JPH11125597A - 分光光度分析 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 近赤外線透過測定によってタブレットを分光
光度分析するための方法及び装置を提供する。 【解決手段】 この装置は、タブレット２０が配置され
る凹所５を備えたタブレットホルダ１を含む。プローブ
４０をタブレット２０に適用し、近赤外線ビームをタブ
レットに差し向けてこのタブレットを透過させ、タブレ
ットの性質の計測値を検出器３２で分析する。凹所５
は、タブレット２０を相補的嵌着をなして収容する。タ
ブレットは、ばね負荷されたロッド８によって凹所５内
にクランプされ、透過ビームが通過して検出器３２に差
し向けられる開口部７に対してタブレットが凹所５内の
所定位置に配置され且つ保持される。好ましくは、タブ
レット２０には、タブレットホルダ内で互いに対して実
質的に垂直に配置された二つのばね負荷されたクランプ
ロッドによってクランプ力が加えられる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、分光光度分析に関
し、詳細には、タブレットを透過した電磁輻射線（通常
は近赤外線）の計測値によってタブレット（主にタブレ
ットの材料）を分光光度分析するための方法及び装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】分光光度分析は、有機的及び生物学的物
質及び材料、特に薬剤の定量的計測値又は定性的計測値
を提供し、又は評価するための周知の方法である。製薬
産業では、タブレットの性質が特定の仕様の許容範囲内
にあることを保証するため、製造バッチからランダムに
選択したタブレットを分析することが必要とされてい
る。これは、特に、成分の同定、内容物の均等性、有効
性、タブレットの硬さ及び厚さに関する。タブレットの
材料の同定、内容物の均等性、及び有効性が特に重要で
あり、近赤外（ＮＩＲ）輻射線のビームをタブレットの
材料に加えることによって得られた反射計測値（reflec
tance measurements）を分光光度分析することによって
これらの性質を評価するための周知の一般的な技術であ
る。基準スペクトル（reference spectra ）を提供する
のに適した代表的な近赤外分光光度計は、パシフィック
サイエンティフィック社の子会社であるガードナーネオ
テック社がコンプスキャン（ＣＯＭＰＳＣＡＮ）の商標
で販売している装置、及びフォスエレクトリック社の６
５００型（内容物迅速分析機（Rapid Content analyse
r）を含む）である。しかしながら、近赤外線（ＮＩ
Ｒ）反射計測値によるタブレット自体の分析には、様々
な種類のタブレット、又は様々な有効性（薬剤含有量）
又は硬さのタブレットの間を明瞭に区別できないという
欠点があるということがわかっている。これは、タブレ
ットの表面しか走査しないためである。従って、タブレ
ット試料のほんの小さな部分しか分析されておらず、こ
れはタブレット全体を代表するものではない。例えば、
代表的な薬剤タブレットからの反射計測値は、タブレッ
トの表面領域の近く（これは、多くの場合、０．５mm程
度の近赤外線ビームの浸透深さに相当する）から得ら
れ、これは、０．５mmをはるかに越える厚さを持つタブ
レットの全体構造又は性質を確実に示すものではない。
従って、これらのタブレットの製造バッチが販売に適し
ているかどうかを評価する上で、薬剤タブレットの近赤
外線反射計測値に依拠することができなかった。これら
の問題点のため、従来、タブレットの材料の分析は、破
壊試験によって行われた。この試験は、タブレットを粉
にする工程、これに近赤外線反射計測による分析を含む
分析を加える工程を含む。このような分析は、粉体状材
料について実施した場合には、タブレット形態の材料か
ら得られた計測値と比較して精度及び信頼性が向上する
ということがわかっている。

【０００３】薬剤タブレットの材料の性質が所定の仕様
に適合することを保証する必要があるため、１バッチの
タブレットの製造中又は製造後にタブレットを頻繁に分
析する手順は、製造サイクル時間、即ちタブレットをそ
の基本的な構成成分から製造してからタブレットをいつ
でも販売できるようにパッケージングするのに要する時
間が大幅に長くなる。薬剤タブレットの実際の製造サイ
クル時間が、理論的に決定された製造サイクル時間の５
倍乃至７倍程度になることは稀でなく、それどころか代
表的である。理論的製造サイクル時間が５日間乃至２５
日間に及ぶことが稀ではないということに配慮すると、
理論的サイクル時間と実際のサイクル時間との差が製造
費用を大きく押し上げ、第１に、薬剤製品の投与及び貯
蔵に要する費用を大きく押し上げるということは理解さ
れよう。投与費用のかなりの部分は、タブレットの性質
が所定の仕様を満たしていることを保証するための分析
の遅れによるものであり、その結果、製造されていつで
も販売できるタブレットのバッチは、これらを市場に実
際に流すことができる前に十分な分析報告を待って数日
間に亘って保留される。

【０００４】上述のタブレット分析技術の欠点を解決し
ようとする試みにおいて、タブレットを透過した電磁輻
射線（通常は近赤外線）のビームから得られた透過計測
値によって、タブレットの分光光度分析を使用してタブ
レットの迅速な非破壊品質評価を行うことが提案され
た。この技術によりタブレットの全厚を分析し、タブレ
ット全体を表すスペクトルを提供する。これは、実際の
製造サイクル時間を短くする目的で、タブレットを製造
中に迅速に放出できるようにしなければならない。近赤
外線をタブレットに透過させることを使用した分光光度
分析機の一例は、フォスエレクトリック社がインタクト
（ＩＮＴＡＣＴ）の商標で販売している分析機である。
このタブレット分析機は、凹所が設けられたプレート状
本体の形態のタブレットホルダを有する。このような凹
所は、分析を行うためにタブレットを収容するようにな
っている。凹所の底面には開口部が配置されており、タ
ブレットを透過した近赤外線がこの開口部を通って分光
光度分析機の検出器に差し向けられる。検出器は、透過
した輻射線に応答し、凹所に配置されたタブレットの分
析された性質についての計測値を提供する。タブレット
は、開口部と重なるように凹所内にぴったりと装着され
ており、光ファイバプローブ先端（これを通って近赤外
線ビームが提供される）をタブレット上に移動し、近赤
外線ビームをこれを通して差し向ける。代表的な薬剤タ
ブレットは、比較的稠密な構造を有し、良好な反射特性
を有し、研究によれば、タブレットを透過して検出器に
到達するのはタブレットに加えられた近赤外線ビームの
強さの（約）０．５％に過ぎないということがわかって
いる。その結果、タブレット透過式分析機は、分析の目
的でその検出器に加えられる近赤外輻射線に対する応答
感度が極めて高くなければならない。この感度のため、
研究によれば、周知の方法及び装置では、タブレットの
繰り返し分析の結果が一貫せず、即ち再現不能であるこ
とがわかっている。その結果、タブレットのバッチを市
場に流す上で、又はこのバッチのタブレットの製造を続
ける上で必要とされる性質がこのタブレットに備えられ
ているかどうかを決定する上で、特定の薬剤タブレット
の分析に依拠できない。例として、添付の例示の図面の
うちの図７は、上述のタブレット分析機で代表的な薬剤
タブレットについて得られたスペクトルを示す。このグ
ラフでは、縦軸が吸光度を示し横軸が波長を示す。幾つ
かのグラフは、同じタブレットを分析機から取り出し、
走査するために再配置し、分析を連続１０回行った繰り
返し分析によって決定された。１０回の走査の各々につ
いて、凹所内でのタブレットの配向は一定に維持され
た。これは、タブレットの一方の側部に商標又は他の表
示がエンボス等の方法で刻み込み、他方の側部に刻み目
線（この線に沿ってタブレットを容易に割ることができ
る）を付けるのが一般的であるため、タブレットの配向
を変えると異なる側部が近赤外輻射線源に向き、分析が
行われる状況を不合理に変化させてしまうため、重要で
あると考えられる。これらのグラフは、特定の波長につ
いて決定された吸光度が大幅に変化することを示すとい
うことは理解されよう。従って、タブレットの基準に適
合した特定の薬剤化合物が所与の波長について所定範囲
内の吸光度を提供しなければならず、吸光度のこの範囲
が分析結果から得られたグラフの極値が示すよりも小さ
いことが知られている場合には、タブレットの成分が基
準に適合しているかどうかを決定する上でこの分析に依
拠することは不適当である。従って、タブレットを透過
した電磁輻射線のビームの計測からタブレットの性質を
分光光度分析するための方法及び装置の両方が必要とさ
れている。この方法及び装置は、分析が十分に正確であ
り且つ再現性があり、そのため、製造されたタブレット
が基準に適合しているかどうかを決定する上でこの分析
に依拠でき、これによって、品質評価を迅速に且つ破壊
を行わずに行い、製造中のタブレットを、製造サイクル
時間を短くする目的で、迅速に放出できる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上述
の必要性を満たす上で役立つ、分光光度分析を行うため
の方法及び装置を提供することである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明によれば、タブレ
ットに加えられ且つこのタブレットを透過した電磁輻射
線ビームからの透過計測値によって、タブレットの性質
を分光光度分析するための方法であって、タブレットを
凹所内に開口部と重なるように配置する工程を有し、タ
ブレットを透過したビームからの輻射線が、計測値を分
析するための検出器に開口部を通して加えられる、方法
において、タブレットにビームを当てる方向に対して実
質的に垂直な方向でクランプ力をタブレットに加える工
程を有し、クランプ力は、タブレットを凹所内の所定位
置に凹所に対して固定する作用をなす、ことを特徴とす
る方法が提供される。

【０００７】更に、本発明によれば、タブレットに加え
られ且つこのタブレットを透過した電磁輻射線ビームか
らの透過計測値によって、タブレットの性質を分析する
ための分光光度分析装置において、タブレットを透過し
た輻射線が通過する開口部が配置された底面を持つ、分
析中にタブレットを収容するための凹所と、タブレット
の性質を分析するため、透過輻射線に応答する検出器と
を有し、タブレットにビームを当てる方向に対して実質
的に垂直な方向でクランプ力をタブレットに加え、タブ
レットを凹所に対して所定位置まで移動し、タブレット
を凹所内の所定位置に固定することによって、タブレッ
トを凹所に固定するためのクランプ手段が設けられてい
る、ことを特徴とする分光光度分析装置が提供される。

【０００８】更に、本発明によれば、分光光度分析装置
用タブレットホルダにおいて、本体と、タブレットを収
容するために本体に設けられた凹所とを有し、凹所は、
タブレットを透過した輻射線を通過させてタブレットの
性質を分析するための検出器に加える開口部が配置され
た底面を持ち、タブレットにクランプ力を加えてタブレ
ットを凹所に対して凹所内の所定位置まで移動し、タブ
レットを凹所内の所定位置に固定することによってタブ
レットを凹所内に固定するためのクランプ手段が本体に
よって支持されている、ことを特徴とするタブレットホ
ルダが提供される。

【０００９】透過計測値を使用する周知のタブレット分
光光度分析機に関し、分析が行われるタブレットの周囲
と周囲が一致するように凹所を形成し、タブレットが凹
所内に実質的に相補的にぴったりと嵌まった状態で装着
されるようにするのが一般的である。凹所とタブレット
との間のこのような装着は、タブレットを開口部上に配
置するのに役立ち、更に、迷光近赤外輻射線がタブレッ
トの周囲で（タブレットと凹所との間で）反射し、タブ
レットを透過した輻射線以外の輻射線が開口部に進入す
ることを阻止する。しかしながら、タブレットは、その
周囲と凹所の相補的周壁との間がぴったりとなるように
装着されているのがよいが、タブレットの交換を容易に
するため、タブレットと凹所との間に或る程度の隙間が
必然的に形成される。近赤外線透過システムについて上
文中に論じた装置の感度を考慮すると、我々の研究によ
れば、この隙間がどれ程小さかろうと、タブレットの位
置を凹所内で僅かに変えるのに十分であれば、これらの
小さな変化（これは、例えば、振動によるか、或いはタ
ブレットの凹所内での全体としての位置による）は、図
７を参照して上文中に論じた分析スペクトルの再現性に
おける受入れ難い変動を引き起こすのに十分である。本
発明に従ってクランプ力をタブレットに加え、タブレッ
トを凹所内の一定の位置（タブレットはクランプ力によ
ってこの位置に移動されて固定される）に固定すること
によって、タブレットの周囲と凹所の周壁との間に形成
される許容差即ち隙間を効果的になくす。かくして、タ
ブレット（又は分析を受ける連続した同様のタブレッ
ト）が開口部に対して実質的に同じ位置に押圧され且つ
配置されることを保証でき、実質的に再現可能な分析結
果を提供する。

【００１０】上文中に説明したように、タブレットにエ
ンボス及び／又は刻み目線を設けることは一般的であ
り、そのため、タブレットのバッチの同様のタブレット
に分析を加える場合、タブレットが凹所内で同様に配向
されていることを保証することが重要である。通常、凹
所内の開口部の領域は、開口部に載ったタブレットの面
と比べて比較的小さく、そのため開口部に載ったタブレ
ットの領域に刻み目線やエンボスがある場合には、この
ようなエンボス又は刻み目線が提供する輪郭は、分析目
的でタブレットを透過する輻射線に大きな影響を及ぼ
す。このことに留意し、凹所に対するタブレットの小さ
なずれ（これに伴うエンボス又は刻み目線の小さなず
れ）（このずれは、タブレットを凹所に装着することに
よって生じ、又はタブレットホルダを分光光度分析装置
に装着する際の振動によって生じる）により、上文中に
論じた分析計測値が受入れ難く不定になる。本発明に従
ってタブレットに加えられたクランプ力は、タブレット
を凹所に対して固定し、タブレットに加えられるビーム
の方向に対してエンボス又は刻み目線を一定の位置に置
くことによって、この問題点をなくす。かくして、上述
の「所定位置」は、同じタブレットからなるバッチの各
タブレットを、凹所内でのタブレットの初期位置に拘わ
らずクランプ力で移動させた凹所内の位置であると考え
られ、この所定位置は、タブレットが凹所内で同様に配
向された場合には、バッチの全てのタブレットについて
同じである。便利には、クランプ力は、タブレットホル
ダの本体が支持するプレート等の一つ又はそれ以上のば
ね負荷された部材によって加えられる。ばね負荷された
部材には、凹所へのタブレットの配置及び凹所からのタ
ブレットの取り出しを容易にするため、ばね負荷された
部材をその押圧力に抗して手動で移動するのを便利にす
るためのレバーが設けられている。ばね負荷された部材
又は他のクランプ手段は、これが係合するタブレット表
面の部分と実質的に相補的に協働するように賦形されて
いるのがよい。

【００１１】上文中に説明したように、タブレットが凹
所内にぴったりと装着された状態で受け入れられるよう
に、凹所は、タブレットの周囲形状と実質的に相補的な
周囲形状を有する。従って、凹所は、通常は、商業的に
製造されるようになったタブレットの特定の形状及び大
きさに合わせて形成される。代表的なタブレットの周囲
形状は、円形、多角形（通常は六角形又は矩形）、台
形、三角形、楕円形、又は星型である。

【００１２】タブレットを透過した電磁輻射線から得ら
れたスペクトルを提供するのに使用される分光光度計の
感度のため、タブレットは、凹所に装着されたとき、分
析目的の開口部を通過する全ての電磁輻射線がタブレッ
トを透過することによって得られる程度まで開口部をシ
ールするのが望ましい。しかしながら、実際には、開口
部の周囲と完全なシールを形成するようにタブレットを
凹所に装着することは、特にタブレットにクランプ力を
加える場合には、極めて困難であるということがわかっ
ている。それにも拘わらず、凹所がタブレット用の座の
形態をなし、この座がタブレットを収容することによっ
て、近赤外線又は他の輻射線がタブレットと凹所との間
のタブレットの表面上を通過し、タブレットを透過した
輻射線以外の輻射線が開口部に進入することを阻止す
る。これは、凹所の底面と向き合うタブレットの面にエ
ンボス又は刻み目線が設けられている場合に特にいえる
ことである。従って、好ましくは、凹所に受け入れられ
るタブレットの面と凹所の底面とが実質的に相補的に協
働するように、タブレットの前記面と実質的に相補的な
底面を凹所に形成する。かくして、タブレットが平らな
面を有する場合には、凹所の底面は、これらの二つの面
が実質的に面と面とを向き合わせた状態で当接し、タブ
レットを透過する輻射線以外の迷光が開口部に進入しな
いようにするため、平らであるのがよい。同様に、タブ
レットが部分的に球形の面又は部分的に円筒形の面を備
えている場合には、実質的に相補的形状の凹状の輪郭を
形成するのがよい。しかしながら、凹状の底面とこの底
面と向き合ったタブレットの面との間のこのような相補
的関係は重要ではないということは理解されよう。例え
ば、タブレットが部分的に球形の面を備えている場合、
凹所は円形の開口部を持つ平らな底面を備えていてもよ
い。この場合、タブレットの部分的に球形の面が開口部
に着座し、この開口部の周囲に亘って光又は輻射線用の
シールを形成する。タブレットを透過した輻射線以外の
迷輻射線が開口部を通って検出器に加えられることを最
少にするため、効率的な輻射線シールを形成するのが好
ましいが、タブレットの各々は、凹状内で同様に配向さ
れた場合、このタブレットに加えられるクランプ力によ
って実質的に同じ位置まで移動されて固定されるため、
検出器に加えられるこのような迷輻射線は、ばねの全て
のタブレットについて実質的に同じであるということは
理解されよう。

【００１３】タブレットには、輻射線ビームがタブレッ
トに加えられる方向に対して垂直な方向にタブレットが
所定位置に押圧されるように、タブレットホルダによっ
て支持されたクランプ手段によって加えられるクランプ
力の他に、タブレットを凹状の底面に押し付ける圧力が
輻射線ビームの方向に加えられる。タブレットに作用す
るこのような圧力は、便利には、電磁輻射線を放出する
プローブの先端をタブレットに当接させることによって
行われる（タブレットを透過した輻射線以外の迷輻射線
がタブレットの周囲を通って開口部に進入することを阻
止するため、プローブとタブレットとの間を接触させる
のが望ましい）。

【００１４】上述のように、タブレットを収容する凹所
をタブレットホルダに設けるのが好ましい。タブレット
ホルダは、タブレットの交換を容易に行うため、分光光
度計から容易に取り出すことができ且つ容易に挿入でき
る。このようなタブレットホルダは、通常は金属プレー
トの形態であり、装置に装着するとき、開口部／凹所と
検出器との間で位置の変化が起こらない（この変化は、
分析計測値の再現性に悪影響を及ぼす）ことを保証する
ため、好ましくは、その開口部及び従って凹所を検出器
に対して所定の一定の位置に配置する。通常は、タブレ
ットホルダプレートは、装置内のその所定位置に自動的
に押し付けられ且つこの位置に維持されるようにばね負
荷されているか或いは他の方法で固定されている。

【００１５】本発明の方法及び装置によれば、タブレッ
トを透過した輻射線から一定であり且つ容易に再現でき
るスペクトルを提供でき、これらのスペクトルからタブ
レットの性質を計測でき、タブレットが所定の仕様に従
って製造されたかどうかを十分な精度で決定できる。か
くして、本発明は、大きな利点を提供する。例えば、タ
ブレットの特定のバッチ（分析を受けるタブレットがこ
れからランダムに選択される）の製造を続けることがで
きるという利点、又は従来、問題となっていた、品質評
価を行う上での日常的な遅れなしで、バッチを製造直後
にパッケージング工程に送ることができるという利点が
得られる。本発明の方法及び装置を使用することによる
この品質評価は、様々な製品のタブレットの同定を行う
上で基準に適合することがわかっている。品質評価に
は、同じ製品の異なる投与重量間を区別できること、硬
さが異なるタブレット間を区別し、硬さについての定量
的計測値を提供できること、バッチのタブレットの成分
の均等性を決定できること、有効性の異なる個々のバッ
チ間を区別できること、及びタブレットについての確実
な定量的評価を提供できること、及びタブレットを製造
中に正確な厚さについて検査できる品質試験を行うこと
ができることが含まれる。比較として、添付の例示の図
面のうち図８は、図７と同様の縦軸及び横軸を持つグラ
フを示す。このグラフは、図７に示す計測値を得るため
に分析を行ったタブレットと同じタブレットから得られ
たグラフである。図８に示すグラフは、図７のグラフに
ついて使用された１０回の走査と同じ方法で走査を１０
回行ったタブレットから得られたグラフであるが、図８
では、走査は、本発明の方法及び装置を用いて行った。
図８の全ての走査のグラフは一致し、線が一本だけのグ
ラフを提供し、これからタブレットの性質を薬剤製造の
目的の基準に合致した精度で決定できるということは、
明らかであろう。

【００１６】次に、タブレットを通して近赤外線透過の
計測によりタブレットの性質を分光光度分析するための
方法及び装置の一実施例を、添付図面を参照して単なる
例として説明する。

【００１７】

【発明の実施の形態】図１に示すタブレットホルダ１
は、円筒形ソケット３が側面に形成された本体２を構成
する主に矩形のアルミニウムプレート片から形成され
る。ソケット３の底面４には、円筒形ソケット３と同心
の円筒形凹所５が配置されている。凹所５の平らな底面
６には、ソケット３と同心の開口部７が配置されてお
り、この開口部は、本体２の反対側の面を通って開放し
ている。

【００１８】凹所５の半径方向内方及び外方（図２参
照）に移動自在であるように本体の軌道９内で長さ方向
に摺動自在のロッド８が本体２の平面内に配置されてお
り且つ凹所５内に半径方向に突出している。ロッド８
は、本体２に対し、凹所５に押し込まれるように、ばね
１０によって押圧されている。ロッド８をそのばね負荷
に抗して手動で移動し、ロッドを凹所５から引っ込める
ため、レバー１１がロッド８から突出している。ロッド
８の移動方向に対して実質的に垂直に凹所５の内方及び
外方に移動自在であるように本体の軌道１３内で長さ方
向に摺動自在の第２ロッド１２もまた、本体２の平面内
に配置されており且つ凹所５内に突出している。このロ
ッド１２は、ロッド８と同様に凹所５に押し込まれるよ
うに、ばね１４によって本体２に対して押圧されてい
る。ロッド１２にもレバー１５が設けられている。この
レバーにより、ロッドをそのばね負荷に抗して手動で凹
所５から移動できる。ホルダ１は、タブレット２０を収
容するようになっている（図２参照）。タブレットは、
円形の輪郭を有し、両部分球形凸面２１を有する。円形
の凹所５は、その直径がタブレット２０の直径よりも僅
かに大きいように機械加工してあり、そのため、ロッド
８及び１２は、これらのロッドの押圧ばね１０及び１４
の作用に抗して凹所５から完全に引っ込められた状態
で、タブレット２０を、凹所５内に（図２に示すよう
に）、タブレットの周囲と凹所５の円筒形の壁との間に
僅かな隙間を伴って配置できる。凹所５に収容されたタ
ブレット２０に関し、ロッド８及び１２は、ばね１０及
び１４によって解放され且つ押圧され、タブレット２０
の周囲にクランプとして作用し、これによってタブレッ
トを凹所５の円筒形の壁から移動でき且つこの壁に固定
できる。従って、ばね負荷されたロッド８及び１４が提
供するクランプ力によりタブレット２０は非常に小さな
量だけ移動されるが、この距離は、タブレットと凹所５
の円筒形の壁との間に最初に存在する隙間を埋め、開口
部７に対してこの開口部と重なる所定の位置までタブレ
ットを移動し固定するのに十分である。タブレット２０
が固定されるこの位置は、製造された１バッチのタブレ
ットから分析を行うために選択された全ての同じタブレ
ット２０について同じである。タブレット２０の部分球
形面２１は、そのクランプ状態では、円形の開口部７と
実質的に同心であり、開口部７に着座し且つこの開口部
の周囲と当接し、迷光近赤外線がタブレットの表面と開
口部７の周囲との間を通って開口部２１に進入すること
を確実に阻止する。

【００１９】次に、タブレット２０をクランプ状態で収
容したタブレットホルダ１を分光光度計に装着し、タブ
レットを透過した近赤外線ビームを計測することによっ
て、タブレットの性質（又はタブレットの材料）を分析
する。便利には、分光光度計は、フォス・エレクトリッ
ク社のタブレット分析機用のインタクト（インタクト
（INTACT）は登録商標である）で販売されている分光光
度計であると考えられる。タブレット分析機は、実質的
に平らなベッド３０を有し、このベッド上にタブレット
ホルダ１の本体２が面と面とを向き合わせて接触した状
態で摺動自在に受け入れられる。開口部７が分析機のポ
ート３１と重なる処置の位置まで本体２を移動する。ポ
ート３内には検出器３２が配置されており、この検出器
からスペクトル検出信号が周知の方法で得られる。タブ
レット本体が検出器３２上の所定位置に正確に配置され
るようにするため、本体２は、ベッド３０に設けられた
直立壁３３と、プレート又は同様の構成要素３４との間
で摺動自在に移動自在である。ホルダ１がその所定位置
でベッド３０に設けられたストップ（図示せず）に当接
するまでホルダ１を壁３３に押し付けるため、プレート
３４は、ばね３５によって平らなベッド３０に対して負
荷が加えられている。本体２には、タブレットホルダを
壁３３とばね負荷されたプレート３４との間に最初に配
置するのを容易にするための便利な案内面として役立つ
面取り部２Ａ、及びベッド３０上でのホルダの操作を便
利にするための摘み２Ｂが設けられているということに
着目されたい。平らなベッド３０上で所定位置にあると
き、タブレットホルダの円筒形ソケット３は、タブレッ
ト分析機の円筒形プローブ４０と同心である。プローブ
４０は、その先端４１をソケット３に入れるため、その
軸線方向に長さ方向に移動自在である。プローブの先端
は、ソケット３内に締まり摺動嵌めをなして受け入れら
れる。プローブ４０はファイバ束４２を収容しており、
これを通して近赤外線（ＮＩＲ）がその線源から伝達さ
れ、ビーム４５をプローブ先端の円形のポート４３を通
して長さ方向／軸線方向に差し向ける。ポート４３は、
開口部７と同心であり、タブレットの面２１の面積の９
０％以下の面積を有する。近赤外線ビーム４５は、ポー
ト４３を通してタブレット２０に差し向けられ、従っ
て、タブレット２０を透過した近赤外線ビーム４６が検
出器３２に加えられる。検出器３２は、計測値を提供
し、これらの計測値からタブレット材料の性質又は構造
を分析する。近赤外線ビーム４５は、ばね負荷されたロ
ッド８及び１２が提供するクランプ力の成分がタブレッ
ト２０の周囲に加えられる平面に対して実質的に垂直な
方向でタブレット２０の面に差し向けられているという
ことが図２からわかるであろう。

【００２０】プローブ４０は、ソケット３に進入するよ
うにその軸線の長さ方向に移動自在であり、こうした移
動中、先端４１は、好ましくは、タブレット２０に当接
し、圧力をタブレットに加え、タブレットを凹所５の底
面６に押し付ける。これにより、タブレットはホルダ１
内の所定位置に更にしっかりと固定され、タブレットと
凹所５の底面６との衝合による光シールを更に改善す
る。プローブ４０は、通常は、タブレット２０に加えら
れた不当な圧力を緩和し、タブレットの一体性を移動自
在するようにばね負荷されている。タブレット２０をタ
ブレットのバッチから選択された別の試料タブレットと
交換するため、及びタブレットホルダをタブレット分析
機から引っ込めるため、プローブ４０は、タブレットホ
ルダから引っ込めることができる。かくして、タブレッ
トの性質又はこれらのタブレットの材料／薬学的構造を
分析し、上文中に論じた販売目的について、タブレット
のバッチが基準に適合しているかどうかを決定できる。
各タブレット２０がタブレットホルダ１内で所定位置に
しっかりとクランプされているため、及びタブレットホ
ルダ１がベッド３０上でタブレット分析機内の所定位置
に検出器３２に対してしっかりとクランプされているた
め、特定のバッチ内の形状及び大きさが同じ全てのタブ
レットを同じ条件で分光光度分析機に掛けることができ
る。タブレットの面２１の一つ又はそれ以上にエンボス
や刻み目線がある場合には、特定のバッチから選択され
たタブレットをタブレットホルダに同じ配向で配置しな
ければならないということは理解されよう。

【００２１】図１及び図２を参照して上文中に説明した
方法及び装置を使用することによる分析計測値の再現効
率の表示として、添付の例示の図面のうちの図８に示す
同時に起こるグラフについての分析計測値が上述の方法
及び装置を使用することによって得られ、この際、図１
及び図２に示すのと同様であるが、ばね負荷されたクラ
ンプロッド８及び１２が省略してある（その結果、タブ
レット２０は、タブレットの周囲と凹所５の壁との間に
形成される比較的小さな隙間によって許容される無数の
様々な位置で、凹所５内に配置できる）方法及び装置に
より、分光光度分析が加えられた同じタブレットから、
添付の例示の図面のうち図７に示すグラフのアレイが得
られた。図７のグラフから得られた計測値は、薬剤タブ
レットの構造又は組成が基準に適合しているかどうか評
価する上で依拠するには正確性が不十分である。しかし
ながら、図８のグラフの計測値は、製造上の目的で確実
に基準に適合している。図１及び図２の方法及び装置
は、タブレットの迅速な非破壊品質評価を製造中に行う
ために有利に使用でき、そのため、製造サイクル時間が
短くなり、費用が大幅に節約される。

【００２２】タブレットホルダの凹所５は、通常は、特
定の所定のタブレットを収容するように機械加工等で本
体２に形成される。そのため、分光光度分析を受ける夫
々のタブレットに応じて凹所５の形状及び大きさが異な
る何種類かのタブレットホルダを利用するのがよい。凹
所５の底面６には、タブレットの面２１と対応する輪郭
が形成されており、そのため、タブレットを凹所５に収
容したとき、タブレットの面２１が底面６と実質的に相
補的に当接する。これは、タブレットと凹所５との間の
光シール特性を改善し、クランプ力を加えたときにタブ
レットを所定位置に保持するのを助けるということがわ
かっている。これに留意し、図３及び図４は、部分的に
円筒形の両面５１を持つ楕円形タブレット５０用のタブ
レットホルダの別の形態を示す。ここでは、凹所５は、
楕円形タブレットの輪郭に合わせて細長く、その底面６
Ａは、表面５１の輪郭と一致する部分的に円筒形の凹状
の輪郭を備えている。従って、タブレット５０が凹所５
に収容されている場合には、タブレットの面５１が表面
６Ａに実質的に相補的に当接し、タブレットとホルダと
の間の移動をなくし、光がタブレットと表面６Ａとの間
から開口部７に漏れないようにする。図３及び図４に示
す変形例のホルダ１には、図１の実施例におけるのと同
様のばね負荷されたクランプロッド１２が設けられてお
り、その結果、クランプ力がタブレット５０に加えら
れ、このタブレットをクランプ１２から遠方のその座６
Ａの端部の所定位置まで移動する。タブレット５０が細
長い構造をしており、且つタブレットの表面と表面６Ａ
との間が緊密に協働するため、タブレットを本体２に対
して所定位置に固定する上で単一のクランプ１２で適当
である。しかしながら、必要であれば、図１の構成と同
様に、ばね負荷された第２クランプロッド８を（図３に
仮想線で示すように）設けてもよい。

【００２３】図５のＡ、Ｂ、及びＣは、様々な形状のタ
ブレット（夫々、円形タブレット２０、矩形タブレット
６０、及び菱形形状タブレット７０である）にタブレッ
ト本体１内でクランプ力を加え、夫々の相補的形状の凹
所５、６５、及び７５の夫々の所定位置まで移動した例
を示す。これらの図では、先ず最初に、夫々の凹所５、
６５、及び７５内に仮想線輪郭で示すタブレット位置２
０、６０、７０に各タブレットを置く。説明を簡単にす
るため、各タブレットの周囲と、夫々のタブレットを受
け入れる相補的形状の凹所５、６５、及び７５の周囲と
の間に形成される隙間９０を大幅に誇張して示す。実際
には、隙間９０は、凹所へのタブレットの配置及び凹所
からのタブレットを取り出しを便利に行うことができる
ように、できるだけ小さくされている。凹所での各タブ
レットの初期位置は、隙間９０が許す範囲で様々に変化
させることができる。しかしながら、プレート本体２の
平面内で各タブレットにクランプ力を加えることによっ
て、タブレットは、このタブレットが受け入れられた凹
所に対し、隙間９０の部分を閉鎖し、クランプ力によっ
て一時的に維持される所定の位置で凹所の周壁にしっか
りと当接した状態に移動できる。図５のＡでは、タブレ
ット２０を移動し、このタブレットを所定位置に維持す
るため、円形タブレット２０には、互いに対して４５°
をなしており且つ凹所２０の全体に半径方向に差し向け
られた二つのクランプ力Ｆ１、Ｆ２が加えられている。
図５のＢでは、矩形のタブレット６０には、互いに対し
て９０°をなしており且つ凹所６５の夫々の側壁とほぼ
平行に差し向けられた二つのクランプ力Ｆ３、Ｆ４が加
えられ、そのため、所定位置では、タブレットの互いに
垂直な側面が凹所６５の側面と当接した状態でタブレッ
ト６０の外隅部６０Ａが凹所６５の内隅部と嵌合する。
図５のＣの菱形タブレット７０には、凹所及びタブレッ
トの一致する頂点を通して差し向けられた単一のクラン
プ力Ｆ５が加えられ、その結果、タブレットは、タブレ
ットの（頂点７０Ａから延びる）側面が凹所７５の側面
と当接した状態でその外頂点７０Ａが凹所７５の内頂点
と嵌合するように移動される。

【００２４】図６は、クランプ部材を示す。このクラン
プ部材は、ばね負荷されたロッド８を有し、このロッド
８は、クランププレート１００を支持する。プレート１
００はタブレット２０と当接し（タブレット２０を所定
位置まで移動すため）、当接するタブレットの部分と相
補的関係で係合する大きさ及び形状を持つように賦形さ
れている。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に従って形成したタブレットホルダの平
面図である。

【図２】図１のタブレットホルダを含む本発明に従って
形成した分光光度分析装置の部分断面概略側面図であ
る。タブレットホルダは、第１図のII−II線の断面で示
してある。

【図３】図１に示すタブレットとは形状が異なるタブレ
ットに適したタブレットホルダの変形例の形態の平面図
である。

【図４】図３のIV−IV線でのタブレットホルダの断面図
である。

【図５】Ａ、Ｂ、及びＣの夫々は、タブレットホルダの
凹所と相補的形状の様々な形状のタブレットをクランプ
力が加えられた状態で示す平面図である。

【図６】タブレットと相補的に協働するように賦形され
たクランプ部材の斜視図である。

【図７】従来のタブレット分析機で代表的な薬剤タブレ
ットについて得られたスペクトルである。

【図８】本発明の方法及び装置により薬剤タブレットに
ついて得られたスペクトルである。

【符号の説明】

１ タブレットホルダ ２ 本体 ３ 円筒形ソケット ４ 底面 ５ 円筒形凹所 ６ 底面 ７ 開口部 ８ ロッド ９ 軌道 １０ ばね １１ レバー １２ 第２ロッド １３ 軌道 １４ ばね １５ レバー ２０ タブレット ２１ 部分球形凸面 ３０ ベッド ３１ ポート ３２ 検出器 ３３ 直立壁 ３４ プレート ３５ ばね ４０ 円筒形プロ
ーブ ４１ プローブ先端 ４２ ファイバ束 ４３ ポート ４６ 近赤外線ビ
ーム

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 トニー・グラハム・アクソン イギリス国ケント シーティー13・９エヌ ジェイ，サンドウィッチ，ラムズゲート・ ロード，ファイザー・リミテッド (72)発明者 ラチェル・ブラウン イギリス国ケント シーティー13・９エヌ ジェイ，サンドウィッチ，ラムズゲート・ ロード，ファイザー・リミテッド

Claims (24)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 タブレットに加えられ且つこのタブレッ
   トを透過した電磁輻射線ビームからの透過計測値によっ
   て、前記タブレットの性質を分光光度分析するための方
   法であって、前記タブレットを凹所内に開口部と重なる
   ように配置する工程を有し、前記タブレットを透過した
   ビームからの輻射線が、計測値を分析するための検出器
   に前記開口部を通して加えられる、方法において、 前記タブレットに前記ビームを当てる方向に対して実質
   的に垂直な方向でクランプ力を前記タブレットに加える
   工程を有し、前記クランプ力は、前記タブレットを前記
   凹所内の所定位置に前記凹所に対して固定する作用をな
   す、ことを特徴とする方法。
2. 【請求項２】 前記凹所を前記検出器に対して所定の位
   置に固定する工程を有する、請求項１に記載の方法。
3. 【請求項３】 前記タブレットに対し、互いに対して実
   質的に垂直に差し向けられた二つのクランプ力構成要素
   から得られたクランプ力を前記タブレットに加える工程
   を有する、請求項１又は２に記載の方法。
4. 【請求項４】 前記二つのクランプ力構成要素は、前記
   タブレットに前記ビームを差し向ける方向に対して実質
   的に垂直な共通の平面内に配置されている、請求項３に
   記載の方法。
5. 【請求項５】 前記タブレットが前記凹所内にぴったり
   と受け入られるようにするため、前記タブレットの周囲
   形状と実質的に相補的な周囲形状を持つ凹所を形成する
   工程を有する、請求項１乃至４のうちのいずれか一項に
   記載の方法。
6. 【請求項６】 前記凹所に受け入れられるべき前記タブ
   レットの面と実質的に相補的な輪郭を提供する底面を前
   記凹所に形成する工程を有し、前記タブレットの前記面
   は前記凹所の前記底面と実質的に相補的に協働する、請
   求項１乃至５のうちのいずれか一項に記載の方法。
7. 【請求項７】 前記タブレットを前記凹所の前記底面に
   押し付けるため、前記タブレットに前記ビームを当てる
   方向と一致する方向で前記タブレットに圧力を加える工
   程を有する、請求項１乃至６のうちのいずれか一項に記
   載の方法。
8. 【請求項８】 タブレットに加えられ且つこのタブレッ
   トを透過した電磁輻射線ビームからの透過計測値によっ
   て、前記タブレットの性質を分析するための分光光度分
   析装置において、 前記タブレットを透過した輻射線が通過する開口部が配
   置された底面を持つ、分析中に前記タブレットを収容す
   るための凹所と、 前記タブレットの性質を分析するため、前記透過輻射線
   に応答する検出器とを有し、 前記タブレットに前記ビームを当てる方向に対して実質
   的に垂直な方向でクランプ力を前記タブレットに加え、
   前記タブレットを前記凹所に対して所定位置まで移動
   し、前記タブレットを前記凹所内の前記所定位置に固定
   することによって、前記タブレットを前記凹所に固定す
   るためのクランプ手段が設けられている、ことを特徴と
   する分光光度分析装置。
9. 【請求項９】 前記開口部を前記検出器に対して所定位
   置に固定するための固定手段を有する、請求項８に記載
   の装置。
10. 【請求項１０】 前記クランプ手段は、前記凹所内に収
    容された前記タブレットの周囲に当接するため、前記凹
    所の周囲に配置された少なくとも一つのばね負荷された
    クランプ部材を有する、請求項８又は９に記載の装置。
11. 【請求項１１】 前記凹所に収容されたタブレット上
    に、互いに対して実質的に垂直方向に差し向けられた二
    つのクランプ力構成要素を差し向けるように配置された
    二つの前記ばね負荷されたクランプ部材を有する、請求
    項１０に記載の装置。
12. 【請求項１２】 前記二つのクランプ力構成要素は、前
    記タブレットに前記ビームを当てる方向に対して実質的
    に垂直な平面内にある、請求項１１に記載の装置。
13. 【請求項１３】 前記凹所の前記底面は実質的に平らで
    ある、請求項８乃至１２のうちのいずれか一項に記載の
    装置。
14. 【請求項１４】 前記凹所の前記底面は、前記タブレッ
    トが着座する実質的に凹状の表面を提供するように賦形
    されている、請求項８乃至１２のうちのいずれか一項に
    記載の装置。
15. 【請求項１５】 前記ビームは、長さ方向に差し向けら
    れており、前記ビームは、前記凹所内の前記タブレット
    と当接でき且つ前記タブレットに圧力を加えて前記タブ
    レットを前記凹所の前記底面に押し付けることができる
    ように前記凹所に対して長さ方向に移動自在のプローブ
    から得られる、請求項８乃至１４のうちのいずれか一項
    に記載の装置。
16. 【請求項１６】 前記凹所、前記開口部、及び前記クラ
    ンプ手段はタブレットホルダに設けられており、このホ
    ルダは、前記タブレットを前記凹所内に配置したり前記
    タブレットを前記凹所から取り出したりすることを便利
    にするため、前記装置から取り出すことができる、請求
    項８乃至１５のうちのいずれか一項に記載の装置。
17. 【請求項１７】 前記タブレットホルダの開口部が前記
    検出器に対して所定位置に置かれた状態で、前記タブレ
    ットホルダを固定するための手段を有する、請求項１６
    に記載の装置。
18. 【請求項１８】 前記タブレットホルダ用の前記固定手
    段は、ベッド上の所定位置で前記タブレットホルダを固
    定的にクランプするばね負荷された部材を有し、前記ベ
    ッド内には前記検出器が配置されている、請求項１７に
    記載の装置。
19. 【請求項１９】 前記クランプ手段は、前記凹所内の前
    記タブレットと、前記クランプ手段が係合する前記タブ
    レットの部分と実質的に相補的に協働するように賦形さ
    れている、請求項８乃至１８のうちのいずれか一項に記
    載の装置。
20. 【請求項２０】 分光光度分析装置用タブレットホルダ
    において、 本体と、 タブレットを収容するために前記本体に設けられた凹所
    とを有し、 前記凹所は、前記タブレットを透過した輻射線を通過さ
    せて前記タブレットの性質を分析するための検出器に加
    える開口部が配置された底面を持ち、 前記タブレットにクランプ力を加えて前記タブレットを
    前記凹所に対して前記凹所内の所定位置まで移動し、前
    記タブレットを前記凹所内の前記所定位置に固定するこ
    とによって前記タブレットを前記凹所内に固定するため
    のクランプ手段が前記本体によって支持されている、こ
    とを特徴とするタブレットホルダ。
21. 【請求項２１】 前記クランプ手段は、前記タブレット
    の周囲を前記凹所と係合させ、前記クランプ力を加える
    ため、前記本体に対してばね負荷された少なくとも一つ
    のクランプ構成要素を有する、請求項２０に記載のホル
    ダ。
22. 【請求項２２】 二つの前記クランプ構成要素が設けら
    れており、これの構成要素は、前記本体に対してばね負
    荷されており、前記構成要素は、前記クランプ力構成要
    素を前記タブレットの周囲に当て、前記構成要素は、互
    いに対して実質的に垂直方向に差し向けられている、請
    求項２１に記載のホルダ。
23. 【請求項２３】 前記本体は、その側面に開放した凹所
    を持つ実質的に平らなプレートからなり、前記クランプ
    手段は、実質的に前記プレート本体の前記平面内で前記
    タブレットにクランプ力を加える、請求項２０、２１、
    又は２２に記載のホルダ。
24. 【請求項２４】 前記クランプ手段は、前記凹所内の前
    記タブレットと、前記クランプ手段が係合する前記タブ
    レットの部分と実質的に相補的に協働するように賦形さ
    れている、請求項２０乃至２３のうちのいずれか一項に
    記載のホルダ。