JPH11148861A - マイクロブリッジ構造 - Google Patents

マイクロブリッジ構造

Info

Publication number
JPH11148861A
JPH11148861A JP10239874A JP23987498A JPH11148861A JP H11148861 A JPH11148861 A JP H11148861A JP 10239874 A JP10239874 A JP 10239874A JP 23987498 A JP23987498 A JP 23987498A JP H11148861 A JPH11148861 A JP H11148861A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor
thin film
section
substrate
support
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10239874A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenichi Nonaka
賢一 野中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Honda Motor Co Ltd
Original Assignee
Honda Motor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Honda Motor Co Ltd filed Critical Honda Motor Co Ltd
Priority to JP10239874A priority Critical patent/JPH11148861A/ja
Priority to EP98116953A priority patent/EP0902479A1/en
Priority to US09/150,329 priority patent/US6165587A/en
Publication of JPH11148861A publication Critical patent/JPH11148861A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N19/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one thermoelectric or thermomagnetic element covered by groups H10N10/00 - H10N15/00
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/0225Shape of the cavity itself or of elements contained in or suspended over the cavity
    • G01J5/023Particular leg structure or construction or shape; Nanotubes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • G01J5/20Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using resistors, thermistors or semiconductors sensitive to radiation, e.g. photoconductive devices
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24174Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including sheet or component perpendicular to plane of web or sheet
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24802Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24802Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.]
    • Y10T428/24851Intermediate layer is discontinuous or differential

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 機械的強度が向上したマイクロブリッジ構造
を提供すること。 【解決手段】 マイクロブリッジ構造は、基板1から離
隔して設けられた薄膜部2と、前記薄膜部2の周辺部に
前記基板から離隔して形成され、前記薄膜部を支持する
ための支持部3,4とを具備する。前記支持部3,4
は、補強部6により補強されている。また、前記薄膜部
2も、周辺部の少なくとも一部に設けられた補強部6に
より補強されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板から離隔され
た薄膜部を支持部によって支持するマイクロブリッジ構
造に関する。
【0002】
【従来の技術】この種のマイクロブリッジ構造を使用す
るものの例として、非冷却型の赤外線イメージセンサが
知られている。
【0003】図9は、IC製造技術を利用して製造され
る従来の非冷却型赤外線イメージセンサにおけるセンサ
素子の構造を示している。センサ素子は、センサ部2と
支持部3,4からなる。図10は、従来のセンサ素子の
支持部3,4の一部の形状を示す斜視図である。
【0004】赤外線イメージセンサでは、複数のセンサ
素子が2次元的にマトリクス状に配置され、各センサ素
子が図9に示すように形成されている。センサ素子は、
センサ部2に入射する赤外線の熱量による抵抗値の変化
を電気信号としてとり出すボロメータ型のものである。
センサ感度を上げるために、センサ部2は、基板1に対
する熱的絶縁をとるように基板1から離隔されたブリッ
ジ構造を持つように形成されている。
【0005】また、センサ部2の表面には温度によって
抵抗値が変化する材料で形成されたセンサ抵抗パターン
5が形成されている。支持部3、4にも同じセンサ抵抗
パターン5の材料からなるパターン8が形成されてい
る。支持部3、4を介して、センサ部2の検出結果は、
基板1に形成されているセンサ信号の出力回路(図示せ
ず)に電気的に接続される。
【0006】このような赤外線センサ素子にあって、セ
ンサ感度を上げるためには、(1)センサ部2において
吸収される赤外線の量を増やすこと、(2)センサ部2
で発生されるノイズを低減すること、(3)センサ部2
への熱絶縁性を改善すること等の点である。また、感度
に加えて、応答性を改善するためには、センサ部2の熱
容量を小さくすることが必要である。
【0007】センサ部2の熱容量を小さくするために
は、センサ部2の構成材料に比熱の小さいものを使用す
ること、センサ部2の膜厚を薄くすること、センサ部2
の面積を小さくすることが考えられる。製造プロセスの
関係から、センサ部2には一般にシリコン酸化物あるい
はシリコン窒化物が用いられており、使用可能な材料は
限られている。また、センサ部2の面積は小さくできな
い場合がある。入射赤外線を十分に吸収するためには、
反対に、センサ部2の面積を大きくすることが望まれる
場合がある。
【0008】そのような場合に、熱容量を小さくするた
めには、センサ部2を薄くしなければならない。しかし
ながら、センサ部2が基板1から離隔されている場合、
センサ部2の膜厚を薄くすることは、強度の観点から問
題がある。
【0009】支持部3、4に注目すれば、熱伝導率が低
い材料を使って、より薄く、細く、長くした熱抵抗の高
い構造にして、基板1に対する断熱を図ることが必要に
なる。しかし、マイクロマシニング加工で用いることの
できる材料は限られており、材料的にも、また、強度的
にも限界がある。
【0010】このように、センサ部2を2つの支持部
3、4によって基板1から浮かせたブリッジ構造をとる
赤外線センサ素子にあっては、センサ部2における断熱
および熱容量に関する熱的特性の向上と構造的な強度の
保持とは相反する関係にある。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題を
解決するためになされたものである。従って、本発明の
目的は、支持部の機械的強度が向上したマイクロブリッ
ジ構造を提供することにある。
【0012】また、本発明の他の目的は、支持部ととも
に、薄膜部の機械的強度も向上したマイクロブリッジ構
造を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明のある観点を達成
するために、マイクロブリッジ構造は、基板から離隔し
て設けられた薄膜部と、前記薄膜部の周辺部に前記基板
から離隔して形成され、前記薄膜部を支持するための支
持部とを具備し、前記支持部は、補強部により補強され
ていることを特徴とする。
【0014】また、本発明の他の観点を達成するため
に、マイクロブリッジ構造基板から離隔して設けられた
薄膜部と、前記薄膜部の周辺部に前記基板から離隔して
形成され、前記薄膜部を支持するための支持部とを具備
し、前記薄膜部は補強部により補強されていることを特
徴とする。ここで、前記補強部は、前記薄膜部の周辺部
の少なくとも一部に設けられていることが望ましい。
【0015】前記補強部は、前記支持部の一方の側の長
手方向に設けられた段差部であってもよいし、或いは、
前記支持部の両側の長手方向に設けられた段差部であっ
てもよい。
【0016】また、前記補強部は、逆T字型の断面を持
つように形成されてもよいし、あるいは、T字型の断面
を持つように形成されてもよい。逆T字型あるいはT字
型の断面を持つ補強部が前記補強部として前記薄膜部の
周辺部の少なくとも一部において形成されていることが
のぞましい。
【0017】
【発明の実施の形態】以下に添付図面を参照して、本発
明のマイクロブリッジ構造について、非冷却型の赤外線
センサ素子を例に取り詳細に説明する。
【0018】本発明の第1の実施形態によるマイクロブ
リッジ構造を採用する赤外線センサについて説明する。
本発明の第1の実施形態による赤外線センサは複数の赤
外線センサ素子がマトリクス状に配列されている。
【0019】図1は、本発明の第1の実施形態による赤
外線センサの1つの赤外線センサ素子の構造を示す斜視
図である。赤外線センサは、入射する赤外線の熱による
抵抗値の変化を電気信号として出力するボロメータ型の
ものである。図1を参照して、第1の実施形態による赤
外線センサ素子について説明する。
【0020】図1において、第1の実施形態による赤外
線センサ素子は、半導体基板1上に基板1から離隔して
設けられた薄膜部としての赤外線センサ部2を具備し、
ブリッジ構造のセンサ部2が形成されている。
【0021】センサ部2は、シリコン窒化物やシリコン
酸化物からなっている。センサ部2は、できるだけ熱容
量を小さくするように、薄型に形成される。こうして、
センサ感度及び応答速度を向上させることができる。
【0022】センサ部2の表面には、温度によって抵抗
値が変化するセンサ抵抗パターン5が形成されている。
赤外線が入射されたとき、その熱量によりセンサ抵抗パ
ターンの抵抗値が変化し、その変化が検出される。従っ
て、センサ抵抗パターン5の材料は高い温度係数を持つ
材料を使用することが望ましい。第1の実施形態では、
センサ抵抗パターン5の材料には、チタン等の金属や酸
化バナジウム等の半導体が用いられる。
【0023】センサ部2の下の基板1の表面には、セン
サ部2からの信号を処理するための回路部(図示せず)
が設けられている。図1に示すように、センサ部2の周
囲には、センサ部2での検出結果を基板1の回路部に接
続するための支持部3,4が設けられている。支持部
3、4は、センサ部2の一辺に沿って延び、最終的に基
板1に接続されている。
【0024】また、検出結果の接続と同時に、支持部
3,4は、センサ部2が基板1から離隔されるようにセ
ンサ部2を支持している。こうして、センサ部2と支持
部3、4とは、矩形の領域を形成している。
【0025】図1に示されるように、支持部3,4にも
センサ部2のセンサ抵抗パターン5と同じ材料からなる
パターン8が形成されている。これにより、支持部3、
4を介して、センサ部2と基板1に形成されているセン
サ信号の出力回路とが電気的に接続される。
【0026】尚、回路部はセンサ部2の下では無く、他
の領域に複数の赤外線センサ素子用に回路部を集中的に
設けても良い。このときには、脚部3、4からその回路
部への配線パターンが基板1の表面上に形成される。
【0027】また、センサ部2が小面積を持つように形
成されるときには、支持部3,4はセンサ部2を囲むよ
うに設けられてもよい。この場合には、支持部3、4を
さらに長くすることが可能となり、センサ部2の熱絶縁
性をさらに改善することができる。
【0028】以上のように、本発明の赤外線センサは、
基板1からセンサ部2が離隔されたマイクロブリッジ構
造をとる非冷却型の赤外線センサである。
【0029】図2は、支持部3,4の一方の側の長手方
向に設けられた補強段6を示す斜視図である。本発明の
赤外線センサでは、支持部3,4を薄く、細く、長くし
て熱抵抗の高め、センサ部2の熱絶縁性を高めることが
センサ部2のセンサ感度の向上の為に必要である。しか
しながら、支持部3,4を単に薄く、細く、長くする
と、機械的強度が弱くなり、赤外線センサ素子の破損の
危険が高まる。そこで、支持部3,4の一端側に長手方
向に沿って補強段6が形成されている。支持部が単なる
平板状に形成されている従来のセンサ素子と較べて、本
発明のセンサ素子では一桁以上高い構造上の強度を得る
ことができる。
【0030】次に、本発明の第2の実施形態によるマイ
クロブリッジ構造について図3と図4を参照して説明す
る。
【0031】図4に示されるように、第2の実施形態に
よるマイクロブリッジ構造では、支持部3,4の両側の
長手方向に補強段6が形成されている。また、図3に示
されるように、センサ部2の周囲にも補強段6が設けら
れている。この場合、センサ部2を薄くすることがで
き、熱容量を小さくすることができる。こうして、支持
部3,4とセンサ部2を高強度構造にすることができ
る。
【0032】次に、本発明の第3の実施形態によるマイ
クロブリッジ構造について図5、図6、図7を参照して
説明する。図5は、本発明の第3の実施形態によるマイ
クロブリッジ構造を示す斜視図である。図6は、第3の
実施形態で使用される支持部を説明するための断面斜視
図である。図7は、本発明の第3の実施形態によるマイ
クロブリッジ構造を示す平面図である。
【0033】図6から明らかなように、支持部3,4の
断面は、逆T字型を持っている。支持部3,4に設けら
れるパターン8は、逆T字型の中に埋め込まれている。
逆T字型の補強部6はセンサ部2の周辺部にも設けられ
ている。逆T字型の補強部6で囲まれたセンサ部2の中
央部ではセンサ抵抗パターン5が露出している。この結
果、補強部がセンサ部2の周囲に形成されても、センサ
部2の動作を妨げることはない。このようにして、薄膜
部としてのセンサ部2の強度の向上が図られている。
尚、センサ抵抗パターン5は、センサ部2の中に埋め込
まれていても良いことに注意すべきである。
【0034】尚、第3の実施形態では、補強部6がセン
サ部2の周囲の全体に形成されているが、補強部6はセ
ンサ部2の周囲に部分的に設けられてもよい。その場合
でも、センサ部2の補強効果はある。
【0035】支持部3,4の補強部6は、図10に示さ
れる従来の支持部の上に支持部3,4と同一の材料から
なる上層を積層し、それらをドライエッチングすること
により作成することができる。ドライエッチングには反
応性イオンエッチング(RIE)等の異方性のエッチン
グ方法が望ましい。上層の材料が異なる場合には、ドラ
イエッチングの条件を層ごとに変えてドライエッチング
を行えばよい。
【0036】次に、本発明の第4の実施形態によるマイ
クロブリッジ構造について図8を参照して説明する。図
8は、第4の実施形態で使用される支持部を説明するた
めの断面斜視図である。図8から明らかなように、支持
部3,4の断面は、T字型を持っている。支持部3,4
に設けられるパターン8は、T字型の中に埋め込まれて
いる。T字型の補強部6はセンサ部2の周辺部にも設け
られている。T字型の補強部6で囲まれたセンサ部2の
中央部ではセンサ抵抗パターン5が露出している。この
結果、補強部がセンサ部2の周囲に形成されても、セン
サ部2の動作を妨げることはない。このようにして、薄
膜部としてのセンサ部2の強度の向上が図られている。
尚、センサ抵抗パターン5は、センサ部2の中に埋め込
まれていても良いことに注意すべきである。
【0037】本発明は、以上説明したボロメータ型の赤
外線センサに限らず、その他焦電型、熱電対型などの全
ての非冷却型のセンサにも適用が可能である。
【0038】また、本発明は、非冷却型の赤外線センサ
素子に限らず、基板から浮かせた薄膜部を支持部によっ
て基板上に支持するようにしたマイクロブリッジ構造に
広く適用されるものである。
【0039】上記の如く、表面マイクロマシン構造を一
例により本発明を説明したが、バルクマイクロマシン構
造においても本発明の構造を適用できることは明らかで
ある。
【0040】
【発明の効果】以上、本発明によれば、基板から離隔さ
れた薄膜部が支持部によって基板上に支持されるマイク
ロブリッジ構造において、支持部に補強段が形成される
ので、構造体の強度を向上させることができる。このた
め、支持部をより薄く、細く、長くすることが可能とな
り、薄膜部の熱絶縁性を向上させることができる。
【0041】また薄膜部にも補強段が形成されれば、構
造体の強度をさらに向上させることができる。これによ
り、薄膜部をより薄く形成することが可能となり、薄膜
部の熱容量の低減化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態によるマイクロブリッ
ジ構造が適用される赤外線センサ素子の構成を示す斜視
図である。
【図2】本発明の第1の実施形態によるマイクロブリッ
ジ構造が適用される赤外線センサ素子で使用される支持
部の一部を示す斜視図である。
【図3】本発明の第2の実施形態によるマイクロブリッ
ジ構造が適用される赤外線センサ素子の構成を示す斜視
図である。
【図4】本発明の第2の実施形態によるマイクロブリッ
ジ構造が適用される赤外線センサ素子で使用される支持
部の一部を示す斜視図である。
【図5】本発明の第3の実施形態によるマイクロブリッ
ジ構造が適用される赤外線センサ素子の構成を示す斜視
図である。
【図6】本発明の第3の実施形態によるマイクロブリッ
ジ構造が適用される赤外線センサ素子で使用される支持
部の一部を示す斜視図である。
【図7】本発明の第3の実施形態によるマイクロブリッ
ジ構造が適用される赤外線センサ素子の構成を示す平面
図である。
【図8】本発明の第4の実施形態によるマイクロブリッ
ジ構造が適用される赤外線センサ素子で使用される支持
部の一部を示す斜視図である。
【図9】従来のマイクロブリッジ構造が適用される赤外
線センサ素子の構成を示す斜視図である。
【図10】従来のマイクロブリッジ構造が適用される赤
外線センサ素子で使用される支持部の一部を示す斜視図
である。
【符号の説明】
1: 基板 2: 薄膜部(センサ部) 3,4: 支持部 5: センサ抵抗パターン 6: 補強部 8: 支持部上の接続パターン

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板から離隔して設けられた薄膜部と、 前記薄膜部の周辺部に前記基板から離隔して形成され、
    前記薄膜部を支持するための支持部とを具備し、 前記支持部は、補強部により補強されていることを特徴
    とするマイクロブリッジ構造。
  2. 【請求項2】基板から離隔して設けられた薄膜部と、 前記薄膜部の周辺部に前記基板から離隔して形成され、
    前記薄膜部を支持するための支持部とを具備し、 前記薄膜部は補強部により補強されていることを特徴と
    するマイクロブリッジ構造。
  3. 【請求項3】前記補強部は、前記薄膜部の周辺部の少な
    くとも一部に設けられていることを特徴とする請求項2
    に記載のマイクロブリッジ構造。
  4. 【請求項4】前記補強部は、前記支持部の一方の側の長
    手方向に設けられた段差部であることを特徴とする請求
    項1に記載のマイクロブリッジ構造。
  5. 【請求項5】前記補強部は、前記支持部の両側の長手方
    向に設けられた段差部であることを特徴とする請求項1
    に記載のマイクロブリッジ構造。
  6. 【請求項6】前記補強部は、逆T字型の断面を持つよう
    に形成されていることを特徴とする請求項1または2に
    記載のマイクロブリッジ構造。
  7. 【請求項7】前記補強部は、T字型の断面を持つように
    形成されていることを特徴とする請求項1または2に記
    載のマイクロブリッジ構造。
  8. 【請求項8】前記補強部は、前記薄膜部の周辺部の少な
    くとも一部において突出した突出部であることを特徴と
    する請求項2に記載のマイクロブリッジ構造。
JP10239874A 1997-09-09 1998-08-26 マイクロブリッジ構造 Pending JPH11148861A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10239874A JPH11148861A (ja) 1997-09-09 1998-08-26 マイクロブリッジ構造
EP98116953A EP0902479A1 (en) 1997-09-09 1998-09-08 Microbridge structure with reinforcement section
US09/150,329 US6165587A (en) 1997-09-09 1998-09-09 Microbridge structure with reinforcement section

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9-284208 1997-09-09
JP28420897 1997-09-09
JP10239874A JPH11148861A (ja) 1997-09-09 1998-08-26 マイクロブリッジ構造

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11148861A true JPH11148861A (ja) 1999-06-02

Family

ID=26534464

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10239874A Pending JPH11148861A (ja) 1997-09-09 1998-08-26 マイクロブリッジ構造

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6165587A (ja)
EP (1) EP0902479A1 (ja)
JP (1) JPH11148861A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100704518B1 (ko) * 1999-08-24 2007-04-09 키네티큐 리미티드 마이크로-브리지 구조체
KR100704948B1 (ko) * 1999-09-13 2007-04-10 허니웰 인크. 열센서 및 그 제조방법
JP2010237117A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Panasonic Electric Works Co Ltd 赤外線アレイセンサ
JPWO2011039797A1 (ja) * 2009-09-29 2013-02-21 パイオニア株式会社 Memsセンサ
WO2015141496A1 (ja) * 2014-03-19 2015-09-24 住友精密工業株式会社 赤外線センサ及びその製造方法

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1177204C (zh) * 1998-12-18 2004-11-24 株式会社大宇电子 结构稳定的红外线辐射热测量器
US6576556B2 (en) * 2000-09-21 2003-06-10 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method of manufacturing semiconductor device and method of manufacturing infrared image sensor
JP3957178B2 (ja) * 2002-07-31 2007-08-15 Tdk株式会社 パターン化薄膜形成方法
FR2875298B1 (fr) * 2004-09-16 2007-03-02 Commissariat Energie Atomique Detecteur thermique de rayonnement electromagnetique comportant une membrane absorbante fixee en suspension
ITMI20051074A1 (it) * 2005-06-10 2006-12-11 Marco Mietta "modello di sommergibile radiocomandato a immersione statica"
CN100391238C (zh) * 2006-04-12 2008-05-28 中国科学技术大学 光学读出热型红外图像传感器
CN100453443C (zh) * 2006-12-01 2009-01-21 中国科学技术大学 玻璃基底光学读出红外传感器
FR2930639B1 (fr) * 2008-04-29 2011-07-01 Ulis Detecteur thermique a haute isolation
CN106989829A (zh) * 2017-05-11 2017-07-28 合肥芯福传感器技术有限公司 一种加强型结构的mems图像传感器像元

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0676917B2 (ja) * 1985-11-13 1994-09-28 松下電器産業株式会社 焦電型赤外線アレイセンサ
US5300915A (en) * 1986-07-16 1994-04-05 Honeywell Inc. Thermal sensor
US5286976A (en) * 1988-11-07 1994-02-15 Honeywell Inc. Microstructure design for high IR sensitivity
US5526688A (en) * 1990-10-12 1996-06-18 Texas Instruments Incorporated Digital flexure beam accelerometer and method
US5288649A (en) * 1991-09-30 1994-02-22 Texas Instruments Incorporated Method for forming uncooled infrared detector
US5260225A (en) * 1991-12-20 1993-11-09 Honeywell Inc. Integrated infrared sensitive bolometers
DE69221901T2 (de) * 1992-07-08 1998-01-29 Honeywell Inc Mikrostruktur-entwurf für hohe ir - empfindlichkeit
JP2541458B2 (ja) * 1993-07-26 1996-10-09 日本電気株式会社 赤外線センサおよびその製造方法
US5399897A (en) * 1993-11-29 1995-03-21 Raytheon Company Microstructure and method of making such structure
JP3811964B2 (ja) * 1995-02-16 2006-08-23 三菱電機株式会社 赤外線検出装置とその製造方法
JP3608298B2 (ja) * 1996-07-05 2005-01-05 株式会社ニコン 熱型赤外線センサ及びその製造方法
JPH10122950A (ja) * 1996-10-23 1998-05-15 Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency 熱型赤外線検出器及びその製造方法
JPH10185681A (ja) * 1996-11-08 1998-07-14 Mitsuteru Kimura 熱型赤外線センサとその製造方法およびこれを用いた赤外線イメージセンサ
JPH10163510A (ja) * 1996-12-04 1998-06-19 Mitsubishi Electric Corp 赤外線検知素子
JPH10288550A (ja) * 1997-04-15 1998-10-27 Nikon Corp 熱型赤外線センサ及び固体撮像装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100704518B1 (ko) * 1999-08-24 2007-04-09 키네티큐 리미티드 마이크로-브리지 구조체
KR100704948B1 (ko) * 1999-09-13 2007-04-10 허니웰 인크. 열센서 및 그 제조방법
JP2010237117A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Panasonic Electric Works Co Ltd 赤外線アレイセンサ
JPWO2011039797A1 (ja) * 2009-09-29 2013-02-21 パイオニア株式会社 Memsセンサ
WO2015141496A1 (ja) * 2014-03-19 2015-09-24 住友精密工業株式会社 赤外線センサ及びその製造方法
JPWO2015141496A1 (ja) * 2014-03-19 2017-04-06 住友精密工業株式会社 赤外線センサ及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP0902479A1 (en) 1999-03-17
US6165587A (en) 2000-12-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5399897A (en) Microstructure and method of making such structure
JP4053978B2 (ja) 改良された高速度でマルチレベルの冷却されないボロメータおよびその製造方法
US5962909A (en) Microstructure suspended by a microsupport
JP3514681B2 (ja) 赤外線検出器
JPH11148861A (ja) マイクロブリッジ構造
US6201243B1 (en) Microbridge structure and method for forming the microbridge structure
US8350350B2 (en) Optical sensor
JPH02205729A (ja) 赤外線センサ
EP0345047B1 (en) Thermal imaging device
EP0375205B1 (en) Thermal imaging device
WO2019179046A1 (zh) 一种红外传感器结构
JPH02165025A (ja) サーモパイル
JP2568292B2 (ja) サーモ・パイル形赤外線センサ
JP4770549B2 (ja) 赤外線センサ
EP1117978B1 (en) Bolometer with a serpentine stress balancing member
JPH08261832A (ja) 赤外線センサ及びその製造方法
JP2772776B2 (ja) サーモパイル
JP2806972B2 (ja) 熱画像作成装置
JP2562076B2 (ja) 流速センサ
JPH11148868A (ja) 熱検知素子およびその製造方法
JPH09113353A (ja) 赤外線検出素子
JP2000146656A (ja) フロ―センサおよびその製造方法
JP2910699B2 (ja) 熱型赤外線センサ
JP3287287B2 (ja) 歪み検出素子及びその製造方法
JP2000346704A (ja) ボロメーター型赤外線検出素子

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20010202