JPH1092690A - 容量調整装置 - Google Patents
容量調整装置Info
- Publication number
- JPH1092690A JPH1092690A JP24626796A JP24626796A JPH1092690A JP H1092690 A JPH1092690 A JP H1092690A JP 24626796 A JP24626796 A JP 24626796A JP 24626796 A JP24626796 A JP 24626796A JP H1092690 A JPH1092690 A JP H1092690A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- capacity
- capacitance
- capacitor
- capacitance value
- cutting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 30
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000008186 active pharmaceutical agent Substances 0.000 description 3
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 調整作業時間が短く調整が容易になり、安価
で容量が安定する容量調整装置を提供する。 【解決手段】 任意の容量値を持つ基準のコンデンサＣ
１と、この基準のコンデンサＣ１の２x （ｘは整数）の
容量値を持つコンデンサＣ２，Ｃ３・・・をパターンカ
ット部Ｋ１，Ｋ２・・・を介して並列接続してなる並列
回路をプリント基板ＰＢに設け、最小容量を基準のコン
デンサＣ１の容量とし、最大容量を全コンデンサＣ１，
Ｃ２・・・の含み容量としてその範囲の所望の容量値
を、前記パターンカット部Ｋ１，Ｋ２・・・を選択して
カットすることで調整することを特徴とする。
で容量が安定する容量調整装置を提供する。 【解決手段】 任意の容量値を持つ基準のコンデンサＣ
１と、この基準のコンデンサＣ１の２x （ｘは整数）の
容量値を持つコンデンサＣ２，Ｃ３・・・をパターンカ
ット部Ｋ１，Ｋ２・・・を介して並列接続してなる並列
回路をプリント基板ＰＢに設け、最小容量を基準のコン
デンサＣ１の容量とし、最大容量を全コンデンサＣ１，
Ｃ２・・・の含み容量としてその範囲の所望の容量値
を、前記パターンカット部Ｋ１，Ｋ２・・・を選択して
カットすることで調整することを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、容量を任意の容量
値に調整する容量調整回路に関するものである。
値に調整する容量調整回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来は、トリマコンデンサを用いて容量
調整を行うか又はレーザビームを用いて容量素体に切条
を入れること、換言すればレーザトリミングにより所要
の容量値を得るようにしている。
調整を行うか又はレーザビームを用いて容量素体に切条
を入れること、換言すればレーザトリミングにより所要
の容量値を得るようにしている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記いずれの従来例に
あっても、調整作業時間が長く調整が困難であり高価に
なる。又、前者では容量の安定性に問題がある。
あっても、調整作業時間が長く調整が困難であり高価に
なる。又、前者では容量の安定性に問題がある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明装置は上記の課題
を解決するため、図１に示すように任意の容量値を持つ
基準のコンデンサＣ１と、この基準のコンデンサＣ１の
２x （ｘは整数）の容量値を持つコンデンサＣ２，Ｃ３
・・・をパターンカット部Ｋ１，Ｋ２・・・を介して並
列接続してなる並列回路をプリント基板ＰＢに設け、最
小容量を基準のコンデンサＣ１の容量とし、最大容量を
全コンデンサＣ１，Ｃ２・・・の含み容量としてその範
囲の所望の容量値を、前記パターンカット部Ｋ１，Ｋ２
・・・を選択してカットすることで調整することを特徴
とする。
を解決するため、図１に示すように任意の容量値を持つ
基準のコンデンサＣ１と、この基準のコンデンサＣ１の
２x （ｘは整数）の容量値を持つコンデンサＣ２，Ｃ３
・・・をパターンカット部Ｋ１，Ｋ２・・・を介して並
列接続してなる並列回路をプリント基板ＰＢに設け、最
小容量を基準のコンデンサＣ１の容量とし、最大容量を
全コンデンサＣ１，Ｃ２・・・の含み容量としてその範
囲の所望の容量値を、前記パターンカット部Ｋ１，Ｋ２
・・・を選択してカットすることで調整することを特徴
とする。
【０００５】
【発明の実施の形態】図１は本発明装置の実施形態の第
１例の構成を示す接続図である。この第１形態は、任意
の容量値を持つ基準のコンデンサＣ１と、この基準のコ
ンデンサＣ１の２x （ｘは整数）の容量値を持つコンデ
ンサＣ２〜Ｃ４をパターンカット部Ｋ１〜Ｋ４を介して
並列接続してなる並列回路をプリント基板ＰＢに形成
し、最小容量を基準のコンデンサＣ１の容量、例えばＣ
１＝１ｐＦとし、最大容量を全コンデンサＣ１〜Ｃ４の
含み容量、例えば１５ｐＦとしてその範囲１〜１５ｐＦ
内の所望の容量値、例えば７ｐＦにパターンカット部Ｋ
１〜Ｋ４のうちＫ４を選択してカットすることで調整す
る。容量値２ｐＦに調整する時はパターンカット部Ｋ
１，Ｋ３，Ｋ４をカットし、容量値１０ｐＦに調整する
時はパターンカット部Ｋ１，Ｋ３をカットし、以下同様
にして１〜１５ｐＦの範囲で容量を調整することができ
る。即ち、容量測定部ＭＡで並列回路の容量を測定し、
容量表示部ＤＳで容量を表示しながら、所望の容量値が
得られるようにパターンカット部Ｋ１〜Ｋ４を選択して
カット手段ＣＵによりカットし、容量値を調整するもの
である。
１例の構成を示す接続図である。この第１形態は、任意
の容量値を持つ基準のコンデンサＣ１と、この基準のコ
ンデンサＣ１の２x （ｘは整数）の容量値を持つコンデ
ンサＣ２〜Ｃ４をパターンカット部Ｋ１〜Ｋ４を介して
並列接続してなる並列回路をプリント基板ＰＢに形成
し、最小容量を基準のコンデンサＣ１の容量、例えばＣ
１＝１ｐＦとし、最大容量を全コンデンサＣ１〜Ｃ４の
含み容量、例えば１５ｐＦとしてその範囲１〜１５ｐＦ
内の所望の容量値、例えば７ｐＦにパターンカット部Ｋ
１〜Ｋ４のうちＫ４を選択してカットすることで調整す
る。容量値２ｐＦに調整する時はパターンカット部Ｋ
１，Ｋ３，Ｋ４をカットし、容量値１０ｐＦに調整する
時はパターンカット部Ｋ１，Ｋ３をカットし、以下同様
にして１〜１５ｐＦの範囲で容量を調整することができ
る。即ち、容量測定部ＭＡで並列回路の容量を測定し、
容量表示部ＤＳで容量を表示しながら、所望の容量値が
得られるようにパターンカット部Ｋ１〜Ｋ４を選択して
カット手段ＣＵによりカットし、容量値を調整するもの
である。
【０００６】図２は本発明装置の実施形態の第２例の構
成を示す接続図である。この第２形態は、コンベアＣＶ
でプリント基板ＰＢを搬送し、測定位置で容量を測定す
る容量測定部ＭＡ、容量表示部ＤＳ、測定容量と設定容
量を比較する容量比較部ＣＰ、所定の容量を計数する容
量計数部ＣＴ及びパターンカット部Ｋ１〜Ｋ４をカット
するカット手段ＣＵを備える。容量を設定し、総容量を
容量測定部ＭＡにより測定して設定容量と比較し、所定
の容量を容量計数部ＣＴで計数する。所定容量を得るべ
く、パターンカット部Ｋ１〜Ｋ４を上記のように選択し
てカット手段ＣＵによりカットする。
成を示す接続図である。この第２形態は、コンベアＣＶ
でプリント基板ＰＢを搬送し、測定位置で容量を測定す
る容量測定部ＭＡ、容量表示部ＤＳ、測定容量と設定容
量を比較する容量比較部ＣＰ、所定の容量を計数する容
量計数部ＣＴ及びパターンカット部Ｋ１〜Ｋ４をカット
するカット手段ＣＵを備える。容量を設定し、総容量を
容量測定部ＭＡにより測定して設定容量と比較し、所定
の容量を容量計数部ＣＴで計数する。所定容量を得るべ
く、パターンカット部Ｋ１〜Ｋ４を上記のように選択し
てカット手段ＣＵによりカットする。
【０００７】図３は本発明装置により容量調整する場合
の説明図である。目標とする容量値の５％〜２０％程度
の部分を、本発明装置により調整する。例えば、目標の
容量値を１５０ｐＦとし、その±１０％程度の部分を容
量調整する場合、１４０ｐＦを固定コンデンサＣｆと
し、Ｃ１＝１ｐＦ，Ｃ２＝２ｐＦ，Ｃ３＝４ｐＦ，Ｃ４
＝８ｐＦを調整コンデンサとする。総容量は１４０ｐＦ
＋１ｐＦ＋２ｐＦ＋４ｐＦ＋８ｐＦ＝１５５ｐＦとなる
が、１４０ｐＦのコンデンサそのものに誤差がある場
合、その誤差分を本発明装置の１５ｐＦのコンデンサで
調整し、１５０ｐＦとする。
の説明図である。目標とする容量値の５％〜２０％程度
の部分を、本発明装置により調整する。例えば、目標の
容量値を１５０ｐＦとし、その±１０％程度の部分を容
量調整する場合、１４０ｐＦを固定コンデンサＣｆと
し、Ｃ１＝１ｐＦ，Ｃ２＝２ｐＦ，Ｃ３＝４ｐＦ，Ｃ４
＝８ｐＦを調整コンデンサとする。総容量は１４０ｐＦ
＋１ｐＦ＋２ｐＦ＋４ｐＦ＋８ｐＦ＝１５５ｐＦとなる
が、１４０ｐＦのコンデンサそのものに誤差がある場
合、その誤差分を本発明装置の１５ｐＦのコンデンサで
調整し、１５０ｐＦとする。
【０００８】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、並列接続
のコンデンサの容量をパターンカット部を選択してカッ
トすることで調整するので、調整作業時間が短く調整が
容易になり、安価で容量が安定する容量調整装置を提供
することができる。
のコンデンサの容量をパターンカット部を選択してカッ
トすることで調整するので、調整作業時間が短く調整が
容易になり、安価で容量が安定する容量調整装置を提供
することができる。
【図１】本発明装置の実施形態の第１例の構成を示す接
続図である。
続図である。
【図２】本発明装置の実施形態の第２例の構成を示す接
続図である。
続図である。
【図３】本発明装置により容量調整する場合の説明図で
ある。
ある。
Ｃ１ 基準のコンデンサ Ｃ２，Ｃ３・・・ コンデンサ Ｋ１，Ｋ２・・・ パターンカット部 ＰＢ プリント基板 ＭＡ 容量測定部 ＤＳ 容量表示部 ＣＵ カット手段 ＣＶ コンベア ＣＰ 容量比較部 ＣＴ 容量計数部 Ｃｆ 固定コンデンサ
Claims (4)
- 【請求項１】 任意の容量値を持つ基準のコンデンサ
と、この基準のコンデンサの２x （ｘは整数）の容量値
を持つコンデンサをパターンカット部を介して並列接続
してなる並列回路をプリント基板に設け、最小容量を基
準のコンデンサの容量とし、最大容量を全コンデンサの
含み容量としてその範囲の所望の容量値を、前記パター
ンカット部を選択してカットすることで調整することを
特徴とする容量調整装置。 - 【請求項２】 前記並列回路に容量測定部を接続して容
量値を測定することを特徴とする請求項１の容量調整装
置。 - 【請求項３】 前記容量測定部により総容量を測定し、
所定の容量値とするよう計数部で計数し、計数された容
量となるようにパターンカット部をカットすることを特
徴とする請求項２の容量調整装置。 - 【請求項４】 コンベアでプリント基板を搬送し、測定
位置で容量を測定する容量測定部、測定容量と設定容量
を比較する容量比較部、所定の容量を計数する容量計数
部及びパターンカット部をカットするカット手段を備え
ることを特徴とする請求項１の容量調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24626796A JPH1092690A (ja) | 1996-09-18 | 1996-09-18 | 容量調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24626796A JPH1092690A (ja) | 1996-09-18 | 1996-09-18 | 容量調整装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1092690A true JPH1092690A (ja) | 1998-04-10 |
Family
ID=17145993
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24626796A Pending JPH1092690A (ja) | 1996-09-18 | 1996-09-18 | 容量調整装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1092690A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6407669B1 (en) | 2001-02-02 | 2002-06-18 | 3M Innovative Properties Company | RFID tag device and method of manufacturing |
| US6693541B2 (en) | 2001-07-19 | 2004-02-17 | 3M Innovative Properties Co | RFID tag with bridge circuit assembly and methods of use |
| EP1403816A3 (en) * | 2002-09-27 | 2005-06-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method of mounting a hybrid IC card and hybrid IC card |
| CN103293388A (zh) * | 2013-05-16 | 2013-09-11 | 国家电网公司 | 一种并联电容器电容值在线监测方法 |
| WO2015000818A1 (de) * | 2013-07-03 | 2015-01-08 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und verfahren zum anpassen eines schwingkreises für ein spielgerät |
-
1996
- 1996-09-18 JP JP24626796A patent/JPH1092690A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6407669B1 (en) | 2001-02-02 | 2002-06-18 | 3M Innovative Properties Company | RFID tag device and method of manufacturing |
| WO2002063551A3 (en) * | 2001-02-02 | 2003-02-13 | 3M Innovative Properties Co | Rfid tag device and method of manufacturing |
| US6693541B2 (en) | 2001-07-19 | 2004-02-17 | 3M Innovative Properties Co | RFID tag with bridge circuit assembly and methods of use |
| EP1403816A3 (en) * | 2002-09-27 | 2005-06-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method of mounting a hybrid IC card and hybrid IC card |
| CN103293388A (zh) * | 2013-05-16 | 2013-09-11 | 国家电网公司 | 一种并联电容器电容值在线监测方法 |
| WO2015000818A1 (de) * | 2013-07-03 | 2015-01-08 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und verfahren zum anpassen eines schwingkreises für ein spielgerät |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE112012006115B4 (de) | Kontur-und Oberflächentextur-Messinstrument und Kontur- und Oberflächentextur-Messverfahren | |
| DE69426521T2 (de) | Metrologisches instrument | |
| JPH1092690A (ja) | 容量調整装置 | |
| FR2398374A1 (fr) | Ajustement de resistances pour circuits hybrides | |
| EP0273425B1 (en) | Filter circuit | |
| GB2205691A (en) | Laser trimming | |
| JP3124613B2 (ja) | 薄膜抵抗器 | |
| CN114089249A (zh) | 滤波电路、电涡流传感器、调试方法和调试装置 | |
| Meijer et al. | A linear high-performance PSD displacement transducer with microcontroller interfacing | |
| JPH03283561A (ja) | 混成集積回路装置の調節方法 | |
| JPS58119608A (ja) | 厚膜抵抗のトリミング方法 | |
| JP2570667B2 (ja) | ストリツプラインに対する終端抵抗素子の抵抗値調整方法 | |
| JP2003017306A (ja) | 抵抗値調整方法 | |
| JPH02149120A (ja) | ローパスフィルタ装置の製造方法 | |
| CN112736765B (zh) | 一种配网终端巡检维护用的移动作业系统 | |
| US3622878A (en) | Method of calibrating an electrical circuit | |
| JPS62174902A (ja) | 厚膜抵抗体のトリミング方法 | |
| JP2769517B2 (ja) | 混成集積回路の製造方法 | |
| CN85202256U (zh) | 直读式变压器电容电桥 | |
| EP1604324B1 (de) | Flugrechner | |
| JP3794018B2 (ja) | アッテネータの周波数特性調整回路 | |
| JP2002090394A (ja) | 電圧測定回路及びその校正方法 | |
| JPH01282913A (ja) | アクティブフイルタの機能トリミング方法 | |
| JPH0252406A (ja) | チップ抵抗器 | |
| JP2618492B2 (ja) | 厚膜回路直接描画方法 |