JPS62174902A - 厚膜抵抗体のトリミング方法 - Google Patents
厚膜抵抗体のトリミング方法Info
- Publication number
- JPS62174902A JPS62174902A JP61016568A JP1656886A JPS62174902A JP S62174902 A JPS62174902 A JP S62174902A JP 61016568 A JP61016568 A JP 61016568A JP 1656886 A JP1656886 A JP 1656886A JP S62174902 A JPS62174902 A JP S62174902A
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- JP
- Japan
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- thick film
- trimming
- film resistor
- resistance value
- cut
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000009966 trimming Methods 0.000 title claims description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 10
- WYTGDNHDOZPMIW-RCBQFDQVSA-N alstonine Natural products C1=CC2=C3C=CC=CC3=NC2=C2N1C[C@H]1[C@H](C)OC=C(C(=O)OC)[C@H]1C2 WYTGDNHDOZPMIW-RCBQFDQVSA-N 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は2厚膜抵抗体を所定の抵抗値に調整す乙ため
のトリミング方法に関する。
のトリミング方法に関する。
絶縁基板の上の厚膜抵抗体の抵抗値調整法として、第3
図〜第5図で示すような、いゆるトリミング法が従来か
ら実施されている。即ち。
図〜第5図で示すような、いゆるトリミング法が従来か
ら実施されている。即ち。
予め端子電極3.4間の抵抗値が目標値より低めになる
よう厚膜抵抗体lを形成しておき、上記端子電極3.4
で抵抗値を測定しながら、厚膜抵抗体1にレーザビーム
等で切溝2a、 2b・・・・を入れる。これによって
、端子電極3,4間の抵抗値を高め、抵抗値を目標の範
囲に収める調整法である。
よう厚膜抵抗体lを形成しておき、上記端子電極3.4
で抵抗値を測定しながら、厚膜抵抗体1にレーザビーム
等で切溝2a、 2b・・・・を入れる。これによって
、端子電極3,4間の抵抗値を高め、抵抗値を目標の範
囲に収める調整法である。
このトリミング法では、抵抗値の精度を高めるため、切
溝2a、 2b・・・−のパターンに様々な工夫がなさ
れている。特に、調整量が比校的小さい場合には、高い
精度を得るため、粗調整と微調整手段とを含むものが使
用される。
溝2a、 2b・・・−のパターンに様々な工夫がなさ
れている。特に、調整量が比校的小さい場合には、高い
精度を得るため、粗調整と微調整手段とを含むものが使
用される。
例えば、第3図は、厚膜抵抗体1を幡断するよう同じ方
向から2本の切溝2a、 2bを入れる。
向から2本の切溝2a、 2bを入れる。
いわゆるダブルカットであり、また、第4図は。
厚膜抵抗体1を縦断するよう切溝2aを入れた後。
これと直角に切溝2cを入れる。いわゆるLカソトであ
る。これらの場合、最初の切溝2aによって粗調整が行
われ、これに続く切溝2b、2cによって微調整が行わ
れる。
る。これらの場合、最初の切溝2aによって粗調整が行
われ、これに続く切溝2b、2cによって微調整が行わ
れる。
さらに、第5図で示すように、粗調整用の抵抗膜1aと
、これよりシート抵抗の低い微調整用の抵抗1ffl
1 bとを直列(または並列)に接続して厚膜抵抗体1
を構成し、それぞれの抵抗膜1a+1bについて上記の
ようなトリミングを行う方法も提案されている。
、これよりシート抵抗の低い微調整用の抵抗1ffl
1 bとを直列(または並列)に接続して厚膜抵抗体1
を構成し、それぞれの抵抗膜1a+1bについて上記の
ようなトリミングを行う方法も提案されている。
なお、トリミングにより調整する抵抗値に成る程度の幅
があるときは、大きな調整量を得るため、対向する2辺
から厚膜抵抗体1を縦断するよう、それぞれ切溝2a、
2bをいれる。いわゆるサーペンタインカットが採用
される。
があるときは、大きな調整量を得るため、対向する2辺
から厚膜抵抗体1を縦断するよう、それぞれ切溝2a、
2bをいれる。いわゆるサーペンタインカットが採用
される。
C発明が解決しようとする問題点〕
混成!J積回路の小型化の要請に伴い、i膜抵抗体の抵
抗値について高い精度が要請されている。しかし、従来
のトリミング法では、カット時に生じる微細なりランク
等に起因する抵抗値のドリフトによって、imm後後抵
抗値が成る程度ばらつく。例えば、第3図や第4図で示
すよ・うに、端子電極3.4の間の厚膜抵抗体1にダブ
ルカットやLカット等の切溝2a、 2b・−を入れる
従来のトリミング法によって調整可能な抵抗値の精度は
、上0゜5%が限度である。さらに。
抗値について高い精度が要請されている。しかし、従来
のトリミング法では、カット時に生じる微細なりランク
等に起因する抵抗値のドリフトによって、imm後後抵
抗値が成る程度ばらつく。例えば、第3図や第4図で示
すよ・うに、端子電極3.4の間の厚膜抵抗体1にダブ
ルカットやLカット等の切溝2a、 2b・−を入れる
従来のトリミング法によって調整可能な抵抗値の精度は
、上0゜5%が限度である。さらに。
サーペンタインカットによる切?112a、12b ・
・・を入れたものでは、上2゜0%が限度である。
・・を入れたものでは、上2゜0%が限度である。
他方、第5図で示すトリミング法では、ダブルカットや
Lカットによる切溝2a、 2b・・・を使用した場合
に上0゜35%と、高い精度が得られる。
Lカットによる切溝2a、 2b・・・を使用した場合
に上0゜35%と、高い精度が得られる。
しかし、シート抵抗の異なる2つの抵抗膜1a+15を
設けなければならないため、2回に分けて抵抗ペースト
を印刷する必要がある等、工数の増加を招くという欠点
があった。
設けなければならないため、2回に分けて抵抗ペースト
を印刷する必要がある等、工数の増加を招くという欠点
があった。
この発明は、上記従来の問題を解決するためなされたも
ので1第3図や第4図のトリミング方法を実施する場合
とは一′同等の工数で厚膜抵抗体を形成することができ
、しかも第5図で示したトリミング方法と同等或いはそ
れ以上の高い精度が得られるトリミング方法を提供する
ことを目的とする。
ので1第3図や第4図のトリミング方法を実施する場合
とは一′同等の工数で厚膜抵抗体を形成することができ
、しかも第5図で示したトリミング方法と同等或いはそ
れ以上の高い精度が得られるトリミング方法を提供する
ことを目的とする。
この発明によるトリミング方法を第1図と第2図の符号
を引用しながら説明すると、まず予め端子電極13.1
4の間に1つ以上の測定用電極15a、15h・−が設
けられた厚膜抵抗体を作る。そして、上記端子電極13
.14と測定用電極15a、15b・・とで分割された
各区間16a、16b・・・−の抵抗値を測定しながら
、当該区間16a、16b ・・・に屈する厚膜抵抗体
11に切溝12a、1.2b・・・−を入れ、その抵抗
値をそれぞれ目標値に調整する。これによって。
を引用しながら説明すると、まず予め端子電極13.1
4の間に1つ以上の測定用電極15a、15h・−が設
けられた厚膜抵抗体を作る。そして、上記端子電極13
.14と測定用電極15a、15b・・とで分割された
各区間16a、16b・・・−の抵抗値を測定しながら
、当該区間16a、16b ・・・に屈する厚膜抵抗体
11に切溝12a、1.2b・・・−を入れ、その抵抗
値をそれぞれ目標値に調整する。これによって。
総体的に端子電極13.14間の抵抗値を目標値に近づ
ける。
ける。
(作 用〕
この発明によるトリミング方法では、各区間16a、
L6b・・・−で生じる抵抗値のばらつきが、互いに相
殺されるため、何れのカットパターンを使用した場合で
も、第3図や第4図で示すように。
L6b・・・−で生じる抵抗値のばらつきが、互いに相
殺されるため、何れのカットパターンを使用した場合で
も、第3図や第4図で示すように。
端子電極13.14間のみでトリミングを行う場合に比
べて高精度の抵抗値が得られる。
べて高精度の抵抗値が得られる。
しかも、上記厚膜抵抗体11は、シート抵抗の等しい単
一の抵抗膜からなっているため、端子電極13.1.4
や測定用電極1.5a、15b・・・−を印刷した上に
抵抗ペーストを一度印刷するだけで形成することができ
る。
一の抵抗膜からなっているため、端子電極13.1.4
や測定用電極1.5a、15b・・・−を印刷した上に
抵抗ペーストを一度印刷するだけで形成することができ
る。
次に2図面を参照しながら、この発明の実施例と望まし
い実施態様について説明する。
い実施態様について説明する。
まず、絶縁基板の上に端子電極13.14と測定用電極
15a、 15b・・・−を印刷した後、この上にRu
O2等を主体とする抵抗ペーストを印刷し、これを焼き
付けて厚膜抵抗体11を形成する。
15a、 15b・・・−を印刷した後、この上にRu
O2等を主体とする抵抗ペーストを印刷し、これを焼き
付けて厚膜抵抗体11を形成する。
上記測定用電極15a、 15b−は、厚膜抵抗体11
を横断するよう端子電極13.14の間に設けられ。
を横断するよう端子電極13.14の間に設けられ。
端子電極13.14の間の厚膜抵抗体11を複数の区間
16a、16b・−に分割する。第1図と第2図の実施
例では、何れも2本の測定用電極15a、15bが設け
られ、端子電極13.14間が3つの区間16a。
16a、16b・−に分割する。第1図と第2図の実施
例では、何れも2本の測定用電極15a、15bが設け
られ、端子電極13.14間が3つの区間16a。
16b・・・に分割されている。なお、各区間1.6a
、16b・・・の長さは、それぞれ任意に設定できるが
1等間隔であれば後述するように、目標値r1.r2・
・・を何れも等しく設定することができる。
、16b・・・の長さは、それぞれ任意に設定できるが
1等間隔であれば後述するように、目標値r1.r2・
・・を何れも等しく設定することができる。
次に、各区間16a、16b ・・・についてそれぞれ
抵抗の目標値rI+ r2・・−を定め、これにでき
るだけ近づくように、端子電極13.14または測定用
電極15a、15b ・・・の間で抵抗値を測定しなが
ら。
抵抗の目標値rI+ r2・・−を定め、これにでき
るだけ近づくように、端子電極13.14または測定用
電極15a、15b ・・・の間で抵抗値を測定しなが
ら。
各区間16a、 16b−でトリミングを行う。各区間
16a、 16b−の抵抗の目標値rl+ r2””
は、端子電極13.14の間の目標値Rをもとに、R=
Σrn (nは区間の数)となるよう設定する。例えば
、第1図と第2図の実施例の場合は、n=3であり1区
間16a、16b−の距離が何れも等しいことから、r
l :r2 :r3 =R/3とする。
16a、 16b−の抵抗の目標値rl+ r2””
は、端子電極13.14の間の目標値Rをもとに、R=
Σrn (nは区間の数)となるよう設定する。例えば
、第1図と第2図の実施例の場合は、n=3であり1区
間16a、16b−の距離が何れも等しいことから、r
l :r2 :r3 =R/3とする。
なお、各区間16a、16b・・・・の抵抗値の測定は
。
。
必ずしも隣接する電極13.14.15・・・・毎に行
う必要はない。例えば1区間16aをトリミングした後
1区間16bについては、端子電極13と測定用電極1
5b間で抵抗値を測定しながらrrl +r2の目標値
に近づくようトリミングを実施することも可能である。
う必要はない。例えば1区間16aをトリミングした後
1区間16bについては、端子電極13と測定用電極1
5b間で抵抗値を測定しながらrrl +r2の目標値
に近づくようトリミングを実施することも可能である。
トリミングによる切>112a、12b・・・のパター
ンは、一般のダブルカット、Lカットサーペンタインカ
ット等、必要に応じて適宜のものを選択することができ
る。例えば、第1図の実施例では、いわゆるダブルカッ
トが、また、第2図の実施例では、いわゆるサーペンタ
インカットが採用されている。
ンは、一般のダブルカット、Lカットサーペンタインカ
ット等、必要に応じて適宜のものを選択することができ
る。例えば、第1図の実施例では、いわゆるダブルカッ
トが、また、第2図の実施例では、いわゆるサーペンタ
インカットが採用されている。
本件発明者が目標値R=r1+r2 +r3−9にΩの
厚膜抵抗体11について2本件発明のトリミング法を実
際に実施した結果、第1図のいわゆるダブルカットでは
、上記目標値Rに対して、厚膜抵抗体11の抵抗値を全
て誤差±0.3%以内に収めることができた。また、第
2図のサーペンタインカットでは、上記目標値Rに対し
て、厚膜抵抗体11の抵抗値を全て誤差±1.2%以内
に収めることができた。
厚膜抵抗体11について2本件発明のトリミング法を実
際に実施した結果、第1図のいわゆるダブルカットでは
、上記目標値Rに対して、厚膜抵抗体11の抵抗値を全
て誤差±0.3%以内に収めることができた。また、第
2図のサーペンタインカットでは、上記目標値Rに対し
て、厚膜抵抗体11の抵抗値を全て誤差±1.2%以内
に収めることができた。
以上説明した通り、この発明によれば、トリミングによ
って精度の高い抵抗値が得られる。
って精度の高い抵抗値が得られる。
しかも、i1!子電極13.14と同時に測定用電極1
5a115b−を印刷し、その上から厚膜抵抗体11を
1回印刷するだけで厚膜抵抗体11を形成することがで
きる。このため、第5図で示すような従来のトリミング
方法のように、厚膜抵抗体の印刷工数の増加を伴わない
。
5a115b−を印刷し、その上から厚膜抵抗体11を
1回印刷するだけで厚膜抵抗体11を形成することがで
きる。このため、第5図で示すような従来のトリミング
方法のように、厚膜抵抗体の印刷工数の増加を伴わない
。
第1図と第2図は、この発明の各実施例を示すトリミン
グ後の厚膜抵抗体の平面図、第3図〜第5図は、トリミ
ング方法の従来例を示すトリミング後の厚膜抵抗体の平
面図である。 11・・・・厚膜抵抗体 12a、 12b −
切溝13、14・・・・端子電極 15a、 15
b・・−測定用電極16a、16b −厚膜抵抗体の分
割された区間発明者 寄木 敬史
グ後の厚膜抵抗体の平面図、第3図〜第5図は、トリミ
ング方法の従来例を示すトリミング後の厚膜抵抗体の平
面図である。 11・・・・厚膜抵抗体 12a、 12b −
切溝13、14・・・・端子電極 15a、 15
b・・−測定用電極16a、16b −厚膜抵抗体の分
割された区間発明者 寄木 敬史
Claims (1)
- 厚膜抵抗体11に切溝12a、12b・・・を入れ、
同抵抗体11の端子電極13、14の間の抵抗値を目標
値に調整する厚膜抵抗体のトリミング方法において、端
子電極13、14の間に1つ以上の測定用電極15a、
15b・・・を設け、上記端子電極13、14と測定用
電極15a、15b・・・とで分割された各区間16a
、16b・・・の抵抗値を測定しながら、当該区間16
a、16b・・・に属する厚膜抵抗体11に切溝12a
、12b・・・を入れ、各区間毎の抵抗値をそれぞれ目
標値に調整することを特徴とする厚膜抵抗体のトリミン
グ方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61016568A JPS62174902A (ja) | 1986-01-28 | 1986-01-28 | 厚膜抵抗体のトリミング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61016568A JPS62174902A (ja) | 1986-01-28 | 1986-01-28 | 厚膜抵抗体のトリミング方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62174902A true JPS62174902A (ja) | 1987-07-31 |
Family
ID=11919891
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61016568A Pending JPS62174902A (ja) | 1986-01-28 | 1986-01-28 | 厚膜抵抗体のトリミング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62174902A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01106793U (ja) * | 1988-01-08 | 1989-07-18 | ||
| JPH02122687A (ja) * | 1988-11-01 | 1990-05-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 印刷配線基板 |
| JPH02148801A (ja) * | 1988-11-30 | 1990-06-07 | Taiyo Yuden Co Ltd | 膜状抵抗体及びそのトリミング方法 |
| JP2011096814A (ja) * | 2009-10-29 | 2011-05-12 | Koa Corp | チップ抵抗器の製造方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58119608A (ja) * | 1982-01-11 | 1983-07-16 | 株式会社日立製作所 | 厚膜抵抗のトリミング方法 |
-
1986
- 1986-01-28 JP JP61016568A patent/JPS62174902A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58119608A (ja) * | 1982-01-11 | 1983-07-16 | 株式会社日立製作所 | 厚膜抵抗のトリミング方法 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01106793U (ja) * | 1988-01-08 | 1989-07-18 | ||
| JPH02122687A (ja) * | 1988-11-01 | 1990-05-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 印刷配線基板 |
| JPH02148801A (ja) * | 1988-11-30 | 1990-06-07 | Taiyo Yuden Co Ltd | 膜状抵抗体及びそのトリミング方法 |
| JP2011096814A (ja) * | 2009-10-29 | 2011-05-12 | Koa Corp | チップ抵抗器の製造方法 |
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