JPH11102756A - Icソケットの取付装置 - Google Patents
Icソケットの取付装置Info
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- JPH11102756A JPH11102756A JP9276636A JP27663697A JPH11102756A JP H11102756 A JPH11102756 A JP H11102756A JP 9276636 A JP9276636 A JP 9276636A JP 27663697 A JP27663697 A JP 27663697A JP H11102756 A JPH11102756 A JP H11102756A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 16
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 9
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 9
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/14—Structural association of two or more printed circuits
- H05K1/141—One or more single auxiliary printed circuits mounted on a main printed circuit, e.g. modules, adapters
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 格子状に配列された多数のボール状端子を有
するICが装填され底面に格子状に配列された多数の端
子ピンを有するICソケットをマザーボードに対して交
換可能にすると共に、複数種のマザーボードに対して共
通のICソケットを使用可能にし使用するICソケット
の数を減らす。 【解決手段】 ICソケットをマザーボードに搭載する
ための取付装置において、ICソケットの端子ピンが挿
入されかつはんだ付けされる格子状配列された多数のス
ルーホールを有するアダプターボードと、このアダプタ
ーボードをマザーボードに着脱可能に保持すると共に電
気的に接続するコネクタとを備える。コネクタは互いに
結合・分離可能な雄半体および雌半体を持ち、その一方
をアダプターボードに、他方をマザーボードにそれぞれ
固定したものがよい。コネクタはアダプターボードの周
縁に沿って形成された多数の接続端子と、これらの接続
端子に対応してマザーボードに形成したパッドやスルー
ホールなどの端子とで形成し、両者をはんだ接合したも
のでもよい。
するICが装填され底面に格子状に配列された多数の端
子ピンを有するICソケットをマザーボードに対して交
換可能にすると共に、複数種のマザーボードに対して共
通のICソケットを使用可能にし使用するICソケット
の数を減らす。 【解決手段】 ICソケットをマザーボードに搭載する
ための取付装置において、ICソケットの端子ピンが挿
入されかつはんだ付けされる格子状配列された多数のス
ルーホールを有するアダプターボードと、このアダプタ
ーボードをマザーボードに着脱可能に保持すると共に電
気的に接続するコネクタとを備える。コネクタは互いに
結合・分離可能な雄半体および雌半体を持ち、その一方
をアダプターボードに、他方をマザーボードにそれぞれ
固定したものがよい。コネクタはアダプターボードの周
縁に沿って形成された多数の接続端子と、これらの接続
端子に対応してマザーボードに形成したパッドやスルー
ホールなどの端子とで形成し、両者をはんだ接合したも
のでもよい。
Description
【0001】
【発明が属する技術分野】この発明は、BGAなどのボ
ール状のエリアアレイ端子を有するICを装填したIC
ソケットをバーンインテスト用ボードやICの良・不良
を判定するテスト用ボードに搭載するために用いるIC
ソケットの取付装置に関するものである。
ール状のエリアアレイ端子を有するICを装填したIC
ソケットをバーンインテスト用ボードやICの良・不良
を判定するテスト用ボードに搭載するために用いるIC
ソケットの取付装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】BGA(ボールグリッドアレイ)やCS
P(チップサイズパッケージ)などの半導体ICのパッ
ケージでは、ボール状の端子を格子状に配置したエリア
アレイ端子構造を持っている。このようなICではバー
ンインテストや良品の選別(KGD、Known Good Die)
を行うために、ICを専用のソケットに装填する。ここ
にバーンインテストはICを高温にした状態で電位をか
け、ICに加える負荷を増やし、強制的に不良の発生を
加速させて初期不良を排除する選別方法である。
P(チップサイズパッケージ)などの半導体ICのパッ
ケージでは、ボール状の端子を格子状に配置したエリア
アレイ端子構造を持っている。このようなICではバー
ンインテストや良品の選別(KGD、Known Good Die)
を行うために、ICを専用のソケットに装填する。ここ
にバーンインテストはICを高温にした状態で電位をか
け、ICに加える負荷を増やし、強制的に不良の発生を
加速させて初期不良を排除する選別方法である。
【0003】一般にBGAのICでは端子間隔は0.8
mmピッチ程度で極めて狭く、その数も極めて多い。この
ためICソケットは、多数の針状の端子ピンを底面に格
子状に配列している。すなわちこのソケットの底面に
は、ICの端子間隔と同じ間隔で針状の端子ピンが多数
起立している。
mmピッチ程度で極めて狭く、その数も極めて多い。この
ためICソケットは、多数の針状の端子ピンを底面に格
子状に配列している。すなわちこのソケットの底面に
は、ICの端子間隔と同じ間隔で針状の端子ピンが多数
起立している。
【0004】従来はこのICソケットの端子ピンを、マ
ザーボードに格子状配列に形成した多数のスルーホール
に挿入し、はんだ付けしていた。ここにマザーボード
は、バーンインテスト時にはバーンイン用ボードであ
り、選別テストの時には選別テスト用ボードである。
ザーボードに格子状配列に形成した多数のスルーホール
に挿入し、はんだ付けしていた。ここにマザーボード
は、バーンインテスト時にはバーンイン用ボードであ
り、選別テストの時には選別テスト用ボードである。
【0005】
【従来技術の問題点】このようにICソケットをマザー
ボードに直接はんだ付けした場合には、ICソケットを
マザーボードから取外して交換する場合に、作業が極め
て困難になる。
ボードに直接はんだ付けした場合には、ICソケットを
マザーボードから取外して交換する場合に、作業が極め
て困難になる。
【0006】すなわち格子状に配列したICソケットの
端子ピンをスルーホールにはんだ付けした場合には、端
子ピンのピッチが小さいため、ソケットの全ての端子ピ
ンを固定するスルーホール内のはんだを同時に溶融させ
はんだ吸い取り器などで除去することが困難、あるいは
ほとんど不可能であるからである。このため一度マザー
ボードにはんだ付けしたICソケットは交換が不可能で
あったり、取外したとしてもICソケットを破損するお
それが大きく、ICソケットを再使用できないという問
題があった。
端子ピンをスルーホールにはんだ付けした場合には、端
子ピンのピッチが小さいため、ソケットの全ての端子ピ
ンを固定するスルーホール内のはんだを同時に溶融させ
はんだ吸い取り器などで除去することが困難、あるいは
ほとんど不可能であるからである。このため一度マザー
ボードにはんだ付けしたICソケットは交換が不可能で
あったり、取外したとしてもICソケットを破損するお
それが大きく、ICソケットを再使用できないという問
題があった。
【0007】またICソケットは高価であり、通常多数
のICソケットを1枚のマザーボードに取り付けてテス
トを行うので、テストの内容によりマザーボードが変わ
ると、新しいマザーボード用に新しいICソケットを用
いなければならない。このため使用するICソケットの
数が著しく増えるという問題もあった。
のICソケットを1枚のマザーボードに取り付けてテス
トを行うので、テストの内容によりマザーボードが変わ
ると、新しいマザーボード用に新しいICソケットを用
いなければならない。このため使用するICソケットの
数が著しく増えるという問題もあった。
【0008】
【発明の目的】本発明はこのような事情に鑑みなされた
ものであり、格子状配列の端子ピンを有するICソケッ
トをマザーボードに対して交換可能にすると共に、複数
種のマザーボードに対して共通のICソケットを使用す
ることも可能にして使用するICソケットの数を減らす
ことができるICソケットの取付装置を提供することを
目的とする。
ものであり、格子状配列の端子ピンを有するICソケッ
トをマザーボードに対して交換可能にすると共に、複数
種のマザーボードに対して共通のICソケットを使用す
ることも可能にして使用するICソケットの数を減らす
ことができるICソケットの取付装置を提供することを
目的とする。
【0009】
【発明の構成】本発明によればこの目的は、格子状に配
列された多数のボール状端子を有するICが装填され底
面に格子状に配列された多数の端子ピンを有するICソ
ケットをマザーボードに搭載するための取付装置におい
て、ICソケットの端子ピンが挿入されかつはんだ付け
される格子状配列された多数のスルーホールを有するア
ダプターボードと、このアダプターボードをマザーボー
ドに着脱可能に保持すると共に電気的に接続するコネク
タとを備えることを特徴とするICソケットの取付装
置、により達成される。
列された多数のボール状端子を有するICが装填され底
面に格子状に配列された多数の端子ピンを有するICソ
ケットをマザーボードに搭載するための取付装置におい
て、ICソケットの端子ピンが挿入されかつはんだ付け
される格子状配列された多数のスルーホールを有するア
ダプターボードと、このアダプターボードをマザーボー
ドに着脱可能に保持すると共に電気的に接続するコネク
タとを備えることを特徴とするICソケットの取付装
置、により達成される。
【0010】ここにコネクタは互いに結合・分離可能な
雄半体および雌半体を持ち、その一方をアダプターボー
ドに、他方をマザーボードにそれぞれ固定したものとす
ることができる。この場合はコネクタによりアダプター
ボードをマザーボードから容易に分離することができ
る。
雄半体および雌半体を持ち、その一方をアダプターボー
ドに、他方をマザーボードにそれぞれ固定したものとす
ることができる。この場合はコネクタによりアダプター
ボードをマザーボードから容易に分離することができ
る。
【0011】コネクタはアダプターボードの周縁に沿っ
て形成された多数の接続端子と、これらの接続端子に対
応してマザーボードに形成したパッドやスルーホールな
どの端子とで形成し、両者をはんだ接合したもので構成
してもよい。この場合はアダプターボードとマザーボー
ドの端子ピッチが比較的大きくなり、はんだ接合を加熱
により容易に分離させることができる。またマザーボー
ドは、バーンインボードやICの選別テスト用のボード
とすることができる。
て形成された多数の接続端子と、これらの接続端子に対
応してマザーボードに形成したパッドやスルーホールな
どの端子とで形成し、両者をはんだ接合したもので構成
してもよい。この場合はアダプターボードとマザーボー
ドの端子ピッチが比較的大きくなり、はんだ接合を加熱
により容易に分離させることができる。またマザーボー
ドは、バーンインボードやICの選別テスト用のボード
とすることができる。
【0012】
【作用】アダプターボードのスルーホールにICソケッ
トの格子配列された端子ピンを挿入し、フローはんだ付
け等の適宜の方法によりはんだ付けを行う。またこのア
ダプターボードにコネクタの雄半体および雌半体の一方
を固定し、マザーボード側に他方を固定する。この場合
にはコネクタを着脱することによりアダプターボードを
マザーボードに対して接続・分離することが容易にな
る。
トの格子配列された端子ピンを挿入し、フローはんだ付
け等の適宜の方法によりはんだ付けを行う。またこのア
ダプターボードにコネクタの雄半体および雌半体の一方
を固定し、マザーボード側に他方を固定する。この場合
にはコネクタを着脱することによりアダプターボードを
マザーボードに対して接続・分離することが容易にな
る。
【0013】アダプターボードをマザーボードにはんだ
付けした場合には、両者の接続端子がアダプターボード
の外周縁に沿って形成され、端子ピッチも比較的大きく
なるので、専用工具を用いることによりはんだ接合部を
容易に溶融させかつ溶融はんだを吸い取り器に吸い取ら
せることができる。このためアダプターボードをマザー
ボードから容易に分離することができる。
付けした場合には、両者の接続端子がアダプターボード
の外周縁に沿って形成され、端子ピッチも比較的大きく
なるので、専用工具を用いることによりはんだ接合部を
容易に溶融させかつ溶融はんだを吸い取り器に吸い取ら
せることができる。このためアダプターボードをマザー
ボードから容易に分離することができる。
【0014】
【実施態様】図1は本発明の一実施態様の概念を示す分
解斜視図、図2はICソケットの底面を示す斜視図、図
3はアダプターボードをマザーボードから分離した状態
を示す断面図である。
解斜視図、図2はICソケットの底面を示す斜視図、図
3はアダプターボードをマザーボードから分離した状態
を示す断面図である。
【0015】これらの図1〜3で符号10はICソケッ
トであり、ボデー12と、このボデー12にヒンジで連
結され上方へ開閉可能な蓋板14とを有する。ボデー1
2にはIC装填部16が設けられ、ここにIC18を装
填し、蓋板14を閉じてロックする。ここにIC18は
例えばBGAの端子群20を下面に持ち、これらの端子
群に対応する端子群22が装填部16内の底面に設けら
れている。従ってここにIC18を装填し蓋板14を閉
じればIC18の端子群20はソケット10の端子群2
2に接続される。なおICソケット10としては蓋板1
4を持たない構造のものも使用可能である。
トであり、ボデー12と、このボデー12にヒンジで連
結され上方へ開閉可能な蓋板14とを有する。ボデー1
2にはIC装填部16が設けられ、ここにIC18を装
填し、蓋板14を閉じてロックする。ここにIC18は
例えばBGAの端子群20を下面に持ち、これらの端子
群に対応する端子群22が装填部16内の底面に設けら
れている。従ってここにIC18を装填し蓋板14を閉
じればIC18の端子群20はソケット10の端子群2
2に接続される。なおICソケット10としては蓋板1
4を持たない構造のものも使用可能である。
【0016】このICソケット10の底面には、図2に
示すように針状の端子ピン24が格子状に突設されてい
る。ここに端子ピン24のピッチはIC18の端子20
のピッチ約0.8mmと同じである。これらの端子ピン2
4は、IC18の端子20と同数であり、各端子ピン2
4はそれぞれIC18の端子20の1つ1つにボデー1
2内で接続されている。
示すように針状の端子ピン24が格子状に突設されてい
る。ここに端子ピン24のピッチはIC18の端子20
のピッチ約0.8mmと同じである。これらの端子ピン2
4は、IC18の端子20と同数であり、各端子ピン2
4はそれぞれIC18の端子20の1つ1つにボデー1
2内で接続されている。
【0017】26はほぼ正方形のアダプターボードであ
る。このアダプターボードは公知のプリント配線板とほ
ぼ同様な手法で作られ、中央にはICソケット18の端
子ピン24が挿入される多数のスルーホール28が形成
されている。30はマザーボードであり、バーンインテ
ストを行う際にはバーンイン用ボードが用いられる。ま
たICの良・不良を選別する際には選別用ボードが用い
られる。このマザーボード30には多数のアダプターボ
ード26がそれぞれ4個のコネクタ32で着脱可能に取
付けられる。図1は便宜上1個のアダプターボード26
だけが示されているが、実際にはマザーボード30の上
面全体に広がって多数取付けられる。
る。このアダプターボードは公知のプリント配線板とほ
ぼ同様な手法で作られ、中央にはICソケット18の端
子ピン24が挿入される多数のスルーホール28が形成
されている。30はマザーボードであり、バーンインテ
ストを行う際にはバーンイン用ボードが用いられる。ま
たICの良・不良を選別する際には選別用ボードが用い
られる。このマザーボード30には多数のアダプターボ
ード26がそれぞれ4個のコネクタ32で着脱可能に取
付けられる。図1は便宜上1個のアダプターボード26
だけが示されているが、実際にはマザーボード30の上
面全体に広がって多数取付けられる。
【0018】コネクタ32は表面実装用のもので、雄半
体32Aと雌半体32Bとで構成される。これらの一
方、例えば雄半体32Aは、アダプターボード26の下
面に各辺の内側に沿って4個固定される。他方、例えば
雌半体32Bは、マザーボード30の上面のこれらの雄
半体32Aに対応する位置に固定されている。雄半体3
2Aの端子群はアダプターボード26内の回路パターン
(図示せず)によって対応するスルーホール28に接続
されている。雌半体32Bの端子群はマザーボード30
内の回路パターンに接続されている。
体32Aと雌半体32Bとで構成される。これらの一
方、例えば雄半体32Aは、アダプターボード26の下
面に各辺の内側に沿って4個固定される。他方、例えば
雌半体32Bは、マザーボード30の上面のこれらの雄
半体32Aに対応する位置に固定されている。雄半体3
2Aの端子群はアダプターボード26内の回路パターン
(図示せず)によって対応するスルーホール28に接続
されている。雌半体32Bの端子群はマザーボード30
内の回路パターンに接続されている。
【0019】なおこの実施態様では、ICソケット10
の端子ピン24がスルーホール28を貫通して下方へ突
出する一方、コネクタ32によりアダプターボード26
とマザーボード30との間に間隙が形成される。そこで
この実施態様では、アダプターボード26とマザーボー
ド30との間にスペーサ34を介在させた。このスペー
サ34は絶縁材で作られ、端子ピン24が挿入される多
数の小孔36が形成されている。
の端子ピン24がスルーホール28を貫通して下方へ突
出する一方、コネクタ32によりアダプターボード26
とマザーボード30との間に間隙が形成される。そこで
この実施態様では、アダプターボード26とマザーボー
ド30との間にスペーサ34を介在させた。このスペー
サ34は絶縁材で作られ、端子ピン24が挿入される多
数の小孔36が形成されている。
【0020】このようにスペーサ34を介在させること
により、ICソケット10の蓋板14を開閉する時に、
ICソケット10に大きな圧力が加わっても、この圧力
がコネクタ32に集中することがなくこのスペーサ34
に分散させることができる。なおこのスペーサ34の厚
さはコネクタ34を接合した状態でアダプターボード2
6とマザーボード30との間にできる間隙と同じにする
のは勿論である。
により、ICソケット10の蓋板14を開閉する時に、
ICソケット10に大きな圧力が加わっても、この圧力
がコネクタ32に集中することがなくこのスペーサ34
に分散させることができる。なおこのスペーサ34の厚
さはコネクタ34を接合した状態でアダプターボード2
6とマザーボード30との間にできる間隙と同じにする
のは勿論である。
【0021】この実施態様によれば、アダプターボード
26のスルーホール28にICソケット10の端子ピン
24を挿入してはんだ付けした後、コネクタ32を取付
ける。そしてコネクタ32の各半体32A、32Bを結
合すればアダプターボード26をマザーボード30に接
続できる。
26のスルーホール28にICソケット10の端子ピン
24を挿入してはんだ付けした後、コネクタ32を取付
ける。そしてコネクタ32の各半体32A、32Bを結
合すればアダプターボード26をマザーボード30に接
続できる。
【0022】ICソケット10を取り外す場合は、コネ
クタ32を切り離してアダプターボード26をマザーボ
ード30から分離すればよい。このようにICソケット
10はアダプターボード26と一体化した状態でマザー
ボード30に対して着脱するから、着脱作業が簡単であ
り、異なるマザーボード30に着け換えることも容易に
行える。
クタ32を切り離してアダプターボード26をマザーボ
ード30から分離すればよい。このようにICソケット
10はアダプターボード26と一体化した状態でマザー
ボード30に対して着脱するから、着脱作業が簡単であ
り、異なるマザーボード30に着け換えることも容易に
行える。
【0023】図4は他の実施態様を示す断面図である。
この実施態様はICソケット10とアダプターボード2
6との間にスペーサ38を介装し、ここに設けた小孔4
0に端子ピン24を通したものである。このスペーサ3
8によりICソケット10の端子ピン24の先端がアダ
プターボード26の下面に突出するのを防止することが
できる。なおこの図4では図3と同一部分に同一符号を
付したのでその説明は繰り返さない。
この実施態様はICソケット10とアダプターボード2
6との間にスペーサ38を介装し、ここに設けた小孔4
0に端子ピン24を通したものである。このスペーサ3
8によりICソケット10の端子ピン24の先端がアダ
プターボード26の下面に突出するのを防止することが
できる。なおこの図4では図3と同一部分に同一符号を
付したのでその説明は繰り返さない。
【0024】図5は他の実施態様を示す断面図である。
この実施態様はアダプターボード26Aをマザーボード
30Aにはんだ付けしたものである。すなわちアダプタ
ーボード26Aの4辺あるいは1〜3辺には、例えば公
知のプリント配線板の製造方法を用いて多数の端子42
が形成され、これらの端子42をマザーボード30Aに
形成したパッド44にはんだ付けしたものである。従っ
てここでは端子42とパッド44でコネクタが形成され
る。
この実施態様はアダプターボード26Aをマザーボード
30Aにはんだ付けしたものである。すなわちアダプタ
ーボード26Aの4辺あるいは1〜3辺には、例えば公
知のプリント配線板の製造方法を用いて多数の端子42
が形成され、これらの端子42をマザーボード30Aに
形成したパッド44にはんだ付けしたものである。従っ
てここでは端子42とパッド44でコネクタが形成され
る。
【0025】この実施態様によれば、アダプターボード
26Aをマザーボード30Aから分離するためには、ア
ダプターボード26Aの周縁にはんだ吸引用マット(図
示せず)を重ねて専用のヒータ工具で加熱する。この加
熱により溶融したはんだを吸引用マットに吸い取らせれ
ばよい。なおこの図5では、マザーボード30Aに端子
ピン24の先端が進入する小孔46を形成することによ
り、前記図3、4に示したようなスペーサ34、38を
省いている。
26Aをマザーボード30Aから分離するためには、ア
ダプターボード26Aの周縁にはんだ吸引用マット(図
示せず)を重ねて専用のヒータ工具で加熱する。この加
熱により溶融したはんだを吸引用マットに吸い取らせれ
ばよい。なおこの図5では、マザーボード30Aに端子
ピン24の先端が進入する小孔46を形成することによ
り、前記図3、4に示したようなスペーサ34、38を
省いている。
【0026】図6は他の実施態様を示す図である。この
実施態様は、アダプターボード26Bの4辺あるいは1
〜3辺に周縁に沿って下方へ突出する端子ピン48を設
ける一方、マザーボード30Bにはこれらの端子ピン4
8が挿入されるスルーホール50を形成したものであ
る。すなわちここでは端子ピン48とスルーホール50
とでコネクタが形成される。
実施態様は、アダプターボード26Bの4辺あるいは1
〜3辺に周縁に沿って下方へ突出する端子ピン48を設
ける一方、マザーボード30Bにはこれらの端子ピン4
8が挿入されるスルーホール50を形成したものであ
る。すなわちここでは端子ピン48とスルーホール50
とでコネクタが形成される。
【0027】従ってアダプターボード26Bをマザーボ
ード30Bに取付けるためには、端子ピン48をスルー
ホール50に挿入してはんだ付けをすればよい。またア
ダプターボード26Bをマザーボード30Bから分離す
るためには、マザーボード30Bを裏返してスルーホー
ル50にはんだ吸引用マットを載せ、上からヒータ工具
で加熱してはんだを溶融させる。そして溶けたはんだを
マットへ吸引すればよい。
ード30Bに取付けるためには、端子ピン48をスルー
ホール50に挿入してはんだ付けをすればよい。またア
ダプターボード26Bをマザーボード30Bから分離す
るためには、マザーボード30Bを裏返してスルーホー
ル50にはんだ吸引用マットを載せ、上からヒータ工具
で加熱してはんだを溶融させる。そして溶けたはんだを
マットへ吸引すればよい。
【0028】なお図5と図6の実施態様では、コネクタ
を形成する端子42とパッド44のピッチ、端子ピン4
8とスルーホール50のピッチがそれぞれ十分に大きく
なり、端子42、48やパッド44、スルーホール50
などを傷めることなくはんだ付け部分の分離を比較的容
易に行うことができる。
を形成する端子42とパッド44のピッチ、端子ピン4
8とスルーホール50のピッチがそれぞれ十分に大きく
なり、端子42、48やパッド44、スルーホール50
などを傷めることなくはんだ付け部分の分離を比較的容
易に行うことができる。
【0029】また図6の実施態様では、マザーボード3
0Bに他の補助ボード52をコネクタ54により着脱可
能としている。この補助ボード52は、マザーボード3
0Bによるテスト内容を変更するものである。すなわち
この補助ボード52を用いることによって異なるICに
対してテストを行ったり、同じICに対して異なる内容
のテストを行えるようにするものである。
0Bに他の補助ボード52をコネクタ54により着脱可
能としている。この補助ボード52は、マザーボード3
0Bによるテスト内容を変更するものである。すなわち
この補助ボード52を用いることによって異なるICに
対してテストを行ったり、同じICに対して異なる内容
のテストを行えるようにするものである。
【0030】
【発明の効果】請求項1の発明は以上のように、BGA
などの格子状配列した端子を有するICを装填するため
のICソケットを、その底面に設けた格子配列された端
子ピンをアダプターボードのスルーホールにはんだ付け
し、このアダプターボードをマザーボードにコネクタに
より着脱可能に保持しかつ電気的に接続したものであ
る。
などの格子状配列した端子を有するICを装填するため
のICソケットを、その底面に設けた格子配列された端
子ピンをアダプターボードのスルーホールにはんだ付け
し、このアダプターボードをマザーボードにコネクタに
より着脱可能に保持しかつ電気的に接続したものであ
る。
【0031】すなわちアダプターボードとマザーボード
との間を分離することにより、ICソケットとアダプタ
ーボードとの間で分離する必要をなくしたものである。
このためICソケットをアダプターボードと一体にして
交換できる。また複数種のマザーボードに対して共通の
ICソケットを使用することもできるから、使用するI
Cソケットの数を減らすことができる。
との間を分離することにより、ICソケットとアダプタ
ーボードとの間で分離する必要をなくしたものである。
このためICソケットをアダプターボードと一体にして
交換できる。また複数種のマザーボードに対して共通の
ICソケットを使用することもできるから、使用するI
Cソケットの数を減らすことができる。
【0032】ここにコネクタは雄半体と雌半体とで形成
し、一方をアダプターボードに、他方をマザーボードに
取付けたものとすることができる(請求項2)。この場
合はコネクタを容易に着脱でき、操作が極めて簡単にな
る。コネクタははんだ付けで行うものでもよい。すなわ
ちアダプターボードの周縁に沿って端子を設け、これら
をマザーボード側に設けたパッドあるいはスルーホール
などの端子にはんだ接合するものである(請求項3)。
この場合にはアダプターボードとマザーボードとの接続
端子ピッチが広がるので、はんだを容易に溶かして剥が
すことができる。マザーボードはバーンインボードやI
C選別テスト用のボードとすることができる(請求項
4、5)。
し、一方をアダプターボードに、他方をマザーボードに
取付けたものとすることができる(請求項2)。この場
合はコネクタを容易に着脱でき、操作が極めて簡単にな
る。コネクタははんだ付けで行うものでもよい。すなわ
ちアダプターボードの周縁に沿って端子を設け、これら
をマザーボード側に設けたパッドあるいはスルーホール
などの端子にはんだ接合するものである(請求項3)。
この場合にはアダプターボードとマザーボードとの接続
端子ピッチが広がるので、はんだを容易に溶かして剥が
すことができる。マザーボードはバーンインボードやI
C選別テスト用のボードとすることができる(請求項
4、5)。
【図1】本発明の一実施態様を示す分解斜視図
【図2】ICソケットの底面を示す斜視図
【図3】アダプターボードとマザーボードの分離状態を
示す断面図
示す断面図
【図4】他の実施態様を示す断面図
【図5】他の実施態様を示す断面図
【図6】他の実施態様を示す断面図
10 ICソケット 18 IC 26、26A、26B アダプターボード 28 スルーホール 30、30A、30B マザーボード 32 コネクタ 34、38 スペーサ 42、44 コネクタを形成する端子とパッド 48、50 コネクタを形成する端子ピンとスルーホー
ル
ル
Claims (5)
- 【請求項1】 格子状に配列された多数のボール状端子
を有するICが装填され底面に格子状に配列された多数
の端子ピンを有するICソケットをマザーボードに搭載
するための取付装置において、 ICソケットの端子ピンが挿入されかつはんだ付けされ
る格子状配列された多数のスルーホールを有するアダプ
ターボードと、このアダプターボードをマザーボードに
着脱可能に保持すると共に電気的に接続するコネクタと
を備えることを特徴とするICソケットの取付装置。 - 【請求項2】 コネクタは、互いに結合・分離可能な雄
半体および雌半体で形成され、その一方がアダプターボ
ードに固定され、他方がマザーボードに固定されている
請求項1のICソケットの取付装置。 - 【請求項3】 コネクタはアダプターボードの周縁に沿
って形成された多数の接続端子と、マザーボードのこれ
らの接続端子に対応する位置に形成された多数の端子と
を備え、これら接続端子と対応するマザーボード側の端
子とをはんだ接合した請求項1のICソケットの取付装
置。 - 【請求項4】 マザーボードはICの焼入れを行うバー
ンインボードである請求項1〜3のいずれかのICソケ
ットの取付装置。 - 【請求項5】 マザーボードは、ICの良・不良を判別
するためのテスト用ボードである請求項1〜3のいずれ
かのICソケットの取付装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9276636A JPH11102756A (ja) | 1997-09-25 | 1997-09-25 | Icソケットの取付装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9276636A JPH11102756A (ja) | 1997-09-25 | 1997-09-25 | Icソケットの取付装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11102756A true JPH11102756A (ja) | 1999-04-13 |
Family
ID=17572216
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9276636A Pending JPH11102756A (ja) | 1997-09-25 | 1997-09-25 | Icソケットの取付装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11102756A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003107488A1 (ja) * | 2002-06-12 | 2003-12-24 | 株式会社アドバンテスト | コネクタ、電子部品取付装置、及び試験装置 |
| CN100439923C (zh) * | 2006-04-03 | 2008-12-03 | 华为技术有限公司 | 一种芯片通用测试装置及其构建方法 |
| JP2009064783A (ja) * | 2008-10-07 | 2009-03-26 | Advantest Corp | 半導体部品取付装置及び試験装置 |
| KR100948822B1 (ko) * | 2007-12-05 | 2010-03-22 | 주식회사 오킨스전자 | 반도체 패키지 검사용 소켓 |
| JP2010066091A (ja) * | 2008-09-10 | 2010-03-25 | Renesas Technology Corp | 半導体集積回路装置の製造方法 |
| KR20200107500A (ko) * | 2019-03-08 | 2020-09-16 | 동우 화인켐 주식회사 | 터치센서 검사장치 |
-
1997
- 1997-09-25 JP JP9276636A patent/JPH11102756A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003107488A1 (ja) * | 2002-06-12 | 2003-12-24 | 株式会社アドバンテスト | コネクタ、電子部品取付装置、及び試験装置 |
| US7033196B2 (en) | 2002-06-12 | 2006-04-25 | Advantest Corp. | Connector, electronic component fixing device, and tester |
| CN100454677C (zh) * | 2002-06-12 | 2009-01-21 | 株式会社爱德万测试 | 连接器、电子零件安装装置以及测试装置 |
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| KR20200107500A (ko) * | 2019-03-08 | 2020-09-16 | 동우 화인켐 주식회사 | 터치센서 검사장치 |
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