、ＩＣ４０
側に設けられているＢＳＣ４１ａ〜ｃより対応した出力
が得られるか否かをパターンを変えて判定させる。
続線５０ａ〜５０ｃが断線および短絡しているか否かの
テストは、ＩＣ３０側に設けられているＢＳＣ３０ｅ〜
ｇより“１”および“０”の信号を送出させ、ＩＣ４０
側に設けられているＢＳＣ４１ａ〜ｃより対応した出力
が得られるか否かをパターンを変えて判定させる。
【００２２】すなわち、例えば、ＢＳＣ３１ｄに“１”
をＢＳＣ３１ｅおよび３１ｆに“０”をラッチさせて送
出し、ＢＳＣ４１ｃに“１”、ＢＳＣ４１ｂおよび４１
ａに“０”が出力されたときは正常、ＢＳＣ４１ａ〜４
１ｃがともに“０”ならば接続線５０ａは断線である
と、またＢＳＣ４１ｃと４１ｂが共に“１”ならば接続
線５０ａと５０ｂは短絡していると判定される。
をＢＳＣ３１ｅおよび３１ｆに“０”をラッチさせて送
出し、ＢＳＣ４１ｃに“１”、ＢＳＣ４１ｂおよび４１
ａに“０”が出力されたときは正常、ＢＳＣ４１ａ〜４
１ｃがともに“０”ならば接続線５０ａは断線である
と、またＢＳＣ４１ｃと４１ｂが共に“１”ならば接続
線５０ａと５０ｂは短絡していると判定される。
【００２３】また、入力・表示部２はコピー条件等の入
力および表示を行うものであり、入力表示部２は、図４
に示されるように、コピー枚数を入力するテンキー２
１、操作の状態やメッセージ等を表示する液晶表示画面
２２、操作の機能や仕方を表示するモードに移行させる
ガイダンスキー２３、設定の登録や呼出しを行うプログ
ラムキー２４、入力誤りの訂正や動作を中断させるクリ
アストップキー２５、液晶表示画面（タッチパネル）２
２の輝度を調整する輝度調整つまみ２６、モードクリア
・余熱／タイマキー２７、割込動作の開始指令を入力す
る割込キー２８、コピー動作を開始させるスタートキー
２９で構成されている。
力および表示を行うものであり、入力表示部２は、図４
に示されるように、コピー枚数を入力するテンキー２
１、操作の状態やメッセージ等を表示する液晶表示画面
２２、操作の機能や仕方を表示するモードに移行させる
ガイダンスキー２３、設定の登録や呼出しを行うプログ
ラムキー２４、入力誤りの訂正や動作を中断させるクリ
アストップキー２５、液晶表示画面（タッチパネル）２
２の輝度を調整する輝度調整つまみ２６、モードクリア
・余熱／タイマキー２７、割込動作の開始指令を入力す
る割込キー２８、コピー動作を開始させるスタートキー
２９で構成されている。
【００２４】また、液晶表示画面２２は、図５に一例を
示すように、「コピーできます」、「おまちください」
等のメッセージを表示するメッセージエリア２２−１、
上段にセットした枚数、下段にゴピーした枚数を表示す
るコピー枚数表示部２２−２、画像濃度を調整する濃度
調節キー２２−３、コピー用紙を選択する用紙選択キー
２２−４、転写紙サイズに合せて自動的に拡大／縮小を
行なわす用紙指定変倍キー２２−５、ソートキー２２−
６、スタックキー２２−７、ステープルキー２２−８、
特殊原稿送りキー２２−９、変倍キー２２−１０、両面
／ページ連写キー２２−１１、消去／移動キー２２−１
２、表紙／合紙キー２２−１３が表示される。また２２
−１４は後で説明する本発明のために設けられた分類揃
キーである。
示すように、「コピーできます」、「おまちください」
等のメッセージを表示するメッセージエリア２２−１、
上段にセットした枚数、下段にゴピーした枚数を表示す
るコピー枚数表示部２２−２、画像濃度を調整する濃度
調節キー２２−３、コピー用紙を選択する用紙選択キー
２２−４、転写紙サイズに合せて自動的に拡大／縮小を
行なわす用紙指定変倍キー２２−５、ソートキー２２−
６、スタックキー２２−７、ステープルキー２２−８、
特殊原稿送りキー２２−９、変倍キー２２−１０、両面
／ページ連写キー２２−１１、消去／移動キー２２−１
２、表紙／合紙キー２２−１３が表示される。また２２
−１４は後で説明する本発明のために設けられた分類揃
キーである。
【００２５】なお２２−３〜２２−１４の各種キーはタ
ッチパネル構成となっており、表示されている画面を指
でタッチすることによって表示されている事項が入力さ
れるようになっており、入力されると表示画面が変化す
る。図５ではＡ４横の用紙がコピー用紙として選択入力
されたことを示している。また、「Ａ４横」、「Ａ４
縦」、「Ｂ５横」、「Ｂ４縦」及び「Ａ３縦」の表示
は、コピーする用紙を収納する給紙トレイが５個あり、
各トレイに収納されている用紙のサイズおよび方向を検
出して表示されるようになっている。
ッチパネル構成となっており、表示されている画面を指
でタッチすることによって表示されている事項が入力さ
れるようになっており、入力されると表示画面が変化す
る。図５ではＡ４横の用紙がコピー用紙として選択入力
されたことを示している。また、「Ａ４横」、「Ａ４
縦」、「Ｂ５横」、「Ｂ４縦」及び「Ａ３縦」の表示
は、コピーする用紙を収納する給紙トレイが５個あり、
各トレイに収納されている用紙のサイズおよび方向を検
出して表示されるようになっている。
【００２６】「自動用紙選択」が選択されると、コピー
する原稿と同一サイズで同一方向の用紙が選択されてコ
ピーが行なわれる。つぎに、図６を参照して、第１の実
施例の動作を説明する。ステップＳ１においては、画像
形成制御部１１は、入力・表示部２よりテストを開始さ
せるテストキーが押下されたか否かを判定し、押下され
ない場合はステップＳ２０に移って通常の画像形成処理
を実行して画像を形成させる。
する原稿と同一サイズで同一方向の用紙が選択されてコ
ピーが行なわれる。つぎに、図６を参照して、第１の実
施例の動作を説明する。ステップＳ１においては、画像
形成制御部１１は、入力・表示部２よりテストを開始さ
せるテストキーが押下されたか否かを判定し、押下され
ない場合はステップＳ２０に移って通常の画像形成処理
を実行して画像を形成させる。
【００２７】テストキーとしては、例えば、割込キー２
８を押下した後でクリア・ストップキー２５を２秒間以
上押下したときテストキーが押下されたものであると判
断する。ステップＳ１でテストキーが押下されたと判定
されたときは、ステップＳ２に移り、画像形成制御部１
１はテスト信号発生部１２に指令し、テスト信号発生部
１２は第ｎユニットに対するテストを開始させる信号
（ＴＭＳおよびＴＣＫ）をＴＡＰコントローラに送出す
ると共に、ステップＳ３に移ってテスト信号（ＴＤＩ）
を送出する。
８を押下した後でクリア・ストップキー２５を２秒間以
上押下したときテストキーが押下されたものであると判
断する。ステップＳ１でテストキーが押下されたと判定
されたときは、ステップＳ２に移り、画像形成制御部１
１はテスト信号発生部１２に指令し、テスト信号発生部
１２は第ｎユニットに対するテストを開始させる信号
（ＴＭＳおよびＴＣＫ）をＴＡＰコントローラに送出す
ると共に、ステップＳ３に移ってテスト信号（ＴＤＩ）
を送出する。
【００２８】ＴＡＰコントローラはＴＭＳに対応してＢ
ＳＣを制御し、ＴＤＩ信号をラッチしてテスト信号を内
部ロジックに入力させると共に出力されたＴＤＯ信号を
返送する。ステップＳ４では、テストデータ記録部１５
は、返送されたＴＤＯ信号を記録する。
ＳＣを制御し、ＴＤＩ信号をラッチしてテスト信号を内
部ロジックに入力させると共に出力されたＴＤＯ信号を
返送する。ステップＳ４では、テストデータ記録部１５
は、返送されたＴＤＯ信号を記録する。
【００２９】ステップＳ５では、判定部１３は、テスト
データ記録部１５に記録されているＴＤＯ信号を読出
し、予め記録された内部ロジックが正常時に出力される
ＴＤＯ信号と比較し、誤りが有るか否かを判定する。ス
テップＳ６では、テスト結果表示制御部１４は、ステッ
プＳ５での判定結果を表示させる。
データ記録部１５に記録されているＴＤＯ信号を読出
し、予め記録された内部ロジックが正常時に出力される
ＴＤＯ信号と比較し、誤りが有るか否かを判定する。ス
テップＳ６では、テスト結果表示制御部１４は、ステッ
プＳ５での判定結果を表示させる。
【００３０】図９はステップＳ６での表示の具体例を示
したものであり、入力・表示部２の液晶表示画面２２
に、故障しているユニット名と、ＩＣの入力（ＩＮ）と
出力（ＯＵＴ）を表示する。また図９においてＩＣ１−
２のＯＵＴの出力信号でマスクした部分は誤りが発生し
た信号を示している。
したものであり、入力・表示部２の液晶表示画面２２
に、故障しているユニット名と、ＩＣの入力（ＩＮ）と
出力（ＯＵＴ）を表示する。また図９においてＩＣ１−
２のＯＵＴの出力信号でマスクした部分は誤りが発生し
た信号を示している。
【００３１】なお上記では判定結果の表示を入力・表示
部２の液晶表示画面２２上に表示させるようにしている
が、作像転写部４で転写紙に転写して表示出力するよう
にしても良い。ステップＳ６で第ｎユニットのテスト結
果が終了すると、ステップＳ７に移って入力・表示部２
のスタートキー２９を押下する。
部２の液晶表示画面２２上に表示させるようにしている
が、作像転写部４で転写紙に転写して表示出力するよう
にしても良い。ステップＳ６で第ｎユニットのテスト結
果が終了すると、ステップＳ７に移って入力・表示部２
のスタートキー２９を押下する。
【００３２】ステップＳ８では、テスト信号発生部１２
は、ステップＳ７でスタートキーが押下されると、次の
第ｎ＋１ユニットに対するテストが有る場合はステップ
Ｓ２に移り、ステップＳ２〜Ｓ８が繰返えされ、無い場
合はテスト処理を終了する。つぎに、図７を参照して、
本発明の第２の実施例を説明する。図７は第２の実施例
の構成図である。
は、ステップＳ７でスタートキーが押下されると、次の
第ｎ＋１ユニットに対するテストが有る場合はステップ
Ｓ２に移り、ステップＳ２〜Ｓ８が繰返えされ、無い場
合はテスト処理を終了する。つぎに、図７を参照して、
本発明の第２の実施例を説明する。図７は第２の実施例
の構成図である。
【００３３】第２の実施例においては、図１で説明した
第１の実施例の構成にＭＯＤＥＭ８およびＩ／Ｏ８ｂが
付加された構成となっている。第２の実施例では、図８
に示されるように、第１の実施例で図６を参照して説明
したステップＳ１〜Ｓ４が実行されてテストデータがテ
ストデータ記録部１５に記録され、ステップＳ８で次第
ｎ＋１ユニットのテストが有る場合はステップＳ２に移
ってステップＳ２〜Ｓ４およびＳ８が繰返えされる。
第１の実施例の構成にＭＯＤＥＭ８およびＩ／Ｏ８ｂが
付加された構成となっている。第２の実施例では、図８
に示されるように、第１の実施例で図６を参照して説明
したステップＳ１〜Ｓ４が実行されてテストデータがテ
ストデータ記録部１５に記録され、ステップＳ８で次第
ｎ＋１ユニットのテストが有る場合はステップＳ２に移
ってステップＳ２〜Ｓ４およびＳ８が繰返えされる。
【００３４】全てのユニットのテストが終了するとステ
ップＳ９に移り、テストデータ記録部１５に記録されて
いるテストデータをＭＯＤＥＭ８を介してセンタに転送
して処理を終了する。センタでは転送データより不具合
および障害個所の判定を行う。
ップＳ９に移り、テストデータ記録部１５に記録されて
いるテストデータをＭＯＤＥＭ８を介してセンタに転送
して処理を終了する。センタでは転送データより不具合
および障害個所の判定を行う。
【００３５】なお実施例ではテスト信号をテスト信号発
生部１２より発生させるようにしたが、ＭＯＤＥＭ８を
介してセンタより転送させるようにしても良い。また実
施例では画像形成装置で自己検査も行なえ、かつセンタ
でも判定が行なえるよう構成されているが、センタで判
定のみとし、判定部１３およびテスト結果表示制御部１
４を除去した構成であっても良い。
生部１２より発生させるようにしたが、ＭＯＤＥＭ８を
介してセンタより転送させるようにしても良い。また実
施例では画像形成装置で自己検査も行なえ、かつセンタ
でも判定が行なえるよう構成されているが、センタで判
定のみとし、判定部１３およびテスト結果表示制御部１
４を除去した構成であっても良い。
【００３６】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば次の
効果が得られる。電子回路の一部または全部にバンダリ
スキャンテスト回路を設け、該バンダリスキャンテスト
回路に予め決められたテスト信号を発生して入力させ、
バンダリスキャンテスト回路より出力されたテストデー
タが予め記録された正常値と異なるか否かを判定し、判
定結果を画像形成装置の入力・表示部または転写紙に転
写表示させるようにしたので、容易に電子回路が正常で
あるか否か、および障害個所を判定することができる。
効果が得られる。電子回路の一部または全部にバンダリ
スキャンテスト回路を設け、該バンダリスキャンテスト
回路に予め決められたテスト信号を発生して入力させ、
バンダリスキャンテスト回路より出力されたテストデー
タが予め記録された正常値と異なるか否かを判定し、判
定結果を画像形成装置の入力・表示部または転写紙に転
写表示させるようにしたので、容易に電子回路が正常で
あるか否か、および障害個所を判定することができる。
【００３７】また判定結果の表示と共にテストデータの
入力および出力も表示させるようにしたので、不具合や
障害原因を容易に知ることができる。また、電子回路の
一部または全部にバンダリスキャンテスト回路を設け、
該バンダリスキャンテスト回路に予め決められたテスト
信号を発生して入力させるか又はデータ転送手段を介し
てセンタより転送させ、バンダリスキャンテスト回路よ
り出力されたテストデータをデータ転送手段を介してセ
ンタに転送するようにしたので、画像形成装置に障害が
発生したとき、装置が設置されている場所に保守者が行
かずに、かつ多くのテストパターンデータでテストを行
うことができ、不具合個所や障害個所の特定およびその
原因を容易に知ることができる。
入力および出力も表示させるようにしたので、不具合や
障害原因を容易に知ることができる。また、電子回路の
一部または全部にバンダリスキャンテスト回路を設け、
該バンダリスキャンテスト回路に予め決められたテスト
信号を発生して入力させるか又はデータ転送手段を介し
てセンタより転送させ、バンダリスキャンテスト回路よ
り出力されたテストデータをデータ転送手段を介してセ
ンタに転送するようにしたので、画像形成装置に障害が
発生したとき、装置が設置されている場所に保守者が行
かずに、かつ多くのテストパターンデータでテストを行
うことができ、不具合個所や障害個所の特定およびその
原因を容易に知ることができる。
【図１】本発明の第１の実施例の構成図である。
【図２】バンダリスキャンテスト回路の構成図である。
【図３】バンダリスキャンセルの構成図である。
【図４】入力・表示部の具体例である。
【図５】液晶表示画面の具体例である。
【図６】第１の実施例の動作フローチャートである。
【図７】本発明の第２の実施例の構成図である。
【図８】第２の実施例の動作フローチャートである。
【図９】テスト結果表示の具体例である。
１ 画像メモリ ２ 入力・表示部 ３ スキャン部 ４ 作像転写部 ５ 給紙部 ６ 定着排紙部 ８ モデム（ＭＯＤＥＭ） １ａ〜６ａ バンダリスキャンテスト回路 １０ プロセッサ（ＣＰＵ） １１ 画像形成制御部 １２ テスト信号発生部 １３ 判定部 １４ テスト結果表示制御部 １５ テストデータ記録部
Claims (6)
- 【請求項１】 入力・表示部より入力された指令に基づ
いて画像を形成させる画像形成装置において、 前記画像形成装置を構成する電子回路の一部または全部
にバンダリスキャンテスト回路を設け、 前記バンダリスキャンテスト回路にテスト信号を発生さ
せるテスト信号発生部と、 前記バンダリスキャンテスト回路より出力されるテスト
データを記録するテストデータ記録部と、 前記テストデータ記録部に記録されているテストデータ
が正常値と異なるか否かを判定する判定部と、 前記判定部での判定結果を前記入力・表示部に表示させ
るテスト結果表示制御部と、を備えたことを特徴とする
画像形成装置。 - 【請求項２】 前記テスト結果表示制御部が表示させる
前記判定部での判定結果の表示を、前記画像形成装置の
転写紙に転写表示させるようにしたことを特徴とする請
求項１記載の画像形成装置。 - 【請求項３】 前記テスト結果表示制御部が表示させる
前記判定部での判定結果の表示を、判定結果に加えてテ
ストデータも表示させるようにしたことを特徴とする請
求項１または２記載の画像形成装置。 - 【請求項４】 前記テストデータの表示をテストデータ
の入力および出力を表示させるようにしたことを特徴と
する請求項３記載の画像形成装置。 - 【請求項５】 入力・表示部より入力された指令に基づ
いて画像を形成させる画像形成装置において、 前記画像形成装置を構成する電子回路の一部または全部
にバンダリスキャンテスト回路を設け、 前記バンダリスキャンテスト回路にテスト信号を発生さ
せるテスト信号発生部と、 前記バンダリスキャンテスト回路より出力されるテスト
データを記録するテストデータ記録部と、 前記テストデータ記録部に記録されているテストデータ
をセンタに転送させるデータ転送手段と、を備えたこと
を特徴とする画像形成装置。 - 【請求項６】 前記バンダリスキャンテスト回路に入力
するテスト信号を、前記テスト信号発生部に代えて前記
データ転送手段を介してセンタより転送させるようにし
たことを特徴とする請求項５記載の画像形成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8241628A JPH1090355A (ja) | 1996-09-12 | 1996-09-12 | 画像形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8241628A JPH1090355A (ja) | 1996-09-12 | 1996-09-12 | 画像形成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1090355A true JPH1090355A (ja) | 1998-04-10 |
Family
ID=17077157
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8241628A Withdrawn JPH1090355A (ja) | 1996-09-12 | 1996-09-12 | 画像形成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1090355A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005275406A (ja) * | 2004-03-22 | 2005-10-06 | Xerox Corp | モジュール式部品の診断方法 |
-
1996
- 1996-09-12 JP JP8241628A patent/JPH1090355A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005275406A (ja) * | 2004-03-22 | 2005-10-06 | Xerox Corp | モジュール式部品の診断方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20031202 |