JPH11133035A - 液面検出機能を備えた自動分析装置 - Google Patents

液面検出機能を備えた自動分析装置

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JPH11133035A
JPH11133035A JP9299913A JP29991397A JPH11133035A JP H11133035 A JPH11133035 A JP H11133035A JP 9299913 A JP9299913 A JP 9299913A JP 29991397 A JP29991397 A JP 29991397A JP H11133035 A JPH11133035 A JP H11133035A
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晃 稲垣
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Abstract

(57)【要約】 【課題】サンプル容器がサンプルディスクに直接的にセ
ットされない場合でもその容器内のサンプルの液面を適
正に検出する。 【解決手段】サンプルディスク１０５に設置された試験
管６上にサンプル容器５を載せサンプル吸入位置へ移送
する。サンプル分注プローブ１０５とサンプルディスク
の間には液面検出用電極としての導電性部材１４が配置
される。分注プローブは最大高さ位置から下降し、分注
プローブの先端がサンプル液面に接触したときに導電性
部材と分注プローブの間の静電容量の変化が検出され、
分注プローブの下降動作が停止される。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、自動分析装置に係
り、特に一方の容器から他方の容器へ液面検出用電極を
兼ねた分注プローブにより液体を分注する機能を備えた
自動分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の自動分析装置は、血液や尿などの
生体液試料からなるサンプルを、サンプル容器から反応
ライン上の反応容器へ分注し、測定対象の分析項目に応
じた試薬を、試薬ボトルから反応容器へ分注し、サンプ
ルと試薬の混合液を光度計の如き測定手段によって測定
する。
【０００３】分注動作の際には、分注対象の液体内へ分
注プローブの先端を侵入させるが、その侵入深さが大き
いほどプローブ外壁への液体付着量が増しコンタミネー
ションが大きくなる。そこで、分注プローブの侵入深さ
を極力低減するために、容器内の液体の液面を検出しプ
ローブの先端が液面より僅かに下に達した位置でプロー
ブの下降動作を停止させ、次いでプローブ内へ所定量の
液体を吸入するように動作制御する。
【０００４】分注プローブが液面検出用の一方の電極を
兼ね、液体保持手段が液面検出用の他方の電極を兼ねた
ものであって、分注プローブと液体容器保持手段の間に
おける静電容量の変化により容器内の液面を検出する例
は、特開昭62−289769号公報及び特公平6−7112 号公報
に記載されている。これらの従来技術では、分注プロー
ブが電気的液面検出回路に接続されており、液体容器保
持手段が電気的に接地されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来技術を適
用した自動分析装置においては、分注対象のサンプルが
入ったサンプル容器は、容器保持手段の一形態としての
サンプルディスクに多数載置される。すべてのサンプル
容器がサンプルディスクに直接的にセットされた場合に
は、分注プローブとサンプルディスクの間における静電
容量の変化に基づく検出信号が検出のために十分に大き
な値を示すので、液面検出誤差が小さい。一方、サンプ
ル容器は、大きさの異なるものが複数種類用いられるこ
とが多いが、特に小さなサンプル容器の場合は、サンプ
ルディスクに直接的にセットすることもあれば、サンプ
ルディスクの容器装填部位に他の容器又は補助保持具を
設置した上に小容器を載せるようにして間接的にセット
することもある。サンプルディスクに対して長さが短い
小形のサンプル容器を間接的にセットした場合には、そ
のサンプル容器内のサンプルと液面検出用電極を兼ねて
いるサンプルディスクとの空間距離が大となり、分注プ
ローブが液面に接触したときに液面であると認識するの
に十分な大きさの検出信号が得られず、液面検出動作が
適正に実行されない。
【０００６】本発明の目的は、サンプル容器保持手段に
対し配置されている高さ位置が違うサンプル容器があっ
ても、サンプル容器用のサンプルの液面を適正に検出す
ることができる自動分析装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、液面検出用の
一方の電極を兼ねた分注プローブを用いてサンプル容器
から反応容器へサンプルを分注する分注装置と、液面検
出用の他方の電極を兼ねたサンプル容器保持手段と、分
注プローブとサンプル容器保持手段との間における静電
容量の変化を検出する電気的検出部と、反応容器の内容
物を測定する測定手段を備えた自動分析装置において、
分注プローブが降下する方向に沿って導電性部材を配置
し、この導電性部材が上記他方の電極と同電位であるよ
うに構成したことを特徴とする。
【０００８】本発明の望ましい実施例では、サンプル容
器保持手段は、保持するサンプル容器を分注プローブに
よるサンプル吸入位置に移送するように駆動され、導電
性部材は、サンプル容器保持手段から離間して配置され
且つサンプル吸入位置の近傍に配置される。この導電性
部材は、サンプル容器保持手段上のサンプル容器が通過
し得る間隙をもって対向配置された一対の板状部を含
む。サンプル容器保持手段及び上記導電性部材は、電気
的に接地される。
【０００９】また、本発明の望ましい実施例では、分注
プローブと導電性部材との間における静電容量の変化に
基づく電気的回路からの液面検出信号の出力に応じて分
注プローブの下降動作を制御する制御部を設ける。導電
性部材は、分注プローブが水平方向に移動するときのプ
ローブ下端の高さ位置よりも低い高さ位置とサンプル容
器保持手段の上端よりも高い高さ位置との間の領域に配
置される。この導電性部材は、分注プローブが降下する
方向に対し平行に延在された部分を有する。また、サン
プル容器保持手段は、保持するサンプル容器の外壁を囲
む領域が上記一方の電極としての導電体からなる。
【００１０】
【発明の実施の形態】図１は、本発明が適用される自動
分析装置の全体構成の概略図である。図１において、一
定温度に保たれた恒温水浴槽上には反応ディスク１０９
が間欠回転可能に配置される。反応ディスク１０９上に
は多数の反応容器１０６がサークル状に配置されてお
り、所定時間毎に回転と停止が行われ、反応容器列が反
応ライン上を移送される。上下方向及び水平方向に駆動
部（図示せず）によって動作される可動アーム２には、
サンプルを吸排するためのサンプル分注プローブ１０５
が取付けられる。サンプル分注プローブ１０５は、サン
プル容器保持手段としてのサンプルディスク１０２上に
設置されているサンプル容器１０１から反応ディスク１
０９上の反応容器１０６へサンプルを分注する。
【００１１】ここで、図２を参照して、液面検出ユニッ
トの構成を説明する。図２において、交流発振回路８か
ら出力される交流信号は、液面検出回路９に入力され
る。交流信号は正弦波が適正であるが、代りに方形波又
は三角波等を用いてもよい。液面検出回路９は、電気的
に接地されているサンプルディスク１０２とサンプル分
注プローブ１０５との間に生ずる静電容量の変化を検出
するための回路９３を有する。静電容量変化の検出回路
９３は、ブリッジ回路の如き既知の回路を含んでいる。
【００１２】液面検出回路９では交流状態のまま、検出
された静電容量の変化を増幅し、その増幅された信号は
整流回路１０に入力される。整流回路１０では入力され
た交流信号を直流信号に変換し、比較回路１１に入力さ
れる。比較回路１１では入力された静電容量信号の変化
を変化前の値と比較し、分注プローブ１０５と容器内の
液体の液面との接触の有無、つまり、液面検出の有無を
表す検出信号１２が得られる。
【００１３】プリント基板上に導電性物質で形成された
一対の放電素子９１ａ及び９１ｂのパターンは、０.１m
m 程度のギャップをおいて互に対向している。各放電素
子は対向する側の先端が、静電気が集中して放電しやす
いように尖っている。一対の放電素子の内の一方の放電
素子９１ａは電気的に接地されている。他方の放電素子
９１ｂは分注プローブ１０５に電気的に接続されると共
に、静電容量変化の検出回路９３に電気的に接続され
る。
【００１４】これにより、分注プローブ１０５を通して
検出される静電気の帯電等による外来ノイズ信号は一対
の放電素子９１ａ，９１ｂを介してアームに放電され、
静電容量変化の検出回路９３へのノイズ信号の伝達が抑
制される。更に、一対の放電素子のうちの他方の放電素
子９１ｂと静電容量変化検出回路９３との間にはインダ
クタンス９２が実装されている。このインダクタンス９
２は高周波に対して高インピーダンス特性を示すもので
ある。これにより、ノイズ信号のアースへの放電が助長
される。
【００１５】静電容量変化の検出回路９３の出力信号は
演算増幅器９４を通る。演算増幅器９４の増幅率は装置
の最小検出容量により異なるが、一般的には数十〜数百
倍である。演算増幅器９４の出力交流信号は整流回路１
０で直流化される。図２の例では、演算増幅器９４の正
負両方向出力をツエナーダイオード９５によってクラン
プするので、静電気ノイズやその他の外乱ノイズ等の突
発的信号、つまり、不要信号が整流回路１０に伝達され
ず、積分されない。従って、外来ノイズによる影響が極
めて小さい。
【００１６】図１の分析装置では、液面検出用の一方の
電極である金属製のサンプル分注プローブ１０５を液面
検出回路９に接続し、液面検出用の他方の電極である金
属製のサンプルディスク１０２を電気的に接地している
が、このような接続を逆にしてサンプルディスクを液面
検出回路に接続し分注プローブを接地することによって
も静電容量の変化を検出できる。図１の例では、サンプ
ルディスク１０２全体を導電性物質で構成しているが、
代りにサンプルディスクの大部分をプラスチックのよう
な非導電性物質で構成し、サンプル容器に直接的に当接
あるいは極めて近接する領域すなわちサンプル容器の外
壁を囲む領域だけに液面検出用の電極として働く導電性
物質を配設してもよい。いずれにしても、サンプルディ
スク102における各容器の保持部位は、容器の外壁を囲
むような形状で液面検出用電極として形成されている。
【００１７】図１における自動分析装置の構成をさらに
説明する。回転自在な試薬ディスク１２５上には分析対
象となる複数の分析項目に対応する試薬のボトル１１２
が配置されている。可動アームに取り付けられた試薬分
注プローブ１１０は、試薬ボトル１１２から反応容器１
０６へ所定量の試薬を分注する。
【００１８】サンプル分注プローブ１０５は、サンプル
用シリンジポンプ１０７の動作に伴ってサンプルの吸入
動作及び吐出動作を実行する。試薬分注プローブ１１０
は、試薬用シリンジポンプ１１１の動作に伴って試薬の
吸入動作及び吐出動作を実行する。各サンプルのために
分析すべき分析項目は、キーボード１２１又はCRT118の
画面のような入力装置から入力される。この自動分析装
置における各ユニットの動作は、コンピュータ１０３に
より制御される。
【００１９】サンプルディスク１０２の間欠回転に伴っ
てサンプル容器１０１はサンプル吸入位置へ移送され、
停止中のサンプル容器内にサンプル分注プローブ１０５
が降下される。その下降動作に伴って分注プローブ１０
５の先端がサンプルの液面に接触すると液面検出回路９
から検出信号が出力され、それに基づいてコンピュータ
１０３が可動アーム２の駆動部の下降動作を停止するよ
う制御する。次いで分注プローブ１０５内に所定量のサ
ンプルを吸入した後、分注プローブ１０５が上死点まで
上昇し、可動アーム２が水平方向に旋回し反応ディスク
１０９上の反応容器１０６の位置でサンプル分注プロー
ブ１０５を降下し反応容器１０６内へ保持していたサン
プルを吐出する。
【００２０】サンプルが入った反応容器１０６が試薬添
加位置まで移動されたときに、該当する分析項目に対応
した試薬が試薬分注プローブ１１０から添加される。サ
ンプル及び試薬の分注に伴ってサンプル容器１０１内の
サンプル及び試薬ボトル112内の試薬の液面が検出され
る。サンプル及び試薬が加えられた反応容器内の混合物
は、撹拌器１１３により撹拌される。反応容器列の移送
中に複数の反応容器が光源１１４からの光束を横切り、
各混合物の吸光度が測定手段としての光度計１１５によ
り測定される。
【００２１】吸光度信号は、Ａ／Ｄ変換器１１６を経由
しインターフェイス１０４を介してコンピュータ１０３
に入り、分析項目の濃度が計算される。分析結果は、イ
ンターフェイス１０４を介してプリンタ１１７に印字出
力するか又はCRT118に画面出力すると共に、メモリとし
てのハードディスク１２２に格納される。測光が終了し
た反応容器１０６は、洗浄機構１１９の位置にて洗浄さ
れる。洗浄用ポンプ１２０は、反応容器へ洗浄水を供給
すると共に、反応容器から廃棄を排出する。図１の例で
は、サンプルディスク１０２に同心円状に３列のサンプ
ル容器がセットできるように３列の容器保持部が形成さ
れており、サンプル分注プローブ１０５によるサンプル
吸入位置が各々の列に１箇ずつ設定されている。それら
のサンプル吸入位置にそれぞれ対応するように図３に示
すような導電性部材が配置される。この導電性部材は、
サンプル吸入位置におけるサンプル分注プローブの降下
開始前の高さ位置あるいはサンプル分注プローブが水平
方向に移動する直前の高さ位置でのプローブ下端よりも
低い高さ領域に配置される。しかも、この導電性部材
は、液面検出用の電極の１つを兼ねているサンプルディ
スク１０２の上端よりも高い高さ領域に配置される。
【００２２】図３における導電性部材１４は、金属，導
電性プラスチック、又は非導電性プラスチックの表面を
金属メッキ処理した物質で構成されており、サンプルデ
ィスク１０２と同電位にされる。すなわち、サンプルデ
ィスクが電気的に接地される場合には導電性部材１４も
接地される。サンプルディスクが液面検出回路９に電気
的に接続されるタイプのものであれば、導電性部材１４
も液面検出回路９に電気的に接続される。この導電性部
材１４は、サンプル分注プローブ１０５がサンプル吸入
位置にて垂直方向に降下及び上昇する方向に沿って配置
される。
【００２３】図３における導電性部材１４は、対向配置
された一対の板状部１４ａ及び14ｂを有し、上部が取付
用部品となるガード部１３に取付けられ保持されてい
る。ガード部１３及び導電性部材１４にはサンプル分注
プローブ１０５が垂直方向に自由に出入りできる貫通孔
１３ａが形成されている。ガード部１３は分析装置のベ
ースに取り付けられている。板状部１４ａ及び１４ｂは
互に平行に対向しており、それらの間隙は、サンプルデ
ィスク１０２上のサンプル容器１０１が通過できる程度
の距離であり、液面検出用の電極として機能し得る距離
である。図３の例では説明の都合上両板状部１４ａ，１
４ｂが平行平板となっているが、図１のサンプルディス
ク上方に配置する場合は各列のサンプル容器１０１の移
動軌跡に沿って湾曲された形状となる。
【００２４】板状部１４ａ，１４ｂは、サンプル分注プ
ローブ１０５の昇降方向と平行になるように垂直方向に
延在されている。板状部１４ａ，１４ｂの上下方向の長
さは、サンプル分注プローブ１０５が降下し得る距離の
全長の半分程度であるが、この長さは使用されるサンプ
ル容器の大きさによって変更される。取付用部品である
ガード部１３は、プラスチック又は金属のいずれで構成
してもよい。このガード部１３は、サンプル分注プロー
ブ１０５の動作中に外来物がプローブに接近することを
阻止するためのものであり、特に操作者の手が分注プロ
ーブに接触する危険性を防止する。
【００２５】図４及び図５は、サンプルディスク１０２
に対し小形のサンプル容器５をサンプルディスク１０２
に直接的にセットした場合（図４）と、補助保持具を介
して間欠的にセットした場合（図５）を示す。図５の例
では補助保持具として長さが１００mmの試験管６を用い
ている。図５のようにセットされた場合は、サンプル容
器７内のサンプルの液面がサンプルディスク１０２から
物理的に離れてしまうため、液面検出用の電極としての
サンプルディスク１０２とサンプル分注プローブ１０５
との静電容量の変化を適正に検出することが困難にな
る。
【００２６】サンプルディスク１０２と同電位であるよ
うに電気的に接地された導電性部材１４は、サンプル吸
入位置に対応して設けられる。この導電性部材１４は、
サンプルディスク１０２から離間され、サンプル分注プ
ローブ１０５からも離間して配置される。導電性部材１
４はサンプルディスク１０２と同種の液面検出用電極と
して機能する。
【００２７】図４の如きサンプル容器のセット状態で、
本発明を適用せずにサンプル容器５内のサンプル７の液
面を検出する場合、すなわち導電性部材１４を用いない
場合には、図６の破線に示す如く、サンプル分注プロー
ブ１０５とサンプルディスク１０２の間の静電容量値が
変化する。図４〜図７においてサンプル分注プローブ１
０５の高さ位置Ａは、分注プローブが最大上昇位置（上
死点）にあるときのプローブ下端の高さである。サンプ
ル分注プローブ１０５が反応容器１０６の方へ水平移動
するときは、高さ位置Ａの状態で移動開始する。高さ位
置Ｂは、分注プローブの下端がガード部１３に対応する
高さである。高さ位置Ｃは、図５の状態でのサンプルの
液面の高さである。高さ位置Ｄは、図４の状態でのサン
プルの液面の高さである。また、図６，図７において、
横軸は分注プローブの下降距離を示し、縦軸は静電容量
値Ｃｘ（単位はピコファラッド）を示す。
【００２８】図６の破線で示すように、サンプル分注プ
ローブ１０５が最大上昇位置から下降するに伴って分注
プローブにはガード部１３やサンプルディスク１０２の
浮遊容量が加わり、分注プローブ１０５に加わる静電容
量値はｃ１，ｃ２，ｃ４の如く変化する。液面高さ位置
Ｄまで下降すると静電容量値が急激に変化する。
【００２９】これに対し、図５の如きサンプル容器５の
セット状態であって、本発明を適用せずに導電性部材１
４を用いない場合には、図６の実線で示すように、静電
容量値がｃ１，ｃ２，ｃ５の如く変化する。つまり、サ
ンプル分注プローブ１０５の下端がサンプル７の液面に
接触しても（高さ位置Ｃで接触）、静電容量値の変化が
小さい。これはサンプル容器５が液面検出用の電極の１
つであるサンプルディスク１０２から物理的に離れてい
るからであり、静電容量の変化が小さいため検出するこ
とに困難が伴う。ｃ４とｃ５の静電容量値の差ｙが大き
いために液面検出用のしきい値を設定することにも困難
が伴う。
【００３０】次に、図４，図５及び図７を参照して本発
明を適用した場合の液面検出動作を説明する。まず、図
４のようなサンプル容器５のセット状態では、導電性部
材１４は液面検出に関与せず、もう１つの電極であるサ
ンプルディスク１０２が液面検出に関与する。サンプル
分注プローブ１０５が最大高さ位置Ａから降下すると図
７の破線で示したように静電容量値が変化し、プローブ
の先端が高さ位置Ｄにてサンプルの液面に接触すると静
電容量値ｃ４になる。このような変化は図６の破線の場
合とほぼ同じである。その液面検出信号１２の出力に伴
って、制御部であるコンピュータ１０３は可動アーム２
の下降動作を停止するように駆動部を制御する。
【００３１】次に、図５のようなサンプル容器５のセッ
ト状態では、サンプルディスク102が液面検出に実質的
に関与せず、もう１つの液面検出用電極である導電性部
材１４とサンプル分注プローブ１０５の間の静電容量の
変化が液面検出回路９によって検出される。サンプル分
注プローブ１０５を最大高さ位置Ａから徐々に降下する
と、図７の実線で示したように静電容量値がｃ１，ｃ
２，ｃ３の如く変化する。試験管６上に載置されている
サンプル容器５内のサンプル７の液面にサンプル分注プ
ローブ１０５の先端が接触すると、高さ位置Ｃにて静電
容量値が急激に変化しｃ３のようになる。この静電容量
値ｃ３は図４のセット状態で得られる値ｃ４とほぼ同じ
であり、液面検出用のしきい値の設定が容易である。そ
のような静電容量の変化に伴って液面検出信号１２が出
力され、可動アーム２の下降動作が停止するようにコン
ピュータ１０３により制御される。次いでサンプル分注
プローブ１０５には所定量のサンプルが吸入される。
【００３２】試験管６のような補助保持具を用いてサン
プル容器５を間接的にサンプルディスクにセットする場
合には、補助保持具の大きさによりサンプル容器５のセ
ット高さが変わる。また、分注の繰り返しによりサンプ
ル７の液面高さも変わる。導電性部材１４が、分注プロ
ーブの下降方向に沿って延在するように配置されてお
り、サンプル容器５のほぼ全長に沿って存在するように
構成されているので、液面高さが変っても確実に液面検
出できる。
【００３３】
【発明の効果】本発明によれば、サンプリング容器の保
持高さが違っても、分注プローブがサンプル液面に接触
した際の静電容量変化を確実に検出することが可能とな
り、高精度の液面検出ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明が適用される自動分析装置の全体構成を
示す概略図。
【図２】図１の分析装置における液面検出系を説明する
ための図。
【図３】サンプル分注位置における導電性部材の構成例
を示す図。
【図４】サンプル容器を直接セットしたときの液面検出
動作を説明するための図。
【図５】サンプル容器を間接的にセットしたときの液面
検出動作を説明するための図。
【図６】本発明を適用しない場合の液面検出動作を説明
するための図。
【図７】本発明を適用した場合の液面検出動作を説明す
るための図。
【符号の説明】
５…サンプル容器、６…試験管、９…液面検出回路、１
３…ガード部、１４…導電性部材、１４ａ，１４ｂ…板
状部、１０１…サンプル容器、１０２…サンプルディス
ク、１０３…コンピュータ、１０５…サンプル分注プロ
ーブ、１０６…反応容器、１０９…反応ディスク。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】液面検出用の一方の電極を兼ねた分注プロ
    ーブを用いてサンプル容器から反応容器へサンプルを分
    注する分注装置と、液面検出用の他方の電極を兼ねたサ
    ンプル容器保持手段と、上記分注プローブと上記サンプ
    ル容器保持手段との間における静電容量の変化を検出す
    る電気的検出部と、上記反応容器の内容物を測定する測
    定手段を備えた自動分析装置において、 上記分注プローブが降下する方向に沿って導電性部材を
    配置し、この導電性部材が上記他方の電極と同電位であ
    るように構成したことを特徴とする液面検出機能を備え
    た自動分析装置。
  2. 【請求項２】請求項１記載の自動分析装置において、上
    記サンプル容器保持手段は、保持するサンプル容器を上
    記分注プローブによるサンプル吸入位置に移送するよう
    に駆動され、上記導電性部材は、上記サンプル容器保持
    手段から離間して配置され且つ上記サンプル吸入位置の
    近傍に配置されることを特徴とする液面検出機能を備え
    た自動分析装置。
  3. 【請求項３】請求項２記載の自動分析装置において、上
    記導電性部材は、上記サンプル容器保持手段上のサンプ
    ル容器が通過し得る間隙をもって対向配置された一対の
    板状部を含むことを特徴とする液面検出機能を備えた自
    動分析装置。
  4. 【請求項４】請求項１記載の自動分析装置において、上
    記サンプル容器保持手段及び上記導電性部材は、電気的
    に接地されていることを特徴とする液面検出機能を備え
    た自動分析装置。
  5. 【請求項５】請求項１記載の自動分析装置において、上
    記分注プローブが昇降し得る穴を有しており外来物が上
    記分注プローブに接近することを阻止するためのガード
    部材を設け、このガード部材により上記導電性部材を保
    持することを特徴とする液面検出機能を備えた自動分析
    装置。
  6. 【請求項６】請求項１記載の自動分析装置において、上
    記導電性部材は、上記分注プローブが水平方向に移動す
    るときのプローブ下端の高さ位置よりも低い高さ位置と
    上記サンプル容器保持手段の上端よりも高い高さ位置と
    の間の領域に配置されることを特徴とする液面検出機能
    を備えた自動分析装置。
  7. 【請求項７】請求項１記載の自動分析装置において、上
    記分注プローブと上記導電性部材との間における静電容
    量の変化に基づく上記電気的回路からの液面検出信号の
    出力に応じて上記分注プローブの下降動作を制御する制
    御部を設けたことを特徴とする液面検出機能を備えた自
    動分析装置。
  8. 【請求項８】請求項１記載の自動分析装置において、上
    記導電性部材は、上記分注プローブが降下する方向に対
    し平行に延在された部分を有することを特徴とする液面
    検出機能を備えた自動分析装置。
  9. 【請求項９】請求項１記載の自動分析装置において、上
    記サンプル容器保持手段は、保持するサンプル容器の外
    壁を囲む領域が上記一方の電極としての導電体からなる
    ことを特徴とする液面検出機能を備えた自動分析装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017173064A (ja) * 2016-03-23 2017-09-28 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
WO2020056668A1 (zh) * 2018-09-20 2020-03-26 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 样本分析仪、采样装置及采样方法
JP2020526758A (ja) * 2017-07-10 2020-08-31 ジェン−プローブ・インコーポレーテッド 容量性流体レベル検出のためのレセプタクルホルダ、システム、および方法
JP2021148494A (ja) * 2020-03-17 2021-09-27 有限会社Nas技研 検査機器の薬液供給機器

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10052819B4 (de) * 2000-10-24 2004-02-19 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Pipettensystem und Pipettenarray sowie Verfahren zum Befüllen eines Pipettensystems
US6861034B1 (en) * 2000-11-22 2005-03-01 Xerox Corporation Priming mechanisms for drop ejection devices
JP2004317269A (ja) * 2003-04-16 2004-11-11 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
US7396512B2 (en) 2003-11-04 2008-07-08 Drummond Scientific Company Automatic precision non-contact open-loop fluid dispensing
US20060039835A1 (en) * 2004-08-18 2006-02-23 Consumer Innovation Partners, Lp Methods and devices for aromatherapy
JP4656511B2 (ja) * 2004-10-04 2011-03-23 日東電工株式会社 複合逆浸透膜の製造方法
EP1889015A4 (en) * 2005-06-08 2014-06-11 Lumenite Control Technology Inc SELF-CALIBRATING LIQUID LEVEL TRANSMITTER
ES2313200T3 (es) * 2005-09-21 2009-03-01 F. Hoffmann-La Roche Ag Metodo y aparato para el exacto posicionamiento de un dispositivo pipeteador.
JP2008093544A (ja) * 2006-10-10 2008-04-24 Nitto Denko Corp 複合半透膜及びその製造方法
DE102006052833A1 (de) * 2006-11-09 2008-05-15 Diasys Diagnostic Systems Gmbh Verfahren zum Feststellen einer Verstopfung, eines Koagels oder eines Pfropfens an der Aufnahmeöffnung einer Dosiernadel
JP2008246419A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Nitto Denko Corp 複合半透膜の製造方法
JP4464982B2 (ja) * 2007-03-30 2010-05-19 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
US8410948B2 (en) * 2008-05-12 2013-04-02 John Vander Horst Recreational vehicle holding tank sensor probe
CN104678120B (zh) 2010-02-26 2016-07-06 希森美康株式会社 试剂容器
JP5850625B2 (ja) * 2011-03-02 2016-02-03 シスメックス株式会社 分析装置及び位置確認方法
DE102011118612B4 (de) * 2011-11-16 2013-08-14 Euroimmun Medizinische Labordiagnostika Ag Vorrichtung zur Steuerung einer Pipettiervorrichtung
JP5903054B2 (ja) * 2013-02-01 2016-04-13 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
CN103604484B (zh) * 2013-10-29 2017-02-22 北京利德曼生化股份有限公司 用于全自动生化分析仪反应盘的液位探测装置
JP6173883B2 (ja) * 2013-10-31 2017-08-02 シスメックス株式会社 検体容器取出装置及び検体処理システム
WO2017223214A1 (en) * 2016-06-22 2017-12-28 Abbott Laboratories Liquid level sensing apparatus and related methods
CN111157715B (zh) * 2020-01-22 2025-01-17 宁波美康盛德生物科技有限公司 通道可扩展血液检测装置
EP4202443A1 (en) * 2021-12-22 2023-06-28 Tecan Trading AG Method and device for detecting contact of a pipette tip with a liquid as well as a laboratory system with such a device

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62289769A (ja) * 1986-06-10 1987-12-16 Toshiba Corp 自動化学分析装置の液面検出装置
JPH01178826A (ja) * 1988-01-08 1989-07-17 Hitachi Ltd 液面センサ
JPH04319624A (ja) * 1991-04-18 1992-11-10 Olympus Optical Co Ltd 液面検知装置
JPH067112B2 (ja) * 1984-06-13 1994-01-26 アボツト ラボラトリ−ズ 流体分析用の装置
JPH06241862A (ja) * 1993-02-12 1994-09-02 Olympus Optical Co Ltd 液面検知装置
JPH06265448A (ja) * 1993-03-15 1994-09-22 Hitachi Ltd 液体供給装置
JPH0894642A (ja) * 1994-07-28 1996-04-12 Hitachi Ltd 液体採取方法および装置
JPH08122126A (ja) * 1994-10-20 1996-05-17 Toshiba Corp 液面検知装置
JPH0915024A (ja) * 1995-06-30 1997-01-17 Kdk Corp 液面検知装置
JPH09127132A (ja) * 1995-10-31 1997-05-16 Hitachi Ltd 液面検出装置
JPH10246726A (ja) * 1997-03-05 1998-09-14 A & T:Kk 搬送ラインにおける容器内の液面検出方法および液面検出装置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2041678A1 (de) * 1969-09-06 1971-03-11 Greiner Electronic Ag Verfahren zum Betrieb einer Transferpipette
US4326851A (en) * 1980-10-24 1982-04-27 Coulter Electronics, Inc. Level sensor apparatus and method
JPS5782769A (en) * 1980-11-10 1982-05-24 Hitachi Ltd Automatic analyzing device
US4736638A (en) * 1985-12-20 1988-04-12 Beckman Instruments, Inc. Liquid level sensor
US4749988A (en) * 1986-11-20 1988-06-07 Imtec Products, Inc. Non-invasive liquid level sensor
JP2582795B2 (ja) * 1987-08-10 1997-02-19 株式会社東芝 液面検知装置
JP2501460B2 (ja) * 1988-03-23 1996-05-29 オリンパス光学工業株式会社 ヘマトクリット値の測定方法
JPH063395B2 (ja) * 1988-08-26 1994-01-12 株式会社日立製作所 液面検出機能を有する分析装置
US5027075A (en) * 1989-09-18 1991-06-25 Nova Biomedical Corporation Apparatus for determination of probe contact with a liquid surface
JPH0510958A (ja) * 1991-07-02 1993-01-19 Olympus Optical Co Ltd 分析装置
US5648727A (en) * 1995-10-24 1997-07-15 Dpc Cirrus Inc. Capacitive level sensing pipette probe
JP3158054B2 (ja) * 1996-07-19 2001-04-23 株式会社日立製作所 液体採取装置
DE19750642C2 (de) * 1996-11-19 1998-11-26 Hitachi Ltd Analysator mit Pipettiersonde
US5866426A (en) * 1996-12-17 1999-02-02 Akzo Nobel N.V. Device and method for determining liquid-probe contact

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH067112B2 (ja) * 1984-06-13 1994-01-26 アボツト ラボラトリ−ズ 流体分析用の装置
JPS62289769A (ja) * 1986-06-10 1987-12-16 Toshiba Corp 自動化学分析装置の液面検出装置
JPH01178826A (ja) * 1988-01-08 1989-07-17 Hitachi Ltd 液面センサ
JPH04319624A (ja) * 1991-04-18 1992-11-10 Olympus Optical Co Ltd 液面検知装置
JPH06241862A (ja) * 1993-02-12 1994-09-02 Olympus Optical Co Ltd 液面検知装置
JPH06265448A (ja) * 1993-03-15 1994-09-22 Hitachi Ltd 液体供給装置
JPH0894642A (ja) * 1994-07-28 1996-04-12 Hitachi Ltd 液体採取方法および装置
JPH08122126A (ja) * 1994-10-20 1996-05-17 Toshiba Corp 液面検知装置
JPH0915024A (ja) * 1995-06-30 1997-01-17 Kdk Corp 液面検知装置
JPH09127132A (ja) * 1995-10-31 1997-05-16 Hitachi Ltd 液面検出装置
JPH10246726A (ja) * 1997-03-05 1998-09-14 A & T:Kk 搬送ラインにおける容器内の液面検出方法および液面検出装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017173064A (ja) * 2016-03-23 2017-09-28 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP2020526758A (ja) * 2017-07-10 2020-08-31 ジェン−プローブ・インコーポレーテッド 容量性流体レベル検出のためのレセプタクルホルダ、システム、および方法
JP2023017995A (ja) * 2017-07-10 2023-02-07 ジェン－プローブ・インコーポレーテッド 容量性流体レベル検出のためのレセプタクルホルダ、システム、および方法
WO2020056668A1 (zh) * 2018-09-20 2020-03-26 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 样本分析仪、采样装置及采样方法
JP2021148494A (ja) * 2020-03-17 2021-09-27 有限会社Nas技研 検査機器の薬液供給機器

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