JPH11160560A - 光導波路素子の製造方法 - Google Patents
光導波路素子の製造方法Info
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- JPH11160560A JPH11160560A JP9328044A JP32804497A JPH11160560A JP H11160560 A JPH11160560 A JP H11160560A JP 9328044 A JP9328044 A JP 9328044A JP 32804497 A JP32804497 A JP 32804497A JP H11160560 A JPH11160560 A JP H11160560A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
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- G02F1/355—Non-linear optics characterised by the materials used
- G02F1/3558—Poled materials, e.g. with periodic poling; Fabrication of domain inverted structures, e.g. for quasi-phase-matching [QPM]
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Abstract
(57)【要約】
【課題】基板からパターン転写された強誘電体単結晶薄
膜の反転部と非反転部との分極境界壁がほぼ平行な状態
を呈し、極めて短い周期の分極反転パターンの強誘電体
単結晶薄膜を有する光導波路素子の製造方法を提供す
る。 【解決手段】強誘電体結晶基板上に、液相エピタキシャ
ル法によって、周期的に分極が反転した強誘電体単結晶
薄膜を形成して、周期状分極反転構造を有する光導波路
素子を製造する方法において、前記強誘電体結晶基板の
分極軸を前記強誘電体結晶基板の基板表面の法線方向か
ら傾けた状態で、前記強誘電体単結晶薄膜を液相エピタ
キシャル法によって形成し、前期周期状分極反転構造を
略平行な状態で安定化させることを特徴とする、光導波
路素子の製造方法である。
膜の反転部と非反転部との分極境界壁がほぼ平行な状態
を呈し、極めて短い周期の分極反転パターンの強誘電体
単結晶薄膜を有する光導波路素子の製造方法を提供す
る。 【解決手段】強誘電体結晶基板上に、液相エピタキシャ
ル法によって、周期的に分極が反転した強誘電体単結晶
薄膜を形成して、周期状分極反転構造を有する光導波路
素子を製造する方法において、前記強誘電体結晶基板の
分極軸を前記強誘電体結晶基板の基板表面の法線方向か
ら傾けた状態で、前記強誘電体単結晶薄膜を液相エピタ
キシャル法によって形成し、前期周期状分極反転構造を
略平行な状態で安定化させることを特徴とする、光導波
路素子の製造方法である。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光導波路素子の製
造方法に関し、さらに詳しくは、擬似位相整合方式の第
2高調波発生デバイスに適した光導波路素子の製造方法
に関する。
造方法に関し、さらに詳しくは、擬似位相整合方式の第
2高調波発生デバイスに適した光導波路素子の製造方法
に関する。
【0002】
【従来の技術】光ピックアップなどに用いることのでき
る青色レーザ用光源として、ニオブ酸リチウムやタンタ
ル酸リチウム単結晶に周期的な分極反転構造を形成した
光導波路を使用した擬似位相整合(Quasi−Pha
se−Matched:以下、QPMと略すことがあ
る)方式の第2高調波発生(Second−Harmo
nic−Generation:以下、SHGと略すこ
とがある)デバイスが期待されている。このデバイス
は、光ディスクメモリ用、医学用、光化学用、及び各種
光計測用の光ピックアップなどに幅広く使用することが
できる。
る青色レーザ用光源として、ニオブ酸リチウムやタンタ
ル酸リチウム単結晶に周期的な分極反転構造を形成した
光導波路を使用した擬似位相整合(Quasi−Pha
se−Matched:以下、QPMと略すことがあ
る)方式の第2高調波発生(Second−Harmo
nic−Generation:以下、SHGと略すこ
とがある)デバイスが期待されている。このデバイス
は、光ディスクメモリ用、医学用、光化学用、及び各種
光計測用の光ピックアップなどに幅広く使用することが
できる。
【0003】この周期的な分極反転構造は、ニオブ酸リ
チウムなどの強誘電体結晶基板上に、チタン内拡散法、
酸化リチウム外拡散法、二酸化シリコン装荷熱処理法、
プロトン交換熱処理法、電子ビーム走査照射法、及び電
圧印加法などによって作製できる。また、液相エピタキ
シャル法などによって、この基板表面上に強誘電体単結
晶薄膜を形成し、基板の反転パターンを転写することが
可能である。
チウムなどの強誘電体結晶基板上に、チタン内拡散法、
酸化リチウム外拡散法、二酸化シリコン装荷熱処理法、
プロトン交換熱処理法、電子ビーム走査照射法、及び電
圧印加法などによって作製できる。また、液相エピタキ
シャル法などによって、この基板表面上に強誘電体単結
晶薄膜を形成し、基板の反転パターンを転写することが
可能である。
【0004】例えば、特開平5−173213号公報、
特開平6−67233号公報、及び特開平6−1609
27号公報には、強誘電体結晶基板としてニオブ酸リチ
ウム単結晶などのZカット面を用い、予めチタン内拡散
法などでこの基板表面に分極反転構造を形成しておき、
その後、液相エピタキシャル法によって強誘電体単結晶
薄膜をこの基板上に形成して、基板に形成された分極パ
ターンを転写する技術が詳細に論じられている。
特開平6−67233号公報、及び特開平6−1609
27号公報には、強誘電体結晶基板としてニオブ酸リチ
ウム単結晶などのZカット面を用い、予めチタン内拡散
法などでこの基板表面に分極反転構造を形成しておき、
その後、液相エピタキシャル法によって強誘電体単結晶
薄膜をこの基板上に形成して、基板に形成された分極パ
ターンを転写する技術が詳細に論じられている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】特開平5−17321
3号公報などに記載されている技術は、いずれも基板と
して、ニオブ酸リチウム単結晶などのZカット面を使用
している。
3号公報などに記載されている技術は、いずれも基板と
して、ニオブ酸リチウム単結晶などのZカット面を使用
している。
【0006】この基板表面に分極反転パターンを予め形
成した後に、強誘電体単結晶薄膜を形成して上述のよう
なパターン転写を行うと、反転部と非反転部との分極境
界壁が平行な状態から大きくずれて広がり、基板に形成
された分極パターンに対して大きく広がった分極パター
ンが形成されてしまう。これでは、十分に短い分極周期
を有する強誘電体単結晶薄膜を形成することはできず、
SHGの変換効率が低下するなどの不都合が生じる。
成した後に、強誘電体単結晶薄膜を形成して上述のよう
なパターン転写を行うと、反転部と非反転部との分極境
界壁が平行な状態から大きくずれて広がり、基板に形成
された分極パターンに対して大きく広がった分極パター
ンが形成されてしまう。これでは、十分に短い分極周期
を有する強誘電体単結晶薄膜を形成することはできず、
SHGの変換効率が低下するなどの不都合が生じる。
【0007】一方、「J.Appl.Phys.Let
t.」No.65(1994年)の2154〜2155
頁には、基板としてニオブ酸リチウム単結晶のZカット
面を用い、この基板表面にチタン拡散法により周期状の
分極反転構造を予め形成した後に、690℃以下の比較
的低い温度において、液相エピタキシャル法によりニオ
ブ酸リチウム単結晶薄膜を形成すると、転写される分極
反転パターンの反転部と非反転部との分極境界壁が平行
な方向に近づき、7μm周期程度の分極パターンを形成
することができる旨が記載されている。しかしながら、
このような低温での液相エピタキシャルは、成膜速度が
低下するなどの問題が生じて好ましくない。
t.」No.65(1994年)の2154〜2155
頁には、基板としてニオブ酸リチウム単結晶のZカット
面を用い、この基板表面にチタン拡散法により周期状の
分極反転構造を予め形成した後に、690℃以下の比較
的低い温度において、液相エピタキシャル法によりニオ
ブ酸リチウム単結晶薄膜を形成すると、転写される分極
反転パターンの反転部と非反転部との分極境界壁が平行
な方向に近づき、7μm周期程度の分極パターンを形成
することができる旨が記載されている。しかしながら、
このような低温での液相エピタキシャルは、成膜速度が
低下するなどの問題が生じて好ましくない。
【0008】本発明は、基板からパターン転写された強
誘電体単結晶薄膜の反転部と非反転部との分極境界壁が
ほぼ平行な状態を呈する光導波路素子の製造方法を提供
するものである。
誘電体単結晶薄膜の反転部と非反転部との分極境界壁が
ほぼ平行な状態を呈する光導波路素子の製造方法を提供
するものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、強誘電体結晶
基板上に、液相エピタキシャル法によって、周期的に分
極が反転した強誘電体単結晶薄膜を形成して、周期状分
極反転構造を有する光導波路素子を製造する方法におい
て、前記強誘電体結晶基板の分極軸を前記強誘電体結晶
基板の基板表面の法線方向から傾けた状態で、前記強誘
電体単結晶薄膜を液相エピタキシャル法によって形成
し、前記周期状分極反転構造の各分極反転構造を略平行
な状態で安定化させることを特徴とする、光導波路素子
の製造方法である。
基板上に、液相エピタキシャル法によって、周期的に分
極が反転した強誘電体単結晶薄膜を形成して、周期状分
極反転構造を有する光導波路素子を製造する方法におい
て、前記強誘電体結晶基板の分極軸を前記強誘電体結晶
基板の基板表面の法線方向から傾けた状態で、前記強誘
電体単結晶薄膜を液相エピタキシャル法によって形成
し、前記周期状分極反転構造の各分極反転構造を略平行
な状態で安定化させることを特徴とする、光導波路素子
の製造方法である。
【0010】図1は、従来の光導波路素子の分極状態を
示す図である。図2は、本発明の光導波路素子の分極状
態を示す図である。図1(b)に示すように、基板1の
周期状反転部4から転写された転写反転部6と非反転部
9との間の分極境界壁には、7aまたは8a及び7bま
たは8bというエネルギー的に2つの安定な状態が存在
する。
示す図である。図2は、本発明の光導波路素子の分極状
態を示す図である。図1(b)に示すように、基板1の
周期状反転部4から転写された転写反転部6と非反転部
9との間の分極境界壁には、7aまたは8a及び7bま
たは8bというエネルギー的に2つの安定な状態が存在
する。
【0011】従来の光導波路素子は、図1(a)に示す
ような、分極軸2と基板表面の法線10とがほぼ平行な
状態を呈する強誘電体結晶基板1に、液相エピタキシャ
ル法によって強誘電体単結晶薄膜5を形成していた。
ような、分極軸2と基板表面の法線10とがほぼ平行な
状態を呈する強誘電体結晶基板1に、液相エピタキシャ
ル法によって強誘電体単結晶薄膜5を形成していた。
【0012】しかしながら、このように分極軸2と基板
表面の法線10とがほぼ平行な状態の強誘電体結晶基板
1に強誘電体単結晶薄膜5を形成すると、分極境界壁の
エネルギー状態は7a及び7bの状態において安定にな
る。
表面の法線10とがほぼ平行な状態の強誘電体結晶基板
1に強誘電体単結晶薄膜5を形成すると、分極境界壁の
エネルギー状態は7a及び7bの状態において安定にな
る。
【0013】すなわち、図1(c)に示すように、従来
の光導波路素子は常に広がった分極境界壁7a及び7b
を有していた。このため、強誘電体単結晶薄膜5への転
写パターン周期tを小さくすることは極めて困難であっ
た。本発明の光導波路素子の場合においても、図2
(b)に示すように、分極境界壁は、17a又は18a
及び17b又は18bのエネルギー的に安定な2つの状
態が存在する。
の光導波路素子は常に広がった分極境界壁7a及び7b
を有していた。このため、強誘電体単結晶薄膜5への転
写パターン周期tを小さくすることは極めて困難であっ
た。本発明の光導波路素子の場合においても、図2
(b)に示すように、分極境界壁は、17a又は18a
及び17b又は18bのエネルギー的に安定な2つの状
態が存在する。
【0014】しかしながら、本発明の光導波路素子は、
図2(a)に示すような、分極軸2と基板表面の法線1
0とが傾いた状態を呈した基板1上に、強誘電体単結晶
薄膜5を形成するため、分極境界壁のエネルギー状態は
17a及び17bの状態において安定になる。
図2(a)に示すような、分極軸2と基板表面の法線1
0とが傾いた状態を呈した基板1上に、強誘電体単結晶
薄膜5を形成するため、分極境界壁のエネルギー状態は
17a及び17bの状態において安定になる。
【0015】したがって、図2(c)に示すように、本
発明の光導波路素子の分極境界壁は17a及び17bで
示されるような略平行の状態を呈する。このため、強誘
電体結晶基板1における周期状反転部4の分極反転周期
Tを正確に転写することが可能となり、強誘電体単結晶
薄膜5への転写パターン周期tを極めて小さくすること
ができる。
発明の光導波路素子の分極境界壁は17a及び17bで
示されるような略平行の状態を呈する。このため、強誘
電体結晶基板1における周期状反転部4の分極反転周期
Tを正確に転写することが可能となり、強誘電体単結晶
薄膜5への転写パターン周期tを極めて小さくすること
ができる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図2とともに、実
施の形態に基づいて詳細に説明する。本発明の光導波路
素子は、以下のようにして製造することが好ましい。ま
ず最初、図2(a)に示すように、強誘電体結晶基板1
上に、チタン内拡散法、酸化リチウム外拡散法、二酸化
シリコン装荷熱処理法、プロトン交換熱処理法、電子ビ
ーム走査照射法、及び電圧印加法などを用い、周期状反
転部4を形成する。
施の形態に基づいて詳細に説明する。本発明の光導波路
素子は、以下のようにして製造することが好ましい。ま
ず最初、図2(a)に示すように、強誘電体結晶基板1
上に、チタン内拡散法、酸化リチウム外拡散法、二酸化
シリコン装荷熱処理法、プロトン交換熱処理法、電子ビ
ーム走査照射法、及び電圧印加法などを用い、周期状反
転部4を形成する。
【0017】チタン内拡散法で、強誘電体結晶基板1上
に周期状反転部4を形成するに際しては、最初に、単分
域化した強誘電体結晶基板1上にフォトレジストをスピ
ンコータなどで塗布する。次に、このフォトレジスト
を、所定の分極パターンが描画されているフォトマスク
を用いて露光した後、さらに現像して所定の分極パター
ンを形成する。次に、分極パターンが形成された強誘電
体結晶基板1上に、真空蒸着法、イオンプレーティング
法、スパッタリング法、及びCVD法などを用いて、チ
タン(Ti)を好ましくは10〜50Åの厚さに形成す
る。
に周期状反転部4を形成するに際しては、最初に、単分
域化した強誘電体結晶基板1上にフォトレジストをスピ
ンコータなどで塗布する。次に、このフォトレジスト
を、所定の分極パターンが描画されているフォトマスク
を用いて露光した後、さらに現像して所定の分極パター
ンを形成する。次に、分極パターンが形成された強誘電
体結晶基板1上に、真空蒸着法、イオンプレーティング
法、スパッタリング法、及びCVD法などを用いて、チ
タン(Ti)を好ましくは10〜50Åの厚さに形成す
る。
【0018】その後、この基板全体を有機溶剤中に入
れ、フォトレジスト及びその上に付着しているチタンを
除去する。さらに、この基板全体を、好ましくは900
〜1100℃で、1〜20時間熱処理を施すことによ
り、図2(a)に示すように、強誘電体結晶基板1の表
面上に周期状反転部4を形成することができる。
れ、フォトレジスト及びその上に付着しているチタンを
除去する。さらに、この基板全体を、好ましくは900
〜1100℃で、1〜20時間熱処理を施すことによ
り、図2(a)に示すように、強誘電体結晶基板1の表
面上に周期状反転部4を形成することができる。
【0019】形成した周期状反転部4の深さは、強誘電
体結晶基板1上に形成された強誘電体単結晶薄膜5への
転写を十分有効に行うという観点から、0.1μm〜1
0μmの範囲にあることが好ましく、さらに好ましくは
0.1μm〜0.5μmの範囲である。
体結晶基板1上に形成された強誘電体単結晶薄膜5への
転写を十分有効に行うという観点から、0.1μm〜1
0μmの範囲にあることが好ましく、さらに好ましくは
0.1μm〜0.5μmの範囲である。
【0020】本発明の強誘電体結晶基板1として使用す
ることのできる材料は、強誘電体単結晶であれば特に限
定されるものではなく、ニオブ酸リチウム(LiNbO
3 )、タンタル酸リチウム(LiTaO3 )、ニオブ酸
カリウムリチウム(KLN)、及びニオブ酸リチウムー
タンタル酸リチウム固溶体などが挙げられるが、これら
の中でも、キュリー温度が約1200℃と高温であるた
め、ニオブ酸リチウムを用いることが好ましい。
ることのできる材料は、強誘電体単結晶であれば特に限
定されるものではなく、ニオブ酸リチウム(LiNbO
3 )、タンタル酸リチウム(LiTaO3 )、ニオブ酸
カリウムリチウム(KLN)、及びニオブ酸リチウムー
タンタル酸リチウム固溶体などが挙げられるが、これら
の中でも、キュリー温度が約1200℃と高温であるた
め、ニオブ酸リチウムを用いることが好ましい。
【0021】さらには、基板の耐光損傷性を向上させる
ために、これらの基板材料にマグネシウム(Mg)、亜
鉛(Zn)、スカンジウム(Sc)及びインジウム(I
n)からなる群より選ばれる1種以上の金属元素を含有
させることもできる。
ために、これらの基板材料にマグネシウム(Mg)、亜
鉛(Zn)、スカンジウム(Sc)及びインジウム(I
n)からなる群より選ばれる1種以上の金属元素を含有
させることもできる。
【0022】同様に、レーザ発振用の元素として、ラン
タノイド系列のネオジウム(Nd)、エルビウム(E
r)、ツムリウム(Tm)、ホルビウム(Ho)、ディ
スプロシウム(Dy)、及びプラセオジム(Pr)など
の群から選ばれる1種以上の元素を添加することもでき
る。
タノイド系列のネオジウム(Nd)、エルビウム(E
r)、ツムリウム(Tm)、ホルビウム(Ho)、ディ
スプロシウム(Dy)、及びプラセオジム(Pr)など
の群から選ばれる1種以上の元素を添加することもでき
る。
【0023】次に、図2(c)に示すように、周期状反
転部4の形成された強誘電体結晶基板1上に、液相エピ
タキシャル法によって、強誘電体単結晶薄膜5を形成す
る。この液相エピタキシャルは、図2(a)に示すよう
に、強誘電体結晶基板1の分極軸2と強誘電体結晶基板
1の基板表面の法線10とが傾いた状態にて行う。
転部4の形成された強誘電体結晶基板1上に、液相エピ
タキシャル法によって、強誘電体単結晶薄膜5を形成す
る。この液相エピタキシャルは、図2(a)に示すよう
に、強誘電体結晶基板1の分極軸2と強誘電体結晶基板
1の基板表面の法線10とが傾いた状態にて行う。
【0024】この傾いた状態は、単分域化処理して、一
方向に分極させた強誘電体単結晶材料の分極軸に対し、
垂直な方向から所定の角度傾いた状態で基板を切り出す
ことにより形成することができる。
方向に分極させた強誘電体単結晶材料の分極軸に対し、
垂直な方向から所定の角度傾いた状態で基板を切り出す
ことにより形成することができる。
【0025】例えば、強誘電体単結晶材料としてニオブ
酸リチウム単結晶を用いた場合は、図3(a)に示すよ
うに、単分域化処理した後の分極軸12は、ニオブ酸リ
チウム単結晶11のZ方向を向いているので、このニオ
ブ酸リチウム単結晶11のZ方向から、角度θだけ傾け
た軸線13に垂直な軸線14の方向に基板を切り出す。
すなわち、単結晶のY方向を中心として考えた場合、ニ
オブ酸リチウム単結晶11のZカット面ではなく、X方
向に傾いてXカット面成分とZカット面成分とが共存す
るような状態で基板を切り出す。
酸リチウム単結晶を用いた場合は、図3(a)に示すよ
うに、単分域化処理した後の分極軸12は、ニオブ酸リ
チウム単結晶11のZ方向を向いているので、このニオ
ブ酸リチウム単結晶11のZ方向から、角度θだけ傾け
た軸線13に垂直な軸線14の方向に基板を切り出す。
すなわち、単結晶のY方向を中心として考えた場合、ニ
オブ酸リチウム単結晶11のZカット面ではなく、X方
向に傾いてXカット面成分とZカット面成分とが共存す
るような状態で基板を切り出す。
【0026】すると、図3(b)に示すように、Xカッ
ト面成分及びZカット面成分が共存する基板表面の法線
23と分極軸22とが、角度θをなすニオブ酸リチウム
基板21を得ることができる。
ト面成分及びZカット面成分が共存する基板表面の法線
23と分極軸22とが、角度θをなすニオブ酸リチウム
基板21を得ることができる。
【0027】分極反転部を安定に形成するためには、強
誘電体結晶基板1の分極軸2とこの基板表面の法線10
とのなす角度の上限は、80度以下であることが好まし
く、さらに好ましくは60度以下である。
誘電体結晶基板1の分極軸2とこの基板表面の法線10
とのなす角度の上限は、80度以下であることが好まし
く、さらに好ましくは60度以下である。
【0028】また、分極境界壁を平行に安定させるため
には、強誘電体結晶基板1の分極軸2とこの基板表面の
法線10とのなす角度の下限は15度以上であることが
好ましく、さらに好ましくは30度以上である。
には、強誘電体結晶基板1の分極軸2とこの基板表面の
法線10とのなす角度の下限は15度以上であることが
好ましく、さらに好ましくは30度以上である。
【0029】このように周期状反転部4が形成された強
誘電体結晶基板1に、液相エピタキシャル法により強誘
電体単結晶薄膜5を形成すると、周期状反転部4の分極
反転パターンが薄膜中へ転写される。そして、本発明の
ように、強誘電体結晶基板1の分極軸2と基板表面の法
線10とが傾いた状態で分極反転パターンの転写を行う
と、図2(c)に示すように、転写反転部6と非反転部
9との間の分極境界壁17a及び17bのなす角αはほ
ぼ0となり、略平行な状態を呈する。
誘電体結晶基板1に、液相エピタキシャル法により強誘
電体単結晶薄膜5を形成すると、周期状反転部4の分極
反転パターンが薄膜中へ転写される。そして、本発明の
ように、強誘電体結晶基板1の分極軸2と基板表面の法
線10とが傾いた状態で分極反転パターンの転写を行う
と、図2(c)に示すように、転写反転部6と非反転部
9との間の分極境界壁17a及び17bのなす角αはほ
ぼ0となり、略平行な状態を呈する。
【0030】したがって、上述したように、周期状反転
部4の分極反転周期Tを正確に転写することが可能とな
り、強誘電体単結晶薄膜5への転写パターン周期tを極
めて小さくすることができる。
部4の分極反転周期Tを正確に転写することが可能とな
り、強誘電体単結晶薄膜5への転写パターン周期tを極
めて小さくすることができる。
【0031】液相エピタキシャル法により形成する強誘
電体単結晶薄膜5の厚さは、強誘電体結晶基板1に形成
された周期状反転部4の分極パターンをこの薄膜に有効
に転写させること、及び光導波路として有効に機能させ
るためには、0.5μm〜30μmの範囲にあることが
好ましく、さらに好ましくは1μm〜5μmの範囲であ
る。
電体単結晶薄膜5の厚さは、強誘電体結晶基板1に形成
された周期状反転部4の分極パターンをこの薄膜に有効
に転写させること、及び光導波路として有効に機能させ
るためには、0.5μm〜30μmの範囲にあることが
好ましく、さらに好ましくは1μm〜5μmの範囲であ
る。
【0032】この強誘電体結晶基板1上に形成された強
誘電体単結晶薄膜5は、外部から導入した光を有効に伝
搬させるべく、光導波路として作用するものであるか
ら、この強誘電体単結晶薄膜5として使用することので
きる強誘電体結晶材料としては、基板に使用する強誘電
体単結晶材料よりも屈折率の高いことが必要である。
誘電体単結晶薄膜5は、外部から導入した光を有効に伝
搬させるべく、光導波路として作用するものであるか
ら、この強誘電体単結晶薄膜5として使用することので
きる強誘電体結晶材料としては、基板に使用する強誘電
体単結晶材料よりも屈折率の高いことが必要である。
【0033】具体的には、ニオブ酸リチウム、タンタル
酸リチウム、ニオブ酸カリウムリチウム、及びニオブ酸
リチウムータンタル酸リチウム固溶体などを使用するこ
とができる。中でも、屈折率の制御が容易であるため、
好ましくはニオブ酸リチウムータンタル酸リチウム固溶
体を用いることができる。
酸リチウム、ニオブ酸カリウムリチウム、及びニオブ酸
リチウムータンタル酸リチウム固溶体などを使用するこ
とができる。中でも、屈折率の制御が容易であるため、
好ましくはニオブ酸リチウムータンタル酸リチウム固溶
体を用いることができる。
【0034】また、上記基板の場合と同様に、レーザ発
振用の添加元素として、ランタノイド系列の元素を1種
以上添加することができる。このニオブ酸リチウムータ
ンタル酸リチウム固溶体は、700〜1000℃の温度
範囲に保った、酸化リチウム(Li2 O)、五酸化二ニ
オブ(Nb2 O5 )、五酸化二タンタル(Ta2 O
5 )、及び五酸化二バナジウム(V2 O5 )からなる溶
融体に、基板を1分〜1時間接触させて形成する。
振用の添加元素として、ランタノイド系列の元素を1種
以上添加することができる。このニオブ酸リチウムータ
ンタル酸リチウム固溶体は、700〜1000℃の温度
範囲に保った、酸化リチウム(Li2 O)、五酸化二ニ
オブ(Nb2 O5 )、五酸化二タンタル(Ta2 O
5 )、及び五酸化二バナジウム(V2 O5 )からなる溶
融体に、基板を1分〜1時間接触させて形成する。
【0035】
【実施例】以下に、本発明を実施例に則してさらに詳細
に説明する。尚、構成を明確にすべく、光導波路素子の
各部の名称については、図1〜3と同じ符号を付してい
る。
に説明する。尚、構成を明確にすべく、光導波路素子の
各部の名称については、図1〜3と同じ符号を付してい
る。
【0036】実施例1〜8及び比較例1〜5 本実施例では、発明の実施の形態で述べたように、基板
材料としてニオブ酸リチウム単結晶を使用し、図3
(a)に示すように、単分域化処理して分極軸12をZ
軸方向に形成した。次に、このニオブ酸リチウム単結晶
11のZ軸方向、すなわち、分極軸12から所定の角度
θだけX軸方向に傾けた軸線13に垂直な軸線14方向
において、この単結晶材料から基板を切り出した。
材料としてニオブ酸リチウム単結晶を使用し、図3
(a)に示すように、単分域化処理して分極軸12をZ
軸方向に形成した。次に、このニオブ酸リチウム単結晶
11のZ軸方向、すなわち、分極軸12から所定の角度
θだけX軸方向に傾けた軸線13に垂直な軸線14方向
において、この単結晶材料から基板を切り出した。
【0037】この強誘電体結晶基板1の表面に、スピン
コートによってフォトレジスト膜を0.3μmの厚さに
塗布した後、2μm〜10μm周期のストライプパター
ンが描画されているフォトマスクを用いて露光し、さら
に現像して2〜10μmのストライプパターンを形成し
た。次に、分極パターンが形成された強誘電体結晶基板
1上に、真空蒸着法を用いて、チタンを300Åの厚さ
に形成した。
コートによってフォトレジスト膜を0.3μmの厚さに
塗布した後、2μm〜10μm周期のストライプパター
ンが描画されているフォトマスクを用いて露光し、さら
に現像して2〜10μmのストライプパターンを形成し
た。次に、分極パターンが形成された強誘電体結晶基板
1上に、真空蒸着法を用いて、チタンを300Åの厚さ
に形成した。
【0038】その後、この基板全体をアセトン中に入
れ、フォトレジスト及びその上に付着しているチタンを
除去した。さらに、この強誘電体結晶基板全体を、10
00℃で、2時間熱処理を施すことにより、分極反転周
期Tが2〜10μmの周期状反転部4を基板表面に形成
した。
れ、フォトレジスト及びその上に付着しているチタンを
除去した。さらに、この強誘電体結晶基板全体を、10
00℃で、2時間熱処理を施すことにより、分極反転周
期Tが2〜10μmの周期状反転部4を基板表面に形成
した。
【0039】続いて、液相エピタキシャル法により成膜
温度0℃で、膜厚約5μmのニオブ酸リチウム単結晶薄
膜5を形成して、周期状反転部4からの分極パターンの
転写を行った。図3(b)に示す分極軸22と基板表面
の法線23とのなす角θの値に応じた、分極境界壁7a
及び7b、または17a及び17bのなす角度αの値
と、強誘電体単結晶薄膜5への転写パターン周期tの最
小値tminの値とを表1に示した。
温度0℃で、膜厚約5μmのニオブ酸リチウム単結晶薄
膜5を形成して、周期状反転部4からの分極パターンの
転写を行った。図3(b)に示す分極軸22と基板表面
の法線23とのなす角θの値に応じた、分極境界壁7a
及び7b、または17a及び17bのなす角度αの値
と、強誘電体単結晶薄膜5への転写パターン周期tの最
小値tminの値とを表1に示した。
【0040】
【表1】
【0041】以上、実施例から明らかなように、強誘電
体結晶基板の分極軸と強誘電体結晶基板の基板表面の法
線の角度θが、0度から傾いて大きくなると、分極境界
壁のなす角度α及び転写パターン周期tmin が小さくな
り、分極境界壁は、図2(c)に示すように、略平行な
状態を呈することが分かる。
体結晶基板の分極軸と強誘電体結晶基板の基板表面の法
線の角度θが、0度から傾いて大きくなると、分極境界
壁のなす角度α及び転写パターン周期tmin が小さくな
り、分極境界壁は、図2(c)に示すように、略平行な
状態を呈することが分かる。
【0042】特に、基板の分極軸と基板表面の法線方向
とのなす角θが15度、さらには30度を超えると、分
極境界壁のなす角度α及び転写パターン周期tmin はさ
らに小さくなる。したがって、短周期の分極反転構造を
有する強誘電体単結晶薄膜を転写形成するためには、前
記のように基板の分極軸と基板表面の法線方向とが15
度、さらには30度以上であることが好ましいことが分
かる。
とのなす角θが15度、さらには30度を超えると、分
極境界壁のなす角度α及び転写パターン周期tmin はさ
らに小さくなる。したがって、短周期の分極反転構造を
有する強誘電体単結晶薄膜を転写形成するためには、前
記のように基板の分極軸と基板表面の法線方向とが15
度、さらには30度以上であることが好ましいことが分
かる。
【0043】一方、角度θが0度の場合は、分極境界壁
のなす角度α及び転写パターン周期tmin は大きな値を
示し、図1(c)に示すように、分極境界壁は互いに広
がった状態を呈することが分かる。
のなす角度α及び転写パターン周期tmin は大きな値を
示し、図1(c)に示すように、分極境界壁は互いに広
がった状態を呈することが分かる。
【0044】また、前記角度θが90度になると、基板
に分極反転構造を形成することが不可能となるので、強
誘電体単結晶薄膜の転写形成ができない。したがって、
前記基板の分極軸と基板表面の法線方向とのなす角度
は、80度以下であることが好ましいことが分かる。
に分極反転構造を形成することが不可能となるので、強
誘電体単結晶薄膜の転写形成ができない。したがって、
前記基板の分極軸と基板表面の法線方向とのなす角度
は、80度以下であることが好ましいことが分かる。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光導波路
素子の製造方法によれば、基板から転写形成された強誘
電体単結晶薄膜の分極反転パターンは、反転部と非反転
部との間の分極境界壁が略平行な安定状態を示す。した
がって、極めて小さい転写パターン周期の分極反転構造
を容易に転写形成することができる。
素子の製造方法によれば、基板から転写形成された強誘
電体単結晶薄膜の分極反転パターンは、反転部と非反転
部との間の分極境界壁が略平行な安定状態を示す。した
がって、極めて小さい転写パターン周期の分極反転構造
を容易に転写形成することができる。
【図1】従来の光導波路素子の分極状態を示す図であ
る。
る。
【図2】本発明の光導波路素子の分極状態を示す図であ
る。
る。
【図3】強誘電体単結晶材料から基板を切り出す方向を
説明するための図である。
説明するための図である。
1,21 強誘電体結晶基板、2,12,22 分極
軸、3 周期状反転部の分極方向、4 周期状反転部、
5 強誘電体単結晶薄膜、6 転写反転部、7a,7
b,8a,8b,17a,17b,18a,18b 分
極境界壁、9 非反転部、10,23 基板表面の法
線、13,14 軸線、T 分極反転周期、t 転写パ
ターン周期、θ 基板表面の法線と分極軸とのなす角、
α分極境界壁のなす角
軸、3 周期状反転部の分極方向、4 周期状反転部、
5 強誘電体単結晶薄膜、6 転写反転部、7a,7
b,8a,8b,17a,17b,18a,18b 分
極境界壁、9 非反転部、10,23 基板表面の法
線、13,14 軸線、T 分極反転周期、t 転写パ
ターン周期、θ 基板表面の法線と分極軸とのなす角、
α分極境界壁のなす角
Claims (7)
- 【請求項1】強誘電体結晶基板上に、液相エピタキシャ
ル法によって、周期的に分極が反転した強誘電体単結晶
薄膜を形成して、周期状分極反転構造を有する光導波路
素子を製造する方法において、前記強誘電体結晶基板の
分極軸を前記強誘電体結晶基板の基板表面の法線方向か
ら傾けた状態で、前記強誘電体単結晶薄膜を液相エピタ
キシャル法によって形成し、前記周期状分極反転構造の
各分極反転構造を略平行な状態で安定化させることを特
徴とする、光導波路素子の製造方法。 - 【請求項2】前記強誘電体結晶基板の分極軸と、前記強
誘電体結晶基板の基板表面の法線とのなす角度が、15
度以上、80度以下であることを特徴とする請求項1に
記載の光導波路素子の製造方法。 - 【請求項3】前記強誘電体結晶基板の分極軸と、前記強
誘電体結晶基板の基板表面の法線とのなす角度が、30
度以上、80度以下であることを特徴とする請求項2に
記載の光導波路素子の製造方法。 - 【請求項4】前記周期状分極反転構造の最短周期が、5
μm以下であることを特徴とする請求項1〜3のいずれ
か一に記載の光導波路素子の製造方法。 - 【請求項5】前記強誘電体結晶基板の表面にチタン内拡
散法により周期的分極反転構造を形成した後、液相エピ
タキシャル法によって強誘電体単結晶薄膜を形成するこ
とを特徴とする、請求項1〜4のいずれか一に記載の光
導波路素子の製造方法。 - 【請求項6】前記強誘電体結晶基板が、ニオブ酸リチウ
ムータンタル酸リチウム固溶体からなることを特徴とす
る請求項1〜5のいずれか一に記載の光導波路素子の製
造方法。 - 【請求項7】強誘電体結晶基板上に、液相エピタキシャ
ル法によって、周期的に分極が反転した強誘電体単結晶
薄膜を形成して、周期状分極反転構造を有する光導波路
素子を製造する方法において、前記強誘電体結晶基板の
分極軸と、前記強誘電体結晶基板の基板表面の法線との
なす角度を、15度以上、80度以下となるように前記
強誘電体結晶基板を傾けた状態で、前記強誘電体単結晶
薄膜を液相エピタキシャル法によって形成することを特
徴とする光導波路素子の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9328044A JPH11160560A (ja) | 1997-11-28 | 1997-11-28 | 光導波路素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9328044A JPH11160560A (ja) | 1997-11-28 | 1997-11-28 | 光導波路素子の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11160560A true JPH11160560A (ja) | 1999-06-18 |
| JPH11160560A5 JPH11160560A5 (ja) | 2004-09-09 |
Family
ID=18205895
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9328044A Pending JPH11160560A (ja) | 1997-11-28 | 1997-11-28 | 光導波路素子の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11160560A (ja) |
-
1997
- 1997-11-28 JP JP9328044A patent/JPH11160560A/ja active Pending
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