JPH11161978A - 光学ピックアップ及び／又は光ディスクのフォーカス特性測定装置、光学ピックアップ及び／又は光ディスクのフォーカス特性測定方法、光ディスクの記録及び／又は再生装置、並びに、光ディスクの記録及び／又は再生方法 - Google Patents

光学ピックアップ及び／又は光ディスクのフォーカス特性測定装置、光学ピックアップ及び／又は光ディスクのフォーカス特性測定方法、光ディスクの記録及び／又は再生装置、並びに、光ディスクの記録及び／又は再生方法

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JPH11161978A
JPH11161978A JP10258798A JP25879898A JPH11161978A JP H11161978 A JPH11161978 A JP H11161978A JP 10258798 A JP10258798 A JP 10258798A JP 25879898 A JP25879898 A JP 25879898A JP H11161978 A JPH11161978 A JP H11161978A
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JP
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error rate
focus
optical disk
laser beam
optical pickup
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JP10258798A
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Akihito Nakayama
明仁 中山
Kenji Shintani
賢司 新谷
Shunsuke Kohama
俊介 小浜
Yasu Hashimoto
縁 橋本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
DISC WARE KK
Sony Precision Engineering Center Singapore Pte Ltd
Original Assignee
DISC WARE KK
Sony Precision Engineering Center Singapore Pte Ltd
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Publication date
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    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
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    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/0945—Methods for initialising servos, start-up sequences
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    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B2007/0003—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier
    • G11B2007/0006—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier adapted for scanning different types of carrier, e.g. CD & DVD

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  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な回路で精度の高いフォーカス状態の特
性を測定することができる光学ピックアップ及び／又は
光ディスクのフォーカス特性測定装置等を提供する。 【解決手段】 演算処理部１２ｄは、オフセット供給回
路２３を制御してフォーカスサーボの制御信号にオフセ
ット電圧を加える。この演算処理部１２ｄは、レーザ光
の合焦位置が所定のオフセット量だけずれた状態におい
て、再生データのエラーレートを検出する。演算処理部
１２ｄは、オフセット電圧を順次変えて、以上の処理を
繰り返し行い、エラーレートを検出する。演算処理部１
２ｄは、検出したデータに基づき、オフセット量に対す
るエラーレートの関係を２次曲線で近似する。この近似
式から、最もエラーレートが小さくなるオフセット量を
求める。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学ピックアップ
や光ディスクのフォーカスの特性を測定する光学ピック
アップ及び／又は光ディスクのフォーカス特性測定装
置、並びに、光学ピックアップ及び／又は光ディスクの
フォーカス特性測定方法に関する。また、本発明は、光
学ピックアップや光ディスクのフォーカスの特性を調整
し、光ディスクの再生を行う光ディスクの記録及び／又
は装置、並びに、光ディスクの記録及び／又は方法に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、光ディスクドライブに用いら
れる光学ピックアップの特性検査装置が知られている。
光学ピックアップの特性検査装置は、例えば、光学ピッ
クアップの出荷検査や受け入れ検査等に用いられ、光学
ピックアップが規定されている仕様を満足しているかど
うかの検査等を行う。
【０００３】このような光学ピックアップの特性検査装
置の検査項目には、一般に光学ピックアップのいわゆる
デフォーカスの特性の検査がある。
【０００４】光ディスクの再生装置では、光学ピックア
ップから出射されたレーザ光が記録トラック上で最小ス
ポットを作るようにフォーカスサーボ制御が行われる。
例えば、光ディスク装置では、光ディスクからの反射光
を光学ピックアップにより検出し、この検出した反射光
を光電変換部により電気信号に変換してこの電気信号か
らフォーカスエラー信号を生成する。そして、光ディス
ク装置では、このフォーカスエラー信号が０となるよう
に、光ピックアップの対物レンズ等を制御する。
【０００５】ここで、光学ピックアップに備えられる半
導体レーザや対物レンズ等の調整誤差や、これらの特
性、又は、光電変換部の精度等により、フォーカスエラ
ー信号が０となる場合であっても、光学ピックアップか
ら出射されたレーザ光が光ディスクの記録トラック上で
最小スポットを作らない場合がある。このような光学ピ
ックアップの誤差を、いわゆるデフォーカスという。光
学ピックアップの特性検査装置では、この光学ピックア
ップのデフォーカス特性を測定し、光学ピックアップの
出荷検査や受け入れ検査等を行っている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の光学
ピックアップの特性検査装置では、光ディスクの再生信
号のジッタ成分を検出して、この光学ピックアップのデ
フォーカス特性を測定していた。
【０００７】しかしながら、従来の光学ピックアップの
特性検査装置では、ジッタ成分を検出するにあたり、複
雑な回路構成を必要とし、さらに、精度の高いデータを
検出するためには非常に高価な回路を必要としていた。
また、従来の光学ピックアップの特性検査装置では、ジ
ッタ成分に基づきデフォーカス特性を測定した場合、精
度の高い特性を得ることが困難であった。
【０００８】本発明は、このような実情を鑑みてなされ
たものであり、簡単な回路で精度の高いフォーカス状態
の特性を測定することができる光学ピックアップ及び／
又は光ディスクのフォーカス特性測定装置、光学ピック
アップ及び／又は光ディスクのフォーカス特性測定方法
を提供することを目的とする。
【０００９】また、本発明は、フォーカス特性を調整し
て、最適なフォーカス状態で光ディスクを記録又は再生
ができる光ディスクの記録及び／又は再生装置、並び
に、光ディスクの記録及び／又は再生方法を提供するこ
とを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
めに、本発明に係る光学ピックアップ及び／又は光ディ
スクの特性測定装置は、光学ピックアップが有する光電
変換部の出力に基づき、光ディスクに照射するレーザ光
の焦点位置を制御し、このレーザ光を光ディスクの記録
面に合焦させるフォーカスサーボ制御手段と、光学ピッ
クアップが有する光電変換部の出力に基づき、光ディス
クに記録されたデータを再生する再生手段と、上記再生
手段が再生したデータのエラーレートを検出するエラー
レート検出手段と、上記フォーカスサーボ制御手段の制
御量に所定のオフセット量を与えてレーザ光の焦点位置
を変化させ、レーザ光の焦点位置を変化させた場合にお
ける再生したデータのエラーレートを上記エラーレート
検出手段から取得し、レーザ光の各焦点位置に対するエ
ラーレートの近似式に基づき、エラーレートが最も少な
くなるレーザ光の焦点位置を求める測定手段とを備える
ことを特徴とする。
【００１１】この光学ピックアップ及び／又は光ディス
クのフォーカス特性測定装置では、レーザ光の焦点位置
を変化させた際における再生信号のエラーレートを検出
し、このエラーレートに基づきレーザ光の焦点位置とエ
ラーレートとの関係を表す近似式を求め、光学ピックア
ップ及び／又は光ディスクのフォーカス特性を測定す
る。
【００１２】また、本発明に係る光学ピックアップ及び
／又は光ディスクの特性測定装置は、測定手段が、所定
の設定範囲内にあるエラーレートを用いてレーザ光の各
焦点位置に対するエラーレートの２次曲線近似式を求
め、この２次曲線近似式に基づき、エラーレートが最も
少なくなるレーザ光の焦点位置を求めることを特徴とす
る。
【００１３】この光学ピックアップ及び／又は光ディス
クのフォーカス特性測定装置では、レーザ光の焦点位置
とエラーレートとの関係を２次曲線近似式により求め、
光学ピックアップ及び／又は光ディスクのフォーカス特
性を測定する。
【００１４】本発明に係る光学ピックアップ及び／又は
光ディスクの特性測定方法は、光学ピックアップが有す
る光電変換部の出力に基づき、光ディスクに照射するレ
ーザ光の焦点位置を制御し、このレーザ光を光ディスク
の記録面に合焦させるフォーカスサーボ制御を行い、光
学ピックアップが有する光電変換部の出力に基づき、光
ディスクに記録されたデータを再生し、再生したデータ
のエラーレートを検出し、上記フォーカスサーボ制御の
制御量に所定のオフセット量を与えてレーザ光の焦点位
置を変化させ、レーザ光の焦点位置を変化させた場合に
おける再生したデータのエラーレートから、各焦点位置
に対するエラーレートの近似式を求め、レーザ光の各焦
点位置に対するエラーレートの近似式に基づき、エラー
レートが最も少なくなるレーザ光の焦点位置を求めるこ
とを特徴とする。
【００１５】この光学ピックアップ及び／又は光ディス
クのフォーカス特性測定方法では、レーザ光の焦点位置
を変化させた際における再生信号のエラーレートを検出
し、このエラーレートに基づきレーザ光の焦点位置とエ
ラーレートとの関係を表す近似式を求め、光学ピックア
ップ及び／又は光ディスクのフォーカス特性を測定す
る。
【００１６】また、本発明に係る光学ピックアップ及び
／又は光ディスクのフォーカス特性測定方法は、所定の
設定範囲内にあるエラーレートを用いてレーザ光の各焦
点位置に対するエラーレートの２次曲線近似式を求め、
この２次曲線近似式に基づき、エラーレートが最も少な
くなるレーザ光の焦点位置を求めることを特徴とする。
【００１７】この光学ピックアップ及び／又は光ディス
クのフォーカス特性測定方法では、レーザ光の焦点位置
とエラーレートとの関係を２次曲線近似式により求め、
光学ピックアップ及び／又は光ディスクのフォーカス特
性を測定する。
【００１８】本発明に係る光ディスクの記録及び／又は
再生装置は、光学ピックアップが有する光電変換部の出
力に基づき、光ディスクに照射するレーザ光の焦点位置
を制御し、このレーザ光を光ディスクの記録面に合焦さ
せるフォーカスサーボ制御手段と、光学ピックアップが
有する光電変換部の出力に基づき、光ディスクに記録さ
れたデータを再生する再生手段と、上記再生手段により
再生したデータのエラーレートを検出するエラーレート
検出手段と、上記フォーカスサーボ制御手段の制御量に
所定のオフセット量を与えてレーザ光の焦点位置を変化
させ、レーザ光の焦点位置を変化させた場合における再
生したデータのエラーレートを上記エラーレート検出手
段から取得し、レーザ光の各焦点位置に対するエラーレ
ートの近似式に基づき、エラーレートが最も少なくなる
レーザ光の焦点位置を求め、上記フォーカスサーボ制御
手段の制御量に、上記エラーレートが最も少なくなるレ
ーザ光の焦点位置となるオフセット量を与えるフォーカ
スサーボ制御の調整手段とを備えることを特徴とする。
【００１９】この光ディスクの記録及び／又は再生装置
では、レーザ光の焦点位置を変化させた際における再生
信号のエラーレートを検出し、このエラーレートに基づ
きレーザ光の焦点位置とエラーレートとの関係を表す近
似式を求め、フォーカスサーボの制御量に上記エラーレ
ートが最も少なくなるレーザ光の焦点位置となるオフセ
ット量を与え、最適な焦点位置で光ディスクの記録又は
再生を行う。
【００２０】また、本発明に係る光ディスクの記録及び
／又は再生装置は、調整手段が、所定の設定範囲内にあ
るエラーレートを用いてレーザ光の各焦点位置に対する
エラーレートの２次曲線近似式を求め、この２次曲線近
似式に基づき、エラーレートが最も少なくなるレーザ光
の焦点位置を求めることを特徴とする。
【００２１】この光ディスクの記録及び／又は再生装置
では、レーザ光の焦点位置とエラーレートとの関係を２
次曲線近似式により求め、最適な焦点位置で光ディスク
の記録又は再生を行う。
【００２２】本発明に係る光ディスクの記録及び／又は
再生方法は、光学ピックアップが有する光電変換部の出
力に基づき、光ディスクに照射するレーザ光の焦点位置
を制御し、このレーザ光を光ディスクの記録面に合焦さ
せるフォーカスサーボ制御を行い、光学ピックアップが
有する光電変換部の出力に基づき、光ディスクに記録さ
れたデータを再生し、再生したデータのエラーレートを
検出し、上記フォーカスサーボ制御の制御量に所定のオ
フセット量を与えてレーザ光の焦点位置を変化させ、レ
ーザ光の焦点位置を変化させた場合における再生したデ
ータのエラーレートから、各焦点位置に対するエラーレ
ートの近似式を求め、レーザ光の各焦点位置に対するエ
ラーレートの近似式に基づき、エラーレートが最も少な
くなるレーザ光の焦点位置を求め、上記フォーカスサー
ボ制御の制御量に、上記エラーレートが最も少なくなる
レーザ光の焦点位置となるオフセット量を与えることを
特徴とする。
【００２３】この光ディスクの記録及び／又は再生方法
では、レーザ光の焦点位置を変化させた際における再生
信号のエラーレートを検出し、このエラーレートに基づ
きレーザ光の焦点位置とエラーレートとの関係を表す近
似式を求め、フォーカスサーボの制御量に上記エラーレ
ートが最も少なくなるレーザ光の焦点位置となるオフセ
ット量を与え、最適な焦点位置で光ディスクの記録又は
再生を行う。
【００２４】また、本発明に係る光ディスクの記録及び
／又は再生方法は、所定の設定範囲内にあるエラーレー
トを用いてレーザ光の各焦点位置に対するエラーレート
の２次曲線近似式を求め、この２次曲線近似式に基づ
き、エラーレートが最も少なくなるレーザ光の焦点位置
を求めることを特徴とする。
【００２５】この光ディスクの記録及び／又は再生方法
では、レーザ光の焦点位置とエラーレートとの関係を２
次曲線近似式により求め、最適な焦点位置で光ディスク
の記録又は再生を行う。
【００２６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照しながら説明する。
【００２７】本発明の実施の形態の光学ピックアップの
特性測定装置（以下、単に特性検査装置と称する。）
は、光ディスクドライブで用いられる光学ピックアップ
の特性の検査を行う。このような特性検査装置は、光学
ピックアップの仕様の検査や、光学ピックアップの特性
の調査などに用いられ、例えば、光学ピックアップの出
荷検査や受け入れ検査等に用いられる。
【００２８】図１は、本発明の実施の形態の特性検査装
置のブロック構成図を示している。
【００２９】光学ピックアップ２は、この図１に示す特
性検査装置１の検査対象である。
【００３０】特性検査装置１は、光ディスクがセッティ
ングされるテストベンチ３と、光学ピックアップ２が有
するフォトディテクタの出力が供給され再生（ＲＦ）信
号等を出力するマトリクス回路４と、このマトリクス回
路４の出力に基づき光ディスクの再生駆動の為のサーボ
コントロールをするサーボコントロール回路５とを備え
ている。
【００３１】また、この特性検査装置１は、マトリクス
回路４のＲＦ信号を、デジタルデータに変換する第１の
アナログ／デジタル変換回路６と、この第１のアナログ
／デジタル変換回路６の出力データを一時記憶する第１
のメモリ７とを備えている。
【００３２】また、この特性検査装置１は、光学ピック
アップ２が有するフォトディテクタの各出力をサンプル
ホールドする第１から第６のサンプルホールド回路８ａ
〜８ｆと、この第１から第６のサンプルホールド回路８
ａ〜８ｆの出力を切り換えるマルチプレクサ９と、マル
チプレクサ９により切り換えられた第１から第６のサン
プルホールド回路８の出力をデジタルデータに変換する
第２のアナログ／デジタル変換回路１０と、この第２の
アナログ／デジタル変換回路１０の出力データを一時格
納する第２のメモリ１１とを備えている。
【００３３】また、特性検査装置１は、第１のメモリ７
と第２のメモリ１１に一時記憶されたデジタルデータに
基づき光学ピックアップ２の特性値の演算処理やこの演
算結果の表示を行い、また、この演算処理結果に基づき
サーボコントロール回路５の制御を行うコンピュータ１
２を備えている。
【００３４】また、特性検査装置１は、ＲＦ信号を２値
化する２値化回路１３と、２値化した再生データを復調
する復調回路（ＤＥＭ）１４と、復調した再生データに
エラー訂正を施すエラー訂正回路１５とを備えている。
【００３５】光学ピックアップ２は、この特性検査装置
１の検査対象である。この光学ピックアップ２は、この
特性検査装置１に例えば着脱自在となっている。この光
学ピックアップ２は、レーザダイオード、ビームスプリ
ッタ、対物レンズ、フォトディテクタ等を有している。
この光学ピックアップ２は、レーザダイオードから出射
したレーザをビームスプリッタや対物レンズ等を介して
光ディスク上に集光させる。そして、この光学ピックア
ップ２は、光ディスクからの反射光をフォトディテクタ
上に結像させる。光学ピックアップ２が有するフォトデ
ィテクタは、光電変換素子であり、結像した反射光を電
気信号に変換する。
【００３６】なお、この光学ピックアップ２は、複数の
フォトディテクタを備えている。この光学ピックアップ
２に備えられる複数のフォトディテクタの一例を図２に
示す。
【００３７】光学ピックアップ２は、例えば、図２に示
すような、２×２のマトリクス状に配列された４つのフ
ォトディテクタＡ〜Ｄと、このように配列されたフォト
ディテクタＡ〜Ｄの両サイドにサイドスポット検出用の
フォトディテクタＥ，Ｆとを備えている。このようなフ
ォトディテクタＡ〜Ｆは、例えば、光ディスクに３本の
レーザを出射するいわゆる３スポット方式の光学ピック
アップで用いられる。フォトディテクタＡ〜Ｄには、３
スポット方式における中心光となるメインビームが照射
される。すなわち、このフォトディテクタＡ〜Ｄには、
光ディスクのトラックに記録された記録ピット等に対す
る反射光が照射される。また、フォトディテクタＥ，Ｆ
は、上記フォトディテクタＡ〜Ｄに対して光ディスクの
半径方向の両サイドに設けられている。フォトディテク
タＥ，Ｆには、３スポット方式におけるサイドビームが
それぞれ照射される。例えば、このフォトディテクタ
Ｅ，Ｆには、光ディスクのトラックの例えばエッジから
反射した光が照射される。
【００３８】各フォトディテクタＡ〜Ｆは、照射された
反射光の光量を、信号Ａ〜Ｆに変換する。光学ピックア
ップ２は、これら各信号Ａ〜Ｆを、マトリクス回路４に
供給する。また、光学ピックアップ２は、信号Ａを第１
のサンプルホールド回路８ａに供給し、信号Ｂを第２の
サンプルホールド回路８ｂに供給し、信号Ｃを第３のサ
ンプルホールド回路８ｃに供給し、信号Ｄを第４のサン
プルホールド回路８ｄに供給し、信号Ｅを第５のサンプ
ルホールド回路８ｅに供給し、信号Ｆを第６のサンプル
ホールド回路８ｆに供給する。
【００３９】テストベンチ３は、光ディスクがセッティ
ングされ、この光ディスクを再生するために、この光デ
ィスクを回転駆動させる。また、このテストベンチ３に
セッティングされる光ディスクは、この特性検査装置１
のリファレンスとして用いられる。すなわち、特性検査
装置１は、このリファレンスとして用いられる光ディス
クの再生信号に基づき、光学ピックアップ２の特性の測
定を行う。
【００４０】マトリクス回路４は、上記光学ピックアッ
プ２の各フォトディテクタＡ〜Ｆの出力である信号Ａ〜
Ｆが供給され、これら信号Ａ〜Ｆに基づき、再生（Ｒ
Ｆ）信号、フォーカスエラー（ＦＥ）信号、及び、トラ
ッキングエラー（ＴＥ）信号等を生成する。マトリクス
回路４は、信号Ａ〜Ｆに基づき、例えば、以下のように
ＲＦ信号、ＦＥ信号、及び、ＴＥ信号を生成する。すな
わち、マトリクス回路４は、信号Ａ〜Ｄに基づき、Ａ＋
Ｂ＋Ｃ＋Ｄを演算し、ＲＦ信号を生成する。また、マト
リクス回路４は、信号Ａ〜Ｄに基づき、（Ａ＋Ｃ）−
（Ｂ＋Ｄ）を演算し、この演算結果をＦＥ信号として出
力する。つまり、マトリクス回路４は、非点収差法に基
づいてＦＥ信号を出力する。また、マトリクス回路４
は、信号Ｅ，Ｆに基づき、Ｅ−Ｆを演算し、この演算結
果をＴＥ信号として出力する。
【００４１】マトリクス回路４は、このように演算した
ＲＦ信号、ＦＥ信号、及び、ＴＥ信号を、サーボコント
ロール回路５に供給する。また、マトリクス回路４は、
ＲＦ信号を第１のアナログ／デジタル変換回路６に供給
する。
【００４２】サーボコントロール回路５は、ＲＦ信号、
ＦＥ信号、及び、ＴＥ信号に基づき、光ディスクを再生
駆動する際のサーボコントロールをする。具体的には、
サーボコントロール回路５は、ＦＥ信号に基づき、この
ＦＥ信号が０となるように、光学ピックアップ２の対物
レンズを動作させる２軸アクチュエータを駆動し、フォ
ーカスサーボ制御を行う。サーボコントロール回路５
は、ＴＥ信号に基づき、このＴＥ信号が０となるよう
に、光学ピックアップ２の対物レンズを動作させる２軸
アクチュエータを駆動し、トラッキングサーボ制御を行
う。サーボコントロール回路５は、ＦＥ信号の直流成分
を検出し、この直流成分が０となるように、光学ピック
アップ２のスレッドサーボ制御を行う。また、サーボコ
ントロール回路５は、ＲＦ信号に基づき、光ディスクの
傾きを制御するチルトサーボ制御を行う。なお、このサ
ーボコントロール回路５は、光ディスクの傾きの検出機
構を別途設けて、チルトサーボ制御を行っても良い。
【００４３】サーボコントロール回路５は、このような
サーボコントロールを行うため、フォーカスサーボ回路
２１と、フォーカスサーボ回路２１の出力を増幅して光
学ピックアップ２のフォーカスコイル２ａに供給するフ
ォーカスアンプ２２と、このフォーカスアンプ２２に所
定のオフセットを与えるオフセット供給回路２３と、ト
ラッキングサーボ回路２４と、トラッキングサーボ回路
２４の出力を増幅して光学ピックアップ２のトラッキン
グコイル２ｂに供給するトラッキングアンプ２５とを有
している。
【００４４】オフセット供給回路２３は、フォーカスサ
ーボ回路２１が出力する制御信号に所定のオフセットを
与える回路である。このオフセット供給回路２３が供給
するオフセット電圧は、演算処理部１２ｄにより制御さ
れる。
【００４５】従って、この特性検査装置１では、このオ
フセット供給回路２３により所定のオフセット電圧がフ
ォーカスサーボの制御に加えられた場合には、光学ピッ
クアップ２から出射されるレーザ光の合焦位置が、光デ
ィスクの記録面に対しずれることとなる。
【００４６】第１のアナログ／デジタル変換回路６は、
マトリクス回路４から供給されるＲＦ信号を、高速のサ
ンプリング周波数で、例えば、３０ＭＨｚ程度のサンプ
リング周波数でデジタルデータに変換する。第１のアナ
ログ／デジタル変換回路６は、デジタルデータに変換し
たＲＦ信号を、第１のメモリ７に供給する。
【００４７】第１のメモリ７は、第１のアナログ／デジ
タル変換回路６によりデジタルデータに変換されたＲＦ
信号を一時記憶する。
【００４８】各サンプルホールド回路８ａ〜８ｆには、
それぞれ、光学ピックアップ２からフォトディテクタの
出力信号である信号Ａ〜Ｆが供給される。各サンプルホ
ールド回路８ａ〜８ｆは、同一のクロックで、同時に信
号Ａ〜Ｆをホールド処理する。これらサンプルホールド
回路８ａ〜８ｆに供給されるクロックは、例えば、５０
ＫＨｚ以上の周波数となっている。従って、サンプルホ
ールド回路８ａ〜８ｆは、この５０ＫＨｚ以上のクロッ
クを１サイクルとして、サンプル処理とホールド処理を
繰り返す。
【００４９】マルチプレクサ９は、サンプルホールド回
路８ａ〜８ｆの出力を切り換えて、いずれか一つのホー
ルド出力を第２のアナログ／デジタル変換回路１０に供
給する。このマルチプレクサ９は、全てのサンプルホー
ルド回路８ａ〜８ｆのホールド出力を、１クロック内で
第２のアナログ／デジタル変換回路１０に供給できるよ
うに、充分高速な切り換え速度となっている。このマル
チプレクサ９の切り換え速度は、例えば、サンプルホー
ルド回路８ａ〜８ｆが５０ＫＨｚのクロックでサンプリ
ング処理及びホールド処理を繰り返していれば、５０Ｋ
Ｈｚの６倍以上となっている。
【００５０】第２のアナログ／デジタル変換回路１０
は、マルチプレクサ９を介して供給されるサンプルホー
ルド回路８ａ〜８ｆの各ホールド出力をデジタルデータ
に変換して、第２のメモリ１１に供給する。この第２の
アナログ／デジタル変換回路１０は、全てのサンプルホ
ールド回路８ａ〜８ｆの出力を、このサンプルホールド
回路８ａ〜８ｆに供給されるクロックの１サイクル内で
変換するために充分な変換速度を有している。第２のア
ナログ／デジタル変換回路１０は、例えば、サンプルホ
ールド回路８ａ〜８ｆが５０ＫＨｚのクロックでサンプ
ル及びホールド処理を繰り返していれば、サンプルホー
ルド回路８ａ〜８ｆが６個あるため、３００ＫＨｚ以上
の変換速度で変換を行う。
【００５１】以上のサンプルホールド回路８ａ〜８ｆ、
マルチプレクサ９及び第２のアナログ／デジタル変換回
路１０では、光学ピックアップ２の各フォトディテクタ
から出力された信号Ａ〜Ｆを、それぞれ独立にデジタル
データに変換している。また、これらのサンプルホール
ド回路８ａ〜８ｆ、マルチプレクサ９及び第２のアナロ
グ／デジタル変換回路１０では、例えばサンプリング周
波数が５０ＫＨｚ以上で、信号Ａ〜Ｆをそれぞれデジタ
ルデータに変換している。
【００５２】なお、特性検査装置１において、光学ピッ
クアップ２のフォトディテクタの出力信号である信号Ａ
〜Ｆをデジタルデータに変換する手段は、上記サンプル
ホールド回路８ａ〜８ｆ、マルチプレクサ９及び第２の
アナログ／デジタル変換回路１０の構成に限られない。
例えば、特性検査装置１では、サンプリング周波数が５
０ＫＨｚのアナログ／デジタル変換回路が、並列に６段
並んだ構成としても良い。
【００５３】第２のメモリ１１は、第２のアナログ／デ
ジタル変換回路１０によりデジタルデータに変換された
光学ピックアップ２からの信号Ａ〜Ｆを一時記憶する。
【００５４】コンピュータ１２は、例えば、インターフ
ェース部１２ａ、データ格納部１２ｂ、出力部１２ｃ、
演算処理部１２ｄ等を有している。インターフェース部
１２ｂは、サーボコントロール回路５を制御するための
制御信号を、このサーボコントロール回路５に対して出
力する。データ格納部１２ｂは、この特性検査装置１の
光学ピックアップ２の各測定項目に対応した各処理プロ
グラム等を格納している。出力部１２ｃは、光学ピック
アップ２の特性の測定結果を表示する。
【００５５】コンピュータ１２の演算処理部１２ｄは、
第１のメモリ７に記憶されたデジタルデータに変換され
たＲＦ信号を読み出し、このデータに基づきＲＦ信号の
ジッタ成分を検出する。また、コンピュータ１２の演算
処理部１２ｄは、第２のメモリ１１に記憶されているデ
ジタルデータに変換されたＡ〜Ｆ信号を読み出し、各測
定項目に応じた演算処理を行い、光学ピックアップ２の
特性を測定する。
【００５６】また、コンピュータ１２の演算処理部１２
ｄは、各測定項目に応じた処理をするにあたり、第１の
メモリ７及び第２のメモリ１１に記憶したデータに対し
て、以下の演算処理を行う。演算処理部１２ｄは、例え
ば、フィルタ演算、ピークレベル演算、波形周期の算出
演算、２つの信号の位相差の算出演算、レベル窓による
信号の抽出演算、周期窓による信号の抽出演算、信号の
交流（ＡＣ）成分及び直流（ＤＣ）成分の電圧算出演算
等を行う。
【００５７】エラー訂正回路１５は、光ディスクに記録
されたデータにエラー訂正処理を行う。エラー訂正回路
１５は、エラー訂正処理により訂正したデータ数を検出
し、エラーレートとしてインターフェース１２ａを介し
て演算処理部１２ｄに供給する。
【００５８】つぎに、この特性検査装置１の測定項目を
説明する。
【００５９】この特性検査装置１では、例えば、以下の
項目に示す測定を行い、光学ピックアップ２の特性を調
べる。
【００６０】・ＲＦ信号レベル（Ｐ１） ・ＲＦ信号のＩTOP及びＩBOTOM（Ｐ２） ・ＲＦ信号のジッタ（Ｐ３） ・メインビームのビームポジション（Ｐ４） ・ＴＥ信号レベル（Ｐ５） ・Ｅ−Ｆバランス（Ｐ６） ・Ｅ−Ｆ位相差（Ｐ７） ・Ｓ字レベル（Ｐ８） ・Ｓ字バランス（Ｐ９） ・デフォーカス（Ｐ１０） ・クロストーク（Ｐ１１） ・非点収差（Ｐ１２） これらの測定項目の処理プログラムは、データ格納部１
２ｂに、処理プログラムＰ１〜Ｐ１２として格納されて
いる。演算処理部１２ｄは、ユーザの設定等に基づき、
測定項目に応じた処理プログラムＰ１〜Ｐ１２をデータ
格納部１２ｂから読み出し、第１のメモリ７又は第２の
メモリ１１に記憶しているデータに対して演算を施す。
なお、各処理プログラムＰ１〜Ｐ１２では、上述したフ
ィルタ演算、ピークレベル演算、波形周期の算出演算、
２つの信号の位相差の算出演算、レベル窓による信号の
抽出演算、周期窓による信号の抽出演算、信号の交流
（ＡＣ）成分及び直流（ＤＣ）成分の電圧算出演算等を
利用して、上記各項目の測定をしている。
【００６１】つぎに、上述したデフォーカスの測定処理
について説明する。
【００６２】まず、特性検査装置１は、演算処理部１２
ｄがインターフェース１２ａを介してオフセット供給回
路２３から出力するオフセット電圧を所定の電圧値に設
定する。このオフセット供給回路２３から出力されるオ
フセット電圧は、フォーカスアンプ２２に供給される。
そのため、特性検査装置１では、フォーカスサーボ回路
２１から出力される制御信号にオフセット電圧が加わ
り、光ディスクに照射されるレーザ光の合焦位置がこの
オフセット量だけ通常よりずれることとなる。
【００６３】続いて、特性検査装置１は、レーザ光の合
焦位置が上記オフセット量だけずれた状態において、光
ディスクに記録されたデータを再生する。すなわち、特
性検査装置１では、マトリクス回路４から出力されるＲ
Ｆ信号に対して２値化処理、復調処理等が行われる。
【００６４】続いて、特性検査装置１は、２値化処理や
復調処理等を行った再生データに対してエラー訂正処理
を施す。この際、エラー訂正回路１５は、このエラー訂
正を行うとともに、エラー訂正を行ったビット数等に基
づき、再生データのエラーレートを検出する。エラー訂
正回路１５は、このエラーレートをインターフェース１
２ａを介して、演算処理部１２ｄに供給する。
【００６５】続いて、特性検査装置１の演算処理部１２
ｄは、オフセット供給回路２３から出力するオフセット
電圧に対応させて、エラー訂正回路１５から供給された
エラーレートをメモリ上に格納する。
【００６６】続いて、特性検査装置１の演算処理部１２
ｄは、オフセット供給回路２３から出力するオフセット
電圧を変えることにより、光ディスクに照射されるレー
ザ光の合焦位置を変えて、その際の再生データのエラー
レートを検出する。
【００６７】特性検査装置１では、以上の処理を繰り返
し行い、順次フォーカスサーボの制御信号に加えるオフ
セット電圧を変化させ、レーザ光の各合焦位置における
エラーレートをメモリ上に格納していく。
【００６８】特性検査装置１では、以上のように各オフ
セット電圧に対応するエラーレートを検出し、そのデー
タをメモリ上に格納する。この特性検査装置１では、エ
ラーレートとして、例えば、図３に示すようなデータを
得ることができる。
【００６９】ここで、一般にレーザ光の合焦位置と記録
面とのずれに対するエラーレート、つまり、デフォーカ
スに対するエラーレートは、この図３に示すようにな
る。
【００７０】すなわち、このエラーレートは、フォーカ
スサーボ制御が可能であってレーザ光の焦点位置が光デ
ィスクの記録面から最も遠い場合を上限として、この終
点位置が記録面に近づくにつれだんだんと少なくなって
いく。そして、このエラーレートは、ある一定のレート
近傍になると、レーザ光の焦点位置と光ディスクの記録
面との距離に依存せずほぼ一定の値になる。
【００７１】特性検査装置１は、例えばフォーカスサー
ボ制御が可能であってレーザ光の焦点位置が光ディスク
の記録面から最も遠い場合のエラーレート以下、レーザ
光の焦点位置と光ディスクの記録面との距離に依存せず
値がほぼ一定となるエラーレート以上を、設定範囲とし
て定める。特性検査装置１は、この設定範囲内にあるエ
ラーレートを取出し、これらの値から、オフセット量に
対するエラーレートの近似式を求める。例えば、特性検
査装置１は、エラーレートを２次曲線で近似する。そし
て、特性検査装置１は、この近似式から、最もエラーレ
ートが小さくなるオフセット量を求める。光学ピックア
ップ２では、このオフセット量により補正され制御され
るレーザ光の焦点位置が、データを再生する際の最適な
焦点位置となる。
【００７２】特性検査装置１では、この場合のオフセッ
ト量が例えば０或いは所定の範囲内に入っていれば、検
査対象となる光学ピックアップ２の特性が仕様を外れて
いないとして、ＯＫの判断をする。また、特性検査装置
１では、この場合のオフセット量が例えば０或いは所定
の範囲内に入っていなければ、検査対象となる光学ピッ
クアップ２の特性が仕様に満足していないとして、ＮＧ
の判断をする。
【００７３】特性検査装置１では、光学ピックアップ２
が仕様に満足しない場合は、例えば、この光学ピックア
ップ２の調整工程により再調整を行い、再度上記デフォ
ーカス特性を測定して仕様上問題があるかどうかを判断
する。
【００７４】以上のように、特性検査装置１では、光学
ピックアップ２のデフォーカスの特性を、簡単な回路に
より高い精度で測定することができる。
【００７５】以上光学ピックアップ２の特性を測定する
特性検査装置１について説明してきたが、この特性検査
装置１を光ディスクの特性検査装置に適用することも可
能である。すなわち、上述した特性検査装置１では、テ
ストベンチ３にセッティングされる光ディスクをリファ
レンスとして用いていたが、光学ピックアップをリファ
レンスとして用いることにより、光ディスクの特性を測
定することができる。
【００７６】また、特性検査装置１が測定する光学ピッ
クアップ２は、図２に示すフォトディテクタを用いて、
信号Ａ〜Ｆを測定していたが、本発明は、このような光
学ピックアップに限られない。例えば、光磁気ディスク
用の光学ピックアップや相変化ディスク等に用いられる
光学ピックアップに適用することも可能である。このよ
うな場合、フォトディテクタの構成が一般に図２で説明
した場合と異なるので、サンプルホールド回路８ａ〜８
ｆや第２のアナログ／デジタル変換回路１０の数が、フ
ォトディテクタの数に対応したものとなる。また、光磁
気ディスクであれば、再生信号がカー効果を利用した差
信号となるため、演算処理部１２ｄで行うプログラムの
処理内容は、この差信号に対応したものとなる。
【００７７】また、この特性検査装置１では、デフォー
カス特性の測定で求めたオフセット量をフォーカスサー
ボの制御量に加算して、他の項目の測定を行うことによ
って、フォーカスが最適な状態において光学ピックアッ
プ２の特性を測定することができる。
【００７８】また、特性検査装置１では、例えば、エラ
ーレートの設定範囲を定めて近似式を求めるが、設定範
囲内のデータの内エラーレートが高い値から順次取得し
ていき、最初に下限の設定範囲を超えるデータの直前ま
でのデータを取得して、これらのデータから近似式を求
めるようにしてもよい。これは、特性検査装置１で検出
したエラーレートが一定のレート近傍になるとレーザ光
の焦点位置と光ディスクの記録面との距離に依存せずほ
ぼ一定の値になるとはいっても、測定ノイズやその他所
要因により例えばランダムに変動することから、確実
に、レーザ光の焦点位置と光ディスクの記録面との距離
に依存せずに発生するエラーレートが取得される部分の
データを取り除くためである。
【００７９】また、特性検査装置１では、エラー訂正回
路１５を用いて、エラー訂正を行ったデータ数に基づき
エラーレートを検出しているが、本発明では、エラーレ
ートの検出方法はこれに限られない。例えば、このエラ
ーレートの検出方法は、光ディスクに記録されている理
論データを、データパターンとして予め内部メモリ等に
格納しておき、このデータパターンと再生データとを比
較してエラーレートを求めても良い。
【００８０】また、本発明は、フォーカスサーボの制御
信号に所定のオフセットを加えるオフセット供給回路
と、再生データのエラーレートからデフォーカス特性を
求める制御部とを備え、デフォーカス特性の測定結果を
フィードバックして最適な再生条件あるいは記録条件で
信号の記録再生を行う光ディスクの記録及び／又は再生
装置に適用することができる。
【００８１】具体的に本発明を適用した実施の形態の光
ディスクの再生装置（以下、単に光ディスク装置と称す
る。）について、図４を参照して説明する。
【００８２】図４に示す光ディスク装置３０は、いわゆ
るコンパクトディスク（ＣＤ）と、デジタルビデオディ
スク（ＤＶＤ）の再生を行うものである。
【００８３】光ディスク装置３０は、ＣＤ及びＤＶＤ両
用の光学ピックアップ３１と、ＣＤ用マトリクス回路３
２と、ＤＶＤ用マトリクス回路３３と、ＣＤ用トラッキ
ングエラー（ＴＥ）信号生成回路３４と、ＣＤ用再生回
路３５と、ＤＶＤ用再生回路３６とを備えている。ま
た、光ディスク装置３０は、トラッキングサーボ回路３
７と、トラッキングドライバ３８と、フォーカスサーボ
回路３９と、フォーカスドライバ４０と、デジタル／ア
ナログ変換回路（以下、Ｄ／Ａ変換回路と称する。）４
１と、加算回路４２と、システムコントローラ４３とを
備えている。
【００８４】光学ピックアップ３１は、ＣＤとＤＶＤの
両者に記録された信号を検出する。この光学ピックアッ
プ３１は、例えば、開口数（ＮＡ）の異なる２つの対物
レンズを有しており、装填された光ディスクの種類に応
じて、これらの対物レンズが切り換えられる。
【００８５】ＣＤ用マトリクス回路３２は、光学ピック
アップ３１が有するフォトディテクタの出力に基づき、
ＣＤの再生（ＲＦ）信号及びＣＤのフォーカスエラー
（ＦＥ）信号を生成する。ＤＶＤ用マトリクス回路３３
は、光学ピックアップ３１が有するフォトディテクタの
出力に基づき、ＤＶＤのＲＦ信号、ＤＶＤのＦＥ信号、
及び、ＤＶＤのＴＥ信号を生成する。ＣＤ用ＴＥ信号生
成回路３４は、光学ピックアップ３１が有するフォトデ
ィテクタの出力に基づき、ＣＤのＴＥ信号を生成する。
【００８６】ＣＤ用再生回路３５は、ＣＤ用マトリクス
回路３２により生成されたＲＦ信号に基づき、ＣＤに記
録されたデータを再生する。このＣＤ用再生回路３５
は、例えば、２値化回路、復調回路、エラー訂正回路等
を有しており、これらの回路により２値化処理、復調処
理、エラー訂正処理等を行う。このＣＤ用再生回路３５
は、再生したデータを例えば出力端子等を介して他の外
部装置等に供給する。
【００８７】また、このＣＤ用再生回路３５は、このＣ
Ｄ用再生回路３５が有するエラー訂正回路により訂正さ
れたデータ数を検出し、この訂正されたデータ数に基づ
きエラーレートを求める。このＣＤ用再生回路３５は、
このエラーレートをシステムコントローラ４３に供給す
る。
【００８８】ＤＶＤ用再生回路３６は、ＤＶＤ用マトリ
クス回路３３により生成されたＲＦ信号に基づき、ＤＶ
Ｄに記録されたデータを再生する。このＤＶＤ用再生回
路３６は、例えば、２値化回路、復調回路、エラー訂正
回路等を有しており、これらの回路により２値化処理、
復調処理、エラー訂正処理等を行う。このＤＶＤ用再生
回路３６は、再生したデータを例えば出力端子等を介し
て他の外部装置等に供給する。
【００８９】また、このＤＶＤ用再生回路３６は、この
ＤＶＤ用再生回路３６が有するエラー訂正回路により訂
正されたデータ数を検出し、この訂正されたデータ数に
基づきエラーレートを求める。このＤＶＤ用再生回路３
６は、このエラーレートをシステムコントローラ４３に
供給する。
【００９０】トラッキングサーボ回路３７は、ＤＶＤ用
マトリクス回路３３又はＣＤ用ＴＥ信号生成回路３４か
ら供給されるトラッキングエラー信号に基づき、トラッ
キングドライバ３８を介して光学ピックアップ３１のト
ラッキングアクチュエータ３１ｂを制御する。なお、こ
のトラッキングサーボ回路３７の前段には、スイッチ３
７ａが設けられている。このスイッチ３７ａは、システ
ムコントローラ４３により制御され、この光ディスク装
置３０がＣＤを再生する場合にはＣＤ用ＴＥ信号生成回
路３４の出力をトラッキングサーボ回路３７に供給し、
この光ディスク装置３０がＤＶＤを再生する場合にはＤ
ＶＤ用マトリクス回路３３の出力をトラッキングサーボ
回路３７に供給する。
【００９１】このようなトラッキングサーボ回路３７
は、光学ピックアップ３１から出射するレーザ光を光デ
ィスクに対してジャストトラックとなるように制御す
る。
【００９２】フォーカスサーボ回路３９は、ＣＤ用マト
リクス回路３２又はＤＶＤ用マトリクス回路３３から供
給されるフォーカスエラー信号に基づき、フォーカスド
ライバ４０を介して光学ピックアップ３１のフォーカス
アクチュエータ３１ａを制御する。なお、このフォーカ
スサーボ回路３９の前段には、スイッチ３９ａが設けら
れている。このスイッチ３９ａは、システムコントロー
ラ４３により制御され、この光ディスク装置３０がＣＤ
を再生する場合にはＣＤ用マトリクス回路３２の出力を
フォーカスサーボ回路３９に供給し、この光ディスク装
置３０がＤＶＤを再生する場合にはＤＶＤ用マトリクス
回路３３の出力をフォーカスサーボ回路３９に供給す
る。
【００９３】このようなフォーカスサーボ回路３７は、
光学ピックアップ３１から出射するレーザ光を光ディス
クに対してジャストフォーカスとなるように制御する。
【００９４】加算回路４２は、上述したフォーカスサー
ボ回路３９とフォーカスドライバ４０の間に設けられて
おり、フォーカスサーボ回路３９から出力される制御信
号に、所定のオフセット電圧を加算してフォーカスドラ
イバ４０に供給する。このオフセット電圧は、システム
コントローラ４３からＤ／Ａ変換回路４１を介して供給
される。
【００９５】システムコントローラ４３は、ＣＤ用再生
回路３５又はＤＶＤ用再生回路３６から供給される再生
データのエラーレートに基づき、加算回路４２に供給す
るオフセット電圧を求め、フォーカスサーボの制御信号
に対して最適なオフセット電圧を加えて光ディスクの再
生を行う。
【００９６】このシステムコントローラ４３は、このオ
フセット電圧を求めるために以下のような処理を行う。
【００９７】まず、光ディスク装置３０は、加算回路４
２に供給するオフセット電圧を所定の電圧値に設定す
る。このことにより光ディスク装置３０では、フォーカ
スサーボ回路３９から出力される制御信号に所定のオフ
セット電圧が加わり、光ディスクに照射されるレーザ光
の合焦位置がこのオフセット量だけ通常よりずれること
となる。
【００９８】続いて、光ディスク装置３０は、この状態
において、光ディスクに記録されたデータを再生する。
すなわち、光ディスク装置３０では、ＣＤ用再生回路３
５又はＤＶＤ用再生回路３６のいずれかが、２値化、復
調及びエラー訂正等の処理を行う。この際、ＣＤ用再生
回路３５又はＤＶＤ用再生回路３６は、エラー訂正を行
ったビット数等に基づき、再生データのエラーレートを
検出し、このエラーレートをシステムコントローラ４３
に供給する。
【００９９】続いて、システムコントローラ４３は、こ
の時のオフセット電圧に対応させて、供給されたエラー
レートをメモリ上に格納する。
【０１００】続いて、システムコントローラ４３は、加
算回路４２に供給するオフセット電圧を変えることによ
り、光ディスクに照射されるレーザ光の合焦位置を変え
る。
【０１０１】システムコントローラ４３は、以上の処理
を繰り返し行い、順次フォーカスサーボの制御信号に加
えるオフセット電圧を変化させ、レーザ光の各合焦位置
におけるエラーレートをメモリ上に格納していく。
【０１０２】システムコントローラ４３は、以上のよう
に各オフセット電圧に対応するエラーレートを検出し、
そのデータをメモリ上に格納する。
【０１０３】続いて、システムコントローラ４３は、例
えばフォーカスサーボ制御が可能であってレーザ光の焦
点位置が光ディスクの記録面から最も遠い場合のエラー
レート以下、レーザ光の焦点位置と光ディスクの記録面
との距離に依存せず値がほぼ一定となるエラーレート以
上を、設定範囲として定める。システムコントローラ４
３は、この設定範囲内にあるエラーレートを取出し、こ
れらの値から、オフセット電圧に対するエラーレートの
近似式を求める。例えば、システムコントローラ４３
は、エラーレートを２次曲線で近似する。そして、シス
テムコントローラ４３は、この近似式から、最もエラー
レートが小さくなるオフセット電圧を求める。
【０１０４】そして、システムコントローラ４３は、こ
の求めたオフセット電圧を、加算回路４２に供給して、
光ディスクの再生を行う。
【０１０５】以上のように、光ディスク装置３０では、
フォーカスサーボの制御信号に対して最適なオフセット
電圧を加えて、最適な焦点位置で光ディスクの再生を行
うことができる。
【０１０６】例えば、ＣＤとＤＶＤの対物レンズのＮＡ
が異なる２種類の光ディスクを再生する場合であって
も、それぞれの光ディスクに対して最適なフォーカスサ
ーボ特性に調整することができる。
【０１０７】
【発明の効果】本発明に係る光学ピックアップ及び／又
は光ディスクのフォーカス特性測定装置では、レーザ光
の焦点位置を変化させた際における再生信号のエラーレ
ートを検出し、このエラーレートに基づきレーザ光の焦
点位置とエラーレートとの関係を表す近似式を求め、光
学ピックアップ及び／又は光ディスクのフォーカス特性
を測定する。また、本発明に係る光学ピックアップ及び
／又は光ディスクのフォーカス特性測定装置では、レー
ザ光の焦点位置とエラーレートとの関係を２次曲線近似
式により求め、光学ピックアップ及び／又は光ディスク
のフォーカス特性を測定する。
【０１０８】このことにより、本発明に係る光学ピック
アップ及び／又は光ディスクのフォーカス特性測定装置
では、光学ピックアップ及び／又は光ディスクのフォー
カス状態の特性を、簡単な回路により高い精度で測定す
ることができる。
【０１０９】本発明に係る光学ピックアップ及び／又は
光ディスクのフォーカス特性測定方法では、レーザ光の
焦点位置を変化させた際における再生信号のエラーレー
トを検出し、このエラーレートに基づきレーザ光の焦点
位置とエラーレートとの関係を表す近似式を求め、光学
ピックアップ及び／又は光ディスクのフォーカス特性を
測定する。また、本発明に係る光学ピックアップ及び／
又は光ディスクのフォーカス特性測定方法は、光学ピッ
クアップ及び／又は光ディスクのフォーカス特性測定方
法では、レーザ光の焦点位置とエラーレートとの関係を
２次曲線近似式により求め、光学ピックアップ及び／又
は光ディスクのフォーカス特性を測定する。
【０１１０】このことにより、本発明に係る光学ピック
アップ及び／又は光ディスクのフォーカス特性測定方法
では、光学ピックアップ及び／又は光ディスクのフォー
カス状態の特性を、簡単な回路により高い精度で測定す
ることができる。
【０１１１】本発明に係る光ディスクの記録及び／又は
再生装置では、レーザ光の焦点位置を変化させた際にお
ける再生信号のエラーレートを検出し、このエラーレー
トに基づきレーザ光の焦点位置とエラーレートとの関係
を表す近似式を求め、フォーカスサーボの制御量に上記
エラーレートが最も少なくなるレーザ光の焦点位置とな
るオフセット量を与え、最適な焦点位置で光ディスクの
記録又は再生を行う。また、本発明に係る光ディスクの
記録及び／又は再生装置では、レーザ光の焦点位置とエ
ラーレートとの関係を２次曲線近似式により求め、最適
な焦点位置で光ディスクの記録又は再生を行う。
【０１１２】このことにより、本発明に係る光ディスク
の記録及び／又は再生装置では、光学ピックアップ及び
／又は光ディスクのフォーカス状態の特性を、簡単な回
路により高い精度で測定することができ、この測定結果
に基づき最適な再生信号を得ることができる。
【０１１３】本発明に係る光ディスクの記録及び／又は
再生方法では、レーザ光の焦点位置を変化させた際にお
ける再生信号のエラーレートを検出し、このエラーレー
トに基づきレーザ光の焦点位置とエラーレートとの関係
を表す近似式を求め、フォーカスサーボの制御量に上記
エラーレートが最も少なくなるレーザ光の焦点位置とな
るオフセット量を与え、最適な焦点位置で光ディスクの
記録又は再生を行う。また、本発明に係る光ディスクの
記録及び／又は再生方法では、レーザ光の焦点位置とエ
ラーレートとの関係を２次曲線近似式により求め、最適
な焦点位置で光ディスクの記録又は再生を行う。
【０１１４】このことにより、本発明に係る光ディスク
の記録及び／又は再生方法では、光学ピックアップ及び
／又は光ディスクのフォーカス状態の特性を、簡単な回
路により高い精度で測定することができ、この測定結果
に基づき最適な再生信号を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態の光学ピックアップの特性
検査装置のブロック構成図である。
【図２】上記光学ピックアップの特性検査装置の検査対
象である光学ピックアップに備えられるフォトディテク
タの一例を示す図である。
【図３】上記光学ピックアップの特性検査装置により測
定したオフセット量とエラーレートとの関係を示す図で
ある。
【図４】本発明の実施の形態の光ディスク装置のブロッ
ク構成図である。
【符号の説明】
１ 光学ピックアップの特性検査装置、２ 光学ピック
アップ、３ テストベンチ、４ マトリクス回路、５
サーボコントロール回路、６ 第１のアナログ／デジタ
ル変換回路、７ 第１のメモリ、８ サンプルホールド
回路、９ マルチプレクサ、１０ 第２のアナログ／デ
ジタル変換回路、１１ 第２のメモリ、１２ コンピュ
ータ、１３ ２値化回路、１４ 復調回路、１５ エラ
ー訂正回路、２１ フォーカスサーボ回路、２２ フォ
ーカスアンプ２２、２３ オフセット供給回路、２４
トラッキングサーボ回路、２５ トラッキングアンプ、
３０ 光ディスク装置、３５ ＣＤ用再生回路、３６
ＤＶＤ用再生回路、３９フォーカスサーボ回路、４０
フォーカスアンプ、４１ Ｄ／Ａ変換回路、４２加算回
路、４３ システムコントローラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｃ ５７２Ｆ (72)発明者 中山 明仁 シンガポール国 639193、トゥアス アベ ニュー９、52 ソニー プレシジョン エ ンジニアリング センター（シンガポー ル） プライベートリミテッド内 (72)発明者 新谷 賢司 シンガポール国 639193、トゥアス アベ ニュー９、52 ソニー プレシジョン エ ンジニアリング センター（シンガポー ル） プライベートリミテッド内 (72)発明者 小浜 俊介 東京都江東区木場１丁目４番12号 名古路 木場ビル２階 ディスクウエア株式会社内 (72)発明者 橋本 縁 東京都江東区木場１丁目４番12号 名古路 木場ビル２階 ディスクウエア株式会社内 (54)【発明の名称】 光学ピックアップ及び／又は光ディスクのフォーカス特性測定装置、光学ピックアップ及び／又 は光ディスクのフォーカス特性測定方法、光ディスクの記録及び／又は再生装置、並びに、光デ ィスクの記録及び／又は再生方法

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 光学ピックアップが有する光電変換部の
    出力に基づき、光ディスクに照射するレーザ光の焦点位
    置を制御し、このレーザ光を光ディスクの記録面に合焦
    させるフォーカスサーボ制御手段と、 光学ピックアップが有する光電変換部の出力に基づき、
    光ディスクに記録されたデータを再生する再生手段と、 上記再生手段が再生したデータのエラーレートを検出す
    るエラーレート検出手段と、 上記フォーカスサーボ制御手段の制御量に所定のオフセ
    ット量を与えてレーザ光の焦点位置を変化させ、レーザ
    光の焦点位置を変化させた場合における再生したデータ
    のエラーレートを上記エラーレート検出手段から取得
    し、レーザ光の各焦点位置に対するエラーレートの近似
    式に基づき、エラーレートが最も少なくなるレーザ光の
    焦点位置を求める測定手段とを備える光学ピックアップ
    及び／又は光ディスクのフォーカス特性測定装置。
  2. 【請求項２】 上記測定手段は、所定の設定範囲内にあ
    るエラーレートを用いてレーザ光の各焦点位置に対する
    エラーレートの２次曲線近似式を求め、この２次曲線近
    似式に基づき、エラーレートが最も少なくなるレーザ光
    の焦点位置を求めることを特徴とする請求項１に記載の
    光学ピックアップ及び／又は光ディスクのフォーカス特
    性測定装置。
  3. 【請求項３】 上記測定手段は、フォーカスサーボ制御
    が可能となるレーザ光の焦点位置におけるエラーレート
    以下、レーザ光の焦点位置に依存せずに発生するエラー
    レート以上の範囲で上記所定の設定範囲を定めることを
    特徴とする請求項２に記載の光学ピックアップ及び／又
    は光ディスクのフォーカス特性測定装置。
  4. 【請求項４】 上記測定手段は、上記所定の設定範囲内
    のエラーレートの内、エラーレートの高い焦点位置か
    ら、最初に下限の設定範囲を超えるエラーレートの直前
    又はその近傍の焦点位置までのデータから、レーザ光の
    各焦点位置に対するエラーレートの２次曲線近似式を求
    めることを特徴とする請求項２に記載の光学ピックアッ
    プ及び／又は光ディスクのフォーカス特性測定装置。
  5. 【請求項５】 上記測定手段は、上記フォーカスサーボ
    制御手段の制御量に、上記エラーレートが最も少なくな
    るレーザ光の焦点位置となるオフセット量を与えて、光
    学ピックアップ及び／又は光ディスクの所定の特性値を
    測定することを特徴とする請求項１に記載の光学ピック
    アップ及び／又は光ディスクのフォーカス特性測定装
    置。
  6. 【請求項６】 上記エラーレートが最も少なくなるレー
    ザ光の焦点位置に基づき、光学ピックアップのフォーカ
    ス特性を調整する調整手段を備えることを特徴とする請
    求項１に記載の光学ピックアップ及び／又は光ディスク
    のフォーカス特性測定装置。
  7. 【請求項７】 光学ピックアップが有する光電変換部の
    出力に基づき、光ディスクに照射するレーザ光の焦点位
    置を制御し、このレーザ光を光ディスクの記録面に合焦
    させるフォーカスサーボ制御を行い、 光学ピックアップが有する光電変換部の出力に基づき、
    光ディスクに記録されたデータを再生し、 再生したデータのエラーレートを検出し、 上記フォーカスサーボ制御の制御量に所定のオフセット
    量を与えてレーザ光の焦点位置を変化させ、 レーザ光の焦点位置を変化させた場合における再生した
    データのエラーレートから、各焦点位置に対するエラー
    レートの近似式を求め、 レーザ光の各焦点位置に対するエラーレートの近似式に
    基づき、エラーレートが最も少なくなるレーザ光の焦点
    位置を求めることを特徴とする光学ピックアップ及び／
    又は光ディスクのフォーカス特性測定方法。
  8. 【請求項８】 所定の設定範囲内にあるエラーレートを
    用いてレーザ光の各焦点位置に対するエラーレートの２
    次曲線近似式を求め、 この２次曲線近似式に基づき、エラーレートが最も少な
    くなるレーザ光の焦点位置を求めることを特徴とする請
    求項７に記載の光学ピックアップ及び／又は光ディスク
    のフォーカス特性測定方法。
  9. 【請求項９】 フォーカスサーボ制御が可能となるレー
    ザ光の焦点位置におけるエラーレート以下、レーザ光の
    焦点位置に依存せずに発生するエラーレート以上の範囲
    で設定範囲を定め、この設定範囲内にあるエラーレート
    を用いてレーザ光の各焦点位置に対するエラーレートの
    ２次曲線近似式を求めることを特徴とする請求項８に記
    載の光学ピックアップ及び／又は光ディスクのフォーカ
    ス特性測定方法。
  10. 【請求項１０】 上記所定の設定範囲内のエラーレート
    の内、エラーレートの高い焦点位置から、最初に下限の
    設定範囲を超えるエラーレートの直前又はその近傍の焦
    点位置までのデータから、レーザ光の各焦点位置に対す
    るエラーレートの２次曲線近似式を求めることを特徴と
    する請求項８に記載の光学ピックアップ及び／又は光デ
    ィスクのフォーカス特性測定方法。
  11. 【請求項１１】 上記フォーカスサーボ制御の制御量
    に、上記エラーレートが最も少なくなるレーザ光の焦点
    位置となるオフセット量を与えて、光学ピックアップ及
    び／又は光ディスクの所定の特性値を測定することを特
    徴とする請求項７に記載の光学ピックアップ及び／又は
    光ディスクのフォーカス特性測定方法。
  12. 【請求項１２】 レーザ光の各焦点位置に対するエラー
    レートの近似式から求めたエラーレートが最も少なくな
    るレーザ光の焦点位置に基づき、光学ピックアップのフ
    ォーカス特性を調整することを特徴とする請求項７に記
    載の光学ピックアップ及び／又は光ディスクのフォーカ
    ス特性測定方法。
  13. 【請求項１３】 光学ピックアップが有する光電変換部
    の出力に基づき、光ディスクに照射するレーザ光の焦点
    位置を制御し、このレーザ光を光ディスクの記録面に合
    焦させるフォーカスサーボ制御手段と、 光学ピックアップが有する光電変換部の出力に基づき、
    光ディスクに記録されたデータを再生する再生手段と、 上記再生手段により再生したデータのエラーレートを検
    出するエラーレート検出手段と、 上記フォーカスサーボ制御手段の制御量に所定のオフセ
    ット量を与えてレーザ光の焦点位置を変化させ、レーザ
    光の焦点位置を変化させた場合における再生したデータ
    のエラーレートを上記エラーレート検出手段から取得
    し、レーザ光の各焦点位置に対するエラーレートの近似
    式に基づき、エラーレートが最も少なくなるレーザ光の
    焦点位置を求め、上記フォーカスサーボ制御手段の制御
    量に、上記エラーレートが最も少なくなるレーザ光の焦
    点位置となるオフセット量を与えるフォーカスサーボ制
    御の調整手段とを備える光ディスクの記録及び／又は再
    生装置。
  14. 【請求項１４】 上記調整手段は、所定の設定範囲内に
    あるエラーレートを用いてレーザ光の各焦点位置に対す
    るエラーレートの２次曲線近似式を求め、この２次曲線
    近似式に基づき、エラーレートが最も少なくなるレーザ
    光の焦点位置を求めることを特徴とする請求項１３に記
    載の光ディスクの記録及び／又は再生装置。
  15. 【請求項１５】 上記調整手段は、フォーカスサーボ制
    御が可能となるレーザ光の焦点位置におけるエラーレー
    ト以下、レーザ光の焦点位置に依存せずに発生するエラ
    ーレート以上の範囲で上記所定の設定範囲を定めること
    を特徴とする請求項１４に記載の光ディスクの記録及び
    ／又は再生装置。
  16. 【請求項１６】 特性が異なる複数の対物レンズを用い
    て種類の異なる複数の光ディスクから信号を検出する光
    学ピックアップを備え、 上記フォーカスサーボ制御手段は、各光ディスクに応じ
    て、光ディスクに照射するレーザ光の焦点位置を制御
    し、このレーザ光を光ディスクの記録面に合焦させるこ
    とを特徴とする請求項１３に記載の光ディスクの記録及
    び／又は再生装置。
  17. 【請求項１７】 光学ピックアップが有する光電変換部
    の出力に基づき、光ディスクに照射するレーザ光の焦点
    位置を制御し、このレーザ光を光ディスクの記録面に合
    焦させるフォーカスサーボ制御を行い、 光学ピックアップが有する光電変換部の出力に基づき、
    光ディスクに記録されたデータを再生し、 再生したデータのエラーレートを検出し、 上記フォーカスサーボ制御の制御量に所定のオフセット
    量を与えてレーザ光の焦点位置を変化させ、 レーザ光の焦点位置を変化させた場合における再生した
    データのエラーレートから、各焦点位置に対するエラー
    レートの近似式を求め、 レーザ光の各焦点位置に対するエラーレートの近似式に
    基づき、エラーレートが最も少なくなるレーザ光の焦点
    位置を求め、 上記フォーカスサーボ制御の制御量に、上記エラーレー
    トが最も少なくなるレーザ光の焦点位置となるオフセッ
    ト量を与えることを特徴とする光ディスクの記録及び／
    又は再生方法。
  18. 【請求項１８】 所定の設定範囲内にあるエラーレート
    を用いてレーザ光の各焦点位置に対するエラーレートの
    ２次曲線近似式を求め、この２次曲線近似式に基づき、
    エラーレートが最も少なくなるレーザ光の焦点位置を求
    めることを特徴とする請求項１７に記載の光ディスクの
    記録及び／又は再生方法。
  19. 【請求項１９】 フォーカスサーボ制御が可能となるレ
    ーザ光の焦点位置におけるエラーレート以下、レーザ光
    の焦点位置に依存せずに発生するエラーレート以上の範
    囲で上記所定の設定範囲を定めることを特徴とする請求
    項１８に記載の光ディスクの記録及び／又は再生方法。
  20. 【請求項２０】 特性が異なる複数の対物レンズを用い
    て種類の異なる複数の光ディスクから信号を検出し、 各光ディスクに応じて、光ディスクに照射するレーザ光
    の焦点位置を制御し、このレーザ光を光ディスクの記録
    面に合焦させるフォーカスサーボ制御を行うことを特徴
    とする請求項１７に記載の光ディスクの記録及び／又は
    再生方法。
JP10258798A 1997-10-31 1998-09-11 光学ピックアップ及び／又は光ディスクのフォーカス特性測定装置、光学ピックアップ及び／又は光ディスクのフォーカス特性測定方法、光ディスクの記録及び／又は再生装置、並びに、光ディスクの記録及び／又は再生方法 Pending JPH11161978A (ja)

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