JPH1092685A - タングステン含有BaTiO3 を含んで構成される多重層キャパシタ - Google Patents

タングステン含有BaTiO3 を含んで構成される多重層キャパシタ

Info

Publication number
JPH1092685A
JPH1092685A JP9231920A JP23192097A JPH1092685A JP H1092685 A JPH1092685 A JP H1092685A JP 9231920 A JP9231920 A JP 9231920A JP 23192097 A JP23192097 A JP 23192097A JP H1092685 A JPH1092685 A JP H1092685A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capacitor
mol
doped
nickel
formula unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9231920A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH1092685A5 (ja
Inventor
Peter Dr Hansen
ハンセン ペーター
Detlef Dr Hennings
ヘニングス デトレフ
Baby Seriyati Schreinemacher
セリヤティ シュレインマッハー ベービ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Electronics NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Electronics NV filed Critical Philips Electronics NV
Publication of JPH1092685A publication Critical patent/JPH1092685A/ja
Publication of JPH1092685A5 publication Critical patent/JPH1092685A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/018Dielectrics
    • H01G4/06Solid dielectrics
    • H01G4/08Inorganic dielectrics
    • H01G4/12Ceramic dielectrics
    • H01G4/1209Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material
    • H01G4/1218Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material based on titanium oxides or titanates
    • H01G4/1227Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material based on titanium oxides or titanates based on alkaline earth titanates

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
  • Ceramic Capacitors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 実用寿命が長く、信頼性が高く、誘電率が大
きく、広い温度範囲にわたって誘電率の温度依存性が小
さいキャパシタを得る。 【解決手段】 キャパシタは、セラミック誘電性材料と
少なくとも2つの電極を含んで構成され、この誘電性材
料は本質的にドープされたチタン酸ジルコニウムカルシ
ウムバリウムを含有する誘電性組成物からなり、このド
ープされたチタン酸ジルコニウムカルシウムバリウムの
組成は、(Ba0.96Ca 0.04 a 〔Ti 0.82-yZr
0.18Mny 〕O3 であり、式中、yは0.001≦y≦
0.01であり、aは1.00<a≦1.02であり、
0.001〜0.005mol/組成式単位の量rでタ
ングステンによりドープされており、かつ0.001〜
0.005mol/組成式単位の量sでアルミニウム、
ガリウム、イットリウム、亜鉛、ニッケルおよびイッテ
ルビウムよりなる群のうち少なくとも1つの元素でドー
プされている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、キャパシタに関
し、特に、卑金属の内部電極を有する多重層キャパシタ
に関する。このキャパシタは、セラミック誘電性材料と
少なくとも1つの電極を含んで構成され、この誘電性材
料は本質的にドープされたチタン酸ジルコニウムカルシ
ウムバリウムを含む誘電性組成物からなる。
【0002】
【従来の技術】セラミック多重層キャパシタは、グリー
ン誘電性セラミック組成物の誘電性材料の層と、金属ペ
ースト製の電極の層を交互に積層することにより習慣的
に製造され、その後、セラミック層と金属層の積層を共
焼結する。多重層キャパシタの品質は、製造条件のみな
らず誘電性材料および電極材料の化学的組成に支配され
る。製造条件としては、特に焼結条件が重要である。焼
結雰囲気に応じて、相反する酸化反応と還元反応とが起
こり得る。還元雰囲気での焼結の間に、チタン酸バリウ
ムと、ドープされたチタン酸ジルコニウムカルシウムバ
リウム等のその誘導体は半導体になる。この条件では、
このものは、誘電性材料としては不適当である。電極材
料がロジウム、パラジウム、あるいは白金である場合に
は、多重層キャパシタは酸化条件下でのみ焼結できる。
しかし、ロジウムおよび白金は非常に高価であり、これ
らの材料を使用すると、これで製造コストの50%まで
を占めることになる。したがって、ロジウムおよび白金
の代わりに、ずっとより安価なニッケルあるいはその合
金を使用する傾向にある。しかし、酸化条件下で焼結す
ると、ニッケルは酸化し、その結果、ニッケル電極を有
する多重層キャパシタは不活性か僅かに還元雰囲気中で
焼結する必要がある。還元雰囲気中での焼結によりチタ
ン酸バリウム中で4価のチタンは還元されて3価にな
り、キャパシタの絶縁抵抗は極度に低下する。しかし、
一方で、Cr2 3、Co2 3 あるいはMnO等のア
クセプターである添加剤をドープすることによりチタン
酸バリウムの希釈性を下げることができた。
【0003】しかし、これらのドーパントは、還元雰囲
気中で焼結中、結晶で酸素空格子が形成されるのを回避
できない。この酸素空格子によりキャパシタの実用寿命
は非常に短くなる。この酸素空格子結晶格子中でよく移
動し、電圧および温度の影響で移動する。この結果、絶
縁抵抗は経時的に減少する。
【0004】還元雰囲気中で焼結した後、キャパシタ
を、600℃〜1100℃の間の温度で僅かに酸化雰囲
気の焼戻し工程に付することにより、酸素空格子はある
程度までは戻すことができる。この工程で、格子中の酸
素空格子は再び満たされる。この焼戻し工程の欠点は、
誘電率εの実質的な減少であり、ΔC/Δt曲線、すな
わち、誘電率の温度依存性への負の影響である。
【0005】卑金属電極を使用したセラミックキャパシ
タの製造の際に生じるこのような複雑な困難を克服する
ために、US特許5,319,517には,内部電極と
誘電性層を含んで構成される多重層セラミックチップキ
ャパシタを使用することが提案されている。この誘電性
材料は、次式の組成を有する誘電性酸化物を含有する。
その組成式は、〔(Ba1-x-y Cax Sr y)O〕
m (Ti1-x Zrx )O2であり、式中、xは0≦x≦
0.25であり、yは0≦y≦0.05であり、zは
0.1≦z≦0.3であり、mは1.000≦m≦1.
020である。これに、酸化物(MnO)として計算し
たとき0.01〜0.5重量%の量で酸化マンガンおよ
び/または焼結中にこの酸化物に転化する化合物を添加
され、酸化物(Y2 3 )として計算したとき0.05
〜0.5重量%の量で酸化イットリウムおよび/または
焼結中にこの酸化物に転化する化合物を添加され、酸化
物(V25 )として計算したとき0.005〜0.3
重量%の量で酸化バナジウムおよび/または焼結中にこ
の酸化物に転化する化合物を添加され、酸化物(W
3 )として計算したとき0.005〜0.3重量%の
量で酸化タングステンおよび/または焼結中にこの酸化
物に転化する化合物を添加される。この多重層キャパシ
タの内部電極材料として、ニッケルあるいはニッケル合
金を使用する。これまで、これらの多重層キャパシタで
は、実用寿命および信頼性における高まる要求に、到底
応じ切れない。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、セラ
ミックキャパシタ、特に、卑金属の電極を有する多重層
キャパシタを提供することである。このキャパシタは、
セラミック誘電性材料と少なくとも2つの電極を含んで
構成され、この誘電性材料は本質的にドープされたチタ
ン酸ジルコニウムカルシウムバリウムを含む誘電性セラ
ミック組成物から構成され、このキャパシタは実用寿命
が長く、信頼性が高く、誘電率が大きく、広い温度範囲
にわたって誘電率の温度依存性が小さいことを特徴とす
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明によると、この目
的は、セラミック誘電性材料と少なくとも2つの電極を
含んで構成されるキャパシタであって、前記誘電性材料
が本質的にドープされたチタン酸バリウムカルシウムジ
ルコニウムを含む誘電性セラミック組成物からなり、前
記ドープされたチタン酸ジルコニウムカルシウムバリウ
ムが(Ba0.96Ca 0.04 a 〔Ti0.82-yZr0.18
y 〕O3 の組成を有し、式中、yは0.001≦y≦
0.01であり、aは1.00≦a≦1.02であり、
0.001〜0.005mol/組成式単位の量rでタ
ングステンによりドープされており、かつ0.001〜
0.005mol/組成式単位の量sでアルミニウム、
ガリウム、イットリウム、亜鉛、ニッケルおよびイッテ
ルビウムよりなる群のうち少なくとも1つの元素でドー
プされていることを特徴とするキャパシタにより達成さ
れる。このキャパシタは誘電率εが大きく、同時に、キ
ャパシタンス値が高安定で、損失係数が低く、絶縁抵抗
が高く、キャパシタンスの電圧依存性が僅かであること
を特徴とする。誘電率εの温度依存性は、EIA−標準
Y5Vに適合する。特に、結合および減結合並びに超低
電圧機器における電波妨害の除去に適用できる。
【0008】本発明では、電極材料としてニッケルある
いはニッケル合金を使用することが好ましい。キャパシ
タはニッケルあるいはニッケル合金の内部電極を含んで
構成される多重層キャパシタであると特に好ましい。y
はy≦0.005であり、(y+s)/rの原子比nは
1より大きいことがさらに好ましい。ドナーとアクセプ
ター間が均等比であるマンガン、イットリウム、タング
ステン間のこの原子比のために、イオン移動度が低く、
これにより、高温で実用寿命が非常に長く、電界が達成
される。同時に、アクセプター濃度は充分に高いので、
卑金属電極を含んで構成される多重層キャパシタを焼結
する間に制御可能なレドックス反応を行うこうとがで
き、充分に粒成長できる。yはy≦0.005であり、
aは1<a=1.01であり、rはr=0.0025m
ol/組成式単位であり、かつsがs<0.010mo
l/組成式単位であると特に好ましい。チタン酸ジルコ
ニウムカルシウムバリウムのこの組成は、粒成長が最適
に行われ、室温で達成されるべき最大の高誘電率が得ら
れる。
【0009】また、誘電性セラミック組成物が0.16
〜0.29molの酸化リチウム、0.004〜0.3
9molのCaO、MgO、BaOあるいはSrOのう
ち1つの酸化物、および酸化ケイ素を含んで構成される
焼結助剤を0.1〜1重量%含んで構成されると好まし
い。この混合物を添加することより、焼結温度を1150℃
に下げることができる。本発明のこれらの観点および他
の観点は、以下に記載の実施態様から明らかとなる。
【0010】
【発明の実施の形態】好ましい態様として、本発明のキ
ャパシタは、多重層キャパシタである。本発明のセラミ
ック多重層キャパシタは、セラミック誘電性材料1を含
んで構成され、このキャパシタは、最大50μの厚さを
有する複数の酸化物誘電性層ならびに複数の内部電極2
から構成され、この電極は、誘電性材料中に積層され、
誘電性材料の2つの対向端面に向けて交互に延びる。こ
のセラミック誘電性材料の端面は、対応する金属内部電
極に接続される外部端子として機能する金属接触電極3
を備える。
【0011】本発明の多重層キャパシタは、セラミック
キャパシタの製造に習慣的に使用される製造技術を用い
て製造され、所望の形および寸法、要求精度および適用
分野に応じて、このキャパシタを種々のバージョンで製
造できる。セラミック誘電性材料として使用される材料
は、(Ba0.96Ca 0.04 a 〔Ti0.82-yZr0.18
y 〕O3 の組成を有し、式中、yは0.001≦y≦
0.01であり、aは1.00<a≦1.02であり、
これに、0.001〜0.005mol/組成式単位の
量rでタングステンをドープされており、かつ0.00
1〜0.005mol/組成式単位の量sでイットリウ
ムをドープされたチタン酸ジルコニウムカルシウムバリ
ウムを含んで構成される誘電性セラミック組成物であ
る。
【0012】誘電性セラミック組成物は焼結助剤として
SiO2 を含んで構成されると好ましい。本発明にかか
るa=1.005のチタン酸ジルコニウムカルシウムバ
リウムを得るために、0.125重量%のSiO2 を組
成物に添加する。a=1.01に対しては、0.25重
量%のSiO2 を組成物に添加する。前記標準焼結助剤
の代わりに、0.16〜0.29molの酸化リチウ
ム、0.004〜0.39molのCaO、MgO、B
aOあるいはSrOのうち1つの酸化物、および酸化ケ
イ素を含んで構成される焼結助剤を0.1〜1重量%こ
の混合物に添加することができる。この焼結助剤によ
り、焼結温度を1300℃から1150℃に下げること
ができる。
【0013】電極材料の選択には特別な制限はないの
で、1種の金属あるいは2以上の習慣的に使用できる金
属の組み合わせを選択できる。電極は、白金、パラジウ
ム、金あるいは銀等の貴金属で構成してもよい。また、
クロム、ジルコニウム、バナジウム、亜鉛、銅、スズ、
鉛、マンガン、モリブデン、タングステン、チタンある
いはアルミニウムを含んでもよい。電極は、ニッケル、
鉄、コバルトおよびそれらの合金からなる群から選択さ
れる卑金属から構成されると好ましい。
【0014】誘電性セラミック組成物は、混合酸化物
法、共沈、噴霧乾燥、ゾル/ゲル法、熱水法あるいはア
ルコキシド法等の習慣的な粉末製造法を用いて調製でき
る。好ましくは、出発酸化物あるいは炭酸塩、水酸化
物、シュウ酸塩あるいは酢酸塩等の熱分解可能な化合物
を混合して粉砕する混合酸化物法の使用が好ましい。続
いて、出発粉末を、1000℃〜1400℃の温度範囲
で焼成する。
【0015】グリーン体を形成するために、いずれの慣
習的方法も使用できる。多重層セラミックキャパシタ
は、焼成された粉末から懸濁液を先ず調製することによ
り形成され、また、この懸濁液は溶媒、結合剤、および
必要に応じて軟化剤および分散助剤を含んで構成され
る。溶媒には、例えば、水、アルコール、トルエン、キ
シレンあるいはトリクロロエチレンを使用できる。結合
剤としては、ポリビニルアルコール、ポリビニルブチラ
ールあるいはポリメチルメタクリレート等の有機ポリマ
ーを習慣的に使用できる。軟化剤としては、グリセリ
ン、ポリグリコール、フタレートを使用できる。さら
に、アルキルアリールポリエーテルアルコール、ポリエ
チレングリコールエチルエーテルあるいはオクチルフェ
ノキシエタノール等の分散剤を懸濁液に添加できる。
【0016】懸濁液からグリーンセラミック箔を製造す
るには、箔注型法を使用するのが好ましい。この箔注型
法では、懸濁液は移動支持面上に注がれる。溶媒を蒸発
させた後、箔が残り、結合剤系に応じて、多かれ少なか
れ可撓性であり、その後、箔を切断し、スクリーン印刷
法を用いて内部電極のパターンに応じて金属ペーストを
用いて印刷し、その後、積層する。個々の多重層キャパ
シタは積層から切断される。多重層キャパシタを僅かに
還元雰囲気中で1100〜1400℃の温度範囲で先ず
焼結し、その後、僅かに酸化雰囲気中で600〜110
0℃の温度範囲で焼き戻す。僅かに還元雰囲気として
は、水蒸気で飽和した、0.5〜2容量%の水素を混合
した窒素を使用でき、僅かに酸化雰囲気としては、5〜
100ppmの酸素を含有した窒素を使用できる。外部
電極を形成するために、キャパシタの端面に、例えば、
ニッケルを含有した金属ペーストを備え、焼付工程に付
す。また、外部電極は、例えば、金の金属層の蒸着によ
り形成してもよい。焼結セラミック誘電性材料は5μm
より小さい粒子サイズの均一なミクロ構造を有する。
【0017】本発明のキャパシタを特徴付けるために、
25℃における誘電率εと損失係数tanδを既知の方
法で測定した。実用寿命τを350℃および900Vに
おける促進寿命試験(ALT)で測定する。このため
に、5mmの直径で0.05mmの層厚さの試験ペレッ
トを製造し、これを電極に接続して、350℃に加熱
し、1800V/mmの電圧を印加した。電流を測定
し、この値を使用して絶縁抵抗を計算した。試験の始め
に、絶縁抵抗は最初高い。試験の間、絶縁抵抗は本質的
に一定した高レベルである。この絶縁抵抗は固有特性劣
化時間後までがらない。これまでの測定時間に比べて、
漏れ電流は短時間の間に数桁だけ上がった。実用寿命τ
は、漏れ電流が1桁だけ上がるのに要する時間として規
定する。
【0018】
【実施例】実施例1 それぞれ0.0025mol/組成式単位の量でタング
ステンとイットリウムを含有し、焼結助剤として0.1
25重量%のSiO2 を含有した組成(Ba0. 96Ca
0.04 1.005 〔Ti0.815 Zr0.18Mn0.005 〕O3
を有するセラミック誘電性材料を含んで構成される多重
層キャパシタを製造するために、190.40gのBa
CO3 (d50=1.1μm、BET:2.1m2
g)、1.03gのCaCO3 (d50=0.8μm)、
65.12gのTiO2 (d50=0.48μm、BE
T:7m2 /g)、22.18gのZrO2 (d50
0.12μm、BET:21.9m2 /g)、0.57
gのMnCO3 、0.58gのWO3(d50=0.15
μm)、0.56gのY2 3 (d50=0.34μm)
および0.36gのSiO2 (コロイド、22nm)を
遊星形ボールミル中で2時間粉砕して、混合する。粉砕
流体として、シクロヘキサンを使用し、粉砕ボールとし
て、メノウを使用する。続いて、この混合物をイソプロ
パノール中で24時間2mm−YTZボールを用いて粉
砕する。遊星形ボールミル中で粉砕した後、この混合物
を表面蒸発器下で空気中で乾燥し、続いて、1250℃
で6時間焼成する。続いて、粉末材料を結合剤としての
ポリビニルアルコール、表面活性剤、分散剤および水と
混合し、スラリーを形成する。このスラリーをナイフ塗
布装置で処理し、厚さ20μmのグリーンセラミック箔
を形成する。グリーン箔を切断してカード形箔にし、内
部電極のパターンに応じてニッケルペーストで印刷し、
積層し、圧縮し、さらに分割して個々のキャパシタにす
る。キャパシタを1300℃で焼結する。加熱速度30
0℃/時で1000℃まで上げ、50℃/時で1300
℃まで上げる。焼結工程の間、水蒸気で飽和した、99
%のN2 と1%のH2 の気体混合物を炉に通す。続い
て、300℃/時で冷却する。焼結工程の後、キャパシ
タを、1000℃で焼戻し炉中で焼戻す。焼戻し工程の
間、50〜100ppmの酸素を含有する窒素からなる
気体混合物を炉中に通す。外部電極として蒸着により厚
さ6nmのCrNi層を形成し、これに厚さ0.15μ
mのAuでコートする。 試験結果:ε=19000、tan δ<5%、τ>280
【0019】実施例2 0.0025mol/組成式単位の量でタングステンを
0.005mol/組成式単位の量でイットリウムを含
有し、焼結助剤として0.25重量%のSiO 2 を含有
した組成(Ba0.96Ca 0.04 1.01〔Ti0.8175Zr
0.18Mn0.0025〕O3 を有するセラミック誘電性材料を
含んで構成される多重層キャパシタを製造するために、
191.35gのBaCO3 (d50=1.1μm、BE
T:2.1m2 /g)、1.04gのCaCO3 (d50
=0.8μm)、65.32gのTiO2 (d50=0.
48μm、BET:7m2 /g)、22.18gのZr
2 (d50=0.12μm、BET:21.9m2
g)、0.29gのMnCO 3 、0.58gのWO
3 (d50=0.15μm)、1.12gのY2 3 (d
50=0.34μm)および0.71gのSiO2 (コロ
イド、22nm)を遊星形ボールミル中で2時間粉砕し
て、混合する。粉砕液体として、シクロヘキサンを使用
し、粉砕ボールとして、メノウを使用する。続いて、こ
の混合物をイソプロパノール中で24時間2mm−YT
Zボールを用いて粉砕する。遊星形ボールミル中で粉砕
した後、この混合物を表面蒸発器下で空気中で乾燥し、
続いて、1250℃で6時間焼成する。続いて、粉末材
料を結合剤としてのポリビニルアルコール、表面活性
剤、分散剤および水と混合し、懸濁液を形成する。この
懸濁液をナイフ塗布装置で処理し、厚さ20μmのグリ
ーンセラミック箔を形成する。グリーン箔を切断してカ
ード形箔にし、内部電極のパターンに応じてニッケルペ
ーストで印刷し、積層し、圧縮し、さらに分割して個々
のキャパシタにする。キャパシタを1300℃で焼結す
る。加熱速度300℃/時で1000℃まで上げ、50
℃/時で1300℃まで上げる。焼結工程の間、水蒸気
で飽和した、99%のN2 と1%のH2 の気体混合物を
炉に通す。続いて、300℃/時で冷却する。焼結工程
の後、キャパシタを、1000℃で焼戻し炉中で焼戻
す。焼戻し工程の間、10〜50ppmの酸素を含有す
る窒素からなる気体混合物を炉中に通す。外部電極とし
て蒸着により厚さ6nmのCrNi層を形成し、これに
厚さ0.15μmのAuコーティングを適用する。 試験結果:ε=213000、tan δ<5%、τ>10
0h
【0020】実施例3 0.025mol/組成式単位の量でタングステンを
0.01mol/組成式単位の量でイットリウムを含有
し、焼結助剤として0.125重量%のSiO2を含有
した組成(Ba0.96Ca 0.04 1.01〔Ti0.815 Zr
0.18Mn0.005 〕O3 を有するセラミック誘電性材料を
含んで構成される多重層キャパシタを製造するために、
191.35gのBaCO3 (d50=1.1μm、BE
T:2.1m2 /g)、1.04gのCaCO3 (d50
=0.8μm)、65.12gのTiO2 (d50=0.
48μm、BET:7m2 /g)、22.18gのZr
2(d50=0.12μm、BET:21.9m2
g)、0.57gのMnCO3、0.58gのWO
3 (d50=0.15μm)、2.24gのY2 3 (d
50=0.34μm)および0.36gのSiO2 (コロ
イド、22nm)を遊星形ボールミル中で2時間粉砕し
て、混合する。粉砕液体として、シクロヘキサンを使用
し、粉砕ボールとして、メノウを使用する。続いて、こ
の混合物をイソプロパノール中で24時間2mm−YT
Zボールを用いて粉砕する。遊星形ボールミル中で粉砕
した後、この混合物を表面蒸発器下で空気中で乾燥し、
続いて、1250℃で6時間焼成する。続いて、粉末材
料を結合剤としてのボリビニルアルコール、表面活性
剤、分散剤および水と混合し、スラリーを形成する。こ
のスラリーをナイフ塗布装置で処理し、厚さ20μmの
グリーンセラミック箔を形成する。グリーン箔を切断し
てカード形箔にし、内部電極のパターンに応じてニッケ
ルペーストで印刷し、積層し、圧縮し、さらに分割して
個々のキャパシタにする。キャパシタを1300℃で焼
結する。加熱速度300℃/時で1000℃まで上げ、
50℃/時で1300℃まで上げる。焼結工程の間、水
蒸気で飽和した、99%のN2 と1%のH2 の気体混合
物を炉に通す。続いて、300℃/時で冷却する。焼結
工程の後、キャパシタを、1000℃で焼戻し炉中で焼
戻す。焼戻し工程の間、50〜100ppmの酸素を含
有する窒素からなる気体混合物を炉中に通す。外部電極
として蒸着により厚さ6nmのCrNi層を形成し、こ
れに厚さ0.15μmのAuコーティングを適用する。 試験結果:ε=143000、tan δ<5%、τ>22
0h
【0021】実施例4 それぞれ0.0025mol/組成式単位の量でタング
ステンと亜鉛を含有し、焼結助剤として0.125重量
%のSiO2 を含有した組成(Ba0.96Ca 0 .04
1.01〔Ti0.815 Zr0.18Mn0.005 〕O3 を有するセ
ラミック誘電性材料を含んで構成される多重層キャパシ
タを製造するために、191.35gのBaCO3 (d
50=1.1μm、BET:2.1m2 /g)、1.04
gのCaCO3 (d50=0.8μm)、65.12gの
TiO2 (d50=0.48μm、BET:7m2
g)、22.18gのZrO2 (d50=0.12μm、
BET:21.9m2 /g)、0.57gのMnC
3 、0.58gのWO3 (d50=0.15μm)、
0.20gのZnOおよび0.36gのSiO2 (コロ
イド、22nm)を遊星形ボールミル中で2時間粉砕し
て、混合する。粉砕液体として、シクロヘキサンを使用
し、粉砕ボールとして、メノウを使用する。続いて、こ
の混合物をイソプロパノール中で24時間2mm−YT
Zボールを用いて粉砕する。遊星形ボールミル中で粉砕
した後、表面蒸発器下で空気中で乾燥し、続いて、12
50℃で6時間焼成する。続いて、粉末材料を結合剤と
してのポリビニルアルコール、表面活性剤、分散剤およ
び水と混合し、スラリーを形成する。このスラリーをナ
イフ塗布装置で処理し、厚さ20μmのグリーンセラミ
ック箔を形成する。グリーン箔を切断してカード形箔に
し、内部電極のパターンに応じてニッケルペーストで印
刷し、積層し、圧縮し、さらに分割して個々のキャパシ
タにする。キャパシタを1300℃で焼結する。加熱速
度300℃/時で1000℃まで上げ、50℃/時で1
300℃まで上げる。焼結工程の間、水蒸気で飽和し
た、99%のN2 と1%のH2 の気体混合物を炉に通
す。続いて、300℃/時で冷却する。焼結工程の後、
キャパシタを、1000℃で焼戻し炉中で焼戻す。焼戻
し工程の間、50〜100ppmの酸素を含有する窒素
からなる気体混合物を炉中に通す。外部電極として蒸着
により厚さ6nmのCrNi層を形成し、これに厚さ
0.15μmのAuコーティングを適用する。 試験結果:ε=13600、tan δ<5%、τ>150
【0022】実施例5 0.0025mol/組成式単位の量でタングステンを
0.0025mol/組成式単位の量でニッケルを含有
し、焼結助剤として0.25重量%のSiO2を含有し
た組成(Ba0.96Ca 0.04 1.01〔Ti0.8175Zr
0.18Mn0.0025〕O3 を有するセラミック誘電性材料を
含んで構成される多重層キャパシタを製造するために、
191.35gのBaCO3 (d50=1.1μm、BE
T:2.1m2 /g)、1.04gのCaCO3 (d50
=0.8μm)、65.32gのTiO2 (d50=0.
48μm、BET:7m2 /g)、22.18gのZr
2(d50=0.12μm、BET:21.9m2
g)、0.29gのMnCO3、0.58gのWO
3 (d50=0.15μm)、0.37gのNiOおよび
0.71gのSiO2 (コロイド、22nm)を遊星形
ボールミル中で2時間粉砕して、混合する。粉砕液体と
して、シクロヘキサンを使用し、粉砕ボールとして、メ
ノウを使用する。続いて、この混合物をイソプロパノー
ル中で24時間2mm−YTZボールを用いて粉砕す
る。遊星形ボールミル中で粉砕した後、この混合物を表
面蒸発器下で空気中で乾燥し、続いて、1250℃で6
時間焼成する。続いて、粉末材料を結合剤としてのポリ
ビニルアルコール、表面活性剤、分散剤および水と混合
し、懸濁液を形成する。この懸濁液をナイフ塗布装置で
処理し、厚さ20μmのグリーンセラミック箔を形成す
る。グリーン箔を切断してカード形箔にし、内部電極の
パターンに応じてニッケルペーストで印刷し、積層し、
圧縮し、さらに分割して個々のキャパシタにする。キャ
パシタを1300℃で焼結する。加熱速度300℃/時
で1000℃まで上げ、50℃/時で1300℃まで上
げる。焼結工程の間、水蒸気で飽和した、99%のN2
と1%のH2 の気体混合物を炉に通す。続いて、300
℃/時で冷却する。焼結工程の後、キャパシタを、10
00℃で焼戻し炉中で焼戻す。焼戻し工程の間、10〜
50ppmの酸素を含有する窒素からなる気体混合物を
炉中に通す。外部電極として蒸着により厚さ6nmのC
rNi層を形成し、これに厚さ0.15μmのAuコー
ティングを適用する。 試験結果:ε=15800、tan δ<5%、τ>250
【0023】実施例6 0.0025mol/組成式単位の量でタングステンを
0.005mol/組成式単位の量でイッテルビウムを
含有し、焼結助剤として0.25重量%のSiO2 を含
有した組成(Ba0.96Ca 0.04 1.01〔Ti0.8175
0.18Mn0.00 25〕O3 を有するセラミック誘電性材料
を含んで構成される多重層キャパシタを製造するため
に、191.35gのBaCO3 (d50=1.1μm、
BET:2.1m2 /g)、1.04gのCaCO
3 (d50=0.8μm)、65.32gのTiO2 (d
50=0.48μm、BET:7m2 /g)、22.18
gのZrO2 (d50=0.12μm、BET:21.9
2 /g)、0.29gのMnCO3 、0.58gのW
3 (d50=0.15μm)、1.97gのYb2 3
および0.71gのSiO2 (コロイド、22nm)を
遊星形ボールミル中で2時間粉砕して、混合する。粉砕
液体として、シクロヘキサンを使用し、粉砕ボールとし
て、メノウを使用する。続いて、この混合物をイソプロ
パノール中で24時間2mm−YTZボールを用いて粉
砕する。遊星形ボールミル中で粉砕した後、この混合物
を表面蒸発器下で空気中で乾燥し、続いて、1250℃
で6時間焼成する。続いて、粉末材料を結合剤としての
ポリビニルアルコール、表面活性剤、分散剤および水と
混合し、懸濁液を形成する。この懸濁液をナイフ塗布装
置で処理し、厚さ20μmのグリーンセラミック箔を形
成する。グリーン箔を切断してカード形箔にし、内部電
極のパターンに応じてニッケルペーストで印刷し、積層
し、圧縮し、さらに分割して個々のキャパシタにする。
キャパシタを1300℃で焼結する。加熱速度300℃
/時で1000℃まで上げ、50℃/時で1300℃ま
で上げる。焼結工程の間、水蒸気で飽和した、99%の
2 と1%のH2 の気体混合物を炉に通す。続いて、3
00℃/時で冷却する。焼結工程の後、キャパシタを、
1000℃で焼戻し炉中で焼戻す。焼戻し工程の間、1
0〜50ppmの酸素を含有する窒素からなる気体混合
物を炉中に通す。外部電極として蒸着により厚さ6nm
のCrNi層を形成し、これに厚さ0.15μmのAu
コーティングを適用する。 試験結果:ε=17000、tan δ<5%、τ>160
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明のキャパシタの一具体例を示す
断面図である。
【符号の説明】
1 セラミック誘電性材料 2 内部電極 3 金属接触電極
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 デトレフ ヘニングス ドイツ連邦共和国 52076 アーヘン ハ ングシュトラーセ 28 (72)発明者 ベービ セリヤティ シュレインマッハー ドイツ連邦共和国 52078 アーヘン ア ステルネットヴェーク 30

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 セラミック誘電性材料と少なくとも2つ
    の電極を含んで構成されるキャパシタであって、前記誘
    電性材料が本質的にドープされたチタン酸ジルコニウム
    カルシウムバリウムを含む誘電性組成物からなり、前記
    ドープされたチタン酸ジルコニウムカルシウムバリウム
    が(Ba0.96Ca 0.04 a 〔Ti0. 82-yZr0.18Mn
    y 〕O3 の組成を有し、式中、yは0.001≦y≦
    0.01であり、aは1.00<a≦1.02であり、
    0.001〜0.005mol/式単位の量rでタング
    ステンによりドープされており、かつ0.001〜0.
    005mol/式単位の量sでアルミニウム、ガリウ
    ム、イットリウム、亜鉛、ニッケルおよびイッテルビウ
    ムよりなる群のうち少なくとも1つの元素でドープされ
    ていることを特徴とするキャパシタ。
  2. 【請求項2】 ニッケルあるいはニッケル合金が電極材
    料として使用されることを特徴とする請求項1記載のキ
    ャパシタ。
  3. 【請求項3】 キャパシタがニッケルあるいはニッケル
    合金の内部電極を含んで構成される多重層キャパシタで
    あることを特徴とする請求項1記載のキャパシタ。
  4. 【請求項4】 yはy≦0.005であり、(y+s)
    /rの原子比nが1より大きいことを特徴とする請求項
    1記載のキャパシタ。
  5. 【請求項5】 yはy≦0.005であり、aはa=
    1.01であり、rはr=0.0025mol/式単位
    であり、かつsがs<0.010mol/式単位である
    ことを特徴とする請求項1記載のキャパシタ。
  6. 【請求項6】 誘電性セラミック組成物が0.16〜
    0.29molの酸化リチウム、0.004〜0.39
    molのCaO、MgO、BaOあるいはSrOのうち
    1つの酸化物、および酸化ケイ素を含んで構成される焼
    結助剤を0.1〜1重量%含んで構成されることを特徴
    とする請求項1記載のキャパシタ。
JP9231920A 1996-08-31 1997-08-28 タングステン含有BaTiO3 を含んで構成される多重層キャパシタ Pending JPH1092685A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19635406A DE19635406B4 (de) 1996-08-31 1996-08-31 Kondensator und Vielschichtkondensator mit einem Dielektrium aus wolframhaltiger BCZT-Keramik
DE19635406:4 1996-08-31

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1092685A true JPH1092685A (ja) 1998-04-10
JPH1092685A5 JPH1092685A5 (ja) 2005-06-09

Family

ID=7804301

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9231920A Pending JPH1092685A (ja) 1996-08-31 1997-08-28 タングステン含有BaTiO3 を含んで構成される多重層キャパシタ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5889647A (ja)
EP (1) EP0827166A1 (ja)
JP (1) JPH1092685A (ja)
DE (1) DE19635406B4 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010089241A1 (de) 2009-02-04 2010-08-12 Basf Se Schwarze, uv-stabile thermoplastische formmassen
US7914755B2 (en) * 2001-04-12 2011-03-29 Eestor, Inc. Method of preparing ceramic powders using chelate precursors
US7993611B2 (en) 2006-08-02 2011-08-09 Eestor, Inc. Method of preparing ceramic powders using ammonium oxalate
US8853116B2 (en) 2006-08-02 2014-10-07 Eestor, Inc. Method of preparing ceramic powders

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3031268B2 (ja) * 1996-11-20 2000-04-10 株式会社村田製作所 磁器コンデンサ
DE19737324A1 (de) * 1997-08-28 1999-03-04 Philips Patentverwaltung Vielschichtkondensator mit silber- und seltenerdmetalldotiertem Bariumtitanat
US6281142B1 (en) * 1999-06-04 2001-08-28 Micron Technology, Inc. Dielectric cure for reducing oxygen vacancies
JP3506056B2 (ja) * 1999-08-09 2004-03-15 株式会社村田製作所 正の抵抗温度特性を有する積層型半導体セラミック素子、および正の抵抗温度特性を有する積層型半導体セラミック素子の製造方法
DE19939483A1 (de) * 1999-08-20 2001-03-08 Philips Corp Intellectual Pty Passives Bauelement mit Verbundwerkstoff
US6337237B1 (en) 1999-09-01 2002-01-08 Micron Technology, Inc. Capacitor processing method and DRAM processing method
DE19952134A1 (de) * 1999-10-29 2001-05-03 Philips Corp Intellectual Pty Kondensator mit BCZT-Dielektrikum
JP3361091B2 (ja) * 2000-06-20 2003-01-07 ティーディーケイ株式会社 誘電体磁器および電子部品
DE60232958D1 (de) * 2001-04-12 2009-08-27 Tdk Corp Produktionsverfahren für ein keramisches elektronisches mehrschicht-bauteil
JP4446324B2 (ja) 2001-09-27 2010-04-07 株式会社村田製作所 誘電体磁器組成物及びそれを用いたコンデンサ
KR100466072B1 (ko) * 2002-05-24 2005-01-13 삼성전기주식회사 적층 세라믹 콘덴서용 유전체 조성물 및 이를 이용한 적층세라믹 콘덴서
KR100506731B1 (ko) * 2002-12-24 2005-08-08 삼성전기주식회사 저온 소성 유전체 조성물, 적층 세라믹 커패시터 및세라믹 전자부품
JP2005057174A (ja) * 2003-08-07 2005-03-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd セラミック電子部品の製造方法
US7218504B2 (en) * 2004-03-02 2007-05-15 Intel Corporation Capacitor device and method
US20060000542A1 (en) * 2004-06-30 2006-01-05 Yongki Min Metal oxide ceramic thin film on base metal electrode
US7290315B2 (en) * 2004-10-21 2007-11-06 Intel Corporation Method for making a passive device structure
US20060099803A1 (en) * 2004-10-26 2006-05-11 Yongki Min Thin film capacitor
US20060091495A1 (en) * 2004-10-29 2006-05-04 Palanduz Cengiz A Ceramic thin film on base metal electrode
US7629269B2 (en) * 2005-03-31 2009-12-08 Intel Corporation High-k thin film grain size control
US7375412B1 (en) 2005-03-31 2008-05-20 Intel Corporation iTFC with optimized C(T)
US20060220177A1 (en) * 2005-03-31 2006-10-05 Palanduz Cengiz A Reduced porosity high-k thin film mixed grains for thin film capacitor applications
US7453144B2 (en) * 2005-06-29 2008-11-18 Intel Corporation Thin film capacitors and methods of making the same
US8623737B2 (en) * 2006-03-31 2014-01-07 Intel Corporation Sol-gel and mask patterning for thin-film capacitor fabrication, thin-film capacitors fabricated thereby, and systems containing same
US7987566B2 (en) * 2009-07-15 2011-08-02 Sturzebecher Richard J Capacitor forming method
KR102762893B1 (ko) 2018-12-12 2025-02-07 삼성전기주식회사 적층 세라믹 전자부품
CN118184348A (zh) * 2024-04-07 2024-06-14 西安交通大学 一种兼具高储能密度和高储能效率的钛酸钡基陶瓷材料及其制备方法和用途

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61250905A (ja) * 1985-04-26 1986-11-08 ティーディーケイ株式会社 誘電体磁器組成物及びその製造法
MX172902B (es) * 1986-05-05 1994-01-20 Cabot Corp Coformas de titanato de bario
DE3723082C2 (de) * 1986-07-14 2003-09-25 Cabot Corp Verfahren zur Herstellung von submikronen Perovskiten
ES2006956A6 (es) * 1987-08-12 1989-05-16 Cabot Corp Coformas de titanato de bario dopado.
JP2529410B2 (ja) * 1989-09-25 1996-08-28 松下電器産業株式会社 誘電体磁器組成物とそれを用いた積層セラミックコンデンサとその製造方法
JPH0779004B2 (ja) * 1990-10-31 1995-08-23 株式会社村田製作所 誘電体磁器組成物
JP2952062B2 (ja) * 1991-02-18 1999-09-20 ティーディーケイ株式会社 非還元性誘電体磁器組成物
US5319517A (en) * 1992-03-27 1994-06-07 Tdk Corporation Multilayer ceramic chip capacitor

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7914755B2 (en) * 2001-04-12 2011-03-29 Eestor, Inc. Method of preparing ceramic powders using chelate precursors
US7993611B2 (en) 2006-08-02 2011-08-09 Eestor, Inc. Method of preparing ceramic powders using ammonium oxalate
US8853116B2 (en) 2006-08-02 2014-10-07 Eestor, Inc. Method of preparing ceramic powders
US10239792B2 (en) 2006-08-02 2019-03-26 Eestor, Inc. Method of preparing ceramic powders
WO2010089241A1 (de) 2009-02-04 2010-08-12 Basf Se Schwarze, uv-stabile thermoplastische formmassen

Also Published As

Publication number Publication date
EP0827166A1 (de) 1998-03-04
US5889647A (en) 1999-03-30
DE19635406B4 (de) 2005-09-01
DE19635406A1 (de) 1998-03-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3592097B2 (ja) 銀及び希土類金属を用いてドープしたバリウム−チタネートを含有する多層キャパシタ
JPH1092685A (ja) タングステン含有BaTiO3 を含んで構成される多重層キャパシタ
JPH1092685A5 (ja)
US5790367A (en) Multilayer capacitor comprising a dielectric of modified barium strontium titanate
EP0814486B1 (en) Dielectric ceramic composition and monolithic ceramic capacitor using same
KR102442888B1 (ko) 적층 세라믹 콘덴서 및 그 제조 방법
KR102417726B1 (ko) 적층 세라믹 콘덴서 및 그 제조 방법
US20020137622A1 (en) Dielectric ceramic composition and multilayer ceramic capacitor used the same
KR20220136140A (ko) 세라믹 전자 부품 및 그 제조 방법
US20250259790A1 (en) Multilayer ceramic capacitor
US4477401A (en) Method of manufacturing a dielectric
JP2003526201A (ja) Bczt誘電体を伴うキャパシタ
US6631070B2 (en) Ceramic capacitor with czt dielectric
US4612600A (en) Low fire ceramic compositions
JP2002087879A (ja) 誘電体磁器組成物及びこれを用いた積層セラミックコンデンサ
JP2019102655A (ja) セラミックコンデンサおよびその製造方法
CN100508084C (zh) 细晶贱金属内电极多层陶瓷片式电容器介质材料
US12518922B2 (en) Dielectric powder, multilayer ceramic electronic device, manufacturing method of dielectric powder and manufacturing method of multilayer ceramic electronic device
JPH1126276A (ja) コンデンサ
JP2002134350A (ja) 積層セラミックコンデンサおよびその製造方法
JP2005158895A (ja) 粒界絶縁型半導体セラミックス及び積層半導体コンデンサ
KR20020004467A (ko) 유전체 세라믹 조성물 및 이를 이용한 적층 세라믹 커패시터
JP3316717B2 (ja) 積層セラミックコンデンサ
JP3600701B2 (ja) 誘電体磁器組成物
JPH1197279A (ja) 耐還元性誘電体組成物の製造方法および積層セラミックコンデンサ

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040830

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040830

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060929

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061010

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20070110

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070111

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20070116

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070410

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20070410

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070529